JPS58139062A - 超音波探傷用画像表示装置 - Google Patents
超音波探傷用画像表示装置Info
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- JPS58139062A JPS58139062A JP57021233A JP2123382A JPS58139062A JP S58139062 A JPS58139062 A JP S58139062A JP 57021233 A JP57021233 A JP 57021233A JP 2123382 A JP2123382 A JP 2123382A JP S58139062 A JPS58139062 A JP S58139062A
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- Japan
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- ultrasonic
- channel
- wave
- signal
- Prior art date
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/52—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S15/00
- G01S7/52017—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S15/00 particularly adapted to short-range imaging
- G01S7/52053—Display arrangements
- G01S7/52057—Cathode ray tube displays
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はat波探傷用−像表示装置に係り、特に、超f
波ビームの屈折角0°、45°、60@〜71’4!Q
)嶺畝の超音波ビームにより探傷した鮎未倉画像として
表示するに好適な超音置探−用lI!lI葎衣示装置に
関する。
波ビームの屈折角0°、45°、60@〜71’4!Q
)嶺畝の超音波ビームにより探傷した鮎未倉画像として
表示するに好適な超音置探−用lI!lI葎衣示装置に
関する。
従来の超ilt波深傷用画律衣示装置Vよ一探触子、又
は、oT度角探触子によるもので、狽a4kR動子によ
るものではなかった。−探触子、 aJ変角探触子とも
、4本的にはm−のmd子がらの超1技ビームでめり、
その屈折角が同定又は41児的に変わるものである。こ
のため、従来装置により41数伽鯛子から送出iれる超
f波ビームによる探iimt*畳して表示することは困
麹でめった。
は、oT度角探触子によるもので、狽a4kR動子によ
るものではなかった。−探触子、 aJ変角探触子とも
、4本的にはm−のmd子がらの超1技ビームでめり、
その屈折角が同定又は41児的に変わるものである。こ
のため、従来装置により41数伽鯛子から送出iれる超
f波ビームによる探iimt*畳して表示することは困
麹でめった。
本発明の目的は上述の久点倉なくし、鎌叙振動本子から
送出される超1&ビームによる沫動葎をJi[菫して表
示できるM1t°波沫−用歯1駅表示展−を虎共するに
ある。
送出される超1&ビームによる沫動葎をJi[菫して表
示できるM1t°波沫−用歯1駅表示展−を虎共するに
ある。
本7ei明は1111[a−の儀励子から送出される超
音波ビームに対応して二次元座像lfi号を元生嘔ゼ、
各41波ビームを時分割により送出すると同時に、それ
ぞれのビームに対応した二次元座像11!1号も時分割
で発生し、)威次得られた超f[[ir号を11!11
律メモリに貯え、はば実時間で図1績として出力するよ
うにしたもので桑る。
音波ビームに対応して二次元座像lfi号を元生嘔ゼ、
各41波ビームを時分割により送出すると同時に、それ
ぞれのビームに対応した二次元座像11!1号も時分割
で発生し、)威次得られた超f[[ir号を11!11
律メモリに貯え、はば実時間で図1績として出力するよ
うにしたもので桑る。
本発明の超音波像傷用−像表示装置に用いる超f[探触
子の一例を第1図に示す。
子の一例を第1図に示す。
lはシュー、2,3.4は撫動木子で、各氷動素子はシ
ューに磯着されている。各損m素子からは超音波ビーム
5,6.7が送出される。
ューに磯着されている。各損m素子からは超音波ビーム
5,6.7が送出される。
第2図は第1図における任意な振#素子T+のXY座橡
に対する関係を示し友ものである。
に対する関係を示し友ものである。
いま、超音波ビームがTI(xt * D) から発
せられ、R点で屈折し、欠陥等の1tre的不連続点Q
(xi * )’I )で反射し、同一経路を通り、T
I (Xt B−D)で検出された鳩首、Q点の座標X
t、3T+は下式で求められろ。
せられ、R点で屈折し、欠陥等の1tre的不連続点Q
(xi * )’I )で反射し、同一経路を通り、T
I (Xt B−D)で検出された鳩首、Q点の座標X
t、3T+は下式で求められろ。
ここで
X凰:屈折点RのX座標位置
t:TI−R−Q114im音波伝搬往復時間を息:
T I−R間超ta伝搬片道時間で6す、この#4t1
は下式となる。
T I−R間超ta伝搬片道時間で6す、この#4t1
は下式となる。
vl:媒質I(シュー)内音速
■I:媒質II(II検査体)内音速
#二人射角
ζ:屈折角
U)(2)式でR点のX座礁x鳳を探触子基準点のX座
41 X Pと儀動本子オフセット距廟Xtで置自換え
ると、 となる。さらに時間tをR点を基準にすれば、となる、
ここで t’=t 2tm とする。
41 X Pと儀動本子オフセット距廟Xtで置自換え
ると、 となる。さらに時間tをR点を基準にすれば、となる、
ここで t’=t 2tm とする。
子に対して定数となる。よってR点を基準にし丸、欠陥
等の音響的不連続点筐での超#波体搬時間t′と探触子
基準点のxWkmが判れば、欠陥等音響的不連続点の座
II(xt 、 yt )が求められる。
等の音響的不連続点筐での超#波体搬時間t′と探触子
基準点のxWkmが判れば、欠陥等音響的不連続点の座
II(xt 、 yt )が求められる。
第3図は本発明の超f波豫湯用画澹衆示装置の実施告で
69、鎮禰示績直は、41図に示し九構成となる超音疲
豫触子9、ワイヤ12、探触子位置検出装置11、多チ
ャンネル櫨超曾波探傷尋8、−g1表示部100より成
る。画像表示部100は、データ転送制御1g回路15
、偏向回路14、エコーメモリ17、ディジタルll1
i儂メモリ18、マイクロコンピュータ19、モニタテ
レビ2oより成th。
69、鎮禰示績直は、41図に示し九構成となる超音疲
豫触子9、ワイヤ12、探触子位置検出装置11、多チ
ャンネル櫨超曾波探傷尋8、−g1表示部100より成
る。画像表示部100は、データ転送制御1g回路15
、偏向回路14、エコーメモリ17、ディジタルll1
i儂メモリ18、マイクロコンピュータ19、モニタテ
レビ2oより成th。
多チヤンネル型、d!1#波探触子9は被検査体10の
表面に置かれる。探触子位置検出装置11はワイヤ12
を介して探触子9の現在位置を目動認知する。多チヤン
ネルI4t#L探傷器8は、憂チャンネル超i波探触子
9の各チャンネル対応の構成となっており、探触子90
チヤンネル走皇制御を行い、走査チャンネル毎に超ta
の放射(送11り及びその放射結果に基づく反射波の検
出(受信)を行わせている。探触子9によって検出され
た反射波はチャンネル対応に多チャンネル超f肢探傷湯
8に送られ、受信となる。
表面に置かれる。探触子位置検出装置11はワイヤ12
を介して探触子9の現在位置を目動認知する。多チヤン
ネルI4t#L探傷器8は、憂チャンネル超i波探触子
9の各チャンネル対応の構成となっており、探触子90
チヤンネル走皇制御を行い、走査チャンネル毎に超ta
の放射(送11り及びその放射結果に基づく反射波の検
出(受信)を行わせている。探触子9によって検出され
た反射波はチャンネル対応に多チャンネル超f肢探傷湯
8に送られ、受信となる。
t1ml#衆示@100は、探触子位置検出装置11か
らの探触子9の現在位rtrir号23、多チャンネル
超音[探傷−8で検出されたチャンネル対応の受傷出力
21及びチャンネル信号22を取込み、且つ線画l#!
表示部100は探傷−8を管理すべく(タイミングをと
るべく)探傷−8に制御信号(同期18号)16を送る
。
らの探触子9の現在位rtrir号23、多チャンネル
超音[探傷−8で検出されたチャンネル対応の受傷出力
21及びチャンネル信号22を取込み、且つ線画l#!
表示部100は探傷−8を管理すべく(タイミングをと
るべく)探傷−8に制御信号(同期18号)16を送る
。
第4図(Jl)〜(h)は43図の各11[形を示す、
(匈図は、同期信号16 、(b)は超音波エコー信号
21、(C)はエコーメモリ17の2つのメモリ部の一
方のメモリ部の書込み(iレベル)と続出しくLレベル
)を示す図、(ψは他方のメモリ部の書込み(Hレベル
)と続出しくLレベル)を示す図、(C)はエコーメモ
リ17のディジタル1儂メモリ18への出力、(f)は
偏向器11614でのXi&求める信号、(2)は偏向
回路14でのYak求める信号であシ、このX+、yt
がディジタル1iiil儂メモリ18のアドレス値とな
る。(坤は超を波探傷−8からマイクロコンピュータ1
9に人力するCH(チャンネル)信号22である。
(匈図は、同期信号16 、(b)は超音波エコー信号
21、(C)はエコーメモリ17の2つのメモリ部の一
方のメモリ部の書込み(iレベル)と続出しくLレベル
)を示す図、(ψは他方のメモリ部の書込み(Hレベル
)と続出しくLレベル)を示す図、(C)はエコーメモ
リ17のディジタル1儂メモリ18への出力、(f)は
偏向器11614でのXi&求める信号、(2)は偏向
回路14でのYak求める信号であシ、このX+、yt
がディジタル1iiil儂メモリ18のアドレス値とな
る。(坤は超を波探傷−8からマイクロコンピュータ1
9に人力するCH(チャンネル)信号22である。
1儂表示部100内のエコーメモリ17.1儂メモリ1
8は共にディジタルミ1!号で69、従って、−向41
4の出力であるメモリ18のアドレス情報もディジタル
信号となっていなければならぬ。
8は共にディジタルミ1!号で69、従って、−向41
4の出力であるメモリ18のアドレス情報もディジタル
信号となっていなければならぬ。
位置構出装置11自体による位置検出は一般にアナログ
でるり、従って、載位・置検出装置11の内部又は偏向
器14の内部にAD変換機f8t−持つと理解すべきで
ある。更に、エコーメモリ17の人力となる超taエコ
ー信号21もディジタル1号でなければならず、従って
、探傷器8の内部にもAD変変換機上有していると理解
ナベきである。
でるり、従って、載位・置検出装置11の内部又は偏向
器14の内部にAD変換機f8t−持つと理解すべきで
ある。更に、エコーメモリ17の人力となる超taエコ
ー信号21もディジタル1号でなければならず、従って
、探傷器8の内部にもAD変変換機上有していると理解
ナベきである。
マイクロコンピュータ19は本実施例の全体の管理を行
っている。第1には、欠陥等貴書的不連続点の座標算出
のための各種情報(X□等)を格納し座標算出の丸めに
送出すること、第2は各楕タイミングのための管理信号
を送出することである。
っている。第1には、欠陥等貴書的不連続点の座標算出
のための各種情報(X□等)を格納し座標算出の丸めに
送出すること、第2は各楕タイミングのための管理信号
を送出することである。
この!2の内容には、ディジタルIIiIglメモリ1
8のリセット指令、エコーメモリの書込み、続出しの1
lr1111信号等がめる。データ転送制御回路15は
マイクロ・コンピュータ19の出力回路の役割を来す。
8のリセット指令、エコーメモリの書込み、続出しの1
lr1111信号等がめる。データ転送制御回路15は
マイクロ・コンピュータ19の出力回路の役割を来す。
データ転送制御回路15からの第4図(荀に示す同期信
号16により多チャンネル型超f波探傷−8が超音波探
触子9の各伽動素子CH1,2・・・とl1次励振する
。励損された損IIb木子からは超1波が5.6.7の
順で被検査体10内に発せられる。
号16により多チャンネル型超f波探傷−8が超音波探
触子9の各伽動素子CH1,2・・・とl1次励振する
。励損された損IIb木子からは超1波が5.6.7の
順で被検査体10内に発せられる。
超音波は被検査体1G内の欠陥*1響的不遵絖点で反射
し、!mA子に受信される。この受信超音波が電圧1i
号として多チャ/ネル型超f波豫傷器8に人力され増暢
検涙され第4図(呻に示す超音波エコー[1421とし
てエコーメモリ17に一定周期ごとにサンプリング配憶
する。エコーメモリ17は2つのメモリ部を持ち、14
4図(C)、(ψに示す如く、同期信号16の周期ごと
交互に、1iFl&込み、gみ出しを行なう病成となっ
ている。これによってデータのスループットを同上させ
ている。
し、!mA子に受信される。この受信超音波が電圧1i
号として多チャ/ネル型超f波豫傷器8に人力され増暢
検涙され第4図(呻に示す超音波エコー[1421とし
てエコーメモリ17に一定周期ごとにサンプリング配憶
する。エコーメモリ17は2つのメモリ部を持ち、14
4図(C)、(ψに示す如く、同期信号16の周期ごと
交互に、1iFl&込み、gみ出しを行なう病成となっ
ている。これによってデータのスループットを同上させ
ている。
第4図(畔はかくして得られ九データであp1エコーメ
モ+717に書込まれる。一方、趙f波探傷器8からは
超音波エコー信号21を出力すると同時に、励損され*
損m素子のCH偏信号2をマイクロコンピュータ19に
出力する。マイクロコンピュータ19qユこのCH僅号
22から、あらかじめ設ボされている探触子の形状や、
被検査体の音速尋のデータにより、各振lIJ′:JA
子に対する偏向回路応する。このデータは偏向回路14
に送出する。
モ+717に書込まれる。一方、趙f波探傷器8からは
超音波エコー信号21を出力すると同時に、励損され*
損m素子のCH偏信号2をマイクロコンピュータ19に
出力する。マイクロコンピュータ19qユこのCH僅号
22から、あらかじめ設ボされている探触子の形状や、
被検査体の音速尋のデータにより、各振lIJ′:JA
子に対する偏向回路応する。このデータは偏向回路14
に送出する。
−万、偏向回路14は#14図(f)、(−に示す如く
各チャンネル対応の三角ati生し、各チャンネル毎r
c超曾波の放射から受信までの時間の電場を行っている
。第41(f)で、X11はチャンネル誉号CHIのX
座標を示す、CHIは第1図の探触子2に対応し直F放
射、直下反射の事カである。従って、X座標はX、lの
1筐でy座標の反射時間の+t−算出すればよい0図で
は、y座標反射点はyttとし、チャンネルCH1では
点(xtt * )’tt )がill的不連続点(正
確には不連続点対応の反射時間を示す点)と認定できる
。この検出点(”11+ytt)は三角波から自動的に
得られるものでめシ、本来の求めるべき破慎査体上の絶
対座標ではない。
各チャンネル対応の三角ati生し、各チャンネル毎r
c超曾波の放射から受信までの時間の電場を行っている
。第41(f)で、X11はチャンネル誉号CHIのX
座標を示す、CHIは第1図の探触子2に対応し直F放
射、直下反射の事カである。従って、X座標はX、lの
1筐でy座標の反射時間の+t−算出すればよい0図で
は、y座標反射点はyttとし、チャンネルCH1では
点(xtt * )’tt )がill的不連続点(正
確には不連続点対応の反射時間を示す点)と認定できる
。この検出点(”11+ytt)は三角波から自動的に
得られるものでめシ、本来の求めるべき破慎査体上の絶
対座標ではない。
この絶対座標と1よ表示歯面上に表示させる際の走f向
上の二次元表示座標と考えてよく、上記検出点を表示座
標対応に変*(補正)させなければならない、この変換
処理は、上記の1岬データ及び検出装置11■出力を利
用する。次のチャンネルCH2は#I1図の探触子3に
対応する故、X座標。
上の二次元表示座標と考えてよく、上記検出点を表示座
標対応に変*(補正)させなければならない、この変換
処理は、上記の1岬データ及び検出装置11■出力を利
用する。次のチャンネルCH2は#I1図の探触子3に
対応する故、X座標。
y座橡共に三角波が利用される1反射波を検出した時点
が音響的不4d点(XJs r Yjs )となる、同
Jsvこ、CH3に対しては(Xhs a Yhs )
が音醤的不連続点となる。
が音響的不4d点(XJs r Yjs )となる、同
Jsvこ、CH3に対しては(Xhs a Yhs )
が音醤的不連続点となる。
第5図には、(Xll e )’II )相当位置の表
示画面上のアドレスを示している。このアドレスが画像
メモリ18のアドレスを指示する。即ち、該制御データ
に4とに、偏向回路14では、式(5) 、 (6)で
示すt′の変化に対するXi 、Ylの値を作転出す。
示画面上のアドレスを示している。このアドレスが画像
メモリ18のアドレスを指示する。即ち、該制御データ
に4とに、偏向回路14では、式(5) 、 (6)で
示すt′の変化に対するXi 、Ylの値を作転出す。
この”@eYtの値は、ディジタル1儂メモIJ l
8のアドレスとして受用される。一方、t′に対応する
−のとしては、エコーメモリ17に取込まれた超taエ
コー1号21の取込まれた11111番がそのまま対応
するので、エコーメモリ17からノー次第6図に示す如
く各チャンネル4応に格納された、橿ftIjLエコー
データを取り出し、偏向回路14にて指定されたディジ
タル画像メモリ18の特定アドレスにそのデータを第7
図に示す如く書き込んでいけば、求める断面謙がモニタ
テレビ20で表示される。但し゛、47図のCHI、C
H2゜CH3の各ラインは実際には存在していない。
8のアドレスとして受用される。一方、t′に対応する
−のとしては、エコーメモリ17に取込まれた超taエ
コー1号21の取込まれた11111番がそのまま対応
するので、エコーメモリ17からノー次第6図に示す如
く各チャンネル4応に格納された、橿ftIjLエコー
データを取り出し、偏向回路14にて指定されたディジ
タル画像メモリ18の特定アドレスにそのデータを第7
図に示す如く書き込んでいけば、求める断面謙がモニタ
テレビ20で表示される。但し゛、47図のCHI、C
H2゜CH3の各ラインは実際には存在していない。
以上の実施的によれば、マルチ超f[探傷器において、
各チャンネル対■6の表示が一つのll!li面に可能
となった。また、その表示は犬時間で可能となる。尚、
上記実施例で、偏Io1回路14を排して、偏向回路1
4の役I!1It−マイクロコンピュータ19に持たせ
てもよい。この時にはF!M17a酎算は完全にディジ
タル処理であり、ソフトウェアによってなしうる。また
多チャンネルの探触子の構成も第1図の探触子に限定さ
れることはない、後述する第8図、第9図の如き探触子
の構成も当然ありうる。
各チャンネル対■6の表示が一つのll!li面に可能
となった。また、その表示は犬時間で可能となる。尚、
上記実施例で、偏Io1回路14を排して、偏向回路1
4の役I!1It−マイクロコンピュータ19に持たせ
てもよい。この時にはF!M17a酎算は完全にディジ
タル処理であり、ソフトウェアによってなしうる。また
多チャンネルの探触子の構成も第1図の探触子に限定さ
れることはない、後述する第8図、第9図の如き探触子
の構成も当然ありうる。
本発明の効果を従来例と比較して図面により説明する。
第8図、第9図は被検査体として、第8図(1)、第9
図(1)に示す如き4値を有する被検査体の場合の表示
1dili1金示す、即ち、第8図(1)は底面がa
−b −c −d −e −g −h −i −jの如
(平坦でなく被検査体でるり、第8図(匂はその底面図
を示している6図でfは欠陥部を示す、かかる被検査体
10Aを匠米の1蘭直下型走査の超音波探触子9Aで走
査した場合の表示1di1面t−第8図(3)に示す、
この探触子9Aでは、上聞と平行な面でらるa−b、
c−d、 g−h、 i−jが検出できる奮書的不連続
点となる。更に欠陥fの一部も検出できる。但し、平行
でない向b−c、d−e、”e”’−g * g −i
は検出されず、ま九、欠陥fの全部は検出不可となる。
図(1)に示す如き4値を有する被検査体の場合の表示
1dili1金示す、即ち、第8図(1)は底面がa
−b −c −d −e −g −h −i −jの如
(平坦でなく被検査体でるり、第8図(匂はその底面図
を示している6図でfは欠陥部を示す、かかる被検査体
10Aを匠米の1蘭直下型走査の超音波探触子9Aで走
査した場合の表示1di1面t−第8図(3)に示す、
この探触子9Aでは、上聞と平行な面でらるa−b、
c−d、 g−h、 i−jが検出できる奮書的不連続
点となる。更に欠陥fの一部も検出できる。但し、平行
でない向b−c、d−e、”e”’−g * g −i
は検出されず、ま九、欠陥fの全部は検出不可となる。
48図(4)は11向の傾斜型探触子9Btljl!用
し九場合の自惚でアシ、d−1!I、h−1、及びfの
一部が検出できる。この第8図(3)。
し九場合の自惚でアシ、d−1!I、h−1、及びfの
一部が検出できる。この第8図(3)。
(4)は別々に表示され、両者を統一して同−表系画\
面VC実時間で表示することは不可能である。これに対
して、s8図(5)に示す如く、直下型のチャンネル、
互いに方向が90”機度異なる2つの傾斜型チャンネル
を組み込んでなる本発明の多チャンネル探触子t−筐用
した場合には底面の部分かすべて検出でき、且つ欠陥f
もすべて表示できることになる。第9図(1)は丁字形
の欠陥a−b−cを持つ被検査体の事例であシ、s9図
■は直下型、第9図(3)は傾斜型の探触子の表示事例
を示している。
して、s8図(5)に示す如く、直下型のチャンネル、
互いに方向が90”機度異なる2つの傾斜型チャンネル
を組み込んでなる本発明の多チャンネル探触子t−筐用
した場合には底面の部分かすべて検出でき、且つ欠陥f
もすべて表示できることになる。第9図(1)は丁字形
の欠陥a−b−cを持つ被検査体の事例であシ、s9図
■は直下型、第9図(3)は傾斜型の探触子の表示事例
を示している。
49図(4)は、本発明の多チャンネル盛の探触子9に
よれば、底面及び欠@ a −D −Cの検出が可能と
なる。
よれば、底面及び欠@ a −D −Cの検出が可能と
なる。
本発明によれば、多チヤンネル探触子を使用して被検査
体の欠陥を適切に構出表示できるようになった。
体の欠陥を適切に構出表示できるようになった。
第1図は本発明の多チヤンネル探触子のI用説明図、第
2図は構出座標の説明図、纂3図は本発明の探S装置の
実施仇図、第4図(荀〜(勾は各タイムチャート、第5
図はアドレス構成例図、#I6図はメモリ17のデータ
構成図、第7図はメモリ1B(Dデータ構成図、第8図
(1)〜(5) 、 第9図(1)〜(4)は従来書と
本発明の効果の比IIR説明図である。 8・・・多チャンネル截超音a*傷器、9・・・超音波
探触子、17・・・エコーメモリ、18・・・1儂メモ
リ、19・・・マイクロコノピュータ。 代理人 弁理士 秋本正実 −¥i/ 図 第2図 !$、3 図 /ρQ !yE U 図 し 「−一 第 7 図 7″ 5馳咀佐畔呻 χ、、 ate −−−−−−−a + +プL+姉
テ堡云=て ム3 ′!′31図 2.、七冊■稍芹′”″
−−−−−一 旧冊冊即冊淋(H7−−−−−−−
L111L11JILJ上lHI’l’11711rT
T1丁T−11’1.1.1.、I IIIJ↓J41
fllJ第 8 m ′3)、す (5)
2図は構出座標の説明図、纂3図は本発明の探S装置の
実施仇図、第4図(荀〜(勾は各タイムチャート、第5
図はアドレス構成例図、#I6図はメモリ17のデータ
構成図、第7図はメモリ1B(Dデータ構成図、第8図
(1)〜(5) 、 第9図(1)〜(4)は従来書と
本発明の効果の比IIR説明図である。 8・・・多チャンネル截超音a*傷器、9・・・超音波
探触子、17・・・エコーメモリ、18・・・1儂メモ
リ、19・・・マイクロコノピュータ。 代理人 弁理士 秋本正実 −¥i/ 図 第2図 !$、3 図 /ρQ !yE U 図 し 「−一 第 7 図 7″ 5馳咀佐畔呻 χ、、 ate −−−−−−−a + +プL+姉
テ堡云=て ム3 ′!′31図 2.、七冊■稍芹′”″
−−−−−一 旧冊冊即冊淋(H7−−−−−−−
L111L11JILJ上lHI’l’11711rT
T1丁T−11’1.1.1.、I IIIJ↓J41
fllJ第 8 m ′3)、す (5)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、鋼材等の豪検体1Cffiit波を送偏し、f曹的
不遅続部からの反射信号に受信し、該超音波信号と超t
**触子の位置1号により一面儂、平向儂。 肯−84を表示する超音波深傷用園像表示装置において
、l11ao屈折角に対応して二次元座標1号を発生さ
せ、各ビームを時分割で送偏し、1m1次得られ九1I
iIf波信号を該二次元座襟偏号をアドレスとして画像
メモリに貯え、実時間で画像として出力することを脅黴
とするマルチビーム式超音波探湯用IIi儂表示II&
直。 2、%許祷求の範囲第1項において、超音波送受信+威
にマルチ豫触子を用いたこと1−*徴とする超音波探傷
用−像表示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57021233A JPS58139062A (ja) | 1982-02-15 | 1982-02-15 | 超音波探傷用画像表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57021233A JPS58139062A (ja) | 1982-02-15 | 1982-02-15 | 超音波探傷用画像表示装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58139062A true JPS58139062A (ja) | 1983-08-18 |
JPH0245821B2 JPH0245821B2 (ja) | 1990-10-11 |
Family
ID=12049309
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57021233A Granted JPS58139062A (ja) | 1982-02-15 | 1982-02-15 | 超音波探傷用画像表示装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58139062A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01318952A (ja) * | 1988-06-20 | 1989-12-25 | Mitsubishi Electric Corp | 超音波による3次元物体形状認識方法 |
JP2021032788A (ja) * | 2019-08-28 | 2021-03-01 | 株式会社日立製作所 | 超音波センサ、形状推定方法、膜剥離検査方法及び超音波検査システム |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50115087U (ja) * | 1974-03-01 | 1975-09-19 | ||
JPS516084A (ja) * | 1974-07-03 | 1976-01-19 | Hitachi Ltd | |
JPS55149835A (en) * | 1979-05-11 | 1980-11-21 | Hitachi Ltd | Ultrasonic flaw detecting method and apparatus |
-
1982
- 1982-02-15 JP JP57021233A patent/JPS58139062A/ja active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50115087U (ja) * | 1974-03-01 | 1975-09-19 | ||
JPS516084A (ja) * | 1974-07-03 | 1976-01-19 | Hitachi Ltd | |
JPS55149835A (en) * | 1979-05-11 | 1980-11-21 | Hitachi Ltd | Ultrasonic flaw detecting method and apparatus |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01318952A (ja) * | 1988-06-20 | 1989-12-25 | Mitsubishi Electric Corp | 超音波による3次元物体形状認識方法 |
JP2021032788A (ja) * | 2019-08-28 | 2021-03-01 | 株式会社日立製作所 | 超音波センサ、形状推定方法、膜剥離検査方法及び超音波検査システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0245821B2 (ja) | 1990-10-11 |
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