JPH01318952A - 超音波による3次元物体形状認識方法 - Google Patents
超音波による3次元物体形状認識方法Info
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- JPH01318952A JPH01318952A JP15164788A JP15164788A JPH01318952A JP H01318952 A JPH01318952 A JP H01318952A JP 15164788 A JP15164788 A JP 15164788A JP 15164788 A JP15164788 A JP 15164788A JP H01318952 A JPH01318952 A JP H01318952A
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- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 30
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000001066 destructive effect Effects 0.000 description 2
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、合成開口法を用いた超音波非破壊検査方法
において、被検体の欠陥の形状を3次元的に認識する手
法に関するものである。
において、被検体の欠陥の形状を3次元的に認識する手
法に関するものである。
[従来の技術]
従来、合成開口法を用いた超音波非破壊検査方法によっ
て被検体の欠陥の形状を認識する方法は知られている。
て被検体の欠陥の形状を認識する方法は知られている。
第4図は従来の合成開口法を用いた超音波映像化方法を
示す説明図である。図において、lは超音波送受信子で
あり、被検体2上を直線的に移動しながら一定の走査ピ
ッチで超音波パルスの送受信を行う。3は被検体2中に
存在する欠陥であり、この場合は被検体2の底面からの
ドリルホールとなっている。4は超音波送受信子lから
の超音波ビームであり、ここではある広がりを持ってい
る。
示す説明図である。図において、lは超音波送受信子で
あり、被検体2上を直線的に移動しながら一定の走査ピ
ッチで超音波パルスの送受信を行う。3は被検体2中に
存在する欠陥であり、この場合は被検体2の底面からの
ドリルホールとなっている。4は超音波送受信子lから
の超音波ビームであり、ここではある広がりを持ってい
る。
上記のような合成開口法を用いた超音波映像化方法では
、超音波送受信子1から送波された超音波パルスは被検
体2中を伝播し、被検体2中に存在する欠陥3の先端部
分で反射され、その反射波は超音波送受信子1で受信さ
れる。ここで、超音波送受信子1が被検体2上を移動す
る時、各走査点で被検体2中の欠陥3からの反射波信号
の受信タイミングを第5図に示す。第5図は第4図の合
成開口法を用いた超音波映像化方法において、画像の再
構成を行う手法を示す説明図である。図において、lは
超音波送受信子、2は被検体、3は欠陥である。また、
5は超音波送受信子1が被検体2上を移動する時の走査
線、6は欠陥3の位置と走査線5上の走査点の相対位置
より決まる超音波パルスの、往復伝播時間を示す曲線で
あり、これを位相履歴線と云う。
、超音波送受信子1から送波された超音波パルスは被検
体2中を伝播し、被検体2中に存在する欠陥3の先端部
分で反射され、その反射波は超音波送受信子1で受信さ
れる。ここで、超音波送受信子1が被検体2上を移動す
る時、各走査点で被検体2中の欠陥3からの反射波信号
の受信タイミングを第5図に示す。第5図は第4図の合
成開口法を用いた超音波映像化方法において、画像の再
構成を行う手法を示す説明図である。図において、lは
超音波送受信子、2は被検体、3は欠陥である。また、
5は超音波送受信子1が被検体2上を移動する時の走査
線、6は欠陥3の位置と走査線5上の走査点の相対位置
より決まる超音波パルスの、往復伝播時間を示す曲線で
あり、これを位相履歴線と云う。
今、欠陥3の先端部分の座標を(0,z)とし、走査線
5上の各走査点(x、 O)における超音波パルスの
往復伝播時間をt (x)とすると、超音波パルスの被
検体2中の音速をCとして次式が容易に求まる。
5上の各走査点(x、 O)における超音波パルスの
往復伝播時間をt (x)とすると、超音波パルスの被
検体2中の音速をCとして次式が容易に求まる。
合成開口法においては、被検体2中の各深さ2に対して
その位相履歴線6を求めて、各走査点で得られた受信信
号を超音波ビーム4の広がり範囲内で、位相履歴線6に
沿ってコヒーレントに加算することにより被検体2の深
さ2に対する画素値を得ていくが、この操作を被検体2
の深さ方向につきすべての点について行うことにより被
検体2の深さ方向の線像が得られる。この操作を繰り返
して行うことにより線像の集合として被検体2のX−2
断面像を得ることができる。
その位相履歴線6を求めて、各走査点で得られた受信信
号を超音波ビーム4の広がり範囲内で、位相履歴線6に
沿ってコヒーレントに加算することにより被検体2の深
さ2に対する画素値を得ていくが、この操作を被検体2
の深さ方向につきすべての点について行うことにより被
検体2の深さ方向の線像が得られる。この操作を繰り返
して行うことにより線像の集合として被検体2のX−2
断面像を得ることができる。
合成開口法を用いて得られた被検体2の断面像の方位方
向(X方向)の解像度δ8は次式で与えられる。
向(X方向)の解像度δ8は次式で与えられる。
ここで、λは超音波パルスの波長、Lは被検体2の深ざ
2の点を見込み得る超音波ビーム4の広がり幅であり、
次式で与えられる。
2の点を見込み得る超音波ビーム4の広がり幅であり、
次式で与えられる。
ここで、Dは超音波送受信子1の素子開口である。
上記(3)式を上記(2)式に代入すると、δつ=D
・・・・・・・・・・・・・・・(4)とな
り、方位方向の解像度δ8は被検体2中の深さによらず
一定となる。また、距離方向(Z方向)の解像度δ2は
超音波パルスの送信パルス幅をTとして、往復伝播時間
により決まり次式で与えられる。
・・・・・・・・・・・・・・・(4)とな
り、方位方向の解像度δ8は被検体2中の深さによらず
一定となる。また、距離方向(Z方向)の解像度δ2は
超音波パルスの送信パルス幅をTとして、往復伝播時間
により決まり次式で与えられる。
このように、合成開口法を用いれは、方位方向。
距離方向ともに一定で、しかも超音波送受信子lの素子
開口りと超音波パルスの送信パルス幅Tを小さくするこ
とにより、高解像度が実現できるという特長がある。
開口りと超音波パルスの送信パルス幅Tを小さくするこ
とにより、高解像度が実現できるという特長がある。
[発明が解決しようとする課題]
L記のような従来の合成開口法を用いた超音波映像化方
法では、被検体2中に存在する欠陥3からの反射波信号
は欠陥3の先端部分からの信号が支配的であり、そのた
めに映像化される゛のは欠陥3の先端部分のみで、欠陥
3がその底面からつながっているものか、あるいは被検
体2中の空洞のようなものかの判定ができない。また、
同様に被検体2中に送波された超音波ビーム4に照射さ
れ、その反射波が得られる欠陥30部分は映像化される
が、欠陥3の影の部分に存在する欠陥の場合は反射波信
号が得られず、そのために映像化されないという問題点
があった。
法では、被検体2中に存在する欠陥3からの反射波信号
は欠陥3の先端部分からの信号が支配的であり、そのた
めに映像化される゛のは欠陥3の先端部分のみで、欠陥
3がその底面からつながっているものか、あるいは被検
体2中の空洞のようなものかの判定ができない。また、
同様に被検体2中に送波された超音波ビーム4に照射さ
れ、その反射波が得られる欠陥30部分は映像化される
が、欠陥3の影の部分に存在する欠陥の場合は反射波信
号が得られず、そのために映像化されないという問題点
があった。
一方、超音波送受信子1を傾け、傾いた超音波ビーム4
を用いて合成開口法を適用する手法もあるが、この手法
では第4図に示すような被検体2の底面から続いている
ドリルホールのような欠陥3に対しては、底面とつなが
っているエツジ部分が強調されて映像化されるが、欠陥
3の深さが判定できないという問題点があった。従って
、1述のような垂直探傷法及び斜角探1n法ともに、被
検体2中の欠陥3の位置、形状、大きさ等を正確に判定
することができないという問題点があった。
を用いて合成開口法を適用する手法もあるが、この手法
では第4図に示すような被検体2の底面から続いている
ドリルホールのような欠陥3に対しては、底面とつなが
っているエツジ部分が強調されて映像化されるが、欠陥
3の深さが判定できないという問題点があった。従って
、1述のような垂直探傷法及び斜角探1n法ともに、被
検体2中の欠陥3の位置、形状、大きさ等を正確に判定
することができないという問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、被検体中に存在する欠陥の位置、形状、大き
さ等を正確に求めることができる超音波による3次元物
体形状認識方法を得ることを目的とする。
たもので、被検体中に存在する欠陥の位置、形状、大き
さ等を正確に求めることができる超音波による3次元物
体形状認識方法を得ることを目的とする。
[課題を解決するための手段]
この発明に係る超音波による3次元物体形状認識方法は
、複数の超音波送受信子を一定距離に配置し、被検体に
対し少なくとも2枚の垂直法及び斜角法による2方向か
らの断面像を得て被検体の断面像群を得、さらにそれぞ
れの断面の特徴的情報を組み合わせて3次元構成により
映像化された画像の観察を行う方法である。
、複数の超音波送受信子を一定距離に配置し、被検体に
対し少なくとも2枚の垂直法及び斜角法による2方向か
らの断面像を得て被検体の断面像群を得、さらにそれぞ
れの断面の特徴的情報を組み合わせて3次元構成により
映像化された画像の観察を行う方法である。
[作用]
この発明における超音波による3次元物体形状認識方式
は、一定距離に配置した複数の超音波送受信子を用い、
被検体に対し少なくとも2枚の垂直法及び斜角法による
断面像を得、また超音波送受信子を2次元走査すること
により被検体の断面像群を得、さらにそれぞれの断面の
特徴的情報を組み合わせて3次元構成により映像化され
た画像の観察を行うので、被検体中に存在する欠陥の位
置、形状、大きさを正確に求めることができる。
は、一定距離に配置した複数の超音波送受信子を用い、
被検体に対し少なくとも2枚の垂直法及び斜角法による
断面像を得、また超音波送受信子を2次元走査すること
により被検体の断面像群を得、さらにそれぞれの断面の
特徴的情報を組み合わせて3次元構成により映像化され
た画像の観察を行うので、被検体中に存在する欠陥の位
置、形状、大きさを正確に求めることができる。
[実施例]
第1図はこの発明の一実施例である超音波による3次元
物体形状認識方法を示す説明図である。
物体形状認識方法を示す説明図である。
図において、1は垂直入射用の超音波送受信子、1゛は
斜角入射用の超音波送受信子、2は被検体、3は被検体
2中に存在する欠陥、4は超音波送受信子、1.I′か
らの超音波ビーム、7は超音波送受信子1′に対する斜
角入射用の斜角ウェッジである。
斜角入射用の超音波送受信子、2は被検体、3は被検体
2中に存在する欠陥、4は超音波送受信子、1.I′か
らの超音波ビーム、7は超音波送受信子1′に対する斜
角入射用の斜角ウェッジである。
上記のようなこの発明に係る超音波による3次元物体形
状認識方法では、超音波送受信子1,1′はそれぞれ垂
直法、斜角法によって超音波ビーム4としての垂直ビー
ム、斜角ビームを被検体2中へ送波しており、超音波送
受信子1,1′が被検体2上を移動する時、各走査点で
得られた受信信号を用いて合成開口法による処理を行う
。この時、斜角法では被検体2の底面での1回の反射波
成分も用いる。
状認識方法では、超音波送受信子1,1′はそれぞれ垂
直法、斜角法によって超音波ビーム4としての垂直ビー
ム、斜角ビームを被検体2中へ送波しており、超音波送
受信子1,1′が被検体2上を移動する時、各走査点で
得られた受信信号を用いて合成開口法による処理を行う
。この時、斜角法では被検体2の底面での1回の反射波
成分も用いる。
第2図は第1図パの超音波による3次元物体形状認識方
法において、超音波送受信子の1回の走査で得られる断
面像を示す説明図である。図において、2は被検体、8
は超音波送受信子1で得られた受信信号を用いて得られ
る再生断面、9は超音波送受信子1′で得られた受信信
号のうちで、被検体2の底面で反射していない成分を用
いて得られる再生断面、10は超音波送受信子1′で得
られた受信信号のうちで、被検体2の底面で反射が1回
起こった後の成分を用いて得られる再生断面である。そ
して、第1図における超音波送受信子1.1’間の距離
を一定に保つことにより、X方向への1回の走査で得ら
れる3枚の再生断面8゜9.10の幾何学的配置が決ま
る。従って、超音波送受信子l、1′をx二y方向の2
次元走査をすることにより、一定の幾何学的配置に置か
れている3枚の断面像がX方向にΔyずつ離れた配置で
得られる。このようにして得られた3次元空間上の画像
データを超音波ビーム強度で規格化し、3次元空間での
直交座標上に並べ変えることにより被検体2の内部空間
の情報とする。この時、例えば再生断面8と再生断面9
の情報は超音波ビーム4(第1図参照)の径路の特質か
ら被検体2の底面からつながっているドリルホールのよ
うな欠陥3(第1図参照)に対して、再生断面8上では
。
法において、超音波送受信子の1回の走査で得られる断
面像を示す説明図である。図において、2は被検体、8
は超音波送受信子1で得られた受信信号を用いて得られ
る再生断面、9は超音波送受信子1′で得られた受信信
号のうちで、被検体2の底面で反射していない成分を用
いて得られる再生断面、10は超音波送受信子1′で得
られた受信信号のうちで、被検体2の底面で反射が1回
起こった後の成分を用いて得られる再生断面である。そ
して、第1図における超音波送受信子1.1’間の距離
を一定に保つことにより、X方向への1回の走査で得ら
れる3枚の再生断面8゜9.10の幾何学的配置が決ま
る。従って、超音波送受信子l、1′をx二y方向の2
次元走査をすることにより、一定の幾何学的配置に置か
れている3枚の断面像がX方向にΔyずつ離れた配置で
得られる。このようにして得られた3次元空間上の画像
データを超音波ビーム強度で規格化し、3次元空間での
直交座標上に並べ変えることにより被検体2の内部空間
の情報とする。この時、例えば再生断面8と再生断面9
の情報は超音波ビーム4(第1図参照)の径路の特質か
ら被検体2の底面からつながっているドリルホールのよ
うな欠陥3(第1図参照)に対して、再生断面8上では
。
ドリルホールの先端部分が断面像として映像化されてお
り、再生断面9上ではドリルホールの底面部分が断面像
として映像化されている。この2枚の断面像を並べ変え
ることにより3次元空間に配置する場合に、近接した画
素に対しては画素値の大きい方の値を採用して内挿する
。このような操作を行うことにより、3次元空間に並べ
られた画像は上記ドリルホールに対して先端部分と底面
部分の両方が映像化される。一方、被検体2中に空洞と
して存在する欠陥の場合は、その底面部分には映像が現
われない。この特徴から2種類の欠陥の違いが明確とな
り、欠陥の代表的な長さ、形状。
り、再生断面9上ではドリルホールの底面部分が断面像
として映像化されている。この2枚の断面像を並べ変え
ることにより3次元空間に配置する場合に、近接した画
素に対しては画素値の大きい方の値を採用して内挿する
。このような操作を行うことにより、3次元空間に並べ
られた画像は上記ドリルホールに対して先端部分と底面
部分の両方が映像化される。一方、被検体2中に空洞と
して存在する欠陥の場合は、その底面部分には映像が現
われない。この特徴から2種類の欠陥の違いが明確とな
り、欠陥の代表的な長さ、形状。
大きざが明らかになってくる。
なお、上記実施例では、超音波送受信子1′を斜角入射
用の超音波送受信子として用い、被検体2の底面で反射
していない成分と反射する成分とに分けて再生断面を決
定しているが、例えば第3図に示すこの発明の他の実施
例のように3つの超音波送受信子1.1’、1”と2つ
の斜角ウェッジ7.7′を用い、被検体2の底面で反射
しない成分だけで得られる3枚の断面像から3次元空間
への並へ変えを行っても良い。
用の超音波送受信子として用い、被検体2の底面で反射
していない成分と反射する成分とに分けて再生断面を決
定しているが、例えば第3図に示すこの発明の他の実施
例のように3つの超音波送受信子1.1’、1”と2つ
の斜角ウェッジ7.7′を用い、被検体2の底面で反射
しない成分だけで得られる3枚の断面像から3次元空間
への並へ変えを行っても良い。
[発明の効果コ
以上のように、この発明の超音波による3次元物体形状
認識方法は、複数の超音波送受信子を一定距離に配置し
、被検体に対し少なくとも2枚の垂直法及び斜角法によ
る2方向からの断面像を得て被検体の断面像群を得、さ
らにそれぞれの断面の特徴的情報を組み合わせて3次元
構成により映像化された画像の観察を行うものであるの
で、被検体中に存在する欠陥の位置、形状、大きさを正
確に求めることができ、欠陥の定量化に役立つという優
れた効果を奏するものである。
認識方法は、複数の超音波送受信子を一定距離に配置し
、被検体に対し少なくとも2枚の垂直法及び斜角法によ
る2方向からの断面像を得て被検体の断面像群を得、さ
らにそれぞれの断面の特徴的情報を組み合わせて3次元
構成により映像化された画像の観察を行うものであるの
で、被検体中に存在する欠陥の位置、形状、大きさを正
確に求めることができ、欠陥の定量化に役立つという優
れた効果を奏するものである。
第1図はこの発明の一実施例である超音波による3次元
物体形状認識方法を示す説明図、第2図は第1図の超音
波による3次元物体形状認識方法において、超音波送受
信子の1回の走査で得られる断面像を示す説明図、第3
図はこの発明の他の実施例である超音波による3次元物
体形状認識方法を示す説明図、第4図は従来の合成開口
法を用いた超音波映像化方法を示す説明図、第5図は第
4図の合成開口法を用いた超音波映像化方法において、
画像の再構成を行う手法を示す説明図である。 図において、1.l’l”・・・超音波送受信子、2・
・・被検体、3・・・欠陥、4・・・超音波ビーム、5
・・・走査線、6・・・位相履歴線、7,7゛・・・斜
角ウェッジ である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
物体形状認識方法を示す説明図、第2図は第1図の超音
波による3次元物体形状認識方法において、超音波送受
信子の1回の走査で得られる断面像を示す説明図、第3
図はこの発明の他の実施例である超音波による3次元物
体形状認識方法を示す説明図、第4図は従来の合成開口
法を用いた超音波映像化方法を示す説明図、第5図は第
4図の合成開口法を用いた超音波映像化方法において、
画像の再構成を行う手法を示す説明図である。 図において、1.l’l”・・・超音波送受信子、2・
・・被検体、3・・・欠陥、4・・・超音波ビーム、5
・・・走査線、6・・・位相履歴線、7,7゛・・・斜
角ウェッジ である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (1)
- 合成開口法を用いた超音波映像化方法において、複数の
超音波送受信子を一定距離に配置し、被検体に対し少な
くとも2枚の垂直法による断面像と斜角法による断面像
を得、また上記超音波送受信子を2次元走査することに
より上記被検体の断面像群を得、さらにそれぞれの断面
の特徴的情報を組み合わせて3次元画像を得ることによ
り、その映像化対象の特徴を抽出するようにした超音波
による3次元物体形状認識方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63151647A JP2643318B2 (ja) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | 超音波による3次元物体形状認識方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63151647A JP2643318B2 (ja) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | 超音波による3次元物体形状認識方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01318952A true JPH01318952A (ja) | 1989-12-25 |
JP2643318B2 JP2643318B2 (ja) | 1997-08-20 |
Family
ID=15523136
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63151647A Expired - Lifetime JP2643318B2 (ja) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | 超音波による3次元物体形状認識方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2643318B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008089380A (ja) * | 2006-09-29 | 2008-04-17 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 画像再構成装置 |
CN104950040A (zh) * | 2015-07-03 | 2015-09-30 | 浙江农林大学 | 基于Top-k反距离加权的木材内部缺陷三维成像方法 |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS56119872A (en) * | 1980-02-27 | 1981-09-19 | Hitachi Ltd | Ultrasonic video reproducing device |
JPS58139062A (ja) * | 1982-02-15 | 1983-08-18 | Hitachi Ltd | 超音波探傷用画像表示装置 |
JPS5960355A (ja) * | 1982-09-30 | 1984-04-06 | Toshiba Corp | 超音波探傷装置 |
JPS6291856A (ja) * | 1985-10-03 | 1987-04-27 | フオエスト ― アルピネ シュタール リンツ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 欠陥分類方法 |
JPS6396551A (ja) * | 1986-10-14 | 1988-04-27 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 超音波探傷装置 |
-
1988
- 1988-06-20 JP JP63151647A patent/JP2643318B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (5)
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Also Published As
Publication number | Publication date |
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JP2643318B2 (ja) | 1997-08-20 |
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