CN101852774B - 探伤系统及探伤方法 - Google Patents

探伤系统及探伤方法 Download PDF

Info

Publication number
CN101852774B
CN101852774B CN201010178619A CN201010178619A CN101852774B CN 101852774 B CN101852774 B CN 101852774B CN 201010178619 A CN201010178619 A CN 201010178619A CN 201010178619 A CN201010178619 A CN 201010178619A CN 101852774 B CN101852774 B CN 101852774B
Authority
CN
China
Prior art keywords
laser
workpiece
flaw detection
thermal excitation
test surface
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201010178619A
Other languages
English (en)
Other versions
CN101852774A (zh
Inventor
王波
刘小军
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
XI'AN JINBO TESTING INSTRUMENTS CO Ltd
Original Assignee
XI'AN JINBO TESTING INSTRUMENTS CO Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by XI'AN JINBO TESTING INSTRUMENTS CO Ltd filed Critical XI'AN JINBO TESTING INSTRUMENTS CO Ltd
Priority to CN201010178619A priority Critical patent/CN101852774B/zh
Publication of CN101852774A publication Critical patent/CN101852774A/zh
Priority to EP11780132A priority patent/EP2570805A1/en
Priority to PCT/CN2011/073349 priority patent/WO2011140911A1/zh
Priority to US13/697,715 priority patent/US20130061677A1/en
Application granted granted Critical
Publication of CN101852774B publication Critical patent/CN101852774B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N29/00Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
    • G01N29/22Details, e.g. general constructional or apparatus details
    • G01N29/24Probes
    • G01N29/2418Probes using optoacoustic interaction with the material, e.g. laser radiation, photoacoustics
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2291/00Indexing codes associated with group G01N29/00
    • G01N2291/02Indexing codes associated with the analysed material
    • G01N2291/028Material parameters
    • G01N2291/0289Internal structure, e.g. defects, grain size, texture

Abstract

一种探伤系统及探伤方法。所述探伤系统包括:激光器,产生脉冲激光;光路调节装置,对激光器产生的激光进行光路调节后使所述激光投射到工件探伤面,对所述探伤面进行激光扫描;信号接收装置,捕获被探伤工件由所述激光扫描产生的热激励超声波信号;成像装置,基于信号接收装置接收的热激励超声波信号,生成动态波形影像。所述探伤系统及探伤方法能够对任意形状物体实施高速探伤,探伤可靠性较高,且能够获得直观、实时的探伤结果。

Description

探伤系统及探伤方法
技术领域
本发明涉及无损探伤领域,特别涉及应用超声波技术的探伤系统及探伤方法。
背景技术
目前,在工业生产及应用过程中,对工件进行无损探伤以获知工件内部的缺陷已成为一种常规化的检测手段。其中,超声波探伤技术是业界采用较为广泛的一种无损探伤技术。
现有的超声波探伤技术,其简单来说是通过超声波探头向工件的探伤面发生超声波,并根据所述超声波经由工件缺陷的反射回波或衍射波来确定工件内部的缺陷。而依据超声波探头相对于探伤面的位置及探头控制方法的不同,现有的超声波探伤技术可分为多种。例如,包括有利用垂直探头对探伤面垂直收发超声波的垂直探伤法、对探伤面倾斜入射超声波并接收回波的斜角探伤法、由配置成对的1对斜角超声波探头中的1个探头入射纵波、并由另1个探头接收出射衍射波的飞行时间(TOFD,Time Of Flight Diffraction)衍射法等等。
上述举例的超声波探伤方法各有利弊,通常还需要基于检测环境来选择适当的探伤方法。例如,基于被探测工件的材料、形状的不同来进行探伤方法的选择。因此,上述举例的超声波探伤方法都有各自的局限范围。
并且,由于上述举例的超声波探伤方法都需要将发射超声波的探头置于工件探伤面进行接触式探伤,因而对于一些表面凹凸不平或形状复杂的工件,这些超声波探伤方法的探伤结果就很容易受到探头与探伤面接触条件的影响。
发明内容
本发明解决的问题是现有超声波探伤方法的探伤结果易受到探头与探伤面接触条件的影响的问题。
为解决上述问题,本发明提供一种探伤系统,包括:
激光器,产生脉冲激光;
光路调节装置,对激光器产生的脉冲激光进行光路调节后使所述激光投射到工件探伤面,对所述探伤面进行激光扫描;
信号接收装置,捕获被探伤工件由所述激光扫描产生的热激励超声波信号;
成像装置,基于信号接收装置接收的热激励超声波信号,生成动态波形影像。
相应地,本发明还提供一种探伤方法,包括:
应用脉冲激光扫描被探伤工件表面;
接收被探伤工件由所述激光扫描产生的热激励超声波信号;
基于所述热激励超声波信号,生成动态波形影像。
与现有技术相比,上述探伤系统及探伤方法具有以下优点:以所述激光扫描代替现有技术发射超声波的方式作为探伤信号源,由于激光扫描无须如现有技术般将探头与被探伤工件表面接触,探伤结果也不会受到所述探头与探伤面接触条件的影响,因而较为精确。同时,非接触的扫描方式也使得探伤效率大大提高。另外,对于现有技术难于探伤的复杂形状工件也可无损检测。
并且,基于所述热激励超声波信号生成的动态波形影像,也能提供更为直观且实时的探伤结果,相应地,不同技术人员基于该实时波形影像进行分析获得的探伤结果差异较小,因此,探伤结果受探伤技术人员水平的影响较小。
附图说明
图1是本发明探伤系统的一种实施方式示意图;
图2是本发明探伤系统的一种实施例示意图;
图3是图2所示探伤系统中电动扫描镜的一种可选实现方式示意图;
图4是图2所示探伤系统激光投射于工件探伤面的投影示意图;
图5是图2所示探伤系统获取激光投射于工件上的空间投影坐标示意图;
图6是2探头构成的超声波接收探头进行缺陷3D定位的示意图;
图7是本发明探伤方法的一种实施方式示意图。
具体实施方式
参照图1所示,本发明探伤系统的一种实施方式包括:
激光器10,产生脉冲激光;
光路调节装置20,对激光器10产生的激光进行光路调节后使所述激光投射到工件探伤面,对所述探伤面进行激光扫描;
信号接收装置30,捕获被探伤工件由所述激光扫描产生的热激励超声波信号;
成像装置40,基于信号接收装置30接收的热激励超声波信号,生成动态波形影像。
上述探伤系统的实施方式中,激光器10产生的脉冲激光作为探伤信号源,所述脉冲激光经由所述光路调节装置20的光路调节,可以改变在探伤面上的投射位置,从而实现对探伤面的激光扫描。经由实验证实,所述脉冲激光投射位置处会产生瞬间剧烈的热膨胀,从而产生热激励超声波。并且,所述热激励超声波会沿所述探伤面向被探伤工件内部传播。当所述热激励超声波经过工件内部的缺陷时,其波形就会发生异常变化。因此,通过信号接收装置30捕获所述热激励超声波信号,并通过成像装置40生成动态波形影像,就可对于被探伤工件的内部情况有一个直观且实时的了解。
以下通过一些具体实例对所述探伤系统的各组成部件及工作过程作进一步说明。
参照图2所示,本发明探伤系统的一种实施例包括:
激光器11,产生脉冲激光;
电动扫描镜21,根据扫描控制信号对脉冲激光发生器11产生的脉冲激光进行反射角度调节后使所述脉冲激光投射到工件100探伤面,对所述探伤面进行激光扫描;
超声波接收探头31,捕获工件100由所述激光扫描产生的热激励超声波信号;
放大器41,对所述热激励超声波信号进行增幅处理;
模数转换器42,对所述增幅后的热激励超声波信号进行模数转换处理;
中控电脑43,向所述电动扫描镜21发送扫描控制信号控制光路调节过程,控制激光器11的开关,并在开启激光器11时向模数转换器42发送同步信号,以及接收模数转换器42输出的数字化热激励超声波信号,以此生成动态波形影像并显示。
结合图2和图3所示,所述电动扫描镜21的一种可选实现方式包括:经由电机控制的2轴扫描镜,其包括第一镜面22和第二镜面23,所述电机由所述中控电脑43发送的扫描控制信号控制。当所述脉冲激光发生器11发射脉冲激光110后,所述脉冲激光110首先到达所述电动扫描镜21的第一镜面22,所述脉冲激光110经由第一镜面22的反射后到达第二镜面23,并再经由第二镜面23的反射后投射到前述的工件100的探伤面。
由所述第一镜面22、第二镜面23构成的电动扫描镜21的工作过程可以看到,通过电机分别控制所述两块镜面的角度可以调节所述脉冲激光110投射到工件100的探伤面的投射点200的位置。例如,继续参照图3所示,控制第一镜面22的法线Nx相对于水平轴的角度α可以控制所述脉冲激光110在所述探伤面上的水平位置,而控制第二镜面23的法线Ny相对于竖直轴的角度θ可以控制所述脉冲激光110在所述探伤面上的竖直位置,从而经由所述脉冲激光110在所述探伤面上的水平位置和竖直位置的确定,所述脉冲激光110在所述探伤面上的投射点200的位置。
此处仅为举例,并非用以限定,所述激光扫描的可以为光栅式扫描。具体地说,设定电动扫描镜21中两块镜面各自的初始角度,然后由中控电脑43向电动扫描镜21中的电机发送扫描控制信号,控制第一镜面22不动,而第二镜面23从下向上转动。并且,每当第二镜面23转动一个角度(包括初始角度)后,使得第二镜面23静止一定时间。此时,中控电脑43开启激光器11产生一个脉冲激光110投射到所述探伤面上。随后,中控电脑43再次使得第二镜面23转动一个角度,并再次开启激光器11产生一个脉冲激光110投射到所述探伤面上。从而依此过程,使得所述脉冲激光110在所述探伤面的某一水平位置从下向上依次进行激光投射。
当完成探伤面上的一列激光投射后,中控电脑43向电动扫描镜21中的电机发送扫描控制信号,控制第二镜面23回复到其初始角度,并且控制第一镜面22相对于其初始角度偏转一定角度,以使得此后脉冲激光110在所述探伤面上的起始投射位置相对于第一次扫描的起始投射位置发生水平位移,所述位移沿图2中箭头201方向。
此后,中控电脑43向电动扫描镜21中的电机发送扫描控制信号,控制第一镜面22不动,而第二镜面23从下向上依次转动一个角度。和之前相同地,对应每一个转动角度(包括初始角度),中控电脑43开启激光器11产生一个脉冲激光110投射到所述探伤面上。从而,使得所述脉冲激光110在所述探伤面上再次从下向上依次进行激光投射。如此周而复始,最终实现在所述探伤面上的光栅式扫描。
而在上述激光扫描期间,通过超声波接收探头31,就可捕获工件100由所述激光扫描产生的热激励超声波信号。根据超声波接收探头31接收所述热激励超声波信号的方式不同可以有多种可选的实现方式。
在一种可选方式中,所述超声波接收探头31为单个探头,其可以贴附于所述探伤面上或工件100的侧面或背面。所述单个探头可以垂直探测所述热激励超声波信号或以一定斜角探测所述热激励超声波信号。
在另一种可选方式中,所述超声波接收探头31为多个探头(2个或2个以上)构成的探头组。所述多个探头分别贴附于工件100的不同位置上,以对工件,特别是对厚度较大的工件,进行内部缺陷的3D定位。不仅可以获得工件内部缺陷在探伤面上的位置,还可以获得该内部缺陷在工件内部的深度。因此,通过多个探头的探测有助于进行更精确的缺陷定位。
所述超声波接收探头31在捕获所述热激励超声波信号后会将该热激励超声波信号发送至放大器41。
所述放大器41用于将所述热激励超声波信号进行增幅,以便于后续形成的波形影像能够更清晰地反映工件100的内部情况。更进一步,为获得更准确的波形影像,在所述放大器41中还可集成滤波装置,以去除干扰波并选择感兴趣的信号波。例如,通过选择滤波装置的低通、高通、带通工作模式以及滤波器的截止频率或中心频率,就可以得到特定频率成分的信号波。
所述放大器41在对所述热激励超声波信号增幅后,会将其发送至模数转换器42进行模数转换处理。
所述模数转换器42由中控电脑43控制,在中控电脑43开启激光器11产生一个脉冲激光110时,同时向所述模数转换器42发送同步信号,从而使得模数转换器42的模数转换处理与激光器11的开启时刻完全同步。所述模数转换器42完成模数转换处理后,将数字化的热激励超声波信号以波形列数据的方式发送至中控电脑43。由于模数转换器42的模数转换处理与激光器11的开启时刻完全同步,因而所述数字化的热激励超声波信号也包含了激光发射时刻的信息。
所述中控电脑43中的波形影像生成装置就会基于所获得的数字化的热激励超声波信号产生动态波形影像。具体地说,就是将所述数字化的热激励超声波信号的数据列按照激光对工件探伤面扫描时的空间投影坐标进行排列。并对激光发射的各个时刻的振幅值进行辉度调制,就可得到各个时刻的辉度图像。然后,对所述辉度图像按时间序列连续显示,就可构成动态的波形影像。
参照图4所示,以激光在工件探伤面的扫描区域的中心点120为基准点,设置基准点在xy坐标系中的坐标为基准坐标,以第二镜面23与所述中心点120的距离为基准举例,在已知激光投射点相对于基准点的角度时,通过计算来获得所述激光投射点相对于中心点的相对空间投影坐标。
结合图4和图5所示,假定中心点120的基准坐标为(x0,y0),第二镜面23与所述中心点120的距离为D,则所述扫描区域110中的其他激光投射点的相对空间投影坐标可基于中心点的基准坐标来获取。例如,某一激光投射点沿y方向的坐标点y1与第二镜面23的连线与中心点沿y方向的坐标点y0与第二镜面23的连线的夹角为θy。则,y1=y0+D×tan(θy)。同样地,该激光投射点沿x方向的坐标点x1与第二镜面23的连线与中心点沿x方向的坐标点x0与第二镜面23的连线的夹角为θx。则,x1=x0+D×tan(θx)。至此,该激光投射点相对于中心点的相对空间投影坐标确定。
以下以2探头构成的超声波接收探头为例,对定位工件内部缺陷的缺陷深度的过程进一步说明。
参照图6所示,在激光投射到工件探伤面上的某一点G时,工件由所述激光投射产生热激励超声波信号,当所述热激励超声波信号传播经过缺陷点F时,所述热激励超声波信号会产生相应变化。而该变化会被接收探头S1、S2所捕获。则在经由图4、5的举例获得激光投射点的空间投影坐标后,即可通过所述探头S1、S2与激光投射点的位置关系,以及探头S1、S2获得经由缺陷点F传播的热激励超声波信号的时间来确定缺陷深度。
具体地说,假定探头S1至缺陷点F的距离为D1,探头S2至缺陷点F的距离为D2,探头S1获得经由缺陷点F传播的热激励超声波信号的时间为T1,探头S2获得经由缺陷点F传播的热激励超声波信号的时间为T2,超声波传播速度为v,探头S1至激光投射点G的距离为L1,探头S2至激光投射点G的距离为L2,缺陷深度为h,则有:
D1=v×T1
D2=v×T2
h2=D12-L12=D22-L22=(v×T1)2-L12=(v×T2)2-L22    (1)
基于上述说明,T1、T2、L1、L2均可测,则利用式(1)可解得:
v2=(L12-L22)÷(T1 2-T2 2)                            (2)
将式(2)代入式(1)可得缺陷深度:
h = L 1 2 { [ 1 - ( L 2 / L 1 ) 2 ] ÷ [ 1 - ( T 2 / T 1 ) 2 ] - 1 } - - - ( 3 )
由此,就可获得工件内部缺陷的缺陷深度。
上述定位工件内部缺陷是以2探头举例,但并非对此作出限定。当探头数量增加至2个以上时,仍可参照上述方法进行缺陷定位,此处就不再赘述了。
对应上述探伤系统,本发明还提供一种探伤方法。参照图7所示,根据其一种实施方式,所述探伤方法包括:
步骤s1,应用激光扫描被探伤工件表面;
步骤s2,接收被探伤工件由所述激光扫描产生的热激励超声波信号;
步骤s3,基于所述热激励超声波信号,生成动态波形影像。
对于探伤的详细过程,可参考上述探伤系统相关的举例说明,此处就不再赘述了。
基于以上的举例说明可以看到,本发明探伤系统及探伤方法以所述激光扫描代替现有技术发射超声波的方式作为探伤信号源,由于激光扫描无须如现有技术般将探头与被探伤工件表面接触,探伤结果也不会受到所述探头与探伤面接触条件的影响,因而较为精确。
并且,基于所述热激励超声波信号生成的动态波形影像,也能提供更为直观且实时的探伤结果。
虽然本发明已以较佳实施例披露如上,但本发明并非限定于此。任何本领域技术人员,在不脱离本发明的精神和范围内,所做的各种更动与修改,均包含在本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种探伤系统,其特征在于,包括:激光器、光路调节装置、信号接收装置、中控电脑和成像装置,其中,
激光器,产生脉冲激光;
光路调节装置,对激光器产生的脉冲激光进行光路调节后使所述激光投射到工件探伤面,对所述探伤面进行激光扫描;信号接收装置,捕获被探伤工件由所述激光扫描产生的热激励超声波信号;
中控电脑,与所述激光器、光路调节装置及成像装置均相连,在光路调节装置转动到能使激光投射到工件探伤面的不同投射位置时,控制所述激光器发射一个脉冲激光,并在开启所述激光器的同时向成像装置发送同步信号;
成像装置,基于所述同步信号处理信号接收装置接收的热激励超声波信号,形成包含所述脉冲激光发射时刻信息的数据;
所述中控电脑还用于基于所述探伤面上的各投射位置对应的空间投影坐标以及各投射位置处形成的数据,生成按时间序列连续显示的动态波形影像。
2.如权利要求1所述的探伤系统,其特征在于,所述光路调节装置为2轴扫描镜,所述2轴扫描镜包括第一镜面和第二镜面,所述第一镜面经由其法线相对于水平轴的角度确定所述激光在工件探伤面上的水平投射位置,所述第二镜面经由其法线相对于竖直轴的角度确定所述激光在工件探伤面上的竖直投射位置。
3.如权利要求1所述的探伤系统,其特征在于,所述信号接收装置为单个或多个超声波接收探头,其置于工件探伤面上或工件的侧面或工件的背面。
4.如权利要求1所述的探伤系统,其特征在于,所述成像装置包括:
放大器,对所述热激励超声波信号进行增幅处理;
模数转换器,对增幅处理后的热激励超声波信号进行模数转换处理;
所述中控电脑包括波形影像生成装置,对模数转换处理后的数字化的热激励超声波信号按所述探伤面上的扫描点对应的空间投影坐标进行排列,并对热激励超声波信号的各个时刻的振幅值进行亮度调制获得图像化的波形图形,并对所述图像化的图形按时间序列连续显示,生成动态的波形影像。
5.如权利要求4所述的探伤系统,其特征在于,所述模数转换器的模数转换处理与所述激光器的激光发射同步。
6.一种探伤方法,其特征在于,包括:
应用脉冲激光扫描被探伤工件表面,在激光转动到能投射到工件探伤面的不同投射位置时,发射一个脉冲激光;
在开启激光器的同时处理被探伤工件由所述激光扫描产生的热激励超声波信号,形成包含所述脉冲激光发射时刻信息的数据;
基于所述被探伤工件表面上的各投射位置对应的空间投影坐标以及各投射位置处形成的数据,生成按时间序列连续显示的动态波形影像。
CN201010178619A 2010-05-14 2010-05-14 探伤系统及探伤方法 Active CN101852774B (zh)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201010178619A CN101852774B (zh) 2010-05-14 2010-05-14 探伤系统及探伤方法
EP11780132A EP2570805A1 (en) 2010-05-14 2011-04-27 Crack detection system and method
PCT/CN2011/073349 WO2011140911A1 (zh) 2010-05-14 2011-04-27 探伤系统及探伤方法
US13/697,715 US20130061677A1 (en) 2010-05-14 2011-04-27 Defect detecting system and method

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201010178619A CN101852774B (zh) 2010-05-14 2010-05-14 探伤系统及探伤方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN101852774A CN101852774A (zh) 2010-10-06
CN101852774B true CN101852774B (zh) 2012-10-24

Family

ID=42804359

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201010178619A Active CN101852774B (zh) 2010-05-14 2010-05-14 探伤系统及探伤方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20130061677A1 (zh)
EP (1) EP2570805A1 (zh)
CN (1) CN101852774B (zh)
WO (1) WO2011140911A1 (zh)

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101369212B1 (ko) * 2012-08-01 2014-03-27 한국과학기술원 회전 구조물의 레이저 초음파 영상화 방법 및 장치
TW201418662A (zh) * 2012-11-15 2014-05-16 Nat Applied Res Laboratories 遠距離量測裂縫之方法及其裝置
CN103543162B (zh) * 2013-11-05 2015-11-04 中国矿业大学 一种半导体片材的表面缺陷及厚度检测方法及装置
CN104634741B (zh) * 2014-10-22 2017-12-08 南京航空航天大学 一种快速定位缺陷的激光超声检测方法及其系统
CN104807886B (zh) * 2015-05-08 2018-01-30 北京新联铁集团股份有限公司 激光超声探伤方法
CN105277571B (zh) * 2015-06-25 2018-06-26 浙江大学 一种旋转轴表面裂纹在线检测系统及检测方法
US10692204B2 (en) 2016-08-01 2020-06-23 The Boeing Company System and method for high speed surface and subsurface FOD and defect detection
US10242439B1 (en) 2016-08-17 2019-03-26 The United States Of America As Represented By The Administrator Of The National Aeronautics And Space Administration Contrast based imaging and analysis computer-implemented method to analyze pulse thermography data for nondestructive evaluation
US11079357B2 (en) * 2018-03-26 2021-08-03 The Boeing Company Method and apparatus for enhanced visualization of anomalies in a structure
CN108982666A (zh) * 2018-07-24 2018-12-11 北京工业大学 一种对板结构反射/透射系数的水浸超声无损测量方法
TWI708041B (zh) * 2018-10-17 2020-10-21 所羅門股份有限公司 檢測與標記瑕疵的方法
CN109612940B (zh) * 2018-12-05 2021-07-27 东南大学 一种激光阵列对生成超声快速控制的无损检测系统及无损检测方法
CN110501424A (zh) * 2019-08-19 2019-11-26 国家电网有限公司 一种激光超声的全光型耐张线夹无损检测装置
CN110849812A (zh) * 2019-10-16 2020-02-28 东南大学 一种高效率激光超声扫描成像检测和超声数据处理的方法
CN111189863A (zh) * 2020-01-10 2020-05-22 中国原子能科学研究院 X射线探伤装置
CN112179849B (zh) * 2020-09-17 2022-02-22 西安交通大学 一种五轴激光超声自动化检测设备及方法
CN112280968B (zh) * 2020-09-18 2021-12-28 西安交通大学 一种高能脉冲激光加工测量一体化系统及方法
US11639914B2 (en) * 2020-12-16 2023-05-02 The Boeing Company Non-destructive test systems with infrared thermography assemblies and ultrasonic test assemblies, and associated methods
CN113075298B (zh) * 2021-03-29 2024-03-29 重庆交通大学 一种基于激光超声技术的混凝土微裂缝检测方法
CN113324912A (zh) * 2021-04-14 2021-08-31 航天科工防御技术研究试验中心 塑封结构内部缺陷检测设备、方法及存储介质
CN113588566B (zh) * 2021-08-23 2022-06-21 南京大学 基于激光超声的激光点焊微焊点质量检测装置及方法
CN113640385A (zh) * 2021-10-12 2021-11-12 宝宇(武汉)激光技术有限公司 一种衍射时差法激光超声焊缝无损检测设备及方法
CN113953659B (zh) * 2021-11-09 2022-06-24 西安电子科技大学 一种基于脉冲交替法的激光加工实时成像装置及方法
CN114295731B (zh) * 2021-12-28 2023-02-21 杭州电子科技大学 一种基于激光激励纵波测量亚表面缺陷深度的方法
CN115932044B (zh) * 2022-12-22 2024-02-20 江苏先进光源技术研究院有限公司 一种激光加工过程中工件缺陷实时检测方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5760904A (en) * 1996-07-26 1998-06-02 General Electric Company Method and system for inspecting a surface of an object with laser ultrasound
CN101301201A (zh) * 2008-07-03 2008-11-12 刘国栋 光声超声激发与传感一体化检测装置

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09281085A (ja) * 1996-04-17 1997-10-31 Nippon Steel Corp レーザー超音波検査装置及びレーザー超音波検査方法
JPH11304768A (ja) * 1998-04-27 1999-11-05 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 剥離検知装置及び方法
US6633384B1 (en) * 1998-06-30 2003-10-14 Lockheed Martin Corporation Method and apparatus for ultrasonic laser testing
US6382028B1 (en) * 2000-02-23 2002-05-07 Massachusetts Institute Of Technology Ultrasonic defect detection system
JP2004045111A (ja) * 2002-07-10 2004-02-12 Hitachi High-Technologies Corp 照明光学機構装置、および、欠陥検査装置
US7150193B2 (en) * 2003-12-29 2006-12-19 General Electric Company Method for detection of defects in anisotropic materials
US7516662B2 (en) * 2004-01-26 2009-04-14 Force Technology Detecting rail defects
WO2006020341A2 (en) * 2004-07-23 2006-02-23 Massachusetts Institute Of Technology Characterization of materials with optically shaped acoustic waveforms
JP4595117B2 (ja) * 2005-04-19 2010-12-08 独立行政法人産業技術総合研究所 超音波伝搬の映像化方法および装置
US7624640B2 (en) * 2005-06-03 2009-12-01 Brown University Opto-acoustic methods and apparatus for performing high resolution acoustic imaging and other sample probing and modification operations
US7810395B2 (en) * 2005-12-22 2010-10-12 Total Wire Corporation Ultrasonic pressure sensor and method of operating the same
JP4734120B2 (ja) * 2006-01-06 2011-07-27 株式会社東芝 航空機機体の検査方法および装置
CN101490543A (zh) * 2006-07-11 2009-07-22 财团法人电力中央研究所 超声波探伤装置和方法
US7605924B2 (en) * 2006-12-06 2009-10-20 Lockheed Martin Corporation Laser-ultrasound inspection using infrared thermography
US7966883B2 (en) * 2006-12-06 2011-06-28 Lockheed Martin Corporation Non-destructive inspection using laser-ultrasound and infrared thermography
US7816622B2 (en) * 2007-09-28 2010-10-19 General Electric Company System and method for controlling laser shock peening
JP5210087B2 (ja) * 2008-08-14 2013-06-12 富士フイルム株式会社 光超音波断層画像化装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5760904A (en) * 1996-07-26 1998-06-02 General Electric Company Method and system for inspecting a surface of an object with laser ultrasound
CN101301201A (zh) * 2008-07-03 2008-11-12 刘国栋 光声超声激发与传感一体化检测装置

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
刘洋等.激光超声技术在钢轨探伤中的应用研究.《机械设计与制造》.2009,(第10期),60-61. *

Also Published As

Publication number Publication date
US20130061677A1 (en) 2013-03-14
WO2011140911A1 (zh) 2011-11-17
EP2570805A1 (en) 2013-03-20
CN101852774A (zh) 2010-10-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN101852774B (zh) 探伤系统及探伤方法
EP1709418B1 (en) Method and apparatus for examining the interior material of an object, such as a pipeline or a human body from a surface of the object using ultrasound
EP2639581B1 (en) Ultrasonic inspection method
CN108169331B (zh) 薄板栅格翼结构焊缝相控阵超声检测装置及检测方法
CN106990172B (zh) 一种超声检测与成像方法及其系统
KR101052347B1 (ko) 음향초음파 전파 영상화 장치
JP6926011B2 (ja) 超音波探傷装置および超音波探傷方法
WO2020191972A1 (zh) 一种超声检测缺陷定性系统和定性方法
JP2007046913A (ja) 溶接構造体探傷試験方法、及び鋼溶接構造体探傷装置
JP2014048169A (ja) 超音波探傷法及び超音波探傷装置
JPH01500294A (ja) 超音波撮像装置と撮像方法
Harvey et al. Finite element analysis of ultrasonic phased array inspections on anisotropic welds
US10197535B2 (en) Apparatus and method for full-field pulse-echo laser ultrasonic propagation imaging
Lukacs et al. Remote ultrasonic imaging of a wire arc additive manufactured Ti-6AI-4V component using laser induced phased array
KR101444078B1 (ko) 원자로 상부헤드 제어봉 구동장치 관통관 비파괴 검사장치 및 방법
JP2006300634A (ja) 超音波伝搬の映像化方法および装置
JP2004150875A (ja) 超音波による内部欠陥の映像化方法、及び、装置
KR102094597B1 (ko) 배플포머볼트의 초음파 검사 장치 및 이를 이용한 배플포머볼트의 검사 방법
US4596142A (en) Ultrasonic resonance for detecting changes in elastic properties
Sutcliffe et al. Virtual source aperture image processing methods for non-destructive testing
EP3546933B1 (en) Method and apparatus for enhanced visualization of anomalies in a structure using ultrasound
CN108226292B (zh) T型接管焊缝的缺陷检测方法、装置、存储介质和处理器
Chia et al. New design and algorithm for an ultrasonic propagation imaging system
JP2007071755A (ja) 超音波探傷装置および超音波探傷方法
CN108693252A (zh) 三角矩阵聚焦成像的工件探伤检测方法

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
ASS Succession or assignment of patent right

Owner name: XI AN TSUKUBA TECHNOLOGY CO., LTD.

Free format text: FORMER OWNER: WANG BO

Effective date: 20110919

C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
COR Change of bibliographic data

Free format text: CORRECT: ADDRESS; FROM: 710048 XI AN, SHAANXI PROVINCE TO: 710075 XI AN, SHAANXI PROVINCE

TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20110919

Address after: 710075, B702, 16 hi tech Road, Shaanxi, Xi'an

Applicant after: Xi'an Zhubo Science & Technology Co., Ltd.

Address before: 206, room 3, unit 15, West House, Xi'an Polytechnic University, Shaanxi, Xi'an 710048, China

Applicant before: Wang Bo

EE01 Entry into force of recordation of patent licensing contract

Assignee: Xi'an Jinbo Testing Instruments Co., Ltd.

Assignor: Xi'an Zhubo Science & Technology Co., Ltd.

Contract record no.: 2011610000206

Denomination of invention: Flaw detection system and flaw detection method

License type: Exclusive License

Open date: 20101006

Record date: 20111228

ASS Succession or assignment of patent right

Owner name: XI AN JINBO TESTING INSTRUMENTS CO., LTD.

Free format text: FORMER OWNER: XI AN TSUKUBA TECHNOLOGY CO., LTD.

Effective date: 20120312

C41 Transfer of patent application or patent right or utility model
COR Change of bibliographic data

Free format text: CORRECT: ADDRESS; FROM: 710075 XI AN, SHAANXI PROVINCE TO: 710089 XI AN, SHAANXI PROVINCE

TA01 Transfer of patent application right

Effective date of registration: 20120312

Address after: 710089 Shaanxi Province, Xi'an city Yanliang District Lantian Road No. 5 Chong Building 516-517

Applicant after: Xi'an Jinbo Testing Instruments Co., Ltd.

Address before: 710075, B702, 16 hi tech Road, Shaanxi, Xi'an

Applicant before: Xi'an Zhubo Science & Technology Co., Ltd.

C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant