JP6926011B2 - 超音波探傷装置および超音波探傷方法 - Google Patents

超音波探傷装置および超音波探傷方法 Download PDF

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Description

本発明の実施形態は、超音波探傷装置および超音波探傷方法に関する。
超音波探傷試験(UT:Ultrasonic Testing)は、非破壊で構造材の表面および内部の健全性を確認できる技術であり、様々な分野で欠かせない検査技術となっている。小型の超音波送受信用の超音波素子として圧電素子を並べ、圧電素子ごとにタイミング(遅延時間)をずらして超音波を発信することにより任意の波形を形成できるフェーズドアレイ超音波探傷試験(PAUT:Phased Array UT)は、工業用途でも広く用いられている。フェーズドアレイ超音波探傷技術は、所定の角度しか超音波を発信できない単眼プローブに比べ、1回の探傷で広範囲を探傷したり、複数の角度で探傷したり、複雑形状に対応したりすることができる可能性がある。このため、フェーズドアレイ超音波探傷技術は、作業工数を低減することが可能な点が大きな魅力となっている。
特許第5889742号公報
しかしながら、溶接部など異方性があったり結晶粒が粗大化していたりする検査対象では、音響的な異方性が生じる。その場合、超音波の伝搬パスによってはその異方性に応じて音速や減衰係数が変化することがある。これらの変化が、音響異方性による超音波探傷時の誤差として、検査結果に影響を与える。この対策としてこれまでにいろいろな施策が提案されてきた。
溶接部と母材とで音響特性に変化が発生することに着目し、溶接部に入射した超音波が所定の屈折角で曲がって欠陥に到達するというパスを推定し、伝搬距離の誤差を低減する手法が提案されている。ただし、これは推定の根拠となるバックデータが必要となることや、母材と溶接金属というあらかじめ設計された界面での作用を推定しているのみで、全体的にランダムな異方性をもつ対象へは適用できない。
そこで、本発明の実施形態は、超音波探傷において、検査対象の異方性の影響を低減することを目的とする。
上述の目的を達成するため、本実施形態に係る超音波探傷装置は、検査対象に超音波を送信し前記検査対象で反射した超音波を受信する所定の位置に配された複数の超音波素子を有する超音波アレイプローブと、前記検査対象内の想定音速に基づいて形状反射部位で反射する場合の推定形状反射波の前記超音波素子に到達する推定時間である推定形状反射波到達時間を演算する推定形状反射波到達時間演算部と、超音波の送信に用いる前記超音波素子から前記検査対象内を伝搬して前記形状反射部位で反射され、超音波の受信に用いる前記超音波素子のそれぞれに受信される実形状反射波に基づいて、実形状反射波到達時間を抽出する実形状反射波到達時間抽出部と、前記推定形状反射波到達時間から前記実形状反射波到達時間を減じた差分を、形状反射波差分時間として算出する形状反射波差分時間演算部と、前記形状反射波差分時間を考慮して遅延時間を算出する遅延時間演算部と、前記遅延時間を用いて前記超音波素子のそれぞれによる超音波の送受信のタイミングを相互にずらして、前記超音波素子が受信した受信波の合成波形を演算する合成演算部と、を備え、前記形状反射部位は、前記検査対象の全体形状に関わる形状部分あるいは前記検査対象において代表的な部分であってかつ前記検査対象中の検出しようとする欠陥とは異なるものである、ことを特徴とする。
また、本実施形態に係る超音波探傷方法は、超音波アレイプローブの有する複数の超音波素子のそれぞれが、検査対象に超音波を送信し前記検査対象からの反射波を受信する超音波受発信ステップと、推定形状反射波到達時間演算部が、前記検査対象内の想定音速に基づく推定形状反射波到達時間を演算する推定形状反射波到達時間演算ステップと、実形状反射波到達時間抽出部が、超音波の送信に用いる前記超音波素子から前記検査対象内を伝搬して形状反射部位で反射され超音波の受信に用いる前記超音波素子に受信される実形状反射波に基づいて実形状反射波到達時間を抽出する実形状反射波到達時間抽出ステップと、形状反射波差分時間演算部が、前記推定形状反射波到達時間と前記実形状反射波到達時間との差分を形状反射波差分時間として算出する形状反射波差分時間演算ステップと、遅延時間演算部が、前記形状反射波差分時間を考慮して遅延時間を算出する遅延時間演算ステップと、合成演算部が、前記遅延時間を用いて前記超音波素子のそれぞれによる超音波の送受信のタイミングを相互にずらして、前記超音波素子が受信した受信波の合成波形を演算する合成演算ステップと、を有し、前記形状反射部位は、前記検査対象の全体形状に関わる形状部分あるいは前記検査対象において代表的な部分であってかつ前記検査対象中の検出しようとする欠陥とは異なるものである、を有することを特徴とする。
本発明の実施形態によれば、超音波探傷において、検査対象の異方性の影響を低減することが可能となる。
実施形態に係る超音波探傷装置の構成を示すブロック図である。 実施形態に係る超音波探傷装置における到達時間演算を説明する図であって、(a)は、体形図、(b)は、第1ないし第3の超音波素子から送信した場合の各超音波素子での受信信号を示す図である。 実施形態に係る超音波探傷装置において、遅延時間を考慮した各超音波素子での受信信号を示す図である。 実施形態に係る超音波探傷方法における手順を示すフロー図である。 実施形態に係る超音波探傷方法における各超音波素子での超音波の各送受信の状態を示す、(a)は体系図、(b)は第1の超音波素子から送信した場合の各超音波素子での受信信号を示す図である。 実施形態に係る超音波探傷方法における超音波の各送受信の状態を示す、(a)は体系図、(b)は第2の超音波素子から送信した場合の各超音波素子での受信信号を示す図である。 実施形態に係る超音波探傷方法における超音波の各送受信の状態を示す、(a)は体系図、(b)は第Nの超音波素子から送信した場合の各超音波素子での受信信号を示す図である。 実施形態に係る超音波探傷方法における遅延時間演算を説明する概念的構成図である。 スネルの法則を用いる経路の説明図である。 実施形態に係る超音波探傷方法における推定形状反射波到達時間を説明する図であり、送信素子番号i=1の場合である。 実施形態に係る超音波探傷方法における推定形状反射波到達時間を説明する図であり、送信素子番号i=5の場合である。 実施形態に係る超音波探傷方法における推定形状反射波到達時間を説明する図であり、送信素子番号i=10の場合である。 実施形態に係る超音波探傷方法における推定遅延時間演算を説明する第1のグラフである。 実施形態に係る超音波探傷方法における推定遅延時間演算を説明する第2のグラフである。 実施形態に係る超音波探傷方法における到達時間の抽出を説明する図である。 実施形態に係る超音波探傷方法における実形状反射波到達時間を示す図であり、送信素子番号i=1の場合である。 実施形態に係る超音波探傷方法における実形状反射波到達時間を示す図であり、送信素子番号i=5の場合である。 実施形態に係る超音波探傷方法における実形状反射波到達時間を示す図であり、送信素子番号i=10の場合である。 実施形態に係る超音波探傷方法における形状反射波差分時間を説明する図であり、送信素子番号i=1の場合である。 実施形態に係る超音波探傷方法における形状反射波差分時間を説明する図であり、送信素子番号i=5の場合である。 実施形態に係る超音波探傷方法における形状反射波差分時間を説明する図であり、送信素子番号i=10の場合である。 実施形態に係る超音波探傷方法における推定形状反射波強度演算の結果を示す図であり、送信素子番号i=1の場合である。 実施形態に係る超音波探傷方法における推定形状反射波強度演算の結果を示す図であり、送信素子番号i=5の場合である。 実施形態に係る超音波探傷方法における推定形状反射波強度演算の結果を示す図であり、送信素子番号i=10の場合である。 実施形態に係る超音波探傷方法における反射波強度抽出時の反射波強度の算出方法を説明する図である。 実施形態に係る超音波探傷方法における実形状反射波強度抽出での実形状反射波強度を示す図であり、送信素子番号i=1の場合である。 実施形態に係る超音波探傷方法における実形状反射波強度抽出での実形状反射波強度を示す図であり、送信素子番号i=5の場合である。 実施形態に係る超音波探傷方法における実形状反射波強度抽出での実形状反射波強度を示す図であり、送信素子番号i=10の場合である。 実施形態に係る超音波探傷方法における形状反射波強度比を示す図であり、送信素子番号i=1の場合である。 実施形態に係る超音波探傷方法における形状反射波強度比を示す図であり、送信素子番号i=5の場合である。 実施形態に係る超音波探傷方法における形状反射波強度比を示す図であり、送信素子番号i=10の場合である。 実施形態に係る超音波探傷方法における合成演算を説明する、補正ゲインによる補正を行った各超音波素子での受信信号を示す図である。 実施形態に係る超音波探傷方法において、強度の補正を行った後の、通常の合成の状態を説明する図である。 実施形態に係る超音波探傷方法において、強度の補正を行った後に、形状反射波差分時間で補正した場合の状態を説明する図である。 実施形態に係る超音波探傷方法における合成演算による合成波形を示す図である。 実施形態に係る超音波探傷方法における画像化を説明するための単一のビームを表示した図である。 実施形態に係る超音波探傷方法における画像化を説明するための合成波を示す波形図である。 実施形態に係る画像化を説明するためのリニアスキャンによる複数のビームを表示した図である。 実施形態に係る超音波探傷方法における画像化を説明するための画像を示す図である。
以下、図面を参照して、本発明の実施形態に係る超音波探傷装置、および超音波探傷方法について説明する。ここで、互いに同一または類似の部分には、共通の符号を付して、重畳説明は省略する。
図1は、実施形態に係る超音波探傷装置の構成を示すブロック図である。超音波探傷装置100は、検査対象1に内在する欠陥2を超音波により非破壊的に検出する。超音波探傷装置100は、監視操作盤110と、超音波アレイプローブ10と、超音波アレイプローブ10を駆動する駆動部15と、検査対象情報取得部90とを有する。
超音波アレイプローブ10は、複数の超音波素子11と、これらを保持する保持部12とを有する。超音波素子11は、セラミクス製や複合材料製であり、これらの圧電効果により超音波を送受信することができる圧電素子、あるいは高分子フィルムによる圧電素子であり、あるいはそれ以外でも超音波を送受信できる素子であればよい。それぞれの超音波素子11は、超音波をダンピングするダンピング部材と、前面に取り付けられた前面板を有し、たとえば、一般的に超音波探触子と呼ばれるものでよい。
超音波アレイプローブ10では、検査対象1に超音波を送信し、検査対象1や欠陥2で反射、散乱された超音波を受信するN個(N:自然数)の超音波素子11が所定の位置に配されている。
以下では、超音波アレイプローブ10において、超音波素子11が所定の位置に配されている場合として、一般的にリニアアレイプローブと呼ばれる超音波素子11が第1の方向に1次元的に配列された場合を例にとって示すが、これに限定されない。所定の位置に配されている場合としては、たとえば、超音波アレイプローブ10が、他のタイプの構成のアレイプローブであってもよい。あるいは複数のタイプを組み合せて使用するいわゆるタンデム探傷でもよい。
他のタイプとしては、リニアアレイプローブの奥行き方向(第1の方向に垂直な第2の方法)に超音波素子を不均一な大きさで分割した1.5次元アレイプローブ、超音波素子11が第1の方向および第2の方向に2次元的に配列されたマトリクスアレイプローブ、第1の方向がリング状であり超音波素子11が同心円状に配列されたリングアレイプローブ、リングアレイプローブの複数の超音波素子11を周方向で分割した分割型リングアレイプローブ、超音波素子11が不均一に配置された不均一アレイプローブ、第1の方向が円弧状でありその周方向位置に超音波素子11を配置した円弧状アレイプローブ、球面の表面に超音波素子11を配置した球状アレイプローブなどが挙げられる。
なお、超音波アレイプローブ10は、コーキングやパッキングを用いることにより、気中環境、液中環境を問わず利用可能なものを含むものとする。
駆動部15は、たとえば保持部12を把持しながら、超音波アレイプローブ10を、検査対象1のまわりを移動駆動させる。
超音波を指向性の高い角度で検査対象1へ入射させるために、楔(図示せず)を用いる場合がある。楔には、アクリル、ポリイミド、ゲル、その他の高分子など、超音波が伝搬可能で音響インピーダンスが把握できている等方材を用いる。また、楔には、前面板と音響インピーダンスが近い、もしくは同じ材質を用いることもできる。あるいは、楔には、検査対象1と音響インピーダンスが近い、もしくは同じ材質を用いることもできる。また、段階的もしくは漸次的に音響インピーダンスを変化させる複合材料でもよい。
さらに、楔内の多重反射波が探傷結果に影響を与えないように、楔の内外にダンピング材を配置したり、山型の波消し形状の部材を設けたり、多重反射を低減する機構を有することでもよい。なお、以下の説明において、超音波アレイプローブ10から検査対象1へ超音波を入射させる際の楔の記載、図示は省略している。
超音波アレイプローブ10と楔との間、楔と検査対象1との間、あるいは超音波アレイプローブ10と検査対象1との間は、音響接触媒質5により、音響的に結合、すなわち音響がほぼ全量通過可能となる。音響接触媒質5は、例えば水やグリセリン、マシン油、ひまし油、アクリル、ポリスチレン、ゲル等であるが、超音波を伝搬できる媒質であればこれら以外も使用できる。なお、以下の説明においては、超音波アレイプローブ10から検査対象1へ超音波を入射させる際に音響接触媒質5の記載を省略している場合もある。
検査対象情報取得部90は、検査対象1の形状など、検査対象1に関する情報を獲得して、監視操作盤110内の入力部80に出力する。検査対象情報取得部90は、検査対象1に関する情報を取得する手段の総称である。具体的には、検査対象1の外観データを取得するための3次元カメラ、検査対象1の温度分布を把握するための代表箇所の温度の計測手段および代表箇所の温度に基づいた検査対象1内の温度分布演算手段などである。検査対象情報取得部90は、容易にアクセスできない場所での、検査対象1の形状、寸法、温度などの情報の取得が必要な場合に設ける。したがって、検査対象1に関するこれらの情報が既知の場合、あるいは、容易に把握できる場合には、必ずしも設けなくともよい。
監視操作盤110は、受発信部20と、演算部30と、記憶部50と、制御部60と、表示部70と、入力部80とを有する。監視操作盤110は、いわゆるPC(Personal Computer)に代表されるような汎用的に演算やデータ通信を行える機能を有する装置を含み、搭載された各部分を内包し、あるいは通信ケーブルで接続できる構成である。
受発信部20は、電位差印加部21、入り切り部22、およびAD変換部23を有する。
電位差印加部21は、超音波素子11に振動を生ぜしめる電位差を印加可能である。入り切り部22は、選択された超音波素子11と電位差印加部21とを導通状態とし、また、非導通状態とするよう、すなわち、超音波素子11に電位差を印加した状態と印加しない状態との切り替えを行う。
電位差印加部21は、入り切り部22によって導通状態とされた超音波素子11に対して、任意波形の電圧を印加する。印加電圧の波形は、サイン波、のこぎり波、矩形波、スパイクパルス等があり、正負両極の値をもついわゆるバイポーラの波形でもよいし、正負どちらか一方の極性のユニポーラの波形でもよい。また、正負どちらかのオフセットを付加してもよい。また、波形は単パルス、バーストもしくは連続波などでもよく、さらに、印加時間や繰り返し波数を増減可能とすることでもよい。
AD変換部23は、超音波素子11が受信した反射波が、アナログ信号、すなわち時間に対して連続的な信号であるため、演算部30でのディジタル処理のために、アナログ信号をディジタル信号に変換する。
入力部80は、外部および検査対象情報取得部90からの入力を受け入れる。入力としては、検査対象1の形状、寸法、材質等の検査対象1の属性に関する情報、検査対象1の温度などの検査対象1の状態に関する情報などである。入力部80で受け入れた検査対象1に関する情報は、後述する記憶部50の検査対象情報記憶部52に保存される。
表示部70は、受発信部20、演算部30および記憶部50からの情報に基づいて、検査結果の画像を始め、検査員などのために必要とされる情報を、進行順序に基づいて計画的に、あるいは、要求に応じて表示する。表示部70は、ディジタルデータを表示できるものであればよく、液晶表示装置、プロジェクタ、ブラウン管等でもよい。また、表示部70は、設定した条件に応じて音や発光によりアラームを生じさせたり、タッチパネルとして操作を入力したりするユーザインタフェース機能を有してもよい。
記憶部50は、信号処理情報記憶部51および検査対象情報記憶部52を有する。信号処理情報記憶部51は、超音波アレイプローブ10が受信した反射波を受発信部20のAD変換部23がAD変換した反射波の情報すなわち反射波のディジタルデータ、および、演算部30においてそれぞれの要素において演算処理された結果を、保存する。検査対象情報記憶部52は、入力部80で受け入れた検査対象1に関する情報を記憶する。
制御部60は、監視操作盤110内の各構成要素におけるそれぞれの処理が、全体として整合をとりながら進められるように、監視操作盤110内の各構成要素の進行状態を監視し、それぞれの処理のタイミング等を制御する。
演算部30は、超音波素子11からの超音波の発信のタイミングの決定や、受信された波形に基づいて合成画像データの作成などを行う。演算部30は、音速演算部31と、遅延時間演算部32と、推定形状反射波到達時間演算部33と、実形状反射波到達時間抽出部34と、形状反射波差分時間演算部35と、実音速演算部36と、推定形状反射波強度演算部37と、実形状反射波強度抽出部38と、形状反射波強度比演算部39と、合成演算部40と、画像演算部41とを有する。
音速演算部31は、検査対象情報記憶部52に保存された検査対象に関する形状、寸法、温度、材質などの情報にもとづいて、検査対象1における想定音速Vsを算出する。音速演算部31では、検査対象1および音響接触媒質5が方向や位置によらずに均一な音速をもつ等方材料と推定し、それぞれの想定音速Vsを算出する。
遅延時間演算部32は、それぞれの超音波素子11から送信した超音波が、焦点3(図2)に集束するようにするために必要な、送受信するタイミングを相互にずらすための遅延時間を、後述する仮想遅延時間および形状反射波差分時間に基づいて算出する。
図2は、到達時間演算を説明する図であって、図2の(a)は体形図、(b)は第1ないし第3の超音波素子から送信した場合の各超音波素子での受信信号を示す図である。なお、Uf(i,j)の表示は、第i番目の超音波素子11から送信し、第j番目の超音波素子11で受信した反射波の波形であることを表わす。左側の図のように、焦点3に集束させるように第1ないし第3の超音波素子11の送信時刻をずらしても、受信の経路の伝搬時間が異なるため、右側の図のように、反射信号の到達時刻がばらつくことになる。
なお、超音波探傷装置100においては、この場合、3つで一組の超音波素子11が、たとえば、まずは(1,2,3)、次は(2,3,4)、次は(3,4,5)、・・・、(N−2,N−1,N)と順次1つずつずれていくことにより、長手方向にスキャンする。
図3は、遅延時間を考慮した各超音波素子での受信信号を示す図である。このように、送信側の遅延時間と受信側の遅延時間との両方の遅延時間を考慮することにより、各受信波の波形Uf(i,j)における反射波の時刻が一致する。すなわち、各超音波素子11による受信について、反射波の到達時点が互いに一致する。
推定形状反射波到達時間演算部33は、検査対象情報記憶部52に保存されている検査対象1の形状、寸法、音速演算部31において算出された音響接触媒質5、検査対象1などにおける想定音速Vs等に基づいて、超音波が送信されて、推定形状反射波Rs(i,j)が受信側の超音波素子11に到達する推定時間である推定形状反射波到達時間Ts(i,j)を演算する。
ここで、推定形状反射波Rs(i,j)とは推定される形状反射波であり、形状反射波とは、i番目の超音波素子11から送信され、j番目の超音波素子11により受信された波形に、形状反射部位で反射した反射波が含まれている受信波を言うものとする。形状反射部分で反射した反射波は、図3に示した反射波に対応する。
また、形状反射部位とは、検査対象1の全体形状に関わる形状部分、あるいは、検査対象1において代表的な部分を言うものとする。形状反射部位は、たとえば、入射面に対向する裏側の面、あるいは互いに異なる材料の場合の境界面、角部、穴(冷却孔等)等でもよい。反射面である形状反射部位の形状は平面に限る必要はない。
推定形状反射波到達時間演算部33では、想定音速Vsと各送受信に用いる超音波素子11の座標および、推定形状反射波Rs(i,j)の反射源の位置関係から各超音波素子11から送信された超音波が推定形状反射波Rs(i,j)として各超音波素子11に受信されるまでに要する推定形状反射波到達時間Ts(i,j)を演算するものである。
伝搬時間の演算方法は、一般的な音線追跡のようなレイトレース法でもよいし、有限要素解析のような数値解析を用いてもよい。ここで得られる推定形状反射波到達時間はTs(i,j)となる。
実形状反射波到達時間抽出部34は、信号処理情報記憶部51に保存された実際の反射波データ、すなわち、超音波送信に用いるi番目(i=1、2、3、…、N)の超音波素子11から発せられて、検査対象1内を伝搬して形状反射部位で反射され超音波受信に用いるj番目(j=1、2、3、…、N)の超音波素子11に受信された実形状反射波Rr(i,j)について、それらが到達する実形状反射波到達時間Tr(i,j)を抽出する。以下、(i,j)の表示は同様にi番目からの送信、j番目の受信の組合せを意味する。
形状反射波差分時間演算部35は、推定形状反射波到達時間Ts(i,j)から実形状反射波到達時間Tr(i,j)を減じた差分を形状反射波差分時間Td(i,j)として算出する。
実音速演算部36は、推定形状反射波到達時間Ts(i,j)の実形状反射波到達時間Tr(i,j)に対する比を、音速演算部31で算出した想定音速Vs(i,j)に乗じて、実音速Va(i,j)を算出する。
推定形状反射波強度演算部37は、検査対象情報記憶部52に保存されている検査対象1に関する情報に基づいて、超音波の伝搬時の減衰等を模擬して、超音波素子11で受信する超音波の強度である推定形状反射波強度Is(i,j)を演算する。
実形状反射波強度抽出部38は、実形状反射波Rr(i,j)における実形状反射波強度Ir(i,j)を抽出する。
形状反射波強度比演算部39は、推定形状反射波強度Is(i,j)と実形状反射波強度Ir(i,j)との比を形状反射波強度比Id(i,j)として算出する。
合成演算部40は、各超音波素子11が受信した受信波を、遅延時間にしたがって反射波の到達時刻を合わせた後に合成して合成波形Mを得る。
画像演算部41は、合成波形Mと、超音波ビームの伝搬経路と、伝搬経路上の音速に基づいて、表示用の画像データを演算する。
図4は、実施形態に係る超音波探傷方法における手順を示すフロー図である。
まず、推定音速演算を行う(ステップS11)。すなわち、音速演算部31が、検査対象情報記憶部52に保存されている検査対象1に関する情報に基づいて、検査対象1および音響接触媒質5のそれぞれにおける想定音速Vsを算出する。
また、超音波アレイプローブ10を、検査対象1に設置する(ステップS12)。この際、必要に応じて、音響接触媒質5を、検査対象1と超音波アレイプローブ10との間に設置する。駆動部15が超音波アレイプローブ10の保持部12を把持し、超音波アレイプローブ10を所定の位置に設定する。
次に、探傷条件に応じた超音波の送受信を行う(ステップS13)。超音波を送信する時には、超音波アレイプローブ10の中の1つ以上の超音波素子11から超音波を照射し、1つ以上の超音波素子11でそれぞれ超音波を受信することにより、それぞれの組合せによる超音波波形Uf(i,j)を得ることができる。
なお、ステップS13は、ステップS12の後に行う必要があるが、ステップS11は、ステップS12またはステップS13とは、前後関係を問わない。
図5は、実施形態に係る超音波探傷方法における各超音波素子での超音波の各送受信の状態を示す、図5の(a)は体系図、(b)は第1の超音波素子から送信した場合の各超音波素子での受信信号を示す図である。図6は、同様に第2の超音波素子から送信した場合の各超音波素子での受信信号を示す図である。また、図7は、第Nの超音波素子から送信した場合の各超音波素子での受信信号を示す図である。
第1の超音波素子11から送信し、第1ないし第Nの超音波素子11で受信することにより、図5に示すように、超音波波形Uf(1,1)ないし超音波波形Uf(1,N)が得られる。また、第2の超音波素子11から送信し、第1ないし第Nの超音波素子11で受信することにより、図6に示すように、超音波波形Uf(2,1)ないし超音波波形Uf(2,N)が得られる。同様に、第Nの超音波素子11から送信し、第1ないし第Nの超音波素子11で受信することにより、図5に示すように、超音波波形Uf(N,1)ないし超音波波形Uf(N,N)が得られる。
このように、N個の超音波素子11を有する超音波アレイプローブ10を使用した場合、N個の超音波素子11で受信しながら送信素子を順次変えていくと、最大でN×Nパターンの超音波波形が収録される。ここで、受信は専用に独立した超音波素子11として、送信に用いる超音波素子11だけを複数化することも可能である。また、遅延時間をかけて超音波の平面波化、集束、拡散などを行うこともできる。
検査対象1に入射された超音波は、検査対象1の表面や、検査対象1の内部や表面に存在するき裂や介在物などに代表される欠陥2によって反射・散乱され、その反射された超音波は超音波アレイプローブ10の超音波素子11により受信される。
ステップS13の後に、以下にそれぞれ詳細を説明する時間関係の補正のための演算(ステップS20)および強度関係の補正のための演算(ステップS30)を行う。ここで、ステップS20とステップS30の前後関係は問わない。
時間関係の補正演算(ステップS20)として、まず、推定形状反射波到達時間演算部33が、推定形状反射波到達時間の算出を行う(ステップS21)。推定形状反射波到達時間演算部33は、検査対象1が方向や位置によらずに均一な音響特性をもつ等方材料と推定し、各送受信に用いる超音波素子11の座標および、推定形状反射波Rs(i,j)の反射源の位置関係から各超音波素子11から送信された超音波が形状反射として各超音波素子11に受信されるまでの時間を推定するものである。
図8は、遅延時間演算を説明する概念的構成図である。たとえば焦点3に集束するように、複数の超音波素子11、例えばE1ないしEKのK箇の超音波素子11から超音波を送信する。図8では、Kが7の場合を示している。
ここで、i番目の超音波素子11であるEiから焦点3までの経路上にあるメッシュk(k=1,2,・・・,K)のそれぞれにおける超音波の伝搬長さをLk、伝搬速度をVk(k=1,2,・・・,K)とする。なお、伝搬長さL1は、超音波素子11の中心に基づいて算出する。i番目の超音波素子11から焦点3までの伝搬時間Tは、次の式(1)で算出される。
T=Σ(Lk/Vk) …(1)
ただし、Σは、kが1からKまでの合計である。
推定形状反射波到達時間演算部33では、同一材料においては、均一と仮定して演算する。すなわち、送信された反射させるまでの超音波の伝搬する経路が、たとえば、音響接触媒質5および検査対象1である場合は、それぞれについては、メッシュ分割をしない。すなわち、K=2である。この場合、音響接触媒質5および検査対象1のそれぞれについて、想定音速Vsを設定して、推定形状反射波到達時間Ts(i,j)を算出する。
音響接触媒質5を超音波アレイプローブ10と検査対象1との間に設ける場合は、スネルの法則を用いて各超音波素子11から検査対象1に超音波が入射する点を算出し、音響接触媒質5と検査対象1の音速をそれぞれ用いて、それぞれの伝搬に要する飛行時間を演算してから遅延時間を算出する。
図9は、スネルの法則を用いる経路の説明図である。検査対象1を含む体系の媒質A(音響接触媒質5に相当)内の始点Paから、媒質B(検査対象1に相当)内の終点Pbまでの経路は、スネルの法則を用いて決定することができる。今、媒質A内の音速をVA、媒質B内の音速VBとし、媒質Aから媒質Bへ入射するときの入射角をθA、屈折角をθBとする。このとき、媒質A内の始点Paから媒質B内の終点Pbまでの経路は、次の式(2)を満たす入射点Wが1つ決定でき、この結果、径路が決定できる。
sinθA/sinθB=VA/VB …(2)
この時用いる検査対象1の表面形状Sは一般的な平面や傾いた平面だけに限らず曲率や凹凸部があっても、それを考慮した幾何計算を行うことができる。これは、スネルの法則を用いる入射点Wの計算時に、超音波が入射する表面の点の角度情報を反映することで可能となる。検査対象1の表面形状Sは、検査対象情報取得部90あるいは直接に外部から入力部80に入力されて、検査対象情報記憶部52に保存された検査対象情報に含まれている。
図10は、推定形状反射波到達時間を説明する図であり、(a)に示すように送信素子番号i=1の場合、図11は、送信素子番号i=5の場合、また、図12は、送信素子番号i=10の場合である。それぞれの図の(b)の横軸は受信する超音波素子11の番号(j)であり、時間[μs]と表示された縦軸は、それぞれの受信素子における推定形状反射波到達時間Ts(i,j)である。
ある超音波素子から発生された超音波は、図10ないし図12に示すように、ある形状部分で反射され、推定形状反射波Rs(i,j)となって各超音波素子にて受信される。図10ないし図12では、検査対象1の底面、すなわち超音波の入射面に対向する裏側の面が形状部分である場合を示している。
i番目の超音波素子11から送信され、形状部分で反射し、j番目の超音波素子11で受信される超音波は、推定形状反射波Rs(i,j)として得られる。ここで、i番目の超音波素子11から送信され、形状部分で反射した推定形状反射波Rs(i,j)が、受信するj番目の超音波素子11に到達する時間は、推定形状反射波到達時間Ts(i,j)として与えられる。推定形状反射波到達時間Ts(i,j)は、i番目の超音波素子11から形状部分での反射位置を経て、j番目の超音波素子11に至る音響接触媒質5および検査対象1内の経路の長さを、それぞれにおける想定音速Vsで除したものである。
図10に示すように、送信素子番号iが1の場合は、推定形状反射波到達時間Ts(1,j)のうち受信素子番号jが1の場合が、径路が最も短く、推定形状反射波到達時間Ts(1,1)が最も小さい。図11に示すように、送信素子番号iが5の場合は、推定形状反射波到達時間Ts(5,j)のうち受信素子番号jが5の場合が、径路が最も短く、推定形状反射波到達時間Ts(5,5)が最も小さい。また、図12に示すように、送信素子番号iが10の場合は、推定形状反射波到達時間Ts(10,j)のうち受信素子番号jが10の場合が、径路が最も短く、推定形状反射波到達時間Ts(10,10)が最も小さい。すなわち、図10ないし図12は、形状部分が平板上の底面であるが、平板からの底面エコーを想定すると、i=jの時が、径路が最も短く、最短の到達時間となる。
次に、遅延時間演算部32は、推定遅延時間の算出を行う(ステップS22)。
図13は、推定遅延時間演算を説明する第1のグラフである。送受信する超音波素子11の数は、図8と同様に7とした場合を示している。図13の縦軸は、焦点3(図8)から、それぞれの超音波素子11までの超音波の伝搬時間を示す。
推定遅延時間は、音響接触媒質5および検査対象1のそれぞれにおける想定音速Vsが一定であると仮定した場合に、図8に示すように超音波アレイプローブ10の複数の超音波素子11(例えば図8においてはE1〜E7の7つ)を用いて焦点3に超音波を集束させる際に、各超音波素子11に設定される遅延時間である。推定遅延時間の算出に際して想定音速Vsを一定値とすることから、この推定遅延時間については、超音波アレイプローブ10の複数の超音波素子11の配置や配列、また超音波アレイプローブ10に対する焦点3の位置(探傷角度や探傷深さ)などの幾何情報に基づいて決定することができる。すなわち、推定遅延時間は想定音速Vsが一定であると仮定した場合の、幾何形状から推定される遅延時間である。
図8においては、E1が焦点3から最も離れているため、焦点3への伝搬時間は、E1が超音波を送信する超音波素子11である場合に最も長くなり、E2ないしE7がそれぞれ超音波素子11となる場合についての伝搬時間は、E1についての伝搬時間よりも短い。図13において、それぞれの伝搬時間を実線で示し、E1についての伝搬時間からEiについての伝搬時間を減じた値をEiについての推定遅延時間として破線で示す。
図14は、推定遅延時間演算を説明する第2のグラフであり、図13で破線により示された推定遅延時間を示す。
超音波アレイプローブ10の複数の超音波素子11に対してこのように推定遅延時間を設定することにより、想定音速Vsが一定であると仮定した場合に、複数の超音波素子11により焦点3に集束する超音波を送受信することができる。なお、この際、使用する複数の超音波素子11の配置に基づいて基準点をあらかじめ定義することができ、このように基準点を定義する場合、複数の超音波素子11により基準点から焦点3に超音波ビームを送受信しているものとして扱うことができる。
次に、実形状反射波到達時間抽出部34が、実形状反射波の到達時間の抽出を行う(ステップS23)。
図15は、実施形態に係る超音波探傷方法における到達時間の抽出を説明する図である。実形状反射波到達時間抽出部34は、図15に示すように、信号処理情報記憶部51に保存されている実形状反射波Rr(i,j)の波形Uf(i,j)に基づいて、この波形が保存された超音波の到達時間に関する情報を抽出し、到達時間を決定する。
いま、実形状反射波Rr(i,j)の典型的な波形を単純化した波形として、プラス側にパルス状に立ち上がった後に、マイナス側にパルス状に立ち下がる場合を例にとると、到達時間の決定方法としては、たとえば、以下の方法がある。
第1の方法は、最初のプラス側のパルスが、最初にしきい値に到達した時点を以て、実形状反射波Rr(i,j)の到達の時点とする方法である。
第2の方法は、最初のプラス側のパルスが最大値に到達した時点を以て、実形状反射波Rr(i,j)の到達の時点とする方法である。
第3の方法は、最初のプラス側のパルスがマイナス側に転じた時点、具体的には、受信波の定常平均レベルと交差した時点を以て、実形状反射波Rr(i,j)の到達の時点とする方法である。
その他、安定的に判定できる方法であれば、上記の方法以外の方法であってもよい。また、1回の測定で得られた波形Uf(i,j)(i,j=1,・・・,N)のグループに関しては、抽出方法が共通している。なお、互いに異なる測定で得られた波形Uf(i,j)の相互間でも抽出方法が共通していることが好ましいが、これに限定しない。このように、決定方法は限定しないことから、本ステップに用いる演算部30の要素を、実形状反射波到達時間抽出部34と呼ぶものとしている。
図16は、実形状反射波到達時間を示す図であり、(a)に示すように、送信素子番号i=1の場合、図17は、送信素子番号i=5の場合、図18は、送信素子番号i=10の場合である。それぞれの(b)においては、実形状反射波到達時間を実線で示しており、比較のために推定形状反射波到達時間を破線で示している。推定形状反射波到達時間Ts(i,j)は、音響接触媒質5および検査対象1のそれぞれにおける想定音速Vsを一定値としていることから、伝搬時間が経路長さのみで決定されるため、受信素子番号jの超音波素子11における推定形状反射波到達時間Ts(i,j)は比較的に単純な関係となっている。
一方、検査対象1が、位置や方向によって音速にばらつきを生じる異方性材料であった場合、あるいは検査対象1内に温度分布がある場合は、実音速Vaが検査対象1内の場所ごとに微妙に異なることが考えられる。この場合、超音波の径路も直線的な径路からずれてくる。この結果、実際の応答波形Uf(i,j)に基づいて得られる受信素子番号jの超音波素子11ごとの実形状反射波到達時間Tr(i,j)は、推定形状反射波到達時間Ts(i,j)からずれることになる。
次に、形状反射波差分時間演算部35が、形状反射波差分時間の演算を行う(ステップS24)。形状反射波差分時間演算部35は、推定形状反射波到達時間演算部33で推定形状反射波到達時間Ts(i,j)と、実形状反射波到達時間抽出部34で得た実形状反射波到達時間Tr(i,j)の形状反射波差分時間Td(i,j)を演算する。具体的には、形状反射波差分時間演算部35は、同一素子の組み合わせどうしで実形状反射波到達時間Tr(i,j)と推定形状反射波到達時間Ts(i,j)の差分を演算し形状反射波差分時間Td(i,j)を得る。
図19は、形状反射波差分時間を説明する図であり、送信素子番号i=1の場合、図20は、送信素子番号i=5の場合、また、図21は、送信素子番号i=10の場合である。この形状反射波差分時間Td(i,j)は、図19ないし図21に示すように、正負の両極の値を取りうる。
ここで得られた形状反射波差分時間Td(i,j)は、合成波形Mを得るためのスキームに反映することができる。上記の通り、推定遅延時間は等方材を仮定した想定音速Vsに基づいて計算されるため、検査対象1が異方性を持っていた場合は、理想的な合成波形Mが得られない。そこで、遅延時間演算部32は、推定遅延時間に形状反射波差分時間Td(i,j)を加減する補正を行うことにより遅延時間を算出する。このように、遅延時間演算部32が推定遅延時間に対して形状反射波差分時間Td(i,j)を考慮して遅延時間を算出し、合成演算部40が各超音波素子11の受信した受信波をこの遅延時間にしたがって合成することにより、異方性を低減させた合成波形Mを得ることができる。
ここで、形状反射波差分時間Td(i,j)は、実形状反射波到達時間Tr(i,j)から推定形状反射波到達時間Ts(i,j)を減じることにより得られることから、形状反射波差分時間Td(i,j)が負となった場合は、想定より早い時間に実形状反射波が到達していることを表しているため、遅延時間としては増分となる。逆に、実形状反射波が推定より遅く到達していると想定される場合は、遅延時間は減分となる。形状反射波差分時間Td(i,j)は、合成演算において、遅延時間の補正分として、使用することができる。
なお、例えば焦点3の焦点深さが裏側の面に対して浅い場合など、超音波素子11から焦点3までの距離が、超音波素子11から推定形状反射波Rs(i,j)を生じる形状部分までの距離に対して大幅に短い場合には、推定遅延時間に形状反射波差分時間Td(i,j)を単純に加減してしまうと形状反射波差分時間Td(i,j)を考慮した補正が大きくなりすぎるため、遅延時間演算部32による遅延時間の算出を、形状反射波差分時間Td(i,j)に重み付け係数を乗じたうえで推定遅延時間に加減するように構成することもできる。このような重み付け係数については、超音波素子11から焦点3までの距離と形状部分までの距離との比によって定めるほか、実験やシミュレーションになどによっても予め適宜定めることが可能である。また、重み付け係数を超音波素子11から形状部分までの距離に対する焦点3までの距離の比率の関数としてもよい。
次に、実音速演算部36は、実音速の演算を行う(ステップS25)。
ステップS21で得られた推定形状反射波到達時間Ts(i,j)と、ステップS23で得られた実形状反射波到達時間Tr(i,j)とは、送信素子番号iと受信素子番号jがそれぞれ一致していれば、近似的には、同じ伝搬パスを通ってきたとみなすことができる。そのため、実形状反射波到達時間Tr(i,j)と推定形状反射波到達時間Ts(i,j)の比から、実音速演算部36は、実音速Va(i,j)を推定することができる。
例えば、実形状反射波到達時間Tr(i,j)を推定形状反射波到達時間Ts(i,j)で規格化したとき、その値が2であれば実音速Va(i,j)はViに対してその逆数をかけた値(0.5Vi)と演算される。このとき、伝搬パスに音速が確実に一定となる部分(音響接触媒質など)を設けていた場合は、音響接触媒質中の伝搬時間分を減じた値で比を求める必要がある。また、ここで得た実音速Va(i,j)は、送受信する超音波素子の組み合わせと対応しているので、対応する超音波素子の送受信波形を用いた場合の遅延時間演算に、実音速Va(i,j)を用いることもできる。
ここで得た実音速Va(i,j)は、探傷画像演算においても、検査対象1内の音速として用いることができる。すなわち、送信された超音波の、検査対象1内の各位置における波形の時間変化は、この実音速Va(i,j)と送信後の各位置までの経路長さを用いて算出することができる。
また、強度関係の補正演算(ステップS30)として、まず、推定形状反射波強度演算部37が、推定形状反射波強度の算出を行う(ステップS31)。
推定形状反射波強度演算部37では、検査対象1が方向や位置によらずに均一な音響特性をもつ等方材料と推定し、各送受信に用いる超音波素子11の座標および、推定形状反射波Rs(i,j)の反射源の位置関係から各超音波素子11から送信された超音波が形状反射として各超音波素子11に受信された時の強度を推定するものである。
この推定に際しては、入射する超音波の周波数や、検査対象1の弾性特性に応じた伝搬減衰、音場が広がることによる拡散減衰、推定形状反射波Rs(i,j)の反射される形状部の形状および縦波から横波へ変換するモード変換効率等が考慮される。この演算に用いる方法は一般的な音線追跡のようなレイトレース法でもよいし、有限要素解析のような数値解析を用いてもよい。また、このとき計算する推定形状反射波Rs(i,j)の音源は、例示した底面からのを反射波に限定する必要はなく、検査対象1に設けられた角部や穴(冷却孔等)でもよいことは、ステップS21での推定形状反射波到達時間演算部33と同様である。このようにして、推定形状反射波強度演算部37は推定形状反射波強度Is(i,j)を算出する。
図22は、推定形状反射波強度演算の結果を示す図であり、(a)に示すように送信素子番号i=1の場合、図23は、送信素子番号i=5の場合また、図24は、送信素子番号i=10の場合である。それぞれの(b)に示すように、平板からの底面エコーを想定するとi=jの時に、減衰等に寄与する経路長さが最小となり、推定形状反射波強度Is(i,j)が最大となる。
次に、実形状反射波強度抽出部38は、実形状反射波強度Ir(i,j)の抽出を行う(ステップS32)。
図25は、反射波強度抽出時の反射波強度の算出方法を説明する図である。
実形状反射波強度抽出部38は、図15に示すように、信号処理情報記憶部51に保存されている実形状反射波Rr(i,j)の波形Uf(i,j)に基づいて、この波形における反射波の部分の強度Ir(i,j)を算出する。
いま、ステップS23と同様に、実形状反射波Rr(i,j)の典型的な波形Uf(i,j)を単純化した波形として、プラス側にパルス状に立ち上がった後に、マイナス側にパルス状に立ち下がる場合を例にとる。強度の算出方法としては、たとえば、以下の例に示すような方法がある。
第1の方法は、波形Uf(i,j)の最初のプラス側のピークと定常平均レベルとの差の絶対値Ir1を、強度Ir(i,j)とする方法である。
第2の方法は、波形Uf(i,j)の定常平均レベルとマイナス側のピークとの差の絶対値Ir2を、強度Ir(i,j)とする方法である。
第3の方法は、波形Uf(i,j)のプラス側のピークとマイナス側のピークの差の絶対値Ir3を、強度Ir(i,j)とする方法である。
第4の方法は、波形Uf(i,j)において、ある時間領域の時間積分により得られた結果の絶対値Ir4を、実形状反射波強度Ir(i,j)とする方法である。この場合、プラス側のピークの発生時刻の前後の区間で積分する方法と、マイナス側のピークの発生時刻の前後の区間で積分する方法とがある。
その他、安定的に判定できる方法であれば、上記の方法以外の方法であってもよい。また、1回の測定で得られた波形Uf(i,j)(i,j=1,・・・,N)のグループに関しては、強度の抽出方法が共通している。なお、互いに異なる測定で得られた波形Uf(i,j)の相互間でも抽出方法が共通していることが好ましいが、これに限定しない。このように、決定方法は限定しないことから、本ステップに用いる演算部30の要素を、実形状反射波強度抽出部38と呼ぶものとしている。
図26は、実形状反射波強度抽出での実形状反射波強度を示す図であり、(a)に示すように、送信素子番号i=1の場合、図27は、送信素子番号i=5の場合、図28は、送信素子番号i=10の場合である。
図26ないし図28それぞれの(b)において、実形状反射波強度Ir(i,j)は、実線で示しているが、比較のために、推定形状反射波強度Is(i,j)を破線で示している。図26ないし図28に示すように、検査対象1が、位置や角度によって音速にばらつきを生じる異方性材料だった場合、実形状反射波強度Ir(i,j)と推定形状反射波強度Is(i,j)は同一にはならない。
次に、形状反射波強度比演算部39は、形状反射波強度比の演算を行う(ステップS33)。形状反射波強度比演算部39は、実形状反射波強度抽出部38で得たIr(i,j)の、推定形状反射波強度演算部37で得たIs(i,j)に対する比を演算するものである。これを同一素子の組み合わせどうしでIr(i,j)をIs(i,j)で規格化した値が形状反射波強度比Id(i,j)となる。
図29は、形状反射波強度比Id(i,j)を示す図であり、送信素子番号i=1の場合、図30は、送信素子番号i=5の場合、図31は、送信素子番号i=10の場合である。形状反射波強度比Id(i,j)は図29ないし図31に示すように、1を中心として正の値を取りうる。
形状反射波強度比Id(i,j)をもとに、合成波形Mの演算時に用いるそれぞれの波形Uf(i,j)の補正ゲインGc(i,j)を算出する。例えば、補正ゲインGc(i,j)を形状反射波強度比Id(i,j)の逆数と設定して、それを波形Uf(i,j)に乗じることにより、伝搬経路に応じた減衰の大小を低減することとしてもよい。
なお、時間関係の補正のための演算(ステップS20)は、強度関係の補正のための演算(ステップS30)とは独立であり、合成演算部40が、実形状反射波Rr(i,j)の波形Uf(i,j)の合成を行う上で、強度関係の補正は必須ではない。すなわち、強度関係の補正がなされていない場合でも、合成演算部40は、合成を有意におこなうことができる。
以上のように、時間関係の補正のための演算(ステップS20)および強度関係の補正のための演算(ステップS30)の両者を実施した後に、波形Uf(i,j)の合成、および合成波形データの画像化を行う(ステップS40)。
まず、強度の補正を行った波形を、補正した遅延時間に従って、合成演算部40が、補正した上で、合成を行う(ステップS41)。また、強度関係の補正に関しては、合成演算部40は、形状反射波強度比演算ステップS33での形状反射波強度比演算部39で得られた補正ゲインGc(i,j)による補正を行う。なお、合成は、加算や平均化、あるいはその他の合成法でもよい。
まず、時間関係の補正に関しては、合成演算部40は、実音速演算ステップS25での実音速演算部36により補正された遅延時間を、駆動素子群を構成するそれぞれの超音波素子11に割り振る。合成演算部40は、割り振られた遅延時間分だけ、それぞれの超音波素子11で得られた受信信号を時間軸方向にずらし、合成することにより、合成波形Mを得る。
図32は、補正ゲインによる補正を行った各超音波素子での受信信号を示す図である。図32の(a)は、それぞれの強度関係の補正を行う前の波形Uf(i,j)であり、(b)は、波形Uf(i,j)を補正ゲインGc(i,j)による補正を行った後の形状を示す。
図33は、強度の補正を行った後の、通常の合成の状態を説明する図であり、図34は、強度の補正を行った後に、形状反射波差分時間で補正した場合の状態を説明する図である。送信用の遅延時間および受信用の遅延時間の合計時間分、時間軸方向に移動することで、欠陥2による欠陥エコーからの反射波のタイミングが揃い、合成することにより信号強度が増幅される。
図35は、合成演算による合成波形を示す図である。反射波の合成波形Mが明確に示される結果となる。
次に、合成波形データの画像化を行う(ステップS42)。
図36は、超音波探傷方法における画像化を説明するための単一のビームを表示した図であり、図37は、合成波を示す波形図である。図36に示すような検査対象1内の所定の位置、検査対象1の形状部分としてのたとえば背面1aを焦点とする超音波のビームを送信した結果に基づいて、これまで示した手順により、図37に示すような合成波形Mを得ることになる。
図38は、画像化を説明するためのリニアスキャンによる複数のビームを表示した図である。超音波のビームを、順次、長手方向に移動させて、リニアスキャンを行い、それぞれのビームの位置で、合成波形Mを得る。
このリニアスキャン結果に基づいて、画像演算部41が画像データを作成するためには、合成波形Mに加えて、上述した波形合成に用いる超音波素子11ごとの遅延時間、合成波形Mが伝搬した経路である超音波ビーム伝搬経路L、および、超音波ビーム伝搬経路Lが通過する領域の実音速Vaなどの情報を用いる。超音波ビーム伝搬経路Lは合成に用いる超音波素子11の中心座標Cから検査対象1中の焦点3へ至る音線であり、音響接触媒質5から検査対象1へ入射する点については、スネルの法則で求められる等遅延時間計算と同様に求められる。合成波形Mが、時間とともに、超音波ビーム伝搬経路L上を移動する。これは、合成波形Mが、超音波ビーム伝搬経路Lに沿って展開しているとも考えられる。
したがって、検査対象1内の任意の位置Pにおける超音波の強度は、その位置Pを通る超音波ビーム伝搬経路Lについての合成波形Mに基づいて算出することができる。具体的には、送信された超音波の、検査対象1内の位置Pにおける波形の時間変化は、この実音速Va(i,j)と送信後の超音波ビーム伝搬経路Lにおける位置Pまでの経路長さを用いて算出することができる。
図36および図37で示される合成波形Mは大部分が音響接触媒質5を伝搬する部分であるが、音響接触媒質5における実音速Vaが検査対象1における実音速Vaに比べて低いため、超音波ビーム伝搬経路Lに応じて描画すると、音響接触媒質5の伝搬部分の方が、占める領域は小さくなる。
図39は、画像を示す図である。画像演算部41により画像データが作成され、表示部70により、たとえば、図39に示されるような映像が表示される。
以上のように、本実施形態によれば、超音波探傷において、検査対象の異方性の影響を低減することが可能となる。
[その他の実施形態]
以上、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。
また、各実施形態の特徴を組み合わせてもよい。さらに、これらの実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
1…検査対象、1a…背面、2…欠陥、3…焦点、5…音響接触媒質、10…超音波アレイプローブ、11…超音波素子、12…保持部,15…駆動部、20…受発信部、21…電位差印加部、22…入り切り部、23…AD変換部、30…演算部、31…音速演算部、32…遅延時間演算部、33…推定形状反射波到達時間演算部、34…実形状反射波到達時間抽出部、35…形状反射波差分時間演算部、36…実音速演算部、37…推定形状反射波強度演算部、38…実形状反射波強度抽出部、39…形状反射波強度比演算部、40…合成演算部、41…画像演算部、50…記憶部、51…信号処理情報記憶部、52…検査対象情報記憶部、60…制御部、70…表示部、80…入力部、90…検査対象情報取得部、100…超音波探傷装置、110…監視操作盤

Claims (5)

  1. 検査対象に超音波を送信し前記検査対象で反射した超音波を受信する所定の位置に配された複数の超音波素子を有する超音波アレイプローブと、
    前記検査対象内の想定音速に基づいて形状反射部位で反射する場合の推定形状反射波の前記超音波素子に到達する推定時間である推定形状反射波到達時間を演算する推定形状反射波到達時間演算部と、
    超音波の送信に用いる前記超音波素子から前記検査対象内を伝搬して前記形状反射部位で反射され、超音波の受信に用いる前記超音波素子のそれぞれに受信される実形状反射波に基づいて、実形状反射波到達時間を抽出する実形状反射波到達時間抽出部と、
    前記推定形状反射波到達時間から前記実形状反射波到達時間を減じた差分を、形状反射波差分時間として算出する形状反射波差分時間演算部と、
    記形状反射波差分時間を考慮して遅延時間を算出する遅延時間演算部と、
    前記遅延時間を用いて前記超音波素子のそれぞれによる超音波の送受信のタイミングを相互にずらして、前記超音波素子が受信した受信波の合成波形を演算する合成演算部と、
    を備え
    前記形状反射部位は、前記検査対象の全体形状に関わる形状部分あるいは前記検査対象において代表的な部分であってかつ前記検査対象中の検出しようとする欠陥とは異なるものである、
    ことを特徴とする超音波探傷装置。
  2. 前記遅延時間演算部は、前記形状反射波差分時間に重み付け係数を乗じるように構成されること、
    を特徴とする請求項1に記載の超音波探傷装置。
  3. 前記推定形状反射波の強度である推定形状反射波強度を演算する推定形状反射波強度演算部と、
    前記実形状反射波の強度である実形状反射波強度を抽出する実形状反射波強度抽出部と、
    前記推定形状反射波強度の前記実形状反射波強度に対する比を補正ゲインとして算出する形状反射波強度比演算部と、
    をさらに備え、
    前記合成演算部は、前記超音波素子が受信した受信波を、前記補正ゲインで補正した上で前記合成波形を演算することを特徴とする請求項1または請求項2に記載の超音波探傷装置。
  4. 前記推定形状反射波到達時間の前記実形状反射波到達時間に対する比を、前記想定音速に乗じて、実音速を算出する実音速演算部と、
    前記実音速を反映して、前記合成波形を用いて、表示用の画像データを演算する画像演算部と、
    をさらに備えることを特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれか一項に記載の超音波探傷装置。
  5. 超音波アレイプローブの有する複数の超音波素子のそれぞれが、検査対象に超音波を送信し前記検査対象からの反射波を受信する超音波受発信ステップと、
    推定形状反射波到達時間演算部が、前記検査対象内の想定音速に基づく推定形状反射波到達時間を演算する推定形状反射波到達時間演算ステップと、
    実形状反射波到達時間抽出部が、超音波の送信に用いる前記超音波素子から前記検査対象内を伝搬して形状反射部位で反射され超音波の受信に用いる前記超音波素子に受信される実形状反射波に基づいて実形状反射波到達時間を抽出する実形状反射波到達時間抽出ステップと、
    形状反射波差分時間演算部が、前記推定形状反射波到達時間と前記実形状反射波到達時間との差分を形状反射波差分時間として算出する形状反射波差分時間演算ステップと、
    遅延時間演算部が、前記形状反射波差分時間を考慮して遅延時間を算出する遅延時間演算ステップと、
    合成演算部が、前記遅延時間を用いて前記超音波素子のそれぞれによる超音波の送受信のタイミングを相互にずらして、前記超音波素子が受信した受信波の合成波形を演算する合成演算ステップと、
    を有し、
    前記形状反射部位は、前記検査対象の全体形状に関わる形状部分あるいは前記検査対象において代表的な部分であってかつ前記検査対象中の検出しようとする欠陥とは異なるものである、
    を有することを特徴とする超音波探傷方法
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