JPH0245821B2 - - Google Patents
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- JPH0245821B2 JPH0245821B2 JP57021233A JP2123382A JPH0245821B2 JP H0245821 B2 JPH0245821 B2 JP H0245821B2 JP 57021233 A JP57021233 A JP 57021233A JP 2123382 A JP2123382 A JP 2123382A JP H0245821 B2 JPH0245821 B2 JP H0245821B2
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- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 48
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 22
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000002604 ultrasonography Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- NCGICGYLBXGBGN-UHFFFAOYSA-N 3-morpholin-4-yl-1-oxa-3-azonia-2-azanidacyclopent-3-en-5-imine;hydrochloride Chemical compound Cl.[N-]1OC(=N)C=[N+]1N1CCOCC1 NCGICGYLBXGBGN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/52—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S15/00
- G01S7/52017—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S15/00 particularly adapted to short-range imaging
- G01S7/52053—Display arrangements
- G01S7/52057—Cathode ray tube displays
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は超音波探傷用画像表示装置に係り、特に
超音波ビームの屈折角0゜、45゜、60゜〜70゜等の複数
の超音波ビームにより探傷した結果を画像として
表示するのに好適な超音波探傷用画像表示装置に
関する。
超音波ビームの屈折角0゜、45゜、60゜〜70゜等の複数
の超音波ビームにより探傷した結果を画像として
表示するのに好適な超音波探傷用画像表示装置に
関する。
従来の超音波探傷用画像表示装置は、一探触
子、又は、可変角探触子によるもので、複数振動
子によるものではなかつた(特開昭51−6084号、
特開昭55−149835号)。
子、又は、可変角探触子によるもので、複数振動
子によるものではなかつた(特開昭51−6084号、
特開昭55−149835号)。
かかる従来例では二次元画像メモリを使用す
る。二次元画像メモリは、超音波の反射点たる音
響的不連続部分の位置を二次元平面でとらえ、メ
モリ内のアドレスを二次元平面位置で表わすこと
としたものである。
る。二次元画像メモリは、超音波の反射点たる音
響的不連続部分の位置を二次元平面でとらえ、メ
モリ内のアドレスを二次元平面位置で表わすこと
としたものである。
しかし、上記従来例では、二次元画像メモリの
アドレス決定は、探触子の1つの位置と、超音波
入射角度とによつて決定する。
アドレス決定は、探触子の1つの位置と、超音波
入射角度とによつて決定する。
単一探触子から複数探触子より成る多チヤンネ
ル形探触子が提案されている。上記従来例ではか
かる多チヤンネル形探触子のもとでの二次元画像
メモリのアドレス決定についての記載はない。
ル形探触子が提案されている。上記従来例ではか
かる多チヤンネル形探触子のもとでの二次元画像
メモリのアドレス決定についての記載はない。
本発明の目的は、多チヤンネル形探触子のもと
で二次元画像メモリのアドレス決定を可能とする
超音波探傷用画像表示装置を提供するものであ
る。
で二次元画像メモリのアドレス決定を可能とする
超音波探傷用画像表示装置を提供するものであ
る。
本発明は、多チヤンネル形探触子のもとで、二
次元画像メモリのアドレス決定用に、各探触子の
位置を示すオフセツト値を新たに導入せしめるよ
うにしたものである。
次元画像メモリのアドレス決定用に、各探触子の
位置を示すオフセツト値を新たに導入せしめるよ
うにしたものである。
本発明の超音波探傷用画像表示装置に用いる超
音波探触子の一例を第1図に示す。
音波探触子の一例を第1図に示す。
1はシユー、2,3,4は振動素子で、各振動
素子はシユーに接着されている。各振動素子から
は超音波ビーム5,6,7が送出される。
素子はシユーに接着されている。各振動素子から
は超音波ビーム5,6,7が送出される。
第2図は第1図における任意な振動素子Tiの
XY座標に対する関係を示したものである。
XY座標に対する関係を示したものである。
いま、超音波ビームがTi(xT、−D)から発せら
れ、R点で屈折し、欠陥等の音響的不連続点Q
(xi、yi)で反射し、同一経路を通り、Ti(xT、−
D)で検出された場合、Q点の座標xi、yiは下式
で求められる。
れ、R点で屈折し、欠陥等の音響的不連続点Q
(xi、yi)で反射し、同一経路を通り、Ti(xT、−
D)で検出された場合、Q点の座標xi、yiは下式
で求められる。
ここで
xR:屈折点RのX座標位置
t:Ti−R−Q間超音波伝搬往復時間
tR:Ti−R間超音波伝搬片道時間であり、この際
tRは下式となる。
tRは下式となる。
tR=D/V〓cosθ ……(2)′
V〓:媒質(シユー)内音速
V〓:媒質(被検査体)内音速
θ:入射角
ξ:屈折角
ξ=sin-1(V〓/V〓sinθ)
(1)(2)式でR点のX座標xRを探触子基準点のX座
標xPと振動素子オフセツト距離xlで置き換える
と、 となる。ここで、オフセツト距離(値)Xlとは、
基準位置(点)からの振動子への距離である。こ
のオフセツト値によつて、振動子が特定できる。
従つて、このオフセツト値は振動子の位置を示す
ことになる。基準位置とは、どこにとつてもよ
く、図では多チヤンネル形探触子の中心位置にと
つた。また、オフセツト値Xlは、振動子位置が特
定できればよく、図の如き入射点(屈折点)では
なく、Xl=XTの如く振動子自体の位置にとつて
もよい。
標xPと振動素子オフセツト距離xlで置き換える
と、 となる。ここで、オフセツト距離(値)Xlとは、
基準位置(点)からの振動子への距離である。こ
のオフセツト値によつて、振動子が特定できる。
従つて、このオフセツト値は振動子の位置を示す
ことになる。基準位置とは、どこにとつてもよ
く、図では多チヤンネル形探触子の中心位置にと
つた。また、オフセツト値Xlは、振動子位置が特
定できればよく、図の如き入射点(屈折点)では
なく、Xl=XTの如く振動子自体の位置にとつて
もよい。
(3)、(4)式は、時間tをR点を基準にすれば、
となる。ここで
t′=t−2tRとする。
(5)(6)式で、探触子の形状等があらかじめ判つて
いれば、xl、V〓/2sinξ、V〓/2cosξは各振動素子
に 対して定数となる。よつてR点を基準にした、欠
陥等の音響的不連続点までの超音波伝搬時間t′と
探触子基準点のX座標が判れば、欠陥等音響的不
連続点の座標(xi、yi)が求められる。
いれば、xl、V〓/2sinξ、V〓/2cosξは各振動素子
に 対して定数となる。よつてR点を基準にした、欠
陥等の音響的不連続点までの超音波伝搬時間t′と
探触子基準点のX座標が判れば、欠陥等音響的不
連続点の座標(xi、yi)が求められる。
第3図は本発明の超音波探傷用画像表示装置の
実施例であり、該表示装置は、第1図に示した構
成となる超音波探触子9、ワイヤ12、探触子位
置検出装置11、多チヤンネル型超音波探傷器
8、画像表示部100より成る。画像表示部10
0は、データ転送制御回路15、偏向回路14、
エコーメモリ17、デジタル画像メモリ18、マ
イクロコンピユータ19、モニタテレビ20より
成る。
実施例であり、該表示装置は、第1図に示した構
成となる超音波探触子9、ワイヤ12、探触子位
置検出装置11、多チヤンネル型超音波探傷器
8、画像表示部100より成る。画像表示部10
0は、データ転送制御回路15、偏向回路14、
エコーメモリ17、デジタル画像メモリ18、マ
イクロコンピユータ19、モニタテレビ20より
成る。
多チヤンネル型超音波探触子9は被検査体10
の表面に置かれる。探触子位置検出装置11はワ
イヤ12を介して探触子9の現在位置を自動認知
する。多チヤンネル超音波探傷器8は、多チヤン
ネル超音波探触子9の各チヤンネル対応の構成と
なつており、探触子9のチヤンネル走査制御を行
い、走査チヤンネル毎に超音波の放射(送信)及
びその放射結果に基づく反射波の検出(受信)を
行わせている。探触子9によつて検出された反射
波はチヤンネル対応に多チヤンネル超音波探傷器
8に送られ、受信となる。
の表面に置かれる。探触子位置検出装置11はワ
イヤ12を介して探触子9の現在位置を自動認知
する。多チヤンネル超音波探傷器8は、多チヤン
ネル超音波探触子9の各チヤンネル対応の構成と
なつており、探触子9のチヤンネル走査制御を行
い、走査チヤンネル毎に超音波の放射(送信)及
びその放射結果に基づく反射波の検出(受信)を
行わせている。探触子9によつて検出された反射
波はチヤンネル対応に多チヤンネル超音波探傷器
8に送られ、受信となる。
画像表示部100は、探触子位置検出装置11
からの探触子9の現在位置信号23、多チヤンネ
ル超音波探傷器8で検出されたチヤンネル対応の
受信出力21及びチヤンネル信号22を取込み、
且つ該画像表示部100は探傷器8を管理すべく
(タイミングをとるべく)探傷器8に制御信号
(同期信号)16を送る。
からの探触子9の現在位置信号23、多チヤンネ
ル超音波探傷器8で検出されたチヤンネル対応の
受信出力21及びチヤンネル信号22を取込み、
且つ該画像表示部100は探傷器8を管理すべく
(タイミングをとるべく)探傷器8に制御信号
(同期信号)16を送る。
第4図a〜hは第3図の各部波形を示す。a図
は、同期信号16、bは超音波エコー信号21、
cはエコーメモリ17の2つのメモリ部の一方の
メモリ部の書込み(Hレベル)と読出し(Lレベ
ル)を示す図、dは他方のメモリ部の書込み(H
レベル)と読出し(Lレベル)を示す図、eはエ
コーメモリ17のデジタル画像メモリ18への出
力、fは偏向回路14でのxiを求める信号、gは
偏向回路14でのyiを求める信号であり、この
xi、yiがデジタル画像メモリ18のアドレス値と
なる。hは超音波探傷器8からマイクロコンピユ
ータ19に入力するCH(チヤンネル)信号22
である。
は、同期信号16、bは超音波エコー信号21、
cはエコーメモリ17の2つのメモリ部の一方の
メモリ部の書込み(Hレベル)と読出し(Lレベ
ル)を示す図、dは他方のメモリ部の書込み(H
レベル)と読出し(Lレベル)を示す図、eはエ
コーメモリ17のデジタル画像メモリ18への出
力、fは偏向回路14でのxiを求める信号、gは
偏向回路14でのyiを求める信号であり、この
xi、yiがデジタル画像メモリ18のアドレス値と
なる。hは超音波探傷器8からマイクロコンピユ
ータ19に入力するCH(チヤンネル)信号22
である。
画像表示部100内のエコーメモリ17、画像
メモリ18は共にデジタル信号であり、従つて、
偏向器14の出力であるメモリ18のアドレス情
報もデジタル信号となつていなければならぬ。位
置検出装置11自体による位置検出は一般にアナ
ログであり、従つて、該位置検出装置11の内部
又は偏向器14の内部にAD変換機能を持つと理
解すべきである。更に、エコーメモリ17の入力
となる超音波エコー信号21もデジタル信号でな
ければならず、従つて、探傷器8の内部にもAD
変換機能を有していると理解すべきである。マイ
クロコンピユータ19は本実施例の全体の管理を
行つている。第1には、欠陥等音響的不連続点の
座標算出のための各種情報(Xl等)を格納し座標
算出のために送出すること、第2は各種タイミン
グのための管理信号を送出することである。この
第2の内容には、デジタル画像メモリ18のリセ
ツト指令、エコーメモリの書込み、読出しの制御
信号等がある。データ転送制御回路15はマイク
ロコンピユータ19の出力回路の役割を果す。
メモリ18は共にデジタル信号であり、従つて、
偏向器14の出力であるメモリ18のアドレス情
報もデジタル信号となつていなければならぬ。位
置検出装置11自体による位置検出は一般にアナ
ログであり、従つて、該位置検出装置11の内部
又は偏向器14の内部にAD変換機能を持つと理
解すべきである。更に、エコーメモリ17の入力
となる超音波エコー信号21もデジタル信号でな
ければならず、従つて、探傷器8の内部にもAD
変換機能を有していると理解すべきである。マイ
クロコンピユータ19は本実施例の全体の管理を
行つている。第1には、欠陥等音響的不連続点の
座標算出のための各種情報(Xl等)を格納し座標
算出のために送出すること、第2は各種タイミン
グのための管理信号を送出することである。この
第2の内容には、デジタル画像メモリ18のリセ
ツト指令、エコーメモリの書込み、読出しの制御
信号等がある。データ転送制御回路15はマイク
ロコンピユータ19の出力回路の役割を果す。
データ転送制御回路15からの第4図aに示す
同期信号16により多チヤンネル型超音波探傷器
8が超音波探触子9の各振動素子CH1、2…と
順次励振する。励振された振動素子からは超音波
が5,6,7の順で被検査体10内に発せられ
る。超音波は被検査体10内の欠陥等音響的不連
続点で反射し、振動素子に受信される。この受信
超音波が電圧信号として多チヤンネル型超音波探
傷器8に入力され増幅検波され第4図bに示す超
音波エコー信号21としてエコーメモリ17に一
定周期ごとにサンプリング記憶する。エコーメモ
リ17は2つのメモリ部を持ち、第4図c,dに
示す如く、同期信号16の周期ごと交互に、書き
込み、読み出しを行なう構成となつている。これ
によつてデータのスループツトを向上させてい
る。第4図eはかくして得られたデータであり、
エコーメモリ17に書込まれる。一方、超音波探
傷器8からは超音波エコー信号21を出力すると
同時に、励振された振動素子のCH信号22をマ
イクロコンピユータ19に出力する。マイクロコ
ンピユータ19はこのCH信号22から、あらか
じめ設定されている探触子の形状や、被検査体の
音速等のデータにより、各振動素子に対する偏向
回路14の制御データを作り出す。この制御デー
タは前述の式(5)、(6)のxl、V〓/2sinξ、V〓/2cos
ξに 対応する。このデータは偏向回路14に送出す
る。一方、偏向回路14は第4図f,gに示す如
く各チヤンネル対応の三角波を発生し、各チヤン
ネル毎に超音波の放射から受信までの時間の管理
を行つている。第4図fで、xi1はチヤンネル番
号CH1のx座標を示す。CH1は第1図の探触子
2に対応し直下放射、直下反射の事例である。従
つて、x座標はxi1のままでy座標の反射時間の
みを算出すればよい。図では、y座標反射点は
yi1とし、チヤンネルCH1では点(xi1、yi1)が音
響的不連続点(正確には不連続点対応の反射時間
を示す点)と認定できる。この検出点(xi1、yi1)
は三角波から自動的に得られるものであり、本来
の求めるべき被検査体上の絶対座標ではない。こ
の絶対座標とは表示画面上に表示させる際の走査
面上の二次元表示座標と考えてよく、上記検出点
を表示座標対応に変換(補正)させなければなら
ない。この変換処理は、上記の制御データ及び検
出装置11の出力を利用する。次のチヤンネル
CH2は第1図の探触子3に対応する故、x座標、
y座標共に三角波が利用される。反射波を検出し
た時点が音響的不連続点(xj2、yj2)となる。同
様に、CH3に対しては(xk3、yk3)が音響的不連
続点となる。
同期信号16により多チヤンネル型超音波探傷器
8が超音波探触子9の各振動素子CH1、2…と
順次励振する。励振された振動素子からは超音波
が5,6,7の順で被検査体10内に発せられ
る。超音波は被検査体10内の欠陥等音響的不連
続点で反射し、振動素子に受信される。この受信
超音波が電圧信号として多チヤンネル型超音波探
傷器8に入力され増幅検波され第4図bに示す超
音波エコー信号21としてエコーメモリ17に一
定周期ごとにサンプリング記憶する。エコーメモ
リ17は2つのメモリ部を持ち、第4図c,dに
示す如く、同期信号16の周期ごと交互に、書き
込み、読み出しを行なう構成となつている。これ
によつてデータのスループツトを向上させてい
る。第4図eはかくして得られたデータであり、
エコーメモリ17に書込まれる。一方、超音波探
傷器8からは超音波エコー信号21を出力すると
同時に、励振された振動素子のCH信号22をマ
イクロコンピユータ19に出力する。マイクロコ
ンピユータ19はこのCH信号22から、あらか
じめ設定されている探触子の形状や、被検査体の
音速等のデータにより、各振動素子に対する偏向
回路14の制御データを作り出す。この制御デー
タは前述の式(5)、(6)のxl、V〓/2sinξ、V〓/2cos
ξに 対応する。このデータは偏向回路14に送出す
る。一方、偏向回路14は第4図f,gに示す如
く各チヤンネル対応の三角波を発生し、各チヤン
ネル毎に超音波の放射から受信までの時間の管理
を行つている。第4図fで、xi1はチヤンネル番
号CH1のx座標を示す。CH1は第1図の探触子
2に対応し直下放射、直下反射の事例である。従
つて、x座標はxi1のままでy座標の反射時間の
みを算出すればよい。図では、y座標反射点は
yi1とし、チヤンネルCH1では点(xi1、yi1)が音
響的不連続点(正確には不連続点対応の反射時間
を示す点)と認定できる。この検出点(xi1、yi1)
は三角波から自動的に得られるものであり、本来
の求めるべき被検査体上の絶対座標ではない。こ
の絶対座標とは表示画面上に表示させる際の走査
面上の二次元表示座標と考えてよく、上記検出点
を表示座標対応に変換(補正)させなければなら
ない。この変換処理は、上記の制御データ及び検
出装置11の出力を利用する。次のチヤンネル
CH2は第1図の探触子3に対応する故、x座標、
y座標共に三角波が利用される。反射波を検出し
た時点が音響的不連続点(xj2、yj2)となる。同
様に、CH3に対しては(xk3、yk3)が音響的不連
続点となる。
第5図には、(xi1、yi1)相当位置の表示画面上
のアドレスを示している。このアドレスが画像メ
モリ18のアドレスを指示する。即ち、該制御デ
ータをもとに、偏向回路14では、式(5)、(6)で示
すt′の変化に対するxi、yiの値を作り出す。この
xi、yiの値は、デジタル画像メモリ18のアドレ
スとして使用される。一方、t′に対応するものと
しては、エコーメモリ17に取込まれた超音波エ
コー信号21の取込まれた順番がそのまま対応す
るので、エコーメモリ17から順次第6図に示す
如く各チヤンネル対応に格納された、超音波エコ
ーデータを取り出し、偏向回路14にて指定され
たデジタル画像メモリ18の特定アドレスにその
データを第7図に示す如く書き込んでいけば、求
める断面像がモニタテレビ20で表示される。但
し、第7図のCH1、CH2、CH3の各ラインは実
際には存在していない。
のアドレスを示している。このアドレスが画像メ
モリ18のアドレスを指示する。即ち、該制御デ
ータをもとに、偏向回路14では、式(5)、(6)で示
すt′の変化に対するxi、yiの値を作り出す。この
xi、yiの値は、デジタル画像メモリ18のアドレ
スとして使用される。一方、t′に対応するものと
しては、エコーメモリ17に取込まれた超音波エ
コー信号21の取込まれた順番がそのまま対応す
るので、エコーメモリ17から順次第6図に示す
如く各チヤンネル対応に格納された、超音波エコ
ーデータを取り出し、偏向回路14にて指定され
たデジタル画像メモリ18の特定アドレスにその
データを第7図に示す如く書き込んでいけば、求
める断面像がモニタテレビ20で表示される。但
し、第7図のCH1、CH2、CH3の各ラインは実
際には存在していない。
以上の実施例によれば、マルチ超音波探傷器に
おいて、各チヤンネル対応の表示が一つの画面に
可能となつた。また、その表示は実時間で可能と
なる。尚、上記実施例で、偏向回路14を排し
て、偏向回路14の役割をマイクロコンピユータ
19に持たせてもよい。この時には座標計算は完
全にデジタル処理であり、ソフトウエアによつて
なしうる。また多チヤンネルの探触子の構成も第
1図の探触子に限定されることははない。後述す
る第8図、第9図の如き探触子の構成も当然あり
うる。
おいて、各チヤンネル対応の表示が一つの画面に
可能となつた。また、その表示は実時間で可能と
なる。尚、上記実施例で、偏向回路14を排し
て、偏向回路14の役割をマイクロコンピユータ
19に持たせてもよい。この時には座標計算は完
全にデジタル処理であり、ソフトウエアによつて
なしうる。また多チヤンネルの探触子の構成も第
1図の探触子に限定されることははない。後述す
る第8図、第9図の如き探触子の構成も当然あり
うる。
本発明の効果を従来例と比較して図面により説
明する。第8図、第9図は被検査体として、第8
図1、第9図1に示す如き特徴を有する被検査体
の場合をの表示画像を示す。即ち、第8図1は底
面がa−b−c−d−e−g−h−i−jの如く
平坦でなく被検査体であり、第8図2はその底面
図を示している。図でfは欠陥部を示す。かかる
被検査体10Aを従来の1個直下型走査の超音波
探触子9Aで走査した場合の表示画面を第8図3
に示す。この探触子9Aでは、上面と平行な面で
あるa−b、c−d、g−h、i−jが検出でき
る音響的不連続点となる。更に欠陥fの一部も検
出できる。但し、平行でない面b−c、d−e、
e−g、g−iは検出されず、また、欠陥fの全
部は検出不可となる。第8図4は1個の傾斜型探
触子9Bを使用した場合の画像であり、d−e、
h−i、及びfの一部が検出できる。この第8図
3,4は別々に表示され、両者を統一して同一表
示画面に実時間で表示することは不可能である。
これに対して、第8図5に示す如く、直下型のチ
ヤンネル、互いに方向が90゜程度異なる2つの傾
斜型チヤンネルを組み込んでなる本発明の多チヤ
ンネル探触子を使用した場合には底面の部分がす
べて検出でき、且つ欠陥fもすべて表示できるこ
とになる。第9図1はT字形の欠陥a−b−cを
持つ被検査体の事例であり、第9図2は直下型、
第9図3は傾斜型の探触子の表示事例を示してい
る。第9図4は、本発明の多チヤンネル型の探触
子9によれば、底面及び欠陥a−b−cの検出が
可能となる。
明する。第8図、第9図は被検査体として、第8
図1、第9図1に示す如き特徴を有する被検査体
の場合をの表示画像を示す。即ち、第8図1は底
面がa−b−c−d−e−g−h−i−jの如く
平坦でなく被検査体であり、第8図2はその底面
図を示している。図でfは欠陥部を示す。かかる
被検査体10Aを従来の1個直下型走査の超音波
探触子9Aで走査した場合の表示画面を第8図3
に示す。この探触子9Aでは、上面と平行な面で
あるa−b、c−d、g−h、i−jが検出でき
る音響的不連続点となる。更に欠陥fの一部も検
出できる。但し、平行でない面b−c、d−e、
e−g、g−iは検出されず、また、欠陥fの全
部は検出不可となる。第8図4は1個の傾斜型探
触子9Bを使用した場合の画像であり、d−e、
h−i、及びfの一部が検出できる。この第8図
3,4は別々に表示され、両者を統一して同一表
示画面に実時間で表示することは不可能である。
これに対して、第8図5に示す如く、直下型のチ
ヤンネル、互いに方向が90゜程度異なる2つの傾
斜型チヤンネルを組み込んでなる本発明の多チヤ
ンネル探触子を使用した場合には底面の部分がす
べて検出でき、且つ欠陥fもすべて表示できるこ
とになる。第9図1はT字形の欠陥a−b−cを
持つ被検査体の事例であり、第9図2は直下型、
第9図3は傾斜型の探触子の表示事例を示してい
る。第9図4は、本発明の多チヤンネル型の探触
子9によれば、底面及び欠陥a−b−cの検出が
可能となる。
本発明によれば、多チヤンネル探触子のもと
で、各探触子オフセツト距離(値)を与えること
によつて二次元画像メモリのアドレスを作成でき
るようになつた。これにより、多チヤンネル探触
子による反射信号を表示画面に、平面的に表示で
きるようになつた。
で、各探触子オフセツト距離(値)を与えること
によつて二次元画像メモリのアドレスを作成でき
るようになつた。これにより、多チヤンネル探触
子による反射信号を表示画面に、平面的に表示で
きるようになつた。
第1図は本発明の多チヤンネル探触子の使用説
明図、第2図は検出座標の説明図、第3図は本発
明の探傷装置の実施例図、第4図a〜hは各タイ
ムチヤート、第5図はアドレス構成例図、第6図
はメモリ17のデータ構成図、第7図はメモリ1
8のデータ構成図、第8図1〜5、第9図1〜4
は従来例と本発明の効果の比較説明図である。 8……多チヤンネル型超音波探傷器、9……超
音波探触子、17……エコーメモリ、18……画
像メモリ、19……マイクロコンピユータ。
明図、第2図は検出座標の説明図、第3図は本発
明の探傷装置の実施例図、第4図a〜hは各タイ
ムチヤート、第5図はアドレス構成例図、第6図
はメモリ17のデータ構成図、第7図はメモリ1
8のデータ構成図、第8図1〜5、第9図1〜4
は従来例と本発明の効果の比較説明図である。 8……多チヤンネル型超音波探傷器、9……超
音波探触子、17……エコーメモリ、18……画
像メモリ、19……マイクロコンピユータ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 入射角度および位置をそれぞれ異にする多チ
ヤンネル型の複数探触子と、 該各探触子対応に時分割に被検体に超音波を送
信する手段と、 被検体内の音響的不連続部からの反射信号を該
各探触子対応の探傷条件にて時分割に受信する手
段と、 被検体内の照射面対応にアドレス化されてなる
二次元画像メモリと、 該メモリのアドレスを設定し、反射信号を格納
させるメモリ制御手段と、 上記二次元画像メモリの格納内容を表示する表
示部とを有し、 上記、メモリ制御手段は、 各チヤンネルの振動子に対応した振動素子オフ
セツトXl、探触子シユー内音速V〓と被検体内の
音速V〓と入射角θとにより得られる被検体内へ
の各チヤンネルごとの屈折角ξ、及び共通の探触
子基準点Xpとを該チヤンネルごとに組み合わせ、
上記受信手段で受信した反射信号の発生源たる音
響的不連続位置決定用の偏向信号を作成して発生
する手段と、 該偏向信号と受信手段からの受信反射信号との
一致時点を持つて、上記二次元メモリのアドレス
位置とする手段と、該二次元メモリのアドレス位
置に反射信号を記憶させる手段と、 を備えてなる超音波探傷用画像表示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57021233A JPS58139062A (ja) | 1982-02-15 | 1982-02-15 | 超音波探傷用画像表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57021233A JPS58139062A (ja) | 1982-02-15 | 1982-02-15 | 超音波探傷用画像表示装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58139062A JPS58139062A (ja) | 1983-08-18 |
JPH0245821B2 true JPH0245821B2 (ja) | 1990-10-11 |
Family
ID=12049309
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57021233A Granted JPS58139062A (ja) | 1982-02-15 | 1982-02-15 | 超音波探傷用画像表示装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58139062A (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2643318B2 (ja) * | 1988-06-20 | 1997-08-20 | 三菱電機株式会社 | 超音波による3次元物体形状認識方法 |
JP7189101B2 (ja) * | 2019-08-28 | 2022-12-13 | 株式会社日立製作所 | 超音波センサ、形状推定方法、膜剥離検査方法及び超音波検査システム |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS516084A (ja) * | 1974-07-03 | 1976-01-19 | Hitachi Ltd | |
JPS55149835A (en) * | 1979-05-11 | 1980-11-21 | Hitachi Ltd | Ultrasonic flaw detecting method and apparatus |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS50115087U (ja) * | 1974-03-01 | 1975-09-19 |
-
1982
- 1982-02-15 JP JP57021233A patent/JPS58139062A/ja active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS516084A (ja) * | 1974-07-03 | 1976-01-19 | Hitachi Ltd | |
JPS55149835A (en) * | 1979-05-11 | 1980-11-21 | Hitachi Ltd | Ultrasonic flaw detecting method and apparatus |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS58139062A (ja) | 1983-08-18 |
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