JPS58129636U - 電子ビ−ム露光におけるマ−ク検出装置 - Google Patents

電子ビ−ム露光におけるマ−ク検出装置

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Publication number
JPS58129636U
JPS58129636U JP2536782U JP2536782U JPS58129636U JP S58129636 U JPS58129636 U JP S58129636U JP 2536782 U JP2536782 U JP 2536782U JP 2536782 U JP2536782 U JP 2536782U JP S58129636 U JPS58129636 U JP S58129636U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electron beam
mark portion
detection device
beam exposure
mark detection
Prior art date
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Pending
Application number
JP2536782U
Other languages
English (en)
Inventor
榎戸 栄太郎
青木 正實
Original Assignee
日本電子株式会社
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Filing date
Publication date
Application filed by 日本電子株式会社 filed Critical 日本電子株式会社
Priority to JP2536782U priority Critical patent/JPS58129636U/ja
Publication of JPS58129636U publication Critical patent/JPS58129636U/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第1図は検出器とマーク位置の関係を示す図、第2図は
検出器の検出信号波形を示す図、第3図は本考案の一実
施例を示す図、第4図は第3図の実施例における信号波
形を示す図である。 1:マーク、2.3:検出器、4:電子銃、5:収束レ
ンズ、6:被露光材料、7:偏向板、8.9:増幅器、
10:差動増幅器、11:バイパスフィルター、12:
絶対値増幅器、13:微分回路、14:マーク信号整形
回路、l 5 :NAND回路、16:コンピュータ、
17:マスク信号発生回路、18:走査、信号発生回路

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 走査開始信号に基づき電子ビームをマーク部において走
    査するための走査手段、該マーク部への電子ビームの照
    射により該マーク部から発生する電子を検出するための
    検出器、該検出器からの信号のうち直流分を取り除くた
    めのバイパスフィルター、該バイパスフィルターの出力
    信号に基づいてパルスを整形する信号整形手段、該信号
    整形手段の出力パルスの内前記走査開始信号から一定時
    間内のパルスを除去する手段とより成る電子ビーム露光
    におけるマーク検出装置。
JP2536782U 1982-02-24 1982-02-24 電子ビ−ム露光におけるマ−ク検出装置 Pending JPS58129636U (ja)

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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5130357A (ja) * 1974-09-09 1976-03-15 Nippon Telegraph & Telephone Denshibiimurokoniokeru denshibiimushusokuhoho
JPS5532017A (en) * 1978-08-25 1980-03-06 Mitsubishi Electric Corp Liquid crystal display device
JPS5585028A (en) * 1978-12-22 1980-06-26 Hitachi Ltd Mark detecting signal amplifier

Patent Citations (3)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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