JPS58129636U - 電子ビ−ム露光におけるマ−ク検出装置 - Google Patents
電子ビ−ム露光におけるマ−ク検出装置Info
- Publication number
- JPS58129636U JPS58129636U JP2536782U JP2536782U JPS58129636U JP S58129636 U JPS58129636 U JP S58129636U JP 2536782 U JP2536782 U JP 2536782U JP 2536782 U JP2536782 U JP 2536782U JP S58129636 U JPS58129636 U JP S58129636U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron beam
- mark portion
- detection device
- beam exposure
- mark detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Length-Measuring Devices Using Wave Or Particle Radiation (AREA)
- Electron Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第1図は検出器とマーク位置の関係を示す図、第2図は
検出器の検出信号波形を示す図、第3図は本考案の一実
施例を示す図、第4図は第3図の実施例における信号波
形を示す図である。 1:マーク、2.3:検出器、4:電子銃、5:収束レ
ンズ、6:被露光材料、7:偏向板、8.9:増幅器、
10:差動増幅器、11:バイパスフィルター、12:
絶対値増幅器、13:微分回路、14:マーク信号整形
回路、l 5 :NAND回路、16:コンピュータ、
17:マスク信号発生回路、18:走査、信号発生回路
。
検出器の検出信号波形を示す図、第3図は本考案の一実
施例を示す図、第4図は第3図の実施例における信号波
形を示す図である。 1:マーク、2.3:検出器、4:電子銃、5:収束レ
ンズ、6:被露光材料、7:偏向板、8.9:増幅器、
10:差動増幅器、11:バイパスフィルター、12:
絶対値増幅器、13:微分回路、14:マーク信号整形
回路、l 5 :NAND回路、16:コンピュータ、
17:マスク信号発生回路、18:走査、信号発生回路
。
Claims (1)
- 走査開始信号に基づき電子ビームをマーク部において走
査するための走査手段、該マーク部への電子ビームの照
射により該マーク部から発生する電子を検出するための
検出器、該検出器からの信号のうち直流分を取り除くた
めのバイパスフィルター、該バイパスフィルターの出力
信号に基づいてパルスを整形する信号整形手段、該信号
整形手段の出力パルスの内前記走査開始信号から一定時
間内のパルスを除去する手段とより成る電子ビーム露光
におけるマーク検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2536782U JPS58129636U (ja) | 1982-02-24 | 1982-02-24 | 電子ビ−ム露光におけるマ−ク検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2536782U JPS58129636U (ja) | 1982-02-24 | 1982-02-24 | 電子ビ−ム露光におけるマ−ク検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58129636U true JPS58129636U (ja) | 1983-09-02 |
Family
ID=30037336
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2536782U Pending JPS58129636U (ja) | 1982-02-24 | 1982-02-24 | 電子ビ−ム露光におけるマ−ク検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58129636U (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5130357A (ja) * | 1974-09-09 | 1976-03-15 | Nippon Telegraph & Telephone | Denshibiimurokoniokeru denshibiimushusokuhoho |
JPS5532017A (en) * | 1978-08-25 | 1980-03-06 | Mitsubishi Electric Corp | Liquid crystal display device |
JPS5585028A (en) * | 1978-12-22 | 1980-06-26 | Hitachi Ltd | Mark detecting signal amplifier |
-
1982
- 1982-02-24 JP JP2536782U patent/JPS58129636U/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5130357A (ja) * | 1974-09-09 | 1976-03-15 | Nippon Telegraph & Telephone | Denshibiimurokoniokeru denshibiimushusokuhoho |
JPS5532017A (en) * | 1978-08-25 | 1980-03-06 | Mitsubishi Electric Corp | Liquid crystal display device |
JPS5585028A (en) * | 1978-12-22 | 1980-06-26 | Hitachi Ltd | Mark detecting signal amplifier |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JPS58129636U (ja) | 電子ビ−ム露光におけるマ−ク検出装置 | |
JPS5985570U (ja) | 電子線走査型分析装置 | |
JPS59183069U (ja) | 荷電粒子線装置の偏向動作停止検出装置 | |
JPS59129159U (ja) | 荷電粒子線装置 | |
JPS5823160U (ja) | 電子プロ−ブ装置 | |
JPS6073163U (ja) | 走査形電子顕微鏡 | |
JPS5985978U (ja) | 電子等の計数装置 | |
JPS58105156U (ja) | 半導体2次電子検出装置 | |
JPS58152767U (ja) | パルスビ−ム発生装置 | |
JPS5816572U (ja) | レ−ダにおけるア−ク検出装置 | |
JPS5917554U (ja) | イオン照射装置 | |
JPS60185333U (ja) | 荷電粒子ビ−ム描画装置 | |
JPS5950162U (ja) | ブラウン管ドライブ回路 | |
JPS5878560U (ja) | 電界放射形走査電子顕微鏡の雑音補正装置 | |
JPS59148064U (ja) | イオンビ−ムスパツタリング装置 | |
JPS5954871U (ja) | 検出装置 | |
JPS5891173U (ja) | ピ−クレベル検出回路 | |
JPS6059977U (ja) | 電子部品試験装置 | |
JPS59170215U (ja) | 電子線測長装置 | |
JPS59107470U (ja) | 走査電子顕微鏡等の像撮影装置用露出計 | |
JPS60102666U (ja) | 探傷装置 | |
JPS5842936U (ja) | 荷電粒子線描画装置 | |
JPS585275U (ja) | 走査電子顕微鏡 | |
JPS58106773U (ja) | 電子ビ−ム検出器 | |
JPS5994393U (ja) | 画像処理装置 |