JPS58106773U - 電子ビ−ム検出器 - Google Patents
電子ビ−ム検出器Info
- Publication number
- JPS58106773U JPS58106773U JP389882U JP389882U JPS58106773U JP S58106773 U JPS58106773 U JP S58106773U JP 389882 U JP389882 U JP 389882U JP 389882 U JP389882 U JP 389882U JP S58106773 U JPS58106773 U JP S58106773U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- electron beam
- beam detector
- conductive material
- detector
- boundary
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Electron Beam Exposure (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第1図は従来のワイヤーを使った検出器を示す図、第2
図は本考案に基づく検出器の製造工程の一例を示す図、
第3図は本考案に基づく検出器とその検出回路の一実施
例を示す図、第4図は第3図の実施例における検出信号
を示す図である。 10:基板、11:酸化膜、12:導電膜、13:レジ
スト、14:電子ビーム、15.16:増幅器、17:
減算回路、18:微分回路。
図は本考案に基づく検出器の製造工程の一例を示す図、
第3図は本考案に基づく検出器とその検出回路の一実施
例を示す図、第4図は第3図の実施例における検出信号
を示す図である。 10:基板、11:酸化膜、12:導電膜、13:レジ
スト、14:電子ビーム、15.16:増幅器、17:
減算回路、18:微分回路。
Claims (1)
- 矩形状の電子ビームを直線状の境界を横切って走査し、
該走査に基づく電子ビームの強度変化を検出するための
検出器であって、導電性物質の基板上に絶縁層を介して
導電性物質を選択的に設けることにより該境界を形成し
た電子ビーム検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP389882U JPS58106773U (ja) | 1982-01-14 | 1982-01-14 | 電子ビ−ム検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP389882U JPS58106773U (ja) | 1982-01-14 | 1982-01-14 | 電子ビ−ム検出器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58106773U true JPS58106773U (ja) | 1983-07-20 |
Family
ID=30016777
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP389882U Pending JPS58106773U (ja) | 1982-01-14 | 1982-01-14 | 電子ビ−ム検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58106773U (ja) |
-
1982
- 1982-01-14 JP JP389882U patent/JPS58106773U/ja active Pending
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