JPS58111705A - 光学式測定装置 - Google Patents
光学式測定装置Info
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- JPS58111705A JPS58111705A JP56215253A JP21525381A JPS58111705A JP S58111705 A JPS58111705 A JP S58111705A JP 56215253 A JP56215253 A JP 56215253A JP 21525381 A JP21525381 A JP 21525381A JP S58111705 A JPS58111705 A JP S58111705A
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- Japan
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- measured
- light beam
- light
- scanning
- emitting elements
- Prior art date
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- Granted
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、光学式測定装置に係り、特に、難可視性或い
は不可視レーザ光線を利用して被測定物の寸法を測定す
る光学式測定装置に用いるに好適な、平行走査光線ビー
ム発生装置と、被測定物通過後の平行走査光線ビームを
集光する集光手段と、該集光手段により集光された走査
光線ビームの明暗を感知して電気信号とする単一の受光
素子とを有し、前記平行走置光線ビーム発生装置と受光
素子との間に配置した被測定物により前記平行走置光線
ビームが遮ぎられて生じる暗部又は明部の時間の長さか
ら被測定物の寸法を測定するようにした光学式測定装置
の改良に関する。
は不可視レーザ光線を利用して被測定物の寸法を測定す
る光学式測定装置に用いるに好適な、平行走査光線ビー
ム発生装置と、被測定物通過後の平行走査光線ビームを
集光する集光手段と、該集光手段により集光された走査
光線ビームの明暗を感知して電気信号とする単一の受光
素子とを有し、前記平行走置光線ビーム発生装置と受光
素子との間に配置した被測定物により前記平行走置光線
ビームが遮ぎられて生じる暗部又は明部の時間の長さか
ら被測定物の寸法を測定するようにした光学式測定装置
の改良に関する。
従来から、回転走査光線ビーム（レーザビーム）を、コ
リメータレンズにより、このコリメータレンズと集光１
／ンズ間を通る平行走査光線ビームに変換し、該コリメ
ータレンズと集光レンズの間に被測定物を置き、この被
測定物によって前記平行走査光線ビームが遮ぎられて生
じる暗部又は明部の時間の長さから被測定物の寸法を測
定する高速度走査型レーザ測長機が知られている。
リメータレンズにより、このコリメータレンズと集光１
／ンズ間を通る平行走査光線ビームに変換し、該コリメ
ータレンズと集光レンズの間に被測定物を置き、この被
測定物によって前記平行走査光線ビームが遮ぎられて生
じる暗部又は明部の時間の長さから被測定物の寸法を測
定する高速度走査型レーザ測長機が知られている。
これは、例えば第１図に示す如く、１ノーザ光源１０か
ら１７−ザビーム１２を固定ミラー１４に向けて発振し
、この固定ミラー１４により反射されたレーザビーム１
２を回転ミラー１６によって走査ビーム１７に変換し、
この走査ビーム１７をコリメータレンズ１８によって平
行走査光線ビーム２０に変換し、この平行走査光線ビー
ム２０によりコリメータレンズ１８と集光レンズ２２の
間に配置した被測定物２４を高速走査し、その時被測定
物２４によって生じる暗部又は明部の時間の長さから、
被測定物２４の走査方向寸法を測定するものである。即
ち、平行走査光線ビーム２０の明暗は、集光レンズ２２
の焦点位置にある受光素子２６の出力電圧の変化となっ
て検出され、該受光素子２６からの信号は、プリアンプ
２８に入力され、ここで増幅された後、セグメント選択
回路３０に送られる。このセグメント選択回路３０は、
測定セグメントに対応する前記暗部又は明部の時間の長
さを測定するために、受光素子２６の出力を時分割して
、被測定物２４の測定セグメントが走査されている時間
ｔの間だけゲート回路３２を開くための電圧Ｖを発生し
て、ゲート回路３２に出力するようにされている。この
ゲート回路３２には、クロックパルス発振器３４からク
ロックパルスＣＰが入力されているので、ゲート回路３
２は、被測定物２４の測定セグメントの走査方向寸法に
対応した時間ｔに対応するクロックパルスＰを計数回路
３６に入力する。計数回路３６は、このクロックパルス
Ｐを計数して、デジタル表示器３８に計数信号を出力し
、デジタル表示器３８は被測定物２４の測定セグメント
の走査方向寸法全デジタル表示することになる。一方、
前記回転ミラー１６は、前記クロックパルス発振器３４
出力と同期して正弦波を発生する同期正弦波発振器４０
及、びパワーアンプ４２の出力により同期駆動されてい
る同期モータ４４により、前記クロックパルス発振器３
４出力のクロックパルスＣＰと同期して回転され、測定
精度を維持するようにされている。
ら１７−ザビーム１２を固定ミラー１４に向けて発振し
、この固定ミラー１４により反射されたレーザビーム１
２を回転ミラー１６によって走査ビーム１７に変換し、
この走査ビーム１７をコリメータレンズ１８によって平
行走査光線ビーム２０に変換し、この平行走査光線ビー
ム２０によりコリメータレンズ１８と集光レンズ２２の
間に配置した被測定物２４を高速走査し、その時被測定
物２４によって生じる暗部又は明部の時間の長さから、
被測定物２４の走査方向寸法を測定するものである。即
ち、平行走査光線ビーム２０の明暗は、集光レンズ２２
の焦点位置にある受光素子２６の出力電圧の変化となっ
て検出され、該受光素子２６からの信号は、プリアンプ
２８に入力され、ここで増幅された後、セグメント選択
回路３０に送られる。このセグメント選択回路３０は、
測定セグメントに対応する前記暗部又は明部の時間の長
さを測定するために、受光素子２６の出力を時分割して
、被測定物２４の測定セグメントが走査されている時間
ｔの間だけゲート回路３２を開くための電圧Ｖを発生し
て、ゲート回路３２に出力するようにされている。この
ゲート回路３２には、クロックパルス発振器３４からク
ロックパルスＣＰが入力されているので、ゲート回路３
２は、被測定物２４の測定セグメントの走査方向寸法に
対応した時間ｔに対応するクロックパルスＰを計数回路
３６に入力する。計数回路３６は、このクロックパルス
Ｐを計数して、デジタル表示器３８に計数信号を出力し
、デジタル表示器３８は被測定物２４の測定セグメント
の走査方向寸法全デジタル表示することになる。一方、
前記回転ミラー１６は、前記クロックパルス発振器３４
出力と同期して正弦波を発生する同期正弦波発振器４０
及、びパワーアンプ４２の出力により同期駆動されてい
る同期モータ４４により、前記クロックパルス発振器３
４出力のクロックパルスＣＰと同期して回転され、測定
精度を維持するようにされている。
このような高速度走査型レーザ測長機は、移動する物体
、高温物体の長さ、厚み等を非接触で高精度に測定でき
るので広（利用されつつある。しかしながら、通常は、
前記レーザ光源１０として、ヘリウム−ネオンレーザが
用いられているので、平行走査光線ビーム２０が難可視
性光線となり、平行走査光線ビーム２０の走査範囲内の
所定位置に被測定物２４を配置したり、或いは、配置さ
れた被測定物２４が走査範囲内の最適位置にあるかどう
かを確認するのが、極めて困難であった。従って従来は
、前出第１１′￥１に破線で示す如（、平行走査光線ビ
ーム２０の光路中の、被測定物２４と集光ｌ／ンズ２２
の間に、紙或いは螢光板等の投影物体４６を配置し、該
投影物体４６上の平行走査光線ビームの位置から、被測
定物２４の位置が適切であるかどうかを判断するよう【
（シていた。しかしながら、このような投影物体４６を
使用する方法では、位置確認に手間がかかるだけでなく
、被測定物２４の位置を確認するために、投影物体４６
を平行走査光線ビーム２０の光路中に挿入している時に
は、被測定物２４の位置が適切なものであるかゲうかを
正確に知るために、被測定物２４の寸法を同時に測定す
ることが不可能であり、正確な位置確認が困難である。
、高温物体の長さ、厚み等を非接触で高精度に測定でき
るので広（利用されつつある。しかしながら、通常は、
前記レーザ光源１０として、ヘリウム−ネオンレーザが
用いられているので、平行走査光線ビーム２０が難可視
性光線となり、平行走査光線ビーム２０の走査範囲内の
所定位置に被測定物２４を配置したり、或いは、配置さ
れた被測定物２４が走査範囲内の最適位置にあるかどう
かを確認するのが、極めて困難であった。従って従来は
、前出第１１′￥１に破線で示す如（、平行走査光線ビ
ーム２０の光路中の、被測定物２４と集光ｌ／ンズ２２
の間に、紙或いは螢光板等の投影物体４６を配置し、該
投影物体４６上の平行走査光線ビームの位置から、被測
定物２４の位置が適切であるかどうかを判断するよう【
（シていた。しかしながら、このような投影物体４６を
使用する方法では、位置確認に手間がかかるだけでなく
、被測定物２４の位置を確認するために、投影物体４６
を平行走査光線ビーム２０の光路中に挿入している時に
は、被測定物２４の位置が適切なものであるかゲうかを
正確に知るために、被測定物２４の寸法を同時に測定す
ることが不可能であり、正確な位置確認が困難である。
又、投影物体４６−ヒの平行走査光線ビーム２０の位置
を目視で確認するため、レーザ光源１０の出力が大きい
場合には危険である。更に、レーザ光源１０として半導
体レーザを用いた場合には、平行走査光線ビーム２０が
不可視光線となるので、投影物体４６上の平行走査光線
ビーム２０の位置を確認することが不可能である等の問
題点を有した。
を目視で確認するため、レーザ光源１０の出力が大きい
場合には危険である。更に、レーザ光源１０として半導
体レーザを用いた場合には、平行走査光線ビーム２０が
不可視光線となるので、投影物体４６上の平行走査光線
ビーム２０の位置を確認することが不可能である等の問
題点を有した。
一方、平行走査光線ビーム２０の走査範囲内における被
測定物２４の測定セグメントの中心位置を表示するアナ
ログのモニタメータを設けることも考えられるが、被測
定物２４の測定セグメントが２以−ヒ存在したり、或い
は、被測定物２４の一部が平行走査光線ビーム２０の走
査範囲外に飛び出している場合には、被測定物２４の中
心位置を求めることができす、アナログメータでは適切
な位置表示ができないという問題点を有した。
測定物２４の測定セグメントの中心位置を表示するアナ
ログのモニタメータを設けることも考えられるが、被測
定物２４の測定セグメントが２以−ヒ存在したり、或い
は、被測定物２４の一部が平行走査光線ビーム２０の走
査範囲外に飛び出している場合には、被測定物２４の中
心位置を求めることができす、アナログメータでは適切
な位置表示ができないという問題点を有した。
本発明は、前記従来の欠点を解消するべ（なされたもの
で、平行走査光線ビームの走査範囲に対する被測定物の
位置を、容易に、且つ正確（て知ることができ、従って
、測定を迅速口、つ安全に行なうことができる光学式測
定装置を提供すること金目的とする。
で、平行走査光線ビームの走査範囲に対する被測定物の
位置を、容易に、且つ正確（て知ることができ、従って
、測定を迅速口、つ安全に行なうことができる光学式測
定装置を提供すること金目的とする。
本発明は、平行走査光線ビーム発生装置と、被測定物通
過後の平行走査光線ビームを集光する集光手段と、該集
光手段により集光された走査光線ビームの明暗を感知し
て電気信号とする単一の受光素子とを有し、前記平行走
査光線ビーム発生装置と受光素子との間に配置した被測
定物により前記平行走査光線ビームが遮ぎられて生じる
暗部又は明部の時間の長さから被測定物の寸法を測定す
るようにした光学式測定装置において、前記平行走査光
線ビームの走査範囲に対応して配列された複数の発光素
子を有する設定位置表示手段と、単一走査時間内の前記
受光素子の出力を、前記設定位置表示手段の発光素子数
に応じて時分割し、走査範囲に対する被測定物の位置に
応じて前記設定位置表示手段の発光素子を発光させる時
分割回路と、を備えることにより、前記目的を達成した
ものである。
過後の平行走査光線ビームを集光する集光手段と、該集
光手段により集光された走査光線ビームの明暗を感知し
て電気信号とする単一の受光素子とを有し、前記平行走
査光線ビーム発生装置と受光素子との間に配置した被測
定物により前記平行走査光線ビームが遮ぎられて生じる
暗部又は明部の時間の長さから被測定物の寸法を測定す
るようにした光学式測定装置において、前記平行走査光
線ビームの走査範囲に対応して配列された複数の発光素
子を有する設定位置表示手段と、単一走査時間内の前記
受光素子の出力を、前記設定位置表示手段の発光素子数
に応じて時分割し、走査範囲に対する被測定物の位置に
応じて前記設定位置表示手段の発光素子を発光させる時
分割回路と、を備えることにより、前記目的を達成した
ものである。
又、前記平行走査光線ビームが、難可視性光線又は不可
視先鞭からなるものとしたものである。
視先鞭からなるものとしたものである。
更に、前記時分割回路が、測定セグメントに対応する前
記暗部又は明部の時間の長さを測定するために、前記受
光素子の出力を時分割するセグメント選択回路を利用す
るものとしたものである。
記暗部又は明部の時間の長さを測定するために、前記受
光素子の出力を時分割するセグメント選択回路を利用す
るものとしたものである。
以下図面を参照１して、本発明の実施例を詳細に説明す
る。
る。
本実施例は、第２図に示す如（、前記従来例と同様の、
レーザ光源１０、固定ミラー１４、回転ミラー１６、コ
リメータレンズ１８、集光レンズ２２、受光素子２６、
プリアンプ２８、セグメント選択回路３０、ゲート回路
３２、クロックパルス発振器３４、計数回路３６、デジ
タル表示器３８、同期正弦波発振器４０、パワーアンプ
４２、同期モータ４４とを有し、前記コリメータレンズ
１８と集光レンズ２２との間に配置した被測定物２４に
より平行走査光線ビーム２０が遮ぎられて生じる暗部の
時間の長さから被測定物２４の寸法を測定するようにし
た光学式測定装置において、前記平行走査光線ビーム２
０の走査範囲に対応して配列された、複数（例えばｎ個
）の表示ランプ或いは発光ダイオード等からなる発光素
子５０−１〜５０−ｎを有する設定位置表示装置５ｏと
、単一走査時間内の前記プリアンプ２８の出力を、前記
設定位置表示袋＃５００発光素子数に応じてｎ個に時分
割し、走査範囲に対する被測定物２４の位置に応じて前
記設定位置表示装置１１５０の発光素子５０−１〜５０
−ｎを発光させる時分割回路５２とを設けたものである
。他の点については前記従来例と同様であるので説明は
省略する。
レーザ光源１０、固定ミラー１４、回転ミラー１６、コ
リメータレンズ１８、集光レンズ２２、受光素子２６、
プリアンプ２８、セグメント選択回路３０、ゲート回路
３２、クロックパルス発振器３４、計数回路３６、デジ
タル表示器３８、同期正弦波発振器４０、パワーアンプ
４２、同期モータ４４とを有し、前記コリメータレンズ
１８と集光レンズ２２との間に配置した被測定物２４に
より平行走査光線ビーム２０が遮ぎられて生じる暗部の
時間の長さから被測定物２４の寸法を測定するようにし
た光学式測定装置において、前記平行走査光線ビーム２
０の走査範囲に対応して配列された、複数（例えばｎ個
）の表示ランプ或いは発光ダイオード等からなる発光素
子５０−１〜５０−ｎを有する設定位置表示装置５ｏと
、単一走査時間内の前記プリアンプ２８の出力を、前記
設定位置表示袋＃５００発光素子数に応じてｎ個に時分
割し、走査範囲に対する被測定物２４の位置に応じて前
記設定位置表示装置１１５０の発光素子５０−１〜５０
−ｎを発光させる時分割回路５２とを設けたものである
。他の点については前記従来例と同様であるので説明は
省略する。
前記設定位＃表示装＃５０は、例えば第３図に示す如（
、光学式測定装置５４の受光側ボディ５４ａに、前記平
行走査光線ビーム２０の走査範囲と直接対応するように
配設されている。第３図において、５４ｂは、発光側ボ
ディである。
、光学式測定装置５４の受光側ボディ５４ａに、前記平
行走査光線ビーム２０の走査範囲と直接対応するように
配設されている。第３図において、５４ｂは、発光側ボ
ディである。
本実施例においては、プリアンプ２８の出力信号が、ク
ロックパルス発振器３４出力のクロックパルス信号に応
じて、設定位置表示装置５０の発光素子数ｎＫ対応して
ｎ個に時分割される。従って、設定位置表示装置５０に
おいては、平行走査光線ビーム２０の走査範囲に対応す
るｎ個の発光 ′素子５０−１〜５０−ｎのうち
５平行走を光線と一ム２０の走査範囲に対する被測定物
２４の位置に対応する位置の発光素子が点灯されること
となるため、該設定位置表示装置５０の点灯状態から、
平行走置光線ビーム２０の走査範囲に対する被測定物の
設定位置を容易に、且つ、迅速に知ることができる。従
って、例えば比較測定や振動物体の測定を行なう場合に
は、被測定物２４を走査範囲内の中央位置に正確に設定
することが可能となり、被測定物間の寸法偏差或いは被
測定物の振動に拘らず、精度の高い測定を行なうことが
可能となる。
ロックパルス発振器３４出力のクロックパルス信号に応
じて、設定位置表示装置５０の発光素子数ｎＫ対応して
ｎ個に時分割される。従って、設定位置表示装置５０に
おいては、平行走査光線ビーム２０の走査範囲に対応す
るｎ個の発光 ′素子５０−１〜５０−ｎのうち
５平行走を光線と一ム２０の走査範囲に対する被測定物
２４の位置に対応する位置の発光素子が点灯されること
となるため、該設定位置表示装置５０の点灯状態から、
平行走置光線ビーム２０の走査範囲に対する被測定物の
設定位置を容易に、且つ、迅速に知ることができる。従
って、例えば比較測定や振動物体の測定を行なう場合に
は、被測定物２４を走査範囲内の中央位置に正確に設定
することが可能となり、被測定物間の寸法偏差或いは被
測定物の振動に拘らず、精度の高い測定を行なうことが
可能となる。
本実施例においては、設定位置表示装置５０を、光学式
測定装置５４の受光側ボディ５４ａに、平行走査光線と
一ム２０の走査範囲と直接対応するように設けているの
で、平行走査光線ビーム２０の走査範囲に対する被測定
物２４の位置を、極めて簡単に知ることができる。なお
、設定位置表示装置５０の配設位置はこれに限定されず
、例えば第４図に示す如く、光学式測定装置の本体ボデ
ィとは別置きとされた電装表示部６２に、デジタル表示
器３４と並設することも可能である。
測定装置５４の受光側ボディ５４ａに、平行走査光線と
一ム２０の走査範囲と直接対応するように設けているの
で、平行走査光線ビーム２０の走査範囲に対する被測定
物２４の位置を、極めて簡単に知ることができる。なお
、設定位置表示装置５０の配設位置はこれに限定されず
、例えば第４図に示す如く、光学式測定装置の本体ボデ
ィとは別置きとされた電装表示部６２に、デジタル表示
器３４と並設することも可能である。
なお、前記実施例（Ｃおいては、被測定物２４によって
平行走査光線ビーム２０が、漉ぎられた位置に対応する
発光素子のみを点灯、するようにしていたが、設定位置
表示装＃５６の発光素子の点灯方法は、これに限定され
ず、例えば、測定セグメントが２個以上存在する場合を
で、被測定物の両端位置に対応する範囲内の発光素子を
、すべて点灯することも可能である。
平行走査光線ビーム２０が、漉ぎられた位置に対応する
発光素子のみを点灯、するようにしていたが、設定位置
表示装＃５６の発光素子の点灯方法は、これに限定され
ず、例えば、測定セグメントが２個以上存在する場合を
で、被測定物の両端位置に対応する範囲内の発光素子を
、すべて点灯することも可能である。
又、前記実施例においては、時分割回路５２の出力によ
り、設定位酋表示装＠５０の対応する発光素子を点灯さ
せるのみであったが、第２図に１点鎖線で示す如く、前
記時分割回路５２の出力を増幅するパワーアンプ５６と
、該パワーアンプ５６の出力に応じて、被測定物２４が
配置される載物台５８の位置を移動するためのモータ６
０とを設けることにより、時分割回路５２の出力に応じ
て、載物台５８上の被測定物２４が、平行走査光線ビー
ム２０内の所定位置、例えば中央位置にくるように、載
物台５８の位置をフィードバック制御することも可能で
ある。
り、設定位酋表示装＠５０の対応する発光素子を点灯さ
せるのみであったが、第２図に１点鎖線で示す如く、前
記時分割回路５２の出力を増幅するパワーアンプ５６と
、該パワーアンプ５６の出力に応じて、被測定物２４が
配置される載物台５８の位置を移動するためのモータ６
０とを設けることにより、時分割回路５２の出力に応じ
て、載物台５８上の被測定物２４が、平行走査光線ビー
ム２０内の所定位置、例えば中央位置にくるように、載
物台５８の位置をフィードバック制御することも可能で
ある。
更に、前記実施例においては、セグメント選択回路３０
と独立した時分割回路５２が設けられていたが、セグメ
ント選択回路３０を一部改良することによって、別体の
時分割回路を設けることなく、前記設定位置表示装置５
０の対応する発光素子を点灯するようにすることも可能
である。
と独立した時分割回路５２が設けられていたが、セグメ
ント選択回路３０を一部改良することによって、別体の
時分割回路を設けることなく、前記設定位置表示装置５
０の対応する発光素子を点灯するようにすることも可能
である。
以上説明し７た通り、本発明によれば、平行走査光線ビ
ームが難可視性光線又は不可視光線からなる場合におい
ても、平行走査光線ビームの走査範囲に対する被測定物
の位置を容易に、且つ、迅速に知ることができる。従っ
て、被測定物が走査範囲外に飛び出すことを容易に１５
ａ止できる。又、比較測定に際して、被測定物を走査範
囲の略中央位置に設定することが容易である。更に、平
行走査光線ビーム自体を直接目視する必要がないので、
安全である等の優れた効果を有する。
ームが難可視性光線又は不可視光線からなる場合におい
ても、平行走査光線ビームの走査範囲に対する被測定物
の位置を容易に、且つ、迅速に知ることができる。従っ
て、被測定物が走査範囲外に飛び出すことを容易に１５
ａ止できる。又、比較測定に際して、被測定物を走査範
囲の略中央位置に設定することが容易である。更に、平
行走査光線ビーム自体を直接目視する必要がないので、
安全である等の優れた効果を有する。
第１図は、従来の光学式測定装置の一例の構成を示す、
一部ブロック線図を含む平面図、第２図は、本発明に係
る光学式測定装置の実施例の構成を示す、一部ブロック
線図を含む平面図、第３図は、同じく、設定位置表示装
置の配役位置を示す正面図、第４図は、設定位置表示装
置の配役位置の変形例を示す正面図である。 １０・・・１）−ザ光源、１４・・・固定ばラー、１６
・・・回転ミラー、１８・・・コリメータ１／ンズ、２
２・・・集光１／ンズ、２４・・・被測定物、２６・・
・受光素子、２８・・・プリアンプ、３０・・・セグメ
ント選択回路、３２・・・ケート回路、３４・・・クロ
ックパルス８ 振Ｒ？、、３６・・・計数回路、３８・
・・デジタル光示器、５０・・・設定位置表示装置、５
０−１〜５０−ｎ・・・発光素子、５２・・・時分割回
路。 代理人 高 矢 論 （けか１名）
一部ブロック線図を含む平面図、第２図は、本発明に係
る光学式測定装置の実施例の構成を示す、一部ブロック
線図を含む平面図、第３図は、同じく、設定位置表示装
置の配役位置を示す正面図、第４図は、設定位置表示装
置の配役位置の変形例を示す正面図である。 １０・・・１）−ザ光源、１４・・・固定ばラー、１６
・・・回転ミラー、１８・・・コリメータ１／ンズ、２
２・・・集光１／ンズ、２４・・・被測定物、２６・・
・受光素子、２８・・・プリアンプ、３０・・・セグメ
ント選択回路、３２・・・ケート回路、３４・・・クロ
ックパルス８ 振Ｒ？、、３６・・・計数回路、３８・
・・デジタル光示器、５０・・・設定位置表示装置、５
０−１〜５０−ｎ・・・発光素子、５２・・・時分割回
路。 代理人 高 矢 論 （けか１名）
Claims (3)
- （１）平行走査光線ビーム発生装置と、被測定物通過後
の平行走査光線ビームを集光する集光手段と、該集光手
段により集光された走査光線ビームの明暗を感知して電
気信号とする単一の受光素子とを有し、前記平行走査光
線ビーム発生装置と受光素子との間に配置した被測定物
により前記平行走査光線ビームが遮ぎられて生じる暗部
又は明部の時間の長さから被測定物の寸法を測定するよ
うにした光学式測定装置において、前記平行走査光線ビ
ームの走査範囲に対応して配列された複数の発光素子を
有する設定位置表示手段と、単一走査時間内の前記受光
素子の出−力を、前記設定位置表示手段の発光素子数に
応じて時分割し、走査範囲に対する被測定物の位置に応
じて前記設定位置表示手段の発光素子を発光させる時分
割回路と、を備えたことを特徴とする光学式測定装置。 - （２）前記平行走査光線ビームが、難可視性光線又は不
可視光線からなる特許請求の範囲第１項に記載の光学式
測定装置。 - （３）前記時分割回路が、測定セグメントに対応する前
記暗部又は明部の時間の長さを測定するために、前記受
光素子の出力を時分割するセグメント選択回路を利用し
たものである特許請求の範囲第１項に記載の光学式測定
装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56215253A JPS58111705A (ja) | 1981-12-25 | 1981-12-25 | 光学式測定装置 |
| US06/452,387 US4521112A (en) | 1981-12-25 | 1982-12-22 | Optical measuring device with position indicator |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56215253A JPS58111705A (ja) | 1981-12-25 | 1981-12-25 | 光学式測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58111705A true JPS58111705A (ja) | 1983-07-02 |
| JPS628124B2 JPS628124B2 (ja) | 1987-02-20 |
Family
ID=16669249
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56215253A Granted JPS58111705A (ja) | 1981-12-25 | 1981-12-25 | 光学式測定装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
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