JPS58110486A - 半導体単結晶育成法 - Google Patents
半導体単結晶育成法Info
- Publication number
- JPS58110486A JPS58110486A JP20403181A JP20403181A JPS58110486A JP S58110486 A JPS58110486 A JP S58110486A JP 20403181 A JP20403181 A JP 20403181A JP 20403181 A JP20403181 A JP 20403181A JP S58110486 A JPS58110486 A JP S58110486A
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- JP
- Japan
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- single crystal
- semiconductor
- layer
- melt
- crystal
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C30—CRYSTAL GROWTH
- C30B—SINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
- C30B27/00—Single-crystal growth under a protective fluid
- C30B27/02—Single-crystal growth under a protective fluid by pulling from a melt
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、lnP%山11 等の化合物半導体の単結晶
を育成する場合に適用して好適な半導体単結晶育成法の
改良に関する。
を育成する場合に適用して好適な半導体単結晶育成法の
改良に関する。
斯種半導体単結晶育成法として、従来、第1図に示す如
(、ヒータ1にて加熱されるサセプタ2にて取囲まれて
なる坩堝s内に、例えばH2O5でなる液体封じ剤層4
を浮かしている、目的とせる半導体となる材料の融液5
を物、自してその11111115に、種子結晶6を接
触させ、次でその種子結晶6を引上げる(通常は1転せ
しめ乍ら)ことにより、その柚子結晶6下に半導体の単
結晶7を育成するという方法が提案されている。内園に
於て8はサセプタを支持する支持体、9は種子結晶6を
取付けてなるナヤツタを示す。。
(、ヒータ1にて加熱されるサセプタ2にて取囲まれて
なる坩堝s内に、例えばH2O5でなる液体封じ剤層4
を浮かしている、目的とせる半導体となる材料の融液5
を物、自してその11111115に、種子結晶6を接
触させ、次でその種子結晶6を引上げる(通常は1転せ
しめ乍ら)ことにより、その柚子結晶6下に半導体の単
結晶7を育成するという方法が提案されている。内園に
於て8はサセプタを支持する支持体、9は種子結晶6を
取付けてなるナヤツタを示す。。
所で、期る半導体単結晶の育成法は、所■、液体封じ引
上法(t&体鮒じチョコラルスキー法)による半導体単
結晶の育成法と称されているものであるが、半導体の単
lWl&7の育成を、@濠5上に液体刺し剤層4を浮か
して融i[5を構威せる材料の蒸発を抑止せしめ乍らな
す様にしているので、大なる蒸発を伴う材料を含んで構
成せるInP1Gμz 等の化合物半導体の単結晶を得
る場合に適用して好適なものである。
上法(t&体鮒じチョコラルスキー法)による半導体単
結晶の育成法と称されているものであるが、半導体の単
lWl&7の育成を、@濠5上に液体刺し剤層4を浮か
して融i[5を構威せる材料の蒸発を抑止せしめ乍らな
す様にしているので、大なる蒸発を伴う材料を含んで構
成せるInP1Gμz 等の化合物半導体の単結晶を得
る場合に適用して好適なものである。
然し乍ら、上述せる液体封じ引上法による半導体単結晶
育成法の場合、1lllF液5より液体封じ剤層4を通
って外部に一射熱10が−射し、向してその輻射熱10
によって、種子結晶6下に育成する単結晶7の融液5偶
の部が加熱され、この為、単結晶7が1IIP1GLA
8 等の化合物牛導体の単結晶でなる場合、その単結
晶7の融液5側の部の表面鄭で化合物半導体の熱分解(
化合物半導体がIaPである場合、In(液体)と7P
4(気体)とに熱分解する熱分解、GaAsである場合
、 Ga(液体)と7ムs4(気体)とに熱分解する熱
分解)が生ずる―れを有するものである。
育成法の場合、1lllF液5より液体封じ剤層4を通
って外部に一射熱10が−射し、向してその輻射熱10
によって、種子結晶6下に育成する単結晶7の融液5偶
の部が加熱され、この為、単結晶7が1IIP1GLA
8 等の化合物牛導体の単結晶でなる場合、その単結
晶7の融液5側の部の表面鄭で化合物半導体の熱分解(
化合物半導体がIaPである場合、In(液体)と7P
4(気体)とに熱分解する熱分解、GaAsである場合
、 Ga(液体)と7ムs4(気体)とに熱分解する熱
分解)が生ずる―れを有するものである。
又肯威葡る単結&7の外11面には、筐体封じ剤層4の
材料による薄い**層を有しているものであるが、その
普一層が、上述せる熱分解によって生ずる化合Il牛導
体を構成せる材料の蒸気・(−・化合物半導体がInP
である場合、Pの蒸気、01番 である場合A都の蒸気
)砥かトつヨヨ、の圧力によって、単結晶7の外表面よ
り剥離する慣れを有するものである。更K11y(単結
17の外表面上より被債層が剥離すれば、その剥離位置
での化合物牛導体の熱分解が加遍度的に進行し、依って
単結晶7が表1iis41c於て結晶性の著しく劣化せ
るものとして得られる惰れを有するものである。又上述
せる熱分解が生ずれば、これによって生ずる化合物牛導
体を栖成せる材料の濠滴(化合物半導体かInPである
場合 Inの箪−1GaAs である場合(Ja O
) @ 崗)か、単結晶7の外衣向を伝わって単結晶7
とM柩5との界面迄路下し、単結晶7番こ双晶を発生せ
しめ、依って単結晶を実値り良く侍ることが出来なくな
る慣れを有するものである。
材料による薄い**層を有しているものであるが、その
普一層が、上述せる熱分解によって生ずる化合Il牛導
体を構成せる材料の蒸気・(−・化合物半導体がInP
である場合、Pの蒸気、01番 である場合A都の蒸気
)砥かトつヨヨ、の圧力によって、単結晶7の外表面よ
り剥離する慣れを有するものである。更K11y(単結
17の外表面上より被債層が剥離すれば、その剥離位置
での化合物牛導体の熱分解が加遍度的に進行し、依って
単結晶7が表1iis41c於て結晶性の著しく劣化せ
るものとして得られる惰れを有するものである。又上述
せる熱分解が生ずれば、これによって生ずる化合物牛導
体を栖成せる材料の濠滴(化合物半導体かInPである
場合 Inの箪−1GaAs である場合(Ja O
) @ 崗)か、単結晶7の外衣向を伝わって単結晶7
とM柩5との界面迄路下し、単結晶7番こ双晶を発生せ
しめ、依って単結晶を実値り良く侍ることが出来なくな
る慣れを有するものである。
依って本発明は、上述せる欠点のない新規な半導体率結
晶狩成法を提案せんとするもので、以下詳述する所より
明らかとなるであろう。
晶狩成法を提案せんとするもので、以下詳述する所より
明らかとなるであろう。
争
#12図は本発明による半導体率結晶貢威法の第1の実
施例を示し、第1図との対応部分には同一符号を附して
示すも、累1図にて上述せる従来の場合と同様に、ヒー
ターにて加熱されるサセプタ2にて取囲まれてなる坩堝
3内に、例えばB20. でなる液体封じ剤層4を浮
かしている、目的とせる半導体となる材料の融[5を得
、而してその融Wi5に、種子結晶6を接触させ、次で
その種子結晶6を引上げる(通常は回転せしめ乍ら)こ
とにより、その種子結晶6下に半導体の単結晶7を育成
するものであるが、その単結晶7の育成を、液体封じ剤
層4上に熱遮蔽′Jfi21を浮かしている状態でなす
ものである。
施例を示し、第1図との対応部分には同一符号を附して
示すも、累1図にて上述せる従来の場合と同様に、ヒー
ターにて加熱されるサセプタ2にて取囲まれてなる坩堝
3内に、例えばB20. でなる液体封じ剤層4を浮
かしている、目的とせる半導体となる材料の融[5を得
、而してその融Wi5に、種子結晶6を接触させ、次で
その種子結晶6を引上げる(通常は回転せしめ乍ら)こ
とにより、その種子結晶6下に半導体の単結晶7を育成
するものであるが、その単結晶7の育成を、液体封じ剤
層4上に熱遮蔽′Jfi21を浮かしている状態でなす
ものである。
この場合熱遮蔽板21としては、液体封じ剤層4と反応
せざる、液体封じ剤層4に比し小なる比重を有する材料
にて製出されているもので、液体封じ剤層4がB20s
(比重1.84 >でなる場合、高純度カーボン(31
1に比重1.70 >にて製出せるとし得る。又熱遮蔽
板21としては、単結晶7と1111液5との界面近傍
Kmける温度分布を不必費に直すことのない橡に、単結
晶7の外径より大なる内径を有する載板状であるを可と
するものである。
せざる、液体封じ剤層4に比し小なる比重を有する材料
にて製出されているもので、液体封じ剤層4がB20s
(比重1.84 >でなる場合、高純度カーボン(31
1に比重1.70 >にて製出せるとし得る。又熱遮蔽
板21としては、単結晶7と1111液5との界面近傍
Kmける温度分布を不必費に直すことのない橡に、単結
晶7の外径より大なる内径を有する載板状であるを可と
するものである。
以上が本発明による牛導体単結晶育成法の第1の実施例
であるが、斯る本発明の方法によれば、−t5より液体
封じ剤層4を遣って外部に輻射熱が、液体封じ剤層4上
に浮いている熱遮蔽[21によって大幅に遮断されるも
のである。
であるが、斯る本発明の方法によれば、−t5より液体
封じ剤層4を遣って外部に輻射熱が、液体封じ剤層4上
に浮いている熱遮蔽[21によって大幅に遮断されるも
のである。
この為、融液5より外sk輻射熱10′が輻射されると
しても、その熱量は少なく、この為第1図にて前述せる
従来の方法の場合の如くに、単結晶7の融液5@の部が
輻射熱によって不必費に加熱されることがないものであ
る。又この為単結晶7がlnP 、GaAs等の化合物
牛導体の単結晶でなる一合であっても、細1図にて上述
ぜる従来の方法の場合の如くに、単結晶7の一箪5側の
部の表l1Ii部で熱分解が生ずるという犠れを有しな
いものである。
しても、その熱量は少なく、この為第1図にて前述せる
従来の方法の場合の如くに、単結晶7の融液5@の部が
輻射熱によって不必費に加熱されることがないものであ
る。又この為単結晶7がlnP 、GaAs等の化合物
牛導体の単結晶でなる一合であっても、細1図にて上述
ぜる従来の方法の場合の如くに、単結晶7の一箪5側の
部の表l1Ii部で熱分解が生ずるという犠れを有しな
いものである。
依って第2−にて上述せる本発明による方法によれば、
単結晶7を表伽部に於ても結晶性の良いものとして且歩
貿り良く殉ることが出来るという大なる%黴を有するも
のである。
単結晶7を表伽部に於ても結晶性の良いものとして且歩
貿り良く殉ることが出来るという大なる%黴を有するも
のである。
次に183図を伴なって本発明による牛導体単結晶育成
法の第2の実施例を述べるに、顛2図との対応部分には
同一符号を附してtp細説明はこれを1略するも、第2
図にて上述せる本発明による牛導体単結晶肯成法の第1
の実施例の場合と同様に種子結晶6下に千尋体の単結晶
7を育成するものであるが、その単結晶7の育成を、液
体刺じ剤層4上ではなく融i15上に熱遮蔽板31を浮
かしている状■でなすものである。この場合熱遮蔽板3
1としては、ilI液5及び液体刺し剤層4と反応(ざ
る、液体刺じ剤JIli4に比し大であるも、融液5に
比し小である比重を有する材料にて製出されているもの
で、液体刺じ剤層4がB、Os(比重1.84 )でな
り、1iiI淑5がInGa又はGaAsとなる材料の
―濠の場合、窒化−素BN (比重2.12)[て製出
せるものとし得る。
法の第2の実施例を述べるに、顛2図との対応部分には
同一符号を附してtp細説明はこれを1略するも、第2
図にて上述せる本発明による牛導体単結晶肯成法の第1
の実施例の場合と同様に種子結晶6下に千尋体の単結晶
7を育成するものであるが、その単結晶7の育成を、液
体刺じ剤層4上ではなく融i15上に熱遮蔽板31を浮
かしている状■でなすものである。この場合熱遮蔽板3
1としては、ilI液5及び液体刺し剤層4と反応(ざ
る、液体刺じ剤JIli4に比し大であるも、融液5に
比し小である比重を有する材料にて製出されているもの
で、液体刺じ剤層4がB、Os(比重1.84 )でな
り、1iiI淑5がInGa又はGaAsとなる材料の
―濠の場合、窒化−素BN (比重2.12)[て製出
せるものとし得る。
又熱遮蔽板31としては、$2Nの場合の熱遮蔽[21
の場合と一様の層内で、第211の場合の熱遮蔽&21
と同様にR11L状であるを可とするものである。更に
熱遮Iif板S1としては、これを図示の如く複数用い
、血してそれ等を重ね、これにより熱遮蔽@51を1&
用いた場合に比し大なる熱遮蔽効果を得る様になすこと
を可とするものである。
の場合と一様の層内で、第211の場合の熱遮蔽&21
と同様にR11L状であるを可とするものである。更に
熱遮Iif板S1としては、これを図示の如く複数用い
、血してそれ等を重ね、これにより熱遮蔽@51を1&
用いた場合に比し大なる熱遮蔽効果を得る様になすこと
を可とするものである。
以上が本発明による半導体単結晶育成法の第2の実施例
であるが、斯る本発明の方法によれば、融液5より液体
封じ剤層4を通って外1lllに輻射せんとする輻射熱
が、m#5上に浮いている熱燻*X砲31によって、第
2図の場合と同様に大幅に遮断されるので、#42図の
場合と一様に融液5より外部に輻射熱10′か輻射され
るとしてもその熱−は少くなく、依って神細説明はこれ
を省略するも、第2図の場合と111IJ様の唆れた特
徴を有するものである。
であるが、斯る本発明の方法によれば、融液5より液体
封じ剤層4を通って外1lllに輻射せんとする輻射熱
が、m#5上に浮いている熱燻*X砲31によって、第
2図の場合と同様に大幅に遮断されるので、#42図の
場合と一様に融液5より外部に輻射熱10′か輻射され
るとしてもその熱−は少くなく、依って神細説明はこれ
を省略するも、第2図の場合と111IJ様の唆れた特
徴を有するものである。
尚上述に於ては、半導体の率結、&&7を、−箪5上に
液体封じ剤層4を浮かしている状態でなす場合に、本発
明を適用した場合の実31iIlflilを遂べたもの
であるが、半導体の単結晶7をWaSに液体刺じ剤層4
を浮かしていない状態でなす場合にも本発明を適用して
、上述せると同様の浚れた特徴′を鞠ることか出来、そ
の他事発明の精神を脱するこさなしに檀々の俊型変灸を
なし得るであろう。
液体封じ剤層4を浮かしている状態でなす場合に、本発
明を適用した場合の実31iIlflilを遂べたもの
であるが、半導体の単結晶7をWaSに液体刺じ剤層4
を浮かしていない状態でなす場合にも本発明を適用して
、上述せると同様の浚れた特徴′を鞠ることか出来、そ
の他事発明の精神を脱するこさなしに檀々の俊型変灸を
なし得るであろう。
#&1融は従来の半導体単結晶育成法を示す略II翻、
第2図及び第3−は夫々本発明による半導体単結晶育成
法の第1及び第2の実施例を示す略麹図である。 図中、1はヒータ、2はサセプタ、5は坩堝、4は液体
刺じ剤層、5はfIIAi[,6は稚子結晶、7は半導
体の結晶、10及び10′は輻射熱、21及び31は熱
遮蔽板を夫々示す。 出願人 日本亀信電鮎公社 第 曹 図 (〕
第2図及び第3−は夫々本発明による半導体単結晶育成
法の第1及び第2の実施例を示す略麹図である。 図中、1はヒータ、2はサセプタ、5は坩堝、4は液体
刺じ剤層、5はfIIAi[,6は稚子結晶、7は半導
体の結晶、10及び10′は輻射熱、21及び31は熱
遮蔽板を夫々示す。 出願人 日本亀信電鮎公社 第 曹 図 (〕
Claims (1)
- 目的とせる半導体となる材料の融液に、液体封じ剤層を
浮かしている、又は浮かしていない状態で、種子結晶を
接触させ、次で腋種子結晶を引上げることにより、!I
#種子種子結晶上記半導体の単結晶を育成する半導体単
結晶育成法に於て、上記半導体の単結晶の育成を、上記
融液上又は上記液体封し剤層上に熱遮蔽板を浮かしてい
る状態でなす事を特徴とする半導体単結晶育成法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20403181A JPS5935878B2 (ja) | 1981-12-17 | 1981-12-17 | 半導体単結晶育成法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20403181A JPS5935878B2 (ja) | 1981-12-17 | 1981-12-17 | 半導体単結晶育成法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58110486A true JPS58110486A (ja) | 1983-07-01 |
JPS5935878B2 JPS5935878B2 (ja) | 1984-08-31 |
Family
ID=16483605
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20403181A Expired JPS5935878B2 (ja) | 1981-12-17 | 1981-12-17 | 半導体単結晶育成法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5935878B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02175692A (ja) * | 1988-12-28 | 1990-07-06 | Mitsubishi Monsanto Chem Co | 単結晶成長方法及び装置 |
JPH02175691A (ja) * | 1988-12-28 | 1990-07-06 | Mitsubishi Monsanto Chem Co | 単結晶成長方法及び装置 |
-
1981
- 1981-12-17 JP JP20403181A patent/JPS5935878B2/ja not_active Expired
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02175692A (ja) * | 1988-12-28 | 1990-07-06 | Mitsubishi Monsanto Chem Co | 単結晶成長方法及び装置 |
JPH02175691A (ja) * | 1988-12-28 | 1990-07-06 | Mitsubishi Monsanto Chem Co | 単結晶成長方法及び装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5935878B2 (ja) | 1984-08-31 |
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