JPS58108505A - 合焦検出装置 - Google Patents
合焦検出装置Info
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- JPS58108505A JPS58108505A JP20827781A JP20827781A JPS58108505A JP S58108505 A JPS58108505 A JP S58108505A JP 20827781 A JP20827781 A JP 20827781A JP 20827781 A JP20827781 A JP 20827781A JP S58108505 A JPS58108505 A JP S58108505A
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- JP
- Japan
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- optical system
- light
- pair
- receiving element
- polarizer
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- Pending
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-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/34—Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、カメラ、顕微鏡等の光学系によって得られる
光像の、波面分割１こよる結像位置のずれを利用した自
動焦点検出装置着こ関するものである。
光像の、波面分割１こよる結像位置のずれを利用した自
動焦点検出装置着こ関するものである。
従来提案されている合焦検出装置の代表的な一例の概略
的な構成を第１図に示す。同図壷こおいて、撮影レンズ
ｌからの光束は、半透鏡からなるはね上りミラーλによ
ってその一部才たは全部をコ分割し、その一方は図示を
省略したファインダ系に導くとともに、他方はそのはね
上げミラー１の後方に配置した全反射ミラーＪ＃こよっ
て下方のビームスプリッタ−参に導き、ここでさら優こ
λ分割して、前記撮影レンズｌの予定焦平面（フィルム
面）と共役な面を挾んで一足距離を隔てた位置に配置し
た一個の受光素子列ｊ、４のそれぞれに結像させるよう
にしている。
的な構成を第１図に示す。同図壷こおいて、撮影レンズ
ｌからの光束は、半透鏡からなるはね上りミラーλによ
ってその一部才たは全部をコ分割し、その一方は図示を
省略したファインダ系に導くとともに、他方はそのはね
上げミラー１の後方に配置した全反射ミラーＪ＃こよっ
て下方のビームスプリッタ−参に導き、ここでさら優こ
λ分割して、前記撮影レンズｌの予定焦平面（フィルム
面）と共役な面を挾んで一足距離を隔てた位置に配置し
た一個の受光素子列ｊ、４のそれぞれに結像させるよう
にしている。
以上のような構成において、受光素子列の出力をｘｎと
して、例えば、 Ｓ″ｌ ”ｎ−”ｎ−１１ＭＡＹ ” ｌ ”１１−”
１１−１１８ＵＢＭＡＸのような価を考えると、これは
儂の鮮明度に従つ前記２個の受光素子列ｊおよび４につ
いて、上記の評価値をそれぞれＳ□、Ｓ２とすると、Ｓ
工およびＳ２はデフォーカス状態に従って第−図番こ示
したように変化する。従ってＳよと８２の差を観測して
いれば、Ｓ ＜Ｓ で前ピン、Ｓ工〉Ｓ、で後ビ
２ ン、Ｓ工＝８２で合焦というように、デフォーカス方向
と合焦位置が検出できることになる。
して、例えば、 Ｓ″ｌ ”ｎ−”ｎ−１１ＭＡＹ ” ｌ ”１１−”
１１−１１８ＵＢＭＡＸのような価を考えると、これは
儂の鮮明度に従つ前記２個の受光素子列ｊおよび４につ
いて、上記の評価値をそれぞれＳ□、Ｓ２とすると、Ｓ
工およびＳ２はデフォーカス状態に従って第−図番こ示
したように変化する。従ってＳよと８２の差を観測して
いれば、Ｓ ＜Ｓ で前ピン、Ｓ工〉Ｓ、で後ビ
２ ン、Ｓ工＝８２で合焦というように、デフォーカス方向
と合焦位置が検出できることになる。
以上のような従来例は、比較的簡単な光学系を用いるこ
とにより高い精度で合焦状態を検出することが可能であ
るが、撮影レンズＩの結儂面が合焦予定位置から大きく
はずれた状態では、第一図から分るように評価値Ｓユと
８２の差が無くなって、両評価値Ｓ□、Ｓ２を比較する
ことが困難となり、撮影レンズの駆動範囲の全域での前
ピン、後ビンのデフォーカス方向の検出が不可能となる
欠点をもっている。
とにより高い精度で合焦状態を検出することが可能であ
るが、撮影レンズＩの結儂面が合焦予定位置から大きく
はずれた状態では、第一図から分るように評価値Ｓユと
８２の差が無くなって、両評価値Ｓ□、Ｓ２を比較する
ことが困難となり、撮影レンズの駆動範囲の全域での前
ピン、後ビンのデフォーカス方向の検出が不可能となる
欠点をもっている。
また、他の従来例として、第３図に示すようなものがあ
る。この焦点検出装置は像の横ずれを検知して合焦位置
を検出するもので、撮影レンズｌの物体空間に光軸０を
中心に回動可能に遮光板７を配置すると共にこの遮光板
７暑こは開孔ｌを形成し、遮光板７を回動させて開孔ｔ
の光軸Ｏ＃こ対して対称な位置での一体儂の横ずれを検
出して合焦判定を行なうものである。すなわち、遮光板
７が第７ｗＡ４こ示す状態にあるときは物体りのＩＩは
主光線の位置において＆、ｂおよびＯで示すように形成
され、また１１光板７が／１０’回動して開孔ｌが図に
おいて下側に位置すると物体りの像は、Ｉ 、 、／お
よびＯ′で示すように形成され、合焦状ｍｓこおいては
儂すとｂ′とは一致し１前ビン状態および後ビン状態で
は＠ａと１′および＠ｏとＣ′とでは１ずれの方向が反
対となるから、予定焦平面と共役な位置において開孔ｔ
の光軸に対して対称な位置でそれぞれ形成される物体儂
を受光して比較する仁と・こより像の横ずれを検知して
予定焦平面に形成される物体儂の合焦検出を行なうもの
であるＯしかし第３図に示す合焦検出装置をこおいては
遮光板７およびその回動機構を必要とするため構成が複
雑−こなると共番こ、遮光板７の回動停止時の振動等に
より正確な合焦検出ができない等の不具合がある。
る。この焦点検出装置は像の横ずれを検知して合焦位置
を検出するもので、撮影レンズｌの物体空間に光軸０を
中心に回動可能に遮光板７を配置すると共にこの遮光板
７暑こは開孔ｌを形成し、遮光板７を回動させて開孔ｔ
の光軸Ｏ＃こ対して対称な位置での一体儂の横ずれを検
出して合焦判定を行なうものである。すなわち、遮光板
７が第７ｗＡ４こ示す状態にあるときは物体りのＩＩは
主光線の位置において＆、ｂおよびＯで示すように形成
され、また１１光板７が／１０’回動して開孔ｌが図に
おいて下側に位置すると物体りの像は、Ｉ 、 、／お
よびＯ′で示すように形成され、合焦状ｍｓこおいては
儂すとｂ′とは一致し１前ビン状態および後ビン状態で
は＠ａと１′および＠ｏとＣ′とでは１ずれの方向が反
対となるから、予定焦平面と共役な位置において開孔ｔ
の光軸に対して対称な位置でそれぞれ形成される物体儂
を受光して比較する仁と・こより像の横ずれを検知して
予定焦平面に形成される物体儂の合焦検出を行なうもの
であるＯしかし第３図に示す合焦検出装置をこおいては
遮光板７およびその回動機構を必要とするため構成が複
雑−こなると共番こ、遮光板７の回動停止時の振動等に
より正確な合焦検出ができない等の不具合がある。
本発明の目的は上述した従来例における欠点あるいは不
具合を解決し、簡単な構成により広いデフォーカス範囲
にわたって焦点はずれ方向の検出を可能にし、常に正確
な合焦検出ができるようにした合焦検出装置を提供しよ
うとするものである０本発明の合焦検出装置は、撮影光
学系と、この撮影光学系の光路中に配置した偏光子と、
その後方に配置されその偏光子の偏光方向に対しほぼ参
ｊ０の偏向方向をもち、かつ互に直交する方向の振動成
分を透過させる一対の偏光素子を、前記偏光子からの光
束の異なる領域の光束が各別に透過するように並置した
波面分割光学系と、前記撮影光学系の予定焦平面とほぼ
共役な面に並置され、かつ前記波面分割光学系により互
に直ヌする方向の振動成分の光束に波面分割された令光
束を各別に受光するように並置した一対の受光素子列と
、前記波面分割光学系からの互に直ヌする方向の振動成
分をもつ各光束が前記一対の受光素子列の対応する受光
素子列に各別に入射するように各受光素子・列よ−こそ
れぞれ配置した互に直交する方向の振動成分をそれぞれ
透過する各偏光素子とを具え、前記一対の受光素子列の
出力から検出した像の横ずれに基づく出カバターンの位
相に基づいて前記撮影光学系により前記予定焦平面に形
成される物体像の合焦状態を検出し得るように構成した
ことを特徴とするものである。
具合を解決し、簡単な構成により広いデフォーカス範囲
にわたって焦点はずれ方向の検出を可能にし、常に正確
な合焦検出ができるようにした合焦検出装置を提供しよ
うとするものである０本発明の合焦検出装置は、撮影光
学系と、この撮影光学系の光路中に配置した偏光子と、
その後方に配置されその偏光子の偏光方向に対しほぼ参
ｊ０の偏向方向をもち、かつ互に直交する方向の振動成
分を透過させる一対の偏光素子を、前記偏光子からの光
束の異なる領域の光束が各別に透過するように並置した
波面分割光学系と、前記撮影光学系の予定焦平面とほぼ
共役な面に並置され、かつ前記波面分割光学系により互
に直ヌする方向の振動成分の光束に波面分割された令光
束を各別に受光するように並置した一対の受光素子列と
、前記波面分割光学系からの互に直ヌする方向の振動成
分をもつ各光束が前記一対の受光素子列の対応する受光
素子列に各別に入射するように各受光素子・列よ−こそ
れぞれ配置した互に直交する方向の振動成分をそれぞれ
透過する各偏光素子とを具え、前記一対の受光素子列の
出力から検出した像の横ずれに基づく出カバターンの位
相に基づいて前記撮影光学系により前記予定焦平面に形
成される物体像の合焦状態を検出し得るように構成した
ことを特徴とするものである。
以下図面を参照して本発明の詳細な説明するＯ第参図は
、本発明の合焦検出装置の光学系の一例の構成を＊ａで
示したものであるＯ ｉｏは撮影光学系、例えば撮影レンズで、その撮影レン
ズ１０からの光束は、半透鏡からなるはね上げミラー／
／によってその一部または全部を一分し、その一方は図
示しないファインダ系に導（とともに、他方は前記はね
上げミラー／’／の背部に配置した偏光子１２を介して
はね上げミラー／／の後方に配置した波面分割光学系１
３に導くＯその波面分割大学系１３は、第５図に示した
ように光軸０を横切る−で例えば左右に一分割され１、
かつ光軸Ｏに直交する軸重を回転中心にして基板ｌ参に
並置した一対の受光素子列／ｊ 、 ＃のそれぞれに偏
光子／Ｊを介して入射した光束を導くように、互に逆方
向に傾けることにより反射角を異ならしめた一対の反射
鏡／７ 、 ／ｌと、その一対の反射鏡／７ 、−／Ｉ
の各鏡面に設けた互に直交する方向の振動成分を透過す
る各偏光１１［／Ｐ 、 ２０とによって構成されてい
る。また、各受光素子列ｉｔ 。
、本発明の合焦検出装置の光学系の一例の構成を＊ａで
示したものであるＯ ｉｏは撮影光学系、例えば撮影レンズで、その撮影レン
ズ１０からの光束は、半透鏡からなるはね上げミラー／
／によってその一部または全部を一分し、その一方は図
示しないファインダ系に導（とともに、他方は前記はね
上げミラー／’／の背部に配置した偏光子１２を介して
はね上げミラー／／の後方に配置した波面分割光学系１
３に導くＯその波面分割大学系１３は、第５図に示した
ように光軸０を横切る−で例えば左右に一分割され１、
かつ光軸Ｏに直交する軸重を回転中心にして基板ｌ参に
並置した一対の受光素子列／ｊ 、 ＃のそれぞれに偏
光子／Ｊを介して入射した光束を導くように、互に逆方
向に傾けることにより反射角を異ならしめた一対の反射
鏡／７ 、 ／ｌと、その一対の反射鏡／７ 、−／Ｉ
の各鏡面に設けた互に直交する方向の振動成分を透過す
る各偏光１１［／Ｐ 、 ２０とによって構成されてい
る。また、各受光素子列ｉｔ 。
１６上には、第５図に示したように、前記波面分割光学
系ＩＪの各反射鏡／７ 、 ／ｌによって反射された互
に直交する方向の振動成分のみが対応する受光素子列に
入射する関係に配置した、偏光方向の互に直交する偏光
素子、例えば偏光膜コｌ、ココが前置されている。
系ＩＪの各反射鏡／７ 、 ／ｌによって反射された互
に直交する方向の振動成分のみが対応する受光素子列に
入射する関係に配置した、偏光方向の互に直交する偏光
素子、例えば偏光膜コｌ、ココが前置されている。
以上の如き構成において、撮影レンズ１０からの光束は
、偏光子ｌコによって所定の振動方向のみの光束となり
、これが前記波面分割光学系／Ｊに入射して偏光子ｌ−
の偏向方向に対し、はぼ４！Ｉの偏向方向を有し、かつ
互に直交する方向の振動成分を透過させる偏光膜ｔｔ
、 ２ｏと反射鏡／７ 。
、偏光子ｌコによって所定の振動方向のみの光束となり
、これが前記波面分割光学系／Ｊに入射して偏光子ｌ−
の偏向方向に対し、はぼ４！Ｉの偏向方向を有し、かつ
互に直交する方向の振動成分を透過させる偏光膜ｔｔ
、 ２ｏと反射鏡／７ 。
ｉｔとによって、互に直交する方向の振動成分をもった
光束に波面分割されて反射し、各受光素子列／！ 、
＃上に配設した各偏光膜を透過して対応する各受−ｙｔ
、累子列／ｊ 、 ＃のそれぞれに各別に入射する。す
なわち、各受光素子列／１ 、 ＃に入射する波面分割
光束は、撮影レンズｉｏからの光束の特定偏光方向の光
束を波面分割、したものであるから、各受光素子列／！
、／４上の被写体像のコントラストは同一となる。
光束に波面分割されて反射し、各受光素子列／！ 、
＃上に配設した各偏光膜を透過して対応する各受−ｙｔ
、累子列／ｊ 、 ＃のそれぞれに各別に入射する。す
なわち、各受光素子列／１ 、 ＃に入射する波面分割
光束は、撮影レンズｉｏからの光束の特定偏光方向の光
束を波面分割、したものであるから、各受光素子列／！
、／４上の被写体像のコントラストは同一となる。
一方、第ｑ図および第！図擾こ示したように、受光素子
列ｌ！および１６に入射する光束は、波面分割光学系Ｉ
Ｊにより互に直交する方向の振動成分に波面分割された
撮影レンズｉｏの光軸０を含む光軸０に沿った面を境と
するそれぞれの儒の光束である。従ってこれらの光束に
より受光素子列／ｊおよび／４上に形成されるｆａは、
波面分割による像の横ずれ効果によって、撮影レンズ１
０の移動によりＩＩＪ図醗こ詔いて説明したように移動
し、受光素子列ｌｊ上に形成される像および受光素子列
ｌぶよに形成される像の撮影レンズ１０の移動に伴なう
儂移動方向は互いに逆方向となる。すなわち、各受光素
子列／ｊ 、 ＃の光電変換出力は、撮影レンズ１０の
焦点位置が受光素子列ｔｚ 、 ／４より後方にある場
合には例えば第６図（＆）に示すように受光素子列ｌ！
の出力パターンム（実線で示す）は右側に、また、受光
素子列１４の出カバターンＢ（破線で示す）は左側に横
ずれして発生し、前記焦点位置が受光素子列／ｊ 、
／４上にある場合は、第を図（１））に示すように各受
光素子列＃ 、／４の各出力パターンム、Ｂの位相は一
致し、ま−た前記焦点位置が受光素子列／！ 、／４よ
りも前方・こきた場合には、第４図（Ｏ）＃こ示すよう
に受光素子列／１ 。
列ｌ！および１６に入射する光束は、波面分割光学系Ｉ
Ｊにより互に直交する方向の振動成分に波面分割された
撮影レンズｉｏの光軸０を含む光軸０に沿った面を境と
するそれぞれの儒の光束である。従ってこれらの光束に
より受光素子列／ｊおよび／４上に形成されるｆａは、
波面分割による像の横ずれ効果によって、撮影レンズ１
０の移動によりＩＩＪ図醗こ詔いて説明したように移動
し、受光素子列ｌｊ上に形成される像および受光素子列
ｌぶよに形成される像の撮影レンズ１０の移動に伴なう
儂移動方向は互いに逆方向となる。すなわち、各受光素
子列／ｊ 、 ＃の光電変換出力は、撮影レンズ１０の
焦点位置が受光素子列ｔｚ 、 ／４より後方にある場
合には例えば第６図（＆）に示すように受光素子列ｌ！
の出力パターンム（実線で示す）は右側に、また、受光
素子列１４の出カバターンＢ（破線で示す）は左側に横
ずれして発生し、前記焦点位置が受光素子列／ｊ 、
／４上にある場合は、第を図（１））に示すように各受
光素子列＃ 、／４の各出力パターンム、Ｂの位相は一
致し、ま−た前記焦点位置が受光素子列／！ 、／４よ
りも前方・こきた場合には、第４図（Ｏ）＃こ示すよう
に受光素子列／１ 。
１１の出カバターンＡ、Ｂの横ずれの方向が第４図（＆
）の場合と逆方向となる０ 次に上記各受光素子列／１ 、 ／４の出力から焦点ず
れの方向を検出するためのアルボＩＪ 、ｌ’ムの一例
を説明する。
）の場合と逆方向となる０ 次に上記各受光素子列／１ 、 ／４の出力から焦点ず
れの方向を検出するためのアルボＩＪ 、ｌ’ムの一例
を説明する。
いま、受光素子列ｉｓのｎ１１目の出力をｘＡｎ１受光
累子列１４のｎ−１番目の出力をχＢ（ｎ−１）として
、 を考えると、これは第を図着こおいて、受光素子列／６
の出力Ｂを右へ一素子分シフトした時の左下りの斜線部
分の面積を与える。また、受光素子列１４のｎ ＋１番
目の出力を や として、ｘＢ（ｎ １） を考えると、これは受光素子列１４の出力Ｂを左へ一素
子分シフトした時の右下りの事＊Ｓ分の面積を与える。
累子列１４のｎ−１番目の出力をχＢ（ｎ−１）として
、 を考えると、これは第を図着こおいて、受光素子列／６
の出力Ｂを右へ一素子分シフトした時の左下りの斜線部
分の面積を与える。また、受光素子列１４のｎ ＋１番
目の出力を や として、ｘＢ（ｎ １） を考えると、これは受光素子列１４の出力Ｂを左へ一素
子分シフトした時の右下りの事＊Ｓ分の面積を与える。
そこで評価値５＝Ｓ−Ｓを考えると、第４図（＆）の場
合には右下りの斜１１部分の面積Ｓ′は、受光素子列１
６の出力Ｂを左にシフトした時の方が大きくなるので８
は負となり、第４図（０）の場合曇こは、左下りの斜ｍ
部分の面積Ｓ′は受光素子列ｌｔの出力Ｂを右にシフト
した時の方が大きくなるので、Ｓは正になる。また第４
１％り（ｂ）の場合は両斜線部分の面積Ｓ′およびＳｌ
は尋しくなるのでＳは零になる。
合には右下りの斜１１部分の面積Ｓ′は、受光素子列１
６の出力Ｂを左にシフトした時の方が大きくなるので８
は負となり、第４図（０）の場合曇こは、左下りの斜ｍ
部分の面積Ｓ′は受光素子列ｌｔの出力Ｂを右にシフト
した時の方が大きくなるので、Ｓは正になる。また第４
１％り（ｂ）の場合は両斜線部分の面積Ｓ′およびＳｌ
は尋しくなるのでＳは零になる。
第７図は、撮影レンズＩＯの移動位置に対する上記評価
値Ｓをプロットして示したものである。
値Ｓをプロットして示したものである。
第７図にａ、ｂ、ｏで示した点が第１図の（ａ＞ 、
（ｂ）および（０）のそれぞれの場合に対応する評価値
Ｓに相当している。これかられかるように評価値Ｓの極
性によって撮影レンズ１０の焦点すれの方向、前ピン、
後ビン、合焦の判定が容易にできる。
（ｂ）および（０）のそれぞれの場合に対応する評価値
Ｓに相当している。これかられかるように評価値Ｓの極
性によって撮影レンズ１０の焦点すれの方向、前ピン、
後ビン、合焦の判定が容易にできる。
次に本発明を実施するための信号処理系の構成の一例を
第１図にブロック線図で示す〇コｊ ｉｔ中央制御回路
である。この中央制御回路コ３からの制御信号によって
露光時間制御回路−参を起動させ、一対の受光素子列／
ｊおよび１６の露光を開始させる・各受光素子列／Ｊ
、 ／４の出力が所定値に達した時点で、前記露出時間
制御回路−夢からホールド回路コｊに制御信号を発して
、そのホールド回路λＩに受光素子／ｊ 、 ／４の個
々の受光素子の出力をホールドさせる０次に中央制御回
路コＪはム／Ｄ変換回路コロを起動させ、前記ホールド
回路コｊにホールドされている受光素子の出力”Ａｎ
ｅ ”Ｂｎをム／Ｄ変換して演算回路２月こ送る。演算
回路λ７では、その各受光素子列の出方”Ａｌ１ ＃
”Ｂｌｌを用イテ を計算し、その結果を中央制御回路、、２Ｊ＃こ送る。
第１図にブロック線図で示す〇コｊ ｉｔ中央制御回路
である。この中央制御回路コ３からの制御信号によって
露光時間制御回路−参を起動させ、一対の受光素子列／
ｊおよび１６の露光を開始させる・各受光素子列／Ｊ
、 ／４の出力が所定値に達した時点で、前記露出時間
制御回路−夢からホールド回路コｊに制御信号を発して
、そのホールド回路λＩに受光素子／ｊ 、 ／４の個
々の受光素子の出力をホールドさせる０次に中央制御回
路コＪはム／Ｄ変換回路コロを起動させ、前記ホールド
回路コｊにホールドされている受光素子の出力”Ａｎ
ｅ ”Ｂｎをム／Ｄ変換して演算回路２月こ送る。演算
回路λ７では、その各受光素子列の出方”Ａｌ１ ＃
”Ｂｌｌを用イテ を計算し、その結果を中央制御回路、、２Ｊ＃こ送る。
中央制御回路コＪは、演算回路コアからの演算結果ｍ１
）Ｓの極性＋ｃ従って、Ｓ＜ｏの場金奢こは後ビン、Ｓ
〉０の場合には前ピン、Ｓ″、０ならば合焦と判定し、
それぞれの場合に応じた判定信号を出力し、これを表示
装置コｌによって表示すると同時に、レンズ駆動制御回
路コタ曇こ送り、ｓ＞ｏ 、ｓ＜ｏの場合番こは図示し
ないレンズ駆動装置を介して撮影レンズ１０を８の極性
に応じて移動させて前記演算結果信号Ｓがほぼ０となる
よう自動制御するようにしている。
）Ｓの極性＋ｃ従って、Ｓ＜ｏの場金奢こは後ビン、Ｓ
〉０の場合には前ピン、Ｓ″、０ならば合焦と判定し、
それぞれの場合に応じた判定信号を出力し、これを表示
装置コｌによって表示すると同時に、レンズ駆動制御回
路コタ曇こ送り、ｓ＞ｏ 、ｓ＜ｏの場合番こは図示し
ないレンズ駆動装置を介して撮影レンズ１０を８の極性
に応じて移動させて前記演算結果信号Ｓがほぼ０となる
よう自動制御するようにしている。
以上述べたように本発明台こよれば、撮影光学系の広い
移動範囲にわたってデフォーカス量を有効暢こ一一出で
き、しかも従来のものの一例にあったような回転遮光板
等の回転部分を必要としないから、余分のエネルギを必
要としないばかりか、構成も簡単かつ小形にできるとと
もに、高精度に合焦検出を行なうことができる。
移動範囲にわたってデフォーカス量を有効暢こ一一出で
き、しかも従来のものの一例にあったような回転遮光板
等の回転部分を必要としないから、余分のエネルギを必
要としないばかりか、構成も簡単かつ小形にできるとと
もに、高精度に合焦検出を行なうことができる。
また、本発明装置においては、互に直交する方向の振動
成分をもつ光束に波面分割する波面分割光学系への入射
光に、その波面分割光学系の入射側に挿入した偏光子に
より特定の偏光方向をもたせているので、各受光素子列
上の被写体像のコントラストが等しくなり、従ってその
コントラストの不平衡に基づく検出精度の低下を防止し
得て、合焦状・態の検出精度の一層の向上が期待できる
。
成分をもつ光束に波面分割する波面分割光学系への入射
光に、その波面分割光学系の入射側に挿入した偏光子に
より特定の偏光方向をもたせているので、各受光素子列
上の被写体像のコントラストが等しくなり、従ってその
コントラストの不平衡に基づく検出精度の低下を防止し
得て、合焦状・態の検出精度の一層の向上が期待できる
。
第１図および第ＪｖＡは従来のそれぞれ異なる原理に基
づく合焦検出装置を説明するための線図−第−図は第１
図のものの像の鮮明度を表わす評価値の説明図、第４ｃ
ａｉ１１は本発明の合焦検出装置の光学系の一例を示す
線図、第１図は第参図に示す波面分割光学系の構成と偏
光子および受光素子列の配置の関係を示す図、第１Ｉよ
び第７図は本発明の合焦検出装置の動作を説明するため
の線図、第１図は本発明の合焦検出装置の信号処理系の
一例の構成を示すブロック線図である。 １０・・・撮影レン、ズ、ｌｌ・・・はね上げミラー、
／Ｊ・・・偏光子、／ｊ・・・波面分割光学系、１４Ｉ
・・・基板、／！ 、 ＃・・・受光素子列、／７ 、
／Ｉ・・・反射鏡、／Ｐ。 −〇、コｌ１．２λ・・・偏光膜、コ３・・・中央制御
回路、コ参・・・露光時間制御回路、コｊ・・・ホール
ド回路、コ４・・・ム／Ｄ変換回路、コア・・・演算回
路、ＡＩ・・・表示装置、コタ・・・レンズ駆動制御回
路。 特許出願人 オリンパス光学工業株式会社第１図 第２図 デフォーカス！
づく合焦検出装置を説明するための線図−第−図は第１
図のものの像の鮮明度を表わす評価値の説明図、第４ｃ
ａｉ１１は本発明の合焦検出装置の光学系の一例を示す
線図、第１図は第参図に示す波面分割光学系の構成と偏
光子および受光素子列の配置の関係を示す図、第１Ｉよ
び第７図は本発明の合焦検出装置の動作を説明するため
の線図、第１図は本発明の合焦検出装置の信号処理系の
一例の構成を示すブロック線図である。 １０・・・撮影レン、ズ、ｌｌ・・・はね上げミラー、
／Ｊ・・・偏光子、／ｊ・・・波面分割光学系、１４Ｉ
・・・基板、／！ 、 ＃・・・受光素子列、／７ 、
／Ｉ・・・反射鏡、／Ｐ。 −〇、コｌ１．２λ・・・偏光膜、コ３・・・中央制御
回路、コ参・・・露光時間制御回路、コｊ・・・ホール
ド回路、コ４・・・ム／Ｄ変換回路、コア・・・演算回
路、ＡＩ・・・表示装置、コタ・・・レンズ駆動制御回
路。 特許出願人 オリンパス光学工業株式会社第１図 第２図 デフォーカス！
Claims (1)
- Ｌ 撮影光学系と、この撮影光学系の光路中に配置した
偏光子と、その後方に配置されその偏光子の偏光方向に
対しほぼ弘！の偏向方向をもち、かつ互奢こ直交する方
向の振動成分を透過させる一対の偏光素子を、前記偏光
子からの光束の異なる領域の光束が各別に透過するよう
に並置した波面分割光学系と、前記撮影光学系の予定焦
平面とほぼ共役な面に並置され、かつ前記波面分割光学
系によ−り互に直交する方向の振動成分の光束に波面分
割された各光束を各別に受光するように並置した一対の
受光素子列と、前記波面分割光学系からの互に直交する
方向の振動成分をもつ各光束が前記一対の受Ｊｌｔ素子
列の対応する受光素子列上こ各別に入射するように各受
光素子列上にそれぞれ配置した互に［５ｅする方向の振
動成分をそれぞれ透過する各偏光素子とを具え、前記一
対の受光素子列の出力から検出した像の横ずれに基づく
出カバターンの位相に基づいて前記撮影光学系により前
記予定焦平面に形成される物体像の合焦状態を検出し得
るように構成したことを特徴とする合焦検出装置・２
前記波面分割光学系を構成する一対の偏光素子のそれぞ
れを、前記撮影光学系の光軸に直角な軸を回転中心にし
て逆方向に傾けることにより反射角を異ならしめた一対
の反射鏡上に形成した偏光膜を以って構成するととも−
こ前記各受光素子列上に配設した互奢こ直交する方向の
振動成分を透過する偏光素子を偏光膜によって形成し、
前記一対の反射鏡のそれぞれを介して得られた。互に直
交する方向の振動成分をもつ各波面分割光束を前記各受
光素子゛列上に前置した各前記偏光膜によって分離して
それぞれの受光素子列により光電変換するように構成し
たことを特徴とする特許請求の範囲第１項゛に記載の合
焦検出装置Ｏ
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20827781A JPS58108505A (ja) | 1981-12-23 | 1981-12-23 | 合焦検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20827781A JPS58108505A (ja) | 1981-12-23 | 1981-12-23 | 合焦検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58108505A true JPS58108505A (ja) | 1983-06-28 |
Family
ID=16553568
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20827781A Pending JPS58108505A (ja) | 1981-12-23 | 1981-12-23 | 合焦検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58108505A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0158790A2 (en) * | 1984-04-16 | 1985-10-23 | International Business Machines Corporation | Optical focus detection employing rotated interference patterns |
-
1981
- 1981-12-23 JP JP20827781A patent/JPS58108505A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0158790A2 (en) * | 1984-04-16 | 1985-10-23 | International Business Machines Corporation | Optical focus detection employing rotated interference patterns |
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