JPS5897010A - 合焦検出装置 - Google Patents

合焦検出装置

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Publication number
JPS5897010A
JPS5897010A JP19554481A JP19554481A JPS5897010A JP S5897010 A JPS5897010 A JP S5897010A JP 19554481 A JP19554481 A JP 19554481A JP 19554481 A JP19554481 A JP 19554481A JP S5897010 A JPS5897010 A JP S5897010A
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JP
Japan
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light
receiving element
optical system
polarizing
total reflection
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Pending
Application number
JP19554481A
Other languages
English (en)
Inventor
Masatoshi Ida
井田 正利
Masahiro Aoki
雅弘 青木
Kenichi Oikami
大井上 建一
Junichi Nakamura
淳一 中村
Asao Hayashi
林 朝男
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS5897010A publication Critical patent/JPS5897010A/ja
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/34Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、−眼し7レツクスカメラ等の光学系によって
得られる光像の、波面分割による結像位置のずれを利用
した自動焦点検出方法に関するものである。
従来提案されている合焦検出装置の代表的な一例の概略
的な構成を第1図に示す。同図において、撮影レンズl
からの光束は、半透鏡からなるはね上げミラーコによっ
てその一部または全部をλ分割し、その一方は図示を省
略したファインダ系に導くとともに、他方はそのはね上
げミラーコの後方に配置した全反射ミラー3によって下
方のビームスプリッターダに導き、ここでさらにコ分割
して1前記撮影レンズ/の予定結像面(フィルム面)と
共役な面を挾んで一定距離を隔てた位置に配置した1個
の受光素子列j、4のそれぞれに結像させるようにして
いる。
以上のような構成において、受光素子列の出力をXnと
して、例えば、 S”−l xn−xn−1l MAX ” l xn−
Xn−1l 8UBMAXのような価を考えると、これ
は惨の鮮明度に従って変化する像の鮮明度に関する詳細
値を与える。
前記2個の受光素子列jおよび乙について、上記の評価
値をそれぞれS工、S2とすると、SlおよびS2はデ
フォーカス状態に従って第2図に示というように、デフ
ォーカス方向と合焦位置が検出できることになる。
以上のような従来例は、比較的蘭学な光学系を用いるこ
とにより高い精度で合焦状態を検出することが可能であ
るが、撮影レンズ/の結像面が結像予定位置から大きく
はずれた状態では、第2図から分るように評価値S工と
82の差が無くなって、両押価値S工、S2を比較する
ことが困難となり一デフォーカス方向の検出が不可能と
なる欠点をもっている。
また、他の従来例として、第3図に示すようなものがあ
る。この焦点検出装置は像の横ずれを検知して合焦位置
を検出するもので、撮影レンズlの物体空間に光軸0を
中心に回動可能に遮光板7を配置すると共にこの遮光板
7には開孔lを形成し一遮光板7を回動させて開孔lの
光軸Oに対して対称な位置での物体像の横ずれを検出し
て合焦判定を行なうものである。すなわち、遮光板7が
第3図に示す状態にあるときは物体9の像は主光線の位
置においてa、bおよびCで示すように形成され、また
遮光板7が/10 ’回動して開孔lが図において下側
に位置すると物体9の像はa/。
b′およびCIで示すように形成され、合焦状Iにおい
ては像すとb′とは一致し、前ピン状態および後ピン状
態では像1とa′および像Cと0/とではずれの方向が
反対となるから、予定焦平面と共役な位置において開孔
lの光軸に対して対称な位置でそれぞれ形成される物体
像を受光して比較することにより像の横ずれを検知して
予定焦平面に形成される物体像の合焦検出を行なうもの
である。
しかし第3図に示す合焦検出装置においては遮光板7お
よびその回動機構を必要とするため構成が複雑になると
共に、遮光板7の回動停止時の振動等により正確な合焦
検出ができない等の不具合がある。
本発明の目的は上述した従来例における欠点あるいは不
具合を解決し、蘭学な構成により広いデフォーカス範囲
にわたって焦点はずれ方向の検出を可能にし、常に正確
な合焦検出ができるようにしだ合焦検出装置を提供しよ
うとするものである。
本発明の合焦検出装置は、結像光学系と−この結像光学
系の予定結像面と共役な同一平面に配置した第1および
第2の受光素子列と、前記結像光学系とそれら一つの受
光素子列間に配置され、かつ互いに直交する振動成分を
分離し、これら分離した互いに直交する振動成分を第1
および第λの受・光素子列に各別に入射させる偏光素子
を有する・波面分割光学系とからなり、その波面分割光
学系による波面分割効果によって生ずる両受光素子列の
結像位置のずれによる両受光素子列の出カバターンの位
相ずれから前記結像光学系の焦点ずれを判別することを
特徴とするものである。
以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第参図は、本発明の合焦検出装置の光学系の一例の構成
を示す線図である。本例では一眼レフレックスカメラに
適用したもので、結像レンズlθからの半透鏡で構成し
たはね上げミラー1ltt通った光束を、そのはね上げ
ミラー//の後方に設けら瓢かつ互いに直交する振動成
分のみをそれぞれ透過する偏光素子、たとえば偏光膜/
2 a 、 /3 aが反射面に設けられた2個の全反
射鏡/2 、 /Jからなる波面分割光学系/lによっ
て、互いに直交関係にある2つの振動成分を有するそれ
ぞれの光束に波面分割する。
その波面分割光学系l亭の偏光膜/2a、13aを保持
する2個の全反射鏡72本、77本は、第5図に示した
ように光軸Oを通る線で左右に分割されており、互いに
直交する振動成分に波面分割された各振動成分を、下方
の基tfl/j上に並置した第1の受光素子列16およ
び第一の受光素子列17上に、各別に反射させるよう結
像レンズ/θからの光束に対して反射角を異ならしめで
ある。
また、各受光素子列/4 、17の光束入射側には、対
応する振動成分の波面分割光が選択的に入射するように
、互いに直交する振動成分を各別に透過させる偏光@ 
n 、 /9が配設されている。すなわち、結像レンズ
10からの光束は、半透鏡//を通った後−前述したよ
うに構成された波面分割光学系/ヂによって、互いに直
交する振動成分の2つの波面分割光束に波面分割され、
各受光素子列/6./7のそれぞれに入射することとな
る。なお、第5図に示した光束の状態は、結像レンズI
Oの位置が前ビンの場合を示したものである。
第ダ図および第5図において、受光素子列/6および1
7に入射する光束は、結像レンズIQの光軸0を含む光
軸Oに沿った面を境とするそれぞれの側の光束であり、
これら光束により受光素子列16および17上に形成さ
れる像は撮影レンズ10の移動により第3図において説
明したように移動し、受光素子列/4上に形成される像
および受光素子列17上に形成される像の結像レンズ/
lの移動に伴なう像移動方向は互いに逆方向となる。す
なわち、各受光素子列/A 、 /7の光電変換出力は
、撮影レンズ10の焦点位置が受光素子列/6 、 /
7より後方にある場合には例えば第を図(〜に示すよう
に受光素子列16の出力バターン人(実線で示す)は右
側に、また、受光素子列17の出カバターンB(破線で
示す)は左側に横ずれして発生し、前記焦点位置が受光
素子列/6 、 /7上にある場合は、第3図の)に示
すように各受光素子列/6.nの各出力バターン人、B
の位相は一致し、また前記焦点位Iが受光素子列/6#
17よりも前方にきた場合には、第6図(C)に示すよ
うに受光素子列/6 、 /7の出カバターンA、Bの
横ずれの方向が第6図((転)の場合と逆方向となる。
次に上記各受光素子列/4 、 /7の出力から焦点ず
れの方向を検出するためのアルゴリズムの一例を説明す
る。
いま、受光素子列/6のn番目の出力をXAn ’受光
素子列17のn−1@目の出力をXBゆ−1)として、
を考えると、これは第を図において、受光素子列17の
出力Bを右へ一素子分シフトした時の左下りの斜線部分
の面積を与える。また、受光素子列17のn+1番目の
出力をXBtn+1)として、N−1’ 8′−Σ l XA虻xB(n+1) 1n−17 を考えると、これは受′光累子列nの出力Bを左へ一1
子分シフトした時の右下りの斜線部分の面積を与える。
そこで評価値s−s’−s’を考えると、第6図(a)
の場合には右下りの斜線部分の面積S′は、受光素子列
17の出力Bを左にシフトした時の方が大きくなるので
8は負となり、第3図り)の場合には、左下りの斜線部
分の面積S′は受光素子列17の出力Bを右にシフトし
た時の方が大きくなるので、8は正になる。また第を図
中)の場合は両側線部分の面積S′およびS′は等しく
なるのでSは零になる。
第7図は、撮影レンズ10の移動位置に対する上記評価
値Sをプロットして示したものである。第7図にa、b
、cで示した点が第を図の(a) 、 (b)およびり
)のそれぞれの場合に対応する評価値Sに相当している
。これかられかるように評価値Sの極性によって撮影レ
ンズIOの焦点ずれの方向、前ピン、後ビン、合焦の判
定が容易にできる。
次に本発明を実施するための信号処理系の構成の一例を
第1図にブロック線図で示す。
〃は中央制御回路である。この中央制御回路〃からの制
御信号によって露光時間制御回路1を起動させ、一対の
受光素子列/6および/7の露光を開始させる。各受光
素子列/4 、 /7の出力が所定値に達した時点で、
前記露光時間制御回路方からホールド回路〃に制御信号
を発して、そのホールド回路nに受光素子/4 、 /
7の個々の受光素子の出力をホールドさせる。次に中央
制御回路〃はム/D変換回路Bを起動させ、前記ホール
ド回路nにホールドされている受光素子の出力xAn 
l XBnを、し勺変換して演算回路2ダに送る。演算
回路2すでは、その各受光素子列の出力XAnlXBn
を用いてを計算し、その結果を中央制御回路2Dに送る
。中央制御回路〃は、演算回路2ゲからの演算結果信号
8の極性に従って、S〈0の場合には後ビン・S〉0の
場合には前ピン、S ”q Oならば合焦と判定し、そ
れぞれの場合に応じた判定信号を出力し)これを表示装
置Bによって表示すると同時に、L/レンズ動制御回路
すに送り、s>o 、s<oの場合には図示しないレン
ズ駆動装貿を介して撮影レンズ10を8の極性に応じて
4動させて前記演算結果信号SがほぼOとなるよう自動
制御するようにしている。
なお、本発明は上述した例のみ限定されるものではなく
、幾多の変形または変更が可能である〇第9図は、その
変形例の一例を線図で示したものである。この実施例に
おいて禮、波面分割光学系l#を曜−の全反射鏡1とそ
の鏡面に結像レンズ10の光軸を通る線を境界にて配設
した互いに振動方向が異なる偏光素子2112qとによ
って構成し、これをはね上げミラー/lの後方に配[L
この波面分割光学系14Iの偏光素子1.29によって
得られた振動方向が異なる光束の波面分割光束を、それ
ら各偏光素子を保持する全反射鏡1によって第1および
第2の受光素子列/6 、 /7のそれぞれに入射させ
るようにしたものである。第1および第一の受光素子列
/6 、 /7は、同一基板/3上に並置されており、
前記波面分割光学系lりによって導かれた波面分割光束
を、第1および第一の受光素子列/6 。
/7と、その波面分割光学系の間に設けた偏光プリズム
30の偏光[IIJ/によって分離し、その偏向膜31
を透過した振動成分は第1の受光素子列/lに、またそ
の偏向膜31によって反射した振動成分は第一の受光素
子列にそれぞれ入射されている。
第10図は、その様子を斜視図で示したものであ・りへ
第9図の構成要素と同一部分は同一符号を付しである。
偏光膜1.2?は反射鏡Iに対する入射面に対して直角
方向に光軸を挾んで並置されている。
きを900回転させて、第り図のものと同様にはね上げ
ミラー//の後方に配設することにより、結像レンズ1
0(第9図参照)の光軸0の例えば上下の光束を、互い
に直交する振動成分の光束に波面分割し、その波面分割
光学系の各偏光素子x、itを保持する全反射鏡1によ
って、同−基t!L/!、上に縦列的に配置した第1お
よび第一の受光素子列上に入射させるようにしたもので
ある。偏光膜I、29は全反射#i1.27に対する入
射面の方向に並置されているO すなわち、前記波面分割光学系lダによって互いに直交
する振動成分の波面分割光束に分割した各光束は、第1
/図に示したように各受光素子列/6. 、 /7への
入射光路中に設けた偏光プリズム(第9図参照〕の偏光
膜によって分離のうえ、縦列的に配電した第1および第
一の受光素子列/4 、 /7の対応した受光素子列に
それぞれ入射するように構成しである。
このように構成したものにおいては、第1および第一の
受光素子列/6./7は、受光素子列のコ個分の長さを
もった1個の受光素子列を分割した形で1各受光素子列
16 、 /7を形成させることができるので、第S図
および第70図に示した各受光素子列を並設するものと
比べ、受光素子列の製造が簡琳となる利点がある。
以上、第9図ないし第7ノ図に示した本発明の光学系の
変形例を用いた場合の信号処理も5116図および第7
図を用いてさきに説明したアルゴリズムに従って行えば
よく、その信号処理系の構成も第1図のものをそのまま
用いることができるのでここではその説明を省略する。
以上述べたように本発明によれば、結像光学系の広い移
動範囲にわたって像の棟ずれを有効に検出でき1しかも
従来のものの一例にあったような回転遮光板等の回転部
分を必要としないがら、余分のエネルギを必要としない
ばかりか、構成も簡嚇かつ小形にできるとともに、高精
度に合焦検出を行なうことができる。
【図面の簡単な説明】
@/図および@3図は従来のそれぞれ異なる原理に基づ
く合焦検出装置を説明するための縮図、第一図は第1図
のものの像の鮮明度を表わす評価値の説明図、6114
図は本発明の合焦検出装置の光学系の一例を示す線図、
第5図は第ダ図に示す波面分割光学系の構成と受光素子
列の配置の関係を示す図、第6図および第7図は本発明
の合焦検出装置の動作を説明するための4m図、第rg
は本発明の合焦検出装置の信号処理系の一例の構成を示
すブロック嶺図、第9図は本発明装置の光学系の他の実
fil1例の構成を示す縮図、第1O図は@9図に示す
波面分割光学系の構成と受光素子列の配置の関係を示す
図、pit図は本発明装置の光学系における他の波面分
割光学系の構成と受光素子列の配置の関係を示す図。 10・・・結像レンズ、l/・・・はね上げミラー、/
2 、 /J・・・反射角e巣ならしめた全反射−の各
部分、/2a 。 1m・・・互に直交する振動成分をそれぞれ透過させる
偏光素子、/F・・・波面分割光学系、tS・・・基板
、16−・・・第1の受光素子列、17・・・第一の受
光素子列、/l。 19・・・互に直交する振動成分を各別にf1過させる
偏光膜、〃・・・中央制御回路、U・・・露光時間制御
回路、n・・・ホールド回路、n・・・超変換回路、2
り・・・演算回路、L・・・表示装置、ム・・・レンズ
駆動制御回路、1・・・単一の全反射鏡、l、B・・・
互に直交する振動成分を各別に通過させる偏光素子、3
θ・・偏向プリズム、3/・・・偏光プリズムの偏向膜
。 第9図 第10図 ・第11図 手続補正書 昭和57年2 月 4 日 1、事件の表示 昭和56年 特 許 願第195544号2、発明の名
称 合焦検出装置 3、補正をする者 事件との関係  特許出願人 (087)   オリンパス光学工業株式会社1、明細
書第1頁第8行〜第8N第7行の特許請求の範囲を次の
通りに訂正する。 「2、特許請求の範囲 L 結像光学系と、この結像光学系の予定結像面と共役
な同一平面に配置した第1および第2の受光素子列と、
前記結像光学系とそれら2つの受光素子列との間に配置
され、かつ互いに直交する振動成分を分離し、これら分
離した互いに直交する振動成分を第1および第2の受光
素子列に各別に入射させる偏光素子を有する波面分割光
学系とからなり、その波面分割光学系による波面分割効
果によって生ずる両受光素子列上の結像位置のずれによ
る両受光素子列の出カバターンの位相ずれから前記結像
光学系の焦点ずれを判別することを特徴とする合焦検出
装置・i 前記波面分割光学系を構成する偏光素子を、
前記結像光学−A慶らの光束を波面分割して前記第1お
よび第2の受光素子列に各別に入射するように反射角を
異ならしめた2つの全反射鏡上にそれぞれ配設した2つ
の偏光膜と、これら全反射鏡で反射された互いに直交す
る振動成分が対応する受光素子列に入射するように所定
の振動成分のみを透過するよう#!1および第8の受光
素子列上に配置した2つの偏光膜を以って構成したこと
を特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の合焦検出装
置。 & 前記波面分割光学系を構成する偏光素子を、全反射
鏡上に、その入射面に対して直角を成す方向に並置され
、それぞれ互いに直交する振動成分を各別に透過す62
つの偏光膜と、前記全反射鏡で反射された互いに直交す
る振動成分を分層して前記第1および第2の受光素子列
に各別に入射させる優先プリズムとを以って構成したこ
とを□゛特徴する特許請求の範囲第1項に記載の合焦検
出装置。 表 前記波面分割光学系を構成する偏光素子を、全反射
鏡上に、その入射面に対して平行な方向に並置され、そ
れぞれ互いに直交する振動成分を各別に透過する2つの
偏光−膜と、前記全反射鏡で反射された互いに直交する
振動成分を分離して前記第1および第2の受光素子列に
各別に入射させる偏光プリズムとを以って構成し、これ
ら第1および第2の受光素子列を前記全反射鏡の入射面
と平行な方向に縦列的に配置したことを特徴とする特許
請求の範囲1s1項に記載の合焦検出装置。」2、明細
書第8頁第11行中の「自動焦点検出方法」を「自動焦
点出方法」に訂正する。 8、同第7頁第8行中の「両受光素子列」を「両受光素
子列上Jに訂正する。 覗同#I9!第2行中の[撮影レンズIOJを「結像レ
ン7CI OJに訂正し、 同頁@5行中の「結像レンズxxJt−r結像レンズ1
0」に訂正する。 6、同第11i[第8行中および第8行中の「撮影レン
ズ10」を「結像レンズ10」にそれぞれ訂正する。 6、同$IBfji第15行中の「撮影し」を「結像し
」に訂正する。 7、同第18頁第16行中および第18行中の[偏向膜
81Jをそれぞれ「偏光膜81Jに訂正し、同頁#11
9行中の「受光素子列JP「受光素子列17」に訂正す
る。 &同第14頁第12行中の「受光素子列上」を「受光素
子列16.17上」に訂正し、同第80行中の「偏光膜
」を[偏光膜81Jに9、同第18冒第7行中の「偏向
ブリ」を「偏光ブリ」に訂正し、 同頁#18行中の「偏向膜コを「偏光膜Jに訂正する。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 L 結像光学系と、この結像光学系の予定結像面と弁膜
    な同一平面に配置した第1および第一の受光素子列と、
    前記結像光学系とそれらλつの受光素子列との間に配I
    され、かつ互いに直交する振動成分を分離し、これら分
    離した互いに1直交する振動成分を第1および第一の受
    光素子列に各別に入射させる偏光素子を有する波面分割
    光学系とからなり、その波面分割光学系による波面分割
    効果によって生ずる両受光素子列の結像位置のずれによ
    る両受光素子列の出カバターンの位相ずれから前記結罐
    光学系の焦点ずれを判別することを特徴とする合焦検出
    装置。 2 前記波面分割光学系を構成する偏光素子を、前記結
    像光学系からの光束を波面分割して前記栴lおよび第一
    の受光素子列に各別に入射するように反射角を異ならし
    めたλつの全反射鏡上にそれぞれ配設したλつの偏光膜
    と、これら全反射鏡で反射された互いに直交する振動成
    分が対応する受光素子列に入射するように所定の振動成
    分のみを1過するよう第1および第一の受光素子列上に
    配置した2つの偏光膜を以って構成したことを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項に記載の合焦検出装置。 器 前記波面分割光学系を構成する偏光素子を、全反射
    鏡上に、その入射面に対して直角を成す方向に並置され
    、それぞれ互いに直交する振動成分を各別に透過するλ
    つの偏光膜と、前記全反射鏡で反射された互いに直交す
    る振動成分を分離して前記第1および第一の受光素子列
    に各別に入射させる偏光プリズムとを以って構成したこ
    とを特徴とする特許請求の範囲第1項に記載の合焦検出
    装置。 本 前記波面分明光学系を構成する偏光素子な、全反射
    鏡上に、その入射面に対して平行な方向に並質され、そ
    れぞれ互いに直交する振動成分を各別に透過するλつの
    偏光膜と〜前記全反射鏡で反射された互いに直交する振
    動成分を分離して前記第1および第λの受光素子列に各
    別に入射させる偏光プリズムとを以って構成し、これら
    第1および第2の受光素子列を前記全反射鏡の入射面と
    平行な方向に縦列的に配置したことを特徴とする特許請
    求の範囲第1項に記載の合焦検出装W。
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