JPS5897012A - 焦点検出装置 - Google Patents
焦点検出装置Info
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- JPS5897012A JPS5897012A JP19554681A JP19554681A JPS5897012A JP S5897012 A JPS5897012 A JP S5897012A JP 19554681 A JP19554681 A JP 19554681A JP 19554681 A JP19554681 A JP 19554681A JP S5897012 A JPS5897012 A JP S5897012A
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- element array
- circuit
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/36—Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals
- G02B7/38—Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals measured at different points on the optical axis, e.g. focussing on two or more planes and comparing image data
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- Optics & Photonics (AREA)
- Focusing (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はスチールカメラ、シネカメラ、顕微鏡写真撮影
装置等における焦点検出装置に関するものである。
装置等における焦点検出装置に関するものである。
焦点検出装置は従来種々の方式のものが提案されており
、例えば像のボケ量（鮮明度）を算出する計測関数を用
いるいわゆるボケ像検出方式がある。第１図はか−るボ
ケ像検出方式を採用する一眼レフカメラの焦点検出装置
の構成を示すもので、撮影レンズｌからの光束を中央部
または全体を半透鏡で構成したはね上げミラーコでコ分
割し、その一方をファインダー系へ、他方をはね上げミ
ラーコの裏面に設けた全反射ミラーＪで下方に反射サセ
てビームスプリツタダを経て更に一分割し、この分割さ
れた光束をＯＯＤ 、 ＰＤム等のコ個の蓄積型の受光
素子列！および６でそれぞれ受光するようにしている。
、例えば像のボケ量（鮮明度）を算出する計測関数を用
いるいわゆるボケ像検出方式がある。第１図はか−るボ
ケ像検出方式を採用する一眼レフカメラの焦点検出装置
の構成を示すもので、撮影レンズｌからの光束を中央部
または全体を半透鏡で構成したはね上げミラーコでコ分
割し、その一方をファインダー系へ、他方をはね上げミ
ラーコの裏面に設けた全反射ミラーＪで下方に反射サセ
てビームスプリツタダを経て更に一分割し、この分割さ
れた光束をＯＯＤ 、 ＰＤム等のコ個の蓄積型の受光
素子列！および６でそれぞれ受光するようにしている。
受光素子列！および６はフィルム面と共役な面の前後等
しい位置に光軸方向に所定の光路差を有するように配置
され、撮影レンズｌの光軸方向の位置に対応する像をこ
れら受光素子列上に形成する。受光素子列！および≦の
光電変換出力はム／Ｄ変換回路７でム／Ｄ変換し、０Ｐ
Ｕｒで像の鮮明度を算出する所定の評価関数に基いて演
算処理してそれぞれ評価値を求め、これら評価値に基い
て前ビン、合焦、後ピンの各状態を判定している。評価
関数としては、受光素子列の１番目の素子の出力をＸｌ
とすると、例えば１ｘｉ−ｘ（１−０） ｌの最大値（
ｌｘｌ −ｘ（ｉ−０）Ｉ ｍａＸ ）とその次に大き
な値（ｌｘｉ−ｘ（１−ｇｌｓｕｂｍａｘ ） トｃＤ
和１１カ使用サレル。
しい位置に光軸方向に所定の光路差を有するように配置
され、撮影レンズｌの光軸方向の位置に対応する像をこ
れら受光素子列上に形成する。受光素子列！および≦の
光電変換出力はム／Ｄ変換回路７でム／Ｄ変換し、０Ｐ
Ｕｒで像の鮮明度を算出する所定の評価関数に基いて演
算処理してそれぞれ評価値を求め、これら評価値に基い
て前ビン、合焦、後ピンの各状態を判定している。評価
関数としては、受光素子列の１番目の素子の出力をＸｌ
とすると、例えば１ｘｉ−ｘ（１−０） ｌの最大値（
ｌｘｌ −ｘ（ｉ−０）Ｉ ｍａＸ ）とその次に大き
な値（ｌｘｉ−ｘ（１−ｇｌｓｕｂｍａｘ ） トｃＤ
和１１カ使用サレル。
第２図は、受光素子列！および乙の出力を評価関数Ｓ
＝ ｌｘｉ −Ｘ（１−０）１ｍａｘ ＋ｌｘｉ −Ｘ
（１−０）ｌ ａｕｂｍａｘに基いて演算して得られ
るそれぞれの評価値と撮影レンズｌの位置との関係を示
し、実線Ｓ工は受光素子列ｊから得られる評価値を、破
ｌ１ｌＳ２は受光素子列６から得られる評価値を示す。
＝ ｌｘｉ −Ｘ（１−０）１ｍａｘ ＋ｌｘｉ −Ｘ
（１−０）ｌ ａｕｂｍａｘに基いて演算して得られ
るそれぞれの評価値と撮影レンズｌの位置との関係を示
し、実線Ｓ工は受光素子列ｊから得られる評価値を、破
ｌ１ｌＳ２は受光素子列６から得られる評価値を示す。
受光素子列！および≦のそれぞれの評価値Ｓ およびＳ
２は、各受光素子列上にピントが合ったときにそれぞれ
最大となり、フィルム面にビンシが合ったときは両受光
素子列の評価値が等しくなる。したがって、撮影レンズ
ｌの任意の位置でそれぞれの評価値Ｓ工。
２は、各受光素子列上にピントが合ったときにそれぞれ
最大となり、フィルム面にビンシが合ったときは両受光
素子列の評価値が等しくなる。したがって、撮影レンズ
ｌの任意の位置でそれぞれの評価値Ｓ工。
Ｓ ｅ求め、これらを比較することにより、Ｓ工〉Ｓ
２のときは後ビン状態、Ｓニー８２のときは合焦状態、
Ｓ工〈Ｓ２のときは前ビン状態と判定することかでき、
この判定結果に基いて手動的にまたは自動的に合焦制御
することができる。
２のときは後ビン状態、Ｓニー８２のときは合焦状態、
Ｓ工〈Ｓ２のときは前ビン状態と判定することかでき、
この判定結果に基いて手動的にまたは自動的に合焦制御
することができる。
上述した従来の焦点検出装置は比較的簡単な光学系によ
って高精度の焦点検出を行なうことができるが、第２図
から明らかなように、評価値Ｓ工。
って高精度の焦点検出を行なうことができるが、第２図
から明らかなように、評価値Ｓ工。
Ｓ２が顕著に変化する範囲が狭く、撮影レンズ／が合焦
位置から離れ過ぎた領域では評価値Ｓ工、Ｓ２が殆んど
変化せずはソ等しくなるため、適正な焦点検出ができる
範囲が狭くなる欠点がある。
位置から離れ過ぎた領域では評価値Ｓ工、Ｓ２が殆んど
変化せずはソ等しくなるため、適正な焦点検出ができる
範囲が狭くなる欠点がある。
本発明の目的は上述した欠点を除去し、広範囲に亘って
常に適正な焦点検出ができるよう適切に構成した焦点検
出装置を提供しようとするものであるＯ 本発明の焦点検出装置は、光学系の像空間に配置した波
面分割手段と、この波面分割手段により分割された波面
の一方な受光するように前記光学系の予定焦平面または
それと共役な面の前後に配置した第１および第２の受光
素子列と、前記波面分割手段により分割された波面の他
方を受光するように前記第１または第コの受光素子列と
共役な面に配置した第３の受光素子列とを具え、前記第
３の受光素子列とこれと共役な第７または第コの受光素
子列の出力から像のずれを検出し、前記第７および第２
の受光素子列の出力から像のボケを検出して前記光学系
の前記予定焦平面に対する焦点状態を検出し得るよう構
成したことな特徴とするものである。
常に適正な焦点検出ができるよう適切に構成した焦点検
出装置を提供しようとするものであるＯ 本発明の焦点検出装置は、光学系の像空間に配置した波
面分割手段と、この波面分割手段により分割された波面
の一方な受光するように前記光学系の予定焦平面または
それと共役な面の前後に配置した第１および第２の受光
素子列と、前記波面分割手段により分割された波面の他
方を受光するように前記第１または第コの受光素子列と
共役な面に配置した第３の受光素子列とを具え、前記第
３の受光素子列とこれと共役な第７または第コの受光素
子列の出力から像のずれを検出し、前記第７および第２
の受光素子列の出力から像のボケを検出して前記光学系
の前記予定焦平面に対する焦点状態を検出し得るよう構
成したことな特徴とするものである。
以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第３図は本発明の焦点検出装置の光学系の一例の構成を
示す線図である。本例では撮影レンズＵからの光束を中
央部または全体を半透鏡ア構成したはね上げミラーＵで
コ分割し、一方をファインダー系に導き、他方ははね上
げミラーｎの裏面に設けた波面分割素子Ｂに導いて波面
分割する。
示す線図である。本例では撮影レンズＵからの光束を中
央部または全体を半透鏡ア構成したはね上げミラーＵで
コ分割し、一方をファインダー系に導き、他方ははね上
げミラーｎの裏面に設けた波面分割素子Ｂに導いて波面
分割する。
波面分割素子ｎは第ダ図ムおよびＢに平面図および断面
図を示すようにガラス板２？−／の一方の表面のは！半
分の領域に全反射＄２３−２を施して反射部分１１−Ｊ
と透過部分ｎ−ダとを形成して構成し、反射部分Ｂ−３
と透過部分ｎ−参との境界線ｎ−ｚが光軸と交差するよ
うに取付ける。
図を示すようにガラス板２？−／の一方の表面のは！半
分の領域に全反射＄２３−２を施して反射部分１１−Ｊ
と透過部分ｎ−ダとを形成して構成し、反射部分Ｂ−３
と透過部分ｎ−参との境界線ｎ−ｚが光軸と交差するよ
うに取付ける。
波面分割素子ｎの反射部分２Ｊ−３で反射された波面は
、第７図と同様にビームスプリッタλ−を経てフィルム
面と共役な面の前後等しし１位置に配置した受光素子列
ＢおよびＵで受光する。また、波面分割素子ｎの透過部
分ｎ−ダを透過した波面Ｇ′ｉ、写真撮影時にはね上げ
ミラーｎと同期して撮影光路外に退却する全反射ミラー
１を経て受光素子列コで受光する。なお、この受光素子
列コは受光素子列Ｂまたはｂと共役な位置に配置する。
、第７図と同様にビームスプリッタλ−を経てフィルム
面と共役な面の前後等しし１位置に配置した受光素子列
ＢおよびＵで受光する。また、波面分割素子ｎの透過部
分ｎ−ダを透過した波面Ｇ′ｉ、写真撮影時にはね上げ
ミラーｎと同期して撮影光路外に退却する全反射ミラー
１を経て受光素子列コで受光する。なお、この受光素子
列コは受光素子列Ｂまたはｂと共役な位置に配置する。
第３図において、受光素子列コが受光素子列Ｂと共役な
位置にあるとすると、受光素子列Δ、ｆｆの光電変換出
力は、波面分割の作用により撮影レンズ１の焦点位置が
受光素子列おより後方にある場合には例えば第ｊｇＪ・
巳に示すように受光素子列Ｂの出カバターンＡＣ実線で
示す）は右側に、また、受光素子列ｄの出カバターンＢ
（破線で示す）は左側に横ずれして発生し、前記焦点位
置が受光素子列Ｂ上にある場合は、第３図・ｂに示すよ
うに各受光素子列２３．ｘの各出力／寸ターンム、Ｂの
位相は一致し、また前記焦点位置が受光素子列およりも
前方にきた場合には、第ｊ図Ｃに示すように受光素子列
ｎ、ｘの出カバターン人ｌＢノＩＩｉ’れの方向が第Ｓ
図ａの場合と逆方向となる。
位置にあるとすると、受光素子列Δ、ｆｆの光電変換出
力は、波面分割の作用により撮影レンズ１の焦点位置が
受光素子列おより後方にある場合には例えば第ｊｇＪ・
巳に示すように受光素子列Ｂの出カバターンＡＣ実線で
示す）は右側に、また、受光素子列ｄの出カバターンＢ
（破線で示す）は左側に横ずれして発生し、前記焦点位
置が受光素子列Ｂ上にある場合は、第３図・ｂに示すよ
うに各受光素子列２３．ｘの各出力／寸ターンム、Ｂの
位相は一致し、また前記焦点位置が受光素子列およりも
前方にきた場合には、第ｊ図Ｃに示すように受光素子列
ｎ、ｘの出カバターン人ｌＢノＩＩｉ’れの方向が第Ｓ
図ａの場合と逆方向となる。
こ−で、受光素子列２Ｊ１２１の素子数をＮ個とし、受
光素子列Ｂのｎ番目の出方をｘＡｎ１受光素子列ｄのｎ
−１１目の出力をＸＢ（ｎ−１）とμで、を考えると、
これは第３図において、受光素子列ｄの出力Ｂを右へ一
素子分シフトした時の左下りしの斜線部分の面積を与え
る。また、受光素子列コのｎ−）−１番目の出力をｘｇ
（ｎ＋、）として、を考えると、これは受光素子列ｄの
出力Ｂを左ヘー素子分シフトした時の右下りの斜線部分
の面積を与える。
光素子列Ｂのｎ番目の出方をｘＡｎ１受光素子列ｄのｎ
−１１目の出力をＸＢ（ｎ−１）とμで、を考えると、
これは第３図において、受光素子列ｄの出力Ｂを右へ一
素子分シフトした時の左下りしの斜線部分の面積を与え
る。また、受光素子列コのｎ−）−１番目の出力をｘｇ
（ｎ＋、）として、を考えると、これは受光素子列ｄの
出力Ｂを左ヘー素子分シフトした時の右下りの斜線部分
の面積を与える。
そこで評価ｌｉ１８３− Ｓ３／ −８３’を考えると
、＃Ｉｊ図ａの場合には右下りの斜線部分の面積Ｂ、Ｉ
は、受光素子列ｄの出力Ｂを左にシフトした時の方が・
大きくなるので８３は負となり、第３図０の場合には、
左下りの斜線部分の面積Ｓ３／は受光素子列ｄの出力Ｂ
を右にシフトした時の方が大きくなるので、Ｓ３は正に
なる。また第３図すの場合は内科線部分の面積Ｓ／およ
び８３′は等しくなるのでＳ３は零になる。
、＃Ｉｊ図ａの場合には右下りの斜線部分の面積Ｂ、Ｉ
は、受光素子列ｄの出力Ｂを左にシフトした時の方が・
大きくなるので８３は負となり、第３図０の場合には、
左下りの斜線部分の面積Ｓ３／は受光素子列ｄの出力Ｂ
を右にシフトした時の方が大きくなるので、Ｓ３は正に
なる。また第３図すの場合は内科線部分の面積Ｓ／およ
び８３′は等しくなるのでＳ３は零になる。
更に、受光電子列ムのｎ番目の出方をＸ。ｎとして、
ＳＬ ’＝ｌｘＡｎ”−ｘＡ（ｎ−２）ｌ ｍａｘ
＋Ｉ ＸＡｎ−ｘＡ（ｎ−０）ｌ ｓｕｂｍａｘＳ ２
’ −Ｉ Ｘ□ｎ Ｘ（３（ｎ−１）ｌ ｍａ）Ｃ＋
ｌ ＸＣｎ−Ｘｏ （ｎ−１） １８ｕｂｍａｒｃなる
評価値を考えると、これら評価値Ｓｌ／ 、 ｓ２ｔは
従来のボケ像検出の場合と同様の評価値を与えることに
なる。
＋Ｉ ＸＡｎ−ｘＡ（ｎ−０）ｌ ｓｕｂｍａｘＳ ２
’ −Ｉ Ｘ□ｎ Ｘ（３（ｎ−１）ｌ ｍａ）Ｃ＋
ｌ ＸＣｎ−Ｘｏ （ｎ−１） １８ｕｂｍａｒｃなる
評価値を考えると、これら評価値Ｓｌ／ 、 ｓ２ｔは
従来のボケ像検出の場合と同様の評価値を与えることに
なる。
第を図は撮影レンズ〃の移動位置に対する上記評価ａＳ
□／ 、 ３２／およびＳ３をプロットして示したもの
である。＠６図から明らかなように、評価値Ｓ３は極め
て広範囲に亘ってずれの方向を表わすことができると共
に、評価値Ｓ、が零となる位置において評価ｆＩＩＳ工
ｌがピーク値をとり、合焦位置ｆにおいては評価ｌ１ｌ
ＳＩＩとｆ３．ｔとが等しくなる。し □たがって、評
価１ｓ、に適当なＭｔＩｉ８ｔｈを設定すれば、合焦位
置ｆを含むＳよ≦Ｓ、≦Ｏなる極めて狭い範囲を限定す
ることができるから、Ｓ３＜８ｔｈあるいはＳ、＞ Ｏ
の範囲ではＳ、を焦点ずれ方向信号として用いてＳ、
＜ Ｓ、ｈで前ピン、Ｓ、＞ｏで後ピンとし・８ｔｈ≦
８３≦Ｏの範囲では評価値ＳＩＩと８２／との比較に基
いて、Ｓ工／＜８．／で前ピン、Ｓ／＞Ｓ／で後ピン、
Ｓｌｌ＋Ｓ２Ｉで合焦とすることｌ ２ により、極めて広範囲に亘って焦点状態を検出すること
ができると共に、合焦位置ｆを高精度で検出できる。
□／ 、 ３２／およびＳ３をプロットして示したもの
である。＠６図から明らかなように、評価値Ｓ３は極め
て広範囲に亘ってずれの方向を表わすことができると共
に、評価値Ｓ、が零となる位置において評価ｆＩＩＳ工
ｌがピーク値をとり、合焦位置ｆにおいては評価ｌ１ｌ
ＳＩＩとｆ３．ｔとが等しくなる。し □たがって、評
価１ｓ、に適当なＭｔＩｉ８ｔｈを設定すれば、合焦位
置ｆを含むＳよ≦Ｓ、≦Ｏなる極めて狭い範囲を限定す
ることができるから、Ｓ３＜８ｔｈあるいはＳ、＞ Ｏ
の範囲ではＳ、を焦点ずれ方向信号として用いてＳ、
＜ Ｓ、ｈで前ピン、Ｓ、＞ｏで後ピンとし・８ｔｈ≦
８３≦Ｏの範囲では評価値ＳＩＩと８２／との比較に基
いて、Ｓ工／＜８．／で前ピン、Ｓ／＞Ｓ／で後ピン、
Ｓｌｌ＋Ｓ２Ｉで合焦とすることｌ ２ により、極めて広範囲に亘って焦点状態を検出すること
ができると共に、合焦位置ｆを高精度で検出できる。
第７図は本発明の焦点検出装置の信号処理系の構成の一
例を示すブロック図である。中央制御回路Ｊｌは露光時
間制御回路３λを起動させて受光素子。
例を示すブロック図である。中央制御回路Ｊｌは露光時
間制御回路３λを起動させて受光素子。
列Ｂ、２６および１の露光を開始させる。各受光素子列
Ｂ、ムおよびコの出力が所定値に達した時点で、前記露
出時間制御回路３２からホールド回路３３に制御信号を
発して、そのホールド回路３３に受光素子列Ｕ、ｎおよ
びコの個々の受光素子の出力を・ホールドさせる。次に
中央制御回路３１はム／Ｄ変換回路３グを起動させ、前
記ホールド回路３３にホールドされている受光素子列の
出力Ｘｉｎ Ｉ Ｂｎ １ｘｃｎをム／Ｄ変換して演
算回路３ｓに送る。演算回路３ｊでは、先ず受光素子列
Ｂおよび１の出力Ｘｉｎ １ＸＢｎを用いて を計算し、その結果を中央制御回路Ｊ／に送る。中央制
御回路Ｊ／は、演算回路３Ｓからの演算結果信号Ｓ が
、Ｓ３ ＜ Ｓｔｈ ” ｔｈ≦Ｓ３≦ｏ、ｓ、＞ｏか
を比較し、ｓ、＞ ｏの場合には後ピン、Ｓ、〈Ｓｔｈ
の場合には前ピンと判定し、それぞれの場合に応じた判
定信号を出力してこれを表示装置３６によって表示する
と同時に、レンズ駆動制御回路ｎに送り、図示しないレ
ンズ駆動装置を介して撮影レンズ〃を所要の方向に移動
させ、またＳｔｈ≦Ｓ３≦Ｏのときは再び演算回路３Ｓ
に指令を送って、３ ｘ ’−Ｉ ＸＡｎ −ＸＡ （
ｎ−０）ｌ ｍａｘ ＋ Ｉ ｘＡｎ −ｘＡ （ｎ−
、）ＩｓｕｂｍａｘＳ ２ ’−Ｉ Ｘ ａ ｎ Ｘ
ａ （ｎ−０）Ｉ ｍ ａＸ ＋ ｌ Ｘｃｎ −Ｘ
Ｏ（ｎ−ｚ ） Ｉｓ ｕ ｂ ｍ ａＸを計算させ
、Ｓ工／＜３２／のときは前ピン、Ｓｌｌ＞Ｓ２Ｉのと
きは後ビン、Ｓ工′→Ｓ２′のときは合焦と判定し、そ
れぞれの場゛合に応じた判定信号を出力してこれを表示
装置３６によって表示すると同時に、レンズ駆動制御回
路ｎに送り、５ｌｌｓ−！Ｓ２１以外のときはレンズ駆
動装置を介して撮影レンズＪを所要の方向に移動させて
Ｓ工ｌ＋−？Ｓ２１となるよう自動制御するようにして
いる。
Ｂ、ムおよびコの出力が所定値に達した時点で、前記露
出時間制御回路３２からホールド回路３３に制御信号を
発して、そのホールド回路３３に受光素子列Ｕ、ｎおよ
びコの個々の受光素子の出力を・ホールドさせる。次に
中央制御回路３１はム／Ｄ変換回路３グを起動させ、前
記ホールド回路３３にホールドされている受光素子列の
出力Ｘｉｎ Ｉ Ｂｎ １ｘｃｎをム／Ｄ変換して演
算回路３ｓに送る。演算回路３ｊでは、先ず受光素子列
Ｂおよび１の出力Ｘｉｎ １ＸＢｎを用いて を計算し、その結果を中央制御回路Ｊ／に送る。中央制
御回路Ｊ／は、演算回路３Ｓからの演算結果信号Ｓ が
、Ｓ３ ＜ Ｓｔｈ ” ｔｈ≦Ｓ３≦ｏ、ｓ、＞ｏか
を比較し、ｓ、＞ ｏの場合には後ピン、Ｓ、〈Ｓｔｈ
の場合には前ピンと判定し、それぞれの場合に応じた判
定信号を出力してこれを表示装置３６によって表示する
と同時に、レンズ駆動制御回路ｎに送り、図示しないレ
ンズ駆動装置を介して撮影レンズ〃を所要の方向に移動
させ、またＳｔｈ≦Ｓ３≦Ｏのときは再び演算回路３Ｓ
に指令を送って、３ ｘ ’−Ｉ ＸＡｎ −ＸＡ （
ｎ−０）ｌ ｍａｘ ＋ Ｉ ｘＡｎ −ｘＡ （ｎ−
、）ＩｓｕｂｍａｘＳ ２ ’−Ｉ Ｘ ａ ｎ Ｘ
ａ （ｎ−０）Ｉ ｍ ａＸ ＋ ｌ Ｘｃｎ −Ｘ
Ｏ（ｎ−ｚ ） Ｉｓ ｕ ｂ ｍ ａＸを計算させ
、Ｓ工／＜３２／のときは前ピン、Ｓｌｌ＞Ｓ２Ｉのと
きは後ビン、Ｓ工′→Ｓ２′のときは合焦と判定し、そ
れぞれの場゛合に応じた判定信号を出力してこれを表示
装置３６によって表示すると同時に、レンズ駆動制御回
路ｎに送り、５ｌｌｓ−！Ｓ２１以外のときはレンズ駆
動装置を介して撮影レンズＪを所要の方向に移動させて
Ｓ工ｌ＋−？Ｓ２１となるよう自動制御するようにして
いる。
なお、本発明は上述した例にのみ限定されるものではな
く、幾多の変形または変更が可能である。
く、幾多の変形または変更が可能である。
例えば上述した実施例ではａ ＊ ８ｔｈを設定し、８
ｔｈ≦８３≦Ｏのときに評価値ＳＩＩ、Ｓ２Ｉを用いて
焦点検出を行なうようにしたが、Ｓ、−Ｏのとき或いは
Ｓ３が零を中心とする所定範囲に入ったときに評価値Ｓ
／ 、 Ｓ２／を用いて焦点検出を行なうことも□で
きる。また、上述した例では第参図に示す構成の波面分
割素子を用いたが、第３図においてはね上げ２ラーｎで
反射される光束のうちビームスプリッタ２４Ｉに導かれ
る光束とは異なる領域の光束を受光素子列コで受光する
ようにして波面分割することもできる。
ｔｈ≦８３≦Ｏのときに評価値ＳＩＩ、Ｓ２Ｉを用いて
焦点検出を行なうようにしたが、Ｓ、−Ｏのとき或いは
Ｓ３が零を中心とする所定範囲に入ったときに評価値Ｓ
／ 、 Ｓ２／を用いて焦点検出を行なうことも□で
きる。また、上述した例では第参図に示す構成の波面分
割素子を用いたが、第３図においてはね上げ２ラーｎで
反射される光束のうちビームスプリッタ２４Ｉに導かれ
る光束とは異なる領域の光束を受光素子列コで受光する
ようにして波面分割することもできる。
以上述べたように本発明では波面分銅による像のずれを
検出する像ずれ焦点検出方式と、ボケ像検出方式による
焦点検出方式とを組み合わせて焦点状態を検出するよう
にしたから、広範囲に亘って焦点ずれ方向を検出するこ
とができると共に高い精度繁で合焦位置を検出すること
ができる。
検出する像ずれ焦点検出方式と、ボケ像検出方式による
焦点検出方式とを組み合わせて焦点状態を検出するよう
にしたから、広範囲に亘って焦点ずれ方向を検出するこ
とができると共に高い精度繁で合焦位置を検出すること
ができる。
第７図は従来の焦点検出装置の構成を示す線図、ｆｓ、
２図はその動作を説明するための評価値曲線を示す線図
、第３図は本発明の焦点検出装置の光学系の一例の構成
を示す線図、第ダ図ａおよびｂは第３図に示す波面分割
素子の一例の構成を示す平面図および断面図、第ｊ′ｇ
Ｊａ ｌ ｂ ｌ Ｏおよび第６図は本発明の一実施例
を説明するための線図、第７図は本発明の焦点検出装置
の信号−理系の構成の一例を示すブロック図である。 〃・・・撮影レンズ、ｎ・・・はね上げ電ツー、ｎ・・
・波面分割素子、２（１・・・ビームスプリッタ、Ｂ、
２４．２１・・・受光素子列、１・・・全反射ミラー、
３１・・・中央制御回路、３２・・・露光時間制御回路
、３３・・・ホールド回路３４１・・・ム／Ｄ変換回路
、３ｊ・・・演算回路、３）・・・表示装置、ｎ・・・
レンズ駆動制御回路。 特許出願人 オリンパス光学工業株式会社第１図 第２図
２図はその動作を説明するための評価値曲線を示す線図
、第３図は本発明の焦点検出装置の光学系の一例の構成
を示す線図、第ダ図ａおよびｂは第３図に示す波面分割
素子の一例の構成を示す平面図および断面図、第ｊ′ｇ
Ｊａ ｌ ｂ ｌ Ｏおよび第６図は本発明の一実施例
を説明するための線図、第７図は本発明の焦点検出装置
の信号−理系の構成の一例を示すブロック図である。 〃・・・撮影レンズ、ｎ・・・はね上げ電ツー、ｎ・・
・波面分割素子、２（１・・・ビームスプリッタ、Ｂ、
２４．２１・・・受光素子列、１・・・全反射ミラー、
３１・・・中央制御回路、３２・・・露光時間制御回路
、３３・・・ホールド回路３４１・・・ム／Ｄ変換回路
、３ｊ・・・演算回路、３）・・・表示装置、ｎ・・・
レンズ駆動制御回路。 特許出願人 オリンパス光学工業株式会社第１図 第２図
Claims (1)
- １、 光学系の像空間に配置した波面分割手段と、この
波面分割手段により分割された波面の一方を受光するよ
うに前記光学系の予定焦平面またはそれと共役な面の前
後に配置した第１および第２の受光素子列と、前記波面
分割手段により分割された波面の他方を受光するように
前記＠１または第２の受光素子列と共役な面に配置した
第３の受光素子列とを具え、前記第３の受光素子列とこ
れと共役な嬉ｌまたは第コの受光素子列の出力から像の
ずれを検出し、前記第１および第２の受光素子列の出力
から像のボケを検出して前記光学系の前記予定焦平面に
対する焦点状態を検出し得るよう構成したことを特徴と
する焦点検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19554681A JPS5897012A (ja) | 1981-12-07 | 1981-12-07 | 焦点検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19554681A JPS5897012A (ja) | 1981-12-07 | 1981-12-07 | 焦点検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5897012A true JPS5897012A (ja) | 1983-06-09 |
Family
ID=16342893
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19554681A Pending JPS5897012A (ja) | 1981-12-07 | 1981-12-07 | 焦点検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5897012A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5039544A (ja) * | 1973-07-09 | 1975-04-11 | ||
| JPS5587115A (en) * | 1978-12-25 | 1980-07-01 | Olympus Optical Co Ltd | Focus detector |
| JPS55108629A (en) * | 1979-02-13 | 1980-08-21 | Asahi Optical Co Ltd | Focus detector of camera |
-
1981
- 1981-12-07 JP JP19554681A patent/JPS5897012A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5039544A (ja) * | 1973-07-09 | 1975-04-11 | ||
| JPS5587115A (en) * | 1978-12-25 | 1980-07-01 | Olympus Optical Co Ltd | Focus detector |
| JPS55108629A (en) * | 1979-02-13 | 1980-08-21 | Asahi Optical Co Ltd | Focus detector of camera |
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