JPS58106913A - 波形整形回路 - Google Patents
波形整形回路Info
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- JPS58106913A JPS58106913A JP56204519A JP20451981A JPS58106913A JP S58106913 A JPS58106913 A JP S58106913A JP 56204519 A JP56204519 A JP 56204519A JP 20451981 A JP20451981 A JP 20451981A JP S58106913 A JPS58106913 A JP S58106913A
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- 238000007493 shaping process Methods 0.000 title claims description 14
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 claims abstract description 12
- 101100381996 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) BRO1 gene Proteins 0.000 abstract 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 206010011224 Cough Diseases 0.000 description 1
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 1
- 210000004709 eyebrow Anatomy 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K5/00—Manipulating of pulses not covered by one of the other main groups of this subclass
- H03K5/01—Shaping pulses
- H03K5/08—Shaping pulses by limiting; by thresholding; by slicing, i.e. combined limiting and thresholding
- H03K5/082—Shaping pulses by limiting; by thresholding; by slicing, i.e. combined limiting and thresholding with an adaptive threshold
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F02—COMBUSTION ENGINES; HOT-GAS OR COMBUSTION-PRODUCT ENGINE PLANTS
- F02P—IGNITION, OTHER THAN COMPRESSION IGNITION, FOR INTERNAL-COMBUSTION ENGINES; TESTING OF IGNITION TIMING IN COMPRESSION-IGNITION ENGINES
- F02P17/00—Testing of ignition installations, e.g. in combination with adjusting; Testing of ignition timing in compression-ignition engines
- F02P17/02—Checking or adjusting ignition timing
- F02P17/04—Checking or adjusting ignition timing dynamically
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- Manipulation Of Pulses (AREA)
- Combined Controls Of Internal Combustion Engines (AREA)
- Ignition Installations For Internal Combustion Engines (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、エンジンのイグニッションコイルにおけるポ
イントの開閉を表わすパルス信号のよ5な、雑音により
波形くずれをともな5周期性パルス信号に適した波形整
形回路に関する。
イントの開閉を表わすパルス信号のよ5な、雑音により
波形くずれをともな5周期性パルス信号に適した波形整
形回路に関する。
エーンジンアナライザのような、エンジンの特性を測定
する装置においては、エンジンの動作状態を表わすため
の、たとえば、時間軸の基準などを表わす基準信号が必
要である。このような信号としては、イグニッションコ
イルのマイナス−に現われる、ポイントの開閉によって
生ずる信号が用いられる。
する装置においては、エンジンの動作状態を表わすため
の、たとえば、時間軸の基準などを表わす基準信号が必
要である。このような信号としては、イグニッションコ
イルのマイナス−に現われる、ポイントの開閉によって
生ずる信号が用いられる。
ところで、この16号(以下、イグニッションコイル信
号という)は、ポイントとして機械的なスイッチを用い
た場合(以下、ポイント式という)、一部トランジスタ
を用いた場合(以下、セミトランジスタ式という)、あ
るいは、全体をトランジスタで構成した場合(以下、フ
ルトランジスタ式という)のいずれにおいても、エンジ
ンの各気筒を点火するための衝撃的な信号により、波形
くずれを生じている。
号という)は、ポイントとして機械的なスイッチを用い
た場合(以下、ポイント式という)、一部トランジスタ
を用いた場合(以下、セミトランジスタ式という)、あ
るいは、全体をトランジスタで構成した場合(以下、フ
ルトランジスタ式という)のいずれにおいても、エンジ
ンの各気筒を点火するための衝撃的な信号により、波形
くずれを生じている。
第1図(A)はポイント式、セミトランジスタ式におけ
るイグニッションコイル信号を示し、同図(B)はフル
トランジスタ式におけるイグニッションコイル信号を夫
々示している、 同図(A)において、ポイントを閉じると、機械的スイ
ッチの振動に伴ない、まず、衝撃的な信号aが現われ、
機械的スイッチが安定すると、一定の信号すが玩われ、
次に、ポイントを開くと、機械的スイッチが振動してv
IIJ撃的な信号Cが現われる。同図(b)においても
同様であるが、トランジスタの開閉に伴ない、安定した
信号すの後に衝撃的な信号aが現われる。
るイグニッションコイル信号を示し、同図(B)はフル
トランジスタ式におけるイグニッションコイル信号を夫
々示している、 同図(A)において、ポイントを閉じると、機械的スイ
ッチの振動に伴ない、まず、衝撃的な信号aが現われ、
機械的スイッチが安定すると、一定の信号すが玩われ、
次に、ポイントを開くと、機械的スイッチが振動してv
IIJ撃的な信号Cが現われる。同図(b)においても
同様であるが、トランジスタの開閉に伴ない、安定した
信号すの後に衝撃的な信号aが現われる。
ところで、衝撃的な信号aは非常に高レベルであって、
これを利用することにより各気筒を点火するものである
が、51!1図(A)、(B)に示す、イグニッション
コイル信号を上記基準信号として用いるときKは、衝撃
的な信号a、bはむしろ雑音となって、所望のイグニッ
ション信号の波形をくずしていることになる。したがっ
て、イグニツシ′5Fノコイル信号を、上記の雑音を除
いて、波形整形する必要がある。
これを利用することにより各気筒を点火するものである
が、51!1図(A)、(B)に示す、イグニッション
コイル信号を上記基準信号として用いるときKは、衝撃
的な信号a、bはむしろ雑音となって、所望のイグニッ
ション信号の波形をくずしていることになる。したがっ
て、イグニツシ′5Fノコイル信号を、上記の雑音を除
いて、波形整形する必要がある。
第2図は従来の波形整形回路の一例を示すブロック図で
あって、1は入力熾子、2は低域r波器、3は比較器、
4は基準電圧発生器、5は出力端子である。
あって、1は入力熾子、2は低域r波器、3は比較器、
4は基準電圧発生器、5は出力端子である。
次に、この従来技術の動作について説明する。
同図において、入力端子1から、第1図(A)、または
、(B)に示すイグニッションコイル信号が供給される
。低域r波器2は、イグニッションコイル信号から雑音
a、cを減衰する。
、(B)に示すイグニッションコイル信号が供給される
。低域r波器2は、イグニッションコイル信号から雑音
a、cを減衰する。
低域r波器20出刃信号は比1!m3に供給され、基準
電圧発生器4からの基準電圧とレベル比較される。よっ
て、低域Ffi#2の出力信号は基準レベルに対してス
ライスされ、出力端子5には波形整形されたイグニッシ
ョンコイル信号が得うレる。
電圧発生器4からの基準電圧とレベル比較される。よっ
て、低域Ffi#2の出力信号は基準レベルに対してス
ライスされ、出力端子5には波形整形されたイグニッシ
ョンコイル信号が得うレる。
ところで、第1図(A)、(B)において、正冨にエン
ジンが1作するどきKは、衝撃的な信号a、cは、6
k Hz以上の周波数成分を有するものであるから、第
2図の低域F波器2の遮断周波数を5kHz@度に設定
している。
ジンが1作するどきKは、衝撃的な信号a、cは、6
k Hz以上の周波数成分を有するものであるから、第
2図の低域F波器2の遮断周波数を5kHz@度に設定
している。
しかしながら、たとえば、点火コードが断線したり、点
火コードが抜けている場合など、エンジンが異常動作を
する場合には、雑音a、cは、1.3kHz程度の周波
数成分も有することがあり、したがって、低域f波器2
の遮断周波数も1.’4kH1程度に低く設定しなけれ
ばならない。
火コードが抜けている場合など、エンジンが異常動作を
する場合には、雑音a、cは、1.3kHz程度の周波
数成分も有することがあり、したがって、低域f波器2
の遮断周波数も1.’4kH1程度に低く設定しなけれ
ばならない。
しかるに、回転舷が100〜6000rpnムで2〜8
気筒のエンジンを考えると、得られるイグニッションコ
イル信号の繰返し周波数は、1.6〜400 HZ f
)範囲で変化可能であり、上記のように、1.3 k
Hz程度の低い遮断周波数の低域F#器2を用いると、
高速回転時のイグニッションコイル信号を低域iri器
2に通したときの瞑低域Pa器2の出力信号の振巾レベ
ルは、低速回転時のイグニッションコイル信号の場合よ
りも小さくなる。
気筒のエンジンを考えると、得られるイグニッションコ
イル信号の繰返し周波数は、1.6〜400 HZ f
)範囲で変化可能であり、上記のように、1.3 k
Hz程度の低い遮断周波数の低域F#器2を用いると、
高速回転時のイグニッションコイル信号を低域iri器
2に通したときの瞑低域Pa器2の出力信号の振巾レベ
ルは、低速回転時のイグニッションコイル信号の場合よ
りも小さくなる。
つまり、低域f波器2に供給されるイグニッションコイ
ル信号の繰返し周波数に応じて、低域C波器2の出力信
号の振巾レベルが変化することになる。
ル信号の繰返し周波数に応じて、低域C波器2の出力信
号の振巾レベルが変化することになる。
また、イグニッションコイル信号は繰返し周波数はかり
でなく、デユーティ比も変化することがあり、デユーテ
ィ比の変化に応じても、低域f波器2の出力信号のレベ
ルが変化する。
でなく、デユーティ比も変化することがあり、デユーテ
ィ比の変化に応じても、低域f波器2の出力信号のレベ
ルが変化する。
イグニッションコイル16号のデユーティ比は、第1図
(A)、(B’)において、 で表わされる。ポイント式、セミトランジスタ式の点火
装置の場合には、イグニッションコイル信吟のデユーテ
ィ比がはr40%であって、はX −尼の憧をとるが、
フルトランジスタ式の点火装置の場合には、低速回転で
90%であるのに対し、2000rpm以Eになるとデ
ユーティ比が低下して高速回転で505Xになってしま
う。
(A)、(B’)において、 で表わされる。ポイント式、セミトランジスタ式の点火
装置の場合には、イグニッションコイル信吟のデユーテ
ィ比がはr40%であって、はX −尼の憧をとるが、
フルトランジスタ式の点火装置の場合には、低速回転で
90%であるのに対し、2000rpm以Eになるとデ
ユーティ比が低下して高速回転で505Xになってしま
う。
このよプに、イグニッションコイル信号のデユーティ比
が変化すると、イグニッションコイル信号の平均レベル
も当然変化することになる。そして低速回転時に比べて
、高速回転時のイグニッションコイル信号は平均レベル
が低く、かつ、低域P波器2の出力信号の振巾レベルが
小さくなることから、第3図(A)K示す低速回転時の
低域f波62の出力信号に対して、第3図(8)に示す
ように、高速回転時の低域r波器2の出力信号は、振巾
レベルが小さくなるとともに、全体として、レベルが低
くなる。ただし、第3図(A)、(B)において、レベ
ルEE は、大々平均レベルa、 a を表わす。
が変化すると、イグニッションコイル信号の平均レベル
も当然変化することになる。そして低速回転時に比べて
、高速回転時のイグニッションコイル信号は平均レベル
が低く、かつ、低域P波器2の出力信号の振巾レベルが
小さくなることから、第3図(A)K示す低速回転時の
低域f波62の出力信号に対して、第3図(8)に示す
ように、高速回転時の低域r波器2の出力信号は、振巾
レベルが小さくなるとともに、全体として、レベルが低
くなる。ただし、第3図(A)、(B)において、レベ
ルEE は、大々平均レベルa、 a を表わす。
そこで、基準電圧発生器4 (g 2 t4 )からの
基準電圧El)/i、たとえば、低速回転時における低
$P波器2の出力信号(第3図(A))の平均レベルは
、偽いから、これを正確に波形整形するためにスライス
レベルが高くなるように設定する必要があるが、このよ
うに基準電圧Ebを高く設定すると、高速回転時におけ
る低い平均レベルで、小さい振巾レベルの低域P波器2
の出力信号(第3図(B))のスライスレベルはむしろ
低くなければならないから、高速回転時のX、*電圧と
しては適切でなくなるつ 以上のように、異常動作時のイグニッションコイル信号
をも波形整形可能にするためKは、基準電圧を一定にし
たのでは、全ての回転速度におけるイグニッションコイ
ル信号について、適切なレベルでスライスすることがで
きない。
基準電圧El)/i、たとえば、低速回転時における低
$P波器2の出力信号(第3図(A))の平均レベルは
、偽いから、これを正確に波形整形するためにスライス
レベルが高くなるように設定する必要があるが、このよ
うに基準電圧Ebを高く設定すると、高速回転時におけ
る低い平均レベルで、小さい振巾レベルの低域P波器2
の出力信号(第3図(B))のスライスレベルはむしろ
低くなければならないから、高速回転時のX、*電圧と
しては適切でなくなるつ 以上のように、異常動作時のイグニッションコイル信号
をも波形整形可能にするためKは、基準電圧を一定にし
たのでは、全ての回転速度におけるイグニッションコイ
ル信号について、適切なレベルでスライスすることがで
きない。
本発明の目的は、□上記従来技術の欠点を除き、レベル
変化をともな5周期性パルス信号を、正確に波形整形で
きるようにした波形整形回路を提供するにある。
変化をともな5周期性パルス信号を、正確に波形整形で
きるようにした波形整形回路を提供するにある。
この目的を達成するために、本発明は、前記周期性パル
ス信号をスライスして波形整形するための基準電圧を、
該周期性パルス信号に応じて変化させるようにした点を
特徴とする。
ス信号をスライスして波形整形するための基準電圧を、
該周期性パルス信号に応じて変化させるようにした点を
特徴とする。
以下、本発明の実施例を図面について説明する。
嬉4図は本発明による波形整形回路の一実施例を示すブ
ロックであって、第2図に対応する部分には同一符号を
付している。
ロックであって、第2図に対応する部分には同一符号を
付している。
次に、この!I!!施例の動作について説明する。
同図において、入力端子1かうのイグニッションコイル
信号は、たとえば、1.3kHzの低い遮断周波数の低
域FIR器2に供給される。低域r直感2は、第1図に
示す雑音a、cを減衰し、出力信号を比較器3とともに
、基準電圧発生a4にも供給する。
信号は、たとえば、1.3kHzの低い遮断周波数の低
域FIR器2に供給される。低域r直感2は、第1図に
示す雑音a、cを減衰し、出力信号を比較器3とともに
、基準電圧発生a4にも供給する。
眉準電圧発生煽4は、人力信号に応じたレベルの4輌電
圧′4!:発生する。たとえば、基準電圧は、入力信号
の平均レベルを表わすレベルを有するようにする。
圧′4!:発生する。たとえば、基準電圧は、入力信号
の平均レベルを表わすレベルを有するようにする。
したがって、比較63においては、低域F[)2の出力
信号のレベルが、入力11子lからのイグニッションコ
イル信号の周波数やlニーティ比によって変化しても、
基準電圧はそれに応じて変化するから、低域P波器2の
出力信号は基準電圧によって必ずスライスされ、出力熾
子5には、波形整形されたイグニッションコイル信号が
得られる。
信号のレベルが、入力11子lからのイグニッションコ
イル信号の周波数やlニーティ比によって変化しても、
基準電圧はそれに応じて変化するから、低域P波器2の
出力信号は基準電圧によって必ずスライスされ、出力熾
子5には、波形整形されたイグニッションコイル信号が
得られる。
第5図1・i第4図の実施例の一興体例を示す11略図
であって、第4図に対応する部分には同一符号を付して
いる。
であって、第4図に対応する部分には同一符号を付して
いる。
天に、この具体例の動作について説明する。
同図において、入力熾子1からのイグニッションコイル
信号は、まず、ツェナーダイオード6により、−音a(
第1図)が所定レベル以下に制限されて低吠Fi′62
に供給される。
信号は、まず、ツェナーダイオード6により、−音a(
第1図)が所定レベル以下に制限されて低吠Fi′62
に供給される。
低域f波器2は、抵抗7,8.コンデンサ9゜10およ
び演算増巾器11により構成され、遮断周波数が1.3
kHzとなるように、抵抗7,8゜コンデンサ9,10
の夫々の1直が設定される。
び演算増巾器11により構成され、遮断周波数が1.3
kHzとなるように、抵抗7,8゜コンデンサ9,10
の夫々の1直が設定される。
低域f波器2の出力信号は、比較63の十端子に供給さ
れるとともに、基準電圧発生器4にも供給される。
れるとともに、基準電圧発生器4にも供給される。
基準電圧発生器4の抵抗12とコンデンサ13とは積分
回路を構成し、低域1波器2の出力信号の平均レベルを
表わす基準電圧を発生する、この基準電圧は、比較器3
の一端子に供給されるわけであるが、基準電圧が点P、
の設定レベル以上になると、ダイオード14が導通し、
基準電圧を点P1のレベルに設定して基準電圧がこのレ
ベル以上にならないよ5にする。
回路を構成し、低域1波器2の出力信号の平均レベルを
表わす基準電圧を発生する、この基準電圧は、比較器3
の一端子に供給されるわけであるが、基準電圧が点P、
の設定レベル以上になると、ダイオード14が導通し、
基準電圧を点P1のレベルに設定して基準電圧がこのレ
ベル以上にならないよ5にする。
つまり、点P、の電位とダイオード14とでクランプ回
路を構成し、基準電圧の変化可能な最大レベルを点P、
の電位に設定する。
路を構成し、基準電圧の変化可能な最大レベルを点P、
の電位に設定する。
ここで、このクランプ回路の機能について説明する。
第6図は低域Pa器2(第5図)の出方信号を示す。低
域r波1112は雑音a(第1図(B))を減衰するが
、その残留した雑音a′が低域PtIjL器2の出力信
号に含まれる。
域r波1112は雑音a(第1図(B))を減衰するが
、その残留した雑音a′が低域PtIjL器2の出力信
号に含まれる。
ところで、基準信号Ebは、上記のように、低域r波器
2の出力信号の平均レベルを表わすものであるから、た
とえば、前述のように、低速回転時におけるデユーティ
比が90%の場合、基準電圧Eaは充分に高くなって雑
音a′の最低レベル以上になってしまう。このような基
準電圧E1を比較器3(第5Ll!l)にJえると、比
較器3の出力信号としては、雑音a′による不所望な信
号を含んだものとなる。
2の出力信号の平均レベルを表わすものであるから、た
とえば、前述のように、低速回転時におけるデユーティ
比が90%の場合、基準電圧Eaは充分に高くなって雑
音a′の最低レベル以上になってしまう。このような基
準電圧E1を比較器3(第5Ll!l)にJえると、比
較器3の出力信号としては、雑音a′による不所望な信
号を含んだものとなる。
そこで、第5図のクランプ回路は基準電圧Ebの最大レ
ベルを点P1のレベルに制限し、比較器3からは雑音に
影響されずに波形整形されたイグニッションコイル信号
が得られるようにしている。
ベルを点P1のレベルに制限し、比較器3からは雑音に
影響されずに波形整形されたイグニッションコイル信号
が得られるようにしている。
因みに、ツェナダイオード6により雑音a(第1図)の
振巾な約5VK制限し、低域P波器2の遮断周波数を1
.3k)(gとすると、低速回転時の線出力信号の最大
レベルの85%程度にまでなるから、基準電圧発生器4
のクランプ回路は、基準電圧の最大レベルを低速回転時
の低域f波器2の出力信号の最大レベルの、たとえば、
70 X根&に設定する。
振巾な約5VK制限し、低域P波器2の遮断周波数を1
.3k)(gとすると、低速回転時の線出力信号の最大
レベルの85%程度にまでなるから、基準電圧発生器4
のクランプ回路は、基準電圧の最大レベルを低速回転時
の低域f波器2の出力信号の最大レベルの、たとえば、
70 X根&に設定する。
なお、ポイント式、セミトランジスタ式の点火装置の場
合には、クランプ回路はダイオード14が非導通で動作
しない。
合には、クランプ回路はダイオード14が非導通で動作
しない。
第5図において、基準電圧発生器4のダイオード15は
、抵抗12.コンデンサ13からなる積分回路の出力電
圧が、点P、の電位よりも低くなると導通し、比較器3
の一端子の電位を点P、の電位に設定する。
、抵抗12.コンデンサ13からなる積分回路の出力電
圧が、点P、の電位よりも低くなると導通し、比較器3
の一端子の電位を点P、の電位に設定する。
そこで、イグニッションコイル信号が入力端子1に供給
されないときには、積分回路の出力電圧は低くなり、ダ
イオード15が導通して比較器3の一端子の電位が点P
1の電位に設定され、比較器3の出力レベルは常に低レ
ベルとなる。
されないときには、積分回路の出力電圧は低くなり、ダ
イオード15が導通して比較器3の一端子の電位が点P
1の電位に設定され、比較器3の出力レベルは常に低レ
ベルとなる。
このようにして、出力端子5&Cは、イグニッションフ
ィル信号の周波数やデユーティ比が変化しても、常に、
波形整形されたイグニッションコイル信号を得ることが
できる。
ィル信号の周波数やデユーティ比が変化しても、常に、
波形整形されたイグニッションコイル信号を得ることが
できる。
なお、第5図は、本発明を理解する上で示したー具体例
にすぎず、また、波形整形すべき信号としても、エンジ
ンの点火装置におけるイグニッションコイル信号に限る
ことなく、雑音により波形くずれをともなう任意の周期
性パルス信号にも適用することができることは明らかで
ある。
にすぎず、また、波形整形すべき信号としても、エンジ
ンの点火装置におけるイグニッションコイル信号に限る
ことなく、雑音により波形くずれをともなう任意の周期
性パルス信号にも適用することができることは明らかで
ある。
以上説明したように、本発明によれば、周期性パルス信
号をスライスするための基準電圧を、該周期性゛パルス
信号に応じて変化させることができるから、咳周期性パ
ルス信号がレベル変動を生じても、該周期性パルス信号
を誤りなく波形整形することができ、従来技術の欠点を
除いて優れた機能の波形整形回路を提供することができ
る。
号をスライスするための基準電圧を、該周期性゛パルス
信号に応じて変化させることができるから、咳周期性パ
ルス信号がレベル変動を生じても、該周期性パルス信号
を誤りなく波形整形することができ、従来技術の欠点を
除いて優れた機能の波形整形回路を提供することができ
る。
第11fi(A)、(B)はイグニッションコイル信号
を示す信号波形図、第2図は従来の波形整形回路の一例
を示すブロック図、第3図(A)、(B)は第2図の低
域r波器の出力信号を示す信号波形図、第4図は本発明
による波形整形回路の一実施例を示すブ四ツク図、45
図は第4図の一具体例を示す回路図、第6図はg5図の
基準電圧発生器におけるクランプ回路の機能を説明する
ための説明図である。 2・・・・・・低域r波器、3・・・・・・比較器、4
・・・・・・基準電圧発生器。 第1図 (A )
(B)第3図 (A)
(B)第4図
を示す信号波形図、第2図は従来の波形整形回路の一例
を示すブロック図、第3図(A)、(B)は第2図の低
域r波器の出力信号を示す信号波形図、第4図は本発明
による波形整形回路の一実施例を示すブ四ツク図、45
図は第4図の一具体例を示す回路図、第6図はg5図の
基準電圧発生器におけるクランプ回路の機能を説明する
ための説明図である。 2・・・・・・低域r波器、3・・・・・・比較器、4
・・・・・・基準電圧発生器。 第1図 (A )
(B)第3図 (A)
(B)第4図
Claims (1)
- (1) 雑音による波形くずれをともなう周期性パル
ス信号をf波器に供給して該−音を滅良し、該e波器の
出力信号を基準電圧とレベル比較するようにした波形整
形(gl路において、前記出力信号が供給され前記基準
電圧を発生する基準電圧発生器を設け、前記基準電圧が
前ml出力1ぎ号に応じて変化できるように構成したこ
とを特徴とする波形整形回路。 (リ 特許請求の範囲第(1)項(おいて、前記基準電
圧発生器、よりランプ回路を含み、InJ記基準基準電
圧化可能な最大レベルを、前記出力信号レベル以下の所
定レベルに等しく設定できるようにしたことを特徴とす
る波形整形回路。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56204519A JPS58106913A (ja) | 1981-12-19 | 1981-12-19 | 波形整形回路 |
| DE19823246243 DE3246243A1 (de) | 1981-12-19 | 1982-12-14 | Wellenform-wandlerschaltung |
| GB08236118A GB2113497B (en) | 1981-12-19 | 1982-12-20 | Waveform shaping circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56204519A JPS58106913A (ja) | 1981-12-19 | 1981-12-19 | 波形整形回路 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58106913A true JPS58106913A (ja) | 1983-06-25 |
| JPH0211047B2 JPH0211047B2 (ja) | 1990-03-12 |
Family
ID=16491870
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56204519A Granted JPS58106913A (ja) | 1981-12-19 | 1981-12-19 | 波形整形回路 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58106913A (ja) |
| DE (1) | DE3246243A1 (ja) |
| GB (1) | GB2113497B (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0534141U (ja) * | 1991-10-07 | 1993-05-07 | 浩二郎 山下 | 収納袋 |
| DE4415768C2 (de) * | 1994-05-04 | 1998-05-20 | Siemens Ag | Vorrichtung zum Erkennen von Zündzeitpunkten eines Ottomotors |
| KR100675274B1 (ko) * | 2004-12-09 | 2007-01-26 | 삼성전자주식회사 | 입력 회로 및 방법 |
| US8242810B2 (en) * | 2009-10-22 | 2012-08-14 | Lojack Operating Company, Lp | Fast settling, bit slicing comparator circuit |
-
1981
- 1981-12-19 JP JP56204519A patent/JPS58106913A/ja active Granted
-
1982
- 1982-12-14 DE DE19823246243 patent/DE3246243A1/de not_active Withdrawn
- 1982-12-20 GB GB08236118A patent/GB2113497B/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| DE3246243A1 (de) | 1983-06-30 |
| GB2113497A (en) | 1983-08-03 |
| GB2113497B (en) | 1986-01-29 |
| JPH0211047B2 (ja) | 1990-03-12 |
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