JPH1187382A - 半導体装置の樹脂封止装置 - Google Patents

半導体装置の樹脂封止装置

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JPH1187382A
JPH1187382A JP24080297A JP24080297A JPH1187382A JP H1187382 A JPH1187382 A JP H1187382A JP 24080297 A JP24080297 A JP 24080297A JP 24080297 A JP24080297 A JP 24080297A JP H1187382 A JPH1187382 A JP H1187382A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 未充填不良の連続発生を防止することと、マ
トリックスフレームの場合に次工程に未充填不良の製品
を流さないことを実現できる、半導体装置の樹脂封止装
置を提供する。 【解決手段】 この樹脂封止装置は、樹脂封止を完了す
ると分離部9で樹脂封止後製品のランナーなどの不要樹
脂が除去し、未充填検出機構1により樹脂封止後製品に
対して未充填検出を行い、良品の場合には、良品製品を
有するリードフレームをそのまま良品収納マガジン2a
に収納し、未充填不良品が有った場合には、不良品製品
を有するリードフレームを不良品収納マガジン2bに収
納するように構成されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置の樹脂封
止装置に関する。
【0002】
【従来の技術】半導体装置の樹脂封止装置の未充填検出
方法に関する従来技術では、特開平7−231005号
公報、特開平2−105550号公報、および特開平7
−14867号公報などに示される提案がある。
【0003】まず、特開平7−231005号公報に記
載の未充填検出方法について説明する。この公報に記載
の樹脂封止装置による未充填検出の様子を図5及び図6
に示す。この公報に記載の未充填検出方法は図5及び図
6に示すように、長手方向に移送される帯状のリードフ
レーム上の半導体チップを樹脂封止し、樹脂封止後の製
品14の樹脂バリ部17を透過センサ12で検出する方
法である。未充填の場合には、樹脂バリが発生しないの
で透過センサからの光は遮光されることなく透過するこ
とになる。したがって、透過した場合に、未充填として
検出することになる。
【0004】次に、特開平2−105550号公報に記
載の未充填検出方法について説明する。図7にこの公報
における未充填検出方法を実施する装置を示す。この図
に示す装置は、半導体装置の樹脂封止装置21だけでは
なく、工程順にリードフレーム供給リール18、半導体
素子をリードフレームに搭載するダイボンディング装置
19、リードフレームと半導体素子を電気的に接続する
ワイヤーボンディング装置20、半導体素子を樹脂封止
する樹脂封止装置21、不良検出除去装置22、および
リードフレーム巻取リール25を備えている。
【0005】樹脂封止後の製品14は、不良検出除去装
置22にて、未充填検出を行い、未充填製品の除去を行
う。図8には、未充填検出の機構を示す。この図におい
て、スプリング28で付勢された接触子29と、静電容
量センサ26とを有するホルダ27は、リードフレーム
の順送り動作と連動されたタイミングで上下動する。そ
のホルダ27が下降することによって接触子29が樹脂
封止後の製品14に接触し、その製品14の未充填部分
と充填部分のギャップをとらえ、その変位量を静電容量
センサ26が検出する。これによって、樹脂封止後の製
品14での未充填発生有無を検出する。
【0006】最後に、特開平7−14867号公報に記
載の未充填検出方法について説明する。図9にこの公報
に記載の樹脂封止装置による未充填検出の様子を示す。
この図において、認識装置30は、移送されるリードフ
レームの上方に設置され、樹脂封止後の製品14の未充
填の有無を検出する。未充填の製品14の検出後、シリ
ンダ31、上型32、および下型33によって構成され
る除去金型によって未充填の製品14がリードフレーム
から切り離される。除去された未充填の製品14は、収
納ボックス35に回収される。回収時、切り離された未
充填の製品14が適切に落下したかどうかがセンサ34
で確認される。しかる後、良品のみの樹脂封止後製品1
4を有するリードフレームが収納マガジン2に収納され
る。図10は未充填製品が除去されたリードフレームの
状況を示している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上述の従来技術におい
ては、未充填製品の検出及び除去を行うが、連続生産を
行うため未充填発生の原因を取り除くことは出来ない。
【0008】未充填発生の原因としては、樹脂の流動不
良により、所定量樹脂充填される前に樹脂の硬化が始ま
ることも挙げられる。これは、射出駆動源の動作バラツ
キによって、設定射出条件通りに射出が行われず、流動
不良を引き起こすケースである。解決策としては、射出
条件としての射出スピードや射出圧力などを常時監視し
て、適正値に補正できるように制御する方法がある。
【0009】しかしながら、近年、樹脂封止後の製品に
対する信頼性向上の要求は非常に多くリードフレームと
密着性の高い樹脂を使用する傾向が高くなってきてい
る。
【0010】そのため、樹脂封止後に離型不良が発生す
る新たな問題が生じるようになった。離型不良によっ
て、金型の樹脂封止部への入り口であるゲート部に樹脂
が残存する現象が頻発し、ゲート部が残存樹脂によって
塞がれるため、以降の樹脂封止の際には、樹脂封止部に
樹脂が充填されない場合や、樹脂充填されにくい場合が
ある。
【0011】このように、ゲート部の残存樹脂は、未充
填不良を引き起こすが、従来技術では、未充填不良品を
連続生産する危険性がある。
【0012】また、1枚のリードフレームで、複数列に
半導体装置を配置するようなリードフレーム(以下、
「マトリックスリードフレーム」と称す。)を対象製品
とする場合に、従来技術のように未充填製品をリードフ
レームから除去する機構を取り付けると、装置の複雑化
を招いてしまう。複数列の内で、どの列で未充填が発生
しても除去可能にするには、マトリックスリードフレー
ムの搬送をXY方向(横送り・奥行き送り)どちらにも
可能にしなければならないからである。
【0013】装置複雑化の弊害は、故障時に復旧するま
での時間(MTTR)の延長を招き、生産能力を低下さ
せてしまう。
【0014】本発明の目的は、上述の従来技術の課題に
鑑み、未充填不良の連続発生を防止することと、マトリ
ックスフレームの場合に次工程に未充填不良の製品を流
さないことを実現できる、半導体装置の樹脂封止装置を
提供することにある。
【0015】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の本発明は、移送されるリードフレーム上の半導体装置
を樹脂封止する樹脂封止手段と、樹脂封止後製品の未充
填不良を検出する未充填検出機構とを含み、前記未充填
検出機構にて未充填製品を検出した時、アラームを出し
て停止するように構成された、半導体装置の樹脂封止装
置である。
【0016】また、本発明は、複数列に半導体装置が配
置されたリードフレームを対象とする、半導体装置の樹
脂封止装置において、樹脂封止後の未充填不良の製品を
有するリードフレームを正常良品のみを有するリードフ
レームとは分別して収納するように構成された樹脂封止
装置である。
【0017】また、本発明は、移送されるリードフレー
ム上の、複数列に配置された半導体装置を樹脂封止する
樹脂封止手段と、樹脂封止後製品の未充填不良を検出す
る未充填検出機構とを含む、半導体装置の樹脂封止装置
において、前記未充填検出機構にて未充填製品を検出し
た時、樹脂封止後の未充填不良の製品を有するリードフ
レームを正常良品のみを有するリードフレームとは分別
して収納すると共に、アラームを出して停止するように
構成された樹脂封止装置である。
【0018】前記樹脂封止装置は金型のゲート口に残存
樹脂があるかの確認を示唆するようなアラームメッセー
ジを表示するパネルを有するものであってもよい。
【0019】前記樹脂封止装置が前記未充填検出機構に
よる不良品検出回数を設定可能とし、当該不良品検出回
数だけ不良品を検出するとアラームを出して停止するよ
うに構成されていることが、生産能力を低下させずに済
むので好ましい。
【0020】また、前記未充填検出機構は、樹脂封止後
製品に向けて下降される支持部と、該支持部の貫通孔内
に挿入され且つ該貫通孔内で弾性的に支持された、下端
部が前記貫通孔へ押し戻されると上部が前記貫通孔より
飛び出る検出棒と、前記支持部の上方に設置され、前記
検出棒の上部によって光が遮断される一対の受発光素子
からなる透過センサーとから少なくとも構成されている
ことが具体的に考えられる。
【0021】(作用)上記のとおりの発明では、未充填
製品を検出した場合には、システムをアラーム停止する
ことで、作業者が未充填不良の原因となるゲート部分の
残存樹脂を発見し、取り除くことができる。したがっ
て、連続して未充填不良の製品を生産することはない。
【0022】また、樹脂封止後、未充填不良製品を有す
るリードフレームを正常良品のみを有するリードフレー
ムとは分別して収納することにより、複数列に半導体装
置を配置するようなリードフレーム(マトリックスリー
ドフレーム)の場合には、装置を複雑化することなく次
工程に未充填不良製品を流すことを防ぐことができる。
すなわち、マトリックスリードフレームの場合、どの列
に生じている未充填製品でも除去できるように従来技術
ではリードフレームの搬送をXY方向に可能にしていた
が、本発明では不良製品を有するリードフレームを正常
良品のみのリードフレームと分別するため、装置を複雑
化させないで済む。その結果、故障時に復旧するまでの
時間(MTTR)の延長を招くこともない。
【0023】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。
【0024】図1は、本発明の一実施形態である、半導
体装置の樹脂封止装置を示す平面図である。
【0025】本形態の樹脂封止装置は、図1に示すよう
に、供給トレー3から切り出されたリードフレームが配
列されるリードフレーム配列部4と、樹脂を供給する樹
脂供給部5と、樹脂が配列される樹脂ローダー6と、樹
脂封止を行う樹脂封止型7が設置されたプレス部8と、
樹脂封止後の製品の不要樹脂(例えばランナーによる樹
脂)を除去する分離部9と、不要樹脂を取り除いた製品
に対して未充填検出を行う未充填検出機構1と、良品製
品を収納する良品収納マガジン2aと、未充填不良の製
品を収納する不良品収納マガジン2bと、樹脂封止型7
を清掃するクリーナー10と、樹脂カスなどを収集する
集塵機11とから構成される。
【0026】図2及び図3に未充填検出機構1の構造を
示す。これらの図に示すように未充填検出機構1は、透
過センサ12、検出棒13、検出棒支持部15、および
スプリング16から構成される。すなわち、検出棒13
が検出棒支持部15の貫通孔に挿入され、かつ当該支持
部15内のスプリング16により支持されている。そし
て、検出棒13の下端部をスプリング16のばね力に抗
して押し戻すと、検出棒13の上部が支持部15の貫通
孔より飛び出るようになっている。さらに、検出棒支持
部15の上方には、検出棒13の上部によって光が遮断
される一対の受発光素子からなる透過センサー17が設
置されている。この透過センサー17は支持部17に取
り付けられていてもよく、または製品14を置く基台を
用いて取り付けられていてもよい。
【0027】このような未充填検出機構1では、検出棒
支持部15を下降することによって検出棒13の下端部
を樹脂封止後の製品14に接触させる。このとき、図2
に示すように樹脂封止後製品14が良品の場合は、検出
棒13が押し戻されて検出棒13の上端部が支持部15
より飛び出て、透過センサ12からの光は遮光される。
また、図3に示すように樹脂封止後製品14が未充填の
場合には、検出棒13の上端部が支持部15より飛び出
ないため、透過センサ12からの光が透光する。以上の
ように、検出棒13を製品14に接触させた際の透過セ
ンサ12の検出結果によって、樹脂封止後製品の未充填
状態を判別している。
【0028】次に、図1及び図4を参照し、樹脂封止装
置の、樹脂封止後の動作を説明する。図4に、この樹脂
封止後の動作フローを示す。樹脂封止が完了すると、分
離部9にて樹脂封止後製品14のランナーなどの不要樹
脂が除去され、未充填検出機構1により樹脂封止後製品
14に対して未充填検出が行われる。未充填検出にて良
品の場合には、良品製品を有するリードフレームがその
まま良品収納マガジン2aに収納される。未充填不良品
が有った場合には、不良品製品を有するリードフレーム
が不良品収納マガジン2bに収納される。このように良
品と未充填不良品をリードフレームから除去せずに分別
するので、マトリックスリードフレームを用いた製品の
場合には、樹脂封止装置を複雑にすることなく次工程に
不良品を流すことがない。つまり、どの列に生じている
未充填製品でも除去できるようにリードフレームの搬送
をXY方向に可能にする必要はないので、樹脂封止装置
を複雑にすることがない。それ故、故障時に復旧にかか
る時間が短くて済む。
【0029】さらに、上記のように未充填製品があった
場合、樹脂封止装置はアラーム(警報)を出してシステ
ムを停止させる。このような装置停止アラームを出すと
きには、金型のゲート口に残存樹脂があるかの確認を示
唆するようなメッセージを、樹脂封止装置に付随するパ
ネルなどに表示してもよい。
【0030】また、未充填の原因がゲート詰まりだけで
はないので、未充填検出で不良品検出した場合に、樹脂
封止装置を毎回停止させる方法に限る必要はない。つま
り、未充填検出での不良品検出回数を設定可能とし、そ
の設定回数に応じて、樹脂封止装置をアラーム停止する
方法を採用しても良い。例えば、2回連続して、未充填
不良品を検出した場合に樹脂封止装置をアラーム停止さ
せる方法が挙げられる。この場合には、不良検出で樹脂
封止装置を毎回停止させる場合よりも生産能力を低下さ
せずに済む。
【0031】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、未充填製
品を検出するとアラーム停止する、半導体装置の樹脂封
止装置であるので、作業者に未充填不良の原因を取り除
かせることができる。そのため、未充填不良の連続発生
を防止して、歩留りを向上させることができる。
【0032】また、樹脂封止後、未充填不良製品を有す
るリードフレームを良品製品のみのリードフレームとは
分別するので、樹脂封止装置がマトリックスフレームな
どを対象する場合は、装置を複雑にすることなく次工程
に不良品を流すことを防ぐことができる。従って、故障
時の作業者による検査確認時間を大幅に削減できるた
め、生産能力を低下させずに済む。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態である、半導体装置の樹脂
封止装置を示す平面図である。
【図2】図1に示した樹脂封止装置の未充填検出機構に
よる良品検出時の状況を示す断面図である。
【図3】図1に示した樹脂封止装置の未充填検出機構に
よる未充填検出時の状況を示す断面図である。
【図4】図1に示した樹脂封止装置の、樹脂封止後の動
作フローを示す図である。
【図5】特開平7−231005号公報に記載の従来の
樹脂封止装置による未充填検出の様子を示す斜視図であ
る。
【図6】特開平7−231005号公報に記載の従来の
樹脂封止装置による未充填検出の様子を示す詳細図であ
る。
【図7】特開平2−105550号公報に記載の従来の
未充填検出方法を実施する装置を示す正面図である。
【図8】図7に示す不良検出除去装置における未充填検
出の機構を示す詳細図である。
【図9】特開平7−14867号公報に記載の従来の樹
脂封止装置を示す概略構成図である。
【図10】図9に示した金型により未充填製品が除去さ
れたリードフレームの斜視図である。
【符号の説明】
1 未充填検出機構 2a 良品収納マガジン 2b 不良品収納マガジン 3 供給トレー 4 リードフレーム配列部 5 樹脂供給部 6 樹脂ローダ 7 樹脂封止型 8 プレス部 9 分離部 10 クリーナー 11 集塵機 13 検出棒 14 樹脂封止後製品 15 検出棒支持部 16 スプリング 17 透過センサー

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 移送されるリードフレーム上の半導体装
    置を樹脂封止する樹脂封止手段と、樹脂封止後製品の未
    充填不良を検出する未充填検出機構とを含む、半導体装
    置の樹脂封止装置において、 前記樹脂封止装置は、前記未充填検出機構にて未充填製
    品を検出した時、アラームを出して停止するように構成
    されたことを特徴とする半導体装置の樹脂封止装置。
  2. 【請求項2】 複数列に半導体装置が配置されたリード
    フレームを対象とする、半導体装置の樹脂封止装置にお
    いて、 前記樹脂封止装置は、樹脂封止後の未充填不良の製品を
    有するリードフレームを正常良品のみを有するリードフ
    レームとは分別して収納するように構成されたことを特
    徴とする半導体装置の樹脂封止装置。
  3. 【請求項3】 移送されるリードフレーム上の、複数
    列に配置された半導体装置を樹脂封止する樹脂封止手段
    と、樹脂封止後製品の未充填不良を検出する未充填検出
    機構とを含む、半導体装置の樹脂封止装置において、 前記樹脂封止装置は、前記未充填検出機構にて未充填製
    品を検出した時、樹脂封止後の未充填不良の製品を有す
    るリードフレームを正常良品のみを有するリードフレー
    ムとは分別して収納すると共に、アラームを出して停止
    するように構成されたことを特徴とする半導体装置の樹
    脂封止装置。
  4. 【請求項4】 前記樹脂封止装置は、金型のゲート口に
    残存樹脂があるかの確認を示唆するようなアラームメッ
    セージを表示するパネルを有する請求項1又は3に記載
    の半導体装置の樹脂封止装置。
  5. 【請求項5】 前記樹脂封止装置は、前記未充填検出機
    構による不良品検出回数を設定可能とし、当該不良品検
    出回数だけ不良品を検出するとアラームを出して停止す
    るように構成されている請求項1又は3に記載の半導体
    装置の樹脂封止装置。
  6. 【請求項6】 前記未充填検出機構は、樹脂封止後製品
    に向けて下降される支持部と、該支持部の貫通孔内に挿
    入され且つ該貫通孔内で弾性的に支持された、下端部が
    前記貫通孔へ押し戻されると上部が前記貫通孔より飛び
    出る検出棒と、前記支持部の上方に設置され、前記検出
    棒の上部によって光が遮断される一対の受発光素子から
    なる透過センサーとから少なくとも構成されている、請
    求項1又は3に記載の半導体装置の樹脂封止装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2005183913A (ja) * 2003-12-15 2005-07-07 Hynix Semiconductor Inc 半導体パッケージモールディングシステムのカル分離装置

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JP2005183913A (ja) * 2003-12-15 2005-07-07 Hynix Semiconductor Inc 半導体パッケージモールディングシステムのカル分離装置
JP4535789B2 (ja) * 2003-12-15 2010-09-01 株式会社ハイニックスセミコンダクター 半導体パッケージモールディングシステムのカル分離方法

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