JPH1177023A - 水素含有超純水の製造方法 - Google Patents

水素含有超純水の製造方法

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JPH1177023A
JPH1177023A JP25284797A JP25284797A JPH1177023A JP H1177023 A JPH1177023 A JP H1177023A JP 25284797 A JP25284797 A JP 25284797A JP 25284797 A JP25284797 A JP 25284797A JP H1177023 A JPH1177023 A JP H1177023A
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博志 森田
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哲夫 水庭
Junichi Ida
純一 井田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】微粒子により汚染された半導体用シリコン基
板、液晶用ガラス基板などの電子材料のウェット洗浄に
用いる水素含有超純水を、水素ガスの無駄がなく、高い
水素ガス溶解効率で製造することができる水素含有超純
水の製造方法を提供する。 【解決手段】超純水を脱気して溶存気体の飽和度を低下
させたのち、水素ガスを供給して超純水に水素ガスを溶
解することを特徴とする水素含有超純水の製造方法。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、水素含有超純水の
製造方法に関する。さらに詳しくは、本発明は、微粒子
により汚染された半導体用シリコン基板、液晶用ガラス
基板などの電子材料のウェット洗浄に用いる水素含有超
純水を、水素ガスの無駄がなく、高い効率で製造するこ
とができる水素含有超純水の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体用シリコン基板、液晶用ガ
ラス基板などの洗浄は、主として、過酸化水素水と硫酸
の混合液、過酸化水素水と塩酸と水の混合液、過酸化水
素水とアンモニア水と水の混合液など、過酸化水素をベ
ースとする濃厚な薬液を用いて高温で洗浄した後に超純
水ですすぐ、いわゆるRCA洗浄法によって行われてき
た。RCA洗浄法は、半導体表面の金属分を除去するた
めに有効な方法であるが、同時に半導体表面に付着した
微粒子も除去される。しかし、このような方法では、過
酸化水素水、高濃度の酸、アルカリなどを多量に使用す
るために薬液コストが高く、さらにリンス用の超純水の
コスト、廃液処理コスト、薬品蒸気を排気し新たに清浄
空気を調製する空調コストなど、多大なコストを要す
る。これらのコストを低減し、さらに水の大量使用、薬
物の大量廃棄、排ガスの放出といった環境への負荷低減
を図るために、近年ウェット洗浄工程の見直しが進めら
れている。本発明者らは、先に、ウェット洗浄工程で除
去すべき不純物のうち、特に電子部品性能への影響が大
きく問題視されている微粒子が、水素ガスを溶解した超
純水により極めて効果的に除去されることを見いだし、
低濃度の薬品で、室温で、高い洗浄効果を得ることがで
きる方法として、水素含有超純水を用いる電子材料の洗
浄方法を開発した。これに伴って、水素含有超純水を安
全かつ自在に操るために、希望の溶存水素ガス濃度の超
純水を、溶解効率を高めて水素ガスを無駄なく利用し、
確実に製造することができる水素含有超純水の製造方法
の確立が要求されてきた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、微粒子によ
り汚染された半導体用シリコン基板、液晶用ガラス基板
などの電子材料のウェット洗浄に用いる水素含有超純水
を、水素ガスの無駄がなく、高い水素ガス溶解効率で製
造することができる水素含有超純水の製造方法を提供す
ることを目的としてなされたものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記の課
題を解決すべく鋭意研究を重ねた結果、超純水を脱気し
て溶存気体の飽和度を低下させたのち、水素ガスを供給
して超純水に水素ガスを溶解することにより、水素ガス
を無駄なく、高い効率で超純水に溶解させ得ることを見
いだし、この知見に基づいて本発明を完成するに至っ
た。すなわち、本発明は、(1)超純水を脱気して溶存
気体の飽和度を低下させたのち、水素ガスを供給して超
純水に水素ガスを溶解することを特徴とする水素含有超
純水の製造方法、(2)超純水への水素ガスの溶解を、
気体透過膜モジュールを用いて行う第(1)項記載の水素
含有超純水の製造方法、及び、(3)水素ガスの飽和度
換算供給量が、脱気した気体の飽和度の低下量にほぼ相
当する量である第(1)項又は第(2)項記載の水素含有超
純水の製造方法、を提供するものである。
【0005】
【発明の実施の形態】本発明方法においては、超純水を
脱気して溶存気体の飽和度を低下させたのち、水素ガス
を供給して超純水に水素ガスを溶解させる。本発明にお
いて、気体の飽和度とは、水中に溶解している気体の量
を、圧力105Pa、温度20℃における気体の溶解量
で除した値である。例えば、水が圧力105Pa、温度
20℃の窒素ガスと接して平衡状態にあるとき、水への
窒素ガスの溶解量は19.2mg/リットルであるので、
水中に溶解している気体が窒素ガスのみであって、その
溶解量が19.2mg/リットルである水の飽和度は1.0
倍であり、水中に溶解している気体が窒素ガスのみであ
って、その溶解量が9.6mg/リットルである水の飽和
度は0.5倍である。また、圧力105Pa、温度20℃
で空気と接して平衡状態にある水は、窒素ガス15.4m
g/リットル及び酸素ガス8.8mg/リットルを溶解して
飽和度1.0倍の状態となっているので、脱気により気
体の溶解量を窒素ガス1.5mg/リットル、酸素ガス0.
9mg/リットルとした水の飽和度は0.1倍である。さ
らに、水が圧力105Pa、温度20℃の水素ガスと接
して平衡状態にあるとき、水への水素ガスの溶解量は
1.6mg/リットルであるので、水素ガス0.8mg/リッ
トルを溶解した水の水素ガスの飽和度は0.5倍である。
【0006】本発明方法においては、超純水を脱気して
溶存気体の飽和度を低下させたのち、水素ガスを供給し
て超純水に水素ガスを溶解する。洗浄用機能水としての
効果を高めるためには、溶存水素ガス濃度は高いほど望
ましく、大気圧下、常温での飽和濃度である約1.6mg
/リットルに近づくほど、洗浄効果は高まる。しかし、
飽和付近まで溶存水素ガス濃度を高めなくとも、あるレ
ベル以上の濃度があれば、実質的に有効な機能水とな
る。その濃度は、0.7mg/リットル程度、すなわち、
常温、大気圧下における溶存水素ガスの飽和度の1/2
倍弱であることが、本発明者らによってすでに確認され
ている。本発明方法において、超純水の脱気の程度に特
に制限はないが、溶存水素ガス濃度が0.7mg/リット
ル以上の水素含有超純水を効率よく調製するために、溶
解すべき水素ガスの飽和度に相当する量の溶存気体を脱
気して、原水中の気体溶解キャパシティーに空きを作る
ことが好ましい。例えば、飽和度の1/2倍以上の水素
ガスを溶解する場合は、飽和度の1/2倍以上に相当す
る溶存気体をあらかじめ脱気により除去することが好ま
しい。飽和度に換算した原水の溶存気体の脱気量と、飽
和度に換算した溶解すべき水素ガスの量をほぼ等しくす
ることにより、水素ガスを無駄なく容易に溶解すること
ができる。
【0007】溶存気体を制御していない、大気と平衡状
態にある超純水には、常温で約8mg/リットルの酸素ガ
ス、約16mg/リットルの窒素ガスと、微量の炭酸など
が溶解している。この超純水を原水とする場合には、溶
存酸素ガス濃度を4mg/リットル程度以下、溶存窒素ガ
ス濃度を8mg/リットル程度以下、すなわち飽和度の1
/2程度以下に低減させれば、飽和度1/2程度までの
水素ガスを容易に溶解することができ、溶存水素ガス濃
度0.8mg/リットル程度の水素含有超純水を得ること
ができる。本発明方法において、原水とする超純水は、
必ずしも大気と平衡状態である必要はなく、溶存気体の
種類、濃度比率などには全く制限はない。例えば、窒素
ガス脱気によってまず溶存酸素ガスを除去し、ほぼ窒素
ガスのみによって溶存窒素ガス濃度が高められた原水で
あれば、そこから溶存窒素ガスを必要な飽和度に相当す
る量だけ脱気すれば、目的を達することができる。要す
るに、総溶存気体の低減量を飽和度に換算し、それが溶
解すべき水素ガスの飽和度に見合う以上の量であればよ
い。本発明の目的にかなう脱気処理としては、触媒脱気
や窒素ガス脱気などのいわゆる脱酸素処理は不適であ
り、酸素ガス以外の気体も除去することができる真空脱
気や減圧膜脱気などによることが好ましい。これらの中
で、高純度脱気膜モジュールによる膜脱気は、比較的ユ
ースポイントに近いところで、超純水の純度を損なうこ
となく、微量に溶存する気体を脱気することができるの
で、特に好適に使用することができる。
【0008】本発明方法においては、脱気して溶存気体
の飽和度を低下させた超純水に、水素ガスを供給して水
素ガスを溶解する。水素ガスを溶解する方法には特に制
限はなく、例えば、バブリング、ラインミキシング、気
体透過膜モジュールの使用など任意の接触方法を利用す
ることができる。これらの中で、単位時間、単位スペー
スあたりの水素ガス溶解量が大きく、電子材料のウェッ
ト洗浄用として使用し得るレベルに水の純度を保ち、水
素ガスの溶解効率を容易に高めることができる高純度気
体透過膜モジュールが好ましい。本発明方法において、
超純水の脱気及び水素ガスの供給に用いるガス透過膜に
は特に制限はなく、例えば、ポリプロピレン、ポリジメ
チルシロキサン、ポリカーボネート−ポリジメチルシロ
キサンブロック共重合体、ポリビニルフェノール−ポリ
ジメチルシロキサン−ポリスルホンブロック共重合体、
ポリ(4−メチルペンテン−1)、ポリ(2,6−ジメチル
フェニレンオキシド)、ポリテトラフルオロエチレンな
どの高分子膜などを挙げることができる。水素ガスの供
給方法には特に制限はなく、例えば、重質油のガス化反
応により得られる合成ガスからの分離、メタノールの接
触分解や水蒸気改質、水の電気分解などのほか、市販の
高純度水素ガスボンベなどを使用することもできる。ガ
ス透過膜の液体側に脱気した超純水を通過させ、気体側
に水素ガスを供給することにより、水素ガスはガス透過
膜を経由して超純水中に移行し溶解する。
【0009】本発明方法において、供給する水素ガスの
量には特に制限はないが、大気と平衡状態にある超純水
より脱気した気体の飽和度の低下量にほぼ相当する量で
あることが好ましい。例えば、大気と平衡状態にある超
純水中に溶解している窒素ガス及び酸素ガスの80%を
脱気して原水の総溶存気体飽和度を0.2倍としたと
き、原水中の水素ガス溶解のための気体溶解キャパシテ
ィーの空きは飽和度の0.8倍となっているので、水素
ガスの飽和度1.6mg/リットルの0.8倍に相当する
1.28mg/リットルの水素ガスを供給することが好ま
しい。脱気した気体の飽和度の低下量にほぼ相当する量
の水素ガスを供給することにより、供給した水素ガスが
ほぼ全量超純水中に溶解し、排ガス中に未溶解のまま放
出される水素ガスの量を抑制して、水素ガス溶解効率を
高めることができる。しかし、供給する水素ガスの飽和
度換算量と、脱気した気体の飽和度の低下量とは、厳密
に1:1である必要はなく、超純水に溶解される水素ガ
スの量を所望量にすることができれば、1:1以下であ
ってもよい。また、超純水の流速などとの関連におい
て、超純水と供給する水素ガスとの接触効率を考量し
て、供給する水素ガスの飽和度換算量と、脱気した気体
の飽和度の低下量の比を、1〜5:1、より好ましくは
1〜2:1のように、水素ガスの量を若干の過剰量とす
ることもできる。
【0010】前述のように、水素含有超純水を電子材料
のウェット洗浄に用いる場合、通常は溶存水素ガス濃度
が0.7mg/リットル程度あれば、十分実用レベルの洗
浄効果を得ることができる。しかし、必要に応じて、溶
存水素ガス濃度を1.2mg/リットル(飽和度の3/4
倍)、あるいは1.4mg/リットル(飽和度の約9/1
0倍)とすることにより、一層高い洗浄効果を得ること
ができる。このような溶存水素ガス濃度の水素含有超純
水を効率よく得るためには、それに見合うレベル、すな
わち飽和度の1/4程度以下、あるいは飽和度の1/1
0程度以下にまであらかじめ総溶存気体濃度を低減する
ことが好ましい。これによって、溶解すべき量の水素ガ
スを供給して、供給した水素ガスをほぼ完全に水素含有
超純水中の溶存水素ガスとすることができる。なお、水
素含有超純水を電子材料のウェット洗浄に用いるとき、
洗浄効果を一層高めるために、水素含有超純水に高純度
アンモニア水などを添加することができる。アンモニア
水を含有する水素含有超純水を製造する場合には、アン
モニア濃度が脱気によって減少することのないよう、超
純水の脱気を終えたのち、水素ガス溶解工程の前又は後
に添加することが好ましい。
【0011】図1は、本発明の水素含有超純水の製造方
法の一態様の工程系統図である。超純水は、流量計1を
経由して脱気膜モジュール2に送られる。脱気膜モジュ
ールは、ガス透過膜を介して超純水と接する気相側が真
空ポンプ3により減圧状態に保たれ、超純水中に溶存し
ている気体が脱気される。溶存気体が脱気された超純水
は、次いで水素ガス溶解膜モジュール4に送られる。水
素ガス溶解膜モジュールにおいては、水素ガス供給器5
から供給される水素ガスが気相側に送られ、ガス透過膜
を介して超純水に供給される。溶存水素ガス濃度が所定
の値に達した超純水には、薬液貯槽6から薬注ポンプ7
によりアンモニア水などの薬液を供給し、所定のpH値に
調整することができる。水素ガスを溶解し、アルカリ性
となった水素含有超純水は、最後に精密ろ過装置8に送
られ、MFフィルターなどにより微粒子を除去すること
ができる。本発明方法においては、さらに計器を利用し
て脱気及び水素ガスの溶解を制御することも可能であ
る。例えば、脱気膜モジュールの出口、あるいは入口及
び出口に、溶存気体測定センサ9、例えば、溶存気体
計、溶存窒素計、溶存酸素計などを設置し、超純水中の
総気体量、あるいは、溶存窒素量、溶存酸素量を測定し
て飽和度を求め、信号を真空ポンプに送って超純水の飽
和度と所望飽和度とを対比し、脱気量を調整する。脱気
量の調整は、例えば、真空ポンプによる真空度を真空度
調節弁の開度を調整して行うことができ、あるいは、真
空ポンプを複数台使用する場合は、その稼働台数を制御
してもよく、さらには、脱気する超純水の供給速度を調
整することもできる。水素ガスの供給量は、脱気後の超
純水の気体飽和度を溶存気体測定センサ9により測定
し、水素ガス溶解膜モジュールから流出する水素含有超
純水中の水素ガス濃度を溶存水素測定センサ10により
測定し、それぞれ信号を水素ガス供給器に送り、例え
ば、水素ガス供給路に設けた弁の開度などを調整するこ
とにより制御することができる。
【0012】水中に溶存する気体の濃度は、ヘンリーの
法則で普遍的に規定され、温度が一定であるとき一定量
の液体に対する気体の溶解量は圧力に比例する。したが
って、超純水中の溶存水素ガス濃度を高めるために、従
来は単に超純水と接する気相の水素ガス分圧を高めるこ
とが行われてきた。バブリング、ラインミキシング、気
体透過膜を介した気液接触などによる溶解操作は、いず
れも溶解すべき気体の分圧を高め、さらに単位時間あた
りの溶解量を増やすために、気液接触面積を増大させる
操作といえる。溶解すべき気体が安全かつ安価なもので
あれば、その供給量を過剰にして、目的以外の気体を希
釈することにより目的の気体の分圧を高めて、溶解量を
増やすことができる。しかし、水素ガスの溶解において
は、安全確保、高純度ガスの消費量削減の観点から、供
給した水素ガスを無駄なく全量超純水に溶解することが
求められる。本発明方法によれば、飽和度という指標で
対比することにより、原水として用いる超純水からの目
標の脱気レベルと、脱気した超純水に供給すべき水素ガ
スの量を簡単に求め、水素ガスの無駄を省いて高い水素
ガス溶解効率で水素含有超純水を製造することができ
る。
【0013】
【実施例】以下に、実施例を挙げて本発明をさらに詳細
に説明するが、本発明はこれらの実施例によりなんら限
定されるものではない。なお、実施例、比較例及び参考
例においては、図2に示す試験装置を用いた。本装置
は、面積1.4m2のポリプロピレン製のガス透過膜を備
えた脱気膜モジュール11及び面積1.4m2のポリプロ
ピレン製のガス透過膜を備えた水素ガス溶解膜モジュー
ル12を有し、脱気膜モジュールは真空ポンプ13に、
水素ガス溶解膜モジュールは水素ガス供給器14に接続
されている。また、比較試験のために直径50mm、長さ
300mmのインラインミキサー15を接続している。な
お、試験はすべて温度20℃、超純水の流速1.6リッ
トル/分の条件で行った。 比較例1 超純水を脱気することなく、水素ガス溶解膜モジュール
に送り、水素ガス供給器から飽和度に換算して10倍量
に相当する水素ガスを、水素ガス溶解膜モジュールに送
り込んだ。水素ガス溶解膜モジュールから流出する処理
水中の溶存水素ガスの量は0.6mg/リットルであり、
飽和度に換算すると0.38倍に相当し、水素ガスの溶
解効率は4%であった。 実施例1 超純水を脱気膜モジュールに送り、溶存気体の飽和度が
0.1倍になるまで脱気したのち水素ガス溶解膜モジュ
ールに送り、飽和度に換算して10倍量に相当する水素
ガスを水素ガス溶解膜モジュールに送り込んだ。水素ガ
ス溶解膜モジュールから流出する処理水中の溶存水素ガ
スの量は1.5mg/リットル、飽和度に換算すると0.9
4倍に相当し、水素ガスの溶解効率は9%であった。 実施例2 水素ガス溶解膜モジュールに送り込む水素ガスを、飽和
度に換算して2倍量に相当する量まで減少した外は、実
施例1と同じ条件で試験を続けた。水素ガス溶解膜モジ
ュールから流出する処理水中の溶存水素ガスの量には変
化なく1.5mg/リットル、飽和度に換算すると0.94
倍であり、水素ガスの溶解効率は47%に向上した。 実施例3 水素ガス溶解膜モジュールに送り込む水素ガスを、さら
に飽和度に換算して0.9倍量に相当する量まで減少
し、それ以外は実施例1と同じ条件で試験を続けた。水
素ガス溶解膜モジュールから流出する処理水中の溶存水
素ガスの量は1.4mg/リットル、飽和度に換算すると
0.88倍となり、水素ガスの溶解効率は97%まで向
上した。 実施例4 超純水の溶存気体の飽和度が0.2倍になるよう脱気膜
モジュールで脱気して水素ガス溶解膜モジュールに送
り、飽和度に換算して10倍量に相当する水素ガスを水
素ガス溶解膜モジュールに送り込んだ。水素ガス溶解膜
モジュールから流出する処理水中の溶存水素ガスの量は
1.4mg/リットル、飽和度に換算すると0.88倍に相
当し、水素ガスの溶解効率は9%であった。 実施例5 水素ガス溶解膜モジュールに送り込む水素ガスを、飽和
度に換算して0.8倍量に相当する量まで減少し、それ
以外は実施例4と同じ条件で試験を続けた。水素ガス溶
解膜モジュールから流出する処理水中の溶存水素ガスの
量は1.2mg/リットル、飽和度に換算すると0.75倍
となり、水素ガスの溶解効率は94%に向上した。 実施例6 超純水の溶存気体の飽和度が0.5倍になるよう脱気膜
モジュールで脱気して水素ガス溶解膜モジュールに送
り、飽和度に換算して10倍量に相当する水素ガスを水
素ガス溶解膜モジュールに送り込んだ。水素ガス溶解膜
モジュールから流出する処理水中の溶存水素ガスの量は
1.0mg/リットル、飽和度に換算すると0.63倍に相
当し、水素ガスの溶解効率は6%であった。 実施例7 水素ガス溶解膜モジュールに送り込む水素ガスを、飽和
度に換算して0.5倍量に相当する量まで減少し、それ
以外は実施例6と同じ条件で試験を続けた。水素ガス溶
解膜モジュールから流出する処理水中の溶存水素ガスの
量は0.8mg/リットル、飽和度に換算すると0.50倍
となり、水素ガスの溶解効率は100%にまで達した。 比較例2 超純水を脱気することなく、インラインミキサーに送
り、水素ガス供給器から飽和度に換算して10倍量に相
当する水素ガスを、インラインミキサーに送り込んだ。
インラインミキサーから流出する処理水中の溶存水素ガ
スの量は0.5mg/リットルであり、飽和度に換算する
と0.31倍に相当し、水素ガスの溶解効率は3%であ
った。 実施例8 超純水を脱気膜モジュールに送り、溶存気体の飽和度が
0.1倍になるまで脱気したのちインラインミキサーに
送り、飽和度に換算して10倍量に相当する水素ガスを
インラインミキサーに送り込んだ。インラインミキサー
から流出する処理水中の溶存水素ガスの量は0.8mg/
リットル、飽和度に換算すると0.50倍に相当し、水
素ガスの溶解効率は5%であった。 実施例9 インラインミキサーに送り込む水素ガスを、飽和度に換
算して1.5倍量に相当する量まで減少した外は、実施
例8と同じ条件で試験を続けた。インラインミキサーか
ら流出する処理水中の溶存水素ガスの量は0.7mg/リ
ットル、飽和度に換算すると0.44倍であり、水素ガ
スの溶解効率は29%であった。実施例1〜9及び比較
例1〜2の結果を、まとめて第1表に示す。
【0014】
【表1】
【0015】第1表の結果から、原水の脱気をしない比
較例1〜2の場合には、大量の水素ガスを注入しても処
理水中の溶存水素の濃度は低く、水素ガスの溶解効率も
低い。これに対して、原水の脱気をして溶存気体の飽和
度を0.1〜0.5倍とした実施例1〜9においては、処
理水中の水素ガス濃度を0.7mg/リットル以上とする
ことができ、特に、水素ガス溶解装置として気体透過膜
モジュールを用い、水素ガスの注入量を脱気した気体の
飽和度の低下量に相当する量とした実施例3、実施例5
及び実施例7においては、水素ガスの溶解効率は94〜
100%となり、注入した水素ガスがほぼ完全に超純水
に溶解していることが分かる。
【0016】
【発明の効果】本発明方法により、溶解すべき水素ガス
の飽和度換算量に相当する量の総溶存気体を超純水から
脱気したのち、水素ガスを供給して溶解すれば、水素ガ
スを無駄なく溶解してその使用量を削減することがで
き、電子材料のウェット洗浄において極めて高い洗浄効
果を有する飽和に近い溶存水素ガス濃度の水素含有超純
水を、高い水素ガス溶解効率で容易に得ることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明の水素含有超純水の製造方法の
一態様の工程系統図である。
【図2】図2は、実施例において用いた試験装置の系統
図である。
【符号の説明】
1 流量計 2 脱気膜モジュール 3 真空ポンプ 4 水素ガス溶解膜モジュール 5 水素ガス供給器 6 薬液貯槽 7 薬注ポンプ 8 精密ろ過装置 9 溶存気体測定センサ 10 溶存水素測定センサ 11 脱気膜モジュール 12 水素ガス溶解膜モジュール 13 真空ポンプ 14 水素ガス供給器 15 インラインミキサー

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】超純水を脱気して溶存気体の飽和度を低下
    させたのち、水素ガスを供給して超純水に水素ガスを溶
    解することを特徴とする水素含有超純水の製造方法。
  2. 【請求項2】超純水への水素ガスの溶解を、気体透過膜
    モジュールを用いて行う請求項1記載の水素含有超純水
    の製造方法。
  3. 【請求項3】水素ガスの飽和度換算供給量が、脱気した
    気体の飽和度の低下量にほぼ相当する量である請求項1
    又は請求項2記載の水素含有超純水の製造方法。
JP25284797A 1997-09-02 1997-09-02 水素含有超純水の製造方法 Expired - Lifetime JP3765354B2 (ja)

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