JPH1171667A - スパッタリング装置のターゲット構造 - Google Patents

スパッタリング装置のターゲット構造

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JPH1171667A
JPH1171667A JP23376797A JP23376797A JPH1171667A JP H1171667 A JPH1171667 A JP H1171667A JP 23376797 A JP23376797 A JP 23376797A JP 23376797 A JP23376797 A JP 23376797A JP H1171667 A JPH1171667 A JP H1171667A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 マグネットブロックを固定したまま、安定し
た磁界の作用下で均一な膜厚が得られるスパッタリング
成膜を行う。 【解決手段】 ターゲットホルダ20及びターゲット材
料21を二重筒構造にしたターゲットブロック12を用
いる。ターゲット材料の軸方向長さをL、中心軸からの
平均半径をRとしたとき、0.03≦R/L≦0.12
とする。ターゲットホルダ20の中空部内にマグネット
ブロック22を配置する。マグネットブロック22は、
コア24と、ターゲット材料21の長手方向に沿ってラ
イン状に配置された第1マグネット列25と、その両側
にライン状に配列された一対の第2マグネット列26と
からなる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はスパッタリング装置
に関し、詳しくはターゲット材料を含むターゲット構造
の改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】光学薄膜や導電性薄膜などの各種の薄膜
を形成する際にスパッタリングが行われる。スパッタリ
ングでは、グロー放電で生成された陽イオンを電気的に
加速してターゲット材料に衝突させ、これにより叩き出
された原子を基板に被着させることによって成膜が行わ
れる。グロー放電のために真空槽内にはアルゴンガスな
どの不活性ガスが導入されるが、化学反応性スパッタリ
ングを行う際にはさらに酸素ガス,窒素ガスなどの反応
ガスの導入も行われる。スパッタリングで形成した薄膜
は、抵抗加熱方式や電子線加熱方式に代表される真空蒸
着法で形成した薄膜と比較して、成膜に時間がかかると
いう難点はあるものの、膜構造が緻密で物理,化学的に
安定したものが得られ、また基板への付着力の強い薄膜
が得られるという利点がある。
【0003】スパッタリングの成膜効率を向上させるた
めに、成膜中に磁界を併用したマグネトロンスパッタリ
ング装置が知られている。この装置では、薄膜の被着対
象となる基板とターゲット材料との間に磁界を与え、グ
ロー放電で発生した陽イオンをさらに磁界作用によって
加速してターゲット材料表面に衝突させるようにしてい
る。
【0004】磁界による加速作用を効率的に利用するに
は、本出願人が特願平8−128483号で提案してい
るように、ターゲット材料を円筒状にし、その中空部内
にマグネットを配置するのがよい。これにより、平板状
のターゲット材料を用いる場合と比較して、ターゲット
材料の表面近傍に広い範囲にわたって均一な磁界が得や
すくなり、成膜効率をより向上させることが可能とな
る。さらに、ターゲット材料に対する磁界作用を均一化
するために、磁界の発生に用いられているマグネットと
ターゲット材料とのいずれかを他方に対して相対的に移
動させる工夫も種々提案されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記のように、ターゲ
ット材料に対してマグネットを相対的に移動させる構成
を採った場合、磁界作用の均一化によりターゲット材料
の利用効率及び膜厚の均一化を図ることができるもの
の、ターゲット構造が複雑になってスパッタリング装置
の製造コストが高くなり、また小型化の上でも不利であ
る。
【0006】本発明は上記従来技術を考慮してなされた
もので、ターゲット材料に対してマグネットを固定して
用いながらも、ターゲット材料の表面近傍に生じる磁界
を均一化し、結果的に装置の製造コストを低く抑えると
ともにその小型化を可能としたスパッタリング装置のタ
ーゲット構造を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明のターゲット構造
は、成膜中に一方の電極となる筒状のターゲットホルダ
と、このターゲットホルダの外周面に密着固定された筒
状のターゲット材料と、前記ターゲットホルダの中空部
内に長手方向に沿って配置されターゲット材料の外表面
近傍に磁界を発生させるマグネットとからなり、前記マ
グネットは、ターゲットホルダの長手方向に沿ってライ
ン状に配置され、外周面に向かって一方の磁極を向けた
第1マグネットと、この第1マグネットの両側に沿って
ライン状に配置され、外周面に向かって他方の磁極を向
けた一対の第2マグネットとから構成される。そして、
ターゲット材料の軸方向長さをL、ターゲット材料の中
心軸から外周面までの平均半径をRとしたとき、 0.03 ≦ R/L ≦ 0.12 を満足させるようにしてある。
【0008】ターゲット材料の軸方向長さLと、ターゲ
ット材料の中心軸から外周面までの平均半径Rとの間の
比を上記の範囲に収めることにより、前記第1及び第2
マグネットよってターゲット材料の表面近傍に発生する
磁力線は、ターゲット材料表面の母線に直交するループ
面を形成するとともに、長手方向についてはほぼ均一な
分布となるため、マグネットを固定式に用いても良好な
磁界作用のもとで成膜を行うことが可能となる。
【0009】上記R/Lの値が上記範囲よりも大きくな
ると、ターゲット材料の表面近傍に発生する磁力線の向
きが揃いにくくなり、R/Lの値が上記範囲よりも小さ
くなると、長手方向の中央部の磁束密度がその周囲より
もかなり大きくなり、いずれにしても磁界の均一化が困
難になる。なお、上記範囲内であれば、R/Lの値を小
さくすることによって長手方向の中央部の磁束密度がそ
の周囲よりも大きくなる傾向を示したとしても、ターゲ
ット材料の長手方向に関してマグネットによる磁界に強
度分布をもたせ、中央部がその周囲よりも小さくなるよ
うにしておくことによって調整が可能である。第1及び
第2マグネットには、柱状又は板状をした複数のセグメ
ント磁石を配列して用いるのがコスト面で有利であり、
また形状及び寸法を共通にしたものを用いるのが製造上
簡便である。そして、ターゲット材料の長手方向に関し
て磁界強度に分布をもたせるには、セグメント磁石の配
列を中央部で離散的にすればよい。
【0010】成膜工程中のグロー放電を安定に維持する
には、電極となるターゲットホルダの外周面とターゲッ
ト材料との内周面とを密着させることが重要なポイント
になる。本発明のターゲット構造ではこの点についても
改良がなされている。その一形態は、ターゲット材料を
加熱して膨張させてからその中空部内にターゲットホル
ダを挿入した後、冷却することによってターゲットホル
ダの外周面とターゲット材料の内周面とを密着させて固
定するものである。
【0011】また、加熱したターゲット材料の中空部内
にターゲットホルダを挿入した後、ターゲットホルダの
中空部内に、その内径よりも大きい外径を有する拡張治
具をねじ込みながら挿通することによってターゲットホ
ルダの外周面とターゲット材料の内周面とを密着させる
形態も有効である。いずれにせよ、従来多用されていた
インジウムシール層などの中間層を用いることなく、タ
ーゲットホルダ外周面とターゲット材料内周面との間の
密着固定が行われ、グロー放電を安定に維持するだけで
なく、製造コストを抑える上でも有利である。
【0012】
【発明の実施の形態】図1に本発明を適用したスパッタ
リング装置の外観を示す。真空槽2は、四角筒形状をし
たベルジャ本体3と、その上面及び底面をそれぞれ気密
に覆う蓋4,ベースプレート5からなり、この真空槽2
の内部空間でスパッタリング成膜が行われる。ベルジャ
本体3及び蓋4は、適宜の昇降旋回機構6によってベー
スプレート5に対して昇降自在であり、また蓋4は適宜
のヒンジ機構によりベルジャ本体3に対して開閉自在と
なっている。これらは、真空槽2内のターゲット材料あ
るいは薄膜の被着対象となる基板を交換する際、さらに
は点検整備などの作業時に適宜に移動され、開放され
る。なお、これらの作業のためにベルジャ本体3の周面
に開閉式のドアや窓を設けることも可能である。
【0013】真空槽2の横断面を図2に概略的に示す。
べースプレート5のほぼ中央には排気孔5aが形成され
ている。油拡散ポンプや分子ターボポンプ,スクロール
型ドライ真空ポンプなどの適宜の真空排気装置7により
排気孔5aを通して排気が行われ、真空槽2の内部を1
-6Torr以下の高真空にすることができる。
【0014】真空槽2の内部にはドラム状の基板ホルダ
8が設けられている。基板ホルダ8は、その底面側がベ
ースプレート5によって回転自在に支持されており、ス
パッタリングを行うときに適宜に回転させることができ
る。基板ホルダ8は導電性を有し、ベルジャ本体3及び
蓋4、さらにベースプレート5に対して電気的に絶縁さ
れており、スパッタリングを行うときには陽電極として
用いられる。この基板ホルダ8には、薄膜の被着対象と
なるガラスレンズ,プラスチックレンズあるいは平板ガ
ラスなどの基板10が保持される。なお、基板ホルダ8
に対して基板10が回転できるように保持し、例えばゼ
ネバ機構などの回転装置によって基板10を垂直な軸の
回りに回転させる構造にすることも可能である。これに
よれば、一回の真空引きで基板10の表裏いずれの面に
も薄膜の被着が可能となる。
【0015】真空槽2の内部の四隅には円筒状のターゲ
ットブロック12が設置され、さらにターゲットブロッ
ク12の各々を取り囲むように導電性を有する回転式の
シャッタ13が設けられている。ターゲットブロック1
2は陰電極となって基板ホルダ8との間で放電を発生さ
せるが、図示のようにシャッタ13がターゲットブロッ
ク12と基板ホルダ8との間に移動しているときには成
膜は行われない。なお、成膜時にターゲットブロック1
2が他のターゲットブロック12からの飛散粒子で汚染
されることを防ぐために、各ターゲットブロック12を
相互に区画するように、ベースプレート5に遮蔽板を設
置しておいてもよい。
【0016】ベルジャ本体3にガス供給パイプ15,1
6が接続され、その一方から例えばアルゴンガスなどの
放電ガスが真空槽2内に導入される。他方のガス供給パ
イプからは化学反応性スパッタリングを行うときには、
酸素などの反応ガスが導入される。真空槽2内におい
て、放電ガスの供給口はターゲットブロック12の近傍
に臨み、反応ガスの供給口は基板ホルダ8の近傍に位置
している。これにより、ターゲット材料近傍では放電ガ
スの分布密度を高く、基板10の近傍では反応ガスの分
布密度を高くすることができ、スパッタリング成膜中に
ターゲット材料近傍でグロー放電を安定化させるととも
に、ターゲット材料の表面自体が反応ガスに直接的に曝
されて化学反応してしまうことを防ぐ。
【0017】ベースプレート5に冷却水の供給,排出パ
イプ17a,17bが設けられている。供給パイプ17
aからの冷却水は真空槽2内に設置された配管を通って
ターゲットブロック12に導かれ、成膜工程中にターゲ
ット材料が過熱することを防止する。
【0018】図3及び図4にターゲット構造の概略を一
部破断して示す。ターゲットブロック12は、導電性を
有するステンレス製あるいは銅製の円筒状をしたターゲ
ットホルダ20と、ターゲットホルダ20の外周面に内
周面を密着させて固定した円筒状のターゲット材料21
とからなる。ターゲット材料21の半径をR、長さをL
としたとき、 0.03 ≦ R/L ≦ 0.12 を満足するようにその寸法が決められ、さらにその厚み
を考慮してターゲットホルダ20の外径と長さが決めら
れる。
【0019】ターゲットホルダ20の下端側にはネジが
きられており、ベースプレート5に設けられた電極ソケ
ット部に対して電気的に接続され、また機械的に固定さ
れる。また、ターゲット材料21の上端部にはネジ溝2
1aが切られており、このネジ条21aは図6に示すよ
うに冷却水の供給管29をねじ込み固定するために用い
られ、両者間にはOリング30が嵌め込まれる。
【0020】ターゲットホルダ20の中空部内にはベー
スプレート5に固定されたマグネットブロック22が配
置され、これによりスパッタリング装置のターゲット構
造が構成される。マグネットブロック22は、ベースプ
レート5に立設されたロッド23で支持された鉄製のコ
ア24と、コア24に固定された第1マグネット列25
と、第1マグネット列25を取り囲むようにコア24に
固定された第2マグネット列26とからなる。
【0021】第1,第2マグネット列25,26はター
ゲットホルダ20の長手方向に沿って延ばされ、特に第
2マグネット列26は第1マグネット列25を中心に挟
むように、延びた部分を主要部としている。ターゲット
ホルダ20の内周面に向けられた側の磁極は、第1マグ
ネット列25がN極、第2マグネット列26がS極とな
っている。そして、各々の磁極の先端とターゲットホル
ダ20の内周面まではほぼ等距離にしてある。したがっ
てターゲット材料21の任意の横断面においては、図4
に破線で示すような多数の磁力線が発生し、そのループ
面はターゲット材料21の外周面上の母線と直交する。
なお、ターゲット材料21の長手方向については全く同
様の磁力線が得られ、筒状をしたターゲット材料21の
全外周面のうち、基板ホルダ8側に対面したほぼ半周に
わたって均一な磁界が得られるようになる。
【0022】前記第1マグネット列25には1枚の板状
にした永久磁石を用いることができ、また第2マグネッ
ト列26には、第1マグネット列25の4周を取り囲む
ように、4枚の板状の永久磁石を用いることができる
が、図示の例では、これらの第1,第2マグネット列2
5,26をそれぞれ複数のセグメント磁石25a,26
aを配列して構成してある。各々のセグメント磁石25
a,26aは同じ形状,寸法をした小片板状のもので、
例えばターゲット材料21の長手方向に沿う縦長さが1
5mm、横長さが10mm、厚みが5mm程度のものを
用いることができる。
【0023】ターゲットホルダ20の中空部は、上記マ
グネットブロック22の設置スペースになるほか、冷却
水の流路としても用いられる。ターゲットホルダ20の
中空部内に冷却水を通すことによってターゲットホルダ
20及びターゲット材料21の過熱を防ぐことができ、
グロー放電を安定に保ち、またターゲット材料21の不
要な化学反応を防ぐことができる。
【0024】上記のスパッタリング装置を用いて成膜を
行うにあたっては、まず昇降旋回機構6を作動させてベ
ルジャ本体3及び蓋4を開放し、各々のターゲットホル
ダ20にターゲット材料21を装着する。また、基板ホ
ルダ8にレンズや平板ガラスなどの基板10を保持さ
せ、その一方の面をターゲットブロック12側に向け
る。なお、各ターゲットホルダ20には同種のターゲッ
ト材料21を装着してもよいが、多層膜を成膜する際に
は、ターゲットホルダごとに異種のターゲット材料21
を装着することも可能である。
【0025】ベルジャ本体3及び蓋4を閉じ、真空排気
装置7を作動させて真空引きを開始する。真空槽2を1
-6Torrオーダーの高真空にした後、放電ガスと反応ガ
スとを所定の混合比で導入し、例えば真空槽2内を1×
10-3〜1.4×10-3Torrのガス圧に保つ。ガス供給
パイプ15,16には調整用のバルブが組み込まれてお
り、これらを制御することによって、放電ガスと反応ガ
スとの混合比及び真空槽2内のガス圧を適宜に調節する
ことができる。
【0026】ターゲットホルダ20に冷却水を通し、シ
ャッタ13が全て閉じられていることを確認した後、基
板ホルダ8(陽極)とターゲットホルダ20(陰極)と
の間に例えば3kWの直流電力を供給する。これにより
導電性のシャッタ13を通して放電が開始され、基板ホ
ルダ8とターゲットブロック12との間には放電ガスの
プラズマが生成される。そして、この条件下で基板ホル
ダ8を10R.P.M.程度で回転させてからシャッタ13を
開いてスパッタリング成膜を開始する。
【0027】シャッタ13を開放すると、ターゲット材
料21の近傍にはプラズマ状態になった放電ガスが豊富
に分布しているから、放電ガスが電離して生じる陽イオ
ンは勢いよくターゲット材料21の表面に衝突する。こ
れによりターゲット材料21の表面からその原子が叩き
出され、これが基板10の表面に被着して薄膜の形成が
行われる。ターゲットホルダ20内のマグネットブロッ
ク22は電界と直交する向きに磁界を生じさせているた
め、放電とともに基板ホルダ8から飛び出してくる電子
に螺旋運動を生じさせ、その平均自由工程を大きくす
る。これにより放電ガス分子との衝突の確率が大きくな
って放電ガスの電離が促進され、成膜効率を高めること
ができる。
【0028】ターゲットホルダ20の全てに同種のター
ゲット材料21を装着しているときには、シャッタ13
の全てを開放し、基板ホルダ8を回転させながら全ての
ターゲットブロック12を利用して成膜が行われる。こ
のように、基板ホルダ8を回転させながら成膜を行う
と、基板10には様々な方向からスパッタリングが行わ
れ、ターゲットブロック15との相対位置は無関係にな
り、方向性のない均一な膜厚で成膜を行うことができ
る。
【0029】また、ターゲットホルダ20のいくつかに
別の種類のターゲット材料21を装着したときには、基
板10に形成する薄膜の層構造に応じ、適宜のシャッタ
13を選択的に開放,閉止して成膜を行う。さらに、基
板10の片面への成膜を終えた後には、他方の面をター
ゲットブロック12側に向け、真空槽2の排気を一回行
うだけで、基板10の両面に薄膜を被着させることが可
能となる。
【0030】
【実施例】ターゲット材料21に円筒形状(外径45m
m、内径35mm、長さ400mm)に成形した金属タ
ンタルを用い、アルゴンガスを放電ガスとし、酸素ガス
を反応ガスとして導入しながらスパッタリングを行い、
基板10に被着された酸化タンタル(Ta2 5 )薄膜
の膜厚分布を検証した。放電条件は次のとおり。 アルゴンガス分圧 1.1×10-3Torr 酸素ガス分圧 1.8×10-3Torr 基板ホルダ外径 300mm ターゲット材料と基板間の最短距離 70mm 成膜時の入力電力 3kW 放電電流 460mA
【0031】マグネットブロック22に関しては、コア
24を純鉄とし、第1,第2マグネット列25,26を
前述した15×10×5mmのサイズにした小片板状の
セグメント磁石25a,26aを均一に配列して構成
し、セグメント磁石25a,26aにはNd−Fe−B
合金からなるネオジ磁石を用いた。また、第1,第2マ
グネット列25,26の各磁極をターゲットホルダ20
の内周面に内接させてある。このマグネットブロック2
2の使用により、ターゲット材料21の表面近傍におい
て、最大で約4000ガウスの磁束密度が得られた。
【0032】さらに、マグネットブロック22による磁
界作用を確認するために、マグネットブロック22の長
手方向に関し、その中央部で磁束密度が低くなるように
調整したものを用いて同様の放電条件のもとで成膜を行
った。中央部の磁束密度を低くするためには、図5
(A)にハッチングで示すように、第1,第2マグネッ
ト列25,26を構成しているセグメント磁石25a,
26aの相互間に非磁性体27を挟んである。セグメン
ト磁石25a,26aが配列の中央部で最も離散的にな
るように、非磁性体27の長さを15mm,11mm,
8mm,5mmの4種類とし、中央部に関して左右対象
となるように介装した。なお、非磁性体27を用いず
に、単にセグメント磁石25a,26aの配列間隔を開
けてもほぼ同様の作用が得られる。
【0033】図5(B)に通常のマグネットブロック2
2と、中央部で磁束密度が低くなるように調整したマグ
ネットブロックとの相対磁束密度を示す。同図中、破線
が通常のマグネットブロック22によるもの、実線が調
整後のマグネットブロックによるものを表している。通
常のマグネットブロック22では中央部の磁束密度が大
きく、端部側で徐々に小さくなっているのに対し、調整
後のマグネットブロックでは中央部が低く、その両側に
2つのピークをもっていることが分かる。調整後のマグ
ネットブロックは、調整前のものと比較してトータル的
には磁束密度が小さくなっているが(中央部では40%
程度まで低下)、その最大値と最小値との差が小さく、
長手方向に関してより均一化された磁界を発生する。
【0034】成膜実験を行い、マグネットブロックの長
手方向に関する膜厚分布を測定した結果を図5(C)に
示す。破線は通常のマグネットブロック22を用いたも
の、実線は非磁性体27を用いて調整したマグネットブ
ロックを用いたものを示す。これらを比較すると、図5
(B)に示す相対磁束密度の分布特性に対応し、調整後
のマグネットブロックを用いた方が膜厚分布も均一化さ
れていることが分かる。なお、通常のマグネットブロッ
ク22を用いた場合であっても、ターゲット材料21の
半径Rと長さLとの比が 0.03 ≦ R/L ≦ 0.12 の範囲内であれば、両端部を除き、中央部を含む大部分
の範囲内で膜厚分布がほぼ均一となるから、両端部を遮
蔽板で隠して成膜を行えば実用に供することが充分に可
能である。
【0035】同図中、一点鎖線で示した膜厚分布は、タ
ーゲット材料21の外径を50mmにしたものを用いた
場合で、マグネットブロックには調整後のものを用い、
他の条件は同様にしてある。ターゲット材料21の半径
Rと長さLとの比が大きくなると、中央部での膜厚低下
分が少なくなっていく傾向が確認された。
【0036】上記のように、ターゲット材料21を円筒
状にして用い、しかもその半径Rと長さLとの比を
「0.03 ≦ R/L ≦ 0.12」の範囲にして
おくと、従来のようにターゲット材料を板状にしたもの
と比較して磁界の作用を均一化する上で格段に有利とな
り、ターゲット材料21の長手方向に関し、成膜時の膜
厚分布も均一にすることが可能となる。なお、ターゲッ
ト材料21を筒状にするにあたっては、必ずしも円筒形
状だけに限られず、例えば多角形筒状のものにしてもよ
い。この場合、前記半径Rは中心軸から周面までの平均
半径となる。
【0037】以上のように、本発明に用いられるターゲ
ットブロック12はターゲットホルダ20とターゲット
材料21との二重筒構造をしているが、ターゲットホル
ダ20の外周面とターゲット材料21の内周面との密着
固定もまた、成膜時の放電を安定に保つうえで重要なポ
イントとなる。
【0038】従来においては、放電時に一方の電極とな
るターゲットホルダにターゲット材料を密着固定するに
は、導電性に富むインジウムをシール材に用いるのが通
常であり、ターゲットホルダ及びターゲット材料がそれ
ぞれ平板状のものであるときには簡便な手法となってい
る。ところが、本発明に用いられている二重筒状のター
ゲットブロック12に同様のインジウムシールを適用し
ようとすると、その作業がきわめて煩雑なものとなる。
【0039】さらに、スパッタリング成膜が進んでター
ゲット材料が消耗し、ターゲットブロックの表面にわず
かでもインジウムシール部分が露呈すると、インジウム
は沸点が低いため真空槽2内にインジウムが飛散してし
まい、真空槽内部の復旧が面倒であるという難点があ
る。このため、インジウムシールを用いた場合にはター
ゲット材料の肉厚に応じ、かなりの安全度をみてターゲ
ット材料の使用肉厚限界を決めておく必要がある。
【0040】この点、本発明のターゲットブロック12
は、インジウムシールなどのシール材を用いることなく
ターゲットホルダ20とターゲット材料21との密着固
定を行っている。したがって、ターゲット材料に使用肉
厚限界はあるものの、インジウムシールを用いた場合と
比較して異物の飛散が軽微であるため使用肉厚限界をよ
り有利に決めることが可能となる。
【0041】図7は、本発明に用いられるターゲットブ
ロック12の製作手順の一例を概念的に示す。電気炉3
2にターゲット材料21を入れ、ヒータ33で加熱す
る。均一な加熱のためにターゲット材料21の外周面に
はカーボン布34を巻いてある。そして、電気炉32内
に10cc/秒の割合でアルゴンガスを供給しながら、
カーボン布34の表面温度を監視しながら徐々に加熱を
行う。続いて電気炉32の蓋を開け、充分に冷却したホ
ルダ材35をターゲット材料21の中空部内に挿入す
る。そして電気炉32内で徐冷した後、これらを電気炉
32から取り出し、ホルダ材35に後加工を施してター
ゲットブロック12を得る。
【0042】上記手法を採る場合において、ターゲット
材料21の線膨張率をαA 、ホルダ材35の線膨張率を
αB とし、ターゲット材料21の内径をφA 、ホルダ材
35の外径をφB とすると、まず前加工の段階(25°
C状態)で「φA =φB −β」(但し、β=0.01〜
0.5mm程度)にしておく。ターゲット材料21をT
v°Cまで加熱したとすると、「αA (Tv−25)≫
β」、すなわち φA (1+αA (Tv−25))≫φB が成り立つから、ターゲット材料21の中空部内に簡単
にホルダ材35を挿入することができる。そして、冷却
によってターゲット材料21が収縮するから、両者は機
械的に完全に密着した状態となる。上記手法はαA ≦α
B 、αA >αB のいずれの場合でも適用でき、αA >α
B の場合にはβの値を小さくすることができる。
【0043】ターゲット材料21にタンタル金属、ホル
ダ材35に銅を用いた場合の具体例について説明する。
ターゲット材料21は、25°Cにおいて内径が50.
00mm、外径が60.00mm、長さが500mm
で、10°C〜50°Cでの線膨張率αA は6.3×1
-6である。ホルダ材35は、25°Cにおいて内径が
43.00mm、挿入部分の外径が50.10mm、挿
入部分の長さが500mmで、10°C〜50°Cでの
線膨張率αB は16.2×10-6である。なお、ホルダ
材35のフランジ部は外径が56.00mm、長さが1
00mmとなっている。
【0044】図7に示すように、ターゲット材料21を
カーボン布34で包んで電気炉32に入れ、その下部か
らアルゴンガスを10cc/秒の割合で供給しながら6
50°Cまで加熱した。ホルダ材35についてはドライ
アイスで冷却し、表面温度が−60°Cになるまで冷や
しておく。電気炉32内でターゲット材料21の温度が
650°Cに達した時点で電気炉32の蓋を開き、冷却
したホルダ材35を速やかにターゲット材料21の中空
部内に挿入した。電気炉32内で100°C/時間の割
合で徐々に温度を下げ、6時間後に取り出した。そし
て、ホルダ材35に後加工を施してターゲットブロック
12を得た。
【0045】このようにして得たターゲットブロック1
2を用い、ターゲットホルダ20の銅表面が露出するま
でスパッタリング成膜テストを行った。銅が露出するま
での間は全く異常なく成膜を行うことができ、また銅が
露出した時点で真空槽2内の放電色が白赤色から赤黄色
に変化した。これは、タンタルと銅との両者の放電であ
り、基板10には光吸収率が高い薄膜が形成された。な
お、上記ホルダ材35にアルミニウムを用いて同様の手
順でターゲットブロック12を製作したが、良好な結果
が得られている。この時のターゲット材料21の加熱温
度は350°Cである。
【0046】図8にターゲットブロック12の他の製作
法を示す。ターゲット材料21はタンタル金属、ホルダ
材36はアルミニウムである。ターゲット材料21の内
径は50.00mm、外径は60.00mm、長さは5
00mmである。このターゲット材料21に予め図示し
た形状のホルダ材36を挿入する。ホルダ材36は、挿
入部の外径が45.50mm、外径が49.90mm、
挿入部長さが500mmである。一端側にフランジが形
成され、その外径は56mm、内径は47.00mm
で、フランジ部と挿入部との内径差は、5mm幅のテー
パ面36aで連絡してある。
【0047】常温下で、図8に示すようにターゲット材
料21の中空部内にホルダ材36を挿入し、両者を別途
機械的な手段で固定しておく。そして、ホルダ材36の
中空部内に冷却オイルを流しながら、フランジ部側から
拡開治具38をねじ込む。拡開治具38の外径はホルダ
材36の内径よりも0.2mm大きくし、45.70m
mとした。拡開治具38の回転速度は20〜50RPM
とし、押し込み速度は10mm/分にした。
【0048】上記拡開治具38を一回挿通させた後、そ
れよりも外径が0.02mm大きい別の拡開治具を同様
にしてねじ込んで挿通させる。同様の手順で、合計7回
にわたって外径を0.02mmずつ大きくした拡開治具
をねじ込んだ。これによりホルダ材36の内径が押し広
げられ、ターゲット材料21の内周面との強固な密着が
得られた。こうして得たターゲットブロックを用いて
も、良好なスパッタリング成膜を行うことができた。
【0049】上記の拡開治具を用いたターゲットブロッ
クの製作を行う際に、ホルダ材36の外周面とターゲッ
ト材料21の内周面にネジを切り、拡開治具をねじ込む
前のホルダ材36とターゲット材料21との機械的な固
定を両者の螺合で行ったものは、スパッタリングの進行
に伴ってホルダ材36の表面が露出した瞬間に急激に真
空槽2内の真空度が劣化した。
【0050】これは、ホルダ材36とターゲット材料2
1との螺合部における空間内に大気が残留していたこと
が原因であると考えられるが、逆に、この真空度の劣化
によりターゲット材料21が使用限界に達したことを判
別することが可能である。さらに、両者が螺合部を介し
て密着しているためその接触面積が大きく、スパッタリ
ングが正常に行われている間には充分な放熱効果が得ら
れるという利点も得られる。
【0051】なお、図7及び図8に示すターゲットブロ
ックの製作法は、ターゲットホルダ内に配置されるマグ
ネットブロックの形状や構造の如何にかかわらず汎用性
があり、マグネトロンスパッタリング装置だけでなく、
ターゲットホルダ及びターゲット材料を二重筒構造にし
て用いる全てのスパッタリング装置に等しく適用するこ
とができる。
【0052】以上、図示した実施形態にしたがって本発
明について説明してきたが、本発明は特許請求の範囲に
記載された範囲内で他の形態のもとでも実施可能であ
る。例えば、ターゲット材料やターゲットホルダの材質
は、スパッタリング技術で周知である種々のものを選択
することが可能であり、マグネットブロックについても
様々な永久磁石はもとより、電磁石を用いることも原理
的には可能である。また、ベルジャ本体の形状にしても
必ずしも四角筒状のものに限らず、円筒形状のものを用
いたり、さらに基板ホルダの内周側にターゲットブロッ
クを配置したものにも本発明は適用可能である。
【0053】
【発明の効果】上述のように、本発明のターゲット構造
を用いることによって、マグネトロンスパッタリングを
行う際に、ターゲット材料の表面に安定した磁界を作る
ことが可能となり、グロー放電の安定化、成膜効率の向
上、基板上に被着される薄膜の膜厚の均一化が達成さ
れ、低コストで薄膜の形成を行うことができる。また、
安定した磁界を得るために、従来のようにマグネットを
移動させることを要しないため、スパッタリング装置自
体の製造コストも低く抑えることができ、メンテナンス
も容易になる。さらに、二重筒状をしたターゲットブロ
ックを製作するために、従来多用されているインジウム
シールを用いずに済むため、ターゲット材料を使用限界
を越えて不用意に使用するようなことがあったとして
も、真空槽内部の復旧が容易である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を用いたスパッタリング装置の外観図で
ある。
【図2】図1に示すスパッタリング装置の要部を示す概
略横断面図である。
【図3】ターゲット構造の概略を示す部分破断斜視図で
ある。
【図4】図3に示すターゲット構造の要部横断面図であ
る。
【図5】磁束密度分布に差をもたせたマグネットブロッ
クの概略図及び、これによる相対磁束密度,相対付着膜
厚の分布特性を表す特性図である。
【図6】ターゲットブロックの要部縦断面図である。
【図7】ターゲットブロックの製作過程を示す説明図で
ある。
【図8】ターゲットブロックの他の製作過程を示す説明
図である。
【符号の説明】
2 真空槽 3 ベルジャ本体 12 ターゲットブロック 13 シャッタ 20 ターゲットホルダ 21 ターゲット材料 22 マグネットブロック 24 コア 25 第1マグネット列 26 第2マグネット列 25a,26a セグメント磁石 27 非磁性体 32 電気炉 35,36 ホルダ材 38 拡開治具

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 磁界内で成膜を行うマグネトロンスパッ
    タリング装置のターゲット構造において、 成膜中に一方の電極となる筒状のターゲットホルダと、
    このターゲットホルダの外周面に密着固定された筒状の
    ターゲット材料と、前記ターゲットホルダの中空部内に
    長手方向に沿って配置されターゲット材料の外表面近傍
    に磁界を発生させるマグネットとからなり、前記マグネ
    ットは、ターゲットホルダの長手方向に沿ってライン状
    に配置され、外周面に向かって一方の磁極を向けた第1
    マグネットと、この第1マグネットの両側に沿ってライ
    ン状に配置され、外周面に向かって他方の磁極を向けた
    一対の第2マグネットとから構成されるとともに、ター
    ゲット材料の軸方向長さをL、ターゲット材料の中心軸
    から外周面までの平均半径をRとしたとき、 0.03 ≦ R/L ≦ 0.12 としたことを特徴とするスパッタリング装置のターゲッ
    ト構造。
  2. 【請求項2】 前記マグネットは、ターゲット材料の長
    手方向に関し、中央部がその周囲よりも小さい磁界を与
    えることを特徴とする請求項1記載のスパッタリング装
    置のターゲット構造。
  3. 【請求項3】 前記第1及び第2マグネットは、柱状又
    は板状をした複数のセグメント磁石をライン状に配列し
    て構成されていることを特徴とする請求項2記載のスパ
    ッタリング装置のターゲット構造。
  4. 【請求項4】 前記複数のセグメント磁石は共通の形状
    及び寸法を有し、第1又は第2マグネットの少なくとも
    一方を構成するセグメント磁石の配列が、ターゲット材
    料の長手方向に関し、中央部では端部側よりも離散的で
    あることを特徴とする請求項3記載のスパッタリング装
    置のターゲット構造。
  5. 【請求項5】 前記ターゲット材料を加熱して膨張させ
    てからその中空部内にターゲットホルダを挿入した後、
    冷却することによってターゲットホルダの外周面とター
    ゲット材料の内周面とを密着させて固定したことを特徴
    とする請求項1記載のスパッタリング装置のターゲット
    構造。
  6. 【請求項6】 加熱したターゲット材料の中空部内にタ
    ーゲットホルダを挿入した後、ターゲットホルダの中空
    部内に、その内径よりも大きい外径を有する拡張治具を
    ねじ込みながら挿通することによってターゲットホルダ
    の外周面とターゲット材料の内周面とを密着させて固定
    したことを特徴とする請求項1記載のスパッタリング装
    置のターゲット構造。
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