JPH1153269A - メモリ診断装置および方法 - Google Patents
メモリ診断装置および方法Info
- Publication number
- JPH1153269A JPH1153269A JP9205736A JP20573697A JPH1153269A JP H1153269 A JPH1153269 A JP H1153269A JP 9205736 A JP9205736 A JP 9205736A JP 20573697 A JP20573697 A JP 20573697A JP H1153269 A JPH1153269 A JP H1153269A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- memory
- block
- program
- memory block
- diagnostic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 メモリ診断時、メモリに異常があった場合
に、診断プログラムが破壊されることを防止すると共
に、メモリ診断時間を短縮する。 【解決手段】 複数のメモリブロック１ａ，１ｂ，１ｃ
と、これらメモリブロック単位で自由にアドレス割り当
てを変更できる機能とを有する情報処理装置で、診断プ
ログラムの存在するメモリブロック１ａと、診断するメ
モリブロック１ｂ，１ｃとを分離してメモリ診断を行
う。全てのメモリブロック１ｂ，１ｃの診断終了後に、
診断プログラム１１ａを、正常なメモリブロック１ｂに
移動させて、診断プログラム１１ｂとし、この診断プロ
グラム１１ｂにより最初に診断プログラムの存在してい
たメモリブロック１ａの未診断のエリア１２ａを診断す
る。
に、診断プログラムが破壊されることを防止すると共
に、メモリ診断時間を短縮する。 【解決手段】 複数のメモリブロック１ａ，１ｂ，１ｃ
と、これらメモリブロック単位で自由にアドレス割り当
てを変更できる機能とを有する情報処理装置で、診断プ
ログラムの存在するメモリブロック１ａと、診断するメ
モリブロック１ｂ，１ｃとを分離してメモリ診断を行
う。全てのメモリブロック１ｂ，１ｃの診断終了後に、
診断プログラム１１ａを、正常なメモリブロック１ｂに
移動させて、診断プログラム１１ｂとし、この診断プロ
グラム１１ｂにより最初に診断プログラムの存在してい
たメモリブロック１ａの未診断のエリア１２ａを診断す
る。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、メモリ診断方法に
関する。
関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、メモリ診断は、メモリと比べると
低速なＲＯＭ上のプログラムでメモリを診断していた。
従って、低速のために時間短縮を行う必要があり、メモ
リの一部をＲＯＭ上のプログラムで診断し、このエリア
の診断が終了したら、このエリアに診断プログラムをＲ
ＯＭから移動させ、このメモリプログラムで、残りのメ
モリを診断していた。
低速なＲＯＭ上のプログラムでメモリを診断していた。
従って、低速のために時間短縮を行う必要があり、メモ
リの一部をＲＯＭ上のプログラムで診断し、このエリア
の診断が終了したら、このエリアに診断プログラムをＲ
ＯＭから移動させ、このメモリプログラムで、残りのメ
モリを診断していた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来例では、
メモリのアドレス線故障があった場合に、診断プログラ
ムが破壊されることが起こり得る。そのため、診断プロ
グラムが誤動作し、正常なメモリがあっても異常メモリ
の縮退機能が動作できずに、装置が起動動作しないとい
う問題があった。
メモリのアドレス線故障があった場合に、診断プログラ
ムが破壊されることが起こり得る。そのため、診断プロ
グラムが誤動作し、正常なメモリがあっても異常メモリ
の縮退機能が動作できずに、装置が起動動作しないとい
う問題があった。
【０００４】また、上記問題点を回避する目的で、初期
に診断する診断プログラム配置用のメモリエリアをアド
レス線に影響されない範囲とするため、ＲＯＭ診断プロ
グラムによる診断エリアが広くなり、時間がかかるとい
う問題があった。
に診断する診断プログラム配置用のメモリエリアをアド
レス線に影響されない範囲とするため、ＲＯＭ診断プロ
グラムによる診断エリアが広くなり、時間がかかるとい
う問題があった。
【０００５】そこで、本発明の目的は、上記問題点を解
決し、障害発生時の誤動作防止を図ることにある。
決し、障害発生時の誤動作防止を図ることにある。
【０００６】また、本発明の他の目的は、診断時間の時
間短縮を図ることにある。
間短縮を図ることにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明のメモリ診断装置は、複数のメモリブロック
と、複数のメモリブロックのアドレス割り当てを、メモ
リブロック単位に自由に変更できる手段とを備えたメモ
リ診断装置において、複数のメモリブロックが、複数の
メモリブロックを診断するメモリ診断プログラムを最初
に有する第１のメモリブロックと、第１のメモリブロッ
クと分離された他のメモリブロックである第２のメモリ
ブロックとを備え、メモリ診断プログラムが、第２のメ
モリブロックを診断することにより、メモリ診断中のメ
モリ故障によるプログラム破壊を防止したことを特徴と
する。
に、本発明のメモリ診断装置は、複数のメモリブロック
と、複数のメモリブロックのアドレス割り当てを、メモ
リブロック単位に自由に変更できる手段とを備えたメモ
リ診断装置において、複数のメモリブロックが、複数の
メモリブロックを診断するメモリ診断プログラムを最初
に有する第１のメモリブロックと、第１のメモリブロッ
クと分離された他のメモリブロックである第２のメモリ
ブロックとを備え、メモリ診断プログラムが、第２のメ
モリブロックを診断することにより、メモリ診断中のメ
モリ故障によるプログラム破壊を防止したことを特徴と
する。
【０００８】また、メモリ診断プログラムが、第２のメ
モリブロックを診断する際、第２のメモリブロックが正
常か否かを判断するのが好ましい。
モリブロックを診断する際、第２のメモリブロックが正
常か否かを判断するのが好ましい。
【０００９】さらに、メモリ診断プログラムを、第２の
メモリブロックの全ての診断終了後、正常であると判断
されたメモリブロックのいずれかに移動する手段と、移
動する手段により、第１のメモリブロックを診断する手
段とを備え、最初に診断するメモリ診断プログラム用の
メモリエリアをプログラムサイズ分に抑え、診断時間を
短縮するのが好ましい。
メモリブロックの全ての診断終了後、正常であると判断
されたメモリブロックのいずれかに移動する手段と、移
動する手段により、第１のメモリブロックを診断する手
段とを備え、最初に診断するメモリ診断プログラム用の
メモリエリアをプログラムサイズ分に抑え、診断時間を
短縮するのが好ましい。
【００１０】また、本発明のメモリ診断方法は、複数の
メモリブロックのアドレス割り当てを、メモリブロック
単位に自由に変更して複数のメモリブロックをメモリ診
断プログラムにより診断するメモリ診断方法において、
メモリ診断プログラムが最初に存在するメモリブロック
と、メモリ診断プログラムが最初に存在するメモリブロ
ック以外のメモリブロックとを分離するステップと、メ
モリ診断プログラムにより、メモリ診断プログラムが最
初に存在するメモリブロック以外のメモリブロックを診
断するステップと、メモリ診断プログラムが最初に存在
するメモリブロック以外のメモリブロックを全て診断し
た後に、メモリ診断プログラムを正常なメモリブロック
に移動するステップと、移動するステップにより移動し
たメモリ診断プログラムにより、メモリ診断プログラム
が最初に存在するメモリブロックの未診断エリアを診断
するステップとを含むことを特徴とする。
メモリブロックのアドレス割り当てを、メモリブロック
単位に自由に変更して複数のメモリブロックをメモリ診
断プログラムにより診断するメモリ診断方法において、
メモリ診断プログラムが最初に存在するメモリブロック
と、メモリ診断プログラムが最初に存在するメモリブロ
ック以外のメモリブロックとを分離するステップと、メ
モリ診断プログラムにより、メモリ診断プログラムが最
初に存在するメモリブロック以外のメモリブロックを診
断するステップと、メモリ診断プログラムが最初に存在
するメモリブロック以外のメモリブロックを全て診断し
た後に、メモリ診断プログラムを正常なメモリブロック
に移動するステップと、移動するステップにより移動し
たメモリ診断プログラムにより、メモリ診断プログラム
が最初に存在するメモリブロックの未診断エリアを診断
するステップとを含むことを特徴とする。
【００１１】また、メモリ診断プログラムが最初に存在
するメモリブロック以外のメモリブロックを診断するス
テップが、順次メモリブロックを診断し、正常なメモリ
ブロックが見つけるまで、メモリブロックを変更しなが
ら診断することを含むのが好ましい。
するメモリブロック以外のメモリブロックを診断するス
テップが、順次メモリブロックを診断し、正常なメモリ
ブロックが見つけるまで、メモリブロックを変更しなが
ら診断することを含むのが好ましい。
【００１２】さらに、メモリ診断プログラムを正常なメ
モリブロックに移動するステップが、正常なメモリブロ
ックのアドレスを、メモリ診断プログラムが最初に存在
するメモリブロックのアドレスと変更することを含むの
が好ましい。
モリブロックに移動するステップが、正常なメモリブロ
ックのアドレスを、メモリ診断プログラムが最初に存在
するメモリブロックのアドレスと変更することを含むの
が好ましい。
【００１３】本発明は、特に、複数のメモリブロック
と、メモリブロック単位で自由にアドレス割り当てを変
更できる機構を有する情報処理装置で、診断プログラム
の存在するメモリブロックと診断するメモリブロックと
を分離してメモリ診断を行う。その際、診断プログラム
を、診断プログラムの存在するメモリブロック以外の全
てのメモリブロックが診断終了後に、正常なメモリブロ
ックに移動させて、最初に診断プログラムの存在してい
たメモリブロックの未診断エリアを診断する。
と、メモリブロック単位で自由にアドレス割り当てを変
更できる機構を有する情報処理装置で、診断プログラム
の存在するメモリブロックと診断するメモリブロックと
を分離してメモリ診断を行う。その際、診断プログラム
を、診断プログラムの存在するメモリブロック以外の全
てのメモリブロックが診断終了後に、正常なメモリブロ
ックに移動させて、最初に診断プログラムの存在してい
たメモリブロックの未診断エリアを診断する。
【００１４】上記構成により、複数のメモリブロックに
より、診断プログラムのメモリブロックと診断メモリブ
ロックとを分けることで、メモリ診断中のメモリ故障に
よるプログラム破壊が起きない。初期に診断する診断プ
ログラム用メモリエリアをプログラムサイズ分に抑える
ことで、診断時間を短縮できる。
より、診断プログラムのメモリブロックと診断メモリブ
ロックとを分けることで、メモリ診断中のメモリ故障に
よるプログラム破壊が起きない。初期に診断する診断プ
ログラム用メモリエリアをプログラムサイズ分に抑える
ことで、診断時間を短縮できる。
【００１５】
【発明の実施の形態】次に、本発明に実施例について図
面を参照して説明する。
面を参照して説明する。
【００１６】図１は、本発明のメモリ診断装置の実施例
の構成を示すブロック図である。この図は、各メモリ診
断プログラムが、どのメモリブロックを診断しているか
を示す図である。図１（ａ）は、メモリブロック１ａ上
に配置されたメモリ診断プログラムが、他のメモリブロ
ック１ｂ，１ｃのメモリ診断を行っているブロック図で
あり、メモリブロック１ａは、メモリ診断プログラム１
１ａ，未診断エリア１２ａからなる。このメモリ診断プ
ログラムが最初に存在するメモリブロック１ａを第１の
メモリブロックとし、その他のメモリブロック１ｂ，１
ｃを第２のメモリブロックとする。図１（ｂ）は、メモ
リブロック１ｂ上に配置されたメモリ診断プログラム
が、メモリブロック１ａの未診断エリアのメモリ診断を
行っているブロック図である。ここでは、図１（ａ）と
は異なり、メモリ診断プログラムは、メモリブロック１
ｂに移動され、このメモリ診断プログラム１１ｂが、メ
モリブロック１ａの未診断エリア１２ａを診断する。
の構成を示すブロック図である。この図は、各メモリ診
断プログラムが、どのメモリブロックを診断しているか
を示す図である。図１（ａ）は、メモリブロック１ａ上
に配置されたメモリ診断プログラムが、他のメモリブロ
ック１ｂ，１ｃのメモリ診断を行っているブロック図で
あり、メモリブロック１ａは、メモリ診断プログラム１
１ａ，未診断エリア１２ａからなる。このメモリ診断プ
ログラムが最初に存在するメモリブロック１ａを第１の
メモリブロックとし、その他のメモリブロック１ｂ，１
ｃを第２のメモリブロックとする。図１（ｂ）は、メモ
リブロック１ｂ上に配置されたメモリ診断プログラム
が、メモリブロック１ａの未診断エリアのメモリ診断を
行っているブロック図である。ここでは、図１（ａ）と
は異なり、メモリ診断プログラムは、メモリブロック１
ｂに移動され、このメモリ診断プログラム１１ｂが、メ
モリブロック１ａの未診断エリア１２ａを診断する。
【００１７】図２は、本発明のメモリ診断装置の実施例
の全体構成を示すブロック図である。本実施例では、３
つのメモリブロック１ａ，１ｂ，１ｃが、データバス
２，アドレス信号３，ブロック選択信号４によってメモ
リ制御装置５に接続されている。
の全体構成を示すブロック図である。本実施例では、３
つのメモリブロック１ａ，１ｂ，１ｃが、データバス
２，アドレス信号３，ブロック選択信号４によってメモ
リ制御装置５に接続されている。
【００１８】図３は、本発明のメモリ診断方法の動作手
順を示すフローチャートである。このフローにより、本
発明の実際の動作について説明する。まず低速のＲＯＭ
プログラムにて、メモリブロック１ａのメモリ診断用の
エリアを診断する（ステップ１）。そして診断結果が正
常と判断されると、ＲＯＭプログラムは、メモリに配置
するメモリ診断プログラムを診断の終わったエリアに配
置する（ステップ３）。また、この際の診断で不正と判
断した場合は、次のメモリブロック，その次のメモリブ
ロックと、判断されるメモリブロックを見つけるまで、
メモリブロックを変更しながら診断する（ステップ
４）。次に、メモリに配置されたメモリ診断プログラム
により他のメモリブロックを診断する（ステップ５）。
そして、診断が正常に終わった正常なメモリブロックの
アドレスを、診断プログラムのメモリブロックのアドレ
スと変更し診断プログラムを写して（ステップ６）、そ
の診断プログラムにて、メモリブロックの残りのエリア
を診断する（ステップ７）。
順を示すフローチャートである。このフローにより、本
発明の実際の動作について説明する。まず低速のＲＯＭ
プログラムにて、メモリブロック１ａのメモリ診断用の
エリアを診断する（ステップ１）。そして診断結果が正
常と判断されると、ＲＯＭプログラムは、メモリに配置
するメモリ診断プログラムを診断の終わったエリアに配
置する（ステップ３）。また、この際の診断で不正と判
断した場合は、次のメモリブロック，その次のメモリブ
ロックと、判断されるメモリブロックを見つけるまで、
メモリブロックを変更しながら診断する（ステップ
４）。次に、メモリに配置されたメモリ診断プログラム
により他のメモリブロックを診断する（ステップ５）。
そして、診断が正常に終わった正常なメモリブロックの
アドレスを、診断プログラムのメモリブロックのアドレ
スと変更し診断プログラムを写して（ステップ６）、そ
の診断プログラムにて、メモリブロックの残りのエリア
を診断する（ステップ７）。
【００１９】上述したステップ１〜ステップ５が、図１
（ａ）のメモリブロック１ａ上に配置されたメモリ診断
プログラムが他のメモリブロック１ｂ，１ｃのメモリ診
断を行っているときの動作を示している。また、ステッ
プ６，７が、図１（ｂ）のメモリブロック１ｂ上に配置
されたメモリ診断プログラムがメモリブロック１ａの未
診断エリアのメモリ診断を行っている時の動作を示して
いる。
（ａ）のメモリブロック１ａ上に配置されたメモリ診断
プログラムが他のメモリブロック１ｂ，１ｃのメモリ診
断を行っているときの動作を示している。また、ステッ
プ６，７が、図１（ｂ）のメモリブロック１ｂ上に配置
されたメモリ診断プログラムがメモリブロック１ａの未
診断エリアのメモリ診断を行っている時の動作を示して
いる。
【００２０】
【発明の効果】上述したように、本発明は、診断プログ
ラムを配置するメモリブロックと、診断するメモリブロ
ックとを分離したので、診断プログラムの破壊が起きな
いから、異常メモリの縮退機能が正常に動作する。従っ
て、これにより診断方法の信頼性の向上を図ることがで
きるという効果を奏する。
ラムを配置するメモリブロックと、診断するメモリブロ
ックとを分離したので、診断プログラムの破壊が起きな
いから、異常メモリの縮退機能が正常に動作する。従っ
て、これにより診断方法の信頼性の向上を図ることがで
きるという効果を奏する。
【００２１】また、ＲＯＭ診断プログラムによる診断エ
リアを最小限に抑えているので、診断時間を短縮するこ
とができるという効果を奏する。
リアを最小限に抑えているので、診断時間を短縮するこ
とができるという効果を奏する。
【図１】本発明の実施例の構成を示すブロック図であ
り、（ａ）は、メモリブロック１ａによる他のメモリブ
ロック１ｂ，１ｃの診断を示し、（ｂ）は、メモリブロ
ック１ｂによるメモリブロック１ａの診断を示す図であ
る。
り、（ａ）は、メモリブロック１ａによる他のメモリブ
ロック１ｂ，１ｃの診断を示し、（ｂ）は、メモリブロ
ック１ｂによるメモリブロック１ａの診断を示す図であ
る。
【図２】本発明の実施例の全体構成を示すブロック図で
ある。
ある。
【図３】本発明の実施例の動作手順を示すフローチャー
トである。
トである。
１ａ，１ｂ，１ｃ メモリブロック １１ａ，１１ｂ メモリ診断プログラム １２ａ，１２ｂ 未診断エリア ２ データバス ３ アドレス信号 ４ ブロック選択信号 ５ メモリ制御装置
Claims (6)
- 【請求項１】複数のメモリブロックと、前記複数のメモ
リブロックのアドレス割り当てを、メモリブロック単位
に自由に変更できる手段とを備えたメモリ診断装置にお
いて、 前記複数のメモリブロックが、 前記複数のメモリブロックを診断するメモリ診断プログ
ラムを最初に有する第１のメモリブロックと、 前記第１のメモリブロックと分離された他のメモリブロ
ックである第２のメモリブロックとを備え、 前記メモリ診断プログラムが、前記第２のメモリブロッ
クを診断することにより、メモリ診断中のメモリ故障に
よるプログラム破壊を防止したことを特徴とするメモリ
診断装置。 - 【請求項２】前記メモリ診断プログラムが、前記第２の
メモリブロックを診断する際、前記第２のメモリブロッ
クが正常か否かを判断することを特徴とする、請求項１
に記載のメモリ診断装置。 - 【請求項３】前記メモリ診断プログラムを、前記第２の
メモリブロックの全ての診断終了後、正常であると判断
されたメモリブロックのいずれかに移動する手段と、前
記移動する手段により、前記第１のメモリブロックを診
断する手段とを備え、最初に診断するメモリ診断プログ
ラム用のメモリエリアをプログラムサイズ分に抑え、診
断時間を短縮したことを特徴とする、請求項２に記載の
メモリ診断装置。 - 【請求項４】複数のメモリブロックのアドレス割り当て
を、メモリブロック単位に自由に変更して前記複数のメ
モリブロックをメモリ診断プログラムにより診断するメ
モリ診断方法において、 前記メモリ診断プログラムが最初に存在するメモリブロ
ックと、前記メモリ診断プログラムが最初に存在するメ
モリブロック以外のメモリブロックとを分離するステッ
プと、 前記メモリ診断プログラムにより、前記メモリ診断プロ
グラムが最初に存在するメモリブロック以外のメモリブ
ロックを診断するステップと、 前記メモリ診断プログラムが最初に存在するメモリブロ
ック以外のメモリブロックを全て診断した後に、前記メ
モリ診断プログラムを正常なメモリブロックに移動する
ステップと、 前記移動するステップにより移動した前記メモリ診断プ
ログラムにより、前記メモリ診断プログラムが最初に存
在するメモリブロックの未診断エリアを診断するステッ
プと、 を含むことを特徴とするメモリ診断方法。 - 【請求項５】前記メモリ診断プログラムが最初に存在す
るメモリブロック以外のメモリブロックを診断するステ
ップが、順次メモリブロックを診断し、正常なメモリブ
ロックが見つけるまで、メモリブロックを変更しながら
診断することを含む特徴とする、請求項４に記載のメモ
リ診断方法。 - 【請求項６】前記メモリ診断プログラムを正常なメモリ
ブロックに移動するステップが、前記正常なメモリブロ
ックのアドレスを、前記メモリ診断プログラムが最初に
存在するメモリブロックのアドレスと変更することを含
む特徴とする、請求項４または５に記載のメモリ診断方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9205736A JPH1153269A (ja) | 1997-07-31 | 1997-07-31 | メモリ診断装置および方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9205736A JPH1153269A (ja) | 1997-07-31 | 1997-07-31 | メモリ診断装置および方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1153269A true JPH1153269A (ja) | 1999-02-26 |
Family
ID=16511821
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9205736A Pending JPH1153269A (ja) | 1997-07-31 | 1997-07-31 | メモリ診断装置および方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1153269A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6411558B1 (en) | 1998-12-17 | 2002-06-25 | Nec Corporation | Semiconductor device for compensating a failure therein |
| WO2014118910A1 (ja) * | 2013-01-30 | 2014-08-07 | 三菱電機株式会社 | メモリ診断装置 |
-
1997
- 1997-07-31 JP JP9205736A patent/JPH1153269A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6411558B1 (en) | 1998-12-17 | 2002-06-25 | Nec Corporation | Semiconductor device for compensating a failure therein |
| WO2014118910A1 (ja) * | 2013-01-30 | 2014-08-07 | 三菱電機株式会社 | メモリ診断装置 |
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