WO2014118910A1 - メモリ診断装置 - Google Patents

Abstract

　ＣＰＵ１００は、診断の対象となる診断対象ブロックをシフトさせながらＲＡＭ２００の複数のブロックを診断する。ＣＰＵ１００は、診断に先立ち、診断に用いられるデータが格納されるデータ格納領域を２個以上、診断対象ブロックがいずれのブロックになっても診断対象ブロックと重ならないデータ格納領域が１個以上存在するようにＲＡＭ２００に設定する。そして、ＣＰＵ１００は、未診断のブロックの中から診断対象ブロックを指定する際に、診断対象ブロックと重ならないデータ格納領域を１個選択し、選択したデータ格納領域に格納されているデータを用いて、診断対象ブロックを診断する。

Description

メモリ診断装置

　本発明は、メモリの故障の有無を診断する技術に関する。

　従来の診断方法では、メモリ（以下、ＲＡＭ：Ｒａｎｄｏｍ　Ａｃｃｅｓｓ　Ｍｅｍｏｒｙともいう）全体を診断単位とし、メモリ全体に対して読み書きを実施し、メモリから読み出した値と期待値とを比較することでメモリの故障を検出していた（例えば、非特許文献１）。

Ｒ．　Ｎａｉｒ，　Ｓ．　Ｍ．　Ｔｈａｔｔｅ　ａｎｄ　Ｊ．　Ｃ．　Ａｂｒａｈａｍ．：　Ｅｆｆｉｃｉｅｎｔ　ａｌｇｏｒｉｔｈｍｓ　ｆｏｒ　ｔｅｓｔｉｎｇ　ｓｅｍｉｃｏｎｄｕｃｔｏｒ　ｒａｎｄｏｍ－ａｃｃｅｓｓ　ｍｅｍｏｒｉｅｓ．　ＩＥＥＥ　Ｔｒａｎｓａｃｔｉｏｎｓ　ｏｎ　Ｃｏｍｐｕｔｅｒｓ，　Ｃ－２７，　ｐｐ．５７２－５７６　（１９７８）．

　非特許文献１の方法は、ソフトウェアによるＲＡＭ診断方法の１つである。
　既存のＲＡＭ診断プログラムはアセンブラでのみ実装可能であり、Ｃ言語では実装できない。
　そのため、新たなマイクロコンピュータが開発される度に、新たなマイクロコンピュータに対応させてＲＡＭ診断プログラムの再コーディングが必要となり、ＲＡＭ診断プログラムの開発コストが余分にかかってしまうという課題がある。
　ＲＡＭ診断プログラムをＣ言語で実装できない理由は、ＲＡＭ診断プログラムがＲＡＭ全体のデータを独自の手順で書き換えてしまうためである。
　つまり、Ｃ言語で実装したＲＡＭ診断プログラムは、ＲＡＭ診断に用いられるデータ（静的変数やスタック等）をＲＡＭ内の所定の領域に書き込むが、ＲＡＭ診断の過程で当該領域のデータも書き換えてしまうため、静的変数やスタック等を破壊してしまい、この結果、ＲＡＭ診断プログラムが正常に動作することができなくなってしまう。

　本発明は、上記の事情に鑑みたものであり、メモリ診断に用いられるデータを保持し、メモリ診断を正常に行うことができる構成を得ることを主な目的とする。

　本発明に係るメモリ診断装置は、
　ｎ（ｎは３以上の整数）個のブロックに等分されたメモリを診断するメモリ診断装置であって、
　診断の対象となる診断対象ブロックをシフトさせながら前記ｎ個のブロックを診断する診断実行部と、
　前記診断実行部の診断に先立ち、前記診断実行部の診断に用いられるデータが格納されるデータ格納領域を２個以上、診断対象ブロックがいずれのブロックになっても診断対象ブロックと重ならないデータ格納領域が１個以上存在するように、前記ｎ個のブロックのうちのいずれかのブロックに設定する領域設定部と、
　前記診断実行部が未診断のブロックの中から診断対象ブロックを指定する際に、診断対象ブロックと重ならないデータ格納領域を１個選択する選択部とを有し、
　前記診断実行部は、
　前記選択部により選択されたデータ格納領域である選択データ格納領域に格納されているデータを用いて、診断対象ブロックを診断することを特徴とする。

　本発明によれば、診断対象ブロックがいずれのブロックになっても診断対象ブロックと重ならないデータ格納領域が１個以上存在し、診断対象ブロックと重ならないデータ格納領域が選択され、選択されたデータ格納領域のデータを用いた診断対象ブロックの診断が行われる。
　このため、メモリ診断に用いられるデータが保持され、正常にメモリ診断が行われる。

実施の形態１及び２に係るシステム構成例を示す図。 実施の形態１に係るＲＡＭ診断プログラムと格納領域との関係を示す図。 実施の形態１に係るＲＡＭ診断方法の概要を示す図。 実施の形態１に係るＲＡＭ診断方法の詳細を示す図。 実施の形態２に係るＲＡＭ診断プログラムと格納領域との関係を示す図。 実施の形態２に係るＲＡＭ診断方法の詳細を示す図。 実施の形態２に係るＲＡＭ診断方法の詳細を示す図。 実施の形態１及び２に係るＣＰＵの動作例を示すフローチャート図。 実施の形態１及び２に係るＣＰＵのモジュール構成例を示す図。

　実施の形態１及び２では、ソフトウェアによるＲＡＭ診断をＣ言語で実装可能とするための構成を説明する。
　ＲＡＭ診断プログラムをＣ言語で実装可能であれば、新たなマイクロコンピュータが開発されても、新たなマイクロコンピュータに対応させた作業はコンパイルのみでよく、開発コストが削減できる。

　より具体的には、実施の形態１及び２では、ＲＡＭ診断プログラムが利用するデータ（静的変数やスタック等）を格納する領域（データ格納領域）を複数用意し、診断対象のＲＡＭ領域によって利用するデータ格納領域を切り替えてＲＡＭ診断プログラムを動作させる。
　これにより、前述した、ＲＡＭ診断プログラムが正常に動作できないという課題を解決することができる。

　実施の形態１．
　図１は、本実施の形態に係るシステム構成例を示す。

　図１に示すように、本実施の形態では、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ　Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ　Ｕｎｉｔ）１００とＲＡＭ２００とＲＡＭ診断プログラム記憶装置３００とがバス接続されている。
　図１において、ＣＰＵ１００は、プロセッサ装置であり、ＲＡＭ診断プログラムを用いてＲＡＭ２００の診断を行う。
　ＣＰＵ１００は、メモリ診断装置の例に相当する。
　ＲＡＭ２００は、診断対象のメモリである。
　ＲＡＭ診断プログラム記憶装置３００は、ＣＰＵ１００が用いるＲＡＭ診断プログラムが格納されている記憶装置であり、例えば、ＲＯＭ（Ｒｅａｄ　Ｏｎｌｙ　Ｍｅｍｏｒｙ）である。
　すなわち、ＣＰＵ１００は、ＲＡＭ診断プログラム記憶装置３００からＲＡＭ診断プログラムを読み出し、ＣＰＵ１００内のレジスタに格納し、レジスタのＲＡＭ診断プログラムを実行して、ＲＡＭ２００の診断を行う。

　本実施の形態に係るＣＰＵ１００と、ＲＡＭ診断プログラムと、ＲＡＭ２００は、図２に示す関係にある。

　本実施の形態では、ＣＰＵ１００は、２つのＲＡＭ診断プログラムを切り替えて実行する。
　本実施の形態では、２つのＲＡＭ診断プログラムをＲＡＭ診断プログラム０（４００）とＲＡＭ診断プログラム１（４０１）という。
　ＲＡＭ２００には、２つのＲＡＭ診断プログラムが利用するデータが格納される２つのデータ格納領域（以下、単に、格納領域ともいう）が設けられる。
　ＲＡＭ診断プログラム０（４００）が利用するデータが格納される格納領域をデータ格納領域０（２５０）といい、ＲＡＭ診断プログラム１（４０１）が利用するデータが格納される格納領域をデータ格納領域１（２５１）という。
　たとえば、ｆｏｒ文にて演算をループさせる場合、「ｆｏｒ（ｉ＝０；ｉ＜１０；ｉ＋＋）」といったように記述し、変数ｉを利用する。
　データ格納領域０（２５０）及びデータ格納領域１（２５１）には、このような変数が格納される。

　ＲＡＭ診断プログラム０（４００）及びＲＡＭ診断プログラム１（４０１）は、それぞれ、ＲＡＭ２００に値を書込み、また、ＲＡＭ２００から値を読み出し、読み出した値が期待値と一致するかどうかを確認することで、ＲＡＭ２００の故障を検出するプログラムである。
　読み書きの仕方及び読み出した値と期待値との確認の仕方でさまざまなＲＡＭ診断のアルゴリズムが考えられている。
　ＲＡＭ診断プログラム０（４００）及びＲＡＭ診断プログラム１（４０１）は、例えば、Ａｂｒａｈａｍアルゴリズム（非特許文献１に記載のアルゴリズム）やＧａｌｐａｄアルゴリズムを実現するプログラムである。
　なお、本実施の形態に係るＣＰＵ１００は、どのようなアルゴリズムに対応したＲＡＭ診断プログラムでも利用できる。
　なお、ＲＡＭ診断プログラム０（４００）及びＲＡＭ診断プログラム１（４０１）は、同じプログラムである。

　本実施の形態では、図３に示すように、ＲＡＭ２００をｎ個（ｎは３以上の整数）のサブ領域に等分割し、分割されたＲＡＭ２００のサブ領域（以下、各サブ領域をブロックという）を診断の単位とし、ＣＰＵ１００は、診断対象のブロックをシフトさせて順に各ブロックの診断を実行していく。
　このようにした理由は、ＲＡＭ診断プログラムを正常に動作させるためである。
　ブロックを単位として診断を実行することで、ＲＡＭ２００内に診断対象となっていないブロックを得ることができ、そのブロックにＲＡＭ診断に必要なデータを保存すればデータは破壊されずＲＡＭ診断プログラムを正常に動作させることができる。
　なお、図３において、斜線のブロックが診断対象のブロックである。
　また、以下、診断対象のブロックを診断対象ブロックともいう。

　そして、本実施の形態では、図４に示すように、ＲＡＭ診断プログラムが利用するデータを格納するデータ格納領域を２個以上用意し、診断対象ブロックと重ならないデータ格納領域のデータを利用してＲＡＭ診断プログラムを動作させる。
　このようにした理由は、ＲＡＭ診断に用いるデータ（静的変数等）の破壊を防ぐためである。
　データ格納領域が１つのみの場合は、診断対象ブロックをシフトさせていくと必ずデータ格納領域が診断対象となり、データ格納領域内のデータが破壊されてしまう。
　そこで、データ格納領域を複数用意し、ＲＡＭ診断プログラムが利用するデータ格納領域が診断対象にならないようにすることで、ＲＡＭ診断プログラムが正常に動作するようにしている。

　このため、本実施の形態に係るＣＰＵ１００は、診断対象ブロックによって、ＲＡＭ診断プログラムを切り替える。
　具体的には、ＣＰＵ１００は、２つのデータ格納領域のうち、診断対象ブロックと重ならないデータ格納領域を選択し、選択したデータ格納領域に対応するＲＡＭ診断プログラムを実行する。
　例えば、診断対象ブロックにデータ格納領域０（２５０）が含まれる場合は、ＣＰＵ１００は、データ格納領域１（２５１）を選択し、データ格納領域１（２５１）を利用するＲＡＭ診断プログラム１（４０１）を実行する。
　また、診断対象ブロックにデータ格納領域１（２５１）が含まれる場合は、ＣＰＵ１００は、データ格納領域０（２５０）を選択し、データ格納領域０（２５０）を利用するＲＡＭ診断プログラム０（４００）を実行する。
　なお、選択したデータ格納領域を、選択データ格納領域ともいう。

　図９は、図１のＣＰＵ１００（メモリ診断装置）のモジュール構成例を示す。
　領域設定部１０１、選択部１０２及び診断実行部１０３は、それぞれ、以下に示す処理に対応するプログラムと、プログラムを実行するためのハードウェア（回路、素子等）とにより実現される論理的な機能モジュールである。
　レジスタ１０４は、ＣＰＵ１００内の記憶領域である。

　図９において、診断実行部１０３は、診断対象ブロックをシフトさせながらＲＡＭ２００内の全ブロックを診断する。
　具体的には、診断実行部１０３は、いずれかのブロックを診断対象ブロックに指定し、診断対象ブロックと重ならないデータ格納領域（選択データ格納領域）に対応するＲＡＭ診断プログラムを実行し、選択データ格納領域に格納されているデータを用いて、診断対象ブロックの診断を行い、診断が完了すると、次の順序のブロックを診断対象ブロックに指定する。

　領域設定部１０１は、診断実行部１０３の診断に先立ち、２個のデータ格納領域をＲＡＭ２００内のいずれかのブロックに設定する。
　具体的には、領域設定部１０１は、診断対象ブロックがいずれのブロックになっても診断対象ブロックと重ならないデータ格納領域が１個以上存在するように、２個のデータ格納領域を設定する。

　選択部１０２は、診断実行部１０３が未診断のブロックの中から診断対象ブロックを指定する際に、診断対象ブロックと重ならないデータ格納領域を１個選択する。

　レジスタ１０４には、各種情報が保持される。
　例えば、レジスタ１０４には、ＲＡＭ診断プログラム記憶装置３００から読み出されたＲＡＭ診断プログラムのプログラムコードが保持される。
　また、レジスタ１０４には、診断実行部１０３による診断において診断対象ブロックから読み出された値（期待値と比較される値）が保持される。
　また、レジスタ１０４には、診断実行部１０３による診断において診断対象ブロックから読み出された値と比較する期待値が保持される。

　以下、図８のフローチャートを用いて、ＣＰＵ１００の処理シーケンスを説明する。
　なお、図８の処理シーケンスの開始前に、領域設定部１０１は、例えば、図４に示す位置にデータ格納領域０（２５０）及びデータ格納領域１（２５１）を設定しており、また、データ格納領域０（２５０）及びデータ格納領域１（２５１）には、それぞれ、ＲＡＭ診断に用いられるデータが格納されているものとする。

　ＲＡＭ診断が開始された場合、まず、診断実行部１０３は、診断対象をＲＡＭ２００の先頭位置（先頭のブロックの先頭アドレスと等しい）に設定する（Ｓ１０１）。
　つまり、診断実行部１０３は、先頭のブロックを診断対象ブロックに指定する。

　次に、選択部１０２が、診断対象ブロックにデータ格納領域０（２５０）が含まれるかどうかを確認する（Ｓ１０２）。

　診断対象ブロックにデータ格納領域０（２５０）が含まれない場合（Ｓ１０２でＮＯ）、選択部１０２は、データ格納領域０（２５０）を選択し、診断実行部１０３は、データ格納領域０（２５０）に対応するＲＡＭ診断プログラム０（４００）を利用して診断対象ブロックの診断を行う（Ｓ１０３）。
　一方、診断対象ブロックにデータ格納領域０（２５０）が含まれる場合（Ｓ１０２でＹＥＳ）、選択部１０２は、データ格納領域１（２５１）を選択し、診断実行部１０３は、データ格納領域１（２５１）に対応するＲＡＭ診断プログラム１（４０１）を利用してＲＡＭの診断を行う（Ｓ１０４）。

　次に、診断実行部１０３は、ＲＡＭ２００の末尾のブロックの診断が完了したかどうか、つまり、Ｓ１０３又はＳ１０４で診断した診断対象ブロックがＲＡＭ２００の末尾のブロックかどうかを判断する（Ｓ１０５）。
　末尾のブロックの診断が完了している場合（Ｓ１０５でＹＥＳ）は、診断実行部１０３は、診断を完了する。
　一方、末尾のブロックの診断が完了していない場合（Ｓ１０５でＮＯ）は、診断実行部１０３は、診断対象ブロックを更新（具体的には、直近の診断対象ブロックの次の順序のブロックの先頭アドレスを診断対象とする）し、Ｓ１０２以降の処理を繰り返す。

　なお、図４に示す診断タイミングｔでは、データ格納領域１（２５１）に格納されているデータ（変数等）を用いて、データ格納領域０（２５０）が含まれるブロックの診断を行うが、この診断タイミングｔの診断により、データ格納領域０（２５０）に格納されているデータ（変数等）が消失してしまう。
　このため、診断タイミングｔ＋１において、データ格納領域１（２５１）が含まれるブロックが診断対象ブロックになった際に、データ格納領域０（２５０）にはＲＡＭ診断用のデータ（変数等）が存在しておらず、このため、このブロックを診断できない事態が生じる。
　このような事態を回避するために、診断実行部１０３は、例えば、診断タイミングｔの時点で、データ格納領域０（２５０）に格納されているデータ（変数等）をレジスタ１０４に退避させた後に、データ格納領域０（２５０）が含まれるブロックの診断を行う。
　そして、診断実行部１０３は、データ格納領域０（２５０）が含まれるブロックの診断の完了後に、レジスタ１０４に退避させたデータ（変数等）をデータ格納領域０（２５０）に書き戻す。
　これにより、診断タイミングｔ＋１の時点で、データ格納領域０（２５０）にＲＡＭ診断用のデータが格納されているため、診断実行部１０３は、データ格納領域０（２５０）のデータを用いて、データ格納領域１（２５１）が含まれるブロックの診断を行うことができる。

　以上、実施の形態１では、
　ＲＡＭを複数個に等分割し、分割されたＲＡＭ領域を単位として順にＲＡＭの診断を実行していく処理方式において、
　ＲＡＭ診断に利用するデータのデータ格納領域を２つ以上用意し、ＲＡＭ診断の対象となっていない領域を利用してＲＡＭ診断プログラムを動作させる構成を説明した。

　実施の形態２．
　本実施の形態では、ＲＡＭ診断プログラムをＣ言語で実装する場合のデータ格納領域のより有効な配置例を示す。
　本実施の形態でも、システム構成例は図１に示したものと同様であり、また、ＣＰＵ１００のモジュール構成例も図９に示したものと同様である。
　また、以下では、実施の形態１との差異を説明する。

　図５及び６は、ＲＡＭ診断プログラムをＣ言語で実装する場合のデータ格納領域のより有効な配置例を示す。
　図５は、実施の形態１で示した図２に対応し、図６は、実施の形態１で示した図４に対応する。
　本実施の形態では、図５及び図６に示すように、２つのデータ格納領域２５０、２５１を用意するとともに、２つのデータ格納領域２５０、２５１を離間するための離間格納領域２６０を用意する。
　離間格納領域２６０はデータ格納領域０（２５０）とデータ格納領域１（２５１）を離間するための領域であり、離間格納領域２６０には、ＲＡＭ診断に用いられるデータを格納する必要はない。
　データ格納領域０（２５０）、データ格納領域１（２５１）、離間格納領域２６０の領域サイズ（図６の矢印で示す、縦方向のサイズ）は同じである。
　つまり、本実施の形態では、データ格納領域０（２５０）とデータ格納領域１（２５１）とが領域サイズ分離間して配置される。
　このようにした理由は、診断によるデータの破壊を防ぐためである。
　Ｃ言語で定数を定義すると、定数が割り当てられるアドレスが一意でない。
　そのため、２つのデータ格納領域を定義するのみでは、診断対象ブロックが２つのデータ格納領域と被ってしまい、ＲＡＭ診断に用いられるデータが破壊されてしまう可能性がある。
　このため、各ブロックのブロックサイズ（図７のｔｅｓｔ＿ｓｉｚｅ）よりも大きな領域サイズの２つのデータ格納領域２５０、２５１を設定するとともに、２つのデータ格納領域２５０、２５１を離間格納領域２６０により領域サイズ分離間すると、どのブロックが診断対象ブロックとなっても、データ格納領域０（２５０）及びデータ格納領域１（２５１）のうちの少なくとも一方が診断対象ブロックと被らずにすみ、ＲＡＭ診断に用いられるデータが保持される。

　なお、図６に「格納領域の記述例」として示しているプログラムコード例を実行することで、選択部１０２はＲＡＭ２００にデータ格納領域０（２５０）、離間格納領域２６０、データ格納領域１（２５１）を設定する。
　図６の「格納領域の記述例」では、格納領域の型と実体を定義している。
　前述のように、本実施の形態では、データ格納領域０（２５０）、離間格納領域２６０、データ格納領域１（２５１）のように、格納領域を３つ定義する必要があるため、ｓｔｒｕｃｔ命令で３つの格納領域を定義している。

　また、図７の「ＲＡＭ診断の記述例」では、図８に示した処理シーケンスを実現するためのプログラムコードの例を示している。
　なお、図７の「ＲＡＭ診断の記述例」にあるｇ＿ｖａｒｉａｂｌｅｓ［０］はデータ格納領域０（２５０）を意味し、ｇ＿ｖａｒｉａｂｌｅｓ［１］はデータ格納領域１（２５１）を意味し、ｇ＿ｖａｒｉａｂｌｅｓ［２］は離間格納領域２６０を意味する。
　ここで注意すべきは、ＲＡＭ診断プログラムは各格納領域でそれぞれ実装する必要（ソースコードを記述する必要）があり、ポインタなどで利用する格納領域を切り替えるのみではいけない。
　理由は、ポインタなどで利用する格納領域を管理しようとしても、そのポインタのデータがＲＡＭ診断で破壊される恐れがあり、ＲＡＭ診断プログラムが正常に動作できない可能性があるからである。
　なお、本実施の形態でも、ＣＰＵ１００の処理シーケンスは、図８に示すものと同様である。

　なお、離間格納領域の個数を、診断対象ブロックの個数と同じにすることで、ＲＡＭ診断プログラムを正常に動作させることができる。
　診断対象ブロックの個数がｍ個（ｍは１以上の整数であって、ＲＡＭ２００の総ブロック数の約数）であれば、２つのデータ格納領域の間に配置される離間格納領域の個数をｍ個とする。
　例えば、２個のブロックを診断対象ブロックとする場合、すなわち、２個のブロックを単位としてＲＡＭ診断を行う場合は、２個の離間格納領域をデータ格納領域０（２５０）とデータ格納領域１（２５１）の間に設ければ、ＲＡＭ診断プログラムを正常に動作させることができる。

　なお、実施の形態１及び２では、２つのデータ格納領域をＲＡＭ２００に設定する例を説明したが、３つ以上のデータ格納領域を設定するようにしてもよい。
　また、実施の形態２の方法により３つ以上のデータ格納領域を設定する場合は、いずれか２つのデータ格納領域が離間格納領域によって離間されていればよい。
　また、本発明は、実施の形態１及び２に限定されるものではなく、必要に応じて種々の変更が可能である。

　以上、実施の形態２では、
　ＲＡＭを複数個に等分割し、分割されたＲＡＭ領域を単位として順にＲＡＭの診断を実行していく処理方式において、
　ＲＡＭ診断に利用するデータのデータ格納領域を２つ以上用意し、データ格納領域を離間する離間格納領域を用意し、また、データ格納領域の領域サイズは、各ブロックのブロックサイズよりも大きく設定する構成を説明した。

　１００　ＣＰＵ、１０１　領域設定部、１０２　選択部、１０３　診断実行部、１０４　レジスタ、２００　ＲＡＭ、２５０　データ格納領域０、２５１　データ格納領域１、２６０　離間格納領域、４００　ＲＡＭ診断プログラム０、４０１　ＲＡＭ診断プログラム１、３００　ＲＡＭ診断プログラム記憶装置。

Claims (6)

1. 　ｎ（ｎは３以上の整数）個のブロックに等分されたメモリを診断するメモリ診断装置であって、
   　診断の対象となる診断対象ブロックをシフトさせながら前記ｎ個のブロックを診断する診断実行部と、
   　前記診断実行部の診断に先立ち、前記診断実行部の診断に用いられるデータが格納されるデータ格納領域を２個以上、診断対象ブロックがいずれのブロックになっても診断対象ブロックと重ならないデータ格納領域が１個以上存在するように、前記ｎ個のブロックのうちのいずれかのブロックに設定する領域設定部と、
   　前記診断実行部が未診断のブロックの中から診断対象ブロックを指定する際に、診断対象ブロックと重ならないデータ格納領域を１個選択する選択部とを有し、
   　前記診断実行部は、
   　前記選択部により選択されたデータ格納領域である選択データ格納領域に格納されているデータを用いて、診断対象ブロックを診断することを特徴とするメモリ診断装置。
2. 　前記領域設定部は、
   　それぞれに診断プログラムが対応付けられている２個以上のデータ格納領域を前記ｎ個のブロックのうちのいずれかのブロックに設定し、
   　前記診断実行部は、
   　前記選択データ格納領域に対応付けられている診断プログラムを実行して、診断対象ブロックを診断することを特徴とする請求項１に記載のメモリ診断装置。
3. 　前記診断実行部は、
   　前記選択データ格納領域以外のデータ格納領域である非選択データ格納領域が診断対象ブロックと重なっている場合に、前記診断対象ブロックに対する診断の後に、診断に用いられるデータを前記非選択データ格納領域に格納することを特徴とする請求項１又は２に記載のメモリ診断装置。
4. 　前記領域設定部は、
   　同じ領域サイズのデータ格納領域を２個以上、いずれか２個のデータ格納領域が相互に前記領域サイズ以上離間して配置されるように、前記ｎ個のブロックのうちのいずれかのブロックに設定することを特徴とする請求項１～３のいずれかに記載のメモリ診断装置。
5. 　前記診断実行部は、
   　ｍ（ｍは１以上の整数であってｎの約数）個のブロックを診断対象ブロックとして指定し、ｍ個の診断対象ブロックをシフトさせながら前記ｎ個のブロックを診断し、
   　前記領域設定部は、
   　前記データ格納領域を２個以上、いずれか２個のデータ格納領域が相互に前記領域サイズのｍ倍以上離間して配置されるように、前記ｎ個のブロックのうちのいずれかのブロックに設定することを特徴とする請求項４に記載のメモリ診断装置。
6. 　ブロックのブロックサイズよりも大きな領域サイズのデータ格納領域を２個以上、前記ｎ個のブロックのうちのいずれかのブロックに設定することを特徴とする請求項４又は５に記載のメモリ診断装置。

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