JPH1151629A - 巻きずれ検査装置 - Google Patents
巻きずれ検査装置Info
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- JPH1151629A JPH1151629A JP9208930A JP20893097A JPH1151629A JP H1151629 A JPH1151629 A JP H1151629A JP 9208930 A JP9208930 A JP 9208930A JP 20893097 A JP20893097 A JP 20893097A JP H1151629 A JPH1151629 A JP H1151629A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】シート材を巻回してなる検査対象物の巻きずれ
状態を、Ｘ線透過画像に基づく自動的な検査によりその
良否を高精度に判別することのできる巻きずれ検査装置
を提供する。 【解決手段】 Ｘ線透過画像２５におけるシート材２
１，２２の各巻き層にそれぞれ相当する各巻き層透過画
像２４，２７の配列方向Ｘに対する位置を巻き層位置検
出手段３０より検出する。各巻き層透過画像２４，２７
の各々の長さ方向Ｙの先端の想定点を巻き層先端想定点
検出手段３２により検出する。複数の先端想定点のうち
から真の先端の検出手段として、隣接する複数の巻き層
透過画像２４，２７の各々の先端想定点相互の位置の連
続性から真の位置を検出する先端連続性評価手段３３を
設ける。
状態を、Ｘ線透過画像に基づく自動的な検査によりその
良否を高精度に判別することのできる巻きずれ検査装置
を提供する。 【解決手段】 Ｘ線透過画像２５におけるシート材２
１，２２の各巻き層にそれぞれ相当する各巻き層透過画
像２４，２７の配列方向Ｘに対する位置を巻き層位置検
出手段３０より検出する。各巻き層透過画像２４，２７
の各々の長さ方向Ｙの先端の想定点を巻き層先端想定点
検出手段３２により検出する。複数の先端想定点のうち
から真の先端の検出手段として、隣接する複数の巻き層
透過画像２４，２７の各々の先端想定点相互の位置の連
続性から真の位置を検出する先端連続性評価手段３３を
設ける。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、リチウムイオン電
池の電極やフィルムコンデンサのような帯状または短冊
状のシート材を巻回して製作される部品または製品にお
ける巻き層間の巻きずれを画像処理により自動的に検査
する巻きずれ検査装置に関するものである。
池の電極やフィルムコンデンサのような帯状または短冊
状のシート材を巻回して製作される部品または製品にお
ける巻き層間の巻きずれを画像処理により自動的に検査
する巻きずれ検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】近年、種々の機械部品や電子製品などの
外装および内部の状態の検査工程を自動化する要求が増
大しており、例えば、被検査物をテレビカメラで撮像
し、その画像信号を信号処理して画像認識することによ
り、検査を非接触で、且つ自動的に行うなどの研究開発
が活発に行われている。ところで、リチウムイオン電池
の電極やフィルムコンデンサのような帯状または短冊状
のシート材を巻回して製作される部品または製品では、
それらの特性上、巻き層間の巻きずれの検査が極めて重
要であり、この種の巻きずれを画像処理により自動的に
検査する装置としては、図７に示すような構成のものが
知られている。
外装および内部の状態の検査工程を自動化する要求が増
大しており、例えば、被検査物をテレビカメラで撮像
し、その画像信号を信号処理して画像認識することによ
り、検査を非接触で、且つ自動的に行うなどの研究開発
が活発に行われている。ところで、リチウムイオン電池
の電極やフィルムコンデンサのような帯状または短冊状
のシート材を巻回して製作される部品または製品では、
それらの特性上、巻き層間の巻きずれの検査が極めて重
要であり、この種の巻きずれを画像処理により自動的に
検査する装置としては、図７に示すような構成のものが
知られている。
【０００３】この巻きずれ検査装置について説明する。
位置決めテーブル１上に載置された検査対象物２の一側
面にＸ線照射装置３からＸ線を照射するとともに、Ｘ線
を吸収するイメージインテシファイヤ４を備えて可動支
持部８に取り付けられたテレビカメラ７により検査対象
物２をこれの他側面から撮像する。このテレビカメラ７
は、テレビカメラ制御手段９により制御されて、検査対
象物２の断層画像に相当するＸ線透過画像を得る。この
テレビカメラ７の映像信号は、Ａ／Ｄ変換回路１０に入
力されて、画像の濃度を例えば２５６階調（０〜255 ）
に変換した画像データに数値化されたのちに、画像処理
部１１に入力される。
位置決めテーブル１上に載置された検査対象物２の一側
面にＸ線照射装置３からＸ線を照射するとともに、Ｘ線
を吸収するイメージインテシファイヤ４を備えて可動支
持部８に取り付けられたテレビカメラ７により検査対象
物２をこれの他側面から撮像する。このテレビカメラ７
は、テレビカメラ制御手段９により制御されて、検査対
象物２の断層画像に相当するＸ線透過画像を得る。この
テレビカメラ７の映像信号は、Ａ／Ｄ変換回路１０に入
力されて、画像の濃度を例えば２５６階調（０〜255 ）
に変換した画像データに数値化されたのちに、画像処理
部１１に入力される。
【０００４】図８は、画像処理部１１における画像処理
を示すフローチャートであり、以下、図７、図８に基づ
いて上記巻きずれ検査装置の画像処理について説明す
る。この画像処理部１１では、中央処理装置（ＣＰＵ）
１２が予め設定された制御プログラムおよび制御データ
に基づいて全体を制御する。先ず、画像積分手段１３に
おいて、Ａ／Ｄ変換回路１０の画像データを複数回入力
させて、それらの画像データを加算したのちに平均化し
て積分画像データを得る（ステップＳ１）。つぎに、処
理エリア設定手段１４では、検査対象の各巻き層の配列
方向における各々の位置を検出するために、画像に対し
て処理すべき範囲を処理エリアとして設定する（ステッ
プＳ２）。続いて、２値化手段１７は、画像データを２
値化して、検査対象物２の縦断面形状に相当する巻き層
透過画像を抽出する。
を示すフローチャートであり、以下、図７、図８に基づ
いて上記巻きずれ検査装置の画像処理について説明す
る。この画像処理部１１では、中央処理装置（ＣＰＵ）
１２が予め設定された制御プログラムおよび制御データ
に基づいて全体を制御する。先ず、画像積分手段１３に
おいて、Ａ／Ｄ変換回路１０の画像データを複数回入力
させて、それらの画像データを加算したのちに平均化し
て積分画像データを得る（ステップＳ１）。つぎに、処
理エリア設定手段１４では、検査対象の各巻き層の配列
方向における各々の位置を検出するために、画像に対し
て処理すべき範囲を処理エリアとして設定する（ステッ
プＳ２）。続いて、２値化手段１７は、画像データを２
値化して、検査対象物２の縦断面形状に相当する巻き層
透過画像を抽出する。
【０００５】つぎに、巻き層位置検出手段１８におい
て、前記設定した各処理エリア内の各巻き層透過画像を
断層方向（検査対象物２の構成材料であるシート材の幅
方向）にたしあわせた投影データを作成し、その投影デ
ータに対し一定の閾値以上の変化点を巻き層透過画像に
おける巻き層の配列方向における位置座標として検出す
る（ステップＳ３）。さらに、巻き層先端検出手段１９
は、各巻き層透過画像に対して前述の検出した位置座標
を中心として断層方向に長めの巻き層先端検出用の処理
エリアを設定した（ステップＳ４）のちに、前述と同様
にして投影データを作成し、その投影データにおける一
定の閾値との交点を巻き層透過画像の断層方向の先端と
して検出する（ステップＳ５）。最後に、良否判別手段
２０は、検出した各巻き層透過画像の各々の先端のずれ
量を算出したのちに、このずれ量が許容範囲内であるか
否かを判別して巻きずれの良否を判定する（ステップＳ
６）。
て、前記設定した各処理エリア内の各巻き層透過画像を
断層方向（検査対象物２の構成材料であるシート材の幅
方向）にたしあわせた投影データを作成し、その投影デ
ータに対し一定の閾値以上の変化点を巻き層透過画像に
おける巻き層の配列方向における位置座標として検出す
る（ステップＳ３）。さらに、巻き層先端検出手段１９
は、各巻き層透過画像に対して前述の検出した位置座標
を中心として断層方向に長めの巻き層先端検出用の処理
エリアを設定した（ステップＳ４）のちに、前述と同様
にして投影データを作成し、その投影データにおける一
定の閾値との交点を巻き層透過画像の断層方向の先端と
して検出する（ステップＳ５）。最後に、良否判別手段
２０は、検出した各巻き層透過画像の各々の先端のずれ
量を算出したのちに、このずれ量が許容範囲内であるか
否かを判別して巻きずれの良否を判定する（ステップＳ
６）。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
巻きずれ検査装置では、画像データを２値化して個々の
巻き層透過画像を抽出したのちに、これら各巻き層透過
画像の各々の長さ方向の投影データを作成し、その投影
データにおける一定の閾値との交点を巻き層透過画像の
断層方向の先端として決定しているが、Ｘ線透過画像の
濃度は巻きずれ状態の大小に応じて変化するので、その
濃度のばらつきに対応することができず、各巻き層透過
画像の巻き層方向の先端を誤認識し易い問題がある。ま
た、Ｘ線が検査対象部を透過するときの巻き層の数は最
外周から中心部にいくにしたがって多くなるから、Ｘ線
透過画像は、最外周の巻き層透過画像と中心部の巻き層
透過画像との間に大きな濃度差を有する低画質となる。
そのため、従来の巻きずれ検査手段では、巻き層透過画
像の配列方向の位置の認識が困難となり、誤認識し易
い。したがって、検査対象物の内部の状態を精度よく検
査することは困難であり、巻きずれの良否を正確に判定
できない問題がある。
巻きずれ検査装置では、画像データを２値化して個々の
巻き層透過画像を抽出したのちに、これら各巻き層透過
画像の各々の長さ方向の投影データを作成し、その投影
データにおける一定の閾値との交点を巻き層透過画像の
断層方向の先端として決定しているが、Ｘ線透過画像の
濃度は巻きずれ状態の大小に応じて変化するので、その
濃度のばらつきに対応することができず、各巻き層透過
画像の巻き層方向の先端を誤認識し易い問題がある。ま
た、Ｘ線が検査対象部を透過するときの巻き層の数は最
外周から中心部にいくにしたがって多くなるから、Ｘ線
透過画像は、最外周の巻き層透過画像と中心部の巻き層
透過画像との間に大きな濃度差を有する低画質となる。
そのため、従来の巻きずれ検査手段では、巻き層透過画
像の配列方向の位置の認識が困難となり、誤認識し易
い。したがって、検査対象物の内部の状態を精度よく検
査することは困難であり、巻きずれの良否を正確に判定
できない問題がある。
【０００７】そこで本発明は、上述の問題点を解消し、
短冊状シート材を巻回してなる検査対象物の巻きずれ状
態を、Ｘ線透過画像に基づく自動的な検査によりその良
否を高精度に判別することのできる巻きずれ検査装置を
提供することを目的とするものである。
短冊状シート材を巻回してなる検査対象物の巻きずれ状
態を、Ｘ線透過画像に基づく自動的な検査によりその良
否を高精度に判別することのできる巻きずれ検査装置を
提供することを目的とするものである。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、帯状または短冊状のシート材を巻回して
なる検査対象物の巻きずれ状態を画像処理により検査す
る巻きずれ検査装置において、検査対象物のＸ線透過画
像を得る断層画像撮像手段と、前記Ｘ線透過画像におけ
る前記シート材の各巻き層にそれぞれ相当する各巻き層
透過画像のこれの配列方向に対する位置を検出する巻き
層位置検出手段と、前記各巻き層透過画像の各々の長さ
方向の先端の想定点を検出する巻き層先端想定点検出手
段と、隣接する複数の前記巻き層透過画像の各々の先端
想定点の相互の位置の連続性から真の先端位置を検出す
る先端連続性評価手段と、検出された各先端の位置関係
から巻きずれの良否の判定を行う良否判定手段とを備え
ている。
に、本発明は、帯状または短冊状のシート材を巻回して
なる検査対象物の巻きずれ状態を画像処理により検査す
る巻きずれ検査装置において、検査対象物のＸ線透過画
像を得る断層画像撮像手段と、前記Ｘ線透過画像におけ
る前記シート材の各巻き層にそれぞれ相当する各巻き層
透過画像のこれの配列方向に対する位置を検出する巻き
層位置検出手段と、前記各巻き層透過画像の各々の長さ
方向の先端の想定点を検出する巻き層先端想定点検出手
段と、隣接する複数の前記巻き層透過画像の各々の先端
想定点の相互の位置の連続性から真の先端位置を検出す
る先端連続性評価手段と、検出された各先端の位置関係
から巻きずれの良否の判定を行う良否判定手段とを備え
ている。
【０００９】この巻きずれ検査装置では、巻き層透過画
像における先端の濃度にばらつきがあっても、先端の想
定点を複数検出したのちに、これら想定点の相互の位置
関係から真の先端位置を検出しているので、巻きずれの
大小による濃度のばらつきの影響を受けることなく巻き
層透過画像の先端を正確に検出することができ、検査対
象物の巻きずれを高精度に検査することができる。
像における先端の濃度にばらつきがあっても、先端の想
定点を複数検出したのちに、これら想定点の相互の位置
関係から真の先端位置を検出しているので、巻きずれの
大小による濃度のばらつきの影響を受けることなく巻き
層透過画像の先端を正確に検出することができ、検査対
象物の巻きずれを高精度に検査することができる。
【００１０】また、他の発明は、先端連続性評価手段に
代えて、先端想定点の周囲の濃度変化の規則性から先端
を検出する先端濃度変化規則性評価手段を備えている。
代えて、先端想定点の周囲の濃度変化の規則性から先端
を検出する先端濃度変化規則性評価手段を備えている。
【００１１】この巻きずれ検査装置においても、巻き層
透過画像における先端の濃度にばらつきがあっても、先
端の想定点を複数検出したのちに、各先端想定点の周囲
の濃度変化の規則性から真の先端を正確に検出すること
ができる。
透過画像における先端の濃度にばらつきがあっても、先
端の想定点を複数検出したのちに、各先端想定点の周囲
の濃度変化の規則性から真の先端を正確に検出すること
ができる。
【００１２】上記発明において、断層画像撮像手段は、
検査対象物の一側面にＸ線を照射するＸ線照射装置と、
検査対象物の他側面からＸ線透過画像を撮像するカメラ
と、前記Ｘ線照射装置と検査対象物との間に配置され、
前記カメラによるＸ線透過画像のシェーディングを低減
するフィルタとを備えた構成とすることがきる。
検査対象物の一側面にＸ線を照射するＸ線照射装置と、
検査対象物の他側面からＸ線透過画像を撮像するカメラ
と、前記Ｘ線照射装置と検査対象物との間に配置され、
前記カメラによるＸ線透過画像のシェーディングを低減
するフィルタとを備えた構成とすることがきる。
【００１３】それにより、巻き層の内，外周側の全体に
わたり濃度むらの無い均一なＸ線透過画像を得ることが
でき、この高画質のＸ線透過画像を画像処理することか
ら、検査性能が格段に向上する。
わたり濃度むらの無い均一なＸ線透過画像を得ることが
でき、この高画質のＸ線透過画像を画像処理することか
ら、検査性能が格段に向上する。
【００１４】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施の形
態について図面を参照しながら説明する。図１は本発明
の一実施の形態に係る巻きずれ検査装置を示す構成図で
あり、同図において、図８と同一若しくは同等のものに
は同一の符号を付してその説明を省略し、以下に相違す
る構成についてのみ説明する。
態について図面を参照しながら説明する。図１は本発明
の一実施の形態に係る巻きずれ検査装置を示す構成図で
あり、同図において、図８と同一若しくは同等のものに
は同一の符号を付してその説明を省略し、以下に相違す
る構成についてのみ説明する。
【００１５】図３はこの巻きずれ検査装置による検査対
象物２の一例を示し、この実施の形態では、幅および長
さの異なる２種類の短冊状の第１および第２のシート材
２１，２２を重ね合わせて渦巻き状に巻回してなる検査
対象物２の巻きずれを検査する場合について説明する。
検査対象物２は、位置決めテーブル１上に載置されて一
側面にフィルタ２３を介してＸ線照射装置３からＸ線が
を照射されるとともに、イメージインテシファイヤ４を
備えたテレビカメラ７により他側面から撮像され、テレ
ビカメラ７が撮像したＸ線透過画像により検査対象物２
の断層画像を得る。
象物２の一例を示し、この実施の形態では、幅および長
さの異なる２種類の短冊状の第１および第２のシート材
２１，２２を重ね合わせて渦巻き状に巻回してなる検査
対象物２の巻きずれを検査する場合について説明する。
検査対象物２は、位置決めテーブル１上に載置されて一
側面にフィルタ２３を介してＸ線照射装置３からＸ線が
を照射されるとともに、イメージインテシファイヤ４を
備えたテレビカメラ７により他側面から撮像され、テレ
ビカメラ７が撮像したＸ線透過画像により検査対象物２
の断層画像を得る。
【００１６】検査対象物２とＸ線照射装置３との間に配
置されたフィルタ２３は、図１に明示するように水平断
面形状がほぼ半円となっており、シート材２１，２２を
巻回してなる検査対象物２のＸ線透過画像を得るときの
シェーディングを低減する機能を有する。すなわち、こ
の種の検査対象物２に照射したＸ線は、最外周では単一
枚の巻き層を透過するだけであるが、中心に向かって内
周側にいくにしたがって順次多くの巻き層を透過するこ
とになるから、テレビカメラ７により得られる検査対象
物２のＸ線透過画像は、外周側と中央部とで濃度がかな
り相違する低画質になってしまう。そこで、Ｘ線照射装
置３から均等な分布で出射されるＸ線を、断面半円形の
フィルタ２３を通して検査対象物２に照射することによ
り、検査対象物２へのＸ線照射量を調整し、テレビカメ
ラ７で撮像したＸ線透過画像は、全体にわたり濃度差が
殆どなくなり、濃度むらのない高画質となるようにして
いる。そのため、以後の検査性能の向上を図ることがで
きる。
置されたフィルタ２３は、図１に明示するように水平断
面形状がほぼ半円となっており、シート材２１，２２を
巻回してなる検査対象物２のＸ線透過画像を得るときの
シェーディングを低減する機能を有する。すなわち、こ
の種の検査対象物２に照射したＸ線は、最外周では単一
枚の巻き層を透過するだけであるが、中心に向かって内
周側にいくにしたがって順次多くの巻き層を透過するこ
とになるから、テレビカメラ７により得られる検査対象
物２のＸ線透過画像は、外周側と中央部とで濃度がかな
り相違する低画質になってしまう。そこで、Ｘ線照射装
置３から均等な分布で出射されるＸ線を、断面半円形の
フィルタ２３を通して検査対象物２に照射することによ
り、検査対象物２へのＸ線照射量を調整し、テレビカメ
ラ７で撮像したＸ線透過画像は、全体にわたり濃度差が
殆どなくなり、濃度むらのない高画質となるようにして
いる。そのため、以後の検査性能の向上を図ることがで
きる。
【００１７】図４（ａ）はテレビカメラ７による撮像に
より得られた検査対象物２のＸ線透過画像２５を模式的
に示したもので、このＸ線透過画像２５における第１の
シート材２１による各巻き層透過画像２４と第２のシー
ト材２２による各巻き層透過画像２７とは、配列方向Ｘ
の位置に拘わらずほぼ均等な濃度になっている。この巻
きずれ検査装置では、Ｃ部に示すように、幅の小さい第
２のシート材２２の巻き層透過画像２７の先端が第１の
シート材２１の巻き層透過画像２４の先端よりも外側に
はみ出た巻きずれ状態を検出したときに、検査不良と判
定する。その判定を行うために、各巻き層透過画像２
４，２７の断層方向（つまりシート材２１，２２の幅方
向）Ｙにおける先端位置の検出を行う。この点について
は後述する。このテレビカメラ７の映像信号は、Ａ／Ｄ
変換回路１０に入力されて、画像の濃度を例えば２５６
階調（０〜255 ）に変換した画像データに数値化された
のちに、画像処理部２８に入力される。
より得られた検査対象物２のＸ線透過画像２５を模式的
に示したもので、このＸ線透過画像２５における第１の
シート材２１による各巻き層透過画像２４と第２のシー
ト材２２による各巻き層透過画像２７とは、配列方向Ｘ
の位置に拘わらずほぼ均等な濃度になっている。この巻
きずれ検査装置では、Ｃ部に示すように、幅の小さい第
２のシート材２２の巻き層透過画像２７の先端が第１の
シート材２１の巻き層透過画像２４の先端よりも外側に
はみ出た巻きずれ状態を検出したときに、検査不良と判
定する。その判定を行うために、各巻き層透過画像２
４，２７の断層方向（つまりシート材２１，２２の幅方
向）Ｙにおける先端位置の検出を行う。この点について
は後述する。このテレビカメラ７の映像信号は、Ａ／Ｄ
変換回路１０に入力されて、画像の濃度を例えば２５６
階調（０〜255 ）に変換した画像データに数値化された
のちに、画像処理部２８に入力される。
【００１８】図２は、画像処理部２８における画像処理
を示すフローチャートであり、以下、図１、図２に基づ
いて巻きずれ検査装置の画像処理について説明する。こ
の画像処理部２８では、中央処理装置（ＣＰＵ）１２が
予め設定された制御プログラムおよび制御データに基づ
いて全体を制御する。先ず、画像積分手段１３におい
て、Ａ／Ｄ変換回路１０の画像データを複数回入力させ
て、その画像データを加算したのちに平均化して積分画
像データを得る（ステップＳ１１）。これにより、Ｘ線
透過画像２５に発生するランダムノイズの影響を除去し
ている。
を示すフローチャートであり、以下、図１、図２に基づ
いて巻きずれ検査装置の画像処理について説明する。こ
の画像処理部２８では、中央処理装置（ＣＰＵ）１２が
予め設定された制御プログラムおよび制御データに基づ
いて全体を制御する。先ず、画像積分手段１３におい
て、Ａ／Ｄ変換回路１０の画像データを複数回入力させ
て、その画像データを加算したのちに平均化して積分画
像データを得る（ステップＳ１１）。これにより、Ｘ線
透過画像２５に発生するランダムノイズの影響を除去し
ている。
【００１９】つぎに、巻き層位置検出用処理エリア設定
手段２９では、検査対象の各巻き層透過画像２４，２７
の配列方向Ｘにおける各々の位置を検出するために、図
４（ａ）に示すように、その処理すべき範囲を巻き層位
置検出用処理エリアＥ１として設定する（ステップＳ１
２）。
手段２９では、検査対象の各巻き層透過画像２４，２７
の配列方向Ｘにおける各々の位置を検出するために、図
４（ａ）に示すように、その処理すべき範囲を巻き層位
置検出用処理エリアＥ１として設定する（ステップＳ１
２）。
【００２０】さらに、巻き層位置検出手段３０におい
て、前記設定した処理エリアＥ１内の各巻き層透過画像
２４，２７毎にその画素濃度を断層方向Ｙにたしあわせ
て、図４（ｂ）に示すような投影データを作成する。図
４（ｂ）には、第１のシート材２１の各巻き層透過画像
２４の投影データを例示しているが、第２のシート材２
２の各巻き層透過画像２７についても同様にして投影デ
ータが作成される。さらに、作成した投影データに対し
て所定のマスクデータによりコンボリューション処理を
行い、図４（ｃ）に示すような微分データを作成し、こ
の微分データにおける下限閾値Ｓ１および上限閾値Ｓ２
をそれぞれ超える濃度変化領域Ｄにおける投影データの
最小値位置を各巻き層透過画像２４，２７の配列方向Ｘ
における位置座標Ｍとして検出する（ステップＳ１
３）。なお、図４（ｃ）には第１のシート材２１の巻き
層透過画像２４の微分データを例示しているが、第２の
シート材２２の各巻き層透過画像２７についても、同様
にして投影データを作成して、各巻き層透過画像２７の
配列方向Ｘにおける位置座標を検出するのは言うまでも
ない。
て、前記設定した処理エリアＥ１内の各巻き層透過画像
２４，２７毎にその画素濃度を断層方向Ｙにたしあわせ
て、図４（ｂ）に示すような投影データを作成する。図
４（ｂ）には、第１のシート材２１の各巻き層透過画像
２４の投影データを例示しているが、第２のシート材２
２の各巻き層透過画像２７についても同様にして投影デ
ータが作成される。さらに、作成した投影データに対し
て所定のマスクデータによりコンボリューション処理を
行い、図４（ｃ）に示すような微分データを作成し、こ
の微分データにおける下限閾値Ｓ１および上限閾値Ｓ２
をそれぞれ超える濃度変化領域Ｄにおける投影データの
最小値位置を各巻き層透過画像２４，２７の配列方向Ｘ
における位置座標Ｍとして検出する（ステップＳ１
３）。なお、図４（ｃ）には第１のシート材２１の巻き
層透過画像２４の微分データを例示しているが、第２の
シート材２２の各巻き層透過画像２７についても、同様
にして投影データを作成して、各巻き層透過画像２７の
配列方向Ｘにおける位置座標を検出するのは言うまでも
ない。
【００２１】つぎに、巻き層先端検出用処理エリア設定
手段３１は、図４（ａ）に示すように、前述の検出した
位置座標Ｍを中心にして断層方向Ｙに長めの巻き層先端
検出用処理エリアＥ２を各巻き層透過画像２４，２７毎
に順次設定する（ステップＳ１４）。さらに、巻き層先
端想定点検出手段３２は、前述の設定した処理エリアＥ
２内の画素濃度を断層方向Ｙにたしあわせて、図４
（ｄ）に示すような投影データを作成し、さらに、作成
した投影データに対して所定のマスクデータによりコン
ボリューション処理を行い、図４（ｅ）に示すような微
分データを作成し、この微分データにおける閾値Ｓ３以
上の変化点を先端想定点として検出する（ステップＳ１
５）。なお、図４（ｅ）は、最外周の巻き層透過画像２
４における微分データを示したものであるから、変化点
は一つであり、この変化点の最大値の座標が先端とな
る。すなわち、この場合には、想定点でなく、真の先端
が検出されたことになる。以下、同様にして全ての巻き
層透過画像２４，２７についてその先端想定点が順次検
出されていく。
手段３１は、図４（ａ）に示すように、前述の検出した
位置座標Ｍを中心にして断層方向Ｙに長めの巻き層先端
検出用処理エリアＥ２を各巻き層透過画像２４，２７毎
に順次設定する（ステップＳ１４）。さらに、巻き層先
端想定点検出手段３２は、前述の設定した処理エリアＥ
２内の画素濃度を断層方向Ｙにたしあわせて、図４
（ｄ）に示すような投影データを作成し、さらに、作成
した投影データに対して所定のマスクデータによりコン
ボリューション処理を行い、図４（ｅ）に示すような微
分データを作成し、この微分データにおける閾値Ｓ３以
上の変化点を先端想定点として検出する（ステップＳ１
５）。なお、図４（ｅ）は、最外周の巻き層透過画像２
４における微分データを示したものであるから、変化点
は一つであり、この変化点の最大値の座標が先端とな
る。すなわち、この場合には、想定点でなく、真の先端
が検出されたことになる。以下、同様にして全ての巻き
層透過画像２４，２７についてその先端想定点が順次検
出されていく。
【００２２】続いて、先端連続性評価手段３３は、各巻
き層透過画像２４，２７毎にそれぞれ複数個ずつ検出さ
れる先端想定点について、隣接する複数の先端想定点の
位置関係から連続性の評価を行って、各先端想定点の中
から真の先端位置を抽出する（ステップＳ１６）。い
ま、図５（ａ）に示すように、第１のシート材２１にお
ける最外周から内方へ３周目までの各巻き層透過画像２
４Ａ，２４Ｂ，２４Ｃを例に説明すると、最外周の巻き
層透過画像２４Ａの先端位置Ｔ１のみは上述のように既
知であり、この先端位置Ｔ１から内方の巻き層透過画像
２４Ｂの或る先端想定点Ｔ２を結ぶ直線を想定し、その
直線上にさらに内方の巻き層透過画像２４Ｃのいずれか
の先端想定点Ｔ３が位置するか否かの組み合わせ演算を
行い、最適の組み合わせを決定する。
き層透過画像２４，２７毎にそれぞれ複数個ずつ検出さ
れる先端想定点について、隣接する複数の先端想定点の
位置関係から連続性の評価を行って、各先端想定点の中
から真の先端位置を抽出する（ステップＳ１６）。い
ま、図５（ａ）に示すように、第１のシート材２１にお
ける最外周から内方へ３周目までの各巻き層透過画像２
４Ａ，２４Ｂ，２４Ｃを例に説明すると、最外周の巻き
層透過画像２４Ａの先端位置Ｔ１のみは上述のように既
知であり、この先端位置Ｔ１から内方の巻き層透過画像
２４Ｂの或る先端想定点Ｔ２を結ぶ直線を想定し、その
直線上にさらに内方の巻き層透過画像２４Ｃのいずれか
の先端想定点Ｔ３が位置するか否かの組み合わせ演算を
行い、最適の組み合わせを決定する。
【００２３】例えば、図５（ｂ）に示すように、既知の
先端Ｔ１と先端想定点Ｔ２とを直線で結び、この直線と
巻き層透過画像２４Ｃの配列方向Ｘにおける検出位置座
標Ｍとの交点を中心として両側に許容範囲Ｒを設定し、
この許容範囲Ｒ内に先端想定点Ｔ３が存在した場合に
は、その組み合わせを最適組み合わせと決定して、その
ときの先端想定点Ｔ２を真の先端位置として決定する。
つぎに、この既知の先端Ｔ２を基準として前述と同様の
連続性評価を行って、巻き層透過画像２４Ｃの断層方向
Ｙの真の先端位置Ｔ３を決定する。以下、同様にして全
ての巻き層透過画像２４，２７の断層方向Ｙの先端位置
を検出する。
先端Ｔ１と先端想定点Ｔ２とを直線で結び、この直線と
巻き層透過画像２４Ｃの配列方向Ｘにおける検出位置座
標Ｍとの交点を中心として両側に許容範囲Ｒを設定し、
この許容範囲Ｒ内に先端想定点Ｔ３が存在した場合に
は、その組み合わせを最適組み合わせと決定して、その
ときの先端想定点Ｔ２を真の先端位置として決定する。
つぎに、この既知の先端Ｔ２を基準として前述と同様の
連続性評価を行って、巻き層透過画像２４Ｃの断層方向
Ｙの真の先端位置Ｔ３を決定する。以下、同様にして全
ての巻き層透過画像２４，２７の断層方向Ｙの先端位置
を検出する。
【００２４】最後に、良否判別手段３４は、検出した各
巻き層透過画像２４，２７の各々の先端からその長さを
チェックしてずれ量を算出したのちに、このずれ量が許
容範囲内であるか否かを判別して巻きずれの良否を判定
する（ステップＳ１７）。
巻き層透過画像２４，２７の各々の先端からその長さを
チェックしてずれ量を算出したのちに、このずれ量が許
容範囲内であるか否かを判別して巻きずれの良否を判定
する（ステップＳ１７）。
【００２５】また、先端想定点から真の先端を検出する
場合、上述の先端連続性評価手段３３に代えて、図１に
示す先端濃度変化規則性評価手段３７により先端の濃度
変化の規則性の評価から真の先端を検出するようにして
もよい（ステップＳ１８）。
場合、上述の先端連続性評価手段３３に代えて、図１に
示す先端濃度変化規則性評価手段３７により先端の濃度
変化の規則性の評価から真の先端を検出するようにして
もよい（ステップＳ１８）。
【００２６】すなわち、図６に示すように、先端想定点
Ｔに対し断層方向Ｙの両側にそれぞれ一定距離Ｌだけ離
れた各領域の濃度差を求めて、この濃度差が所定値以上
である場合に真の先端であると検出する。
Ｔに対し断層方向Ｙの両側にそれぞれ一定距離Ｌだけ離
れた各領域の濃度差を求めて、この濃度差が所定値以上
である場合に真の先端であると検出する。
【００２７】
【発明の効果】本発明の巻きずれ検査装置によれば、先
端の想定点を複数検出したのちに、これら想定点の相互
の位置関係から真の先端位置を検出する、或いは、各先
端想定点の周囲の濃度変化の規則性から真の先端を検出
するので、巻き層透過画像における先端の濃度にばらつ
きがあっても、巻き層透過画像の先端を正確に検出する
ことができ、検査対象物の巻きずれを高精度に検査する
ことができる。
端の想定点を複数検出したのちに、これら想定点の相互
の位置関係から真の先端位置を検出する、或いは、各先
端想定点の周囲の濃度変化の規則性から真の先端を検出
するので、巻き層透過画像における先端の濃度にばらつ
きがあっても、巻き層透過画像の先端を正確に検出する
ことができ、検査対象物の巻きずれを高精度に検査する
ことができる。
【図１】本発明の一実施の形態に係る巻きずれ検査装置
を示す構成図。
を示す構成図。
【図２】同上装置の画像処理を示すフローチャート。
【図３】同上装置の検査対象物の斜視図。
【図４】同上装置の画像処理の説明図で、（ａ）は検査
対象物のＸ線透過画像、（ｂ）はＸ線透過画像の配列方
向の投影データ、（ｃ）は配列方向の投影データの微分
データ、（ｄ）はＸ線透過画像の断層方向の投影デー
タ、（ｅ）は断層方向の投影データの微分データを夫々
示す。
対象物のＸ線透過画像、（ｂ）はＸ線透過画像の配列方
向の投影データ、（ｃ）は配列方向の投影データの微分
データ、（ｄ）はＸ線透過画像の断層方向の投影デー
タ、（ｅ）は断層方向の投影データの微分データを夫々
示す。
【図５】（ａ），（ｂ）は同上装置における巻き層透過
画像の断層方向の先端を連続性評価により検出するため
の画像処理の説明図。
画像の断層方向の先端を連続性評価により検出するため
の画像処理の説明図。
【図６】同上装置における巻き層透過画像の断層方向の
先端を濃度変化の規則性から検出するための画像処理の
説明図。
先端を濃度変化の規則性から検出するための画像処理の
説明図。
【図７】従来の巻きずれ検出装置の構成図。
【図８】同上装置の画像処理を示すフローチャート。
２ 検査対象物 ３ Ｘ線照射装置 ７ テレビカメラ ２１，２２ シート材 ２３ フィルタ ２４，２７ 巻き層透過画像 ２５ Ｘ線透過画像 ３０ 巻き層位置検出手段 ３２ 巻き層先端想定点検出手段 ３３ 先端連続性評価手段 ３４ 良否判定手段 ３７ 先端濃度変化規則性評価手段 Ｘ 配列方向 Ｙ 断層方向（長さ方向） Ｔ，Ｔ１〜Ｔ３ 先端想定点
Claims (3)
- 【請求項１】 帯状または短冊状のシート材を巻回して
なる検査対象物の巻きずれ状態を画像処理により検査す
る巻きずれ検査装置において、 検査対象物のＸ線透過画像を得る断層画像撮像手段と、 前記Ｘ線透過画像における前記シート材の各周の巻き層
にそれぞれ相当する各巻き層透過画像のこれの配列方向
に対する位置を検出する巻き層位置検出手段と、 前記各巻き層透過画像の各々の長さ方向の先端の想定点
を検出する巻き層先端想定点検出手段と、 隣接する複数の前記巻き層透過画像の各々の先端想定点
の相互の位置の連続性から真の先端位置を検出する先端
連続性評価手段と、 検出された各先端の位置関係から巻きずれの良否の判定
を行う良否判定手段とを備えたことを特徴とする巻きず
れ検査装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の先端連続性評価手段に
代えて、先端想定点の周囲の濃度変化の規則性から先端
を検出する先端濃度変化規則性評価手段を備えている巻
きずれ検査装置。 - 【請求項３】 断層画像撮像手段は、検査対象物の一側
面にＸ線を照射するＸ線照射装置と、検査対象物の他側
面からＸ線透過画像を撮像するカメラと、前記Ｘ線照射
装置と検査対象物との間に配置され、前記カメラによる
Ｘ線透過画像のシェーディングを低減するフィルタとに
より構成されている請求項１または２に記載の巻きずれ
検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20893097A JP3290927B2 (ja) | 1997-08-04 | 1997-08-04 | 巻きずれ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20893097A JP3290927B2 (ja) | 1997-08-04 | 1997-08-04 | 巻きずれ検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1151629A true JPH1151629A (ja) | 1999-02-26 |
| JP3290927B2 JP3290927B2 (ja) | 2002-06-10 |
Family
ID=16564489
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20893097A Expired - Fee Related JP3290927B2 (ja) | 1997-08-04 | 1997-08-04 | 巻きずれ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3290927B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009110937A (ja) * | 2007-09-20 | 2009-05-21 | Celgard Llc | Ｘ線感知電池セパレータ及び電池内のセパレータの位置を検出する方法 |
| US7687196B2 (en) * | 2003-07-01 | 2010-03-30 | Panasonic Corporation | Prismatic battery and method for manufacturing the same |
| JP2012004074A (ja) * | 2010-06-21 | 2012-01-05 | Hitachi Setsubi Eng Co Ltd | タブ付き電極材を内装した筒型電池のタブ検査方法、その検査方法に用いるタブ検査装置、及びタブマーキング装置 |
| JP2012524385A (ja) * | 2009-04-20 | 2012-10-11 | リ−テック・バッテリー・ゲーエムベーハー | バッテリーを動作させるための方法 |
| US9404733B2 (en) | 2012-05-11 | 2016-08-02 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Winding device, winding method, inspection device and structure manufacturing method |
-
1997
- 1997-08-04 JP JP20893097A patent/JP3290927B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7687196B2 (en) * | 2003-07-01 | 2010-03-30 | Panasonic Corporation | Prismatic battery and method for manufacturing the same |
| JP2009110937A (ja) * | 2007-09-20 | 2009-05-21 | Celgard Llc | Ｘ線感知電池セパレータ及び電池内のセパレータの位置を検出する方法 |
| JP2012524385A (ja) * | 2009-04-20 | 2012-10-11 | リ−テック・バッテリー・ゲーエムベーハー | バッテリーを動作させるための方法 |
| JP2012004074A (ja) * | 2010-06-21 | 2012-01-05 | Hitachi Setsubi Eng Co Ltd | タブ付き電極材を内装した筒型電池のタブ検査方法、その検査方法に用いるタブ検査装置、及びタブマーキング装置 |
| US9404733B2 (en) | 2012-05-11 | 2016-08-02 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Winding device, winding method, inspection device and structure manufacturing method |
| US9859584B2 (en) | 2012-05-11 | 2018-01-02 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Winding device, winding method, inspection device and structure manufacturing method in which a position of stuck together first and second wound sheets are detected via interference light generated using reflected reference light from a reference surface |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3290927B2 (ja) | 2002-06-10 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |