JPH114584A - インバータ装置 - Google Patents

インバータ装置

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JPH114584A
JPH114584A JP9153266A JP15326697A JPH114584A JP H114584 A JPH114584 A JP H114584A JP 9153266 A JP9153266 A JP 9153266A JP 15326697 A JP15326697 A JP 15326697A JP H114584 A JPH114584 A JP H114584A
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JP
Japan
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inverter device
bus bar
semiconductor switching
switching element
line
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JP9153266A
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English (en)
Inventor
Keiko Ishizuka
恵子 石塚
Eiji Fukumoto
英士 福本
Akira Mishima
章 三島
Hideki Miyazaki
英樹 宮崎
Shigeru Sugiyama
繁 椙山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】スイッチング時のサージ電圧を低く抑えて、安
定に動作でき、かつ保守点検が容易であるインバータ装
置を提供する。 【解決手段】平板の帯状の導体であるブスバー9〜14
は、2並列のIGBTモジュール1〜4と平行に、ダイ
オード5a〜8aおよびダイオード5b〜8bの上に設
けられている。ブスバー9〜14は絶縁板16を間に積
層されている。ブスバーとIGBTモジュールまたはダ
イオードの端子とは、ブスバーから枝状に伸びるリード
で接続される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、インバータ装置に
係り、特にインバータ装置のスイッチング素子を接続す
る低インダクタンス導体板に関する。
【0002】
【従来の技術】スイッチング素子を接続する低インダク
タンス導体板を、電流の流れる方向が交互になるよう
に、絶縁板を介して積層することによって、スイッチン
グ時のサージ電圧を低く抑えるとともに、スイッチング
素子に安定に電流を流すようにしたインバータ装置の例
が特開平7−46857 号に記載されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来技術
は、積層された低インダクタンス導体板がインバータ装
置の上面を覆っているので、故障したスイッチング素子
を交換するには低インダクタンス導体板をすべて取り外
さなくてはならず、インバータ装置の保守点検が容易で
はなかった。また、低インダクタンス導体板がインバー
タ装置の上面を広く覆っているので、導体板の端部近く
に電流の経路ができる場合には、電流の経路はスイッチ
ング素子の端子と電源との最短距離よりも非常に長くな
り、スイッチング素子の動作が不安定になる。
【0004】本発明の目的は、スイッチング時のサージ
電圧を低く抑えて、安定に動作でき、かつ保守点検が容
易であるインバータ装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成する本発
明の特徴は、複数の半導体スイッチング素子が同一平面
で直線上に配置され、配線導体が積層されて、半導体ス
イッチング素子配列と並設され、かつ前記同一平面の垂
直方向から見て前記半導体スイッチング素子配列に沿っ
て横方向に並設されていることにある。この特徴によれ
ば、配線導体が半導体スイッチング素子を覆っていない
ので、ブスバーをすべて取り外さなくてもIGBTモジ
ュールを交換することができ、インバータ装置の保守点
検が容易である。また、配線導体を半導体スイッチング
素子方向に延びるリードによって半導体スイッチング素
子の端子と接続しても、IGBTモジュールとリードと
の接続をはずせばIGBTモジュールを交換することが
でき、インバータ装置の保守点検が容易である。
【0006】また、帯状の配線導体、および配線導体と
IGBTモジュールの端子とを接続しているリードを用
いれば、電流の経路は配線導体およびリードの幅内にあ
るので、配線導体がインバータ装置の上面を広く覆う場
合よりも電流の経路を短くすることができ、インバータ
装置を安定に動作させることができる。
【0007】本発明の他の特徴は、積層されて隣接する
配線導体が、それらに流れる電流が逆方向になるように
積層されていることにあり、配線導体の相互インダクタ
ンスを低減し、配線導体全体のインダクタンスを低減す
ることができる。従って、スイッチング時のサージ電圧
を低く抑えることができ、インバータ装置を安定に動作
させることができる。また、配線導体と半導体スイッチ
ング素子とを接続するリードを積層構造にすれば、イン
ダクタンスをより低減することができる。
【0008】
【発明の実施の形態】
(実施例1)本発明の第1の実施例であるインバータ装
置100を図1に示す。
【0009】インバータ装置100は、スイッチング素
子であるIGBTモジュールを2並列に用いた単相3レ
ベルインバータ装置である。
【0010】インバータ装置100におけるIGBTモ
ジュール,ダイオードおよびブスバーの配置を図2〜図
6に示す。インバータ装置100においては、アルミ板
などの放熱板15上に、IGBTモジュール1a〜4a
の配列およびIGBTモジュール1b〜4bの配列が平
行に設けられており、二つの配列の間に、ダイオード5
a〜8aの配列とダイオード5b〜8bの配列が設けて
ある。IGBTモジュールと電源(図示せず),負荷
(図示せず)またはダイオードとを接続する平板の帯状
の導体であるA1ラインブスバー9,A2ラインブスバ
ー10(図6参照),Pラインブスバー11(図5参
照),Uラインブスバー12(図4参照),Cラインブ
スバー13(図3参照),Nラインブスバー14(図2
参照)は、2並列のIGBTモジュール1a〜4aおよ
びIGBTモジュール1b〜4bと平行に、ダイオード
5a〜8aおよびダイオード5b〜8bの上に設けられ
ている。各ブスバーは、図7に示すように絶縁板16を
間に積層されている。最下層にはスイッチング素子とダ
イオードを接続するA1ラインブスバー9,A2ライン
ブスバー10が設置され、これらの上にPラインブスバ
ー11,Uラインブスバー12,Cラインブスバー1
3,Nラインブスバー14の順で積層されている。また
最下層にはスイッチング素子とダイオードを接続するA
1ラインブスバー9,A2ラインブスバー10が設置さ
れている。
【0011】絶縁板16は、例えばエポキシ樹脂などで
ある。ここでこの絶縁板16は可能な限り厚みを小さく
し、ブスバー間の距離を近づける。ブスバーとIGBT
モジュールまたはダイオードの端子とは、ブスバーから
枝状に伸びるリード18で接続される。
【0012】図8にインバータ装置100の回路を示
す。A1ライン19(A1ラインブスバー9)はIGB
Tモジュール1a,1bのエミッタE、IGBTモジュ
ール2a,2bのコレクタC及びダイオード5a,5
b,6a,6bのコレクタCを、A2ライン20(A2
ラインブスバー10)はIGBTモジュール3a,3b
のエミッタE、IGBTモジュール4a,4bのコレク
タC及びダイオード7a,7b,8a,8bのエミッタ
Eを接続している。Pライン21(Pラインブスバー1
1)はIGBTモジュール2a,2bのエミッタE及び
IGBTモジュール3a,3bのコレクタCを、Uライ
ン22(Uラインブスバー12)はIGBTモジュール1
a,1bのコレクタCを、Cライン23(Cラインブス
バー13)はダイオード5a,5b,6a,6bのエミ
ッタE及びダイオード7a,7b,8a,8bのコレク
タCを、Nライン24(Nラインブスバー14)はIG
BTモジュール4a,4bのエミッタEを接続してお
り、Uライン20は負荷へ、Pライン21,Cライン2
3及びNライン24はいずれも電源部へ接続している。
インバータ装置100のスイッチング時の電流経路を一
相分について図9に示す。図中の矢印は電流経路と方向
を示す。スイッチングモードは(a)〜(d)の4パター
ンある。スイッチングモード(a)はIGBTモジュー
ル1a,1bおよびIGBTモジュール2a,2bがO
Nのときの電流経路であり、Pラインブスバー11の電
流方向に対して、A1ラインブスバー9およびUライン
ブスバー12の電流方向は逆である。スイッチングモー
ド(b)はIGBTモジュール2a,2bがONのとき
の電流経路であり、Cラインブスバー13の電流方向に
対して、A1ラインブスバー9およびUラインブスバー
12の電流方向は逆である。スイッチングモード(c)
はIGBTモジュール3a,3bがONのときの電流経
路であり、Uラインブスバー12の電流方向に対して、
A2ラインブスバー10およびCラインブスバー13の
電流方向は逆である。スイッチングモード(d)はIG
BTモジュール3a,3bおよびIGBTモジュール4
a,4bがONのときの電流経路であり、Uラインブス
バー12の電流方向に対してA2ラインブスバー10と
Nラインブスバー14の電流方向は逆である。
【0013】積層されているブスバーに互いに逆向きの
電流(往復電流)が流れるときのインダクタンスが低減
される原理を説明する。
【0014】配線に用いられる板状導体であるブスバー
の自己インダクタンスは、導体の断面を一様の電流が流
れている場合、
【0015】
【数1】
【0016】(ただし、μ0:真空透磁率,l:導体の
長さ,a:導体の幅,b:導体の厚さ)の式で表わされ
る。幅aを大きくするほどブスバーの自己インダクタン
スを低減できる。また二つのブスバーが間隔dで平行に
位置する場合、その間に働く相互インダクタンスは、二
つの導体間の幾何学的平均距離をDとすると、
【0017】
【数2】
【0018】で表わされ、Mは距離Dが小さい程大きい
値をとる。ここでこの相互インダクタンスの符号は二つ
の配線導体間に逆の方向に往復の電流が流れる場合には
負の値をとる。そしてこの場合、二つのブスバー間の全
体のインダクタンスLtot は、
【0019】
【数3】 Ltot =L1 +L2 +2M12 …(数3) (ただし、L1 :一つのブスバーの自己インダクタン
ス,L2 :もう一つのブスバーの自己インダクタンス、
12:二つのブスバーの相互インダクタンス)で表わさ
れ、各配線の自己インダクタンスとその間に働く相互イ
ンダクタンスの総和によって求められる。
【0020】図10に示すような帯状のブスバーに往復
する電流が流れる場合、インダクタンスLtot は、
【0021】
【数4】 Ltot =2(L+M) …(数4) (ただし、L:一つのブスバーの自己インダクタンス、
M:二つのブスバーの相互インダクタンス)で表わされ
る。Mは二つのブスバーに往復電流(互いに逆向きの電
流)が流れるとき負の値となる。
【0022】図11はブスバー間の距離Dに対するイン
ダクタンスLtot の変化を示す図である。自己インダク
タンスLはブスバーの形状によって決定されるので、距
離Dが変化しても自己インダクタンスLは一定である。
ブスバーを近接させることによって相互インダクタンス
Mの絶対値は大きくなり、往復電流の場合では負の値を
とるので、インダクタンスLtot は低減する。
【0023】インバータ装置100においては、図7お
よび図9に示すように、Pラインブスバー11にA1ラ
インブスバー9およびUラインブスバー12が隣接して
いるので、スイッチングモード(a)のときのインダク
タンスを低減でき、Uラインブスバー12とCラインブ
スバー13とが隣接しているのでスイッチングモード
(b)および(c)のときのインダクタンスを低減でき
る。スイッチングモード(d)のときは往復電流が流れ
る隣接するブスバーの組合わせはないが、電流が流れる
ブスバーと流れないブスバーとが交互に積層されている
から、同じ向きの電流が流れるブスバーを隣接させてい
るインバータ装置やブスバーを積層しないインバータ装
置に比べてインダクタンスを低減できる。
【0024】また、各ブスバーをインバータ装置100
(図7参照)のように積層する以外に、図12に示すイン
バータ装置101または図13に示すインバータ装置1
02のように積層しても良い。インバータ装置101
は、Nラインブスバー14,Cラインブスバー13,U
ラインブスバー12及びPラインブスバー11をインバ
ータ装置100と逆に積層した場合であり、インバータ
装置102は、Cラインブスバー13とUラインブスバ
ー12の順序をインバータ装置100と逆にした場合で
ある。
【0025】インバータ装置100,インバータ装置1
01及びブスバーを積層しないインバータ装置Aについ
て、スイッチングモード(a)〜(d)(図9参照)におけ
る、それぞれのブスバー全体のインダクタンスを比較し
た結果を図14に示す。
【0026】全てのスイッチングモードにおいて、ブス
バーを積層構造にしたインバータ装置100及びインバ
ータ装置101は、ブスバーを積層しないインバータ装
置Aに比べてインダクタンスを低減することができた。
スイッチングモード(a)〜(c)においては、インバ
ータ装置100のインダクタンスはインバータ装置10
1よりもかなり低く、全体としてインバータ装置100
が最もインダクタンスを低減できた。
【0027】インバータ装置102は、Cラインブスバ
ー13とUラインブスバー12に往復電流がながれるス
イッチングモード(b)〜(c)でインダクタンスを低減
できる。さらに、スイッチングモード(a)からスイッ
チングモード(b)へ変化する際(IGBTモジュール
1a,1bがオフ)には、図15に示すような経路の過
渡的な電流が流れる。このとき、隣接するPラインブス
バー11とCラインブスバー13には往復電流がながれ
るので、インダクタンスを低減できる。スイッチングモ
ードが変化する際にながれる過渡電流が問題となる場合
は、インバータ装置102のように過渡電流に着目して
ブスバーの積層順序を変えてもよい。
【0028】また、インバータ装置100,インバータ
装置102は、最も長いPラインブスバー11を最下層
に、Nラインブスバー14を最上層に配置しているか
ら、ブスバーに要する空間体積が最小に抑えることがで
きる。
【0029】本実施例のインバータ装置によれば、ブス
バーが2並列のIGBTモジュール1〜4と平行に、ダ
イオード5a〜8aおよびダイオード5b〜8bの上に
設けられ、ブスバーから枝状に伸びるリード18がブス
バーとIGBTモジュールまたはダイオードの端子とを
接続するので、従来のようにブスバーをすべて取り外さ
なくても、IGBTモジュールとリード18との接続を
はずせばIGBTモジュールを交換することができ、イ
ンバータ装置の保守点検が容易である。
【0030】本実施例のインバータ装置によれば、帯状
の各ブスバーを電流の向きが互いに逆になるように配置
して積層しているので、インダクタンスを低減すること
ができる。従って、スイッチング時のサージ電圧を低く
抑えことができ、安定に動作することができる。
【0031】また、本実施例のインバータ装置は、帯状
のブスバーを用い、ブスバーから枝状に伸びるリード1
8でブスバーとIGBTモジュールまたはダイオードの
端子とを接続しているので、電流の経路は配線導体およ
びリードの幅内にあり、従来のように配線導体がインバ
ータ装置の上面を広く覆っている場合よりも、電流の経
路を短くすることができる。従って、インバータ装置を
安定に動作させることができる。
【0032】(実施例2)本発明の第2の実施例である
ブスバーとIGBTモジュールとの接続の仕方を説明す
る。
【0033】本実施例のブスバーとIGBTモジュール
との接続部を図16に示す。ブスバーとIGBTモジュ
ールとは、ブスバーから枝状に伸びる幅広のリードで接
続される。
【0034】図16は、Pラインブスバー11およびA
1ラインブスバー9のIGBTモジュール1a,1bと
の接続部である。Pラインブスバー11はリード211
a,211bでIGBTモジュール1a,1bのコレク
タCと接続され、A1ラインブスバー9はリード209
a,209bで、IGBTモジュール1a,1bのエミ
ッタEと接続されている。リード211とリード209
は平行でかつ近接させて配置されている。
【0035】第1の実施例でブスバーのインダクタンス
について述べたように、ブスバーと同様にリードについ
ても、幅を広くし、互いに逆向きの電流が流れるリード
と近接させることによってインダクタンスを低減するこ
とができる。
【0036】従って、第1の実施例のインバータ装置
で、リードの幅を広くし、互いに逆向きの電流が流れる
リードを近接させれば、よりインダクタンスを低減する
ことができる。
【0037】また、ブスバーの左右のリードの長さを同
じにすれば、ブスバーからリードを経てIGBTモジュ
ールに流れる電流のバランスがよくなるので、高周波数
スイッチングにおいても、インバータ装置を安定に動作
させることができる。
【0038】また、第1の実施例では、すべてのIGB
Tモジュールおよびダイオードについて、エミッタ端子
およびコレクタ端子の位置が同じものを用いたが、図1
7に示すように、エミッタ端子およびコレクタ端子の位
置が、ブスバーを挟んで対称になるIGBTモジュール
およびダイオードを用いても良い。この場合はブスバー
とリード18が左右対称となり、左右の並列のIGBT
モジュールの電流の経路が対称形になって、並列のIG
BTモジュールの動作が同じになるので、インバータ装
置をより安定に動作させることができる。
【0039】(実施例3)本発明の第3の実施例である
インバータユニット300を図18を用いて説明する。
インバータユニット300は、第1の実施例で説明した
インバータ装置100を容器301に収め、各ブスバー
の電源または負荷方向の端部302を容器301の外に
出したものである。多くのインバータ装置を用いる電力
機器にインバータユニット300を用いれば、インバー
タ装置に故障が発生した場合に、故障したインバータユ
ニットを取り替えれば、電力機器を早く復旧させること
ができる。
【0040】(実施例4)本発明の第4の実施例である
インバータ装置400を説明する。
【0041】インバータ装置400は、IGBTモジュ
ールを2並列に用いた単相2レベルインバータ装置であ
る。インバータ装置400は、アルミ板などの放熱板1
5上に設けられたIGBTモジュール1a,1b,4
a,4bの四つのIGBTモジュールと、帯状のPライ
ンブスバー41,Uラインブスバー42及びNラインブ
スバー44を有する。
【0042】インバータ装置400の回路を図19に示
す。Pライン51(Pラインブスバー41)はIGBT
モジュール1a,1bのコレクタCを、Uライン52
(Uラインブスバー42)はIGBTモジュール1a,
1bのエミッタEとIGBTモジュール4a,4bのコ
レクタCを、Nライン54(Nラインブスバー44)は
IGBTモジュール4a,4bのエミッタEをリード1
8で接続しており、Uライン22は負荷へ、Pライン2
1及びNライン24はいずれも電源部へ接続している。
IGBTモジュールと各ブスバーとの接続を図20に示
す。
【0043】インバータ装置400は、図21に示すよ
うに、Pラインブスバー41を最下層に、Uラインブス
バー42を中間層に、Nラインブスバー44を最上層に
し、絶縁板16を間にして積層している。
【0044】インバータ装置400は、第1の実施例の
インバータ装置と同様に、IGBTモジュールとリード
18との接続をはずせば、IGBTモジュールを交換す
ることができるので、インバータ装置の保守点検が容易
である。また、帯状の各ブスバーを電流の向きが互いに
逆になるように配置して積層しているので、インダクタ
ンスを低減することができる。従って、スイッチング時
のサージ電圧を低く抑えることができ、安定に動作する
ことができる。また、帯状のブスバーを用い、ブスバー
から枝状に伸びるリード18でブスバーとIGBTモジ
ュールまたはダイオードの端子とを接続しているので、
インバータ装置100の場合と同様に、電流の経路は配
線導体およびリードの幅内にあり、従来のように配線導
体がインバータ装置の上面を広く覆っている場合より
も、電流の経路を短くすることができる。従って、イン
バータ装置を安定に動作させることができる。
【0045】
【発明の効果】本発明の特徴によれば、配線導体が積層
されて、半導体スイッチング素子配列と並設され、かつ
前記同一平面の垂直方向から見て前記半導体スイッチン
グ素子配列に沿って横方向に並設されているので、ブス
バーをすべて取り外さなくてもIGBTモジュールを交
換することができ、インバータ装置の保守点検が容易で
ある。また、配線導体をリードによって半導体スイッチ
ング素子の端子と接続しても、IGBTモジュールとリ
ードとの接続をはずせばIGBTモジュールを交換する
ことができ、インバータ装置の保守点検が容易である。
【0046】また、帯状の配線導体、および配線導体と
IGBTモジュールの端子とを接続しているリードを用
いれば、電流の経路は配線導体およびリードの幅内にあ
るので、電流の経路を短くすることができ、インバータ
装置を安定に動作させることができる。
【0047】本発明の他の特徴によれば、積層されて隣
接する配線導体が、それらに流れる電流が逆方向になる
ように積層されて配線導体全体のインダクタンスを低減
することができるので、スイッチング時のサージ電圧を
低く抑えることができ、インバータ装置を安定に動作さ
せることができる。また、配線導体と半導体スイッチン
グ素子とを接続するリードを積層構造にすれば、インダ
クタンスをより低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例であるインバータ装置1
00の全体を示す図である。
【図2】インバータ装置100のIGBTモジュール,
ダイオードおよびNラインブスバー14の配置を示す図
である。
【図3】インバータ装置100のIGBTモジュール,
ダイオードおよびCラインブスバー13の配置を示す図
である。
【図4】インバータ装置100のIGBTモジュール,
ダイオードおよびUラインブスバー12の配置を示す図
である。
【図5】インバータ装置100のIGBTモジュール,
ダイオードおよびPラインブスバー11の配置を示す図
である。
【図6】インバータ装置100のIGBTモジュール,
ダイオード,A1ラインブスバー9およびA2ラインブ
スバー10の配置を示す図である。第1の実施例のイン
バータ装置のスイッチング動作時の電流経路を示す図で
ある。
【図7】インバータ装置100の積層配置を示す図であ
る。
【図8】インバータ装置100の回路図である。
【図9】インバータ装置100のスイッチンング時の電
流経路を示す回路図である。
【図10】平行に配置された帯状のブスバーを示す図で
ある。
【図11】ブスバー間の距離Dに対するインダクタンス
Ltot の変化を示す図である。
【図12】他のインバータ装置101のブスバーの積層
順を示す図である。
【図13】他のインバータ装置102のブスバーの積層
順を示す図である。
【図14】インバータ装置100,インバータ装置10
1及びインバータ装置Aのブスバー全体のインダクタン
スを示す図である。
【図15】過渡的な電流が流れる経路を示す回路図であ
る。
【図16】積層されたリードを示す図である。
【図17】端子の位置がブスバーを挟んで対称なIGB
Tモジュールを用いた場合のUラインブスバー12を示
す図である。
【図18】本発明の第3の実施例であるインバータユニ
ット300を示す図である。
【図19】本発明の第4の実施例であるインバータ装置
400の回路図である。
【図20】インバータ装置400のIGBTモジュール
と各ブスバーとの接続を示す図である。
【図21】インバータ装置400の積層配置を示す図で
ある。
【符号の説明】
1a〜4a,1b〜4b…IGBTモジュール、5a〜
8a,5b〜8b…ダイオード、9…A1ラインブスバ
ー、10…A2ラインブスバー、11,41…Pライン
ブスバー、12,42…Uラインブスバー、13…Cラ
インブスバー、14,44…Nラインブスバー、15…
放熱板、16…絶縁板、18…リード、19…A1ライ
ン、20…A2ライン、21,51…Pライン、22,
52…Uライン、23…Cライン、24,54…Nライ
ン、209,209a,209b,211,211a,
211b…リード、300…インバータユニット、30
1…容器、302…端部、400…インバータ装置。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 宮崎 英樹 茨城県日立市大みか町七丁目1番1号 株 式会社日立製作所日立研究所内 (72)発明者 椙山 繁 茨城県日立市大みか町五丁目2番1号 株 式会社日立製作所大みか工場内

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】複数の半導体スイッチング素子と、前記半
    導体スイッチング素子の正極と電源正極とを接続する帯
    状の配線導体と、前記半導体スイッチング素子の負極と
    電源負極とを接続する帯状の配線導体とを備えたインバ
    ータ装置において、 前記複数の半導体スイッチング素子を同一平面で直線上
    に配置し、前記配線導体を積層して、積層構造の前記配
    線導体を前記半導体スイッチング素子配列と並設し、か
    つ前記同一平面の垂直方向から見て前記半導体スイッチ
    ング素子配列に沿って横方向に並設していることを特徴
    とするインバータ装置。
  2. 【請求項2】積層されて隣接する前記配線導体は、それ
    らに流れる電流が互いに逆方向になるように積層された
    ことを特徴とする請求項1のインバータ装置。
  3. 【請求項3】前記配線導体は、前記半導体スイッチング
    素子方向に延びて前記半導体スイッチング素子の端子と
    接続するリードを有することを特徴とする請求項1のイ
    ンバータ装置。
  4. 【請求項4】前記リードは積層されることを特徴とする
    請求項3のインバータ装置。
  5. 【請求項5】複数の半導体スイッチング素子と、前記半
    導体スイッチング素子の正極と電源正極とを接続する帯
    状の配線導体と、前記半導体スイッチング素子の負極と
    電源負極とを接続する帯状の配線導体とを備えたインバ
    ータ装置において、 前記複数の半導体スイッチング素子を同一平面で直線上
    に配置し、前記配線導体は、少なくとも帯状のブスバー
    と、このブスバーと一体とされて前記半導体スイッチン
    グ素子方向に延びて前記半導体スイッチング素子の端子
    と接続する帯状のリードからなり、隣接するブスバー
    は、そこに流れる電流を逆方向としてペアとされ、 少なくとも1のペアは、電源側で積層されていることを
    特徴とするインバータ装置。
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