JPH1144854A - 光走査光学装置 - Google Patents

光走査光学装置

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JPH1144854A
JPH1144854A JP21419997A JP21419997A JPH1144854A JP H1144854 A JPH1144854 A JP H1144854A JP 21419997 A JP21419997 A JP 21419997A JP 21419997 A JP21419997 A JP 21419997A JP H1144854 A JPH1144854 A JP H1144854A
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JP
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optical
scanning
optical element
light beam
cylindrical lens
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JP21419997A
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Koji Toyoda
浩司 豊田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 スポット径の変動を抑え、かつ環境変動(特
に温度変化)が生じてもピント変動が生じない高精度な
光学性能を維持することができる光走査光学装置を得る
こと。 【解決手段】 光源手段1aから射出された光束の状態
を変換光学素子1bにより他の状態に変換し、該変換さ
れた光束を入射光学手段2により偏向手段3の偏向面上
において主走査方向に長手の線状に結像させ、該偏向手
段で偏向された光束を走査光学手段10により被走査面
8上にスポット状に結像させ、該被走査面上を光走査す
る光走査光学装置において、該入射光学手段はプラスチ
ック材料で形成されたシリンドリカルレンズを有し、該
走査光学手段は副走査方向に屈折力を有する回折光学素
子4を有していること。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は光走査光学装置に関
し、特に走査光学手段(走査レンズ系)に湾曲した回折
光学素子を設け、入射光学手段としてのシリンドリカル
レンズをプラスチック材料で形成することにより、スポ
ット径の変動を抑え、かつ装置に環境変動(特に温度変
化)が生じてもピント変動が生じない、高精度な光学性
能を維持することができる、例えばレーザービームプリ
ンタ(LBP)やディジタル複写機等の画像形成装置に
好適な光走査光学装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来よりレーザービームプリンタやディ
ジタル複写機等の画像形成装置に用いられる光走査光学
装置においては画像信号に応じて光源手段から光変調さ
れ出射した光束(レーザービーム)を、例えば回転多面
鏡(ポリゴンミラー)より成る光偏向器により周期的に
偏向させ、fθ特性を有する走査レンズ系によって感光
性の記録媒体(感光ドラム)面上にスポット状に集束さ
せ、その面上を光走査して画像記録を行なっている。
【0003】図5は従来の光走査光学装置の要部概略図
である。
【0004】同図において光源手段11から射出した発
散光束はコリメーターレンズ12により略平行光束とさ
れ、絞り(アパーチャ)13によって該光束(光量)を
制限して副走査方向にのみ所定の屈折力を有するシリン
ドリカルレンズ14に入射している。シリンドリカルレ
ンズ14に入射した平行光束のうち主走査断面内におい
てはそのまま平行光束の状態で射出する。また副走査断
面内においては集束して回転多面鏡(ポリゴンミラー)
から成る光偏向器15の偏向面15aにほぼ線像として
結像している。
【0005】そして光偏向器15の偏向面で偏向反射さ
れた光束を走査レンズ系16を介して被走査面としての
感光ドラム面18上に導光し、該光偏向器15を矢印A
方向に回転させることによって、該感光ドラム面18上
を矢印B方向(主走査方向)に光走査して画像情報の記
録を行なっている。
【0006】この種の光走査光学装置に用いられる走査
レンズ系は光束を被走査面上に集光させると共に該被走
査面上の主走査方向の光スポットの走査速度を等速にす
る、所謂fθ特性を有し、また走査線全域にわたり微小
な光スポットが形成されるよう像面湾曲が良好に補正さ
れている。
【0007】更にほとんどの光走査光学装置は光偏向器
の各偏向面の加工誤差や回転軸のブレ等によって生ずる
走査位置の副走査方向(走査線と直交する方向)のズレ
を補正する、いわゆる面倒れ補正機能を走査レンズ系に
持たせている。
【0008】このため走査レンズ系は主走査方向と副走
査方向とで互いに異なった結像特性を有するアナモフィ
ックなレンズ系となり、該レンズ系を構成する複数のレ
ンズのうち少なくとも1つのレンズ面はトーリック面、
あるいはシリンドリカル面より形成され、かつ十分な光
学精度が得られるように構成されている。
【0009】このトーリック面やシリンドリカル面は従
来、硝子加工で加工され、これを走査レンズとして用い
てきたが、これは加工が困難であり、かつコストがかか
るという問題点があった。そこで近年ではコストが低
く、かつ自由なレンズ形状で収差補正が可能なプラスチ
ックレンズを走査レンズとして多用されるようになって
きた。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかしながらプラスチ
ックレンズは周知の如くガラスレンズでは生じにくい複
屈折を有するという問題点を有しており、特にレンズの
厚みが増すにつれて、この問題点が顕著になる。
【0011】この複屈折はプラスチック成形において高
温の樹脂が型内で冷却されるときに生じる温度分布、応
力分布によって発生する。例えば複屈折の有る媒質内を
光束が通過する場合、該光束は偏光方向の異なる2光束
に分離して伝搬する。このときそれぞれの偏光成分で位
相差が生じ、かつ光束の内部で位相差に分布が生じる
為、光束の波面が乱れ、結果として被走査面上で形成さ
れるスポットが肥大化するという問題点が生じる。この
ような光走査光学装置を用いた画像形成装置では高精細
で、忠実な画像の再生が困難となる。
【0012】一方、複屈折を低減させる為に成形タクト
タイムを伸ばす方法もあるが、これは大幅なコストアッ
プや型投資の増大等につながるという問題点がある。
【0013】また複屈折を低減させる手段として、例え
ば走査光学手段(走査レンズ系)を構成するレンズの少
なくとも1つのレンズ面に、例えば副走査方向に屈折力
(回折パワー)を有する回折光学素子を付加する方法が
ある。これはこの回折光学素子に副走査方向の屈折力を
分担させることにより、レンズ自身の屈折力を小さく
し、これによりレンズの厚みを薄くすることで複屈折の
影響を低減させている。
【0014】しかしながら回折光学素子における光束の
回折角は、該光束の波長に大きく依存するため、例えば
環境変動(特に温度変化)によって光源の波長変動が生
じた場合、回折角もそれに伴ない変化し、この結果ピン
トずれが生じて光学性能を劣化させるという問題点があ
った。
【0015】本発明は走査光学手段に副走査方向及び主
走査方向に適切なる屈折力を有する回折光学素子を設
け、該回折光学素子を光偏向器側に凹形状に湾曲させて
形成し、かつ入射光学手段としてのシリンドリカルレン
ズをプラスチック材料で形成することにより、安価な回
折光学素子を用いても像高によるスポット径の変動を抑
えることができ、かつ装置に環境変動が生じてもピント
変動が生じない、高精度な光学性能を維持することがで
きる光走査光学装置の提供を目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明の光走査光学装置
は (1) 光源手段から射出された光束の状態を変換光学素子
により他の状態に変換し、該変換された光束を入射光学
手段により偏向手段の偏向面上において主走査方向に長
手の線状に結像させ、該偏向手段で偏向された光束を走
査光学手段により被走査面上にスポット状に結像させ、
該被走査面上を光走査する光走査光学装置において、該
入射光学手段はプラスチック材料で形成されたシリンド
リカルレンズを有し、該走査光学手段は副走査方向に屈
折力を有する回折光学素子を有していることを特徴とし
ている。
【0017】特に(1-1) 前記光走査光学装置の温度変動
に伴なう前記シリンドリカルレンズの屈折力変化による
ピント変動を、前記光源手段の波長変動と、前記回折光
学素子の屈折力変化とで補償するようにしていること
や、(1-2) 前記光走査光学装置が基準温度状態のときの
前記光源手段の波長をλ1、前記回折光学素子の副走査
方向の焦点距離をf、前記偏向手段から該回折光学素子
までの距離をb、該回折光学素子から前記被走査面まで
の距離をaとし、基準温度がΔt変動したときの前記シ
リンドリカルレンズの屈折力変化によるピント変動量を
Δp、該光源手段の波長をλ2としたとき
【0018】
【数3】 なる関係が±10%以内で成り立つことや、(1-3) 前記
回折光学素子は前記偏向手段の偏向点から前記被走査面
上の像点までの光路長を画角に関わらず一定の比率で内
分するように湾曲して成ることや、(1-4) 前記シリンド
リカルレンズは副走査方向に屈折力を有することや、(1
-5) 前記変換光学素子は前記光源手段から射出した光束
の状態を略平行光束もしくは収束光束もしくは発散光束
に変換していること、等を特徴としている。
【0019】(2) 光源手段から射出された光束の状態を
変換光学素子により他の状態に変換し、該変換された光
束を入射光学手段により偏向素子の偏向面上において主
走査方向に長手の線状に結像させ、該偏向素子で偏向さ
れた光束を走査光学手段により被走査面上にスポット状
に結像させ、該被走査面上を光走査する光走査光学装置
において、該入射光学手段はプラスチック材料で形成さ
れた第1のシリンドリカルレンズを有し、該走査光学手
段は副走査方向に屈折力を有する回折光学素子と、主走
査方向に屈折力を有する第2のシリンドリカルレンズと
を有していることを特徴としている。
【0020】特に(2-1) 前記光走査光学装置の温度変動
に伴なう前記第1のシリンドリカルレンズの屈折力変化
によるピント変動を、前記光源手段の波長変動と、前記
回折光学素子の屈折力変化とで補償するようにしている
ことや、(2-2) 前記光走査光学装置が基準温度状態のと
きの前記光源手段の波長をλ1、前記回折光学素子の副
走査方向の焦点距離をf、前記偏向手段から該回折光学
素子までの距離をb、該回折光学素子から前記第2のシ
リンドリカルレンズを介して前記被走査面までの距離を
aとし、基準温度がΔt変動したときの前記第1のシリ
ンドリカルレンズの屈折力変化によるピント変動量をΔ
p、該光源手段の波長をλ2としたとき
【0021】
【数4】 なる関係が±10%以内で成り立つことや、(2-3) 前記
回折光学素子は前記偏向手段の偏向点から前記第2のシ
リンドリカルレンズを通して前記被走査面上の像点まで
の光路長を画角に関わらず一定の比率で内分するように
湾曲して成ることや、(2-4) 前記第1のシリンドリカル
レンズは副走査方向に屈折力を有することや、(2-5) 前
記変換光学素子は前記光源手段から射出した光束の状態
を略平行光束もしくは収束光束に変換していること、等
を特徴としている。
【0022】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施形態1の主走
査方向の要部断面図(主走査断面図)、図2は本発明の
実施形態1の副走査方向の主要部分の要部断面図(副走
査断面図)である。
【0023】図中、1aは光源手段(光源)であり、例
えば半導体レーザーより成っている。1bは変換光学素
子であり、例えば光源手段1aから出射された光束(光
ビーム)を収束光束(もしくは略平行光束もしくは発散
光束)に変換している。1cは絞り(アパーチャ)であ
り、通過光束(光量)を制限している。尚、半導体レー
ザー1a、変換光学素子1b、そして絞り1c等の各要
素は光源ユニット1の一要素を構成している。
【0024】2は入射光学手段としてのシリンドリカル
レンズであり、プラスチック材料で形成されており、紙
面とは垂直方向(副走査方向)に所定の屈折力を有して
おり、絞り1cを通過した光束を副走査断面内で後述す
る光偏向器の偏向面にほぼ線像として結像させている。
【0025】3は偏向手段としての光偏向器であり、例
えばポリゴンミラー(回転多面鏡)より成っており、モ
ータ等の駆動手段(不図示)により矢印A方向に一定速
度で回転している。
【0026】4は走査光学手段(走査レンズ系)10を
構成する回折光学素子であり、主走査方向と副走査方向
に所定の屈折力(回折パワー)を有しており、主走査断
面内において光偏向器3側に凹形状に湾曲させて形成し
ており、該光偏向器3の偏向面によって偏向反射された
画像情報に基づく光束を被走査面としての感光ドラム面
8上に結像させている。本実施形態ではこの回折光学素
子4でfθ特性および倒れ補正特性を実現しており、特
にfθ特性に関しては回折光学素子4の主走査方向の屈
折力と光源ユニット1から収束光束を射出させることに
より実現している。
【0027】本実施形態において半導体レーザー1aよ
り出射した光束は変換光学素子1bにより収束光束とさ
れ、絞り1cによって該光束(光量)を制限してシリン
ドリカルレンズ2に入射している。シリンドリカルレン
ズ2に入射した収束光束のうち主走査断面内においては
そのまま収束光束の状態で射出する。また副走査断面内
においては収束して光偏向器3の偏向面3aにほぼ線像
(主走査方向に長手の線像)として結像している。そし
て光偏向器3の偏向面3aで偏向反射された光束は回折
光学素子4を介して感光ドラム面8上に導光され、該光
偏向器3を矢印A方向に回転させることによって、該感
光ドラム面8上を矢印B方向(主走査方向)に光走査し
ている。これにより記録媒体としての感光ドラム面8上
に画像記録を行なっている。
【0028】本実施形態における回折光学素子4は光偏
向器3の偏向点(もしくは焦線)Pから回折光学素子4
までの光路長をLa、回折光学素子4から感光ドラム面
8上の像点までの光路長をLbとしたとき、画角θに関
わらずLb/Laの値がほぼ一定の比率で内分するよう
に光偏向器3側に凹形状に湾曲させている。これにより
本実施形態では安価な回折光学素子を用いても、像高に
よるスポット径の変動を抑えている。
【0029】また回折光学素子4の副走査方向の屈折力
は光偏向器3の偏向面と被走査面8との間が共役結像関
係になるように適切に設定されており、これにより光偏
向器3の偏向面が回転軸に対して倒れているときの角度
誤差、即ち面倒れを補正して走査線のピッチにムラが生
じないようにしている。
【0030】また本実施形態では本装置の環境変動(特
に温度変化)に伴なうシリンドリカルレンズ2の屈折力
変化によるピント変動を、半導体レーザー1aの波長変
動と、回折光学素子4の屈折力変化とで補償するように
している。
【0031】例えば図2において本装置が基準温度状態
のときの半導体レーザー1aの波長をλ1、回折光学素
子4の副走査方向の焦点距離をf、光偏向器3の偏向面
から回折光学素子4までの距離をb、回折光学素子4か
ら被走査面8までの距離をaとしたとき、該光偏向器3
の偏向面から被走査面8間において結像関係より 1/a=1/f−1/b ‥‥‥(1) が成り立つ。
【0032】ここで基準温度がΔt変動したときのシリ
ンドリカルレンズ2の屈折力変化によるピント変動量を
Δp、シリンドリカルレンズ2のピント面P´から回折
光学素子4までの距離をb´、回折光学素子4の副走査
方向の焦点距離をf´、半導体レーザー1aの波長をλ
2としたとき 1/a=1/f´−1/b´ ‥‥‥(2) の関係式が成り立つ。
【0033】ここで f´=f×λ1/λ2 ‥‥‥(3) b´=b−Δp ‥‥‥(4) であるので上記式(3),(4)を関係式(2)に代入
すると
【0034】
【数5】 となる。
【0035】即ち、回折光学素子4の副走査方向の焦点
距離(1/パワー)及び配置等を適切に設定することに
より温度変動によるピント変動を補償することができ
る。
【0036】一般に光走査光学装置において光偏向器
(ポリゴンミラー)の偏向面上に焦線を結ばせるための
シリンドリカルレンズをプラスチック材で成形した場
合、環境変動(特に温度変化)によりその材質の屈折率
が変動するため焦線位置(結像位置)が移動し、結果と
して被走査面上でピント変動が生じる。このピント変動
を補償するために本実施形態では回折光学素子を利用し
ている。
【0037】例えば本装置が昇温したとき、プラスチッ
ク材の屈折率は小さくなるので焦線位置が被走査面側に
ズレ、また光源である半導体レーザーは波長が長波長側
にシフトするため、回折光学素子の屈折力が強くなり焦
点距離が短くなる。従って回折光学素子4の焦点距離及
び配置等を適切に設定することにより、温度補償効果を
得ることができる。つまり図2中の回折光学素子4から
被走査面8までの距離aを一定に保つことができる。上
記関係式(5)はそのためのものである。
【0038】また温度変動に伴なう半導体レーザー1a
の波長変動が生じたとき、その他の光学部材の屈折力も
若干変化するが、回折光学素子4の屈折力変化あるいは
プラスチック材料より成るシリンドリカルレンズ2の屈
折力変化に比べて非常に小さいので、殆ど無視すること
ができる。
【0039】本実施形態における回折光学素子4の回折
面は位相関数をφ(H)として、光軸からの高さをH、
波長をλ、位相係数をA2 としたとき、
【0040】
【数6】 成る式で表わされる。
【0041】回折光学素子4の位相係数を以下に示す。
【0042】A2=−1.56248×10-2 このとき、 ここで、ΔP=0.32になるようにシリンドリカルレ
ンズ2の焦点距離を設定する。
【0043】このように本実施形態においては上述の如
く副走査方向及び主走査方向に適切なる屈折力を有する
回折光学素子4を光偏向器3側に凹形状に湾曲させて形
成し、かつ入射光学手段としてのシリンドリカルレンズ
2をプラスチック材料で形成することにより、安価な回
折光学素子を用いても像高によるスポット径の変動を抑
えることができ、かつ装置に環境変動が生じてもピント
変動が生じない、高精度な光学性能を維持することがで
きる。
【0044】尚、上記関係式(5)は厳密に成立する必
要はなく、例えば±10%以内で成立していれば、略本
発明の目的を達成することができる。
【0045】図3は本発明の実施形態2の主走査方向の
要部断面図(主走査断面図)、図4は本発明の実施形態
2の副走査方向の主要部分の要部断面図(副走査断面
図)である。図3、図4において図1に示した要素と同
一要素には同符番を付している。
【0046】本実施形態において前述の実施形態1と異
なる点は走査光学手段を湾曲した回折光学素子とガラス
材料で形成された屈折型レンズ(シリンドリカルレン
ズ)とで構成し、主走査方向の結像作用をほぼ屈折型レ
ンズで実現し、副走査方向の結像作用を回折光学素子で
実現したことである。その他の構成及び光学的作用は前
述の実施形態1と略同様であり、これにより同様な効果
を得ている。
【0047】即ち、同図において20は走査光学手段
(走査レンズ系)であり、回折光学素子24と主走査方
向に所定の屈折力を有するガラス材料より成る第2のシ
リンドリカルレンズ25とより構成している。回折光学
素子24は光偏向器3側に凹形状に湾曲させて形成して
おり、主走査方向と副走査方向に所定の屈折力(回折パ
ワー)を有し、特に副走査方向に強い正の屈折力を有し
ている。本実施形態ではこの回折光学素子24と第2の
シリンドリカルレンズ25とでfθ特性及び倒れ補正特
性を実現している。22は入射光学手段としての第1の
シリンドリカルレンズであり、プラスチック材料で形成
されており、副走査方向に所定の屈折力を有している。
【0048】本実施形態において半導体レーザー1aよ
り出射した光束は変換光学素子1bにより収束光束(も
しくは略平行光束もしくは発散光束)とされ、絞り1c
によって該光束(光量)を制限して第1のシリンドリカ
ルレンズ22に入射している。第1のシリンドリカルレ
ンズ22に入射した収束光束のうち主走査断面内におい
てはそのまま収束光束の状態で射出する。また副走査断
面内においては収束して光偏向器3の偏向面3aにほぼ
線像(主走査方向に長手の線像)として結像している。
そして光偏向器3の偏向面3aで偏向反射された光束は
回折光学素子24と第2のシリンドリカルレンズ25と
を介して感光ドラム面8上に導光され、該光偏向器3を
矢印A方向に回転させることによって、該感光ドラム面
8上を矢印B方向(主走査方向)に光走査している。こ
れにより記録媒体としての感光ドラム面8上に画像記録
を行なっている。
【0049】本実施形態における回折光学素子24は第
2のシリンドリカルレンズ25で補正しきれない主走査
方向の像面湾曲、fθ特性等を補正するために主走査方
向にも回折によるパワーを有しているが、主走査方向の
パワーの大部分は第2のシリンドリカルレンズ25に依
存している。
【0050】また副走査方向においては第2のシリンド
リカルレンズ25がパワーを有さないため、回折光学素
子24により光偏向器3の偏向面3a近傍に形成された
線像を像面である感光ドラム面8上に結像させている。
【0051】本実施形態における回折光学素子24は光
偏向器3の偏向点(もしくは焦線)Pから回折光学素子
24までの光路長をLa、回折光学素子24から第2の
シリンドリカルレンズ25の入射面までの光路長をLb
1、第2のシリンドリカルレンズ25の入射面から射出
面までの光路長をLb2、第2のシリンドリカルレンズ
25の射出面から被走査面8上の像点までの光路長をL
b3、第2のシリンドリカルレンズ25の材質の屈折率
をnとし、 Lb=Lb1+Lb2/n+Lb3 としたとき、画角θに関わらずLb/Laの値がほぼ一
定の比率で内分するように光偏向器3側に凹形状に湾曲
させている。これにより前述の実施形態1と同様に副走
査方向の結像倍率βを画角に関わらず一定に保つことに
よって実施形態1と同様な効果を得ている。
【0052】また回折光学素子24の副走査方向の屈折
力は光偏向器3の偏向面と被走査面8との間が共役結像
関係になるように適切に設定されており、これにより光
偏向器3の偏向面が回転軸に対して倒れているときの角
度誤差、即ち面倒れを補正して走査線のピッチにムラが
生じないようにしている。
【0053】また走査光学手段20においては副走査方
向のパワーに対し主走査方向のパワーが小さい為、上述
の如く軸対称な第2のシリンドリカルレンズ(ガラスレ
ンズ)25で主走査方向のパワーの殆どを実現し、副走
査方向のパワー及び非球面効果を回折光学素子24で実
現している。
【0054】また本実施形態においては本装置の環境変
動(特に温度変化)に伴なう第1のシリンドリカルレン
ズ22の屈折力変化によるピント変動を図4に示す如く
前述の実施形態1と同様に半導体レーザー(不図示)の
波長変動と、回折光学素子24の屈折力変化とで補償す
るようにしている。
【0055】
【発明の効果】本発明によれば前述の如く走査光学手段
に副走査方向及び主走査方向に適切なる屈折力を有する
回折光学素子を設け、該回折光学素子を光偏向器側に凹
形状に湾曲させて形成し、かつ入射光学手段としてのシ
リンドリカルレンズをプラスチック材料で形成すること
により、安価な回折光学素子を用いても像高によるスポ
ット径の変動を抑えることができ、かつ装置に環境変動
が生じてもピント変動が生じない、高精度な光学性能を
維持することができる光走査光学装置を達成することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施形態1の主走査断面図
【図2】 本発明の実施形態1の副走査断面図
【図3】 本発明の実施形態2の主走査断面図
【図4】 本発明の実施形態2の副走査断面図
【図5】 従来の光走査光学装置の要部概略図
【符号の説明】
1 光源ユニット 1a 光源手段(半導体レーザー) 1b 変換光学素子 1c アパーチャ 2 入射光学手段(シリンドリカルレンズ) 3 偏向手段(光偏向器) 4,24 回折光学素子 8 被走査面 10,20 走査光学手段 22 第1のシリンドリカルレンズ 25 第2のシリンドリカルレンズ

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源手段から射出された光束の状態を変
    換光学素子により他の状態に変換し、該変換された光束
    を入射光学手段により偏向手段の偏向面上において主走
    査方向に長手の線状に結像させ、該偏向手段で偏向され
    た光束を走査光学手段により被走査面上にスポット状に
    結像させ、該被走査面上を光走査する光走査光学装置に
    おいて、 該入射光学手段はプラスチック材料で形成されたシリン
    ドリカルレンズを有し、該走査光学手段は副走査方向に
    屈折力を有する回折光学素子を有していることを特徴と
    する光走査光学装置。
  2. 【請求項2】 前記光走査光学装置の温度変動に伴なう
    前記シリンドリカルレンズの屈折力変化によるピント変
    動を、前記光源手段の波長変動と、前記回折光学素子の
    屈折力変化とで補償するようにしていることを特徴とす
    る請求項1の光走査光学装置。
  3. 【請求項3】 前記光走査光学装置が基準温度状態のと
    きの前記光源手段の波長をλ1、前記回折光学素子の副
    走査方向の焦点距離をf、前記偏向手段から該回折光学
    素子までの距離をb、該回折光学素子から前記被走査面
    までの距離をaとし、基準温度がΔt変動したときの前
    記シリンドリカルレンズの屈折力変化によるピント変動
    量をΔp、該光源手段の波長をλ2としたとき 【数1】 なる関係が±10%以内で成り立つことを特徴とする請
    求項1又は2の光走査光学装置。
  4. 【請求項4】 前記回折光学素子は前記偏向手段の偏向
    点から前記被走査面上の像点までの光路長を画角に関わ
    らず一定の比率で内分するように湾曲して成ることを特
    徴とする請求項1の光走査光学装置。
  5. 【請求項5】 前記シリンドリカルレンズは副走査方向
    に屈折力を有することを特徴とする請求項1の光走査光
    学装置。
  6. 【請求項6】 前記変換光学素子は前記光源手段から射
    出した光束の状態を略平行光束もしくは収束光束もしく
    は発散光束に変換していることを特徴とする請求項1の
    光走査光学装置。
  7. 【請求項7】 光源手段から射出された光束の状態を変
    換光学素子により他の状態に変換し、該変換された光束
    を入射光学手段により偏向素子の偏向面上において主走
    査方向に長手の線状に結像させ、該偏向素子で偏向され
    た光束を走査光学手段により被走査面上にスポット状に
    結像させ、該被走査面上を光走査する光走査光学装置に
    おいて、 該入射光学手段はプラスチック材料で形成された第1の
    シリンドリカルレンズを有し、該走査光学手段は副走査
    方向に屈折力を有する回折光学素子と、主走査方向に屈
    折力を有する第2のシリンドリカルレンズとを有してい
    ることを特徴とする光走査光学装置。
  8. 【請求項8】 前記光走査光学装置の温度変動に伴なう
    前記第1のシリンドリカルレンズの屈折力変化によるピ
    ント変動を、前記光源手段の波長変動と、前記回折光学
    素子の屈折力変化とで補償するようにしていることを特
    徴とする請求項7の光走査光学装置。
  9. 【請求項9】 前記光走査光学装置が基準温度状態のと
    きの前記光源手段の波長をλ1、前記回折光学素子の副
    走査方向の焦点距離をf、前記偏向手段から該回折光学
    素子までの距離をb、該回折光学素子から前記第2のシ
    リンドリカルレンズを介して前記被走査面までの距離を
    aとし、基準温度がΔt変動したときの前記第1のシリ
    ンドリカルレンズの屈折力変化によるピント変動量をΔ
    p、該光源手段の波長をλ2としたとき 【数2】 なる関係が±10%以内で成り立つことを特徴とする請
    求項7又は8の光走査光学装置。
  10. 【請求項10】 前記回折光学素子は前記偏向手段の偏
    向点から前記第2のシリンドリカルレンズを通して前記
    被走査面上の像点までの光路長を画角に関わらず一定の
    比率で内分するように湾曲して成ることを特徴とする請
    求項7の光走査光学装置。
  11. 【請求項11】 前記第1のシリンドリカルレンズは副
    走査方向に屈折力を有することを特徴とする請求項7の
    光走査光学装置。
  12. 【請求項12】 前記変換光学素子は前記光源手段から
    射出した光束の状態を略平行光束もしくは収束光束に変
    換していることを特徴とする請求項7の光走査光学装
    置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1122579A2 (en) * 2000-01-28 2001-08-08 Canon Kabushiki Kaisha Scanning optical device and image forming apparatus
JP2001324691A (ja) * 2000-05-16 2001-11-22 Canon Inc 光走査装置及びそれを用いた画像形成装置

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