JPH1144650A - 円筒状ワークの外観検査装置 - Google Patents
円筒状ワークの外観検査装置Info
- Publication number
- JPH1144650A JPH1144650A JP21557897A JP21557897A JPH1144650A JP H1144650 A JPH1144650 A JP H1144650A JP 21557897 A JP21557897 A JP 21557897A JP 21557897 A JP21557897 A JP 21557897A JP H1144650 A JPH1144650 A JP H1144650A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cylindrical work
- work
- reflector
- face
- cylindrical
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【課題】 円筒状ワーク両端面及び内外周面を同方式の
撮像手段で同方向から検査すること。 【解決手段】 円筒状ワークをその一方の端面に当接し
て載置させる基台１と、円筒状ワークを中心軸に関し垂
直な回転軸の回りに反転させ、他方の端面を基台１に当
接するよう載置させる反転手段２と、円筒状ワークと同
軸で、その外方に配置され、円筒状ワークの外周面に対
向する側に円錐状ミラーを形成した第１反射体５と、円
筒状ワークと同軸で、その内方に配置され、円筒状ワー
クの内周面に対向する側に円錐状ミラーを形成した第２
反射体６と、円筒状ワークの中心軸上方に配置され、ビ
ームを照射する投光手段３と、投光手段３に近接配置さ
れ、反射光を受光して撮像する撮像手段４と、撮像手段
の情報に基いて検査する画像判別手段７とを有する。
撮像手段で同方向から検査すること。 【解決手段】 円筒状ワークをその一方の端面に当接し
て載置させる基台１と、円筒状ワークを中心軸に関し垂
直な回転軸の回りに反転させ、他方の端面を基台１に当
接するよう載置させる反転手段２と、円筒状ワークと同
軸で、その外方に配置され、円筒状ワークの外周面に対
向する側に円錐状ミラーを形成した第１反射体５と、円
筒状ワークと同軸で、その内方に配置され、円筒状ワー
クの内周面に対向する側に円錐状ミラーを形成した第２
反射体６と、円筒状ワークの中心軸上方に配置され、ビ
ームを照射する投光手段３と、投光手段３に近接配置さ
れ、反射光を受光して撮像する撮像手段４と、撮像手段
の情報に基いて検査する画像判別手段７とを有する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、円筒状ワークの端
面及び内外周面を撮像・検査することができる如くした
円筒状ワークの外観検査装置に関する。
面及び内外周面を撮像・検査することができる如くした
円筒状ワークの外観検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来、図４に示す如く円筒状ワークＷの
内外周円筒面を検査する場合、円筒状ワークＷを連続回
転し、所定位置に配設した内径ラインセンサカメラ３０
及び外径ラインセンサカメラ３１又はレーザ走査により
行っていた。３２はハロゲンランプＢＯＸ、３３，３４
は照射ランプである。
内外周円筒面を検査する場合、円筒状ワークＷを連続回
転し、所定位置に配設した内径ラインセンサカメラ３０
及び外径ラインセンサカメラ３１又はレーザ走査により
行っていた。３２はハロゲンランプＢＯＸ、３３，３４
は照射ランプである。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】上記従来装置は、ライ
ンセンサカメラを用いた撮像であるため１次元信号処理
が一般的で、端面検査に用いられるＣＣＤカメラを使用
した２次元信号処理とは異なる方式により夫々専用の光
学ヘッド、処理装置を使用せねばならず、構造、配置が
複雑で高コストのシステムによるという問題点があっ
た。
ンセンサカメラを用いた撮像であるため１次元信号処理
が一般的で、端面検査に用いられるＣＣＤカメラを使用
した２次元信号処理とは異なる方式により夫々専用の光
学ヘッド、処理装置を使用せねばならず、構造、配置が
複雑で高コストのシステムによるという問題点があっ
た。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は上記問題点を解
決することを目的とし、 円筒状ワークをその一方の
端面に当接して載置させる基台と、前記円筒状ワークを
中心軸に関し垂直な回転軸の回りに反転させ、他方の端
面を前記基台に当接するよう載置させる反転手段と、前
記円筒状ワークと同軸で、その外方に配置され、該円筒
状ワークの外周面に対向する側に円錐状ミラーを形成し
た第１反射体と、前記円筒状ワークと同軸で、その内方
に配置され、該円筒状ワークの内周面に対向する側に円
錐状ミラーを形成した第２反射体と、前記円筒状ワーク
の中心軸上方に配置され、該円筒状ワークおよび／もし
くは前記第１反射体にビームを照射する投光手段と、前
記円筒状ワークの中心軸上方で、前記投光手段に近接配
置され、該円筒状ワークおよび／もしくは第１反射体、
第２反射体からの反射光を受光して撮像する撮像手段
と、前記撮像手段の情報に基いて、前記円筒状ワークの
両端面、外周面および内周面を検査する画像判別手段
と、を有する円筒状ワークの外観検査装置。円筒状ワ
ークをその一方の端面に当接して載置させる基台と、前
記円筒状ワークを中心軸に関し垂直な回転軸の回りに反
転させ、他方の端面を前記基台に当接するよう載置させ
る反転手段と、前記円筒状ワークと同軸で、その外方に
配置され、該円筒状ワークの外周面に対向する側に円錐
状ミラーを形成した反射体と、前記円筒状ワークの中心
軸上方に配置され、該円筒状ワークおよび／もしくは前
記反射体にビームを照射する第１投光手段と、前記円筒
状ワークの中心軸下方に配置され、該円筒状ワークにビ
ームを照射する第２投光手段と、前記円筒状ワークの中
心軸上方で、前記第１投光手段に近接配置され、該円筒
状ワークおよび／もしくは反射体からの反射光を受光し
て撮像する撮像手段と、前記撮像手段の情報に基いて、
前記円筒状ワークの両端面、外周面および内周面を検査
する画像判別手段と、を有する円筒状ワークの外観検査
装置を特徴とする。上記構成により、内外周円筒面の検
査も２次元画像化が可能となり、端面検査と同様ＣＣＤ
カメラ等による画像解析が行えるため、検査装置の構造
の簡略化ができ、低コストにできる。
決することを目的とし、 円筒状ワークをその一方の
端面に当接して載置させる基台と、前記円筒状ワークを
中心軸に関し垂直な回転軸の回りに反転させ、他方の端
面を前記基台に当接するよう載置させる反転手段と、前
記円筒状ワークと同軸で、その外方に配置され、該円筒
状ワークの外周面に対向する側に円錐状ミラーを形成し
た第１反射体と、前記円筒状ワークと同軸で、その内方
に配置され、該円筒状ワークの内周面に対向する側に円
錐状ミラーを形成した第２反射体と、前記円筒状ワーク
の中心軸上方に配置され、該円筒状ワークおよび／もし
くは前記第１反射体にビームを照射する投光手段と、前
記円筒状ワークの中心軸上方で、前記投光手段に近接配
置され、該円筒状ワークおよび／もしくは第１反射体、
第２反射体からの反射光を受光して撮像する撮像手段
と、前記撮像手段の情報に基いて、前記円筒状ワークの
両端面、外周面および内周面を検査する画像判別手段
と、を有する円筒状ワークの外観検査装置。円筒状ワ
ークをその一方の端面に当接して載置させる基台と、前
記円筒状ワークを中心軸に関し垂直な回転軸の回りに反
転させ、他方の端面を前記基台に当接するよう載置させ
る反転手段と、前記円筒状ワークと同軸で、その外方に
配置され、該円筒状ワークの外周面に対向する側に円錐
状ミラーを形成した反射体と、前記円筒状ワークの中心
軸上方に配置され、該円筒状ワークおよび／もしくは前
記反射体にビームを照射する第１投光手段と、前記円筒
状ワークの中心軸下方に配置され、該円筒状ワークにビ
ームを照射する第２投光手段と、前記円筒状ワークの中
心軸上方で、前記第１投光手段に近接配置され、該円筒
状ワークおよび／もしくは反射体からの反射光を受光し
て撮像する撮像手段と、前記撮像手段の情報に基いて、
前記円筒状ワークの両端面、外周面および内周面を検査
する画像判別手段と、を有する円筒状ワークの外観検査
装置を特徴とする。上記構成により、内外周円筒面の検
査も２次元画像化が可能となり、端面検査と同様ＣＣＤ
カメラ等による画像解析が行えるため、検査装置の構造
の簡略化ができ、低コストにできる。
【０００５】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を図１乃至図
３に示した実施例に基いて詳細に説明する。図１は本発
明の第１実施例である。１は例えば転がり軸受などの円
筒状ワークＷを一方の被検査端面Ａを上側にして載置す
る基台である。２はワークＷの各端面が逆配置になるよ
うに反転させ、他方の被検査面Ｂを上側にして基台１に
載置させる反転手段である。３は例えばＬＥＤなどの照
射源をもつ投光手段であり、ワークＷの中心軸上上方に
配置される。４は投光手段３のさらに上方に、同様に同
軸上に配置され、投光手段３のビームの反射光を捕らえ
る撮像手段であり、レンズ４２とＣＣＤカメラ４１など
からなる。５は円錐（すり鉢）状ミラー（反射）面をワ
ークＷの外周面Ｃに対向させるとともに、ワークＷと同
軸に配置される第１反射体である。６は同じく円錐状ミ
ラー面をワークＷの内周面Ｄに対向させるとともに、ワ
ークＷと同軸に配置される第２反射体である。７は撮像
手段４の情報（信号）に基いて、ワークＷを検査・判別
する画像判別手段であり、８はその撮像状態や判別結果
などを映し出す映像モニタである。
３に示した実施例に基いて詳細に説明する。図１は本発
明の第１実施例である。１は例えば転がり軸受などの円
筒状ワークＷを一方の被検査端面Ａを上側にして載置す
る基台である。２はワークＷの各端面が逆配置になるよ
うに反転させ、他方の被検査面Ｂを上側にして基台１に
載置させる反転手段である。３は例えばＬＥＤなどの照
射源をもつ投光手段であり、ワークＷの中心軸上上方に
配置される。４は投光手段３のさらに上方に、同様に同
軸上に配置され、投光手段３のビームの反射光を捕らえ
る撮像手段であり、レンズ４２とＣＣＤカメラ４１など
からなる。５は円錐（すり鉢）状ミラー（反射）面をワ
ークＷの外周面Ｃに対向させるとともに、ワークＷと同
軸に配置される第１反射体である。６は同じく円錐状ミ
ラー面をワークＷの内周面Ｄに対向させるとともに、ワ
ークＷと同軸に配置される第２反射体である。７は撮像
手段４の情報（信号）に基いて、ワークＷを検査・判別
する画像判別手段であり、８はその撮像状態や判別結果
などを映し出す映像モニタである。
【０００６】ワークＷの検査方法について以下に説明す
る。先ず、ワークＷを基台１に端面Ａを上にして載置
し、投光手段３からビームを端面Ａに照射する。その反
射光を撮像手段４により受光し、次いで画像判別手段７
により画像解析を行い、予め設定されたしきい値と比較
などして、ワークＷの端面Ａの検査を行う（第１端面検
査工程）。随時、モニタ８によりモニタリングしたり、
目視したりする。モニタ８に判別結果を映し出してもよ
い。次いで、反転手段２により、ワークＷの反転を行
い、同じく端面Ｂの検査を行う（第２端面検査工程）。
次いで、基台１に備えられた駆動手段１１にて、ワーク
Ｗを第１反射体５の内側に移動させるか、あるいは第１
反射体５をワークＷの外側に配置させ、投光手段３によ
り第１反射体のミラー面にビーム照射を行う。ビームは
ミラー面により方向を変え、ワークＷの外周面Ｃに当た
った後。さらに反射してミラー面へ到達し方向を変えて
撮像手段４に至る。撮像手段４からの信号に基いて、画
像判別手段７により、同様にワークＷの外周面Ｃが検査
される（外周面検査工程）。この場合、投光手段３の照
射をワークＷに直接当てて、その反射光をミラー面から
撮像手段４に受光させるようにしてもよい。最後に、第
２反射体６をワークＷの内側に配置させ、投光手段３に
よりワークＷの内周面Ｄに向けて照射する。ワークＷの
内周面Ｄから反射したビームは第２反射体６のミラー面
により方向を変え、撮像手段４に受光される。撮像手段
４からの信号に基いて、画像判別手段７にて、同様にワ
ークＷの内周面Ｄが検査される（内周面検査工程）。上
記各検査工程は、同一の投光手段３および撮像手段４を
用いて順次行ってもよいが、各検査工程毎に投光手段３
および撮像手段４をそれぞれ近接配置し、図示しない移
動手段を用いて、ワークＷを連続的に各工程間を移動さ
せて検査を行ってもよい。
る。先ず、ワークＷを基台１に端面Ａを上にして載置
し、投光手段３からビームを端面Ａに照射する。その反
射光を撮像手段４により受光し、次いで画像判別手段７
により画像解析を行い、予め設定されたしきい値と比較
などして、ワークＷの端面Ａの検査を行う（第１端面検
査工程）。随時、モニタ８によりモニタリングしたり、
目視したりする。モニタ８に判別結果を映し出してもよ
い。次いで、反転手段２により、ワークＷの反転を行
い、同じく端面Ｂの検査を行う（第２端面検査工程）。
次いで、基台１に備えられた駆動手段１１にて、ワーク
Ｗを第１反射体５の内側に移動させるか、あるいは第１
反射体５をワークＷの外側に配置させ、投光手段３によ
り第１反射体のミラー面にビーム照射を行う。ビームは
ミラー面により方向を変え、ワークＷの外周面Ｃに当た
った後。さらに反射してミラー面へ到達し方向を変えて
撮像手段４に至る。撮像手段４からの信号に基いて、画
像判別手段７により、同様にワークＷの外周面Ｃが検査
される（外周面検査工程）。この場合、投光手段３の照
射をワークＷに直接当てて、その反射光をミラー面から
撮像手段４に受光させるようにしてもよい。最後に、第
２反射体６をワークＷの内側に配置させ、投光手段３に
よりワークＷの内周面Ｄに向けて照射する。ワークＷの
内周面Ｄから反射したビームは第２反射体６のミラー面
により方向を変え、撮像手段４に受光される。撮像手段
４からの信号に基いて、画像判別手段７にて、同様にワ
ークＷの内周面Ｄが検査される（内周面検査工程）。上
記各検査工程は、同一の投光手段３および撮像手段４を
用いて順次行ってもよいが、各検査工程毎に投光手段３
および撮像手段４をそれぞれ近接配置し、図示しない移
動手段を用いて、ワークＷを連続的に各工程間を移動さ
せて検査を行ってもよい。
【０００７】図２は本発明の第２実施例を示す。本実施
例では、上記実施例中、第１端面検査工程、外周面検査
工程および内周面検査工程を同時に行えるように、予め
第１反射体および第２反射体をそれぞれワークＷの外側
および内側に配置している。上記三工程の検査が終了し
たら、次いで反転手段２によりワークＷを反転させ、第
２端面検査工程を実施する。この場合、再度外周面検査
工程および内周面検査工程を同時に行えば検査精度が増
す。
例では、上記実施例中、第１端面検査工程、外周面検査
工程および内周面検査工程を同時に行えるように、予め
第１反射体および第２反射体をそれぞれワークＷの外側
および内側に配置している。上記三工程の検査が終了し
たら、次いで反転手段２によりワークＷを反転させ、第
２端面検査工程を実施する。この場合、再度外周面検査
工程および内周面検査工程を同時に行えば検査精度が増
す。
【０００８】図３に本発明の第３実施例を示す。本実施
例は第１実施例の内周面検査工程のみ異なる。本実施例
では、第２反射体６に代え、第２投光手段９をワークＷ
の中心軸下方に同軸に配置して、第２投光手段９により
ワークＷの内周面Ｄに向けて照射させる。ワークＷの内
周面Ｄに当たって反射したビームは撮像手段４に受光さ
れ、さらに画像判別手段７によって検査される。この場
合、レンズ４２を超広角レンズとすれば、小径のワーク
Ｗであっても精度のよい２次元画像が得られ、検査精度
が増す。
例は第１実施例の内周面検査工程のみ異なる。本実施例
では、第２反射体６に代え、第２投光手段９をワークＷ
の中心軸下方に同軸に配置して、第２投光手段９により
ワークＷの内周面Ｄに向けて照射させる。ワークＷの内
周面Ｄに当たって反射したビームは撮像手段４に受光さ
れ、さらに画像判別手段７によって検査される。この場
合、レンズ４２を超広角レンズとすれば、小径のワーク
Ｗであっても精度のよい２次元画像が得られ、検査精度
が増す。
【０００９】
【発明の効果】本発明によると、 円筒状ワークをそ
の一方の端面に当接して載置させる基台と、前記円筒状
ワークを中心軸に関し垂直な回転軸の回りに反転させ、
他方の端面を前記基台に当接するよう載置させる反転手
段と、前記円筒状ワークと同軸で、その外方に配置さ
れ、該円筒状ワークの外周面に対向する側に円錐状ミラ
ーを形成した第１反射体と、前記円筒状ワークと同軸
で、その内方に配置され、該円筒状ワークの内周面に対
向する側に円錐状ミラーを形成した第２反射体と、前記
円筒状ワークの中心軸上方に配置され、該円筒状ワーク
および／もしくは前記第１反射体にビームを照射する投
光手段と、前記円筒状ワークの中心軸上方で、前記投光
手段に近接配置され、該円筒状ワークおよび／もしくは
第１反射体、第２反射体からの反射光を受光して撮像す
る撮像手段と、前記撮像手段の情報に基いて、前記円筒
状ワークの両端面、外周面および内周面を検査する画像
判別手段と、を有する円筒状ワークの外観検査装置。
円筒状ワークをその一方の端面に当接して載置させる
基台と、前記円筒状ワークを中心軸に関し垂直な回転軸
の回りに反転させ、他方の端面を前記基台に当接するよ
う載置させる反転手段と、前記円筒状ワークと同軸で、
その外方に配置され、該円筒状ワークの外周面に対向す
る側に円錐状ミラーを形成した反射体と、前記円筒状ワ
ークの中心軸上方に配置され、該円筒状ワークおよび／
もしくは前記反射体にビームを照射する第１投光手段
と、前記円筒状ワークの中心軸下方に配置され、該円筒
状ワークにビームを照射する第２投光手段と、前記円筒
状ワークの中心軸上方で、前記第１投光手段に近接配置
され、該円筒状ワークおよび／もしくは反射体からの反
射光を受光して撮像する撮像手段と、前記撮像手段の情
報に基いて、前記円筒状ワークの両端面、外周面および
内周面を検査する画像判別手段と、を有する円筒状ワー
クの外観検査装置を特徴としているので、下記の効果を
有する。 １．端面検査と同様に内外周面検査も２次元化でき、検
査精度が増す。 ２．検査装置が共用でき、また信号処理方式も共用で
き、よって機械構造・配置を簡単なものに統一できるの
で、装置コスト（開発コスト）および検査コストが削減
できる。 ３．上記共用化に伴い円筒面走査方式に必要なワーク回
転が不要となり、機械の簡略化、タクトタイムの高速化
が可能になる。
の一方の端面に当接して載置させる基台と、前記円筒状
ワークを中心軸に関し垂直な回転軸の回りに反転させ、
他方の端面を前記基台に当接するよう載置させる反転手
段と、前記円筒状ワークと同軸で、その外方に配置さ
れ、該円筒状ワークの外周面に対向する側に円錐状ミラ
ーを形成した第１反射体と、前記円筒状ワークと同軸
で、その内方に配置され、該円筒状ワークの内周面に対
向する側に円錐状ミラーを形成した第２反射体と、前記
円筒状ワークの中心軸上方に配置され、該円筒状ワーク
および／もしくは前記第１反射体にビームを照射する投
光手段と、前記円筒状ワークの中心軸上方で、前記投光
手段に近接配置され、該円筒状ワークおよび／もしくは
第１反射体、第２反射体からの反射光を受光して撮像す
る撮像手段と、前記撮像手段の情報に基いて、前記円筒
状ワークの両端面、外周面および内周面を検査する画像
判別手段と、を有する円筒状ワークの外観検査装置。
円筒状ワークをその一方の端面に当接して載置させる
基台と、前記円筒状ワークを中心軸に関し垂直な回転軸
の回りに反転させ、他方の端面を前記基台に当接するよ
う載置させる反転手段と、前記円筒状ワークと同軸で、
その外方に配置され、該円筒状ワークの外周面に対向す
る側に円錐状ミラーを形成した反射体と、前記円筒状ワ
ークの中心軸上方に配置され、該円筒状ワークおよび／
もしくは前記反射体にビームを照射する第１投光手段
と、前記円筒状ワークの中心軸下方に配置され、該円筒
状ワークにビームを照射する第２投光手段と、前記円筒
状ワークの中心軸上方で、前記第１投光手段に近接配置
され、該円筒状ワークおよび／もしくは反射体からの反
射光を受光して撮像する撮像手段と、前記撮像手段の情
報に基いて、前記円筒状ワークの両端面、外周面および
内周面を検査する画像判別手段と、を有する円筒状ワー
クの外観検査装置を特徴としているので、下記の効果を
有する。 １．端面検査と同様に内外周面検査も２次元化でき、検
査精度が増す。 ２．検査装置が共用でき、また信号処理方式も共用で
き、よって機械構造・配置を簡単なものに統一できるの
で、装置コスト（開発コスト）および検査コストが削減
できる。 ３．上記共用化に伴い円筒面走査方式に必要なワーク回
転が不要となり、機械の簡略化、タクトタイムの高速化
が可能になる。
【図１】本発明の第１実施例要部切断正面説明図であ
る。
る。
【図２】本発明の第２実施例要部切断正面説明図であ
る。
る。
【図３】本発明の第３実施例要部切断正面説明図であ
る。
る。
【図４】従来の円筒ワーク外観検査装置の斜視図であ
る。
る。
１ 基台 ２ 反転手段 ３ 投光手段 ４ 撮像手段 ５ 第１反射体 ６ 第２反射体 ７ 画像判別手段 ８ モニタ ９ 第２投光手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 森川 仁司 大阪府八尾市南植松町２丁目34番地 光洋 機械工業株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】 円筒状ワークをその一方の端面に当接し
て載置させる基台と、 前記円筒状ワークを中心軸に関し垂直な回転軸の回りに
反転させ、他方の端面を前記基台に当接するよう載置さ
せる反転手段と、 前記円筒状ワークと同軸で、その外方に配置され、該円
筒状ワークの外周面に対向する側に円錐状ミラーを形成
した第１反射体と、 前記円筒状ワークと同軸で、その内方に配置され、該円
筒状ワークの内周面に対向する側に円錐状ミラーを形成
した第２反射体と、 前記円筒状ワークの中心軸上方に配置され、該円筒状ワ
ークおよび／もしくは前記第１反射体にビームを照射す
る投光手段と、 前記円筒状ワークの中心軸上方で、前記投光手段に近接
配置され、該円筒状ワークおよび／もしくは第１反射
体、第２反射体からの反射光を受光して撮像する撮像手
段と、 前記撮像手段の情報に基いて、前記円筒状ワークの両端
面、外周面および内周面を検査する画像判別手段と、を
有する円筒状ワークの外観検査装置。 - 【請求項２】 円筒状ワークをその一方の端面に当接し
て載置させる基台と、 前記円筒状ワークを中心軸に関し垂直な回転軸の回りに
反転させ、他方の端面を前記基台に当接するよう載置さ
せる反転手段と、 前記円筒状ワークと同軸で、その外方に配置され、該円
筒状ワークの外周面に対向する側に円錐状ミラーを形成
した反射体と、 前記円筒状ワークの中心軸上方に配置され、該円筒状ワ
ークおよび／もしくは前記反射体にビームを照射する第
１投光手段と、 前記円筒状ワークの中心軸下方に配置され、該円筒状ワ
ークにビームを照射する第２投光手段と、 前記円筒状ワークの中心軸上方で、前記第１投光手段に
近接配置され、該円筒状ワークおよび／もしくは反射体
からの反射光を受光して撮像する撮像手段と、 前記撮像手段の情報に基いて、前記円筒状ワークの両端
面、外周面および内周面を検査する画像判別手段と、を
有する円筒状ワークの外観検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21557897A JPH1144650A (ja) | 1997-07-25 | 1997-07-25 | 円筒状ワークの外観検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21557897A JPH1144650A (ja) | 1997-07-25 | 1997-07-25 | 円筒状ワークの外観検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1144650A true JPH1144650A (ja) | 1999-02-16 |
Family
ID=16674766
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21557897A Pending JPH1144650A (ja) | 1997-07-25 | 1997-07-25 | 円筒状ワークの外観検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1144650A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003207458A (ja) * | 2002-01-09 | 2003-07-25 | Toshiba Corp | 撮影装置 |
| JP2010085179A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Yutaka:Kk | 側面検査装置 |
| US7903865B2 (en) * | 2007-03-27 | 2011-03-08 | Chuang Hwa University | Automatic optical inspection system and method |
-
1997
- 1997-07-25 JP JP21557897A patent/JPH1144650A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2003207458A (ja) * | 2002-01-09 | 2003-07-25 | Toshiba Corp | 撮影装置 |
| US7903865B2 (en) * | 2007-03-27 | 2011-03-08 | Chuang Hwa University | Automatic optical inspection system and method |
| JP2010085179A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Yutaka:Kk | 側面検査装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2006337074A (ja) | 外観検査装置 | |
| JPH10132537A (ja) | Ｕ字溝形状を有する部品表面の検査方法 | |
| JPH0882753A (ja) | 内面画像撮込装置 | |
| JP2007218782A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JP6168147B2 (ja) | タイヤ内面撮像方法及びその装置 | |
| JP3153476B2 (ja) | 外観検査装置 | |
| JPH1144650A (ja) | 円筒状ワークの外観検査装置 | |
| JP3789097B2 (ja) | 被検査物の外周検査方法および外周検査装置 | |
| JPH10311801A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JP2001033394A (ja) | 非接触式表面検査方法および非接触式表面検査装置 | |
| JPH08261947A (ja) | 管状体の内面撮影装置 | |
| JP2019163953A (ja) | 外観検査装置 | |
| JPH11287764A (ja) | 欠陥検査方法 | |
| JPH07333160A (ja) | 被検査物の表面性状観察装置 | |
| JP3251477B2 (ja) | 表面に存在する欠陥の検査方法 | |
| JPS60190841A (ja) | 鋳造品の表面の巣を検出する装置 | |
| JP4388623B2 (ja) | 表面検査方法および表面検査装置 | |
| JPH1194528A (ja) | 外観検査装置 | |
| JPH064606U (ja) | 被検査対象物の表面検査装置 | |
| JPH01193631A (ja) | 表面欠陥検査装置 | |
| JPH06117837A (ja) | コイル終端の段差検出方法 | |
| JP2006010586A (ja) | 金属リングの側縁検査装置 | |
| JP2942487B2 (ja) | 外観検査装置 | |
| JPH0120373B2 (ja) | ||
| JPH04104564U (ja) | 缶内面塗膜検査装置 |