JPH01193631A - 表面欠陥検査装置 - Google Patents

表面欠陥検査装置

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Publication number
JPH01193631A
JPH01193631A JP1580088A JP1580088A JPH01193631A JP H01193631 A JPH01193631 A JP H01193631A JP 1580088 A JP1580088 A JP 1580088A JP 1580088 A JP1580088 A JP 1580088A JP H01193631 A JPH01193631 A JP H01193631A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
inspected
light
surface defect
camera
inspection
Prior art date
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Pending
Application number
JP1580088A
Other languages
English (en)
Inventor
Motoyuki Suzuki
基之 鈴木
Kazuya Masuko
和也 益子
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nissan Motor Co Ltd
Original Assignee
Nissan Motor Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Nissan Motor Co Ltd filed Critical Nissan Motor Co Ltd
Priority to JP1580088A priority Critical patent/JPH01193631A/ja
Publication of JPH01193631A publication Critical patent/JPH01193631A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/954Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、工作機械等により加工されたワーク表面の欠
陥を検査する表面欠陥検査装置に関し、ワークの内面の
表面欠陥を検査し得るようにした表面欠陥検査装置であ
る。
(従来の技術) 一般に、生産工場等における製造加工工程にあっては、
加工後の製品の品質検査を行なう検査工程が設けられて
おり、近年においては自動化が進み、作業者による目視
検査に代ってカメラ等の工学機器を使用して製品の品質
検査を行なうようになっている。
このような品質検査には、加工後の製品の表面にキズ等
の欠陥が存在しているか否かの検査を行なう表面欠陥検
査があり、例えば自動車のエンジンのピストン外面や、
ブレーキ装置のマスターシリンダボデーの内面の検査な
どがある。この検査にあっては、前記ピストンやマスタ
ーシリンダボデー等の被検査面に所定の方向から光を照
射し、この被検査面からの反射光をカメラが受光し、カ
メラ内部に設けられたラインセンサによって光電変換さ
れ、この電圧値をビデオ信号処理回路によって処理する
ことにより、前記被検査面の欠陥の有無を検査するよう
になっている。
このような検査装置を用いて、マスターシリンダー等の
円筒形状の被検査物の内面を検査する場合は、第4図に
示すように、被検査物であるマスターシリンダーWの一
方の開口部1aから内面3に向って光源2によって光が
入射され、マスターシリンダーWの他方の開口部1bを
通過した前記光の反射光はラインセンサを有するカメラ
4に入射される。更に、当該入射光により変化する前記
ラインセンサの出力信号は画像処理部5に送られるよう
になっており、被検査物の表面にキズ等の欠陥が存在す
ればその部分で照射光が乱反射し、前記ラインセンサを
構成する素子客部の受光量が不均一となる。これにより
、当該ラインセンサから出力される出力信号を画像処理
部で処理することによって、被検査物の表面欠陥の有無
の検査を行なうようにしている。
(発明が解決しようとする問題点) しかし、このような従来の表面欠陥検査装置を使用して
、前述したような円筒形状の被検査物の内面を検査する
場合は、照射光の反射面とカメラとの距離が被検査物の
一方の開口部1aと他方の開口部1bとで異なり、カメ
ラ内のラインセンサ上の焦点が一致せず、誤検出をする
虞れがあった。また、被検査物によっては、一端が閉鎖
した形状のものがあり、このような場合は前記従来の表
面欠陥検査装置では検査することができないという問題
点もあった。
本発明は、上記従来の問題点に鑑みてなされたものであ
り、如何なる被検査物であってもその内面を適正に検査
し得る表面欠陥検査装置を提供することを目的とする。
(問題点を解決するための手段) 本発明は、基盤に被検査物の内面を検査する検査部本体
を回動自在及び上下動自在に設け、当該検査部本体を前
記被検査物に対して回動させる第1駆動手段と、前記検
査部本体を前記被検査物に対して上下動させる第2駆動
手段とを前記基盤に設けると共に、前記被検査物の内面
に光を照射する光源と、当該光源からの光を前記被検査
物の内面に対して直角方向に指向させる反射部材とを有
し、前記被検査物の内面で反射した前記光源からの光を
受光するセンサーを有すると共に、当該センサーからの
信号により前記被検査物の内面の表面欠陥の有無を検出
する表面欠陥検出手段を有して成る表面欠陥検査装置に
より上記目的を達成するものである。
(作用) このように構成した本発明に係る表面欠陥検査装置にあ
っては、被検査物の内面に検査部本体を挿入し、光源か
ら光を反射部材を介して照射させながら、第1駆動手段
及び第2駆動手段によって前記被検査物の内面を走査さ
せることにより、当該光が前記被検査物の内面に直角に
照射され、この内面から反射した光をセンサーに受光さ
せることができる。更に、このセンサーからの信号を表
面欠陥検出手段に入力することにより、前記被検査物の
内面の表面欠陥の有無を検出することができる。
(実施例) 以下、図示する本発明の実施例に基づいて説明する。
第1図は、本発明に係る一実施例の表面欠陥検査装置を
示す縦断面図、第2図は、本発明の制御ブロック図、第
3図は、本発明の作動状態を示すフローチャートであり
、第4図に示す従来の表面欠陥検査装置と共通する部分
には同一の符号を付しである。
第1図にあっては、図示しないフロア上に固定された基
盤6に、検査部本体7を軸受12.13を介して回動及
び上下動自在に設けている。この検査部本体7は、略筒
形状を成し、その先端7aは胴部7bに対して略直角に
折り曲げて形成され、端部は開口している。また、当該
検査部本体7には、前記基盤6に対して回動させる図示
しないモータとギヤとを有する第1駆動手段8と、前記
基盤6に対して上下動させる図示しないモータとギヤと
を有する第2駆動手段9とが備えてられている。これら
2つの駆動手段8.9は、第2図に示すように、この表
面欠陥検出手段内の機器制御部16に電気的に連結され
、この機器制御部16からの信号によって作動及び停止
するようになっている。
前記検査部本体7の胴部7bの下端には、レーザー光を
照射する光源2が設けられ、当該光源2から照射された
レーザー光は、前記胴部7bを通過して検査部本体7の
先端7aに設けられた反射鏡10に照射される。この反
射鏡10は、前記光源2からのレーザー光を前記先端7
aの開口部7Cに向けて指向させるように設けられてい
る。この開口部7cには凸レンズ14が設けられ、前記
反射鏡10により反射したレーザー光を後述する被検査
物Wの内面3の所定の位置に照射するようにしている。
更に、前記検査部本体7の胴部7bの中央部には、ライ
ンセンサを有するカメラ4が設けられ、前記光源2から
照射され前記被検査物Wの内面3で反射したレーザー光
を受光するようになっている。本実施例のカメラ4にあ
っては、前記光源2から照射されるレーザー光の照射方
向と略直角にハーフミラ−15を介して前記レーザー光
を受光するように設けられている。このハーフミラ−1
5は、前記光源2から照射されるレーザー光は通過させ
るが、前記被検査物Wの内面3で反射した前記レーザー
光は前記カメラ4の受光部分に指向して反射するように
なっている。また、このカメラ4内に設けられたライン
センサは、光な変換する性質を有するもので、その光の
受光量によって発生する電圧が変化するようになってい
る。この電圧信号は表面欠陥検出手段11に送られるよ
うに連結されている。
本実施例にあっては、前記光源2と前記カメラ4とを前
記検査部本体7内に設けたが、本発明はこのように限定
されることなく、検査部本体7以外に設けてもよい。但
しその場合は、光源2からのレーザー光の反射光が前記
カメラ4に適正に受光されるように設置しなければなら
ないことは詳述するまでもない。
第2図は本発明に係る表面欠陥検査装置の制御ブロック
図を示す。
同図に示すように、表面欠陥検出手段11内に設けられ
ている入出力装置17には、前記レーザー光を受光する
カメラ4と、検査部本体7を回動及び上下動させる第1
駆動手段8及び第2駆動手段9と、これらの駆動手段8
.9の回転角度及び回転速度を検出するエンコーダ8a
、9aとが外部から接続され、これらの機器8.9の入
出力信号は、この入出力装置17を介して授受されるよ
うになっている。
また、この入出力装置17には、前記カメラ4の画像信
号を処理する画像処理部18と、前記第1及び第2駆動
手段8.9の作動を制御する機器制御部16とがそれぞ
れ接続されていると共に、画像処理部18及び機器制御
部16には、前記画像処理部18からの信号によって被
検査物Wの内面3の表面欠陥を検出する表面欠陥検出部
1つが接続されている。また、前記機器制御部16は、
前記画像処理部18及び表面欠陥検出部19からの信号
に基づいて前記2つの駆動手段8.9の回転速度の作動
を制御するようになっている。更に、前記入出力装置1
7には、前記表面欠陥検出手段11によって判断された
検査結果を作業者に知らせるための表示装置20が接続
されている。
以上のように構成された本発明に係る表面欠陥検査装置
の作動状態を、第3図に示すフローチャートに基づいて
説明する。
ステップ1 まず、作業の開始が指令されプログラムがスタートする
と、第2図に示した表面欠陥検出手段11及びこの表面
欠陥検出手段11に接続された機器8.9の動作状態は
初期化され、検査処理の準備を行なう。そして、被検査
物Wが図示しない搬送装置によって基盤6上に配置され
ると、機器制御部16から入出力装置17を介して信号
が第1駆動手段8及び第2駆動手段9に送られ、検査部
本体7を回動及び上下動させる。
ステップ2 検査部本体7の回動及び上下動に伴ない、被検査物Wの
内面3に光源2からの光が順次照射され、この反射光が
カメラ4に受光される。この受光された光はラインセン
サによって光電変換され、この信号は入出力装置17に
送られる。
ステップ3 画像処理部18は、ステップ2において出力されたカメ
ラ4からの信号を画像データとして記憶する。そして、
この記憶処理が終了すると画像処理部18は機器制御部
16に信号を送り入出力部17を介して第1駆動手段8
及び第2駆動手段9を更に作動させる。これによって、
検査部本体7は被検査物Wの全内面3を走査すると共に
、カメラ4はこの反射光を受光することになる。
ステップ4 機器制御部16は、エンコーダ8a、9aからの信号に
基づいてカメラ4によって被検査物Wの全ての内面3の
画像が受信できたかどうかを判断する。つまり、所定の
間隔で上下動する第2駆動手段9と所定の方向に回転す
る第1駆動手段8とが、原点からスタートして終点に至
る被検査物Wの全ての内面3をm羅して作動し終えたか
を判断する。
この結果、前記走査が終了していなければ、ステップ2
からステップ4までの処理を繰り返し、前記走査が終了
していれば機器制御部16は画像処理部18に終了信号
を送ると共に、入出力装置17を介して第1駆動手段8
及び第2駆動手段9の作動を停止させ、次のステップに
進む。
ステップ5 画像処理部18は、ステップ2及びステップ3の処理に
おいて記憶した全画像データを処理し、そのデータを表
面欠陥検出部19に出力する。
ステップ6 表面欠陥検出部19は、このデータに基づいて表面欠陥
の有無を判定し、その結果を機器制御部16に出力する
。そして機器制御部16は、入出力装置17を介して表
示装置20を作動させ、表示装置20に検査結果を表示
する。
このように、検査部本体7を被検査物Wの内面3に挿入
し、当該内面3を回動及び上下動することによって前記
内面3の全範囲を走査するようにしたため、一端が閉鎖
した円筒状物であってもその内面の表面欠陥を検査する
ことができる。また光源2からの照射光及びこの反射光
は、反射部材10.15を介して前記内面3に直角に照
射され、また直角にカメラ4に受光されるようになって
おり、これによって、カメラ4内のラインセンサ上で受
光される光の焦点がズレることもない。
尚、本発明における光源は、実施例に示したレーザー光
に限定されるものではなく、−船釣な光源を用いても前
述した実施例と同様の作用効果が期待できることは言う
までもない。但し、単一光源を使用しない場合は、被検
査物の内面に照射される光の範囲は、レーザー光の場合
のように点ではなく線または面となるため、これを凸レ
ンズで集光してカメラに受光させることにより、前記線
または面状に照射される範囲の内面の表面欠陥を一度に
検査することができる。つまり、前記第1または第2駆
動手段8.9の駆動速度が一定の場合は、前記実施例よ
り短時間で検査を完了するこ、 とができる。
また、画像処理については、被検査物の全画像データを
記憶後に処理を行なうような例を示したが、カメラによ
って得られる画像データをリアルタイムで処理するよう
に構成しても良いことは言うまでもない。
(発明の効果) 以上のように、本発明にあっては、被検査物の内面に光
源からの光を照射させ、この反射光をセンサーに受光さ
せると共に、このセンサーからの信号を表面欠陥検出部
に入力して被検査物の内面の表面欠陥の有無を検出する
ことによって、被検査物が如何なる形状の内面を有して
いても、誤検出な(その内面の表面欠陥を検査できると
いう実用上多大な効果を得る。
【図面の簡単な説明】
第11図は、本発明に係る梅器実施例の表面欠陥検査装
置を示す縦断面図、第2図は、本発明の制御ブロック図
、第3図は、本発明の作動状態を示すフローチャート、
第4図は、従来の表面欠陥検査装置を示す概略図である
。 W・・・被検査物       2・・・光源4・・・
カメラ(センサー)  6・・・基磐7・・・検査部本
体      8・・・第1駆動手段9・・・第2駆動
手段    10・・・反射部材11・・・表面欠陥検
出手段 特許出願人  日産自動車株式会社 代理人  弁理士 八 1)幹 雄(他1名)第1図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基盤に被検査物の内面を検査する検査部本体を回動自在
    及び上下動自在に設け、当該検査部本体を前記被検査物
    に対して回動させる第1駆動手段と、前記検査部本体を
    前記被検査物に対して上下動させる第2駆動手段とを前
    記基盤に設けると共に、前記被検査物の内面に光を照射
    する光源と、当該光源からの光を前記被検査物の内面に
    対して直角方向に指向させる反射部材とを有し、前記被
    検査物の内面で反射した前記光源からの光を受光するセ
    ンサーを有すると共に、当該センサーからの信号により
    前記被検査物の内面の表面欠陥の有無を検出する表面欠
    陥検出手段を有して成る表面欠陥検査装置。
JP1580088A 1988-01-28 1988-01-28 表面欠陥検査装置 Pending JPH01193631A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006506628A (ja) * 2002-11-18 2006-02-23 ナノフォーカス アクチエンゲゼルシャフト 共焦点顕微鏡を用いてシリンダ内壁の表面を測定するための装置及び方法
JP2017067461A (ja) * 2015-09-28 2017-04-06 アイシン精機株式会社 照射装置
US10203201B2 (en) 2017-03-15 2019-02-12 Fanuc Corporation Measurement device

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