JPH1140854A - 半導体発光素子 - Google Patents

半導体発光素子

Info

Publication number
JPH1140854A
JPH1140854A JP19679097A JP19679097A JPH1140854A JP H1140854 A JPH1140854 A JP H1140854A JP 19679097 A JP19679097 A JP 19679097A JP 19679097 A JP19679097 A JP 19679097A JP H1140854 A JPH1140854 A JP H1140854A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
positive electrode
emitting device
layer
light emitting
bonding pad
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP19679097A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3693468B2 (ja
Inventor
Taiji Morimoto
泰司 森本
Shigetoshi Ito
茂稔 伊藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP19679097A priority Critical patent/JP3693468B2/ja
Priority to US09/115,756 priority patent/US6097040A/en
Priority to TW087111640A priority patent/TW420882B/zh
Priority to DE19832852A priority patent/DE19832852C2/de
Priority to KR10-1998-0029377A priority patent/KR100386543B1/ko
Priority to CNB98117471XA priority patent/CN1155116C/zh
Publication of JPH1140854A publication Critical patent/JPH1140854A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3693468B2 publication Critical patent/JP3693468B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/40Materials therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/26Materials of the light emitting region
    • H01L33/30Materials of the light emitting region containing only elements of group III and group V of the periodic system
    • H01L33/32Materials of the light emitting region containing only elements of group III and group V of the periodic system containing nitrogen
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/36Semiconductor devices with at least one potential-jump barrier or surface barrier specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the electrodes
    • H01L33/40Materials therefor
    • H01L33/42Transparent materials

Abstract

(57)【要約】 【課題】 絶縁性基板上に形成された半導体発光素子に
おいて、正電極用ワイヤボンディングパッド部分の下部
に流れる電流による発光は外部光出力として十分に利用
できない状態にあった。 【解決手段】 絶縁性基板上に形成された半導体発光素
子において、該半導体発光素子は少なくとも発光部と正
電極部と負電極部とを有し、且つ、正電極部の一部と負
電極部の一部とが絶縁膜を介して積層して形成されるこ
とを特徴とするものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体発光素子の
電極構造に関し、特に、絶縁性基板上に形成された半導
体発光素子の電極パッドの構造、形状、配置に関する。
【0002】
【従来の技術】GaN、AlN、InN、またはこれら
の混晶に代表される窒化物系半導体材料により、可視か
ら紫外領域まで発光する半導体発光素子(LED素子)
が実現されている。これらのLED素子では、成長基板
としてサファイア等が用いられるが、これらの基板は絶
縁性基板であるため、成長面側から正電極及び負電極を
取り出す必要があり、種々の構造が提案されている。
【0003】図3は窒化物系半導体材料を用いた従来例
であり、特開平7―94782号公報、発明の名称:窒
化ガリウム系化合物半導体発光素子、出願人:日亜化学
工業株式会社である。
【0004】図3(a)は従来例の窒化ガリウム系化合
物半導体発光素子の平面図であり、図3(b)は図3
(a)の平面図のF―F’線で切断した模式断面図であ
る。図3(b)において、サファイア基板等の絶縁性基
板30の上に、n型窒化ガリウム系化合物半導体層31
とp型窒化ガリウム系化合物半導体層33とが順に積層
されており、n型窒化ガリウム系化合物半導体層31に
は負電極部32が形成され、p型窒化ガリウム系化合物
半導体層33には正電極部34が形成されている。35
はp型窒化ガリウム系化合物半導体層33表面のほぼ全
面に形成された電流拡散用の透光性電極層であり、36
は前記透光性電極層35に設けられた正電極部34を取
り出すための窓部である。
【0005】図3(b)の平面部において、30はサフ
ァイア基板等の絶縁性基板、31はn型窒化ガリウム系
化合物半導体層、32はn側の負電極部、33は負電極
用ワイヤボンディングパッド部、34はp型窒化ガリウ
ム系化合物半導体層、35はp型窒化ガリウム系化合物
半導体34の表面のほぼ全面に形成された電流拡散用の
透光性正電極層、36は正電極用ワイヤボンディングパ
ッド部である。同図に示されるように、正電極用ワイヤ
ボンディングパッド部36と負電極用ワイヤボンディン
グパッド部33とは対角位置隅部に形成されている。
【0006】また、同じような正負の電極構造を取った
他の従来例に、特開平8―274377号公報、発明の
名称:LEDランプ、出願人:日亜化学工業株式会社が
ある。
【0007】
【発明の解決しようとする課題】しかしながら、上述の
発光素子は通常電極面を上面とし、透明電極を透過して
光が放射されるように実装されるが、上述の正電極用ワ
イヤボンディングパッド部36は光を透過する厚さ以上
の膜厚の金属膜を使用した非透光性電極であるため、正
電極用ワイヤボンディングパッド部36の下側の発光層
から放射された光は素子外部に有効に取り出すことが出
来ない。
【0008】このため、素子から放射される光出力に寄
与するのは、正電極用ワイヤボンディングパッド部36
に覆われていない透光性正電極層35の部分での電流で
あり、正電極用ワイヤボンディングパッド部36の部分
から下部に流れる電流は発光素子全体へ寄与が無いか、
或いは小さい状態であった。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1記載の
半導体発光素子は、絶縁性基板上に形成された半導体発
光素子であり、該半導体発光素子は少なくとも発光部と
正電極部と負電極部とを有し、且つ、正電極部の一部と
負電極部の一部とが絶縁膜を介して積層して形成される
ことを特徴とするものである。
【0010】また、本発明の請求項2記載の半導体発光
素子は、正電極部に形成されているワイヤボンディング
パッド部と負電極部に形成されているワイヤボンディン
グパッド部とを近接して配設し、かつ、該正電極用ワイ
ヤボンディングパッド部の外形形状と負電極用ワイヤボ
ンディングパッド部の外形形状とで形作る擬似長辺形の
長辺部側に近接して該半導体発光素子の発光部を配設す
ることを特徴とするものである。
【0011】本発明の請求項1記載の半導体発光素子に
おいて、従来例の半導体発光素子においては、電極用ワ
イヤボンディングパッド部直下で発生する内部発光は電
極用ワイヤボンディングパッド部で遮光されて外部への
光出力として寄与しなかった。しかし、本発明の請求項
1記載の半導体発光素子では、この電極用ワイヤボンデ
ィングパッド部直下に流れる電流を絶縁層を介在させて
流れなくするため、光出力に寄与しにくい電流が少なく
なり、発光効率の改善が図れる。また、不要な電流が無
くなるため、順方向電圧の低減を図ることができる。
【0012】さらに、本発明の請求項2記載の半導体発
光素子によれば、発光部の形状が四辺形のような単純な
形状となるため、半導体発光素子の単純な発光パターン
が得られる。
【0013】
【発明の実施の形態】図1乃図2は、本発明の一実施の
形態に関する図である。以下に、本発明の実施の形態に
ついて説明する。
【0014】(実施の形態1)図1は、本発明の第1の
実施の形態よりなる半導体発光素子の構成を示す図であ
り、図1(a)は平面図であり、図1(b)、(c)、
(d)は模式断面図である。
【0015】図1(a)において、10はサファイア基
板(約350μmの正方形)であり、19は発光部(2
カ所にくびれのある約300μm□)であり、15は正
電極用ワイヤボンディングパッド部、17は負電極用ワ
イヤボンディングパッド部であり、正負の電極用ワイヤ
ボンディングパッド部(各130μmの正方形)15及
び17はサファイア基板の対角位置に配設されている。
図1(a)のA―A’線における略断面図を図1(b)
に、図1(a)のB―B’線における略断面図を図1
(c)に、図1(a)のC―C’線における略断面図を
図1(d)に示す。
【0016】図1(b)、(c)、(d)において、サ
ファイア基板10の上に、基板と略平行な面が一部露出
したn型AlXGaYIn1-X-YN層(0≦X≦1、0≦
Y≦1)11が形成され、その上には、発光層であるA
ZGaTIn1-Z-TN層(0≦Z≦1、0≦T≦1)1
2、p型AlUGaVIn1-U-VN層(0≦U≦1、0≦
V≦1)13が積層されている。発光層12はノンドー
プ、或いはSiドープのAlZGaTIn1-Z-TN層が用
いられる。
【0017】負電極部16はn型AlXGaYIn1-X-Y
N層11の一部露出した面上に形成され、その上に負電
極用ワイヤボンディングパッド部17を形成する。
【0018】この負電極部16及び、又は負電極用ワイ
ヤボンディングパッド部17の一部に、後の工程で形成
する正電極部14との間を絶縁分離するための絶縁膜1
8を形成する。この絶縁膜には、例えばSiO2膜、S
iNx膜、TiO2等を使用する。
【0019】絶縁膜の形成方法は、スパッタ蒸着法や電
子ビーム蒸着法が用いられる。また、SOG(スピン・
オン・グラス)法を用いてもよい。絶縁膜の形成後、少
なくとも前記負電極部16と後述の正電極部14との間
が電気的に短絡しないように作用する部分以外の絶縁膜
は、フォトリソグラフィーとエッチングの手法を用いて
除去する。絶縁膜の膜厚は、負電極部16と正電極部1
4との間の電気的な絶縁が目的の膜厚であり、0.5μ
m以上の膜厚が用いられる。
【0020】負電極部(n型電極部)16の具体的な電
極材料としては、例えば、Ti/Alの積層電極、また
は、Alの単層膜などが用いられる。
【0021】正電極部14は、p型AlUGaVIn
1-U-VN層13、および、絶縁膜18上に形成する。正
電極部(p型透明電極部)14は、透明であり、例え
ば、Ti、Pd、Pt、などの少なくとも一種、または
それらの金属層の上に、Auの薄膜を積層してもよく、
Au単独の層であってもよい。さらに、ITOやTiN
の透明電極にAuの薄膜を積層してもよい。正電極部1
4の電極金属の厚さは、導電性を維持しつつ、素子内部
からの発光を可能な限り遮らない厚さが用いられ、具体
的には、1nm〜100nm程度の厚さである。
【0022】正電極部14上で、且つ、絶縁膜18の直
上部分に正電極用ワイヤボンディングパッド部15を形
成する。正電極用ワイヤボンディングパッド部15は、
工程上正電極部14と同じ系統の材料が用いられるが、
最上面にはAu層が設けられ、0.1μm〜約2μm程
度の膜厚が用いられる。従って、正電極用ワイヤボンデ
ィングパッド部15の積層構造は、表面から、Au/
(Ti、Pd、Pt)/p−GaN、となる。
【0023】図1の構造を用いることにより、正電極用
ワイヤボンディングパッド部15の直下の部分にも絶縁
膜18を介して負電極部16を埋設することで、発光層
と重なる正電極用ワイヤボンディングパッド部15の大
部分の領域の直下に流れる発光素子から放射される光出
力に寄与しにくかった電流を削減することが可能とな
り、且つ、n型AlXGaYIn1-X-YN層11と負電極
部16との接触面積を増加することが可能となり、その
結果、発光時の素子の動作電圧の低減と、外部発光効率
を向上することができる。具体的な大きさとしては、例
えば、約350μm角のサファイア基板10を用いる場
合、正負の電極用ワイヤボンディングパッド部は約13
0μm角であり、発光層の大きさは、(約300〜32
0μm角−正負の電極パッドの重なる領域)程度とな
り、発光層と重なる正電極用ワイヤボンディングパッド
部15の大部分の領域は約100μm角程度となる。
【0024】(実施の形態2)図2は、本発明の第2の
実施の形態よりなる発光素子の構成を示す図であり、発
光部21は長方形に形作られたものである。図2(a)
は平面図であり、図2(b)、(c)、(d)は模式断
面図である。
【0025】図2(a)において、20はサファイア基
板(約350μm□の正方形)であり、21は発光部
(約300μm×170μmの長方形)であり、15は
正電極用ワイヤボンディングパッド部、17は負電極用
ワイヤボンディングパッド部であり、正負の電極用ワイ
ヤボンディングパッド部(各130μmの正方形)15
及び17はサファイア基板の同一辺に並んで、近接し
て、配設されている。図2(a)のA―A’線における
略断面図を図2(b)に、図2(a)のB―B’線にお
ける略断面図を図2(c)に、図2(a)のC―C’線
における略断面図を図2(d)に示す。
【0026】上記の通り、正電極用ワイヤボンディング
パッド部15の直下の部分にも絶縁膜18を介して負電
極部16を埋設することで、正電極用ワイヤボンディン
グパッド部15の直下に流れる発光素子から放射される
光出力に寄与しにくかった電流を削減することが可能と
なり、かつ、n型AlXGaYIn1-X-YN層11と負電
極16との接触面積を約1.8倍(従来例の接触面積が
約150×約130μm角であったが、本発明の接触面
積は(約150×約130μm角)+(約150×約1
00μm角)と増加することができ、従来例の動作電圧
約3.5Vが本発明の動作電圧(順方向電流20mAで
の電圧)では約3.4V〜3.45Vとなり、約0.0
5V〜0.1V低減することができ、また光出力を約2
〜5%増加させることができる。
【0027】また、正負ワイヤボンディングパッド部を
サファイア基板の一辺に並べて配設することにより、発
光部21の形状が、単純な多角形の形状にすることが可
能となるため、この発光素子を使った半導体発光装置に
おいてムラの少ない放射特性を持った半導体発光装置を
得やすくなった。
【0028】
【発明の効果】以上のように、本発明の請求項1記載の
半導体発光素子によれば、絶縁性基板上に形成された半
導体発光素子であり、該半導体発光素子は少なくとも発
光部と正電極部と負電極部とを有し、且つ、正電極部の
一部と負電極部の一部とが絶縁膜を介して積層して形成
されることを特徴とするものである。
【0029】請求項1記載の構成により、絶縁膜を介し
て一部重ね合わせることで、一方のワイヤボンディング
パッド部の直下を流れ、発光素子から放射される光出力
に寄与しにくかった電流を削減することが可能となり、
且つ、他方の電極とそれに接触する半導体層の接触面積
を増加することが可能となり、その結果、光出力の向
上、および、動作電圧の低減を図ることが出来る。
【0030】また、本発明の請求項2記載の半導体発光
素子によれば、正電極部に形成されているワイヤボンデ
ィングパッド部と負電極部に形成されているワイヤボン
ディングパッド部とを近接して配設し、かつ、該正電極
用ワイヤボンディングパッド部の外形形状と負電極用ワ
イヤボンディングパッド部の外形形状とで形作る擬似長
辺形の長辺部側に近接して該半導体発光素子の発光部を
配設することを特徴とするものである。
【0031】請求項2記載の構成により、発光部の形状
が単純な形状となり、例えばくびれ等のある複雑な発光
パターンとはならないことから、ランプ等の発光装置に
組み立てた場合には単純な放射特性を持つ発光装置を得
ることができる。さらに、n型AlXGaYIn1-X-Y
層と負電極16との接触面積を増加することができ、動
作電圧の低減と、光出力の増加を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態よりなる半導体発光
素子の構成を示す図であり、(a)は平面図であり、
(b)は(a)のA―A’線における略断面図、(c)
は(a)のB―B’線における略断面図、(d)は
(a)のC―C’線における略断面図である。
【図2】本発明の第2の実施の形態よりなる半導体発光
素子の構成を示す図であり、(a)は平面図であり、
(b)は(a)のA―A’線における略断面図、(c)
は(a)のB―B’線における略断面図、(d)は
(a)のC―C’線における略断面図である。
【図3】従来例の窒化物系半導体材料を用いた窒化ガリ
ウム系化合物半導体発光素子の説明図であり、(a)は
平面図であり、(b)は(a)のF―F’線で切断した
略断面図である。
【符号の説明】
10 サファイア基板などの絶縁性基板 11 n型AlXGaYIn1-X-YN層(0≦X≦1、0
≦Y≦1) 12 発光層であるAlZGaTIn1-Z-TN層(0≦Z
≦1、0≦T≦1) 13 p型AlUGaVIn1-U-VN層(0≦U≦1、0
≦V≦1) 14 正電極部 15 正電極用ワイヤボンディングパッド部 16 負電極部 17 負電極用ワイヤボンディングパッド部 18 絶縁膜 19 発光部 20 サファイア基板などの絶縁性基板 21 発光部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁性基板上に形成された半導体発光素
    子において、該半導体発光素子は少なくとも発光部と正
    電極部と負電極部とを有し、且つ、正電極部の一部と負
    電極部の一部とが絶縁膜を介して積層して形成されるこ
    とを特徴とする半導体発光素子。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の半導体発光素子におい
    て、正電極部に形成されているワイヤボンディングパッ
    ド部と負電極部に形成されているワイヤボンディングパ
    ッド部とを近接して配設し、かつ、該正電極用ワイヤボ
    ンディングパッド部の外形形状と負電極用ワイヤボンデ
    ィングパッド部の外形形状とで形作る擬似長辺形の長辺
    部側に近接して該半導体発光素子の発光部を配設するこ
    とを特徴とする半導体発光素子。
JP19679097A 1997-07-23 1997-07-23 半導体発光素子 Expired - Fee Related JP3693468B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19679097A JP3693468B2 (ja) 1997-07-23 1997-07-23 半導体発光素子
US09/115,756 US6097040A (en) 1997-07-23 1998-07-15 Semiconductor light emitting device that prevents current flow in a portion thereof directly under an electrode wire bonding pad
TW087111640A TW420882B (en) 1997-07-23 1998-07-17 Semiconductor light emitting device
DE19832852A DE19832852C2 (de) 1997-07-23 1998-07-21 Halbleiter-Lichtemissionsvorrichtung mit Elektroden-Drahtbondpads
KR10-1998-0029377A KR100386543B1 (ko) 1997-07-23 1998-07-22 반도체발광소자
CNB98117471XA CN1155116C (zh) 1997-07-23 1998-07-23 半导体光发射器件

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP19679097A JP3693468B2 (ja) 1997-07-23 1997-07-23 半導体発光素子

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1140854A true JPH1140854A (ja) 1999-02-12
JP3693468B2 JP3693468B2 (ja) 2005-09-07

Family

ID=16363697

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19679097A Expired - Fee Related JP3693468B2 (ja) 1997-07-23 1997-07-23 半導体発光素子

Country Status (6)

Country Link
US (1) US6097040A (ja)
JP (1) JP3693468B2 (ja)
KR (1) KR100386543B1 (ja)
CN (1) CN1155116C (ja)
DE (1) DE19832852C2 (ja)
TW (1) TW420882B (ja)

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2005106983A1 (en) * 2004-04-28 2005-11-10 Showa Denko K.K. Transparent positive electrode
JP2005340797A (ja) * 2004-04-28 2005-12-08 Showa Denko Kk 透光性正極
JP2006013475A (ja) * 2004-05-26 2006-01-12 Showa Denko Kk 正極構造及び窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
JP2007049160A (ja) * 2005-08-09 2007-02-22 Samsung Electro Mech Co Ltd 窒化物半導体発光素子
JP2008505483A (ja) * 2004-06-30 2008-02-21 クリー インコーポレイテッド 電流阻止構造を有する発光デバイスおよび電流阻止構造を有する発光デバイスを作製する方法
US7344967B2 (en) 2004-09-30 2008-03-18 Toyoda Gosei Co., Ltd. Method for forming an electrode
KR100833309B1 (ko) 2006-04-04 2008-05-28 삼성전기주식회사 질화물계 반도체 발광소자
US8541788B2 (en) 2005-01-24 2013-09-24 Cree, Inc. LED with current confinement structure and surface roughening
US10388897B2 (en) 2012-05-18 2019-08-20 Oxford University Innovation Limited Optoelectronic device comprising porous scaffold material and perovskites
US11038132B2 (en) 2012-05-18 2021-06-15 Oxford University Innovation Limited Optoelectronic devices with organometal perovskites with mixed anions
US11302833B2 (en) 2012-05-18 2022-04-12 Oxford University Innovation Limited Optoelectronic device comprising perovskites
US11469338B2 (en) 2012-09-18 2022-10-11 Oxford University Innovation Limited Optoelectronic device

Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6570186B1 (en) * 2000-05-10 2003-05-27 Toyoda Gosei Co., Ltd. Light emitting device using group III nitride compound semiconductor
US6380564B1 (en) * 2000-08-16 2002-04-30 United Epitaxy Company, Ltd. Semiconductor light emitting device
US6603152B2 (en) 2000-09-04 2003-08-05 Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. Blue light emitting diode with electrode structure for distributing a current density
US6255129B1 (en) * 2000-09-07 2001-07-03 Highlink Technology Corporation Light-emitting diode device and method of manufacturing the same
DE10044500A1 (de) * 2000-09-08 2002-04-04 Highlink Technology Corp Chupe Licht emittierendes Verbindungshalbleiter-Bauteil und Verfahren zur Herstellung desselben
US7067849B2 (en) 2001-07-17 2006-06-27 Lg Electronics Inc. Diode having high brightness and method thereof
US6949395B2 (en) 2001-10-22 2005-09-27 Oriol, Inc. Method of making diode having reflective layer
US7148520B2 (en) 2001-10-26 2006-12-12 Lg Electronics Inc. Diode having vertical structure and method of manufacturing the same
US6911079B2 (en) * 2002-04-19 2005-06-28 Kopin Corporation Method for reducing the resistivity of p-type II-VI and III-V semiconductors
US20030222263A1 (en) * 2002-06-04 2003-12-04 Kopin Corporation High-efficiency light-emitting diodes
US20040000672A1 (en) * 2002-06-28 2004-01-01 Kopin Corporation High-power light-emitting diode structures
US7002180B2 (en) * 2002-06-28 2006-02-21 Kopin Corporation Bonding pad for gallium nitride-based light-emitting device
WO2003107442A2 (en) 2002-06-17 2003-12-24 Kopin Corporation Electrode for p-type gallium nitride-based semiconductors
US6955985B2 (en) 2002-06-28 2005-10-18 Kopin Corporation Domain epitaxy for thin film growth
KR100543696B1 (ko) * 2002-09-09 2006-01-20 삼성전기주식회사 고효율 발광 다이오드
TW200414556A (en) * 2003-01-17 2004-08-01 Epitech Corp Ltd Light emitting diode having distributed electrodes
EP1482566A3 (en) * 2003-05-28 2004-12-08 Chang Hsiu Hen Light emitting diode electrode structure and full color light emitting diode formed by overlap cascaded die bonding
US7122841B2 (en) 2003-06-04 2006-10-17 Kopin Corporation Bonding pad for gallium nitride-based light-emitting devices
US20050179046A1 (en) * 2004-02-13 2005-08-18 Kopin Corporation P-type electrodes in gallium nitride-based light-emitting devices
US20050179042A1 (en) * 2004-02-13 2005-08-18 Kopin Corporation Monolithic integration and enhanced light extraction in gallium nitride-based light-emitting devices
JP4172515B2 (ja) * 2006-10-18 2008-10-29 ソニー株式会社 発光素子の製造方法
US7843060B2 (en) * 2007-06-11 2010-11-30 Cree, Inc. Droop-free high output light emitting devices and methods of fabricating and operating same
KR100999806B1 (ko) 2009-05-21 2010-12-08 엘지이노텍 주식회사 반도체 발광소자 및 그 제조방법
KR101039939B1 (ko) 2010-04-28 2011-06-09 엘지이노텍 주식회사 발광소자, 발광소자의 제조방법, 발광소자 패키지 및 이를 포함하는 조명시스템
TWI433357B (zh) * 2010-08-26 2014-04-01 Huga Optotech Inc 高亮度發光二極體結構
CN102456793A (zh) * 2010-10-25 2012-05-16 佛山市奇明光电有限公司 发光二极管元件及其制造方法
CN103378254B (zh) * 2012-04-27 2017-07-21 晶元光电股份有限公司 发光元件
CN104868031B (zh) * 2015-04-09 2018-01-16 武汉华星光电技术有限公司 一种发光器件
DE102016112587A1 (de) 2016-07-08 2018-01-11 Osram Opto Semiconductors Gmbh Strahlungsemittierender Halbleiterchip
CN110265515B (zh) * 2019-06-20 2021-01-29 合肥彩虹蓝光科技有限公司 一种发光二极管芯片及其制造方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5600363A (en) * 1988-12-28 1997-02-04 Kyocera Corporation Image forming apparatus having driving means at each end of array and power feeding substrate outside head housing
JPH0654950B2 (ja) * 1989-06-23 1994-07-20 アンリツ株式会社 Crtの垂直偏向回路
JP2892053B2 (ja) * 1989-10-30 1999-05-17 株式会社リコー 半導体発光素子アレイ
JP2697572B2 (ja) * 1993-09-21 1998-01-14 日亜化学工業株式会社 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
JP2927202B2 (ja) * 1995-03-29 1999-07-28 日亜化学工業株式会社 Ledランプ
JP3447527B2 (ja) * 1996-09-09 2003-09-16 株式会社東芝 半導体発光素子およびその製造方法

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7875896B2 (en) 2004-04-28 2011-01-25 Showa Denko K.K. Transparent positive electrode
JP2005340797A (ja) * 2004-04-28 2005-12-08 Showa Denko Kk 透光性正極
WO2005106983A1 (en) * 2004-04-28 2005-11-10 Showa Denko K.K. Transparent positive electrode
JP2006013475A (ja) * 2004-05-26 2006-01-12 Showa Denko Kk 正極構造及び窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
JP4904261B2 (ja) * 2004-06-30 2012-03-28 クリー インコーポレイテッド 電流阻止構造を有する発光デバイスおよび電流阻止構造を有する発光デバイスを作製する方法
JP2008505483A (ja) * 2004-06-30 2008-02-21 クリー インコーポレイテッド 電流阻止構造を有する発光デバイスおよび電流阻止構造を有する発光デバイスを作製する方法
US7344967B2 (en) 2004-09-30 2008-03-18 Toyoda Gosei Co., Ltd. Method for forming an electrode
US8541788B2 (en) 2005-01-24 2013-09-24 Cree, Inc. LED with current confinement structure and surface roughening
JP2007049160A (ja) * 2005-08-09 2007-02-22 Samsung Electro Mech Co Ltd 窒化物半導体発光素子
US8258539B2 (en) 2005-08-09 2012-09-04 Samsung Led Co., Ltd. Nitride semiconductor light emitting device
KR100833309B1 (ko) 2006-04-04 2008-05-28 삼성전기주식회사 질화물계 반도체 발광소자
US10388897B2 (en) 2012-05-18 2019-08-20 Oxford University Innovation Limited Optoelectronic device comprising porous scaffold material and perovskites
US11038132B2 (en) 2012-05-18 2021-06-15 Oxford University Innovation Limited Optoelectronic devices with organometal perovskites with mixed anions
US11258024B2 (en) 2012-05-18 2022-02-22 Oxford University Innovation Limited Optoelectronic devices with organometal perovskites with mixed anions
US11276734B2 (en) 2012-05-18 2022-03-15 Oxford University Innovation Limited Optoelectronic device comprising porous scaffold material and perovskites
US11302833B2 (en) 2012-05-18 2022-04-12 Oxford University Innovation Limited Optoelectronic device comprising perovskites
US11908962B2 (en) 2012-05-18 2024-02-20 Oxford University Innovation Limited Optoelectronic device comprising perovskites
US11469338B2 (en) 2012-09-18 2022-10-11 Oxford University Innovation Limited Optoelectronic device
US11527663B2 (en) 2012-09-18 2022-12-13 Oxford University Innovation Limited Optoelectronic device

Also Published As

Publication number Publication date
JP3693468B2 (ja) 2005-09-07
US6097040A (en) 2000-08-01
CN1210373A (zh) 1999-03-10
KR19990014042A (ko) 1999-02-25
CN1155116C (zh) 2004-06-23
DE19832852A1 (de) 1999-01-28
DE19832852C2 (de) 2003-05-28
KR100386543B1 (ko) 2003-09-13
TW420882B (en) 2001-02-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3693468B2 (ja) 半導体発光素子
US6949773B2 (en) GaN LED for flip-chip bonding and method of fabricating the same
US8288787B2 (en) Thin film light emitting diode
KR100887139B1 (ko) 질화물 반도체 발광소자 및 제조방법
JP5949294B2 (ja) 半導体発光素子
EP3454372A1 (en) Light emitting diode
US6812502B1 (en) Flip-chip light-emitting device
US6635903B2 (en) White light emission diode
JP7288041B2 (ja) 発光素子
JP2001217456A (ja) 窒化ガリウム系化合物半導体発光素子
JP5235878B2 (ja) 半導体発光素子
JPH11150303A (ja) 発光部品
JP3068914U (ja) フリップ―チップ発光デバイス
JP2007103689A (ja) 半導体発光装置
US20130015465A1 (en) Nitride semiconductor light-emitting device
JP2011249411A (ja) 半導体発光素子、発光装置、照明装置、表示装置、信号灯器及び道路情報装置
KR20100108906A (ko) 복수개의 발광셀들을 갖는 발광 소자 및 그것을 제조하는 방법
JP2000077713A (ja) 半導体発光素子
KR20100075420A (ko) 복수개의 발광셀들을 갖는 발광 소자 및 그것을 제조하는 방법
JP4277583B2 (ja) 半導体発光装置
JP3303154B2 (ja) 半導体発光素子
JP2004311677A (ja) 半導体発光素子
JP3460638B2 (ja) 窒化物半導体発光チップの製造方法
JP2941743B2 (ja) 化合物半導体発光素子及びその製造方法
JP2000049376A (ja) 発光素子

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20040325

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20041012

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20041209

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20050308

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050406

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20050523

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20050621

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20050621

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090701

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100701

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110701

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110701

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120701

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120701

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130701

Year of fee payment: 8

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees