JPH1138248A - ハイブリッド光集積回路の製造方法 - Google Patents

ハイブリッド光集積回路の製造方法

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JPH1138248A
JPH1138248A JP19162197A JP19162197A JPH1138248A JP H1138248 A JPH1138248 A JP H1138248A JP 19162197 A JP19162197 A JP 19162197A JP 19162197 A JP19162197 A JP 19162197A JP H1138248 A JPH1138248 A JP H1138248A
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JP
Japan
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hill
silicon substrate
cladding layer
layer
core
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Pending
Application number
JP19162197A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazutaka Nara
一孝 奈良
Shoichi Ozawa
章一 小沢
Masahiro Yanagisawa
雅弘 柳澤
Eiji Kikuchi
英治 菊池
Kazunori Miura
和則 三浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Furukawa Electric Co Ltd
Fujitsu Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Furukawa Electric Co Ltd
Fujitsu Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
Application filed by Furukawa Electric Co Ltd, Fujitsu Ltd, Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Furukawa Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 シリコン基板と下部クラッド層の密着性を向
上させる。 【解決手段】 シリコン基板1の上面の一部に半導体光
素子搭載用の丘1aを形成し、その上面に熱処理により
熱酸化膜9を形成してから、その上に下部クラッド層2
を形成する。その後、上面を研磨し、コア層3を形成
し、コア層をパターニングしてコア3aを形成し、上部
クラッド層4を形成し、丘1aの上のガラス層を除去し
て丘1aの上に半導体光素子6を搭載する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、シリコン基板上
に、石英ガラス系の光導波路を形成すると共に、半導体
光素子(発光素子または受光素子)を搭載してなるハイ
ブリッド光集積回路の製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のハイブリッド光集積回路の製造方
法を図2(イ)〜(リ)を参照して説明する。まず
(イ)のようにシリコン基板1の上面の一部に半導体光
素子搭載用の丘1aを形成する。丘1aの形成は、丘1
a以外の部分(破線)をフォトリソグラフィーとエッチ
ングにより所要の厚さだけ除去することにより行う。次
に(ロ)のようにシリコン基板1の上面に、石英ガラス
の下部クラッド層2を形成する。下部クラッド層2の形
成は、シリコン基板1上に火炎堆積法により下部クラッ
ド層用のガラス微粒子を堆積させた後、透明ガラス化す
ることにより行う。
【0003】次に(ハ)のようにシリコン基板の丘1a
の上面と下部クラッド層2の上面が同一平面になるよう
に平らに研磨する。その後(ニ)のように研磨面上に下
部クラッド層2より屈折率の高い石英ガラスのコア層3
を形成する。コア層3の形成は、研磨面上にコア用のガ
ラス微粒子を堆積させた後、透明ガラス化することによ
り行う。次にコア層3をドライエッチングによりパター
ニングして、(ホ)のように所望のパターンのコア3a
を形成する。
【0004】次に(ヘ)のように上面全面に石英ガラス
の上部クラッド層4を形成する。上部クラッド層4の屈
折率、形成方法は下部クラッド層2と同じである。その
後、シリコン基板の丘1aの上の上部クラッド層4をド
ライエッチングにより除去して、(ト)のように丘1a
の上面を露出させる。次に(チ)のようにシリコン基板
の丘1aの上面にスパッタリング等により電極5を形成
した後、(リ)のように電極5上に半導体光素子6を半
田付け等より固定する。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来の製造方法による
と、(ロ)の工程で下部クラッド層2を形成したとき
に、図3に示すように、下部クラッド層2とシリコン基
板1の界面に大量の空乏7が発生し、その影響でシリコ
ン基板1と下部クラッド層2との密着性が悪くなり、所
々で下部クラッド層2がはがれたり、割れたりする等の
問題があった。図3において、8は下部クラッド層2が
剥がれた部分を示す。
【0006】本発明の目的は、このような問題点に鑑
み、下部クラッド層とシリコン基板の密着性が良好なハ
イブリッド光集積回路の製造方法を提供することにあ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明によるハイブリッ
ド光集積回路の製造方法は、シリコン基板の上面の一部
に半導体光素子搭載用の丘を形成し、その丘を形成した
シリコン基板の上面に熱処理により熱酸化膜を形成して
から、下部クラッド層を形成することを特徴とする。そ
の後のコア形成、上部クラッド層形成、半導体光素子搭
載の工程は従来と同様である。
【0008】上記のようにシリコン基板の上面に熱酸化
膜を形成すると、熱酸化膜とシリコン基板表面のSiと
が熱処理雰囲気中のOによりSi−O−Siの共有結合
を形成し、かつ熱酸化膜と下部クラッド層がガラスマト
リックス中のOによりSi−O−Siの共有結合を形成
する。その結果、シリコン基板と下部クラッド層が熱酸
化膜を介して強固に結合するため、密着性が向上し、は
がれ等の問題をなくすことが可能となる。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図面を
参照して詳細に説明する。図1(a)〜(j)は本発明
の製造方法の一実施形態を示す。まず(a)のようにシ
リコン基板1の上面に半導体光素子搭載用の丘1aを形
成する。次に(b)のように丘1aを形成したシリコン
基板1の上面に熱処理により熱酸化膜9を形成する。次
に(c)に示すように熱酸化膜9の上面に下部クラッド
層2を形成する。この後の工程は従来と同様であり、図
1の(d)〜(j)の工程は、図2の(ハ)〜(リ)の
工程に対応する。
【0010】なお(d)の研磨工程と(e)のコア層形
成工程の間に、コア3aの高さを半導体光素子6の活性
層との高さを合わせるための高さ調整用クラッド層を形
成する工程を設ける場合もある。すなわち高さ調整用ク
ラッド層は、シリコン基板の丘1aおよび下部クラッド
層2の研磨面と、コア層3との間に形成され、その厚さ
によってコア3aの高さを調整するものである。
【0011】
【実施例】熱酸化膜9の形成方法と、熱酸化膜9を設け
た結果は次のとおりである。丘1aを形成したシリコン
基板1に、He:10リットル/分とO2 :2リットル
/分の雰囲気ガスで、1300℃、5時間の熱処理を施
したところ、約1000Åの熱酸化膜9が形成された。
この酸化膜9の上に下部クラッド層2を形成したとこ
ろ、従来のような空乏、はがれ等の問題は皆無であっ
た。
【0012】次に、丘を形成したシリコン基板に、雰囲
気ガス、熱処理温度、熱処理時間を表1のように変え
て、熱酸化膜を形成した後、その各々について熱酸化膜
の上に下部クラッド層を形成した。この結果でも従来の
ような空乏、はがれ等の問題は皆無であった。
【0013】
【表1】
【0014】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、シ
リコン基板の上面に熱酸化膜を形成したことにより、シ
リコン基板と下部クラッド層との密着性を著しく向上さ
せることができる。このため下部クラッド層のはがれや
割れ等のない品質良好なハイブリッド光集積回路を製造
することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 (a)〜(j)は本発明の製造方法の一実施
形態を工程順に示す断面図。
【図2】 (イ)〜(リ)は従来の製造方法を工程順に
示す断面図。
【図3】 図2の方法で製造されたハイブリッド光集積
回路の問題点を示す断面図。
【符号の説明】
1:シリコン基板 1a:シリコン基板1の上面に形成された丘 2:下部クラッド層 3:コア層 3a:コア 4:上部クラッド層 5:電極 6:半導体光素子 9:熱酸化膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 奈良 一孝 東京都千代田区丸の内2丁目6番1号 古 河電気工業株式会社内 (72)発明者 小沢 章一 東京都千代田区丸の内2丁目6番1号 古 河電気工業株式会社内 (72)発明者 柳澤 雅弘 東京都新宿区西新宿三丁目19番2号 日本 電信電話株式会社内 (72)発明者 菊池 英治 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内 (72)発明者 三浦 和則 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】シリコン基板(1)の上面の一部に半導体
    光素子搭載用の丘(1a)を形成する工程、 丘(1a)を形成したシリコン基板(1)の上面に熱処
    理により熱酸化膜(9)を形成する工程、 熱酸化膜(9)の上面に下部クラッド層(2)を形成す
    る工程、 シリコン基板の丘(1a)の上面と下部クラッド層
    (2)の上面が同一平面になるように研磨する工程、 研磨面上に直接または高さ調整用クラッド層を介してコ
    ア層(3)を形成した後、そのコア層(3)をパターニ
    ングして所望のパターンのコア(3a)を形成する工
    程、 コア(3a)を覆うように上部クラッド層(4)を形成
    する工程、 シリコン基板の丘(1a)の上のガラス層を除去して丘
    (1a)の上面を露出させた後、丘(1a)の上面に半
    導体光素子(6)を搭載する工程、 を含むハイブリッド光集積回路の製造方法。
JP19162197A 1997-07-16 1997-07-16 ハイブリッド光集積回路の製造方法 Pending JPH1138248A (ja)

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Effective date: 20030107