JPH1138250A - ハイブリッド光集積回路の製造方法 - Google Patents

ハイブリッド光集積回路の製造方法

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JPH1138250A
JPH1138250A JP19162397A JP19162397A JPH1138250A JP H1138250 A JPH1138250 A JP H1138250A JP 19162397 A JP19162397 A JP 19162397A JP 19162397 A JP19162397 A JP 19162397A JP H1138250 A JPH1138250 A JP H1138250A
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JP
Japan
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hillock
hill
core
forming
layer
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Pending
Application number
JP19162397A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazuyasu Mizuno
一庸 水野
Shoichi Ozawa
章一 小沢
Masahiro Yanagisawa
雅弘 柳澤
Eiji Kikuchi
英治 菊池
Kazunori Miura
和則 三浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Furukawa Electric Co Ltd
Fujitsu Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Furukawa Electric Co Ltd
Fujitsu Ltd
Nippon Telegraph and Telephone Corp
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Publication date
Application filed by Furukawa Electric Co Ltd, Fujitsu Ltd, Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Furukawa Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 シリコン基板1の上面の一部に丘2を形成
し、その上に下部クラッド層3を形成した後、丘2の
上面を露出させ、その上にコア層を形成し、コア層
をパターニングして光導波路用のコアを形成し、その
上に上部クラッド層を形成した後、丘の上面を露出さ
せ、丘の上面に半導体光素子を搭載する、という製造
方法において、丘2の上面の荒れを軽減する。 【解決手段】 コア層をパターニングしてコア4aを形
成するときに丘2の上の部分をマスク4bとして残す。
マスク4bは丘の上の上部クラッド層を除去するときに
一緒に除去する。コア層のパターニング時に丘の上面が
エッチングされないので、面荒れを軽減できる。半導体
光素子の位置決め精度が向上する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、基板上に石英系光
導波路を形成すると共に、半導体光素子を搭載したハイ
ブリッド光集積回路の製造方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】本発明者等は先に、石英系光導波回路に
LD(レーザーダイオード)などの半導体光素子を搭載
した送受信機能を有するハイブリッド光集積回路を製造
する方法として、図7ないし図12のような方法を開発
した。
【0003】まず図7に示すようにシリコン基板1の上
面の一部(後に半導体光素子を搭載する部分)に周囲よ
り一段高い丘2を形成する。丘2の形成は例えば丘2以
外の部分をフォトリソグラフィ、エッチングにより所要
の厚さだけ除去することにより行う。
【0004】次に図8に示すようにシリコン基板1の上
面に火炎堆積法により石英系の下部クラッド層3を丘2
の高さと同じかそれより若干厚く形成した後、形成され
た下部クラッド層3を機械研磨等により平らに研磨して
丘2の上面と面位置にし、丘2の上面を露出させる。
【0005】次に図9に示すように下部クラッド層3お
よび丘2の上面に光導波路形成用のコア層4を形成す
る。コア層4の形成は火炎堆積法により行う。次にコア
層4をドライエッチングにより所定のパターンに加工し
て、図10に示すように下部クラッド層3上に光導波路
用のコア4aを形成する。
【0006】次に図11に示すように図10の状態の上
面全面に火炎堆積法により石英系の上部クラッド層5を
形成した後、その上部クラッド層5の丘2に相当する部
分をエッチングにより除去して、丘2の上面を露出させ
る。最後に図12に示すように丘2の上面に蒸着法など
により電極6を形成した後、この電極6の上にLDなど
の半導体光素子7を搭載する。これでハイブリッド光集
積回路が出来上がる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしこの製造方法で
は、下部クラッド層3を研磨する際に丘2の上面を平ら
に研磨しておいても、丘2の上面ではその後、コア層4
の形成、コア層4のエッチングによる除去、上部クラッ
ド層5の形成、上部クラッド層5のエッチングによる除
去が行われることになる。その結果、丘2の上面の荒れ
が進行し、この面荒れのために、半導体光素子の位置決
め精度が低下したり、電極や配線を形成するための蒸着
金属膜の密着性が低下したりする等の問題のあることが
判明した。
【0008】本発明の目的は、このような問題点に鑑
み、基板に半導体光素子搭載のために形成した丘の上面
の荒れを軽減できるハイブリッド光集積回路の製造方法
を提供することにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明によるハイブリッ
ド光集積回路の製造方法は、基板の上面の一部に周囲
より一段高い丘を形成する工程、その基板の上面に下
部クラッド層を形成し、丘の上面を露出させる工程、
下部クラッド層および丘の上面に光導波路形成用のコア
層を形成する工程、コア層を光導波路用のコアと丘の
上面を覆うマスクが残るようにパターニングする工程、
コア、マスクおよび下部クラッド層の上に上部クラッ
ド層を形成した後、丘の上面を露出させる工程、丘の
上面に半導体光素子を搭載する工程、を含むことを特徴
とする。
【0010】この方法によると、コア層をパターニング
して光導波路用のコアを形成する段階および上部クラッ
ド層を形成する段階では、基板の丘の上面がコア層でマ
スクされているため、エッチングや火炎堆積にさらされ
ることがない。したがって丘の上面の荒れを軽減でき
る。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図1〜
図6を参照して詳細に説明する。まず図1に示すように
シリコン基板1の上面の一部(後に半導体光素子を搭載
する部分)に周囲より一段高い丘2を形成する。
【0012】次に図2に示すようにシリコン基板1の上
面に火炎堆積法により石英系の下部クラッド層3を丘2
の高さと同じかそれより若干厚く形成した後、形成され
た下部クラッド層3を機械研磨等により平らに研磨して
丘2の上面と面位置にし、丘2の上面を露出させる。
【0013】次に図3に示すように下部クラッド層3お
よび丘2の上面に光導波路形成用のコア層4を形成す
る。ここまでの工程は従来と同じである。
【0014】次にコア層4を、図4に示すように光導波
路用のコア4aと丘2の上面のマスク4bのパターンが
残るように、ドライエッチングする。したがってこの段
階では丘2の上面がエッチングにさらされない。
【0015】次に図5に示すように図4の状態の上面全
面に火炎堆積法により石英系の上部クラッド層5を形成
した後、その上部クラッド層5の丘2に相当する部分と
その下のマスク4bをエッチングにより除去して、丘2
の上面を露出させる。
【0016】最後に図6に示すように丘2の上面に蒸着
法などにより電極6を形成した後、この電極6の上にL
Dなどの半導体光素子7を搭載する。以上でハイブリッ
ド光集積回路が出来上がる。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、基
板に形成した丘の上面が、光導波路用のコアを形成する
段階でエッチングにさらされることがなく、かつ上部ク
ラッド層を形成する段階でも火炎堆積にさらされること
がないので、丘の上面の荒れを軽減することができる。
したがって半導体光素子搭載の際の位置決め精度が向上
すると共に、電極等の蒸着金属膜の密着性が向上する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 (a)(b)は本発明に係る製造方法の一実
施形態の最初の段階を示す平面図および断面図。
【図2】 (a)(b)は図1の次の段階を示す平面図
および断面図。
【図3】 (a)(b)は図2の次の段階を示す平面図
および断面図。
【図4】 (a)(b)は図3の次の段階を示す平面図
および断面図。
【図5】 (a)(b)は図4の次の段階を示す平面図
および断面図。
【図6】 (a)(b)はこの実施形態の最後の段階を
示す平面図および断面図。
【図7】 (a)(b)は従来の製造方法の最初の段階
を示す平面図および断面図。
【図8】 (a)(b)は図7の次の段階を示す平面図
および断面図。
【図9】 (a)(b)は図8の次の段階を示す平面図
および断面図。
【図10】 (a)(b)は図9の次の段階を示す平面
図および断面図。
【図11】 (a)(b)は図10の次の段階を示す平
面図および断面図。
【図12】 (a)(b)はこの製造方法の最後の段階
を示す平面図および断面図。
【符号の説明】
1:シリコン基板 2:丘 3:下部クラッド層 4:コア層 4a:コア 4b:マスク 5:上部クラッド層 6:電極 7:半導体光素子
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 水野 一庸 東京都千代田区丸の内2丁目6番1号 古 河電気工業株式会社内 (72)発明者 小沢 章一 東京都千代田区丸の内2丁目6番1号 古 河電気工業株式会社内 (72)発明者 柳澤 雅弘 東京都新宿区西新宿三丁目19番2号 日本 電信電話株式会社内 (72)発明者 菊池 英治 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内 (72)発明者 三浦 和則 神奈川県川崎市中原区上小田中4丁目1番 1号 富士通株式会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板の上面の一部に周囲より一段高い丘
    を形成する工程、その基板の上面に下部クラッド層を
    形成し、丘の上面を露出させる工程、下部クラッド層
    および丘の上面に光導波路形成用のコア層を形成する工
    程、コア層を光導波路用のコアと丘の上面を覆うマス
    クが残るようにパターニングする工程、コア、マスク
    および下部クラッド層の上に上部クラッド層を形成した
    後、丘の上面を露出させる工程、丘の上面に半導体光
    素子を搭載する工程、を含むハイブリッド光集積回路の
    製造方法。
JP19162397A 1997-07-16 1997-07-16 ハイブリッド光集積回路の製造方法 Pending JPH1138250A (ja)

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JPH1138250A true JPH1138250A (ja) 1999-02-12

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