JPH11353670A - 光学装置，トラッキング装置，及び光ディスク装置 - Google Patents
光学装置，トラッキング装置，及び光ディスク装置Info
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- JPH11353670A JPH11353670A JP10162360A JP16236098A JPH11353670A JP H11353670 A JPH11353670 A JP H11353670A JP 10162360 A JP10162360 A JP 10162360A JP 16236098 A JP16236098 A JP 16236098A JP H11353670 A JPH11353670 A JP H11353670A
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- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
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- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
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Abstract
(57)【要約】
【課題】組み立て誤差に起因するオフセットを除去する
ことができ、又、いずれの光学系における光検知器であ
ってもオフセットが修正可能な光学装置の提供をするこ
とを目的とする。 【解決手段】トラッキングエラー検出用の光学系から得
られたトラッキングエラー信号に基いて光ビームの集光
スポットをトラック上に追従させながら、トラックから
情報の読み取りを行う光ディスク装置であって、前記ト
ラッキングエラー検出用の光学系は、集光レンズにより
集光される光ビームを受光する複数の受光部の出力の差
分値を、トラッキングエラー信号として出力する光検出
器を有する光学装置を含み、光ビームの光軸のずれに応
じて受光量が相対的に減少する受光部の受光量を、光ビ
ームの光軸のずれに応じて受光量が相対的に増大する受
光部の受光量に比して相対的に増大させる光学的手段を
備えてなる、光ディスク装置である。
ことができ、又、いずれの光学系における光検知器であ
ってもオフセットが修正可能な光学装置の提供をするこ
とを目的とする。 【解決手段】トラッキングエラー検出用の光学系から得
られたトラッキングエラー信号に基いて光ビームの集光
スポットをトラック上に追従させながら、トラックから
情報の読み取りを行う光ディスク装置であって、前記ト
ラッキングエラー検出用の光学系は、集光レンズにより
集光される光ビームを受光する複数の受光部の出力の差
分値を、トラッキングエラー信号として出力する光検出
器を有する光学装置を含み、光ビームの光軸のずれに応
じて受光量が相対的に減少する受光部の受光量を、光ビ
ームの光軸のずれに応じて受光量が相対的に増大する受
光部の受光量に比して相対的に増大させる光学的手段を
備えてなる、光ディスク装置である。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、集光される光ビー
ムを受光する複数の受光部を有する光検出器を含む光学
装置、当該光学装置を含むトラッキング装置、及び当該
光学装置を含む光ディスク装置に関する。本発明は、特
に集光された光ビームの集光スポットの光軸に対する光
学検知器の光軸のずれに起因するオフセットの発生を防
止する光学装置に関するものである。
ムを受光する複数の受光部を有する光検出器を含む光学
装置、当該光学装置を含むトラッキング装置、及び当該
光学装置を含む光ディスク装置に関する。本発明は、特
に集光された光ビームの集光スポットの光軸に対する光
学検知器の光軸のずれに起因するオフセットの発生を防
止する光学装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】集光された光ビームを受光する光検出器
は、二分割ディテクタや四分割ディテクタが一般的であ
る。二分割ディテクタは、集光された光ビームの集光ス
ポットを受光する受光部が二つの受光領域に分けられて
いる。四分割ディテクタは、その受光部が四つの受光領
域に分けられている。二分割ディテクタは、集光ビーム
のスポットが両方の受光領域に均等に跨がるように配置
される。また、四分割ディテクタは、集光ビームのスポ
ットが四つの受光領域に均等に照射されるように配置さ
れる。
は、二分割ディテクタや四分割ディテクタが一般的であ
る。二分割ディテクタは、集光された光ビームの集光ス
ポットを受光する受光部が二つの受光領域に分けられて
いる。四分割ディテクタは、その受光部が四つの受光領
域に分けられている。二分割ディテクタは、集光ビーム
のスポットが両方の受光領域に均等に跨がるように配置
される。また、四分割ディテクタは、集光ビームのスポ
ットが四つの受光領域に均等に照射されるように配置さ
れる。
【０００３】このような二分割ディテクタや四分割ディ
テクタは、光ディスク装置に用いられる。二分割ディテ
クタは、トラッキングエラー検出用のディテクタや情報
読み取り用のディテクタとして用いられる。四分割ディ
テクタは、フォーカスエラー検出用のディテクタとして
用いられる。図１は、光ディスク装置の光学系を示す図
である。図１に示されるこの光学系は、トラッキングエ
ラー検出用のディテクタとフォーカスエラー検出用のデ
ィテクタを含んでいる。光源７から出射された光ビーム
は、コリメータレンズ１２により平行な光ビームとな
る。このコヒーレントな光ビームは、ビームスプリッタ
１３を通過した後、対物レンズ２０により集光される。
この集光された光ビームは、ディスク９に照射される。
対物レンズ２０は、光ビームスポットをディスク９上に
形成する。このディスク９は、多数の情報トラックが形
成された光ディスクである。図１において、コリメータ
レンズ１２とビームスプリッタ１３と対物レンズ２０を
含んで構成される光学系は、集光光学系８と称される。
ディスク９の記録面上に集光された光ビームは、記録面
で反射される。また、この光ビームは、ディスク９上に
記録された情報に従って回折される。反射された光ビー
ムは、対物レンズ２０を通過する際に平行光に戻る。そ
の後、反射光ビームは、ビームスプリッタ１３によっ
て、その光路が９０°曲げられる。その光路が方向転換
された光ビームは、ビームスプリッタ１４に入射され
る。
テクタは、光ディスク装置に用いられる。二分割ディテ
クタは、トラッキングエラー検出用のディテクタや情報
読み取り用のディテクタとして用いられる。四分割ディ
テクタは、フォーカスエラー検出用のディテクタとして
用いられる。図１は、光ディスク装置の光学系を示す図
である。図１に示されるこの光学系は、トラッキングエ
ラー検出用のディテクタとフォーカスエラー検出用のデ
ィテクタを含んでいる。光源７から出射された光ビーム
は、コリメータレンズ１２により平行な光ビームとな
る。このコヒーレントな光ビームは、ビームスプリッタ
１３を通過した後、対物レンズ２０により集光される。
この集光された光ビームは、ディスク９に照射される。
対物レンズ２０は、光ビームスポットをディスク９上に
形成する。このディスク９は、多数の情報トラックが形
成された光ディスクである。図１において、コリメータ
レンズ１２とビームスプリッタ１３と対物レンズ２０を
含んで構成される光学系は、集光光学系８と称される。
ディスク９の記録面上に集光された光ビームは、記録面
で反射される。また、この光ビームは、ディスク９上に
記録された情報に従って回折される。反射された光ビー
ムは、対物レンズ２０を通過する際に平行光に戻る。そ
の後、反射光ビームは、ビームスプリッタ１３によっ
て、その光路が９０°曲げられる。その光路が方向転換
された光ビームは、ビームスプリッタ１４に入射され
る。
【０００４】このコヒーレントな光ビームは、このビー
ムスプリッタ１４により、フォーカスエラー検出用の光
学系１０に向かう光ビームと、トラッキングエラー検出
用の光学系１１に向かう光ビームとに分けられる。フォ
ーカスエラー検出用の光学系１０は、四分割フォトディ
テクタ５と、集光された光ビームのスポット形状に非対
称性を導入する光学素子１０ａと、この四分割フォトデ
ィテクタ５上に光ビームを集光する集光レンズ１０ｂ
と、を備える。トラッキングエラー検出用の光学系１１
は、二分割フォトディテクタ６と、この二分割フォトデ
ィテクタ上に光ビームを集光する集光レンズ１１ａと、
を備える。
ムスプリッタ１４により、フォーカスエラー検出用の光
学系１０に向かう光ビームと、トラッキングエラー検出
用の光学系１１に向かう光ビームとに分けられる。フォ
ーカスエラー検出用の光学系１０は、四分割フォトディ
テクタ５と、集光された光ビームのスポット形状に非対
称性を導入する光学素子１０ａと、この四分割フォトデ
ィテクタ５上に光ビームを集光する集光レンズ１０ｂ
と、を備える。トラッキングエラー検出用の光学系１１
は、二分割フォトディテクタ６と、この二分割フォトデ
ィテクタ上に光ビームを集光する集光レンズ１１ａと、
を備える。
【０００５】尚、ビームスプリッタ１３により方向転換
された光ビームは、図示されないビームスプリッタによ
り、ディスク９上に記録された情報を再生する再生光学
系（図示されない）に入射する光ビームと、ビームスプ
リッタ１４に入射する光ビームとに分けられる。トラッ
キングエラー検出用の光学系１１において、ディスク９
に形成された情報トラックと、対物レンズ２０によりデ
ィスク９上に形成されるビームスポットとの間のずれが
検知される。この検知方法は、種々の方法が知られてい
る。最も広く使われている検出方法は、ディスク９の記
録面で生じる回折現象を利用する方法である。書き換え
可能な光磁気ディスクでは、隣接するトラックの間に案
内溝が形成されている。この溝は、一定の幅を有するト
ラック幅で、等間隔に並べて多数配列されている。この
溝は、トラックとトラックとの間に形成された案内溝で
あり、グルーブと称される。この多数の溝が、ディスク
面に回折格子と同じ働きをすることを可能にする。トラ
ック幅と略等しい直径のビームスポットが、ディスク面
に結像され且つ反射すると、鏡面反射光と、回折光とが
発生する。回折光は、鏡面反射した光の成分と干渉し、
ディスク９から反射した光ビームの強度分布を大きく変
化させる。
された光ビームは、図示されないビームスプリッタによ
り、ディスク９上に記録された情報を再生する再生光学
系（図示されない）に入射する光ビームと、ビームスプ
リッタ１４に入射する光ビームとに分けられる。トラッ
キングエラー検出用の光学系１１において、ディスク９
に形成された情報トラックと、対物レンズ２０によりデ
ィスク９上に形成されるビームスポットとの間のずれが
検知される。この検知方法は、種々の方法が知られてい
る。最も広く使われている検出方法は、ディスク９の記
録面で生じる回折現象を利用する方法である。書き換え
可能な光磁気ディスクでは、隣接するトラックの間に案
内溝が形成されている。この溝は、一定の幅を有するト
ラック幅で、等間隔に並べて多数配列されている。この
溝は、トラックとトラックとの間に形成された案内溝で
あり、グルーブと称される。この多数の溝が、ディスク
面に回折格子と同じ働きをすることを可能にする。トラ
ック幅と略等しい直径のビームスポットが、ディスク面
に結像され且つ反射すると、鏡面反射光と、回折光とが
発生する。回折光は、鏡面反射した光の成分と干渉し、
ディスク９から反射した光ビームの強度分布を大きく変
化させる。
【０００６】図２は、回折光の影響を受けた反射ビーム
の強度分布を示す図である。図２（ａ）は、トラックの
中心にビームスポットが位置付けられている場合の強度
分布を示す図である。図２（ｂ）は、ビームスポット
が、トラックの中心からトラックの幅の約４分の１だけ
ずれた位置に位置付けられている場合の強度分布を示す
図である。鏡面反射光と回折光とが、重なる部分と重な
らない部分とでは、光ビームの強度分布が大きく相違す
る。反射ビームの中心を通り且つトラックに平行な直線
（図中、破線Ａ）により、反射光ビームが左側領域と右
側領域とに２分割されたケースを考える。この直線Ａの
左側の領域と右側の領域のビーム強度が比較される。図
２（ａ）の場合には、左側の領域のビーム強度と右側の
領域のビーム強度は等しい。一方、図２（ｂ）の場合に
は、回折光にアンバランスが生じているので、左側の領
域と右側の領域との間に、ビーム強度に差が生じてい
る。この強度差が、ディスク９上のトラックと平行な分
割線を有する二分割光検知器６で検知される。つまり、
二分割光検知器６の差分出力が強度差に相当し、スポッ
トのトラック中心からのずれの量に相当するので、その
ずれ量が高精度で検知される。この方法は、プッシュプ
ル法と称されている。
の強度分布を示す図である。図２（ａ）は、トラックの
中心にビームスポットが位置付けられている場合の強度
分布を示す図である。図２（ｂ）は、ビームスポット
が、トラックの中心からトラックの幅の約４分の１だけ
ずれた位置に位置付けられている場合の強度分布を示す
図である。鏡面反射光と回折光とが、重なる部分と重な
らない部分とでは、光ビームの強度分布が大きく相違す
る。反射ビームの中心を通り且つトラックに平行な直線
（図中、破線Ａ）により、反射光ビームが左側領域と右
側領域とに２分割されたケースを考える。この直線Ａの
左側の領域と右側の領域のビーム強度が比較される。図
２（ａ）の場合には、左側の領域のビーム強度と右側の
領域のビーム強度は等しい。一方、図２（ｂ）の場合に
は、回折光にアンバランスが生じているので、左側の領
域と右側の領域との間に、ビーム強度に差が生じてい
る。この強度差が、ディスク９上のトラックと平行な分
割線を有する二分割光検知器６で検知される。つまり、
二分割光検知器６の差分出力が強度差に相当し、スポッ
トのトラック中心からのずれの量に相当するので、その
ずれ量が高精度で検知される。この方法は、プッシュプ
ル法と称されている。
【０００７】このプッシュプル法は、二分割光検知器の
強度差でずれ量を検知するため、ビームスポットの中心
が二分割光検知器の分割線上からずれている場合に、二
分割光検知器の差分出力にオフセットが生じる。図３
は、光軸ずれが生じた状態を示す図である。図３におい
て、一点鎖線で示されるのは、対物レンズの光軸２０ａ
と光ビーム４の光軸に一致している場合における光ビー
ムの主光線４ａである。対物レンズ２０が上方向（矢印
Ｂ方向）に移動し、対物レンズ２０が破線で表される位
置に移動すると、光ビームの主光線が、対物レンズ２０
の光軸２０ａからずれた状態で対物レンズ２０に入射す
る。光ビームは、対物レンズ２０により屈折されて、デ
ィスク９に入射する。光ビームは、ディスク９上で反射
し、対物レンズ２０に入射する。対物レンズ２０に入射
する光ビームの主光線の光軸４ｂは、対物レンズ２０の
光軸２０ａに対して上方（矢印Ｂ方向）にずれる。この
反射した光ビームは、破線で示されている。その後、光
ビームは、ビームスプリッタ１３と１４を通過した後、
トラッキングエラー検知用の光学系１１に入射する。次
いで、この光ビームは、その主光線が、トラッキングエ
ラー検知用の光学系１１の集光レンズ１１ａの光軸に対
して下方（矢印Ｃ方向）にずれた位置で、集光レンズ１
１ａに入射する。この集光レンズ１１ａに入射した主ビ
ームは、集光レンズ１１ａで屈折させられて光検知器６
の下方（矢印Ｃ方向）にずれて入射する。ディスク９で
反射した光ビームの全体は、このずれた主光線の光軸４
ｂを中心として光検知器６の下方にずれている。このよ
うに、光ビームの主光線の光軸が二分割検知器の分割線
に対して変位していると、強度分布の対称線と２分割検
知器の分割線との間にずれが生じるため、二分割検知器
の差分出力は、オフセットを含む。この差分出力は、プ
ッシュプル信号と称される。
強度差でずれ量を検知するため、ビームスポットの中心
が二分割光検知器の分割線上からずれている場合に、二
分割光検知器の差分出力にオフセットが生じる。図３
は、光軸ずれが生じた状態を示す図である。図３におい
て、一点鎖線で示されるのは、対物レンズの光軸２０ａ
と光ビーム４の光軸に一致している場合における光ビー
ムの主光線４ａである。対物レンズ２０が上方向（矢印
Ｂ方向）に移動し、対物レンズ２０が破線で表される位
置に移動すると、光ビームの主光線が、対物レンズ２０
の光軸２０ａからずれた状態で対物レンズ２０に入射す
る。光ビームは、対物レンズ２０により屈折されて、デ
ィスク９に入射する。光ビームは、ディスク９上で反射
し、対物レンズ２０に入射する。対物レンズ２０に入射
する光ビームの主光線の光軸４ｂは、対物レンズ２０の
光軸２０ａに対して上方（矢印Ｂ方向）にずれる。この
反射した光ビームは、破線で示されている。その後、光
ビームは、ビームスプリッタ１３と１４を通過した後、
トラッキングエラー検知用の光学系１１に入射する。次
いで、この光ビームは、その主光線が、トラッキングエ
ラー検知用の光学系１１の集光レンズ１１ａの光軸に対
して下方（矢印Ｃ方向）にずれた位置で、集光レンズ１
１ａに入射する。この集光レンズ１１ａに入射した主ビ
ームは、集光レンズ１１ａで屈折させられて光検知器６
の下方（矢印Ｃ方向）にずれて入射する。ディスク９で
反射した光ビームの全体は、このずれた主光線の光軸４
ｂを中心として光検知器６の下方にずれている。このよ
うに、光ビームの主光線の光軸が二分割検知器の分割線
に対して変位していると、強度分布の対称線と２分割検
知器の分割線との間にずれが生じるため、二分割検知器
の差分出力は、オフセットを含む。この差分出力は、プ
ッシュプル信号と称される。
【０００８】図４は、プッシュプル信号を表す図であ
る。図４の横軸は、トラックを横切る方向の位置を示し
ており、図４の縦軸は、プッシュプル信号のレベルを示
している。図４において、プッシュプル信号（ａ）は、
対物レンズの光軸と対物レンズに入射する光ビームの光
軸との間にずれが無い場合のプッシュプル信号を表して
いる。また、プッシュプル信号（ｂ）は、対物レンズの
光軸と対物レンズに入射する光ビームの光軸との間に２
００μｍのずれが生じている場合のプッシュプル信号を
表している。プッシュプル信号（ｂ）は、対物レンズが
開口径に対して約５％ずれた場合のプッシュプル信号で
ある。尚、対物レンズの開口径は、３．３ｍｍである。
また、トラック幅は、１．１μｍである。
る。図４の横軸は、トラックを横切る方向の位置を示し
ており、図４の縦軸は、プッシュプル信号のレベルを示
している。図４において、プッシュプル信号（ａ）は、
対物レンズの光軸と対物レンズに入射する光ビームの光
軸との間にずれが無い場合のプッシュプル信号を表して
いる。また、プッシュプル信号（ｂ）は、対物レンズの
光軸と対物レンズに入射する光ビームの光軸との間に２
００μｍのずれが生じている場合のプッシュプル信号を
表している。プッシュプル信号（ｂ）は、対物レンズが
開口径に対して約５％ずれた場合のプッシュプル信号で
ある。尚、対物レンズの開口径は、３．３ｍｍである。
また、トラック幅は、１．１μｍである。
【０００９】プッシュプル信号（ａ）は、光軸ずれが無
い場合において、光ビームの集光スポットがトラックの
一方の側のグルーブからそのトラックを横切って、反対
側のグルーブ上に移動した際のプッシュプル信号であ
る。光軸ずれが無い場合には、集光スポットがトラック
中心に位置付けられている時に、プッシュプル信号が０
となる。プッシュプル信号が０となるように、光ヘッド
もしくは対物レンズ２０が移動されると、集光スポット
がトラック中心に正確に位置付けられることができる。
また、プッシュプル信号の信号波形が座標０に対して正
負で完全に対称になっており、制御信号として理想的で
ある。
い場合において、光ビームの集光スポットがトラックの
一方の側のグルーブからそのトラックを横切って、反対
側のグルーブ上に移動した際のプッシュプル信号であ
る。光軸ずれが無い場合には、集光スポットがトラック
中心に位置付けられている時に、プッシュプル信号が０
となる。プッシュプル信号が０となるように、光ヘッド
もしくは対物レンズ２０が移動されると、集光スポット
がトラック中心に正確に位置付けられることができる。
また、プッシュプル信号の信号波形が座標０に対して正
負で完全に対称になっており、制御信号として理想的で
ある。
【００１０】プッシュプル信号（ｂ）は、光軸ずれが生
じている場合において、光ビームの集光スポットがトラ
ックの一方の側のグルーブからそのトラックを横切っ
て、反対側のグルーブ上に移動した際のプッシュプル信
号である。集光スポットがトラック中心に位置付けられ
ていても、プッシュプル信号は、０となっていない。プ
ッシュプル信号が０となるように、集光スポットの位置
を制御すると、スポットはトラック中心からずれたとこ
ろに位置付けされることになる。図４のプッシュプル信
号（ｂ）は、約０．１μｍのずれをオフセットとして含
んでいる。
じている場合において、光ビームの集光スポットがトラ
ックの一方の側のグルーブからそのトラックを横切っ
て、反対側のグルーブ上に移動した際のプッシュプル信
号である。集光スポットがトラック中心に位置付けられ
ていても、プッシュプル信号は、０となっていない。プ
ッシュプル信号が０となるように、集光スポットの位置
を制御すると、スポットはトラック中心からずれたとこ
ろに位置付けされることになる。図４のプッシュプル信
号（ｂ）は、約０．１μｍのずれをオフセットとして含
んでいる。
【００１１】この光軸ずれは、対物レンズが移動するこ
とによって生ずる一方、集光レンズの組み立て誤差によ
っても生ずる。一般に、情報がディスクから読み取られ
る際、ディスクの偏心に起因して、集光スポットとトラ
ックの中心との間の位置ずれが生ずる。この集光スポッ
トとトラックの中心との間の位置ずれは、対物レンズ２
０がトラック方向と直交する方向に移動することによ
り、修正される。両者間の位置ずれが頻繁に生ずるため
に、対物レンズの移動が頻繁に発生し、それによって、
光ビームの光軸ずれが頻繁に発生する。対物レンズの光
軸中心と光ビームの光軸が距離ｄだけずれると、反射ビ
ームの光軸は、対物レンズの光軸から距離２ｄだけずれ
てしまう。
とによって生ずる一方、集光レンズの組み立て誤差によ
っても生ずる。一般に、情報がディスクから読み取られ
る際、ディスクの偏心に起因して、集光スポットとトラ
ックの中心との間の位置ずれが生ずる。この集光スポッ
トとトラックの中心との間の位置ずれは、対物レンズ２
０がトラック方向と直交する方向に移動することによ
り、修正される。両者間の位置ずれが頻繁に生ずるため
に、対物レンズの移動が頻繁に発生し、それによって、
光ビームの光軸ずれが頻繁に発生する。対物レンズの光
軸中心と光ビームの光軸が距離ｄだけずれると、反射ビ
ームの光軸は、対物レンズの光軸から距離２ｄだけずれ
てしまう。
【００１２】また、ディスク９が光ビームの光軸に対し
て角度Θ傾いている場合には、対物レンズの焦点距離を
ｆとしたとき、そのずれ量は、距離２ｆΘとなる。更
に、ディスク上のトラック密度が大きくなるに従い、光
軸ずれによるオフセットによる影響度合や装置組み立て
時の誤差による影響度合が大きくなる。トラッキングエ
ラー信号のオフセットは、データの読み込み／書き込み
動作にも障害となる。光ディスク装置は、幅約１μｍの
情報トラックが設けられている記録面を有する光ディス
ク媒体が備えられる。データは、この情報トラックに沿
って記録されている。このデータを読み取るためには、
光ビームの集光スポットが、この情報トラックに正確に
位置決めされる必要がある。トラックの幅方向の中心位
置に形成されている記録ピットの幅は、トラックの幅に
比べて更に狭くなっている。
て角度Θ傾いている場合には、対物レンズの焦点距離を
ｆとしたとき、そのずれ量は、距離２ｆΘとなる。更
に、ディスク上のトラック密度が大きくなるに従い、光
軸ずれによるオフセットによる影響度合や装置組み立て
時の誤差による影響度合が大きくなる。トラッキングエ
ラー信号のオフセットは、データの読み込み／書き込み
動作にも障害となる。光ディスク装置は、幅約１μｍの
情報トラックが設けられている記録面を有する光ディス
ク媒体が備えられる。データは、この情報トラックに沿
って記録されている。このデータを読み取るためには、
光ビームの集光スポットが、この情報トラックに正確に
位置決めされる必要がある。トラックの幅方向の中心位
置に形成されている記録ピットの幅は、トラックの幅に
比べて更に狭くなっている。
【００１３】データの読み取り動作時に、集光スポット
がトラック中心からずれていると、 ｉ）集光スポットと記録マークが重なる部分が小さくな
り、データが読み取れなくなる、あるいは、ｉｉ）ノイ
ズ信号に対するデータ信号の強度が小さくなり、データ
読み取りの精度、速度が低下する。ディスクがディスク
ドライブに対して交換可能であり、そして、データがそ
の交換可能なディスクにあるディスクドライブ内でトラ
ックずれが生じた状態で書き込まれた場合、そのディス
クに書き込まれたデータは、異なるディスクドライブで
は読み取れないことがある。
がトラック中心からずれていると、 ｉ）集光スポットと記録マークが重なる部分が小さくな
り、データが読み取れなくなる、あるいは、ｉｉ）ノイ
ズ信号に対するデータ信号の強度が小さくなり、データ
読み取りの精度、速度が低下する。ディスクがディスク
ドライブに対して交換可能であり、そして、データがそ
の交換可能なディスクにあるディスクドライブ内でトラ
ックずれが生じた状態で書き込まれた場合、そのディス
クに書き込まれたデータは、異なるディスクドライブで
は読み取れないことがある。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】集光スポットの位置調
整時における光軸のずれは、集光スポットの位置調整
が、集光光学系やトラッキングエラー検知用の光学系を
含む光ピックアップ全体を移動させて行なうことにより
回避することができる。この場合、トラッキングエラー
検知用の光学系に比して重量が大きい光ピックアップ全
体が移動させられるので、集光スポットの位置調整動作
の最高応答速度が制限される。
整時における光軸のずれは、集光スポットの位置調整
が、集光光学系やトラッキングエラー検知用の光学系を
含む光ピックアップ全体を移動させて行なうことにより
回避することができる。この場合、トラッキングエラー
検知用の光学系に比して重量が大きい光ピックアップ全
体が移動させられるので、集光スポットの位置調整動作
の最高応答速度が制限される。
【００１５】また、対物レンズの光軸と光ビームの光軸
との間のずれに起因してプッシュプル信号に含まれるオ
フセットは、対物レンズの位置を検出する位置検出器か
らの対物レンズの移動量を示す信号に応じて、プッシュ
プル信号にバイアス信号を加算することにより打ち消す
ことが可能である。この場合、付加的な位置検出器やバ
イアス信号加算回路とが設けられなければならない。
との間のずれに起因してプッシュプル信号に含まれるオ
フセットは、対物レンズの位置を検出する位置検出器か
らの対物レンズの移動量を示す信号に応じて、プッシュ
プル信号にバイアス信号を加算することにより打ち消す
ことが可能である。この場合、付加的な位置検出器やバ
イアス信号加算回路とが設けられなければならない。
【００１６】更に、特開昭５９−３８９３９号公報に示
されるように、ディスク上のトラックに形成された特定
形状のピットからオフセット補正用信号を作成する方法
がある。この場合、特定形状のピットがディスクに形成
されなければならず、ディスクフォーマットが変更され
なければならない。更に、特開平８−３０６０５７号公
報に示されるように、オフセット補正信号が、受光部が
多数に分割された光検知器からの多数の受光出力を特定
の演算式を用いて作成する方法がある。この場合、特定
の演算式での演算を行う回路が設けられなけれぱない。
されるように、ディスク上のトラックに形成された特定
形状のピットからオフセット補正用信号を作成する方法
がある。この場合、特定形状のピットがディスクに形成
されなければならず、ディスクフォーマットが変更され
なければならない。更に、特開平８−３０６０５７号公
報に示されるように、オフセット補正信号が、受光部が
多数に分割された光検知器からの多数の受光出力を特定
の演算式を用いて作成する方法がある。この場合、特定
の演算式での演算を行う回路が設けられなけれぱない。
【００１７】また、前述したいずれの手法は、トラッキ
ングエラー検出用の光学系に用いられる集光レンズと光
検知器の組み立て誤差に起因するオフセットは、修正す
ることができない。更に、前述したいずれの手法は、ト
ラッキングエラー検出用の光学系の光検知器の差分出力
に含まれるオフセットを除去する手法であり、他の光学
系、すなわち、フォーカスエラー検出用の光学系や情報
読み取り用の光学系、の光検知器のオフセット修正の手
法として適用することができない。
ングエラー検出用の光学系に用いられる集光レンズと光
検知器の組み立て誤差に起因するオフセットは、修正す
ることができない。更に、前述したいずれの手法は、ト
ラッキングエラー検出用の光学系の光検知器の差分出力
に含まれるオフセットを除去する手法であり、他の光学
系、すなわち、フォーカスエラー検出用の光学系や情報
読み取り用の光学系、の光検知器のオフセット修正の手
法として適用することができない。
【００１８】本発明は、組み立て誤差に起因するオフセ
ットを除去することが可能な光学装置の提供を目的とす
る。本発明は、いずれの光学系における光検知器であっ
てもオフセットが修正可能な光学装置の提供を目的とす
る。本発明は、付加的な検知器や特定の回路を付加する
ことなく、簡易且つ安価な構成で、オフセットを除去す
ることが可能な光学装置の提供を目的とする。
ットを除去することが可能な光学装置の提供を目的とす
る。本発明は、いずれの光学系における光検知器であっ
てもオフセットが修正可能な光学装置の提供を目的とす
る。本発明は、付加的な検知器や特定の回路を付加する
ことなく、簡易且つ安価な構成で、オフセットを除去す
ることが可能な光学装置の提供を目的とする。
【００１９】本発明は、前述した光学装置を用いること
により、高精度なトラッキングを行うことが可能なトラ
ッキング装置の提供を目的とする。本発明は、前述した
光学装置を用いることにより、高精度な情報の読み取り
を行うことが可能な光ディスク装置の提供を目的とす
る。
により、高精度なトラッキングを行うことが可能なトラ
ッキング装置の提供を目的とする。本発明は、前述した
光学装置を用いることにより、高精度な情報の読み取り
を行うことが可能な光ディスク装置の提供を目的とす
る。
【００２０】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、集光レンズにより集光される光ビームを受光する複
数の受光部を備える光検出器を有する光学装置におい
て、光ビームの光軸のずれに応じて受光量が相対的に減
少する受光部の受光量を、光ビームの光軸のずれに応じ
て受光量が相対的に増大する受光部の受光量に比して相
対的に増大させる光学的手段を備えてなる、光学装置で
ある。
は、集光レンズにより集光される光ビームを受光する複
数の受光部を備える光検出器を有する光学装置におい
て、光ビームの光軸のずれに応じて受光量が相対的に減
少する受光部の受光量を、光ビームの光軸のずれに応じ
て受光量が相対的に増大する受光部の受光量に比して相
対的に増大させる光学的手段を備えてなる、光学装置で
ある。
【００２１】請求項２に記載の発明は、トラッキングエ
ラー検出用の光学系から得られたトラッキングエラー信
号に基いて、光ビームの集光スポットをトラック上に追
従させるトラッキング装置であって、前記トラッキング
エラー検出用の光学系は、集光レンズにより集光される
光ビームを受光する複数の受光部の出力の差分値を、ト
ラッキングエラー信号として出力する光検出器を有する
光学装置を含み、光ビームの光軸のずれに応じて受光量
が相対的に減少する受光部の受光量を、光ビームの光軸
のずれに応じて受光量が相対的に増大する受光部の受光
量に比して相対的に増大させる光学的手段を備えてな
る、トラッキング装置である。
ラー検出用の光学系から得られたトラッキングエラー信
号に基いて、光ビームの集光スポットをトラック上に追
従させるトラッキング装置であって、前記トラッキング
エラー検出用の光学系は、集光レンズにより集光される
光ビームを受光する複数の受光部の出力の差分値を、ト
ラッキングエラー信号として出力する光検出器を有する
光学装置を含み、光ビームの光軸のずれに応じて受光量
が相対的に減少する受光部の受光量を、光ビームの光軸
のずれに応じて受光量が相対的に増大する受光部の受光
量に比して相対的に増大させる光学的手段を備えてな
る、トラッキング装置である。
【００２２】請求項３に記載の発明は、トラッキングエ
ラー検出用の光学系から得られたトラッキングエラー信
号に基いて光ビームの集光スポットをトラック上に追従
させながら、トラックから情報の読み取りを行う光ディ
スク装置であって、前記トラッキングエラー検出用の光
学系は、集光レンズにより集光される光ビームを受光す
る複数の受光部の出力の差分値を、トラッキングエラー
信号として出力する光検出器を有する光学装置を含み、
光ビームの光軸のずれに応じて受光量が相対的に減少す
る受光部の受光量を、光ビームの光軸のずれに応じて受
光量が相対的に増大する受光部の受光量に比して相対的
に増大させる光学的手段を備えてなる、光ディスク装置
である。
ラー検出用の光学系から得られたトラッキングエラー信
号に基いて光ビームの集光スポットをトラック上に追従
させながら、トラックから情報の読み取りを行う光ディ
スク装置であって、前記トラッキングエラー検出用の光
学系は、集光レンズにより集光される光ビームを受光す
る複数の受光部の出力の差分値を、トラッキングエラー
信号として出力する光検出器を有する光学装置を含み、
光ビームの光軸のずれに応じて受光量が相対的に減少す
る受光部の受光量を、光ビームの光軸のずれに応じて受
光量が相対的に増大する受光部の受光量に比して相対的
に増大させる光学的手段を備えてなる、光ディスク装置
である。
【００２３】請求項４に記載の発明は、請求項１乃至３
において、前記光学的手段を、回折格子としたものであ
る。請求項５に記載の発明は、請求項１乃至３におい
て、前記光学的手段を、前記集光レンズと前記受光部と
の間に配置したものである。請求項６に記載の発明は、
光ビームの集光スポットをトラック上に追従させなが
ら、トラックから情報の読み取りを行う光ディスク装置
であって、光ビームを出射する光源と、前記光ビームを
平行光にする光学系と、前記平行光をトラック上に集光
する対物レンズと、前記光ビームのトラッキングエラー
を検出するトラッキングエラー検出器と、前記光源から
の光ビームを前記光学系に向けて通過すると共に、前記
光学系からの光ビームを回折して前記トラッキングエラ
ー検出器に入射させる第１の光学的手段と、前記光ビー
ムの光軸のずれに応じて受光量が相対的に減少する受光
部の受光量を、光ビームの光軸のずれに応じて受光量が
相対的に増大する受光部の受光量に比して相対的に増大
させる第２の光学的手段を備えてなる、光ディスク装
置。
において、前記光学的手段を、回折格子としたものであ
る。請求項５に記載の発明は、請求項１乃至３におい
て、前記光学的手段を、前記集光レンズと前記受光部と
の間に配置したものである。請求項６に記載の発明は、
光ビームの集光スポットをトラック上に追従させなが
ら、トラックから情報の読み取りを行う光ディスク装置
であって、光ビームを出射する光源と、前記光ビームを
平行光にする光学系と、前記平行光をトラック上に集光
する対物レンズと、前記光ビームのトラッキングエラー
を検出するトラッキングエラー検出器と、前記光源から
の光ビームを前記光学系に向けて通過すると共に、前記
光学系からの光ビームを回折して前記トラッキングエラ
ー検出器に入射させる第１の光学的手段と、前記光ビー
ムの光軸のずれに応じて受光量が相対的に減少する受光
部の受光量を、光ビームの光軸のずれに応じて受光量が
相対的に増大する受光部の受光量に比して相対的に増大
させる第２の光学的手段を備えてなる、光ディスク装
置。
【００２４】請求項７に記載の発明は、請求項６記載の
光ディスク装置であって、前記光源と前記トラッキング
エラー検出器とを搭載する単一の基板とを備えてなる、
光ディスク装置である。請求項８に記載の発明は、請求
項７記載の光ディスク装置であって、前記光ビームのフ
ォーカスエラーを検出するフォーカスエラー検出器を更
に備え、そして、前記光学素子が前記光学系からの光ビ
ームを回折して前記フォーカスエラー検出器に入射させ
る第３の光学的手段を含んでいる、光ディスク装置であ
る。
光ディスク装置であって、前記光源と前記トラッキング
エラー検出器とを搭載する単一の基板とを備えてなる、
光ディスク装置である。請求項８に記載の発明は、請求
項７記載の光ディスク装置であって、前記光ビームのフ
ォーカスエラーを検出するフォーカスエラー検出器を更
に備え、そして、前記光学素子が前記光学系からの光ビ
ームを回折して前記フォーカスエラー検出器に入射させ
る第３の光学的手段を含んでいる、光ディスク装置であ
る。
【００２５】請求項９に記載の発明は、請求項８記載の
光ディスク装置であって、前記基板が前記フォーカスエ
ラー検出器を更に搭載している、光ディスク装置であ
る。請求項１０に記載の発明は、請求項９記載の光ディ
スク装置であって、前記第１の光学的手段が第１の回折
格子であり、前記第２の光学的手段が第２の回折格子で
あり、前記第３の光学的手段が第３の回折格子であり、
そして、前記第１と第２と第３の回折格子は、相互に異
なる格子形状子の回折格子を含む単一の薄板状の回折格
子板である、光ディスク装置である。
光ディスク装置であって、前記基板が前記フォーカスエ
ラー検出器を更に搭載している、光ディスク装置であ
る。請求項１０に記載の発明は、請求項９記載の光ディ
スク装置であって、前記第１の光学的手段が第１の回折
格子であり、前記第２の光学的手段が第２の回折格子で
あり、前記第３の光学的手段が第３の回折格子であり、
そして、前記第１と第２と第３の回折格子は、相互に異
なる格子形状子の回折格子を含む単一の薄板状の回折格
子板である、光ディスク装置である。
【００２６】請求項１乃至９に記載の発明においては、
光学的手段により光軸ずれの方向と反対方向の受光部の
受光量が増大するようにしているので、組み立て誤差に
起因するオフセットを除去することが可能となる。ま
た、請求項１乃至９に記載の発明においては、光学的手
段が集光レンズと光検知器との間に配置されるので、い
ずれの光学系における光検知器であってもオフセットを
修正可能となる。
光学的手段により光軸ずれの方向と反対方向の受光部の
受光量が増大するようにしているので、組み立て誤差に
起因するオフセットを除去することが可能となる。ま
た、請求項１乃至９に記載の発明においては、光学的手
段が集光レンズと光検知器との間に配置されるので、い
ずれの光学系における光検知器であってもオフセットを
修正可能となる。
【００２７】また、請求項１乃至９に記載の発明におい
ては、光学的手段が集光レンズと光検知器との間に配置
されるので、集光レンズが設けられるのに必要な領域内
に配置されることができ、簡易且つ安価な構成で、オフ
セットを除去することが可能となる。更に、この発明に
おいては、オフセット除去のために、対物レンズの位置
を検出する別の光学センサの取り付けが不要である。
ては、光学的手段が集光レンズと光検知器との間に配置
されるので、集光レンズが設けられるのに必要な領域内
に配置されることができ、簡易且つ安価な構成で、オフ
セットを除去することが可能となる。更に、この発明に
おいては、オフセット除去のために、対物レンズの位置
を検出する別の光学センサの取り付けが不要である。
【００２８】更に、この発明においては、通常の二分割
光検知器が適用可能であるため、特別な演算回路も不要
である。更に、二分割光検知器が適用可能であるため、
多数の受光部を用いるものに比べて、光量分布の低下が
生ぜず、検出精度が低下することも無い。請求項２に記
載の発明においては、高精度なトラッキングを行うこと
が可能となる。
光検知器が適用可能であるため、特別な演算回路も不要
である。更に、二分割光検知器が適用可能であるため、
多数の受光部を用いるものに比べて、光量分布の低下が
生ぜず、検出精度が低下することも無い。請求項２に記
載の発明においては、高精度なトラッキングを行うこと
が可能となる。
【００２９】請求項３に記載の発明においては、高精度
な情報の読み取りを行うことが可能となる。請求項４に
記載の発明においては、より一層の小型化が可能とな
る。請求項５に記載の発明においては、集光レンズと受
光部との間の空間を利用しているので、光学的手段を配
置するために追加の領域を必要としない。
な情報の読み取りを行うことが可能となる。請求項４に
記載の発明においては、より一層の小型化が可能とな
る。請求項５に記載の発明においては、集光レンズと受
光部との間の空間を利用しているので、光学的手段を配
置するために追加の領域を必要としない。
【００３０】請求項６に記載の発明においては、トラッ
キングエラーを検出するためのビームスプリッタや集光
レンズが不要となる。請求項７に記載の発明において
は、トラッキングエラー検知器の取り付けが簡単とな
る。請求項８に記載の発明においては、フォーカスエラ
ーを検出するためのビームスプリッタや集光レンズ等の
光学的な素子が不要となる。
キングエラーを検出するためのビームスプリッタや集光
レンズが不要となる。請求項７に記載の発明において
は、トラッキングエラー検知器の取り付けが簡単とな
る。請求項８に記載の発明においては、フォーカスエラ
ーを検出するためのビームスプリッタや集光レンズ等の
光学的な素子が不要となる。
【００３１】請求項９に記載の発明においては、フォー
カスエラー検知器の取り付けが簡単になる。請求項１０
に記載の発明においては、複数の光学的素子の構成がよ
り一層簡単化される。尚、光学的手段は、光ビーム径よ
りも大きな直径を有する光学素子であり、光ビームが真
っ直ぐに透過する、光ビーム径と等しいか又は小さい第
１の領域と、光ビームが光検知器の分割線の反対側に入
射させられる、前記第１の領域の外側に設けられた第２
の領域を有する、光学素子が用いられても良い。
カスエラー検知器の取り付けが簡単になる。請求項１０
に記載の発明においては、複数の光学的素子の構成がよ
り一層簡単化される。尚、光学的手段は、光ビーム径よ
りも大きな直径を有する光学素子であり、光ビームが真
っ直ぐに透過する、光ビーム径と等しいか又は小さい第
１の領域と、光ビームが光検知器の分割線の反対側に入
射させられる、前記第１の領域の外側に設けられた第２
の領域を有する、光学素子が用いられても良い。
【００３２】また、光学的手段は、光検知器の構成によ
り実現されても良い。つまり、光検出器が、光検出器に
入射する光ビーム径と等しいか、もしくはそれより小さ
い領域で分割された第１の受光部と、その受光部の外側
の領域に第２の受光部が設けられ、第２の受光部の出力
が第１の受光部の出力に加算される構成の光学的手段で
あっても良い。
り実現されても良い。つまり、光検出器が、光検出器に
入射する光ビーム径と等しいか、もしくはそれより小さ
い領域で分割された第１の受光部と、その受光部の外側
の領域に第２の受光部が設けられ、第２の受光部の出力
が第１の受光部の出力に加算される構成の光学的手段で
あっても良い。
【００３３】本発明は、光源からの光を集光するレンズ
と、該レンズに入射する光ビームの入射光を検出する光
検出器と、該光ビームの光軸が移動した逆の方向に光検
知器に加算する光学的手段を備える。更に、本発明は、
光ビームより大きな領域であって少なくとも２つ以上の
異なる領域を持つ光学素子を有して、光ビームと光検知
器との中心ずれが発生しても、該光学素子の２つ以上の
異なる領域に入射する光を、オフセットを打ち消すよう
に光路を変える。
と、該レンズに入射する光ビームの入射光を検出する光
検出器と、該光ビームの光軸が移動した逆の方向に光検
知器に加算する光学的手段を備える。更に、本発明は、
光ビームより大きな領域であって少なくとも２つ以上の
異なる領域を持つ光学素子を有して、光ビームと光検知
器との中心ずれが発生しても、該光学素子の２つ以上の
異なる領域に入射する光を、オフセットを打ち消すよう
に光路を変える。
【００３４】更に、本発明は、入射する光束に等しい
か、もしくは小さい領域の１部に、合焦点を検知する光
検知器に入射するように回折格子を施した光学素子を配
置して、光軸ずれによるオフセットを補正しかつ合焦点
検知部を該光学素子に組み込む構成としている。
か、もしくは小さい領域の１部に、合焦点を検知する光
検知器に入射するように回折格子を施した光学素子を配
置して、光軸ずれによるオフセットを補正しかつ合焦点
検知部を該光学素子に組み込む構成としている。
【００３５】
【実施の形態】本発明の実施例が図を参照しながら説明
される。添付図面は、明細書の一部に組み込まれ、且つ
その一部を構成し、発明の実施例を表すものであり、そ
して、その記述と共に、発明の原理を説明する役割を果
たすものである。図５は、本発明が適用される光ディス
ク装置の構成を示す図である。図５において、光磁気デ
ィスク１００は、図示しないスピンドルモータにより回
転駆動される。この光磁気ディスク１００は、多数のト
ラックが形成されている。トラックとトラックの間に
は、グルーブが形成されている。この光磁気ディスク１
００は、ＩＳＯフォーマットに準拠している３．５イン
チ光磁気ディスクカートリッジに装填されている媒体で
ある。光磁気ディスク１００に記録された情報は、分離
光学系１０２と固定光学系１０４とを用いて読み出され
る。分離光学系１０２は、二本のガイドレール１０６
ａ，１０６ｂにより案内されるキャリッジ１０８、キャ
リッジ１０８を往復移動する磁気回路１１０ａ，１１０
ｂを含んで構成される。キャリッジ１０８は、対物レン
ズを含む光ピックアップ部１１２を備えている。固定光
学系１０４は、集光光学系、トラッキングエラー検出光
学系、フォーカスエラー検出光学系、及び情報読み取り
用の光学系を含んで構成される。
される。添付図面は、明細書の一部に組み込まれ、且つ
その一部を構成し、発明の実施例を表すものであり、そ
して、その記述と共に、発明の原理を説明する役割を果
たすものである。図５は、本発明が適用される光ディス
ク装置の構成を示す図である。図５において、光磁気デ
ィスク１００は、図示しないスピンドルモータにより回
転駆動される。この光磁気ディスク１００は、多数のト
ラックが形成されている。トラックとトラックの間に
は、グルーブが形成されている。この光磁気ディスク１
００は、ＩＳＯフォーマットに準拠している３．５イン
チ光磁気ディスクカートリッジに装填されている媒体で
ある。光磁気ディスク１００に記録された情報は、分離
光学系１０２と固定光学系１０４とを用いて読み出され
る。分離光学系１０２は、二本のガイドレール１０６
ａ，１０６ｂにより案内されるキャリッジ１０８、キャ
リッジ１０８を往復移動する磁気回路１１０ａ，１１０
ｂを含んで構成される。キャリッジ１０８は、対物レン
ズを含む光ピックアップ部１１２を備えている。固定光
学系１０４は、集光光学系、トラッキングエラー検出光
学系、フォーカスエラー検出光学系、及び情報読み取り
用の光学系を含んで構成される。
【００３６】図６は、分離光学系と固定光学系の詳細構
成を示す図である。図６において、分離光学系１０２
は、対物レンズ１１４と三角プリズム１１６のみが示さ
れている。対物レンズ１１４を矢印Ａ，Ｂ方向に駆動す
る磁気回路は、図示省略されている。破線で囲まれた部
分は、固定光学系に含まれる。半導体レーザ１１８から
出射された光ビームは、コリメータレンズ１２０により
平行光にされる。この平行光は、ビームスプリッタ１２
２を通して、三角プリズム１１６に入射する。光磁気デ
ィスク１００で反射した光ビームは、対物レンズ１１
４、三角プリズム１１６を介して、ビームスプリッタ１
２２に戻る。ビームスプリッタ１２２は、この反射光ビ
ームの光路をビームスプリッタ１２４に向ける。集光光
学系は、コリメータレンズ１２０と、ビームスプリッタ
１２２と、三角プリズム１１６と、及び対物レンズ１１
４とを含んで構成される。
成を示す図である。図６において、分離光学系１０２
は、対物レンズ１１４と三角プリズム１１６のみが示さ
れている。対物レンズ１１４を矢印Ａ，Ｂ方向に駆動す
る磁気回路は、図示省略されている。破線で囲まれた部
分は、固定光学系に含まれる。半導体レーザ１１８から
出射された光ビームは、コリメータレンズ１２０により
平行光にされる。この平行光は、ビームスプリッタ１２
２を通して、三角プリズム１１６に入射する。光磁気デ
ィスク１００で反射した光ビームは、対物レンズ１１
４、三角プリズム１１６を介して、ビームスプリッタ１
２２に戻る。ビームスプリッタ１２２は、この反射光ビ
ームの光路をビームスプリッタ１２４に向ける。集光光
学系は、コリメータレンズ１２０と、ビームスプリッタ
１２２と、三角プリズム１１６と、及び対物レンズ１１
４とを含んで構成される。
【００３７】ビームスプリッタ１２４に入射された光ビ
ームは、ビームスプリッタ１２４により、ウォラストン
プリズム１２６と集光レンズ１２８とに向かう二つの光
ビームに分けられる。ウォラストンプリズム１２６に向
けられた光ビームは、集光レンズ１３０により集光され
る。その光ビームの集光スポットが、二分割光検知器１
３２上に結像される。この二分割光検知器１３２は、光
磁気信号を検出する。光磁気信号ＭＯは、二分割光検知
器１３２の二つの受光部Ｈ，Ｉの差分出力（Ｈ−Ｉ）と
して求められる。情報読み取り光学系は、ウォラストン
プリズム１２６、集光レンズ１３０、及び二分割光検知
器１３２を含んで構成される。
ームは、ビームスプリッタ１２４により、ウォラストン
プリズム１２６と集光レンズ１２８とに向かう二つの光
ビームに分けられる。ウォラストンプリズム１２６に向
けられた光ビームは、集光レンズ１３０により集光され
る。その光ビームの集光スポットが、二分割光検知器１
３２上に結像される。この二分割光検知器１３２は、光
磁気信号を検出する。光磁気信号ＭＯは、二分割光検知
器１３２の二つの受光部Ｈ，Ｉの差分出力（Ｈ−Ｉ）と
して求められる。情報読み取り光学系は、ウォラストン
プリズム１２６、集光レンズ１３０、及び二分割光検知
器１３２を含んで構成される。
【００３８】集光レンズ１２８に入射した光ビームは、
集光レンズ１２８により集光されると共に、ビームスプ
リッタ１３４により、二つの光ビームに分けられる。一
方の光ビームは、ビームスプリッタ１３４を通過し、二
分割光検知器１３６に集光される。この二分割光検知器
１３６は、トラッキングエラー信号を出力する。トラッ
キングエラー信号ＴＥは、二分割光検知器１３６の二つ
の受光部Ｅ，Ｆの差分出力（Ｅ−Ｆ）として求められ
る。トラッキングエラー検出用の光学系は、集光レンズ
１２８、ビームスプリッタ１３４、及び二分割光検知器
１３６を含んで構成される。
集光レンズ１２８により集光されると共に、ビームスプ
リッタ１３４により、二つの光ビームに分けられる。一
方の光ビームは、ビームスプリッタ１３４を通過し、二
分割光検知器１３６に集光される。この二分割光検知器
１３６は、トラッキングエラー信号を出力する。トラッ
キングエラー信号ＴＥは、二分割光検知器１３６の二つ
の受光部Ｅ，Ｆの差分出力（Ｅ−Ｆ）として求められ
る。トラッキングエラー検出用の光学系は、集光レンズ
１２８、ビームスプリッタ１３４、及び二分割光検知器
１３６を含んで構成される。
【００３９】他方の光ビームは、ビームスプリッタ１３
４を通過し、二枚のガラス板１３８ａ，１３８ｂを通過
した後、四分割光検知器１４０に結像される。この二枚
のガラス板１３８ａ，１３８ｂは、光ビームに非対称性
を導入する光学素子である。四分割光検知器１４０は、
フォーカスエラー信号を出力する。フォーカスエラー信
号ＦＥは、四分割光検知器１４０の四つの受光部Ａ，
Ｂ，Ｃ，Ｄの出力に基づいて求められる。つまり、フォ
ーカスエラー信号ＦＥは、演算式（Ａ−Ｂ）＋（Ｃ−
Ｄ）で求められる。フォーカスエラー検出用の光学系
は、集光レンズ１２８、ビームスプリッタ１３４、二枚
のガラス板１３８ａ，１３８ｂ、及び四分割光検知器１
４０を含んで構成される。
４を通過し、二枚のガラス板１３８ａ，１３８ｂを通過
した後、四分割光検知器１４０に結像される。この二枚
のガラス板１３８ａ，１３８ｂは、光ビームに非対称性
を導入する光学素子である。四分割光検知器１４０は、
フォーカスエラー信号を出力する。フォーカスエラー信
号ＦＥは、四分割光検知器１４０の四つの受光部Ａ，
Ｂ，Ｃ，Ｄの出力に基づいて求められる。つまり、フォ
ーカスエラー信号ＦＥは、演算式（Ａ−Ｂ）＋（Ｃ−
Ｄ）で求められる。フォーカスエラー検出用の光学系
は、集光レンズ１２８、ビームスプリッタ１３４、二枚
のガラス板１３８ａ，１３８ｂ、及び四分割光検知器１
４０を含んで構成される。
【００４０】このような光磁気ディスクドライブは、特
開平５−１５１７５３号（特願平３−３１６１５３号）
に開示されている。図７は、本発明の第一の実施例の説
明図である。図７において、二分割光検知器１３６は、
プッシュプル法を用いてトラッキングエラーを検出する
フォトディテクタである。光学素子１４５は、二分割検
知器１３６と集光レンズ１２８との間に配置される。す
なわち、光学素子１４５は、集光レンズと受光部との配
置に配置されている。光学素子１４５は、集光レンズ１
２８とビームスプリッタ１２６の間に設けられていても
良い。例えば、光学素子１４５は、ビームスプリッタ１
２６の光ビームの出射面に貼り付けられていても良い。
光学素子１４５は、回折格子が設けられている。
開平５−１５１７５３号（特願平３−３１６１５３号）
に開示されている。図７は、本発明の第一の実施例の説
明図である。図７において、二分割光検知器１３６は、
プッシュプル法を用いてトラッキングエラーを検出する
フォトディテクタである。光学素子１４５は、二分割検
知器１３６と集光レンズ１２８との間に配置される。す
なわち、光学素子１４５は、集光レンズと受光部との配
置に配置されている。光学素子１４５は、集光レンズ１
２８とビームスプリッタ１２６の間に設けられていても
良い。例えば、光学素子１４５は、ビームスプリッタ１
２６の光ビームの出射面に貼り付けられていても良い。
光学素子１４５は、回折格子が設けられている。
【００４１】図７（ａ）は、光学素子をビーム入射方向
から見た図である。図７（ｂ）は、光学素子を透過する
光の道筋を横から見た図である。二分割光検知器１３６
の受光部は、分割線Ｋによって二つに分割されている。
二分割光検知器１３６は、第一の受光部１３６ａと第二
の受光部１３６ｂを備える。二分割光検知器１３６の光
軸は、分割線上で且つ二分割光検知器１３６の幅方向の
中央部に設定される。光学素子１４５は、この分割線と
平行な線Ｌで二つの領域に分けられる。光学素子１４５
は、光ビームがそのまま直進する円形領域を備える。
から見た図である。図７（ｂ）は、光学素子を透過する
光の道筋を横から見た図である。二分割光検知器１３６
の受光部は、分割線Ｋによって二つに分割されている。
二分割光検知器１３６は、第一の受光部１３６ａと第二
の受光部１３６ｂを備える。二分割光検知器１３６の光
軸は、分割線上で且つ二分割光検知器１３６の幅方向の
中央部に設定される。光学素子１４５は、この分割線と
平行な線Ｌで二つの領域に分けられる。光学素子１４５
は、光ビームがそのまま直進する円形領域を備える。
【００４２】この円形領域は、光ビームのビーム径と同
じ、若しくは、それよりも僅かに小さな直径の円であ
る。この光ビームの半径は、光ビームが光学素子１４５
に入射する時点で、４７５μｍである。一方、この円形
領域の半径は、４６０μｍに設定されている。この円形
領域は、分割線で分割された二つの領域１４５ａ，１４
５ｂを含んでいる。この二つの領域１４５ａ，１４５ｂ
は、回折格子を備えていない。それ故、この円形領域に
入射する光ビームは、そのまま直進して、二分割光検知
器１３６に照射される。光学素子１４５の円形領域１４
５ａ，１４５ｂの外側の領域１４５ｃ，１４５ｄには、
回折格子が形成されている。領域１４５ｃの回折格子
は、図７（ｂ）に示されるように、領域１４５ｃに入射
した光ビームの一部を二分割光検知器１３６の一方の受
光部１３６ｂに照射させる。領域１４５ｄの回折格子
は、領域１４５ｄに入射した光ビームの一部を二分割光
検知器１３６の他方の受光部１３６ａに照射させる。
じ、若しくは、それよりも僅かに小さな直径の円であ
る。この光ビームの半径は、光ビームが光学素子１４５
に入射する時点で、４７５μｍである。一方、この円形
領域の半径は、４６０μｍに設定されている。この円形
領域は、分割線で分割された二つの領域１４５ａ，１４
５ｂを含んでいる。この二つの領域１４５ａ，１４５ｂ
は、回折格子を備えていない。それ故、この円形領域に
入射する光ビームは、そのまま直進して、二分割光検知
器１３６に照射される。光学素子１４５の円形領域１４
５ａ，１４５ｂの外側の領域１４５ｃ，１４５ｄには、
回折格子が形成されている。領域１４５ｃの回折格子
は、図７（ｂ）に示されるように、領域１４５ｃに入射
した光ビームの一部を二分割光検知器１３６の一方の受
光部１３６ｂに照射させる。領域１４５ｄの回折格子
は、領域１４５ｄに入射した光ビームの一部を二分割光
検知器１３６の他方の受光部１３６ａに照射させる。
【００４３】ここで、二分割光検知器１３６のプッシュ
プル信号ＤＰＰは、以下の演算式により求められる。
尚、この演算式において、光学素子１４５の各領域は、
符号Ａ〜Ｄが付与され、各領域Ａ〜Ｄに入射する光量
は、ＩＡ，ＩＢ，ＩＣ，ＩＤで表されている。 光量ＩＡ〜ＩＤは、対物レンズ１１４により集光される
光ビームの集光スポットのトラック中心からの変位量ｄ
と、光学素子１４５に入射する光ビームの光軸の軸ずれ
量Ｋとにより変化するため、プッシュプル信号ＤＰＰ
は、この二変数ｄ，Ｋの関数ＤＰＰ（ｄ，Ｋ）となる。
プル信号ＤＰＰは、以下の演算式により求められる。
尚、この演算式において、光学素子１４５の各領域は、
符号Ａ〜Ｄが付与され、各領域Ａ〜Ｄに入射する光量
は、ＩＡ，ＩＢ，ＩＣ，ＩＤで表されている。 光量ＩＡ〜ＩＤは、対物レンズ１１４により集光される
光ビームの集光スポットのトラック中心からの変位量ｄ
と、光学素子１４５に入射する光ビームの光軸の軸ずれ
量Ｋとにより変化するため、プッシュプル信号ＤＰＰ
は、この二変数ｄ，Ｋの関数ＤＰＰ（ｄ，Ｋ）となる。
【００４４】ここで、領域１４５ａ，１４５ｂで形成さ
れる円形領域の半径の値は、ある決められた値Ｋに対し
て、次式を満たすように設定される。 ＤＰＰ（０，Ｋ）＝０ （２） ＤＰＰ（ｄｍａｘ，Ｋ）＝−ＤＰＰ（ｄｍｉｎ，Ｋ） （３） 尚、値ｄｍａｘは、プッシュプル信号が最大となるとき
のトラック中心からの集光スポットの変位量である。一
方、値ｄｍｉｎは、プッシュプル信号が最小となるとき
のトラック中心からの集光スポットのトラックずれ量で
ある。式（２）は、スポット位置がトラック中心に位置
するときに、プッシュプル信号の値が０となる条件を示
している。式（３）は、プッシュプル信号が最大になる
ときのプッシュプル信号の絶対値と、プッシュプル信号
が最小になるときのプッシュプル信号の絶対値が等しく
なる条件を表している。この円形領域の半径の値が、光
ビームの透過領域１４５ａ，１４５ｂと光ビームの回折
領域１４５ｃ，１４５ｄとを区別する境界を表してい
る。
れる円形領域の半径の値は、ある決められた値Ｋに対し
て、次式を満たすように設定される。 ＤＰＰ（０，Ｋ）＝０ （２） ＤＰＰ（ｄｍａｘ，Ｋ）＝−ＤＰＰ（ｄｍｉｎ，Ｋ） （３） 尚、値ｄｍａｘは、プッシュプル信号が最大となるとき
のトラック中心からの集光スポットの変位量である。一
方、値ｄｍｉｎは、プッシュプル信号が最小となるとき
のトラック中心からの集光スポットのトラックずれ量で
ある。式（２）は、スポット位置がトラック中心に位置
するときに、プッシュプル信号の値が０となる条件を示
している。式（３）は、プッシュプル信号が最大になる
ときのプッシュプル信号の絶対値と、プッシュプル信号
が最小になるときのプッシュプル信号の絶対値が等しく
なる条件を表している。この円形領域の半径の値が、光
ビームの透過領域１４５ａ，１４５ｂと光ビームの回折
領域１４５ｃ，１４５ｄとを区別する境界を表してい
る。
【００４５】この領域を区切る円の半径の値は、この半
径の値がパラメータとして上記条件式（２），（３）が
計算されることにより、求められる。この半径の値は、
条件式（２），（３）を満たす最適値が採用される。
尚、図７において、光学素子１４５の円形領域１４５
ａ，１４５ｂは、真円である。図８は、光学素子の円形
領域が二つの円弧で構成されている光学素子を示す図で
ある。図８において、光学素子１５５は、光ビームが透
過する領域が、第１の領域１５５ａと第２の領域１５５
ｂとで形成されている。光学素子１５５は、光ビームが
回折される領域が、第１の領域１５５ｃと第２の領域１
５５ｄとで形成されている。この第１の領域１５５ｃと
第２の領域１５５ｄとは、トラック方向と平行な線Ｌで
区切られている。第１と第２の領域１５５ａと１５５ｂ
は、半径ｒの円形領域である。第１の領域１５５ａの円
の中心１５５ａ１は、光学素子１５５の光軸中心１５５
ｚから距離ｄだけ変位している。第２の領域１５５ｂの
円の中心１５５ｂ１は、光学素子１５５の光軸中心１５
５ｚから距離ｄだけずれている。この距離ｄの変位方向
は、分割線Ｌと直交する方向である。このような光学素
子１５５が用いられる場合、設計パラメータとして、半
径ｒと偏心位置ｄの２つの自由度があるため、条件式を
満たす設計値（半径ｒの値及び偏心位置ｄの値）が必ず
得られる。
径の値がパラメータとして上記条件式（２），（３）が
計算されることにより、求められる。この半径の値は、
条件式（２），（３）を満たす最適値が採用される。
尚、図７において、光学素子１４５の円形領域１４５
ａ，１４５ｂは、真円である。図８は、光学素子の円形
領域が二つの円弧で構成されている光学素子を示す図で
ある。図８において、光学素子１５５は、光ビームが透
過する領域が、第１の領域１５５ａと第２の領域１５５
ｂとで形成されている。光学素子１５５は、光ビームが
回折される領域が、第１の領域１５５ｃと第２の領域１
５５ｄとで形成されている。この第１の領域１５５ｃと
第２の領域１５５ｄとは、トラック方向と平行な線Ｌで
区切られている。第１と第２の領域１５５ａと１５５ｂ
は、半径ｒの円形領域である。第１の領域１５５ａの円
の中心１５５ａ１は、光学素子１５５の光軸中心１５５
ｚから距離ｄだけ変位している。第２の領域１５５ｂの
円の中心１５５ｂ１は、光学素子１５５の光軸中心１５
５ｚから距離ｄだけずれている。この距離ｄの変位方向
は、分割線Ｌと直交する方向である。このような光学素
子１５５が用いられる場合、設計パラメータとして、半
径ｒと偏心位置ｄの２つの自由度があるため、条件式を
満たす設計値（半径ｒの値及び偏心位置ｄの値）が必ず
得られる。
【００４６】更に、図９は、光学素子の円形領域が楕円
で構成されている光学素子を示す図である。図９におい
て、光学素子１６５は、光ビームが透過する領域が、長
軸ａと短軸ｂで表される楕円領域１６５ａで形成されて
いる。光学素子１６５は、光ビームが回折される領域
が、第１の領域１６５ｃと第２の領域１６５ｄとで形成
されている。この第１の領域１６５ｃと第２の領域１６
５ｄとは、トラック方向と平行な線Ｌで区切られてい
る。この楕円領域１６５ａの中心位置１６５ａ１は、光
学素子１６５の光軸中心１６５ｚと一致している。図９
から明らかなように、楕円領域１６５ａの長軸ａは、分
割線Ｌと平行な方向、すなわち、トラック方向に延びて
いる。短軸ｂは、分割線Ｌと直交する方向、すなわち、
トラックを横切る方向に延びている。この光学素子１６
５が用いられる場合、設計パラメータとして、長軸ａと
短軸ｂの２つのパラメータがあるため、条件式を一意に
満たすことが可能になる。
で構成されている光学素子を示す図である。図９におい
て、光学素子１６５は、光ビームが透過する領域が、長
軸ａと短軸ｂで表される楕円領域１６５ａで形成されて
いる。光学素子１６５は、光ビームが回折される領域
が、第１の領域１６５ｃと第２の領域１６５ｄとで形成
されている。この第１の領域１６５ｃと第２の領域１６
５ｄとは、トラック方向と平行な線Ｌで区切られてい
る。この楕円領域１６５ａの中心位置１６５ａ１は、光
学素子１６５の光軸中心１６５ｚと一致している。図９
から明らかなように、楕円領域１６５ａの長軸ａは、分
割線Ｌと平行な方向、すなわち、トラック方向に延びて
いる。短軸ｂは、分割線Ｌと直交する方向、すなわち、
トラックを横切る方向に延びている。この光学素子１６
５が用いられる場合、設計パラメータとして、長軸ａと
短軸ｂの２つのパラメータがあるため、条件式を一意に
満たすことが可能になる。
【００４７】図１０は、光学素子に入射する光ビームの
光軸が光学素子の光軸からずれた状態を示す図である。
この光ビームの光軸のずれは、対物レンズ１１４の移動
又は集光レンズ１２８等の組み立て誤差に起因して、生
ずる。この光軸ずれの発生は、図１〜３に関連した説明
を参照されたい。図１０に示される光学素子は、図７に
示される光学素子１４５が用いられる。点線で示される
光ビーム１５０ａは、光ビーム１５０ａの光軸と光学素
子１４５の光軸が一致している。つまり、光ビーム１５
０ａは、光学素子１４５の円形領域１４５ａ，１４５ｂ
と一致している。光ビーム１５０ａは、円形領域１４５
ａ，１４５ｂを通過する際に回折されないので、円形領
域１４５ａを通過する光ビーム１５０ａは、二分割光検
知器１３６の受光部１３６ａに全て照射され、円形領域
１４５ｂを通過する光ビーム１５０ａは、二分割光検知
器１３６の受光部１３６ｂに全て照射される。この時、
二分割検知器１３６の受光部１３６ａ，１３６ｂの受光
量は、等しい。それ故、受光部１３６ａ，１３６ｂの受
光量は、互いに相対的な相違がない。
光軸が光学素子の光軸からずれた状態を示す図である。
この光ビームの光軸のずれは、対物レンズ１１４の移動
又は集光レンズ１２８等の組み立て誤差に起因して、生
ずる。この光軸ずれの発生は、図１〜３に関連した説明
を参照されたい。図１０に示される光学素子は、図７に
示される光学素子１４５が用いられる。点線で示される
光ビーム１５０ａは、光ビーム１５０ａの光軸と光学素
子１４５の光軸が一致している。つまり、光ビーム１５
０ａは、光学素子１４５の円形領域１４５ａ，１４５ｂ
と一致している。光ビーム１５０ａは、円形領域１４５
ａ，１４５ｂを通過する際に回折されないので、円形領
域１４５ａを通過する光ビーム１５０ａは、二分割光検
知器１３６の受光部１３６ａに全て照射され、円形領域
１４５ｂを通過する光ビーム１５０ａは、二分割光検知
器１３６の受光部１３６ｂに全て照射される。この時、
二分割検知器１３６の受光部１３６ａ，１３６ｂの受光
量は、等しい。それ故、受光部１３６ａ，１３６ｂの受
光量は、互いに相対的な相違がない。
【００４８】一方、実線で示される光ビーム１５０ｂ
は、光ビーム１５０ｂの光軸が光学素子１４５の光軸に
対して、矢印Ａ方向にずれている。同様に、二分割光検
知器１３６上に結像される集光スポット１５０ｈは、二
分割光検知器１３６の受光部１３６ａ側に片寄ってい
る。二分割光検知器１３６の受光部１３６ａは、集光ス
ポット１５０ｈの光量を、受光部１３６ｂよりも多く受
光する。逆に言えば、集光スポット１５０ｈのみに関す
る受光量は、それ故、受光部１３６ａが受光部１３６ｂ
に比して相対的に多くなる。
は、光ビーム１５０ｂの光軸が光学素子１４５の光軸に
対して、矢印Ａ方向にずれている。同様に、二分割光検
知器１３６上に結像される集光スポット１５０ｈは、二
分割光検知器１３６の受光部１３６ａ側に片寄ってい
る。二分割光検知器１３６の受光部１３６ａは、集光ス
ポット１５０ｈの光量を、受光部１３６ｂよりも多く受
光する。逆に言えば、集光スポット１５０ｈのみに関す
る受光量は、それ故、受光部１３６ａが受光部１３６ｂ
に比して相対的に多くなる。
【００４９】ここで、”相対的に”が使われているの
は、光学素子１４５の円形領域１４５ａ，１４５ｂの範
囲内のみを通過する光ビーム１５０ｂが、二分割光検知
器１３６の受光部１３６ａ，１３６ｂで受光される際の
受光量のみを比較しているからである。ここで、光ビー
ム１５０ｂの一部１５０ｂ１は、光学素子１４５の回折
領域１４５ｃにより回折される。この回折光は、二分割
光検知器１３６の受光部１３６ｂ上に、三日月形状の集
光スポット１５０ｉとして照射される。光ビーム１５０
ｂは、光学素子１４５の回折領域１４５ｄにより回折さ
れないので、二分割光検知器１３６の受光部１３６ａ上
には、回折光が照射されない。受光部１３６ｂは、集光
スポット１５０ｈ及び三日月形状の集光スポット１５０
ｉの両方を受光するので、受光部１３６ａと受光部１３
６ｂとの間の受光量のアンバランスが改善される。この
ように、光ビームの光軸ずれに応じて、受光部１３６ｂ
が受光する、円形領域１４５ａ，１４５ｂを通過する光
ビームの光量は、受光部１３６ａが受光する、円形領域
１４５ａ，１４５ｂを通過する光ビームの光量よりも相
対的に低下する。この一方で、光ビームが回折格子１４
５ｄを通過しないので、受光部１３６ａの受光量の増大
が生じないが、光ビームが回折格子１４５ｃを通過する
ので、受光部１３６ｂの受光量の増大が生じる。
は、光学素子１４５の円形領域１４５ａ，１４５ｂの範
囲内のみを通過する光ビーム１５０ｂが、二分割光検知
器１３６の受光部１３６ａ，１３６ｂで受光される際の
受光量のみを比較しているからである。ここで、光ビー
ム１５０ｂの一部１５０ｂ１は、光学素子１４５の回折
領域１４５ｃにより回折される。この回折光は、二分割
光検知器１３６の受光部１３６ｂ上に、三日月形状の集
光スポット１５０ｉとして照射される。光ビーム１５０
ｂは、光学素子１４５の回折領域１４５ｄにより回折さ
れないので、二分割光検知器１３６の受光部１３６ａ上
には、回折光が照射されない。受光部１３６ｂは、集光
スポット１５０ｈ及び三日月形状の集光スポット１５０
ｉの両方を受光するので、受光部１３６ａと受光部１３
６ｂとの間の受光量のアンバランスが改善される。この
ように、光ビームの光軸ずれに応じて、受光部１３６ｂ
が受光する、円形領域１４５ａ，１４５ｂを通過する光
ビームの光量は、受光部１３６ａが受光する、円形領域
１４５ａ，１４５ｂを通過する光ビームの光量よりも相
対的に低下する。この一方で、光ビームが回折格子１４
５ｄを通過しないので、受光部１３６ａの受光量の増大
が生じないが、光ビームが回折格子１４５ｃを通過する
ので、受光部１３６ｂの受光量の増大が生じる。
【００５０】つまり、回折格子１４５ｃは、光ビームの
光軸ずれに応じて、受光量が相対的に減少する受光部１
３６ｂの受光量を、光ビームの光軸ずれに応じて受光量
が相対的に増大する受光部１３６ａに比して、相対的に
増大させている。逆に言えば、受光部１３６ｂの受光量
は、受光部１３６ａの受光量に比して相対的に減少して
いる。つまり、光ビームの光軸ずれに起因して他方の受
光部１３６ａに受光されなくなった光が光学素子１４５
により偏光されて、光ビームの光軸ずれに起因して受光
量が減少した一方の受光部１３６ｂに入射される。
光軸ずれに応じて、受光量が相対的に減少する受光部１
３６ｂの受光量を、光ビームの光軸ずれに応じて受光量
が相対的に増大する受光部１３６ａに比して、相対的に
増大させている。逆に言えば、受光部１３６ｂの受光量
は、受光部１３６ａの受光量に比して相対的に減少して
いる。つまり、光ビームの光軸ずれに起因して他方の受
光部１３６ａに受光されなくなった光が光学素子１４５
により偏光されて、光ビームの光軸ずれに起因して受光
量が減少した一方の受光部１３６ｂに入射される。
【００５１】ここで、”相対的に”が使われているの
は、光学素子１４５の回折格子領域１４５ｃ，１４５ｄ
の領域内のみを通過する光ビーム１５０ｂが、二分割光
検知器１３６の受光部１３６ａ，１３６ｂで受光される
際の受光量のみを比較しているからである。図１０にお
いては、受光部１３６ａの受光量と受光部１３６ｂの受
光量のアンバランスが生じた例として、対物レンズ２０
がディスク９と平行に移動した場合を説明している。こ
の二分割光検知器１３６に入射する光ビームの軸ずれ
は、集光レンズの組み立て位置がずれている場合にも発
生する。また、ディスク９が対物レンズ２０に対して傾
斜した場合にも、この軸ずれが発生する。これらの軸ず
れが発生した場合、集光レンズにより集光される光ビー
ムは、光学素子１４５に対して図１０に示されるよう
に、光ビーム１５０ｂとなる。それ故、これらの軸ずれ
に起因する受光量のアンバランスは、集光レンズと二分
割光検知器１３６との間に配置された光学素子１４５に
より修正されることができる。
は、光学素子１４５の回折格子領域１４５ｃ，１４５ｄ
の領域内のみを通過する光ビーム１５０ｂが、二分割光
検知器１３６の受光部１３６ａ，１３６ｂで受光される
際の受光量のみを比較しているからである。図１０にお
いては、受光部１３６ａの受光量と受光部１３６ｂの受
光量のアンバランスが生じた例として、対物レンズ２０
がディスク９と平行に移動した場合を説明している。こ
の二分割光検知器１３６に入射する光ビームの軸ずれ
は、集光レンズの組み立て位置がずれている場合にも発
生する。また、ディスク９が対物レンズ２０に対して傾
斜した場合にも、この軸ずれが発生する。これらの軸ず
れが発生した場合、集光レンズにより集光される光ビー
ムは、光学素子１４５に対して図１０に示されるよう
に、光ビーム１５０ｂとなる。それ故、これらの軸ずれ
に起因する受光量のアンバランスは、集光レンズと二分
割光検知器１３６との間に配置された光学素子１４５に
より修正されることができる。
【００５２】更に、フォーカスエラー検出用の光学系や
情報読み取り用光学系においても同様に、集光レンズの
組み立て位置のずれやディスクの傾きにより、二分割光
検知器や四分割光検知器の受光量のアンバランスが生じ
る。この受光量のアンバランスは、これらの光学系に光
学素子１４５を導入することにより、修正される。図１
１は、光学素子の各領域Ａ〜Ｄを通過する光量を示す図
である。図１１においては、対物レンズ１１４の光軸が
トラックを横切る方向に集光光学系の光軸から２００μ
ｍずれている状態を維持させた状態で、集光スポットが
トラックに対して相対的に移動させられた場合の入射光
量の変化を示している。対物レンズ１１４の光軸が２０
０μｍずれている状態で、集光スポットがトラック中心
に位置付けられた時に、光学素子１４５及び二分割光検
知器１３６に入射される光ビームは、図１０中で実線で
示される位置に存在する。光量ＩＡは、領域Ａの光量を
表している。光量ＩＢは、領域Ｂの光量である。光量Ｉ
Ｃは、領域Ｃの光量である。光量ＩＤは、領域Ｄの光量
である。
情報読み取り用光学系においても同様に、集光レンズの
組み立て位置のずれやディスクの傾きにより、二分割光
検知器や四分割光検知器の受光量のアンバランスが生じ
る。この受光量のアンバランスは、これらの光学系に光
学素子１４５を導入することにより、修正される。図１
１は、光学素子の各領域Ａ〜Ｄを通過する光量を示す図
である。図１１においては、対物レンズ１１４の光軸が
トラックを横切る方向に集光光学系の光軸から２００μ
ｍずれている状態を維持させた状態で、集光スポットが
トラックに対して相対的に移動させられた場合の入射光
量の変化を示している。対物レンズ１１４の光軸が２０
０μｍずれている状態で、集光スポットがトラック中心
に位置付けられた時に、光学素子１４５及び二分割光検
知器１３６に入射される光ビームは、図１０中で実線で
示される位置に存在する。光量ＩＡは、領域Ａの光量を
表している。光量ＩＢは、領域Ｂの光量である。光量Ｉ
Ｃは、領域Ｃの光量である。光量ＩＤは、領域Ｄの光量
である。
【００５３】図１１に示されるように、対物レンズ１１
４の軸ずれに起因して、領域Ａの光量ＩＡと領域Ｂの光
量ＩＢとの間に差が生じている。トラッキングサーボ制
御は、プッシュプル信号が０となるように行われるの
で、光量ＩＡとＩＢが一致するように制御が行われる。
光量ＩＡと光量ＩＢの絶対値が一致する点は、トラック
オフセットの値が０の位置から＋方向にシフトしてい
る。
４の軸ずれに起因して、領域Ａの光量ＩＡと領域Ｂの光
量ＩＢとの間に差が生じている。トラッキングサーボ制
御は、プッシュプル信号が０となるように行われるの
で、光量ＩＡとＩＢが一致するように制御が行われる。
光量ＩＡと光量ＩＢの絶対値が一致する点は、トラック
オフセットの値が０の位置から＋方向にシフトしてい
る。
【００５４】回折格子領域Ｃの光量ＩＣの値は、集光ス
ポットとトラックとの相対的移動に伴って変化してい
る。この光量ＩＣが光量ＩＢに加算された値が、光量Ｉ
Ｂ＋ＩＣとして示されている。回折格子領域Ｄの光量Ｉ
Ｄの値は、光ビーム１５０ｂの一部が回折格子領域１４
５ｄを通過する位置に到達した後に増大する。図１１に
おいては、光量ＩＤは、０である。この光量ＩＣは、図
１０を用いて説明したように、光量ＩＢが与えられる受
光部１３６ｂに与えられる。それ故、受光部１３６ｂの
入射光量は、光量ＩＢと光量ＩＣを加算した光量（ＩＢ
＋ＩＣ）となる。光量ＩＣが反対側の検知器に入射する
ことにより、２つの受光部間のアンバランスが修正され
る。図１１においては、トラックオフセットの値が０の
とき、２つの受光部１３６ａ，１３６ｂで受光される光
量の総量が等しくなっている。つまり、光ビームの移動
に起因して発生したプッシュプル信号のオフセットが光
学素子１４５を設けることにより除去されている。この
ことは、上記条件式（２）が満たされていること、を意
味する。
ポットとトラックとの相対的移動に伴って変化してい
る。この光量ＩＣが光量ＩＢに加算された値が、光量Ｉ
Ｂ＋ＩＣとして示されている。回折格子領域Ｄの光量Ｉ
Ｄの値は、光ビーム１５０ｂの一部が回折格子領域１４
５ｄを通過する位置に到達した後に増大する。図１１に
おいては、光量ＩＤは、０である。この光量ＩＣは、図
１０を用いて説明したように、光量ＩＢが与えられる受
光部１３６ｂに与えられる。それ故、受光部１３６ｂの
入射光量は、光量ＩＢと光量ＩＣを加算した光量（ＩＢ
＋ＩＣ）となる。光量ＩＣが反対側の検知器に入射する
ことにより、２つの受光部間のアンバランスが修正され
る。図１１においては、トラックオフセットの値が０の
とき、２つの受光部１３６ａ，１３６ｂで受光される光
量の総量が等しくなっている。つまり、光ビームの移動
に起因して発生したプッシュプル信号のオフセットが光
学素子１４５を設けることにより除去されている。この
ことは、上記条件式（２）が満たされていること、を意
味する。
【００５５】図１２は、プッシュプル信号の変化を示す
図である。波形Ａは、対物レンズのずれ量が０μｍのと
きのプッシュプル波形である。波形Ｂは、対物レンズの
ずれ量が１００μｍのときのプッシュプル波形である。
波形Ｃは、対物レンズのずれ量が２００μｍのときのプ
ッシュプル波形である。波形Ｄは、対物レンズのずれ量
が３００μｍのときのプッシュプル波形である。
図である。波形Ａは、対物レンズのずれ量が０μｍのと
きのプッシュプル波形である。波形Ｂは、対物レンズの
ずれ量が１００μｍのときのプッシュプル波形である。
波形Ｃは、対物レンズのずれ量が２００μｍのときのプ
ッシュプル波形である。波形Ｄは、対物レンズのずれ量
が３００μｍのときのプッシュプル波形である。
【００５６】光量ＩＡと光量（ＩＢ＋ＩＣ）の差分値が
プッシュプル信号である。つまり、プッシュプル信号Ｔ
Ｅ＝ＩＡ−（ＩＢ＋ＩＣ）である。図１２から明らかな
ように、プッシュプル信号は、対物レンズの軸ずれの変
化に伴って、振幅の大きさが変化するだけであり、且つ
０を中心に対称な波形が保たれている。本発明における
このプッシュプル信号の波形の性質は、トラック中心付
近での線形性を維持し、安定な制御信号の発生を可能に
する。
プッシュプル信号である。つまり、プッシュプル信号Ｔ
Ｅ＝ＩＡ−（ＩＢ＋ＩＣ）である。図１２から明らかな
ように、プッシュプル信号は、対物レンズの軸ずれの変
化に伴って、振幅の大きさが変化するだけであり、且つ
０を中心に対称な波形が保たれている。本発明における
このプッシュプル信号の波形の性質は、トラック中心付
近での線形性を維持し、安定な制御信号の発生を可能に
する。
【００５７】本実施例においては、光検知器が通常のプ
ッシュプル法に用いられるのと同様な二分割検知器が用
いられて、スポット位置信号の改善が行われている。従
って、演算回路も含めて従来の検知系が用いられること
ができ、その適応が容易である。また、プッシュプル信
号のトラック中心の基準は、プッシュプル信号の値が０
となるスポット位置を採用している。これに対して、本
発明は、プッシュプル信号のピークとボトムの中間点が
トラック中心でのプッシュプル信号の基準とされる方法
が適用可能である。
ッシュプル法に用いられるのと同様な二分割検知器が用
いられて、スポット位置信号の改善が行われている。従
って、演算回路も含めて従来の検知系が用いられること
ができ、その適応が容易である。また、プッシュプル信
号のトラック中心の基準は、プッシュプル信号の値が０
となるスポット位置を採用している。これに対して、本
発明は、プッシュプル信号のピークとボトムの中間点が
トラック中心でのプッシュプル信号の基準とされる方法
が適用可能である。
【００５８】プッシュプル信号のピーク点とボトム点と
の中間点がトラック中心の基準とされる手法が採用され
た場合、迷光の影響が軽減されることができる。これ
は、この光学系が前記条件式（３）を満たしているため
である。迷光が存在することにより、二分割光検知器の
一方に一定強度の光が入射していた場合、プッシュプル
信号に予期されないバイアスが発生する。このバイアス
は、プッシュプル信号のピークとボトムの中心点をトラ
ック中心の基準とすることで、除去され得る。これによ
りトラック中心付近でのプッシュプル信号の正負の対称
性が維持されるため、プッシュプル信号の良好な線形性
がトラック中心近傍で保たれ、安定した制御が可能にな
る。
の中間点がトラック中心の基準とされる手法が採用され
た場合、迷光の影響が軽減されることができる。これ
は、この光学系が前記条件式（３）を満たしているため
である。迷光が存在することにより、二分割光検知器の
一方に一定強度の光が入射していた場合、プッシュプル
信号に予期されないバイアスが発生する。このバイアス
は、プッシュプル信号のピークとボトムの中心点をトラ
ック中心の基準とすることで、除去され得る。これによ
りトラック中心付近でのプッシュプル信号の正負の対称
性が維持されるため、プッシュプル信号の良好な線形性
がトラック中心近傍で保たれ、安定した制御が可能にな
る。
【００５９】図１３は、図７に示される光学素子を備え
る光ディスク装置の光学系を示す図である。図１３にお
いて、図１と同じ構成要素は、同一番号が付されてお
り、その説明が省略されている。図１３において、光学
素子１４５は、トラッキングエラー検出用の光学系内に
設けられている。トラッキングエラー検出用の光学系１
１は、二分割光検知器６と光学素子１４５と集光レンズ
１１とを含んで構成される。この二分割光検知器６と光
学素子１４５が、光学装置に相当する。また、二分割光
検知器６の差分値が、トラッキングエラー信号として、
トラッキング制御部に入力される。トラッキング制御部
は、入力されるトラッキングエラー信号に応じて、対物
レンズ２０をディスク９の表面と平行に往復移動させる
トラッキングコイルを駆動する。トラッキングコイル
は、トラッキングエラー信号が０となるように駆動さ
れ、集光スポットが常にトラック中心に位置付けられ
る。トラッキングエラー検出用の光学系１１及びトラッ
キング制御部が、トラッキング装置に相当する。
る光ディスク装置の光学系を示す図である。図１３にお
いて、図１と同じ構成要素は、同一番号が付されてお
り、その説明が省略されている。図１３において、光学
素子１４５は、トラッキングエラー検出用の光学系内に
設けられている。トラッキングエラー検出用の光学系１
１は、二分割光検知器６と光学素子１４５と集光レンズ
１１とを含んで構成される。この二分割光検知器６と光
学素子１４５が、光学装置に相当する。また、二分割光
検知器６の差分値が、トラッキングエラー信号として、
トラッキング制御部に入力される。トラッキング制御部
は、入力されるトラッキングエラー信号に応じて、対物
レンズ２０をディスク９の表面と平行に往復移動させる
トラッキングコイルを駆動する。トラッキングコイル
は、トラッキングエラー信号が０となるように駆動さ
れ、集光スポットが常にトラック中心に位置付けられ
る。トラッキングエラー検出用の光学系１１及びトラッ
キング制御部が、トラッキング装置に相当する。
【００６０】光学素子１４５は、二分割光検知器６と集
光レンズ１１との間に配置される。光学素子１４５は、
前述したように、その中心部に、光ビーム径と等しいか
若しくはそれより小さく且つ入射する光ビームを透過す
る領域を有する。光学素子１４５は、この中心部の外側
領域に、二分割光検知器６の分割線と平行な分割線で２
分割され且つその領域に入射する光ビームが分割線を挟
んで反対側の光検知部分に入射するように設計された回
折格子を備える。
光レンズ１１との間に配置される。光学素子１４５は、
前述したように、その中心部に、光ビーム径と等しいか
若しくはそれより小さく且つ入射する光ビームを透過す
る領域を有する。光学素子１４５は、この中心部の外側
領域に、二分割光検知器６の分割線と平行な分割線で２
分割され且つその領域に入射する光ビームが分割線を挟
んで反対側の光検知部分に入射するように設計された回
折格子を備える。
【００６１】対物レンズ２０の光軸と集光光学系８の光
軸とがずれていない場合は、集光レンズ１１ａにより集
光される光ビームは、光学素子１４５の中心領域のみを
透過する。一方、対物レンズ２０の光軸が矢印Ａ方向に
移動すると、集光レンズ１１ａにより集光される光ビー
ムは、矢印Ｂ方向にずれる。受光部６ｂが受光する、光
学素子１４５の中心領域を通過する光ビームの受光量
は、受光部６ａが受光する、光学素子１４５の中心領域
を通過する光ビームの受光量に比して増大する。同時
に、集光レンズにより集光される光ビームの一部は、光
学素子１４５の回折領域１４５ｃにより回折されて、二
分割光検知器６の受光部６ａに入射する。それ故、受光
部６ａの受光量が増大し、受光部６ａと受光部６ｂの受
光量のアンバランスが補正される。
軸とがずれていない場合は、集光レンズ１１ａにより集
光される光ビームは、光学素子１４５の中心領域のみを
透過する。一方、対物レンズ２０の光軸が矢印Ａ方向に
移動すると、集光レンズ１１ａにより集光される光ビー
ムは、矢印Ｂ方向にずれる。受光部６ｂが受光する、光
学素子１４５の中心領域を通過する光ビームの受光量
は、受光部６ａが受光する、光学素子１４５の中心領域
を通過する光ビームの受光量に比して増大する。同時
に、集光レンズにより集光される光ビームの一部は、光
学素子１４５の回折領域１４５ｃにより回折されて、二
分割光検知器６の受光部６ａに入射する。それ故、受光
部６ａの受光量が増大し、受光部６ａと受光部６ｂの受
光量のアンバランスが補正される。
【００６２】図１４は、光学素子の他の例を示す図であ
る。図１４（ａ）は、光学素子をビーム入射方向から見
た図である。図１４（ｂ）は、光学素子を透過する光の
光路を横から見た図である。図１４において、光学素子
１７５は、光ビームがそのまま直進する円形領域１７５
ａ，１７５ｂを備える。この円形領域は、光ビームのビ
ーム径と同じ、若しくは、それよりも僅かに小さな直径
の円である。この円形領域は、分割線で分割された二つ
の領域１７５ａ，１７５ｂを含んでいる。この二つの領
域１７５ａ，１７５ｂは、回折格子を備えておらず、単
なる透明な平板上のガラス板である。それ故、この円形
領域に入射する光ビームは、そのまま直進して、二分割
光検知器６に照射される。光学素子１７５の円形領域１
７５ａ，１７５ｂの外側の領域１７５ｃ，１７５ｄに
は、プリズムが形成されている。回折格子は、回折効率
により回折される光量が変化するため、光量アンバラン
スを補正する際の誤差要因となる。入射する光がプリズ
ムで屈折させられる場合は、入射する光がすべて反対側
の光検知器に入射させられることが可能であり、補正精
度が高い。
る。図１４（ａ）は、光学素子をビーム入射方向から見
た図である。図１４（ｂ）は、光学素子を透過する光の
光路を横から見た図である。図１４において、光学素子
１７５は、光ビームがそのまま直進する円形領域１７５
ａ，１７５ｂを備える。この円形領域は、光ビームのビ
ーム径と同じ、若しくは、それよりも僅かに小さな直径
の円である。この円形領域は、分割線で分割された二つ
の領域１７５ａ，１７５ｂを含んでいる。この二つの領
域１７５ａ，１７５ｂは、回折格子を備えておらず、単
なる透明な平板上のガラス板である。それ故、この円形
領域に入射する光ビームは、そのまま直進して、二分割
光検知器６に照射される。光学素子１７５の円形領域１
７５ａ，１７５ｂの外側の領域１７５ｃ，１７５ｄに
は、プリズムが形成されている。回折格子は、回折効率
により回折される光量が変化するため、光量アンバラン
スを補正する際の誤差要因となる。入射する光がプリズ
ムで屈折させられる場合は、入射する光がすべて反対側
の光検知器に入射させられることが可能であり、補正精
度が高い。
【００６３】図１５は、光学素子の別の例を示す図であ
る。図１５（ａ）は、光学素子をビーム入射方向から見
た図である。図１５（ｂ）は、光学素子を透過する光の
光路を横から見た図である。図１５において、光学素子
１８５は、光ビームが集光される円形のレンズ領域１８
５ａ，１８５ｂを備える。この円形領域は、光ビームの
ビーム径と同じ、若しくは、それよりも僅かに小さな直
径の円である。この円形領域は、分割線で分割された二
つの領域１８５ａ，１８５ｂを含んでいる。この二つの
領域１８５ａ，１８５ｂは、回折格子を備えていない。
この円形領域に入射する光ビームは、この円形領域で更
に集光されて二分割光検知器６に照射される。光検知器
に入射する光ビームの集光スポットのサイズが縮小され
るので、光検知器を小さくすることが可能である。光検
知器は、一般に面積が小さいほど応答速度が早くなるた
め、正確なトラックエラー信号が得られる。光学素子１
８５の円形領域１８５ａ，１８５ｂの外側の領域１８５
ｃ，１８５ｄには、レンズが形成されている。このレン
ズは、二分割光検知器の分割線と平行な分割線で二分割
され、且つ入射する光ビームを分割線を挟んで反対側の
受光部に入射するように設計されている。つまり、この
光学素子１８５は、複数のレンズが複合された光学素子
である。本実施例によれば、図１４に示される実施例と
同様に回折効率の問題が解決される。
る。図１５（ａ）は、光学素子をビーム入射方向から見
た図である。図１５（ｂ）は、光学素子を透過する光の
光路を横から見た図である。図１５において、光学素子
１８５は、光ビームが集光される円形のレンズ領域１８
５ａ，１８５ｂを備える。この円形領域は、光ビームの
ビーム径と同じ、若しくは、それよりも僅かに小さな直
径の円である。この円形領域は、分割線で分割された二
つの領域１８５ａ，１８５ｂを含んでいる。この二つの
領域１８５ａ，１８５ｂは、回折格子を備えていない。
この円形領域に入射する光ビームは、この円形領域で更
に集光されて二分割光検知器６に照射される。光検知器
に入射する光ビームの集光スポットのサイズが縮小され
るので、光検知器を小さくすることが可能である。光検
知器は、一般に面積が小さいほど応答速度が早くなるた
め、正確なトラックエラー信号が得られる。光学素子１
８５の円形領域１８５ａ，１８５ｂの外側の領域１８５
ｃ，１８５ｄには、レンズが形成されている。このレン
ズは、二分割光検知器の分割線と平行な分割線で二分割
され、且つ入射する光ビームを分割線を挟んで反対側の
受光部に入射するように設計されている。つまり、この
光学素子１８５は、複数のレンズが複合された光学素子
である。本実施例によれば、図１４に示される実施例と
同様に回折効率の問題が解決される。
【００６４】図１６は、光学素子の更に別の例を示す図
である。図１６（ａ）は、光学素子をビーム入射方向か
ら見た図である。図１６（ｂ）は、光学素子を透過する
光の光路を横から見た図である。図１６において、光学
素子１９５は、その中央部に、二つの円錐プリズム１９
５ａ，１９５ｂを備える。この円形プリズムの外径は、
光ビームのビーム径と同じ、若しくは、それよりも僅か
に小さな直径である。この二つの領域１９５ａ，１９５
ｂは、回折格子を備えていない。第１の円錐プリズム１
９５ａに入射する光ビームは、円錐プリズム１９５ａに
より屈折させられて、分割線Ｌを挟んで反対側に配置さ
れる、二分割光検知器の受光部６ｂに入射する。第２の
円錐プリズム１９５ｂに入射する光ビームは、同様に、
円錐プリズム１９５ｂにより屈折させられて、分割線を
挟んで反対側に配置される受光部６ａに入射する。光学
素子１９５の二つの円錐プリズム１９５ａ，１９５ｂの
外側の領域１９５ｃ，１９５ｄは、光ビームを透過する
平面形状である。この外側領域１９５ｃを通過する光ビ
ームは、外側領域１９５ｃと同じ側に配置された受光部
６ａに入射する。外側領域１９５ｄを通過する光ビーム
は、外側領域１９５ｄと同じ側に配置された受光部６ｂ
に入射する。
である。図１６（ａ）は、光学素子をビーム入射方向か
ら見た図である。図１６（ｂ）は、光学素子を透過する
光の光路を横から見た図である。図１６において、光学
素子１９５は、その中央部に、二つの円錐プリズム１９
５ａ，１９５ｂを備える。この円形プリズムの外径は、
光ビームのビーム径と同じ、若しくは、それよりも僅か
に小さな直径である。この二つの領域１９５ａ，１９５
ｂは、回折格子を備えていない。第１の円錐プリズム１
９５ａに入射する光ビームは、円錐プリズム１９５ａに
より屈折させられて、分割線Ｌを挟んで反対側に配置さ
れる、二分割光検知器の受光部６ｂに入射する。第２の
円錐プリズム１９５ｂに入射する光ビームは、同様に、
円錐プリズム１９５ｂにより屈折させられて、分割線を
挟んで反対側に配置される受光部６ａに入射する。光学
素子１９５の二つの円錐プリズム１９５ａ，１９５ｂの
外側の領域１９５ｃ，１９５ｄは、光ビームを透過する
平面形状である。この外側領域１９５ｃを通過する光ビ
ームは、外側領域１９５ｃと同じ側に配置された受光部
６ａに入射する。外側領域１９５ｄを通過する光ビーム
は、外側領域１９５ｄと同じ側に配置された受光部６ｂ
に入射する。
【００６５】対物レンズ２０の光軸と集光光学系８の光
軸とがずれていない場合は、集光レンズ１１ａにより集
光される光ビームは、光学素子１９５の中心領域のみを
透過する。光学素子１９５の円錐プリズム１９５ａを通
過した光ビームは、二分割光検知器６の受光部６ｂに入
射する。光学素子１９５の円錐プリズム１９５ｂを通過
した光ビームは、二分割光検知器６の受光部６ａに入射
する。集光レンズ１１ａにより集光される光ビームの光
軸が光学素子１９５の光軸と一致している場合は、受光
部６ａの受光量と受光部６ｂの受光量は、光軸ずれによ
るアンバランスが発生していない。つまり、この場合
は、両受光量は、相対的に等しい。
軸とがずれていない場合は、集光レンズ１１ａにより集
光される光ビームは、光学素子１９５の中心領域のみを
透過する。光学素子１９５の円錐プリズム１９５ａを通
過した光ビームは、二分割光検知器６の受光部６ｂに入
射する。光学素子１９５の円錐プリズム１９５ｂを通過
した光ビームは、二分割光検知器６の受光部６ａに入射
する。集光レンズ１１ａにより集光される光ビームの光
軸が光学素子１９５の光軸と一致している場合は、受光
部６ａの受光量と受光部６ｂの受光量は、光軸ずれによ
るアンバランスが発生していない。つまり、この場合
は、両受光量は、相対的に等しい。
【００６６】対物レンズ２０の光軸が集光光学系８の光
軸からずれている場合は、集光レンズにより集光される
光ビームの光軸は、光学素子１９５の光軸からずれる。
光ビームの光軸が光学素子１９５の光軸から左方向にず
れたとすると、円錐プリズム１９５ｂを通過する光ビー
ムの光量が減少し、受光部６ａの受光量が減少する。受
光部６ａの受光量は、受光部６ｂの受光量に比して相対
的に低下する。ここで、光ビームは、平板領域１９５ｄ
を通過しないので、受光部６ｂに光量が加算されること
はない。光ビームの一部が平板領域１９５ｃを通過する
ので、この一部の光ビームの光量が受光部６ａに加算さ
れる。受光部６ａの受光量は、受光部６ｂの受光量に比
して相対的に増大する。それ故、受光部６ａの受光量が
増大し、受光部６ａと受光部６ｂの受光量のアンバラン
スが補正される。
軸からずれている場合は、集光レンズにより集光される
光ビームの光軸は、光学素子１９５の光軸からずれる。
光ビームの光軸が光学素子１９５の光軸から左方向にず
れたとすると、円錐プリズム１９５ｂを通過する光ビー
ムの光量が減少し、受光部６ａの受光量が減少する。受
光部６ａの受光量は、受光部６ｂの受光量に比して相対
的に低下する。ここで、光ビームは、平板領域１９５ｄ
を通過しないので、受光部６ｂに光量が加算されること
はない。光ビームの一部が平板領域１９５ｃを通過する
ので、この一部の光ビームの光量が受光部６ａに加算さ
れる。受光部６ａの受光量は、受光部６ｂの受光量に比
して相対的に増大する。それ故、受光部６ａの受光量が
増大し、受光部６ａと受光部６ｂの受光量のアンバラン
スが補正される。
【００６７】つまり、本実施例においては、光学素子１
９５の中心領域を通過する光が分割線を挟んで反対側の
受光部に受光されるように方向転換される一方、光学素
子１９５の外側領域を通過する光は、方向転換されるこ
となく、分割線を挟んで同じ側の受光部に受光される。
図１７は、光学素子の更に別の例を示す図である。図１
７（ａ）は、光学素子をビーム入射方向から見た図であ
る。図１７（ｂ）は、光学素子を透過する光の光路を横
から見た図である。図１７において、光学素子２０５
は、その中央部に、二つの回折格子２０５ａ，２０５ｂ
を備える。この回折格子の外径は、光学素子２０５を通
過する光ビームのビーム径と同じ、若しくは、それより
も僅かに小さな直径である。第１の回折格子２０５ａに
入射する光ビームは、第１の回折格子２０５ａにより屈
折させられて、分割線Ｌを挟んで反対側に配置される、
二分割光検知器の受光部６ｂに入射する。第２の回折格
子２０５ｂに入射する光ビームは、同様に、第２の回折
格子２０５ｂにより屈折させられて、分割線を挟んで反
対側に配置される受光部６ａに入射する。光学素子２０
５の二つの回折格子２０５ａ，２０５ｂの外側の領域２
０５ｃ，２０５ｄは、光ビームを透過する平面形状であ
る。この外側領域２０５ｃを通過する光ビームは、外側
領域２０５ｃと同じ側に配置された受光部６ａに入射す
る。外側領域２０５ｄを通過する光ビームは、外側領域
２０５ｄと同じ側に配置された受光部６ｂに入射する。
９５の中心領域を通過する光が分割線を挟んで反対側の
受光部に受光されるように方向転換される一方、光学素
子１９５の外側領域を通過する光は、方向転換されるこ
となく、分割線を挟んで同じ側の受光部に受光される。
図１７は、光学素子の更に別の例を示す図である。図１
７（ａ）は、光学素子をビーム入射方向から見た図であ
る。図１７（ｂ）は、光学素子を透過する光の光路を横
から見た図である。図１７において、光学素子２０５
は、その中央部に、二つの回折格子２０５ａ，２０５ｂ
を備える。この回折格子の外径は、光学素子２０５を通
過する光ビームのビーム径と同じ、若しくは、それより
も僅かに小さな直径である。第１の回折格子２０５ａに
入射する光ビームは、第１の回折格子２０５ａにより屈
折させられて、分割線Ｌを挟んで反対側に配置される、
二分割光検知器の受光部６ｂに入射する。第２の回折格
子２０５ｂに入射する光ビームは、同様に、第２の回折
格子２０５ｂにより屈折させられて、分割線を挟んで反
対側に配置される受光部６ａに入射する。光学素子２０
５の二つの回折格子２０５ａ，２０５ｂの外側の領域２
０５ｃ，２０５ｄは、光ビームを透過する平面形状であ
る。この外側領域２０５ｃを通過する光ビームは、外側
領域２０５ｃと同じ側に配置された受光部６ａに入射す
る。外側領域２０５ｄを通過する光ビームは、外側領域
２０５ｄと同じ側に配置された受光部６ｂに入射する。
【００６８】対物レンズ２０の光軸と集光光学系８の光
軸とがずれていない場合は、集光レンズ１１ａにより集
光される光ビームは、光学素子２０５の中心領域のみを
透過する。光学素子２０５の回折格子２０５ａを通過し
た光ビームは、二分割光検知器６の受光部６ｂに入射す
る。光学素子２０５の回折格子２０５ｂを通過した光ビ
ームは、二分割光検知器６の受光部６ａに入射する。集
光レンズ１１ａにより集光される光ビームの光軸が光学
素子２０５の光軸と一致している場合は、受光部６ａの
受光量と受光部６ｂの受光量は、光軸ずれによるアンバ
ランスが発生していない。つまり、この場合は、両者の
受光量は、相対的に等しい。
軸とがずれていない場合は、集光レンズ１１ａにより集
光される光ビームは、光学素子２０５の中心領域のみを
透過する。光学素子２０５の回折格子２０５ａを通過し
た光ビームは、二分割光検知器６の受光部６ｂに入射す
る。光学素子２０５の回折格子２０５ｂを通過した光ビ
ームは、二分割光検知器６の受光部６ａに入射する。集
光レンズ１１ａにより集光される光ビームの光軸が光学
素子２０５の光軸と一致している場合は、受光部６ａの
受光量と受光部６ｂの受光量は、光軸ずれによるアンバ
ランスが発生していない。つまり、この場合は、両者の
受光量は、相対的に等しい。
【００６９】対物レンズ２０の光軸が集光光学系８の光
軸からずれている場合は、集光レンズにより集光される
光ビームの光軸は、光学素子２０５の光軸からずれる。
光ビームの光軸が光学素子２０５の光軸から左方向にず
れたとすると、回折格子２０５ｂを通過する光ビームの
光量が減少し、受光部６ａの受光量が減少する。受光部
６ａの受光量は、受光部６ｂの受光量に比して相対的に
低下する。ここで、光ビームは、平板領域２０５ｄを通
過しないので、受光部６ｂに光量が加算されることはな
い。光ビームの一部が平板領域２０５ｃを通過するの
で、この一部の光ビームの光量が受光部６ａに加算され
る。受光部６ａの受光量は、受光部６ｂの受光量に比し
て相対的に増大する。それ故、受光部６ａの受光量が増
大し、受光部６ａと受光部６ｂの受光量のアンバランス
が補正される。それ故、トラックエラー信号のオフセッ
トが除去される。
軸からずれている場合は、集光レンズにより集光される
光ビームの光軸は、光学素子２０５の光軸からずれる。
光ビームの光軸が光学素子２０５の光軸から左方向にず
れたとすると、回折格子２０５ｂを通過する光ビームの
光量が減少し、受光部６ａの受光量が減少する。受光部
６ａの受光量は、受光部６ｂの受光量に比して相対的に
低下する。ここで、光ビームは、平板領域２０５ｄを通
過しないので、受光部６ｂに光量が加算されることはな
い。光ビームの一部が平板領域２０５ｃを通過するの
で、この一部の光ビームの光量が受光部６ａに加算され
る。受光部６ａの受光量は、受光部６ｂの受光量に比し
て相対的に増大する。それ故、受光部６ａの受光量が増
大し、受光部６ａと受光部６ｂの受光量のアンバランス
が補正される。それ故、トラックエラー信号のオフセッ
トが除去される。
【００７０】図１８は、光学素子の更に別の例を示す図
である。図１８（ａ）は、光学素子をビーム入射方向か
ら見た図である。図１８（ｂ）は、光学素子を透過する
光の光路を横から見た図である。図１８において、光学
素子２１５は、その中央部に、円形形状の第一の回折格
子２１５ａを備える。この回折格子の外径は、光学素子
２１５を通過する光ビームのビーム径と同じ、若しく
は、それよりも僅かに小さな直径である。二分割光検知
器６は、分割線Ｌに沿って、光学素子２１５の光軸から
図中右方向にシフトした位置に設けられている。第１の
回折格子２１５ａは、第１の回折格子２１５ａに入射す
る光ビームを二分割光検知器６に入射するように、光ビ
ームの光路を方向転換する。光学素子２１５は、第１の
回折格子２１５ａの外側領域に、第２と第３の回折格子
２１５ｃ，２１５ｄを備える。第２の回折格子２１５ｃ
は、第２の回折格子２１５ｃを通過する光ビームを、分
割線Ｌを挟んで第２の回折格子２１５ｃとは反対側に配
置された受光部６ａに入射するように、光ビームの光路
を方向転換する。第３の回折格子２１５ｄは、第３の回
折格子２１５ｄを通過する光ビームを、分割線Ｌを挟ん
で第３の回折格子２１５ｄとは反対側に配置された受光
部６ｂに入射するように、光ビームの光路を方向転換す
る。
である。図１８（ａ）は、光学素子をビーム入射方向か
ら見た図である。図１８（ｂ）は、光学素子を透過する
光の光路を横から見た図である。図１８において、光学
素子２１５は、その中央部に、円形形状の第一の回折格
子２１５ａを備える。この回折格子の外径は、光学素子
２１５を通過する光ビームのビーム径と同じ、若しく
は、それよりも僅かに小さな直径である。二分割光検知
器６は、分割線Ｌに沿って、光学素子２１５の光軸から
図中右方向にシフトした位置に設けられている。第１の
回折格子２１５ａは、第１の回折格子２１５ａに入射す
る光ビームを二分割光検知器６に入射するように、光ビ
ームの光路を方向転換する。光学素子２１５は、第１の
回折格子２１５ａの外側領域に、第２と第３の回折格子
２１５ｃ，２１５ｄを備える。第２の回折格子２１５ｃ
は、第２の回折格子２１５ｃを通過する光ビームを、分
割線Ｌを挟んで第２の回折格子２１５ｃとは反対側に配
置された受光部６ａに入射するように、光ビームの光路
を方向転換する。第３の回折格子２１５ｄは、第３の回
折格子２１５ｄを通過する光ビームを、分割線Ｌを挟ん
で第３の回折格子２１５ｄとは反対側に配置された受光
部６ｂに入射するように、光ビームの光路を方向転換す
る。
【００７１】対物レンズ２０の光軸と集光光学系８の光
軸とがずれていない場合は、集光レンズ１１ａにより集
光される光ビームは、光学素子２１５の中心領域のみを
透過する。集光レンズ１１ａにより集光される光ビーム
の光軸が光学素子２１５の光軸と一致しているので、光
学素子２１５の回折格子２１５ａを通過した光ビーム
は、二分割光検知器６の受光部６ａ，６ｂに均等に入射
する。二分割光検知器６上に形成される集光スポットの
光軸が二分割光検知器６の分割線上に位置するように、
光ビームが二分割光検知器６上に入射する。
軸とがずれていない場合は、集光レンズ１１ａにより集
光される光ビームは、光学素子２１５の中心領域のみを
透過する。集光レンズ１１ａにより集光される光ビーム
の光軸が光学素子２１５の光軸と一致しているので、光
学素子２１５の回折格子２１５ａを通過した光ビーム
は、二分割光検知器６の受光部６ａ，６ｂに均等に入射
する。二分割光検知器６上に形成される集光スポットの
光軸が二分割光検知器６の分割線上に位置するように、
光ビームが二分割光検知器６上に入射する。
【００７２】対物レンズ２０の光軸が集光光学系８の光
軸からずれている場合は、集光レンズにより集光される
光ビームの光軸は、光学素子２１５の光軸からずれる。
光ビームの光軸が光学素子２１５の光軸から図中下方向
にずれたとすると、二分割光検知器６上に形成される集
光スポットは、図中下方向にずれる。集光スポットの結
像位置が下方にずれたため、受光部６ａの受光量が受光
部６ｂの受光量に比して相対的に減少する。ここで、光
ビームは、第３の回折格子２１５ｄを通過しないので、
受光部６ｂに光量が加算されることはない。一方、光ビ
ームの一部が第２の回折格子２１５ｃを通過するので、
この一部の光ビームの光量が受光部６ａに加算される。
受光部６ａの受光量は、受光部６ｂの受光量に比して相
対的に増大する。それ故、受光部６ａの受光量が増大
し、受光部６ａと受光部６ｂの受光量のアンバランスが
補正される。それ故、トラックエラー信号のオフセット
が除去される。本実施例によれば、二分割光検知器の配
置位置は、任意に設定可能である。二分割光検知器の配
置位置に合わせて、光学素子に設けられる回折格子の回
折方向が設定される。
軸からずれている場合は、集光レンズにより集光される
光ビームの光軸は、光学素子２１５の光軸からずれる。
光ビームの光軸が光学素子２１５の光軸から図中下方向
にずれたとすると、二分割光検知器６上に形成される集
光スポットは、図中下方向にずれる。集光スポットの結
像位置が下方にずれたため、受光部６ａの受光量が受光
部６ｂの受光量に比して相対的に減少する。ここで、光
ビームは、第３の回折格子２１５ｄを通過しないので、
受光部６ｂに光量が加算されることはない。一方、光ビ
ームの一部が第２の回折格子２１５ｃを通過するので、
この一部の光ビームの光量が受光部６ａに加算される。
受光部６ａの受光量は、受光部６ｂの受光量に比して相
対的に増大する。それ故、受光部６ａの受光量が増大
し、受光部６ａと受光部６ｂの受光量のアンバランスが
補正される。それ故、トラックエラー信号のオフセット
が除去される。本実施例によれば、二分割光検知器の配
置位置は、任意に設定可能である。二分割光検知器の配
置位置に合わせて、光学素子に設けられる回折格子の回
折方向が設定される。
【００７３】図１９は、光ディスク装置の別の例を示す
図である。図１９において、光源７から出射された光ビ
ームは、コリメータレンズ１２により平行な光ビームと
なる。このコヒーレントな光ビームは、ビームスプリッ
タ１３を通過した後、対物レンズ２０により集光され
る。この集光された光ビームは、ディスク９に照射され
る。対物レンズ２０は、光ビームスポットをディスク９
上に形成する。このディスク９は、多数の情報トラック
が形成された光ディスクである。図１９において、コリ
メータレンズ１２とビームスプリッタ１３と対物レンズ
２０を含んで構成される光学系は、集光光学系８と称さ
れる。ディスク９の記録面上に集光された光ビームは、
記録面で反射される。また、この光ビームは、ディスク
９上に記録された情報に従って回折される。反射された
光ビームは、対物レンズ２０を通過する際に平行光に戻
る。その後、反射光ビームは、ビームスプリッタ１３に
よって、その光路が９０°曲げられる。その光路が方向
転換された光ビームは、フォーカスエラー検出用の光学
系１０に入射される。
図である。図１９において、光源７から出射された光ビ
ームは、コリメータレンズ１２により平行な光ビームと
なる。このコヒーレントな光ビームは、ビームスプリッ
タ１３を通過した後、対物レンズ２０により集光され
る。この集光された光ビームは、ディスク９に照射され
る。対物レンズ２０は、光ビームスポットをディスク９
上に形成する。このディスク９は、多数の情報トラック
が形成された光ディスクである。図１９において、コリ
メータレンズ１２とビームスプリッタ１３と対物レンズ
２０を含んで構成される光学系は、集光光学系８と称さ
れる。ディスク９の記録面上に集光された光ビームは、
記録面で反射される。また、この光ビームは、ディスク
９上に記録された情報に従って回折される。反射された
光ビームは、対物レンズ２０を通過する際に平行光に戻
る。その後、反射光ビームは、ビームスプリッタ１３に
よって、その光路が９０°曲げられる。その光路が方向
転換された光ビームは、フォーカスエラー検出用の光学
系１０に入射される。
【００７４】フォーカスエラー検出用の光学系１０は、
四分割フォトディテクタ５と、集光された光ビームのス
ポット形状に非対称性を導入する光学素子１０ａと、及
びこの四分割フォトディテクタ５上に光ビームを集光す
る集光レンズ１０ｂと、を備える。光学素子１０ａは、
図６に示されるような二枚のガラス板を含んで構成され
る。このフォーカスエラーの検出方法は、フーコー法と
称される。フォーカスエラーの検出方法は、フーコー法
以外の種々の検出方法が適用可能である。例えば、フォ
ーカスエラーの検出方法は、シリンドリカルレンズを用
いる非点収差法が適用可能である。
四分割フォトディテクタ５と、集光された光ビームのス
ポット形状に非対称性を導入する光学素子１０ａと、及
びこの四分割フォトディテクタ５上に光ビームを集光す
る集光レンズ１０ｂと、を備える。光学素子１０ａは、
図６に示されるような二枚のガラス板を含んで構成され
る。このフォーカスエラーの検出方法は、フーコー法と
称される。フォーカスエラーの検出方法は、フーコー法
以外の種々の検出方法が適用可能である。例えば、フォ
ーカスエラーの検出方法は、シリンドリカルレンズを用
いる非点収差法が適用可能である。
【００７５】尚、ビームスプリッタ１３により方向転換
された光ビームは、ビームスプリッタ１３とフォーカス
エラー検出用の光学系１０との間に配置される、図示さ
れないビームスプリッタにより、ディスク９上に記録さ
れた情報を再生する再生光学系（図示されない）に入射
する光ビームと、光学系１０に入射する光ビームとに分
けられる。この再生光学系は、図６に示されるような、
ウォラストンプリズム１２６と、集光レンズ１３０と、
光磁気検出用の二分割光検知器１３２とを含んで構成さ
れる。この場合、ディスク９は、ＩＳＯフォーマットに
準拠した３．５インチの光磁気ディスク媒体である。
された光ビームは、ビームスプリッタ１３とフォーカス
エラー検出用の光学系１０との間に配置される、図示さ
れないビームスプリッタにより、ディスク９上に記録さ
れた情報を再生する再生光学系（図示されない）に入射
する光ビームと、光学系１０に入射する光ビームとに分
けられる。この再生光学系は、図６に示されるような、
ウォラストンプリズム１２６と、集光レンズ１３０と、
光磁気検出用の二分割光検知器１３２とを含んで構成さ
れる。この場合、ディスク９は、ＩＳＯフォーマットに
準拠した３．５インチの光磁気ディスク媒体である。
【００７６】対物レンズ２０により形成される光ビーム
スポットとディスク９上のトラックとの間のずれを検出
するトラッキングエラー検出用の光学系は、集光光学系
８とパッケージ２２０を含んで構成される。パッケージ
２２０は、半導体レーザで構成される光源７、トラッキ
ングエラーを検出するための二分割光検知器２２６、及
び光学素子２２５を搭載する。この二分割光検知器２２
６と光学素子２２５は、図１８に示される光学素子２１
５と二分割光検知器６と同様の構成である。この光学素
子２２５は、中心部に円形形状の第１の回折格子２１５
ａを備える。第１の回折格子２１５ａは、第１の回折格
子２１５ａを通過する光ビームを、二分割光検知器６の
受光部６ａ，６ｂに入射させる。光ビームの光軸が集光
光学系８の光軸と一致している場合、第１の回折格子２
１５ａは、二分割光検知器６上に形成される集光スポッ
トの光軸が二分割光検知器６の分割線上に位置するよう
に、回折された光ビームを二分割光検知器６上に入射さ
せる。光学素子２１５は、第１の回折格子２１５ａの外
側領域に、第２と第３の回折格子２１５ｃ，２１５ｄを
備える。第２の回折格子２１５ｃは、第２の回折格子２
１５ｃを通過する光ビームを、分割線Ｌを挟んで第２の
回折格子２１５ｃとは反対側に配置された受光部６ａに
入射するように、光ビームの光路を方向転換する。第３
の回折格子２１５ｄは、第３の回折格子２１５ｄを通過
する光ビームを、分割線Ｌを挟んで第３の回折格子２１
５ｄとは反対側に配置された受光部６ｂに入射するよう
に、光ビームの光路を方向転換する。
スポットとディスク９上のトラックとの間のずれを検出
するトラッキングエラー検出用の光学系は、集光光学系
８とパッケージ２２０を含んで構成される。パッケージ
２２０は、半導体レーザで構成される光源７、トラッキ
ングエラーを検出するための二分割光検知器２２６、及
び光学素子２２５を搭載する。この二分割光検知器２２
６と光学素子２２５は、図１８に示される光学素子２１
５と二分割光検知器６と同様の構成である。この光学素
子２２５は、中心部に円形形状の第１の回折格子２１５
ａを備える。第１の回折格子２１５ａは、第１の回折格
子２１５ａを通過する光ビームを、二分割光検知器６の
受光部６ａ，６ｂに入射させる。光ビームの光軸が集光
光学系８の光軸と一致している場合、第１の回折格子２
１５ａは、二分割光検知器６上に形成される集光スポッ
トの光軸が二分割光検知器６の分割線上に位置するよう
に、回折された光ビームを二分割光検知器６上に入射さ
せる。光学素子２１５は、第１の回折格子２１５ａの外
側領域に、第２と第３の回折格子２１５ｃ，２１５ｄを
備える。第２の回折格子２１５ｃは、第２の回折格子２
１５ｃを通過する光ビームを、分割線Ｌを挟んで第２の
回折格子２１５ｃとは反対側に配置された受光部６ａに
入射するように、光ビームの光路を方向転換する。第３
の回折格子２１５ｄは、第３の回折格子２１５ｄを通過
する光ビームを、分割線Ｌを挟んで第３の回折格子２１
５ｄとは反対側に配置された受光部６ｂに入射するよう
に、光ビームの光路を方向転換する。
【００７７】半導体レーザ７から出射された光ビーム
は、光学素子２２５を通過する際に、回折されない光
は、そのまま直進する。ディスク９で反射した光ビーム
は、コリメータレンズ１２により、二分割光検知器２２
６上に集光される。光磁気ディスク媒体９は、トラック
とグルーブが交互に形成されている。ディスク９上のグ
ルーブにより回折された光ビームは、集光光学系８を介
して、二分割光検知器２２６に入射される。二分割光検
知器２２６は、周知のプッシュプル法を用いて、トラッ
ク中心と対物レンズ２０によりディスク９上に形成され
るビームスポットとの間のずれを検知する。
は、光学素子２２５を通過する際に、回折されない光
は、そのまま直進する。ディスク９で反射した光ビーム
は、コリメータレンズ１２により、二分割光検知器２２
６上に集光される。光磁気ディスク媒体９は、トラック
とグルーブが交互に形成されている。ディスク９上のグ
ルーブにより回折された光ビームは、集光光学系８を介
して、二分割光検知器２２６に入射される。二分割光検
知器２２６は、周知のプッシュプル法を用いて、トラッ
ク中心と対物レンズ２０によりディスク９上に形成され
るビームスポットとの間のずれを検知する。
【００７８】本実施例によれば、二分割光検出器２２６
は、光軸４ａ上に配置されなくても良いため、光源７と
二分割光検出器２２６とが同平面上に配置されることが
可能になる。従って、光源７と二分割光検出器２２６
は、パッケージ２２０の底面に搭載されることができ、
且つ光源７と二分割光検出器２２６に用いられる電気回
路系が一体化されることができる。更に、トラッキング
エラー検出のために光ビームを偏光するビームスプリッ
タが不必要となるので、光学装置が小型化及び低価格化
されると共に、ビームスプリッタを通過する際の光量損
失が起こらない。更に、光学素子２２５がパッケージ２
２０に取り付けられることができるので、トラッキング
エラー検出用の光学系の構成が簡単化される。更に、ト
ラックエラー検出に用いられる光が全て回折光であるの
で、光学素子を構成する全ての回折格子の空間周波数が
同等に設定されれば、回折効率が同等に設定されるた
め、入射光量の計算が容易化される。
は、光軸４ａ上に配置されなくても良いため、光源７と
二分割光検出器２２６とが同平面上に配置されることが
可能になる。従って、光源７と二分割光検出器２２６
は、パッケージ２２０の底面に搭載されることができ、
且つ光源７と二分割光検出器２２６に用いられる電気回
路系が一体化されることができる。更に、トラッキング
エラー検出のために光ビームを偏光するビームスプリッ
タが不必要となるので、光学装置が小型化及び低価格化
されると共に、ビームスプリッタを通過する際の光量損
失が起こらない。更に、光学素子２２５がパッケージ２
２０に取り付けられることができるので、トラッキング
エラー検出用の光学系の構成が簡単化される。更に、ト
ラックエラー検出に用いられる光が全て回折光であるの
で、光学素子を構成する全ての回折格子の空間周波数が
同等に設定されれば、回折効率が同等に設定されるた
め、入射光量の計算が容易化される。
【００７９】図２０は、光学装置の別の例を示す図であ
る。図２０（ａ）は、光学素子をビーム入射方向から見
た図である。図２０（ｂ）は、光学素子を透過する光の
光路を横から見た図である。図２０において、光学素子
２３５は、その中央部に、円形領域の回折格子を備え
る。この回折格子の外径は、光学素子２３５を通過する
光ビームのビーム径と同じ、若しくは、それよりも僅か
に小さな直径である。この回折格子は、第１と第２の回
折格子２３５ａ，２３５ｂから構成される。第１と第２
の回折格子２３５ａ，２３５ｂは、トラック方向と平行
な分割線Ｌで二つに分けられている。二つの光検知器２
３６，２３８は、分割線と線対象な位置に配置されてい
る。第１の回折格子２３５ａは、第１の回折格子２３５
ａに入射する光ビームを光検知器２３６に入射するよう
に、光ビームの光路を方向転換をする。第２の回折格子
２３５ｂは、第２の回折格子２３５ｂに入射する光ビー
ムを光検知器２３８に入射するように、光ビームの光路
を方向転換する。光学素子２３５は、第１と第２の回折
格子２３５ａ，２３５ｂの外側領域に、第３と第４の回
折格子２３５ｃ，２３５ｄを備える。第３の回折格子２
３５ｃは、第３の回折格子２３５ｃを通過する光ビーム
を、分割線Ｌを挟んで第３の回折格子２３５ｃとは反対
側に配置された光検知器２３８に入射するように、光ビ
ームの光路を方向転換する。第４の回折格子２３５ｄ
は、第４の回折格子２３５ｄを通過する光ビームを、分
割線Ｌ（又は光軸４ａ）を挟んで第４の回折格子２３５
ｄとは反対側に配置された光検知器２３６に入射するよ
うに、光ビームの光路を方向を転換する。
る。図２０（ａ）は、光学素子をビーム入射方向から見
た図である。図２０（ｂ）は、光学素子を透過する光の
光路を横から見た図である。図２０において、光学素子
２３５は、その中央部に、円形領域の回折格子を備え
る。この回折格子の外径は、光学素子２３５を通過する
光ビームのビーム径と同じ、若しくは、それよりも僅か
に小さな直径である。この回折格子は、第１と第２の回
折格子２３５ａ，２３５ｂから構成される。第１と第２
の回折格子２３５ａ，２３５ｂは、トラック方向と平行
な分割線Ｌで二つに分けられている。二つの光検知器２
３６，２３８は、分割線と線対象な位置に配置されてい
る。第１の回折格子２３５ａは、第１の回折格子２３５
ａに入射する光ビームを光検知器２３６に入射するよう
に、光ビームの光路を方向転換をする。第２の回折格子
２３５ｂは、第２の回折格子２３５ｂに入射する光ビー
ムを光検知器２３８に入射するように、光ビームの光路
を方向転換する。光学素子２３５は、第１と第２の回折
格子２３５ａ，２３５ｂの外側領域に、第３と第４の回
折格子２３５ｃ，２３５ｄを備える。第３の回折格子２
３５ｃは、第３の回折格子２３５ｃを通過する光ビーム
を、分割線Ｌを挟んで第３の回折格子２３５ｃとは反対
側に配置された光検知器２３８に入射するように、光ビ
ームの光路を方向転換する。第４の回折格子２３５ｄ
は、第４の回折格子２３５ｄを通過する光ビームを、分
割線Ｌ（又は光軸４ａ）を挟んで第４の回折格子２３５
ｄとは反対側に配置された光検知器２３６に入射するよ
うに、光ビームの光路を方向を転換する。
【００８０】図２１は、図２０に示される光学装置を備
える光ディスク装置の構成を示す図である。図２１にお
いて、光源７から出射された光ビームは、コリメータレ
ンズ１２により平行な光ビームとなる。このコヒーレン
トな光ビームは、ビームスプリッタ１３を通過した後、
対物レンズ２０により集光される。この集光された光ビ
ームは、ディスク９に照射される。対物レンズ２０は、
光ビームスポットをディスク９上に形成する。このディ
スク９は、多数の情報トラックが形成された光ディスク
である。図２１において、コリメータレンズ１２とビー
ムスプリッタ１３と対物レンズ２０を含んで構成される
光学系は、集光光学系８と称される。ディスク９の記録
面上に集光された光ビームは、記録面で反射される。ま
た、この光ビームは、ディスク９上に記録された情報に
従って回折される。反射された光ビームは、対物レンズ
２０を通過する際にコヒーレントな光に戻る。その後、
反射光ビームは、ビームスプリッタ１３によって、その
光路が９０°曲げられる。その光路が方向転換された光
ビームは、フォーカスエラー検出用の光学系１０に入射
される。
える光ディスク装置の構成を示す図である。図２１にお
いて、光源７から出射された光ビームは、コリメータレ
ンズ１２により平行な光ビームとなる。このコヒーレン
トな光ビームは、ビームスプリッタ１３を通過した後、
対物レンズ２０により集光される。この集光された光ビ
ームは、ディスク９に照射される。対物レンズ２０は、
光ビームスポットをディスク９上に形成する。このディ
スク９は、多数の情報トラックが形成された光ディスク
である。図２１において、コリメータレンズ１２とビー
ムスプリッタ１３と対物レンズ２０を含んで構成される
光学系は、集光光学系８と称される。ディスク９の記録
面上に集光された光ビームは、記録面で反射される。ま
た、この光ビームは、ディスク９上に記録された情報に
従って回折される。反射された光ビームは、対物レンズ
２０を通過する際にコヒーレントな光に戻る。その後、
反射光ビームは、ビームスプリッタ１３によって、その
光路が９０°曲げられる。その光路が方向転換された光
ビームは、フォーカスエラー検出用の光学系１０に入射
される。
【００８１】フォーカスエラー検出用の光学系１０は、
四分割フォトディテクタ５と、集光された光ビームのス
ポット形状に非対称性を導入する光学素子１０ａと、及
びこの四分割フォトディテクタ５上に光ビームを集光す
る集光レンズ１０ｂと、を備える。光学素子１０ａは、
図６に示されるような二枚のガラス板を含んで構成され
る。
四分割フォトディテクタ５と、集光された光ビームのス
ポット形状に非対称性を導入する光学素子１０ａと、及
びこの四分割フォトディテクタ５上に光ビームを集光す
る集光レンズ１０ｂと、を備える。光学素子１０ａは、
図６に示されるような二枚のガラス板を含んで構成され
る。
【００８２】ビームスプリッタ１３により方向転換され
た光ビームは、ビームスプリッタ１３とフォーカスエラ
ー検出用の光学系１０との間に配置される、図示されな
いビームスプリッタにより、ディスク９上に記録された
情報を再生する再生光学系（図示されない）に入射する
光ビームと、光学系１０に入射する光ビームとに分けら
れる。
た光ビームは、ビームスプリッタ１３とフォーカスエラ
ー検出用の光学系１０との間に配置される、図示されな
いビームスプリッタにより、ディスク９上に記録された
情報を再生する再生光学系（図示されない）に入射する
光ビームと、光学系１０に入射する光ビームとに分けら
れる。
【００８３】対物レンズ２０により形成される光ビーム
スポットとディスク９上のトラックとの間のずれを検出
するトラッキングエラー検出用の光学系は、集光光学系
８とパッケージ２３０を含んで構成される。パッケージ
２３０は、半導体レーザで構成される光源７、トラッキ
ングエラーを検出するための二つの光検知器２３６、２
３８、及び光学素子２３５を搭載する。この二つの光検
知器２３６、２３８、及び光学素子２３５は、図２０に
示される光学装置である。
スポットとディスク９上のトラックとの間のずれを検出
するトラッキングエラー検出用の光学系は、集光光学系
８とパッケージ２３０を含んで構成される。パッケージ
２３０は、半導体レーザで構成される光源７、トラッキ
ングエラーを検出するための二つの光検知器２３６、２
３８、及び光学素子２３５を搭載する。この二つの光検
知器２３６、２３８、及び光学素子２３５は、図２０に
示される光学装置である。
【００８４】半導体レーザ７から出射された光ビーム
は、光学素子２３５を通過する際に、回折されない光が
そのまま直進する。ディスク９で反射した光ビームは、
集光光学系８を通過した後、コリメータレンズ１２によ
り集光される。集光される光ビームは、パッケージ２３
０に向かう。コリメータレンズ１２により集光される光
ビームは、光学素子２３５を通過する際に、第１と第２
の回折格子２３５ａ，２３５ｂにより回折されて、光検
知器２３６、２３８に入射される。二つの光検知器２３
６、２３８の差分出力は、トラック中心と対物レンズ２
０によりディスク９上に形成されるビームスポットとの
間のずれを表すトラキッグエラー信号として出力され
る。
は、光学素子２３５を通過する際に、回折されない光が
そのまま直進する。ディスク９で反射した光ビームは、
集光光学系８を通過した後、コリメータレンズ１２によ
り集光される。集光される光ビームは、パッケージ２３
０に向かう。コリメータレンズ１２により集光される光
ビームは、光学素子２３５を通過する際に、第１と第２
の回折格子２３５ａ，２３５ｂにより回折されて、光検
知器２３６、２３８に入射される。二つの光検知器２３
６、２３８の差分出力は、トラック中心と対物レンズ２
０によりディスク９上に形成されるビームスポットとの
間のずれを表すトラキッグエラー信号として出力され
る。
【００８５】対物レンズ２０の光軸と集光光学系８の光
軸とがずれていない場合は、コリメータレンズ１２によ
り集光される光ビームは、光学素子２３５の第１と第２
の回折格子２３５ａ，２３５ｂで構成される円形領域内
のみを通過する。光学素子２３５の第１の回折格子２３
５ａ及び第２の回折格子２３５ｂを通過した光ビーム
は、二つの光検知器２３６、２３８にその光量が均等と
なるように入射する。
軸とがずれていない場合は、コリメータレンズ１２によ
り集光される光ビームは、光学素子２３５の第１と第２
の回折格子２３５ａ，２３５ｂで構成される円形領域内
のみを通過する。光学素子２３５の第１の回折格子２３
５ａ及び第２の回折格子２３５ｂを通過した光ビーム
は、二つの光検知器２３６、２３８にその光量が均等と
なるように入射する。
【００８６】対物レンズ２０の光軸が集光光学系８の光
軸からずれている場合は、コリメータレンズにより集光
される光ビームの光軸４ａは、光学素子２３５の光軸か
らずれる。光ビームの光軸４ａが光学素子２３５の光軸
から図中下方向にずれたとすると、第１の回折格子２３
５ａを通過する光ビームの光量が低下し、光検知器２３
６の受光量が低下する。つまり、光検知器２３６の受光
量が光検知器２３８の受光量に比して相対的に減少す
る。ここで、光ビームは、第３の回折格子２３５ｃを通
過しないので、光検知器２３８に光量が加算されること
はない。一方、光ビームの一部が第４の回折格子２３５
ｄを通過するので、この一部の光ビームの光量が光検知
器２３６に加算される。光検知器２３６の受光量は、光
検知器２３８の受光量に比して相対的に増大する。それ
故、光検知器２３６の受光量が増大し、光検知器２３６
と光検知器２３８の受光量のアンバランスが補正され
る。それ故、トラックエラー信号のオフセットが除去さ
れる。
軸からずれている場合は、コリメータレンズにより集光
される光ビームの光軸４ａは、光学素子２３５の光軸か
らずれる。光ビームの光軸４ａが光学素子２３５の光軸
から図中下方向にずれたとすると、第１の回折格子２３
５ａを通過する光ビームの光量が低下し、光検知器２３
６の受光量が低下する。つまり、光検知器２３６の受光
量が光検知器２３８の受光量に比して相対的に減少す
る。ここで、光ビームは、第３の回折格子２３５ｃを通
過しないので、光検知器２３８に光量が加算されること
はない。一方、光ビームの一部が第４の回折格子２３５
ｄを通過するので、この一部の光ビームの光量が光検知
器２３６に加算される。光検知器２３６の受光量は、光
検知器２３８の受光量に比して相対的に増大する。それ
故、光検知器２３６の受光量が増大し、光検知器２３６
と光検知器２３８の受光量のアンバランスが補正され
る。それ故、トラックエラー信号のオフセットが除去さ
れる。
【００８７】本実施例においては、図１９に示される光
ディスク装置と同様の効果が得られる。更に、図１９に
示される実施例の二分割光検知器は、光ビームの光軸と
分割線とが一致するように取り付けられなければならな
いために、作業時間が多大となる一方、二つの光検知器
２３６，２３８が独立して取り付け可能な本実施例は、
取り付け作業が簡単化される。
ディスク装置と同様の効果が得られる。更に、図１９に
示される実施例の二分割光検知器は、光ビームの光軸と
分割線とが一致するように取り付けられなければならな
いために、作業時間が多大となる一方、二つの光検知器
２３６，２３８が独立して取り付け可能な本実施例は、
取り付け作業が簡単化される。
【００８８】図２２は、光学装置の更に別の例を示す図
である。図２２（ａ）は、光学素子をビーム入射方向か
ら見た図である。図２２（ｂ）は、光学素子を透過する
光の光路を横から見た図である。図２２において、光学
素子２４５は、五つの回折格子を含んで構成される。第
１と第２の回折格子２４５ａ，２４５ｂは、トラック方
向と平行な分割線Ｌで二つに分けられている。二つの光
検知器２４６，２４８は、分割線と線対象な位置に配置
されている。第１の回折格子２４５ａは、第１の回折格
子２４５ａに入射する光ビームを光検知器２４６に入射
するように、光ビームの光路を方向転換する。第２の回
折格子２４５ｂは、第２の回折格子２４５ｂに入射する
光ビームを光検知器２４８に入射するように、光ビーム
の光路を方向転換する。第１と第２の回折格子２４５
ａ、２４５ｂは、円形領域を形成する。この第１と第２
の回折格子２４５ａ，２４５ｂが請求項９に規定された
第１の回折格子に相当する。
である。図２２（ａ）は、光学素子をビーム入射方向か
ら見た図である。図２２（ｂ）は、光学素子を透過する
光の光路を横から見た図である。図２２において、光学
素子２４５は、五つの回折格子を含んで構成される。第
１と第２の回折格子２４５ａ，２４５ｂは、トラック方
向と平行な分割線Ｌで二つに分けられている。二つの光
検知器２４６，２４８は、分割線と線対象な位置に配置
されている。第１の回折格子２４５ａは、第１の回折格
子２４５ａに入射する光ビームを光検知器２４６に入射
するように、光ビームの光路を方向転換する。第２の回
折格子２４５ｂは、第２の回折格子２４５ｂに入射する
光ビームを光検知器２４８に入射するように、光ビーム
の光路を方向転換する。第１と第２の回折格子２４５
ａ、２４５ｂは、円形領域を形成する。この第１と第２
の回折格子２４５ａ，２４５ｂが請求項９に規定された
第１の回折格子に相当する。
【００８９】この光学素子２４５は、第１と第２の回折
格子２４５ａ，２４５ｂの外側領域に、第３と第４の回
折格子２４５ｃ，２４５ｄを備える。第３の回折格子２
４５ｃは、第３の回折格子２４５ｃを通過する光ビーム
を、分割線Ｌを挟んで第３の回折格子２４５ｃとは反対
側に配置された光検知器２４８に入射するように、光ビ
ームの光路を方向転換する。第４の回折格子２４５ｄ
は、第４の回折格子２４５ｄを通過する光ビームを、分
割線Ｌ（又は光軸４ａ）を挟んで第４の回折格子２４５
ｄとは反対側に配置された光検知器２４６に入射するよ
うに、光ビームの光路を方向転換する。この第３と第４
の回折格子２４５ｃ，２４５ｄが請求項９に規定された
第２の回折格子に相当する。
格子２４５ａ，２４５ｂの外側領域に、第３と第４の回
折格子２４５ｃ，２４５ｄを備える。第３の回折格子２
４５ｃは、第３の回折格子２４５ｃを通過する光ビーム
を、分割線Ｌを挟んで第３の回折格子２４５ｃとは反対
側に配置された光検知器２４８に入射するように、光ビ
ームの光路を方向転換する。第４の回折格子２４５ｄ
は、第４の回折格子２４５ｄを通過する光ビームを、分
割線Ｌ（又は光軸４ａ）を挟んで第４の回折格子２４５
ｄとは反対側に配置された光検知器２４６に入射するよ
うに、光ビームの光路を方向転換する。この第３と第４
の回折格子２４５ｃ，２４５ｄが請求項９に規定された
第２の回折格子に相当する。
【００９０】第５の回折格子２４５ｅは、フォーカスエ
ラーを検知するために設けられている。二分割光検知器
２４９が光検知器２４６、２４８と同一平面上に配置さ
れている。第５の回折格子２４５ｅは、第５の回折格子
２４５ｅを通過する光ビームを二分割光検知器２４９に
入射させる。この第５の回折格子２４５ｅは、請求項９
に規定された第３の回折格子に相当する。これらの第１
〜第５の回折格子２４５ａ〜２４５ｅは、縞形状が異な
る、つまり、相互に異なる格子形状である。
ラーを検知するために設けられている。二分割光検知器
２４９が光検知器２４６、２４８と同一平面上に配置さ
れている。第５の回折格子２４５ｅは、第５の回折格子
２４５ｅを通過する光ビームを二分割光検知器２４９に
入射させる。この第５の回折格子２４５ｅは、請求項９
に規定された第３の回折格子に相当する。これらの第１
〜第５の回折格子２４５ａ〜２４５ｅは、縞形状が異な
る、つまり、相互に異なる格子形状である。
【００９１】図２３は、図２２に示される光学装置を備
える光ディスク装置の構成を示す図である。図２３にお
いて、光源７から出射された光ビームは、コリメータレ
ンズ１２により平行な光ビームとなる。半導体レーザで
構成される光源７は、パッケージ２４０のハウジングの
底面上に搭載されている。光学素子２４５は、コリメー
タレンズ１２と対面するハウジング上の位置に取り付け
られている。二つの光検知器２４６、２４８及び二分割
光検知器２４９は、半導体レーザ７が搭載されるハウジ
ングの底面上に固定されている。光学素子２４５を構成
する複数の回折格子２４５ａ〜２４５ｅは、それ故、光
学系又は集光レンズに相当するコリメータレンズ１２と
光検知器との間に配置されている。
える光ディスク装置の構成を示す図である。図２３にお
いて、光源７から出射された光ビームは、コリメータレ
ンズ１２により平行な光ビームとなる。半導体レーザで
構成される光源７は、パッケージ２４０のハウジングの
底面上に搭載されている。光学素子２４５は、コリメー
タレンズ１２と対面するハウジング上の位置に取り付け
られている。二つの光検知器２４６、２４８及び二分割
光検知器２４９は、半導体レーザ７が搭載されるハウジ
ングの底面上に固定されている。光学素子２４５を構成
する複数の回折格子２４５ａ〜２４５ｅは、それ故、光
学系又は集光レンズに相当するコリメータレンズ１２と
光検知器との間に配置されている。
【００９２】このコヒーレントな光ビームは、対物レン
ズ２０により集光される。この集光された光ビームは、
ディスク９に照射される。図２３において、集光光学系
８は、コリメータレンズ１２と対物レンズ２０を含んで
構成される。ビームスプリッタは、この集光光学系８中
には設けられない。ビームスプリッタを有しない集光光
学系は、極めて小型であるため、この集光光学系８を用
いる光ディスク装置は、小型化が図られる。
ズ２０により集光される。この集光された光ビームは、
ディスク９に照射される。図２３において、集光光学系
８は、コリメータレンズ１２と対物レンズ２０を含んで
構成される。ビームスプリッタは、この集光光学系８中
には設けられない。ビームスプリッタを有しない集光光
学系は、極めて小型であるため、この集光光学系８を用
いる光ディスク装置は、小型化が図られる。
【００９３】対物レンズ２０により形成される光ビーム
スポットとディスク９上のトラックとの間のずれは、図
２０に示される光学装置又は図２１に示される光ディス
ク装置と同様にして検出される。つまり、光学素子２４
５に設けられた第１と第２の回折格子２４５ａ，２４５
ｂ及び二つの光検知器２４６、２４８で構成される光学
装置は、図２０に示される光学装置と同じ機能を有す
る。それ故、二つの光検知器２４６、２４８の差分出力
は、オフセットが除去されたトラッキングエラー信号と
なる。
スポットとディスク９上のトラックとの間のずれは、図
２０に示される光学装置又は図２１に示される光ディス
ク装置と同様にして検出される。つまり、光学素子２４
５に設けられた第１と第２の回折格子２４５ａ，２４５
ｂ及び二つの光検知器２４６、２４８で構成される光学
装置は、図２０に示される光学装置と同じ機能を有す
る。それ故、二つの光検知器２４６、２４８の差分出力
は、オフセットが除去されたトラッキングエラー信号と
なる。
【００９４】対物レンズ２０がディスク９から離れる方
向に移動する際、二分割光検知器２４９上の光スポット
は、二分割光検知器２４９上で光学素子２４５の光軸２
４５ｚに近づく方向に移動する。対物レンズ２０がディ
スク９に近づく方向に移動する際、二分割光検知器２４
９上の光スポットは、二分割光検知器２４９上で光学素
子２４５の光軸２４５ｚから離れる方向に移動する。フ
ォーカスエラーは、この光スポットの移動を二分割光検
知器２４９により検出することにより、検出される。
向に移動する際、二分割光検知器２４９上の光スポット
は、二分割光検知器２４９上で光学素子２４５の光軸２
４５ｚに近づく方向に移動する。対物レンズ２０がディ
スク９に近づく方向に移動する際、二分割光検知器２４
９上の光スポットは、二分割光検知器２４９上で光学素
子２４５の光軸２４５ｚから離れる方向に移動する。フ
ォーカスエラーは、この光スポットの移動を二分割光検
知器２４９により検出することにより、検出される。
【００９５】円形領域を形成する第１と第２の回折格子
２４５ａ，２４５ｂの外径は、光学素子２４５を通過す
る光ビームのビーム径と同じ、若しくは、それよりも僅
かに小さな直径である。対物レンズ２０が光ビームの中
心４ａから約２００μｍ変位した場合、光ビームは、光
学素子２４５上で、光ビームの中心４ａから約６０μｍ
程度ずれる。また、光ビームの半径が、光ビームが光学
素子２４５に入射する箇所で、４７５μｍである。この
場合に、この円形領域の半径は、４６０μｍに設定され
る。つまり、この円形領域の半径は、光ビームの半径よ
りも１５μｍ小さい。この円形領域の直径は、光ビーム
の直径よりも僅かに小さいことが望ましい。しかしなが
ら、この円形領域の直径は、光ビームのずれ量と等しい
値又はそれ以上に光ビームの直径よりも小さくする必要
はない。尚、この光ビームは、ガウシアン分布を有しな
い。光ビームのガウシアン分布の裾野の部分は、コリメ
ータレンズ１２によって、カットされている。つまり、
光ビームの裾野の部分は、コリメータレンズ１２に入射
していない。
２４５ａ，２４５ｂの外径は、光学素子２４５を通過す
る光ビームのビーム径と同じ、若しくは、それよりも僅
かに小さな直径である。対物レンズ２０が光ビームの中
心４ａから約２００μｍ変位した場合、光ビームは、光
学素子２４５上で、光ビームの中心４ａから約６０μｍ
程度ずれる。また、光ビームの半径が、光ビームが光学
素子２４５に入射する箇所で、４７５μｍである。この
場合に、この円形領域の半径は、４６０μｍに設定され
る。つまり、この円形領域の半径は、光ビームの半径よ
りも１５μｍ小さい。この円形領域の直径は、光ビーム
の直径よりも僅かに小さいことが望ましい。しかしなが
ら、この円形領域の直径は、光ビームのずれ量と等しい
値又はそれ以上に光ビームの直径よりも小さくする必要
はない。尚、この光ビームは、ガウシアン分布を有しな
い。光ビームのガウシアン分布の裾野の部分は、コリメ
ータレンズ１２によって、カットされている。つまり、
光ビームの裾野の部分は、コリメータレンズ１２に入射
していない。
【００９６】本実施例においては、光源、トラッキング
エラー検出器、及びフォーカスエラー検出器がパッケー
ジ内に一体的に収納されることができ、光学装置の小型
化・低価格化がより一層促進される。本実施例におい
て、第５の回折格子２４５ｅは、光の回折による光ビー
ムの強度変化の影響を受けにくい領域に形成されてい
る。図２から明らかなように、分割線上の強度変化は、
分割線から離れた領域における強度変化よりも小さい。
第５の回折格子２４５ｅが光学素子２４５に一体的に形
成されているために、むしろプッシュプル信号の強度が
高められ、安定なトラックエラー信号が得られることが
できる。
エラー検出器、及びフォーカスエラー検出器がパッケー
ジ内に一体的に収納されることができ、光学装置の小型
化・低価格化がより一層促進される。本実施例におい
て、第５の回折格子２４５ｅは、光の回折による光ビー
ムの強度変化の影響を受けにくい領域に形成されてい
る。図２から明らかなように、分割線上の強度変化は、
分割線から離れた領域における強度変化よりも小さい。
第５の回折格子２４５ｅが光学素子２４５に一体的に形
成されているために、むしろプッシュプル信号の強度が
高められ、安定なトラックエラー信号が得られることが
できる。
【００９７】図１９，図２１及び図２３の実施例におい
て、コリメータレンズが集光レンズに相当する。また、
図１９，図２１，及び図２３の実施例において、光学素
子２２５，２３５，２４５は、ビームスプリッタ１３に
より分けられた反射光ビームが通過する光路内に設けて
も良いことはいうまでもない。図２４は、光学素子の更
に別の例を示す図である。図２４において、光学素子２
５５は、その中心領域に円形領域を備える。この円形領
域は、分割線で分割された二つの領域２５５ａ，２５５
ｂを含んでいる。この円形領域は、光ビームのビーム径
と同じ、若しくは、それよりも僅かに小さな直径の円で
ある。この二つの領域２５５ａ，２５５ｂは、光ビーム
をそのまま直進させる透過領域である。この二つの領域
２５５ａ，２５５ｂは、回折格子を備えておらず、単な
る透明な平板上のガラス板である。この領域２５５ａ，
２５５ｂに入射する光ビームは、そのまま直進して、二
分割光検知器（図示されない）１３６に照射される。こ
の円形領域は、遮蔽領域２５５ｃを備えている。この遮
蔽領域２５５ｃは、黒色の塗料が塗布された領域であ
る。光ビームは、この遮断領域２５５ｃを通過しない。
光学素子２５５は、この円形領域の外側に第１と第２の
回折格子２５５ｄ，２５５ｅが設けられている。この第
１と第２の回折格子２５５ｄ，２５５ｅの機能は、図７
に示される回折格子１４５ｃ，１４５ｄと同じである。
それ故、第１と第２の回折格子２５５ｄ，２５５ｅは、
図１４又は図１５に示されるプリズム又はレンズであっ
ても良い。
て、コリメータレンズが集光レンズに相当する。また、
図１９，図２１，及び図２３の実施例において、光学素
子２２５，２３５，２４５は、ビームスプリッタ１３に
より分けられた反射光ビームが通過する光路内に設けて
も良いことはいうまでもない。図２４は、光学素子の更
に別の例を示す図である。図２４において、光学素子２
５５は、その中心領域に円形領域を備える。この円形領
域は、分割線で分割された二つの領域２５５ａ，２５５
ｂを含んでいる。この円形領域は、光ビームのビーム径
と同じ、若しくは、それよりも僅かに小さな直径の円で
ある。この二つの領域２５５ａ，２５５ｂは、光ビーム
をそのまま直進させる透過領域である。この二つの領域
２５５ａ，２５５ｂは、回折格子を備えておらず、単な
る透明な平板上のガラス板である。この領域２５５ａ，
２５５ｂに入射する光ビームは、そのまま直進して、二
分割光検知器（図示されない）１３６に照射される。こ
の円形領域は、遮蔽領域２５５ｃを備えている。この遮
蔽領域２５５ｃは、黒色の塗料が塗布された領域であ
る。光ビームは、この遮断領域２５５ｃを通過しない。
光学素子２５５は、この円形領域の外側に第１と第２の
回折格子２５５ｄ，２５５ｅが設けられている。この第
１と第２の回折格子２５５ｄ，２５５ｅの機能は、図７
に示される回折格子１４５ｃ，１４５ｄと同じである。
それ故、第１と第２の回折格子２５５ｄ，２５５ｅは、
図１４又は図１５に示されるプリズム又はレンズであっ
ても良い。
【００９８】この遮蔽領域２５５ｃは、ディスク反射光
の０次反射光成分のうち、１次回折光成分と重ならない
部分を遮蔽する。図２から明らかなように、鏡面反射光
と１次回折光が重ならないビーム中心部では、トラック
ずれがあっても光ビームの強度がほとんど変化していな
い。この領域の光は、プッシュプル信号が検出される際
に不必要なだけでなく、プッシュプル信号の振幅を低下
させる要因でもある。
の０次反射光成分のうち、１次回折光成分と重ならない
部分を遮蔽する。図２から明らかなように、鏡面反射光
と１次回折光が重ならないビーム中心部では、トラック
ずれがあっても光ビームの強度がほとんど変化していな
い。この領域の光は、プッシュプル信号が検出される際
に不必要なだけでなく、プッシュプル信号の振幅を低下
させる要因でもある。
【００９９】この遮蔽領域２５５ｃは、プッシュプル信
号の振幅を増大させる。対物レンズの軸ずれによりプッ
シュプル信号に発生したバイアス成分が等しいならば、
プッシュプル信号の振幅が大きいプッシュプル信号のオ
フセットがその振幅の小さいプッシュプル信号に比して
小さくなるため、この遮蔽領域２５５ｃは、プッシュプ
ル信号のオフセット除去に有利に作用する。
号の振幅を増大させる。対物レンズの軸ずれによりプッ
シュプル信号に発生したバイアス成分が等しいならば、
プッシュプル信号の振幅が大きいプッシュプル信号のオ
フセットがその振幅の小さいプッシュプル信号に比して
小さくなるため、この遮蔽領域２５５ｃは、プッシュプ
ル信号のオフセット除去に有利に作用する。
【０１００】図２５は、光学素子の更に別の例を示す図
である。図２５において、光学素子２６５は、図２４に
示される光学素子２５５と同じ数の領域を備える。光学
素子２６５に設けられる５つの領域の形状は、光学素子
２５５の５つの領域と同じ形状である。光学素子２６５
は、その中心領域に円形領域を備える。この円形領域
は、光ビームのビーム径と同じ、若しくは、それよりも
僅かに小さな直径の円である。この円形領域は、分割線
で分割された二つの領域２６５ａ，２６５ｂを含んでい
る。この円形領域は、第１の回折格子２６５ａと第２の
回折格子２６５ｂを備えている。第１と第２の回折格子
２６５ａ，２６５ｂの機能は、図１８〜図２３に示され
る光学素子と同様である。つまり、第１と第２の回折格
子２６５ａ，２６５ｂは、第１と第２の回折格子２６５
ａ，２６５ｂを通過する光ビームの光軸４ａを偏光し、
その光軸４ａからシフトした位置に配置された光検知器
に入射させる。光学素子２６５は、第１と第２の回折格
子２６５ａ，２６５ｂの間に第３の回折格子２６５ｃを
備える。この第３の回折格子２６５ｃが形成される領域
は、ディスク９から反射した光ビームの中心部の０次反
射成分のうち１次回折成分が重ならない領域である。光
学素子２６５は、これらの第１と第２と第３の回折格子
２６５ａ〜２６５ｃの外側領域に、第４と第５の回折格
子２６５ｄ，２６５ｅが設けられている。この第４の回
折格子２６５ｄの機能は、図１８〜図２３に示される回
折格子２１５ｃ，２３５ｃ，２４５ｃと同じである。こ
の第５の回折格子２６５ｅの機能は、図１８〜図２３に
示される回折格子２１５ｄ，２３５ｄ，２４５ｄと同じ
である。
である。図２５において、光学素子２６５は、図２４に
示される光学素子２５５と同じ数の領域を備える。光学
素子２６５に設けられる５つの領域の形状は、光学素子
２５５の５つの領域と同じ形状である。光学素子２６５
は、その中心領域に円形領域を備える。この円形領域
は、光ビームのビーム径と同じ、若しくは、それよりも
僅かに小さな直径の円である。この円形領域は、分割線
で分割された二つの領域２６５ａ，２６５ｂを含んでい
る。この円形領域は、第１の回折格子２６５ａと第２の
回折格子２６５ｂを備えている。第１と第２の回折格子
２６５ａ，２６５ｂの機能は、図１８〜図２３に示され
る光学素子と同様である。つまり、第１と第２の回折格
子２６５ａ，２６５ｂは、第１と第２の回折格子２６５
ａ，２６５ｂを通過する光ビームの光軸４ａを偏光し、
その光軸４ａからシフトした位置に配置された光検知器
に入射させる。光学素子２６５は、第１と第２の回折格
子２６５ａ，２６５ｂの間に第３の回折格子２６５ｃを
備える。この第３の回折格子２６５ｃが形成される領域
は、ディスク９から反射した光ビームの中心部の０次反
射成分のうち１次回折成分が重ならない領域である。光
学素子２６５は、これらの第１と第２と第３の回折格子
２６５ａ〜２６５ｃの外側領域に、第４と第５の回折格
子２６５ｄ，２６５ｅが設けられている。この第４の回
折格子２６５ｄの機能は、図１８〜図２３に示される回
折格子２１５ｃ，２３５ｃ，２４５ｃと同じである。こ
の第５の回折格子２６５ｅの機能は、図１８〜図２３に
示される回折格子２１５ｄ，２３５ｄ，２４５ｄと同じ
である。
【０１０１】第３の回折格子２６５ｃは、ディスク反射
光の０次反射光成分のうち、１次回折光成分と重ならな
い部分の成分を光検知器が存在しない位置に回折させ
る。それ故、本実施例は、図２４に示される実施例と同
様の効果が得られる。更に、本実施例においては、光源
７から出射された光ビームは、第３の回折格子２６５ｃ
を透過する。光源７から出射された光ビームの光が遮蔽
されることがないので、この光学素子２６５は、図１
９，図２１，図２３に示される光ディスク装置に適用す
ることが可能である。
光の０次反射光成分のうち、１次回折光成分と重ならな
い部分の成分を光検知器が存在しない位置に回折させ
る。それ故、本実施例は、図２４に示される実施例と同
様の効果が得られる。更に、本実施例においては、光源
７から出射された光ビームは、第３の回折格子２６５ｃ
を透過する。光源７から出射された光ビームの光が遮蔽
されることがないので、この光学素子２６５は、図１
９，図２１，図２３に示される光ディスク装置に適用す
ることが可能である。
【０１０２】図２６は、光検知器の例を示す図である。
この光検知器２７６は、第１の受光部２７６ａと第２の
受光部２７６ｂとを備える。第１の受光部２７６ａは、
半円領域２７６ａ１を備える。この半円領域２７６ａ
１，２７６ｂ１の径は、光スポットの径と等しいか、も
しくはそれより僅かに小さい径である。第２の受光部２
７６ｂは、半円領域２７６ｂ１を備える。第１の受光部
２７６ａは、半円領域２７６ｂ１の外側に形成された矩
形領域２７６ａ２を備える。第２の受光部２７６ｂは、
半円領域２７６ａ１の外側に形成された矩形領域２７６
ｂ２を備える。第１の受光部２７６ａは、半円領域２７
６ａ１と矩形領域２７６ａ２とが物理的に結合してい
る。また、第２の受光部２７６ｂは、半円領域２７６ｂ
１と矩形領域２７６ｂ２とが物理的に結合している。第
１の受光部２７６ａと第２の受光部２７６ｂは、分離さ
れている。第１の受光部２７６ａと第２の受光部２７６
ｂの差分出力がプッシュプル信号である。
この光検知器２７６は、第１の受光部２７６ａと第２の
受光部２７６ｂとを備える。第１の受光部２７６ａは、
半円領域２７６ａ１を備える。この半円領域２７６ａ
１，２７６ｂ１の径は、光スポットの径と等しいか、も
しくはそれより僅かに小さい径である。第２の受光部２
７６ｂは、半円領域２７６ｂ１を備える。第１の受光部
２７６ａは、半円領域２７６ｂ１の外側に形成された矩
形領域２７６ａ２を備える。第２の受光部２７６ｂは、
半円領域２７６ａ１の外側に形成された矩形領域２７６
ｂ２を備える。第１の受光部２７６ａは、半円領域２７
６ａ１と矩形領域２７６ａ２とが物理的に結合してい
る。また、第２の受光部２７６ｂは、半円領域２７６ｂ
１と矩形領域２７６ｂ２とが物理的に結合している。第
１の受光部２７６ａと第２の受光部２７６ｂは、分離さ
れている。第１の受光部２７６ａと第２の受光部２７６
ｂの差分出力がプッシュプル信号である。
【０１０３】この光検知器２７６は、分割線Ｌがトラッ
クと平行な方向と一致するように配置される。この光検
知器２７６は、前述した光学素子と同等の機能を奏す
る。ここで、半円領域と矩形領域の大きさは、条件式
（２），（３）を満たすように設定される。例えば、光
ビームが矢印Ａ方向（分割線Ｌと直交する方向）に移動
すると、半円領域２７６ｂ１の一部分に光ビームが照射
され、第２の受光部２７６ｂの受光量が第１の受光部２
７６ａの受光量に比して相対的に低下する。一方、光ビ
ームは、半円領域２７６ａ１と矩形領域２７６ｂ２の両
方に入射しているので、矩形領域２７６ｂ２の受光量
は、半円領域２７６ｂ１の受光量に加算されることにな
る。それ故、第２の受光部２７６ｂの受光量は、第１の
受光部２７６ａの受光量に比して相対的に増大するた
め、第１の受光部２７６ａと第２の受光部２７６ｂの受
光量のアンバランスが修正される。
クと平行な方向と一致するように配置される。この光検
知器２７６は、前述した光学素子と同等の機能を奏す
る。ここで、半円領域と矩形領域の大きさは、条件式
（２），（３）を満たすように設定される。例えば、光
ビームが矢印Ａ方向（分割線Ｌと直交する方向）に移動
すると、半円領域２７６ｂ１の一部分に光ビームが照射
され、第２の受光部２７６ｂの受光量が第１の受光部２
７６ａの受光量に比して相対的に低下する。一方、光ビ
ームは、半円領域２７６ａ１と矩形領域２７６ｂ２の両
方に入射しているので、矩形領域２７６ｂ２の受光量
は、半円領域２７６ｂ１の受光量に加算されることにな
る。それ故、第２の受光部２７６ｂの受光量は、第１の
受光部２７６ａの受光量に比して相対的に増大するた
め、第１の受光部２７６ａと第２の受光部２７６ｂの受
光量のアンバランスが修正される。
【０１０４】この光検知器２７６は、集光レンズと光検
知器との間に配置される、オフセットを修正する光学的
手段に対応する。第１の受光部２７６ａは、半円領域２
７６ａ１と矩形領域２７６ａ２が分離して形成された
後、電気的に結合されても良い。また、このことは、第
２の受光部２７６ｂにも適用可能であることはいうまで
もない。
知器との間に配置される、オフセットを修正する光学的
手段に対応する。第１の受光部２７６ａは、半円領域２
７６ａ１と矩形領域２７６ａ２が分離して形成された
後、電気的に結合されても良い。また、このことは、第
２の受光部２７６ｂにも適用可能であることはいうまで
もない。
【０１０５】図２７は、図２３に示される光学装置の具
体例を示す図である。図２７に示されるように、光源７
と、二つの光検知器２４６、２４８と、二分割光検知器
２４９は、同一のシリコン基板２４７上に作成されてい
る。つまり、トラッキングエラー検知器、及びフォーカ
スエラー検知器は、通常の集積回路の製造技術を利用し
て一枚のシリコン基板２４７上に作成されている。この
構成においては、シリコン基板２４７がパッケージ２４
０のハウジングに取り付けられる作業が行われるだけ
で、全てのサーボ検知器が取り付けられるため、部品数
と組み立て工数が大幅に低減される。
体例を示す図である。図２７に示されるように、光源７
と、二つの光検知器２４６、２４８と、二分割光検知器
２４９は、同一のシリコン基板２４７上に作成されてい
る。つまり、トラッキングエラー検知器、及びフォーカ
スエラー検知器は、通常の集積回路の製造技術を利用し
て一枚のシリコン基板２４７上に作成されている。この
構成においては、シリコン基板２４７がパッケージ２４
０のハウジングに取り付けられる作業が行われるだけ
で、全てのサーボ検知器が取り付けられるため、部品数
と組み立て工数が大幅に低減される。
【０１０６】光学素子２４５の位置調整は、パッケージ
２４０上で行う必要がない。光学素子２４５は、トラッ
キングエラー検知用の二つの光検知器２４６，２４８を
用いた位置調整とフォーカスエラー検知用の二分割光検
知器２４９を用いた位置調整が行われることで、所定の
位置に位置付けられる。これは、光学素子２４５が、こ
れらの光検知器２４６，２４８，２４９と同じパッケー
ジ２４０上に予め定められた位置関係で搭載されている
からである。
２４０上で行う必要がない。光学素子２４５は、トラッ
キングエラー検知用の二つの光検知器２４６，２４８を
用いた位置調整とフォーカスエラー検知用の二分割光検
知器２４９を用いた位置調整が行われることで、所定の
位置に位置付けられる。これは、光学素子２４５が、こ
れらの光検知器２４６，２４８，２４９と同じパッケー
ジ２４０上に予め定められた位置関係で搭載されている
からである。
【０１０７】尚、シリコン基板２４７上には、各検知器
の電極２４６ｚ，２４８ｚ，２４９ｚ１，２４９ｚ２が
形成されている。光源７の電極は、図２７中には示され
ていない。前述した実施例は、対物レンズの移動により
軸ずれが生じた場合について説明したが、組み立て誤差
に起因して軸ずれが生じた場合であっても、オフセット
が補正される。
の電極２４６ｚ，２４８ｚ，２４９ｚ１，２４９ｚ２が
形成されている。光源７の電極は、図２７中には示され
ていない。前述した実施例は、対物レンズの移動により
軸ずれが生じた場合について説明したが、組み立て誤差
に起因して軸ずれが生じた場合であっても、オフセット
が補正される。
【０１０８】更に、光ビームの軸ずれが傾きによって生
じた場合であっても、集光レンズと光検知器との間に、
光学的手段が設けられていることによって、受光量のア
ンバランスが補正される。また、本実施例においては、
光学的手段の中心領域の直径は、光学的手段を通過する
光ビームのビーム径と等しいか僅かに小さい例を説明し
た。その中心領域の直径がそのビーム径より小さい場合
は、光学的手段の位置調整作業が容易である。これは、
光ビームの外周部の一部が回折格子領域を通過する大き
さであるため、二つの受光部の受光量のアンバランスが
回折格子領域の作用により吸収される一方、光学的手段
の取り付け誤差が許容されるからである。
じた場合であっても、集光レンズと光検知器との間に、
光学的手段が設けられていることによって、受光量のア
ンバランスが補正される。また、本実施例においては、
光学的手段の中心領域の直径は、光学的手段を通過する
光ビームのビーム径と等しいか僅かに小さい例を説明し
た。その中心領域の直径がそのビーム径より小さい場合
は、光学的手段の位置調整作業が容易である。これは、
光ビームの外周部の一部が回折格子領域を通過する大き
さであるため、二つの受光部の受光量のアンバランスが
回折格子領域の作用により吸収される一方、光学的手段
の取り付け誤差が許容されるからである。
【０１０９】更に、本発明においては、光学素子は、集
光レンズの手前に配置されていても良い。つまり、光学
素子は、対物レンズと集光レンズとの間に配置されてい
ても良い。この場合、光学素子に形成される回折格子
は、配置位置に応じて回折量が定められる。更に、本発
明においては、複数の回折格子（例えば、図２７に示さ
れる回折格子２４５ａ〜２４５ｅ）が集光レンズ上に直
接形成されても良い。集光レンズの一方の面がフラット
な場合には、このような回折格子は、集光レンズのフラ
ットな面上に貼り付けにより簡単に形成可能である。つ
まり、プラスチック材料がそのフラット面に塗布された
後、スリットがこのプラスチック材料に形成されること
で、回折格子が形成される。
光レンズの手前に配置されていても良い。つまり、光学
素子は、対物レンズと集光レンズとの間に配置されてい
ても良い。この場合、光学素子に形成される回折格子
は、配置位置に応じて回折量が定められる。更に、本発
明においては、複数の回折格子（例えば、図２７に示さ
れる回折格子２４５ａ〜２４５ｅ）が集光レンズ上に直
接形成されても良い。集光レンズの一方の面がフラット
な場合には、このような回折格子は、集光レンズのフラ
ットな面上に貼り付けにより簡単に形成可能である。つ
まり、プラスチック材料がそのフラット面に塗布された
後、スリットがこのプラスチック材料に形成されること
で、回折格子が形成される。
【０１１０】前述した実施例は、トラッキングエラーの
検出用の光学系を中心に説明したが、本発明は、フォー
カスエラー検出用の光学系や情報読取用の光学系にも適
用可能である。本発明は、特定の実施例を参照しつつ記
述されたけれども、これらの実施例は、本発明の原理の
適用の単なる例証であると理解されるべきである。例え
ば、光学装置は、光磁気ディスク装置だけでなく、全て
の光ディスク装置への応用を有している。更に、この光
学装置は、光ディスク装置だけでなく、フォーカスエラ
ーやトラッキングエラーを検知する全ての光学装置への
応用を有している。
検出用の光学系を中心に説明したが、本発明は、フォー
カスエラー検出用の光学系や情報読取用の光学系にも適
用可能である。本発明は、特定の実施例を参照しつつ記
述されたけれども、これらの実施例は、本発明の原理の
適用の単なる例証であると理解されるべきである。例え
ば、光学装置は、光磁気ディスク装置だけでなく、全て
の光ディスク装置への応用を有している。更に、この光
学装置は、光ディスク装置だけでなく、フォーカスエラ
ーやトラッキングエラーを検知する全ての光学装置への
応用を有している。
【０１１１】このような多数の実施例の特徴的な構成が
以下に述べられる。 （１）集光レンズにより集光される光ビームを受光する
複数の受光部を備える光検出器を有する光学装置におい
て、前記集光レンズと前記受光部との間に配置され、光
ビームの光軸が集光レンズの光軸又は光検知器の光軸に
対して変位している方向とは逆の方向に存在する受光部
の受光量を増大させる光学的手段を備えてなる、光学装
置。 （２）トラッキングエラー検出用の光学系から得られた
トラッキングエラー信号に基いて、光ビームの集光スポ
ットをトラック上に追従させるトラッキング装置であっ
て、前記トラッキングエラー検出用の光学系は、集光レ
ンズにより集光される光ビームを受光する複数の受光部
の出力の差分値を、トラッキングエラー信号として出力
する光検出器を有する光学装置を含み、前記光学装置が
前記集光レンズと前記受光部との間に配置され、光ビー
ムの光軸が集光レンズの光軸又は光検知器の光軸に対し
て変位している方向とは逆の方向に存在する受光部の受
光量を増大させる光学的手段を備えてなる、トラッキン
グ装置。 （３）トラッキングエラー検出用の光学系から得られた
トラッキングエラー信号に基いて光ビームの集光スポッ
トをトラック上に追従させながら、トラックから情報の
読み取りを行う光ディスク装置であって、前記トラッキ
ングエラー検出用の光学系は、集光レンズにより集光さ
れる光ビームを受光する複数の受光部の出力の差分値
を、トラッキングエラー信号として出力する光検出器を
有する光学装置を含み、前記光学装置が前記集光レンズ
と前記受光部との間に配置され、光ビームの光軸が集光
レンズの光軸又は光検知器の光軸に対して変位している
方向とは逆の方向に存在する受光部の受光量を増大させ
る光学的手段を備えてなる、光ディスク装置。 （４）前記光学的手段は、回折格子である、上記（１）
の光学装置又は上記（２）のトラッキング装置又は上記
（３）の光ディスク装置。 （５）光源からの光を、情報トラックを有する光ディス
クに集光する光学系と、その反射光からディスク上の記
録と集光スポットの位置を読み取る光学系を有する光デ
ィスク装置における、情報トラックに対応する方向に平
行な分割線で２分割された光検出器を用いて、スポット
のトラックに対するずれを検知する光学系において、該
光検出器の手前に光学素子を配置し、入射する光束径と
等しい、もしくは小さい領域に入射する光は透過し、そ
の外側の領域に入射する光は、該光検知器の分割線と平
行な分割線で２分割し、分割線を挟んで反対側の光検知
器に入射させ、２分割された該光検出器の出力の差分を
演算することで、集光スポットの位置を検出する光ディ
スク装置。 （６）上記（５）に記載される、光ディスク装置のスポ
ットのトラックからのずれを検知する光学系において、
２分割された光検出器の手前に位置し、入射する光束径
と等しいか、もしくはそれより小さい領域に入射する光
は透過し、外側に入射する光を、回折により該光検知器
の分割線と平行な分割線で２分割し、分割線を挟んで反
対側の光検知部分に入射するように設計された、複数の
領域に分割された回折格子が設けられた光学素子を有す
る光ディスク装置。 （７）上記（５）に記載される、光ディスク装置のスポ
ットのトラックからのずれを検知する光学系において、
２分割された光検出器の手前に位置し、入射する光束径
と等しいか、もしくはそれより小さい領域に入射する光
は透過し、外側に入射する光を、プリズムを用いて該光
検知器の分割線と平行な分割線で２分割し、分割線を挟
んで反対側の光検知部分に入射するように設計された、
複数のプリズムを複合した素子を有する光ディスク装
置。 （８）上記（５）に記載される、光ディスク装置のスポ
ットのトラックからのずれを検知する光学系において、
２分割された光検出器の手前に位置し、入射する光束径
と等しいか、もしくはそれより小さい領域に入射する光
は透過し、外側に入射する光を、レンズを用いて該光検
知器の分割線と平行な分割線で２分割し、分割線を挟ん
で反対側の光検知部分に入射するように設計された、複
数のレンズを複合した素子を有することを特徴とする光
ディスク装置。 （９）上記（５）に記載される、光ディスク装置のスポ
ットのトラックからのずれを検知する光学系において、
２分割された光検出器の手前に位置する光学素子を、入
射する光束径と等しいか、もしくはそれより小さい領域
に円錐型のプリズムを有し、その外側の領域は光を透過
する平面基板とし、内側に入射する光は分割線に対して
反転させ、外側に入射する光は反転させずに、該光検出
器に入射させる素子を有する光ディスク装置。 （１０）上記（５）に記載される、光ディスク装置のス
ポットのトラックからのずれを検知する光学系におい
て、２分割された光検知器の手前に位置する光学素子
で、入射する光束と等しいか、もしくはそれより小さい
領域に、ビーム中心を通り、トラックに平行な方向に分
割された２領域で異なる回折格子を有し、回折格子に入
射した光は反対側の検知器に入射するように回折され、
回折格子領域より外側に入射した光は反転させず検知器
に入射させる、光学素子を有する光ディスク装置。 （１１）上記（５）に記載される、光ディスク装置のス
ポットのトラックからのずれを検知する光学系におい
て、２分割光検出器を光軸より、トラックに平行な方向
に移動し、該検出器の手前に位置する光学素子に、入射
する光束と等しいか、もしくはそれより小さい領域には
回折格子を設け、入射光を該検出器上に入射させ、その
外側に、トラックに平行な方向に分割し、格子形状の異
なる回折格子を設け、入射した光が該２分割検出器の反
対側の検出器に入射するように設計された、光学素子を
有することを特徴とする光ディスク装置。 （１２）上記（１１）に記載される、光ディスク装置に
おいて、２分割光検出器の手前に位置する光学素子の、
該検出器側の光軸上に光源を配置し、光源から該光学素
子を透過した光を、光ディスクの記録読み取り、書き込
みに用いることを特徴とする光ディスク装置。 （１３）上記（５）に記載される、光ディスク装置のス
ポットのトラックからのずれを検知する光学系におい
て、光検出器を光軸から離れた、２つの検出器で構成
し、光検知器の手前に位置する光学素子は、入射する光
束径と等しいか、もしくは小さい領域に入射する光をト
ラック接線方向に対応する方向に２分割し、それぞれ異
なる光検知器に入射するように回折させる回折格子を有
し、外側に入射した光は、分割線を挟んで反対側の内側
の領域に入射した光が入射する光検知器に入射するよう
に回折させる回折格子を有する光学素子を持つことを特
徴とする光ディスク装置。 （１４）上記（５）に記載される、光ディスク装置の、
スポットのトラックからのずれを検知する光学系におい
て、２分割された光検出器の手前に位置する光学素子
で、ディスク反射光の０次反射光成分のうち、１次回折
光成分と重ならない部分を遮蔽し、該光検知器に入射さ
せないことを特徴とする光ディスク装置。 （１５）上記（５）に記載される、光ディスク装置の、
スポットのトラックからのずれを検知する光学系におい
て、２分割された光検出器の手前に位置する光学素子
で、ディスク反射光の０次反射光成分のうち、１次回折
光成分と重ならない部分に回折格子を設け、入射項を回
折させ該光検知器に入射させないことを特徴とする光デ
ィスク装置。 （１６）上記（５）に記載される、光ディスク装置にお
いて、入射する光束に等しいか、もしくは小さい領域の
一部に、合焦点を検知する光検知器に入射するように回
折格子を施した光学素子を有することを特徴とする光デ
ィスク装置。 （１７）上記（１４）に記載される、光ディスク装置に
おいて、合焦点を検知する光検知器に光を入射させるた
めの回折格子を、光学素子の分割線上に配置することを
特徴とする光ディスク装置。 （１８）上記（５）に記載される、光ディスク装置のス
ポットのトラックからのずれを検知する光学系におい
て、２分割光検出器を、更に入射する光束系と等しい
か、もしくはそれより小さい領域で分割し、その外側の
領域からの出力を、内側の分割線を挟んで反対側の領域
からの出力に加算し、得られる２つの出力の差分を演算
することで、集光スポットの位置を検出することを特徴
とする光ディスク装置。
以下に述べられる。 （１）集光レンズにより集光される光ビームを受光する
複数の受光部を備える光検出器を有する光学装置におい
て、前記集光レンズと前記受光部との間に配置され、光
ビームの光軸が集光レンズの光軸又は光検知器の光軸に
対して変位している方向とは逆の方向に存在する受光部
の受光量を増大させる光学的手段を備えてなる、光学装
置。 （２）トラッキングエラー検出用の光学系から得られた
トラッキングエラー信号に基いて、光ビームの集光スポ
ットをトラック上に追従させるトラッキング装置であっ
て、前記トラッキングエラー検出用の光学系は、集光レ
ンズにより集光される光ビームを受光する複数の受光部
の出力の差分値を、トラッキングエラー信号として出力
する光検出器を有する光学装置を含み、前記光学装置が
前記集光レンズと前記受光部との間に配置され、光ビー
ムの光軸が集光レンズの光軸又は光検知器の光軸に対し
て変位している方向とは逆の方向に存在する受光部の受
光量を増大させる光学的手段を備えてなる、トラッキン
グ装置。 （３）トラッキングエラー検出用の光学系から得られた
トラッキングエラー信号に基いて光ビームの集光スポッ
トをトラック上に追従させながら、トラックから情報の
読み取りを行う光ディスク装置であって、前記トラッキ
ングエラー検出用の光学系は、集光レンズにより集光さ
れる光ビームを受光する複数の受光部の出力の差分値
を、トラッキングエラー信号として出力する光検出器を
有する光学装置を含み、前記光学装置が前記集光レンズ
と前記受光部との間に配置され、光ビームの光軸が集光
レンズの光軸又は光検知器の光軸に対して変位している
方向とは逆の方向に存在する受光部の受光量を増大させ
る光学的手段を備えてなる、光ディスク装置。 （４）前記光学的手段は、回折格子である、上記（１）
の光学装置又は上記（２）のトラッキング装置又は上記
（３）の光ディスク装置。 （５）光源からの光を、情報トラックを有する光ディス
クに集光する光学系と、その反射光からディスク上の記
録と集光スポットの位置を読み取る光学系を有する光デ
ィスク装置における、情報トラックに対応する方向に平
行な分割線で２分割された光検出器を用いて、スポット
のトラックに対するずれを検知する光学系において、該
光検出器の手前に光学素子を配置し、入射する光束径と
等しい、もしくは小さい領域に入射する光は透過し、そ
の外側の領域に入射する光は、該光検知器の分割線と平
行な分割線で２分割し、分割線を挟んで反対側の光検知
器に入射させ、２分割された該光検出器の出力の差分を
演算することで、集光スポットの位置を検出する光ディ
スク装置。 （６）上記（５）に記載される、光ディスク装置のスポ
ットのトラックからのずれを検知する光学系において、
２分割された光検出器の手前に位置し、入射する光束径
と等しいか、もしくはそれより小さい領域に入射する光
は透過し、外側に入射する光を、回折により該光検知器
の分割線と平行な分割線で２分割し、分割線を挟んで反
対側の光検知部分に入射するように設計された、複数の
領域に分割された回折格子が設けられた光学素子を有す
る光ディスク装置。 （７）上記（５）に記載される、光ディスク装置のスポ
ットのトラックからのずれを検知する光学系において、
２分割された光検出器の手前に位置し、入射する光束径
と等しいか、もしくはそれより小さい領域に入射する光
は透過し、外側に入射する光を、プリズムを用いて該光
検知器の分割線と平行な分割線で２分割し、分割線を挟
んで反対側の光検知部分に入射するように設計された、
複数のプリズムを複合した素子を有する光ディスク装
置。 （８）上記（５）に記載される、光ディスク装置のスポ
ットのトラックからのずれを検知する光学系において、
２分割された光検出器の手前に位置し、入射する光束径
と等しいか、もしくはそれより小さい領域に入射する光
は透過し、外側に入射する光を、レンズを用いて該光検
知器の分割線と平行な分割線で２分割し、分割線を挟ん
で反対側の光検知部分に入射するように設計された、複
数のレンズを複合した素子を有することを特徴とする光
ディスク装置。 （９）上記（５）に記載される、光ディスク装置のスポ
ットのトラックからのずれを検知する光学系において、
２分割された光検出器の手前に位置する光学素子を、入
射する光束径と等しいか、もしくはそれより小さい領域
に円錐型のプリズムを有し、その外側の領域は光を透過
する平面基板とし、内側に入射する光は分割線に対して
反転させ、外側に入射する光は反転させずに、該光検出
器に入射させる素子を有する光ディスク装置。 （１０）上記（５）に記載される、光ディスク装置のス
ポットのトラックからのずれを検知する光学系におい
て、２分割された光検知器の手前に位置する光学素子
で、入射する光束と等しいか、もしくはそれより小さい
領域に、ビーム中心を通り、トラックに平行な方向に分
割された２領域で異なる回折格子を有し、回折格子に入
射した光は反対側の検知器に入射するように回折され、
回折格子領域より外側に入射した光は反転させず検知器
に入射させる、光学素子を有する光ディスク装置。 （１１）上記（５）に記載される、光ディスク装置のス
ポットのトラックからのずれを検知する光学系におい
て、２分割光検出器を光軸より、トラックに平行な方向
に移動し、該検出器の手前に位置する光学素子に、入射
する光束と等しいか、もしくはそれより小さい領域には
回折格子を設け、入射光を該検出器上に入射させ、その
外側に、トラックに平行な方向に分割し、格子形状の異
なる回折格子を設け、入射した光が該２分割検出器の反
対側の検出器に入射するように設計された、光学素子を
有することを特徴とする光ディスク装置。 （１２）上記（１１）に記載される、光ディスク装置に
おいて、２分割光検出器の手前に位置する光学素子の、
該検出器側の光軸上に光源を配置し、光源から該光学素
子を透過した光を、光ディスクの記録読み取り、書き込
みに用いることを特徴とする光ディスク装置。 （１３）上記（５）に記載される、光ディスク装置のス
ポットのトラックからのずれを検知する光学系におい
て、光検出器を光軸から離れた、２つの検出器で構成
し、光検知器の手前に位置する光学素子は、入射する光
束径と等しいか、もしくは小さい領域に入射する光をト
ラック接線方向に対応する方向に２分割し、それぞれ異
なる光検知器に入射するように回折させる回折格子を有
し、外側に入射した光は、分割線を挟んで反対側の内側
の領域に入射した光が入射する光検知器に入射するよう
に回折させる回折格子を有する光学素子を持つことを特
徴とする光ディスク装置。 （１４）上記（５）に記載される、光ディスク装置の、
スポットのトラックからのずれを検知する光学系におい
て、２分割された光検出器の手前に位置する光学素子
で、ディスク反射光の０次反射光成分のうち、１次回折
光成分と重ならない部分を遮蔽し、該光検知器に入射さ
せないことを特徴とする光ディスク装置。 （１５）上記（５）に記載される、光ディスク装置の、
スポットのトラックからのずれを検知する光学系におい
て、２分割された光検出器の手前に位置する光学素子
で、ディスク反射光の０次反射光成分のうち、１次回折
光成分と重ならない部分に回折格子を設け、入射項を回
折させ該光検知器に入射させないことを特徴とする光デ
ィスク装置。 （１６）上記（５）に記載される、光ディスク装置にお
いて、入射する光束に等しいか、もしくは小さい領域の
一部に、合焦点を検知する光検知器に入射するように回
折格子を施した光学素子を有することを特徴とする光デ
ィスク装置。 （１７）上記（１４）に記載される、光ディスク装置に
おいて、合焦点を検知する光検知器に光を入射させるた
めの回折格子を、光学素子の分割線上に配置することを
特徴とする光ディスク装置。 （１８）上記（５）に記載される、光ディスク装置のス
ポットのトラックからのずれを検知する光学系におい
て、２分割光検出器を、更に入射する光束系と等しい
か、もしくはそれより小さい領域で分割し、その外側の
領域からの出力を、内側の分割線を挟んで反対側の領域
からの出力に加算し、得られる２つの出力の差分を演算
することで、集光スポットの位置を検出することを特徴
とする光ディスク装置。
【０１１２】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、対物レン
ズの軸ずれ、対象物の傾き、又光学系の組み立て誤差に
起因する光ビームの軸ずれによる光量アンバランス（オ
フセット）を低減することが可能となる。請求項１に記
載の発明は、集光レンズにより集光される光ビームを受
光する複数の受光部を備える光検出器を有する光学装置
において、前記集光レンズと前記受光部との間に配置さ
れ、光ビームの光軸のずれに応じて受光量が相対的に減
少する受光部の受光量を、光ビームの光軸のずれに応じ
て受光量が相対的に増大する受光部の受光量に比して相
対的に増大させる光学的手段を備えてなる、光学装置で
ある。
ズの軸ずれ、対象物の傾き、又光学系の組み立て誤差に
起因する光ビームの軸ずれによる光量アンバランス（オ
フセット）を低減することが可能となる。請求項１に記
載の発明は、集光レンズにより集光される光ビームを受
光する複数の受光部を備える光検出器を有する光学装置
において、前記集光レンズと前記受光部との間に配置さ
れ、光ビームの光軸のずれに応じて受光量が相対的に減
少する受光部の受光量を、光ビームの光軸のずれに応じ
て受光量が相対的に増大する受光部の受光量に比して相
対的に増大させる光学的手段を備えてなる、光学装置で
ある。
【０１１３】請求項２に記載の発明は、トラッキングエ
ラー検出用の光学系から得られたトラッキングエラー信
号に基いて、光ビームの集光スポットをトラック上に追
従させるトラッキング装置であって、前記トラッキング
エラー検出用の光学系は、集光レンズにより集光される
光ビームを受光する複数の受光部の出力の差分値を、ト
ラッキングエラー信号として出力する光検出器を有する
光学装置を含み、前記集光レンズと前記受光部との間に
配置され、光ビームの光軸のずれに応じて受光量が相対
的に減少する受光部の受光量を、光ビームの光軸のずれ
に応じて受光量が相対的に増大する受光部の受光量に比
して相対的に増大させる光学的手段を備えてなる、トラ
ッキング装置である。
ラー検出用の光学系から得られたトラッキングエラー信
号に基いて、光ビームの集光スポットをトラック上に追
従させるトラッキング装置であって、前記トラッキング
エラー検出用の光学系は、集光レンズにより集光される
光ビームを受光する複数の受光部の出力の差分値を、ト
ラッキングエラー信号として出力する光検出器を有する
光学装置を含み、前記集光レンズと前記受光部との間に
配置され、光ビームの光軸のずれに応じて受光量が相対
的に減少する受光部の受光量を、光ビームの光軸のずれ
に応じて受光量が相対的に増大する受光部の受光量に比
して相対的に増大させる光学的手段を備えてなる、トラ
ッキング装置である。
【０１１４】請求項３に記載の発明は、トラッキングエ
ラー検出用の光学系から得られたトラッキングエラー信
号に基いて光ビームの集光スポットをトラック上に追従
させながら、トラックから情報の読み取りを行う光ディ
スク装置であって、前記トラッキングエラー検出用の光
学系は、集光レンズにより集光される光ビームを受光す
る複数の受光部の出力の差分値を、トラッキングエラー
信号として出力する光検出器を有する光学装置を含み、
前記集光レンズと前記受光部との間に配置され、光ビー
ムの光軸のずれに応じて受光量が相対的に減少する受光
部の受光量を、光ビームの光軸のずれに応じて受光量が
相対的に増大する受光部の受光量に比して相対的に増大
させる光学的手段を備えてなる、光ディスク装置であ
る。
ラー検出用の光学系から得られたトラッキングエラー信
号に基いて光ビームの集光スポットをトラック上に追従
させながら、トラックから情報の読み取りを行う光ディ
スク装置であって、前記トラッキングエラー検出用の光
学系は、集光レンズにより集光される光ビームを受光す
る複数の受光部の出力の差分値を、トラッキングエラー
信号として出力する光検出器を有する光学装置を含み、
前記集光レンズと前記受光部との間に配置され、光ビー
ムの光軸のずれに応じて受光量が相対的に減少する受光
部の受光量を、光ビームの光軸のずれに応じて受光量が
相対的に増大する受光部の受光量に比して相対的に増大
させる光学的手段を備えてなる、光ディスク装置であ
る。
【０１１５】請求項４に記載の発明は、請求項１乃至３
において、前記光学的手段を、回折格子としたものであ
る。請求項５に記載の発明は、光ビームの集光スポット
をトラック上に追従させながら、トラックから情報の読
み取りを行う光ディスク装置であって、光ビームを出射
する光源と、前記光ビームを平行光にする光学系と、前
記平行光をトラック上に集光する対物レンズと、前記光
ビームのトラッキングエラーを検出するトラッキングエ
ラー検出器と、前記光学系と前記光源との間に設けら
れ、前記光源からの光ビームを前記光学系に向けて通過
すると共に、前記光学系からの光ビームを回折して前記
トラッキングエラー検出器に入射させる第１の光学的手
段と、前記光学系と前記光源との間に設けられ、前記光
ビームの光軸のずれに応じて受光量が相対的に減少する
受光部の受光量を、光ビームの光軸のずれに応じて受光
量が相対的に増大する受光部の受光量に比して相対的に
増大させる第２の光学的手段を備えてなる、光ディスク
装置。
において、前記光学的手段を、回折格子としたものであ
る。請求項５に記載の発明は、光ビームの集光スポット
をトラック上に追従させながら、トラックから情報の読
み取りを行う光ディスク装置であって、光ビームを出射
する光源と、前記光ビームを平行光にする光学系と、前
記平行光をトラック上に集光する対物レンズと、前記光
ビームのトラッキングエラーを検出するトラッキングエ
ラー検出器と、前記光学系と前記光源との間に設けら
れ、前記光源からの光ビームを前記光学系に向けて通過
すると共に、前記光学系からの光ビームを回折して前記
トラッキングエラー検出器に入射させる第１の光学的手
段と、前記光学系と前記光源との間に設けられ、前記光
ビームの光軸のずれに応じて受光量が相対的に減少する
受光部の受光量を、光ビームの光軸のずれに応じて受光
量が相対的に増大する受光部の受光量に比して相対的に
増大させる第２の光学的手段を備えてなる、光ディスク
装置。
【０１１６】請求項６に記載の発明は、請求項５記載の
光ディスク装置であって、前記光源と前記トラッキング
エラー検出器とを搭載する単一の基板とを備えてなる、
光ディスク装置である。請求項７に記載の発明は、請求
項６記載の光ディスク装置であって、前記光ビームのフ
ォーカスエラーを検出するフォーカスエラー検出器を更
に備え、そして、前記光学素子が前記光学系からの光ビ
ームを回折して前記フォーカスエラー検出器に入射させ
る第３の光学的手段を含んでいる、光ディスク装置であ
る。
光ディスク装置であって、前記光源と前記トラッキング
エラー検出器とを搭載する単一の基板とを備えてなる、
光ディスク装置である。請求項７に記載の発明は、請求
項６記載の光ディスク装置であって、前記光ビームのフ
ォーカスエラーを検出するフォーカスエラー検出器を更
に備え、そして、前記光学素子が前記光学系からの光ビ
ームを回折して前記フォーカスエラー検出器に入射させ
る第３の光学的手段を含んでいる、光ディスク装置であ
る。
【０１１７】請求項８に記載の発明は、請求項７記載の
光ディスク装置であって、前記基板が前記フォーカスエ
ラー検出器を更に搭載している、光ディスク装置であ
る。請求項９に記載の発明は、請求項８記載の光ディス
ク装置であって、前記第１の光学的手段が第１の回折格
子であり、前記第２の光学的手段が第２の回折格子であ
り、前記第３の光学的手段が第３の回折格子であり、そ
して、前記第１と第２と第３の回折格子は、相互に異な
る格子形状子の回折格子を含む単一の薄板状の回折格子
板である、光ディスク装置である。
光ディスク装置であって、前記基板が前記フォーカスエ
ラー検出器を更に搭載している、光ディスク装置であ
る。請求項９に記載の発明は、請求項８記載の光ディス
ク装置であって、前記第１の光学的手段が第１の回折格
子であり、前記第２の光学的手段が第２の回折格子であ
り、前記第３の光学的手段が第３の回折格子であり、そ
して、前記第１と第２と第３の回折格子は、相互に異な
る格子形状子の回折格子を含む単一の薄板状の回折格子
板である、光ディスク装置である。
【０１１８】請求項１乃至９に記載の発明においては、
光学的手段により光軸ずれの方向と反対方向の受光部の
受光量が増大するようにしているので、組み立て誤差に
起因するオフセットを除去することが可能となる。ま
た、請求項１乃至９に記載の発明においては、光学的手
段が集光レンズと光検知器との間に配置されるので、い
ずれの光学系における光検知器であってもオフセットを
修正可能となる。
光学的手段により光軸ずれの方向と反対方向の受光部の
受光量が増大するようにしているので、組み立て誤差に
起因するオフセットを除去することが可能となる。ま
た、請求項１乃至９に記載の発明においては、光学的手
段が集光レンズと光検知器との間に配置されるので、い
ずれの光学系における光検知器であってもオフセットを
修正可能となる。
【０１１９】また、請求項１乃至９に記載の発明におい
ては、光学的手段が集光レンズと光検知器との間に配置
されるので、集光レンズが設けられるのに必要な領域内
に配置されることができ、簡易且つ安価な構成で、オフ
セットを除去することが可能となる。請求項２に記載の
発明においては、高精度なトラッキングを行うことが可
能となる。
ては、光学的手段が集光レンズと光検知器との間に配置
されるので、集光レンズが設けられるのに必要な領域内
に配置されることができ、簡易且つ安価な構成で、オフ
セットを除去することが可能となる。請求項２に記載の
発明においては、高精度なトラッキングを行うことが可
能となる。
【０１２０】請求項３に記載の発明においては、高精度
な情報の読み取りを行うことが可能となる。請求項４に
記載の発明においては、より一層の小型化が可能とな
る。請求項５に記載の発明においては、トラッキングエ
ラーを検出するためのビームスプリッタや集光レンズが
不要となる。
な情報の読み取りを行うことが可能となる。請求項４に
記載の発明においては、より一層の小型化が可能とな
る。請求項５に記載の発明においては、トラッキングエ
ラーを検出するためのビームスプリッタや集光レンズが
不要となる。
【０１２１】請求項６に記載の発明においては、集光レ
ンズと受光部との間の空間を利用しているので、光学的
手段を配置するために追加の領域を必要としない。請求
項７に記載の発明においては、トラッキングエラー検知
器の取り付けが簡単となる。請求項８に記載の発明にお
いては、フォーカスエラーを検出するためのビームスプ
リッタや集光レンズ等の光学的な素子が不要となる。
ンズと受光部との間の空間を利用しているので、光学的
手段を配置するために追加の領域を必要としない。請求
項７に記載の発明においては、トラッキングエラー検知
器の取り付けが簡単となる。請求項８に記載の発明にお
いては、フォーカスエラーを検出するためのビームスプ
リッタや集光レンズ等の光学的な素子が不要となる。
【０１２２】請求項９に記載の発明においては、フォー
カスエラー検知器の取り付けが簡単になる。請求項１０
に記載の発明においては、複数の光学的素子の構成がよ
り一層簡単化される。
カスエラー検知器の取り付けが簡単になる。請求項１０
に記載の発明においては、複数の光学的素子の構成がよ
り一層簡単化される。
【図１】図１は、光ディスク装置の光学系を示す図であ
る。
る。
【図２】図２は、回折光の影響を受けた反射ビームの強
度分布を示す図である。
度分布を示す図である。
【図３】図３は、光軸ずれが生じた状態を示す図であ
る。
る。
【図４】図４は、プッシュプル信号を表す図である。
【図５】図５は、本発明が適用される光ディスク装置の
構成を示す図である。
構成を示す図である。
【図６】図６は、分離光学系と固定光学系の詳細構成を
示す図である。
示す図である。
【図７】図７は、本発明の第一の実施例の説明図であ
る。
る。
【図８】図８は、光学素子の円形領域が二つの半円で構
成されている光学素子を示す図である。
成されている光学素子を示す図である。
【図９】図９は、光学素子の円形領域が楕円で構成され
ている光学素子を示す図である。
ている光学素子を示す図である。
【図１０】図１０は、光学素子に入射する光ビームの光
軸が光学素子の光軸からずれた状態を示す図である。
軸が光学素子の光軸からずれた状態を示す図である。
【図１１】図１１は、光学素子の各領域Ａ〜Ｄを通過す
る光量を示す図である。
る光量を示す図である。
【図１２】図１２は、プッシュプル信号の変化を示す図
である。
である。
【図１３】図１３は、図７に示される光学素子を備える
光ディスク装置の光学系を示す図である。
光ディスク装置の光学系を示す図である。
【図１４】図１４は、光学素子の他の例を示す図であ
る。
る。
【図１５】図１５は、光学素子の別の例を示す図であ
る。
る。
【図１６】図１６は、光学素子の更に別の例を示す図で
ある。
ある。
【図１７】図１７は、光学素子の更に別の例を示す図で
ある。
ある。
【図１８】図１８は、光学素子の更に別の例を示す図で
ある。
ある。
【図１９】図１９は、光ディスク装置の別の例を示す図
である。
である。
【図２０】図２０は、光学装置の別の例を示す図であ
る。
る。
【図２１】図２１は、図２０に示される光学装置を備え
る光ディスク装置の構成を示す図である。
る光ディスク装置の構成を示す図である。
【図２２】図２２は、光学装置の更に別の例を示す図で
ある。
ある。
【図２３】図２３は、図２３に示される光学装置を備え
る光ディスク装置の構成を示す図である。
る光ディスク装置の構成を示す図である。
【図２４】図２４は、光学素子の更に別の例を示す図で
ある。
ある。
【図２５】図２５は、光学素子の更に別の例を示す図で
ある。
ある。
【図２６】図２６は、光学素子の更に別の例を示す図で
ある。
ある。
【図２７】図２７は、図２３に示される光学装置の具体
例を示す図である。
例を示す図である。
７ ：光源 ８ ：集光光学系 ９ ：光ディスク １１ ：トラックキングエラー検知用光学系 ２０ ：対物レンズ １４５：光学素子 １４６：２分割光検知器
Claims (10)
- 【請求項１】集光レンズにより集光される光ビームを受
光する複数の受光部を備える光検出器を有する光学装置
において、 光ビームの光軸のずれに応じて受光量が相対的に減少す
る受光部の受光量を、光ビームの光軸のずれに応じて受
光量が相対的に増大する受光部の受光量に比して相対的
に増大させる光学的手段を備えてなる、 光学装置。 - 【請求項２】トラッキングエラー検出用の光学系から得
られたトラッキングエラー信号に基いて、光ビームの集
光スポットをトラック上に追従させるトラッキング装置
であって、 前記トラッキングエラー検出用の光学系は、集光レンズ
により集光される光ビームを受光する複数の受光部の出
力の差分値を、トラッキングエラー信号として出力する
光検出器を有する光学装置を含み、 光ビームの光軸のずれに応じて受光量が相対的に減少す
る受光部の受光量を、光ビームの光軸のずれに応じて受
光量が相対的に増大する受光部の受光量に比して相対的
に増大させる光学的手段を備えてなる、 トラッキング装置。 - 【請求項３】トラッキングエラー検出用の光学系から得
られたトラッキングエラー信号に基いて光ビームの集光
スポットをトラック上に追従させながら、トラックから
情報の読み取りを行う光ディスク装置であって、 前記トラッキングエラー検出用の光学系は、集光レンズ
により集光される光ビームを受光する複数の受光部の出
力の差分値を、トラッキングエラー信号として出力する
光検出器を有する光学装置を含み、 光ビームの光軸のずれに応じて受光量が相対的に減少す
る受光部の受光量を、光ビームの光軸のずれに応じて受
光量が相対的に増大する受光部の受光量に比して相対的
に増大させる光学的手段を備えてなる、 光ディスク装置。 - 【請求項４】前記光学的手段は、回折格子である、 請求項１記載の光学装置又は請求項２記載のトラッキン
グ装置又は請求項３記載の光ディスク装置。 - 【請求項５】前記光学的手段は、前記集光レンズと前記
受光部との間に配置されている、請求項１記載の光学装
置又は請求項２記載のトラッキング装置又は請求項３記
載の光ディスク装置。 - 【請求項６】光ビームの集光スポットをトラック上に追
従させながら、トラックから情報の読み取りを行う光デ
ィスク装置であって、 光ビームを出射する光源と、 前記光ビームを平行光にする光学系と、 前記平行光をトラック上に集光する対物レンズと、 前記光ビームのトラッキングエラーを検出するトラッキ
ングエラー検出器と、 前記光源からの光ビームを前記光学系に向けて通過する
と共に、前記光学系からの光ビームを回折して前記トラ
ッキングエラー検出器に入射させる第１の光学的手段
と、 前記光ビームの光軸のずれに応じて受光量が相対的に減
少する受光部の受光量を、光ビームの光軸のずれに応じ
て受光量が相対的に増大する受光部の受光量に比して相
対的に増大させる第２の光学的手段を備えてなる、 光ディスク装置。 - 【請求項７】請求項６記載の光ディスク装置であって、 前記光源と前記トラッキングエラー検出器とを搭載する
単一の基板とを備えてなる、 光ディスク装置。 - 【請求項８】請求項７記載の光ディスク装置であって、 前記光ビームのフォーカスエラーを検出するフォーカス
エラー検出器を更に備え、そして、 前記光学素子は、前記光学系からの光ビームを回折して
前記フォーカスエラー検出器に入射させる第３の光学的
手段を含んでいる、 光ディスク装置。 - 【請求項９】請求項８記載の光ディスク装置であって、 前記基板は、前記フォーカスエラー検出器を更に搭載し
ている、光ディスク装置。 - 【請求項１０】請求項９記載の光ディスク装置であっ
て、 前記第１の光学的手段は、第１の回折格子であり、 前記第２の光学的手段は、第２の回折格子であり、 前記第３の光学的手段は、第３の回折格子であり、そし
て、 前記第１と第２と第３の回折格子は、相互に異なる格子
形状子の回折格子を含む単一の薄板状の回折格子板であ
る、 光ディスク装置。
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