JPH11339969A - 有機el素子 - Google Patents

有機el素子

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JPH11339969A
JPH11339969A JP10158490A JP15849098A JPH11339969A JP H11339969 A JPH11339969 A JP H11339969A JP 10158490 A JP10158490 A JP 10158490A JP 15849098 A JP15849098 A JP 15849098A JP H11339969 A JPH11339969 A JP H11339969A
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JP
Japan
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film
electrode
organic
low
resistance metal
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Withdrawn
Application number
JP10158490A
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English (en)
Inventor
Michio Arai
三千男 荒井
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TDK Corp
Original Assignee
TDK Corp
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Publication date
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Publication of JPH11339969A publication Critical patent/JPH11339969A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 電極の剥離を抑制し、発光領域の発光面積の
低下がない有機EL素子を実現する。 【解決手段】 基板上に、ホール注入電極、有機層およ
び電子注入電極を、この順に有する有機EL素子におい
て、電子注入電極上に内部応力1×108dyn/cm2以下の
Al−Ti等の低抵抗メタル膜(混合膜、積層膜、傾斜
膜)で形成した保護電極を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、有機化合物を用い
た有機EL素子に関し、さらに詳細には、発光層にホー
ル(電荷)、電子を供給する電極と有機層界面等の改良
に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、有機EL素子が盛んに研究されて
いる。これは、ホール注入電極上にトリフェニルジアミ
ン(TPD)などのホール輸送材料を蒸着により薄膜と
し、さらにアルミキノリノール錯体(Alq3)などの
蛍光物質を発光層として積層し、さらにMgなどの仕事
関数の小さな金属電極(電子注入電極)を形成した基本
構成を有する素子で、10V前後の電圧で数100から
数10,000cd/m2ときわめて高い輝度が得られるこ
とで注目されている。
【0003】有機EL素子において、電子注入電極は、
Li、Mg等の耐食性の低い金属を含有するので、電子
注入電極上には保護電極が設けられている。一般に、保
護電極はAlスパッタ膜などで形成されている。製法
上、発光層のような有機層のダメージの少ない低スパッ
タ動作圧力条件下で成膜すると、Alスパッタ膜の引張
応力が大きくなり、電極の剥離等が生じたり、連続駆動
によりダークスポットと呼ばれる非発光領域が生じ、発
光領域が減少してしまう。一方、スパッタ動作圧力を高
くして引張応力を適性範囲に制御することも可能である
が、有機層にダメージを与え、駆動電圧が上昇する。そ
こで、こうした不都合を解消した保護電極が望まれてい
る。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、電極
の剥離を抑制し、発光領域の発光面積の低下がない有機
EL素子を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的は、下記の本発
明によって達成される。 (1) 基板上にホール注入電極を有し、このホール注
入電極上に有機層を有し、この有機層上に電子注入電極
を有する有機EL素子において、前記電子注入電極上
に、Ti、Mo、W、Ni、Ta、Cu、HfおよびC
rから選択される少なくとも1種の低抵抗メタル膜とA
l膜との積層膜で形成した保護電極を設け、保護電極の
内部応力の絶対値を1×108dyn/cm2以下とした有機E
L素子。 (2) 低抵抗メタル膜がTi膜である上記(1)の有
機EL素子。 (3) Al膜と前記低抵抗メタル膜との膜厚比、Al
膜/前記低抵抗メタル膜が1〜9である上記(1)また
は(2)の有機EL素子。 (4) 基板上にホール注入電極を有し、このホール注
入電極上に有機層を有し、この有機層上に電子注入電極
を有する有機EL素子において、前記電子注入電極上
に、Ti、Mo、W、Ni、Ta、Cu、HfおよびC
rから選択される少なくとも1種の低抵抗メタルとAl
との混合膜で形成した保護電極を設け、保護電極の内部
応力の絶対値を1×108dyn/cm2以下とした有機EL素
子。 (5) 基板上にホール注入電極を有し、このホール注
入電極上に有機層を有し、この有機層上に電子注入電極
を有する有機EL素子において、前記電子注入電極上
に、Ti、Mo、W、Ni、Ta、Cu、HfおよびC
rから選択される少なくとも1種の低抵抗メタルとAl
とを含有し、前記低抵抗メタルおよびAlの含有量を電
子注入電極側と表面側とで変化させた前記低抵抗メタル
およびAlの濃度勾配を有する傾斜膜で形成した保護電
極を設け、保護電極の内部応力の絶対値を1×108dyn
/cm2以下とした有機EL素子。 (6) 低抵抗メタルがTiである上記(4)または
(5)の有機EL素子。 (7) 保護電極のAl含有量が50〜90at%である
上記(4)〜(6)のいずれかの有機EL素子。 (8) 保護電極がスパッタ法により成膜された上記
(1)〜(7)のいずれかの有機EL素子。 (9) スパッタ圧力が0.1〜1Paである上記
(8)の有機EL素子。
【0006】
【発明の実施の形態】以下、本発明について詳細に説明
する。本発明の有機EL素子は、基板上にホール注入電
極を有し、ホール注入電極層上には有機層が設けられて
おり、有機層上に電子注入電極を有するものであり、さ
らに電子注入電極上には内部応力の絶対値が1×108d
yn/cm2以下である保護電極が設けられている。保護電極
はAlと好ましくはTiとを含有し、好ましくはスパッ
タ法により成膜されたものである。この場合のAl−T
i膜は、AlとTiとの混合膜であってもよく、Al膜
とTi膜との積層膜であってもよい。さらには、Alお
よびTiの含有量を電子注入電極側と表面側とで変化さ
せたAlおよびTiの濃度勾配を有する傾斜膜であって
もよい。
【0007】このような保護電極を設けることによっ
て、電子注入電極の内部応力を緩和するとともに、保護
電極の内部応力が上記の適正範囲に制御されるため、電
極の剥離が抑制され、発光領域の発光面積の低下がな
い。また、スパッタ法により成膜する場合、低いスパッ
タ動作圧力にでき、製造が容易である。
【0008】上述のように、本発明では、AlとTiを
用いることが好ましく、Tiが本発明の効果を得る上で
好ましいが、TiのかわりにMo、W、Ni、Ta、C
u、HfおよびCrから選択される低抵抗メタル[20
℃での抵抗率(Ω・cm)が10-5〜10-6程度のオーダ
ーのもの]を用いてもよい。
【0009】保護電極の内部応力が上記の範囲に制御さ
れるのは、低スパッタ動作圧力条件下においてAlスパ
ッタ膜を成膜した場合引張応力が大きくなるが、Ti等
の低抵抗メタルを併用することによって、Ti等の低抵
抗メタルを同様の低スパッタ動作圧力条件下で成膜した
場合に生じる同程度の大きさの圧縮応力によって緩和さ
れるためと考えられる。
【0010】このように、AlとTi等の低抵抗メタル
とを併用することによって、保護電極の内部応力を、−
1×108〜+1×108dyn/cm2、好ましくは−0.5
×108〜+0.5×108dyn/cm2に制御することがで
き、より好ましくは0〜+0.5×108dyn/cm2の引張
応力に制御することができる。
【0011】これに対し、Alのみでは、有機層のダメ
ージの少ない低スパッタ動作圧力条件下で成膜すると、
Alスパッタ膜の引張応力が大きくなって内部応力を上
記範囲とできず、Ti等の低抵抗メタルのみでは低スパ
ッタ動作圧力条件下でスパッタを行うと、Ti等の低抵
抗メタルスパッタ膜の圧縮応力が大きくなって内部応力
を上記範囲にできない。また、Alスパッタ膜あるいは
Ti等の低抵抗メタルスパッタ膜のみで内部応力を上記
範囲にすることも可能ではあるが、スパッタ動作圧力が
高くなりすぎて、有機層のダメージが大きくなり、駆動
電圧が上昇する。
【0012】なお、保護電極の内部応力は、保護電極
を、例えばシリコンウェハー上に実際と同条件で成膜し
て測定することができる。
【0013】本発明の保護電極がAlとTi等の低抵抗
メタルとの混合膜である場合、Alの含有量は50〜9
0at%、さらには60〜80at%であることが好まし
い。
【0014】また、Al膜とTi等の低抵抗メタル膜と
の積層膜である場合、通常2層構成とされるが、電子注
入電極側に成膜するのは、Al膜であっても、Ti等の
低抵抗メタル膜であってもよく、特に制限はない。ま
た、3層以上の多層構成としてもよい。Al膜とTi等
の低抵抗メタル膜との膜厚比はAl膜/Ti等の低抵抗
メタル膜=1〜9程度である。なお、Al膜とTi等の
低抵抗メタル膜との接触界面においては、AlとTi等
の低抵抗メタルとが相互に拡散していてもよい。
【0015】また、AlとTi等の低抵抗メタルの傾斜
膜である場合、Al含有量(あるいはTi等の低抵抗メ
タル含有量)は、電子注入電極側で大きくなっても、表
面側で大きくなってもよく、連続的に変化しても断続的
に変化してもよく、特に制限はない。このような傾斜膜
全体におけるAlとTi等の低抵抗メタルの含有量は混
合膜におけるものと同様である。
【0016】傾斜膜におけるAlおよびTi等の低抵抗
メタルの濃度勾配は、イオンエッチングを行いながらオ
ージェ電子分光法等を用いて確認することができる。こ
の場合の濃度勾配は、例えばAl含有量が表面で80at
%程度、表面から1/2の位置で70at%程度、電子注入
電極界面で60at%程度となるようなものであってもよ
く、このほかAl含有量が表面と電子注入電極界面とで
反対になるようなものであってもよく、種々のものであ
ってよい。
【0017】なお、Ti等の低抵抗メタルは、1種のみ
を用いても2種以上を併用してもよい。また、Alおよ
びTi等の低抵抗メタルのみで保護電極を構成すること
が好ましいが、このほかSc、Nb、Zr、Nd、S
i、Mn、Pd、Pt等の金属元素を含有していてもよ
い。
【0018】保護電極の厚さは、積層膜である場合は合
計厚で100〜500nmであることが好ましく、さらに
は200〜300nmであることが好ましい。保護電極が
薄くなると、保護電極としての機能を果たし得ず、信頼
性が低下し、厚くなると全体の応力の制御が困難にな
り、保護電極が剥離しやすくなる。保護電極は、電極の
剥離や発光領域の発光面積の減少防止のほかに、水分や
酸素あるいは有機溶媒の進入を防止したり、配線電極と
しての機能を有することもある。
【0019】Al−Ti等の低抵抗メタル膜はスパッタ
法により成膜されることが好ましいが、具体的には公知
の方法によればよい。スパッタ動作圧力は、好ましくは
0.1〜1Paである。AlとTi等の低抵抗メタルと
の混合膜は、AlターゲットとTi等の低抵抗メタルの
ターゲットとを用いて同時多元スパッタを行っても、A
l−Ti等の低抵抗メタル合金のターゲットを用いてス
パッタを行ってもよい。また、積層膜とする場合は、A
l膜あるいはTi等の低抵抗メタル膜をスパッタにより
形成した後、Ti等の低抵抗メタル膜あるいはAl膜を
スパッタにより形成すればよい。傾斜膜は、スパッタ圧
力を上記範囲で調節することや、Al−Ti等の低抵抗
メタル合金のターゲットとAlあるいはTi等の低抵抗
メタルのターゲットとを同時に用いてスパッタすること
などにより得られる。
【0020】スパッタ法としてはDCスパッタが好まし
く、その投入電力としては、好ましくは0.1〜4W/
cm2 の範囲が好ましい。特にDCスパッタ装置の電力と
しては、好ましくは0.1〜10W/cm2、特に0.2
〜5W/cm2の範囲である。また、成膜レートは2〜1
00nm/min 、特に5〜50nm/min の範囲が好まし
い。
【0021】スパッタガスとしては特に限定するもので
はなく、Ar、He、Ne、Kr、Xe等の不活性ガ
ス、あるいはこれらの混合ガスを用いればよい。
【0022】本発明の有機EL素子は、例えば図1に示
すように、基板1上にホール注入電極2と、電子注入電
極4と、これらの電極間に設けられた有機層3とを有す
る。有機層3は少なくとも発光層を有し、このほか必要
に応じホール注入輸送層、電子注入輸送層などを有す
る。有機層3上には電子注入電極4を有し、さらに最上
層として保護電極5が設けられている。
【0023】基板に設けられるホール注入電極では、ホ
ール注入を十分行える一定以上の厚さを有すれば良く、
50nm以上が好ましく、より好ましくは50〜500n
m、特に50〜400nmの範囲が好ましい。膜厚を15
0nm以上とすることにより、抵抗値が低下し、特に好ま
しい結果が得られる。
【0024】ホール注入電極を形成する場合、通常、基
板側から発光した光を取り出す構造であるため、透明な
電極が好ましく、ITO(錫ドープ酸化インジウム)、
IZO(亜鉛ドープ酸化インジウム)、ZnO、SnO
2 、In23 等が挙げられるが、好ましくはITO
(錫ドープ酸化インジウム)、IZO(亜鉛ドープ酸化
インジウム)が好ましい。In2 3 に対しSnO2
混合比は、1〜20wt%が好ましく、さらには5〜12
wt%が好ましい。In2 3 に対しZnOの混合比は、
1〜20wt%が好ましく、さらには5〜12wt%が好ま
しい。その他にSn、Ti、Pb等が酸化物の形で、酸
化物換算にして1wt%以下含まれていてもよい。
【0025】ホール注入電極は蒸着法等によっても形成
できるが、好ましくはスパッタ法により形成することが
好ましい。ITO、IZO電極の形成にスパッタ法を用
いる場合、好ましくはIn2 3 にSnO2 やZnOを
ドープしたターゲットを用いる。スパッタ法によりIT
O透明電極を成膜した場合、蒸着により成膜したものよ
り発光輝度の経時変化が少ない。スパッタ法としてはD
Cスパッタが好ましく、その投入電力としては、好まし
くは0.1〜4W/cm2 の範囲が好ましい。特にDCス
パッタ装置の電力としては、好ましくは0.1〜10W
/cm2、特に0.2〜5W/cm2の範囲である。また、成
膜レートは2〜100nm/min 、特に5〜50nm/min
の範囲が好ましい。
【0026】スパッタガスとしては特に限定するもので
はなく、Ar、He、Ne、Kr、Xe等の不活性ガ
ス、あるいはこれらの混合ガスを用いればよい。このよ
うなスパッタガスのスパッタ時における圧力としては、
通常0.1〜20Pa程度でよい。
【0027】電子注入電極の構成材料としては、電子注
入を効果的に行う低仕事関数の物質が好ましく、例え
ば、K、Li、Na、Mg、La、Ce、Ca、Sr、
Ba、Al、Ag、In、Sn、Zn、Zr、Cs、E
r、Eu、Ga、Hf、Nd、Rb、Sc、Sm、T
a、Y、Yb等の金属元素単体、あるいは、BaO、B
aS、CaO、HfC、LaB6、MgO、MoC、N
bC、PbS、SrO、TaC、ThC、ThO2、T
hS、TiC、TiN、UC、UN、UO2、W2C、Y
23、ZrC、ZrN、ZrO2等の化合物を用いると
良い。または安定性を向上させるためには、金属元素を
含む2成分、3成分の合金系を用いることもできる。合
金系としては、例えばAl・Ca(Ca:5〜20at
%)、Al・In(In:1〜10at%)、Al・Li
(Li:0.1〜20at%未満)、Al・R〔RはY,
Scを含む希土類元素を表す〕等のアルミニウム系合金
やIn・Mg(Mg:50〜80at%)等が好ましい。
これらの中でも、特にAl単体やAl・Li(Li:
0.4〜6.5(ただし6.5を含まず)at%)または
(Li:6.5〜14at%)、Al・R(R:0.1〜
25、特に0.5〜20at%)等のアルミニウム系合金
も圧縮応力が発生しにくく好ましい。したがって、スパ
ッタターゲットとしては、通常このような電子注入電極
構成金属、合金を用いる。これらの仕事関数は4.5e
V以下であり、特に仕事関数が4.0eV以下の金属、
合金が好ましい。
【0028】電子注入電極の成膜には、蒸着法を用いて
もよいが、上記のようにスパッタ法を用いてもよい。ス
パッタ法による利点は以下のとおりである。成膜された
電子注入電極膜は、蒸着の場合と比較して、スパッタさ
れる原子や原子団が比較的高い運動エネルギーを有する
ため、表面マイグレーション効果が働き、有機層界面で
の密着性が向上する。また、プレスパッタを行うこと
で、真空中で表面酸化物層を除去したり、逆スパッタに
より有機層界面に吸着した水分や酸素を除去できるの
で、クリーンな電極−有機層界面や電極を形成でき、そ
の結果、高品位で安定した有機EL素子ができる。ター
ゲットとしては前記組成範囲の合金や、金属単独でも良
く、これらに加えて添加成分のターゲットを用いても良
い。さらに、蒸気圧の大きく異なる材料の混合物をター
ゲットとして用いても、生成する膜とターゲットとの組
成のズレは少なく、蒸着法のように蒸気圧等による使用
材料の制限もない。また、蒸着法に比較して材料を長時
間供給する必要がなく、膜厚や膜質の均一性に優れ、生
産性の点で有利である。
【0029】スパッタ法により形成された電子注入電極
は、一般的に、緻密な膜なので、粗な蒸着膜に比較して
膜中への水分の進入が非常に少なく、化学的安定性が高
く、長寿命の有機EL素子が得られる。
【0030】スパッタ時のスパッタガスの圧力は、好ま
しくは0.1〜5Paの範囲が好ましく、この範囲でスパ
ッタガスの圧力を調節することにより、前記範囲のLi
濃度のAlLi合金を容易に得ることができる。また、
成膜中にスパッタガスの圧力を、前記範囲内で変化させ
ることにより、上記Li濃度勾配を有する電子注入電極
を容易に得ることができる。また、成膜ガス圧力と基板
ターゲット間距離の積が20〜65Pa・cmを満たす成膜
条件にすることが好ましい。
【0031】スパッタガスは、通常のスパッタ装置に使
用される不活性ガスや、反応性スパッタではこれに加え
てN2、H2、O2、C24、NH3等の反応性ガスが使用
可能である。
【0032】スパッタ法としてはRF電源を用いた高周
波スパッタ法等も可能であるが、成膜レートの制御が容
易であり、有機EL素子構造体へのダメージを少なくす
るためにはDCスパッタ法を用いることが好ましい。D
Cスパッタ装置の電力としては、好ましくは0.1〜1
0W/cm2、特に0.5〜7W/cm2の範囲である。ま
た、成膜レートは5〜100nm/min 、特に10〜50
nm/min の範囲が好ましい。
【0033】電子注入電極の成膜は、材質等により、蒸
着法あるいはスパッタ法を選択すればよい。
【0034】電子注入電極薄膜の厚さは、電子注入を十
分行える一定以上の厚さとすれば良く、1nm以上、好ま
しくは3nm以上とすればよい。また、その上限値には特
に制限はないが、通常膜厚は3〜500nm程度とすれば
よい。
【0035】次に、本発明のEL素子に設けられる有機
層について述べる。発光層は、ホール(正孔)および電
子の注入機能、それらの輸送機能、ホールと電子の再結
合により励起子を生成させる機能を有する。発光層には
比較的電子的にニュートラルな化合物を用いることが好
ましい。
【0036】ホール注入輸送層は、ホール注入電極から
のホールの注入を容易にする機能、ホールを安定に輸送
する機能および電子を妨げる機能を有し、電子注入輸送
層は、電子注入電極からの電子の注入を容易にする機
能、電子を安定に輸送する機能およびホールを妨げる機
能を有するものであり、これらの層は、発光層に注入さ
れるホールや電子を増大・閉じこめさせ、再結合領域を
最適化させ、発光効率を改善する。
【0037】発光層の厚さ、ホール注入輸送層の厚さお
よび電子注入輸送層の厚さは特に限定されず、形成方法
によっても異なるが、通常、5〜500nm程度、特に1
0〜300nmとすることが好ましい。
【0038】ホール注入輸送層の厚さおよび電子注入輸
送層の厚さは、再結合・発光領域の設計によるが、発光
層の厚さと同程度もしくは1/10〜10倍程度とすれ
ばよい。ホールもしくは電子の、各々の注入層と輸送層
を分ける場合は、注入層は1nm以上、輸送層は1nm以上
とするのが好ましい。このときの注入層、輸送層の厚さ
の上限は、通常、注入層で500nm程度、輸送層で50
0nm程度である。このような膜厚については注入輸送層
を2層設けるときも同じである。
【0039】本発明の有機EL素子の発光層には発光機
能を有する化合物である蛍光性物質を含有させる。この
ような蛍光性物質としては、例えば、特開昭63−26
4692号公報に開示されているような化合物、例えば
キナクリドン、ルブレン、スチリル系色素等の化合物か
ら選択される少なくとも1種が挙げられる。また、トリ
ス(8−キノリノラト)アルミニウム等の8−キノリノ
ールないしその誘導体を配位子とする金属錯体色素など
のキノリン誘導体、テトラフェニルブタジエン、アント
ラセン、ペリレン、コロネン、12−フタロペリノン誘
導体等が挙げられる。さらには、特願平6−11056
9号のフェニルアントラセン誘導体、特願平6−114
456号のテトラアリールエテン誘導体等を用いること
ができる。
【0040】また、それ自体で発光が可能なホスト物質
と組み合わせて使用することが好ましく、ドーパントと
しての使用が好ましい。このような場合の発光層におけ
る化合物の含有量は0.01〜10wt% 、さらには0.
1〜5wt% であることが好ましい。ホスト物質と組み合
わせて使用することによって、ホスト物質の発光波長特
性を変化させることができ、長波長に移行した発光が可
能になるとともに、素子の発光効率や安定性が向上す
る。
【0041】ホスト物質としては、キノリノラト錯体が
好ましく、さらには8−キノリノールないしその誘導体
を配位子とするアルミニウム錯体が好ましい。このよう
なアルミニウム錯体としては、特開昭63−26469
2号、特開平3−255190号、特開平5−7073
3号、特開平5−258859号、特開平6−2158
74号等に開示されているものを挙げることができる。
【0042】具体的には、まず、トリス(8−キノリノ
ラト)アルミニウム、ビス(8−キノリノラト)マグネ
シウム、ビス(ベンゾ{f}−8−キノリノラト)亜
鉛、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)アルミニウ
ムオキシド、トリス(8−キノリノラト)インジウム、
トリス(5−メチル−8−キノリノラト)アルミニウ
ム、8−キノリノラトリチウム、トリス(5−クロロ−
8−キノリノラト)ガリウム、ビス(5−クロロ−8−
キノリノラト)カルシウム、5,7−ジクロル−8−キ
ノリノラトアルミニウム、トリス(5,7−ジブロモ−
8−ヒドロキシキノリノラト)アルミニウム、ポリ[亜
鉛(II)−ビス(8−ヒドロキシ−5−キノリニル)メ
タン]、等がある。
【0043】また、8−キノリノールないしその誘導体
のほかに他の配位子を有するアルミニウム錯体であって
もよく、このようなものとしては、ビス(2−メチル−
8−キノリノラト)(フェノラト)アルミニウム(III)
、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(オルト−
クレゾラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−
8−キノリノラト)(メタークレゾラト)アルミニウム
(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(パラ
−クレゾラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル
−8−キノリノラト)(オルト−フェニルフェノラト)
アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノ
ラト)(メタ−フェニルフェノラト)アルミニウム(II
I) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(パラ−
フェニルフェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−
メチル−8−キノリノラト)(2,3−ジメチルフェノ
ラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キ
ノリノラト)(2,6−ジメチルフェノラト)アルミニ
ウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)
(3,4−ジメチルフェノラト)アルミニウム(III) 、
ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(3,5−ジメ
チルフェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチ
ル−8−キノリノラト)(3,5−ジ−tert−ブチルフ
ェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8
−キノリノラト)(2,6−ジフェニルフェノラト)ア
ルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラ
ト)(2,4,6−トリフェニルフェノラト)アルミニ
ウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)
(2,3,6−トリメチルフェノラト)アルミニウム(I
II) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(2,
3,5,6−テトラメチルフェノラト)アルミニウム(I
II) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(1−ナ
フトラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8
−キノリノラト)(2−ナフトラト)アルミニウム(II
I) 、ビス(2,4−ジメチル−8−キノリノラト)
(オルト−フェニルフェノラト)アルミニウム(III) 、
ビス(2,4−ジメチル−8−キノリノラト)(パラ−
フェニルフェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2,
4−ジメチル−8−キノリノラト)(メタ−フェニルフ
ェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2,4−ジメチ
ル−8−キノリノラト)(3,5−ジメチルフェノラ
ト)アルミニウム(III) 、ビス(2,4−ジメチル−8
−キノリノラト)(3,5−ジ−tert−ブチルフェノラ
ト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−4−エチ
ル−8−キノリノラト)(パラ−クレゾラト)アルミニ
ウム(III) 、ビス(2−メチル−4−メトキシ−8−キ
ノリノラト)(パラ−フェニルフェノラト)アルミニウ
ム(III) 、ビス(2−メチル−5−シアノ−8−キノリ
ノラト)(オルト−クレゾラト)アルミニウム(III) 、
ビス(2−メチル−6−トリフルオロメチル−8−キノ
リノラト)(2−ナフトラト)アルミニウム(III) 等が
ある。
【0044】このほか、ビス(2−メチル−8−キノリ
ノラト)アルミニウム(III) −μ−オキソ−ビス(2−
メチル−8−キノリノラト)アルミニウム(III) 、ビス
(2,4−ジメチル−8−キノリノラト)アルミニウム
(III) −μ−オキソ−ビス(2,4−ジメチル−8−キ
ノリノラト)アルミニウム(III) 、ビス(4−エチル−
2−メチル−8−キノリノラト)アルミニウム(III) −
μ−オキソ−ビス(4−エチル−2−メチル−8−キノ
リノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−4
−メトキシキノリノラト)アルミニウム(III) −μ−オ
キソ−ビス(2−メチル−4−メトキシキノリノラト)
アルミニウム(III) 、ビス(5−シアノ−2−メチル−
8−キノリノラト)アルミニウム(III) −μ−オキソ−
ビス(5−シアノ−2−メチル−8−キノリノラト)ア
ルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−5−トリフルオ
ロメチル−8−キノリノラト)アルミニウム(III) −μ
−オキソ−ビス(2−メチル−5−トリフルオロメチル
−8−キノリノラト)アルミニウム(III) 等であっても
よい。
【0045】このほかのホスト物質としては、特願平6
−110569号に記載のフェニルアントラセン誘導体
や特願平6−114456号に記載のテトラアリールエ
テン誘導体なども好ましい。
【0046】発光層は電子注入輸送層を兼ねたものであ
ってもよく、このような場合はトリス(8−キノリノラ
ト)アルミニウム等を使用することが好ましい。これら
の蛍光性物質を蒸着すればよい。
【0047】また、必要に応じて発光層は、少なくとも
一種以上のホール注入輸送性化合物と少なくとも1種以
上の電子注入輸送性化合物との混合層とすることも好ま
しく、この混合層中にドーパントを含有させることが好
ましい。このような混合層における化合物の含有量は、
0.01〜20wt% 、さらには0.1〜15wt% とする
ことが好ましい。
【0048】混合層では、キャリアのホッピング伝導パ
スができるため、各キャリアは極性的に優勢な物質中を
移動し、逆の極性のキャリア注入は起こり難くなり、有
機化合物がダメージを受け難くなり、素子寿命がのびる
という利点があるが、前述のドーパントをこのような混
合層に含有させることにより、混合層自体のもつ発光波
長特性を変化させることができ、発光波長を長波長に移
行させることができるとともに、発光強度を高め、かつ
素子の安定性を向上させることができる。
【0049】混合層に用いられるホール注入輸送性化合
物および電子注入輸送性化合物は、各々、後述のホール
注入輸送層用の化合物および電子注入輸送層用の化合物
の中から選択すればよい。なかでも、ホール注入輸送層
用の化合物としては、強い蛍光を持ったアミン誘導体、
例えばホール輸送材料であるトリフェニルジアミン誘導
体、さらにはスチリルアミン誘導体、芳香族縮合環を持
つアミン誘導体を用いるのが好ましい。
【0050】電子注入輸送性の化合物としては、キノリ
ン誘導体、さらには8−キノリノールないしその誘導体
を配位子とする金属錯体、特にトリス(8−キノリノラ
ト)アルミニウム(Alq3)を用いることが好まし
い。また、上記のフェニルアントラセン誘導体、テトラ
アリールエテン誘導体を用いるのも好ましい。
【0051】ホール注入輸送層用の化合物としては、強
い蛍光を持ったアミン誘導体、例えば上記のホール輸送
材料であるトリフェニルジアミン誘導体、さらにはスチ
リルアミン誘導体、芳香族縮合環を持つアミン誘導体を
用いるのが好ましい。
【0052】この場合の混合比は、それぞれのキャリア
移動度とキャリア濃度を考慮する事で決定するが、一般
的には、ホール注入輸送性化合物の化合物/電子注入輸
送機能を有する化合物の重量比が、1/99〜99/
1、さらには10/90〜90/10、特には20/8
0〜80/20程度となるようにすることが好ましい。
【0053】また、混合層の厚さは、分子層一層に相当
する厚みから、有機化合物層の膜厚未満とすることが好
ましく、具体的には1〜85nmとすることが好ましく、
さらには5〜60nm、特には5〜50nmとすることが好
ましい。
【0054】また、混合層の形成方法としては、異なる
蒸着源より蒸発させる共蒸着が好ましいが、蒸気圧(蒸
発温度)が同程度あるいは非常に近い場合には、予め同
じ蒸着ボード内で混合させておき、蒸着することもでき
る。混合層は化合物同士が均一に混合している方が好ま
しいが、場合によっては、化合物が島状に存在するもの
であってもよい。発光層は、一般的には、有機蛍光物質
を蒸着するか、あるいは樹脂バインダー中に分散させて
コーティングすることにより、発光層を所定の厚さに形
成する。
【0055】また、ホール注入輸送層には、例えば、特
開昭63−295695号公報、特開平2−19169
4号公報、特開平3−792号公報、特開平5−234
681号公報、特開平5−239455号公報、特開平
5−299174号公報、特開平7−126225号公
報、特開平7−126226号公報、特開平8−100
172号公報、EP0650955A1等に記載されて
いる各種有機化合物を用いることができる。例えば、テ
トラアリールベンジシン化合物(トリアリールジアミン
ないしトリフェニルジアミン:TPD)、芳香族三級ア
ミン、ヒドラゾン誘導体、カルバゾール誘導体、トリア
ゾール誘導体、イミダゾール誘導体、アミノ基を有する
オキサジアゾール誘導体、ポリチオフェン等である。こ
れらの化合物は2種以上を併用してもよく、併用すると
きは別層にして積層したり、混合したりすればよい。
【0056】ホール注入輸送層をホール注入層とホール
輸送層とに分けて設層する場合は、ホール注入輸送層用
の化合物のなかから好ましい組合せを選択して用いるこ
とができる。このとき、ホール注入電極(ITO等)側
からイオン化ポテンシャルの小さい化合物の層の順に積
層することが好ましい。また陽電極表面には薄膜性の良
好な化合物を用いることが好ましい。このような積層順
については、ホール注入輸送層を2層以上設けるときも
同様である。このような積層順とすることによって、駆
動電圧が低下し、電流リークの発生やダークスポットの
発生・成長を防ぐことができる。また、素子化する場
合、蒸着を用いているので1〜10nm程度の薄い膜も、
均一かつピンホールフリーとすることができるため、ホ
ール注入層にイオン化ポテンシャルが小さく、可視部に
吸収をもつような化合物を用いても、発光色の色調変化
や再吸収による効率の低下を防ぐことができる。ホール
注入輸送層は、発光層等と同様に上記の化合物を蒸着す
ることにより形成することができる。
【0057】また、必要に応じて設けられる電子注入輸
送層には、トリス(8−キノリノラト)アルミニウム
(Alq3)等の8−キノリノールなしいその誘導体を
配位子とする有機金属錯体などのキノリン誘導体、オキ
サジアゾール誘導体、ペリレン誘導体、ピリジン誘導
体、ピリミジン誘導体、キノキサリン誘導体、ジフェニ
ルキノン誘導体、ニトロ置換フルオレン誘導体等を用い
ることができる。電子注入輸送層は発光層を兼ねたもの
であってもよく、このような場合はトリス(8−キノリ
ノラト)アルミニウム等を使用することが好ましい。電
子注入輸送層の形成は発光層と同様に蒸着等によればよ
い。
【0058】電子注入輸送層を電子注入層と電子輸送層
とに分けて積層する場合には、電子注入輸送層用の化合
物の中から好ましい組み合わせを選択して用いることが
できる。このとき、電子注入電極側から電子親和力の値
の大きい化合物の順に積層することが好ましい。このよ
うな積層順については電子注入輸送層を2層以上設ける
ときも同様である。
【0059】基板材料としては、ガラスや石英、樹脂等
の透明ないし半透明材料を用いる。基板に色フィルター
膜や蛍光性物質を含む色変換膜、あるいは誘電体反射膜
を用いて発光色をコントロールしてもよい。
【0060】色フィルター膜には、液晶ディスプレイ等
で用いられているカラーフィルターを用いれば良いが、
有機ELの発光する光に合わせてカラーフィルターの特
性を調整し、取り出し効率・色純度を最適化すればよ
い。
【0061】また、EL素子材料や蛍光変換層が光吸収
するような短波長の外光をカットできるカラーフィルタ
ーを用いれば、素子の耐光性・表示のコントラストも向
上する。
【0062】また、誘電体多層膜のような光学薄膜を用
いてカラーフィルターの代わりにしても良い。
【0063】蛍光変換フィルター膜は、EL発光の光を
吸収し、蛍光変換膜中の蛍光体から光を放出させること
で、発光色の色変換を行うものであるが、組成として
は、バインダー、蛍光材料、光吸収材料の三つから形成
される。
【0064】蛍光材料は、基本的には蛍光量子収率が高
いものを用いれば良く、EL発光波長域に吸収が強いこ
とが望ましい。実際には、レーザー色素などが適してお
り、ローダミン系化合物・ペリレン系化合物・シアニン
系化合物・フタロシアニン系化合物(サブフタロ等も含
む)ナフタロイミド系化合物・縮合環炭化水素系化合物
・縮合複素環系化合物・スチリル系化合物・クマリン系
化合物等を用いればよい。
【0065】バインダーは基本的に蛍光を消光しないよ
うな材料を選べば良く、フォトリソグラフィー・印刷等
で微細なパターニングが出来るようなものが好ましい。
また、ITO、IZOの成膜時にダメージを受けないよ
うな材料が好ましい。
【0066】光吸収材料は、蛍光材料の光吸収が足りな
い場合に用いるが、必要の無い場合は用いなくても良
い。また、光吸収材料は、蛍光性材料の蛍光を消光しな
いような材料を選べば良い。
【0067】ホール注入輸送層、発光層および電子注入
輸送層の形成には、均質な薄膜が形成できることから真
空蒸着法を用いることが好ましい。真空蒸着法を用いた
場合、アモルファス状態または結晶粒径が0.1μm 以
下の均質な薄膜が得られる。結晶粒径が0.1μm を超
えていると、不均一な発光となり、素子の駆動電圧を高
くしなければならなくなり、電荷の注入効率も著しく低
下する。
【0068】真空蒸着の条件は特に限定されないが、1
-4Pa以下の真空度とし、蒸着速度は0.01〜1nm/
sec 程度とすることが好ましい。また、真空中で連続し
て各層を形成することが好ましい。真空中で連続して形
成すれば、各層の界面に不純物が吸着することを防げる
ため、高特性が得られる。また、素子の駆動電圧を低く
したり、ダークスポットの成長・発生を抑えたりするこ
とができる。
【0069】これら各層の形成に真空蒸着法を用いる場
合において、1層に複数の化合物を含有させる場合、化
合物を入れた各ボートを個別に温度制御して共蒸着する
ことが好ましい。
【0070】本発明の有機EL素子は、通常、直流駆動
型のEL素子として用いられるが、交流駆動またはパル
ス駆動とすることもできる。印加電圧は、通常、2〜2
0V程度とされる。
【0071】
【実施例】以下、本発明の具体的実施例を示し、本発明
をさらに詳細に説明する。 <実施例1>ガラス基板をDCスパッタ装置内に配置
し、錫ドープ酸化インジウム焼結体(SnO:10wt
%)をターゲットとして、ITO電極を100nm成膜し
た。このときの成膜条件は、投入電力100W、スパッ
タ時の圧力0.5Pa、スパッタガスはAr+1%O2
あった。
【0072】ITOからなるホール注入電極が成膜され
たガラス基板を、中性洗剤、アセトン、エタノールを用
いて超音波洗浄し、煮沸エタノール中から引き上げて乾
燥した。次いで、表面をUV/O3 洗浄した。
【0073】次いで、有機機能層と、電子注入電極と、
保護電極とを連続して形成した。なお、保護電極の形成
が終了するまで真空を破らなかった。
【0074】真空蒸着装置の基板ホルダーに固定して、
槽内を1×10-4Pa以下まで減圧した。4,4’,4”
−トリス(−N−(3−メチルフェニル)−N−フェニ
ルアミノ)トリフェニルアミン(以下、m−MTDAT
A)を蒸着速度0.2nm/sec.で40nmの厚さに蒸着
し、ホール注入層とし、次いで減圧状態を保ったまま、
N,N’−ジフェニル−N,N’−m−トリル−4,
4’−ジアミノ−1,1’−ビフェニル(以下、TP
D)を蒸着速度0.2nm/sec.で35nmの厚さに蒸着
し、ホール輸送層とした。さらに、減圧を保ったまま、
トリス(8−キノリノラト)アルミニウム(以下、Al
q3 )を蒸着速度0.2nm/sec.で50nmの厚さに蒸着
して、電子注入輸送・発光層とした。次いで減圧を保っ
たまま、MgAgを共蒸着(2元蒸着)で重量比Mg:
Ag=10:1にて200nmの厚さに成膜し、電子注入
電極とした。
【0075】さらに、減圧を保ったまま、このEL素子
基板をスパッタ装置に移し、AlTi合金(Al 70
at%)のターゲットを用いたDCスパッタ法により、ス
パッタ圧力0.5PaにてAlとTiとの混合膜からな
る保護電極を300nm厚に成膜した。この時スパッタガ
スにはArを用い、投入電力は500W、ターゲットの
大きさは4インチ径、基板とターゲットの距離は90mm
とした。これをサンプルNo.1とする。
【0076】サンプルNo.1において、ターゲットを
Alにかえて同条件でスパッタするほかは同様にしてA
l保護電極を有するサンプルNo.2を作製した。
【0077】さらに、サンプルNo.1において、ター
ゲットをTiにかえて同条件でスパッタするほかは同様
にしてTi保護電極を有するサンプルNo.3を作製し
た。有機EL素子の各サンプルの保護電極の内部応力
は、各サンプルと同じ保護電極を、シリコンウェハー上
に、同条件で成膜して測定した。
【0078】また、有機EL素子の各サンプルを乾燥空
気雰囲気中、80℃で、電流密度10mA/cm2 にて10
0時間駆動し、加速評価試験を行った。
【0079】100時間後の64ドット×7ラインの各
画素の発光を目視にて観察評価し、非発光領域の大きさ
を発光面積の減少率(%)とした(ドットサイズ100
μm×100μm )。結果を表1に示す。
【0080】
【表1】
【0081】表1より、保護電極をAlとTiとの混合
膜とした場合に内部応力が適正になり、電極の剥離など
による発光領域の発光面積の減少が抑制されることがわ
かる。また、スパッタ圧力も低く製造が容易である。こ
れに対し、Al膜では引張応力が大きくなるため、電極
の剥離などによる発光領域の発光面積の減少がみられ、
Ti膜では圧縮応力が大きくなるため、電極の剥離など
による発光領域の発光面積の減少がみられる。
【0082】<実施例2>実施例1のサンプルNo.1
において、電子注入電極側にAl膜(200nm厚)をス
パッタにより形成し、この上にTi膜(100nm厚)を
スパッタにより形成し、Al膜とTi膜との積層膜を保
護電極とするサンプルNo.11を得た。
【0083】このサンプルNo.11について、保護電
極の内部応力を実施例1と同様にして測定したところ、
0.4×108dyn/cm2であった。また、実施例1と同様
にして発光領域の発光面積の減少率を求めたところ2%
であった。
【0084】<実施例3>実施例2のサンプルNo.1
1において、保護電極の積層膜の積層順を反対にするほ
かは同様にしてサンプルNo.12を得、同様に評価し
たところ、サンプルNo.11と同様の良好な結果が得
られた。
【0085】<実施例4>実施例1のサンプルNo.1
において、AlとTiとを含有する傾斜膜の保護電極を
300nm厚にスパッタにより形成したサンプルNo.1
3を得た。保護電極の傾斜膜をイオンエッチングしなが
らオージェ電子顕微鏡を用いてAl濃度を調べたとこ
ろ、表面での濃度が80at%、さらに1/2の距離での
濃度が70at%、電子注入電極界面で60at%であっ
た。
【0086】このサンプルNo.13について、保護電
極の内部応力を実施例1と同様にして測定したところ、
0.4×108dyn/cm2であった。また、実施例1と同様
にして発光領域の発光面積の減少率を求めたところ、2
%であった。
【0087】<実施例5>実施例4のサンプルNo.1
3において、保護電極の傾斜膜のAl濃度の高低をサン
プルNo.13と反対にするほかは同様にしてサンプル
No.14を得、同様に評価したところ、サンプルN
o.13と同様の良好な結果が得られた。
【0088】<実施例6>実施例1〜5の本発明のサン
プルにおいて、電子注入電極としてAlLi電極をスパ
ッタ法にて400nmの膜厚に成膜するほかは同様にして
サンプルを作製した。いずれも、実施例1〜5の構成に
応じ同様の良好な結果が得られた。
【0089】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、電極の剥
離を抑制し、発光領域の発光面積の低下がない有機EL
素子を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の有機EL素子の一構成例を示す断面図
である。
【符号の説明】
1 基板 2 ホール注入電極 3 有機層 4 電子注入電極 5 保護電極

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板上にホール注入電極を有し、このホ
    ール注入電極上に有機層を有し、この有機層上に電子注
    入電極を有する有機EL素子において、 前記電子注入電極上に、Ti、Mo、W、Ni、Ta、
    Cu、HfおよびCrから選択される少なくとも1種の
    低抵抗メタル膜とAl膜との積層膜で形成した保護電極
    を設け、保護電極の内部応力の絶対値を1×108dyn/c
    m2以下とした有機EL素子。
  2. 【請求項2】 低抵抗メタル膜がTi膜である請求項1
    の有機EL素子。
  3. 【請求項3】 Al膜と前記低抵抗メタル膜との膜厚
    比、Al膜/前記低抵抗メタル膜が1〜9である請求項
    1または2の有機EL素子。
  4. 【請求項4】 基板上にホール注入電極を有し、このホ
    ール注入電極上に有機層を有し、この有機層上に電子注
    入電極を有する有機EL素子において、 前記電子注入電極上に、Ti、Mo、W、Ni、Ta、
    Cu、HfおよびCrから選択される少なくとも1種の
    低抵抗メタルとAlとの混合膜で形成した保護電極を設
    け、保護電極の内部応力の絶対値を1×108dyn/cm2
    下とした有機EL素子。
  5. 【請求項5】 基板上にホール注入電極を有し、このホ
    ール注入電極上に有機層を有し、この有機層上に電子注
    入電極を有する有機EL素子において、 前記電子注入電極上に、Ti、Mo、W、Ni、Ta、
    Cu、HfおよびCrから選択される少なくとも1種の
    低抵抗メタルとAlとを含有し、前記低抵抗メタルおよ
    びAlの含有量を電子注入電極側と表面側とで変化させ
    た前記低抵抗メタルおよびAlの濃度勾配を有する傾斜
    膜で形成した保護電極を設け、保護電極の内部応力の絶
    対値を1×108dyn/cm2以下とした有機EL素子。
  6. 【請求項6】 低抵抗メタルがTiである請求項4また
    は5の有機EL素子。
  7. 【請求項7】 保護電極のAl含有量が50〜90at%
    である請求項4〜6のいずれかの有機EL素子。
  8. 【請求項8】 保護電極がスパッタ法により成膜された
    請求項1〜7のいずれかの有機EL素子。
  9. 【請求項9】 スパッタ圧力が0.1〜1Paである請
    求項8の有機EL素子。
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