JPH11135264A - 有機el素子 - Google Patents
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
- H10K50/805—Electrodes
- H10K50/81—Anodes
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
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- H10K50/82—Cathodes
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- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/80—Constructional details
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 電極の剥離現象を抑制し、発光面積の低下が
無い有機EL素子を実現する。 【解決手段】 基板1上にホール注入電極2と、電子注
入電極5と、これらの電極間に設けられた1種以上の有
機層4とを有し、非発光領域であって、前記ホール注入
電極2または電子注入電極5と有機層4との間の一部の
領域に層間絶縁膜3を有し、この層間絶縁膜3の膜厚a
が250〜750nmである有機EL素子とした。
無い有機EL素子を実現する。 【解決手段】 基板1上にホール注入電極2と、電子注
入電極5と、これらの電極間に設けられた1種以上の有
機層4とを有し、非発光領域であって、前記ホール注入
電極2または電子注入電極5と有機層4との間の一部の
領域に層間絶縁膜3を有し、この層間絶縁膜3の膜厚a
が250〜750nmである有機EL素子とした。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、有機化合物を用い
た有機EL素子に関し、さらに詳細には、発光層にホー
ル(電荷)、電子を供給する電極と有機層界面等の改良
に関する。
た有機EL素子に関し、さらに詳細には、発光層にホー
ル(電荷)、電子を供給する電極と有機層界面等の改良
に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、有機EL素子が盛んに研究されて
いる。これは、ホール注入電極上にトリフェニルジアミ
ン(TPD)などのホール輸送材料を蒸着により薄膜と
し、さらにアルミキノリノール錯体(Alq3)などの
蛍光物質を発光層として積層し、さらにMgなどの仕事
関数の小さな金属電極(電子注入電極)を形成した基本
構成を有する素子で、10V前後の電圧で数100から
数10,000cd/m2ときわめて高い輝度が得られるこ
とで注目されている。
いる。これは、ホール注入電極上にトリフェニルジアミ
ン(TPD)などのホール輸送材料を蒸着により薄膜と
し、さらにアルミキノリノール錯体(Alq3)などの
蛍光物質を発光層として積層し、さらにMgなどの仕事
関数の小さな金属電極(電子注入電極)を形成した基本
構成を有する素子で、10V前後の電圧で数100から
数10,000cd/m2ときわめて高い輝度が得られるこ
とで注目されている。
【0003】有機EL素子をディスプレイに応用する場
合、所定の発光パターンに発光させることが必要であ
る。すなわち、マトリクスタイプのディスプレイとする
場合には、所定位置に所定の大きさのドットパターンを
与えられるような構造を必要とし、セグメント方式であ
れば所定のセグメント形状に発光するような構造を必要
とする。このような微細な発光パターンを得ようとする
場合、ホール注入電極や、電子注入電極等をこれらの発
光パターンに応じてパターニングする必要がある。
合、所定の発光パターンに発光させることが必要であ
る。すなわち、マトリクスタイプのディスプレイとする
場合には、所定位置に所定の大きさのドットパターンを
与えられるような構造を必要とし、セグメント方式であ
れば所定のセグメント形状に発光するような構造を必要
とする。このような微細な発光パターンを得ようとする
場合、ホール注入電極や、電子注入電極等をこれらの発
光パターンに応じてパターニングする必要がある。
【0004】ところが従来の方法では、金属マスクによ
り上部電極を成膜していたため、マスクのズレや、ホー
ル注入電極との位置合わせが容易ではなく、複雑なパタ
ーンの発光を困難にしていた。また、特に単純マトリク
スタイプのディスプレイにおいては、X−Yのマトリク
スで指定された交点以外でも発光が生じるいわゆるスト
ローク現象を防止する必要もあった。さらに、通常パタ
ーニングされたホール注入電極のエッジ部分では、積層
された有機層等の膜厚が薄くなるため、異常発光部分を
生じる恐れもあった。このため、例えば、特開昭61−
7596号公報、特開平3−250583号公報、同3
−274694号公報、同4−51494号公報等に記
載されているような層間絶縁膜を用いる手法が開発さ
れ、使用されている。
り上部電極を成膜していたため、マスクのズレや、ホー
ル注入電極との位置合わせが容易ではなく、複雑なパタ
ーンの発光を困難にしていた。また、特に単純マトリク
スタイプのディスプレイにおいては、X−Yのマトリク
スで指定された交点以外でも発光が生じるいわゆるスト
ローク現象を防止する必要もあった。さらに、通常パタ
ーニングされたホール注入電極のエッジ部分では、積層
された有機層等の膜厚が薄くなるため、異常発光部分を
生じる恐れもあった。このため、例えば、特開昭61−
7596号公報、特開平3−250583号公報、同3
−274694号公報、同4−51494号公報等に記
載されているような層間絶縁膜を用いる手法が開発さ
れ、使用されている。
【0005】すなわち、例えば図3に示すように、基板
1上に所定のパターンにホール注入電極2を形成し、さ
らにその上にSiO2 、ポリイミド等の絶縁材料からな
る層間絶縁膜3を成膜・パターニング形成する。この、
層間絶縁膜を所定のパターンに形成し、層間絶縁膜3が
介在しないでホール注入電極2と有機層4とが直接接触
する領域を発光部(画素)とすることにより、高精度な
表示パターンに対応可能となり、複雑なパターンや高精
細、高品位の表示が可能となった。
1上に所定のパターンにホール注入電極2を形成し、さ
らにその上にSiO2 、ポリイミド等の絶縁材料からな
る層間絶縁膜3を成膜・パターニング形成する。この、
層間絶縁膜を所定のパターンに形成し、層間絶縁膜3が
介在しないでホール注入電極2と有機層4とが直接接触
する領域を発光部(画素)とすることにより、高精度な
表示パターンに対応可能となり、複雑なパターンや高精
細、高品位の表示が可能となった。
【0006】しかし、このような層間絶縁膜3を成膜
し、さらにその上に有機層4、電子注入電極5、補助電
極6を成膜するわけであるが、成膜される電子注入電極
5、補助電極6内部には図4に示すような内部応力7が
存在する(図示例では電子注入電極の場合のみ例示して
いる)。この内部応力は、通常、引張応力または圧縮応
力であり、電子注入電極2の非成膜領域にもこれら電子
注入電極5、補助電極6が成膜されるため、これらの内
部応力が合成され、その内部応力の大きさや方向が異な
り、界面での接着強度の比較的弱い部分、すなわち、ホ
ール注入電極2上の有機層4と電子注入電極5との界面
等で電子注入電極等の剥離現象8が生じることがある。
この剥離現象8は特に層間絶縁膜縁部から中央部に向か
う傾斜部分において顕著である。また、このような剥離
現象が一部に生じるとそれが徐々に成長して行き、例え
ば図5に示すように発光部11が、11a,11bと徐
々に小さくなって行ってしまう場合もある。
し、さらにその上に有機層4、電子注入電極5、補助電
極6を成膜するわけであるが、成膜される電子注入電極
5、補助電極6内部には図4に示すような内部応力7が
存在する(図示例では電子注入電極の場合のみ例示して
いる)。この内部応力は、通常、引張応力または圧縮応
力であり、電子注入電極2の非成膜領域にもこれら電子
注入電極5、補助電極6が成膜されるため、これらの内
部応力が合成され、その内部応力の大きさや方向が異な
り、界面での接着強度の比較的弱い部分、すなわち、ホ
ール注入電極2上の有機層4と電子注入電極5との界面
等で電子注入電極等の剥離現象8が生じることがある。
この剥離現象8は特に層間絶縁膜縁部から中央部に向か
う傾斜部分において顕著である。また、このような剥離
現象が一部に生じるとそれが徐々に成長して行き、例え
ば図5に示すように発光部11が、11a,11bと徐
々に小さくなって行ってしまう場合もある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、電極
の剥離現象を抑制し、発光面積の低下が無い有機EL素
子を実現することである。
の剥離現象を抑制し、発光面積の低下が無い有機EL素
子を実現することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的は、以下の
(1)、(2)の構成により達成される。 (1) 基板上にホール注入電極と、電子注入電極と、
これらの電極間に設けられた1種以上の有機層とを有
し、非発光領域であって、前記ホール注入電極または電
子注入電極と有機層との間の一部の領域に層間絶縁膜を
有し、この層間絶縁膜の膜厚が250〜750nmである
有機EL素子。 (2) 前記電子注入電極上に、保護電極および/また
は保護膜を有し、これらの膜厚の総計が50〜500nm
である上記(1)の有機EL素子。
(1)、(2)の構成により達成される。 (1) 基板上にホール注入電極と、電子注入電極と、
これらの電極間に設けられた1種以上の有機層とを有
し、非発光領域であって、前記ホール注入電極または電
子注入電極と有機層との間の一部の領域に層間絶縁膜を
有し、この層間絶縁膜の膜厚が250〜750nmである
有機EL素子。 (2) 前記電子注入電極上に、保護電極および/また
は保護膜を有し、これらの膜厚の総計が50〜500nm
である上記(1)の有機EL素子。
【0009】
【発明の実施の形態】以下、本発明の具体的構成につい
て詳細に説明する。本発明の有機EL素子は、基板上に
ホール注入電極と、電子注入電極と、これらの電極間に
設けられた1種以上の有機層とを有し、発光部以外の領
域であって、前記ホール注入電極または電子注入電極と
有機層との間には層間絶縁膜を有し、この層間絶縁膜の
膜厚が250〜750nmである。
て詳細に説明する。本発明の有機EL素子は、基板上に
ホール注入電極と、電子注入電極と、これらの電極間に
設けられた1種以上の有機層とを有し、発光部以外の領
域であって、前記ホール注入電極または電子注入電極と
有機層との間には層間絶縁膜を有し、この層間絶縁膜の
膜厚が250〜750nmである。
【0010】層間絶縁膜の膜厚を厚くすることにより、
例えば図2に示すように、成膜される電子注入電極の内
部応力2が分断され、非発光部領域からの応力が発光部
に作用し難くなる。このため発光部での有機層−電子注
入電極界面、特に層間絶縁膜縁部から中央部に向かう傾
斜部分に作用する引張応力を分散することができ、この
部分での剥離現象を抑制することができる。
例えば図2に示すように、成膜される電子注入電極の内
部応力2が分断され、非発光部領域からの応力が発光部
に作用し難くなる。このため発光部での有機層−電子注
入電極界面、特に層間絶縁膜縁部から中央部に向かう傾
斜部分に作用する引張応力を分散することができ、この
部分での剥離現象を抑制することができる。
【0011】層間絶縁膜の膜厚は、250〜750nm、
好ましくは300〜700nmであり、有機層全体の膜厚
の、好ましくは1.5〜6倍、より好ましくは2〜5倍
程度が好ましい。層間絶縁膜の高さが低すぎると本発明
の効果が得られず、高すぎると有機層、電子注入電極お
よび補助電極等に段切れ(段部、特に層間絶縁膜縁部か
ら発光部の中央部分に向かう部分等での成膜時ないし成
膜後に生じる膜の不連続部分)が生じる場合がある。層
間絶縁膜の形成領域は、通常、電極の周囲に形成され
る。層間絶縁膜は、発光領域の大きさや、発光パターン
などにより必要な成膜領域が決定され、特に規制される
ものではないが、一般に、電極上で5〜50μm の幅、
基板上で5〜50μm の幅に成膜される。
好ましくは300〜700nmであり、有機層全体の膜厚
の、好ましくは1.5〜6倍、より好ましくは2〜5倍
程度が好ましい。層間絶縁膜の高さが低すぎると本発明
の効果が得られず、高すぎると有機層、電子注入電極お
よび補助電極等に段切れ(段部、特に層間絶縁膜縁部か
ら発光部の中央部分に向かう部分等での成膜時ないし成
膜後に生じる膜の不連続部分)が生じる場合がある。層
間絶縁膜の形成領域は、通常、電極の周囲に形成され
る。層間絶縁膜は、発光領域の大きさや、発光パターン
などにより必要な成膜領域が決定され、特に規制される
ものではないが、一般に、電極上で5〜50μm の幅、
基板上で5〜50μm の幅に成膜される。
【0012】層間絶縁膜の膜厚は、その上に成膜される
有機層との関係をも考慮して決めるとよい。通常、有機
層に対する膜厚は上記の通りであるが、有機層の膜厚が
厚すぎる場合、層間絶縁膜の膜厚を厚くすることにより
得られる効果が得難くなる場合がある。すなわち、有機
層全層の膜厚は、好ましくは100〜300nmである。
有機層との関係をも考慮して決めるとよい。通常、有機
層に対する膜厚は上記の通りであるが、有機層の膜厚が
厚すぎる場合、層間絶縁膜の膜厚を厚くすることにより
得られる効果が得難くなる場合がある。すなわち、有機
層全層の膜厚は、好ましくは100〜300nmである。
【0013】層間絶縁膜としては、SiO2等の酸化ケ
イ素、 窒化ケイ素などの無機系材料をスパッタや真空
蒸着で成膜したもの、SOG(スピン・オン・グラス)
で形成した酸化ケイ素層、フォトレジスト、ポリイミ
ド、アクリル樹脂などの樹脂系材料の塗膜など、絶縁性
を有するものであればいずれであってもよい。ただし、
絶縁層の下側にはITO等のホール注入電極(いわゆる
逆積層では電子注入電極)が存在するので、絶縁層形状
にパターニングする際に電極へダメージを与えないよう
なパターニングが可能な材料を用いることが好ましい。
このような好ましい層間絶縁膜材として、例えばポリイ
ミドが挙げられる。
イ素、 窒化ケイ素などの無機系材料をスパッタや真空
蒸着で成膜したもの、SOG(スピン・オン・グラス)
で形成した酸化ケイ素層、フォトレジスト、ポリイミ
ド、アクリル樹脂などの樹脂系材料の塗膜など、絶縁性
を有するものであればいずれであってもよい。ただし、
絶縁層の下側にはITO等のホール注入電極(いわゆる
逆積層では電子注入電極)が存在するので、絶縁層形状
にパターニングする際に電極へダメージを与えないよう
なパターニングが可能な材料を用いることが好ましい。
このような好ましい層間絶縁膜材として、例えばポリイ
ミドが挙げられる。
【0014】層間絶縁膜をスパッタ法で成膜する場合、
特に限定されるものではないが、DCスパッタが好まし
く、その投入電力としては、好ましくは0.1〜4W/
cm2の範囲が好ましい。特にDCスパッタ装置の電力と
しては、好ましくは0.1〜10W/cm2、特に0.2
〜5W/cm2の範囲である。また、成膜レートは2〜1
00nm/min 、特に5〜50nm/min の範囲が好まし
い。
特に限定されるものではないが、DCスパッタが好まし
く、その投入電力としては、好ましくは0.1〜4W/
cm2の範囲が好ましい。特にDCスパッタ装置の電力と
しては、好ましくは0.1〜10W/cm2、特に0.2
〜5W/cm2の範囲である。また、成膜レートは2〜1
00nm/min 、特に5〜50nm/min の範囲が好まし
い。
【0015】スパッタガスとしては特に限定するもので
はなく、Ar、He、Ne、Kr、Xe等の不活性ガ
ス、あるいはこれらの混合ガスを用いればよい。このよ
うなスパッタガスのスパッタ時における圧力としては、
通常0.1〜20Pa程度でよい。
はなく、Ar、He、Ne、Kr、Xe等の不活性ガ
ス、あるいはこれらの混合ガスを用いればよい。このよ
うなスパッタガスのスパッタ時における圧力としては、
通常0.1〜20Pa程度でよい。
【0016】フォトレジスト、ポリイミド、アクリル樹
脂などの樹脂系材料を用いる場合、通常の塗布、スピン
コート、ディッピング等により設けることができる。
脂などの樹脂系材料を用いる場合、通常の塗布、スピン
コート、ディッピング等により設けることができる。
【0017】層間絶縁膜を所定のパターンに形成するリ
ソグラフィ工程は、通常、上記のような無機系材料が成
膜された基板や、有機高分子の溶液が塗布等された基板
にレジスト塗布し、このレジスト膜に電子線、紫外線、
X線等を照射して露光した後、適当なアルカリ液で現像
を行う。次いで、層間絶縁膜のエッチングを施し、その
後レジストを除去する。レジスト膜の膜厚としては、通
常1〜2μm 程度である。
ソグラフィ工程は、通常、上記のような無機系材料が成
膜された基板や、有機高分子の溶液が塗布等された基板
にレジスト塗布し、このレジスト膜に電子線、紫外線、
X線等を照射して露光した後、適当なアルカリ液で現像
を行う。次いで、層間絶縁膜のエッチングを施し、その
後レジストを除去する。レジスト膜の膜厚としては、通
常1〜2μm 程度である。
【0018】すなわち、上記のレジスト膜を所定のパタ
ーンに露光する。露光に用いられるのは、電子線、紫外
線、X線等が挙げられ、照射は通常の方法に従えばよ
い。また描画は用いる電子線、紫外線等に応じて、マス
クを用いるなど、適宜所定の方法を選択すればよい。そ
の後、プレベークを行い、アルカリ液を用いて現像す
る。
ーンに露光する。露光に用いられるのは、電子線、紫外
線、X線等が挙げられ、照射は通常の方法に従えばよ
い。また描画は用いる電子線、紫外線等に応じて、マス
クを用いるなど、適宜所定の方法を選択すればよい。そ
の後、プレベークを行い、アルカリ液を用いて現像す
る。
【0019】レジストがネガ形である場合、未露光部分
のレジスト膜が溶解除去され、その部分の基板や下地が
露出する。その後ポストベークを行う。
のレジスト膜が溶解除去され、その部分の基板や下地が
露出する。その後ポストベークを行う。
【0020】現像後、基板に残ったレジスト膜を保護膜
として、基板をエッチングする。エッチングは、化学エ
ッチング液を用いる湿式エッチングでもプラズマや加速
イオンを用いるドライエッチングでもよい。湿式エッチ
ングに用いる化学エッチング液は基板の材質に応じて適
宜選択すればよく、H2O:HF:CH3COOH=5:
1:10等の他、HF液、NH4 F/HF/H2 O混液
等が挙げられる。
として、基板をエッチングする。エッチングは、化学エ
ッチング液を用いる湿式エッチングでもプラズマや加速
イオンを用いるドライエッチングでもよい。湿式エッチ
ングに用いる化学エッチング液は基板の材質に応じて適
宜選択すればよく、H2O:HF:CH3COOH=5:
1:10等の他、HF液、NH4 F/HF/H2 O混液
等が挙げられる。
【0021】また、ドライエッチングとして汎用されて
いるプラズマエッチングに用いるプラズマガスは、被着
体の材質に応じて適宜選択すればよく、SF6 、CHB
r3、CF4 等が挙げられる。
いるプラズマエッチングに用いるプラズマガスは、被着
体の材質に応じて適宜選択すればよく、SF6 、CHB
r3、CF4 等が挙げられる。
【0022】エッチングの具体的方法、条件等について
は、常法に従えばよい。そして、エッチング終了後、レ
ジスト膜が除去される。
は、常法に従えばよい。そして、エッチング終了後、レ
ジスト膜が除去される。
【0023】本発明の有機EL素子は、例えば図1に示
すように、基板上にホール注入電極2と、電子注入電極
5と、これらの電極間に設けられた1種以上の有機層4
とを有し、非発光部であって前記ホール注入電極2と有
機層4の間には層間絶縁膜3を有する。この層間絶縁膜
の膜厚aは上記範囲である。有機層4は、それぞれ少な
くとも1層のホール輸送層および発光層を有し、その上
に電子注入電極5を有し、さらに最上層として保護電極
6を設けてもよい。なお、逆積層の場合には積層順が上
記と逆になり、通常保護電極6は必要としない。また、
ホール輸送層は省略可能である。そして、電子注入電極
5は、蒸着、スパッタ法等、好ましくはスパッタ法で成
膜される仕事関数の小さい金属、化合物または合金で構
成される。
すように、基板上にホール注入電極2と、電子注入電極
5と、これらの電極間に設けられた1種以上の有機層4
とを有し、非発光部であって前記ホール注入電極2と有
機層4の間には層間絶縁膜3を有する。この層間絶縁膜
の膜厚aは上記範囲である。有機層4は、それぞれ少な
くとも1層のホール輸送層および発光層を有し、その上
に電子注入電極5を有し、さらに最上層として保護電極
6を設けてもよい。なお、逆積層の場合には積層順が上
記と逆になり、通常保護電極6は必要としない。また、
ホール輸送層は省略可能である。そして、電子注入電極
5は、蒸着、スパッタ法等、好ましくはスパッタ法で成
膜される仕事関数の小さい金属、化合物または合金で構
成される。
【0024】基板に設けられるホール注入電極では、ホ
ール注入を十分行える一定以上の厚さを有すれば良く、
50nm以上が好ましく、より好ましくは50〜500n
m、特に50〜300nmの範囲が好ましい。膜厚を15
0nm以上とすることにより、抵抗値が低下し、特に好ま
しい結果が得られる。このホール注入電極に代えて基板
上に電子注入電極薄膜を成膜する場合、通常の有機EL
素子とは成膜順序が逆になるいわゆる逆積層となる。
ール注入を十分行える一定以上の厚さを有すれば良く、
50nm以上が好ましく、より好ましくは50〜500n
m、特に50〜300nmの範囲が好ましい。膜厚を15
0nm以上とすることにより、抵抗値が低下し、特に好ま
しい結果が得られる。このホール注入電極に代えて基板
上に電子注入電極薄膜を成膜する場合、通常の有機EL
素子とは成膜順序が逆になるいわゆる逆積層となる。
【0025】ホール注入電極を形成する場合、通常、基
板側から発光した光を取り出す構造であるため、透明な
電極が好ましく、ITO(錫ドープ酸化インジウム)、
IZO(亜鉛ドープ酸化インジウム)、ZnO、SnO
2 、In2 O3 等が挙げられるが、好ましくはITO
(錫ドープ酸化インジウム)、IZO(亜鉛ドープ酸化
インジウム)が好ましい。In2 O3 に対しSnO2 の
混合比は、1〜20wt%が好ましく、さらには5〜12
wt%が好ましい。In2 O3 に対しZnOの混合比は、
1〜20wt%が好ましく、さらには5〜12wt%が好ま
しい。その他にSn、Ti、Pb等が酸化物の形で、酸
化物換算にして1wt%以下含まれていてもよい。
板側から発光した光を取り出す構造であるため、透明な
電極が好ましく、ITO(錫ドープ酸化インジウム)、
IZO(亜鉛ドープ酸化インジウム)、ZnO、SnO
2 、In2 O3 等が挙げられるが、好ましくはITO
(錫ドープ酸化インジウム)、IZO(亜鉛ドープ酸化
インジウム)が好ましい。In2 O3 に対しSnO2 の
混合比は、1〜20wt%が好ましく、さらには5〜12
wt%が好ましい。In2 O3 に対しZnOの混合比は、
1〜20wt%が好ましく、さらには5〜12wt%が好ま
しい。その他にSn、Ti、Pb等が酸化物の形で、酸
化物換算にして1wt%以下含まれていてもよい。
【0026】ホール注入電極は蒸着法等によっても形成
できるが、好ましくはスパッタ法により形成することが
好ましい。ITO、IZO電極の形成にスパッタ法を用
いる場合、好ましくはIn2 O3 にSnO2 やZnOを
ドープしたターゲットを用いる。スパッタ法によりIT
O透明電極を成膜した場合、蒸着により成膜したものよ
り発光輝度の経時変化が少ない。スパッタ法としてはD
Cスパッタが好ましく、その投入電力としては、好まし
くは0.1〜4W/cm2 の範囲が好ましい。特にDCス
パッタ装置の電力としては、好ましくは0.1〜10W
/cm2、特に0.2〜5W/cm2の範囲である。また、成
膜レートは2〜100nm/min 、特に5〜50nm/min
の範囲が好ましい。
できるが、好ましくはスパッタ法により形成することが
好ましい。ITO、IZO電極の形成にスパッタ法を用
いる場合、好ましくはIn2 O3 にSnO2 やZnOを
ドープしたターゲットを用いる。スパッタ法によりIT
O透明電極を成膜した場合、蒸着により成膜したものよ
り発光輝度の経時変化が少ない。スパッタ法としてはD
Cスパッタが好ましく、その投入電力としては、好まし
くは0.1〜4W/cm2 の範囲が好ましい。特にDCス
パッタ装置の電力としては、好ましくは0.1〜10W
/cm2、特に0.2〜5W/cm2の範囲である。また、成
膜レートは2〜100nm/min 、特に5〜50nm/min
の範囲が好ましい。
【0027】スパッタガスとしては特に限定するもので
はなく、Ar、He、Ne、Kr、Xe等の不活性ガ
ス、あるいはこれらの混合ガスを用いればよい。このよ
うなスパッタガスのスパッタ時における圧力としては、
通常0.1〜20Pa程度でよい。
はなく、Ar、He、Ne、Kr、Xe等の不活性ガ
ス、あるいはこれらの混合ガスを用いればよい。このよ
うなスパッタガスのスパッタ時における圧力としては、
通常0.1〜20Pa程度でよい。
【0028】順積層で成膜される電子注入電極の構成材
料としては、電子注入を効果的に行う低仕事関数の物質
が好ましく、例えば、K、Li、Na、Mg、La、C
e、Ca、Sr、Ba、Al、Ag、In、Sn、Z
n、Zr、Cs、Er、Eu、Ga、Hf、Nd、R
b、Sc、Sm、Ta、Y、Yb等の金属元素単体、あ
るいは、BaO、BaS、CaO、HfC、LaB6、
MgO、MoC、NbC、PbS、SrO、TaC、T
hC、ThO2、ThS、TiC、TiN、UC、U
N、UO2、W2C、Y2O3、ZrC、ZrN、ZrO2
等の化合物を用いると良い。または安定性を向上させる
ためには、金属元素を含む2成分、3成分の合金系を用
いることが好ましい。合金系としては、例えばAl・C
a(Ca:5〜20at%)、Al・In(In:1〜1
0at%)、Al・Li(Li:0.1〜20at%未
満)、Al・R〔RはY,Scを含む希土類元素を表
す〕等のアルミニウム系合金やIn・Mg(Mg:50
〜80at%)等が好ましい。これらの中でも、特にAl
単体やAl・Li(Li:0.4〜6.5(ただし6.
5を含まず)at%)または(Li:6.5〜14at
%)、Al・R(R:0.1〜25、特に0.5〜20
at%)等のアルミニウム系合金が圧縮応力が発生しにく
く好ましい。したがって、スパッタターゲットとして
は、通常このような電子注入電極構成金属、合金を用い
る。これらの仕事関数は4.5eV以下であり、特に仕
事関数が4.0eV以下の金属、合金が好ましい。
料としては、電子注入を効果的に行う低仕事関数の物質
が好ましく、例えば、K、Li、Na、Mg、La、C
e、Ca、Sr、Ba、Al、Ag、In、Sn、Z
n、Zr、Cs、Er、Eu、Ga、Hf、Nd、R
b、Sc、Sm、Ta、Y、Yb等の金属元素単体、あ
るいは、BaO、BaS、CaO、HfC、LaB6、
MgO、MoC、NbC、PbS、SrO、TaC、T
hC、ThO2、ThS、TiC、TiN、UC、U
N、UO2、W2C、Y2O3、ZrC、ZrN、ZrO2
等の化合物を用いると良い。または安定性を向上させる
ためには、金属元素を含む2成分、3成分の合金系を用
いることが好ましい。合金系としては、例えばAl・C
a(Ca:5〜20at%)、Al・In(In:1〜1
0at%)、Al・Li(Li:0.1〜20at%未
満)、Al・R〔RはY,Scを含む希土類元素を表
す〕等のアルミニウム系合金やIn・Mg(Mg:50
〜80at%)等が好ましい。これらの中でも、特にAl
単体やAl・Li(Li:0.4〜6.5(ただし6.
5を含まず)at%)または(Li:6.5〜14at
%)、Al・R(R:0.1〜25、特に0.5〜20
at%)等のアルミニウム系合金が圧縮応力が発生しにく
く好ましい。したがって、スパッタターゲットとして
は、通常このような電子注入電極構成金属、合金を用い
る。これらの仕事関数は4.5eV以下であり、特に仕
事関数が4.0eV以下の金属、合金が好ましい。
【0029】電子注入電極の成膜にスパッタ法を用いる
ことにより、成膜された電子注入電極膜は、蒸着の場合
と比較して、スパッタされる原子や原子団が比較的高い
運動エネルギーを有するため、表面マイグレーション効
果が働き、有機層界面での密着性が向上する。また、プ
レスパッタを行うことで、真空中で表面酸化物層を除去
したり、逆スパッタにより有機層界面に吸着した水分や
酸素を除去できるので、クリーンな電極−有機層界面や
電極を形成でき、その結果、高品位で安定した有機EL
素子ができる。ターゲットとしては前記組成範囲の合金
や、金属単独でも良く、これらに加えて添加成分のター
ゲットを用いても良い。さらに、蒸気圧の大きく異なる
材料の混合物をターゲットとして用いても、生成する膜
とターゲットとの組成のズレは少なく、蒸着法のように
蒸気圧等による使用材料の制限もない。また、蒸着法に
比較して材料を長時間供給する必要がなく、膜厚や膜質
の均一性に優れ、生産性の点で有利である。
ことにより、成膜された電子注入電極膜は、蒸着の場合
と比較して、スパッタされる原子や原子団が比較的高い
運動エネルギーを有するため、表面マイグレーション効
果が働き、有機層界面での密着性が向上する。また、プ
レスパッタを行うことで、真空中で表面酸化物層を除去
したり、逆スパッタにより有機層界面に吸着した水分や
酸素を除去できるので、クリーンな電極−有機層界面や
電極を形成でき、その結果、高品位で安定した有機EL
素子ができる。ターゲットとしては前記組成範囲の合金
や、金属単独でも良く、これらに加えて添加成分のター
ゲットを用いても良い。さらに、蒸気圧の大きく異なる
材料の混合物をターゲットとして用いても、生成する膜
とターゲットとの組成のズレは少なく、蒸着法のように
蒸気圧等による使用材料の制限もない。また、蒸着法に
比較して材料を長時間供給する必要がなく、膜厚や膜質
の均一性に優れ、生産性の点で有利である。
【0030】スパッタ法により形成された電子注入電極
は緻密な膜なので、粗な蒸着膜に比較して膜中への水分
の進入が非常に少なく、化学的安定性が高く、長寿命の
有機EL素子が得られる。
は緻密な膜なので、粗な蒸着膜に比較して膜中への水分
の進入が非常に少なく、化学的安定性が高く、長寿命の
有機EL素子が得られる。
【0031】スパッタ時のスパッタガスの圧力は、好ま
しくは0.1〜5Paの範囲が好ましく、この範囲でスパ
ッタガスの圧力を調節することにより、前記範囲のLi
濃度のAlLi合金を容易に得ることができる。また、
成膜中にスパッタガスの圧力を、前記範囲内で変化させ
ることにより、上記Li濃度勾配を有する電子注入電極
を容易に得ることができる。また、成膜ガス圧力と基板
ターゲット間距離の積が20〜65Pa・cmを満たす成膜
条件にすることが好ましい。
しくは0.1〜5Paの範囲が好ましく、この範囲でスパ
ッタガスの圧力を調節することにより、前記範囲のLi
濃度のAlLi合金を容易に得ることができる。また、
成膜中にスパッタガスの圧力を、前記範囲内で変化させ
ることにより、上記Li濃度勾配を有する電子注入電極
を容易に得ることができる。また、成膜ガス圧力と基板
ターゲット間距離の積が20〜65Pa・cmを満たす成膜
条件にすることが好ましい。
【0032】スパッタガスは、通常のスパッタ装置に使
用される不活性ガスや、反応性スパッタではこれに加え
てN2、H2、O2、C2H4、NH3等の反応性ガスが使用
可能である。
用される不活性ガスや、反応性スパッタではこれに加え
てN2、H2、O2、C2H4、NH3等の反応性ガスが使用
可能である。
【0033】スパッタ法としてはRF電源を用いた高周
波スパッタ法等も可能であるが、成膜レートの制御が容
易であり、有機EL素子構造体へのダメージを少なくす
るためにはDCスパッタ法を用いることが好ましい。D
Cスパッタ装置の電力としては、好ましくは0.1〜1
0W/cm2、特に0.5〜7W/cm2の範囲である。ま
た、成膜レートは5〜100nm/min 、特に10〜50
nm/min の範囲が好ましい。
波スパッタ法等も可能であるが、成膜レートの制御が容
易であり、有機EL素子構造体へのダメージを少なくす
るためにはDCスパッタ法を用いることが好ましい。D
Cスパッタ装置の電力としては、好ましくは0.1〜1
0W/cm2、特に0.5〜7W/cm2の範囲である。ま
た、成膜レートは5〜100nm/min 、特に10〜50
nm/min の範囲が好ましい。
【0034】電子注入電極薄膜の厚さは、電子注入を十
分行える一定以上の厚さとすれば良く、1nm以上、好ま
しくは3nm以上とすればよい。また、その上限値には特
に制限はないが、通常膜厚は3〜500nm程度とすれば
よい。
分行える一定以上の厚さとすれば良く、1nm以上、好ま
しくは3nm以上とすればよい。また、その上限値には特
に制限はないが、通常膜厚は3〜500nm程度とすれば
よい。
【0035】本発明の有機EL素子は、電子注入電極の
上、つまり有機層と反対側には保護電極を設けてもよ
い。保護電極を設けることにより、電子注入電極が外気
や水分等から保護され、構成薄膜の劣化が防止され、電
子注入効率が安定し、素子寿命が飛躍的に向上する。ま
た、この保護電極は、非常に低抵抗であり、電子注入電
極の抵抗が高い場合には配線電極としての機能も有す
る。この保護電極は、Al、Alおよび遷移金属(ただ
しTiを除く)、Tiまたは窒化チタン(TiN)のい
ずれか1種または2種以上を含有し、これらを単独で用
いた場合、それぞれ保護電極中に少なくとも、Al:9
0〜100at%、Ti:90〜100at%、TiN:9
0〜100 mol%程度含有されていることが好ましい。
また、2種以上用いるときの混合比は任意であるが、A
lとTiの混合では、Tiの含有量は10at%以下が好
ましい。また、これらを単独で含有する層を積層しても
よい。特にAl、Alおよび遷移金属は、後述の配線電
極として用いた場合、良好な効果が得られ、TiNは耐
腐食性が高く、封止膜としての効果が大きい。TiN
は、その化学量論組成から10%程度偏倚していてもよ
い。さらに、Alおよび遷移金属の合金は、遷移金属、
特にSc,Nb,Zr,Hf,Nd,Ta,Cu,S
i,Cr,Mo,Mn,Ni,Pd,PtおよびW等
を、好ましくはこれらの総計が10at%以下、特に5at
%以下、特に2at%以下含有していてもよい。遷移金属
の含有量は少ないほど、配線材として機能させた場合の
薄膜抵抗は下げられる。
上、つまり有機層と反対側には保護電極を設けてもよ
い。保護電極を設けることにより、電子注入電極が外気
や水分等から保護され、構成薄膜の劣化が防止され、電
子注入効率が安定し、素子寿命が飛躍的に向上する。ま
た、この保護電極は、非常に低抵抗であり、電子注入電
極の抵抗が高い場合には配線電極としての機能も有す
る。この保護電極は、Al、Alおよび遷移金属(ただ
しTiを除く)、Tiまたは窒化チタン(TiN)のい
ずれか1種または2種以上を含有し、これらを単独で用
いた場合、それぞれ保護電極中に少なくとも、Al:9
0〜100at%、Ti:90〜100at%、TiN:9
0〜100 mol%程度含有されていることが好ましい。
また、2種以上用いるときの混合比は任意であるが、A
lとTiの混合では、Tiの含有量は10at%以下が好
ましい。また、これらを単独で含有する層を積層しても
よい。特にAl、Alおよび遷移金属は、後述の配線電
極として用いた場合、良好な効果が得られ、TiNは耐
腐食性が高く、封止膜としての効果が大きい。TiN
は、その化学量論組成から10%程度偏倚していてもよ
い。さらに、Alおよび遷移金属の合金は、遷移金属、
特にSc,Nb,Zr,Hf,Nd,Ta,Cu,S
i,Cr,Mo,Mn,Ni,Pd,PtおよびW等
を、好ましくはこれらの総計が10at%以下、特に5at
%以下、特に2at%以下含有していてもよい。遷移金属
の含有量は少ないほど、配線材として機能させた場合の
薄膜抵抗は下げられる。
【0036】保護電極の厚さは、電子注入効率を確保
し、水分や酸素あるいは有機溶媒の進入を防止するた
め、一定以上の厚さとすればよく、好ましくは50nm以
上、さらに100nm以上、特に100〜1000nmの範
囲が好ましい。保護電極層が薄すぎると、本発明の効果
が得られず、また、保護電極層の段差被覆性が低くなっ
てしまい、端子電極との接続が十分ではなくなる。一
方、保護電極層が厚すぎると、保護電極層の応力が大き
くなるため、ダークスポットの成長速度が高くなってし
まう。なお、配線電極として機能させる場合の厚さは、
電子注入電極の膜厚が薄いために膜抵抗が高く、これを
補う場合には、通常100〜500nm 程度、その他の
配線電極として機能される場合には100〜300nm程
度である。
し、水分や酸素あるいは有機溶媒の進入を防止するた
め、一定以上の厚さとすればよく、好ましくは50nm以
上、さらに100nm以上、特に100〜1000nmの範
囲が好ましい。保護電極層が薄すぎると、本発明の効果
が得られず、また、保護電極層の段差被覆性が低くなっ
てしまい、端子電極との接続が十分ではなくなる。一
方、保護電極層が厚すぎると、保護電極層の応力が大き
くなるため、ダークスポットの成長速度が高くなってし
まう。なお、配線電極として機能させる場合の厚さは、
電子注入電極の膜厚が薄いために膜抵抗が高く、これを
補う場合には、通常100〜500nm 程度、その他の
配線電極として機能される場合には100〜300nm程
度である。
【0037】電子注入電極と保護電極とを併せた全体の
厚さとしては、好ましくは、50〜500nm程度であ
る。
厚さとしては、好ましくは、50〜500nm程度であ
る。
【0038】電極成膜後に、前記保護電極に加えて、S
iOX 等の無機材料、テフロン、塩素を含むフッ化炭素
重合体等の有機材料等を用いた保護膜を形成してもよ
い。保護膜は透明でも不透明であってもよく、保護膜の
厚さは、好ましくは50〜500nm程度とする。保護膜
は前記した反応性スパッタ法の他に、一般的なスパッタ
法、蒸着法、PECVD法等により形成すればよい。
iOX 等の無機材料、テフロン、塩素を含むフッ化炭素
重合体等の有機材料等を用いた保護膜を形成してもよ
い。保護膜は透明でも不透明であってもよく、保護膜の
厚さは、好ましくは50〜500nm程度とする。保護膜
は前記した反応性スパッタ法の他に、一般的なスパッタ
法、蒸着法、PECVD法等により形成すればよい。
【0039】電子注入電極、必要により設けられる保護
電極、および保護膜の膜厚の総計としては、好ましくは
50〜500nmである。
電極、および保護膜の膜厚の総計としては、好ましくは
50〜500nmである。
【0040】さらに、素子の有機層や電極の酸化を防ぐ
ために素子上に封止層を形成することが好ましい。封止
層は、湿気の侵入を防ぐために市販の低吸湿性の光硬化
性接着剤、エポキシ系接着剤、シリコーン系接着剤、架
橋エチレン−酢酸ビニル共重合体接着剤シート等の接着
性樹脂層を用いて、ガラス板等の封止板を接着し密封す
る。ガラス板以外にも金属板、プラスチック板等を用い
ることもできる。
ために素子上に封止層を形成することが好ましい。封止
層は、湿気の侵入を防ぐために市販の低吸湿性の光硬化
性接着剤、エポキシ系接着剤、シリコーン系接着剤、架
橋エチレン−酢酸ビニル共重合体接着剤シート等の接着
性樹脂層を用いて、ガラス板等の封止板を接着し密封す
る。ガラス板以外にも金属板、プラスチック板等を用い
ることもできる。
【0041】次に、いわゆる逆積層の場合について説明
する。いわゆる逆積層とする場合、本発明の有機EL発
光素子は、電子注入電極とホール注入電極とこれらの間
に発光層とを有し、前記電子注入電極は発光層と反対側
に導電体層と、発光層側に酸化物であって厚さ5nm未
満、仕事関数4eV以下の非導電体層とを有する。このよ
うに、酸化物の非導電帯層を設けることにより、有機E
L素子のパターンニング時に、有機物層等を積層する電
子注入電極がすでに酸化物で覆われていることとなり、
電子注入電極の酸化に関しては無視して取り扱うことが
でき、逆積層構造の有機EL素子を形成することができ
る。
する。いわゆる逆積層とする場合、本発明の有機EL発
光素子は、電子注入電極とホール注入電極とこれらの間
に発光層とを有し、前記電子注入電極は発光層と反対側
に導電体層と、発光層側に酸化物であって厚さ5nm未
満、仕事関数4eV以下の非導電体層とを有する。このよ
うに、酸化物の非導電帯層を設けることにより、有機E
L素子のパターンニング時に、有機物層等を積層する電
子注入電極がすでに酸化物で覆われていることとなり、
電子注入電極の酸化に関しては無視して取り扱うことが
でき、逆積層構造の有機EL素子を形成することができ
る。
【0042】前記電子注入電極の導電体層の金属として
は、特に限定するものではないが好ましくはTi、A
l、Cu、Ni、Ag、Au、Pt、Pd、Ir、C
r、Mo、W、Ta等の遷移金属元素、錫ドープインジ
ウム(ITO)、亜鉛ドープインジウム(IZO)等の
導電性酸化物が挙げられる。さらにTiまたはCr、あ
るいはこれらの窒化物が好ましい。TiまたはCr、あ
るいはこれらの窒化物を用いると、境界面でのオーミッ
ク性が改善される。
は、特に限定するものではないが好ましくはTi、A
l、Cu、Ni、Ag、Au、Pt、Pd、Ir、C
r、Mo、W、Ta等の遷移金属元素、錫ドープインジ
ウム(ITO)、亜鉛ドープインジウム(IZO)等の
導電性酸化物が挙げられる。さらにTiまたはCr、あ
るいはこれらの窒化物が好ましい。TiまたはCr、あ
るいはこれらの窒化物を用いると、境界面でのオーミッ
ク性が改善される。
【0043】このような導電体層の厚さは、電子注入を
十分行える一定以上の厚さを有すれば良く、好ましくは
50〜500nm、特に50〜300nmの範囲が好まし
い。導電体層に用いる金属の抵抗率は1×10-3〜1×
10-6 Ω・cmの範囲が好ましい。
十分行える一定以上の厚さを有すれば良く、好ましくは
50〜500nm、特に50〜300nmの範囲が好まし
い。導電体層に用いる金属の抵抗率は1×10-3〜1×
10-6 Ω・cmの範囲が好ましい。
【0044】この導電体層は蒸着法等によっても形成で
きるが、好ましくはスパッタ法、さらにはDCスパッタ
法により形成することが好ましい。スパッタガス、その
他の条件は上記の場合に準ずればよい。なお、ターゲッ
トとしては通常導電体層と同一材料を用いる。
きるが、好ましくはスパッタ法、さらにはDCスパッタ
法により形成することが好ましい。スパッタガス、その
他の条件は上記の場合に準ずればよい。なお、ターゲッ
トとしては通常導電体層と同一材料を用いる。
【0045】非導電体層の仕事関数を4eV以下にできる
酸化物としては、例えば、MgO、CaO、SrO、B
aO、Li2 O、Na2 O、K2 O、La2 O3 、Y2
O3、CeO2 等が挙げられ、好ましくは、MgO、C
aO、SrO、BaO、Li2 O、Na2 O、K2 O、
La2 O3 の1種、または2種以上が挙げられる。この
ような酸化物を2種以上用いる場合その混合比は任意で
あり、またこれらの酸化物は通常化学量論組成で存在す
るが、O量はこの組成からある程度偏倚していても良
く、前記各組成に対して±20%程度の範囲内であれば
よい。このような非導電体層中の酸化物の存在は、XR
D(X線回折)から確認することができる。仕事関数を
4eV以下とすることにより、電子の注入効率が向上し、
ひいては発光効率も向上する。
酸化物としては、例えば、MgO、CaO、SrO、B
aO、Li2 O、Na2 O、K2 O、La2 O3 、Y2
O3、CeO2 等が挙げられ、好ましくは、MgO、C
aO、SrO、BaO、Li2 O、Na2 O、K2 O、
La2 O3 の1種、または2種以上が挙げられる。この
ような酸化物を2種以上用いる場合その混合比は任意で
あり、またこれらの酸化物は通常化学量論組成で存在す
るが、O量はこの組成からある程度偏倚していても良
く、前記各組成に対して±20%程度の範囲内であれば
よい。このような非導電体層中の酸化物の存在は、XR
D(X線回折)から確認することができる。仕事関数を
4eV以下とすることにより、電子の注入効率が向上し、
ひいては発光効率も向上する。
【0046】このような酸化物が発光層あるいは電子注
入・輸送層と直接接するため、金属が接する場合と比べ
発光層、電子注入・輸送層の安定性が向上し、しかも酸
化物であるため、特別な保護層を設けることなく、ガラ
ス封止層のみでの安定な動作が可能となる。
入・輸送層と直接接するため、金属が接する場合と比べ
発光層、電子注入・輸送層の安定性が向上し、しかも酸
化物であるため、特別な保護層を設けることなく、ガラ
ス封止層のみでの安定な動作が可能となる。
【0047】このような仕事関数が4eV以下の非導電体
層の厚さは5nm未満であり、好ましくは2nm以下、より
好ましくは1〜2nmの範囲である。厚さが5nm以上の場
合、トンネル効果による導電体層からの電子の注入が困
難となる。厚さが2nm以下となると、トンネル効果によ
る電子の注入効率が向上する。厚さが1nm未満の場合に
は、製造時の膜強度や電子輸送能力の点で問題がある。
層の厚さは5nm未満であり、好ましくは2nm以下、より
好ましくは1〜2nmの範囲である。厚さが5nm以上の場
合、トンネル効果による導電体層からの電子の注入が困
難となる。厚さが2nm以下となると、トンネル効果によ
る電子の注入効率が向上する。厚さが1nm未満の場合に
は、製造時の膜強度や電子輸送能力の点で問題がある。
【0048】この非導電体層は蒸着法等によっても形成
できるが、スパッタ法、特にDCスパッタ法により形成
することが好ましい。スパッタガス、その他の条件は上
記の場合に準ずればよい。なお、ターゲットとしては通
常非導電体層と同一材料を用いる。
できるが、スパッタ法、特にDCスパッタ法により形成
することが好ましい。スパッタガス、その他の条件は上
記の場合に準ずればよい。なお、ターゲットとしては通
常非導電体層と同一材料を用いる。
【0049】上記導電体層(例えばAl)と非導電体層
(例えばLa2 O3 )との界面での反応による導電体層
の酸化を防止するため、両者の中間にバッファ層を設け
ることが好ましい。このバッファ層には、好ましくはT
i、Cr、Ta等の金属、あるいはこれらの窒化物を用
いることが好ましい。バッファ層の厚さは1〜10nm、
好ましくは1〜5nmの範囲がよい。
(例えばLa2 O3 )との界面での反応による導電体層
の酸化を防止するため、両者の中間にバッファ層を設け
ることが好ましい。このバッファ層には、好ましくはT
i、Cr、Ta等の金属、あるいはこれらの窒化物を用
いることが好ましい。バッファ層の厚さは1〜10nm、
好ましくは1〜5nmの範囲がよい。
【0050】このような、発光層と反対側に金属である
導電体層と、発光層側に酸化物であって厚さ5nm未満仕
事関数4eV以下の非導電体層とを有する電子注入電極全
体の厚さは、50nm以上、好ましくは100nm以上とす
ればよい。また、その上限値には特に制限はないが、通
常膜厚は100〜500nmの範囲でよい。
導電体層と、発光層側に酸化物であって厚さ5nm未満仕
事関数4eV以下の非導電体層とを有する電子注入電極全
体の厚さは、50nm以上、好ましくは100nm以上とす
ればよい。また、その上限値には特に制限はないが、通
常膜厚は100〜500nmの範囲でよい。
【0051】逆積層とした場合の本発明の有機EL素子
は、Al等の基板上にTi等の導電体層を積層し、必要
によりバッファー層を設け、その上にCaO等の非導電
体層を厚さ5nm未満に積層して電子注入電極とし、この
薄膜上にアルミキノリノール錯体などの発光材料を積層
し、さらに、TPD等の正孔注入・輸送層を積層し、そ
の上にIZO等のホール注入電極をスパッタ法にて積層
し発光素子は、従来の有機EL素子とは電子注入電極と
ホール注入電極の位置関係が逆転し、ガラス封止側に発
光した光を取り出すためのホール注入電極がある構成と
なる。
は、Al等の基板上にTi等の導電体層を積層し、必要
によりバッファー層を設け、その上にCaO等の非導電
体層を厚さ5nm未満に積層して電子注入電極とし、この
薄膜上にアルミキノリノール錯体などの発光材料を積層
し、さらに、TPD等の正孔注入・輸送層を積層し、そ
の上にIZO等のホール注入電極をスパッタ法にて積層
し発光素子は、従来の有機EL素子とは電子注入電極と
ホール注入電極の位置関係が逆転し、ガラス封止側に発
光した光を取り出すためのホール注入電極がある構成と
なる。
【0052】このため、有機EL素子形成後にフィルタ
ー層と封止ガラスとを設けることができ、有機EL素子
とフィルターとが別個独立となり、カラーディスプレイ
として製造する際の製造工程が簡単となり、歩留まりも
向上する。
ー層と封止ガラスとを設けることができ、有機EL素子
とフィルターとが別個独立となり、カラーディスプレイ
として製造する際の製造工程が簡単となり、歩留まりも
向上する。
【0053】次に、本発明のEL素子に設けられる有機
物層について述べる。発光層は、ホール(正孔)および
電子の注入機能、それらの輸送機能、ホールと電子の再
結合により励起子を生成させる機能を有する。発光層に
は比較的電子的にニュートラルな化合物を用いることが
好ましい。
物層について述べる。発光層は、ホール(正孔)および
電子の注入機能、それらの輸送機能、ホールと電子の再
結合により励起子を生成させる機能を有する。発光層に
は比較的電子的にニュートラルな化合物を用いることが
好ましい。
【0054】ホール注入輸送層は、ホール注入電極から
のホールの注入を容易にする機能、ホールを安定に輸送
する機能および電子を妨げる機能を有し、電子注入輸送
層は、電子注入電極からの電子の注入を容易にする機
能、電子を安定に輸送する機能およびホールを妨げる機
能を有するものであり、これらの層は、発光層に注入さ
れるホールや電子を増大・閉じこめさせ、再結合領域を
最適化させ、発光効率を改善する。
のホールの注入を容易にする機能、ホールを安定に輸送
する機能および電子を妨げる機能を有し、電子注入輸送
層は、電子注入電極からの電子の注入を容易にする機
能、電子を安定に輸送する機能およびホールを妨げる機
能を有するものであり、これらの層は、発光層に注入さ
れるホールや電子を増大・閉じこめさせ、再結合領域を
最適化させ、発光効率を改善する。
【0055】発光層の厚さ、ホール注入輸送層の厚さお
よび電子注入輸送層の厚さは特に限定されず、形成方法
によっても異なるが、通常、5〜500nm程度、特に1
0〜300nmとすることが好ましい。
よび電子注入輸送層の厚さは特に限定されず、形成方法
によっても異なるが、通常、5〜500nm程度、特に1
0〜300nmとすることが好ましい。
【0056】ホール注入輸送層の厚さおよび電子注入輸
送層の厚さは、再結合・発光領域の設計によるが、発光
層の厚さと同程度もしくは1/10〜10倍程度とすれ
ばよい。ホールもしくは電子の、各々の注入層と輸送層
を分ける場合は、注入層は1nm以上、輸送層は1nm以上
とするのが好ましい。このときの注入層、輸送層の厚さ
の上限は、通常、注入層で500nm程度、輸送層で50
0nm程度である。このような膜厚については注入輸送層
を2層設けるときも同じである。
送層の厚さは、再結合・発光領域の設計によるが、発光
層の厚さと同程度もしくは1/10〜10倍程度とすれ
ばよい。ホールもしくは電子の、各々の注入層と輸送層
を分ける場合は、注入層は1nm以上、輸送層は1nm以上
とするのが好ましい。このときの注入層、輸送層の厚さ
の上限は、通常、注入層で500nm程度、輸送層で50
0nm程度である。このような膜厚については注入輸送層
を2層設けるときも同じである。
【0057】本発明の有機EL素子の発光層には発光機
能を有する化合物である蛍光性物質を含有させる。この
ような蛍光性物質としては、例えば、特開昭63−26
4692号公報に開示されているような化合物、例えば
キナクリドン、ルブレン、スチリル系色素等の化合物か
ら選択される少なくとも1種が挙げられる。また、トリ
ス(8−キノリノラト)アルミニウム等の8−キノリノ
ールないしその誘導体を配位子とする金属錯体色素など
のキノリン誘導体、テトラフェニルブタジエン、アント
ラセン、ペリレン、コロネン、12−フタロペリノン誘
導体等が挙げられる。さらには、特願平6−11056
9号のフェニルアントラセン誘導体、特願平6−114
456号のテトラアリールエテン誘導体等を用いること
ができる。
能を有する化合物である蛍光性物質を含有させる。この
ような蛍光性物質としては、例えば、特開昭63−26
4692号公報に開示されているような化合物、例えば
キナクリドン、ルブレン、スチリル系色素等の化合物か
ら選択される少なくとも1種が挙げられる。また、トリ
ス(8−キノリノラト)アルミニウム等の8−キノリノ
ールないしその誘導体を配位子とする金属錯体色素など
のキノリン誘導体、テトラフェニルブタジエン、アント
ラセン、ペリレン、コロネン、12−フタロペリノン誘
導体等が挙げられる。さらには、特願平6−11056
9号のフェニルアントラセン誘導体、特願平6−114
456号のテトラアリールエテン誘導体等を用いること
ができる。
【0058】また、それ自体で発光が可能なホスト物質
と組み合わせて使用することが好ましく、ドーパントと
しての使用が好ましい。このような場合の発光層におけ
る化合物の含有量は0.01〜10wt% 、さらには0.
1〜5wt% であることが好ましい。ホスト物質と組み合
わせて使用することによって、ホスト物質の発光波長特
性を変化させることができ、長波長に移行した発光が可
能になるとともに、素子の発光効率や安定性が向上す
る。
と組み合わせて使用することが好ましく、ドーパントと
しての使用が好ましい。このような場合の発光層におけ
る化合物の含有量は0.01〜10wt% 、さらには0.
1〜5wt% であることが好ましい。ホスト物質と組み合
わせて使用することによって、ホスト物質の発光波長特
性を変化させることができ、長波長に移行した発光が可
能になるとともに、素子の発光効率や安定性が向上す
る。
【0059】ホスト物質としては、キノリノラト錯体が
好ましく、さらには8−キノリノールないしその誘導体
を配位子とするアルミニウム錯体が好ましい。このよう
なアルミニウム錯体としては、特開昭63−26469
2号、特開平3−255190号、特開平5−7073
3号、特開平5−258859号、特開平6−2158
74号等に開示されているものを挙げることができる。
好ましく、さらには8−キノリノールないしその誘導体
を配位子とするアルミニウム錯体が好ましい。このよう
なアルミニウム錯体としては、特開昭63−26469
2号、特開平3−255190号、特開平5−7073
3号、特開平5−258859号、特開平6−2158
74号等に開示されているものを挙げることができる。
【0060】具体的には、まず、トリス(8−キノリノ
ラト)アルミニウム、ビス(8−キノリノラト)マグネ
シウム、ビス(ベンゾ{f}−8−キノリノラト)亜
鉛、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)アルミニウ
ムオキシド、トリス(8−キノリノラト)インジウム、
トリス(5−メチル−8−キノリノラト)アルミニウ
ム、8−キノリノラトリチウム、トリス(5−クロロ−
8−キノリノラト)ガリウム、ビス(5−クロロ−8−
キノリノラト)カルシウム、5,7−ジクロル−8−キ
ノリノラトアルミニウム、トリス(5,7−ジブロモ−
8−ヒドロキシキノリノラト)アルミニウム、ポリ[亜
鉛(II)−ビス(8−ヒドロキシ−5−キノリニル)メ
タン]、等がある。
ラト)アルミニウム、ビス(8−キノリノラト)マグネ
シウム、ビス(ベンゾ{f}−8−キノリノラト)亜
鉛、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)アルミニウ
ムオキシド、トリス(8−キノリノラト)インジウム、
トリス(5−メチル−8−キノリノラト)アルミニウ
ム、8−キノリノラトリチウム、トリス(5−クロロ−
8−キノリノラト)ガリウム、ビス(5−クロロ−8−
キノリノラト)カルシウム、5,7−ジクロル−8−キ
ノリノラトアルミニウム、トリス(5,7−ジブロモ−
8−ヒドロキシキノリノラト)アルミニウム、ポリ[亜
鉛(II)−ビス(8−ヒドロキシ−5−キノリニル)メ
タン]、等がある。
【0061】また、8−キノリノールないしその誘導体
のほかに他の配位子を有するアルミニウム錯体であって
もよく、このようなものとしては、ビス(2−メチル−
8−キノリノラト)(フェノラト)アルミニウム(III)
、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(オルト−
クレゾラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−
8−キノリノラト)(メタークレゾラト)アルミニウム
(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(パラ
−クレゾラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル
−8−キノリノラト)(オルト−フェニルフェノラト)
アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノ
ラト)(メタ−フェニルフェノラト)アルミニウム(II
I) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(パラ−
フェニルフェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−
メチル−8−キノリノラト)(2,3−ジメチルフェノ
ラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キ
ノリノラト)(2,6−ジメチルフェノラト)アルミニ
ウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)
(3,4−ジメチルフェノラト)アルミニウム(III) 、
ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(3,5−ジメ
チルフェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチ
ル−8−キノリノラト)(3,5−ジ−tert−ブチルフ
ェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8
−キノリノラト)(2,6−ジフェニルフェノラト)ア
ルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラ
ト)(2,4,6−トリフェニルフェノラト)アルミニ
ウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)
(2,3,6−トリメチルフェノラト)アルミニウム(I
II) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(2,
3,5,6−テトラメチルフェノラト)アルミニウム(I
II) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(1−ナ
フトラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8
−キノリノラト)(2−ナフトラト)アルミニウム(II
I) 、ビス(2,4−ジメチル−8−キノリノラト)
(オルト−フェニルフェノラト)アルミニウム(III) 、
ビス(2,4−ジメチル−8−キノリノラト)(パラ−
フェニルフェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2,
4−ジメチル−8−キノリノラト)(メタ−フェニルフ
ェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2,4−ジメチ
ル−8−キノリノラト)(3,5−ジメチルフェノラ
ト)アルミニウム(III) 、ビス(2,4−ジメチル−8
−キノリノラト)(3,5−ジ−tert−ブチルフェノラ
ト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−4−エチ
ル−8−キノリノラト)(パラ−クレゾラト)アルミニ
ウム(III) 、ビス(2−メチル−4−メトキシ−8−キ
ノリノラト)(パラ−フェニルフェノラト)アルミニウ
ム(III) 、ビス(2−メチル−5−シアノ−8−キノリ
ノラト)(オルト−クレゾラト)アルミニウム(III) 、
ビス(2−メチル−6−トリフルオロメチル−8−キノ
リノラト)(2−ナフトラト)アルミニウム(III) 等が
ある。
のほかに他の配位子を有するアルミニウム錯体であって
もよく、このようなものとしては、ビス(2−メチル−
8−キノリノラト)(フェノラト)アルミニウム(III)
、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(オルト−
クレゾラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−
8−キノリノラト)(メタークレゾラト)アルミニウム
(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(パラ
−クレゾラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル
−8−キノリノラト)(オルト−フェニルフェノラト)
アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノ
ラト)(メタ−フェニルフェノラト)アルミニウム(II
I) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(パラ−
フェニルフェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−
メチル−8−キノリノラト)(2,3−ジメチルフェノ
ラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キ
ノリノラト)(2,6−ジメチルフェノラト)アルミニ
ウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)
(3,4−ジメチルフェノラト)アルミニウム(III) 、
ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(3,5−ジメ
チルフェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチ
ル−8−キノリノラト)(3,5−ジ−tert−ブチルフ
ェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8
−キノリノラト)(2,6−ジフェニルフェノラト)ア
ルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラ
ト)(2,4,6−トリフェニルフェノラト)アルミニ
ウム(III) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)
(2,3,6−トリメチルフェノラト)アルミニウム(I
II) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(2,
3,5,6−テトラメチルフェノラト)アルミニウム(I
II) 、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)(1−ナ
フトラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−8
−キノリノラト)(2−ナフトラト)アルミニウム(II
I) 、ビス(2,4−ジメチル−8−キノリノラト)
(オルト−フェニルフェノラト)アルミニウム(III) 、
ビス(2,4−ジメチル−8−キノリノラト)(パラ−
フェニルフェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2,
4−ジメチル−8−キノリノラト)(メタ−フェニルフ
ェノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2,4−ジメチ
ル−8−キノリノラト)(3,5−ジメチルフェノラ
ト)アルミニウム(III) 、ビス(2,4−ジメチル−8
−キノリノラト)(3,5−ジ−tert−ブチルフェノラ
ト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−4−エチ
ル−8−キノリノラト)(パラ−クレゾラト)アルミニ
ウム(III) 、ビス(2−メチル−4−メトキシ−8−キ
ノリノラト)(パラ−フェニルフェノラト)アルミニウ
ム(III) 、ビス(2−メチル−5−シアノ−8−キノリ
ノラト)(オルト−クレゾラト)アルミニウム(III) 、
ビス(2−メチル−6−トリフルオロメチル−8−キノ
リノラト)(2−ナフトラト)アルミニウム(III) 等が
ある。
【0062】このほか、ビス(2−メチル−8−キノリ
ノラト)アルミニウム(III) −μ−オキソ−ビス(2−
メチル−8−キノリノラト)アルミニウム(III) 、ビス
(2,4−ジメチル−8−キノリノラト)アルミニウム
(III) −μ−オキソ−ビス(2,4−ジメチル−8−キ
ノリノラト)アルミニウム(III) 、ビス(4−エチル−
2−メチル−8−キノリノラト)アルミニウム(III) −
μ−オキソ−ビス(4−エチル−2−メチル−8−キノ
リノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−4
−メトキシキノリノラト)アルミニウム(III) −μ−オ
キソ−ビス(2−メチル−4−メトキシキノリノラト)
アルミニウム(III) 、ビス(5−シアノ−2−メチル−
8−キノリノラト)アルミニウム(III) −μ−オキソ−
ビス(5−シアノ−2−メチル−8−キノリノラト)ア
ルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−5−トリフルオ
ロメチル−8−キノリノラト)アルミニウム(III) −μ
−オキソ−ビス(2−メチル−5−トリフルオロメチル
−8−キノリノラト)アルミニウム(III) 等であっても
よい。
ノラト)アルミニウム(III) −μ−オキソ−ビス(2−
メチル−8−キノリノラト)アルミニウム(III) 、ビス
(2,4−ジメチル−8−キノリノラト)アルミニウム
(III) −μ−オキソ−ビス(2,4−ジメチル−8−キ
ノリノラト)アルミニウム(III) 、ビス(4−エチル−
2−メチル−8−キノリノラト)アルミニウム(III) −
μ−オキソ−ビス(4−エチル−2−メチル−8−キノ
リノラト)アルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−4
−メトキシキノリノラト)アルミニウム(III) −μ−オ
キソ−ビス(2−メチル−4−メトキシキノリノラト)
アルミニウム(III) 、ビス(5−シアノ−2−メチル−
8−キノリノラト)アルミニウム(III) −μ−オキソ−
ビス(5−シアノ−2−メチル−8−キノリノラト)ア
ルミニウム(III) 、ビス(2−メチル−5−トリフルオ
ロメチル−8−キノリノラト)アルミニウム(III) −μ
−オキソ−ビス(2−メチル−5−トリフルオロメチル
−8−キノリノラト)アルミニウム(III) 等であっても
よい。
【0063】このほかのホスト物質としては、特願平6
−110569号に記載のフェニルアントラセン誘導体
や特願平6−114456号に記載のテトラアリールエ
テン誘導体なども好ましい。
−110569号に記載のフェニルアントラセン誘導体
や特願平6−114456号に記載のテトラアリールエ
テン誘導体なども好ましい。
【0064】発光層は電子注入輸送層を兼ねたものであ
ってもよく、このような場合はトリス(8−キノリノラ
ト)アルミニウム等を使用することが好ましい。これら
の蛍光性物質を蒸着すればよい。
ってもよく、このような場合はトリス(8−キノリノラ
ト)アルミニウム等を使用することが好ましい。これら
の蛍光性物質を蒸着すればよい。
【0065】また、必要に応じて発光層は、少なくとも
一種以上のホール注入輸送性化合物と少なくとも1種以
上の電子注入輸送性化合物との混合層とすることも好ま
しく、この混合層中にドーパントを含有させることが好
ましい。このような混合層における化合物の含有量は、
0.01〜20wt% 、さらには0.1〜15wt% とする
ことが好ましい。
一種以上のホール注入輸送性化合物と少なくとも1種以
上の電子注入輸送性化合物との混合層とすることも好ま
しく、この混合層中にドーパントを含有させることが好
ましい。このような混合層における化合物の含有量は、
0.01〜20wt% 、さらには0.1〜15wt% とする
ことが好ましい。
【0066】混合層では、キャリアのホッピング伝導パ
スができるため、各キャリアは極性的に優勢な物質中を
移動し、逆の極性のキャリア注入は起こり難くなり、有
機化合物がダメージを受け難くなり、素子寿命がのびる
という利点があるが、前述のドーパントをこのような混
合層に含有させることにより、混合層自体のもつ発光波
長特性を変化させることができ、発光波長を長波長に移
行させることができるとともに、発光強度を高め、かつ
素子の安定性を向上させることができる。
スができるため、各キャリアは極性的に優勢な物質中を
移動し、逆の極性のキャリア注入は起こり難くなり、有
機化合物がダメージを受け難くなり、素子寿命がのびる
という利点があるが、前述のドーパントをこのような混
合層に含有させることにより、混合層自体のもつ発光波
長特性を変化させることができ、発光波長を長波長に移
行させることができるとともに、発光強度を高め、かつ
素子の安定性を向上させることができる。
【0067】混合層に用いられるホール注入輸送性化合
物および電子注入輸送性化合物は、各々、後述のホール
注入輸送層用の化合物および電子注入輸送層用の化合物
の中から選択すればよい。なかでも、ホール注入輸送層
用の化合物としては、強い蛍光を持ったアミン誘導体、
例えばホール輸送材料であるトリフェニルジアミン誘導
体、さらにはスチリルアミン誘導体、芳香族縮合環を持
つアミン誘導体を用いるのが好ましい。
物および電子注入輸送性化合物は、各々、後述のホール
注入輸送層用の化合物および電子注入輸送層用の化合物
の中から選択すればよい。なかでも、ホール注入輸送層
用の化合物としては、強い蛍光を持ったアミン誘導体、
例えばホール輸送材料であるトリフェニルジアミン誘導
体、さらにはスチリルアミン誘導体、芳香族縮合環を持
つアミン誘導体を用いるのが好ましい。
【0068】電子注入輸送性の化合物としては、キノリ
ン誘導体、さらには8−キノリノールないしその誘導体
を配位子とする金属錯体、特にトリス(8−キノリノラ
ト)アルミニウム(Alq3)を用いることが好まし
い。また、上記のフェニルアントラセン誘導体、テトラ
アリールエテン誘導体を用いるのも好ましい。
ン誘導体、さらには8−キノリノールないしその誘導体
を配位子とする金属錯体、特にトリス(8−キノリノラ
ト)アルミニウム(Alq3)を用いることが好まし
い。また、上記のフェニルアントラセン誘導体、テトラ
アリールエテン誘導体を用いるのも好ましい。
【0069】ホール注入輸送層用の化合物としては、強
い蛍光を持ったアミン誘導体、例えば上記のホール輸送
材料であるトリフェニルジアミン誘導体、さらにはスチ
リルアミン誘導体、芳香族縮合環を持つアミン誘導体を
用いるのが好ましい。
い蛍光を持ったアミン誘導体、例えば上記のホール輸送
材料であるトリフェニルジアミン誘導体、さらにはスチ
リルアミン誘導体、芳香族縮合環を持つアミン誘導体を
用いるのが好ましい。
【0070】この場合の混合比は、それぞれのキャリア
移動度とキャリア濃度を考慮する事で決定するが、一般
的には、ホール注入輸送性化合物の化合物/電子注入輸
送機能を有する化合物の重量比が、1/99〜99/
1、さらには10/90〜90/10、特には20/8
0〜80/20程度となるようにすることが好ましい。
移動度とキャリア濃度を考慮する事で決定するが、一般
的には、ホール注入輸送性化合物の化合物/電子注入輸
送機能を有する化合物の重量比が、1/99〜99/
1、さらには10/90〜90/10、特には20/8
0〜80/20程度となるようにすることが好ましい。
【0071】また、混合層の厚さは、分子層一層に相当
する厚みから、有機化合物層の膜厚未満とすることが好
ましく、具体的には1〜85nmとすることが好ましく、
さらには5〜60nm、特には5〜50nmとすることが好
ましい。
する厚みから、有機化合物層の膜厚未満とすることが好
ましく、具体的には1〜85nmとすることが好ましく、
さらには5〜60nm、特には5〜50nmとすることが好
ましい。
【0072】また、混合層の形成方法としては、異なる
蒸着源より蒸発させる共蒸着が好ましいが、蒸気圧(蒸
発温度)が同程度あるいは非常に近い場合には、予め同
じ蒸着ボード内で混合させておき、蒸着することもでき
る。混合層は化合物同士が均一に混合している方が好ま
しいが、場合によっては、化合物が島状に存在するもの
であってもよい。発光層は、一般的には、有機蛍光物質
を蒸着するか、あるいは樹脂バインダー中に分散させて
コーティングすることにより、発光層を所定の厚さに形
成する。
蒸着源より蒸発させる共蒸着が好ましいが、蒸気圧(蒸
発温度)が同程度あるいは非常に近い場合には、予め同
じ蒸着ボード内で混合させておき、蒸着することもでき
る。混合層は化合物同士が均一に混合している方が好ま
しいが、場合によっては、化合物が島状に存在するもの
であってもよい。発光層は、一般的には、有機蛍光物質
を蒸着するか、あるいは樹脂バインダー中に分散させて
コーティングすることにより、発光層を所定の厚さに形
成する。
【0073】また、ホール注入輸送層には、例えば、特
開昭63−295695号公報、特開平2−19169
4号公報、特開平3−792号公報、特開平5−234
681号公報、特開平5−239455号公報、特開平
5−299174号公報、特開平7−126225号公
報、特開平7−126226号公報、特開平8−100
172号公報、EP0650955A1等に記載されて
いる各種有機化合物を用いることができる。例えば、テ
トラアリールベンジシン化合物(トリアリールジアミン
ないしトリフェニルジアミン:TPD)、芳香族三級ア
ミン、ヒドラゾン誘導体、カルバゾール誘導体、トリア
ゾール誘導体、イミダゾール誘導体、アミノ基を有する
オキサジアゾール誘導体、ポリチオフェン等である。こ
れらの化合物は2種以上を併用してもよく、併用すると
きは別層にして積層したり、混合したりすればよい。
開昭63−295695号公報、特開平2−19169
4号公報、特開平3−792号公報、特開平5−234
681号公報、特開平5−239455号公報、特開平
5−299174号公報、特開平7−126225号公
報、特開平7−126226号公報、特開平8−100
172号公報、EP0650955A1等に記載されて
いる各種有機化合物を用いることができる。例えば、テ
トラアリールベンジシン化合物(トリアリールジアミン
ないしトリフェニルジアミン:TPD)、芳香族三級ア
ミン、ヒドラゾン誘導体、カルバゾール誘導体、トリア
ゾール誘導体、イミダゾール誘導体、アミノ基を有する
オキサジアゾール誘導体、ポリチオフェン等である。こ
れらの化合物は2種以上を併用してもよく、併用すると
きは別層にして積層したり、混合したりすればよい。
【0074】ホール注入輸送層をホール注入層とホール
輸送層とに分けて設層する場合は、ホール注入輸送層用
の化合物のなかから好ましい組合せを選択して用いるこ
とができる。このとき、ホール注入電極(ITO等)側
からイオン化ポテンシャルの小さい化合物の層の順に積
層することが好ましい。また陽電極表面には薄膜性の良
好な化合物を用いることが好ましい。このような積層順
については、ホール注入輸送層を2層以上設けるときも
同様である。このような積層順とすることによって、駆
動電圧が低下し、電流リークの発生やダークスポットの
発生・成長を防ぐことができる。また、素子化する場
合、蒸着を用いているので1〜10nm程度の薄い膜も、
均一かつピンホールフリーとすることができるため、ホ
ール注入層にイオン化ポテンシャルが小さく、可視部に
吸収をもつような化合物を用いても、発光色の色調変化
や再吸収による効率の低下を防ぐことができる。ホール
注入輸送層は、発光層等と同様に上記の化合物を蒸着す
ることにより形成することができる。
輸送層とに分けて設層する場合は、ホール注入輸送層用
の化合物のなかから好ましい組合せを選択して用いるこ
とができる。このとき、ホール注入電極(ITO等)側
からイオン化ポテンシャルの小さい化合物の層の順に積
層することが好ましい。また陽電極表面には薄膜性の良
好な化合物を用いることが好ましい。このような積層順
については、ホール注入輸送層を2層以上設けるときも
同様である。このような積層順とすることによって、駆
動電圧が低下し、電流リークの発生やダークスポットの
発生・成長を防ぐことができる。また、素子化する場
合、蒸着を用いているので1〜10nm程度の薄い膜も、
均一かつピンホールフリーとすることができるため、ホ
ール注入層にイオン化ポテンシャルが小さく、可視部に
吸収をもつような化合物を用いても、発光色の色調変化
や再吸収による効率の低下を防ぐことができる。ホール
注入輸送層は、発光層等と同様に上記の化合物を蒸着す
ることにより形成することができる。
【0075】また、必要に応じて設けられる電子注入輸
送層には、トリス(8−キノリノラト)アルミニウム
(Alq3)等の8−キノリノールなしいその誘導体を
配位子とする有機金属錯体などのキノリン誘導体、オキ
サジアゾール誘導体、ペリレン誘導体、ピリジン誘導
体、ピリミジン誘導体、キノキサリン誘導体、ジフェニ
ルキノン誘導体、ニトロ置換フルオレン誘導体等を用い
ることができる。電子注入輸送層は発光層を兼ねたもの
であってもよく、このような場合はトリス(8−キノリ
ノラト)アルミニウム等を使用することが好ましい。電
子注入輸送層の形成は発光層と同様に蒸着等によればよ
い。
送層には、トリス(8−キノリノラト)アルミニウム
(Alq3)等の8−キノリノールなしいその誘導体を
配位子とする有機金属錯体などのキノリン誘導体、オキ
サジアゾール誘導体、ペリレン誘導体、ピリジン誘導
体、ピリミジン誘導体、キノキサリン誘導体、ジフェニ
ルキノン誘導体、ニトロ置換フルオレン誘導体等を用い
ることができる。電子注入輸送層は発光層を兼ねたもの
であってもよく、このような場合はトリス(8−キノリ
ノラト)アルミニウム等を使用することが好ましい。電
子注入輸送層の形成は発光層と同様に蒸着等によればよ
い。
【0076】電子注入輸送層を電子注入層と電子輸送層
とに分けて積層する場合には、電子注入輸送層用の化合
物の中から好ましい組み合わせを選択して用いることが
できる。このとき、電子注入電極側から電子親和力の値
の大きい化合物の順に積層することが好ましい。このよ
うな積層順については電子注入輸送層を2層以上設ける
ときも同様である。
とに分けて積層する場合には、電子注入輸送層用の化合
物の中から好ましい組み合わせを選択して用いることが
できる。このとき、電子注入電極側から電子親和力の値
の大きい化合物の順に積層することが好ましい。このよ
うな積層順については電子注入輸送層を2層以上設ける
ときも同様である。
【0077】基板に色フィルター膜や蛍光性物質を含む
色変換膜、あるいは誘電体反射膜を用いて発光色をコン
トロールしてもよい。
色変換膜、あるいは誘電体反射膜を用いて発光色をコン
トロールしてもよい。
【0078】色フィルター膜には、液晶ディスプレイ等
で用いられているカラーフィルターを用いれば良いが、
有機ELの発光する光に合わせてカラーフィルターの特
性を調整し、取り出し効率・色純度を最適化すればよ
い。
で用いられているカラーフィルターを用いれば良いが、
有機ELの発光する光に合わせてカラーフィルターの特
性を調整し、取り出し効率・色純度を最適化すればよ
い。
【0079】また、EL素子材料や蛍光変換層が光吸収
するような短波長の外光をカットできるカラーフィルタ
ーを用いれば、素子の耐光性・表示のコントラストも向
上する。
するような短波長の外光をカットできるカラーフィルタ
ーを用いれば、素子の耐光性・表示のコントラストも向
上する。
【0080】また、誘電体多層膜のような光学薄膜を用
いてカラーフィルターの代わりにしても良い。
いてカラーフィルターの代わりにしても良い。
【0081】蛍光変換フィルター膜は、EL発光の光を
吸収し、蛍光変換膜中の蛍光体から光を放出させること
で、発光色の色変換を行うものであるが、組成として
は、バインダー、蛍光材料、光吸収材料の三つから形成
される。
吸収し、蛍光変換膜中の蛍光体から光を放出させること
で、発光色の色変換を行うものであるが、組成として
は、バインダー、蛍光材料、光吸収材料の三つから形成
される。
【0082】蛍光材料は、基本的には蛍光量子収率が高
いものを用いれば良く、EL発光波長域に吸収が強いこ
とが望ましい。実際には、レーザー色素などが適してお
り、ローダミン系化合物・ペリレン系化合物・シアニン
系化合物・フタロシアニン系化合物(サブフタロ等も含
む)ナフタロイミド系化合物・縮合環炭化水素系化合物
・縮合複素環系化合物・スチリル系化合物・クマリン系
化合物等を用いればよい。
いものを用いれば良く、EL発光波長域に吸収が強いこ
とが望ましい。実際には、レーザー色素などが適してお
り、ローダミン系化合物・ペリレン系化合物・シアニン
系化合物・フタロシアニン系化合物(サブフタロ等も含
む)ナフタロイミド系化合物・縮合環炭化水素系化合物
・縮合複素環系化合物・スチリル系化合物・クマリン系
化合物等を用いればよい。
【0083】バインダーは基本的に蛍光を消光しないよ
うな材料を選べば良く、フォトリソグラフィー・印刷等
で微細なパターニングが出来るようなものが好ましい。
また、ITO、IZOの成膜時にダメージを受けないよ
うな材料が好ましい。
うな材料を選べば良く、フォトリソグラフィー・印刷等
で微細なパターニングが出来るようなものが好ましい。
また、ITO、IZOの成膜時にダメージを受けないよ
うな材料が好ましい。
【0084】光吸収材料は、蛍光材料の光吸収が足りな
い場合に用いるが、必要の無い場合は用いなくても良
い。また、光吸収材料は、蛍光性材料の蛍光を消光しな
いような材料を選べば良い。
い場合に用いるが、必要の無い場合は用いなくても良
い。また、光吸収材料は、蛍光性材料の蛍光を消光しな
いような材料を選べば良い。
【0085】ホール注入輸送層、発光層および電子注入
輸送層の形成には、均質な薄膜が形成できることから真
空蒸着法を用いることが好ましい。真空蒸着法を用いた
場合、アモルファス状態または結晶粒径が0.1μm 以
下の均質な薄膜が得られる。結晶粒径が0.1μm を超
えていると、不均一な発光となり、素子の駆動電圧を高
くしなければならなくなり、電荷の注入効率も著しく低
下する。
輸送層の形成には、均質な薄膜が形成できることから真
空蒸着法を用いることが好ましい。真空蒸着法を用いた
場合、アモルファス状態または結晶粒径が0.1μm 以
下の均質な薄膜が得られる。結晶粒径が0.1μm を超
えていると、不均一な発光となり、素子の駆動電圧を高
くしなければならなくなり、電荷の注入効率も著しく低
下する。
【0086】真空蒸着の条件は特に限定されないが、1
0-4Pa以下の真空度とし、蒸着速度は0.01〜1nm/
sec 程度とすることが好ましい。また、真空中で連続し
て各層を形成することが好ましい。真空中で連続して形
成すれば、各層の界面に不純物が吸着することを防げる
ため、高特性が得られる。また、素子の駆動電圧を低く
したり、ダークスポットの成長・発生を抑えたりするこ
とができる。
0-4Pa以下の真空度とし、蒸着速度は0.01〜1nm/
sec 程度とすることが好ましい。また、真空中で連続し
て各層を形成することが好ましい。真空中で連続して形
成すれば、各層の界面に不純物が吸着することを防げる
ため、高特性が得られる。また、素子の駆動電圧を低く
したり、ダークスポットの成長・発生を抑えたりするこ
とができる。
【0087】これら各層の形成に真空蒸着法を用いる場
合において、1層に複数の化合物を含有させる場合、化
合物を入れた各ボートを個別に温度制御して共蒸着する
ことが好ましい。
合において、1層に複数の化合物を含有させる場合、化
合物を入れた各ボートを個別に温度制御して共蒸着する
ことが好ましい。
【0088】本発明の有機EL素子は、通常、直流駆動
型のEL素子として用いられるが、交流駆動またはパル
ス駆動とすることもできる。印加電圧は、通常、2〜2
0V程度とされる。
型のEL素子として用いられるが、交流駆動またはパル
ス駆動とすることもできる。印加電圧は、通常、2〜2
0V程度とされる。
【0089】
【実施例】以下、本発明の具体的実施例を示し、本発明
をさらに詳細に説明する。 <実施例1>基板をDCスパッタ装置内に配置し、錫ド
ープ酸化インジウム焼結体(SnO:10wt%)をター
ゲットとして、ITO電極を100nm成膜した。このと
きの成膜条件は、投入電力100W、スパッタ時の圧力
0.5Pa、スパッタガスはAr+1%O2 であった。
をさらに詳細に説明する。 <実施例1>基板をDCスパッタ装置内に配置し、錫ド
ープ酸化インジウム焼結体(SnO:10wt%)をター
ゲットとして、ITO電極を100nm成膜した。このと
きの成膜条件は、投入電力100W、スパッタ時の圧力
0.5Pa、スパッタガスはAr+1%O2 であった。
【0090】ITOからなるホール注入電極が成膜され
た基板を、中性洗剤、アセトン、エタノールを用いて超
音波洗浄し、煮沸エタノール中から引き上げて乾燥し
た。次いで、表面をUV/O3 洗浄した後、層間絶縁膜
を基板全面に形成した。層間絶縁膜にはポリイミドを用
いた。ポリイミドは非感光性の材料を選び、5%程度の
濃度にNMP(N-methyl pyrrolidone)で希釈したもの
をスピンコート法で塗布し、150℃で30分間、さら
に300℃で1時間ベークした。このときの膜厚は10
0〜800nmとした。
た基板を、中性洗剤、アセトン、エタノールを用いて超
音波洗浄し、煮沸エタノール中から引き上げて乾燥し
た。次いで、表面をUV/O3 洗浄した後、層間絶縁膜
を基板全面に形成した。層間絶縁膜にはポリイミドを用
いた。ポリイミドは非感光性の材料を選び、5%程度の
濃度にNMP(N-methyl pyrrolidone)で希釈したもの
をスピンコート法で塗布し、150℃で30分間、さら
に300℃で1時間ベークした。このときの膜厚は10
0〜800nmとした。
【0091】次いで、フォトリソグラフィーによって、
実際の発光部となるホール注入電極を露出させるための
開口を有するパターンを作り、酸素プラズマにより層間
絶縁膜をエッチングした後、レジストを剥離した。
実際の発光部となるホール注入電極を露出させるための
開口を有するパターンを作り、酸素プラズマにより層間
絶縁膜をエッチングした後、レジストを剥離した。
【0092】次いで、有機機能層と、電子注入電極と、
保電極とを連続して形成した。なお、保護電極の形成が
終了するまで真空を破らなかった。
保電極とを連続して形成した。なお、保護電極の形成が
終了するまで真空を破らなかった。
【0093】真空蒸着装置の基板ホルダーに固定して、
槽内を1×10-4Pa以下まで減圧した。4,4’,4”
−トリス(−N−(3−メチルフェニル)−N−フェニ
ルアミノ)トリフェニルアミン(以下、m−MTDAT
A)を蒸着速度0.2nm/sec.で40nmの厚さに蒸着
し、ホール注入層とし、次いで減圧状態を保ったまま、
N,N’−ジフェニル−N,N’−m−トリル−4,
4’−ジアミノ−1,1’−ビフェニル(以下、TP
D)を蒸着速度0.2nm/sec.で35nmの厚さに蒸着
し、ホール輸送層とした。さらに、減圧を保ったまま、
トリス(8−キノリノラト)アルミニウム(以下、Al
q3 )を蒸着速度0.2nm/sec.で50nmの厚さに蒸着
して、電子注入輸送・発光層とした。次いで減圧を保っ
たまま、MgAgを共蒸着(2元蒸着)で蒸着速度比M
g:Ag=10:1にて200nmの厚さに成膜し、電子
注入電極とした。
槽内を1×10-4Pa以下まで減圧した。4,4’,4”
−トリス(−N−(3−メチルフェニル)−N−フェニ
ルアミノ)トリフェニルアミン(以下、m−MTDAT
A)を蒸着速度0.2nm/sec.で40nmの厚さに蒸着
し、ホール注入層とし、次いで減圧状態を保ったまま、
N,N’−ジフェニル−N,N’−m−トリル−4,
4’−ジアミノ−1,1’−ビフェニル(以下、TP
D)を蒸着速度0.2nm/sec.で35nmの厚さに蒸着
し、ホール輸送層とした。さらに、減圧を保ったまま、
トリス(8−キノリノラト)アルミニウム(以下、Al
q3 )を蒸着速度0.2nm/sec.で50nmの厚さに蒸着
して、電子注入輸送・発光層とした。次いで減圧を保っ
たまま、MgAgを共蒸着(2元蒸着)で蒸着速度比M
g:Ag=10:1にて200nmの厚さに成膜し、電子
注入電極とした。
【0094】得られた有機EL素子を乾燥空気雰囲気
中、80℃で、電流密度10mA/cm2にて100時間駆
動し、加速評価試験を行った。
中、80℃で、電流密度10mA/cm2にて100時間駆
動し、加速評価試験を行った。
【0095】100時間後の64ドット×7ラインの各
画素の発光を目視にて観察評価し、非発光領域の大きさ
を発光面積の減少率(%)とした。層間絶縁膜の各膜厚
における発光面積の減少率(%)を下記に示す。
画素の発光を目視にて観察評価し、非発光領域の大きさ
を発光面積の減少率(%)とした。層間絶縁膜の各膜厚
における発光面積の減少率(%)を下記に示す。
【0096】 上記のように、層間絶縁膜の膜厚は段切れが発生する膜
厚以下であれば、膜厚の厚い方が電極等の剥離現象等に
よる発光領域の減少が少ないことがわかる。
厚以下であれば、膜厚の厚い方が電極等の剥離現象等に
よる発光領域の減少が少ないことがわかる。
【0097】<実施例2>実施例1において、電子注入
電極としてAlLi電極をスパッタ法にて400nmの膜
厚に成膜し、次いで保護膜としてSiO2 薄膜をスパッ
タ法にて100nmの膜厚に成膜した。その他は実施例1
と同様にして有機EL素子を得た。得られた有機EL素
子を実施例1と同様にして評価したところ、ほぼ同様の
結果が得られた。
電極としてAlLi電極をスパッタ法にて400nmの膜
厚に成膜し、次いで保護膜としてSiO2 薄膜をスパッ
タ法にて100nmの膜厚に成膜した。その他は実施例1
と同様にして有機EL素子を得た。得られた有機EL素
子を実施例1と同様にして評価したところ、ほぼ同様の
結果が得られた。
【0098】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、電極の剥
離現象を抑制し、発光面積の低下が無い有機EL素子を
実現することができる。
離現象を抑制し、発光面積の低下が無い有機EL素子を
実現することができる。
【図1】本発明の有機EL素子の一構成例を示す断面図
で、基板上にホール注入電極、層間絶縁膜、有機層、電
子注入電極、保護電極を形成した状態を示した図であ
る。
で、基板上にホール注入電極、層間絶縁膜、有機層、電
子注入電極、保護電極を形成した状態を示した図であ
る。
【図2】本発明の有機EL素子の一構成例を示す断面図
で、電子注入電極内部の引張応力の状態を示した図であ
る。
で、電子注入電極内部の引張応力の状態を示した図であ
る。
【図3】従来の有機EL素子の構成例を示す断面図で、
基板上にホール注入電極、層間絶縁膜、有機層、電子注
入電極、保護電極が形成された状態を示した図である。
基板上にホール注入電極、層間絶縁膜、有機層、電子注
入電極、保護電極が形成された状態を示した図である。
【図4】従来の有機EL素子の構成例を示す断面図で、
電子注入電極内部の引張応力の状態を示した図である。
電子注入電極内部の引張応力の状態を示した図である。
【図5】発光領域が縮小する様子を示した概略平面図で
ある。
ある。
1 基板 2 ホール注入電極 3 層間絶縁膜 4 有機層 5 電子注入電極 6 補助電極
Claims (2)
- 【請求項1】 基板上にホール注入電極と、電子注入電
極と、これらの電極間に設けられた1種以上の有機層と
を有し、 非発光領域であって、前記ホール注入電極または電子注
入電極と有機層との間の一部の領域に層間絶縁膜を有
し、 この層間絶縁膜の膜厚が250〜750nmである有機E
L素子。 - 【請求項2】 前記電子注入電極上に、保護電極および
/または保護膜を有し、 これらの膜厚の総計が50〜500nmである請求項1の
有機EL素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9309812A JPH11135264A (ja) | 1997-10-24 | 1997-10-24 | 有機el素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9309812A JPH11135264A (ja) | 1997-10-24 | 1997-10-24 | 有機el素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11135264A true JPH11135264A (ja) | 1999-05-21 |
Family
ID=17997552
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9309812A Withdrawn JPH11135264A (ja) | 1997-10-24 | 1997-10-24 | 有機el素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11135264A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002023955A1 (fr) * | 2000-09-14 | 2002-03-21 | Nippon Seiki Co.,Ltd | Element electroluminescent organique |
JP2004004524A (ja) * | 1999-06-04 | 2004-01-08 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 電気光学装置 |
JP2004022398A (ja) * | 2002-06-18 | 2004-01-22 | Ulvac Japan Ltd | 有機エレクトロルミネッセンスの製造方法 |
JP2005026240A (ja) * | 2004-10-25 | 2005-01-27 | Sony Corp | 有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法 |
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-
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