JPH11334870A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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JPH11334870A
JPH11334870A JP14456398A JP14456398A JPH11334870A JP H11334870 A JPH11334870 A JP H11334870A JP 14456398 A JP14456398 A JP 14456398A JP 14456398 A JP14456398 A JP 14456398A JP H11334870 A JPH11334870 A JP H11334870A
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JP
Japan
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processing liquid
processing
substrate
liquid
tank
Prior art date
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Application number
JP14456398A
Other languages
English (en)
Inventor
Takeshi Taniguchi
竹志 谷口
Mitsuo Ogasawara
光雄 小笠原
Nobuo Yanagisawa
暢生 柳沢
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】処理槽内の雰囲気中に拡散する処理液ミストの
量を減らすこと。 【解決手段】搬送ローラ2の上方には、基板Sの上面に
向けて処理液をスプレーするための複数のスプレーノズ
ル3が設けられている。搬送ローラ2の下方には、搬送
ローラ2を挟んでスプレーノズル3と対向する位置に、
上面が開放された扁平な容器状の処理液バット4が設け
られている。処理液バット4の内部には、予め処理液が
貯留されている。スプレーノズル3から基板Sが存在し
ない部分に向けて噴射された処理液は、処理液バット4
内に貯留されている処理液に入射する。これにより、基
板Sが存在しない部分に向けて噴射される処理液が雰囲
気中へ飛散するのを抑えることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置用ガ
ラス基板のようなFPD(Flat Panel Display:フラッ
トパネルディスプレイ)用基板、半導体ウエハ、フォト
マスク用ガラス基板、カラーフィルタ用基板およびカラ
ーブラウン管用シャドウマスク原板などの各種の被処理
基板に対して処理液を供給して処理を施すための基板処
理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】液晶表示装置のようなフラットパネルデ
ィスプレイの製造工程においては、基板の表面に対し
て、エッチング液などの処理液を用いた処理を施すため
の基板処理装置が用いられる。このような基板処理装置
の中には、処理対象の基板をほぼ水平な状態で搬送しな
がら、その基板の表面に処理液を供給することによっ
て、基板に処理を施すようにしたものがある。
【0003】この種の基板処理装置は、処理すべき基板
を収容するための処理槽と、この処理槽内を搬送される
基板に向けて処理液を上方からスプレーするためのノズ
ルとを備えている。ノズルから噴出される処理液は、処
理槽外に設けられた処理液タンクに貯留されており、こ
の処理液タンクから処理液供給管を介してノズルに供給
されるようになっている。ノズルに供給された処理液
は、ノズルから基板に向けて勢いよく噴射される。そし
て、基板に供給された後の処理液は、処理槽の底面に接
続された回収配管を通って処理液タンクに回収されて、
再利用されるようになっている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ノズルから噴射される
処理液の一部は、基板に供給されずに処理槽の底面など
に勢いよく当たって飛び散ることにより、ミストとなっ
て処理槽内の雰囲気中に拡散する。この処理液ミストを
含む雰囲気は、処理槽外に漏洩して作業者などに悪影響
を与えるのを防ぐために、処理槽に接続された排気機構
によって排気されるようになっている。そのため、処理
中に多量の処理液ミストが発生すると、処理槽からの排
気によって多量の処理液が失われて、処理液の回収効率
が悪くなり、処理液の消費量が多くなってしまう。
【0005】そこで、この発明の目的は、処理槽内の雰
囲気中に拡散する処理液ミストの量を低減できる基板処
理装置を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段および発明の効果】上記の
目的を達成するための請求項1記載の発明は、基板を収
容する処理槽と、この処理槽内に収容された基板に向け
て処理液を噴射するノズルと、上記処理槽内に収容され
て処理を受ける基板の位置を挟んで、上記ノズルと対向
する位置に配設されており、上記ノズルから噴射される
処理液を受容する開口を有し、処理液を貯留する貯留部
と、を含むことを特徴とする基板処理装置である。
【0007】この構成によれば、処理槽内で処理を受け
る基板の位置を挟んでノズルと対向する位置に貯留部が
形成されているので、ノズルから基板に向けて噴射され
る処理液のうち、基板に供給されない処理液は、貯留部
に貯留された処理液に入射する。これにより、基板に供
給されない処理液が処理槽の内面に勢いよく当たること
によってミストとなるのを防止できるから、処理槽内の
雰囲気中に拡散する処理液ミストの量を減らすことがで
きる。
【0008】請求項2記載の発明は、上記ノズルの周囲
を取り囲むように配設され、上記貯留部に対向する面が
開放されたカバーをさらに含むことを特徴とする請求項
1記載の基板処理装置である。
【0009】この構成によれば、請求項1記載の構成に
よる作用効果に加えて、ノズルから処理液が噴出される
際に発生する処理液ミストや、ノズルから噴出される処
理液が基板の主面に当たることによって発生する処理液
ミストの拡散が防止される。ゆえに、処理槽内の雰囲気
中に拡散する処理液ミストの量をさらに減らすことがで
きる。
【0010】なお、基板処理装置は、処理槽内で基板を
移動させつつ、その基板に向けて処理液を供給するもの
であるのが好ましい。また、処理槽内で基板を揺動させ
つつ、その基板に向けて処理液を供給するものであるの
がより好ましい。
【0011】さらに、処理槽内で基板を移動または揺動
させる構成である場合には、処理槽内における基板の搬
送路を挟んで、一方側に上記ノズルが配設され、他方側
に上記貯留部が配設されるのが好ましい。さらには、上
記基板の搬送路がほぼ水平方向に延びている場合には、
その搬送路の上方に上記ノズルが配設され、下方に貯留
部が配設されるのが好ましい。
【0012】また、基板処理装置は、基板に供給された
後の処理液を回収する回収機構をさらに含むのが好まし
い。この回収機構が備えられている基板処理装置におい
ては、処理槽内の雰囲気中に拡散する処理液ミストの量
が少なくなることにより、回収機構による処理液の回収
効率を向上させることができる。その結果、処理液の消
費量が抑制されて、装置のランニングコストが低減す
る。
【0013】
【発明の実施の形態】以下では、この発明の実施形態
を、添付図面を参照して詳細に説明する。
【0014】図1は、この発明の一実施形態に係る基板
処理装置の構成を簡略化して示す断面図である。この基
板処理装置は、たとえば、フラットパネルディスプレイ
に適用される基板Sをほぼ水平な平面内で揺動させなが
ら、この基板Sの上面に処理液を供給することによっ
て、基板Sの上面に処理液による処理を施すための装置
である。なお、処理液としては、基板Sにエッチング処
理を施すためのエッチング液や、基板Sに形成されたレ
ジスト膜を剥離するためのレジスト剥離液、基板Sを洗
浄するための洗浄液などを例示することができる。
【0015】この基板処理装置は、処理すべき基板Sを
収容することのできる処理槽1を備えている。処理槽1
は、略直方体形状に形成されており、基板Sの搬送方向
TDに関して上流側の側壁1Aには、処理槽1内に未処
理の基板Sを搬入するための搬入口11が形成されてい
る。また、搬送方向TDに関して下流側の側壁1Bに
は、搬入口11と対向する位置に、処理槽1内から処理
済みの基板Sを搬出するための搬出口12が形成されて
いる。この搬入口11および搬出口12に関連して、搬
入口11および搬出口12をそれぞれ開閉するためのシ
ャッタ(図示せず)が設けられている。基板Sへの処理
液による処理は、シャッタによって搬入口11および搬
出口12が閉塞された状態で行われる。
【0016】処理槽1の搬送方向TDに延びた一方の側
壁1Cには、処理槽1内の雰囲気を排気するための排気
口13,14が形成されており、これらの排気口13,
14には、図外の排気設備から延びた排気管15,16
がそれぞれ接続されている。基板処理時には、図外の排
気設備によって処理槽1内の雰囲気が排気されることに
より、処理液を含む処理槽1内の雰囲気が、搬入口11
および搬出口12と上記シャッタとの隙間から外部に漏
れ出さないようになっている。また、処理槽1の側壁1
Cには、排気口13,14に関連して、下面に開口が形
成された略直方体形状のカバー17,18が取り付けら
れている。
【0017】処理槽1内には、処理槽1に搬入された基
板Sを水平に保持しつつ搬送するための複数の搬送ロー
ラ2が配設されている。複数の搬送ローラ2は、その回
転軸が搬送方向TDと直交する水平方向に延在されてお
り、正逆交互に回転されることによって、基板Sを処理
槽1内の所定の揺動領域内で搬送方向TDに沿って揺動
させることができる。また、基板Sに対する処理の終了
後に所定時間だけ正転されることにより、処理済みの基
板Sを搬出口12から処理槽1外へ搬出することができ
る。
【0018】搬送ローラ2の上方には、基板Sの上面に
向けて処理液をスプレーするための複数のスプレーノズ
ル3が設けられている。この複数のスプレーノズル3に
は、図外の処理液タンクに貯留されている処理液が処理
液供給管を通して供給されるようになっている。この構
成により、基板Sの上面に処理液を供給することができ
る。また、このときに基板Sが揺動領域内で揺動させら
れることにより、基板Sの上面全域にむらなく処理液を
供給することができ、基板Sの上面全域にほぼ均一な処
理を施すことができる。
【0019】なお、スプレーノズル3から噴出された処
理液は、処理槽1の底板1Dに形成された排液口19か
ら、この排液口19の底面に接続された排液配管20を
通って上記処理液タンクに戻されて、基板処理に再利用
されるようになっている。
【0020】搬送ローラ2の下方には、搬送ローラ2を
挟んでスプレーノズル3と対向する位置に、上面4Aが
開放された扁平な容器状の処理液バット4が設けられて
いる。処理液バット4は、すべてのスプレーノズル3か
ら噴射される処理液を受けることができるように、平面
視において基板Sの揺動領域よりも大きく形成されてお
り、この実施形態では、処理バット4の開放された上面
4Aがノズル3からの処理液を受容する開口に相当して
いる。また、処理液バット4の内部には、予め処理液が
貯留されている。
【0021】この構成により、スプレーノズル3から基
板Sが存在しない部分に向けて噴射された処理液は、上
面4Aを介して処理液バット4内に貯留されている処理
液に入射する。これにより、基板Sが存在しない部分に
向けて噴射される処理液が、処理槽1の底板1Dなどに
勢いよく当たってミストとなるのを防止できるから、処
理槽1内の雰囲気中に拡散する処理液ミストの量を減ら
すことができる。その結果、排気口13,14からの雰
囲気の排気によって処理槽1から持ち出される処理液の
量を減らすことができるから、処理液タンクへの処理液
の回収効率を向上することができ、この基板処理装置が
保有する処理液の減少を抑えることができる。
【0022】図2は、この発明の第2の実施形態に係る
基板処理装置の構成を簡略化して示す断面図である。こ
の図2では、図1に示す各部と同等の部分については、
同一の参照符号を付し、その詳細な説明を省略する。
【0023】上述の第1実施形態に係る構成では、スプ
レーノズル3から噴射された処理液を受けるための処理
液バット4が搬送ローラ2の下方に設けられているのに
対し、この第2実施形態に係る構成においては、処理液
バット4に代えて、スプレーノズル3から噴射された処
理液を受けるための処理液貯留部5が処理槽1の底板1
D上に形成されている。
【0024】底板1Dの搬送方向TDの両端縁には、そ
れぞれ幅方向にわたって区画板55,56が立設されて
いる。処理液貯留部5は、この区画板55,56と処理
槽1の搬送方向TDに延びた一対の側壁とによって区画
形成されており、その内部には、予め処理液が貯留され
ている。この実施形態では、区画板55,56の上端縁
と上記一対の側壁とで囲まれる領域5Aが、ノズル3か
らの処理液を受容する開口に相当している。
【0025】また、区画板55,56が立設されること
により、底板1Dと側壁1A,1Bとの間には、搬送方
向TDと直交方向に延びた排液溝51,52が形成され
ている。この排液溝51,52の底面には、先端がスプ
レーノズル3に供給すべき処理液を貯留しておくための
処理液タンクに接続された排液配管53,54が結合さ
れている。これにより、処理液貯留部5から溢れ出た処
理液を、排液溝51,52から排液配管53,54を通
して処理液タンクに回収し、基板処理に再利用すること
ができる。
【0026】この構成によれば、スプレーノズル3から
基板Sが存在しない部分に向けて噴射された処理液は、
処理液貯留部5内に貯留されている処理液に入射する。
これにより、基板Sが存在しない部分に向けて噴射され
る処理液が、処理槽1の底板1Dに勢いよく当たってミ
ストとなるのを防止でき、上述の第1実施形態と同様な
効果を奏することができる。
【0027】また、基板Sの上面に供給されて基板Sか
ら流れ落ちる処理液が、処理槽1の底板1Dに当たって
ミストとなることがないから、処理槽1内の雰囲気中に
拡散する処理液ミストの量をより低減させることができ
る。
【0028】図3は、この発明の第3の実施形態に係る
基板処理装置の構成を簡略化して示す断面図である。こ
の図3においても、図1に示す各部と同等の部分につい
ては、同一の参照符号を付し、その詳細な説明を省略す
る。
【0029】この第3の実施形態に係る構成では、上述
の第1の実施形態に係る構成に加えて、複数のスプレー
ノズル3の上方および側方を取り囲むためのカバー6が
設けられている。このカバー6は、処理液バット4に対
向する面が開放されており、スプレーノズル3の上方に
おいて水平に延びた平面矩形状の天板61と、この天板
61の周縁から垂れ下がった周側板62とを備えてい
る。周側板62は、搬送ローラ2によって搬送される基
板Sの上面の近傍位置まで形成されており、スプレーノ
ズル3の側方を取り囲んでいる。
【0030】この第3実施形態の構成によれば、スプレ
ーノズル3の上方および側方を取り囲むカバー6によっ
て、スプレーノズル3から処理液が噴出される際に発生
する処理液ミストが雰囲気中に拡散するのを防止するこ
とができる。また、処理液が基板Sの上面に当たって飛
散することで発生する処理液ミストが雰囲気中に拡散す
るのを防止することができる。ゆえに、処理槽1内の雰
囲気中に拡散する処理液ミストの量をさらに減らすこと
ができ、排気口13,14からの雰囲気の排気によって
処理槽1から持ち出される処理液の量をさらに減らすこ
とができる。よって、処理液の回収効率をさらに向上す
ることができる。
【0031】以上では、この発明の3つの実施形態につ
いて説明したが、この発明は、上述の3つの実施形態以
外の形態でも実施することができる。たとえば、上述の
第3実施形態においては、複数のスプレーノズルの上方
および側方を取り囲むためのカバーが、上述の第1実施
形態の構成に加えて設けられた場合を例にとったが、上
記カバーは、処理槽の底面上に処理液貯留部が形成され
た第2実施形態の構成に加えて設けられてもよい。
【0032】また、上述の各実施形態においては、すべ
てのスプレーノズルから噴射される処理液を処理液バッ
トまたは処理液貯留部で受けることができるように構成
されている。しかしながら、図4に示すように、一部の
スプレーノズル3から噴射される処理液を、搬送ローラ
2の下方に配設された処理液バット7で受け、残りのス
プレーノズルから噴射される処理液を、処理槽1の底板
1Dの所定部に形成された処理液貯留部8で受けること
ができるように構成されてもよい。
【0033】また、処理液バットは、必ずしも一体に構
成される必要はなく、図4に示す処理液バット7のよう
に分割して構成されてもよい。
【0034】さらに、スプレーノズルの上方および側方
を取り囲むカバーは、図4に示すカバー9のように、複
数のスプレーノズル3のうちの一部のスプレーノズル3
の上方および側方を取り囲むものであってもよい。ま
た、図4に示すカバー9のように分割して構成されてい
てもよい。
【0035】さらにまた、上述の実施形態では、処理対
象の基板をほぼ水平な平面内で揺動させつつ、その基板
に向けて処理液を供給する構成を例にとったが、基板を
水平面に対して傾斜させた状態で揺動させつつ、その基
板に向けて処理液を供給する構成が採用されてもよい。
さらには、必ずしも基板を揺動させつつ処理液を供給す
る必要はなく、基板を所定の速度で一方向に搬送しつ
つ、その基板に向けて処理液を供給する構成であっても
よい。
【0036】また、上述の実施形態においては、フラッ
トパネルディスプレイ用基板を処理するための装置を例
にとったが、この発明は、半導体ウエハ、フォトマスク
用ガラス基板、カラーフィルタ用基板およびカラーブラ
ウン管用シャドウマスク原板などの他の種類の基板を処
理するための装置にも適用することができる。
【0037】その他、特許請求の範囲に記載された技術
的事項の範囲内で、種々の設計変更を施すことが可能で
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の第1実施形態に係る基板処理装置の
構成を簡略化して示す断面図である。
【図2】この発明の第2実施形態に係る基板処理装置の
構成を簡略化して示す断面図である。
【図3】この発明の第3実施形態に係る基板処理装置の
構成を簡略化して示す断面図である。
【図4】上述の実施形態の変形例について説明するため
の断面図である。
【符号の説明】
S 基板 1 処理槽 3 スプレーノズル 4,7 処理液バット(貯留部) 4A 処理液バットの上面(ノズルから噴射される処理
液を受容する開口) 5,8 処理液貯留部(貯留部) 5A 領域(ノズルから噴射される処理液を受容する開
口) 6,9 カバー 19 排液口(回収機構) 20,53,54 排液配管(回収機構) 51,52 排液溝(回収機構)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.6 識別記号 FI H01L 21/304 643 H01L 21/304 643B 21/306 21/306 R

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】基板を収容する処理槽と、 この処理槽内に収容された基板に向けて処理液を噴射す
    るノズルと、 上記処理槽内に収容されて処理を受ける基板の位置を挟
    んで、上記ノズルと対向する位置に配設されており、上
    記ノズルから噴射される処理液を受容する開口を有し、
    処理液を貯留する貯留部と、を含むことを特徴とする基
    板処理装置。
  2. 【請求項2】上記ノズルの周囲を取り囲むように配設さ
    れ、上記貯留部に対向する面が開放されたカバーをさら
    に含むことを特徴とする請求項1記載の基板処理装置。
JP14456398A 1998-05-26 1998-05-26 基板処理装置 Pending JPH11334870A (ja)

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