JPH11329909A - 導電箔の端部折り曲げ不良検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 導電箔の長尺方向に沿う端部の折り曲げ不良
を確実に検出することのできる導電箔の端部折り曲げ不
良検出装置を提供すること。 【解決手段】 長尺の導電箔の長尺方向に沿う端部の折
り曲げ後の搬送経路に導電箔８の端部８ａの周面を撮像
するカメラ２１を配置し、カメラ２１に撮像された画像
の画像信号を画像処理判別装置２３に送り、前記画像信
号に含まれる導電箔の端部の折り曲げ部の画像信号を抽
出して導電箔の端部の折り曲げ量を検出し、予め設定し
た導電箔の端部の折り曲げ量と比較して導電箔８の折り
曲げ不良を検出する。導電箔の表裏の反射輝度の差で折
り曲げ不良を検出するので検出精度を高めることができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、コンデンサ素子等
に用いられる長尺状の導電箔の長尺方向に沿う端部の折
り曲げ不良を検出する導電箔の端部折り曲げ不良検出装
置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】長尺の導電箔と誘電体を交互に重ね合わ
せ、これを巻回して形成されるコンデンサ素子では、電
界緩和を図るために導電箔の長尺方向に沿う数ｍｍ程度
の端部を折り曲げて形成される場合がある。

【０００３】この場合、導電箔の折り曲げるべき端部に
一部でも折り曲げられない不良を有したままコンデンサ
素子を形成すると、導電箔の端部の電界緩和を図ること
ができず寿命を著しく低下させるため、導電箔の端部の
折り曲げ不良を検出することが行われている。この導電
箔の折り曲げ不良の検出は、コンデンサ素子の形成後に
検出することは極めて困難であることから、導電箔の端
部の折り曲げ工程で検出するようにしている。

【０００４】図２は、コンデンサ素子の製造工程の一部
の概略構成を示すもので、８は導電箔、１３、１４は誘
電体フイルム、５、６、７は導電箔８の長尺方向に沿う
端部８ａを折り曲げる折り曲げ機構を構成するローラ、
１２は導電箔８の端部８ａを検出する検出器、１５は巻
き取り駆動ローラ、Ｒは導電箔８の搬送をガイドするガ
イドローラである。

【０００５】導電箔８は巻き取り駆動ローラ１５の巻き
取り駆動により搬送され、折り曲げ機構の各ローラ５、
６、７を通過し、途中で同様に巻き取り駆動ローラ１５
の巻き取り駆動により搬送される誘電体フィルム１３及
び１４が重ねられ、巻き取り駆動ローラ１５に巻き取ら
れる。導電箔８が折り曲げ機構の各ローラ５、６、７を
通過するとき、ローラ６の端縁が導電箔８の長尺方向に
沿う端部８ａの折り曲げ位置に設定され、ローラ５及び
７間に張られた導電箔８を押圧することにより、ローラ
６から外れる導電箔８の端部８ａが立ち上げられ、その
端部８ａはローラ７上で折り重ねられる。

【０００６】図３は、このような製造工程の導電箔８の
端部８ａの折り曲げ不良を検出する導電箔の端部の折り
曲げ不良検出装置の正面図である。なお図２と同一の部
分には同一の符号を付している。図３において、６は導
電箔８の端部８ａをその端縁６ａで折り曲げるローラ、
９はローラ６を保持する保持軸、１０は軸受、１１は一
端が軸受１０に取り付けられた支持金具である。１２は
支持金具１１の他端に取り付けられた検出器である。

【０００７】検出器１２は反射型（投光して物体からの
反射光を検出する。）のホトインタラプタで導電箔８の
端部８ａに対向する位置に位置決めされ、端部８ａに投
光（矢示Ｂ）してその反射光を検出するようにされてい
る。このように構成された導電箔の端部折り曲げ不良検
出装置は、検出器１２が反射光を検出しない場合は導電
箔８の端部８ａが正常に折り曲げられているとし、反射
光を検出した場合には折り曲げが不良として、例えば警
報を発するようにしている。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかし、このような導
電箔の端部折り曲げ不良検出装置では、導電箔８が搬送
時に幅方向に蛇行して導電箔８の端部８ａがローラ６の
ローラ面に位置し、導電箔８の端部８ａが折り曲げられ
ない場合においても、その蛇行による位置ずれによって
検出器１２で反射光が検出されず折り曲げられていると
して検出されるという問題がある。

【０００９】本発明は、上記問題に鑑みてなされたもの
で、導電箔の長尺方向に沿う端部の折り曲げ不良を確実
に検出することのできる導電箔の端部折り曲げ不良検出
装置を提供することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】本発明は、長尺の導電箔
の長尺方向に沿う端部の折り曲げ後の搬送経路に配置さ
れ、前記導電箔の折り曲げ側端部周面を撮像するカメラ
と、前記カメラで撮像した画像信号を入力し前記導電箔
の折り曲げ量を求め、予め設定した導電箔の折り曲げ量
と比較して導電箔の端部折り曲げ状態を判別する画像処
理判別装置とを備え、前記画像処理判別装置の判別によ
り前記導電箔の端部折り曲げ不良を検出してなることを
特徴とする。

【００１１】導電箔の表面と裏面とでは、光を照射した
とき面の粗さによりその光の反射輝度に差がある。した
がって導電箔の折り曲げ側端部周面を撮像カメラで撮影
することにより導電箔の表面と裏面を区別する画像信号
を得ることができる。この画像信号のうち導電箔の折り
曲げ側の面（裏面又は表面）の画像信号を取り出して導
電箔の折り曲げ量を求め、予め設定した導電箔の折り曲
げ量と比較して導電箔の折り曲げ不足を判定する。

【００１２】このように、導電箔の表面と裏面との光の
反射輝度の差により導電箔の折り曲げ不足を判定するの
で、導電箔が搬送時に幅方向に蛇行して導電箔の端部が
折り曲げられない場合においても、折り曲げ不足を確実
に検出することができる。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図を参照して説明する。図１は実施の形態の導電箔の
端部折り曲げ検出装置のブロック図である。図１におい
て、８は図２で示したものと同様の導電箔、Ｒは導電箔
８の搬送（紙面に対して垂直方向）をガイドするガイド
ローラ、２１は撮像した画像信号、例えば画素毎の輝度
信号を出力するカメラ、２２はＣＲＴ（カソードレイチ
ュウブ）あるいは液晶等のディスプレイ（モニタ装
置）、２３は画像処理判別装置、２４はブザーである。

【００１４】なお、図１では導電箔８の折り曲げ側の端
部８ａの周面を照明する照明系、カメラ２１及びディス
プレイ２２を駆動する駆動系は省略されている。

【００１５】カメラ２１は、導電箔８の長尺方向に沿う
端部８ａの折り曲げ後の搬送経路に配置され、導電箔８
の折り曲げ側の端部８ａの周面をＣＣＤ（電荷結合素
子）からなる撮像板２１ａの受光面に結像し、結像した
画像（撮像）の画素毎の輝度信号を所定の順序で出力す
る。ディスプレイ２２はカメラ２１に接続され、カメラ
２１から出力される画素毎の輝度信号を入力し、画面２
２ａ上にカメラ２１で撮影された画像を再生する。

【００１６】この実施の形態では、導電箔８の端部８ａ
の裏面を表面に折り曲げた場合で、図１に示す画面２２
ａ上の２２ｂは導電箔８の長尺方向に沿う端部８ａの裏
面の画像であり、２２ｃは導電箔８の表面の画像であ
り、端部８ａの裏面の画像２２ｂは導電箔８の表面の画
像２２ｃよりも反射輝度の差にしたがい暗く表示されて
いる。

【００１７】画像処理判別装置２３は、カメラ２１から
出力される画素毎の輝度信号を入力する第１の比較手段
２３ａと第１の比較手段２３ａの比較基準値を設定する
第１の基準値設定手段２３ｂ及び第１の比較手段２３ａ
の出力画素数を計数する計数手段２３ｃとからなる導電
箔の折り曲げ量検出手段と、計数手段２３ｃの計数値を
入力する第２の比較手段２３ｄ、第２の比較手段２３ｄ
の比較基準値を設定する第２の基準値設定手段２３ｅと
からなる導電箔の折り曲げ量判別手段を備えている。な
お、画像強調処理手段については省略する。

【００１８】そして予め導電箔８の表面と裏面の反射輝
度を求め、導電箔８の裏面の反射輝度の上限値と下限値
（導電箔の表面及び背景の反射輝度を区別する）を第１
の基準値設定手段２３ｂに設定する。また、第２の基準
値設定手段２３ｅに１画面のうち必要とする導電箔８の
折り曲げ端部８ａに対応する画素数、例えば、図１の画
面２２ａの点線で示すように、１画面の始点ｙから終点
ｘで囲まれる水平走査線領域の範囲を適宜抽出し、その
領域の全画素数ｍについて、必要とする導電箔８の折り
返し端部８ａに対応する画素数（必要とする折り曲げ
量）ｎを求めて、その画素数ｎを設定する。

【００１９】このように構成した導電箔の端部折り曲げ
不良検出装置は、カメラ２１を図２に示すコンデンサ素
子の製造工程の折り曲げ後の導電箔８の搬送経路の適宜
の位置に配置し、搬送される導電箔８の折り返し端部８
ａの端部周面を撮影する。カメラ２１は撮影した画像の
画素毎の輝度信号を所定の順序で送出し、その信号をを
画像処理判別装置２３の第１の比較手段２３ａに入力す
る。第１の比較手段２３ａでは入力した画素の輝度信号
を第１の基準値設定手段２３ｂで設定された上限値と下
限値と比較し、上限値と下限値の間に位置する画素信号
を計数手段２３ｃへ出力する。

【００２０】計数手段２３ｃは予め抽出した水平走査線
領域の始点ｙから終点ｘまでの第１の比較手段２３ａか
ら出力された画素を計数し、その計数値を第２の比較手
段２３ｄへ出力し、第２の比較手段２３ｄで第２の基準
値設定手段２３ｅに設定された画素数ｎと比較する。そ
の比較結果、計数値の画素数が設定値の画素数ｎに達し
ない場合に例えばブザー２５へ出力し、ブザー２５を鳴
動させて、導電箔８の端部８ａの折り曲げ不良を報知す
る。以上の動作は１画面（１フレーム）ごとに行われ連
続的に搬送される導電箔８の端部８ａの折り曲げを連続
的に検出される。

【００２１】なお、導電箔８の端部８ａを導電箔８の裏
面に折り曲げた場合には、第１の基準値設定手段２３ｂ
に導電箔８の表面の反射輝度信号を設定するようにすれ
ば良い。また、撮像された画像のうち検出領域の設定は
任意であり、１画面全てを検出領域としても良い。

【００２２】また、コンデンサ素子では、図２に示すよ
うに、導電箔８は端部８ａの折り曲げ後連続に搬送して
導電箔８に誘電体フィルムが重ねられるが、カメラ２１
をこの誘電体フィルム（透明性の樹脂である場合）に重
ねた直後に配置し、誘電体フィルムを通して導電箔８の
端部８ａの折り曲げを検出するようにしても良い。この
場合、コンデンサ素子の完成に近い状態での折り曲げを
検出するので、折り曲げ不良のコンデンサ素子をより確
実に選別することができる。

【００２３】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
長尺の導電箔の長尺方向に沿う折り曲げ端部はカメラの
撮像範囲で導電箔の表裏の反射輝度の差で検出するの
で、搬送中の導電箔の蛇行による折り曲げ不良や折り曲
げ不足、あるいは折り曲げ後にその折り曲げが開くこと
による折り曲げ不良があっても、その不良や折り曲げ不
足を高精度で検出することができ、信頼性の高いコンデ
ンサ素子を得ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態の導電箔の端部折り曲げ検
出装置のブロック図である。

【図２】コンデンサ素子の製造工程の一部の概略構成図
である。

【図３】従来の導電箔の端部折り曲げ検出装置の正面図
である。

【符号の説明】

８ 長尺状の導電箔 ８ａ 長尺状の導電箔の端部 ２１ カメラ（撮像カメラ） ２１ａ ＣＣＤ撮像板 ２２ｂ 導電箔の折り曲げ端部の裏面の画像 ２２ｃ 導電箔の表面の画像 ｍ 画素抽出範囲 ２３ 画像処理判別装置 ２３ａ 第１の比較手段 ２３ｂ 第１の基準値設定手段 ２３ｃ 計数手段 ２３ｄ 第２の比較手段 ２３ｅ 画素数設定手段 ２５ ブザー

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 長尺の導電箔の長尺方向に沿う端部の折
   り曲げ後の搬送経路に配置され、前記導電箔の折り曲げ
   側端部周面を撮像するカメラと、前記カメラで撮像した
   画像信号を入力し前記導電箔の折り曲げ量を求め、予め
   設定した導電箔の折り曲げ量と比較して導電箔の端部折
   り曲げ状態を判別する画像処理判別装置とを備え、前記
   画像処理判別装置の判別により前記導電箔の端部折り曲
   げ不良を検出してなることを特徴とする導電箔の端部折
   り曲げ不良検出装置。