JPH11308098A - 同期検出装置 - Google Patents
同期検出装置Info
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- JPH11308098A JPH11308098A JP10107577A JP10757798A JPH11308098A JP H11308098 A JPH11308098 A JP H11308098A JP 10107577 A JP10107577 A JP 10107577A JP 10757798 A JP10757798 A JP 10757798A JP H11308098 A JPH11308098 A JP H11308098A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 入力される入力クロックと内部比較クロック
との位相がずれた状態で同期している場合でも、PLL
回路の同期検出を行うことができる同期検出装置を提供
する。 【解決手段】 内部比較クロックを生成するカウンタ5
から出力されるカウント値を、直列に接続した2つのサ
ンプルホールド回路9、10に入力し、入力クロックを
用いてサンプルし得られる現在のカウント値と入力クロ
ック1周期前のカウント値とを比較回路11で比較する
ことにより同期、非同期を検出する。
との位相がずれた状態で同期している場合でも、PLL
回路の同期検出を行うことができる同期検出装置を提供
する。 【解決手段】 内部比較クロックを生成するカウンタ5
から出力されるカウント値を、直列に接続した2つのサ
ンプルホールド回路9、10に入力し、入力クロックを
用いてサンプルし得られる現在のカウント値と入力クロ
ック1周期前のカウント値とを比較回路11で比較する
ことにより同期、非同期を検出する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、PLL回路(位相
同期発振回路)の同期検出装置に関するものである。
同期発振回路)の同期検出装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来のPLL回路の同期検出回路は、特
開昭60−253320の従来例に示すように、PLL
回路が同期しているかを検出していた。以下に図6、7
を用いて従来例の動作説明をする。
開昭60−253320の従来例に示すように、PLL
回路が同期しているかを検出していた。以下に図6、7
を用いて従来例の動作説明をする。
【0003】図6は従来例のPLL回路の同期検出回路
のブロック図である。外部からの入力クロックaと内部
比較クロックbとの位相を比較する位相比較回路21
と、この位相比較回路21の出力信号を入力とするルー
プフィルタ22と、このループフィルタ22の出力信号
によって制御されるVCO(電圧制御発振器)14と、
このVCO14の出力信号をM分周(Mは自然数)して
位相比較回路21に内部比較クロックbを送出するM分
周回路15と、このM分周回路15の出力信号をさらに
2分周してデューティを50%にする2分周回路16
と、入力クロックaのデューティを50%にする2分周
回路17と、これ等2つの2分周回路16及び17の出
力信号d及びcを入力とする排他的論理和(EX−O
R)ゲート18と、このEX−ORゲート18の出力信
号eを積分して直流信号に変換する積分器19と、この
積分器19の出力信号のDCレベルによって入力クロッ
クaと内部比較クロックbとが非同期であることを検出
する検出回路20とで構成される。
のブロック図である。外部からの入力クロックaと内部
比較クロックbとの位相を比較する位相比較回路21
と、この位相比較回路21の出力信号を入力とするルー
プフィルタ22と、このループフィルタ22の出力信号
によって制御されるVCO(電圧制御発振器)14と、
このVCO14の出力信号をM分周(Mは自然数)して
位相比較回路21に内部比較クロックbを送出するM分
周回路15と、このM分周回路15の出力信号をさらに
2分周してデューティを50%にする2分周回路16
と、入力クロックaのデューティを50%にする2分周
回路17と、これ等2つの2分周回路16及び17の出
力信号d及びcを入力とする排他的論理和(EX−O
R)ゲート18と、このEX−ORゲート18の出力信
号eを積分して直流信号に変換する積分器19と、この
積分器19の出力信号のDCレベルによって入力クロッ
クaと内部比較クロックbとが非同期であることを検出
する検出回路20とで構成される。
【0004】図7は、図6のブロック図における各部の
波形を示すもので、入力クロックの波形aと内部比較ク
ロックの波形bとの立ち上がりを比較するような位相比
較回路21を用いた場合である。
波形を示すもので、入力クロックの波形aと内部比較ク
ロックの波形bとの立ち上がりを比較するような位相比
較回路21を用いた場合である。
【0005】当該入力クロックaと内部比較クロックb
とを2分周回路17と16とで夫々2分周した出力信号
cとdとを入力とするEX−ORゲート18の出力信号
eは2分周回路17と16の出力信号cとdの位相差を
幅とするパルスとなる。従って、上記の如き2つの入力
クロックa及びbの立ち上がりで位相比較を行うような
位相比較回路の場合には、EX−ORゲート18の出力
パルスeは、PLL回路が同期している時にデューティ
が十分に小さいパルスとなるため、積分器19の出力信
号のDCレベルは低レベルに近い値となっている。
とを2分周回路17と16とで夫々2分周した出力信号
cとdとを入力とするEX−ORゲート18の出力信号
eは2分周回路17と16の出力信号cとdの位相差を
幅とするパルスとなる。従って、上記の如き2つの入力
クロックa及びbの立ち上がりで位相比較を行うような
位相比較回路の場合には、EX−ORゲート18の出力
パルスeは、PLL回路が同期している時にデューティ
が十分に小さいパルスとなるため、積分器19の出力信
号のDCレベルは低レベルに近い値となっている。
【0006】一方、PLL回路が非同期の時には、EX
−ORゲート18の出力信号Eは入力クロックaと内部
比較クロックbとの差の周波数でパルス幅がデューティ
0%から100%まで繰り返し変化する信号となり、こ
の状態での積分器19の出力信号のDCレベルは高レベ
ルと低レベルの中間レベルとなる。
−ORゲート18の出力信号Eは入力クロックaと内部
比較クロックbとの差の周波数でパルス幅がデューティ
0%から100%まで繰り返し変化する信号となり、こ
の状態での積分器19の出力信号のDCレベルは高レベ
ルと低レベルの中間レベルとなる。
【0007】このことから検出回路20では積分器19
から出力される信号のDCレベルが高レベルと低レベル
の中間レベル以上になった時にPLL回路が非同期であ
ると判定することにより、PLL回路の非同期を検出し
ている。
から出力される信号のDCレベルが高レベルと低レベル
の中間レベル以上になった時にPLL回路が非同期であ
ると判定することにより、PLL回路の非同期を検出し
ている。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うにPLL回路の同期、非同期を検出する場合におい
て、位相比較回路に入力される入力クロックと内部比較
クロックの位相がずれた状態で同期しているPLL回路
では検出が正しく行われない。従来例で記述した波形a
とbの位相がずれ波形eのパルス幅が広がり非同期と判
断してしまう。
うにPLL回路の同期、非同期を検出する場合におい
て、位相比較回路に入力される入力クロックと内部比較
クロックの位相がずれた状態で同期しているPLL回路
では検出が正しく行われない。従来例で記述した波形a
とbの位相がずれ波形eのパルス幅が広がり非同期と判
断してしまう。
【0009】このようなPLL回路動作の例を挙げると
VCOでの発振クロックの位相を調整するために外部か
ら位相比較回路の出力にDCオフセットを加算させた場
合等がある。この場合位相比較回路に入力される入力ク
ロックと内部比較クロックの位相がずれてしまうため、
PLL回路が同期した動作を行っていても同期検出装置
において同期検出が正しく行われない恐れがあった。
VCOでの発振クロックの位相を調整するために外部か
ら位相比較回路の出力にDCオフセットを加算させた場
合等がある。この場合位相比較回路に入力される入力ク
ロックと内部比較クロックの位相がずれてしまうため、
PLL回路が同期した動作を行っていても同期検出装置
において同期検出が正しく行われない恐れがあった。
【0010】本発明は前記課題に鑑み、位相比較回路に
入力される入力クロックと内部比較クロックとの位相が
ずれた状態でPLL回路が同期していてもPLL回路の
同期検出ができる同期検出装置を提供するものである。
入力される入力クロックと内部比較クロックとの位相が
ずれた状態でPLL回路が同期していてもPLL回路の
同期検出ができる同期検出装置を提供するものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に、本発明の同期検出装置は、PLL回路内のカウンタ
の出力信号を入力クロックにより保持する第1のサンプ
ルホールド回路と前記第1のサンプルホールド回路から
の出力信号を入力クロックのタイミングで保持する第2
のサンプルホールド回路と前記2個のサンプルホールド
回路の出力信号を比較する比較回路からなり、入力クロ
ックと内部比較クロックとの位相がずれていてもPLL
回路の同期検出ができることを特徴としたものである。
に、本発明の同期検出装置は、PLL回路内のカウンタ
の出力信号を入力クロックにより保持する第1のサンプ
ルホールド回路と前記第1のサンプルホールド回路から
の出力信号を入力クロックのタイミングで保持する第2
のサンプルホールド回路と前記2個のサンプルホールド
回路の出力信号を比較する比較回路からなり、入力クロ
ックと内部比較クロックとの位相がずれていてもPLL
回路の同期検出ができることを特徴としたものである。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て、図面を参照しながら説明する。
て、図面を参照しながら説明する。
【0013】(実施の形態1)図1は、本発明の第1の
実施の形態における同期検出回路のブロック図である。
図1において、Aは入力クロック、1は前記入力クロッ
クAと後述するカウンタからの内部比較クロックとの位
相差を検出する位相比較回路1で、3は前記位相比較回
路1からの信号を平滑化するループフィルタで、4は入
力されたDC電圧に応じて発振周波数を変化させるVC
O(電圧制御発振器)回路で、5は前記VCOからの出
力信号をカウントするカウンタで、8はサンプルホール
ド回路で例えばDフリップフロップ(以下、DFFと呼
ぶ)9,10を用いて構成される。
実施の形態における同期検出回路のブロック図である。
図1において、Aは入力クロック、1は前記入力クロッ
クAと後述するカウンタからの内部比較クロックとの位
相差を検出する位相比較回路1で、3は前記位相比較回
路1からの信号を平滑化するループフィルタで、4は入
力されたDC電圧に応じて発振周波数を変化させるVC
O(電圧制御発振器)回路で、5は前記VCOからの出
力信号をカウントするカウンタで、8はサンプルホール
ド回路で例えばDフリップフロップ(以下、DFFと呼
ぶ)9,10を用いて構成される。
【0014】11は比較回路で例えばEX−OR(排他
的論理和)12とOR回路13からなる。EはPLL回
路の同期、非同期を検出する同期検出信号である。同期
検出信号はマイコン6の入力ポートに入力される。
的論理和)12とOR回路13からなる。EはPLL回
路の同期、非同期を検出する同期検出信号である。同期
検出信号はマイコン6の入力ポートに入力される。
【0015】かかる構成の動作について図2を用いて説
明する。位相比較回路1、ループフィルタ3,VCO
4、カウンタ5によって構成されるPLL回路により入
力クロックAに同期したVCO4からの出力Bが得られ
る。図2に図1中のA,B,C、D、E点の波形例を示
す。
明する。位相比較回路1、ループフィルタ3,VCO
4、カウンタ5によって構成されるPLL回路により入
力クロックAに同期したVCO4からの出力Bが得られ
る。図2に図1中のA,B,C、D、E点の波形例を示
す。
【0016】VCO4の出力信号を分周し内部比較クロ
ックを作成するカウンタ5を例として4bitのカウン
タとして説明する。カウンタ5は入力されるVCO4か
らの信号Bの立ち上がりでカウント動作を行いQ出力よ
りカウント結果を出力する。図1中のDがカウント出力
で図2にそのカウント結果を示す。4bitであるので
0〜15(十進数)までカウントを繰り返す。またCO
(CarryOut)出力は15をカウントした後1ク
ロック期間Highを出力する。これを内部比較クロッ
クとしている。
ックを作成するカウンタ5を例として4bitのカウン
タとして説明する。カウンタ5は入力されるVCO4か
らの信号Bの立ち上がりでカウント動作を行いQ出力よ
りカウント結果を出力する。図1中のDがカウント出力
で図2にそのカウント結果を示す。4bitであるので
0〜15(十進数)までカウントを繰り返す。またCO
(CarryOut)出力は15をカウントした後1ク
ロック期間Highを出力する。これを内部比較クロッ
クとしている。
【0017】この動作をしているときにカウンタ5のカ
ウント出力値を第1のDFF9に入力し入力クロックA
の立ち上がりのタイミングでサンプルホールドを行う。
DFF9,10はCLK入力の立ち上がりのタイミング
でData入力に入力された信号をサンプルホールドし
て出力する。第2のDFF10に前記第1のDFF9か
らの信号を入力し同様に入力クロックの立ち上がりのタ
イミングでサンプルホールドを行う。こうすることで第
1のDFF9の出力と第2のDFF10の出力は入力信
号に対して現在のカウント値と1周期前のカウント値を
出力することになる。2つのDFF9,10からの出力
信号は比較回路11に入力されカウント値の比較を行
う。
ウント出力値を第1のDFF9に入力し入力クロックA
の立ち上がりのタイミングでサンプルホールドを行う。
DFF9,10はCLK入力の立ち上がりのタイミング
でData入力に入力された信号をサンプルホールドし
て出力する。第2のDFF10に前記第1のDFF9か
らの信号を入力し同様に入力クロックの立ち上がりのタ
イミングでサンプルホールドを行う。こうすることで第
1のDFF9の出力と第2のDFF10の出力は入力信
号に対して現在のカウント値と1周期前のカウント値を
出力することになる。2つのDFF9,10からの出力
信号は比較回路11に入力されカウント値の比較を行
う。
【0018】EX−OR回路12は、複数(本実施の形
態においては4つ)のEX−OR回路から構成され、入
力値が同じ時のみLowを出力する論理でありその出力
をOR回路13に入力しORをとり同期検出信号Eを出
力する。つまり比較回路に入力されるカウント値が同じ
であれば同期検出信号EはLow、カウント値が異なっ
ていれば同期検出信号EはHighとなる。
態においては4つ)のEX−OR回路から構成され、入
力値が同じ時のみLowを出力する論理でありその出力
をOR回路13に入力しORをとり同期検出信号Eを出
力する。つまり比較回路に入力されるカウント値が同じ
であれば同期検出信号EはLow、カウント値が異なっ
ていれば同期検出信号EはHighとなる。
【0019】EX−OR回路12は、4つのEX−OR
回路12a、12b、12c、12dから構成される。
図3は、EX−OR回路12a〜12dとOR回路13
との接続を表している。すなわち、DFF9からの4ビ
ットデータとDFF10からの4ビットデータとは、最
上位ビット同士を、EX−OR回路12aに、最下位ビ
ット同士をEX−OR回路12dにというように、それ
ぞれ同じ重み付けを有するビット同士を12aから12
dまでの4つのEX−OR回路に入力される。EX−O
R回路12a〜12dの出力は、OR回路13の4つの
入力端子に接続されている。
回路12a、12b、12c、12dから構成される。
図3は、EX−OR回路12a〜12dとOR回路13
との接続を表している。すなわち、DFF9からの4ビ
ットデータとDFF10からの4ビットデータとは、最
上位ビット同士を、EX−OR回路12aに、最下位ビ
ット同士をEX−OR回路12dにというように、それ
ぞれ同じ重み付けを有するビット同士を12aから12
dまでの4つのEX−OR回路に入力される。EX−O
R回路12a〜12dの出力は、OR回路13の4つの
入力端子に接続されている。
【0020】かかる動作より、PLL回路が同期動作を
行っているときは現在のカウント値と1周期前のカウン
ト値が同じであるので2つのサンプルホールド回路の出
力値は常に同じになり、同期検出信号EはLowを出力
する。PLL回路が非同期動作を行っているときはカウ
ント値はばらばらになり、現在のカウント値と1周期前
のカウント値が異なっているので同期検出信号はHig
hを出力する。同期検出信号はマイコン6の入力ポート
に入力されマイコンはそのHigh、LowよりPLL
回路の同期、非同期を検出する。
行っているときは現在のカウント値と1周期前のカウン
ト値が同じであるので2つのサンプルホールド回路の出
力値は常に同じになり、同期検出信号EはLowを出力
する。PLL回路が非同期動作を行っているときはカウ
ント値はばらばらになり、現在のカウント値と1周期前
のカウント値が異なっているので同期検出信号はHig
hを出力する。同期検出信号はマイコン6の入力ポート
に入力されマイコンはそのHigh、LowよりPLL
回路の同期、非同期を検出する。
【0021】上記説明では4bitのカウンタで説明し
たが、VCO4の発振周波数に応じてそのbit数が増
えても問題は無い。
たが、VCO4の発振周波数に応じてそのbit数が増
えても問題は無い。
【0022】(実施の形態2)以下、本発明の第2の形
態について、図4を用いて説明する。図4は、本発明の
第2の実施の形態における同期検出回路のブロック図で
ある。図4において、図1と同じ働きをする部分には同
じ符号を付し説明を省略する。
態について、図4を用いて説明する。図4は、本発明の
第2の実施の形態における同期検出回路のブロック図で
ある。図4において、図1と同じ働きをする部分には同
じ符号を付し説明を省略する。
【0023】分周回路2は、入力クロックAを所定の分
周率で分周し、サンプルホールドのタイミング信号とし
てDFF9、10に入力する。分周回路2の分周率が例
えば2分の1であれば、DFF10の出力は、DFF9
の出力より2周期前のカウント値となる。
周率で分周し、サンプルホールドのタイミング信号とし
てDFF9、10に入力する。分周回路2の分周率が例
えば2分の1であれば、DFF10の出力は、DFF9
の出力より2周期前のカウント値となる。
【0024】このように、分周回路2を設け、その分周
率に応じた周期を有するタイミング信号を用いることに
より、所定周期毎に位相比較を行うことができる。
率に応じた周期を有するタイミング信号を用いることに
より、所定周期毎に位相比較を行うことができる。
【0025】(実施の形態3)以下、本発明の第3の形
態について、図5を用いて説明する。図5は、本発明の
第3の実施の形態における同期検出回路の内、EX−O
R回路12とOR回路13との接続を示すブロック図で
ある。図5においては、図3と異なり、EX−OR回路
12dの出力は、OR回路13には接続されず、OR回
路13の1つの入力端子にはグランドが接続されてい
る。
態について、図5を用いて説明する。図5は、本発明の
第3の実施の形態における同期検出回路の内、EX−O
R回路12とOR回路13との接続を示すブロック図で
ある。図5においては、図3と異なり、EX−OR回路
12dの出力は、OR回路13には接続されず、OR回
路13の1つの入力端子にはグランドが接続されてい
る。
【0026】EX−OR回路12dには、DFF9、1
0の最下位ビットが接続されているため、このように接
続すると、DFF9の出力値とDFF10の出力値とが
1だけ異なっていても、その違いはOR回路13の出力
には影響を与えない。従って、位相比較の結果に所定の
範囲の余裕を持たせることができ、その範囲内であれば
同期していると判定させることができる。
0の最下位ビットが接続されているため、このように接
続すると、DFF9の出力値とDFF10の出力値とが
1だけ異なっていても、その違いはOR回路13の出力
には影響を与えない。従って、位相比較の結果に所定の
範囲の余裕を持たせることができ、その範囲内であれば
同期していると判定させることができる。
【0027】なお、本実施の形態では、EX−OR回路
12dの出力の代わりにグランドをOR回路13の1つ
の入力端子に接続する構成としたが、EX−OR回路1
2dを設けず、DFF9、10の最下位ビットをそのま
ま放置するようにしても同様の効果が得られる。また、
本実施の形態では、4ビットデータの内の1ビットを考
慮しない構成としたが、最下位ビットから2ビット、ま
たは、最下位ビットから3ビットを考慮しないようにす
ると、位相比較の余裕を広げることができ、本実施の形
態に留まるものではない。
12dの出力の代わりにグランドをOR回路13の1つ
の入力端子に接続する構成としたが、EX−OR回路1
2dを設けず、DFF9、10の最下位ビットをそのま
ま放置するようにしても同様の効果が得られる。また、
本実施の形態では、4ビットデータの内の1ビットを考
慮しない構成としたが、最下位ビットから2ビット、ま
たは、最下位ビットから3ビットを考慮しないようにす
ると、位相比較の余裕を広げることができ、本実施の形
態に留まるものではない。
【0028】以上、3つの実施の形態を用いて詳細に説
明したように、位相比較回路の入力クロックとカウンタ
からの内部比較クロックの位相とにずれが生じている場
合でも、2つのサンプルホールド回路と比較回路でカウ
ンタの値との差分をとることでPLL回路が同期動作か
非同期動作かを検出することができる。
明したように、位相比較回路の入力クロックとカウンタ
からの内部比較クロックの位相とにずれが生じている場
合でも、2つのサンプルホールド回路と比較回路でカウ
ンタの値との差分をとることでPLL回路が同期動作か
非同期動作かを検出することができる。
【0029】
【発明の効果】以上のように、本発明の同期検出装置に
よれば、PLL回路において、入力クロックと内部比較
クロックとの位相のずれを検出することができる。
よれば、PLL回路において、入力クロックと内部比較
クロックとの位相のずれを検出することができる。
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る同期検出回路
のブロック図
のブロック図
【図2】本発明の第1の実施の形態に係る同期検出回路
の動作状況を示す波形図
の動作状況を示す波形図
【図3】本発明の第1の実施の形態におけるEX−OR
回路12a〜12dとOR回路13との接続を示すブロ
ック図
回路12a〜12dとOR回路13との接続を示すブロ
ック図
【図4】本発明の第2の実施の形態に係る同期検出回路
のブロック図
のブロック図
【図5】本発明の第3の実施の形態におけるEX−OR
回路12a〜12dとOR回路13との接続を示すブロ
ック図
回路12a〜12dとOR回路13との接続を示すブロ
ック図
【図6】従来の同期検出回路のブロック図
【図7】従来の同期検出回路の動作状況を示す波刑図
1、21 位相比較回路 2 分周回路 3、22 ループフィルタ 4、14 VCO 5 カウンタ 6 マイコン 7 DC電圧発生回路 8 サンプルホールド回路 9、10 Dフリップフロップ 11 比較回路 12、12a、12b、12c、12d、18 排他的
論理和(EX−OR)回路 13 OR回路 15 M分周回路 16、17 2分周回路 19 積分回路 20 検出回路
論理和(EX−OR)回路 13 OR回路 15 M分周回路 16、17 2分周回路 19 積分回路 20 検出回路
Claims (4)
- 【請求項1】 入力クロックと内部比較クロックとを同
期させるPLL回路において、前記入力クロックと前記
内部比較クロックとの位相がずれている場合でも、前記
内部比較クロックを生成するために設けられたカウンタ
が出力するカウント値を保持し、前記入力クロックの所
定周期後の前記カウント値と比較することで前記PLL
回路の同期、非同期を判定することを特徴とする同期検
出装置。 - 【請求項2】 入力クロックの位相と内部比較クロック
の位相とを比較する位相比較回路と、前記位相比較回路
の出力信号を平滑化するループフィルタと、前記ループ
フィルタの出力するDC電圧に応じて出力信号の発振周
波数を変化させるVCOと、前記VCOの出力信号を分
周し前記内部比較クロックを生成するカウンタとを有す
るPLL回路において、 前記カウンタの出力するカウント値を入力クロックから
生成されたタイミング信号に応じて保持する第1のサン
プルホールド回路と、前記第1のサンプルホールド回路
からの出力信号を前記タイミング信号に応じて保持する
第2のサンプルホールド回路と、前記第1のサンプルホ
ールド回路の出力信号と第2のサンプルホールド回路の
出力信号とを比較し前記PLL回路の同期、非同期を検
出する比較回路とを具備することを特徴とする同期検出
装置。 - 【請求項3】 前記比較回路は、前記第1のサンプルホ
ールド回路の出力信号と第1のサンプルホールド回路の
出力信号とを比較し、前記2つのサンプルホールド回路
の出力信号の差が所定の範囲であれば、前記入力クロッ
クと前記内部比較クロックとが同期していると判定する
ことを特徴とする請求項2記載の同期検出装置。 - 【請求項4】 前記入力クロックを分周する分周回路に
より生成された信号を前記タイミング信号とすることを
特徴とする請求項2記載の同期検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10107577A JPH11308098A (ja) | 1998-04-17 | 1998-04-17 | 同期検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10107577A JPH11308098A (ja) | 1998-04-17 | 1998-04-17 | 同期検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11308098A true JPH11308098A (ja) | 1999-11-05 |
Family
ID=14462708
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10107577A Pending JPH11308098A (ja) | 1998-04-17 | 1998-04-17 | 同期検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11308098A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002314409A (ja) * | 2001-04-10 | 2002-10-25 | Nec Corp | ロック検出回路 |
-
1998
- 1998-04-17 JP JP10107577A patent/JPH11308098A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002314409A (ja) * | 2001-04-10 | 2002-10-25 | Nec Corp | ロック検出回路 |
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