JPH1130666A - 光電子センサの動作方法 - Google Patents
光電子センサの動作方法Info
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- JPH1130666A JPH1130666A JP10118296A JP11829698A JPH1130666A JP H1130666 A JPH1130666 A JP H1130666A JP 10118296 A JP10118296 A JP 10118296A JP 11829698 A JP11829698 A JP 11829698A JP H1130666 A JPH1130666 A JP H1130666A
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- sensor
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- during
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01V—GEOPHYSICS; GRAVITATIONAL MEASUREMENTS; DETECTING MASSES OR OBJECTS; TAGS
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- G01V8/10—Detecting, e.g. by using light barriers
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- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Burglar Alarm Systems (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 光電子センサ特に光障壁の動作方法を提供す
る。 【解決手段】 本発明は、光送信器によって光信号を被
監視領域へ送信し、送信されかつ反射された光信号を光
受信器により受信して信号を供給し、被監視領域の対象
物の存在のために信号の振幅を調査し、振幅閾値が超過
又は未到達である場合、対象物検出信号を送信する光電
子センサ特に光障壁の動作方法であって、光電子センサ
を動作させる前に、対象物不在の被監視領域を備えた初
期化プロセスの情況中の所定の測定時間間隔に生じる振
幅値に依存して閾値が自動的に設定され、これによっ
て、閾値が初期化プロセス中に存在する動作条件に適合
され、あるいは、閾値は、特定の測定時間間隔に生じた
振幅値に依存してセンサ動作中に自動的に調節され、こ
れによって、それは振幅値がそれぞれ普及している動作
状態に適合される。
る。 【解決手段】 本発明は、光送信器によって光信号を被
監視領域へ送信し、送信されかつ反射された光信号を光
受信器により受信して信号を供給し、被監視領域の対象
物の存在のために信号の振幅を調査し、振幅閾値が超過
又は未到達である場合、対象物検出信号を送信する光電
子センサ特に光障壁の動作方法であって、光電子センサ
を動作させる前に、対象物不在の被監視領域を備えた初
期化プロセスの情況中の所定の測定時間間隔に生じる振
幅値に依存して閾値が自動的に設定され、これによっ
て、閾値が初期化プロセス中に存在する動作条件に適合
され、あるいは、閾値は、特定の測定時間間隔に生じた
振幅値に依存してセンサ動作中に自動的に調節され、こ
れによって、それは振幅値がそれぞれ普及している動作
状態に適合される。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は光電子センサ特に光
障壁を動作させる方法に関する。
障壁を動作させる方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】光電子センサ動作方法において、光信号
が光送信器によって被監視領域へ送信され、送信された
光信号及び反射された光信号を受信するように設計され
た光受信器は信号を伝え、信号の振幅は、被監視領域の
対象物の有無のために調査され、振幅閾値を超過する場
合、又は閾値がまだ到達しない場合、対象物検出信号が
送信される。
が光送信器によって被監視領域へ送信され、送信された
光信号及び反射された光信号を受信するように設計され
た光受信器は信号を伝え、信号の振幅は、被監視領域の
対象物の有無のために調査され、振幅閾値を超過する場
合、又は閾値がまだ到達しない場合、対象物検出信号が
送信される。
【０００３】かかる方法においては、振幅閾値が正確に
設定されることは満足に機能することにとって重要であ
る。なぜなら、振幅閾値が不適当に設定される場合、こ
れは、対象物が被監視領域中にないにもかかわらず品物
検出信号は送信され、又は、対象物は被監視領域中にあ
るにもかかわらず品物検出信号が送信されないことを、
排除できないからである。
設定されることは満足に機能することにとって重要であ
る。なぜなら、振幅閾値が不適当に設定される場合、こ
れは、対象物が被監視領域中にないにもかかわらず品物
検出信号は送信され、又は、対象物は被監視領域中にあ
るにもかかわらず品物検出信号が送信されないことを、
排除できないからである。
【０００４】振幅閾値の設定については、不正確に当然
従うこの種の手動の方法で、電位差計によって適切な値
にユーザによって例えば手動でそれを設定する事が、知
られている。更に、それは少なくとも出願者の内部先行
技術によると、ティーチイン方法を使用する事が、知ら
れている。ティーチイン方法では、対象物が、光電子セ
ンサの被監視領域へ導入され、受信された信号振幅はフ
ァクタで評価されて格納され、また、この格納された値
は、将来の振幅閾値として使用される。
従うこの種の手動の方法で、電位差計によって適切な値
にユーザによって例えば手動でそれを設定する事が、知
られている。更に、それは少なくとも出願者の内部先行
技術によると、ティーチイン方法を使用する事が、知ら
れている。ティーチイン方法では、対象物が、光電子セ
ンサの被監視領域へ導入され、受信された信号振幅はフ
ァクタで評価されて格納され、また、この格納された値
は、将来の振幅閾値として使用される。
【０００５】かかる方法は次の欠点を持っている。被監
視領域へ対象物を導入する努力をなさなければならず、
また導入される対象物の異なる特性、例えば、対象物の
異なる反射率、センサからの異なる距離及びさらに異な
る幾何学的な形の結果として、ティーチイン方法の情況
中の振幅閾値の設定のための適切な場合を常に発見する
ことが保証できない。
視領域へ対象物を導入する努力をなさなければならず、
また導入される対象物の異なる特性、例えば、対象物の
異なる反射率、センサからの異なる距離及びさらに異な
る幾何学的な形の結果として、ティーチイン方法の情況
中の振幅閾値の設定のための適切な場合を常に発見する
ことが保証できない。
【０００６】更に、以前特定した振幅閾値がセンサ動作
期間に一定で残り、したがって、動作上例えば、汚染又
は光送信器のエージングによって引き起こされた光パワ
ー変動が考慮できず、その結果、被監視領域の対象物の
不完全な認識が発生する。
期間に一定で残り、したがって、動作上例えば、汚染又
は光送信器のエージングによって引き起こされた光パワ
ー変動が考慮できず、その結果、被監視領域の対象物の
不完全な認識が発生する。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、振幅
閾値の最も正確な測定が現在の実際の動作条件を考慮す
るとともに、その測定が動作の初期において可能であ
り、またはそのセンサの動作中に生じる光性能変動が適
切なやり方でも補償ができるような最初に述べた種類の
動作方法の改善にある。
閾値の最も正確な測定が現在の実際の動作条件を考慮す
るとともに、その測定が動作の初期において可能であ
り、またはそのセンサの動作中に生じる光性能変動が適
切なやり方でも補償ができるような最初に述べた種類の
動作方法の改善にある。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明による解決法の第
１の原理においては、センサを動作させる前に、対象物
不在の被監視領域を備えた初期化プロセスの情況中の所
定の測定時間間隔に生じる振幅値に依存して、閾値が自
動的に設定され、これによって、初期化プロセス中に存
在する動作条件に適合される。よって、センサ動作初期
における振幅閾値の正確な設定に関した目的の一部は解
決される。
１の原理においては、センサを動作させる前に、対象物
不在の被監視領域を備えた初期化プロセスの情況中の所
定の測定時間間隔に生じる振幅値に依存して、閾値が自
動的に設定され、これによって、初期化プロセス中に存
在する動作条件に適合される。よって、センサ動作初期
における振幅閾値の正確な設定に関した目的の一部は解
決される。
【０００９】公知方法との区別は、初期化プロセス中又
はセンサの使用場所の振幅閾値の第１の測定中に、対象
物は被監視領域へ導入が禁止されている事実にあり、そ
の結果、テスト対象物の導入に関連した上記の説明した
エラー原因は、克服される。さらに、閾値の自動設定は
本発明に従って可能であり、その結果、オペレータエラ
ーの大部分は排除できる。
はセンサの使用場所の振幅閾値の第１の測定中に、対象
物は被監視領域へ導入が禁止されている事実にあり、そ
の結果、テスト対象物の導入に関連した上記の説明した
エラー原因は、克服される。さらに、閾値の自動設定は
本発明に従って可能であり、その結果、オペレータエラ
ーの大部分は排除できる。
【００１０】初期化プロセスの情況中で測定される閾値
は、測定時間間隔中に生じる振幅の周波数分布が検出さ
れ、さらに、閾値は検出された周波数分布の最大値によ
って画定される本発明に従って、測定できる。測定時間
間隔は、初期化プロセス期間に本質的に相当する。必要
条件によると、この測定時間間隔は数秒に、又は、さら
に数分に、設定できる。
は、測定時間間隔中に生じる振幅の周波数分布が検出さ
れ、さらに、閾値は検出された周波数分布の最大値によ
って画定される本発明に従って、測定できる。測定時間
間隔は、初期化プロセス期間に本質的に相当する。必要
条件によると、この測定時間間隔は数秒に、又は、さら
に数分に、設定できる。
【００１１】既知のアルゴリズムでプログラムされたマ
イクロプロセッサの使用によって、周波数分布による閾
値の測定は、わずかな複雑さを備えた単純な方法におい
て、実現できる。その結果、本発明の方法の経済性は、
被監視領域へのテスト対象物導入手続きが回避されるだ
けでなく、本発明の方法が低い経済原価で実現できるこ
とにある。
イクロプロセッサの使用によって、周波数分布による閾
値の測定は、わずかな複雑さを備えた単純な方法におい
て、実現できる。その結果、本発明の方法の経済性は、
被監視領域へのテスト対象物導入手続きが回避されるだ
けでなく、本発明の方法が低い経済原価で実現できるこ
とにある。
【００１２】閾値すなわち検出された周波数分布の最大
値を囲む許容範囲が測定される場合は、例えば、許容範
囲の幅を備えた利点があり、許容範囲は最大値の領域で
検出された周波数分布の曲線の形状に依存する。周波数
分布の値が最大値の近くにある場合、許容範囲は比較的
小さくなるように選択できる。前記値が最大値からより
大きな間隔を持っている場合、その後、許容範囲は相応
してより大きくなるように選択できる。
値を囲む許容範囲が測定される場合は、例えば、許容範
囲の幅を備えた利点があり、許容範囲は最大値の領域で
検出された周波数分布の曲線の形状に依存する。周波数
分布の値が最大値の近くにある場合、許容範囲は比較的
小さくなるように選択できる。前記値が最大値からより
大きな間隔を持っている場合、その後、許容範囲は相応
してより大きくなるように選択できる。
【００１３】センサ動作中に検出された振幅が測定した
許容範囲の外側にある場合に、例えばかかる信号の送信
が常に起こるので、許容範囲は、特定された場合では、
対象物検出信号の送信のための測定ファクタである。本
発明の目的における動作上に起因した光パワー変動の補
償に関する部分は、特定の測定時間間隔に生じる振幅値
に依存してセンサ動作中に閾値が自動的に再調整される
本発明によって満たされ、これによって、閾値はそれぞ
れ普及している動作状態に適合される。
許容範囲の外側にある場合に、例えばかかる信号の送信
が常に起こるので、許容範囲は、特定された場合では、
対象物検出信号の送信のための測定ファクタである。本
発明の目的における動作上に起因した光パワー変動の補
償に関する部分は、特定の測定時間間隔に生じる振幅値
に依存してセンサ動作中に閾値が自動的に再調整される
本発明によって満たされ、これによって、閾値はそれぞ
れ普及している動作状態に適合される。
【００１４】従来技術の公知方法のようにではなく、閾
値はセンサの動作中に一定に保たれず、むしろ、それぞ
れ普及している動作状態によって個々に再度設定され
る。この点に関して、閾値の再設定又は適合は、例え
ば、一定の時間グリッド中におけるセンサ動作中に繰り
返され得る。閾値の適合は、特定の測定時間間隔に生じ
た振幅値に依存して起こり、値は適合時で常に終了する
画定された長さである。同じ方法で、センサ動作及びそ
れぞれ有効な適合プロセスの間に発生したすべての振幅
が基本的に考慮されるように、測定時間間隔を必要な大
きさにすることができる。
値はセンサの動作中に一定に保たれず、むしろ、それぞ
れ普及している動作状態によって個々に再度設定され
る。この点に関して、閾値の再設定又は適合は、例え
ば、一定の時間グリッド中におけるセンサ動作中に繰り
返され得る。閾値の適合は、特定の測定時間間隔に生じ
た振幅値に依存して起こり、値は適合時で常に終了する
画定された長さである。同じ方法で、センサ動作及びそ
れぞれ有効な適合プロセスの間に発生したすべての振幅
が基本的に考慮されるように、測定時間間隔を必要な大
きさにすることができる。
【００１５】本発明により測定時間間隔中に生じる振幅
の周波数分布が閾値の自動再設定中に検出される場合は
好ましく、新しいか又は適合された閾値が検出された周
波数分布の最大値によって画定される場合も好ましい。
ここで、それは必ずしも測定ファクタである周波数分布
の絶対的な最大値ではないがしかし、もっと正確に言え
ば、一般に、以前に測定された最大値の領域の極大値は
使用されている。このように、既に上述された利点は発
生する。
の周波数分布が閾値の自動再設定中に検出される場合は
好ましく、新しいか又は適合された閾値が検出された周
波数分布の最大値によって画定される場合も好ましい。
ここで、それは必ずしも測定ファクタである周波数分布
の絶対的な最大値ではないがしかし、もっと正確に言え
ば、一般に、以前に測定された最大値の領域の極大値は
使用されている。このように、既に上述された利点は発
生する。
【００１６】更に、この場合、それぞれ検出された周波
数分布のそれぞれ測定した極大値を囲む許容範囲が、許
容範囲の幅で、測定される場合は好ましく、許容範囲
は、最大値の領域で検出された周波数分布の曲線の形状
に依存して順に特定される。この場合、許容範囲は２つ
の機能を満たすことができる。一方では、動作中での許
容範囲の外部に位置する検出振幅値は品物検出信号の送
信へ順に導く。
数分布のそれぞれ測定した極大値を囲む許容範囲が、許
容範囲の幅で、測定される場合は好ましく、許容範囲
は、最大値の領域で検出された周波数分布の曲線の形状
に依存して順に特定される。この場合、許容範囲は２つ
の機能を満たすことができる。一方では、動作中での許
容範囲の外部に位置する検出振幅値は品物検出信号の送
信へ順に導く。
【００１７】他方では、本発明の方法の実行は、それら
の場合に対する閾値の適合に制限されることがあり、こ
れでは、センサ動作中に検出された周波数分布の最大値
が、先の適合プロセスの情況中で測定された許容範囲の
外部に位置する。この方法では、かかる極大値は測定で
き、これによって、検出された適合された閾値が、以前
に検出された閾値からの特定範囲において単に異なる場
合に限り適合が常に起こるので、不完全な適合が達成さ
れないことは保証される。例えば、検出された閾値が以
前に測定した許容範囲の外に在る場合など、より大きな
偏差が例えば生じるべきならば、センサはこれを合図す
ることができ、そこで、ユーザによって、センサの新し
い初期化を達成しなければならない。その後、例えば、
この初期化は上述された初期化プロセスに従って達成で
きる。
の場合に対する閾値の適合に制限されることがあり、こ
れでは、センサ動作中に検出された周波数分布の最大値
が、先の適合プロセスの情況中で測定された許容範囲の
外部に位置する。この方法では、かかる極大値は測定で
き、これによって、検出された適合された閾値が、以前
に検出された閾値からの特定範囲において単に異なる場
合に限り適合が常に起こるので、不完全な適合が達成さ
れないことは保証される。例えば、検出された閾値が以
前に測定した許容範囲の外に在る場合など、より大きな
偏差が例えば生じるべきならば、センサはこれを合図す
ることができ、そこで、ユーザによって、センサの新し
い初期化を達成しなければならない。その後、例えば、
この初期化は上述された初期化プロセスに従って達成で
きる。
【００１８】記述された２つの解決法がセンサ中で共同
で実現される場合、それは特に有利であり、その結果、
一方ではセンサの初期化が、また他方では閾値の再設定
が、本発明により常に起こる。本発明の方法は例えば反
射光障壁の動作中で使用できる。反射光障壁は、送信さ
れた光信号が、対象物不在の被監視領域で、センサの被
監視領域の反対の端部に配置された反射器から光受信器
に反射される、ことを特徴とする。
で実現される場合、それは特に有利であり、その結果、
一方ではセンサの初期化が、また他方では閾値の再設定
が、本発明により常に起こる。本発明の方法は例えば反
射光障壁の動作中で使用できる。反射光障壁は、送信さ
れた光信号が、対象物不在の被監視領域で、センサの被
監視領域の反対の端部に配置された反射器から光受信器
に反射される、ことを特徴とする。
【００１９】同様に、能動状態のスキャナの動作中で本
発明の方法を使用することは可能である。能動状態のス
キャナでは、送信された光信号が、対象物不在の被監視
領域を備えた光受信器へ反射されない。なぜなら、ここ
では、反射器が被監視領域の端部に設けられていないか
らである。送信された光信号の反射は、認識されるべき
反射された対象物が被監視領域中にあるときだけ、能動
状態のスキャナで起こる。
発明の方法を使用することは可能である。能動状態のス
キャナでは、送信された光信号が、対象物不在の被監視
領域を備えた光受信器へ反射されない。なぜなら、ここ
では、反射器が被監視領域の端部に設けられていないか
らである。送信された光信号の反射は、認識されるべき
反射された対象物が被監視領域中にあるときだけ、能動
状態のスキャナで起こる。
【００２０】本発明の方法は、透明ガラスの認識に対し
て使用されることがが好ましい。さらに、本発明の好適
な実施例が従属する請求項中で述べられる。
て使用されることがが好ましい。さらに、本発明の好適
な実施例が従属する請求項中で述べられる。
【００２１】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施例を図面を参
照しつつ説明する。図１は、反射光障壁のための本発明
による初期化プロセス中、比較的狭く制限された範囲に
おける振幅だけが、光量に対応するこれらの振幅で、本
質的に検出され、これらは反射光障壁の反射器での送信
光の反射を通り抜け光受信器に戻る、ことを示す。これ
は、対象物不在の被監視領域を備えた反射光障壁の動作
中に、比較的大量の光が光受信器を通過して戻り、その
結果、検出された振幅は比較的高いことを示す。
照しつつ説明する。図１は、反射光障壁のための本発明
による初期化プロセス中、比較的狭く制限された範囲に
おける振幅だけが、光量に対応するこれらの振幅で、本
質的に検出され、これらは反射光障壁の反射器での送信
光の反射を通り抜け光受信器に戻る、ことを示す。これ
は、対象物不在の被監視領域を備えた反射光障壁の動作
中に、比較的大量の光が光受信器を通過して戻り、その
結果、検出された振幅は比較的高いことを示す。
【００２２】その後、本発明によると、周波数分布の最
大値Ｍは測定され、それは本発明により同様に測定され
た許容範囲Ｔによって囲まれ、そのは幅は最大値Ｍの領
域の周波数分布の曲線の形状に依存する。最大値Ｍ及び
さらに許容範囲Ｔはセンサに格納され、対象物検出信号
は、検出された振幅が許容範囲Ｔの外、特に、検出され
た振幅が許容範囲Ｔの下限の下にある場合に、常にセン
サの動作中に送信される。
大値Ｍは測定され、それは本発明により同様に測定され
た許容範囲Ｔによって囲まれ、そのは幅は最大値Ｍの領
域の周波数分布の曲線の形状に依存する。最大値Ｍ及び
さらに許容範囲Ｔはセンサに格納され、対象物検出信号
は、検出された振幅が許容範囲Ｔの外、特に、検出され
た振幅が許容範囲Ｔの下限の下にある場合に、常にセン
サの動作中に送信される。
【００２３】反射光障壁の動作中に、被監視領域へ一般
に導入された対象物は受信された光量の減少を引き起こ
す。なぜなら、対象物は主として被監視領域の端部に設
けられた反射器ほどよく反射しないからである。その場
合において、信号が許容範囲に達しない状況は一般に対
象物検出信号の送信のための測定ファクタである。図２
で示される周波数分布は、本発明による閾値適合方法の
実行することを示し、これは例えば、図１に従って初期
化プロセスに続いて、行なわれる。
に導入された対象物は受信された光量の減少を引き起こ
す。なぜなら、対象物は主として被監視領域の端部に設
けられた反射器ほどよく反射しないからである。その場
合において、信号が許容範囲に達しない状況は一般に対
象物検出信号の送信のための測定ファクタである。図２
で示される周波数分布は、本発明による閾値適合方法の
実行することを示し、これは例えば、図１に従って初期
化プロセスに続いて、行なわれる。
【００２４】図１の周波数分布は初期化プロセスの情況
に検出されたもので、これは、図２の破線で示される。
図２によるこの周波数分布は、最大値Ｍａｌｔ、及びさ
らにこの最大を囲む許容範囲Ｔａｌｔを持っている。
今、初期化プロセス終了及びこの動作中に生じた振幅の
周波数分布が検出された後、センサが動作を始める場
合、例えば図２の実線で引かれた曲線の形状が生じる。
この曲線の形状は複数の極大値を有し、最も高い振幅に
関連した最大値Ｍｎｅｕが反射光障壁の反射器での反射
から起こり、最大値Ｍｎｅｕの下に位置する最大値は、
被監視領域へ導入した対象物によって引き起こされた反
射に起因すると考えられる。対象物が被監視領域中に通
常存在する応用では、対象物によって生成された極大値
の周波数は反射器によって引き起こされた最大より大で
あると断言できる。しかしながら、本発明によれば、人
が極大値の測定で作動させる場合、この場合上述の方法
はさらに問題なしで使用可能である。
に検出されたもので、これは、図２の破線で示される。
図２によるこの周波数分布は、最大値Ｍａｌｔ、及びさ
らにこの最大を囲む許容範囲Ｔａｌｔを持っている。
今、初期化プロセス終了及びこの動作中に生じた振幅の
周波数分布が検出された後、センサが動作を始める場
合、例えば図２の実線で引かれた曲線の形状が生じる。
この曲線の形状は複数の極大値を有し、最も高い振幅に
関連した最大値Ｍｎｅｕが反射光障壁の反射器での反射
から起こり、最大値Ｍｎｅｕの下に位置する最大値は、
被監視領域へ導入した対象物によって引き起こされた反
射に起因すると考えられる。対象物が被監視領域中に通
常存在する応用では、対象物によって生成された極大値
の周波数は反射器によって引き起こされた最大より大で
あると断言できる。しかしながら、本発明によれば、人
が極大値の測定で作動させる場合、この場合上述の方法
はさらに問題なしで使用可能である。
【００２５】本発明の適合プロセスの情況中、最大が許
容範囲Ｔａｌｔの内に存在するかどうかが調査される。
かかる極大値を検知するとすぐに、その位置は測定さ
れ、対応する振幅Ｍｎｅｕは、閾値を測定する新しい値
として格納される。さらに、新しい極大値Ｍｎｅｕを囲
む許容範囲Ｔｎｅｕは特定され、それは、最大値Ｍｎｅ
ｕの領域の周波数分布の曲線の実際の形に順番に依存す
る。
容範囲Ｔａｌｔの内に存在するかどうかが調査される。
かかる極大値を検知するとすぐに、その位置は測定さ
れ、対応する振幅Ｍｎｅｕは、閾値を測定する新しい値
として格納される。さらに、新しい極大値Ｍｎｅｕを囲
む許容範囲Ｔｎｅｕは特定され、それは、最大値Ｍｎｅ
ｕの領域の周波数分布の曲線の実際の形に順番に依存す
る。
【００２６】その後、先の値Ｍａｌｔ及びＴａｌｔは拒
絶され、値Ｍｎｅｕ及びＴｎｅｕは新しい有効な値とし
て格納される。すなわち、センサの動作中に測定された
振幅が許容範囲Ｔｎｅｕの外部にある場合、上述された
適合手続きの実行後、品物検出信号の送信は、常に起こ
る。上記手続きは周期的に繰り返すことができ、各場合
中の最後の測定した最大及び許容範囲値は適合手続きを
実行するための測定ファクタとなる。
絶され、値Ｍｎｅｕ及びＴｎｅｕは新しい有効な値とし
て格納される。すなわち、センサの動作中に測定された
振幅が許容範囲Ｔｎｅｕの外部にある場合、上述された
適合手続きの実行後、品物検出信号の送信は、常に起こ
る。上記手続きは周期的に繰り返すことができ、各場合
中の最後の測定した最大及び許容範囲値は適合手続きを
実行するための測定ファクタとなる。
【００２７】したがって、閾値及びそれに適切な許容範
囲の連続的変移は品物検出信号の送信を決定し、このこ
とは、動作状態の変更に従って可能である。極大値が現
在有効な許容範囲内に検出できないこと、又は許容範囲
の外部で位置する最大限だけが存在することが適合手続
きの情況中で測定されれば、その後、図１による新しい
初期化プロセスは例えば起動され又は要求される。
囲の連続的変移は品物検出信号の送信を決定し、このこ
とは、動作状態の変更に従って可能である。極大値が現
在有効な許容範囲内に検出できないこと、又は許容範囲
の外部で位置する最大限だけが存在することが適合手続
きの情況中で測定されれば、その後、図１による新しい
初期化プロセスは例えば起動され又は要求される。
【００２８】図３及び４による実例は図１及び２の実例
に本質的に対応し、図３及び４のそれらの周波数分布は
能動状態のスキャナの動作中に発生する。図３による初
期化プロセス及び図４による適合プロセスの両方が図１
による初期化プロセス及び図２による適合プロセスに類
似して起こるので、従って、それぞれ、図１及び２によ
る反射光障壁の動作と図３及び４による能動状態のスキ
ャナの動作との間の差だけが、記述される。
に本質的に対応し、図３及び４のそれらの周波数分布は
能動状態のスキャナの動作中に発生する。図３による初
期化プロセス及び図４による適合プロセスの両方が図１
による初期化プロセス及び図２による適合プロセスに類
似して起こるので、従って、それぞれ、図１及び２によ
る反射光障壁の動作と図３及び４による能動状態のスキ
ャナの動作との間の差だけが、記述される。
【００２９】能動状態のスキャナは対象物不在の被監視
領域で単に全く小量の光を本質的に受信する。なぜな
ら、反射器が被監視領域の端部に設けられていないから
である。従って、図３による初期化プロセス中に検出さ
れた振幅は、図１による初期化プロセス中に検出した振
幅より著しく低い。図３による受信された振幅は、障害
光及び背景反射からのみ本質的に起こる。
領域で単に全く小量の光を本質的に受信する。なぜな
ら、反射器が被監視領域の端部に設けられていないから
である。従って、図３による初期化プロセス中に検出さ
れた振幅は、図１による初期化プロセス中に検出した振
幅より著しく低い。図３による受信された振幅は、障害
光及び背景反射からのみ本質的に起こる。
【００３０】対象物が能動状態のスキャナの被監視領域
へ導入される場合、対象物不在の被監視領域の光量より
も、より大きな光量が一般に受信される。なぜなら、導
入される対象物が光受信器へ光を反射するからである。
したがって、図３による初期化プロセスによると、セン
サ動作中に検出した振幅が、最大値Ｍ以上又は許容範囲
Ｔ以上にある時、品物検出信号は与えられる。
へ導入される場合、対象物不在の被監視領域の光量より
も、より大きな光量が一般に受信される。なぜなら、導
入される対象物が光受信器へ光を反射するからである。
したがって、図３による初期化プロセスによると、セン
サ動作中に検出した振幅が、最大値Ｍ以上又は許容範囲
Ｔ以上にある時、品物検出信号は与えられる。
【００３１】従って、センサ動作中に図４により検出し
た振幅は、対象物から反射によって生成されたものであ
るが、初期化プロセス中に検出した振幅以上すなわち対
象物不在の被監視領域で検出した振幅以上に位置する。
しかしながら、図４による適合プロセスは図２による適
合プロセスに従って他の場合にも起こり、また、適合プ
ロセス後に受信振幅が許容範囲Ｔｎｅｕの上に位置する
場合に対象物検出信号が常に送信される。
た振幅は、対象物から反射によって生成されたものであ
るが、初期化プロセス中に検出した振幅以上すなわち対
象物不在の被監視領域で検出した振幅以上に位置する。
しかしながら、図４による適合プロセスは図２による適
合プロセスに従って他の場合にも起こり、また、適合プ
ロセス後に受信振幅が許容範囲Ｔｎｅｕの上に位置する
場合に対象物検出信号が常に送信される。
【００３２】許容誤差Ｔの範囲に対する満足値が測定で
きる様々な種類の方法がある。例えば、それは単に初期
化中又は適合プロセス中に得られた周波数分布曲線のベ
−ス幅でありうる。さらに一定の値を持つためにそれを
選択し得る。代わりに、それは、周波数分布の最大振幅
によって又は適切なあらかじめ選ばれた部分（例えばＭ
ａｌｔ／２、Ｍｎｅｕ／２）を掛けたこの最大の振幅に
よって、初期化中又は適合プロセス中に得られた振幅の
周波数分布の下における領域の分割によって得られた値
とすべく選択できる。
きる様々な種類の方法がある。例えば、それは単に初期
化中又は適合プロセス中に得られた周波数分布曲線のベ
−ス幅でありうる。さらに一定の値を持つためにそれを
選択し得る。代わりに、それは、周波数分布の最大振幅
によって又は適切なあらかじめ選ばれた部分（例えばＭ
ａｌｔ／２、Ｍｎｅｕ／２）を掛けたこの最大の振幅に
よって、初期化中又は適合プロセス中に得られた振幅の
周波数分布の下における領域の分割によって得られた値
とすべく選択できる。
【図１】 初期化プロセス中に反射光障壁に検出された
周波数分布のグラフ。
周波数分布のグラフ。
【図２】 反射光障壁の動作中に検出された周波数分布
のグラフ。
のグラフ。
【図３】 能動状態のスキャナを備えた初期化プロセス
中に検出された周波数分布のグラフ。
中に検出された周波数分布のグラフ。
【図４】 能動状態のスキャナの動作中に検出された周
波数分布のグラフ。
波数分布のグラフ。
Ｍ 最大値 Ｔ 許容範囲
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ダニエル キエツ ドイツ連邦共和国 79642 リーゲル ツ ェーリンゲルシュトラーセ ４
Claims (17)
- 【請求項１】 光送信器によって光信号を被監視領域へ
送信し、送信されかつ反射された光信号を光受信器によ
り受信して信号を供給し、被監視領域の対象物の存在の
ために信号の振幅を調査し、振幅閾値が超過又は未到達
である場合、対象物検出信号を送信する光電子センサ特
に光障壁の動作方法であって、光電子センサを動作させ
る前に、対象物不在の被監視領域を備えた初期化プロセ
スの情況中の所定の測定時間間隔に生じる振幅値に依存
して閾値が自動的に設定され、これによって、閾値が初
期化プロセス中に存在する動作条件に適合されることを
特徴とする方法。 - 【請求項２】 測定時間間隔中に生じる振幅の周波数分
布は測定され、閾値は、測定した周波数分布の最大値
（Ｍ）によって画定されることを特徴とする請求項１記
載の方法。 - 【請求項３】 検出された周波数分布の最大値（Ｍ）を
囲む許容範囲（Ｔ）が測定されることを特徴とする請求
項２記載の方法。 - 【請求項４】 許容範囲（Ｔ）の幅は、最大値（Ｍ）の
領域中で測定された周波数分布の曲線の形状に依存して
測定されることを特徴とする請求項３記載の方法。 - 【請求項５】 光送信器によって光信号を被監視領域へ
送信し、送信されかつ反射された光信号を光受信器によ
り受信して信号を供給し、被監視領域の対象物の存在の
ために信号の振幅を調査し、振幅閾値が超過又は未到達
である場合、対象物検出信号を送信する光電子センサ特
に光障壁の動作方法であって、センサ動作中に、特定の
測定時間間隔に生じる振幅値に依存して閾値が自動的に
調節され、これによって、閾値はそれぞれ普及している
動作状態に適合されることを特徴とする方法。 - 【請求項６】 一定の時間グリッド中のセンサ動作中に
閾値の適合が繰り返されることを特徴とする請求項５記
載の方法。 - 【請求項７】 測定時間間隔中に生じる振幅の周波数分
布が測定され、適合された閾値は、検出された周波数分
布の最大値（Ｍ）によって画定されることを特徴とする
請求項５又は６記載の方法。 - 【請求項８】 測定時間間隔は、初期化プロセスからの
センサの動作時間の合計に相当することを特徴とする請
求項５〜７の１つに記載の方法。 - 【請求項９】 検出された周波数分布の最大値（Ｍ）を
囲む許容範囲（Ｔ）が、測定されることを特徴とする請
求項５〜８の１つに記載の方法。 - 【請求項１０】 最大値（Ｍ）の領域で検出された周波
数分布の曲線の形状に依存して許容範囲（Ｔ）の幅が測
定されることを特徴とする請求項９記載の方法。 - 【請求項１１】 センサ動作中に検出された最大値（Ｍ
ｎｅｕ）が以前に測定した許容範囲（Ｔａｌｔ）内に位
置する場合、閾値の適合だけが起こることを特徴とする
請求項９又は１０記載の方法。 - 【請求項１２】 センサ動作中に最大値（Ｍｎｅｕ）が
以前に測定した許容範囲（Ｍａｌｔ）の外部で検出され
る場合、新しい初期化プロセスが起きるか又は要求され
ることを特徴とする請求項９〜１１の１つに記載の方
法。 - 【請求項１３】 センサ動作中に、振幅値が特定の許容
範囲（Ｔ）上又はその下のに検出した時、品物検出信号
だけが送信されることを特徴とする請求項１〜１２の１
つに記載の方法。 - 【請求項１４】 請求項５〜１３のうちの１つの特徴に
よって特徴づけられることを特徴とする請求項１〜４の
１つに記載の方法。 - 【請求項１５】 反射光障壁の動作において、送信され
た光信号はセンサの反対の被監視領域の端部に配置され
た反射器によって光受信器に反射されることを特徴とす
る請求項１〜１４の１つに記載の方法。 - 【請求項１６】 送信された光信号は、能動状態のスキ
ャナの動作において、対象物不在の被監視領域を備えた
光受信器へ反射されないことを特徴とする請求項１〜１
４の１つに記載の方法。 - 【請求項１７】 透明なガラスの認識のための請求項１
〜１６の１つに記載の方法の使用。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE19718391A DE19718391A1 (de) | 1997-04-30 | 1997-04-30 | Verfahren zum Betrieb eines opto-elektronischen Sensors |
| DE197183913 | 1997-04-30 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1130666A true JPH1130666A (ja) | 1999-02-02 |
Family
ID=7828302
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10118296A Pending JPH1130666A (ja) | 1997-04-30 | 1998-04-28 | 光電子センサの動作方法 |
Country Status (4)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5933242A (ja) |
| EP (1) | EP0875775A3 (ja) |
| JP (1) | JPH1130666A (ja) |
| DE (1) | DE19718391A1 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011184909A (ja) * | 2010-03-08 | 2011-09-22 | Ryobi Ltd | 引戸の吊り下げ装置 |
| JP2012021822A (ja) * | 2010-07-12 | 2012-02-02 | Takenaka Electronic Industrial Co Ltd | 光位相差検出式の物体検知センサ |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2772139B1 (fr) * | 1997-12-10 | 2000-06-16 | Manu Lorraine | Dispositif de detection de source chaude |
| DE19945442A1 (de) * | 1999-09-22 | 2001-04-05 | Sick Ag | Verfahren zum Betrieb eines optoelektronischen Kontrasttasters |
| DE19954156A1 (de) * | 1999-11-10 | 2001-05-17 | Idm Gmbh Infrarot Sensoren | Lichtschranke |
| DE60043977D1 (de) * | 2000-04-20 | 2010-04-22 | Datalogic Automation Srl | Verfahren zur Kalibrierung einer photoelektrischen Zelle |
| US6637655B1 (en) | 2000-06-08 | 2003-10-28 | Metrologic Instruments, Inc. | Automatic range adjustment techniques for stand-mountable bar code scanners |
| AU2001263428A1 (en) * | 2001-01-09 | 2002-12-03 | Burstein Technologies, Inc. | Methods and apparatus for analyzing operational and nonoperational data acquired from optical discs |
| DE10159932B4 (de) * | 2001-12-06 | 2017-01-26 | Conti Temic Microelectronic Gmbh | Verfahren zur Störlichtkorrektur bei einer optischen Sensoranordnung |
| DE10314581B9 (de) * | 2003-03-31 | 2012-05-24 | Sick Ag | Optoelektronisches Überwachungssystem |
| DE102005019909A1 (de) * | 2005-04-29 | 2006-11-02 | Leuze Electronic Gmbh & Co Kg | Verfahren zum Betrieb eines Optosensors |
| DE102008026603B4 (de) | 2008-05-16 | 2011-06-01 | Leuze Electronic Gmbh & Co Kg | Sensor zur Erfassung von Objekten in einem Erfassungsbereich |
| DE102017118083B4 (de) | 2017-08-09 | 2022-11-24 | Sick Ag | Sensor zur Erfassung eines Objekts und Verfahren zum Einstellen eines Schaltpunktes |
Family Cites Families (20)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3005746C2 (de) * | 1980-02-15 | 1983-10-06 | Ernest Scragg & Sons Ltd., Macclesfield, Cheshire | Einrichtung zur laufenden Überwachung einer Vielzahl von Fäden in einer Textilmaschine |
| US4571055A (en) * | 1983-12-17 | 1986-02-18 | Sharp Kabushiki Kaisha | Transport item detecting arrangement |
| DE3409818A1 (de) * | 1984-03-16 | 1985-09-26 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Optoelektronisches abtastsystem mit automatischem abgleich |
| DE3540767A1 (de) * | 1985-11-16 | 1987-05-21 | Roy Machin | Trocknungseinrichtung in einer fahrzeugwaschanlage und verfahren zu deren steuerung |
| KR910001269B1 (ko) * | 1986-07-11 | 1991-02-26 | 로우렐 뱅크 머시인 가부시끼가이샤 | 광센서 조정용 장치 |
| JPH01257227A (ja) * | 1988-04-06 | 1989-10-13 | Chinon Ind Inc | 光検知装置 |
| DE9010998U1 (de) * | 1990-03-01 | 1990-10-25 | Sartorius AG, 3400 Göttingen | Komparatorschaltung für Signale einer Lichtschranke |
| FR2661509B1 (fr) * | 1990-04-27 | 1992-06-19 | Europ Composants Electron | Procede de controle des mesures realisees dans un appareil de test et de tri d'articles miniatures. |
| DE9017631U1 (de) * | 1990-07-26 | 1991-04-18 | Siemens AG, 80333 München | Lichtschrankensystem |
| JP2530949B2 (ja) * | 1991-08-13 | 1996-09-04 | 東北リコー株式会社 | 紙の指標検出方法及びその装置 |
| DE4134960A1 (de) * | 1991-10-23 | 1993-04-29 | Popp Fritz Albert Dr | Verfahren zur ganzheitlichen analyse des gesundheitszustandes |
| DE4141469C2 (de) * | 1991-12-16 | 1997-07-17 | Sick Ag | Verfahren zum Betrieb einer optischen Sensoranordnung zur Feststellung von in einem Überwachungsbereich vorhandenen Gegenständen sowie eine solche optische Sensoranordnung |
| DE4230061C2 (de) * | 1992-09-07 | 2001-05-10 | Siemens Ag | Verfahren zur Prognose des Laufverhaltens von Wagen in einem Richtungsgleis und Anwendung des Verfahrens |
| DE4312186C2 (de) * | 1993-04-14 | 1995-04-06 | Sick Optik Elektronik Erwin | Verfahren und Vorrichtungen zur Feststellung von in einem Überwachungsbereich vorhandenen Gegenständen und/oder zur Feststellung deren Position |
| DE4324590C2 (de) * | 1993-07-22 | 1995-06-08 | Leuze Electronic Gmbh & Co | Lichtschrankenanordnung mit geregelter Ansprechempfindlichkeit |
| DE9400891U1 (de) * | 1993-09-25 | 1994-03-17 | Leuze Electronic Gmbh + Co, 73277 Owen | Optoelektronische Vorrichtung mit einstellbarer Ansprechempfindlichkeit |
| DE4342590A1 (de) * | 1993-12-14 | 1995-06-22 | Bosch Gmbh Robert | Getaktete Stromversorgung |
| DE4419364A1 (de) * | 1994-06-03 | 1995-12-07 | Bosch Gmbh Robert | Verfahren zur Echtzeitermittlung des Offsetanteils eines Meßsignals |
| US5841543A (en) * | 1995-03-09 | 1998-11-24 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus for verifying the presence of a material applied to a substrate |
| US5608207A (en) * | 1995-05-23 | 1997-03-04 | Honeywell Inc. | Sensor with automatic gain control |
-
1997
- 1997-04-30 DE DE19718391A patent/DE19718391A1/de not_active Withdrawn
-
1998
- 1998-04-02 EP EP98106087A patent/EP0875775A3/de not_active Withdrawn
- 1998-04-28 JP JP10118296A patent/JPH1130666A/ja active Pending
- 1998-04-29 US US09/069,567 patent/US5933242A/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5933242A (en) | 1999-08-03 |
| EP0875775A2 (de) | 1998-11-04 |
| EP0875775A3 (de) | 2001-01-10 |
| DE19718391A1 (de) | 1998-11-05 |
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