JPH11290793A - 基板処理装置 - Google Patents
基板処理装置Info
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- JPH11290793A JPH11290793A JP9574098A JP9574098A JPH11290793A JP H11290793 A JPH11290793 A JP H11290793A JP 9574098 A JP9574098 A JP 9574098A JP 9574098 A JP9574098 A JP 9574098A JP H11290793 A JPH11290793 A JP H11290793A
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Abstract
ら処理槽12内でノズル20により薬液を供給して基板
Wに処理を施すようにした。処理槽12には、ダンパ3
6を備えた排気ダクト32を接続して排気を行うように
した。ダンパ36はコントローラ38により制御するよ
うにし、ノズル20による薬液の供給時にはダンパ36
を全開時の2分の1の開度に設定し、これ以外の時は全
開とするようにした。
Description
等のFPD(Flat Panel Display)、フォトマスク用ガ
ラス基板、半導体基板等の基板を処理する基板処理装置
に関するものである。
の基板処理装置として、ローラコンベア等の搬送手段に
より基板を搬送しつつ該基板に向けて処理液を供給する
ことにより基板に所定の処理を施すようにした基板処理
装置は一般に知られている。
ら、搬送経路の上方に設けられたノズルより基板に向け
て剥離液(処理液)を噴出させて基板表面に塗布された
レジスト膜を剥離させるようにした基板処理装置は知ら
れており、最近では、この種の基板処理装置において、
処理に供した使用済みの剥離液を回収、浄化しながら再
度処理に用いるようにした装置も開発されている。
通常、箱型の処理槽内にノズルを備えており、この処理
槽内で処理液を基板に吹き付けるようにしている。この
処理槽には排気設備が備えられており、排気によって処
理槽内を適度な負圧に保つことで、基板の出し入れ時に
処理槽内の雰囲気が基板の出入口を介して隣設された処
理槽内等に流出するのを防止するようにしている。つま
り、雰囲気中に含まれるミスト状の処理液が隣設された
処理槽に入り込み、当該処理槽での基板の処理に悪影響
を与えるという事態の発生を防止するようにしている。
中、非処理中に拘らず一定の排気力で排気を行ってお
り、そのため、基板の処理中には、ノズルからの処理液
の供給に伴って発生するミスト状の処理液が排気に伴っ
て装置外部に持ち出され、多くの処理液が無駄に消費さ
れるという問題が生じている。
理液の有効利用を果たす上で好ましくなく、特に、処理
液を循環使用するような装置では、その効果が著しく減
殺されることとなり不都合である。
れたものであり、処理槽内で基板に向かって処理液を供
給して処理を施す装置であって、処理槽内の排気に伴う
処理液の消費を有効に抑えることができる基板処理装置
を提供することを目的としている。
に、本発明は、処理槽内で液供給手段により基板に向け
て処理液を供給しながら処理を施す基板処理装置におい
て、処理槽内の雰囲気を排気する排気手段と、液供給手
段による処理液供給中の排気力がそれ以外のときの排気
力よりも弱くなるように排気手段を制御する制御手段と
を備えているものである(請求項1)。
処理液が多く含まれている処理液の供給中には、排気手
段による排気力が弱められて、排気に伴う処理槽外部へ
の処理液の持出しが抑えられる。従って、排気に伴う処
理液の無駄な消費を抑えて処理液を有効に活用すること
ができる。この場合、液供給手段による処理液供給中に
処理槽内の排気を停止させるようにすれば(請求項
2)、さらに効果的に処理液の無駄な消費を抑えること
ができる。
使用済みの処理液を回収しつつ再度液供給手段に給送す
る処理液の循環手段を備えている装置(請求項3)で
は、排気に伴い多くの処理液が消費されると本来の目的
が著しく減殺されることとなるので、上記の構成は、こ
のような循環手段を備えた装置において特に有用であ
る。
に対する接触面積が大きくなるように処理槽内の雰囲気
を排気する排気通路を形成することも考えられる(請求
項4)。これによれば排気中に含まる処理液が通路内の
壁面に付着し、液滴化して処理槽内に戻される。そのた
め、排気に伴う処理液の消費をさらに抑えることができ
る。
は、処理槽内で基板に向かって処理液を供給しながら処
理を施す基板処理装置において、処理槽内の雰囲気を排
気する排気通路を備え、排気中に含まれるミスト状の処
理液に対する接触面積が大きくなるように排気通路が形
成されているものである(請求項5)。
ト状の処理液が通路内の壁面に付着し、液滴化して処理
槽に戻される。そのため、排気に伴う処理液の消費が抑
えられる。
を用いて説明する。図1は、本発明に係る基板処理装置
の一の実施の形態を示す概略図である。この基板処理装
置10は、薬液(処理液)を基板Wに吹き付けてその表
面に形成された薄膜、例えばレジスト膜等を剥離するた
めの装置で、同図に示すように処理を行うための処理槽
12と、基板搬送のための搬送機構14とを備えてい
る。
の搬送方向に所定の間隔で配設したローラコンベアであ
って、図外の駆動手段による各ローラ15の同期回転に
伴い基板Wを搬送するように構成されている。そして、
受入れ部11に載置された基板Wを水平な状態で搬送し
つつ処理槽12内へ導入し、ここでの処理が終わると隣
設された装置、例えば、水洗のための装置の処理槽1
2′へと基板Wを搬送するように構成されている。
に形成されており、基板Wの搬送方向における上流側及
び下流側の各側壁には、基板Wを出し入れするための開
口部16,18が形成されるとともに、この開口部1
6,18がそれぞれシャッター16a,18aにより開
閉可能となっている。
る基板搬送路の上方に、該搬送方向に複数のノズル20
が並設されており、これらノズル20が薬液供給管22
を介して薬液貯留タンク24に接続されている。これら
ノズル20は例えば薬液を円錐状に、かつ液滴の状態で
噴出するいわゆるコーン型のノズルであって、薬液供給
管22に介設されたポンプ26の作動により供給される
薬液を基板Wの表面に吹き付けるようになっている。
排気設備34に接続されるダンパ36を備えた排気ダク
ト32が設けられ、処理槽12内の排気を行うようにな
っている。
ようにテーパ13が形成されており、その先端部分(下
端部分)に薬液回収管30が接続され、この薬液回収管
30が上記薬液貯留タンク24に至っている。これによ
りノズル20から噴出され基板Wの処理に供された薬液
が薬液回収管30を介して薬液貯留タンク24に回収さ
れ、再度、薬液供給管22を通じてノズル20に供給さ
れるようになっている。すなわち、これら薬液貯留タン
ク24、薬液供給管22および薬液回収管30等により
本発明の循環手段が構成されている。なお、図中の符号
28が示すものは薬液供給管22に介設されたフィルタ
で、このフィルタ28を介して薬液がノズル20に供給
されることにより薬液が浄化されながら循環使用される
ようになっている。
ピュータを構成要素とするコントローラ38(制御手
段)を備えており、搬送機構14の駆動源、薬液供給管
22のポンプ26あるいは排気ダクト32のダンパ36
等は全てこのコントローラ38に電気的に接続され、基
板Wの搬送、薬液の噴射あるいは処理槽12内の排気が
このコントローラ38により統括制御されるようになっ
ている。そして、このコントローラ38の制御によって
以下のように基板Wの処理が行われる。
1に基板Wが搬入されてローラ15上に載置されると、
開口部16が開かれるとともに該ローラ15が回転駆動
され、これにより基板Wが処理槽12内に搬送される。
この際、ノズル20による薬液の供給は停止されてい
る。また、ダンパ36は全開状態に保持されている。
理位置にセットされ、開口部16が閉じられると、上記
ポンプ26の作動によりノズル20からの薬液の供給が
開始される。また、これとほぼ同時に上記ダンパ36の
開度が全開時の2分の1の開度に変更されて排気が絞ら
れる。
Wに対して処理液が供給されるとポンプ26が停止さ
れ、また、これとほぼ同時に上記ダンパ36が全開とさ
れる。そして、開口部18が開かれるとともにローラ1
5が回転駆動され、これにより基板Wが当該装置10の
処理槽12から隣設された装置の処理槽12′に搬送さ
れる。
処理槽12への基板Wの搬入および搬出の際にはダンパ
36が全開とされて排気が促進され、これにより処理槽
12内が適度の負圧状態に保たれる。そのため、処理槽
12内に残存しているミスト状の薬液が開口部16,1
8を介して受入れ部11や処理槽12′へ流出すること
が防止される。
板Wの処理中、つまりノズル20からの薬液の供給中に
は上記のように排気が絞られ、これにより排気に伴うミ
スト状薬液の外部への持ち出しが抑えられる。そのた
め、基板Wの処理中に、排気に伴い多くの薬液が無駄に
消費されることがなくなる。従って、従来のこの種の装
置に比べると、薬液をより有効に活用することができ
る。
Wの処理中にダンパ36の開度を全開時の2分の1の開
度とし、それ以外のときには全開とするようにしている
が、ダンパ36の具体的な開度は排気設備34の能力
や、処理に用いられる薬液の種類等の種々の条件に応じ
て適宜選定するようにすればよい。例えば、排気設備3
4の能力が高く、処理に用いられる薬液が揮発性の高い
薬液の場合には、ダンパ36の開度を全開時の2分の1
以下、あるいは全閉するようにしてもよい。要は、排気
力を弱めて基板処理中の排気に伴う薬液の消費を抑える
ようにすればよい。
に代えて、あるいはこの制御と共に、例えば、図2に示
すような排気ダクト32の構成を採用して排気に伴う薬
液の消費を抑えるようにしてもよい。すなわち、同図に
示すように、上下交互に対向して略水平に突出する突出
部分40を通路内に設けたラビリンス状の排気ダクト3
2を構成するようにしてもよい。このようにすれば、排
気中に含まれたミスト状の薬液が突出部分40に付着
し、液滴化して自重で処理槽12内に流下することとな
り、これにより排気に伴う薬液の持出しが抑えられる。
従って、このような排気ダクト32の構成を採用し、さ
らに上述のようなダンパ36の制御を行うようにすれ
ば、基板処理中の排気に伴う処理液の消費をより効果的
に抑えることができる。なお、上記突出部分40の形状
等は、通路内でのミスト状の薬液の接触面積が大きくな
るように適宜選定するようにすればよい。
円錐状に、かつ液滴の状態で噴出するいわゆるコーン型
のノズルを用いて薬液を基板Wに供給するようにしてい
るが、例えば、スリットノズルや扇型ノズルを用いるよ
うにしてもよい。これらのノズルによれば薬液が薄膜状
に噴出されるため、液滴の状態で噴出されるコーン型の
ノズルに比べて薬液がミスト化し難い。そのため、スリ
ットノズルや扇型ノズルによれば、処理中に処理槽12
内に存在するミスト状の薬液自体を減らすことが可能と
なり、その結果、排気に伴うミスト状薬液の持出しを抑
えることができる。 さらに、上記の実施の形態では、
排気ダクト32を工場内の排気設備34に接続して排気
を行うようにしているが、例えば、排気ダクトに排気フ
ァンを設け、ダンパ36の開度を一定に保持した状態で
排気ファンの回転数を制御したり、あるいはダンパ36
の開度と排気ファンの回転数の双方を制御することによ
り排気力を制御するようにしてもよい。
液を吹き付けてその表面に形成された薄膜を剥離するた
めの基板処理装置10に本願発明を適用した例である
が、本願発明は、このような剥離装置以外にも、各種洗
浄、エッチング処理等を行うための各処理装置にも適用
することができる。また、上記基板処理装置10のよう
に基板Wを水平状態で搬送しながら処理を施す装置以外
に、表面が鉛直となるように起立させた状態、あるいは
表面が傾斜した状態で基板Wを搬送しながら処理を施す
装置にも適用することができる。
段により処理槽内の排気を行いつつ、処理液供給中の排
気力がそれ以外のときの排気力よりも弱くなるように
し、これにより排気に伴い処理槽外に持ち出されるミス
ト状の処理液の量を抑えるようにしたので、処理液の無
駄な消費が有効に抑えられ、従来のこの種の装置と比較
すると処理液を有効に活用することができる。この場
合、処理液供給中に排気を停止させるようにすれば、排
気に伴う薬液の消費を確実に防止することができ、薬液
をより有効に活用することができる。
使用済みの処理液を回収しつつ再度液供給手段に給送す
る処理液の循環手段を備えている装置では、排気に伴い
多くの処理液が消費されると、本来の目的が著しく減殺
されることになるので、上記構成は、このような循環手
段を備えた装置に極めて有用である。
路を、排気中に含まれるミスト状の処理液に対する接触
面積が大きくなるように形成するようにしてもよい。こ
のようにすれば排気中に含まるミスト状の処理液が通路
内の壁面に付着し、液滴化して処理槽内に戻されること
となり、排気に伴う処理液の消費量をさらに抑えること
ができる。
である。
Claims (5)
- 【請求項1】 処理槽内で液供給手段により基板に向か
って処理液を供給しながら処理を施す基板処理装置にお
いて、上記処理槽内の雰囲気を排気する排気手段と、上
記液供給手段による処理液供給中の排気力がそれ以外の
ときの排気力よりも弱くなるように上記排気手段を制御
する制御手段とを備えていることを特徴とする基板処理
装置。 - 【請求項2】 上記液供給手段による処理液の供給中
は、処理槽内の排気を停止させるようにしたことを特徴
とする請求項1記載の基板処理装置。 - 【請求項3】 上記液供給手段により基板に供給された
使用済みの処理液を回収しつつ上記液供給手段に給送す
る処理液の循環手段を備えていることを特徴とする請求
項1又は2記載の基板処理装置。 - 【請求項4】 上記排気手段は、処理槽内の雰囲気を排
気する排気通路を有し、排気中に含まれるミスト状の処
理液に対する接触面積が大きくなるようにこの排気通路
が形成されていることを特徴とする請求項1乃至3のい
ずれかに記載の基板処理装置。 - 【請求項5】 処理槽内で基板に向かって処理液を供給
しながら処理を施す基板処理装置において、上記処理槽
内の雰囲気を排気する排気通路を備えるとともに、排気
中に含まれるミスト状の処理液に対する接触面積が大き
くなるように上記排気通路が形成されていることを特徴
とする基板処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP09574098A JP4022309B2 (ja) | 1998-04-08 | 1998-04-08 | 基板処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP09574098A JP4022309B2 (ja) | 1998-04-08 | 1998-04-08 | 基板処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11290793A true JPH11290793A (ja) | 1999-10-26 |
JP4022309B2 JP4022309B2 (ja) | 2007-12-19 |
Family
ID=14145896
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP09574098A Expired - Lifetime JP4022309B2 (ja) | 1998-04-08 | 1998-04-08 | 基板処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4022309B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7591922B2 (en) | 2002-01-17 | 2009-09-22 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Substrate processing apparatus and substrate processing method |
US11967508B2 (en) | 2019-05-30 | 2024-04-23 | Ebara Corporation | Damper control system and damper control method |
-
1998
- 1998-04-08 JP JP09574098A patent/JP4022309B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7591922B2 (en) | 2002-01-17 | 2009-09-22 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Substrate processing apparatus and substrate processing method |
US11967508B2 (en) | 2019-05-30 | 2024-04-23 | Ebara Corporation | Damper control system and damper control method |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP4022309B2 (ja) | 2007-12-19 |
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