JPH11281993A - 反射型液晶表示装置における基板及びその製造方法 - Google Patents

反射型液晶表示装置における基板及びその製造方法

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JPH11281993A
JPH11281993A JP35680998A JP35680998A JPH11281993A JP H11281993 A JPH11281993 A JP H11281993A JP 35680998 A JP35680998 A JP 35680998A JP 35680998 A JP35680998 A JP 35680998A JP H11281993 A JPH11281993 A JP H11281993A
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豊 澤山
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Abstract

(57)【要約】 【課題】製造歩留りを向上することができる反射型液晶
表示装置における基板の製造方法を提供する。 【解決手段】(b)に示すように、反射電極4となるA
lを成膜する前に((c)参照)、少なくとも接続電極
3となるITOの全体を覆うように保護膜9を形成す
る。この保護膜9により、(d´)に示すように、フォ
トリソ工程で反射電極4であるAlに発生したピンホー
ル等7を介して現像液6が浸入しても、現像液6が保護
膜9を通過せず、接続電極3であるITOと接触するこ
とがない。このため、その後に、(e)に示すように反
射電極4となるAlをパターン化しても、(f)に示す
最終形態としては、接続電極3が腐食されることもな
い。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばパーソナル
コンピュータ等の表示手段などに用いられる反射型液晶
表示装置における基板及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、パーソナルコンピュータ等のOA
(Office Automation)機器のポータ
ブル化が進み、表示装置の低コスト化が重要な課題とな
ってきている。この表示装置は、電気光学特性を有する
表示媒体を挟んで、各々電極を形成した一対の基板が設
けられ、その電極間に電圧を印加することによって表示
を行う構成である。このような表示媒体としては、液
晶、エレクトロルミネッセンス、プラズマ、エレクトロ
クロミック等が使用されており、特に、液晶を用いた液
晶表示装置(Liquid Crystal Disp
1ay;LCD)は、低消費電力で表示が可能であるた
めに、最も実用化が進んでいる。
【0003】この液晶表示装置の表示モード及び駆動方
法について考えると、超捩れネマティック(Super
Twisted Nematic;STN)を初めと
する単純マトリクス方式は、最も低コスト化を実現でき
る部類に属する。しかし、今後、情報のマルチメディア
化が進むにつれ、ディスプレイの高解像度化、高コント
ラスト化、多階調(マルチ力ラー、フル力ラー)化及び
広視野角化が要求されるようになるので、単純マトリク
ス方式では対応が困難であると考えられる。
【0004】そこで、個々の画素にスイッチング素子
(アクティブ素子)を設けて駆動可能な走査線(走査電
極とも称される)の本数を増加させるアクティブマトリ
クス方式が提案され、この技術により、ディスプレイの
高解像度化、高コントラスト化、多階調化及び広視野角
化が達成されつつある。アクティブマトリクス方式の液
晶表示装置においては、マトリクス状に設けられた画素
電極と、該画素電極の近傍を通る走査線とが、アクティ
ブ素子を介して電気的に接続された構成となっている。
【0005】このアクティブ素子としては、2端子の非
線形素子(Metal−Insulator−Meta
l;MIM)、あるいは3端子の非線形素子があり、現
在採用されているアクティブ素子の代表格は、3端子素
子の薄膜トランジスタ(Thin Film Tran
sistor;TFT)である。
【0006】また近年、より低消費電力化の要求が高ま
り、通常バックライトを必要とする透過型液晶表示装置
に代わり反射型液晶表示装置の開発が盛んに行われてい
る。
【0007】反射型液晶表示装置として明るい表示を得
るためには、あらゆる角度からの入射光に対し、表示画
面に垂直な方向へ散乱する光の強度を増加させる必要が
ある。そのためには最適な反射特性を有する反射板を作
製することが必要となる。そのためには、ガラス等から
なる基板の表面に、最適な反射特性を有するために制御
された凹凸を形成し、その上に銀などの薄膜を形成した
反射板を形成する必要がある。
【0008】実施されている方法は、例えば基板上に感
光性樹脂を塗布し、円形の遮光領域が配列された遮光手
段を介して感光性樹脂を露光及び現像した後に熱処理を
行うことにより、複数の凸部を形成する。そして、この
凸部の上に凸部の形状に沿って絶縁体保護膜を形成し、
その絶縁体保護膜上に金属薄膜からなる反射板を形成す
る方法である。
【0009】また、反射板を基板の外側(液晶層とは反
対側)に形成することで問題となる、ガラス厚みの影響
による二重映りの発生は、反射板を基板の内部に形成し
て画素電極と兼ねる構造、つまり反射電極にすることで
解決している。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】従来例の反射型液晶表
示装置において、反射電極としては反射率が高い材料で
構成することが好ましいのは勿論であり、その意味から
はAgが最適であるが、AgはSi層への拡散率が高い
材料であるため、下地への拡散及び反応の問題が大き
い。
【0011】これに対し、Alは下地への拡散及び反応
の可能性が小さく、また集積回路におけるメタライゼー
ションに広く用いられ、エッチング条件などの特性も良
いことから反射電極にはAlを用いることが多い。この
ようなAl反射電極膜をエッチングして反射電極とする
には、硝酸+酢酸+リン酸+水からなるエッチング液を
エッチャントとするウェットエッチング法を適用してい
る。
【0012】ところで、前述した従来の技術において映
像信号を送る配線、及び液晶駆動用のドライバの接続用
電極には、後の工程での接続部の酸化による高抵抗化を
防止するなどの目的で、透明な電極部分などに用いられ
るITOが使用されている。
【0013】上述した基板上に反射電極を形成する場合
において、特に量産工程では、マスクデポなどの特殊な
成膜手段を用いるほかにはAlを部分的に成膜すること
が不可能であり、Al膜は端子部分などのITO部分を
含めた液晶パネルの全面に成膜される。この反射電極膜
をウエットエッチングする際に、次の問題が生じる。一
般に薄膜は、バルク状態の物質と比較して格子欠陥が桁
違いに多いために不完全な結晶構造となり、従って反射
電極膜には多くのピンホールや活性領域が生成される。
【0014】さて、図23(a)に示すように、ガラス
基板1の上にITO電極41とAl電極40とが積層さ
れた状態で、Al電極40を所定の形状にパターニング
する場合には、図23(b)に示すようにフォトリソ工
程を利用することになる。しかし、このとき、レジスト
膜5の形成に露光及び現像を行った場合に、アルカリ系
の現像液を使用することにより、Al電極40がダメー
ジを受け、図23(a)、(b)に示す活性領域やピン
ホール(以下、ピンホール等7という)の腐食や成長を
助長することとなる(図23(c)参照)。その結果、
ITO電極41とAl電極40とに現像液6が同時に接
し、図23(d)に示す模式図のような電池系を構成す
る。この電池系による反応により、Al電極40とIT
O電極41が腐食、溶解されるので、これがTFTの製
造歩留り、延いては反射型液晶表示装置の製造歩留りを
確実に低下させる。尚、この現象については、シャープ
技報:第44号・1990年3月等に詳細に記載されて
いるため、ここでは説明を省略する。
【0015】本発明は、このような従来技術の課題を解
決すべくなされたものであり、製造歩留りを向上するこ
とができる反射型液晶表示装置における基板及びその製
造方法を提供することを目的とする。
【0016】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項1の反射
型液晶表示装置における基板の製造方法は、一方が透光
性の基板であり、他方が反射電極を有する基板である一
対の基板間に液晶層が存在し、該液晶層に隣接して形成
された反射電極と、外部からの信号を入力する手段と液
晶表示装置とを接続する接続電極を備え、かつ該反射電
極と該接続電極とがバス配線を介し接続された反射型液
晶表示装置の、該反射電極を有する基板を製造する方法
において、該反射電極を形成するための基板に、外部か
らの信号を入力するための入力用手段と該接続電極とを
形成する工程と、次いで該接続電極の上に保護膜を形成
する工程と、次いで該接続電極上の保護膜が表出された
状態で層間絶縁膜を形成する工程と、次いで該層間絶縁
膜をパターニングする工程と、次いで該層間絶縁膜の上
に反射電極膜を形成する工程と、次いで該反射電極膜を
パターニングし反射電極を形成する工程と、次いで該接
続電極を上部の保護膜を除去して表出させる工程とを含
み、そのことにより上記目的が達成される。
【0017】本発明の請求項2の反射型液晶表示装置に
おける基板の製造方法は、一方が透光性の基板であり、
他方が反射電極を有する基板である一対の基板間に液晶
層が存在し、該液晶層に隣接して形成された反射電極
と、外部からの信号を入力する手段と液晶表示装置とを
接続する接続電極を備え、かつ該反射電極と該接続電極
とがバス配線を介し接続された反射型液晶表示装置の、
該反射電極を有する基板を製造する方法において、該反
射電極を形成するための基板に、外部からの信号を入力
するための入力用手段と該接続電極が表出された状態で
層間絶縁膜を形成する工程と、次いで該層間絶縁膜をパ
ターニングする工程と、次いで該層間絶縁膜の上に保護
膜を形成する工程と、次いで反射電極膜を形成する工程
と、次いで該反射電極膜をパターニングして反射電極を
形成する工程と、次いで接続電極を上部の保護膜を除去
して表出させる工程とを含み、そのことにより上記目的
が達成される。
【0018】本発明の請求項3の反射型液晶表示装置に
おける基板の製造方法は、前記保護膜が金属膜からなる
保護金属膜であり、かつ前記反射電極膜と、該保護金属
膜と、更にはそれ以前の工程において作製された金属膜
とがエッチング選択性を有する材料からなることを特徴
とする。
【0019】本発明の請求項4の反射型液晶表示装置に
おける基板の製造方法は、前記反射電極と前記バス配線
との間にスイッチング素子を設けることを特徴とする。
【0020】本発明の請求項5の反射型液晶表示装置に
おける基板の製造方法は、前記スイッチング素子として
薄膜トランジスタを形成することを特徴とする。
【0021】本発明の請求項6の反射型液晶表示装置に
おける基板の製造方法は、前記層間絶縁膜を、少なくと
も表示エリアよりも大きな領域を覆うよう形成すること
を特徴とする。
【0022】本発明の請求項7の反射型液晶表示装置に
おける基板の製造方法は、前記層間絶縁膜を、表示エリ
ア内の画素以外の部分にも存在するよう形成することを
特徴とする。
【0023】本発明の請求項8の反射型液晶表示装置に
おける基板の製造方法は、前記層間絶縁膜に感光性樹脂
を用いることを特徴とする。
【0024】本発明の請求項9の反射型液晶表示装置に
おける基板の製造方法は、前記感光性樹脂膜の前記反射
電極下に相当する部分に複数の凹凸形状をパターニング
形成することを特徴とする。
【0025】本発明の請求項10の反射型液晶表示装置
における基板の製造方法は、前記接続電極の材料がIT
Oであることを特徴とする。
【0026】本発明の請求項11の反射型液晶表示装置
における基板の製造方法は、前記接続電極の材料がIT
Oであり且つ前記反射電極の材料がAlであることを特
徴とする。
【0027】本発明の請求項12の反射型液晶表示装置
における基板の製造方法は、前記保護膜が金属膜からな
る保護金属膜であり、かつ前記反射電極を形成する材料
と、前記保護膜を形成する金属とが、同一のエッチャン
トによりエッチングされるよう設定されることを特徴と
する。
【0028】本発明の請求項13の反射型液晶表示装置
における基板の製造方法は、前記接続電極の材料がIT
Oであり、該接続電極の上部に形成される保護金属膜が
MoまたはMoを主成分とする合金であることを特徴と
する。
【0029】本発明の請求項14の反射型液晶表示装置
における基板の製造方法は、前記接続電極の材料がIT
Oであり、該接続電極の上部に形成される保護金属膜が
TiもしくはTiを主成分とする合金であることを特徴と
する。
【0030】本発明の請求項15の反射型液晶表示装置
における基板は、一方が透光性の基板であり、他方が反
射電極を有する基板である一対の基板間に液晶層が存在
する反射型液晶表示装置の基板において、前記反射電極
の少なくとも一部分には保護金属膜が重ね合わせられ、
前記反射電極が前記保護金属膜を介して導電部分に接触
することを特徴とする。
【0031】本発明の請求項16の反射型液晶表示装置
における基板は、一方が透光性の基板であり、他方がス
イッチング素子、層間絶縁膜及び反射電極を積層した基
板である一対の基板間に液晶層が存在する反射型液晶表
示装置の基板において、前記層間絶縁膜と前記反射電極
間に保護金属膜を介在させ、該反射電極及び該保護金属
膜を前記層間絶縁膜のコンタクトホールを介して前記ス
イッチング素子の出力電極に接続し、該スイッチング素
子の出力電極を該スイッチング素子の信号配線の材料の
うちの少なくとも1種類から形成することを特徴とす
る。
【0032】本発明の請求項17の反射型液晶表示装置
における基板は、前記スイッチング素子の出力電極がI
TOであることを特徴とする。
【0033】以下、本発明の作用について説明する。
【0034】本発明にあっては、図2(a)に示すよう
に接続電極3となるITO電極を形成した後、図2
(b)と(c)に示すように反射電極4となるAl電極
の形成前にITOからなる接続電極3をカバーするよう
保護膜9を形成することで、上記問題を解決している。
また、ITOからなる接続電極3の上に形成された反射
電極4用のAl電極及び保護膜9は、Al成膜時に一時
的に設けられるものであり、図2(f)に示す最終形態
としては、ITOからなる接続電極3が表出された形と
なる。
【0035】この様な目的として使用される金属膜とし
ては、MoやMo合金などが知られており、その詳細に
ついては特開平3−246524に詳細に記述されてい
る。但し、特開平3−246524は、画素部の配線構
造についての記載があるが、反射電極を作製した時に接
続端子部で生じる問題点については全く開示されていな
い。
【0036】請求項1によれば、反射電極を形成する工
程以前に接続電極上部に保護膜を形成することにより、
接続電極と反射電極とが製造工程中で接触することを防
ぐことが可能となる。
【0037】請求項2によれば、層間絶縁膜を形成した
後に保護金属膜を形成し、その後反射電極膜を形成する
ことで、同一成膜工程での連続成膜が可能となり、成膜
工程が1工程短縮できる効果がある。
【0038】請求項3によれば、保護膜を金属膜で形成
し、かつ各工程で用いる材料間のエッチングの選択性を
最適化することにより、連続的にエッチング処理するこ
とが可能となる。このため、保護膜を除去するための目
的で、新たにフォトリソ工程を行う必要が無く、工程数
の短縮化が図れる。
【0039】請求項4によれば、反射電極とバス配線と
の間にスイッチング素子(例えばMIM、TFT等)を
設けることにより、走査線の数等の制限が大幅に減少さ
れることとなり、液晶の表示モードの設計への自由度の
増加、更には高精細化が可能となるといった効果があ
る。
【0040】請求項5によれば、スイッチング素子の中
でもアモルファス、ポリ等のSiを用いたTFTを用い
ることにより、液晶に印加される電圧比が大きく取れる
ため、上記請求項4による効果をより発揮できるといっ
た効果がある。
【0041】請求項6によれば、層間絶縁膜を表示エリ
アより大きな領域とすることにより、最終形態として残
る反射電極と接続電極との間に、絶縁物質による保護金
属膜以外の非接触領域を形成することができる。この領
域が反射電極と、接続電極を保護する保護膜を所定の形
状に加工する際(フォトリソ工程における露光の位置ズ
レ、エッチング工程によるオーバーエッチングなど)の
マージンをとり、良品率の向上に寄与するといった効果
がある。
【0042】請求項7によれば、前記層間絶縁膜を画素
電極以外の部分、例えばバス配線上まで覆うように形成
することで、反射電極をバス配線上にまで形成できるよ
うになることから高開口率化が図れ、表示輝度が上がる
効果がある。
【0043】請求項8によれば、前記層間絶縁膜に感光
性樹脂を用いることでフォトリソ工程のみによる層間絶
縁膜の加工が可能となる、また、無機系の絶縁膜がフッ
酸などの非常に反応性の強い酸を用いるため下地への影
響を考慮する必要があること、感光性を有しない有機系
材料ではフォトリソ後にドライエッチング、アッシング
などの工程が必要となることと比較してより簡便であ
り、かつ少ない工程で加工可能であることからも層間絶
縁膜として感光性樹脂材料を用いることの有効性が分か
る。
【0044】請求項9によれば、前記反射電極下の感光
性樹脂膜に複数の凹凸形状を形成することにより液晶層
に隣接して光拡散性を有する反射電極を形成することが
可能となる。これにより、表示像の解像度の低下や影の
発生を防止する効果がある。
【0045】請求項10によれば、接続電極をITOと
することにより、その後の各種工程、及び工程内での滞
留により生じる端子部分の酸化による高抵抗化を防止す
ることが可能となる。
【0046】請求項11によれば、本発明の製造方法に
従えば、電極電位が極端に大きく、局部電池系を形成し
やすいITOとAlを、マスクデポなどの特殊な工程を
行うことなく、かつ電食の発生をも防止することが可能
であり、反射電極として加工性、反射率共に優れたAl
を容易に利用することが可能となる。
【0047】請求項12によれば、保護金属膜と反射電
極とが同一のエッチャントによりエッチングされる様な
材料、エッチャントの組み合わせを用いることにより、
連続成膜、連続エッチングにより、保護金属膜を形成し
ない工程と等しい工程数での製造が可能となる。
【0048】請求項13によれば、本請求項は保護金属
膜と反射電極及びそれらのエッチャントの組み合わせの
1例であり、MoとAlは前述した硝酸+酢酸+リン酸
+水からなるエッチャントで双方ともにエッチングさ
れ、前述までの工程に合致した材料の組み合わせであ
る。また、硝酸+酢酸+リン酸+水から成るエッチャン
トは一般に液晶表示装置を構成する各金属材料などとの
反応性が少なく、他の構成部材への影響を考慮する必要
が少ない、本発明の製造工程において、最も有力な組み
合わせである。更にMoを他の金属との合金にして用い
ることで、Alとのエッチングレートの差を調節するこ
とができる効果がある。
【0049】請求項14は、保護金属膜として使用可能
な金属材料の1例を示しており、この材料による保護金
属膜により、現像液などの電解液がAl、ITOに同時
に接することが無く、Al−ITO間の電食を防止する
ことができる。
【0050】請求項15の反射型液晶表示装置の基板に
よれば、反射電極が保護金属膜を介して導電部分に接触
している。このため、反射電極と導電部分間の反応によ
り、該反射電極が電食されることはない。
【0051】請求項16の反射型液晶表示装置の基板に
よれば、スイッチング素子の出力電極を該スイッチング
素子の信号配線の材料のうちの少なくとも1種類から形
成しているので、該スイッチング素子の出力電極を形成
するための新たな工程を必要とせず、プロセスを短縮す
ることができる。
【0052】請求項17によれば、出力電極をITOに
より形成することで、透過型LCDの開口率等を損なう
ことなく、層間絶縁膜を形成する直前までの工程を該透
過型液晶表示装置と同様に作成することができる。
【0053】
【発明の実施の形態】まず、図1及び図2を用いて、本
発明の概要を説明する。
【0054】尚、図1、図2及び図3において、基板上
に形成される層間絶縁膜は、図の煩雑化を避けるために
省略されている。この層間絶縁膜の形成方法等について
は、実施形態4で説明する。
【0055】図1は、本発明が解決する問題を示す図で
ある。
【0056】大型の液晶表示装置や、アクティブ素子な
ど付加した液晶表示装置(以下LCDと称する)の端子
部分を大まかにモデル化すると、図1(a)に示すよう
に、信号用のバス配線2と信号入力用接続電極3に分類
することができる。
【0057】この様な端子部分を有するLCDで反射型
LCDを製造した場合、マスクデポなどの特別な処理を
行わない限り、図1(b)に示すように、その端子部分
にも反射電極4が成膜される。前記反射電極4と接続電
極3に用いられる材料の一般的なものとしては、反射電
極4用にはAlが、接続電極3用にはITOが挙げられ
る。
【0058】ここで、前述したように一般に薄膜はバル
クとは異なり、図1(c’)に示すように、ピンホール
等7が多く存在する上、Alは酸およびアル力リの双方
に腐食され易いという特性を持つ。このため、Alから
なる反射電極4をフォトリソ工程を用いて所定の形状に
加工する場合、アル力リ性の溶液である現像液6により
腐食される。このとき、Alからなる反射電極4の表面
のピンホール等7が最も腐食の影響を受け易く、図1
(c)に示すように現像液6が前記ピンホール等を通
り、ITOからなる接続電極3とも接触する。なお、図
1(c)中の5はフォトレジストである。また、図1
(c’)は、図1(c)の部分拡大図(断面図)であ
る。
【0059】この様な現象により生じたAl/現像液/
ITOの部分は、図23(d)に示した1種の局部電池
系を形成し、図1(d)に示すようにAlからなる反射
電極4と、ITOからなる接続電極3との双方が腐食さ
れる(以下、この現象を電食と称する)。図1中の8
は、腐食(電食)部分である。
【0060】この問題を回避するため、本発明では図2
に示す工程を用いて反射型LCDを製造する。
【0061】図2(a)に示すように本実施形態での端
子部分のモデルは、図1(a)に示した従来と同様であ
るが、図2(b)に示すように、反射電極4となるAl
を成膜する前に(図2(c)参照)、少なくとも接続電
極3となるITOの全体を覆うように保護膜9を形成す
る。
【0062】この保護膜9により、図2(d’)に示す
ように、フォトリソ工程で反射電極4であるAlに発生
したピンホール等7を介して現像液6が浸入しても、現
像液6が保護膜9を通過せず、接続電極3であるITO
と接触することがない。図2(d’)は図2(d)の部
分拡大図(断面図)である。このため、その後に、図2
(e)に示すように反射電極4となるAlをパターン化
しても、図2(f)に示す最終形態としては、接続電極
3が腐食されることもない。
【0063】上述したような保護膜9の形成について
は、特願平9−160311に感光性樹脂材料を使用す
る方式が記載されているが、樹脂材料を用いる場合では
最終形態としてこの樹脂材料を取り除かなくてはなら
ず、新たにドライエッチングやアッシングプロセス、そ
れに伴うフォトリソ工程が必要となる。
【0064】本発明では、前記保護膜9を金属膜とし、
Al/保護金属膜/ITOの構造を採用することによ
り、電食の問題を解決するとともに、保護金属膜および
エッチャントの選択によっては前記フォトリソ工程のプ
ロセス増加を防止するものである。
【0065】以下、本発明を実施形態に従い説明する。 (実施形態1)本実施形態1では、図2を用いて説明す
る。
【0066】図2(a)に示すTaからなるバス配線2
が形成され、ITOからなる接続電極3が形成されたガ
ラス基板1の上に、図2(b)に示すように、保護金属
膜9としてTiをスパッタリング法により全面成膜し、
次いで接続電極3であるITO部分が表出しないよう、
それ以外の部分をフォトリソ工程を用いパターニングし
エッチングする。このときのエッチャントとしては(E
DTA+H22+NH 3)を使用し、Taからなるバス
配線2と、ITOからなる接続電極3と、Tiからなる
保護金属膜9とのエッチング選択性を持たせておく。
【0067】次いで、図2(c)に示すように反射電極
4としてのAlを成膜し、図2(d)に示すようにフォ
トリソにより所定の形状のフォトレジスト5を形成し、
硝酸+酢酸+リン酸+水からなる溶液でエッチングす
る。その後、図2(e)に示すようにフォトレジスト5
を除去し、図2(f)に示すように、再度前述のTiの
エッチャントに通すことにより接続電極3を覆っていた
保護金属膜9が取り除かれ、ITOからなる接続電極3
が表出される。
【0068】本実施形態で使用した各金属材料とエッチ
ャントとの選択性については下記の表1に示す通りであ
り、Ti加工時にはそのエッチヤントは他のメタルに対
して作用せず、Alエッチング時にも同様なエッチャン
ト、メタルの選択を行っている。
【0069】
【表1】
【0070】この様なエッチャントおよび金属材料を採
用し、その製造工程において保護金属膜9の成膜と除去
の工程を含むことにより、ITOからなる接続電極3と
Alからなる反射電極4とが電食を起こすことなく、反
射型LCDを製造することが可能となる。
【0071】尚、上記実施形態はあくまでも1例であ
り、本発明の製造工程は、同様の効果が得られるのであ
れば上記組み合わせに限定されない。
【0072】(実施形態2)前述の実施形態1では保護
金属膜9としてTiを使用し、エッチングにはEDTA
+H22+NH3の混合液を使用したが、H22,NH3
ともに揮発性が強いことを考慮すると、工業生産として
は不向きである。本実施形態では、保護金属膜9として
Moを採用した工程について再度、図2を用いて説明す
る。
【0073】工程としては前述の実施形態1同様のフロ
ーで行い、端子部分のITOからなる接続電極3を覆っ
て保護金属膜9としてのMo層を形成し(図2(a)お
よび(b)参照)、反射電極4であるAlを成膜する
(図2(c)参照)。この後、図2(d)に示すように
フォトリソ工程を用いて所定の形状にフォトレジスト5
を形成した後、反射電極4であるAlをエッチングする
が、この時のエッチャントにより保護金属膜9であるM
oもエッチングされる。
【0074】このため実施形態1のように反射電極4形
成後に再度、保護金属膜9を取り除くためのエッチング
工程を行う必要が無くなり、エッチング工程を減らすこ
とが可能となる。つまり、図2において、保護金属膜9
を取り除く工程である図2(e)のプロセスを改めて行
う必要が無く、Alエッチング終了時で、最終形態の図
2(f)となる。
【0075】下記の表2に、本実施形態における各金属
材料とエッチャントとの選択性を示す。
【0076】
【表2】
【0077】尚、上記実施形態はあくまでも1例であ
り、本発明の製造工程は、同様の効果が得られるのであ
れば上記組み合わせに限定されない。
【0078】(実施形態3)本実施形態について図3及
び図4を用いて説明する。
【0079】本実施形態では、図3(a)に示すTaか
らなるバス配線2が形成され、ITOからなる接続端子
3が形成されたガラス基板1の上に、反射電極4である
Alを形成する時に保護金属膜9であるMoを、Mo→
Alの順で成膜を行う(図3(b)、(c)参照)。こ
の様に形成されたAl/Mo積層金属膜(反射電極4+
保護金属膜9の積層)を所定の形状に加工するためフォ
トリソ工程によりパターニングする(図3(d)参
照)。このときも、図3(d’)に示すように、Mo層
からなる保護金属膜9が保護膜となり、現像液6が接続
電極3であるITOまで浸入することを防ぐ。この基板
を、硝酸+酢酸+リン酸+水からなるエッチング液によ
りエッチングすると、前述の表2に記載の通りAl、M
o共にエッチングされるため、図3(e)に示す最終形
態となる。
【0080】この様に、保護金属膜9を基板全体に反射
電極4であるAl同様に成膜し、かつAl、Moの様に
同一のエッチャントによる処理が可能な組み合わせを用
いることにより、実施形態1及び2の様に予め保護金属
膜9を、端子部分のITOからなる接続電極3を覆うよ
うな形状に加工する工程が追加されず、フォトリソ工程
を1工程短縮できる。
【0081】更に、成膜工程においてMo、Alを連続
的にデポすれば、図3(b)に示す工程は特に考慮せず
とも良く、図3(a)から直接、図3(c)の形態とな
ったと考えられる。この場合、工程数そのものは図1に
おいて説明した、保護膜無しのプロセスと等しい工程数
で、しかもITOからなる接続電極3の腐食を防止でき
る製造工程が実現できる。
【0082】尚、上記実施形態3はあくまでも1例であ
り、本発明の製造工程は、他の配線等の金属との選択性
を持ち、かつ同時にエッチング可能な材料の組み合わせ
であるなら、実施形態3には限定されない。また、図4
(a)に示すように、Al電極38とMo膜37のエッ
チングレートの違いにより発生する逆テーパ型の断面構
造の問題については、エッチング条件の最適化を行えば
良く、さらにはMoにTa、Ti等の金属を混入し、エ
ッチングレートを調整する手法を採用しても図4(b)
に示すような形状を実現できる。図4(b)中の39
は、MoとTa(またはTi)の合金層である。
【0083】(実施形態4)本実施形態では図5〜図1
4を用いてスイッチング素子を用いた反射型LCDに本
発明の製造工程を採用し、更にスイッチング素子として
TFTを採用した場合について述べる。
【0084】図5(a)は素子側基板の一画素分の平面
図であり、図5(b)は図5(a)のA−B(一点鎖
線)での断面図である。
【0085】図5(a)中、1はガラス基板、10はゲ
ートバス配線、11はソースバス配線、17はTFT素
子、4は反射板を兼ねた画素電極(反射電極)である。
【0086】このTFT素子側基板においては、図5
(b)に示すように、ガラス基板1の上にTa薄膜から
なるゲート電極20と、SiNxからなるゲート絶縁膜
21と、半導体層12(i層15、n+層14、エッチ
ストッパ16)と、Ti電極18a、ITO電極18b
より形成されるソース電極18と、同じくTi電極19
a、ITO電極19bより形成されるドレイン電極19
とが形成され、これらでTFT素子17が構成されてい
る。また、層間絶縁膜29の上に形成した反射電極4
は、コンタクトホール42を介して下部画素電極13に
電気的に接続され、この下部画素電極13はドレイン電
極19に電気的に接続されている。
【0087】この素子側基板にTFT素子17、ゲート
端子部分及びソース端子部分にITOによる接続電極3
を形成するまでの工程においては、従来のLCDの製造
工程との差異は無いため、その製造工程の説明について
は省略する。また、反射電極4に光拡散性を持たせるべ
く層間絶縁膜29に凹凸形状を形成する工程についても
同様に、特開平6−75238に記載されているため、
図6に使用するフォトマスクA(25)、フォトマスク
B(27)の模式図を、図7にその工程の簡単なフロー
を記載するに止める。尚、図6(a)および(b)に示
すフォトマスクA(25)、B(27)の縮尺は各々の
パターンが視覚的に分かり易くなるように調節したた
め、両者のパターンの間隔は必ずしもこれに一致しな
い。
【0088】感光性樹脂を用いて反射電極4の下の層間
絶縁膜29に微細な凹凸形状を形成した基板に、前述の
実施形態1〜3の何れかの手法を用いて反射電極4を形
成すれば、接続電極3であるITO、反射電極4である
Alに腐食が発生せず、しかも簡便な方法により反射電
極4を有した基板が得られるが、この際に以下の手法を
用いることにより、本発明の製造工程をより効果的にす
ることが可能となる。
【0089】1)層間絶縁膜29を少なくとも表示エリ
ア31(図10参照)以上とし、更に図8(c)に示す
ように下部画素電極13間の部分にも層間絶縁膜29が
存在すること。
【0090】2)図13および図14に示すように、バ
ス配線2、またはバス配線の冗長として用いられるIT
Oからなる冗長配線30を層間絶縁膜32内にとどめ
る。
【0091】3)接続端子3として用いられるITO
と、バス配線2の冗長配線30(図8(c)参照)とし
て用いられるITOとの間に、少なくとも露光手段の位
置ズレマージン、エッチング時に発生するオーバーエッ
チなどによるシフト量以上の間隔をあける。
【0092】上記1)〜3)記載の手法を用いる効果
を、図8〜図14を用いて以下に示す。
【0093】尚、ここでの説明には、説明図の煩雑化を
さけるため層間絶縁膜29に形成されるべき凹凸形状は
記載していない。
【0094】一般に信号用のバス配線2は、断線などに
よる不良に対する冗長設計として2重配線などが用いら
れるが、この冗長配線30としてITOが用いられるこ
とがある。前述までの端子部分と同様、この冗長配線3
0部分と反射電極との腐食についての考慮も必要で、こ
の際になんら処理を施さず製造工程を進めれば、図8
(a)に示すように冗長配線30部分のITOの腐食が
発生する。しかし、この問題については端子部分と同様
に考えれば腐食を防止することが可能となり、図8
(b)に示すように冗長配線30の腐食のない最終形態
が得られる。
【0095】但し、この場合、反射電極4自身は従来の
透過型と同程度の画素電極の大きさとなる。ここで、反
射型LCDは前面からの光を反射することで表示を行
う。更に、液晶層に隣接させて反射電極4を形成する場
合には、素子側基板上に形成されたゲートバス配線10
やソースバス配線11(図8(c)ではバス配線2に相
当)上にまで反射電極4を形成することにより高開口率
化が図れることは、一般に良く知られている。この様に
冗長配線30上に反射電極4を形成しない場合と、冗長
配線30上まで反射電極4を形成した場合とを比較する
と、図8(c)に示すように、反射電極4の面積に大き
な差が生じる。この差分はLCDの表示輝度に直結する
ため、当然バス配線2又は冗長配線30上まで反射電極
4があることが、より好ましい。
【0096】次に、表示エリア31と層間絶縁膜29が
覆うエリアとについてであるが、ここでもバス配線2部
分のITOからなる冗長配線30について留意する必要
がある。
【0097】モデルとして図9に示す、表示エリア31
以外の領域に形成された層間絶縁膜32を有する反射型
LCDを考える。尚、このモデルにおいては、図10に
示すようにバス配線2の冗長配線として用いられるIT
Oと、接続電極3のITOとが一体で形成され、ITO
電極33となっている。
【0098】上記実施形態1及び2記載の手法を用いた
場合、反射電極4の成膜後の層間絶縁膜29の端子付近
の終端部の断面は、図10に示すように層間絶縁膜29
と保護膜9とが、隙間なくITO電極33を覆う状態と
なることが理想的である。
【0099】しかし、実際の製造工程では、層間絶縁膜
29および保護膜9を所定の形状に加工する際にフォト
リソ工程での露光時の位置ズレ、エッチング時のオーバ
ーエッチング等による設計値からのシフトが発生する。
このため、以下の問題が生じる。 (1)層間絶縁膜29の形成以前に保護膜9を形成した
場合には、図11(a)に示すように層間絶縁膜29下
に保護膜9が入り込む部分34が発生する。 (2)また、図11(b)に示すように、層間絶縁膜2
9と保護層9との間に間隙35が発生する。
【0100】その結果、図11(a)の場合は、保護層
9を取り除く際に層間絶縁膜29に浮き34aが生じ
(図11(c1)参照)、図11(b)の場合では層間
絶縁膜29と保護層9との間隙35にITO電極33が
(Alからなる反射電極4の形成前に)表出される領域
が発生し、Alからなる反射電極4とITO電極33と
が接触する部分が発生するため電食が発生する(図11
(c2)参照)。
【0101】前記層間絶縁膜29の剥がれは、その後の
工程で当然発生すべき昇温工程等での「膜剥がれ」を引
き起こすことが大いに懸念され、製造歩留り及び信頼性
が著しく低下する。
【0102】また、層間絶縁膜29の形成後に保護膜9
を作製する場合にも、保護金属膜9をパターニングする
か否かにかかわらず、図12に記載した不良の発生が懸
念される。
【0103】図12(a)は図11(b)同様、層間絶
縁膜29と保護膜9との間にITO電極33が表出した
間隙35が発生する場合である。図12(b)は上記実
施形態3の方式を用いた場合であるが、層間絶縁膜29
と端子部分との段差により、保護膜9の断切れ部分36
が発生する。この部分においても前述の間隙35と同
様、ITO電極33が表出されることとなり、電食を引
き起こす(図12(c)参照)。
【0104】この様な問題を未然に回避するために前述
の1)〜3)の方法が有効であり、その場合、図13
(a)に示す層間絶縁膜29と保護膜9との間隙35、
図13(b)に示す保護膜29の段差による断切れ部分
36のITO電極33を予め除き、ITOからなる冗長
配線30とITOからなる接続電極3とに分離すること
で電食の発生を防止できる(図13(c)参照)。な
お、図14(b)は図13(c)の斜視図(29を省
略)であり、図14(a)はその観察箇所を示す平面図
である。
【0105】また、表示エリア31以外の領域に形成さ
れた絶縁層領域32を表示エリア31の外側に存在させ
ることの効果としては、冗長配線30であるITO膜を
より広範囲で残し、冗長性を高める効果がある上、仮に
層間絶縁膜29の端部にクラック、ピンホールが発生し
ていたとしても、表示エリア31下への腐食の進行をあ
る程度防止すると言った効果を持たせることができる。
【0106】尚、本実施形態ではアクティブ素子として
TFTを、層間絶縁膜として感光性樹脂を使用したが、
本発明は特にこの材料に限定されるものではなく、例え
ばMIMなどの2端子素子を用いてもその効果に変化は
なく、層間絶縁膜の材質の種類により本発明の効果が影
響を受けることもない。更に、反射電極に光拡散性を持
たせるため、本実施形態では層間絶縁膜に凹凸形状を形
成したが、層間絶縁膜の表面形状による本発明の製造手
段への影響は皆無であり、形状自身は実施形態には限定
されず、例えば平坦であってもよい。
【0107】上述したように素子側基板にTFT素子1
7、ゲート端子部分及びソース端子部分にITOによる
接続電極3を形成するまでの工程においては、従来のL
CDの製造工程と差異は無いが、従来の製造工程におい
ては画素電極がITOとなり、光透過性を持たせる替わ
りに他の金属と比べ一般にITOは電気抵抗が高いもの
となっている。これに対し、本発明において提案してい
る反射型LCDの場合、反射電極4および下部画素電極
13は光透過性を持つ必要がないため、ITOにする必
要がなく、より低抵抗の金属膜を反射電極4および下部
画素電極13に使用できる。本実施形態では、図5
(b)に示すように、反射電極4と電気的に接続する下
部画素電極13を、TFTのソース電極18aやドレイ
ン電極19aとして使用した金属膜(Ti)をそのまま
用いた場合を示している。
【0108】(実施形態5)上記実施形態4において
は、反射型LCDは背面からの光を透過させる必要がな
いことから、下部電極に不透明な金属膜を使用して、該
下部電極を低抵抗化できる利点があると述べた。
【0109】しかしながら、反射型LCDの基板と透過
型LCDの基板を共用する場合には、下部電極に金属膜
を使用すると、この下部電極が背面からの光を遮るの
で、透過型LCDの基板における画素部の開口率が低下
するという不都合を招く。逆に、下部電極に透明なIT
Oを使用すると、反射型LCDの基板においては、下部
電極と反射電極間で電食が発生するという不都合を招く
ことになる。これを避けるには、反射型LCDの基板と
透過型LCDの基板を別々に作製するしかなく、量産性
を損なうことになる。すなわち、従来は、透過型LCD
の基板における画素部の開口率を充分に向上させ、かつ
反射型LCDの基板における下部電極と反射電極間の電
食を防止することができず、このために反射型LCDの
基板と透過型LCDの基板を共用することはできなかっ
た。
【0110】図15は、画素電極にコンタクトされるコ
ンタクト用電極を有する従来の基板における1画素部分
を模式的に示している。図15において、コンタクト用
電極51は、TFT52の出力側に接続され、かつ下部
画素電極51’に接続されている。各信号ライン56,
57は、複数の画素領域を区画しており、これらの画素
領域毎に、下部画素電極51’が配置されている。
【0111】図16(a)は、TFT52近傍の断面構
造を示している。下部画素電極51’及びTFT52上
には、図16(b)に示す様に層間絶縁膜54及び反射
電極53が順次形成され、反射電極53が層間絶縁膜5
4のコンタクトホール54aを介してコンタクト用電極
51に接続されている。コンタクト用電極51及びTF
T52等は、基板58上に絶縁膜59を介して形成され
ている。
【0112】図16(a’)に示す様に、コンタクトホ
ール54aの部位でピンホールやクラック55が発生す
ることがある。ここでは、画素電極51’の他に、光透
過性のない金属をコンタクト用電極51として採用して
いるので、ピンホールやクラックを通じて電解液が浸入
しても、前記コンタクト用電極51が保護金属膜として
機能し、画素電極51’と反射電極53間の電食を防止
している。
【0113】この様な構成の基板は、反射型LCDに適
しているものの、不透明なコンタクト用電極51によっ
て透過型LCDの画素部の開口率が低下するので、透過
型LCDには適さない。仮に、コンタクト用電極51を
特別に設けることなく画素電極51’にその機能を兼用
させ、かつ前記画素電極51’に透明なITOを採用す
ると、図17(a’)に示す様にコンタクト部分54a
で反射電極53にピンホールやクラックが発生し、図1
7(b)に示す様に画素電極51’と反射電極53間に
電食が発生して、大きな孔55aが開く。この電食の部
分が更に拡大すると、最悪の場合にはコンタクトホール
54aの部位全体でITOの画素電極51’が消失し、
画素電極51’と反射電極53間の電気的接続がなくな
る。このため、従来は、反射型LCDの基板と透過型L
CDの基板の製造工程の途中までを共通化することしか
できなかった。
【0114】尚、透過型LCDにおいては、反射型LC
Dの上部電極にあたる反射電極53の代わりに、ITO
からなる透明電極を上部電極として配置するので、画素
電極51’であるITOをコンタクト用電極として使用
し、上部電極となる透明電極に接続しても、上部電極で
ある透明電極とコンタクト用電極を兼ねた画素電極との
間に電食が発生することはない。
【0115】図18は、反射型LCDの基板と透過型L
CDの基板の従来の製造工程を概略的に示している。図
18(a)〜(d)においては、基板64上に、ゲート
電極65、ゲート絶縁膜66、TFT(i−Si層6
7、n+Si層68、チャネル保護層69からなる)、及
びソース電極やドレイン電極等となるTiの金属膜71
を順次形成している。ここまでの工程が反射型LCDの
基板と透過型LCDの基板間で共通化されている。
【0116】図18(e)〜(g)は、反射型LCDの
基板を製造するための工程である。図18(e)〜
(g)の工程においては、金属膜71から画素電極7
2、及び1層目のソース電極73とドレイン電極74を
形成した後に、ITO膜75を成膜して、このITO膜
75から2層目のソース電極76及びドレイン電極77
を形成している。
【0117】また、図18(h)〜(j)は、透過型L
CDの基板を製造するための工程である。図18(h)
〜(j)の工程においては、金属膜71から1層目のソ
ース電極73及びドレイン電極74を形成した後に、I
TO膜75を成膜して、このITO膜75から画素電極
78、2層目のソース電極76及びドレイン電極77を
形成している。
【0118】反射型LCDの基板の場合は、反射電極と
画素電極72間の電食を防止するために、Alの反射電
極に接続される画素電極72を金属膜71から形成して
いる。また、透過型LCDの基板の場合は、画素部の開
口率を向上させるために、画素電極78を透明なITO
膜75から形成している。図17の説明から明らかな様
に、反射型LCDの基板と透過型LCDの基板間で共用
することができないフォトマスクが2種類以上必要とさ
れる。
【0119】尚、ここでは、1層目のソース電極及びド
レイン電極なる層としてTiの金属膜を用い、2層目の
ソース電極及びドレイン電極なる層としてITO膜を用
いているが、低抵抗の金属材料であれば、1層目の層と
して他の種類の金属を用いても良く、また1層目の層と
してITO膜を用いても良い。
【0120】図19は、反射型LCDの基板と透過型L
CDの基板の従来の製造工程として更に簡略化した例、
つまりソース電極及びドレイン電極が1層のみから形成
される例を概略的に示している。図19(a)〜(c)
においては、基板64上に、ゲート電極65、ゲート絶
縁膜66、TFT(i−Si層67、n+Si層68、チ
ャネル保護層69からなる)を順次積層している。ここ
までの工程が反射型LCDの基板と透過型LCDの基板
間で共通化されている。
【0121】図19(d),(e)は、反射型LCDの
基板を製造するための工程である。図19(d),
(e)の工程においては、金属膜71を積層し、この金
属膜71から画素電極72、及びソース電極73とドレ
イン電極74を形成している。
【0122】図19(f),(g)は、透過型LCDの
基板を製造するための工程である。図19(f),
(g)の工程においては、ITO膜75を成膜して、こ
のITO膜75から画素電極78、ソース電極76及び
ドレイン電極77を形成している。
【0123】この様にソース電極とドレイン電極を1層
の金属膜から形成するか、又はソース電極とドレイン電
極を1層のITO膜から形成する場合は、反射型LCD
の基板と透過型LCDの基板間で共用することができな
いフォトマスクが2種類以上必要とされるだけでなく、
成膜装置、エッチング装置等を2系統必要とする。
【0124】図18及び図19の説明から明らかな様
に、反射型LCDの基板と透過型LCDの基板を別々に
作製すると、量産性を損なうことになる。しかしなが
ら、先に述べた様に下部電極に金属膜を使用すると、透
過型LCDの基板における画素部の開口率が低下し、逆
に、下部電極に透明のITOを使用すると、反射型LC
Dの基板においては下部電極と反射電極間で電食が発生
する。このため、反射型LCDの基板と透過型LCDの
基板を別々に作製するしかなかった。
【0125】本実施形態の反射型LCDの基板は、反射
型LCDの基板と透過型LCDの基板の製造工程を図1
8及び図19に示す工程の範囲で、つまり基板上に層間
絶縁膜を積層する直前の工程までを共通化することを可
能にする。
【0126】図20(a)は、本実施形態の反射型LC
Dの基板における画素電極81及びTFT82近傍の断
面構造を示している。基板83上に絶縁膜89を形成
し、この上にITOからなる画素電極81及びTFT8
2を形成し、更に、図20(b)に示す様に層間絶縁膜
84、保護金属膜85及びAlからなる反射電極86を
順次形成し、反射電極86及び保護金属膜85を層間絶
縁膜84のコンタクトホール84aを介して画素電極8
1に接続している。
【0127】この様な構成の本実施形態の基板において
は、図20(a’)に示す様に、コンタクトホール84
aの部位で反射電極86にピンホールやクラック88が
発生して、電解液がピンホールやクラックに浸透して
も、この電解液の浸透が保護金属膜85で阻止されるの
で、Alの反射電極86とITOの画素電極81間の局
部的な電池構造が形成されることはなく、反射電極86
と画素電極81間に電食が発生することはなく、コンタ
クトホール84aの部位で画素電極81が欠損すること
はない。しかも、保護金属膜85が金属製であるから、
保護金属膜85によって反射電極86と画素電極81間
の接続が損なわることはない。
【0128】本実施形態の基板は、反射型LCDのもの
であるが、ITOの画素電極81を採用しているので、
透過型LCDに採用しても、画素部の開口率が低下せず
に済む。該基板を透過型LCDに採用する場合は、反射
型LCDにおける反射電極の代わりとなるITOの透明
電極を層間絶縁膜のコンタクトホールを介してITOの
画素電極81に接続することになる。
【0129】従って、本実施形態の基板は、反射型LC
Dの基板における下部電極と反射電極間の電食を防止す
ることができるだけでなく、透過型LCDの基板におけ
る画素部の開口率を充分に向上させることができる。更
に、このことは、層間絶縁膜を積層する直前の工程ま
で、反射型LCDの基板と透過型LCDの基板、及びそ
れらの基板の製造工程を共通化することを可能にする。
【0130】尚、本実施形態では、ソース電極及びドレ
イン電極をITOの1層のみから形成しているが、これ
らの電極をITOと金属膜の2層構造にしても構わな
い。
【0131】図21及び図22は、図20の基板構造を
採用した透過反射両用型LCDを示す平面図及び断面図
である。この透過反射両用型LCDでは、基板91上に
絶縁膜92を積層して、この上にITOの画素電極9
3、TFT94、信号配線95、層間絶縁膜(図示せ
ず)、及び表示電極96等を形成している。表示電極9
6は、2層構造のAlの反射電極96aとMoの保護金
属膜96b、及びITOの透明電極96cからなる。反
射電極96aには、反射電極の金属光沢を減少させより
「白い」状態に近づけるため、更にあらゆる角度から光
が入射しても表示画面に垂直な方向へ散乱する光の強度
を増加させるために、凹凸を形成している。
【0132】反射電極96aと保護金属膜96bは、層
間絶縁膜のコンタクトホールを介して画素電極93に接
続されている。Alの反射電極96aとITOの画素電
極93間にMoの保護金属膜96bが介在するので、反
射電極96aと画素電極93間の電食の発生が防止され
る。
【0133】基板91下側には、偏光/位相板97及び
バックライト98が重ねられている。基板101下側に
は、カラーフィルター102及びITOの対向電極10
3が積層され、該基板101上側には、偏光/位相板1
04が重ねられている。基板91と基板101間には、
液層層105が挟持されている。
【0134】
【発明の効果】本発明による場合には、反射電極と接続
電極とが接触した状態でレジスト膜の現像が行われるこ
とは皆無であり、従って反射電極がAlで接続電極がI
TOでそれぞれ構成されている場合であっても、局部電
池系の発生に起因する腐食・溶解は発生することがな
く、TFTアレイで制御される反射型液晶表示装置の製
造歩留りを向上できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明が解決する問題を示す図(断面図)であ
り、端子部分に腐食が発生する工程を示している。
【図2】本発明(実施形態1、2)の反射型液晶表示装
置の製造方法の1例を示す工程断面図である。
【図3】実施形態3の反射型液晶表示装置の製造方法の
1例であり、接続電極だけでなく基板全体を保護膜で覆
い、かつ反射電極、保護金属膜、エッチャントの組み合
わせを最適化することで腐食を防ぎつつ、かつ工程数の
短縮化を図った場合のフローを示す工程断面図である。
【図4】(a)はAl/Mo積層構造をエッチングした
場合の積層電極の断面図、(b)はMoにTi(Ta)
を混入した場合、又はエッチング条件を最適化した場合
のAl/Mo積層構造電極の断面図である。
【図5】スイッチング素子としてTFTを用いた場合の
基板の構成を示す図であり、(a)は上面図、(b)は
(a)のA−B線による断面図である。
【図6】層間絶縁膜に凹凸形状を形成するために用いる
フォトマスクの模式図(平面図)であり、(a)は凹凸
形成用のフォトマスク、(b)は平滑化用のフォトマス
クを示す図である。
【図7】層間絶縁膜に凹凸形状を形成する工程のフロー
を示す工程断面図である。
【図8】層間絶縁膜の形成範囲の違いにより生じる問題
を説明するための図であり、(a)はITOからなる冗
長配線が表出し腐食対策を行わない場合、(b)はIT
Oからなる冗長配線が表出し腐食対策を行った場合、
(c)は下部画素電極に加えバス配線も層間絶縁膜で覆
った場合を示す断面図である。
【図9】液晶パネルの全体を示す平面図である。
【図10】層間絶縁膜と保護膜とが理想的にITO電極
をカバーした状態を示す断面図である。
【図11】(a)は層間絶縁膜の下に保護膜が入り込ん
だ場合を示す断面図、(b)は層間絶縁膜と保護膜との
間に間隙がある場合を示す断面図、(c1)は(a)の
場合に起こる層間絶縁膜の浮きが発生した状態を示す断
面図、(c2)は(b)の場合に起こる電食の発生と層
間絶縁膜の浮きが発生した状態を示す断面図である。
【図12】(a)は層間絶縁膜と保護膜との間に間隙が
ある場合を示す断面図、(b)は層間絶縁膜と端子部分
との段差により保護膜に断切れ部分が生じた場合を示す
断面図、(c)は電食の発生と層間絶縁膜の浮きの発生
とを示す断面図である。
【図13】(a)および(b)は本発明の反射型液晶表
示装置の製造方法を用いて、ITOからなる冗長配線と
ITOからなる接続電極との間に間隙を設けた場合を示
す断面図、(c)は電食の発生が無い状態を示す断面図
である。
【図14】(b)は図13(c)の斜視図であり、
(a)はその観察箇所を示す平面図である。
【図15】従来の基板における1画素部分を模式的に示
す平面図である、
【図16】(a)は図15のTFT近傍を示す断面図、
(b)は層間絶縁膜及び反射電極の積層構造を示す斜視
図である。
【図17】(a)は他の従来の基板におけるTFT近傍
を示す断面図、(b)は層間絶縁膜及び反射電極の積層
構造を示す斜視図である。
【図18】反射型LCDの基板と透過型LCDの基板の
従来の製造工程を概略的に示しており、(a)〜(d)
は両者の基板に共通の工程を示し、(e)〜(g)は反
射型LCDの基板の工程を示し、(h)〜(j)は透過
型LCDの基板の工程を示す図である。
【図19】反射型LCDの基板と透過型LCDの基板の
従来の他の製造工程を概略的に示しており、(a)〜
(c)は両者の基板に共通の工程を示し、(d),
(e)は反射型LCDの基板の工程を示し、(f),
(g)は透過型LCDの基板の工程を示す図である。
【図20】(a)は実施形態5の基板における画素電極
及びTFT近傍を示す断面図、(b)は層間絶縁膜及び
反射電極の積層構造を示す斜視図である。
【図21】図20の基板構造を採用した透過反射両用型
LCDを示す平面図である。
【図22】図21の透過反射両用型LCDを示す断面図
である。
【図23】(a)〜(c)は従来技術の課題を説明する
ための工程断面図であり、(d)は電池系のモデルを示
す模式図である。
【符号の説明】
1 ガラス基板 2 バス配線 3 接続電極 4 反射電極 5 フォトレジスト 6 現像液 7 ピンホール等 8 腐食(電食)部分 9 保護膜(または保護金属膜) 10 ゲートバス配線 11 ソースバス配線 12 半導体層 13 下部画素電極 14 n+層 15 i層 16 エッチストッパ 17 TFT素子 18 ソース電極 19 ドレイン電極 20 ゲート電極 21 ゲート絶縁膜 22 透光部 23 遮光部 25 フォトマスクA 27 フォトマスクB 29 層間絶縁膜 30 冗長配線 31 表示エリア 32 表示エリア以外の領域に形成された層間絶縁膜 33 ITO電極 34 入り込む部分 35 間隙 36 断切れ部分 37 Mo膜 38 Al電極 40 Al電極 41 ITO電極 42 コンタクトホール 81 画素電極 82 TFT 83 基板 84 層間絶縁膜 85 保護金属膜 86 反射電極

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 一方が透光性の基板であり、他方が反射
    電極を有する基板である一対の基板間に液晶層が存在
    し、該液晶層に隣接して形成された反射電極と、外部か
    らの信号を入力する手段と液晶表示装置とを接続する接
    続電極を備え、かつ該反射電極と該接続電極とがバス配
    線を介し接続された反射型液晶表示装置の、該反射電極
    を有する基板を製造する方法において、 該反射電極を形成するための基板に、外部からの信号を
    入力するための入力用手段と該接続電極とを形成する工
    程と、 次いで該接続電極の上に保護膜を形成する工程と、 次いで該接続電極上の保護膜が表出された状態で層間絶
    縁膜を形成する工程と、 次いで該層間絶縁膜をパターニングする工程と、 次いで該層間絶縁膜の上に反射電極膜を形成する工程
    と、 次いで該反射電極膜をパターニングし反射電極を形成す
    る工程と、 次いで該接続電極を上部の保護膜を除去して表出させる
    工程とを含む反射型液晶表示装置における基板の製造方
    法。
  2. 【請求項2】 一方が透光性の基板であり、他方が反射
    電極を有する基板である一対の基板間に液晶層が存在
    し、該液晶層に隣接して形成された反射電極と、外部か
    らの信号を入力する手段と液晶表示装置とを接続する接
    続電極を備え、かつ該反射電極と該接続電極とがバス配
    線を介し接続された反射型液晶表示装置の、該反射電極
    を有する基板を製造する方法において、 該反射電極を形成するための基板に、外部からの信号を
    入力するための入力用手段と該接続電極が表出された状
    態で層間絶縁膜を形成する工程と、 次いで該層間絶縁膜をパターニングする工程と、 次いで該層間絶縁膜の上に保護膜を形成する工程と、 次いで反射電極膜を形成する工程と、 次いで該反射電極膜をパターニングして反射電極を形成
    する工程と、 次いで接続電極を上部の保護膜を除去して表出させる工
    程とを含む反射型液晶表示装置における基板の製造方
    法。
  3. 【請求項3】 前記保護膜が金属膜からなる保護金属膜
    であり、かつ前記反射電極膜と、該保護金属膜と、更に
    はそれ以前の工程において作製された金属膜とがエッチ
    ング選択性を有する材料からなることを特徴とする請求
    項1または2に記載の反射型液晶表示装置における基板
    の製造方法。
  4. 【請求項4】 前記反射電極と前記バス配線との間にス
    イッチング素子を設けることを特徴とする請求項1また
    は2に記載の反射型液晶表示装置における基板の製造方
    法。
  5. 【請求項5】 前記スイッチング素子として薄膜トラン
    ジスタを形成することを特徴とする請求項4に記載の反
    射型液晶表示装置における基板の製造方法。
  6. 【請求項6】 前記層間絶縁膜を、少なくとも表示エリ
    アよりも大きな領域を覆うよう形成することを特徴とす
    る請求項1または2に記載の反射型液晶表示装置におけ
    る基板の製造方法。
  7. 【請求項7】 前記層間絶縁膜を、表示エリア内の画素
    以外の部分にも存在するよう形成することを特徴とする
    請求項1または2に記載の反射型液晶表示装置における
    基板の製造方法。
  8. 【請求項8】 前記層間絶縁膜に感光性樹脂を用いるこ
    とを特徴とする請求項1または2に記載の反射型液晶表
    示装置における基板の製造方法。
  9. 【請求項9】 前記感光性樹脂膜の前記反射電極下に相
    当する部分に複数の凹凸形状をパターニング形成するこ
    とを特徴とする請求項8に記載の反射型液晶表示装置に
    おける基板の製造方法。
  10. 【請求項10】 前記接続電極の材料がITOであるこ
    とを特徴とする請求項1または2に記載の反射型液晶表
    示装置における基板の製造方法。
  11. 【請求項11】 前記接続電極の材料がITOであり且
    つ前記反射電極の材料がAlであることを特徴とする請
    求項9に記載の反射型液晶表示装置における基板の製造
    方法。
  12. 【請求項12】 前記保護膜が金属膜からなる保護金属
    膜であり、かつ前記反射電極を形成する材料と、前記保
    護膜を形成する金属とが、同一のエッチャントによりエ
    ッチングされるよう設定されることを特徴とする請求項
    1または2に記載の反射型液晶表示装置における基板の
    製造方法。
  13. 【請求項13】 前記接続電極の材料がITOであり、
    該接続電極の上部に形成される保護金属膜がMoまたは
    Moを主成分とする合金であることを特徴とする請求項
    11に記載の反射型液晶表示装置における基板の製造方
    法。
  14. 【請求項14】 前記接続電極の材料がITOであり、
    該接続電極の上部に形成される保護金属膜がTiもしく
    はTiを主成分とする合金であることを特徴とする請求
    項11に記載の反射型液晶表示装置における基板の製造
    方法。
  15. 【請求項15】 一方が透光性の基板であり、他方が反
    射電極を有する基板である一対の基板間に液晶層が存在
    する反射型液晶表示装置の基板において、 前記反射電極の少なくとも一部分には保護金属膜が重ね
    合わせられ、前記反射電極が前記保護金属膜を介して導
    電部分に接触することを特徴とする反射型液晶表示装置
    の基板。
  16. 【請求項16】 一方が透光性の基板であり、他方がス
    イッチング素子、層間絶縁膜及び反射電極を積層した基
    板である一対の基板間に液晶層が存在する反射型液晶表
    示装置の基板において、 前記層間絶縁膜と前記反射電極間に保護金属膜を介在さ
    せ、該反射電極及び該保護金属膜を前記層間絶縁膜のコ
    ンタクトホールを介して前記スイッチング素子の出力電
    極に接続し、 該スイッチング素子の出力電極を該スイッチング素子の
    信号配線の材料のうちの少なくとも1種類から形成する
    ことを特徴とする反射型液晶表示装置の基板。
  17. 【請求項17】 前記スイッチング素子の出力電極は、
    ITOであることを特徴とする請求項16に記載の反射
    型液晶表示装置の基板。
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