JPH11274509A - 薄膜トランジスタ及び液晶表示装置 - Google Patents

薄膜トランジスタ及び液晶表示装置

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JPH11274509A
JPH11274509A JP10078771A JP7877198A JPH11274509A JP H11274509 A JPH11274509 A JP H11274509A JP 10078771 A JP10078771 A JP 10078771A JP 7877198 A JP7877198 A JP 7877198A JP H11274509 A JPH11274509 A JP H11274509A
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electrode
channel
tft
thin film
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Kyoko Hirai
恭子 平井
Masashi Jinno
優志 神野
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Sanyo Electric Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 水分あるいは不純物イオンによってTFTの
平坦化膜又は層間膜の分極の発生による閾値電圧の変化
を抑制し、欠点が少なく面内で均一な明るさの表示が得
られるTFT及びLCDを提供する。 【解決手段】 絶縁性基板上に、ゲート電極、ゲート絶
縁膜、チャネルを備えた多結晶シリコン膜、チャネル上
に設けたストッパ絶縁膜、層間膜、ソース電極並びにド
レイン電極、平坦化膜及び透明電極を順に備えた薄膜ト
ランジスタであって、ソース電極又はドレイン電極のう
ちいずれか一方の電極がチャネルの上方を覆うようにし
て層間膜上に設けられているTFTである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、平坦化膜を備えた
薄膜トランジスタ(Thin Film Transistor、以下、「T
FT」と称する。)及びそのTFTをスイッチング素子
として用いた液晶表示装置(Liquid Crystal Display、
以下、「LCD」と称する。)に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、アクティブマトリクス方式LCD
の駆動ドライバ素子あるいは画素駆動素子として多結晶
シリコン膜を能動層として用いたTFTの開発が進めら
れている。以下に従来のTFTを備えたLCDについて
説明する。
【0003】図6に従来の画素部のTFTの平面図を示
し、図7にTFTを用いたLCDの図6中のC−C線に
沿った断面図を示す。図6に示すように、画素部のTF
Tは、ゲート信号を供給するゲート信号線Gと映像信号
を供給するドレイン信号線Dとの交差点付近に設けられ
ており、そのソースは表示電極に接続されている。
【0004】図7に従ってTFTの構造について説明す
る。石英ガラス、無アルカリガラス等からなる絶縁性基
板1上に、クロム(Cr)、モリブデン(Mo)などの
高融点金属からなるゲート電極2、ゲート絶縁膜3、及
び多結晶シリコン膜からなる能動層4を順に形成する。
その能動層4には、ゲート電極2上のチャネル7と、チ
ャネル7の両側に、チャネル7上のストッパ8をマスク
にしてイオン注入されて形成されるソース5及びドレイ
ン6が設けられている。
【0005】そして、ゲート絶縁膜3、能動層4及びス
トッパ8上の全面に、SiO2膜9、SiN膜10及び
SiO2膜11の順に積層された層間膜12を形成し、
ドレイン6に対応して設けたコンタクトホールにAl等
の金属を充填してドレイン電極13を形成する。更に全
面に例えば有機樹脂から成り表面を平坦にする平坦化膜
15を形成する。そして、その平坦化膜15のソース5
に対応した位置にコンタクトホールを形成し、このコン
タクトホールを介してドレイン5とコンタクトしたIT
O(Indium Thin Oxide)から成りドレイン電極14を
兼ねた透明電極16を平坦化膜15上に形成する。
【0006】こうして作成されたTFTを備えた絶縁性
基板1と、この基板1に対向した電極等(図略)を備え
た対向基板17とを周辺をシール接着剤18により接着
し、形成された空隙に液晶19を充填する。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところが、こうした従
来のTFTの構造においては、硬化時に発生するシール
接着剤からの不純物あるいは不純物イオン、又は平坦化
膜15と接する液晶19中の水分あるいは不純物イオ
ン、又はシール部の剥がれて浮いた箇所20を介して外
部から進入する水分、あるいは平坦化膜15が大気に触
れることにより付着する大気中の水分等が平坦化膜15
表面に付着しその平坦化膜15表面に電荷を帯びてしま
い、平坦化膜15又は層間膜12のそれぞれの膜の上下
で分極が発生する。
【0008】そのため、TFTにバックチャネルが形成
されてしまい、TFTの閾値電圧が変化してしまうとい
う欠点があった。また、このTFTをLCDに用いた場
合においても、TFTの閾値電圧が増加する方向に変化
するとTFTのオン電流が低下して画素が常に輝く輝点
欠陥が発生し、逆に閾値電圧が減少する方向に変化する
とオフ電流が増加し画素が十分に輝かない滅点欠陥が発
生することになり良好な表示が得られないとともに、ま
た各TFTにおいて閾値電圧がばらつくことになると面
内で均一な明るさの表示を得ることができないという欠
点があった。
【0009】そこで本発明は、上記の従来の欠点に鑑み
て為されたものであり、TFT上の平坦化膜又は層間膜
の分極を抑制させることによって、閾値電圧の安定した
TFT、及び輝点等の欠陥を低減し、面内で均一な明る
さの表示を得ることができるLCDを提供することを目
的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明のTFTは、絶縁
性基板上に、ゲート電極、ゲート絶縁膜、チャネルを備
えた多結晶シリコン膜、このチャネル上に設けたストッ
パ絶縁膜、層間膜、ソース電極並びにドレイン電極、平
坦化膜及び透明電極を順に備えた薄膜トランジスタであ
って、ソース電極又はドレイン電極のうちいずれか一方
の電極がチャネル上方に延在して層間膜上、及び/又は
透明電極がチャネル上方に延在して平坦化膜上に設けら
れている。
【0011】また、本発明のLCDは、上述の薄膜トラ
ンジスタを備えたものである。
【0012】
【発明の実施の形態】以下に本発明のTFTについて説
明する。図1に本発明のTFTの平面図を示し、図2に
図1中のA−A線に沿った断面図を示す。図1に示すよ
うに、ゲート信号線Gとドレイン信号線Dとの交差点付
近に、表示電極16を接続したTFTが設けられてい
る。
【0013】図2に示すように、石英ガラス、無アルカ
リガラス等からなる絶縁性基板1上に、Cr、Mo等の
高融点金属からなるゲート電極2、SiN膜及びSiO
2膜から成るゲート絶縁膜3及び多結晶シリコン膜から
なる能動層4を順に形成する。その能動層4には、ゲー
ト電極2上方のチャネル7と、そのチャネル7の両側に
イオン注入されて形成されたソース5及びドレイン6と
が設けられている。
【0014】チャネル7の上には、ソース5及びドレイ
ン6を形成する際のイオン注入時にチャネル7にイオン
が入らないようにチャネル7を覆うマスクとして機能す
るSiO2膜から成るストッパ8が設けられる。そし
て、ゲート絶縁膜3、能動層4及びストッパ8上の全面
に、SiO2膜9、SiN膜10及びSiO2膜11の
順に積層された層間膜12を形成する。またドレイン6
に対応してその層間膜12に設けたコンタクトホールに
Al等の金属を充填してドレイン電極13を形成する。
そして全面に例えば有機樹脂からなる平坦化膜15を形
成する。この平坦化膜15のソース5に対応した位置に
コンタクトホールを形成し、ソース5にコンタクトした
ITO等の透明導電材料から成りソース電極14を兼ね
た透明電極である表示電極16を形成する。
【0015】このとき、表示電極16は図1及び図2に
示すように、少なくともチャネル7を覆うように形成さ
れている。そうすることで、液晶中の水分あるいはシー
ル接着剤の隙間より進入した水分がチャネル上の平坦化
膜15表面に付着することがないので、分極を防止する
ことができバックチャネルの発生を抑制できる。即ち、
TFTの閾値電圧を安定させることができるため、液晶
表示パネルの面内での輝度のバラツキを減少させること
ができる。
【0016】また、各表示電極に供給される電圧は表示
領域で同じであるから例え表示領域内のある特定の場所
(例えばパネル周辺)のTFTに分極によりバックチャ
ネルが発生することになったとしても、各表示領域には
チャネル上方に設けた表示電極によって同じ電圧が印加
されることから、各表示領域においては同じ程度のバッ
クチャネルの発生となるため各表示領域の明るさは均一
となる。
【0017】なお、上述のTFTをLCDに用いた場合
は、図3に示すように、TFTの構造は、上述の図2に
記載のようにチャネル上方の平坦化膜上に表示電極を配
したTFT構造であり、またLCDの構造は、そのTF
Tを備えた絶縁性基板1と、この基板1に対向した対向
基板17とを周辺をシール接着剤18により接着し、両
基板1,17によって形成された空隙に液晶19を充填
した構造である。
【0018】従って、層間膜、平坦化膜表面への電荷の
蓄積や平坦化膜の上下で分極することを防止でき、閾値
電圧の安定したTFTを用いるため、輝点等の欠陥を低
減し面内で均一な明るさの表示の得られるLCDを得る
ことができる。<第2の実施の形態>以下に本発明の第
2の実施形態について説明する。
【0019】図4に本発明の第2の実施形態のTFTの
平面図を示し、図5に図4中のB−B線に沿った断面図
を示す。図5に示すように、第2の実施形態のTFTの
構造は、第1の実施の形態に示した層間膜12までの構
造と同じである。第1の実施の形態と異なる点は、第1
の実施の形態においては表示電極16が少なくともチャ
ネル7を覆っていたが、本実施の形態ではドレイン電極
13が少なくともチャネル7を覆うようにした点であ
る。
【0020】ドレイン電極13は、ソース6上のコンタ
クトホールにAlを充填して形成する際に、チャネル7
を覆うように延在させることにより形成する。そして、
平坦化膜15及び表示電極16を順次形成してTFTが
完成する。以上より、液晶中の水分あるいはシール接着
剤の隙間より進入した水分がチャネル上の平坦化膜15
表面に付着して分極が発生しても、チャネル7を覆うよ
うに形成したドレイン電極13によって層間膜12に分
極が発生することを防止できるのでバックチャネルの発
生を抑制することができる。
【0021】また、各ドレイン電極に供給される電圧は
表示領域で同じであるから例え表示領域内のある特定の
場所(例えばパネル周辺)のTFTに分極によりバック
チャネルが発生することになったとしても、各表示領域
にはチャネル上方に設けたドレイン電極によって同じ電
圧が印加されることから、同じ程度のバックチャネルの
発生となるため表示領域内において均一な明るさの表示
として見ることができる。
【0022】即ち、TFTの閾値電圧を安定させること
ができるため、液晶表示パネルの面内での輝度のバラツ
キを減少させることができる。なお、本実施の形態にお
いてはドレイン電極13をチャネル7上にチャネルを覆
うように形成したが、ソース電極14をドレイン電極1
3と同時にAlによって形成し、チャネル7上にソース
電極14を延在させて形成しても良い。その際、表示電
極16は、Alから成るソース電極14とコンタクトす
ることになる。
【0023】なお、本実施の形態のTFTをLCDに応
用した場合の構造は、例えば図3に示すLCDを構成す
るTFTを図4に示すTFTに置き換えた構造である。
また、上述の各実施の形態においては、LCDの表示領
域の画素部のTFTについて説明したが、本発明はそれ
に限定されるものではなく、表示領域に走査信号あるい
は映像信号を供給する表示領域周辺の駆動回路中のTF
Tにも適用は可能である。その際は、ITO膜を駆動回
路中のTFT上の層間膜上に設ける。このときのITO
膜の電位はフローティングでもよく、対向基板上の対向
電極と同電位としてもよい。
【0024】そうした場合にも、画素部のTFTと同様
にTFTの閾値電圧の変化がなくなり表示領域への各信
号を安定して供給できるので、良好な表示を得ることが
できる。また、各実施の形態においては、TFTはゲー
トを2つ有するいわゆるダブルゲート構造について説明
したが、ゲートが1つであるいわゆるシングルゲート構
造でも同様の本発明の効果が得られるものである。
【0025】
【発明の効果】本発明によれば、層間膜の上下で分極す
るのを防止できるため、バックチャネル発生を抑制によ
る閾値電圧の安定したTFTを得ることができ、輝点等
の欠陥を低減し面内で均一な明るさの表示の得られるL
CDを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態を示すTFTの平面図であ
る。
【図2】本発明の実施の形態を示すTFTの断面図であ
る。
【図3】本発明の実施の形態を示すLCDの断面図であ
る。
【図4】本発明の実施の形態を示すTFTの平面図であ
る。
【図5】本発明の実施の形態を示すTFTの断面図であ
る。
【図6】従来のTFTの平面図である。
【図7】従来のLCDの断面図である。
【符号の説明】
1 絶縁性基板 2 ゲート電極 4 能動層 5 ソース 6 ドレイン 7 チャネル 8 ストッパ 12 層間膜 15 平坦化膜 16 表示電極

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 絶縁性基板上に、ゲート電極、ゲート絶
    縁膜、チャネルを備えた多結晶シリコン膜、該チャネル
    上に設けたストッパ絶縁膜、層間膜、ソース電極並びに
    ドレイン電極、平坦化膜及び透明電極を順に備えた薄膜
    トランジスタであって、前記ソース電極又はドレイン電
    極のうちいずれか一方の電極が前記チャネル上方に延在
    して前記層間膜上に設けられていることを特徴とする薄
    膜トランジスタ。
  2. 【請求項2】 絶縁性基板上に、ゲート電極、ゲート絶
    縁膜、チャネルを備えた多結晶シリコン膜、該チャネル
    上に設けたストッパ絶縁膜、層間膜、ソース電極並びに
    ドレイン電極、平坦化膜及び透明電極を順に備えた薄膜
    トランジスタであって、前記透明電極が前記チャネル上
    方に延在して前記平坦化膜上に設けられていることを特
    徴とする薄膜トランジスタ。
  3. 【請求項3】 絶縁性基板上に、ゲート電極、ゲート絶
    縁膜、チャネルを備えた多結晶シリコン膜、該チャネル
    上に設けたストッパ絶縁膜、層間膜、ソース電極並びに
    ドレイン電極、平坦化膜及び透明電極を順に備えた薄膜
    トランジスタであって、前記ソース電極又はドレイン電
    極のうちいずれか一方の電極が前記チャネル上方に延在
    して前記層間膜上に設けられているとともに、前記透明
    電極が前記チャネル上方に延在して前記平坦化膜上に設
    けられていることを特徴とする薄膜トランジスタ。
  4. 【請求項4】 請求項1乃至3のうちいずれか1項に記
    載の薄膜トランジスタを備えたことを特徴とする液晶表
    示装置。
JP10078771A 1998-03-26 1998-03-26 薄膜トランジスタ及び液晶表示装置 Pending JPH11274509A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6583471B1 (en) * 1999-06-02 2003-06-24 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device having first and second insulating films
JP4677654B2 (ja) * 2000-04-19 2011-04-27 日本電気株式会社 透過型液晶表示装置及びその製造方法
EP1187220A3 (en) * 2000-09-11 2007-10-10 Kabushiki Kaisha Toshiba MOS field effect transistor with reduced on-resistance
US7433900B2 (en) * 2001-04-03 2008-10-07 Qnx Software Systems Gmbh & Co. Kg Custom filesystem having file mappings to files of a real filesystem
US7047257B2 (en) * 2001-04-03 2006-05-16 Qnx Software Systems Computer file management system
US7440980B2 (en) * 2001-04-03 2008-10-21 Qnx Software Systems Gmbh & Co. Kg Computer file management system
TWI246197B (en) * 2001-09-27 2005-12-21 Prime View Int Corp Ltd TFT LCD structure containing conductive balls and the manufacturing method thereof
US20040252191A1 (en) * 2003-06-13 2004-12-16 Davis J. Roger Automobile entertainment apparatus display with integrated antenna
KR101080356B1 (ko) * 2003-10-13 2011-11-04 삼성전자주식회사 박막 트랜지스터, 박막 트랜지스터 표시판 및 표시 장치
WO2007091191A1 (en) * 2006-02-10 2007-08-16 Koninklijke Philips Electronics N.V. Large area thin film circuits
TW200741383A (en) * 2006-03-29 2007-11-01 Koninkl Philips Electronics Nv Setup for storing data in a holographic storage medium
CN104122721B (zh) * 2013-06-28 2017-02-08 深超光电(深圳)有限公司 像素结构

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5599762A (en) * 1979-01-26 1980-07-30 Hitachi Ltd Semiconductor memory device
EP0499979A3 (en) * 1991-02-16 1993-06-09 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Electro-optical device
JPH0572562A (ja) * 1991-09-18 1993-03-26 Seiko Epson Corp アクテイブマトリクス型表示装置
JP2924506B2 (ja) * 1992-10-27 1999-07-26 日本電気株式会社 アクティブマトリックス型液晶表示装置の画素構造
JP3281700B2 (ja) 1993-12-22 2002-05-13 三菱電機株式会社 半導体装置
JP3377853B2 (ja) 1994-03-23 2003-02-17 ティーディーケイ株式会社 薄膜トランジスタの作製方法
JPH07302912A (ja) * 1994-04-29 1995-11-14 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 半導体装置
US5796116A (en) 1994-07-27 1998-08-18 Sharp Kabushiki Kaisha Thin-film semiconductor device including a semiconductor film with high field-effect mobility
JPH08122768A (ja) * 1994-10-19 1996-05-17 Sony Corp 表示装置
KR100204071B1 (ko) * 1995-08-29 1999-06-15 구자홍 박막트랜지스터-액정표시장치 및 제조방법
JP3604106B2 (ja) 1995-09-27 2004-12-22 シャープ株式会社 液晶表示装置
JP3409542B2 (ja) 1995-11-21 2003-05-26 ソニー株式会社 半導体装置の製造方法
JP3784478B2 (ja) * 1995-11-24 2006-06-14 株式会社半導体エネルギー研究所 表示装置及び表示装置の作製方法
KR100186548B1 (ko) 1996-01-15 1999-05-01 구자홍 액정표시장치의 구조
JP3439014B2 (ja) * 1996-02-29 2003-08-25 三洋電機株式会社 液晶表示装置
JP3535307B2 (ja) 1996-03-15 2004-06-07 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置
JP3708637B2 (ja) 1996-07-15 2005-10-19 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置
JP3669082B2 (ja) * 1996-10-17 2005-07-06 ソニー株式会社 液晶表示素子用薄膜トランジスタアレイ
US5879959A (en) 1997-01-17 1999-03-09 Industrial Technology Research Institute Thin-film transistor structure for liquid crystal display

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