JPH11271238A - プラスチック容器の天面部の検査方法 - Google Patents
プラスチック容器の天面部の検査方法Info
- Publication number
- JPH11271238A JPH11271238A JP9543698A JP9543698A JPH11271238A JP H11271238 A JPH11271238 A JP H11271238A JP 9543698 A JP9543698 A JP 9543698A JP 9543698 A JP9543698 A JP 9543698A JP H11271238 A JPH11271238 A JP H11271238A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 プラスチック容器の天面部における検査効率
を上げること、特に、天面部における割れの検出を完全
に行う事ができるプラスチック容器の天面部の検査方法
を提供する。 【解決手段】 ワーク天面部の検査Ｓをワーク天面Ｗ１
の上部に配置された第１光源１１を照射して第１カメラ
１２によってワーク天面Ｗ１の画像を取り込んで光学的
検査を行う第１検査ステージＳ１と、ワーク天面Ｗ１の
側部に配置された第２光源１５を照射して第２カメラ１
６によってワーク天面Ｗ１の画像を取り込んで光学的検
査を行う第２検査ステージＳ２と、ワーク天面Ｗ１の側
部に前記第２光源１５と略９０度の角度向きを変えて配
置された第３光源２１を照射して第３カメラ２２によっ
てワーク天面Ｗ１の画像を取り込んで光学的検査を行う
第３検査ステージＳ３とで構成する。
を上げること、特に、天面部における割れの検出を完全
に行う事ができるプラスチック容器の天面部の検査方法
を提供する。 【解決手段】 ワーク天面部の検査Ｓをワーク天面Ｗ１
の上部に配置された第１光源１１を照射して第１カメラ
１２によってワーク天面Ｗ１の画像を取り込んで光学的
検査を行う第１検査ステージＳ１と、ワーク天面Ｗ１の
側部に配置された第２光源１５を照射して第２カメラ１
６によってワーク天面Ｗ１の画像を取り込んで光学的検
査を行う第２検査ステージＳ２と、ワーク天面Ｗ１の側
部に前記第２光源１５と略９０度の角度向きを変えて配
置された第３光源２１を照射して第３カメラ２２によっ
てワーク天面Ｗ１の画像を取り込んで光学的検査を行う
第３検査ステージＳ３とで構成する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明はプラスチック容器
の天面部の検査方法に関する。
の天面部の検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】例えば乳酸菌飲料用の小型のプラスチッ
ク容器は、通常、ブロー成形によって連続的に成形され
る。このプラスチック成形容器は中身飲料の充填に先立
って、各種の外観検査がなされる。その主なものとして
は、容器側面における成形不良や汚れ等を検査する側面
検査、容器底面の成形不良ならびに内底面の異物等を検
査する底内面検査、および容器口部における成形不良や
汚れ等を検査する天面検査がある。このうち、天面検査
では、容器口部におけるバリ（突起物）や割れ等は安全
使用上の重度の欠陥とされる。
ク容器は、通常、ブロー成形によって連続的に成形され
る。このプラスチック成形容器は中身飲料の充填に先立
って、各種の外観検査がなされる。その主なものとして
は、容器側面における成形不良や汚れ等を検査する側面
検査、容器底面の成形不良ならびに内底面の異物等を検
査する底内面検査、および容器口部における成形不良や
汚れ等を検査する天面検査がある。このうち、天面検査
では、容器口部におけるバリ（突起物）や割れ等は安全
使用上の重度の欠陥とされる。
【０００３】しかるに、従来一般の天面検査としては、
被検査物であるワーク天面の上部に光源を配置して、カ
メラによってこの光源によって照射されたワーク天面の
画像を取り込んで光学的検査を行うのが通常であった。
しかしながら、このワーク天面の上部からの照射光源で
は、バリ等の突起物に対する検出は効果的であるが、天
面部に内在する割れについては、光源の照射方向が正面
となるので、照射光が透過して検出不能になることがし
ばしばあった。特に、前記のような小型のブロー成形容
器等にあっては、割れが極めて微細な線条となるので検
出率が低いという問題があった。
被検査物であるワーク天面の上部に光源を配置して、カ
メラによってこの光源によって照射されたワーク天面の
画像を取り込んで光学的検査を行うのが通常であった。
しかしながら、このワーク天面の上部からの照射光源で
は、バリ等の突起物に対する検出は効果的であるが、天
面部に内在する割れについては、光源の照射方向が正面
となるので、照射光が透過して検出不能になることがし
ばしばあった。特に、前記のような小型のブロー成形容
器等にあっては、割れが極めて微細な線条となるので検
出率が低いという問題があった。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】この発明は、このよう
な問題点に鑑み、プラスチック容器の天面部における検
査効率を上げること、特に、天面部における割れの検出
を完全に行う事ができるプラスチック容器の天面部の検
査方法を提案するものである。
な問題点に鑑み、プラスチック容器の天面部における検
査効率を上げること、特に、天面部における割れの検出
を完全に行う事ができるプラスチック容器の天面部の検
査方法を提案するものである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】すなわち、この発明は、
ワーク天面の上部に配置された第１光源を照射して第１
カメラによってワーク天面の画像を取り込んで光学的検
査を行う第１検査ステージと、ワーク天面の側部に配置
された第２光源を照射して第２カメラによってワーク天
面の画像を取り込んで光学的検査を行う第２検査ステー
ジと、ワーク天面の側部に前記第２光源と略９０度の角
度向きを変えて配置された第３光源を照射して第３カメ
ラによってワーク天面の画像を取り込んで光学的検査を
行う第３検査ステージとからなることを特徴とするプラ
スチック容器の天面部の検査方法に係る。
ワーク天面の上部に配置された第１光源を照射して第１
カメラによってワーク天面の画像を取り込んで光学的検
査を行う第１検査ステージと、ワーク天面の側部に配置
された第２光源を照射して第２カメラによってワーク天
面の画像を取り込んで光学的検査を行う第２検査ステー
ジと、ワーク天面の側部に前記第２光源と略９０度の角
度向きを変えて配置された第３光源を照射して第３カメ
ラによってワーク天面の画像を取り込んで光学的検査を
行う第３検査ステージとからなることを特徴とするプラ
スチック容器の天面部の検査方法に係る。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下添付の図面に従ってこの発明
を詳細に説明する。図１はこの発明の天面部の検査方法
を含むプラスチック容器の各種外観検査の全体構成を表
す概略平面図、図２はこの発明の天面検査の第１検査ス
テージを表す概略側面図、図３は同じく第２若しくは第
３検査ステージを表す概略側面図、図４は第２及び第３
検査ステージにおけるワーク天面に対する有効検出範囲
を表す概略平面図である。
を詳細に説明する。図１はこの発明の天面部の検査方法
を含むプラスチック容器の各種外観検査の全体構成を表
す概略平面図、図２はこの発明の天面検査の第１検査ス
テージを表す概略側面図、図３は同じく第２若しくは第
３検査ステージを表す概略側面図、図４は第２及び第３
検査ステージにおけるワーク天面に対する有効検出範囲
を表す概略平面図である。
【０００７】図１の平面図に図示したように、プラスチ
ック容器口部における成形不良や汚れ等を検査する天面
部の検査Ｓは、容器側面における成形不良や汚れ等を検
査する側面検査Ｂ１，Ｂ２および容器底面の成形不良な
らびに内底面の異物等を検査する底内面検査Ａと併せ
て、中身飲料の充填前の容器の外観検査の一検査として
行われる。前記外観検査の各検査は、等間隔、かつ一定
速度で搬送されるワークＷ（この実施例では、乳酸菌飲
料用の小型のプラスチック容器）を光電管（図示せず）
で検知し、それぞれの光源によりワークＷを照射して、
それぞれのカメラで画像を取り込み、公知の手法により
画像処理を施す公知の光学的検査によって行われる。ま
た、この例の外観検査においては、底内面検査Ａ、第１
側面検査Ｂ１、天面検査Ｓ、第２側面検査Ｂ２の順に行
われ（なお、検査順序は適宜変わる）、各検査によって
不良品と判断されたワークＷは、不良品排出部Ｅで電磁
弁４０によるエアーブロー等によって除去される。図に
おいて、符号ＣはワークＷの搬送路（コンベア）、３１
は底内面検査Ａ用光源、３２は底内面検査Ａ用カメラ、
３３は第１側面検査Ｂ１用光源、３４は第１側面検査Ｂ
１用カメラ、３５は第２側面検査Ｂ２用光源、３６は第
２側面検査Ｂ２用カメラを表す。
ック容器口部における成形不良や汚れ等を検査する天面
部の検査Ｓは、容器側面における成形不良や汚れ等を検
査する側面検査Ｂ１，Ｂ２および容器底面の成形不良な
らびに内底面の異物等を検査する底内面検査Ａと併せ
て、中身飲料の充填前の容器の外観検査の一検査として
行われる。前記外観検査の各検査は、等間隔、かつ一定
速度で搬送されるワークＷ（この実施例では、乳酸菌飲
料用の小型のプラスチック容器）を光電管（図示せず）
で検知し、それぞれの光源によりワークＷを照射して、
それぞれのカメラで画像を取り込み、公知の手法により
画像処理を施す公知の光学的検査によって行われる。ま
た、この例の外観検査においては、底内面検査Ａ、第１
側面検査Ｂ１、天面検査Ｓ、第２側面検査Ｂ２の順に行
われ（なお、検査順序は適宜変わる）、各検査によって
不良品と判断されたワークＷは、不良品排出部Ｅで電磁
弁４０によるエアーブロー等によって除去される。図に
おいて、符号ＣはワークＷの搬送路（コンベア）、３１
は底内面検査Ａ用光源、３２は底内面検査Ａ用カメラ、
３３は第１側面検査Ｂ１用光源、３４は第１側面検査Ｂ
１用カメラ、３５は第２側面検査Ｂ２用光源、３６は第
２側面検査Ｂ２用カメラを表す。
【０００８】そして、この発明に係る天面部の検査Ｓ方
法は、図示されるように、第１検査ステージＳ１と第２
検査ステージＳ２と第３検査ステージＳ３とからなる。
なお、これらの検査ステージの順序は適宜変えることが
できる。
法は、図示されるように、第１検査ステージＳ１と第２
検査ステージＳ２と第３検査ステージＳ３とからなる。
なお、これらの検査ステージの順序は適宜変えることが
できる。
【０００９】第１検査ステージＳ１では、図２に示すよ
うに、ワークＷの天面Ｗ１の上部に配置された第１光源
１１から、該ワーク天面Ｗ１に対し垂直方向に光を照射
して、第１カメラ１２によってワーク天面Ｗ１の画像を
取り込んで光学的検査を行う。この第１検査ステージＳ
１によって、容器口部におけるバリのような突起物欠陥
やメクレ欠陥等が検出される。なお、この第１検査ステ
ージＳ１は、従来の天面検査手段と同じである。
うに、ワークＷの天面Ｗ１の上部に配置された第１光源
１１から、該ワーク天面Ｗ１に対し垂直方向に光を照射
して、第１カメラ１２によってワーク天面Ｗ１の画像を
取り込んで光学的検査を行う。この第１検査ステージＳ
１によって、容器口部におけるバリのような突起物欠陥
やメクレ欠陥等が検出される。なお、この第１検査ステ
ージＳ１は、従来の天面検査手段と同じである。
【００１０】第２検査ステージＳ２では、図３および図
４に示すように、ワーク天面Ｗ１の側部に配置された第
２光源１５から、該ワーク天面Ｗ１に対し直角方向に光
を照射して、第２カメラ１６によってワーク天面Ｗ１の
画像を取り込んで光学的検査を行う。この第２検査ステ
ージＳ２によって、天面部Ｗ１の所定領域に内在する割
れＮ欠陥が検出される。このように側部の光源からワー
ク天面Ｗ１に対し直角方向に光を照射することによっ
て、天面に対し垂直方向に光を照射した場合のように光
が透過せず、従って内在する割れＮを光の変化によって
検出することが可能となる。
４に示すように、ワーク天面Ｗ１の側部に配置された第
２光源１５から、該ワーク天面Ｗ１に対し直角方向に光
を照射して、第２カメラ１６によってワーク天面Ｗ１の
画像を取り込んで光学的検査を行う。この第２検査ステ
ージＳ２によって、天面部Ｗ１の所定領域に内在する割
れＮ欠陥が検出される。このように側部の光源からワー
ク天面Ｗ１に対し直角方向に光を照射することによっ
て、天面に対し垂直方向に光を照射した場合のように光
が透過せず、従って内在する割れＮを光の変化によって
検出することが可能となる。
【００１１】ただし、側部から光を照射した場合には、
光の照射範囲に制限ができる。図４に示すように、第２
検査ステージＳ２における光源１５による光の照射範
囲、つまり天面部Ｗ１における有効検査範囲（所定領
域）は、天面部Ｗ１の中央側部分を除く両側部分、すな
わち、図４の符号ａ−ｂまでの領域とｃ−ｄまでの領域
（図示で斜線で示された部分）である。これらの符号ａ
−ｂまでの領域とｃ−ｄまでの領域では、天面に内在す
る割れＮを光の変化部（率）として捉え、欠陥の検出が
可能である。これに対して、天面部Ｗ１の中央側部分ｂ
−ｃ，ｄ−ａの領域では検出が困難である。
光の照射範囲に制限ができる。図４に示すように、第２
検査ステージＳ２における光源１５による光の照射範
囲、つまり天面部Ｗ１における有効検査範囲（所定領
域）は、天面部Ｗ１の中央側部分を除く両側部分、すな
わち、図４の符号ａ−ｂまでの領域とｃ−ｄまでの領域
（図示で斜線で示された部分）である。これらの符号ａ
−ｂまでの領域とｃ−ｄまでの領域では、天面に内在す
る割れＮを光の変化部（率）として捉え、欠陥の検出が
可能である。これに対して、天面部Ｗ１の中央側部分ｂ
−ｃ，ｄ−ａの領域では検出が困難である。
【００１２】そこで、第３検査ステージＳ３では、図３
および図４に示すように、ワーク天面Ｗ１の側部に前記
第２光源１５と略９０度の角度向きを変えて配置された
第３光源２１を照射して第３カメラに２２よってワーク
天面Ｗ１の画像を取り込んで光学的検査を行う。この第
３検査ステージＳ３によって、少なくとも前記第２検査
ステージＳ２で検出不能とされた天面部Ｗ１の中央側部
分ｂ−ｃ，ｄ−ａの領域において、該天面部Ｗ１に内在
する割れＮ欠陥を検出することができる。当該第３検査
ステージＳ３における有効検出範囲は、図４の符号ｂ−
ｃまでの領域とｄ−ａまでの領域（図示で斜線で示され
た部分）である。このように、第２検査ステージＳと第
３検査ステージＳ３を併せて行えば、天面Ｗ１全周の割
れ欠陥を漏れなく確実に検出することができる。
および図４に示すように、ワーク天面Ｗ１の側部に前記
第２光源１５と略９０度の角度向きを変えて配置された
第３光源２１を照射して第３カメラに２２よってワーク
天面Ｗ１の画像を取り込んで光学的検査を行う。この第
３検査ステージＳ３によって、少なくとも前記第２検査
ステージＳ２で検出不能とされた天面部Ｗ１の中央側部
分ｂ−ｃ，ｄ−ａの領域において、該天面部Ｗ１に内在
する割れＮ欠陥を検出することができる。当該第３検査
ステージＳ３における有効検出範囲は、図４の符号ｂ−
ｃまでの領域とｄ−ａまでの領域（図示で斜線で示され
た部分）である。このように、第２検査ステージＳと第
３検査ステージＳ３を併せて行えば、天面Ｗ１全周の割
れ欠陥を漏れなく確実に検出することができる。
【００１３】このように、この方法発明においては、第
１検査ステージＳ１によってバリ等の突起物欠陥やメク
レ欠陥等を検出するとともに、第２検査ステージＳ２お
よび第３検査ステージＳ３によって、従来において検出
率が低い割れ欠陥を完全に検出することができ、検査効
率は飛躍的に向上する。
１検査ステージＳ１によってバリ等の突起物欠陥やメク
レ欠陥等を検出するとともに、第２検査ステージＳ２お
よび第３検査ステージＳ３によって、従来において検出
率が低い割れ欠陥を完全に検出することができ、検査効
率は飛躍的に向上する。
【００１４】
【発明の効果】以上図示し説明したように、この発明に
係るプラスチック容器の天面部の検査方法よれば、ワー
ク天面の上部に配置された第１光源を照射して行う第１
検査ステージでバリ等の突起物欠陥やメクレ欠陥等を検
出し、かつワーク天面の側部に配置された第２光源およ
び第３光源を照射して行う第２検査ステージおよび第３
検査ステージで割れ欠陥を完全に検出することができ、
検査効率は飛躍的に向上する。また、第３検査ステージ
の第３光源を第２検査ステージの第２光源と略９０度の
角度向きを変えて配置するようにすれば、天面全周の割
れ欠陥を漏れなく確実に検出することができる。
係るプラスチック容器の天面部の検査方法よれば、ワー
ク天面の上部に配置された第１光源を照射して行う第１
検査ステージでバリ等の突起物欠陥やメクレ欠陥等を検
出し、かつワーク天面の側部に配置された第２光源およ
び第３光源を照射して行う第２検査ステージおよび第３
検査ステージで割れ欠陥を完全に検出することができ、
検査効率は飛躍的に向上する。また、第３検査ステージ
の第３光源を第２検査ステージの第２光源と略９０度の
角度向きを変えて配置するようにすれば、天面全周の割
れ欠陥を漏れなく確実に検出することができる。
【図１】この発明の天面部の検査方法を含むプラスチッ
ク容器の各種外観検査の全体構成を表す概略平面図であ
る。
ク容器の各種外観検査の全体構成を表す概略平面図であ
る。
【図２】この発明の天面検査の第１検査ステージを表す
概略側面図である。
概略側面図である。
【図３】同じく第２若しくは第３検査ステージを表す概
略側面図である。
略側面図である。
【図４】第２及び第３検査ステージにおけるワーク天面
に対する有効検出範囲を表す概略平面図である。
に対する有効検出範囲を表す概略平面図である。
１１ 第１光源 １２ 第１カメラ １５ 第２光源 １６ 第２カメラ ２１ 第３光源 ２２ 第３カメラ Ｗ ワーク Ｗ１ ワーク天面 Ｓ 天面部の検査 Ｓ１ 第１検査ステージ Ｓ２ 第２検査ステージ Ｓ３ 第３検査ステージ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 甲斐 千束 東京都港区東新橋１丁目１番19号 株式会 社ヤクルト本社内 (72)発明者 寺本 忠義 大阪市西成区玉出西１丁目16番５号 東邦 商事株式会社内
Claims (1)
- 【請求項１】 ワーク天面の上部に配置された第１光源
を照射して第１カメラによってワーク天面の画像を取り
込んで光学的検査を行う第１検査ステージと、 ワーク天面の側部に配置された第２光源を照射して第２
カメラによってワーク天面の画像を取り込んで光学的検
査を行う第２検査ステージと、 ワーク天面の側部に前記第２光源と略９０度の角度向き
を変えて配置された第３光源を照射して第３カメラによ
ってワーク天面の画像を取り込んで光学的検査を行う第
３検査ステージとからなることを特徴とするプラスチッ
ク容器の天面部の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9543698A JPH11271238A (ja) | 1998-03-23 | 1998-03-23 | プラスチック容器の天面部の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9543698A JPH11271238A (ja) | 1998-03-23 | 1998-03-23 | プラスチック容器の天面部の検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11271238A true JPH11271238A (ja) | 1999-10-05 |
Family
ID=14137657
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9543698A Pending JPH11271238A (ja) | 1998-03-23 | 1998-03-23 | プラスチック容器の天面部の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11271238A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004347449A (ja) * | 2003-05-22 | 2004-12-09 | N Tech:Kk | 容器の天面部の検査方法 |
| JP2005265812A (ja) * | 2004-03-22 | 2005-09-29 | Aohata Corp | 密封容器の検査方法及び内容物入り密封容器製品の製造方法 |
| JP2013525804A (ja) * | 2010-05-04 | 2013-06-20 | サノフィ−アベンティス・ドイチュラント・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | ガラス体中の欠陥の検出用デバイス及び方法 |
| JP2015010967A (ja) * | 2013-06-29 | 2015-01-19 | 富士電機株式会社 | 容器ブロック体検査装置 |
-
1998
- 1998-03-23 JP JP9543698A patent/JPH11271238A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004347449A (ja) * | 2003-05-22 | 2004-12-09 | N Tech:Kk | 容器の天面部の検査方法 |
| JP2005265812A (ja) * | 2004-03-22 | 2005-09-29 | Aohata Corp | 密封容器の検査方法及び内容物入り密封容器製品の製造方法 |
| JP2013525804A (ja) * | 2010-05-04 | 2013-06-20 | サノフィ−アベンティス・ドイチュラント・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | ガラス体中の欠陥の検出用デバイス及び方法 |
| JP2015010967A (ja) * | 2013-06-29 | 2015-01-19 | 富士電機株式会社 | 容器ブロック体検査装置 |
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