JP4288104B2 - 容器の天面部の検査方法 - Google Patents
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 99
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 12
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 15
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
この発明は容器の天面部の検査方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】
例えばプラスチック容器の天面部に内在する割れ等の欠陥を検査する方法として、本出願人は、先に、光の透過性を利用して光の屈折により反射光又は影を作出し欠陥を強調して光学的検査を行うことを提案した（特許文献１参照。）。先に提案した方法によれば、第１の検査ポジションでワーク天面部に対して第１光源を照射して第１検査カメラによって第１の検査画像を取り込み、次いで第２の検査ポジションで前記第１光源と略９０度の角度向きを変えて配置された第２光源を照射して第２検査カメラによって第２の検査画像を取り込んで、ワーク天面全周の検査を行っていた。
【０００３】
しかるに、上述の検査方法によれば、天面部の検査を２つの検査ポジションで行っているため、検査設備が場所を取り煩雑になるばかりでなく、検査の処理効率も悪くなる嫌いがあった。
【０００４】
【特許文献１】
特開平１１−２７１２３８号公報 （第１−３頁、第１−４図）
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】
この発明は、このような状況に鑑み提案されたものであって、検査ポジションを単一化して検査設備の小型化、単純化を図り、その処理効率を向上させることができる容器の天面部の検査方法を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
すなわち、請求項１の発明は、連続的に移送されるワークに対して回転するスターホイールの外側位置に単一の検査ポジションを設け、当該検査ポジションに垂直軸方向の光軸と水平軸方向の光軸に分光するハーフミラーを介してワーク天面部を撮像する第１検査カメラと第２検査カメラとを配置するとともに、ワーク天面部に対して対向する光を照射する第１光源と前記第１光源と照射角度位置を異にして対向する光を照射する第２光源をそれぞれ配置して、前記第１光源を照射してワーク天面部の第１画像を前記ハーフミラーの垂直軸方向の光軸を介して前記第１検査カメラに取り込み、前記第１光源を照射の直後に前記第２光源を照射してワーク天面部の前記第１画像と角度位置を略９０度異にする第２画像を前記ハーフミラーの水平軸方向の光軸を介して前記第２検査カメラに瞬時に取り込んでワーク天面部の検査を行うことを特徴とする容器の天面部の検査方法に係る。
【０００７】
また、請求項２の発明は、請求項１において、前記第１光源を照射の１０００分の１秒後に前記第２光源を照射する容器の天面部の検査方法に係る。
【０００８】
【発明の実施の形態】
以下添付の図面に従ってこの発明を詳細に説明する。図１はこの発明の一実施例を表す検査ポジションにおける要部の概略平面図、図２は検査ポジションにおける要部の概略側面図、図３はワーク天面部の第１画像及び第２画像の取り込み状態を表す概略平面図、図４は第１画像による検査範囲を示す概略平面図、図５は第２画像による検査範囲を示す概略平面図、図６はこの発明の実施例を表す検査ポジションにおける要部の概略側面図である。
【０００９】
図１に図示したように、この発明はプラスチック容器等のワークＷの口部の天面部Ｔの割れ等の欠陥を検査する方法に関し、前記のようにワークＷの天面部Ｔに対し対向する光の透過性を利用して、光の屈折により反射光又は影を作出し欠陥を強調して光学的に検査するものである。図示しない容器製造装置によって製造された容器は、コンベアによって連続的に移送され、その移送路の途中に検査ポジションＰが設けられる。この実施例では、検査ポジションＰは回転するスターホイール５０の外側位置に設けられている。このようにスターホイール５０を用いてその切欠保持部５１，５１によって１個ずつワークＷを個別化させると、ワークＷの特定が容易で、検査後の不良品の排出を確実に行うことができ高速の検査にも対応することが可能となる。図２の符号５２はスターホイール５０の駆動装置、５３はその回転軸である。なお、図１の符号５５は送り出し用のスターホイールである。
【００１０】
検査ポジションＰは図のように単一ポジションとして設けられていて、該検査ポジションＰには、ワーク天面部Ｔを撮像する検査カメラ１０と、ワーク天面部Ｔに対して対向する光を照射する第１光源２０，２１と前記第１光源２０，２１と照射角度位置を異にして対向する光を照射する第２光源３０，３１とが配置されている。図２の符号１５は検査カメラ１０に接続された公知の画像処理装置である。
【００１１】
検査カメラ１０は、図２のように、前記ワークＷの上方に配置されてワーク天面部Ｔを撮像するものである。この例では、前記検査カメラ１０は公知のＣＣＤカメラで構成される。図２では、単一の検査カメラ１０が配置された例が示されている。
【００１２】
第１光源２０，２１は、図１及び図２に図示したように、ワークＷの側部上方に配置されて、ワーク天面部Ｔに対して対向する光を照射する。また、第２光源３０，３１は、前記第１光源２０，２１と照射角度位置を異にして配置されていて、ワーク天面部Ｔに対して対向する光を照射する。これらの第１光源２０，２１及び第２光源３０，３１は、前記ワーク天面部Ｔに対して透過光を照射して、光の屈折により割れ等の欠陥に反射光又は影を作出して当該欠陥を強調する。この例では、第１光源２０，２１及び第２光源３０，３１として公知のストロボ光源を使用している。図２の符号６０は支持金具である。
【００１３】
この発明にあっては、スターホイール５０の切欠保持部５１に保持されたワークＷが所定速度で移送されて検査ポジションＰに至ると、図３からもよく理解されるように、前記第１光源２０，２１が照射されてワーク天面部Ｔの第１画像Ｇ１（図４）が検査カメラ１０に取り込まれ、その直後に、第２光源３０，３１を照射してワーク天面部Ｔの第２画像Ｇ２（図５）が前記検査カメラ１０に取り込まれる。この例では、第２光源３０，３１の照射は第１光源２０，２１による照射の１０００分の１秒（１ｍｓｅｃ）後に行われており、この間のワークＷの移動距離は約１ｍｍである。
【００１４】
図４は第１光源２０，２１が照射されて検査カメラ１０に取り込まれたワーク天面部Ｔの第１画像Ｇ１であり、この画像Ｇ１では、対向する透過光によって、図の斜線部分Ｘ１，Ｘ２部分の欠陥検査が行われる。これに対して、図５は第２光源３０，３１が照射されて検査カメラ１０に取り込まれワーク天面部Ｔの第２画像Ｇ２であり、この画像Ｇ２では、同様に、図の斜線部分Ｙ１，Ｙ２部分の欠陥検査が行われる。なお、欠陥の光学的検査は、公知の画像処理装置１５によって行われる。
【００１５】
検査カメラ１０に取り込まれるワーク天面部Ｔの画像は、図４及び図５に図示したように、第１画像Ｇ１と第２画像Ｇ２の角度位置が略９０度異にすることが、ワーク天面部Ｔの全周を効果的に検査する上で好ましい。この場合には、第１光源２０，２１と第２光源３０，３１の照射角度を効果的に配置すればよい。
【００１６】
図６はこの発明の実施例に係る。この例では、第１画像Ｇ１が第１検査カメラ１１によって取り込まれ、第２画像Ｇ２が第２検査カメラ１２によって取り込まれるようになっている。前記したように、単一の検査ポジションＰで検査を行う場合には、第１画像Ｇ１と第２画像Ｇ２の取り込みを瞬時に行わなければならない。例えば前記容器の生産能力が１分間に８００個である場合には、これに対応する高速検査が要求されるのであるが、これを単一の検査カメラで行うためには、前記第１画像Ｇ１及び第２画像Ｇ２を０．０７５秒（７５ｍｓｅｃ）以内に取り込みかつ処理することが必要である。このような処理は不可能ではないが、経済性等を考慮すると、２台の検査カメラ１１，１２で処理したほうが有利である。
【００１７】
この場合において、図６に図示したように、第１検査カメラ１１及び第２検査カメラ１２がハーフミラー１３を介して配置することが、単一の検査ポジションＰで検査する上で好ましい。このハーフミラー１３は、図示のように、第１検査カメラ１１の垂直軸方向の光軸Ａと第２検査カメラ１２の水平軸方向の光軸Ｂに分光して、第１検査カメラ１１によって前記第１光源２０，２１を照射して第１画像Ｇ１を取り込み、その直後に第２検査カメラ１２によって前記第２光源３０，３１を照射して第２画像Ｇ２を取り込むようになっている。なお、この例の検査カメラ１１，１２のシャッタースピードは０．０４秒（４０ｍｓｅｃ）である。図６において図２と共通符号は同一構成部材を表す。
【００１８】
【発明の効果】
以上図示し説明したように、この発明の容器の天面部の検査方法によれば、連続的に移送されるワークに対して回転するスターホイールの外側位置に単一の検査ポジションを設け、当該検査ポジションに垂直軸方向の光軸と水平軸方向の光軸に分光するハーフミラーを介してワーク天面部を撮像する第１検査カメラと第２検査カメラとを配置するとともに、ワーク天面部に対して対向する光を照射する第１光源と前記第１光源と照射角度位置を異にして対向する光を照射する第２光源をそれぞれ配置して、前記第１光源を照射してワーク天面部の第１画像を前記ハーフミラーの垂直軸方向の光軸を介して前記第１検査カメラに取り込み、前記第１光源を照射の直後に前記第２光源を照射してワーク天面部の前記第１画像と角度位置を略９０度異にする第２画像を前記ハーフミラーの水平軸方向の光軸を介して前記第２検査カメラに瞬時に取り込んでワーク天面部の検査を行うようにしたものであるから、検査ポジションを単一化して検査設備の小型化、単純化を図り、高速の検査にも対応することが可能となって、その処理効率を向上させることができるようになった。
【００１９】
また、この発明によれば、前記第１画像が第１検査カメラによって取り込まれ、前記第２画像が第２検査カメラによって取り込まれるものであるから、検査の高速化にも経済的に対応することができる。
【００２０】
さらに、前記第１検査カメラ及び第２検査カメラがハーフミラーを介して配置されたものであるから、簡単な部材によって２台の検査カメラによる単一の検査ポジションでの検査を効率良くかつ確実に行うことができる。
【００２１】
特に、前記第１画像と第２画像の角度位置が略９０度異にすることにより、ワーク天面部の全周を効率良くかつ確実に検査することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 この発明の一実施例を表す検査ポジションにおける要部の概略平面図である。
【図２】 検査ポジションにおける要部の概略側面図である。
【図３】 ワーク天面部の第１画像及び第２画像の取り込み状態を表す概略平面図である。
【図４】 第１画像による検査範囲を示す概略平面図である。
【図５】 第２画像による検査範囲を示す概略平面図である。
【図６】 この発明の実施例を表す検査ポジションにおける要部の概略側面図である。
【符号の説明】
１０ 検査カメラ
１１ 第１検査カメラ
１２ 第２検査カメラ
１３ ハーフミラー
１５ 画像処理装置
２０，２１ 第１光源
３０，３１ 第２光源
５０ スターホイール
５１ 切欠保持部
Ｐ 検査ポジション
Ｗ ワーク
Ｔ ワーク天面部
Ｇ１ 第１画像
Ｇ２ 第２画像
Claims (2)
- 連続的に移送されるワークに対して回転するスターホイールの外側位置に単一の検査ポジションを設け、当該検査ポジションに垂直軸方向の光軸と水平軸方向の光軸に分光するハーフミラーを介してワーク天面部を撮像する第１検査カメラと第２検査カメラとを配置するとともに、ワーク天面部に対して対向する光を照射する第１光源と前記第１光源と照射角度位置を異にして対向する光を照射する第２光源をそれぞれ配置して、前記第１光源を照射してワーク天面部の第１画像を前記ハーフミラーの垂直軸方向の光軸を介して前記第１検査カメラに取り込み、前記第１光源を照射の直後に前記第２光源を照射してワーク天面部の前記第１画像と角度位置を略９０度異にする第２画像を前記ハーフミラーの水平軸方向の光軸を介して前記第２検査カメラに瞬時に取り込んでワーク天面部の検査を行うことを特徴とする容器の天面部の検査方法。
- 前記第１光源を照射の１０００分の１秒後に前記第２光源を照射する請求項１に記載の容器の天面部の検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003144697A JP4288104B2 (ja) | 2003-05-22 | 2003-05-22 | 容器の天面部の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2003144697A JP4288104B2 (ja) | 2003-05-22 | 2003-05-22 | 容器の天面部の検査方法 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2004347449A JP2004347449A (ja) | 2004-12-09 |
| JP2004347449A5 JP2004347449A5 (ja) | 2005-08-25 |
| JP4288104B2 true JP4288104B2 (ja) | 2009-07-01 |
Family
ID=33532086
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2003144697A Expired - Fee Related JP4288104B2 (ja) | 2003-05-22 | 2003-05-22 | 容器の天面部の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4288104B2 (ja) |
Family Cites Families (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61207952A (ja) * | 1985-03-12 | 1986-09-16 | Hajime Sangyo Kk | 透明材よりなるビンの欠陥検査方法 |
| JPS62113050A (ja) * | 1985-11-13 | 1987-05-23 | Fuji Electric Co Ltd | びん口部検査装置 |
| JPH0749315A (ja) * | 1993-08-04 | 1995-02-21 | Yamatake Honeywell Co Ltd | 容器の検査装置 |
| JPH0968504A (ja) * | 1995-08-31 | 1997-03-11 | Toshiba Eng Co Ltd | 瓶口外観検査方法及び装置 |
| JPH10267865A (ja) * | 1997-03-26 | 1998-10-09 | Asahi Chem Ind Co Ltd | Ｐｔｐシートの検査方法及び検査装置 |
| JPH11271238A (ja) * | 1998-03-23 | 1999-10-05 | N Tec:Kk | プラスチック容器の天面部の検査方法 |
| JP4227272B2 (ja) * | 1999-08-11 | 2009-02-18 | 株式会社エヌテック | 異なる波長の光を用いた物品の検査装置 |
-
2003
- 2003-05-22 JP JP2003144697A patent/JP4288104B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2004347449A (ja) | 2004-12-09 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A521 | Request for written amendment filed |
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| A621 | Written request for application examination |
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|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090317 |
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| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
| A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090330 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120403 Year of fee payment: 3 |
|
| R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 4288104 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120403 Year of fee payment: 3 |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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