JPH0968504A - 瓶口外観検査方法及び装置 - Google Patents
瓶口外観検査方法及び装置Info
- Publication number
- JPH0968504A JPH0968504A JP7259169A JP25916995A JPH0968504A JP H0968504 A JPH0968504 A JP H0968504A JP 7259169 A JP7259169 A JP 7259169A JP 25916995 A JP25916995 A JP 25916995A JP H0968504 A JPH0968504 A JP H0968504A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- bottle
- bottle mouth
- top surface
- light
- image
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/90—Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
- G01N21/9054—Inspection of sealing surface and container finish
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Image Analysis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明の目的は、瓶口の欠陥検出を正確かつ簡
単に行うことを目的とするもので、特に極力欠陥以外の
画像情報を少なくし、天面あるいはネジ部側面に存在す
る欠陥を一面入力画像に画像処理を施すことにより欠陥
検出を行うことを目的とする。 【構成】照明光源をネジ部側面の斜め下方、即ち瓶本体
部近傍に配置し、カメラを光源からの照射光の透過直接
光がカメラに入射しない位置であって、天面に対して垂
直方向に離間した位置に配置することにより欠陥部のみ
を散乱光により輝点画像として抽出することができる。
単に行うことを目的とするもので、特に極力欠陥以外の
画像情報を少なくし、天面あるいはネジ部側面に存在す
る欠陥を一面入力画像に画像処理を施すことにより欠陥
検出を行うことを目的とする。 【構成】照明光源をネジ部側面の斜め下方、即ち瓶本体
部近傍に配置し、カメラを光源からの照射光の透過直接
光がカメラに入射しない位置であって、天面に対して垂
直方向に離間した位置に配置することにより欠陥部のみ
を散乱光により輝点画像として抽出することができる。
Description
【産業上の利用分野】本発明は、瓶口の欠け、ヒビ割れ
等を光学的に検査する瓶口外観検査方法及び検査装置に
関する。
等を光学的に検査する瓶口外観検査方法及び検査装置に
関する。
【従来の技術】透明または半透明の硝子等からなる瓶の
特に瓶口を光学的に検査する方法としては、図５に示し
たように、瓶口５１の側方に配置された光源５２からの
照射光を拡散板５３を介して瓶口５１に照射し、光源５
２から瓶口５１を介して反対側に配置されたテレビカメ
ラ５４にて瓶口５１の画像を取り込み、光学的処理を行
い欠陥の有無を検査していた。また他の検査方法として
は、図６に示したように、瓶口６１を上方に設けたリン
グ状光源６２により照明し、更に上方に配置されたテレ
ビカメラ６３により瓶口６１の画像を取り込む方法も行
われていた。このようにして取り込まれた画像は図７に
示す検査回路により欠陥の有無が判定されていた。即
ち、テレビカメラ７１からの信号は、画像入力部７２に
入力され、アナログ画像信号はＡ／Ｄ変換部７３により
画像濃度値を示すデジタル値に変換し、画像メモリ７４
に一時記憶される。このようにして得られた画像濃度値
はノイズやシェーディング等を含んでおり、背景に対す
る欠陥を表す像のコントラストが一般に弱いので、ノイ
ズ除去部７５により画像処理が施される。次に欠陥と背
景を分離するため欠陥を表す濃度値だけを抽出する。こ
れは２値化部７６により適度のスライスレベルによって
濃度画像を２値画像に変換する。このような２値画像は
欠陥の大きさに比例した面積（画素数）を有しており、
また、適度のスライスレベルを選択することにより正常
な被検査体の２値画像パターンが得られる。欠陥を有す
る場合には、２値画像パターンが変形または変化するた
め、特徴抽出比較部７７により正常画像パターンとの差
を求め、この差の信号を欠陥の大きさに比例した面積
（画素数）を表す信号として取り出される。その後判定
部７８によりこの欠陥を表す画素数を計数して一定値以
上であれば欠陥と判定し、デジタル出力部７９に出力さ
れる。
特に瓶口を光学的に検査する方法としては、図５に示し
たように、瓶口５１の側方に配置された光源５２からの
照射光を拡散板５３を介して瓶口５１に照射し、光源５
２から瓶口５１を介して反対側に配置されたテレビカメ
ラ５４にて瓶口５１の画像を取り込み、光学的処理を行
い欠陥の有無を検査していた。また他の検査方法として
は、図６に示したように、瓶口６１を上方に設けたリン
グ状光源６２により照明し、更に上方に配置されたテレ
ビカメラ６３により瓶口６１の画像を取り込む方法も行
われていた。このようにして取り込まれた画像は図７に
示す検査回路により欠陥の有無が判定されていた。即
ち、テレビカメラ７１からの信号は、画像入力部７２に
入力され、アナログ画像信号はＡ／Ｄ変換部７３により
画像濃度値を示すデジタル値に変換し、画像メモリ７４
に一時記憶される。このようにして得られた画像濃度値
はノイズやシェーディング等を含んでおり、背景に対す
る欠陥を表す像のコントラストが一般に弱いので、ノイ
ズ除去部７５により画像処理が施される。次に欠陥と背
景を分離するため欠陥を表す濃度値だけを抽出する。こ
れは２値化部７６により適度のスライスレベルによって
濃度画像を２値画像に変換する。このような２値画像は
欠陥の大きさに比例した面積（画素数）を有しており、
また、適度のスライスレベルを選択することにより正常
な被検査体の２値画像パターンが得られる。欠陥を有す
る場合には、２値画像パターンが変形または変化するた
め、特徴抽出比較部７７により正常画像パターンとの差
を求め、この差の信号を欠陥の大きさに比例した面積
（画素数）を表す信号として取り出される。その後判定
部７８によりこの欠陥を表す画素数を計数して一定値以
上であれば欠陥と判定し、デジタル出力部７９に出力さ
れる。
【発明が解決しようとする課題】前述のような検査装置
を用いて瓶口の欠け、ヒビ割れを図５の透過照明で画像
入力すると、欠陥を表わす陰影像と背景像として瓶口形
状、ネジ形状も含んだ画像となるため、複雑な形状情報
を含んだ画像の中に欠陥の存在を判別することは困難な
場合が多かった。また、図６のリング光源を用いた瓶口
天面の欠陥によるリング状正反射パターンの変形を判別
するにも正常パターンとの単純比較では誤差が多く、精
度が出ない欠点があった。これらの欠点を解決するに
は、天面の画像と側面のネジ部の画像を別々のカメラで
取り込み、全く異なる画像処理を施さなければならなか
った。本発明の目的は、上記従来の課題を解決するため
になされたもので、欠陥画像情報以外の画像情報の入力
を極力減らし、天面あるいはネジ部側面に存在する欠陥
を入力画像の限定画像領域のみに画像処理を施すことに
よって欠陥検出することができる瓶口外観検査方法並び
に検査装置を提供することにある。
を用いて瓶口の欠け、ヒビ割れを図５の透過照明で画像
入力すると、欠陥を表わす陰影像と背景像として瓶口形
状、ネジ形状も含んだ画像となるため、複雑な形状情報
を含んだ画像の中に欠陥の存在を判別することは困難な
場合が多かった。また、図６のリング光源を用いた瓶口
天面の欠陥によるリング状正反射パターンの変形を判別
するにも正常パターンとの単純比較では誤差が多く、精
度が出ない欠点があった。これらの欠点を解決するに
は、天面の画像と側面のネジ部の画像を別々のカメラで
取り込み、全く異なる画像処理を施さなければならなか
った。本発明の目的は、上記従来の課題を解決するため
になされたもので、欠陥画像情報以外の画像情報の入力
を極力減らし、天面あるいはネジ部側面に存在する欠陥
を入力画像の限定画像領域のみに画像処理を施すことに
よって欠陥検出することができる瓶口外観検査方法並び
に検査装置を提供することにある。
【課題を解決するための手段】本発明の瓶口外観検査方
法は、瓶本体部から延在する瓶口であって、天面並びに
この天面と前記瓶本体部間に延在するネジ部側面からな
る瓶口の外観を暗室内にて光学的に検査する方法であっ
て、前記瓶本体部近傍から照明光を照射し、前記ネジ部
側面から前記天面へ透過する光を前記天面に対して略垂
直な位置から光学像として抽出する方法である。更に本
発明の瓶口外観検査方法における照明光は、スリット状
放射光である。更に本発明の瓶口外観検査方法は、瓶本
体部から延在する瓶口であって、天面並びにこの天面と
前記瓶本体部間に延在するネジ部側面からなる瓶口の外
観を光学的に検査する方法であって、前記瓶本体部近傍
から照明光を照射し、前記ネジ部側面から前記天面へ透
過する光を前記瓶口を９０°毎に回転させ、前記天面に
対して略垂直な位置から光学像として抽出する方法であ
る。更に本発明の瓶口外観検査装置は、瓶本体部から延
在する瓶口であって、天面並びにこの天面と前記瓶本体
部間に延在するネジ部側面からなる瓶口の外観を光学的
に検査する装置であって、暗室において前記瓶本体部近
傍に配置され、照射光が前記ネジ部側面の斜め下方から
前記天面に向かって照射される如く配置された光源と、
前記天面に対して垂直方向に配置されたカメラ部とを備
えている。更に本発明の瓶口外観検査装置における光源
は、前面にスリット光を形成するライトガイド部を備え
ている。
法は、瓶本体部から延在する瓶口であって、天面並びに
この天面と前記瓶本体部間に延在するネジ部側面からな
る瓶口の外観を暗室内にて光学的に検査する方法であっ
て、前記瓶本体部近傍から照明光を照射し、前記ネジ部
側面から前記天面へ透過する光を前記天面に対して略垂
直な位置から光学像として抽出する方法である。更に本
発明の瓶口外観検査方法における照明光は、スリット状
放射光である。更に本発明の瓶口外観検査方法は、瓶本
体部から延在する瓶口であって、天面並びにこの天面と
前記瓶本体部間に延在するネジ部側面からなる瓶口の外
観を光学的に検査する方法であって、前記瓶本体部近傍
から照明光を照射し、前記ネジ部側面から前記天面へ透
過する光を前記瓶口を９０°毎に回転させ、前記天面に
対して略垂直な位置から光学像として抽出する方法であ
る。更に本発明の瓶口外観検査装置は、瓶本体部から延
在する瓶口であって、天面並びにこの天面と前記瓶本体
部間に延在するネジ部側面からなる瓶口の外観を光学的
に検査する装置であって、暗室において前記瓶本体部近
傍に配置され、照射光が前記ネジ部側面の斜め下方から
前記天面に向かって照射される如く配置された光源と、
前記天面に対して垂直方向に配置されたカメラ部とを備
えている。更に本発明の瓶口外観検査装置における光源
は、前面にスリット光を形成するライトガイド部を備え
ている。
【作用】天面と天面に延在しているネジ部側面からなる
瓶口の欠陥を光学的に検査するにあたり、照射光をネジ
部側面斜め下方から天面に向けて照射し、光学画像を取
り込むカメラを天面に対して略垂直な位置に配置するよ
うにしたことにより、光源からの透過直接光がカメラに
入射しないようにでき、欠陥部のみ散乱光により輝点情
報として抽出される。
瓶口の欠陥を光学的に検査するにあたり、照射光をネジ
部側面斜め下方から天面に向けて照射し、光学画像を取
り込むカメラを天面に対して略垂直な位置に配置するよ
うにしたことにより、光源からの透過直接光がカメラに
入射しないようにでき、欠陥部のみ散乱光により輝点情
報として抽出される。
【実施例】以下本発明の実施例を図面を参照して説明す
る。図１に示すように被検査体となる瓶本体部１の先端
には天面２が設けられ、瓶本体部１と天面２との間にあ
って、この天面２から下方へ延在する、図示しない蓋体
を螺着するネジ部側面３が設けられている。この天面２
とネジ部側面３により瓶口４が構成されている。光源５
は暗室内に設置され、瓶口４に対してネジ部側面３の斜
め下方、即ち瓶本体部１の近傍に配置され、天面２へ向
けて光を照射する位置に配置される。光源５は、図示し
ないハロゲンランプからの光を伝送する光ファイバ６並
びにこの光ファイバ６に接続されたライトガイド７から
構成されている。ライトガイド７の先端には長孔のスリ
ット８が形成されたガイドマスク９が設けられている。
ガイドマスク９のスリット８の長さ、幅並びに光照射角
度を選択、調整することにより、瓶口４の大きさに応じ
たスリット放射光を照射することができる。テレビカメ
ラ１０は、天面２の上方、即ち天面２に対して略垂直方
向に天面２から離間した位置に配置されている。即ち、
テレビカメラ１０は、光源５からのスリット照射光がネ
ジ部側面３下方から天面２に向けて斜めに照射される
が、瓶口４を透過した直接光が入射しない位置と角度に
配置されている。このような照明方法による入力画像
は、図２に示すように得られる。即ち、正常瓶口の天面
入力画像は図２（Ａ）に示すように、照射光の境界表面
反射光による多重リングの（ ）形画像１１、１２とな
る。図２（Ａ）の外側（ ）形画像１１は、天面２に対
する側面入光の屈折光を表しており、また、内側（ ）
形画像１２は、ネジ部側面３への入光の屈折光を表して
いる。図２（Ａ）の（ ）形画像の上下の画像の存在し
ない不連続領域は、透過光路となり暗部として写るため
入力画像には輝点画像として現れない。しかしながら、
透過光路となるネジ側面部または天面に欠け、ひび割れ
等の欠陥が存在すると、この欠陥部にて散乱光が発生
し、図２（Ｂ）のように輝点として欠陥画像１３が画像
入力される。このように入力画像の所定領域の暗部に散
乱光による輝点の有無により欠陥検出が可能となる。こ
のようにして、常時光る部分と欠陥が存在する場合のみ
光る部分がスリット照明の位置関係を固定すると位置が
特定できるため、欠陥検出領域を定め欠陥による散乱光
の輝点面積を計算することにより欠陥の有無を判定する
ことができる。この照明方法による１回の画像入力で判
定できる検出領域はネジ部側面全周の一部分である。例
えば図３（Ａ）に示すように、一画面における検査領域
１４の全周を４等分して各々９０°円周の上部検査領域
１５を一画面における検査領域に定めると瓶を９０゜づ
つ回転して４回の入力画像で全周の検査ができる。な
お、瓶口４と光源５の位置関係が図３（Ｂ）の如くある
場合には、検査領域としては図３（Ａ）上下の非斜線部
で示した互いに対向する一対の９０°円周検査領域のい
ずれも検査可能領域となるが、一方向からの照明のため
欠陥の面方向により散乱光強度が異なる。従って、前述
したように、９０゜づつ回転させた２重検査を行うこと
により、より検査精度を高めることができる。図４は画
像入力した一画面を画像処理して欠陥検出を行う瓶口検
査装置を示したものである。瓶１の瓶口４を斜め下方か
ら光源５により照射して、カメラ１６から画像が抽出さ
れる。画像信号は画像入力部１７に取り込まれ、入力画
像は図２のような背景を暗部とした輝点の集合パターン
となる。入力画像はＡ／Ｄ変換部１８によりデジタル画
像に変換して画像メモリ１９に記憶される。この原画像
はノイズを含んだ輪郭が不鮮明な画像のため、ノイズ除
去部２０によりノイズ除去を施し、２値化部２１により
一定スライスレベルで２値画像に変換する。その後、２
値画像は検査領域分割部２２により検査領域に分割さ
れ、欠陥像面積計算部２３により検査領域内の２値画像
の画素数を計算して、判定部にてある一定値以上の場合
に欠陥があると判定する。この判定結果はデジタル出力
部２５に出力され、瓶の排出信号として利用され欠陥瓶
の仕分けが行われる。
る。図１に示すように被検査体となる瓶本体部１の先端
には天面２が設けられ、瓶本体部１と天面２との間にあ
って、この天面２から下方へ延在する、図示しない蓋体
を螺着するネジ部側面３が設けられている。この天面２
とネジ部側面３により瓶口４が構成されている。光源５
は暗室内に設置され、瓶口４に対してネジ部側面３の斜
め下方、即ち瓶本体部１の近傍に配置され、天面２へ向
けて光を照射する位置に配置される。光源５は、図示し
ないハロゲンランプからの光を伝送する光ファイバ６並
びにこの光ファイバ６に接続されたライトガイド７から
構成されている。ライトガイド７の先端には長孔のスリ
ット８が形成されたガイドマスク９が設けられている。
ガイドマスク９のスリット８の長さ、幅並びに光照射角
度を選択、調整することにより、瓶口４の大きさに応じ
たスリット放射光を照射することができる。テレビカメ
ラ１０は、天面２の上方、即ち天面２に対して略垂直方
向に天面２から離間した位置に配置されている。即ち、
テレビカメラ１０は、光源５からのスリット照射光がネ
ジ部側面３下方から天面２に向けて斜めに照射される
が、瓶口４を透過した直接光が入射しない位置と角度に
配置されている。このような照明方法による入力画像
は、図２に示すように得られる。即ち、正常瓶口の天面
入力画像は図２（Ａ）に示すように、照射光の境界表面
反射光による多重リングの（ ）形画像１１、１２とな
る。図２（Ａ）の外側（ ）形画像１１は、天面２に対
する側面入光の屈折光を表しており、また、内側（ ）
形画像１２は、ネジ部側面３への入光の屈折光を表して
いる。図２（Ａ）の（ ）形画像の上下の画像の存在し
ない不連続領域は、透過光路となり暗部として写るため
入力画像には輝点画像として現れない。しかしながら、
透過光路となるネジ側面部または天面に欠け、ひび割れ
等の欠陥が存在すると、この欠陥部にて散乱光が発生
し、図２（Ｂ）のように輝点として欠陥画像１３が画像
入力される。このように入力画像の所定領域の暗部に散
乱光による輝点の有無により欠陥検出が可能となる。こ
のようにして、常時光る部分と欠陥が存在する場合のみ
光る部分がスリット照明の位置関係を固定すると位置が
特定できるため、欠陥検出領域を定め欠陥による散乱光
の輝点面積を計算することにより欠陥の有無を判定する
ことができる。この照明方法による１回の画像入力で判
定できる検出領域はネジ部側面全周の一部分である。例
えば図３（Ａ）に示すように、一画面における検査領域
１４の全周を４等分して各々９０°円周の上部検査領域
１５を一画面における検査領域に定めると瓶を９０゜づ
つ回転して４回の入力画像で全周の検査ができる。な
お、瓶口４と光源５の位置関係が図３（Ｂ）の如くある
場合には、検査領域としては図３（Ａ）上下の非斜線部
で示した互いに対向する一対の９０°円周検査領域のい
ずれも検査可能領域となるが、一方向からの照明のため
欠陥の面方向により散乱光強度が異なる。従って、前述
したように、９０゜づつ回転させた２重検査を行うこと
により、より検査精度を高めることができる。図４は画
像入力した一画面を画像処理して欠陥検出を行う瓶口検
査装置を示したものである。瓶１の瓶口４を斜め下方か
ら光源５により照射して、カメラ１６から画像が抽出さ
れる。画像信号は画像入力部１７に取り込まれ、入力画
像は図２のような背景を暗部とした輝点の集合パターン
となる。入力画像はＡ／Ｄ変換部１８によりデジタル画
像に変換して画像メモリ１９に記憶される。この原画像
はノイズを含んだ輪郭が不鮮明な画像のため、ノイズ除
去部２０によりノイズ除去を施し、２値化部２１により
一定スライスレベルで２値画像に変換する。その後、２
値画像は検査領域分割部２２により検査領域に分割さ
れ、欠陥像面積計算部２３により検査領域内の２値画像
の画素数を計算して、判定部にてある一定値以上の場合
に欠陥があると判定する。この判定結果はデジタル出力
部２５に出力され、瓶の排出信号として利用され欠陥瓶
の仕分けが行われる。
【発明の効果】以上のような本発明に係わる照明方式を
瓶口検査に適用することにより、ネジ等の複雑な形状を
有する画像を単純化でき欠陥抽出が容易に行うことがで
きる。また、欠け、ひび割れ等のように観察する角度に
よってコントラストが得難い欠陥を安定した映像として
画像入力できる。更に、瓶口の天面と側面を同時に検査
することができ、併せて単純な画像処理アルゴリズムで
欠陥判別ができる。
瓶口検査に適用することにより、ネジ等の複雑な形状を
有する画像を単純化でき欠陥抽出が容易に行うことがで
きる。また、欠け、ひび割れ等のように観察する角度に
よってコントラストが得難い欠陥を安定した映像として
画像入力できる。更に、瓶口の天面と側面を同時に検査
することができ、併せて単純な画像処理アルゴリズムで
欠陥判別ができる。
【図１】 本発明の一実施例を示す斜視図。
【図２】 本発明の一実施例により抽出された検査画像
例。
例。
【図３】 本発明の一実施例の動作を説明するための領
域図。
域図。
【図４】 本発明の一実施例の回路ブロック図。
【図５】 従来の検査装置を示す図。
【図６】 従来の他の検査装置を示す図。
【図７】 従来の検査装置の回路ブロック図。
１・・・瓶本体部 ２・・・天面 ３・・・ネジ部側面 ４・・・瓶口 ５・・・光源 ６・・・光ファイバ ７・・・ライトガイド ８・・・スリット ９・・・ガイドマスク １０・・・テレビカメラ １１・・・外側（ ）形画像 １２・・・内側（ ）形画像 １３・・・欠陥画像 １４・・・検査領域 １５・・・上部検査領域 １６・・・カメラ １７・・・画像入力部 １８・・・Ａ／Ｄ変換部 １９・・・画像メモリ ２０・・・ノイズ除去部 ２１・・・２値化部 ２２・・・検査領域分割部 ２３・・・欠陥画像面積計算部 ２４・・・判定部 ２５・・・デジタル出力部
Claims (5)
- 【請求項１】瓶本体部から延在する瓶口であって、天面
並びにこの天面と前記瓶本体部間に延在するネジ部側面
からなる瓶口の外観を暗室内にて光学的に検査する瓶口
外観検査方法において、前記瓶本体部近傍から照明光を
照射し、前記ネジ部側面から前記天面へ透過する光を前
記天面に対して略垂直な位置から光学像として抽出する
ことを特徴とする瓶口外観検査方法。 - 【請求項２】照明光は、スリット状放射光であることを
特徴とする請求項１記載の瓶口外観検査方法。 - 【請求項３】瓶本体部から延在する瓶口であって、天面
並びにこの天面と前記瓶本体部間に延在するネジ部側面
からなる瓶口の外観を光学的に検査する瓶口外観検査方
法において、前記瓶本体部近傍から照明光を照射し、前
記ネジ部側面から前記天面へ透過する光を前記瓶口を９
０°毎に回転させ、前記天面に対して略垂直な位置から
光学像として抽出することを特徴とする瓶口外観検査方
法。 - 【請求項４】瓶本体部から延在する瓶口であって、天面
並びにこの天面と前記瓶本体部間に延在するネジ部側面
からなる瓶口の外観を光学的に検査する瓶口外観検査装
置において、暗室において前記瓶本体部近傍に配置さ
れ、照射光が前記ネジ部側面の斜め下方から前記天面に
向かって照射される如く配置された光源と、前記天面に
対して略垂直な位置に配置されたカメラ部とを具備する
ことを特徴とする瓶口外観検査装置。 - 【請求項５】光源は、前面にスリット光を形成するライ
トガイド部を有することを特徴とする請求項４記載の瓶
口外観検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7259169A JPH0968504A (ja) | 1995-08-31 | 1995-08-31 | 瓶口外観検査方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7259169A JPH0968504A (ja) | 1995-08-31 | 1995-08-31 | 瓶口外観検査方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0968504A true JPH0968504A (ja) | 1997-03-11 |
Family
ID=17330322
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7259169A Withdrawn JPH0968504A (ja) | 1995-08-31 | 1995-08-31 | 瓶口外観検査方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0968504A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004347449A (ja) * | 2003-05-22 | 2004-12-09 | N Tech:Kk | 容器の天面部の検査方法 |
| JP2007113923A (ja) * | 2005-10-18 | 2007-05-10 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | ネックリング検査装置及びネックリング検査方法 |
| JP2011169596A (ja) * | 2010-02-16 | 2011-09-01 | Gekkeikan Sake Co Ltd | ガラス壜の検査方法、検査装置、および検査システム |
| JP4986255B1 (ja) * | 2011-08-03 | 2012-07-25 | 東洋ガラス株式会社 | 容器口部検査方法及び装置 |
| JP2013525804A (ja) * | 2010-05-04 | 2013-06-20 | サノフィ−アベンティス・ドイチュラント・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | ガラス体中の欠陥の検出用デバイス及び方法 |
-
1995
- 1995-08-31 JP JP7259169A patent/JPH0968504A/ja not_active Withdrawn
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004347449A (ja) * | 2003-05-22 | 2004-12-09 | N Tech:Kk | 容器の天面部の検査方法 |
| JP2007113923A (ja) * | 2005-10-18 | 2007-05-10 | Toyo Seikan Kaisha Ltd | ネックリング検査装置及びネックリング検査方法 |
| JP2011169596A (ja) * | 2010-02-16 | 2011-09-01 | Gekkeikan Sake Co Ltd | ガラス壜の検査方法、検査装置、および検査システム |
| JP2013525804A (ja) * | 2010-05-04 | 2013-06-20 | サノフィ−アベンティス・ドイチュラント・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | ガラス体中の欠陥の検出用デバイス及び方法 |
| JP4986255B1 (ja) * | 2011-08-03 | 2012-07-25 | 東洋ガラス株式会社 | 容器口部検査方法及び装置 |
| WO2013018207A1 (ja) * | 2011-08-03 | 2013-02-07 | 東洋ガラス株式会社 | 容器口部検査方法及び装置 |
| KR20140031392A (ko) * | 2011-08-03 | 2014-03-12 | 도요 가라스 가부시키가이샤 | 용기 주둥이부 검사 방법 및 장치 |
| CN103718025A (zh) * | 2011-08-03 | 2014-04-09 | 东洋玻璃株式会社 | 容器口部检查方法及装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US4610542A (en) | System for detecting selective refractive defects in transparent articles | |
| JPS6212845A (ja) | 壜のねじ口部欠陥検出装置 | |
| US7317524B2 (en) | Method and device for detecting surface defects on the neck ring of a transparent or translucent container of revolution | |
| JPH11337504A (ja) | ガラス板の欠陥識別検査方法および装置 | |
| JPH0634573A (ja) | 瓶検査装置 | |
| JP4986255B1 (ja) | 容器口部検査方法及び装置 | |
| JPH04122839A (ja) | 表面検査方法 | |
| JPH0968504A (ja) | 瓶口外観検査方法及び装置 | |
| JPH04118546A (ja) | 瓶検査装置 | |
| JPH04216445A (ja) | 瓶検査装置 | |
| JPH0862155A (ja) | 物体観測装置 | |
| JPS59135353A (ja) | 表面傷検出装置 | |
| JPH08304295A (ja) | 表面欠陥検出方法および装置 | |
| JPH09113465A (ja) | 亜鉛メッキ系鋼板用表面欠陥検出装置 | |
| JP2004257776A (ja) | 光透過体検査装置 | |
| KR100389967B1 (ko) | 자동화 결함 검사 장치 | |
| JP3254873B2 (ja) | パッケージの外観検査装置および外観検査方法 | |
| JPH043820B2 (ja) | ||
| JPH04309850A (ja) | ガラス筒体の欠陥検査方法 | |
| JPH02190707A (ja) | 表面欠陥の検査方法及び装置 | |
| JPH0299806A (ja) | 表面欠陥の検査方法 | |
| JPH05113411A (ja) | 瓶検査装置 | |
| JP4009085B2 (ja) | パターン検査装置およびパターン検査方法 | |
| JPH11248644A (ja) | 容器の欠陥検査方法及びその装置 | |
| JPH06249785A (ja) | ペレット端面検査方法及び装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20021105 |