JPH11242002A - 観測装置 - Google Patents

観測装置

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JPH11242002A
JPH11242002A JP6066798A JP6066798A JPH11242002A JP H11242002 A JPH11242002 A JP H11242002A JP 6066798 A JP6066798 A JP 6066798A JP 6066798 A JP6066798 A JP 6066798A JP H11242002 A JPH11242002 A JP H11242002A
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JP
Japan
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light
observation target
observation
emitting unit
light emitting
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JP6066798A
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English (en)
Inventor
Hideji Kurokawa
秀二 黒川
Kenji Kobayashi
賢治 小林
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Lintec Corp
Original Assignee
Lintec Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 対物レンズを通さずに大きな入射角で観測対
象を照明する場合において、コントラストの高い最適な
照明を得る。 【解決手段】 発光部19からの光を対物レンズ11を
通さずに観測対象3aに照射し、観測対象3aからの反
射光を受光部で受光して観測対象3aを観測する。発光
部19は第1の発光体41と第2の発光体42とを有
し、各発光体の光軸e,fは同一平面上またはその近傍
に配置されている。第1の発光体の光軸eは観測対象3
aの配列方向dに対してほぼ垂直に配置され、第2の発
光体42の光軸fは観測対象3aの配列方向dに対して
角β(=45゜)で傾斜している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、観測装置に関し、
特に、半導体ウェハ、ガラス、セラミックなど絶縁体基
板の表面または表面付近に形成された回路や文字などの
パターンを観測するための観測装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、半導体集積回路等の製造工程
において、半導体ウェハ(以下単に「ウェハ」とい
う)、液晶基板、ガラス、セラミック、または樹脂など
の対象物の表面に付された数字、文字や回路等のパター
ンを、目視やカメラ、顕微鏡等で観測することが行われ
ている。たとえば、製造工程の中で、ウェハに付された
識別符号を読み取り、この識別符号に応じて予め決めら
れた加工が施される。
【0003】観測装置においては、従来より、蛍光灯や
ファイバー照明などの光源またはレンズ等を利用した平
行光源を観測対象に照射して観測するものが知られてい
る。
【0004】本発明者は、先に、発光部から光学素子を
通して対象物に光を照射する照明装置において、発光部
を光学素子に対して移動可能にすることにより、対象物
に照射される光の入射角を調整できるようにし、これに
より、コントラストの大きい像の得られる照明装置を提
案した(特開平8−327554号)。
【0005】種々の観測対象はそれぞれ異なった光学条
件を有するため、上記装置を用いてこれらを観測するた
めには観測対象に照射すべき光の照射角は小さな角度か
ら大きな角度まで広い範囲から選択する必要がある。こ
のとき、光の入射角を大きくしていくと暗視野照明にな
るが、入射角をさらに大きくしていくと、対物レンズを
通した光は観測対象に照射されなくなる。そのため、入
射角のある程度大きな照明光については対物レンズを通
さずに観測対象に光を照射することが必要になってく
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】そこで、上記のように
対物レンズを通さずに大きな入射角で観測対象を照明す
る場合においても、コントラストの高い像を得る照明を
実現できる装置が望まれていた。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するた
め、本発明においては、発光部からの光を対物レンズを
通さずに観測対象に照射し、前記観測対象からの反射光
を受光部で受光して前記観測対象を観測する観測装置に
おいて、前記発光部は複数の発光体から成る第1発光部
を備え、第1発光部は、その照明が暗視野照明となるよ
うに配置されるとともに、各発光体の光軸は、前記観測
対象の配列方向を一辺とする、光学的な同一平面内また
はその近傍に配置され、各光軸の前記観測対象を含む平
面に対する射影が前記観測対象の配列方向に対してほぼ
同一方向に傾斜させるようにした。前記傾斜の角度は、
例えば、45゜の奇数倍に設定することができる。
【0008】また、本発明においては、対物レンズを通
さずに観測対象に光を照射する、複数の発光体から成る
第1発光部を備え、第1発光部は、その照明が暗視野照
明となるように配置されるとともに、各発光体の光軸
は、前記観測対象の配列方向を一辺とする、光学的な同
一平面内またはその近傍に配置され、各光軸の前記観測
対象を含む平面に対する射影が前記観測対象の配列方向
に対してほぼ同一方向に傾斜しているとともに、前記対
物レンズを通さずに前記観測対象の配列方向に対してほ
ぼ垂直に光を照射する第2発光部、前記対物レンズを通
さずに前記観測対象の配列方向に対してほぼ平行に光を
照射する第3発光部および前記対物レンズを通して光を
前記観察対象に照射する第4発光部のうちいずれか1つ
または複数を備え、前記観測対象からの反射光を受光部
で受光して前記観測対象を観測するように構成した。
【0009】さらに、本発明においては、発光部からの
光を対物レンズを通さずに観測対象に照射し、前記観測
対象からの反射光を対物レンズを介して受光部で受光し
て前記観測対象を観測する観測装置において、前記発光
部はその照明が暗視野照明となるように配置されるとと
もに、前記発光部を移動させる移動手段を設けるように
した。前記移動手段は、前記発光部を前記対物レンズの
光軸方向に移動させるようにしてもよい。
【0010】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施の形態の一例
を示す観測装置の全体構成図、図2は観測装置の底面
図、図3は第1および2発光部の構成を示す図である。
【0011】観測装置1は、ウェハ3に形成された文字
やパターンを観測する装置であり、特に、英数字などの
文字コード等の一定の配列方向を有する観測対象3aを
観測するのに好適な装置である。観測装置の各構成部分
はボックス5内に収容され、ボックス5の上方から下方
に向けて、画像検出手段としてのCCDカメラ7、ハー
フミラー9、カメラに対する対物レンズ11が配置され
ている。
【0012】図2に示すように、対物レンズ11の周り
には、第1発光部41、第2発光部42、第3発光部2
1が配置され、各発光部は複数の発光体(LED等)か
ら構成される。各発光体からの光は、直接観察対象3a
へ出射してもよいがディフューザ25(図1)を介して
観測対象3aへ照射してもよい。第1ないし第3発光部
41,42,21は、対物レンズ11を通さずに観測対
象3aに光を照射し、その照明が暗視野照明となるよう
に配置されている。そして、第1ないし第3発光部4
1,42,21は、暗視野照明において対物レンズ11
を通せないような大きな入射角での照明を行うときに使
用する。第1ないし第3発光部の詳細な構成については
後述する。
【0013】対物レンズ11の前焦点位置には第4発光
部13が配置され、第4発光部13からの光はハーフミ
ラー9で下方に反射され対物レンズ11で集光され観測
対象3aへ照射される。第4発光部は複数の発光体(L
ED等)を備え、第4発光部13の前にはディフューザ
33が配置されている。対物レンズ11は、第4発光部
13から発光された光を集光する集光レンズと、第1な
いし第4発光部から観測対象3aに照射され反射した光
を結合用レンズ17を通してカメラの受光部7aに像を
結像させるための対物レンズとの両方の機能を有してい
る。なお、対物レンズ11の光軸を11b、対物レンズ
11のハーフミラー9で反射された光軸を11aとす
る。
【0014】カメラ7は、絞り15および結像レンズ1
7を備え、観測対象3aからの反射光はハーフミラー9
を通過し、結像レンズ17、絞り15を経てカメラ7の
受光部7a(CCD素子等)上に結像する。
【0015】第1ないし第4発光部41,42,21,
13の発光体は、発光コントローラ35によって制御さ
れる。発光コントローラ35は、ドライバ35aとグル
ープ制御部35bとで構成され、ドライバ35aは、個
々の発光体のON、OFFおよび発光強度の制御を行
う。グループ制御部35bは、各発光体をグループ分け
し、観測対象に応じて発光すべき発光体グループを指定
する。発光コントローラ35は制御装置(コンピュータ
等)37によって制御される。制御装置37はOCRシ
ステムやパターン検査システム等も備えている。カメラ
7からの映像信号38はモニタ39によって表示される
とともに、制御装置37へ出力され、制御装置37にお
いて画像認識される。
【0016】図3は、第1および第2発光部41,42
の光軸の向きを説明する図である。観測対象3aの配列
されている方向を基準方向として配列方向および基準方
向に平行で観測対象平面上にある線分を辺dで示し、光
学系の光軸11bと観測対象3aのある面との交点を
O、点Oを通り基準方向に伸びる直線をX0軸、観測対
象3aを含む平面内で点Oを通りX0軸に直交する直線
をY0軸とする。辺dは観測対象平面(X0,Y0平面)
内にある。第1発光部41、第2発光部42およびそれ
らの光軸e,fはいずれも辺dを含む平面内またはその
近傍にそれぞれ3個配置されている。
【0017】第1および第2発光部41,42からの光
は、図4(A)に示すように直接観察対象3aに照射し
てもよいが、図4(B)に示すようにミラー40を介し
て観察対象3aに照射してもよい。つまり、図4(B)
のように発光部41,42の発光体と観測対象3aとの
間にミラー40を入れて光軸を反射するようにしてもよ
い。この場合、ミラー40が平面であれば、光軸の直進
性や平面性はミラー40を境とする各平面上で維持され
る。このような平面を光学的な同一平面という。本発明
においては、少なくとも第1発光部41を構成する各発
光体の光軸は、観測対象3aの配列方向dを一辺とす
る、光学的な同一平面内またはその近傍に配置されてい
ればよい。
【0018】また、第1発光部41、第2発光部42
は、別々の光学的な同一平面内に配置されていてもよ
い。さらに第1発光部41は、光学的な同一平面内であ
れば各発光体を直線的に配置せずに、例えばジグザグ状
に配置してもよい。
【0019】次に、各光軸e,fの対物レンズの光軸1
1bとのなす角をφとすると光軸11bと観測対象3a
の法線とが一致するものとすれば、観察対象3aへの入
射角はφである。また、第2発光部42の光軸fはいず
れも観測対象3aの配列方向dに対して垂直に配置さ
れ、第1発光部41の光軸eはいずれも平行で観測対象
平面への射影は観測対象3aの配列方向dに対して角β
で傾斜している。図3の例では角β=45゜である。
【0020】本発明者による多種類の観測対象を用いた
実験によれば、観測対象の配列方向に対し45゜の照射
角(角β)で照明をした場合にコントラストが良好にな
る場合が多く、反対に90゜の照射角での照明では背景
である回路パターン等が強く反射しコントラストが悪く
なった。この傾向は連続的であり、例えば30゜程度の
照射角であっても90゜の照射角よりも良好なコントラ
ストが得られる観測対象が多かった。
【0021】また、対称の角度での傾向も同様であり、
同じ観測対象では135゜、225゜、315゜の近傍
でコントラストが良好であり、180゜、270゜、3
60゜の近傍ではコントラストが劣る結果となった。
【0022】この傾向はウェハ等に形成された回路素子
のパターンが互いに直交する方向で形成されているた
め、90゜、180゜等の方向から照射される光には強
く散乱するためと考えられる。
【0023】また、ウェハ上に書き込まれた溝(凹部)
が文字に正対して45゜傾斜しているタイトラ文字を観
測する場合、角βが=45゜、135゜、225゜、3
15゜のいずれかのみが観測上有効であって、その他の
光源からの照明は有効ではないばかりでなく、レジスト
ノイズ等の画像ノイズの原因になることがある。
【0024】第3発光部21は、図2に示すように、複
数の発光体(LED等)により構成され、観測対象3a
の配列方向に対してほぼ平行に光を照射する。
【0025】上記のような観測装置を使用すれば、第1
発光部が複数の発光体で構成され、各発光体の光軸が光
学的な同一平面内またはその近傍に配置されるので、観
測対象の配列方向に最適な角度で光を照射することがで
きるため、コントラストの高い像で観測することができ
る。本観測装置は、特に英数字などの文字コードの配列
を観測するのに適している。これらの観測対象は一列に
配列されるので、発光体1個では照度不足となったり、
観察対象の配列方向全体にわたって均一に照明すること
ができない。また、発光体を複数使用したとしても各発
光体の光軸が同一平面内にないと、複数の発光体からの
光の中には例えばコントラストを悪くするような方向の
光も含まれるため、コントラストの良好な像を得ること
はできない。これに対して、上記の構成によれば、第1
発光部41からの光が観測対象の配列方向に対して複数
の発光体からほぼ同一方向に傾斜して照射されるので、
観測対象の配列方向全体にわたって照明され、かつ、各
発光体がコントラストを高くするような同一の角度で観
測対象を照射することができる。これにより、コントラ
ストの高い像を得ることが可能となる。
【0026】さらに、第2、第3、第4発光部を設け、
これらを選択的に観測対象に照射できるようにすれば、
第1発光部の照明だけではコントラストが高くなかった
観測対象であっても対応可能となる。
【0027】また、図3の実施例では、第1および第2
発光部41,42を一枚の基板43に取り付け、その光
軸e,fを同一平面内に照射するよう配置したので、角
βの異なる発光体であっても観測対象3aに対して正確
に照明できる。またこれにより角βがそれぞれ異なって
いても基板を角度調整すれば他の発光体の光軸は必ず観
測対象3aの方向を向くから調整が簡単である。もちろ
ん、本発明においては、第1発光部41と第2発光部4
2を別々の異なる基板に取り付けてもよい。
【0028】なお、図5に示すように、第1、第2また
は第3発光部41,42,21の発光体と観察対象3a
との間にシリンドリカルレンズ44を配置すればレンズ
44と発光体の位置関係によって光の収束及び発散を調
整することができる。シリンドリカルレンズ44は光を
収束し、効率よく観測対象を照明するためのものであっ
て、反射光を結像用レンズ17に結像するための対物レ
ンズ11とは機能が異なる。
【0029】上記観測装置の使用方法の一例を以下に述
べる。ウェハに形成された文字や符号の読取装置として
使用するときは、まず半導体製造工程の適当な位置に本
発明の観測装置を設置する。ウェハを手動または自動で
搬送し観測対象3aが対物レンズ11の直下に位置する
ように截置する。その後第1なし第4発光部41,4
2,21,13のいずれか一方またはそれらを組合せて
駆動させ、観測対象3aを照明してカメラ7で読み取
り、制御装置37により文字を判読する。どの発光体を
駆動するかは発光コントローラ35において設定してお
く。判読結果がエラーであったら、発光体を変えて又は
新たな発光体を加えて再度照明し、判読する。
【0030】使用する発光体をデータに基づいて決めて
おくこともできる。例えば事前テストにおいてコントラ
ストが高くなるような発光部41,42,21,13の
特定の発光体を予め選んでおく。そして、その最適照明
が得られる1つ又は複数の発光部41,42,21,1
3の発光体(すなわち光源の入射角φと角βの組み合わ
せ)をデータとして発光コントローラ35に外部から入
力するか予め記憶させておく。前記データに優先順位を
つけて優先順位の高い照明から順に実行してもよい。も
ちろん、複数の発光体をグループ分けし、グループごと
に発光を行うことも可能である。また、前記グループ間
において発光の優先順位を予め設定しておき、良い画像
が得られない場合は優先順位にしたがって次のグループ
を発光させるようにしてもよい。
【0031】上記装置において、図3に示す辺dは観測
対象3aの中央部(X0軸)付近を通るようにしてもよ
いし、図3のように中央部(X0軸)から離れた位置に
してもよい。また異なる平面上に第1発光部41と第2
発光部42を各々配置するようにしてもよいが、その場
合、辺dは各平面に対応して異なるようにしてもよいし
一致させてもよい。要するに発光体からの光が観測対象
を適切に照射するようにすればよい。
【0032】また、辺dを一辺とする2つの平面上に各
々第1発光部と第2発光部を配置してもよい。さらに辺
dを一辺とする3つ目の平面上にも第2発光部を配置し
てもよい。3つ目の平面上の第2発光部の光軸の観測対
象平面への射影が配列方向となす角は他の第2発光部の
光軸がなす角とは異なっていてもよい。
【0033】次に、図6に本発明の第2の実施形態を示
す。上記例では各発光体の角βを変化させたが、ここで
は、発光体の光軸と対物レンズの光軸とのなす角、言い
換えれば観測対象の法線と対物レンズの光軸が一致する
とすれば発光体の光軸と観測対象の法線とのなす角、す
なわち入射角φを変化させる例について説明する。観測
対象に応じて入射角φを設定または変化させることによ
りコントラストの高い最適な画像を得ることができる。
図6に示すように、観測装置本体53に、シリンダ55
を取り付け、シリンダ55のシリンダシャフト57の先
端に移動型発光ユニット59をロックネジ61によって
取り付ける。移動型発光ユニット59は、ボックス63
内に複数の発光体65を装着して成り、例えば、図2,
3の第1発光部41および第2発光部42または第3発
光部21の組合せからなる配置を使用することができ
る。ボックス63の前面はディフューザ67で覆われて
いる。移動型発光ユニット59の照射角度はロックネジ
61を緩めることにより調整可能である。その他の構成
は図1と同様である。
【0034】移動型発光ユニット59は、不使用時には
シリンダが引っ込んだ位置すなわち図の実線で示す位置
(初期位置)にあり、使用時にはシリンダが突出した位
置すなわち図の鎖線で示す位置(動作位置)に移動す
る。初期位置と動作位置とはシリンダ55に内蔵されて
いる前進限センサおよび後退限センサによって検出され
る。
【0035】次に上記観測装置の使用方法の一例を述べ
る。ウェハに形成された文字や符号の読取装置として使
用するときは、まず半導体製造工程の適当な位置に観測
装置を設置する。このとき観測装置と観測対象との距離
は作動距離(ワーキングディスタンス)Wとなるように
設定する。また、ウェハ3を観測装置まで搬送する自動
搬送装置を使用する。はじめに、観測装置は、移動型発
光ユニット59を自動搬送装置の動作の障害にならない
ように初期位置に退避させ、自動搬送装置に対して準備
終了信号を出力する。その信号を受けて、自動搬送装置
は、ウェハ3が観測位置にあればこれを搬出し、なけれ
ば次のウェハ3を観測位置まで搬入する。ウェハ3の搬
入後、シリンダ55が駆動され、移動型発光ユニット5
9が動作位置まで移動し、移動型発光ユニット59を構
成する発光体65の一部または全部が発光する。
【0036】以上のように、移動型発光ユニット59が
移動するので、従来では得られなかった大きな入射角φ
によって観測対象3aを照明することができる。特に、
移動型発光ユニット59は、作動距離W内において対物
レンズ11の光軸方向に移動するだけなので、装置が大
型化することなく装置をコンパクトに構成することが可
能となる。
【0037】図7は移動手段の別の例を示す。この例で
は、移動型発光ユニット69を、回路基板71に複数の
発光体73a,73b,73cを取り付けて構成する。
回路基板71の一端を固定ブロック75に固定し、固定
ブロック75を固定ネジ77を用いてモータ79の回転
軸79aに固定する。モータ79は装置本体53に取り
付ける。図7に示すように、発光体73a,73b,7
3cはモータ79の回転軸からの距離が異なるように配
置する。モータ79を回転させると各発光体73a,7
3b,73cは、作動距離W内に進入し、観測対象3a
を照明することができる。
【0038】以上のようにすれば、発光体およびモータ
の回転角を選択設定すれば、入射角φの値を自由に調整
することができる。
【0039】図8に移動型発光ユニットの別の例を示
す。この例では、移動型発光ユニット81として、対物
レンズ11の光軸11b方向に隔てて配置した複数の発
光体群83a,83b,83cを使用した。各発光体群
の各発光体の光軸は、観測対象3aの辺dを一辺とする
3つの平面上またはその近傍に配置されている。各発光
体群中の発光体は、図3に示す第1発光部41と第2発
光部42で構成してもよいが、例えば発光体群83aを
第1発光部41とし、発光体群83b及び83cを第2
発光部としてもよい。移動型発光ユニット81はボック
ス85を有し、ボックス85の前面はディフューザ87
で覆っている。シリンダ89のシャフトは折り返し型の
シャフト91を使用し、シリンダ89本体を防塵カバー
93で覆う。シリンダ89の動作によって移動型発光ユ
ニット81が矢印で示すように光軸11b方向に上下動
する。
【0040】上記装置によれば、発光体83a,83
b,83cを選択することにより、入射角を多段階に変
化させることができるとともに、シリンダ89からの塵
芥等がウェハ3に付着するのを防止することができる。
【0041】図9は、発光体の移動に伴って発生する塵
が観測対象上に落ちないように工夫した例を示す。すな
わち、装置本体53全体を覆う筒状の防塵カバー90
を、シリンダ92のシャフト93に連結する。防塵カバ
ー90の下部には、移動型発光ユニット94が配置され
ている。防塵カバー90の底部は開口90aとなってお
り、この開口90aは移動型発光ユニット94の光を通
すように透明ガラス95によって覆われている。シリン
ダ92を駆動させると、防塵カバー90が下降し、発光
体95も共に下降して大きな入射角φで照明されるとと
もに、透明ガラス95によって覆われているので、ウェ
ハ3に塵芥等が落下するのを防止できる。
【0042】上記例において、移動手段の例として主に
シリンダを挙げて説明したが、その他の手段例えばモー
タ及び直動機構を使用してもよい。また、パルスモータ
等の位置制御型のモータを使用すれば、移動すべき位置
が多数あっても容易に位置制御することができる。
【0043】発光部が図2に示すように複数ある場合、
複数の発光部を連結して全部を同時に移動させることも
できる。図2の例でいえば、第1ないし第3発光部4
1,42,21を連結部材で連結して、これらの連結さ
れた発光部41,42,21を適当な移動手段(シリン
ダ等)を用いて同時に移動させることができる。もちろ
ん各発光部41,42,21の各々に移動手段を取り付
けてもよい。
【0044】上記例においては受光部7a(図1)にC
CDセンサを置いて観測したが、それに限らず他のセン
サや撮像管または肉眼等で観測するようにしてもよい。
【0045】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
光学素子を通さずに大きな入射角で観測対象を照明する
場合において、コントラストの高い最適な照明を行うこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の観測装置の一例の全体構成図
【図2】図1の観測装置の底面図
【図3】第1および第2発光部の光軸の向きを説明する
【図4】発光体の配置について説明する図
【図5】第1ないし第3発光部の別の構成例を示す図
【図6】移動型発光ユニットの別の例を示す図
【図7】移動型発光ユニットの別の例を示す図
【図8】移動型発光ユニットの別の例を示す図
【図9】移動型発光ユニットの別の例を示す図
【符号の説明】
3a 観測対象 11 対物レンズ 13 第4発光部 21 第3発光部 41 第1発光部 42 第2発光部

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 発光部からの光を対物レンズを通さずに
    観測対象に照射し、前記観測対象からの反射光を受光部
    で受光して前記観測対象を観測する観測装置において、 前記発光部は複数の発光体から成る第1発光部を備え、 第1発光部は、その照明が暗視野照明となるように配置
    されるとともに、各発光体の光軸は、前記観測対象の配
    列方向を一辺とする、光学的な同一平面内またはその近
    傍に配置され、各光軸の前記観測対象を含む平面に対す
    る射影が前記観測対象の配列方向に対してほぼ同一方向
    に傾斜していることを特徴とする観測装置。
  2. 【請求項2】 前記傾斜の角度は、45゜の奇数倍の近
    傍である請求項1に記載の観測装置。
  3. 【請求項3】 対物レンズを通さずに観測対象に光を照
    射する、複数の発光体から成る第1発光部を備え、 第1発光部は、その照明が暗視野照明となるように配置
    されるとともに、各発光体の光軸は、前記観測対象の配
    列方向を一辺とする、光学的な同一平面内またはその近
    傍に配置され、各光軸の前記観測対象を含む平面に対す
    る射影が前記観測対象の配列方向に対してほぼ同一方向
    に傾斜しているとともに、 前記対物レンズを通さずに前記観測対象の配列方向に対
    してほぼ垂直に光を照射する第2発光部、前記対物レン
    ズを通さずに前記観測対象の配列方向に対してほぼ平行
    に光を照射する第3発光部および前記対物レンズを通し
    て光を前記観察対象に照射する第4発光部のうちいずれ
    か1つまたは複数を備え、 前記観測対象からの反射光を受光部で受光して前記観測
    対象を観測することを特徴とする観測装置。
  4. 【請求項4】 発光部からの光を対物レンズを通さずに
    観測対象に照射し、前記観測対象からの反射光を対物レ
    ンズを介して受光部で受光して前記観測対象を観測する
    観測装置において、前記発光部はその照明が暗視野照明
    となるように配置されるとともに、前記発光部を移動さ
    せる移動手段を設けたことを特徴とする観測装置。
  5. 【請求項5】 前記移動手段は、前記発光部を前記対物
    レンズの光軸方向に移動させる請求項4に記載の観測装
    置。
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