JP2879323B2 - 撮像装置 - Google Patents

撮像装置

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JP2879323B2
JP2879323B2 JP8180753A JP18075396A JP2879323B2 JP 2879323 B2 JP2879323 B2 JP 2879323B2 JP 8180753 A JP8180753 A JP 8180753A JP 18075396 A JP18075396 A JP 18075396A JP 2879323 B2 JP2879323 B2 JP 2879323B2
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば電子部品実
装装置において電子部品の位置検出や欠損確認のため等
に用いられる撮像装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来からある撮像装置として、特開平4
−37099号公報に開示されるものがある。この撮像
装置は、離して配置させた一対の照明用光源を有し、こ
の照明用光源間の上方に吸着ノズルで吸着させた電子部
品を配置させて、照明用光源により斜め下方から一定の
照射仰角で照明し、電子部品からの反射光をカメラで受
光するものであった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
た撮像装置は、電子部品に対して常に一定の照射仰角で
光を入射させているため、電子部品のリードの種類によ
っては、撮像しようとする部分からの反射光が十分に得
られず、電子部品を確実に撮像できない場合があった。
【0004】本発明は、前述した課題に鑑みてなされた
もので、多種多様な電子部品の撮像をエリアセンサで確
実に行うことのできる撮像装置を提供することを目的と
する。
【0005】
【0006】
【0007】
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明による撮像装置
は、読取対象物に光を照射する照明用光源群と、照明用
光源群からの光によって読取対象物の像を撮像するエリ
アセンサとを備えた撮像装置において、照明用光源群
を、読取対象物から延びる反射光軸線に沿ってその周囲
に三段に配置させ、各段の照明用光源群の照射仰角を読
取対象物側からそれぞれ、略X゜〜(X゜+10゜)、
略45゜±15゜、略75゜±15゜とし、高さTをも
った半球状のリードをピッチPで複数個配列させた読取
対象物を想定し、式 A゜=tan-1((cosX゜・T−sin(90゜−
((90゜−X゜)/2))・T)/(P−(cos
(90゜−((90゜−X゜)/2))・T+sinX
゜・T))) で定められた最適仰角A゜に対し、X゜が、X゜≧A゜
を満たし、且つ、最適仰角A゜に最も近い値を有するよ
うにし、各段の照明用光源群相互間の点灯を選択的に切
替え可能としたことを特徴とする。
【0009】この撮像装置によれば、三段の照明用光源
群に対応して、3種類の異なる照射仰角で読取対象物が
照明される。そして、読取対象物の形状等によって、最
適な照射仰角をもつ段の照明用光源群を選択し、その照
明用光源群から読取対象物に対して光を照射させると、
この光は読取対象物で反射される。このとき、反射光軸
線に沿って反射される光の光量が多くなり、この光がエ
リアセンサで受光され、読取対象物の像が撮像される。
そして、異なる読取対象物に対しては、別の最適な照射
仰角をもつ段の照明用光源群に切り替え、その照明用光
源群により読取対象物が照明され、同様に読取対象物の
像が撮像される。例えば、半球状のリードをもった読取
対象物は、第1段目の照明用光源群により照明され、こ
れにより読取対象物のリードを強調した像が撮像され
る。
【0010】また、本発明の撮像装置は、読取対象物に
最も近い第1段目の照明用光源群の外方に設けられて、
第1段目の照明用光源群からの光を反射して、この反射
光を読取対象物に向けて照射させる反射手段を備えるこ
とが好ましい。この撮像装置によれば、第1段目の照明
用光源から出射された光が反射手段により反射され、こ
の反射光が読取対象物に向けて照射される。この結果、
直接照明の場合と比較して光路を長くすることができ、
読取対象物が過度な光強度で照射されることがなくな
る。
【0011】また、本発明の撮像装置は、読取対象物か
ら第3段目の照明用光源群の直前に防塵ガラスを備える
ことが好ましい。この撮像装置によれば、読取対象物か
ら第3段目の照明用光源群が点灯され、この照明用光源
群から出射される光が、照明用光源群の直前で防塵ガラ
スによって反射されても、この照明用光源群の像が光路
内に臨むことがなくなる。この結果、3段目の照明用光
源群の像が撮像されることがなくなる。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、添付図面と共に本発明によ
る撮像装置の第1実施形態について詳細に説明する。
【0013】図1に示すように、撮像装置10は、開口
部1を有し、この開口部1の上方を、吸着ノズル2に吸
着された電子部品3が高速で通過するとき、電子部品3
を下方から瞬間的に撮像する。また、撮像装置10は、
吸着ノズル2の上部に設けられた透過照明用光源4によ
り上方から電子部品3を照明し、そのシルエットを撮像
することもできる。また、撮像装置10は、開口部1を
形成させた角筒状の光源支持部5を有している。この光
源支持部5内には、電子部品3から延びる反射光軸線A
1の周囲に沿って、電子部品3に向けて光を照射するた
めの照明用光源群6,7,8が三段設けられている。す
なわち、光源支持部5の最上部には、内部に第1段目の
照明用光源群6が設けられ、この第1段目の照明用光源
群6の下方には、第2段目の照明用光源群7が設けら
れ、この第2段目の照明用光源群7の下方には、第3段
目の照明用光源群8が設けられている。
【0014】このように、第1段目、第2段目および第
3段目の照明用光源群6,7,8が反射光軸線A1にほ
ぼ平行に配置されているので、電子部品3に対して照射
される光の照射仰角は、電子部品3から離れるにつれて
順次大きくなっている。ここで、照射仰角とは、反射光
軸線A1に直交する平面と、照明用光源群6,7,8か
らの光線とのなす角をいうものとする。また、第1段
目、第2段目又は第3段目の照明用光源群6,7,8は
相互間の点灯を切り替えることができる。
【0015】また、反射光軸線A1上には、第3段目の
照明用光源群8の下方位置にハーフミラー9と反射鏡1
1とが設けられている。ハーフミラー9からは、ハーフ
ミラー9で反射される光の方向に反射光軸線A2が延
び、この反射光軸線A2上には、高倍率の結像レンズ1
2と、エリアセンサ13が設けられている。一方、反射
鏡11からは、反射鏡11で反射される光の方向に反射
光軸線A3が延び、この反射光軸線A3上には、低倍率
の結像レンズ14とエリアセンサ15とが設けられてい
る。
【0016】図2から図4に示すように、第1段目の照
明用光源群6は、均一照明のために、反射光軸線A1に
対して四方に配置される四個の反射照明部16を有し、
各反射照明部16は、光源支持部5の4つの内壁面18
にそれぞれ対応して配置されている。各反射照明部16
は、各内壁面18に固定された平板状の支持板19上に
おいて反射照明用光源群20を有し、反射照明用光源群
20は、反射照明用光源21(例えば発光ダイオード)
を各内壁面18に沿って10個ずつ配列することで、計
40個の光源21からなっている。各反射照明用光源2
1は、その出射光軸線C1を内壁面18の方向に向けて
いる。また、反射照明用光源群20と各内壁面18との
間には、平板状の細長い反射鏡22が固定されている。
この反射鏡22は、反射照明用光源群20から出射され
る光を軸線C2に沿って電子部品3に向けて照射させる
と共に、電子部品3に対して照射仰角α゜で光を照明さ
せる。このように間接照明方式を採ることで、反射照明
用光源群20から電子部品3までの光路長を長くするこ
とができ、電子部品3が過度な光強度で照明されること
がなくなる。
【0017】また、図4に示すように、第1段目の照明
用光源群6は、光源支持部5の最上部の4つのコーナー
部23にそれぞれ補助照明部24を有している。この補
助照明部24は、電子部品3を照明する際に、反射照明
部16による照明では十分に撮像できない部分に補助的
に光を照射させるためのものである。各補助照明部24
は、起立板26上に補助照明用光源群25を有し、この
補助照明用光源群25は、補助照明用光源27(例え
ば、発光ダイオード)を各コーナー部23に5個ずつ配
列することで、計20個の光源27からなっている。各
補助照明用光源27は、その出射光軸線D1が電子部品
3に直接向けられ、前述した反射照明部16の照射仰角
α゜と同じ照射仰角で電子部品3に向けて光を照射す
る。このように、電子部品31は対角方向からも照明さ
れるので、電子部品3に対する照明の均一性は更に向上
することになる。
【0018】ここで、第1段目の照明用光源群6による
光の照射仰角α゜について説明する。第1段目の照明用
光源群6は、主として、図5に示す半球状のリード41
を有する電子部品3を対象とし、特に、リード41のみ
を認識するために設けられている。このため、照射仰角
α゜も、この種の電子部品3を想定して設定される。こ
の電子部品3は、リード支持面3a上に、特定面3aか
らの高さTの半球状のリード41を一定のピッチPで複
数個配列させている。このような電子部品3について、
照射仰角α゜は、以下のようにして設定される。
【0019】すなわち、設定すべき照射仰角をX°とし
たとき、各リード41について、リード41の大部分を
撮像することのできる最適仰角A°は、下記式 A゜=tan-1((cosX゜・T−sin(90゜−
(90゜−X゜)/2)・T)/(P−(cos(90
゜−(90゜−X゜)/2)・T+sinX゜・
T))) で表され、この最適仰角A°に対して、X°≧A°を満
たし、且つ、最適仰角A°に最も近い値をもったX°を
決定する。そして、このX°に対し、X°〜(X°+1
0°)の範囲で照射仰角α°が設定される。
【0020】例えば、T=0.6、P=1.5の電子部
品3について、X゜=8゜としたとき、最適仰角A゜
は、A゜=7.87゜となるが、X゜=7゜とした場
合、A゜=8.08゜となり、X゜<A゜となるので、
X゜=7゜は不適となる。X゜を整数とした場合、この
電子部品3については、X゜=8゜となる。このとき、
照射仰角α゜は、X゜〜X゜+10゜の範囲で設定され
るので、8゜〜18゜の範囲で設定され、例えば、11
゜に設定される。そして、この照射仰角で電子部品3を
撮像する場合、リード41のみが強調されて撮像される
ことになる。なお、X゜は、X゜=A゜となることが最
も好ましい。この場合、各リード41を全体にわたって
撮像することができる。また、前述のようにして決定し
た照射仰角α゜は、前述した半球状のリード41をもっ
た電子部品3以外に、円板状のリードを複数個配列させ
た電子部品などに対しても適用させることができる。
【0021】また、図2、図3に示すように、第2段目
の照明用光源群7は、均一照明のために、反射光軸線A
1に対して四方に四個配置され、各照明用光源群7は、
光源支持部5の4つの内壁面18から斜め下方に延びる
四枚の斜板28上に配置されている。各照明用光源群7
は、各内壁面18に沿って照明用光源29(例えば、発
光ダイオード)を各内壁面18側から3列20個ずつ配
列することで、計80個の光源29からなっている。ま
た、各照明用光源29は、その出射光軸線E1を直接電
子部品3の方向に向け、電子部品3に対して特定の照射
仰角β゜で配置されている。ここで、照射仰角β゜は、
前述した第1段目の照明用光源群6による照射仰角α゜
よりも大きく設定され、例えば45゜に設定される。た
だし、この照射仰角β゜は、30゜〜60゜の範囲で任
意に設定することもできる。
【0022】この第2段目の照明用光源群7は、主とし
て、リード支持面3aの反射率が高く且つリード41の
反射率も高い電子部品3のリード41を認識するのに有
効である。例えば、リード支持面3aを金で形成させた
電子部品3を用いた場合、第2段目の照明用光源群7を
点灯させると、第2段目の照明用光源群7からの光は、
電子部品3のリード支持面3aでは鏡面反射され、反射
光軸線A1に沿って反射される反射光の光量は少なくな
る。一方、リード41からは光が散乱反射され、反射光
軸線A1に沿ってリード41から反射される反射光の光
量が多くなる。この結果、リード41の強調された電子
部品像が撮像される。
【0023】また、第2段目の各照明用光源群7と電子
部品3との間で、各斜板28に対峙する位置には、第2
段目の各照明用光源群7から出射される光を拡散させる
拡散板30がそれぞれ設けられている。このため、第2
段目の照明用光源群7を点灯させた場合、第2段目の各
照明用光源群7から出射される光は拡散され、電子部品
3がほぼ均一に照明される。
【0024】また、図2、図3に示すように、第3段目
の照明用光源群8は、均一照明のために、反射光軸線A
1に対して四方に四個配置され、各照明用光源群8は、
光源支持部5の各内壁面18から垂直方向に延びる突出
板31上にそれぞれ配置されている。この第3段目の照
明用光源群8は、各内壁面18に沿って照明用光源32
(例えば、発光ダイオード)を内壁面18側から3列3
0個ずつ配列させることで、計120個からなってい
る。
【0025】各照明用光源32は、その出射光軸線F1
が電子部品3の方向に向けられ、電子部品3に対して特
定の照射仰角γ゜で配置されている。ここで、この照射
仰角γ゜は、前述した第2段目の照明用光源群7による
照射仰角β゜よりも大きく設定され、例えば75゜に設
定される。ただし、この照射仰角γ゜は、使用する電子
部品3の種類に応じて、60゜〜90゜の範囲で任意に
設定することができる。
【0026】この第3段目の照明用光源群8は、主とし
て、リード支持面3aの反射率が低く且つリード41の
反射率が高い電子部品3のリード41を認識するのに有
効である。この場合、第3段目の照明用光源群8を点灯
させると、この照明用光源群8から出射光軸線F1に沿
って出射される。このとき、リード41からの反射光量
は多くなり、反射率の低い電子部品3のリード支持面3
aからの反射光量は少なくなる。この結果、リード41
の強調された電子部品像が撮像される。
【0027】なお、図2、図3に示すように、電子部品
3から最も遠い段に配置されている第3段目の照明用光
源群8の直前には、撮像装置10内へのごみの侵入を防
止する防塵ガラス33が設けられ、この防塵ガラス33
は、例えば透明ガラスで構成されている。この防塵ガラ
ス33は、第3段目の照明用光源群8から出射される光
を反射させても、この反射光を2点鎖線で示される光路
B1および実線で示される光路B2内に導くことがな
い。このため、第3段目の照明用光源群8の像がエリア
センサ13,15で撮像されることがなくなる。また、
防塵ガラス33には減反射コーティングを施す必要がな
いので、コストを低減させることができ、この防塵ガラ
ス33を通過する光を減光させることなく、十分な出射
光を得ることができる。
【0028】また、前述した第1段目〜第3段目の照明
用光源群6,7,8は、光路B1,B2外に配置されて
いるので、各段の明用光源群6,7,8の像は、光路B
1,B2を通ってエリアセンサ13,15で撮像される
ことがなくなる。
【0029】なお、図6に示すように、前述した第1段
目〜第3段目の照明用光源群6,7,8は、切替コント
ロール回路34により相互間でその点灯の切替えを可能
とされている。この切替コントロール回路34では、第
1段目、第2段目および第3段目の照明用光源群6,
7,8に対する照明用回路部35,36,37が並列に
接続され、各照明用回路部35,36,37につき、そ
れぞれ切替スイッチ38,39,40が直列に接続され
ている。そして、この切替スイッチ38,39,40の
ON・OFFにより照明用光源群6,7,8がそれぞれ
独立に点灯/消灯される。なお、各照明用回路部35,
36,38は、直列につなげた同数の照明用光源(発光
ダイオード)を並列に接続することで構成されている。
【0030】また、切替スイッチ38は、図7に示すよ
うに、抵抗R,r(R>r)を並列に接続させた複数個
(例えば2個)の端子42,43と、この端子42,4
3に接続されるスイッチレバー44とで構成されてい
る。スイッチレバー44を端子42と接続させる場合、
端子42は大きい抵抗を接続させているので、照明用光
源に流れる電流は小さくなる。これに対して、スイッチ
レバー44を端子43に接続させる場合、端子43は小
さい抵抗を接続させているので、照明用光源に流れる電
流は大きくなる。従って、照明用光源の発光光量を二段
に調整することができる。また、切替スイッチ39,4
0も、前述した切替スイッチ38と同一構成となってい
る。なお、このように発光光量を調整できるようにした
のは、電子部品3を撮像するにあたって、過剰な発光光
量により、リード41および電子部品3のリード支持面
3aの双方から光が強く反射されることでリード41と
リード支持面3aとの区別がつきにくくなるのを防止す
るためである。
【0031】次に、前述した構成に基づき、撮像装置1
0の作用について簡単に説明する。
【0032】まず、第1段目の照明用光源群6を点灯さ
せて、電子部品3に光を照射させる。このとき、第1段
目の照明用光源群6は、反射光軸線A1の周囲に配置さ
れているので、電子部品3は、第1段目の照明用光源群
6により周囲からほぼ均一に照明される。そして、電子
部品3の下面で反射光軸線A1に沿って反射される光
が、光路B1を形成しながらハーフミラー9で反射さ
れ、この反射光が反射光軸線A2に沿って高倍率の結像
レンズ12に入射し、この結像レンズ12によりエリア
センサ13に結像される。このとき、エリアセンサ13
では、電子部品3の局部像が撮像される。
【0033】一方、電子部品3のリード支持面3aで反
射光軸線A1に沿って反射される光が、光路B2を形成
しながらハーフミラー9を透過し、反射鏡11で反射さ
れて、この反射光が反射光軸線A3に沿って低倍率の結
像レンズ14に入射し、この結像レンズ14によりエリ
アセンサ15に結像される。このとき、エリアセンサ1
5では、電子部品3の全体像が撮像される。また、電子
部品3は、第1段目の照明用光源群6を第2段目の照明
用光源群7に切り替える場合、第2段目の照明用光源群
により更に大きい照射仰角で照明される。なお、いずれ
の段の照明用光源群を点灯させるかは、対象となる電子
部品3の形状又は性質等による。
【0034】
【0035】本発明は、前述した一実施形態に限られな
い。例えば、照明用光源群6,7,8は、反射光軸線A
1に対して四方に配置されているが、照明用光源群6,
7,8は、円環状に配置されてもよい。この場合でも、
電子部品3を均一に照明することができる。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように本発明による撮像装
置は、前述したように構成されているので、以下に示す
効果を有する。すなわち、本発明による撮像装置は、照
明用光源群を、読取対象物から延びる反射光軸線に沿っ
てその周囲に三段に配置させ、各段の照明用光源群の照
射仰角を特定のものとし、かつ読取対象物から離れるに
つれて順次大きくし、各段の照明用光源群相互間の点灯
を選択的に切替え可能な構成としたので、多種多様な電
子部品の撮像をエリアセンサで確実に行うことができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る撮像装置の第1実施形態を示す端
面図である。
【図2】図1の撮像装置の要部を示す断面図である。
【図3】図1の撮像装置の要部を示す一部切欠き斜視図
である。
【図4】読取対象物側から第1段目の照明用光源群を示
す平面図である。
【図5】半球状のリードをもった電子部品の側面図であ
る。
【図6】切替コントロール回路を示す回路図である。
【図7】切替スイッチの内部構成を示す回路図である。
【符号の説明】
3…電子部品(読取対象物)、6,7,8…照明用光源
群、13,15…エリアセンサ、22…反射鏡(反射手
段)、33…防塵ガラス、41…リード、α゜,β゜,
γ゜…照射仰角、A゜…最適仰角。

Claims (3)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 読取対象物に光を照射する照明用光源群
    と、前記照明用光源群からの光によって前記読取対象物
    の像を撮像するエリアセンサとを備えた撮像装置におい
    て、 前記照明用光源群を、前記読取対象物から延びる反射光
    軸線に沿ってその周囲に三段に配置させ、各段の前記照
    明用光源群の前記照射仰角を前記読取対象物側からそれ
    ぞれ、略X゜〜(X゜+10゜)、略45゜±15゜、
    略75゜±15゜とし、高さTをもった半球状のリード
    をピッチPで複数個配列させた前記読取対象物を想定
    し、式 A゜=tan-1((cosX゜・T−sin(90゜−
    ((90゜−X゜)/2))・T)/(P−(cos
    (90゜−((90゜−X゜)/2))・T+sinX
    ゜・T))) で定められた最適仰角A゜に対し、前記X゜が、X゜≧
    A゜を満たし、且つ、前記最適仰角A゜に最も近い値を
    有するようにし、前記各段の照明用光源群相互間の点灯
    を選択的に切替え可能としたことを特徴とする撮像装
    置。
  2. 【請求項2】 前記読取対象物に最も近い第1段目の前
    記照明用光源群の外方に設けられて、前記第1段目の照
    明用光源群からの光を反射して、この反射光を前記読取
    対象物に向けて照射させる反射手段を備えたことを特徴
    とする請求項1に記載の撮像装置。
  3. 【請求項3】 前記読取対象物から第3段目の前記照明
    用光源群の直前に防塵ガラスを備えることを特徴とする
    請求項1又は2に記載の撮像装置。
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