JPH1124104A - 液晶表示装置 - Google Patents
液晶表示装置Info
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- JPH1124104A JPH1124104A JP18124297A JP18124297A JPH1124104A JP H1124104 A JPH1124104 A JP H1124104A JP 18124297 A JP18124297 A JP 18124297A JP 18124297 A JP18124297 A JP 18124297A JP H1124104 A JPH1124104 A JP H1124104A
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Abstract
ブマトリクス型液晶表示装置における基板上に形成した
映像信号線からのノイズ電界によるクロストークを防止
し、ブラウン管並の視野角を実現する。 【解決手段】一対の基板に正の誘電率異方性を有する液
晶組成物層を挟持し、電圧無印加時に液晶組成物層中の
略全ての液晶分子の光軸を基板面に配向させ、液晶組成
物層に一対の基板の基板面に略平行な電界を印加するこ
とにより液晶組成物層を透過する光の透過率を変調して
前記一対の基板の基板面に略平行な電界を発生させ得る
一対の電極CT、PXを有し、一対の電極CT、PXの
一方および他方を一対の基板のうちの一方に形成させる
と共に、多数の走査信号線GLと多数の映像信号線DL
および走査信号線と映像信号線の交点に形成された薄膜
トランジスタ素子TFTを有し、映像信号線DL上にシ
ールド電極SHを設け、一対の電極CT、PXの一方と
走査信号線GLの少なくとも1つ以上とシールド電極S
Hがオーバラップする領域を設けた。
Description
り、特に、薄膜トランジスタ等を使用したアクティブ・
マトリクス方式の液晶表示装置に関する。
るアクティブ素子を用いたアクティブ・マトリクス型液
晶表示装置は、薄型・軽量という特徴とブラウン管に匹
敵する高画質という点からOA機器等の表示端末として
広く普及し始めている。
て次の2通りがある。1つは、透明電極が構成された2
つの基板(透明ガラス基板等)で液晶組成物層(以下、
液晶層あるいは単に液晶とも言う)を挾み込み、この液
晶層の分子配向方向を透明電極に印加した電圧で変化さ
せ、透明電極を透過して液晶に入射した光を変調して表
示する方式であり、現在、普及している製品のかなり多
くがこの方式を採用している。
2つの電極の間の基板面に形成したほぼ並行な電界によ
り液晶層の分子配向方向を変化させ、2つの電極の隙間
から液晶層に入射した光を変調して表示する方式であ
る。この方式を用いた製品は少ないが、視野角が著しく
広いという特徴を持ち、アクティブ・マトリクス型液晶
表示装置に関して有望な技術である。
505247号公報、特公昭63−21907号公報等
に記載されている。
ーの液晶表示装置について従来の技術例を説明する。
方式カラー液晶表示装置の一画素とその周辺を示す平面
図である。図24に示すように、各画素は走査信号線
(ゲート信号線または水平信号線)GLと、対向電圧信
号線(対向電極配線)CLと、隣接する2本の映像信号
線(ドレイン信号線または垂直信号線)DLとの交差領
域内(4本の信号線で囲まれた領域内)に配置されてい
る。
量Cstg、画素電極PXおよび対向電極CTを含む。
走査信号線GL、対向電圧信号線CLは図23では左右
方向に延在し、上下方向に複数本配置されている。
し、左右方向に複数本配置され、画素電極PXは導電膜
d3で形成され,ソース電極SD1を介して薄膜トラン
ジスタTFTと電気的に接続される。対向電極CTは導
電膜g3で形成され,対向電圧信号線CLと電気的に接
続されている。
いに対向し、各画素電極PXと対向電極CTとの間の電
界により液晶LCの光学的な状態を制御し、表示を制御
する。画素電極PXと対向電極CTは櫛歯状に構成さ
れ、それぞれ、図23の上下方向に長細い電極となって
いる。
は、基板上に形成した映像信号線からのノイズ電界によ
り次のような縦方向のクロストークが発生する場合があ
る。この場合のクロストークは、背景が略均一な輝度の
表示画面において画面の一部に矩形を表示した場合に、
その矩形を上下に延長した領域の輝度が変化することを
言う。
りである。先に説明した従来の構成では、画素電極PX
と映像信号線DLとの間で映像信号線DLの電位に影響
を受けたノイズ電界が発生する。すると、画素電極PX
と映像信号線DLの間にある液晶の状態が変化し、画素
の輝度が変化する。すなわち、画素の輝度が映像信号線
DLの電位の影響で変化する。これが原因で、縦方向の
クロストークが発生し、表示品質が劣化する。
縦方向のクロストークを抑制して高品質の画像表示を得
るようにした液晶表示装置を提供することにある。
に、本発明は、映像信号線上にシールド電極を設け、
このシールド電極を対向電極と走査信号線の2つのうち
1つ以上とオーバラップする領域を設ける、上記シー
ルド電極を他の画素に属するシールド電極と接続する、
上記シールド電極同士の接続を周期的とする、上記
シールド電極を透明導電膜とする、構成としたことを特
徴とする。
クロストークが抑制され、高視野角で高画質の液晶表示
装置を得ることができる。
に他の目的及び本発明の更に他の特徴を図面を参照して
詳細に説明する。
ス方式のカラー液晶表示装置に本発明を適用した実施例
を説明する。なお、以下説明する図面で、同一機能を有
するものは同一符号を付け、その繰り返しの説明は省略
する。
1は本発明の第1実施例に係るアクティブ・マトリクス
方式カラー液晶表示装置の1画素とその周辺を示す平面
図である。
(ゲート信号線または水平信号線)GLと、対向電圧信
号線(対向電極配線)CLと、隣接する2本の映像信号
線(ドレイン信号線または垂直信号線)DLとの交差領
域内(4本の信号線で囲まれた領域内)に配置されてい
る。各画素は薄膜トランジスタTFT、蓄積容量Cst
g、画素電極PXおよび対向電極CTを含む。
では左右方向に延在し、上下方向に複数本配置されてい
る。映像信号線DLは上下方向に延在し、左右方向に複
数本配置されている。画素電極PXは導電膜d3で形成
され,ソース電極SD1を介して薄膜トランジスタTF
Tと電気的に接続される。この場合,電極の材質は映像
信号線DLと同じであるが、透明な導電膜に変更しても
よい。
向電圧信号線CLと電気的に接続されている。電極の材
質は、この場合、走査信号線GLと同じであるが、透明
な導電膜に変更してもよい。
し、各画素電極PXと対向電極CTとの間の電界により
液晶LCの光学的な状態を制御して表示を制御する。
成され、それぞれ、図1の上下方向に長細い電極となっ
ている。
本数)は画素電極PXの本数(櫛歯の本数)PとO=P
+1の関係を必ず持つように構成し(本実施例では、O
=3、P=2)、対向電極CTと画素電極PXを交互に
配置し、かつ、対向電極CTを映像信号線DLに隣接さ
せている。
れぞれ6μmとする。これは、液晶層の厚み方向に対し
て液晶層全体に十分な電界を印加するために、後述の液
晶層の厚み3. 9μmよりも十分大きく設定し、かつ開
口率を大きくするためにできるだけ細くする。また、映
像信号線DLの電極幅は,断線を防止するために画素電
極PXと対向電極CTに比較して若干広く8μmとして
いる。
SHについて説明する。シールド電極SHは、映像信号
線DL、映像信号線に隣接する対向電極CT、走査信号
線GLの3種類の電極にオーバラップし、なおかつ電気
的には絶縁層で分離するように配置してある。シールド
電極SHは、金属/合金/透明導電膜等から選択する
が、本実施例では透明導電膜i3で形成する。
図であって、上記シールド電極の作用を説明するもので
ある。
極と対向電極CTとの間の容量、容量Csh2はシール
ド電極と走査信号線GLとの間の容量、容量Csh3は
シールド電極と映像信号線DLとの間の容量である。
dとし、シールド電極の電位をVshとすると、前記V
d(m)がΔVd(m)だけ変化した場合のシールド電
極の電位の変化をΔVshとする。
はシールド電極が無い場合にはΔVd(m)で決まる
が、シールド電極がある場合はシールド電極SHの電位
変化ΔVshで決まる。このΔVshは、次の式1で表
現される。
することで、ΔVshを十分小さくできる。結局、この
シールド電極SHの作用によりノイズ電界が十分小さく
なる。これにより、ノイズ電界による画素の輝度変化が
小さくなり、縦方向のクロストークを十分小さくするこ
とができる。
信号線GLは、末端側の画素(後述の走査電極端子GT
Mの反対側)のゲート電極GTに十分な走査電圧が印加
されるだけの抵抗値を満足するように電極幅を設定す
る。また、対向電圧信号線CLも末端側の画素(後述の
共通バスラインCB1およびCB2から最も遠い画素す
なわちCB1とCB2の中間の画素)の対向電極CTに
十分に対向電圧が印加できるだけの抵抗値を満足するよ
うに電極幅を設定する。
電極間隔は、用いる液晶材料によって変える。これは、
液晶材料によって最大透過率を達成する電界強度が異な
るため、電極間隔を液晶材料に応じて設定し、用いる映
像信号駆動回路(信号側ドライバ)の耐圧で設定される
信号電圧の最大振幅の範囲で最大透過率が得られるよう
にするためである。後述の液晶材料を用いると電極間隔
は16μmとなる。
3は図1の6−6線に沿って切断した断面図、図4は図
1の7−7線に沿って切断した薄膜トランジスタTFT
部分の断面図、図5は図1の8−8線に沿って切断した
蓄積容量Cstg部分の断面図である。
基準にして下部透明ガラス基板SUB1側には薄膜トラ
ンジスタTFT、蓄積容量Cstgおよび電極群が形成
され、上部透明ガラス基板SUB2側にはカラーフィル
タFIL、遮光用ブラックマトリクスパターンBM(図
1参照、図3では図示を省略)が形成されている。
のそれぞれの内側(液晶LC側)の表面には液晶の初期
配向を制御する配向膜ORI1、ORI2が設けられて
おり、透明ガラス基板SUB1、SUB2のそれぞれの
外側の表面には偏光軸が直交して配置(クロスニコル配
置)された偏光板POL1およびPOL2が設けられて
いる。
SUB1側(TFT基板)の構成を詳しく説明する。
スタTFTは、ゲート電極GTに正のバイアスを印加す
るとソース−ドレイン(SD1−SD2)間のチャネル
抵抗が小さくなり、バイアスを零にするとチャネル抵抗
は大きくなるように動作する。
うに、ゲート電極GT、絶縁膜GI、i型(真性(in
trinsic)導電型決定不純物がドープされていな
い)非晶質シリコン(Si)からなるi型半導体層A
S、一対のソース電極SD1、ドレイン電極SD2を有
す。なお、ソース、ドレインは本来その間のバイアス極
性によって決まるが、この液晶表示装置の回路ではその
極性は動作中反転するのに伴い、ソースとドレインは動
作中入れ替わると理解されたい。しかし、以下の説明で
は、便宜上一方をソース、他方をドレインと固定して表
現する。
信号線GLと連続して形成されており、走査信号線GL
の一部の領域がゲート電極GTとなるように構成されて
いる。ゲート電極GTは薄膜トランジスタTFTの能動
領域を超える部分である。本実施例では、ゲート電極G
Tは単層の導電膜g3で形成されている。導電膜g3と
しては、例えばスパッタで形成されたクロム(Cr)膜
が用いられるが、これに限ったものではない。
膜g3で構成されている。この走査信号線GLの導電膜
g3はゲート電極GTの導電膜g3と同一製造工程で形
成され、かつ一体に構成されている。この走査信号線G
Lにより、外部回路からゲート電圧Vg をゲート電極G
Tに供給する。本実施例では、導電膜g3としては例え
ばスパッタで形成されたクロム(Cr)膜が用いられ
る。
GTはクロムのみに限られたものではなく、たとえば低
抵抗化のためにアルミニウムまたはアルミニウム合金を
クロムで包み込んだ2層構造としてもよい。
映像信号線DLとの短絡の確率を小さくするため細く
し、また、短絡してもレーザートリミングで切り離すこ
とができるように二股にしても良い。
Lは導電膜g3で構成されている。この対向電圧信号線
CLの導電膜g3はゲート電極GT、走査信号線GLお
よび対向電極CTの導電膜g3と同一製造工程で形成さ
れ、かつ対向電極CTと電気的に接続できるように構成
されている。この対向電圧信号線CLにより、外部回路
から対向電圧Vcomを対向電極CTに供給する。
限られたものではなく、たとえば低抵抗化のためにアル
ミニウムまたはアルミニウム合金をクロムで包み込んだ
2層構造としてもよい。
映像信号線DLとの短絡の確率を小さくするため細く
し、また、短絡してもレーザートリミングで切り離すこ
とができるように二股にしても良い。
ジスタTFTにおいて、ゲート電極GTと共に半導体層
ASに電界を与えるためのゲート絶縁膜として使用され
る。絶縁膜GIはゲート電極GTおよび走査信号線GL
の上層に形成されている。絶縁膜GIとしては例えばプ
ラズマCVDで形成された窒化シリコン膜が選ばれ、2
50〜450nmの厚さに(本実施例では、350nm
程度)形成される。
対向電圧信号線CLと映像信号線DLの層間絶縁膜とし
ても働き、それらの電気的絶縁にも寄与している。さら
に、絶縁膜GIは後述の保護膜PSV1と同一のホトマ
スクでパターニングされ、一括で加工される。
は、非晶質シリコンで、20〜250nmの厚さに(本
実施例では120nm程度の膜厚)で形成される。層d
0はオーミックコンタクト用のリン(P)をドープした
N(+)型非晶質シリコン半導体層であり、下側にi型
半導体層ASが存在し、上側に導電層d3が存在すると
ころのみに残されている。
号線GLおよび対向電圧信号線CLと映像信号線DLと
の交差部(クロスオーバ部)の両者間にも設けられてい
る。この交差部のi型半導体層ASは交差部における走
査信号線GLおよび対向電圧信号線CLと映像信号線D
Lとの短絡を低減する。
2》ソース電極SD1、ドレイン電極SD2のそれぞれ
は、N(+) 型半導体層d0に接触する導電膜d3から
構成されている。
(Cr)膜を用い、50〜300nmの厚さに(本実施
例では200nm程度)で形成される。
性も良好である。導電膜d3としては、Cr膜の他に高
融点金属(Mo、Ti、Ta、W)膜、高融点金属シリ
サイド(MoSi2 、TiSi2 、TaSi2 、WSi
2 )膜を用いてもよく、またアルミニウム(Al)等と
の積層構造にしてもよい。
グした後、同一のマスクによって、N(+) 型半導体層
d0が除去される。つまり、i型半導体層AS上に残っ
ていたN(+) 型半導体層d0は、導電膜d1と導電膜
d2以外の部分がセルフアラインで除去される。このと
き、N(+) 型半導体層d0はその厚さ分は全て除去さ
れるようエッチングされるので、i型半導体層ASも若
干その表面部分がエッチングされるが、その程度はエッ
チング時間で制御すればよい。
ース電極SD1、ドレイン電極SD2と同層の導電膜d
3で構成されている。映像信号線DLはドレイン電極S
D2と一体に形成されている。本実施例では、導電膜d
3はスパッタで形成したクロム(Cr)膜を用い、50
〜300nmの厚さに(本実施例では、200nm程
度)で形成される。また、Cr膜はN(+) 型半導体層
d0との接着性も良好である。
金属(Mo、Ti、Ta、W)膜、高融点金属シリサイ
ド(MoSi2 、TiSi2 、TaSi2 、WSi2 )
膜を用いてもよく、またアルミニウム等との積層構造に
してもよい。
トランジスタTFTのソース電極SD2部分において、
対向電圧信号線CLと重なるように形成されている。こ
の重ね合わせは、図5からも明らかなように、ソース電
極SD2(d3)を一方の電極とし、対向電圧信号線C
Lを他方の電極とする蓄積容量(静電容量素子)Cst
gを構成する。この蓄積容量Cstgの誘電体膜は、薄
膜トランジスタTFTのゲート絶縁膜として使用される
絶縁膜GIで構成されている。
tgは対向電圧信号線CLの一部分に形成されている。
T上には保護膜PSV1が設けられている。保護膜PS
V1は、主に薄膜トランジスタTFTを湿気等から保護
するために形成されており、透明性が高くしかも耐湿性
の良いものを使用する。保護膜PSV1は、たとえばプ
ラズマCVD装置で形成した酸化シリコン膜や窒化シリ
コン膜で形成されており、0. 3〜1μm程度の膜厚で
形成する。
GTMを露出するように除去されている。保護膜PSV
1と絶縁膜GIの厚さ関係に関しては、前者は保護効果
を考え厚くされ、後者はトランジスタの相互コンダクタ
ンスgmを増大するため薄くされる。また、保護膜PS
V1は絶縁膜GIと同一のホトマスクでパターニング
し、一括で加工する。
3で形成され、ソース電極SD2から連続にパターンが
形成されている。また、画素電極PXの材質は、本実施
例では厚さ200nmのクロムを使用したが、厚さや材
質はこれに限ったものではない。
3で形成され、対向電圧信号線CLから連続にパターン
が形成されている。対向電極CTには対向電圧Vcom
が印加されるように構成されている。本実施例では、対
向電圧Vcomは映像信号線DLに印加される最小レベ
ルの駆動電圧Vdmin と最大レベルの駆動電圧Vdmax
との中間直流電位から、薄膜トランジスタ素子TFTを
オフ状態にするときに発生するフィードスルー電圧ΔV
s 分だけ低い電位に設定されるが、映像信号駆動回路で
使用される集積回路の電源電圧を約半分に低減したい場
合は、交流電圧を印加すれば良い。
に戻り、上側透明ガラス基板SUB2 側(カラーフィル
タ基板)の構成を詳しく説明する。 《遮光膜BM》上部透明ガラス基板SUB2側には、不
要な間隙部(画素電極PXと対向電極CTの間以外の隙
間)からの透過光が表示面側に出射して、コントラスト
比等を低下させないように遮光膜BM(いわゆるブラッ
クマトリクス)を形成している。遮光膜BMは、外部光
またはバックライト光がi型半導体層ASに入射しない
ようにする役割も果たしている。すなわち、薄膜トラン
ジスタTFTのi型半導体層ASは上下にある遮光膜B
Mおよび大き目のゲート電極GTによってサンドイッチ
にされるため、外部の自然光やバックライト光が当たら
なくなる。
タ素子TFT上部に左右方向に線状に延在した構成であ
る。このパターンは一例であり、1画素あたりにひとつ
の開口部をあけた格子状にすることもできる。
る。本実施例では黒色の顔料をレジスト材に混入し、
1. 2μm程度の厚さで形成しているが、膜厚や材質は
これに限ったものではない。
線状に形成され、この線で各行の有効表示領域が仕切ら
れている。従って、各行の画素の輪郭が遮光膜BMによ
ってはっきりとする。遮光膜BMは、黒表示時におい
て、電界の乱れで光抜けして黒が浮いた状態になる部分
を隠すように配置し、コントラスト低下を防止する。ま
た、薄膜トランジスタTFTを隠すように配置し、薄膜
トランジスタTFTの光リーク電流を抑制するようにす
る。つまり、遮光膜BMは. ブラックマトリクスとi型
半導体層ASに対する遮光との2つの機能をもつ。
示エリアの周辺部にも額縁状に形成され、そのパターン
は図1に示すマトリクス部のパターンと連続して形成さ
れている。周辺部の遮光膜BMはシール部SLの外側に
延長され、パソコン等の実装機に起因する反射光等の漏
れ光がマトリクス部に入り込むのを防いぐと共に、バッ
クライト等の光が表示エリア外に漏れるのも防いでい
る。他方、この遮光膜BMは基板SUB2の最外周辺よ
りも約0.3〜1.0mm程内側に留められ、基板SU
B2の切断領域を避けて形成されている。
FILは、画素に対向する位置に赤、緑、青の繰り返し
でストライプ状に形成される。カラーフィルタFILは
遮光膜BMのエッジ部分と重なるように形成されてい
る。本実施例ではストライプ状としたが、各画素にひと
つずつ島状のカラーフィルタFILを周期的に配置する
こともできる。
成することができる。まず、上部透明ガラス基板SUB
2の表面にアクリル系樹脂等の染色基材を形成し、フォ
トリソグラフィ技術で赤色フィルタ形成領域以外の染色
基材を除去する。その後、染色基材を赤色染料で染め、
固着処理を施し、赤色フィルタRを形成する。次に、同
様な工程を施すことによって、緑色フィルタG、青色フ
ィルタBを順次形成する。
膜OCはカラーフィルタFILの染料の液晶LCへの漏
洩の防止、およびカラーフィルタFIL、遮光膜BMに
よる段差の平坦化のために設けられている。このオーバ
ーコート膜OCはたとえばアクリル樹脂、エポキシ樹脂
等の透明樹脂材料で形成されている。
向膜、偏光板等について説明する。
異方性Δεが正でその値が13.2、屈折率異方性Δn
が0.081(589nm、20°C)のネマティック
液晶を用いる。液晶層の厚み(ギャップ)は3.9μm
とし、リタデーションΔn・dは0.316とする。こ
のリタデーションΔn・dの値により、後述の配向膜と
偏光板と組み合わせ、液晶分子が初期配向方向から電界
方向に45°回転したとき最大透過率を得ることがで
き、可視光の範囲内で波長依存性がほとんどない透過光
を得ることができる。なお、液晶層の厚み(ギャップ)
は、ポリマビーズなどのスペーサで制御している。
はなく、誘電率異方性Δεは負でもよい。また、誘電率
異方性Δεは、その値が大きいほうが駆動電圧が低減で
きる。また、屈折率異方性Δnは小さいほうが液晶層の
厚み(ギャップ)を厚くでき、液晶の封入時間が短縮さ
れ、かつギャップばらつきを少なくすることができる。
初期配向方向および偏光板透過軸の関係の説明図であ
る。
料としてはポリイミドを用いる。液晶の初期配向方向R
DRは上下基板で互いに平行にし、かつ印加電界方向E
DRとのなす角度は75°とする。
め、本実施例ではラビングを実施したが、他の方法でも
かまわない。印加電界方向EDRは、画素電極PXと対
向電極CTの間に電位差を与えた時に発生する電界の方
向である。
EDRとのなす角度は、液晶材料の誘電率異方性Δεが
正であれば45°以上90°未満、誘電率異方性Δεが
負であれば0°を超え45°以下である。
としては、日東電工社製G1220DU(商品名)を用
い、図6に示したように、下側の偏光板POL1の偏光
透過軸MAX1を液晶の初期配向方向RDRと一致さ
せ、上側の偏向板POL2の偏光透過軸MAX2を、そ
れに直交させる。
電圧(画素電極PXと対向電極CTの間の電圧)を増加
させるのに伴い、画素の透過率が上昇するノーマリクロ
ーズ特性を得ることができる。また、電圧無印加時には
良質な黒表示とすることができる。
ラス基板SUB1,SUB2を含む表示パネルPNLの
マトリクス(AR)周辺の要部平面を示す図である。ま
た、図8は表示パネルの縁部分の構成を説明する断面図
で、左側に走査回路が接続されるべき外部接続端子GT
M付近の断面を、右側に外部接続端子が無いところのシ
ール部付近の断面を示す。
であればスループット向上のため1枚のガラス基板で複
数個分のデバイスを同時に加工してから分割し、大きい
サイズであれば製造設備の共用のためどの品種でも標準
化された大きさのガラス基板を加工してから各品種に合
ったサイズに小さくし、いずれの場合も一通りの工程を
経てからガラスを切断する。
とも上下基板SUB1,SUB2の切断後を表してお
り、LNは両基板の切断前の縁を示す。いずれの場合
も、完成状態では外部接続端子群Tg,Tdおよび端子
COT(添字略)が存在する部分(図7で上辺と左辺
の)は、それらを露出するように上側基板SUB2の大
きさが下側基板SUB1よりも内側に制限されている。
回路接続用端子GTM、映像信号回路接続用端子DTM
とそれらの引出配線部を集積回路チップCHIが搭載さ
れたテープキャリアパッケージTCP(図19、図20
で詳述)の単位に複数本まとめて名付けたものである。
トリクス部から外部接続端子部に至るまでの引出配線
は、両端に近づくにつれ傾斜している。これは、テープ
キャリアパッケージTCPの配列ピッチ及び各テープキ
ャリアパッケージTCPにおける接続端子ピッチに表示
パネルPNLの端子DTM,GTMを合わせるためであ
る。また、対向電極端子CTは、対向電極CTに対向電
圧を外部回路から与えるための端子である。マトリクス
部の対向電圧信号線CLは、走査回路用端子GTMの反
対側(図8では右側)に引き出し、各対向電圧信号線を
共通バスラインCB(図7)で一纏めにして、対向電極
端子COTに接続している。
B1、SUB2の間にはその縁に沿って、液晶封入口I
NJを除き、液晶LCを封止するようにシールパターン
SLが形成される。このシール材は例えばエポキシ樹脂
から成る。図3に示した配向膜ORI1、ORI2の層
は、シールパターンSLの内側に形成される。
透明ガラス基板SUB1、上部透明ガラス基板SUB2
の外側の表面に構成されている。液晶LCは液晶分子の
向きを設定する下部配向膜ORI1と上部配向膜ORI
2との間でシールパターンSLで仕切られた領域に封入
されている。下部配向膜ORI1は下部透明ガラス基板
SUB1側の保護膜PSV1の上部に形成される。
SUB1側、上部透明ガラス基板SUB2側で別個に種
々の層を積み重ね、シールパターンSLを基板SUB2
側に形成し、下部透明ガラス基板SUB1と上部透明ガ
ラス基板SUB2とを重ね合わせ、シール材SLの開口
部INJから液晶LCを注入し、注入口INJをエポキ
シ樹脂などで封止し、上下基板を切断することによって
組み立てられる。
走査信号線GLからその外部接続端子GTMまでの接続
構造図で、(A)は平面、(B)は(A)のB−B線に
沿って切断した断面を示す。また図10は表示マトリク
スの走査信号線DLからその外部接続端子DTMまでの
接続構造図で、(A)は平面、(B)は(A)のB−B
線に沿って切断した断面を示す。なお、同図は図7下方
付近に対応し、斜め配線の部分は便宜状一直線状で表し
た。また、図9中Cr層g3は、判り易くするためハッ
チを施してある。
の表面を保護し、かつ、テープキャリアパッケージTC
Pとの接続の信頼性を向上させるための透明導電層i1
とで構成されている。この透明導電層i1は画素電極P
Xと同一工程で形成された透明導電膜ITOを用いてい
る。
および保護膜PSVはその境界線よりも右側に形成され
ており、左端に位置する端子部GTMはそれらから露出
し外部回路との電気的接触ができるようになっている。
同図では、ゲート線GLとゲート端子の一つの対のみが
示されているが、実際はこのような対が上下に複数本並
べられ端子群Tg(図7)が構成され、ゲート端子の左
端は、製造過程では、基板の切断領域を越えて延長され
配線SHg(図示せず)によって短絡される。製造過程
における配向膜ORI1のラビング時等の静電破壊防止
に役立つ。
付近に対応し、図面の向きは便宜上変えてあるが右端方
向が基板SUB1の上端部に該当する。
回路は接続されないが、プローブ針等を接触できるよう
配線部より幅が広げられている。同様に、ドレイン端子
DTMも外部回路との接続ができるよう配線部より幅が
広げられている。外部接続ドレイン端子DTMは上下方
向にに配列され、ドレイン端子DTMは、図7に示すよ
うに端子群Td(添字省略)を構成し、基板SUB1の
切断線を越えて更に延長され、製造過程中は静電破壊防
止のためその全てが互いに配線SHd(図示せず)によ
って短絡される。検査端子TSTdは図10に示すよう
に一本置きの映像信号線DLに形成される。
で形成されており、保護膜PSV1を除去した部分で映
像信号線DLと接続されている。この透明導電膜i1は
ゲート端子GTMの時と同様に画素電極PXと同一工程
で形成された透明導電膜ITOを用いている。
での引出配線は、映像信号線DLと同じレベルの層d3
が構成されている。
信号線CL(g3)からその外部接続端子CTM1まで
の接続を示す構成図であり、(A)はその平面を、
(B)は(A)のB−B切断線における断面を示す。な
お、同図は図7左上付近に対応する。
ラインCB1で一纏めして対向電極端子CTM1に引き
出されている。共通バスラインCB1は導電層g3の上
に導電層d3を積層し,透明導電層i1でそれらを電気
的に接続した構造となっている。これは、共通バスライ
ンCB1の抵抗を低減し、対向電圧が外部回路から各対
向電圧信号線CL(g3)に十分に供給されるようにす
るためである。
ことなく、共通バスラインの抵抗を下げられるのが特徴
である。
に透明導電層i1が積層された構造になっている。この
透明導電膜i1は他の端子の時と同様に画素電極PXと
同一工程で形成された透明導電膜ITOを用いている。
透明導電層i1により、その表面を保護し、電食等を防
ぐために耐久性のよい透明導電層i1で導電層g3を覆
っている。また、透明導電層i1と導電層g3および導
電層d3との接続は保護膜PSV1および絶縁膜GIに
うスルーホールを形成し導通を取っている。
3)のもう一方の端からその外部接続端子CTM2まで
の接続を示す構成図であり、(A)はその平面を、
(B)は(A)のB−B切断線における断面を示す。な
お、同図は図7右上付近に対応する。ここで,共通バス
ラインCB2では各対向電圧信号線CL(g3)のもう
一方の端(ゲート端子GTM側)をで一纏めして対向電
極端子CTM2に引き出されている。共通バスラインC
B1と異なる点は、走査信号線GLとは絶縁されるよう
に、導電層d3と透明導電層i1で形成していることで
ある。また、走査信号線GLとの絶縁は絶縁膜GIで行
っている。
トリクス部の等価回路とその周辺回路の結線図である。
同図は回路図ではあるが、実際の幾何学的配置に対応し
て描かれている。ARは複数の画素を二次元状に配列し
たマトリクス・アレイである。
G、BおよびRがそれぞれ緑、青および赤画素に対応し
て付加されている。Yは走査信号線GLを意味し、添字
1,2,3,…,endは走査タイミングの順序に従っ
て付加されている。
Vに接続されており、映像信号線X(添字省略)は映像
信号駆動回路Hに接続されている。
安定化された電圧源を得るための電源回路やホスト(上
位演算処理装置)からのCRT(陰極線管)用の情報を
TFT液晶表示装置用の情報に交換する回路を含む回路
である。
装置の駆動波形図であり、対向電圧VC は一定電圧とす
る。走査信号VG は1走査期間ごとに、オンレベルをと
り,その他はオフレベルをとる。映像信号電圧VD は、
液晶層に印加したい電圧の2倍の振幅で正極と負極を1
フレーム毎(奇フレームと偶フレーム毎)に反転して1
つの画素に伝えるように印加する。
を反転し,2行毎にも極性を反転する。これにより、極
性が反転した画素が上下左右に隣り合う構成となり、フ
リッカ、クロストーク(スミア)の発生を抑制すること
ができる。
反転のセンター電圧から、一定量下げた電圧に設定す
る。これは、薄膜トランジスタ素子がオンからオフに変
わるときに発生するフィードスルー電圧を補正するもの
であり、液晶に直流成分の少ない交流電圧を印加するた
めに行う(液晶は直流が印加されると、残像や劣化等が
激しくなるため)。
とで映像信号電圧の最大振幅を低減でき、映像信号駆動
回路(信号側ドライバ)に耐圧の低いものを用いること
も可能である。
tgは、画素に書き込まれた(薄膜トランジスタTFT
がオフした後の)映像情報を、長く蓄積するために設け
る。本実施例で用いている電界を基板面と平行に印加す
る方式では、電界を基板面に垂直に印加する方式と異な
り、画素電極と対向電極で構成される容量(いわゆる液
晶容量)がほとんど無いため、蓄積容量Cstgが映像
情報を画素に蓄積することができない。したがって、電
界を基板面と平行に印加する方式では、蓄積容量Cst
gは必須の構成要素である。
スタTFTがスイッチングするとき、画素電極電位VS
に対するゲート電位変化ΔVG の影響を低減するように
も働く。この様子を式で表すと、次のようになる。
GTとソース電極SD1との間に形成される寄生容量、
Cpixは画素電極PXと対向電極CTとの間に形成さ
れる容量、ΔVS はΔVG による画素電極電位の変化分
いわゆるフィードスルー電圧を表わす。この変化分ΔV
S は液晶LCに加わる直流成分の原因となるが、保持容
量Cstgを大きくすればする程、その値を小さくする
ことができる。液晶LCに印加される直流成分の低減
は、液晶LCの寿命を向上し、液晶表示画面の切り替え
時に前の画像が残るいわゆる焼き付きを低減することが
できる。
導体層ASを完全に覆うよう大きくされている分、ソー
ス電極SD1、ドレイン電極SD2とのオーバラップ面
積が増え、従って寄生容量Cgsが大きくなり、画素電
極電位VS はゲート(走査)信号VG の影響を受け易く
なるという逆効果が生じる。しかし、蓄積容量Cstg
を設けることによりこのデメリットも解消することがで
きる。
の基板SUB1側の製造方法について図15、図16、
図17を参照して説明する。なお、同各図において、中
央の文字は工程名の略称であり、左側は図4に示す薄膜
トランジスタTFT部分、右側は図9に示すゲート端子
付近の断面形状でみた加工の流れを示す。
Fは各写真処理に対応して区分けしたもので、各工程の
いずれの断面図も写真処理後の加工が終わりフォトレジ
ストを除去した段階を示している。
ストの塗布からマスクを使用した選択露光を経て、それ
を現像するまでの一連の作業を示すものとし、繰返しの
説明は避ける。以下、区分けした工程に従って説明す
る。
板SUB1上に膜厚が200nmのCr等からなる導電
膜g3をスパッタリングにより設ける。写真処理後、硝
酸第2セリウムアンモンで導電膜g3を選択的にエッチ
ングする。それによって、ゲート電極GT、走査信号線
GL、対向電圧信号線CL、ゲート端子GTM、共通バ
スラインCB1の第1導電層、対向電極端子CTM1の
第1導電層、ゲート端子GTMを接続するバスラインS
Hg(図示せず)を形成する。
素ガスを導入して、膜厚が350nmの窒化Si膜を設
け、プラズマCVD装置にシランガス、水素ガスを導入
して、膜厚が120nmのi型非晶質Si膜を設けたの
ち、プラズマCVD装置に水素ガス、ホスフィンガスを
導入して、膜厚が30nmのN(+)型非晶質Si膜を
設ける。
l4 を使用してN(+) 型非晶質Si膜、i型非晶質S
i膜を選択的にエッチングすることにより、i型半導体
層ASの島を形成する。
ングにより設ける。写真処理後、導電膜d3を工程Aと
同様な液でエッチングし、映像信号線DL、ソース電極
SD1、ドレイン電極SD2、共通バスラインCB2の
第1導電層、およびドレイン端子DTMを短絡するバス
ラインSHd(図示せず)を形成する。次に、ドライエ
ッチング装置にCCl4 、SF6 を導入して、N(+)
型非晶質Si膜をエッチングすることにより、ソースと
ドレイン間のN(+) 型半導体層d0を選択的に除去す
る。
素ガスを導入して、膜厚が0. 4μmの窒化Si膜を設
ける。写真処理後、ドライエッチングガスとしてSF6
を使用して窒化Si膜を選択的にエッチングすることに
よって、保護膜PSV1および絶縁膜GIをパターニン
グする。
スパッタリングにより設ける。写真処理後、エッチング
液として臭化水素の水溶液で透明導電膜i1を選択的に
エッチングすることにより、ゲート端子GTMの最上
層、ドレイン端子DTMおよび対向電極端子CTM1お
よびCTM2の第2導電層を形成する。
1》図18は図7等に示した表示パネルPNLに映像信
号駆動回路Hと垂直走査回路Vを接続した状態を示す上
面図である。
動ICチップ(下側の5個は垂直走査回路側の駆動IC
チップ、左の10個ずつは映像信号駆動回路側の駆動I
Cチップ)である。TCPは図19、図20で後述する
ように駆動用ICチップCHIがテープ・オートメイテ
ィド・ボンディング法(TAB)により実装されたテー
プキャリアパッケージ、PCB1は上記TCPやコンデ
ンサ等が実装された駆動回路基板で、映像信号駆動回路
用と走査信号駆動回路用の2つに分割されている。FG
Pはフレームグランドパッドであり、シールドケースS
HD(図21)に切り込んで設けられたバネ状の破片が
半田付けされる。FCは下側の駆動回路基板PCB1と
左側の駆動回路基板PCB1を電気的に接続するフラッ
トケーブルである。フラットケーブルFCとしては図に
示すように、複数のリード線(りん青銅の素材にSn鍍
金を施したもの)をストライプ状のポリエチレン層とポ
リビニルアルコール層とでサンドイッチして支持したも
のを使用する。
動回路Vや映像信号駆動回路Hを構成する集積回路チッ
プCHIがフレキシブル配線基板に搭載されたテープキ
ャリアパッケージTCPの断面構造図であり、図20は
図19に示したテープキャリアパッケージTCPを液晶
表示パネルの、本実施例では走査信号回路用端子GTM
に接続した状態を示す要部断面図である。
路CHIの入力端子・配線部であり、TTMは集積回路
CHIの出力端子・配線部であり、例えばCuから成
り、それぞれの内側の先端部(通称インナーリード)に
は集積回路CHIのボンディングパッドPADがいわゆ
るフェースダウンボンディング法により接続される。
アウターリード)はそれぞれ半導体集積回路チップCH
Iの入力及び出力に対応し、半田付け等により図18に
示したCRT/TFT変換回路・電源回路SUPに異方
性導電膜ACFによって液晶表示パネルPNLに接続さ
れる。
先端部がパネルPNL側の接続端子GTMを露出した保
護膜PSV1を覆うようにパネルに接続されており、従
って、外部接続端子GTM(DTM)は保護膜PSV1
かテープキャリアパッケージTCPの少なくとも一方で
覆われるので電触に対して強くなる。
ルムであり、SRSは半田付けの際半田が余計なところ
へつかないようにマスクするためのソルダレジスト膜で
ある。シールパターンSL(図20)の外側の上下ガラ
ス基板の隙間は洗浄後エポキシ樹脂EPX等により保護
され、テープキャリアパッケージTCPと上側基板SU
B2の間には更にシリコーン樹脂SILが充填され保護
が多重化されている。 《駆動回路基板PCB2》図18に示した駆動回路基板
PCB2は、IC、コンデンサ、抵抗等の電子部品が搭
載されている。この駆動回路基板PCB2には、1つの
電圧源から複数の分圧した安定化された電圧源を得るた
めの電源回路や、ホスト(上位演算処理装置)からのC
RT(陰極線管)用の情報をTFT液晶表示装置用の情
報に変換する回路を含む回路SUPが搭載されている。
CJは外部と接続される図示しないコネクタが接続され
るコネクタ接続部である。
B2とはフラットケーブルFCにより電気的に接続され
ている。
は本実施例の液晶表示装置をパッケージした液晶表示モ
ジュールMDLの各構成部品を示す分解斜視図である。
ース(メタルフレーム)、LCWその表示窓、PNLは
液晶表示パネル、SPBは光拡散板、LCBは導光体、
RMは反射板、BLはバックライト蛍光管、LCAはバ
ックライトケースであり、図に示すような上下の配置関
係で各部材が積み重ねられてモジュールMDLが組み立
てられる。
Dに設けられた爪とフックによって全体が固定されるよ
うになっている(図示せず)。
蛍光管BL、光拡散板SPB、導光体LCB、反射板R
Mを収納する形状になっており、導光体LCBの側面に
配置されたバックライト蛍光管BLの光を導光体LC
B、反射板RM、光拡散板SPBにより表示面で一様な
バックライトにし、液晶表示パネルPNL側に出射す
る。
路基板PCB3が接続されており、バックライト蛍光管
BLの電源となっている。
SHを設けることにより、表示のクロストークを抑制
し、高品質の画像表示を得ることができた。
実施例1と共通部分が多いため、特徴的な部分について
主に述べ、共通部分については説明を省略する。
す液晶表示装置の一画素とその周辺を示す平面図であ
る。
部で、このシールド電極接続部SH2は或る画素に属す
るシールド電極SHとその画素に隣接した画素に属する
シールド電極SH同士を接続する部分であり、これらがま
とまって一つのシールド電極SHを構成している。
施例では、2画素分のシールド電極SHが接続されてい
る場合を例とする。この場合、一つのシールド電極に属
する容量について第1実施例と比較すると、明らかに容
量Csh1が2倍、容量Csh2が2倍、容量Csh3
が2 倍となる。ところが、一つの映像信号線DLとシー
ルド電極SHの間の容量は容量Csh3となる。
イズ電界はシールド電極が無い場合にはΔVd(m)で
決まるが、シールド電極がある場合は、シールド電極S
Hの電位変化ΔVshで決まる。このΔVshは第2実
施例の場合、次の式3で表現される。
hを第1実施例の場合よりも小さくできる。結局、この
シールド電極SHの作用によりノイズ電界が十分小さく
なる。
変化が小さくなり、縦方向のクロストークを十分小さく
できる。
以上でも同様にΔVshを第1実施例の場合よりもさら
に小さくでき、結果的に縦方向のクロストークをさらに
小さくできる。
極SHを設けることにより、表示のクロストークを抑制
し、高品質の画像表示を得ることができた。
2実施例と共通部分が多いので、特徴的な部分について
述べ、共通部分については説明を省略する。
あるシールド電極の接続構造を示す要部平面模式図であ
る。
を使用して3つの画素に属するシールド電極を周期的に
接続した状態を示す。画面のほぼ全面において、シール
ド電極をこのような周期的配置とした。この配置は、次
の通りである。
向は1,2,2,・・・,j,j+1,j+2,・・・
・と定義し、縦方向は1,2,3,・・・,k,k+
1,k+2,・・・・と定義する。便宜上、画素の座標
を(x,y)で表現するものとする。また、周期の次数
(整数) をkとする。
mを整数とすると、y=knの列の画素について、x=
kmとx=km+1とx=km+2ト・・・・とx=k
m+k−2とx=km+k−1の画素に属するシールド
電極同士を接続し、y=kn+1の列の画素について、
x=km+1とx=km+2とx=km+3と・・・と
x=km+k−1とx=km+kの画素に属するシール
ド電極同士を接続し、y=kn+(k−1)の列の画素
について、x=km+(k−1)とx=km+kとx=
km+k+1と・・・とx=km+k−1とx=km+
kの画素に属するシールド電極同士を接続している。
り、y=3nの列の画素について、x=3mとx=3m
+1とx=3m+2の画素に属するシールド電極同士を
接続し、y=3n+1の列の画素について、x=3m+
1とx=3m+2とx=3m+3の画素に属するシール
ド電極同士を接続し、y=3n+2の列の画素につい
て、x=3m+2とx=3m+3とx=3m+4の画素
に属するシールド電極同士を接続した。
電極同士を周期的に接続することにより、特定パターン
を表示した場合の表示むらを劇的に低減することができ
た。なお、上記した第2実施例および第3実施例の液晶
表示装置をパッケージしたモジュールは図21で説明し
たものと同様である。
映像信号線上にシールド電極を設け、このシールド電極
を対向電極と走査信号線の2つのうち1つ以上とオーバ
ラップする領域を設け、またシールド電極を他の画素に
属するシールド電極と接続し、あるいはシールド電極同
士の接続を周期的とすることにより、クロストークが抑
制され、ブラウン管並の視野角と高画質のアクティブマ
トリクス型液晶表示装置を提供することができる。
クス方式カラー液晶表示装置の1画素とその周辺を示す
平面図である。
る。
スタTFT部分の断面図である。
tg部分の断面図である。
光板透過軸の関係の説明図である。
示パネルPNLのマトリクス(AR)周辺の要部平面を
示す図である。
ある。
接続端子GTMまでの接続構造図である。
部接続端子DTMまでの接続構造図である。
続端子CTM1までの接続を示す構成図である。
からその外部接続端子CTM2までの接続を示す構成図
である。
の結線図である。
形図である。
UB1側の製造方法の説明図である。
UB1側の製造方法の図15に続く説明図である。
UB1側の製造方法の図16に続く説明図である。
駆動回路Hと垂直走査回路Vを接続した状態を示す上面
図である。
構成する集積回路チップCHIがフレキシブル配線基板
に搭載されたテープキャリアパッケージTCPの断面構
造図である。
CPを液晶表示パネルの走査信号回路用端子GTMに接
続した状態を示す要部断面図である。
ージした液晶表示モジュールMDLの各構成部品を示す
分解斜視図である。
装置の一画素とその周辺を示す平面図である。
ド電極の接続構造を示す要部平面模式図である。
液晶表示装置の一画素とその周辺を示す平面図である。
Claims (5)
- 【請求項1】一対の基板に正の誘電率異方性を有する液
晶組成物層を挟持し、電圧無印加時に前記液晶組成物層
中の略全ての液晶分子の光軸を基板面に配向させ、前記
液晶組成物層に前記一対の基板の基板面に略平行な電界
を印加することにより前記液晶組成物層を透過する光の
透過率を変調して前記一対の基板の基板面に略平行な電
界を発生させ得る一対の電極を有し、 前記一対の電極の一方および他方は前記一対の基板のう
ちの一方に形成させると共に、多数の走査信号線と多数
の映像信号線および前記走査信号線と前記映像信号線の
交点に形成された薄膜トランジスタ素子を有し、 前記映像信号線上にシールド電極を設け、 前記一対の電極の一方と前記走査信号線の少なくとも1
つ以上と、前記シールド電極がオーバラップする領域を
設けたことを特徴とする液晶表示装置。 - 【請求項2】隣接する2本の前記走査信号線と隣接する
2本の前記映像信号線で囲まれた領域を画素と定義し、
1つの前記画素に1つの前記シールド電極を設けたこと
を特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。 - 【請求項3】隣接する2本の前記走査信号線と、隣接す
る2本の前記映像信号線で囲まれた領域を画素と定義
し、複数個の前記画素に1つの前記シールド電極を設け
たことを特徴とする請求項1に記載の液晶表示装置。 - 【請求項4】画面のほとんどの領域における1つの前記
シールド電極に属する前記画素を周期的な繰り返しで配
置したことを特徴とする請求項3に記載の液晶表示装
置。 - 【請求項5】前記シールド電極を透明導電膜で形成した
ことを特徴とする請求項1乃至4に記載の液晶表示装
置。
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JP18124297A JP3478709B2 (ja) | 1997-07-07 | 1997-07-07 | 液晶表示装置 |
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JPH1124104A true JPH1124104A (ja) | 1999-01-29 |
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ID=16097289
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JP18124297A Expired - Lifetime JP3478709B2 (ja) | 1997-07-07 | 1997-07-07 | 液晶表示装置 |
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