JPH11238970A - Multilayered printed board and manufacture thereof - Google Patents

Multilayered printed board and manufacture thereof

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JPH11238970A
JPH11238970A JP3732498A JP3732498A JPH11238970A JP H11238970 A JPH11238970 A JP H11238970A JP 3732498 A JP3732498 A JP 3732498A JP 3732498 A JP3732498 A JP 3732498A JP H11238970 A JPH11238970 A JP H11238970A
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JP
Japan
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layer
insulating layer
opening
plating
insulating
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Application number
JP3732498A
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Japanese (ja)
Inventor
Junichi Murai
淳一 村井
Minoru Fujita
実 藤田
Miho Hirota
実保 弘田
Yasuo Kawashima
康夫 河嶋
Tokuji Tanaka
篤司 田中
Yoichi Kitamura
洋一 北村
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Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To flatten the upper surface, by forming the plated catalyst layer so as to cover the side surfaces and the bottom surfaces of the first and the second opening parts in the second conductor layer, and forming an electroless metal plated layer so as to cover the plated layer furthermore. SOLUTION: A first insulating layer 28 is formed on a printed substrate 26. On the first insulating layer 28, a second insulating layer 36 which has a second opening part 31 communication to a first opening part 29 and a third opening part 33, wherein the bottom part reaches only on the first insulating layer 28, is formed. Then, a second conductor layer 33 is embedded in the first to third opening parts 29, 31 and 32. In the second conductor layer 33, a plated catalyst layer 34 is formed so as to cover the side surfaces and the bottom surfaces of the first to third opening parts 29, 31 and 32. An electroless metal plated layer 35 is formed so as to cover the plated catalyst layer 34. Three layers with an electric metal plated layer 36 are formed so as to cover the layers.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、基板上に絶縁層
と導体層とが順次交互に形成され、導体層間の接続を、
バイアホールを介して行う多層プリント基板および多層
プリント基板の製造方法に係り、特に平坦化するととも
に、信頼性を向上することができるものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of forming a connection between conductive layers, wherein insulating layers and conductive layers are formed alternately on a substrate.
The present invention relates to a multilayer printed circuit board and a method for manufacturing the multilayer printed circuit board via via holes, and more particularly to flattening and improving reliability.

【0002】[0002]

【従来の技術】電子機器の小型化や高機能化に対応する
ために、BGA(Ball GridArray)やC
SP(Chip Size Package)ような小
型パッケージや、ベアチップ実装技術の開発が進められ
ている。これらに使用する多層プリント基板は、少ない
層数で高密度な実装を実現するために、配線パターンの
細線化とともにバイアホールの小径化が強く求められて
いる。
2. Description of the Related Art A BGA (Ball Grid Array) or C
Development of a small package such as SP (Chip Size Package) and a bare chip mounting technology are being advanced. In order to realize high-density mounting with a small number of layers, a multilayer printed circuit board used for these is strongly required to have a thinner wiring pattern and a smaller via hole diameter.

【0003】こうした問題を解決するために基板上に絶
縁層と導体層とを順次交互に形成し、バイアホールを介
して各導体層間を接続するビルドアップという方法によ
る多層プリント基板が注目されており、先行技術とし
て、特開平4−148590号公報、特開平3−329
7号公報、特開平9−116272号公報がある。
In order to solve such a problem, attention has been paid to a multilayer printed circuit board by a build-up method in which insulating layers and conductive layers are sequentially and alternately formed on a substrate and the respective conductive layers are connected via via holes. As prior arts, JP-A-4-148590 and JP-A-3-329.
7 and JP-A-9-116272.

【0004】これらによれば、150μm以下の配線ピ
ッチで導体回路を形成することが可能であり、従来の多
層プリント基板の限界である200μmと比較して、狭
ピッチの配線が可能となる。また、層間を接続するバイ
アホール径を従来の多層プリント基板の限界である30
0μmより小さい150μm以下にて形成することが可
能となる。
According to these, it is possible to form a conductor circuit with a wiring pitch of 150 μm or less, and it is possible to form wiring with a narrower pitch than 200 μm which is the limit of a conventional multilayer printed circuit board. Further, the diameter of the via hole connecting the layers is set to 30 which is the limit of the conventional multilayer printed circuit board.
It can be formed at 150 μm or less, which is smaller than 0 μm.

【0005】以下、一般的なビルドアップの多層プリン
ト基板について説明する。図14ないし図17は、従来
の多層プリント基板の製造方法であり、その製造方法と
しては、まず、プリント基板1上に所望の回路にて成る
第1の導体層2を形成し(図14(a))、第1の導体
層2を覆うように例えばネガ型の感光性の樹脂にてなる
第1の絶縁層3を塗布する(図14(b))。次に、第
1の絶縁層3の上面に、所望のパターンにて形成された
マスク4を設置し、露光5により第1の絶縁層3を感光
する(図14(c))。
Hereinafter, a general build-up multilayer printed circuit board will be described. 14 to 17 show a conventional method of manufacturing a multilayer printed circuit board. First, a first conductor layer 2 formed of a desired circuit is formed on a printed circuit board 1 (see FIG. a)), a first insulating layer 3 made of, for example, a negative photosensitive resin is applied so as to cover the first conductor layer 2 (FIG. 14B). Next, a mask 4 formed in a desired pattern is placed on the upper surface of the first insulating layer 3, and the first insulating layer 3 is exposed to light 5 (FIG. 14C).

【0006】次に、第1の絶縁層3を現像し、バイアホ
ール6を形成する(図14(d))。次に、化学粗化液
により第1の絶縁層3の表面に粗面化面7を形成し(図
14(e))、次に、メッキ法により第1の導体層と電
気的に接続するための第2の導体層を形成する。このメ
ッキ法として、一般的にサブトラクティブ法、セミアデ
ィティブ法およびフルアディティブ法と称する3種類の
方法がある。
Next, the first insulating layer 3 is developed to form a via hole 6 (FIG. 14D). Next, a roughened surface 7 is formed on the surface of the first insulating layer 3 with a chemical roughening solution (FIG. 14E), and then electrically connected to the first conductor layer by a plating method. A second conductor layer is formed. As this plating method, there are three kinds of methods generally called a subtractive method, a semi-additive method and a full-additive method.

【0007】まず、サブトラクティブ法の場合は、図1
4(e)の様に形成した後に、メッキ触媒層を形成し、
無電解銅メッキ層8、電気銅メッキ層9を順次全面に形
成する(図15(a))。次に、レジストを塗布し所望
のパターニングを行いレジスト膜10を形成する(図1
5(b))。次に、このレジスト膜10をマスクとし
て、銅のみをエッチングするエッチング液にて電気銅メ
ッキ層9および無電解銅メッキ層8をエッチングした
後、レジスト膜10を剥離し、電気銅メッキ層9および
無電解銅メッキ層8にてなる第2の導体層11を形成す
る(図115(c))。
First, in the case of the subtractive method, FIG.
After forming as shown in 4 (e), a plating catalyst layer is formed,
An electroless copper plating layer 8 and an electrolytic copper plating layer 9 are sequentially formed on the entire surface (FIG. 15A). Next, a resist is applied and desired patterning is performed to form a resist film 10 (FIG. 1).
5 (b)). Next, using this resist film 10 as a mask, the electrolytic copper plating layer 9 and the electroless copper plating layer 8 are etched with an etching solution for etching only copper, and then the resist film 10 is peeled off. A second conductor layer 11 made of the electroless copper plating layer 8 is formed (FIG. 115 (c)).

【0008】また、セミアディティブ法の場合は、図1
4(e)の様に形成した後に、メッキ触媒層を形成し、
無電解銅メッキ層12を全面に薄付けして形成し、この
無電銅メッキ層12の上面の所望の箇所にレジスト膜1
3を形成する(図16(a))。次に、レジスト膜13
の開口部にのみ電気銅メッキ層14を形成する(図16
(b))。次に、レジスト膜13を剥離し、無電解銅メ
ッキ層12を、銅のみをエッチングするエッチング液に
て除去し、無電解銅メッキ層12および電気銅メッキ層
14にてなる第2の導体層15を形成する(図16
(c))。
In the case of the semi-additive method, FIG.
After forming as shown in 4 (e), a plating catalyst layer is formed,
An electroless copper plating layer 12 is formed by thinning the entire surface, and a resist film 1 is formed at a desired position on the upper surface of the electroless copper plating layer 12.
3 is formed (FIG. 16A). Next, the resist film 13
The copper plating layer 14 is formed only in the opening of FIG.
(B)). Next, the resist film 13 is peeled off, the electroless copper plating layer 12 is removed with an etching solution for etching only copper, and a second conductor layer composed of the electroless copper plating layer 12 and the electric copper plating layer 14 is formed. 15 (FIG. 16)
(C)).

【0009】また、フルアディティブ法の場合は、図1
4(e)の様に形成した後に、メッキ触媒層を形成し、
永久レジスト膜16を所望のパターンにて形成する(図
17(a))。次に、永久レジスト膜16の開口部にの
み無電解銅メッキ層にてなる第2の導体層17を形成す
る(図17(b))。
In the case of the full additive method, FIG.
After forming as shown in 4 (e), a plating catalyst layer is formed,
A permanent resist film 16 is formed in a desired pattern (FIG. 17A). Next, a second conductor layer 17 made of an electroless copper plating layer is formed only in the opening of the permanent resist film 16 (FIG. 17B).

【0010】上記示した従来の方法によると、バイアホ
ール6を形成した後に、バイアホール6上とそれ以外の
箇所において同一の厚みの第2の導体層11、15、1
7を形成するためバイアホール6上部の第2の導体層1
1、15、17に、第1の絶縁層3と同一の厚みを有す
る凹部が形成される。このため、バイアホール6の上部
に上層のバイアホールを形成することが困難であった
り、バイアホール6の上部に実装パッドを設けることが
困難であった。
According to the above-described conventional method, after the formation of the via hole 6, the second conductor layers 11, 15, and 1 having the same thickness are formed on the via hole 6 and other portions.
7 to form second conductor layer 1 above via hole 6
Concave portions having the same thickness as the first insulating layer 3 are formed in 1, 15, and 17. For this reason, it is difficult to form an upper via hole above the via hole 6 or to provide a mounting pad above the via hole 6.

【0011】さらに、サブトラクティブ法およびセミア
ディティブ法によれば、その凹凸は一段と厳しくなり、
回路のパターンが高精細化すると、パターン間が狭スペ
ースとなり、パターン間への処理液または水洗水の供給
が困難となる。そして、導体の酸化防止のために導体上
に順次形成するニッケルメッキ、金メッキの形成の際に
配線パターン間のショートが多発し、製造歩留まりが著
しく低下する。また、上部に多層化のための導体回路を
形成する場合、凹凸が厳しく画像処理によるパターン検
査の自動化が困難であるという問題点があった。
Further, according to the subtractive method and the semi-additive method, the unevenness becomes even more severe.
When the circuit pattern becomes finer, the space between the patterns becomes narrower, and it becomes difficult to supply the processing liquid or the washing water between the patterns. In addition, when nickel plating and gold plating are sequentially formed on the conductor to prevent oxidation of the conductor, short circuits frequently occur between the wiring patterns, and the production yield is significantly reduced. Further, when a conductor circuit for multilayering is formed on the upper portion, there is a problem that it is difficult to automate a pattern inspection by image processing because the unevenness is severe.

【0012】そこで、第2の導体層の上部の段差を軽減
する方法として、例えば特開平9−116272号公報
(以下、従来例1とする)の多層プリント基板の製造方
法がある。その製造方法としては、まず、プリント基板
18上に所望の回路にて成る第1の導体層19を形成し
(図18(a))、第1の導体層19を覆うように第1
のレジスト膜20を塗布し、熱処理により硬化させる
(図18(b))。
Therefore, as a method of reducing the step on the upper portion of the second conductor layer, for example, there is a method of manufacturing a multilayer printed circuit board disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. Hei 9-116272 (hereinafter referred to as Conventional Example 1). As a manufacturing method, first, a first conductor layer 19 composed of a desired circuit is formed on a printed board 18 (FIG. 18A), and the first conductor layer 19 is formed so as to cover the first conductor layer 19.
Is applied and cured by heat treatment (FIG. 18B).

【0013】次に、第1のレジスト膜20上に第2のレ
ジスト膜21を塗布し、現像により所望の凹部22を形
成する(図18(c))。次に、メッキ触媒層を形成し
た後に、無電解銅メッキ層23を全面に形成する(図1
8(d))。次に、無電解銅メッキ層23上に感光フィ
ルム24を露光現像して配線パターンに対応して凹部2
2上を開口させる(図19(a))。
Next, a second resist film 21 is applied on the first resist film 20, and a desired concave portion 22 is formed by development (FIG. 18C). Next, after forming a plating catalyst layer, an electroless copper plating layer 23 is formed on the entire surface (FIG. 1).
8 (d)). Next, the photosensitive film 24 is exposed and developed on the electroless copper plating layer 23, and the concave portions 2 corresponding to the wiring patterns are formed.
2 is opened (FIG. 19A).

【0014】次に、凹部22に電気金属メッキ法により
銅25を埋め込む(図19(b))。次に、感光フィル
ム24を剥離し(図19(c))、第2のレジスト膜2
1が露出するまで全面をエッチバックする(図19
(d))。このようにして、上記各従来の方法により生
じていた凹部を低減することができた。
Next, copper 25 is buried in the recess 22 by electrometal plating (FIG. 19B). Next, the photosensitive film 24 is peeled off (FIG. 19C), and the second resist film 2 is removed.
Etch back the entire surface until 1 is exposed (FIG. 19)
(D)). In this way, the concave portions generated by the above-described conventional methods could be reduced.

【0015】[0015]

【発明が解決しようとする課題】従来の多層プリント基
板は上記のように構成されていた。しかし、従来例1の
場合、凹部22を電気金属メッキ法を用いて銅25を埋
め込む際には、本来、凹部22のパターン形状およびパ
ターン密度によって電流分布が異なり、凹部22に形成
される銅25の膜厚はばらつき、感光フィルム24剥離
後の通常の化学的エッチバックを行ったとしても、表面
には凹凸が残存するという問題点があった。
The conventional multilayer printed circuit board has been constructed as described above. However, in the case of Conventional Example 1, when the concave portion 22 is filled with the copper 25 by using the electrometal plating method, the current distribution originally differs depending on the pattern shape and the pattern density of the concave portion 22, and the copper 25 formed in the concave portion 22 is originally formed. Has a problem that unevenness remains on the surface even when ordinary chemical etch-back is performed after the photosensitive film 24 is peeled off.

【0016】また、サブトラクティブ法、セミアディテ
ィブ法および従来例1においては、配線をパターニング
するためのレジスト膜および感光フィルムを除去する工
程が必要となり、工程数が増大するという問題点が生じ
ていた。
Further, in the subtractive method, the semi-additive method and the first conventional example, a step of removing a resist film and a photosensitive film for patterning wiring is required, which causes a problem that the number of steps is increased. .

【0017】また、フルアディティブ法においては、無
電解銅メッキ17を形成するために、強アルカリ性の無
電解銅メッキ液に長時間(5から20時間)浸漬する必
要があり、その際に、絶縁層に水が吸水され、絶縁層の
溶解劣化等が発生し、絶縁層の絶縁能力が低下するとい
う問題点が生じていた。さらに、永久レジスト16の側
面(図17(b)のCにて示した箇所)には、メッキ触
媒層が形成されていないため、永久レジスト16の側面
と第2の導体層17との密着性が弱く、信頼性が低下す
るという問題点があった。
In addition, in the full additive method, in order to form the electroless copper plating 17, it is necessary to immerse in a strong alkaline electroless copper plating solution for a long time (5 to 20 hours). There is a problem that water is absorbed in the layer, and the insulating layer dissolves and deteriorates, thereby lowering the insulating ability of the insulating layer. Furthermore, since the plating catalyst layer is not formed on the side surface of the permanent resist 16 (the portion indicated by C in FIG. 17B), the adhesion between the side surface of the permanent resist 16 and the second conductor layer 17 However, there is a problem that the reliability is reduced.

【0018】また、サブトラクティブ法、セミアディテ
ィブ法、および、従来例1の場合、メッキ触媒層を形成
した後に、無電解銅メッキを行い、その上部に銅メッキ
を行うため、回路間(例えば、図15(c)、図16
(c)および図19(d)のAにて示す箇所)に残留す
るメッキ触媒層を化学的に除去する必要があった。しか
し、このメッキ触媒層の過度のエッチングにより、本来
必要となる銅メッキ層にエッチングが生じ所望の配線幅
より細くなったり、銅メッキ層と絶縁層との密着性が低
下したりする。また、従来の第2の導体層をパターニン
グする工程以外に、メッキ触媒層を除去する工程を新た
に設けなければならず、設備コストの増大となるという
問題点があった。
Further, in the case of the subtractive method, the semi-additive method, and in the case of the conventional example 1, after the plating catalyst layer is formed, electroless copper plating is performed, and copper plating is performed on the upper portion thereof. FIG. 15 (c), FIG.
It is necessary to chemically remove the plating catalyst layer remaining in (c) and the portion indicated by A in FIG. 19D). However, due to excessive etching of the plating catalyst layer, the originally required copper plating layer is etched and becomes thinner than a desired wiring width, or the adhesion between the copper plating layer and the insulating layer is reduced. Further, in addition to the conventional step of patterning the second conductor layer, a step of removing the plating catalyst layer must be newly provided, resulting in an increase in equipment cost.

【0019】また、上記方法にてメッキ触媒層を完全に
除去することは極めて困難であり、配線間の絶縁抵抗の
低下や、高温高湿における加速試験に対して信頼性が乏
しいという問題点が生じていた。また、フルアディティ
ブ法においては、永久レジスト16を除去しないため、
この下部に存在する(例えば、図17(b)のBにて示
す箇所)メッキ触媒層を除去することはできず、深刻な
問題となる。
Further, it is extremely difficult to completely remove the plating catalyst layer by the above-mentioned method, and there is a problem that the insulation resistance between the wirings is reduced, and the reliability is low in an accelerated test at high temperature and high humidity. Had occurred. Further, in the full additive method, since the permanent resist 16 is not removed,
The plating catalyst layer existing below (for example, a portion indicated by B in FIG. 17B) cannot be removed, which causes a serious problem.

【0020】この発明は上記のような問題点を解消する
ためなされたもので、上面を平坦化すると共に、信頼性
を向上することができる多層プリント基板および多層プ
リント基板の製造方法を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and it is an object of the present invention to provide a multilayer printed board and a method of manufacturing a multilayer printed board which can planarize an upper surface and improve reliability. With the goal.

【0021】[0021]

【課題を解決するための手段】この発明に係る請求項1
の多層プリント基板は、第1の導体層が形成されたプリ
ント基板と、プリント基板上に第1の導体層に至る第1
の開口部を備えた第1の絶縁層と、第1の絶縁層上に、
第1の開口部に連通する第2の開口部および底部が第1
の絶縁層上のみに至る第3の開口部を備えた第2の絶縁
層と、第1ないし第3の開口部に埋め込まれた第2の導
体層とからなり、第2の導体層が、第1の開口部ないし
第3の開口部の側面および底面を覆うように形成された
メッキ触媒層と、メッキ触媒層上を覆うように形成され
た無電解金属メッキ層と、無電解金属メッキ層上を覆う
ように形成された電気金属メッキ層との3層にて成るも
のである。
Means for Solving the Problems Claim 1 according to the present invention.
Is a printed circuit board on which a first conductive layer is formed, and a first printed circuit board reaching the first conductive layer on the printed circuit board.
A first insulating layer having an opening of, and on the first insulating layer,
The second opening and the bottom communicating with the first opening are the first opening.
A second insulating layer having a third opening reaching only on the insulating layer, and a second conductor layer embedded in the first to third openings. A plating catalyst layer formed to cover the side and bottom surfaces of the first to third openings, an electroless metal plating layer formed to cover the plating catalyst layer, and an electroless metal plating layer It consists of three layers: an electrometal plating layer formed so as to cover the top.

【0022】また、この発明に係る請求項2の多層プリ
ント基板は、第1の導体層が形成されたプリント基板
と、プリント基板上に第1の導体層に至る第1の開口部
を備えた第1の絶縁層と、第1の絶縁層上に、第1の開
口部に連通する第2の開口部および底部が第1の絶縁層
上のみに至る第3の開口部を備えた第2の絶縁層と、第
1ないし第3の開口部に埋め込まれた第2の導体層とか
らなり、第1の開口部および第2の開口部内の第2の導
体層が、第1の開口部の側面および底面を覆うように形
成された第1のメッキ触媒層と、第1のメッキ触媒層上
を覆うように形成された第1の無電解金属メッキ層と、
第1の無電解金属メッキ層上を覆うように形成された第
1の電気金属メッキ層との3層と、第2の開口部の側面
を覆うように形成されるとともに、第1の電気金属メッ
キ層上を覆うように形成された第2のメッキ触媒層と、
第2のメッキ触媒層上を覆うように形成された第2の無
電解金属メッキ層と、第2の無電解金属メッキ層上を覆
うように形成された第2の電気金属メッキ層との3層と
の6層にて成り、第3の開口部内の第2の導体層が、第
3の開口部の側面および底面を覆うように形成された第
2のメッキ触媒層と、第2のメッキ触媒層上を覆うよう
に形成された第2の無電解金属メッキ層と、第2の無電
解金属メッキ層上を覆うように形成された第2の電気金
属メッキ層との3層とにて成るものである。
According to a second aspect of the present invention, there is provided a multilayer printed board including a printed board on which a first conductive layer is formed, and a first opening on the printed board reaching the first conductive layer. A second insulating layer having a first insulating layer, and a second opening on the first insulating layer, the second opening communicating with the first opening, and a third opening having a bottom only on the first insulating layer. , And a second conductor layer embedded in the first through third openings, and the first conductor in the first opening and the second opening are formed in the first opening. A first plating catalyst layer formed so as to cover the side and bottom surfaces of the first and second electroless metal plating layers formed so as to cover the first plating catalyst layer;
A first electric metal plating layer formed so as to cover the first electroless metal plating layer and a first electric metal plating layer, the first electric metal plating layer being formed so as to cover the side surface of the second opening; A second plating catalyst layer formed so as to cover the plating layer,
A third electroless metal plating layer formed so as to cover the second plating catalyst layer and a second electrometallic plating layer formed so as to cover the second electroless metal plating layer; A second plating catalyst layer formed of six layers, the second conductor layer in the third opening being formed so as to cover the side and bottom surfaces of the third opening; Three layers of a second electroless metal plating layer formed so as to cover the catalyst layer and a second electrometallic plating layer formed so as to cover the second electroless metal plating layer It consists of

【0023】また、この発明に係る請求項3の多層プリ
ント基板は、請求項1または請求項2において、第2の
導体層が埋め込まれた第2の開口部上に、第2の開口部
と連通して成る開口部を有する絶縁層を形成し、開口部
に埋め込まれる導体層を形成し、導体層を第2の導体層
と電気的に接続して形成するものである。
According to a third aspect of the present invention, there is provided the multilayer printed board according to the first or second aspect, wherein the second opening is formed on the second opening in which the second conductor layer is embedded. An insulating layer having an opening formed in communication is formed, a conductor layer embedded in the opening is formed, and the conductor layer is electrically connected to a second conductor layer.

【0024】また、この発明に係る請求項4の多層プリ
ント基板は、請求項1ないし請求項3のいずれかにおい
て、第2の導体層と接する第1の絶縁層および第2の絶
縁層の面に、粗面化面が形成されているものである。
According to a fourth aspect of the present invention, there is provided the multilayer printed circuit board according to any one of the first to third aspects, wherein a surface of the first insulating layer and the second insulating layer in contact with the second conductor layer is provided. In this case, a roughened surface is formed.

【0025】また、この発明に係る請求項5の多層プリ
ント基板は、請求項4において、第1の絶縁層に形成さ
れた粗面化面が、第2の絶縁層に形成された粗面化面よ
り粗いものである。
According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the multilayer printed circuit board according to the fourth aspect, wherein the roughened surface formed on the first insulating layer is replaced with the roughened surface formed on the second insulating layer. It is rougher than the surface.

【0026】また、この発明に係る請求項6の多層プリ
ント基板は、請求項5において、第1の絶縁層を構成す
る樹脂に含有されたフィラーの平均粒径が、第2の絶縁
層を構成する樹脂に含有されたフィラーの平均粒径より
大きいものである。
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided the multilayer printed circuit board according to the fifth aspect, wherein the average particle diameter of the filler contained in the resin constituting the first insulating layer is less than that of the second insulating layer. It is larger than the average particle size of the filler contained in the resin to be formed.

【0027】また、この発明に係る請求項7の多層プリ
ント基板は、請求項6において、第1の絶縁層を構成す
る樹脂に含有されたフィラーの平均粒径が1ないし20
μmの範囲にて成り、第2の絶縁層を構成する樹脂に含
有されたフィラーの平均粒径が0.01ないし5μmの
範囲にて成るものである。
According to a seventh aspect of the present invention, there is provided the multilayer printed board according to the sixth aspect, wherein the average particle diameter of the filler contained in the resin constituting the first insulating layer is 1 to 20.
The average particle diameter of the filler contained in the resin constituting the second insulating layer is in the range of 0.01 to 5 μm.

【0028】また、この発明に係る請求項8の多層プリ
ント基板の製造方法は、第1の導体層が形成されたプリ
ント基板上に第1の絶縁層を塗布し第1の絶縁層の所望
の領域を第1の導体層に至るまで開口させ、第1の開口
部を形成し、第1の絶縁層上に第2の絶縁層を塗布し、
第2の絶縁層の所望の領域に、第1の開口部に至るま
で、および、底部が第1の絶縁層上のみに至るまでそれ
ぞれ開口させ、第2および第3の開口部をそれぞれ形成
し、第1ないし第3の開口部を埋め込むとともに第2の
絶縁層上を覆うように、メッキ法によりメッキ触媒層、
無電解金属メッキ層、および、電気金属メッキ層を順次
形成して第2の導体層を形成し、第2の導体層を機械的
に研磨し、第2の絶縁層の上面の第2の導体層を除去し
露出させるものである。
Further, according to a method of manufacturing a multilayer printed circuit board according to claim 8 of the present invention, a first insulating layer is applied on a printed circuit board on which a first conductive layer is formed, and a desired first insulating layer is formed. Opening a region to the first conductor layer, forming a first opening, applying a second insulating layer on the first insulating layer,
In a desired region of the second insulating layer, openings are formed until reaching the first opening and until the bottom reaches only above the first insulating layer, and second and third openings are respectively formed. A plating catalyst layer by a plating method so as to bury the first to third openings and cover the second insulating layer;
An electroless metal plating layer and an electrometal plating layer are sequentially formed to form a second conductor layer, the second conductor layer is mechanically polished, and the second conductor on the upper surface of the second insulating layer is formed. The layer is removed and exposed.

【0029】また、この発明に係る請求項9の多層プリ
ント基板の製造方法は、請求項8において、第1ないし
第3の開口部が形成され、第2の導体層を形成する前
に、第1の絶縁層および第2の絶縁層を粗面化するもの
である。
According to a ninth aspect of the present invention, in the method for manufacturing a multilayer printed circuit board according to the ninth aspect, the first to third openings are formed and the first to third openings are formed before forming the second conductor layer. This is for roughening the first insulating layer and the second insulating layer.

【0030】また、この発明に係る請求項10の多層プ
リント基板の製造方法は、第1の導体層が形成されたプ
リント基板上に第1の絶縁層を塗布し第1の絶縁層の所
望の領域を第1の導体層に至るまで開口させ、第1の開
口部を形成し、第1の開口部を埋め込むとともに第1の
絶縁層上を覆うように、メッキ法により第1のメッキ触
媒層、第1の無電解金属メッキ層および第1の電気金属
メッキ層を順次形成し下層導体層を形成し、下層導体層
を機械的に研磨し、第1の絶縁層の上面の下層導体層を
除去し露出させ、第1の絶縁層上に第2の絶縁層を塗布
し、第2の絶縁層の所望の領域に、第1の開口部すなわ
ち下層導体層に至るまで、および、底部が第1の絶縁層
のみに至るまでそれぞれ開口させ、第2および第3の開
口部をそれぞれ形成し、第2の開口部および第3の開口
部を埋め込むとともに第2の絶縁層上を覆うように、メ
ッキ法により第2のメッキ触媒層、第2の無電解金属メ
ッキ層および第2の電気金属メッキ層を順次形成し上層
導体層を形成し、上層導体層を機械的に研磨し、第2の
絶縁層の上面の上層導体層を除去し露出させ、下層導体
層および上層導体層にて成る第2の導体層を形成するも
のである。
According to a tenth aspect of the present invention, in the method of manufacturing a multilayer printed circuit board, a first insulating layer is applied on a printed circuit board on which a first conductive layer is formed, and a desired first insulating layer is formed. A first plating catalyst layer is formed by plating so that the region is opened to the first conductor layer, a first opening is formed, and the first opening is buried and the first insulating layer is covered. Forming a first electroless metal plating layer and a first electrometal plating layer sequentially to form a lower conductor layer, mechanically polishing the lower conductor layer, and forming a lower conductor layer on the upper surface of the first insulating layer. Removing and exposing, applying a second insulating layer on the first insulating layer, and in a desired region of the second insulating layer up to the first opening, that is, the lower conductive layer, and the bottom portion of the second insulating layer. The second and third openings are respectively formed until only the first insulating layer is formed. Then, the second plating catalyst layer, the second electroless metal plating layer, and the second electric plating layer are filled by the plating method so as to fill the second opening and the third opening and cover the second insulating layer. A metal plating layer is sequentially formed to form an upper conductor layer, the upper conductor layer is mechanically polished, the upper conductor layer on the upper surface of the second insulating layer is removed and exposed, and the lower conductor layer and the upper conductor layer are used. Forming a second conductive layer.

【0031】また、この発明に係る請求項11の多層プ
リント基板の製造方法は、請求項10において、第1の
開口部が形成され、下層導体層を形成する前に、第1の
絶縁層を粗面化する工程と、第2および第3の開口部が
形成され、上層導体層を形成する前に、第1の絶縁層お
よび第2の絶縁層を粗面化するものである。
According to a tenth aspect of the present invention, in the method of the tenth aspect, the first opening is formed, and the first insulating layer is formed before the lower conductive layer is formed. The first and second insulating layers are roughened before the upper conductor layer is formed, with the step of roughening and forming the second and third openings.

【0032】また、この発明に係る請求項12の多層プ
リント基板の製造方法は、請求項8ないし請求項11に
記載の多層プリント基板の製造方法において、電気金属
メッキ層または第1の電気金属メッキ層または第2電気
金属メッキ層のメッキ法を、パルスメッキ法または周期
的反転電流メッキ法を用いるものである。
According to a twelfth aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing a multilayer printed circuit board according to any one of the eighth to eleventh aspects. The plating method of the layer or the second electric metal plating layer uses a pulse plating method or a periodic inversion current plating method.

【0033】また、この発明に係る請求項13の多層プ
リント基板の製造方法は、請求項12において、電気金
属メッキ層または第1の電気金属メッキ層または第2電
気金属メッキ層を所望厚さ分化学的にエッチングした後
に、機械的に研磨するものである。
According to a thirteenth aspect of the present invention, in the method of the twelfth aspect, the electric metal plating layer, the first electric metal plating layer, or the second electric metal plating layer has a desired thickness. After chemical etching, it is polished mechanically.

【0034】[0034]

【発明の実施の形態】実施の形態1.以下、この発明の
実施の形態を図について説明する。図1はこの発明の実
施の形態1の多層プリント基板の構成を示す断面図であ
る。図において、26はプリント基板、27はこのプリ
ント基板26上に形成された第1の導体層で、表面が粗
面化面にて形成されている。28はプリント基板26上
に第1の導体層27に至る第1の開口部29を備えた第
1の絶縁層で、例えばエポキシアクリレートを主成分と
する感光性絶縁樹脂にて成る。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiment 1 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 1 is a sectional view showing a configuration of a multilayer printed circuit board according to Embodiment 1 of the present invention. In the figure, 26 is a printed circuit board, 27 is a first conductor layer formed on the printed circuit board 26, and the surface is formed with a roughened surface. Reference numeral 28 denotes a first insulating layer having a first opening 29 extending to the first conductive layer 27 on the printed circuit board 26, and is made of, for example, a photosensitive insulating resin mainly containing epoxy acrylate.

【0035】30は第1の絶縁層28上に、第1の開口
部29に連通する第2の開口部31および底部が第1の
絶縁層28上のみに至る第3の開口部32を備えた第2
の絶縁層で、例えばエポキシアクリレートを主成分とす
る感光性絶縁樹脂にて成る。33は第1ないし第3の開
口部29、31、32に埋め込まれた第2の導体層で、
この第2の導体層33と接する第1の絶縁層28および
第2の絶縁層30の面は粗面化面にて形成されている。
Reference numeral 30 denotes a second opening 31 communicating with the first opening 29 on the first insulating layer 28 and a third opening 32 having a bottom only on the first insulating layer 28. The second
The insulating layer is made of, for example, a photosensitive insulating resin containing epoxy acrylate as a main component. 33 is a second conductor layer embedded in the first to third openings 29, 31, and 32;
The surfaces of the first insulating layer 28 and the second insulating layer 30 that are in contact with the second conductor layer 33 are formed as roughened surfaces.

【0036】この第2の導体層33は、第1の開口部な
いし第3の開口部29、31、32の側面および底面を
覆うように形成されたメッキ触媒層34と、メッキ触媒
層34上を覆うように形成された無電解金属メッキ層3
5と、無電解金属メッキ層35上を覆うように形成され
た電気金属メッキ層36との3層にて成る。
The second conductor layer 33 includes a plating catalyst layer 34 formed so as to cover the side and bottom surfaces of the first through third openings 29, 31, and 32. Metal plating layer 3 formed so as to cover
5 and an electric metal plating layer 36 formed so as to cover the electroless metal plating layer 35.

【0037】このように構成された実施の形態1の多層
プリント基板の製造方法について図2および図3をまじ
えて説明する。まず、プリント基板26上に、パターニ
ングした後に、表面がエッチング処理等により粗面化さ
れた第1の導体層27を形成する(図2(a))。次
に、第1の導体層27上に、例えばカーテンコータによ
り感光性絶縁樹脂を塗布する。そして、窒素ガスにより
強制排気が可能なクリーンオーブン内で、温度を80℃
にし、40分間乾燥させる。この際の、感光性絶縁樹脂
の平均厚さは、後工程にて第1の導体層27の上部に形
成される第2の導体層と絶縁関係が保たれる範囲でよ
く、例えば第1の導体層27の上面の厚み(図2(b)
のt1にて示す厚み)を50μm程度有していればよ
い。
A method for manufacturing the multilayer printed circuit board according to the first embodiment configured as described above will be described with reference to FIGS. First, a first conductor layer 27 whose surface has been roughened by etching or the like is formed on a printed board 26 after patterning (FIG. 2A). Next, a photosensitive insulating resin is applied on the first conductor layer 27 by, for example, a curtain coater. Then, the temperature is set to 80 ° C. in a clean oven that can be forcibly exhausted by nitrogen gas.
And let dry for 40 minutes. At this time, the average thickness of the photosensitive insulating resin may be in a range where an insulating relationship with the second conductive layer formed on the first conductive layer 27 in a later step is maintained. Thickness of the upper surface of the conductor layer 27 (FIG. 2B)
(Thickness indicated by t1) of about 50 μm.

【0038】次に、パターニングされたフォトマスクを
感光性絶縁樹脂上に設置し、例えばメタルハライドラン
プを光源とする露光機により、露光量500〜3000
mJ/cm2にて露光した後、温度が30℃の1%炭酸
ナトリウム水溶液にてなる現像液で、感光性絶縁樹脂の
未露光部分を、スプレー現像機にて120秒間現像除去
する。そして、開口径が100〜150μmのバイアホ
ールを形成し、水洗後、クリーンオーブン内で、温度を
150℃にし、60分間熱硬化させ、バイアホールとし
ての第1の開口部29を有する第1の絶縁層28を形成
する(図2(b))。
Next, a patterned photomask is placed on the photosensitive insulating resin, and the exposure amount is set to 500 to 3000 by an exposing machine using, for example, a metal halide lamp as a light source.
After exposure at mJ / cm 2, the unexposed portion of the photosensitive insulating resin is developed and removed with a spray developing machine for 120 seconds using a developing solution comprising a 1% aqueous solution of sodium carbonate at a temperature of 30 ° C. Then, a via hole having an opening diameter of 100 to 150 μm is formed. After washing with water, the temperature is set to 150 ° C. in a clean oven and thermally cured for 60 minutes to form a first hole having a first opening 29 as a via hole. An insulating layer 28 is formed (FIG. 2B).

【0039】次に、第1の絶縁層28の表面を、例えば
バフロールを取り付けた手動方式の2軸研磨機を用いて
平坦化した後、第1の絶縁層28上に、例えばカーテン
コータにより感光性絶縁樹脂を塗布する。そして、窒素
ガスにより強制排気が可能なクリーンオーブン内で、温
度を80℃にし、40分間乾燥させる。この際の、感光
性絶縁樹脂の平均厚さは、後工程に形成される第2の導
体層の所望の厚み分に、機械的に研磨される厚み分が加
味して設定されることとなり、例えば第1の絶縁層28
の上面の厚み(図2(c)のt2にて示す厚み)を30
μm程度有していればよい。
Next, after the surface of the first insulating layer 28 is flattened by using, for example, a manual type biaxial polishing machine to which a baffle is attached, the surface of the first insulating layer 28 is exposed by, for example, a curtain coater. Apply a conductive insulating resin. Then, the temperature is set to 80 ° C. in a clean oven that can be forcibly exhausted by nitrogen gas, and dried for 40 minutes. At this time, the average thickness of the photosensitive insulating resin is set in consideration of the mechanically polished thickness in addition to the desired thickness of the second conductor layer formed in a later step, For example, the first insulating layer 28
The thickness of the upper surface (thickness indicated by t2 in FIG. 2C) is 30
What is necessary is just to have about μm.

【0040】次に、パターニングされたフォトマスクを
感光性絶縁樹脂上に設置し、例えばメタルハライドラン
プを光源とする露光機により、露光量500〜3000
mJ/cm2にて露光した後、温度が30℃の1%炭酸
ナトリウム水溶液にてなる現像液で、感光性絶縁樹脂の
未露光部分を、スプレー現像機にて80秒間現像除去す
る。そして、開口パターンを形成し、水洗後、クリーン
オーブン内で、温度を150℃にし、60分間熱硬化さ
せ、第1の開口部29に連通する第2の開口部31およ
び底部が第1の絶縁層28上のみに至る第3の開口部3
2を有する第2の絶縁層30を形成する(図2
(c))。
Next, a patterned photomask is placed on the photosensitive insulating resin, and the exposure amount is set to 500 to 3000 using an exposing machine using, for example, a metal halide lamp as a light source.
After exposure at mJ / cm 2, the unexposed portion of the photosensitive insulating resin is developed and removed by a spray developing machine for 80 seconds using a developing solution comprising a 1% aqueous solution of sodium carbonate at a temperature of 30 ° C. Then, an opening pattern is formed, and after washing with water, the temperature is set to 150 ° C. in a clean oven, and thermosetting is performed for 60 minutes, and the second opening 31 and the bottom communicating with the first opening 29 have the first insulating property. Third opening 3 only over layer 28
2 is formed (see FIG. 2).
(C)).

【0041】次に、例えば過マンガン酸ナトリウムを主
成分とする処理液により、第1および第2の絶縁層の露
出部分を化学的にエッチングし、粗面化面(図示せず)
を形成する(粗面化面の構成については、後述にて詳細
を説明する)。次に、例えばパラジウムにて成るメッキ
触媒を含んだ溶液に浸漬することにより第1および第2
の絶縁層28、30の露出面に、メッキ触媒層34を形
成する(図2(d))。
Next, the exposed portions of the first and second insulating layers are chemically etched, for example, with a treatment liquid containing sodium permanganate as a main component, and the surface is roughened (not shown).
(The configuration of the roughened surface will be described later in detail). Next, the first and second layers are immersed in a solution containing a plating catalyst made of, for example, palladium.
The plating catalyst layer 34 is formed on the exposed surfaces of the insulating layers 28 and 30 (FIG. 2D).

【0042】次に、メッキ触媒層34の上面を覆うよ
う、無電解銅メッキ層35を、例えば平均膜厚が0.1
〜0.5μmにて形成し、水洗後、窒素ガスをパージし
たクリーンオーブン内で、温度を150℃にし、60分
間の熱処理を行い、無電解銅メッキ層35の密着性を向
上させる。
Next, the electroless copper plating layer 35 is coated, for example, with an average thickness of 0.1 so as to cover the upper surface of the plating catalyst layer 34.
After washing with water, the temperature is set to 150 ° C. in a clean oven purged with nitrogen gas, and heat treatment is performed for 60 minutes to improve the adhesion of the electroless copper plating layer 35.

【0043】次に、例えば10%の硫酸水溶液中で酸洗
いし、水洗後、例えば、1〜3A/dm2の電流密度に
て電気銅メッキを行い、電気銅メッキ層36を、電気銅
メッキ層36の上面の最下面部が第2の絶縁層30の上
面より高くなるように、例えば80μm以上に形成す
る。そして、メッキ触媒層34、無電解銅メッキ層35
および電気銅メッキ層36の3層にて成る第2の導体層
33が形成されることとなる(図3)。次に、水洗後、
クリーンオーブン内で、温度を150℃にし、60分間
の熱処理を行い、電気銅メッキ層36の密着性を向上さ
せる。
Next, for example, pickling is performed in a 10% sulfuric acid aqueous solution, and after washing with water, electrolytic copper plating is performed at a current density of, for example, 1 to 3 A / dm 2 to form an electrolytic copper plating layer 36. The uppermost surface of the layer 36 is formed, for example, to have a thickness of 80 μm or more so that the lowermost portion of the upper surface is higher than the upper surface of the second insulating layer 30. Then, the plating catalyst layer 34 and the electroless copper plating layer 35
Then, the second conductor layer 33 composed of three layers of the electrolytic copper plating layer 36 is formed (FIG. 3). Next, after washing with water,
In a clean oven, the temperature is raised to 150 ° C. and heat treatment is performed for 60 minutes to improve the adhesion of the electrolytic copper plating layer 36.

【0044】次に、電気銅メッキ層36の表面を6軸研
磨機にて研磨する(ここで示した、6軸研磨機とは、6
軸の前段2軸は粗いバフロールを有し、中段2軸は中く
らいの粗さのバフロールを有し、後段2軸は細かい粗さ
のバフロールを有するものである。)。そして、第2の
絶縁層30の一部が露出すると、さらに細かい粗さのバ
フロールを有する2軸研磨機を用いて、第2の絶縁層3
0の上面の第2の導体層33を全て除去し、第2の絶縁
層30を露出させる。
Next, the surface of the electrolytic copper plating layer 36 is polished by a six-axis polisher (the six-axis polisher shown here is
The first two shafts have a rough baffle, the middle two shafts have a medium bough, and the second two shafts have a fine buff. ). Then, when a part of the second insulating layer 30 is exposed, the second insulating layer 3 is formed using a biaxial polisher having a finer baffle.
The second conductive layer 33 on the upper surface of the first layer 0 is entirely removed to expose the second insulating layer 30.

【0045】このような除去工程を行うことにより、第
2の絶縁層30の上面に形成された粗面化面内に入り込
んだ第2の導体層33は全て取り除かれることとなり、
第2の絶縁層30の上面には、電気銅メッキ層36およ
び無電解銅メッキ層35が存在しないのはもちろんのこ
と、メッキ触媒層34も存在しないこととなる。また、
第2の絶縁層30の上面にはこの研磨により生じた機械
的粗面化面が形成されることとなる(図1)。
By performing such a removing step, all of the second conductor layer 33 that has entered the roughened surface formed on the upper surface of the second insulating layer 30 is removed.
On the upper surface of the second insulating layer 30, not only the electrolytic copper plating layer 36 and the electroless copper plating layer 35 do not exist, but also the plating catalyst layer 34 does not exist. Also,
A mechanically roughened surface generated by the polishing is formed on the upper surface of the second insulating layer 30 (FIG. 1).

【0046】ここで上記では省略した粗面化について図
4および図5を交えて説明する。また、各絶縁層28お
よび29の詳細についても説明する。第1の絶縁層28
は、これを構成する樹脂に含有されるフィラーの平均粒
径を、第2の絶縁層29を構成する樹脂に含有されるフ
ィラーの平均粒径より大きく成るように形成し、例とし
て、第1の絶縁層28のフィラーの平均粒径を10μm
の材質にて形成し、第2の絶縁層30のフィラーの平均
粒径を1μmの材質にて形成する。
Here, the roughening omitted above will be described with reference to FIGS. The details of the insulating layers 28 and 29 will also be described. First insulating layer 28
Is formed so that the average particle diameter of the filler contained in the resin constituting the second insulating layer 29 is larger than the average particle diameter of the filler contained in the resin constituting the second insulating layer 29. The average particle size of the filler of the insulating layer 28 is 10 μm.
The second insulating layer 30 is formed of a material having an average particle diameter of 1 μm.

【0047】そして、図2(c)および図4(a)に示
すように、各開口部29、31、32が形成された後
に、第1および第2の絶縁層28、30の露出面にそれ
ぞれ粗面化面37および38が形成される。このように
形成された粗面化面37および38の粗さは、第1の絶
縁層に形成された粗面化面37が、第2の絶縁層30に
形成された粗面化面より粗く形成される(図4
(b))。
Then, as shown in FIGS. 2C and 4A, after the openings 29, 31, and 32 are formed, the exposed surfaces of the first and second insulating layers 28 and 30 are formed. Roughened surfaces 37 and 38 are formed, respectively. The roughness of the roughened surfaces 37 and 38 thus formed is such that the roughened surface 37 formed on the first insulating layer is rougher than the roughened surface formed on the second insulating layer 30. Formed (Fig. 4
(B)).

【0048】これは、第1の絶縁層28と第2の絶縁層
30とを構成する樹脂に含有されるフィラーの平均粒径
のそれぞれの大きさの関係をかえることにより容易に行
うことが可能である。そして、このように粗面化面3
7、38が形成された後に、第2の導体層33を形成
し、第2の導体層33は粗面化面37、38にくい込む
ように形成されることとなる(図5)。
This can be easily performed by changing the relationship between the average particle diameters of the fillers contained in the resin constituting the first insulating layer 28 and the second insulating layer 30. It is. And the roughened surface 3
After the formation of the layers 7 and 38, the second conductor layer 33 is formed, and the second conductor layer 33 is formed so as to fit into the roughened surfaces 37 and 38 (FIG. 5).

【0049】このように形成することにより、パターン
最小解像度を低下させることなく、優れた投錨効果を得
ることができる。また、第1の導体層への追随性および
段差吸収性の優れたものに形成することができる。
By forming in this manner, an excellent anchoring effect can be obtained without lowering the pattern minimum resolution. Further, it can be formed to have excellent followability to the first conductor layer and excellent step absorption.

【0050】このことを図6および図7を用いて説明す
る。図6に示すように、上記示したような例にて形成さ
れたものを評価例1とし、評価例2として、第1および
第2の絶縁層を構成する樹脂に含有されるフィラーの平
均粒径を、評価例1の第2の絶縁層と同一のもの(平均
粒径1μm)にて形成するものとし、評価例3として、
第1および第2の絶縁層を構成する樹脂に含有されるフ
ィラーの平均粒径を、評価例1の第1の絶縁層と同一の
もの(平均粒径10μm)にて形成するものとする。
This will be described with reference to FIGS. 6 and 7. As shown in FIG. 6, what was formed in the above-described example was evaluated as evaluation example 1, and as evaluation example 2, the average particle size of the filler contained in the resin constituting the first and second insulating layers was evaluated. It is assumed that the diameter is the same as that of the second insulating layer of Evaluation Example 1 (average particle size: 1 μm).
The average particle size of the filler contained in the resin forming the first and second insulating layers is the same as that of the first insulating layer of Evaluation Example 1 (average particle size: 10 μm).

【0051】メッキ密着力は導体層と絶縁層との接触面
積の大小に起因する。この図から明らかなように、両者
の接触面積が比較的大きな評価例1および評価例2では
メッキ密着力が1.2Kg/cmであるが、接触面積が
最も小さい評価例3ではメッキ密着力が0.8Kg/c
mと小さくなる。
The plating adhesion results from the size of the contact area between the conductor layer and the insulating layer. As is clear from this figure, the plating adhesion is 1.2 Kg / cm in Evaluation Examples 1 and 2 where the contact area between the two is relatively large, but the plating adhesion is small in Evaluation Example 3 where the contact area is the smallest. 0.8kg / c
m.

【0052】また、パターン最小解像度(ライン間隔お
よびスペース間隔)は、粗面化面の粗さに反比例するた
め、フィラーの平均粒径の小さいものが上部に存在す
る、評価例1および評価例2のパターン最小解像度は3
0μmと小さくなり、フィラーの平均粒径の大きいもの
が上部に存在する、評価例3のパターン最小解像度は6
0μmと大きくなる。
Since the minimum resolution of the pattern (line interval and space interval) is inversely proportional to the roughness of the roughened surface, evaluation examples 1 and 2 in which a filler having a small average particle size is present at the top. Pattern resolution is 3
In the evaluation example 3, the pattern had a minimum resolution of 6 μm, which had a small average particle diameter of 0 μm and a large average particle diameter of the filler.
It becomes as large as 0 μm.

【0053】また、第1の導体層への追随性は、フィラ
ーの平均粒径が大きい程小さくなる。これは、フィラー
の平均粒径の大きい方が流動性が大きく平坦になり易
く、フィラーの平均粒径の小さい方が流動性が小さく平
坦になりにくいためである。ここで、第1の導体層が3
0μm、第1の絶縁層が60μmにてそれぞれを形成し
た場合の構成を図7に示す。
In addition, the ability to follow the first conductor layer decreases as the average particle size of the filler increases. This is because the larger the average particle size of the filler is, the larger the flowability is, and the more easily the filler becomes flat. Here, the first conductor layer is 3
FIG. 7 shows a configuration in which the first insulating layer is formed at 0 μm and the first insulating layer is formed at 60 μm.

【0054】図7(a)は評価例1および評価例3にお
ける場合の、第1の絶縁層39を塗布形成した場合を示
し、これはフィラーの平均粒径の大きい第1の絶縁層3
9が形成され平坦化されたため全体としては、5μmの
段差と成った。
FIG. 7A shows the case where the first insulating layer 39 is applied and formed in the evaluation examples 1 and 3, which is the first insulation layer 3 having a large average particle diameter of the filler.
Since 9 was formed and flattened, a step of 5 μm was obtained as a whole.

【0055】また、図7(b)は評価例2における場合
の、第1の絶縁層41を塗布形成した場合を示し、これ
はフィラーの平均粒径の小さい第1の絶縁層41が形成
され、平坦化されないため全体としては、20μmの段
差と成った。
FIG. 7B shows a case in which the first insulating layer 41 in the evaluation example 2 is applied and formed, in which the first insulating layer 41 having a small average particle diameter of the filler is formed. Since the surface was not flattened, the overall step was 20 μm.

【0056】以上示したように、評価例1および評価例
3は、評価例2より第1の導体層への追随性が小さく、
平坦性に優れた構成を得ることができる。
As described above, the evaluation examples 1 and 3 have smaller followability to the first conductor layer than the evaluation example 2,
A configuration excellent in flatness can be obtained.

【0057】このように、第1の絶縁層28を構成する
樹脂に含有されたフィラーの平均粒径が、第2の絶縁層
30を構成する樹脂に含有されたフィラーの平均粒径よ
り大きくすることにより、フィラーの平均粒径の大きさ
の各単独の組成では得ることのできない、メッキ密着力
やパターン解像度等両者の有利な特徴を同時に有するこ
とができる。
As described above, the average particle diameter of the filler contained in the resin constituting the first insulating layer 28 is made larger than the average particle diameter of the filler contained in the resin constituting the second insulating layer 30. Thereby, it is possible to simultaneously have both advantageous characteristics such as plating adhesion and pattern resolution, which cannot be obtained by a single composition having the average particle size of the filler.

【0058】尚、第1の絶縁層28を構成する樹脂に含
有されたフィラーの平均粒径が、第2の絶縁層30を構
成する樹脂に含有されたフィラーの平均粒径より大きく
成れば、上記同様の効果を奏することはできるものの、
第1の絶縁層28を構成する樹脂に含有されたフィラー
の平均粒径が1ないし20μmの範囲にて成り、第2の
絶縁層30を構成する樹脂に含有されたフィラーの平均
粒径が0.01ないし5μmの範囲にて成ることが好ま
しい。
If the average particle size of the filler contained in the resin constituting the first insulating layer 28 is larger than the average particle size of the filler contained in the resin constituting the second insulating layer 30, , Although the same effects as above can be achieved,
The average particle size of the filler contained in the resin constituting the first insulating layer 28 is in the range of 1 to 20 μm, and the average particle size of the filler contained in the resin constituting the second insulating layer 30 is 0 μm. Preferably, the thickness is in the range of 0.01 to 5 μm.

【0059】またこれら粗面化に対することは、物理的
或いは化学的手法によってフィラーを脱落或いは溶解さ
せて粗面化するものであれば、これを含有する樹脂に対
しては左右されないため、第1および第2の絶縁層2
8、30が互いに異なる樹脂にて構成されたとしても、
これら各樹脂に含有されるフィラーの関係が上記示した
ように構成されていれば、同様の効果を奏することは言
うまでもない。
The surface roughness is not affected by the resin containing the filler as long as the surface is roughened by removing or dissolving the filler by a physical or chemical method. And second insulating layer 2
Even if 8, 30 are made of different resins,
If the relationship between the fillers contained in each of these resins is configured as described above, it goes without saying that the same effect can be obtained.

【0060】上記のように構成された実施の形態1の多
層プリント基板によれば、第2の導体層33の接する各
絶縁層28、30の全ての面、すなわち、第1ないし第
3の開口部29、31、32の側面および底面を覆うよ
うにメッキ触媒層34が形成されるため、各絶縁層2
8、30と第2の導体層33との密着性が優れており、
第2の絶縁層30と第2の導体層33との界面からの水
分などの染み込み等を防止することができ、信頼性の高
い配線を得ることができる。
According to the multilayer printed board of the first embodiment configured as described above, all surfaces of each of the insulating layers 28 and 30 in contact with the second conductor layer 33, ie, the first to third openings. Since the plating catalyst layer 34 is formed so as to cover the side surfaces and the bottom surfaces of the portions 29, 31, and 32, each of the insulating layers 2
8, 30 and the second conductor layer 33 have excellent adhesion,
Infiltration of moisture and the like from the interface between the second insulating layer 30 and the second conductor layer 33 can be prevented, and a highly reliable wiring can be obtained.

【0061】また、第2の絶縁層30上面のメッキ触媒
層34が機械的研磨により完全に除去されているため、
メッキ触媒層34の残存により生じていた配線間の絶縁
抵抗劣化を生じることなく回路を形成することが可能と
なり、例えば、回路間のギャップが20μm程度に形成
されたとしても、1012Ω以上の配線間絶縁抵抗を確保
することができるため、次工程に酸化防止のために順次
形成される、ニッケルメッキおよび金メッキによる配線
パターン間のショートを大幅に低減でき、多層プリント
基板の低コスト化が可能となる。
Since the plating catalyst layer 34 on the upper surface of the second insulating layer 30 has been completely removed by mechanical polishing,
A circuit can be formed without causing deterioration of insulation resistance between wirings caused by the remaining plating catalyst layer 34. For example, even if a gap between circuits is formed to about 20 μm, a circuit of 10 12 Ω or more can be formed. Since the insulation resistance between wirings can be secured, the short circuit between wiring patterns due to nickel plating and gold plating, which are formed sequentially to prevent oxidation in the next process, can be greatly reduced, and the cost of multilayer printed circuit boards can be reduced Becomes

【0062】また、メッキ触媒層34を除去する工程
と、第2の導体層33を形成する工程とを同一工程にて
行うことができるため、メッキ触媒層34を除去するた
めの工程を付加させることなく回路を形成することがで
きる。
Since the step of removing the plating catalyst layer 34 and the step of forming the second conductor layer 33 can be performed in the same step, a step of removing the plating catalyst layer 34 is added. A circuit can be formed without any problem.

【0063】また、第2の導体層33の上面は、第2の
導体層33の機械的研磨により、第2の絶縁層30上面
と同一高さとなるように形成されているため、凹凸を有
することなく多層プリント基板を形成することが可能と
なる。よって、例えばベアチップ実装、CSP実装のよ
うな部品搭載面の平坦性が厳しく要求されるものに対し
て実装の歩留まりを著しく向上することができる。
Since the upper surface of the second conductor layer 33 is formed to have the same height as the upper surface of the second insulating layer 30 by mechanical polishing of the second conductor layer 33, the upper surface has irregularities. It is possible to form a multilayer printed circuit board without the need. Therefore, the yield of mounting can be remarkably improved, for example, when the flatness of the component mounting surface is strictly required, such as bare chip mounting and CSP mounting.

【0064】また、第1の開口部29に連通する第2の
開口部31に埋め込まれた第2の導体層33を部品の実
装パッドとして使用することができ、部品実装密度の増
大および基板の配線密度の増大を図ることができ、さら
に、第2の導体層33の膜厚が厚いため、この箇所にお
ける接続が強固と成り信頼性に優れる。
Further, the second conductor layer 33 embedded in the second opening 31 communicating with the first opening 29 can be used as a component mounting pad, thereby increasing the component mounting density and increasing the board Since the wiring density can be increased and the thickness of the second conductor layer 33 is large, the connection at this location is strong and the reliability is excellent.

【0065】また、第2の導体層33の形成において、
従来例1に示したようなレジスト膜でのパターニングの
必要がないため、レジスト膜形成工程にともなう装置お
よび工程数を削減することができる。また、フルアディ
ティブ法のように強アルカリ性の無電解銅メッキ液に長
時間(例えば、30μmの膜厚を形成するためには10
〜15時間の時間を要する)浸漬する必要がなく、酸性
の電気銅メッキ液に短時間(例えば、80μmの膜厚を
形成するために2〜3時間の時間を要する)にて形成す
ることができるため、各絶縁層28、30への水分の給
水量を最小限にとどめることができ、各絶縁層28、3
0の溶解劣化などの発生が生じることもなく、絶縁性能
を低下させることもなく多層プリント基板を形成するこ
とができる。
In the formation of the second conductor layer 33,
Since there is no need to perform patterning with a resist film as shown in Conventional Example 1, the number of devices and the number of steps involved in the resist film forming step can be reduced. In addition, as in the case of the full additive method, a strong alkaline electroless copper plating solution is used for a long time (for example, in order to form a
It does not need to be immersed, and can be formed in an acidic electrolytic copper plating solution in a short time (for example, it takes 2 to 3 hours to form a film having a thickness of 80 μm). Therefore, the amount of water supplied to each of the insulating layers 28 and 30 can be minimized.
The multilayer printed circuit board can be formed without causing the occurrence of dissolution deterioration or the like of 0 and without lowering the insulation performance.

【0066】また、上記実施の形態1においては、メッ
キ法を通常の方法にて行い、図3に示した状態におい
て、電気銅メッキ層36の上面形状が下層の形状をその
まま反映するものを示したが、これに限られることはな
く、図8に示すように、例えば、パルスメッキ法(メッ
キ実施時間とメッキ休止時間とを交互に繰り返して行わ
れるメッキ法)または周期的反転電流メッキ法(+極と
−極とが周期的に反転する電気メッキ法)を用いて上面
がほぼ平坦となるまで電気銅メッキ層36aを形成する
ようにしてもよい(図8(a))。
In the first embodiment, the plating method is performed by a normal method, and the upper surface shape of the electrolytic copper plating layer 36 directly reflects the shape of the lower layer in the state shown in FIG. However, the present invention is not limited to this, and as shown in FIG. 8, for example, a pulse plating method (a plating method in which a plating execution time and a plating pause time are alternately repeated) or a periodic inversion current plating method ( The electro-copper plating layer 36a may be formed using an electroplating method in which the + and-poles are periodically inverted until the upper surface becomes substantially flat (FIG. 8A).

【0067】この場合、次に、化学エッチングより例え
ば第2の絶縁層30の上面の電気銅メッキ層36bの厚
み(図8(b)のt3にて示す厚み)が5μm程度とな
るまでエッチングし、その後に、上記示した実施の形態
1の場合と同様に、機械研磨により第2の絶縁層30の
上面に形成された第2の導体層33を除去し、第2の絶
縁層30の上面を露出させる(図1)。
In this case, etching is then performed by chemical etching until, for example, the thickness of the copper electroplated layer 36b on the upper surface of the second insulating layer 30 (the thickness indicated by t3 in FIG. 8B) becomes about 5 μm. Then, the second conductor layer 33 formed on the upper surface of the second insulating layer 30 is removed by mechanical polishing in the same manner as in the first embodiment described above, and the upper surface of the second insulating layer 30 is removed. Is exposed (FIG. 1).

【0068】このように形成することにより、電気銅メ
ッキ層36の全てを機械研磨にて行う場合と比較し、電
気銅メッキ層36の除去量が低減できるとともに、除去
時間が短縮され、機械研磨量の低減による基板の寸法安
定性(レジストレーション)を向上でき、ひいては製造
コストを低減することができる。このことは、機械研磨
を行うと、おのずとその力が基板に対して作用し、基板
に伸び縮みが発生し、基板の変形の原因となる。よっ
て、基板の寸法安定性は、この機械研磨量に応じて左右
されることから言える。
By forming in this manner, the amount of the copper electroplated layer 36 to be removed can be reduced and the removal time can be reduced as compared with the case where the entire copper electroplated layer 36 is mechanically polished. The dimensional stability (registration) of the substrate can be improved by reducing the amount, and the manufacturing cost can be reduced. This means that when mechanical polishing is performed, the force naturally acts on the substrate, causing the substrate to expand and contract, causing deformation of the substrate. Therefore, it can be said that the dimensional stability of the substrate depends on the amount of mechanical polishing.

【0069】また、上記実施の形態1においては、第1
の導体層27上に第2の導体層33のみを形成する例を
示したがこれに限られることはなく、例えば図9に示す
ように、さらにこれら上層に、第2の開口部31と連通
する第4の開口部47を備えた第3の絶縁層46と、第
3の絶縁層46上に、第4の開口部47に連通する第5
の開口部49および底部が第3の絶縁層46上のみに至
る第6の開口部50を備えた第4の絶縁層48と、第4
ないし第6の開口部47、49、50に埋め込むととも
に、第2の導体層33と電気的に接続された第3の導体
層51を構成し、多層化することが可能となる。
In the first embodiment, the first
An example in which only the second conductor layer 33 is formed on the conductor layer 27 of the first embodiment is not limited to this. For example, as shown in FIG. A third insulating layer 46 having a fourth opening 47 to be formed, and a fifth insulating layer 46 provided on the third insulating layer 46 and communicating with the fourth opening 47.
A fourth insulating layer 48 having an opening 49 and a sixth opening 50 whose bottom extends only above the third insulating layer 46;
In addition, a third conductor layer 51 that is embedded in the sixth openings 47, 49, and 50 and that is electrically connected to the second conductor layer 33 can be formed to have a multilayer structure.

【0070】また、このように、第1の開口部29、第
2の開口部31、第4の開口部47、および、第5の開
口部49をプリント基板26の厚み方向の一直線上に形
成することができるため、信号伝送線路が短縮され、高
周波の信号遅延を抑制することが可能となる。また、プ
リント基板26の上部に設置される部品からの熱を、第
1の開口部29、第2の開口部31、第4の開口部4
7、および、第5の開口部49に埋め込まれた第2の導
体層33および第3の導体層51により、最短距離にて
プリント基板26に放熱することができる。
As described above, the first opening 29, the second opening 31, the fourth opening 47, and the fifth opening 49 are formed on a straight line in the thickness direction of the printed circuit board 26. Therefore, the signal transmission line can be shortened, and high-frequency signal delay can be suppressed. Further, heat from the components installed on the upper portion of the printed board 26 is transferred to the first opening 29, the second opening 31, and the fourth opening 4.
7, and the second conductor layer 33 and the third conductor layer 51 embedded in the fifth opening 49 can radiate heat to the printed circuit board 26 at the shortest distance.

【0071】また、このように多層化する場合、各層例
えば第2の絶縁層30および第2の導体層33の上面、
および、第4の絶縁層48および第3の導体層51の上
面が平坦となり、一般的な反射式の自動パターン検査装
置において、各層の導体層の区別が可能となり、各層毎
の無人検査が可能となるため検査コストが削減でき、か
つ、製造の歩留まりを向上することができる。
In the case of multi-layering as described above, the upper surface of each layer, for example, the second insulating layer 30 and the second conductor layer 33,
Also, the upper surfaces of the fourth insulating layer 48 and the third conductor layer 51 are flattened, and in a general reflection type automatic pattern inspection apparatus, the conductor layers of each layer can be distinguished, and each layer can be inspected unattended. Therefore, the inspection cost can be reduced, and the production yield can be improved.

【0072】実施の形態2.図10はこの発明の実施の
形態2における多層プリント基板の構成を示す断面図で
ある。図において、上記実施の形態1の同様の部分は同
一符号を付して説明を省略する。56は第1の絶縁層2
8上に、第1の開口部29に連通する第2の開口部57
および底部が第1の絶縁層28上のみに至る第3の開口
部58を備えた第2の絶縁層である。
Embodiment 2 FIG. 10 is a sectional view showing a configuration of a multilayer printed circuit board according to Embodiment 2 of the present invention. In the figure, the same parts as those in the first embodiment are denoted by the same reference numerals, and description thereof is omitted. 56 is the first insulating layer 2
8, a second opening 57 communicating with the first opening 29.
And a second insulating layer having a third opening 58 whose bottom reaches only above the first insulating layer 28.

【0073】59は第1ないし第3の開口部29、5
7、58に埋め込まれた第2の導体層で、第1の開口部
29および第2の開口部58内の第2の導体層59が、
第1の開口部29の側面および底面を覆うように形成さ
れた第1のメッキ触媒層60と、第1のメッキ触媒層6
0上を覆うように形成された第1の無電解金属メッキ層
61と、第1の無電解金属メッキ層61上を覆うように
形成された第1の電気金属メッキ層62との3層から成
る下層導体層63と、第2の開口部57の側面を覆うよ
うに形成されるとともに、第1の電気金属メッキ層62
上を覆うように形成された第2のメッキ触媒層64と、
第2のメッキ触媒層64上を覆うように形成された第2
の無電解金属メッキ層65と、第2の無電解金属メッキ
層65上を覆うように形成された第2の電気金属メッキ
層66との3層から成る上層導体層67との6層にて成
る。
Reference numeral 59 denotes the first to third openings 29, 5
In the second conductor layer embedded in the first and second openings 7, 58, the second conductor layer 59 in the first opening 29 and the second opening 58 is formed.
A first plating catalyst layer 60 formed so as to cover the side surface and the bottom surface of the first opening 29;
A first electroless metal plating layer 61 formed so as to cover the first electroless metal plating layer 61 and a first electrometallic plating layer 62 formed so as to cover the first electroless metal plating layer 61. The lower conductive layer 63 is formed so as to cover the side surface of the second opening 57, and the first electric metal plating layer 62
A second plating catalyst layer 64 formed so as to cover the top,
The second plating catalyst layer 64 is formed so as to cover the second plating catalyst layer 64.
And a second electrometallic plating layer 66 formed so as to cover the second electroless metal plating layer 65 and an upper conductor layer 67 composed of three layers. Become.

【0074】そして、第3の開口部58内の第2の導体
層59が、第3の開口部58の側面および底面を覆うよ
うに形成された第2のメッキ触媒層64と、第2のメッ
キ触媒層64上を覆うように形成された第2の無電解金
属メッキ層65と、第2の無電解金属メッキ層65上を
覆うように形成された第2の電気金属メッキ層66との
3層とから成る上層導体層67とにて成る。
Then, the second conductor layer 59 in the third opening 58 is provided with a second plating catalyst layer 64 formed so as to cover the side and bottom surfaces of the third opening 58, A second electroless metal plating layer 65 formed so as to cover the plating catalyst layer 64 and a second electrometallic plating layer 66 formed so as to cover the second electroless metal plating layer 65; And an upper conductor layer 67 composed of three layers.

【0075】このように構成された実施の形態2の多層
プリント基板の製造方法について図11ないし図13を
まじえて説明する。まず、上記実施の形態1と同様に、
プリント基板26上に、パターニングした後に、表面が
エッチング処理等により粗面化された第1の導体層27
を形成する(図11(a))。次に、第1の導体層27
上に、例えばカーテンコータにより感光性絶縁樹脂を塗
布する。そして、窒素ガスにより強制排気が可能なクリ
ーンオーブン内で、温度を80℃にし、40分間乾燥さ
せる。この際の、感光性絶縁樹脂の平均厚さは、後工程
での下層導体層の形成の際に機械研磨にて研磨される厚
みに、第1の導体層27の上部に形成される上層導体層
と絶縁関係が保たれる厚みを加味して設定すればよい。
A method for manufacturing a multilayer printed circuit board according to the second embodiment having the above-described structure will be described with reference to FIGS. First, similarly to the first embodiment,
A first conductor layer 27 having a surface roughened by etching or the like after patterning on a printed board 26.
Is formed (FIG. 11A). Next, the first conductor layer 27
A photosensitive insulating resin is applied on the top using, for example, a curtain coater. Then, the temperature is set to 80 ° C. in a clean oven that can be forcibly exhausted by nitrogen gas, and dried for 40 minutes. At this time, the average thickness of the photosensitive insulating resin is set to a thickness that is polished by mechanical polishing when forming the lower conductive layer in a later step, and the upper conductive layer formed on the first conductive layer 27. What is necessary is just to set in consideration of the thickness which maintains an insulating relationship with the layer.

【0076】次に、パターニングされたフォトマスクを
感光性絶縁樹脂上に設置し、例えばメタルハライドラン
プを光源とする露光機により、露光量500〜3000
mJ/cm2にて露光した後、温度が30℃の1%炭酸
ナトリウム水溶液にてなる現像液で、感光性絶縁樹脂の
未露光部分を、スプレー現像機にて120秒間現像除去
する。そして、開口径が100〜150μmのバイアホ
ールを形成し、水洗後、クリーンオーブン内で、温度を
150℃にし、60分間熱硬化させ、バイアホールとし
ての第1の開口部29を有する第1の絶縁層28を形成
する(図11(b))。
Next, a patterned photomask is placed on the photosensitive insulating resin, and the exposure amount is set to 500 to 3000 using an exposing machine using, for example, a metal halide lamp as a light source.
After exposure at mJ / cm 2, the unexposed portion of the photosensitive insulating resin is developed and removed with a spray developing machine for 120 seconds using a developing solution comprising a 1% aqueous solution of sodium carbonate at a temperature of 30 ° C. Then, a via hole having an opening diameter of 100 to 150 μm is formed. After washing with water, the temperature is set to 150 ° C. in a clean oven and thermally cured for 60 minutes to form a first hole having a first opening 29 as a via hole. An insulating layer 28 is formed (FIG. 11B).

【0077】次に、第1の絶縁層28の表面を、例えば
バフロールを取り付けた手動方式の2軸研磨機を用いて
平坦化した後、例えば過マンガン酸ナトリウムを主成分
とする処理液により第1の絶縁層28の表面を化学的に
エッチングし、粗面化面(図示せず)を形成する。次
に、例えばパラジスムにて成るメッキ触媒を含んだ溶液
に浸漬することにより第1の絶縁層28の露出面に、第
1のメッキ触媒層60を形成する(図11(c))。
Next, after the surface of the first insulating layer 28 is flattened by using, for example, a manual type biaxial polishing machine to which a baffle is attached, the surface of the first insulating layer 28 is subjected to, for example, a processing liquid mainly containing sodium permanganate. The surface of the first insulating layer 28 is chemically etched to form a roughened surface (not shown). Next, the first plating catalyst layer 60 is formed on the exposed surface of the first insulating layer 28 by dipping in a solution containing a plating catalyst made of, for example, palladium (FIG. 11C).

【0078】次に、第1のメッキ触媒層60の上面を覆
うよう、第1の無電解銅メッキ層61を、例えば平均膜
厚が0.1〜0.5μmにて形成し、水洗後、窒素ガス
をパージしたクリーンオーブン内で、温度を150℃に
し、60分間の熱処理を行い、第1の無電解銅メッキ層
61の密着性を向上させる。
Next, a first electroless copper plating layer 61 is formed so as to cover the upper surface of the first plating catalyst layer 60, for example, with an average thickness of 0.1 to 0.5 μm. In a clean oven purged with nitrogen gas, the temperature is set to 150 ° C., and a heat treatment is performed for 60 minutes to improve the adhesion of the first electroless copper plating layer 61.

【0079】次に、例えば10%の硫酸水溶液中で酸洗
いし、水洗後、例えば、1〜3A/dm2の電流密度に
て電気銅メッキを行い、第1の電気銅メッキ層62を第
1の電気銅メッキ層62の上面の最下面部が第1の絶縁
層28の上面より高くなるように形成し、第1のメッキ
触媒層60、第1の無電解銅メッキ層61および第1の
電気銅メッキ層62の3層にて成る下層導体層63が形
成されることとなる(図11(d))。
Next, for example, pickling is performed in a 10% sulfuric acid aqueous solution, and after washing with water, electrolytic copper plating is performed at a current density of, for example, 1 to 3 A / dm 2 to form the first electrolytic copper plating layer 62. The lowermost portion of the upper surface of the first electrolytic copper plating layer 62 is formed to be higher than the upper surface of the first insulating layer 28, and the first plating catalyst layer 60, the first electroless copper plating layer 61, and the first The lower conductor layer 63 composed of the three electroplated copper layers 62 is formed (FIG. 11D).

【0080】次に、第1の電気銅メッキ層62の表面を
6軸研磨機にて研磨する。そして、第1の絶縁層28の
一部が露出すると、さらに細かい粗さのバフロールを有
する2軸研磨機を用いて、第1の絶縁層28の上面の下
層導体層63を全て除去し、第1の絶縁層28を露出さ
せる。
Next, the surface of the first electrolytic copper plating layer 62 is polished by a six-axis polisher. Then, when a part of the first insulating layer 28 is exposed, the lower conductive layer 63 on the upper surface of the first insulating layer 28 is entirely removed using a biaxial polishing machine having a finer baffle, The one insulating layer 28 is exposed.

【0081】このような除去工程を行うことにより、第
1の絶縁層28の上面に形成された粗面化面内に入り込
んだ下層導体層63は全て取り除かれることとなり、第
1の絶縁層28の上面には、第1の電気銅メッキ層62
および第1の無電解銅メッキ層61が存在しないのはも
ちろんのこと、第1のメッキ触媒層60も存在しないこ
ととなる。また、第1の絶縁層28の上面にはこの研磨
により生じた機械的粗面化面が形成されることとなる
(図12(a))。
By performing such a removing step, all of the lower conductor layer 63 that has entered the roughened surface formed on the upper surface of the first insulating layer 28 is removed, and the first insulating layer 28 The first electrolytic copper plating layer 62
In addition, the first electroless copper plating layer 61 does not exist, and the first plating catalyst layer 60 does not exist. Further, a mechanically roughened surface generated by this polishing is formed on the upper surface of the first insulating layer 28 (FIG. 12A).

【0082】次に、第1の絶縁層28上に、例えばカー
テンコータにより感光性絶縁樹脂を塗布する。そして、
窒素ガスにより強制排気が可能なクリーンオーブン内
で、温度を80℃にし、40分間乾燥させる。この際
の、感光性絶縁樹脂の平均厚さは、後工程に形成される
上層導体層の所望の厚み分に、機械的に研磨される厚み
分を加味して設定すればよい。
Next, a photosensitive insulating resin is applied on the first insulating layer 28 by, for example, a curtain coater. And
The temperature is set to 80 ° C. in a clean oven that can be forcibly evacuated with nitrogen gas and dried for 40 minutes. At this time, the average thickness of the photosensitive insulating resin may be set in consideration of a desired thickness of the upper conductor layer formed in a later step and a thickness to be mechanically polished.

【0083】次に、パターニングされたフォトマスクを
感光性絶縁樹脂上に設置し、例えばメタルハライドラン
プを光源とする露光機により、露光量500〜3000
mJ/cm2にて露光した後、温度が30℃の1%炭酸
ナトリウム水溶液にてなる現像液で、感光性絶縁樹脂の
未露光部分を、スプレー現像機にて80秒間現像除去す
る。そして、開口パターンを形成し、水洗後、クリーン
オーブン内で、温度を150℃にし、60分間熱硬化さ
せ、第1の開口部29に連通する第2の開口部57およ
び底部が第1の絶縁層28上のみに至る第3の開口部5
8を有する第2の絶縁層56を形成する(図12
(b))。
Next, a patterned photomask is placed on the photosensitive insulating resin, and the exposure amount is set to 500 to 3000 by an exposing machine using, for example, a metal halide lamp as a light source.
After exposure at mJ / cm 2, the unexposed portion of the photosensitive insulating resin is developed and removed by a spray developing machine for 80 seconds using a developing solution comprising a 1% aqueous solution of sodium carbonate at a temperature of 30 ° C. Then, an opening pattern is formed, and after washing with water, the temperature is set to 150 ° C. in a clean oven, and thermosetting is performed for 60 minutes, and the second opening 57 and the bottom communicating with the first opening 29 are formed of the first insulating material. Third opening 5 only over layer 28
8 is formed (FIG. 12)
(B)).

【0084】次に、例えば過マンガン酸ナトリウムを主
成分とする処理液により、第1および第2の絶縁層2
8、56の露出部分を化学的にエッチングし、粗面化面
(図示せず)を形成する。次に、例えばパラジウムにて
成るメッキ触媒を含んだ溶液に浸漬することにより第1
および第2の絶縁層28、56の露出面に、第2のメッ
キ触媒層64を形成する(図12(c))。
Next, the first and second insulating layers 2 are treated with a treating solution containing, for example, sodium permanganate as a main component.
The exposed portions 8 and 56 are chemically etched to form a roughened surface (not shown). Next, the first substrate is immersed in a solution containing a plating catalyst made of, for example, palladium.
Then, a second plating catalyst layer 64 is formed on the exposed surfaces of the second insulating layers 28 and 56 (FIG. 12C).

【0085】次に、第2のメッキ触媒層64の上面を覆
うよう、第2の無電解銅メッキ層65を、例えば平均膜
厚が0.1〜0.5μmにて形成し、水洗後、窒素ガス
をパージしたクリーンオーブン内で、温度を150℃に
し、60分間の熱処理を行い、第2の無電解銅メッキ層
65の密着性を向上させる。
Next, a second electroless copper plating layer 65 is formed so as to cover the upper surface of the second plating catalyst layer 64, for example, with an average film thickness of 0.1 to 0.5 μm. The temperature is set to 150 ° C. in a clean oven purged with nitrogen gas, and heat treatment is performed for 60 minutes to improve the adhesion of the second electroless copper plating layer 65.

【0086】次に、例えば10%の硫酸水溶液中で酸洗
いし、水洗後、例えば、1〜3A/dm2の電流密度に
て電気銅メッキを行い、第2の電気銅メッキ層65を第
2の電気銅メッキ層65の上面の最下面部が第2の絶縁
層56の上面より高くなるように、例えば40μm以上
に形成し、第2のメッキ触媒層64、第2の無電解銅メ
ッキ層65および第2の電気銅メッキ層66の3層にて
成る上層導体層67が形成され、下層導体層63および
上層導体層67から成る第2の導体層59が形成される
(図13)。次に、水洗後、クリーンオーブン内で、温
度を150℃にし、60分間の熱処理を行い、第2の電
気銅メッキ層66の密着性を向上させる。
Next, pickling is performed in, for example, a 10% sulfuric acid aqueous solution, and after washing with water, electrolytic copper plating is performed at a current density of, for example, 1 to 3 A / dm 2 to form a second electrolytic copper plating layer 65. The second plating catalyst layer 64 and the second electroless copper plating are formed so that the lowermost portion of the upper surface of the second electrolytic copper plating layer 65 is higher than the upper surface of the second insulating layer 56, for example, at least 40 μm. An upper conductor layer 67 composed of three layers of the layer 65 and the second electrolytic copper plating layer 66 is formed, and a second conductor layer 59 composed of the lower conductor layer 63 and the upper conductor layer 67 is formed (FIG. 13). . Next, after washing with water, a heat treatment is performed at a temperature of 150 ° C. for 60 minutes in a clean oven to improve the adhesion of the second electrolytic copper plating layer 66.

【0087】次に、第2の電気銅メッキ層66の表面を
6軸研磨機にて研磨する。そして、第2の絶縁層56の
一部が露出すると、さらに細かい粗さのバフロールを有
する2軸研磨機を用いて、第2の絶縁層56の上面の第
2の導体層59を全て除去し、第2の絶縁層56を露出
させる。
Next, the surface of the second electrolytic copper plating layer 66 is polished by a six-axis polishing machine. Then, when a part of the second insulating layer 56 is exposed, the entire second conductive layer 59 on the upper surface of the second insulating layer 56 is removed using a biaxial polisher having a finer baffle. Then, the second insulating layer 56 is exposed.

【0088】このような除去工程を行うことにより、第
2の絶縁層56の上面に形成された粗面化面内に入り込
んだ第2の導体層59は全て取り除かれることとなり、
第2の絶縁層56の上面には、第2の電気銅メッキ層6
6および第2の無電解銅メッキ層65が存在しないのは
もちろんのこと、第2のメッキ触媒層64も存在しない
こととなる。また、第2の絶縁層56の上面にはこの研
磨により生じた機械的粗面化面が形成されることとなる
(図10)。
By performing such a removing step, all of the second conductor layer 59 that has entered the roughened surface formed on the upper surface of the second insulating layer 56 is removed.
On the upper surface of the second insulating layer 56, a second electrolytic copper plating layer 6
6 and the second electroless copper plating layer 65 do not exist, and the second plating catalyst layer 64 also does not exist. Further, a mechanically roughened surface generated by the polishing is formed on the upper surface of the second insulating layer 56 (FIG. 10).

【0089】ここで、上記で省略した粗面化について説
明する。また、各絶縁層28および56の詳細について
も説明する。第1の絶縁層28は、これを構成する樹脂
に含有されるフィラーの平均粒径を、第2の絶縁層56
を構成する樹脂に含有されるフィラーの平均粒径より大
きく成るように形成し、例として、第1の絶縁層28の
フィラーの平均粒径を10μmの材質にて形成し、第2
の絶縁層56のフィラーの平均粒径を1μmの材質にて
形成する。
Here, the roughening omitted above will be described. The details of the insulating layers 28 and 56 will also be described. The first insulating layer 28 determines the average particle diameter of the filler contained in the resin constituting the first insulating layer 28 by the second insulating layer 56.
The first insulating layer 28 is formed of a material having an average particle diameter of 10 μm, and the second insulating layer 28 is formed of a material having an average particle diameter of 10 μm.
The insulating layer 56 is formed of a material having an average particle diameter of 1 μm.

【0090】このように形成すれば、図11(b)およ
び図12(b)に示すように、各開口部29、57、5
8が形成された後のそれぞれに、第1および第2の絶縁
層28、56の露出面にそれぞれ粗面化面を形成する。
このように形成された粗面化面の粗さは、第1の絶縁層
28に形成された粗面化面が、第2の絶縁層56に形成
された粗面化面より粗く形成されることとなる。
With this structure, as shown in FIGS. 11B and 12B, each of the openings 29, 57, 5
After the formation of the first and second insulating layers 8, roughened surfaces are formed on the exposed surfaces of the first and second insulating layers 28 and 56, respectively.
The roughness of the roughened surface formed as described above is such that the roughened surface formed on the first insulating layer 28 is formed more coarsely than the roughened surface formed on the second insulating layer 56. It will be.

【0091】これは、第1の絶縁層28と第2の絶縁層
56とを構成する樹脂に含有されるフィラーの平均粒径
のそれぞれの大きさの関係をかえることにより容易に行
うことが可能である。そして、このように各粗面化面が
形成された後に、下層導体層63および上層導体層67
をそれぞれ形成し、第2の導体層63は各粗面化面にく
い込むように形成されることとなる。
This can be easily performed by changing the relationship between the average particle diameters of the fillers contained in the resin constituting the first insulating layer 28 and the second insulating layer 56. It is. Then, after each of the roughened surfaces is formed, the lower conductor layer 63 and the upper conductor layer 67 are formed.
Are formed, and the second conductor layer 63 is formed so as to be hardly inserted into each of the roughened surfaces.

【0092】このように、第1の絶縁層28を構成する
樹脂に含有されたフィラーの平均粒径が、第2の絶縁層
56を構成する樹脂に含有されたフィラーの平均粒径よ
り大きくすることにより、上記実施の形態1と同様に、
パターン最小解像度を低下させることなく、フィラーの
平均粒径の大きさの各単独の組成では得ることのできな
い、優れた投錨効果を得ることができる。また、第1の
導体層への追随性が小さく、平坦性の優れたものに形成
することができる。
As described above, the average particle diameter of the filler contained in the resin constituting the first insulating layer 28 is made larger than the average particle diameter of the filler contained in the resin constituting the second insulating layer 56. Thereby, similarly to the first embodiment,
Without lowering the pattern minimum resolution, an excellent anchoring effect that cannot be obtained with each composition having the average particle size of the filler can be obtained. In addition, the first conductor layer can be formed to have low followability and excellent flatness.

【0093】尚、第1の絶縁層28を構成する樹脂に含
有されたフィラーの平均粒径が、第2の絶縁層56を構
成する樹脂に含有されたフィラーの平均粒径より大きく
成れば、上記同様の効果を奏することはできるものの、
第1の絶縁層28を構成する樹脂に含有されたフィラー
の平均粒径が1ないし20μmの範囲にて成り、第2の
絶縁層56構成する樹脂に含有されたフィラーの平均粒
径が0.01ないし5μmの範囲にて成ることが好まし
い。
If the average particle size of the filler contained in the resin constituting the first insulating layer 28 is larger than the average particle size of the filler contained in the resin constituting the second insulating layer 56, , Although the same effects as above can be achieved,
The average particle size of the filler contained in the resin constituting the first insulating layer 28 is in the range of 1 to 20 μm, and the average particle size of the filler contained in the resin constituting the second insulating layer 56 is 0.1 μm. It is preferable that the thickness be in the range of 01 to 5 μm.

【0094】またこれら粗面化に対することは、物理的
或いは化学的手法によってフィラーを脱落或いは溶解さ
せて粗面化するものであれば、これを含有する樹脂に対
しては左右されないため、第1および第2の絶縁層2
8、56が互いに異なる樹脂にて構成されていたとして
も、これら各樹脂に含有されるフィラーの関係が上記示
したように構成されていれば、同様の効果を奏すること
は言うまでもない。
[0094] The surface roughness is not affected by the resin containing the filler as long as the surface is roughened by removing or dissolving the filler by a physical or chemical method. And second insulating layer 2
It is needless to say that the same effects can be obtained even if the resins 8 and 56 are made of different resins as long as the relationship between the fillers contained in these resins is configured as described above.

【0095】上記のように構成された実施の形態2の多
層プリント基板によれば、第2の導体層59の接する各
絶縁層28、56の全ての面、すなわち、第1ないし第
3の開口部29、57、58の側面および底面を覆うよ
うに第1および第2のメッキ触媒層60、64が形成さ
れるため、各絶縁層28、56と第2の導体層59との
密着性が優れており、第2の絶縁層56と第2の導体層
59との界面からの水分などの染み込み等を防止するこ
とができ、信頼性の高い配線を得ることができる。
According to the multilayer printed circuit board of the second embodiment configured as described above, all surfaces of the insulating layers 28 and 56 in contact with the second conductor layer 59, that is, the first to third openings Since the first and second plating catalyst layers 60 and 64 are formed so as to cover the side surfaces and the bottom surfaces of the portions 29, 57 and 58, the adhesion between the insulating layers 28 and 56 and the second conductor layer 59 is improved. It is excellent and can prevent penetration of moisture or the like from the interface between the second insulating layer 56 and the second conductor layer 59, and can provide a highly reliable wiring.

【0096】また、第1および第2の絶縁層28、56
上面の第1および第2のメッキ触媒層60、64が機械
的研磨により完全に除去されているため、第1および第
2のメッキ触媒層60、64の残存により生じていた配
線間の絶縁抵抗劣化を生じることなく回路を形成するこ
とが可能となり、例えば、回路間のギャップが20μm
程度に形成されたとしても、1012Ω以上の配線間絶縁
抵抗を確保することができるため、次工程に酸化防止の
ために順次形成される、ニッケルメッキおよび金メッキ
による配線パターン間のショートを大幅に低減でき、多
層プリント基板の低コスト化が可能となる。
Further, the first and second insulating layers 28 and 56
Since the first and second plating catalyst layers 60 and 64 on the upper surface have been completely removed by mechanical polishing, the insulation resistance between the wirings caused by the remaining first and second plating catalyst layers 60 and 64 has been reduced. A circuit can be formed without deterioration. For example, a gap between circuits is 20 μm.
Even if formed to the extent, it is possible to secure an insulation resistance between wirings of 10 12 Ω or more, so that a short circuit between wiring patterns due to nickel plating and gold plating, which are sequentially formed to prevent oxidation in the next process, is greatly reduced. And the cost of the multilayer printed circuit board can be reduced.

【0097】また、上記実施の形態1と比較すると、工
程数が増加するものの、第1および第2の電気銅メッキ
層62、64を形成する際に、下層の段差が低減される
ため、これら各電気銅メッキ層62、64のメッキ量が
低減され、研磨量を減少することができる。
Although the number of steps is increased as compared with the first embodiment, the steps of the lower layer are reduced when forming the first and second electrolytic copper plating layers 62 and 64, so that The amount of plating of each of the electrolytic copper plating layers 62 and 64 can be reduced, and the amount of polishing can be reduced.

【0098】また、第2の導体層59の上面は、第2の
導体層59の機械的研磨により、第2の絶縁層56上面
と同一高さとなるように形成されているため、凹凸を有
することなく多層プリント基板を形成することが可能と
なる。よって、例えばベアチップ実装、CSP実装のよ
うな部品搭載面の平坦性が厳しく要求されるものに対し
て実装の歩留まりを著しく向上することができる。
The upper surface of the second conductor layer 59 is formed to have the same height as the upper surface of the second insulating layer 56 by mechanical polishing of the second conductor layer 59, so that the upper surface has irregularities. It is possible to form a multilayer printed circuit board without the need. Therefore, the yield of mounting can be remarkably improved, for example, when the flatness of the component mounting surface is strictly required, such as bare chip mounting and CSP mounting.

【0099】また、第1の開口部29に連通する第2の
開口部57に埋め込まれた第2の導体層59を部品の実
装パッドとして使用することができ、部品実装密度の増
大および基板の配線密度の増大を図ることができ、さら
に、第2の導体層59の膜厚が厚いため、この箇所にお
ける接続が強固と成り信頼性に優れる。
Further, the second conductor layer 59 embedded in the second opening 57 communicating with the first opening 29 can be used as a component mounting pad, thereby increasing the component mounting density and increasing the board Since the wiring density can be increased and the thickness of the second conductor layer 59 is large, the connection at this location is strong and the reliability is excellent.

【0100】また、第2の導体層59の形成において、
従来例1に示したようなレジスト膜でのパターニングの
必要がないため、レジスト膜形成工程にともなう装置お
よび工程数を削減することができる。また、フルアディ
ティブ法の用に強アルカリ性の無電解銅メッキ液に長時
間(例えば、30μmの膜厚を形成するためには10〜
15時間の時間を要する)浸漬する必要がなく、酸性の
電気銅メッキ液に短時間(例えば、80μmの膜厚を形
成するために2〜3時間の時間を要する)にて形成する
ことができるため、各絶縁層28、56への水分の給水
量を最小限にとどめることができ、各絶縁層28、56
の溶解劣化などの発生が生じることもなく、絶縁性能を
低下させることもなく多層プリント基板を形成すること
ができる。
In the formation of the second conductor layer 59,
Since there is no need to perform patterning with a resist film as shown in Conventional Example 1, the number of devices and the number of steps involved in the resist film forming step can be reduced. Further, a strong alkaline electroless copper plating solution is used for a long time (for example, in order to form a
It does not need to be immersed for 15 hours, and can be formed in a short time (for example, it takes 2 to 3 hours to form a film having a thickness of 80 μm) in an acidic electrolytic copper plating solution. Therefore, the amount of water supplied to each of the insulating layers 28 and 56 can be minimized, and each of the insulating layers 28 and 56
A multilayer printed circuit board can be formed without causing dissolution degradation of the resin or the like and without lowering the insulation performance.

【0101】また、上記実施の形態2においては、メッ
キ法を通常の方法にて行い、図11(b)および図13
に示した状態において、各電気銅メッキ層62、66の
上面形状が下層の形状をそのまま反映するものを示した
が、これに限られることはなく、上記実施の形態1にて
示したように、例えば、パルスメッキ法または周期的反
転電流メッキ法を用いて上面がほぼ平坦となるまで各電
気銅メッキ層を形成し、次に、化学エッチングより例え
ば第1および第2の絶縁層28、56の上面の各電気銅
メッキ層62、66の厚みが5μm程度となるまでエッ
チングし、その後に、上記示した実施の形態1の場合と
同様に、機械研磨により各絶縁層28、56の上面に形
成された下層導体層および上層導体層をそれぞれ除去
し、各絶縁層28、56の上面を露出させるようにして
もよい(図10)。
Further, in the second embodiment, the plating method is performed by a normal method, and the plating method shown in FIGS.
In the state shown in (1), the upper surface shape of each of the copper electroplated layers 62 and 66 reflects the shape of the lower layer as it is. However, the present invention is not limited to this, and as shown in the first embodiment, For example, the respective copper electroplated layers are formed by using, for example, a pulse plating method or a periodic inversion current plating method until the upper surface becomes substantially flat, and then, for example, the first and second insulating layers 28 and 56 are formed by chemical etching. Is etched until the thickness of each of the electroplated copper layers 62, 66 on the upper surface of the substrate becomes about 5 μm, and thereafter, as in the case of the first embodiment described above, the upper surface of each of the insulating layers 28, 56 is mechanically polished. The formed lower conductor layer and upper conductor layer may be respectively removed to expose the upper surfaces of the insulating layers 28 and 56 (FIG. 10).

【0102】このように形成することにより、各電気銅
メッキ層62、66の全てを機械研磨にて行う場合と比
較し、各電気銅メッキ層62、66の除去量が低減でき
るとともに、除去時間が短縮され、機械研磨量の低減に
よる基板の寸法安定性(レジストレーション)を向上で
き、ひいては製造コストを低減することができる。
By forming in this manner, the amount of each of the electroplated copper layers 62 and 66 can be reduced and the removal time can be reduced as compared with the case where all of the electroplated copper layers 62 and 66 are mechanically polished. , The dimensional stability (registration) of the substrate can be improved by reducing the amount of mechanical polishing, and the manufacturing cost can be reduced.

【0103】また、上記実施の形態2においては、第1
の導体層27上に第2の導体層59のみを形成する例を
示したがこれに限られることはなく、例えば上記実施の
形態1と同様に、さらにこれら上層に、第2の開口部5
7と連通する第4の開口部を備えた第3の絶縁層と、第
3の絶縁層上に、第4の開口部に連通する第5の開口部
および底部が第3の絶縁層上のみに至る第6の開口部を
備えた第4の絶縁層と、第4ないし第6の開口部に埋め
込むとともに、第2の導体層59と電気的に接続された
第3の導体層を構成し、更に多層化することも可能とな
る。
In the second embodiment, the first
An example in which only the second conductor layer 59 is formed on the conductor layer 27 of the first embodiment is not limited to this. For example, as in the first embodiment, the second opening 5
A third insulating layer having a fourth opening communicating with the first opening, and a fifth opening and a bottom communicating with the fourth opening on the third insulating layer only on the third insulating layer. And a third conductive layer embedded in the fourth to sixth openings and electrically connected to the second conductive layer 59. In addition, it is possible to further increase the number of layers.

【0104】また、このように、第1の開口部29、第
2の開口部57、第4の開口部、および、第5の開口部
をプリント基板26の厚み方向の一直線上に形成するこ
とができるため、上記実施の形態1と同様に、信号伝送
線路が短縮され、高周波の信号遅延を抑制することが可
能となる。また、プリント基板26の上部に設置される
部品からの熱を、第1の開口部29、第2の開口部5
7、第4の開口部、および、第5の開口部に埋め込まれ
た第2の導体層59および第3の導体層により、最短距
離にてプリント基板26に放熱することができる。
As described above, the first opening 29, the second opening 57, the fourth opening, and the fifth opening are formed on a straight line in the thickness direction of the printed circuit board 26. Therefore, as in the first embodiment, the signal transmission line can be shortened, and high-frequency signal delay can be suppressed. Further, heat from the components installed on the upper portion of the printed circuit board 26 is transferred to the first opening 29 and the second opening 5.
7, the second conductor layer 59 and the third conductor layer embedded in the fourth opening and the fifth opening can radiate heat to the printed circuit board 26 at the shortest distance.

【0105】また、このように多層化する場合、各層例
えば第2の絶縁層56および第2の導体層57の上面、
および、第4の絶縁層および第3の導体層の上面が平坦
となり、一般的な反射式の自動パターン検査装置におい
て、各層の導体層の区別が可能となり、各層毎の無人検
査が可能となるため検査コストが削減でき、かつ、製造
の歩留まりを向上することができる。
In the case of multi-layering as described above, the upper surface of each layer, for example, the second insulating layer 56 and the second conductor layer 57,
Further, the upper surfaces of the fourth insulating layer and the third conductor layer are flattened, and in a general reflection type automatic pattern inspection apparatus, the conductor layers of each layer can be distinguished, and unattended inspection of each layer can be performed. Therefore, the inspection cost can be reduced and the production yield can be improved.

【0106】また、上記各実施の形態において、プリン
ト基板としては、両面銅張ガラスエポキシ基板を使用し
たが、これに限られることはなく、例えばビスマレイミ
ド・トレアジン樹脂基板、フェノール樹脂基板、シリコ
ン樹脂基板などを用いることができる。
In each of the above embodiments, a double-sided copper-clad glass epoxy substrate is used as a printed circuit board. However, the present invention is not limited to this. For example, a bismaleimide / treazine resin substrate, a phenol resin substrate, a silicon resin A substrate or the like can be used.

【0107】また、各絶縁樹脂としては、エポキシアク
リレートを主成分とする感光性絶縁樹脂を例としたが、
これに限られることはなく、感光性絶縁樹脂としては、
ビスフェノールA型、ビスフェノールF型、フェノール
ノボラック型などのエポキシアクリレート樹脂、あるい
は、これらのエポキシ基にアクリル酸を付加した後、ヒ
ドロキシル基をカルボキシル基化した樹脂等が使用でき
る。また、感光性ドライフィルムレジストを使用するこ
とも可能である。さらに、非感光性樹脂を用いることも
できる。この際は、第1の開口部はレーザアブレーショ
ンやサンドブラスト等の物理的手法により形成すればよ
い。
Further, as each insulating resin, a photosensitive insulating resin containing epoxy acrylate as a main component has been described as an example.
Without being limited to this, as a photosensitive insulating resin,
Epoxy acrylate resins such as bisphenol A type, bisphenol F type, and phenol novolak type, or resins obtained by adding acrylic acid to these epoxy groups and then carboxylating the hydroxyl groups can be used. It is also possible to use a photosensitive dry film resist. Further, a non-photosensitive resin can be used. In this case, the first opening may be formed by a physical method such as laser ablation or sand blast.

【0108】また、各絶縁層を粗面化するために、過マ
ンガン酸ナトリウムを主成分とする処理液にて行う例を
示したが、これに限られることはなく、例えばクロム酸
水溶液、過マンガン酸カリウム水溶液、オゾン等を用い
ることも可能である。また、各絶縁樹脂の塗布方法とし
ては、カーテンコータを用いる例を示したが、これに限
られることはなく、例えばスクリーン印刷、スピンコー
タ、ローラコータなどを使用してもよいが、塗布膜厚の
均一性に優れた方式にて行われることがよいことは言う
までもない。
Further, although an example has been shown in which a treatment solution containing sodium permanganate as a main component is used to roughen each insulating layer, the present invention is not limited to this. It is also possible to use an aqueous solution of potassium manganate, ozone, or the like. In addition, as an application method of each insulating resin, an example using a curtain coater has been described. However, the present invention is not limited to this. For example, screen printing, a spin coater, a roller coater, or the like may be used. Needless to say, it is preferable to use a method excellent in performance.

【0109】また、感光性ドライフィルムレジストを使
用する場合には、熱圧着ローラや真空ラミネータを使用
してもよい。また、感光性絶縁樹脂の露光には、メタル
ハライド光源以外に、高圧水銀灯を光源としてもよい。
また、機械研磨には、バフ研磨以外に、ブラシ、セラミ
ック等のローラを取り付けた研磨機、または、砥粒を用
いたスクラブ研磨機やホーニング研磨機を使用してもよ
い。
When a photosensitive dry film resist is used, a thermocompression roller or a vacuum laminator may be used. For exposing the photosensitive insulating resin, a high-pressure mercury lamp may be used as a light source in addition to the metal halide light source.
In addition to the buffing, mechanical polishing may be performed using a polishing machine equipped with a roller such as a brush or ceramic, or a scrub polishing machine or a honing polishing machine using abrasive grains.

【0110】[0110]

【発明の効果】以上のように、この発明の請求項1によ
れば、第1の導体層が形成されたプリント基板と、プリ
ント基板上に第1の導体層に至る第1の開口部を備えた
第1の絶縁層と、第1の絶縁層上に、第1の開口部に連
通する第2の開口部および底部が第1の絶縁層上のみに
至る第3の開口部を備えた第2の絶縁層と、第1ないし
第3の開口部に埋め込まれた第2の導体層とからなり、
第2の導体層が、第1の開口部ないし第3の開口部の側
面および底面を覆うように形成されたメッキ触媒層と、
メッキ触媒層上を覆うように形成された無電解金属メッ
キ層と、無電解金属メッキ層上を覆うように形成された
電気金属メッキ層との3層にて成るので、第2の導体層
の接する各絶縁層の全ての面に、メッキ触媒層が形成さ
れているため、各絶縁層と第2の導体層との密着性が優
れており、信頼性の高い多層プリント基板を得ることが
できるという効果がある。
As described above, according to the first aspect of the present invention, the printed circuit board on which the first conductive layer is formed and the first opening reaching the first conductive layer are formed on the printed circuit board. A first insulating layer provided; a second opening communicating with the first opening on the first insulating layer; and a third opening having a bottom reaching only on the first insulating layer. A second insulating layer, a second conductor layer embedded in the first to third openings,
A plating catalyst layer formed so that the second conductor layer covers the side and bottom surfaces of the first to third openings;
Since it is composed of three layers, an electroless metal plating layer formed so as to cover the plating catalyst layer and an electrometallic plating layer formed so as to cover the electroless metal plating layer, the second conductive layer Since the plating catalyst layer is formed on all surfaces of each insulating layer in contact with each other, the adhesion between each insulating layer and the second conductor layer is excellent, and a highly reliable multilayer printed board can be obtained. This has the effect.

【0111】また、この発明の請求項2によれば、第1
の導体層が形成されたプリント基板と、プリント基板上
に第1の導体層に至る第1の開口部を備えた第1の絶縁
層と、第1の絶縁層上に、第1の開口部に連通する第2
の開口部および底部が第1の絶縁層上のみに至る第3の
開口部を備えた第2の絶縁層と、第1ないし第3の開口
部に埋め込まれた第2の導体層とからなり、第1の開口
部および第2の開口部内の第2の導体層が、第1の開口
部の側面および底面を覆うように形成された第1のメッ
キ触媒層と、第1のメッキ触媒層上を覆うように形成さ
れた第1の無電解金属メッキ層と、第1の無電解金属メ
ッキ層上を覆うように形成された第1の電気金属メッキ
層との3層と、第2の開口部の側面を覆うように形成さ
れるとともに、第1の電気金属メッキ層上を覆うように
形成された第2のメッキ触媒層と、第2のメッキ触媒層
上を覆うように形成された第2の無電解金属メッキ層
と、第2の無電解金属メッキ層上を覆うように形成され
た第2の電気金属メッキ層との3層との6層にて成り、
第3の開口部内の第2の導体層が、第3の開口部の側面
および底面を覆うように形成された第2のメッキ触媒層
と、第2のメッキ触媒層上を覆うように形成された第2
の無電解金属メッキ層と、第2の無電解金属メッキ層上
を覆うように形成された第2の電気金属メッキ層との3
層とにて成るので、第2の導体層の接する各絶縁層の全
ての側面に、各メッキ触媒層が形成されているため、各
絶縁層と第2の導体層との密着性が優れており、信頼性
の高い多層プリント基板を得ることができるという効果
がある。
According to a second aspect of the present invention, the first
Printed circuit board on which a first conductive layer is formed, a first insulating layer having a first opening reaching the first conductive layer on the printed board, and a first opening formed on the first insulating layer. Second communicating with
A second insulating layer provided with a third opening whose opening and bottom reach only above the first insulating layer, and a second conductor layer embedded in the first to third openings. A first plating catalyst layer formed so that a second conductor layer in the first opening and the second opening covers a side surface and a bottom surface of the first opening; and a first plating catalyst layer. A first electroless metal plating layer formed so as to cover the first electroless metal plating layer, a first electrometallic plating layer formed so as to cover the first electroless metal plating layer, and a second electroless metal plating layer. A second plating catalyst layer formed to cover the side surface of the opening and to cover the first electrometal plating layer, and a second plating catalyst layer formed to cover the second plating catalyst layer. A second electroless metal plating layer and a second electric metal member formed to cover the second electroless metal plating layer. Made at the six layers of the three layers of the gas layer,
A second conductor layer in the third opening is formed so as to cover a side surface and a bottom surface of the third opening, and to cover the second plating catalyst layer. The second
And a second electrometallic plating layer formed so as to cover the second electroless metal plating layer.
Since each plating catalyst layer is formed on all side surfaces of each insulating layer in contact with the second conductor layer, the adhesion between each insulating layer and the second conductor layer is excellent. Therefore, there is an effect that a highly reliable multilayer printed board can be obtained.

【0112】また、この発明の請求項3によれば、請求
項1または請求項2において、第2の導体層が埋め込ま
れた第2の開口部上に、第2の開口部と連通して成る開
口部を有する絶縁層を形成し、開口部に埋め込まれる導
体層を形成し、導体層を第2の導体層と電気的に接続し
て形成するので、第1の導体層、第2の導体層および導
体層により、他の部品からプリント基板への放熱を効率
的に行うことが可能となる多層プリント基板を得ること
ができるという効果がある。
According to a third aspect of the present invention, in the first or second aspect, the second conductive layer is buried in the second opening in communication with the second opening. An insulating layer having an opening is formed, a conductor layer embedded in the opening is formed, and the conductor layer is electrically connected to the second conductor layer. With the conductor layer and the conductor layer, there is an effect that it is possible to obtain a multilayer printed board capable of efficiently dissipating heat from other components to the printed board.

【0113】また、この発明の請求項4によれば、請求
項1ないし請求項3のいずれかにおいて、第2の導体層
と接する第1の絶縁層および第2の絶縁層の面に、粗面
化面が形成されているので、第2の導体層と各絶縁層と
の密着性をさらに向上することができる多層プリント基
板を得ることができるという効果がある。
According to a fourth aspect of the present invention, in any one of the first to third aspects, the surface of the first insulating layer and the second insulating layer in contact with the second conductor layer is provided with a rough surface. Since the planarized surface is formed, there is an effect that a multilayer printed board that can further improve the adhesion between the second conductor layer and each insulating layer can be obtained.

【0114】また、この発明の請求項5によれば、請求
項4において、第2の絶縁層に形成された粗面化面が、
第1の絶縁層に形成された粗面化面より細かいので、導
体層と絶縁層の接触面積が増大し、両者の密着性に優れ
た多層プリント基板を得ることができるという効果があ
る。
According to claim 5 of the present invention, in claim 4, the roughened surface formed on the second insulating layer is
Since it is finer than the roughened surface formed on the first insulating layer, the contact area between the conductor layer and the insulating layer is increased, and there is an effect that a multilayer printed board having excellent adhesion between the two can be obtained.

【0115】また、この発明の請求項6によれば、請求
項5において、第1の絶縁層を構成する樹脂に含有され
たフィラーの平均粒径が、第2の絶縁層を構成する樹脂
に含有されたフィラーの平均粒径より大きいので、第2
の絶縁層と同一の性質を有するものを第1、第2の絶縁
層の両方に使用する場合に比べ、第1の導体層への追従
性を小さくでき、平坦性を向上することが容易である多
層プリント基板を得ることが可能という効果がある。
According to claim 6 of the present invention, in claim 5, the average particle diameter of the filler contained in the resin constituting the first insulating layer is less than that of the resin constituting the second insulating layer. Since the average particle diameter of the contained filler is larger than
In comparison with the case where the same property as that of the first insulating layer is used for both the first and second insulating layers, the followability to the first conductor layer can be reduced, and the flatness can be easily improved. There is an effect that a certain multilayer printed board can be obtained.

【0116】また、この発明の請求項7によれば、請求
項6において、第1の絶縁層を構成する樹脂に含有され
たフィラーの平均粒径が1ないし20μmの範囲にて成
り、第2の絶縁層を構成する樹脂に含有されたフィラー
の平均粒径が0.01ないし5μmの範囲にて成るの
で、密着性、基板の平坦性およびパターン解像度に優れ
た多層プリント基板を確実に得ることができるという効
果がある。
According to a seventh aspect of the present invention, in the sixth aspect, the average particle diameter of the filler contained in the resin constituting the first insulating layer is in the range of 1 to 20 μm, Since the average particle diameter of the filler contained in the resin constituting the insulating layer is in the range of 0.01 to 5 μm, it is possible to surely obtain a multilayer printed board excellent in adhesion, board flatness and pattern resolution. There is an effect that can be.

【0117】また、この発明の請求項8によれば、第1
の導体層が形成されたプリント基板上に第1の絶縁層を
塗布し、第1の絶縁層の所望の領域を第1の導体層に至
るまで開口させ、第1の開口部を形成し、第1の絶縁層
上に第2の絶縁層を塗布し、第2の絶縁層の所望の領域
に、第1の開口部に至るまで、および、底部が第1の絶
縁層上のみに至るまでそれぞれ開口させ、第2および第
3の開口部をそれぞれ形成し、第1ないし第3の開口部
を埋め込むとともに第2の絶縁層上を覆うように、メッ
キ法によりメッキ触媒層、無電解金属メッキ層、およ
び、電気金属メッキ層を順次形成して第2の導体層を形
成し、第2の導体層を機械的に研磨し、第2の絶縁層の
上面の第2の導体層を除去し露出させるので、第2の導
体層の接する各絶縁層の全ての面に、メッキ触媒層が形
成されているため、各絶縁層と第2の導体層との密着性
が優れており、かつ、第2の導体層の上面が平坦とな
り、信頼性の高い多層プリント基板の製造方法を得るこ
とができるという効果がある。
According to claim 8 of the present invention, the first
Applying a first insulating layer on the printed circuit board on which the conductive layer of the first is formed, opening a desired region of the first insulating layer to the first conductive layer, forming a first opening; Applying a second insulating layer on the first insulating layer, in a desired region of the second insulating layer, until reaching the first opening, and until the bottom reaches only on the first insulating layer. A plating catalyst layer and an electroless metal plating are formed by a plating method so as to form openings, respectively, to form second and third openings, and to fill the first to third openings and cover the second insulating layer. Forming a second conductor layer by sequentially forming a layer and an electrometal plating layer, mechanically polishing the second conductor layer, and removing the second conductor layer on the upper surface of the second insulating layer. Because it is exposed, the plating catalyst layer is formed on all surfaces of each insulating layer in contact with the second conductor layer, Has excellent adhesion between the insulating layer and the second conductive layer, and the upper surface of the second conductive layer is flat, there is an effect that it is possible to obtain a method of manufacturing a highly reliable multilayer printed circuit board.

【0118】また、この発明の請求項9によれば、請求
項8において、第1ないし第3の開口部が形成され、第
2の導体層を形成する前に、第1の絶縁層および第2の
絶縁層を粗面化するので、各絶縁層と第2の導体層との
密着性がさらに優れ、さらに信頼性の高い多層プリント
基板の製造方法を得ることができるという効果がある。
According to a ninth aspect of the present invention, in the ninth aspect, the first to third openings are formed, and the first insulating layer and the second insulating layer are formed before forming the second conductor layer. Since the second insulating layer is roughened, the adhesion between each insulating layer and the second conductor layer is further improved, and an effect of obtaining a more reliable method for manufacturing a multilayer printed circuit board can be obtained.

【0119】また、この発明の請求項10によれば、第
1の導体層が形成されたプリント基板上に第1の絶縁層
を塗布し第1の絶縁層の所望の領域を第1の導体層に至
るまで開口させ、第1の開口部を形成し、第1の開口部
を埋め込むとともに第1の絶縁層上を覆うように、メッ
キ法により第1のメッキ触媒層、第1の無電解金属メッ
キ層および第1の電気金属メッキ層を順次形成し下層導
体層を形成し、下層導体層を機械的に研磨し、第1の絶
縁層の上面の下層導体層を除去し露出させ、第1の絶縁
層上に第2の絶縁層を塗布し、第2の絶縁層の所望の領
域に、第1の開口部すなわち下層導体層に至るまで、お
よび、底部が第1の絶縁層のみに至るまでそれぞれ開口
させ、第2および第3の開口部をそれぞれ形成し、第2
の開口部および第3の開口部を埋め込むとともに第2の
絶縁層上を覆うように、メッキ法により第2のメッキ触
媒層、第2の無電解金属メッキ層および第2の電気金属
メッキ層を順次形成し上層導体層を形成し、上層導体層
を機械的に研磨し、第2の絶縁層の上面の上層導体層を
除去し露出させ、下層導体層および上層導体層にて成る
第2の導体層を形成するので、第2の導体層の接する各
絶縁層の全ての側面に、各メッキ触媒層が形成されてい
るため、各絶縁層と第2の導体層との密着性が優れてお
り、かつ、第2の導体層の上面が平坦となり、信頼性の
高い多層プリント基板の製造方法を得ることができると
いう効果がある。
According to a tenth aspect of the present invention, a first insulating layer is applied on a printed circuit board on which a first conductive layer is formed, and a desired region of the first insulating layer is formed by the first conductive layer. The first plating catalyst layer and the first electroless layer are formed by plating so as to form a first opening, fill the first opening, and cover the first insulating layer. Forming a metal plating layer and a first electrometal plating layer sequentially to form a lower conductor layer, mechanically polishing the lower conductor layer, removing and exposing the lower conductor layer on the upper surface of the first insulating layer, A second insulating layer is applied on the first insulating layer, and a desired portion of the second insulating layer is extended to the first opening, that is, the lower conductive layer, and the bottom is formed only in the first insulating layer. And a second and a third opening are formed respectively.
The second plating catalyst layer, the second electroless metal plating layer and the second electrometal plating layer are plated by a plating method so as to bury the opening and the third opening and cover the second insulating layer. Forming an upper conductor layer sequentially, mechanically polishing the upper conductor layer, removing and exposing the upper conductor layer on the upper surface of the second insulating layer, and forming a second conductor composed of the lower conductor layer and the upper conductor layer. Since the conductor layers are formed, the plating catalyst layers are formed on all side surfaces of the respective insulating layers in contact with the second conductor layers, so that the adhesion between the respective insulating layers and the second conductor layers is excellent. In addition, the upper surface of the second conductor layer is flattened, so that a highly reliable method for manufacturing a multilayer printed circuit board can be obtained.

【0120】また、この発明の請求項11によれば、請
求項10において、第1の開口部が形成され、下層導体
層を形成する前に、第1の絶縁層を粗面化する工程と、
第2および第3の開口部が形成され、上層導体層を形成
する前に、第1の絶縁層および第2の絶縁層を粗面化す
るので、各絶縁層と第2の導体層との密着性がさらに優
れ、さらに信頼性の高い多層プリント基板の製造方法を
得ることができるという効果がある。
According to an eleventh aspect of the present invention, in the tenth aspect, a step of forming a first opening and roughening the first insulating layer before forming the lower conductor layer is performed. ,
Since the second and third openings are formed and the first insulating layer and the second insulating layer are roughened before forming the upper conductive layer, each of the insulating layers and the second conductive layer is There is an effect that a method for manufacturing a multilayer printed circuit board with higher adhesion and higher reliability can be obtained.

【0121】また、この発明の請求項12によれば、請
求項8ないし請求項11に記載の多層プリント基板の製
造方法において、電気金属メッキ層または第1の電気金
属メッキ層または第2電気金属メッキ層のメッキ法を、
パルスメッキ法または周期的反転電流メッキ法を用いる
ので、電気金属メッキ層または第1の電気金属メッキ層
または第2電気金属メッキ層のメッキ量を最小限にとど
めることができる多層プリント基板の製造方法を得るこ
とができるという効果がある。
According to a twelfth aspect of the present invention, in the method for manufacturing a multilayer printed circuit board according to any one of the eighth to eleventh aspects, the electric metal plating layer, the first electric metal plating layer, or the second electric metal plating layer is used. The plating method of the plating layer,
Since the pulse plating method or the periodic reversal current plating method is used, a method of manufacturing a multilayer printed circuit board capable of minimizing the amount of plating of the electric metal plating layer, the first electric metal plating layer, or the second electric metal plating layer. Is obtained.

【0122】また、この発明の請求項13によれば、請
求項12において、電気金属メッキ層または第1の電気
金属メッキ層または第2電気金属メッキ層を所望厚さ分
化学的にエッチングした後に、機械的に研磨するので、
電気金属メッキ層または第1の電気金属メッキ層または
第2電気金属メッキ層の研磨量を最小限にとどめること
ができるため、機械研磨量の低減による基板の寸法安定
性(レジストレーション)が向上する多層プリント基板
の製造方法を得ることができるという効果がある。
According to a thirteenth aspect of the present invention, in the twelfth aspect, after the electric metal plating layer, the first electric metal plating layer, or the second electric metal plating layer is chemically etched by a desired thickness. Because it is mechanically polished,
Since the polishing amount of the electrometal plating layer or the first electrometal plating layer or the second electrometal plating layer can be minimized, the dimensional stability (registration) of the substrate is improved by reducing the mechanical polishing amount. There is an effect that a method for manufacturing a multilayer printed circuit board can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 この発明の実施の形態1による多層プリント
基板の構成を示した断面図である。
FIG. 1 is a sectional view showing a configuration of a multilayer printed circuit board according to Embodiment 1 of the present invention.

【図2】 図1に示した多層プリント基板の製造方法を
示した断面図である。
FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a method of manufacturing the multilayer printed circuit board illustrated in FIG.

【図3】 図1に示した多層プリント基板の製造方法を
示した断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view illustrating a method of manufacturing the multilayer printed circuit board illustrated in FIG.

【図4】 図1に示した多層プリント基板の製造方法を
示した断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view illustrating a method for manufacturing the multilayer printed circuit board illustrated in FIG.

【図5】 図1に示した多層プリント基板の製造方法を
示した断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view illustrating a method for manufacturing the multilayer printed circuit board illustrated in FIG.

【図6】 図1に示した多層プリント基板と他の評価例
との比較を示した図である。
6 is a diagram showing a comparison between the multilayer printed circuit board shown in FIG. 1 and another evaluation example.

【図7】 図1に示した多層プリント基板と他の評価例
との比較の構成を示した断面図である。
FIG. 7 is a cross-sectional view showing a configuration for comparison between the multilayer printed board shown in FIG. 1 and another evaluation example.

【図8】 図1に示した多層プリント基板の製造方法を
示した断面図である。
FIG. 8 is a cross-sectional view illustrating a method of manufacturing the multilayer printed circuit board illustrated in FIG.

【図9】 この発明の実施の形態1のによる多層プリン
ト基板の構成を示した断面図である。
FIG. 9 is a sectional view showing a configuration of a multilayer printed circuit board according to Embodiment 1 of the present invention.

【図10】 この発明の実施の形態2のによる多層プリ
ント基板の構成を示した断面図である。
FIG. 10 is a cross-sectional view showing a configuration of a multilayer printed circuit board according to Embodiment 2 of the present invention.

【図11】 図10に示した多層プリント基板の製造方
法を示した断面図である。
11 is a cross-sectional view illustrating a method for manufacturing the multilayer printed circuit board illustrated in FIG.

【図12】 図10に示した多層プリント基板の製造方
法を示した断面図である。
FIG. 12 is a cross-sectional view illustrating a method of manufacturing the multilayer printed circuit board illustrated in FIG.

【図13】 図10に示した多層プリント基板の製造方
法を示した断面図である。
13 is a cross-sectional view illustrating a method for manufacturing the multilayer printed circuit board illustrated in FIG.

【図14】 従来の多層プリント基板の製造方法を示し
た断面図である。
FIG. 14 is a cross-sectional view illustrating a method for manufacturing a conventional multilayer printed circuit board.

【図15】 従来の多層プリント基板の製造方法を示し
た断面図である。
FIG. 15 is a cross-sectional view illustrating a method for manufacturing a conventional multilayer printed circuit board.

【図16】 従来の多層プリント基板の製造方法を示し
た断面図である。
FIG. 16 is a cross-sectional view illustrating a method for manufacturing a conventional multilayer printed circuit board.

【図17】 従来の多層プリント基板の製造方法を示し
た断面図である。
FIG. 17 is a cross-sectional view illustrating a method for manufacturing a conventional multilayer printed circuit board.

【図18】 従来例1の多層プリント基板の製造方法を
示した断面図である。
FIG. 18 is a cross-sectional view illustrating a method for manufacturing the multilayer printed circuit board of Conventional Example 1.

【図19】 従来例1の多層プリント基板の製造方法を
示した断面図である。
FIG. 19 is a cross-sectional view illustrating a method for manufacturing the multilayer printed circuit board of Conventional Example 1.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

26 プリント基板、27 第1の導体層、28,3
9,41 第1の絶縁層、29 第1の開口部、30,
56 第2の絶縁層、31,57 第2の開口部、3
2,58 第3の開口部、33,59 第2の導体層、
34 メッキ触媒層、35 無電解銅メッキ層、36,
36a,36b 電気銅メッキ層、37,38 粗面化
面、46 第3の絶縁層、47 第4の開口部、48
第4の絶縁層、49 第5の開口部、50 第6の開口
部、51 第3の導体層、60 第1のメッキ触媒層、
61 第1の無電解銅メッキ層、62 第1の電気銅メ
ッキ層、63 下層導体層、64 第2のメッキ触媒
層、65 第2の無電解銅メッキ層、66 第3の電気
銅メッキ層、67 上層導体層。
26 printed circuit board, 27 first conductor layer, 28, 3
9, 41 first insulating layer, 29 first opening, 30,
56 second insulating layer, 31, 57 second opening, 3
2,58 third opening, 33,59 second conductor layer,
34 plating catalyst layer, 35 electroless copper plating layer, 36,
36a, 36b electroplated copper layer, 37, 38 roughened surface, 46 third insulating layer, 47 fourth opening, 48
Fourth insulating layer, 49 fifth opening, 50 sixth opening, 51 third conductor layer, 60 first plating catalyst layer,
61 first electroless copper plating layer, 62 first electrolytic copper plating layer, 63 lower conductor layer, 64 second plating catalyst layer, 65 second electroless copper plating layer, 66 third electrolytic copper plating layer , 67 Upper conductor layer.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 河嶋 康夫 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 田中 篤司 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 (72)発明者 北村 洋一 東京都千代田区丸の内二丁目2番3号 三 菱電機株式会社内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Yasuo Kawashima 2-3-2 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo Mitsui Electric Co., Ltd. (72) Atsushi Tanaka 2-3-2 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo 3 (72) Inventor Yoichi Kitamura 2-3-2 Marunouchi, Chiyoda-ku, Tokyo Mitsubishi Electric Corporation

Claims (13)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 第1の導体層が形成されたプリント基板
と、上記プリント基板上に第1の導体層に至る第1の開
口部を備えた第1の絶縁層と、上記第1の絶縁層上に、
上記第1の開口部に連通する第2の開口部および底部が
上記第1の絶縁層上のみに至る第3の開口部を備えた第
2の絶縁層と、上記第1ないし第3の開口部に埋め込ま
れた第2の導体層とからなり、上記第2の導体層が、上
記第1の開口部ないし第3の開口部の側面および底面を
覆うように形成されたメッキ触媒層と、上記メッキ触媒
層上を覆うように形成された無電解金属メッキ層と、上
記無電解金属メッキ層上を覆うように形成された電気金
属メッキ層との3層にて成ることを特徴とする多層プリ
ント基板。
1. A printed circuit board on which a first conductor layer is formed, a first insulating layer provided on the printed circuit board with a first opening reaching the first conductor layer, and a first insulating layer. On the layer,
A second insulating layer having a second opening communicating with the first opening and a third opening having a bottom extending only above the first insulating layer; and the first to third openings. A plating catalyst layer comprising a second conductor layer embedded in the portion, wherein the second conductor layer is formed so as to cover the side and bottom surfaces of the first to third openings; A multilayer comprising: an electroless metal plating layer formed to cover the plating catalyst layer; and an electrometal plating layer formed to cover the electroless metal plating layer. Printed board.
【請求項2】 第1の導体層が形成されたプリント基板
と、上記プリント基板上に第1の導体層に至る第1の開
口部を備えた第1の絶縁層と、上記第1の絶縁層上に、
上記第1の開口部に連通する第2の開口部および底部が
上記第1の絶縁層上のみに至る第3の開口部を備えた第
2の絶縁層と、上記第1ないし第3の開口部に埋め込ま
れた第2の導体層とからなり、上記第1の開口部および
第2の開口部内の上記第2の導体層が、上記第1の開口
部の側面および底面を覆うように形成された第1のメッ
キ触媒層と、上記第1のメッキ触媒層上を覆うように形
成された第1の無電解金属メッキ層と、上記第1の無電
解金属メッキ層上を覆うように形成された第1の電気金
属メッキ層との3層と、上記第2の開口部の側面を覆う
ように形成されるとともに、上記第1の電気金属メッキ
層上を覆うように形成された第2のメッキ触媒層と、上
記第2のメッキ触媒層上を覆うように形成された第2の
無電解金属メッキ層と、上記第2の無電解金属メッキ層
上を覆うように形成された第2の電気金属メッキ層との
3層との6層にて成り、上記第3の開口部内の上記第2
の導体層が、上記第3の開口部の側面および底面を覆う
ように形成された上記第2のメッキ触媒層と、上記第2
のメッキ触媒層上を覆うように形成された上記第2の無
電解金属メッキ層と、上記第2の無電解金属メッキ層上
を覆うように形成された上記第2の電気金属メッキ層と
の3層とにて成ることを特徴とする多層プリント基板。
2. A printed circuit board on which a first conductor layer is formed; a first insulating layer provided on the printed board with a first opening reaching the first conductor layer; On the layer,
A second insulating layer having a second opening communicating with the first opening and a third opening having a bottom extending only above the first insulating layer; and the first to third openings. A second conductor layer embedded in the portion, wherein the first opening and the second conductor layer in the second opening are formed so as to cover side surfaces and a bottom surface of the first opening. Formed first plating catalyst layer, a first electroless metal plating layer formed so as to cover the first plating catalyst layer, and a first electroless metal plating layer formed so as to cover the first electroless metal plating layer. And a second layer formed so as to cover the side surfaces of the second opening and the first electric metal plating layer and to cover the first electric metal plating layer. Plating catalyst layer, and second electroless metal plating formed so as to cover the second plating catalyst layer When made in six layers of the three layers of the second electric metal plating layer formed to cover the second electroless metal plating layer above the second of the inner third opening
The second plating catalyst layer formed so as to cover the side and bottom surfaces of the third opening;
The second electroless metal plating layer formed so as to cover the plating catalyst layer, and the second electrometallic plating layer formed so as to cover the second electroless metal plating layer. A multilayer printed circuit board comprising three layers.
【請求項3】 第2の導体層が埋め込まれた第2の開口
部上に、上記第2の開口部と連通して成る開口部を有す
る絶縁層を形成し、上記開口部に埋め込まれる導体層を
形成し、上記導体層を上記第2の導体層と電気的に接続
して形成することを特徴とする請求項1または請求項2
に記載の多層プリント基板。
3. An insulating layer having an opening communicating with the second opening is formed on the second opening in which the second conductor layer is embedded, and the conductor embedded in the opening is formed. 3. The method according to claim 1, wherein a layer is formed, and the conductive layer is electrically connected to the second conductive layer.
2. The multilayer printed circuit board according to item 1.
【請求項4】 第2の導体層と接する第1の絶縁層およ
び第2の絶縁層の面に、粗面化面が形成されていること
を特徴とする請求項1ないし請求項3のいずれかに記載
の多層プリント基板。
4. The surface of the first insulating layer and the surface of the second insulating layer which are in contact with the second conductor layer, wherein a roughened surface is formed. A multilayer printed circuit board according to any one of the above.
【請求項5】 第1の絶縁層に形成された粗面化面が、
第2の絶縁層に形成された粗面化面より粗いことを特徴
とする請求項4に記載の多層プリント基板。
5. The roughened surface formed on the first insulating layer,
The multilayer printed board according to claim 4, wherein the multilayer printed board is rougher than a roughened surface formed on the second insulating layer.
【請求項6】 第1の絶縁層を構成する樹脂に含有され
たフィラーの平均粒径が、第2の絶縁層を構成する樹脂
に含有されたフィラーの平均粒径より大きいことを特徴
とする請求項5に記載の多層プリント基板。
6. An average particle diameter of a filler contained in a resin constituting a first insulating layer is larger than an average particle diameter of a filler contained in a resin constituting a second insulating layer. A multilayer printed circuit board according to claim 5.
【請求項7】 第1の絶縁層を構成する樹脂に含有され
たフィラーの平均粒径が1ないし20μmの範囲にて成
り、第2の絶縁層を構成する樹脂に含有されたフィラー
の平均粒径が0.01ないし5μmの範囲にて成ること
を特徴とする請求項6に記載の多層プリント基板。
7. The average particle diameter of the filler contained in the resin constituting the first insulating layer is in the range of 1 to 20 μm, and the average particle diameter of the filler contained in the resin constituting the second insulating layer is 7. The multilayer printed circuit board according to claim 6, wherein the diameter is in a range of 0.01 to 5 µm.
【請求項8】 第1の導体層が形成されたプリント基板
上に第1の絶縁層を塗布し、上記第1の絶縁層の所望の
領域を上記第1の導体層に至るまで開口させ、第1の開
口部を形成する工程と、上記第1の絶縁層上に第2の絶
縁層を塗布し、上記第2の絶縁層の所望の領域に、上記
第1の開口部に至るまで、および、底部が上記第1の絶
縁層上のみに至るまでそれぞれ開口させ、第2および第
3の開口部をそれぞれ形成する工程と、上記第1ないし
上記第3の開口部を埋め込むとともに上記第2の絶縁層
上を覆うように、メッキ法によりメッキ触媒層、無電解
金属メッキ層、および、電気金属メッキ層を順次形成し
て第2の導体層を形成する工程と、上記第2の導体層を
機械的に研磨し、上記第2の絶縁層の上面の上記第2の
導体層を除去し露出させる工程とを備えたことを特徴と
する多層プリント基板の製造方法。
8. A first insulating layer is applied on a printed circuit board on which a first conductive layer is formed, and a desired region of the first insulating layer is opened to reach the first conductive layer, Forming a first opening, applying a second insulating layer on the first insulating layer, and in a desired region of the second insulating layer until reaching the first opening; Forming a second opening and a third opening, respectively, until the bottom portion reaches only above the first insulating layer; and filling the first through third openings with the second opening. Forming a second conductor layer by sequentially forming a plating catalyst layer, an electroless metal plating layer, and an electrometal plating layer by a plating method so as to cover the upper surface of the second conductor layer; Is mechanically polished to remove and expose the second conductor layer on the upper surface of the second insulating layer. A method of manufacturing a multilayer printed circuit board.
【請求項9】 第1ないし第3の開口部が形成され、第
2の導体層を形成する前に、第1の絶縁層および第2の
絶縁層を粗面化する工程を備えたことを特徴とする請求
項8に記載の多層プリント基板の製造方法。
9. The method according to claim 1, further comprising the step of forming the first to third openings and roughening the first insulating layer and the second insulating layer before forming the second conductor layer. The method for manufacturing a multilayer printed circuit board according to claim 8, wherein:
【請求項10】 第1の導体層が形成されたプリント基
板上に第1の絶縁層を塗布し、上記第1の絶縁層の所望
の領域を上記第1の導体層に至るまで開口させ、第1の
開口部を形成する工程と、上記第1の開口部を埋め込む
とともに上記第1の絶縁層上を覆うように、メッキ法に
より第1のメッキ触媒層、第1の無電解金属メッキ層お
よび第1の電気金属メッキ層を順次形成し下層導体層を
形成する工程と、上記下層導体層を機械的に研磨し、上
記第1の絶縁層の上面の上記下層導体層を除去し露出さ
せる工程と、上記第1の絶縁層上に第2の絶縁層を塗布
し、上記第2の絶縁層の所望の領域に、上記第1の開口
部すなわち上記下層導体層に至るまで、および、底部が
上記第1の絶縁層のみに至るまでそれぞれ開口させ、第
2および第3の開口部をそれぞれ形成する工程と、上記
第2の開口部および第3の開口部を埋め込むとともに上
記第2の絶縁層上を覆うように、メッキ法により第2の
メッキ触媒層、第2の無電解金属メッキ層および第2の
電気金属メッキ層を順次形成し上層導体層を形成する工
程と、上記上層導体層を機械的に研磨し、上記第2の絶
縁層の上面の上記上層導体層を除去し露出させ、上記下
層導体層および上記上層導体層にて成る第2の導体層を
形成する工程とを備えたことを特徴とする多層プリント
基板の製造方法。
10. A first insulating layer is applied on a printed circuit board on which a first conductive layer is formed, and a desired region of the first insulating layer is opened to reach the first conductive layer, A step of forming a first opening, and a first plating catalyst layer and a first electroless metal plating layer formed by a plating method so as to fill the first opening and cover the first insulating layer. Forming a lower conductor layer by sequentially forming a first electrometal plating layer and mechanically polishing the lower conductor layer to remove and expose the lower conductor layer on the upper surface of the first insulating layer. And a step of applying a second insulating layer on the first insulating layer, and in a desired area of the second insulating layer, the first opening, that is, the lower conductive layer, and a bottom portion. Are respectively opened to reach only the first insulating layer, and the second and third openings are formed. Forming a second portion and a second electroless plating layer by a plating method so as to fill the second opening and the third opening and cover the second insulating layer. Forming a metal plating layer and a second electrometal plating layer sequentially to form an upper conductor layer; mechanically polishing the upper conductor layer to remove the upper conductor layer on the upper surface of the second insulating layer; Forming a second conductor layer composed of the lower conductor layer and the upper conductor layer.
【請求項11】 第1の開口部が形成され、下層導体層
を形成する前に、第1の絶縁層を粗面化する工程と、第
2および第3の開口部が形成され、上層導体層を形成す
る前に、上記第1の絶縁層および第2の絶縁層を粗面化
する工程とを備えたことを特徴とする請求項10に記載
の多層プリント基板の製造方法。
11. A step of forming a first opening and roughening a first insulating layer before forming a lower conductive layer, forming a second and third opening, and forming an upper conductive layer. The method of manufacturing a multilayer printed circuit board according to claim 10, further comprising a step of roughening the first insulating layer and the second insulating layer before forming the layer.
【請求項12】 請求項8ないし請求項11に記載の多
層プリント基板の製造方法において、電気金属メッキ層
または第1の電気金属メッキ層または第2電気金属メッ
キ層のメッキ法を、パルスメッキ法または周期的反転電
流メッキ法を用いることを特徴とする多層プリント基板
の製造方法。
12. The method for manufacturing a multilayer printed circuit board according to claim 8, wherein the plating method of the electric metal plating layer, the first electric metal plating layer, or the second electric metal plating layer is performed by a pulse plating method. Alternatively, a method for manufacturing a multilayer printed circuit board, wherein a periodic inversion current plating method is used.
【請求項13】 電気金属メッキ層または第1の電気金
属メッキ層または第2電気金属メッキ層を所望厚さ分化
学的にエッチングした後に、機械的に研磨することを特
徴とする請求項12に記載の多層プリント基板の製造方
法。
13. The method according to claim 12, wherein the electrometal plating layer, the first electrometal plating layer, or the second electrometal plating layer is chemically etched to a desired thickness and then mechanically polished. A method for manufacturing a multilayer printed circuit board according to the above.
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