JP2013206958A - Printed wiring board and manufacturing method thereof - Google Patents

Printed wiring board and manufacturing method thereof Download PDF

Info

Publication number
JP2013206958A
JP2013206958A JP2012071718A JP2012071718A JP2013206958A JP 2013206958 A JP2013206958 A JP 2013206958A JP 2012071718 A JP2012071718 A JP 2012071718A JP 2012071718 A JP2012071718 A JP 2012071718A JP 2013206958 A JP2013206958 A JP 2013206958A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
metal film
via hole
insulating layer
wiring board
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2012071718A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Ryoma Tanabe
良馬 田邉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toppan Printing Co Ltd filed Critical Toppan Printing Co Ltd
Priority to JP2012071718A priority Critical patent/JP2013206958A/en
Publication of JP2013206958A publication Critical patent/JP2013206958A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for manufacturing a printed wiring board which, by realizing thinning of a first metal film in a wiring portion and formation of a metal film with excellent covering around via holes, restrains reduction in electrical characteristic and reduction in reliability due to ion residues and also can secure the reliability of electrical connection between wiring layers.SOLUTION: A first resist film 8 is formed so as to cover a first metal film 7 to be deposited in a via hole 4, and a first metal coat to be formed in an insulation layer other than the via hole is etched to make the first metal coat to be formed in an insulation layer other than the via hole thinner than the first metal film to be formed in the via hole, in which way a first thinned metal film 9 is formed.

Description

本発明はプリント配線板およびその製造方法に関する。   The present invention relates to a printed wiring board and a manufacturing method thereof.

プリント配線板は、電子部品や半導体素子等を実装するために広く用いられている。そして、近年の電子機器の小型化、高機能化の要求に伴い、プリント配線板には、回路の高密度化や薄型化が望まれている。   Printed wiring boards are widely used for mounting electronic components, semiconductor elements, and the like. With recent demands for downsizing and higher functionality of electronic devices, printed wiring boards are desired to have higher circuit density and thickness.

この高密度なプリント配線板を製造する方法として、ビルドアップ法を用いた多層ビルドアップ配線板が知られている。この方法は、絶縁基板上に配線層を形成したコア層の上に絶縁層を形成し、さらにその上に配線層を形成し、さらに絶縁層を形成するという工程を繰り返すことにより、多層ビルドアップ配線板を形成するというものである。   As a method for manufacturing this high-density printed wiring board, a multilayer build-up wiring board using a build-up method is known. In this method, a multilayer build-up is performed by repeating the steps of forming an insulating layer on a core layer having a wiring layer formed on an insulating substrate, further forming a wiring layer thereon, and further forming an insulating layer. A wiring board is formed.

多層ビルドアップ配線板を例に挙げて、従来のプリント配線板の製造方法を図面に基づいて説明する。図5,6は、従来のプリント配線板の製造方法の一例を示す模式的断面図である。   A conventional method for manufacturing a printed wiring board will be described with reference to the drawings, taking a multilayer build-up wiring board as an example. 5 and 6 are schematic sectional views showing an example of a conventional method for manufacturing a printed wiring board.

まず、一般的にコア層と呼ばれているビルドアップ配線板のベースとなる層について説明する。図5(a)に示されるように、ガラスエポキシ基板等のリジット材料からなる両面銅張基板21にドリルやレーザを用いて貫通孔22を形成し、高圧洗浄や過マンガン酸塩浴に浸漬することで孔内の樹脂残渣を除去する。次に無電解銅めっき、電解銅めっきを行ない基板表面及貫通孔内に銅膜23を形成する。銅膜23で被覆された貫通孔22をスクリーン印刷にて孔埋めインク24で埋め込んだ後、表面にはみ出した余分な樹脂をバフ等の研磨で除去する。   First, a layer serving as a base of a build-up wiring board generally called a core layer will be described. As shown in FIG. 5 (a), a through hole 22 is formed in a double-sided copper-clad substrate 21 made of a rigid material such as a glass epoxy substrate using a drill or a laser, and immersed in a high-pressure cleaning or permanganate bath. Thus, the resin residue in the hole is removed. Next, electroless copper plating and electrolytic copper plating are performed to form a copper film 23 on the substrate surface and in the through holes. After the through-hole 22 covered with the copper film 23 is filled with the hole-filling ink 24 by screen printing, excess resin protruding to the surface is removed by polishing such as buffing.

次に、図5(b)に示されるように、感光性のフォトレジストを基板全面に塗布した後、フォトリソグラフィによりレジストパターン25を形成する。   Next, as shown in FIG. 5B, after a photosensitive photoresist is applied to the entire surface of the substrate, a resist pattern 25 is formed by photolithography.

次に図5(c)に示されるように、塩化第二銅液などのエッチング液を用いてレジストパターン25で被覆されていない銅膜部を除去し、さらに、レジストパターン25を剥離することで第一配線層26を形成する。一般的にこれらはコア層27と呼ばれている。   Next, as shown in FIG. 5C, the copper film portion not covered with the resist pattern 25 is removed using an etching solution such as cupric chloride solution, and the resist pattern 25 is further peeled off. A first wiring layer 26 is formed. These are generally called the core layer 27.

次にコア層27の上下層に形成するビルドアップ層について説明する。コア層27の配線層表面を粗化処理した後に、図6(d)に示されるように、シート状の絶縁樹脂を粘着し、絶縁層28を形成する。なお、絶縁層28の形成にあたってはシート状の樹脂を粘着する方法が均一な厚さの樹脂層を簡易に形成できる観点から好ましいが、液状の樹脂を塗布する方法でもよい。絶縁層28の材料としてはエポキシ樹脂やポリイミド樹脂等が用いられる。   Next, the buildup layer formed on the upper and lower layers of the core layer 27 will be described. After the surface of the wiring layer of the core layer 27 is roughened, as shown in FIG. 6D, a sheet-like insulating resin is adhered to form the insulating layer 28. In forming the insulating layer 28, a method of adhering a sheet-like resin is preferable from the viewpoint of easily forming a resin layer having a uniform thickness, but a method of applying a liquid resin may also be used. As a material of the insulating layer 28, an epoxy resin, a polyimide resin, or the like is used.

次に、絶縁層28の表面から第一配線層26に到達するビア穴29をレーザ照射にて形成する。レーザとしてはUVレーザ、炭酸ガスレーザやエキシマレーザ等のレーザが用いられる。そして過マンガン酸塩浴に浸漬することによって、絶縁層28表面の粗面化とビア穴29内の洗浄を行なう。なお、このビア穴29は上下配線層を電気的に接続するためのビアとなるため、穴の寸法、形状が高密度化と高信頼性の観点から非常に重要である。   Next, a via hole 29 reaching the first wiring layer 26 from the surface of the insulating layer 28 is formed by laser irradiation. A laser such as a UV laser, a carbon dioxide laser, or an excimer laser is used as the laser. Then, the surface of the insulating layer 28 is roughened and the inside of the via hole 29 is cleaned by being immersed in a permanganate bath. Since the via hole 29 serves as a via for electrically connecting the upper and lower wiring layers, the size and shape of the hole are very important from the viewpoint of high density and high reliability.

次にビルドアップ層の配線層形成について説明する。配線層の形成方法としてはエッチングで配線パターンを形成するサブトラクティブ法とめっきで配線パターンを形成するアディティブ法に分かれる。さらにアディティブ法には無電解めっきで配線パターンを形成するフルアディティブ法と電解めっきで配線パターンを形成するセミアディティブ法に分かれる。高密度基板にはセミアディティブ法が一般的に適用されているため、セミアディティブ法について説明する。   Next, the formation of the wiring layer of the buildup layer will be described. The wiring layer can be formed by a subtractive method in which a wiring pattern is formed by etching and an additive method in which a wiring pattern is formed by plating. Further, the additive method is divided into a full additive method in which a wiring pattern is formed by electroless plating and a semi-additive method in which a wiring pattern is formed by electrolytic plating. Since the semi-additive method is generally applied to high-density substrates, the semi-additive method will be described.

次に、図6(e)に示されるように、絶縁層28の表面及びビア穴29内を過マンガン酸塩浴により粗化し、デスミア処理をした後、無電解銅めっきを行なって銅膜30を形成する。銅膜30の形成は、絶縁層28の表面に導電性を付与し、電解銅めっきを可能となるようにするために行なうものである。次に感光性のフォトレジストを基板全面に塗布する。感光性のフォトレジストには厚みの均一性に優れているドライフィルムタイプが用いられることが多い。そしてフォトリソグラフィによりレジストパターン31を形成する。そして電解めっきにより、レジストパターン31で被覆されていない部分に銅膜32を形成し、配線パターンを形成するとともに、上下層間の電気的接続をとるために空けたビア穴29へもめっきを行なうことでビア33が形成される。なお、ビアには、穴壁をめっきで被覆したコンフォーマルビアと、穴内を全てめっきで充填されたフィルドビアとがある。ビアの種類は、めっき液の組成と添加剤を選定することで使い分けることが可能である。近年は高密度化に有利なスタックビア構造を取るためにフィルドビがを用いられることが多い。なお、フィルドビアは上記のように穴をめっきで埋め込む以外に導電性ペーストで埋め込む方法もある。なお、本事例ではめっきで埋め込んだフィルドビア構造を図示した。   Next, as shown in FIG. 6E, the surface of the insulating layer 28 and the inside of the via hole 29 are roughened with a permanganate bath, subjected to desmear treatment, and then subjected to electroless copper plating to form a copper film 30. Form. The formation of the copper film 30 is performed in order to impart conductivity to the surface of the insulating layer 28 and enable electrolytic copper plating. Next, a photosensitive photoresist is applied to the entire surface of the substrate. As the photosensitive photoresist, a dry film type having excellent thickness uniformity is often used. Then, a resist pattern 31 is formed by photolithography. Then, by electrolytic plating, a copper film 32 is formed in a portion not covered with the resist pattern 31 to form a wiring pattern, and plating is also performed on the via hole 29 that is opened to make an electrical connection between the upper and lower layers. As a result, the via 33 is formed. The via includes a conformal via in which the hole wall is coated with plating and a filled via in which the entire hole is filled with plating. The type of via can be properly selected by selecting the composition of the plating solution and the additive. In recent years, filled bi is often used to obtain a stacked via structure that is advantageous for high density. The filled via may be filled with a conductive paste in addition to filling the hole with plating as described above. In this example, a filled via structure embedded by plating is shown.

次に、図6(f)に示されるように、レジストパターン31をNaOHなどのアルカリ水溶液で剥離した後、露出した無電解めっき皮膜30を過酸化水素/硫酸系などの水溶液で溶解除去することにより、第二配線層34が形成される。   Next, as shown in FIG. 6F, after the resist pattern 31 is peeled off with an alkaline aqueous solution such as NaOH, the exposed electroless plating film 30 is dissolved and removed with an aqueous solution of hydrogen peroxide / sulfuric acid. Thus, the second wiring layer 34 is formed.

特公平7-105600号公報Japanese Patent Publication No. 7-105600

特許文献1には、上記した多層ビルドアップ配線板の製造方法と同様の技術が開示されている。特許文献1における従来技術の課題として、以下のような課題が挙げられている。すなわち、絶縁基板上に複数の配線層が絶縁層を介して形成されており、前記配線層間がフィルドビアにて電気的に接続されてなる多層プリント配線板又は、スルーホールが形成されたコア基板の両面に複数の配線層が絶縁層を介して形成されており、前記配線層間がフィルドビアにて電気的に接続されてなる多層ビルドアップ配線板において、セミアディティブ工法にてビルドアップ配線層を形成する場合、絶縁層上の第一金属皮膜を除去する際に回路(第一金属皮膜上の第二金属皮膜)が細るというサイドエッチングの問題があった。この問題によって、電気特性の低下と共に、回路の表面および側面でのエッチングのイオン残渣による信頼性低下を引き起こされる。この回路細りを低減させる為に、第一金属皮膜の薄化が有効である。   Patent Document 1 discloses a technique similar to the manufacturing method of the multilayer build-up wiring board described above. The following problems are cited as problems of the prior art in Patent Document 1. That is, a plurality of wiring layers are formed on an insulating substrate via an insulating layer, and a multilayer printed wiring board in which the wiring layers are electrically connected by filled vias or a core substrate on which through holes are formed. In a multilayer build-up wiring board in which a plurality of wiring layers are formed on both surfaces via an insulating layer and the wiring layers are electrically connected by filled vias, a build-up wiring layer is formed by a semi-additive method In this case, there was a problem of side etching that the circuit (second metal film on the first metal film) was thinned when removing the first metal film on the insulating layer. This problem causes a reduction in reliability due to ionic residues of etching on the surface and side of the circuit as well as degradation of electrical properties. In order to reduce this circuit thinning, it is effective to thin the first metal film.

すなわち、特許文献1では、プリント配線板製造方法においてエッチングプロセスで発生するサイドエッチングによる配線の回路細りの課題を解決する為に、第一金属皮膜の薄化を行っている。しかしながら、ビア部における第一金属皮膜の薄化は、ビア接続の悪化原因となる。   That is, in Patent Document 1, the first metal film is thinned in order to solve the problem of circuit thinning of wiring due to side etching that occurs in the etching process in the printed wiring board manufacturing method. However, the thinning of the first metal film in the via portion causes a deterioration in via connection.

これは、第一金属皮膜の薄化によってビア穴への第一金属皮膜のつきまわりが悪化するためである。ビア穴への第一金属皮膜のつきまわりの悪化は、第一金属皮膜と第一金属被膜上に形成するビアの接続界面においてクラックを引き起こし、上下層間の電気的接続が確保されない問題を発生させる虞がある。   This is because the thinning of the first metal film deteriorates the contact of the first metal film to the via hole. Deterioration of the contact of the first metal film to the via hole causes a crack at the connection interface between the first metal film and the via formed on the first metal film, resulting in a problem that electrical connection between the upper and lower layers cannot be secured. There is a fear.

本発明は、上記の問題に鑑み、配線部の第一金属皮膜の薄化およびビア穴への良好なつきまわりでの第一金属皮膜形成を実現することで、電気特性の低下およびイオン残渣による信頼性低下を抑えるとともに配線層間の電気的接続信頼性の確保が可能なプリント配線板およびその製造方法を提供することを目的とする。   In view of the above problems, the present invention realizes the first metal film thinning of the wiring portion and the first metal film formation around the via hole, thereby reducing the electrical characteristics and the reliability due to the ion residue. It is an object of the present invention to provide a printed wiring board and a method of manufacturing the printed wiring board that can prevent deterioration in electrical performance and ensure electrical connection reliability between wiring layers.

本発明に係るプリント配線板およびその製造方法は、ビア穴4に形成する第一金属皮膜7を覆うように第一レジスト皮膜8を形成して、ビア穴4以外の絶縁層3に形成する第一金属被膜7をエッチングすることにより、ビア穴4以外の絶縁層3に形成する第一金属被膜7を、ビア穴4に形成する第一金属皮膜7よりも薄くして、第一薄化金属皮膜9を形成する。   The printed wiring board and the method for manufacturing the same according to the present invention are formed by forming a first resist film 8 so as to cover the first metal film 7 formed in the via hole 4 and forming it on the insulating layer 3 other than the via hole 4. By etching the one metal film 7, the first metal film 7 formed on the insulating layer 3 other than the via hole 4 is made thinner than the first metal film 7 formed on the via hole 4, and the first thinned metal A film 9 is formed.

本発明によれば、配線部の第一金属皮膜の薄化およびビア穴への第一金属皮膜形成の良好なつきまわりを実現することで、電気特性の低下およびイオン残渣による信頼性低下を抑えるとともに配線層間の電気的接続信頼性の確保が可能なプリント配線板を得ることができる。   According to the present invention, by reducing the thickness of the first metal film in the wiring portion and forming the first metal film on the via hole, it is possible to suppress deterioration in electrical characteristics and reliability due to ion residues. A printed wiring board capable of ensuring electrical connection reliability between wiring layers can be obtained.

本発明に係るプリント配線板の製造方法の一例を工程順に示す模式断面図Schematic sectional view showing an example of a method for manufacturing a printed wiring board according to the present invention in the order of steps 本発明に係るプリント配線板の製造方法の一例を、図1の(d)に続いて工程順に示す模式的断面図Typical sectional drawing which shows an example of the manufacturing method of the printed wiring board concerning this invention in order of a process following (d) of FIG. 本発明に係るプリント配線板の製造方法の一例を、図2の(h)に続いて工程順に示す模式的断面図Typical sectional drawing which shows an example of the manufacturing method of the printed wiring board which concerns on this invention in order of a process following (h) of FIG. 本発明に係るプリント配線板の製造方法の一例を、図3の(k)に続いて工程順に示す模式的断面図Typical sectional drawing which shows an example of the manufacturing method of the printed wiring board which concerns on this invention in order of a process following (k) of FIG. 従来のプリント配線板の製造方法を工程順に示す模式的断面図Typical sectional drawing which shows the manufacturing method of the conventional printed wiring board in process order 従来のプリント配線板の製造方法を、図5の(c)に続いて工程順に示す模式的断面図Typical sectional drawing which shows the manufacturing method of the conventional printed wiring board in order of a process following (c) of FIG.

以下、本発明に係るプリント配線板の製造方法を図面に基づいて説明する。図1は、本発明に係るプリント配線板の製造方法の一例を工程順に示す模式的断面図である。図2〜図4は、図1の(d)に続く工程を順に示す模式的断面図である。   Hereinafter, the manufacturing method of the printed wiring board concerning the present invention is explained based on a drawing. FIG. 1 is a schematic cross-sectional view illustrating an example of a method for producing a printed wiring board according to the present invention in the order of steps. 2 to 4 are schematic cross-sectional views sequentially showing processes subsequent to (d) of FIG.

ここでは、本発明に係るプリント配線板の製造方法の一例として、セミアディティブ法を用いた多層ビルドアップ配線板の製造方法について説明する。
まず、図1(a)に示されるように、コア基板が絶縁基板1であり、絶縁基板1上に第一配線層2が形成され、当該第一配線層2の表面および絶縁基板1の表面を覆うように絶縁層3が形成されているものを作製する。絶縁基板1としてはリジット基板、フレキシブル基板、テープ状基板のいずれでも良い。絶縁層3としては、絶縁性を有すれば特に限定されるものではなく、材料として例えば、液状又はシート状の絶縁性樹脂が挙げられる。例えば、そのような材料としては、具体的には、エポキシ樹脂系、フェノール樹脂系、ポリイミド樹脂系、不飽和ポリエステル樹脂系、ポリフェニレンエーテル樹脂系等の熱硬化性樹脂がある。
Here, the manufacturing method of the multilayer buildup wiring board using the semi-additive method is demonstrated as an example of the manufacturing method of the printed wiring board concerning this invention.
First, as shown in FIG. 1A, the core substrate is the insulating substrate 1, the first wiring layer 2 is formed on the insulating substrate 1, the surface of the first wiring layer 2 and the surface of the insulating substrate 1. That in which the insulating layer 3 is formed so as to cover is manufactured. The insulating substrate 1 may be a rigid substrate, a flexible substrate, or a tape substrate. The insulating layer 3 is not particularly limited as long as it has insulating properties, and examples thereof include a liquid or sheet-like insulating resin. For example, as such a material, specifically, there are thermosetting resins such as epoxy resin, phenol resin, polyimide resin, unsaturated polyester resin, polyphenylene ether resin, and the like.

なお、図1〜4に示される例では、コア基板の片面に複数の配線層が絶縁層3を介して形成されている多層ビルドアップ配線板を製造するが、これに代えて、図示はしないが、スルーホールが形成されたコア基板の両面にそれぞれ複数の配線層が絶縁層を介して形成されている多層ビルドアップ配線板を製造してもよい。   In the example shown in FIGS. 1 to 4, a multilayer build-up wiring board in which a plurality of wiring layers are formed on one side of the core substrate via the insulating layer 3 is manufactured. However, a multilayer build-up wiring board in which a plurality of wiring layers are formed on both surfaces of the core substrate on which the through holes are formed via insulating layers may be manufactured.

次に、図1(b)に示されるように、絶縁基板1にビア穴4をレーザにて開ける。レーザとしてはUVレーザ、炭酸ガスレーザやエキシマレーザ等が挙げられる。ビア穴4を開けた際に、ビア穴4内にスミア5が発生する。   Next, as shown in FIG. 1B, a via hole 4 is formed in the insulating substrate 1 with a laser. Examples of the laser include a UV laser, a carbon dioxide laser, and an excimer laser. When the via hole 4 is opened, a smear 5 is generated in the via hole 4.

次に、図1(c)に示されるように、ビア穴4内のスミア5の除去をする。スミア5の除去方法としては、スミア5を溶解可能な溶液に浸漬して除去する方法等が挙げられる。具体的には、例えば、スプレー噴射や浸漬をして、過マンガン酸カリウム溶液又は過マンガン酸ナトリウム溶液を、絶縁層3に接触させる方法が挙げられる。   Next, as shown in FIG. 1C, the smear 5 in the via hole 4 is removed. Examples of the method for removing smear 5 include a method of removing smear 5 by immersing it in a solution that can be dissolved. Specifically, for example, there is a method of bringing the potassium permanganate solution or the sodium permanganate solution into contact with the insulating layer 3 by spraying or dipping.

次に、図1(d)に示されるように、絶縁層3の表面全体およびビア穴4にめっき触媒6を付与する。めっき触媒6は、銅やニッケル等の無電解めっきの触媒として働くものであれば、特に限定するものではない。めっき触媒6の周囲に金属を析出することによりめっき触媒6間を接続して絶縁部に金属皮膜を形成するものや、絶縁部に沈着することにより絶縁部表面に導電性を与え、その導電性を用いて絶縁部に金属皮膜を形成する、一般にダイレクトプレーティング(直接めっき)と呼ばれる方法に用いられる導電性を有するものが挙げられる。めっき触媒6としては、例えば、パラジウムを含有するものや、パラジウム及びスズを含有するものや、カーボン、グラファイト等の炭素を含有するものや、銅の錯体を含有するものや、導電性ポリマーを含有するもの等が挙げられる。   Next, as shown in FIG. 1 (d), a plating catalyst 6 is applied to the entire surface of the insulating layer 3 and the via holes 4. The plating catalyst 6 is not particularly limited as long as it functions as a catalyst for electroless plating such as copper or nickel. By depositing metal around the plating catalyst 6 to connect the plating catalysts 6 to form a metal film on the insulating portion, or by depositing on the insulating portion, the surface of the insulating portion is given conductivity. Examples thereof include those having conductivity, which is used in a method generally called direct plating (direct plating), in which a metal film is formed on an insulating portion by using. Examples of the plating catalyst 6 include those containing palladium, those containing palladium and tin, those containing carbon such as carbon and graphite, those containing a complex of copper, and containing a conductive polymer. And the like.

次に、図2(e)に示されるように、絶縁層3の表面全体およびビア穴4に第一金属皮膜7を形成する。第一金属皮膜7は、絶縁層3の表面全体およびビア穴4に対して十分に形成されていて絶縁層3が露出せず、なおかつ薄い厚みとされることが好ましい。例えば、第一金属皮膜7の形成方法は、無電解めっき、スパッタ法等が挙げられる。この第一金属皮膜7としては、後の工程でのエッチングの容易性および導電性が優れる必要があるために銅が好ましい。   Next, as shown in FIG. 2E, a first metal film 7 is formed on the entire surface of the insulating layer 3 and the via hole 4. It is preferable that the first metal film 7 is sufficiently formed with respect to the entire surface of the insulating layer 3 and the via hole 4 so that the insulating layer 3 is not exposed and has a small thickness. For example, examples of the method for forming the first metal film 7 include electroless plating and sputtering. The first metal film 7 is preferably copper because it needs to be easily etched and conductive in a later step.

次に、図2(f)に示されるように、第一金属皮膜7の表面のうち、ビア穴4を覆うように第一レジスト被膜8を形成する。第一レジスト被膜8としては、図2(g)に示されるように、第一金属皮膜7を薄化する除去液(エッチング液)に耐えられるものであれば特に限定されるものではなく、例えば、液状の感光性樹脂又はシート状の感光性フィルム等が挙げられる。   Next, as shown in FIG. 2 (f), a first resist film 8 is formed so as to cover the via hole 4 in the surface of the first metal film 7. As shown in FIG. 2G, the first resist film 8 is not particularly limited as long as it can withstand a removing liquid (etching liquid) for thinning the first metal film 7, for example, And a liquid photosensitive resin or a sheet-like photosensitive film.

次に、図2(g)に示されるように、露出する第一金属皮膜7をエッチングによって絶縁層3が露出しないように薄化して第一薄化金属皮膜9を形成する。第一金属皮膜7をエッチングして第一薄化金属皮膜9を形成する方法としては、第一金属皮膜7を溶解可能な溶液に浸漬する方法等が挙げられる。具体的には、例えば、スプレー噴射や浸漬をして、過酸化水素/硫酸系などの水溶液を、第一金属皮膜7に接触させる方法が挙げられる。   Next, as shown in FIG. 2G, the exposed first metal film 7 is thinned by etching so that the insulating layer 3 is not exposed to form a first thinned metal film 9. Examples of the method of forming the first thin metal film 9 by etching the first metal film 7 include a method of immersing the first metal film 7 in a solution that can be dissolved. Specifically, for example, there is a method in which an aqueous solution such as hydrogen peroxide / sulfuric acid is brought into contact with the first metal film 7 by spraying or dipping.

次に、図2(h)に示されるように、第一レジスト被膜8を除去する。第一レジスト被膜8を除去する除去液としては、例えば、アルカリ又は溶剤型の剥離液等が挙げられる。   Next, as shown in FIG. 2H, the first resist film 8 is removed. Examples of the removing solution for removing the first resist film 8 include alkali or solvent-type stripping solutions.

次に、図3(i)に示されるように、第一金属皮膜7および第一薄化金属皮膜9の表面のうち、回路およびビア11の形成を予定している部分を除く部分に第二レジスト被膜10を形成する。   Next, as shown in FIG. 3 (i), the surface of the first metal film 7 and the first thinned metal film 9 except for the part where the circuit and via 11 are scheduled to be formed A resist film 10 is formed.

第二レジスト被膜10としては、図3(j)に示されるように第二金属皮膜12を形成するめっき液に耐え、このめっきを行ったときに、表面に第二金属皮膜12が形成されにくいものであれば特に限定されるものではなく、例えば、液状の感光性樹脂又はシート状の感光性フィルム等が挙げられる。   As shown in FIG. 3 (j), the second resist film 10 can withstand a plating solution for forming the second metal film 12, and when this plating is performed, the second metal film 12 is hardly formed on the surface. If it is a thing, it will not specifically limit, For example, a liquid photosensitive resin or a sheet-like photosensitive film etc. are mentioned.

次に、図3(j)に示されるように、第一金属皮膜7および第一薄化金属皮膜9が露出する部分の表面に、第二金属皮膜12を形成する。第二金属皮膜12の形成方法としては、例えば、電解めっき、無電界めっき等が挙げられる。なお、第二金属皮膜12の厚みは、第二レジスト被膜10の厚みより薄くする必要がある。これは、図1(k)のように第二レジスト被膜10を除去する際に、第二金属皮膜12の厚みより第二レジスト被膜10の厚みが厚いと第二レジスト被膜10が除去されにくいためである。   Next, as shown in FIG. 3J, the second metal film 12 is formed on the surface of the portion where the first metal film 7 and the first thinned metal film 9 are exposed. Examples of the method for forming the second metal film 12 include electrolytic plating and electroless plating. The thickness of the second metal film 12 needs to be smaller than the thickness of the second resist film 10. This is because, when the second resist film 10 is removed as shown in FIG. 1 (k), if the second resist film 10 is thicker than the second metal film 12, the second resist film 10 is difficult to remove. It is.

次に、図3(k)に示されるように、第二レジスト被膜10を除去する。第二レジスト被膜10を除去する除去液としては、例えば、アルカリ又は溶剤型の剥離液等が挙げられる。   Next, as shown in FIG. 3K, the second resist film 10 is removed. Examples of the removing solution for removing the second resist film 10 include alkali or solvent-type stripping solutions.

次に、図4(l)に示されるように、第一薄化金属皮膜9の不要部をエッチング除去する。この第一薄化金属皮膜9をエッチングして不要部を除去する方法としては、例えば、第一薄化金属皮膜9を溶解可能な溶液に浸漬する方法等が挙げられる。具体的には、例えば、スプレー噴射や浸漬をして、過酸化水素/硫酸系などの水溶液を、第一薄化金属皮膜9に接触させる方法が挙げられる。   Next, as shown in FIG. 4L, unnecessary portions of the first thin metal film 9 are removed by etching. Examples of the method for removing the unnecessary portion by etching the first thinned metal film 9 include a method of immersing the first thinned metal film 9 in a solution that can be dissolved. Specifically, for example, there is a method in which an aqueous solution such as hydrogen peroxide / sulfuric acid is brought into contact with the first thin metal film 9 by spraying or dipping.

次に、図4(m)に示されるように、絶縁層3の表面に残留するめっき触媒2を除去する。絶縁層3の表面に残留するめっき触媒6を除去すると、回路間の絶縁性が向上するため、特に信頼性が優れたプリント配線板となり好ましい。絶縁層3の表面に残留するめっき触媒6を除去する方法としては、例えば、めっき触媒6を溶解可能な溶液に浸漬して除去する方法等が挙げられる。具体的には、例えば、スプレー噴射や浸漬をして、過マンガン酸カリウム溶液又は過マンガン酸ナトリウム溶液を、絶縁層3に接触させる方法が挙げられる。
上記の各工程を経て、本発明に係るプリント配線板が得られる(図4(m)参照)。
Next, as shown in FIG. 4M, the plating catalyst 2 remaining on the surface of the insulating layer 3 is removed. If the plating catalyst 6 remaining on the surface of the insulating layer 3 is removed, the insulation between the circuits is improved, so that a printed wiring board having particularly high reliability is preferable. Examples of the method for removing the plating catalyst 6 remaining on the surface of the insulating layer 3 include a method of removing the plating catalyst 6 by immersing it in a solution that can be dissolved. Specifically, for example, there is a method of bringing the potassium permanganate solution or the sodium permanganate solution into contact with the insulating layer 3 by spraying or dipping.
Through the above steps, the printed wiring board according to the present invention is obtained (see FIG. 4M).

なお、上記実施形態に係るプリント配線板の製造方法では、ビア穴4に形成する第一金属皮膜7を覆うように第一レジスト皮膜8を形成して、ビア穴4以外の絶縁層3に形成する第一金属被膜7をエッチングすることにより、ビア穴4以外の絶縁層3に形成する第一金属被膜7をビア穴4に形成する第一金属皮膜7よりも薄くして第一薄化金属皮膜9を形成したが、他の実施形態では以下のようにしてもよい。
例えば、ビア穴4に形成する第一金属皮膜7およびビア穴4周辺(近傍)に形成する第一金属皮膜7を覆うように第一レジスト皮膜8を形成して、ビア穴4およびビア穴4周辺以外の絶縁層3に形成する第一金属被膜7をエッチングすることにより、ビア穴4およびビア穴4周辺以外の絶縁層3に形成する第一金属被膜7を、ビア穴4およびビア穴4周辺の絶縁層3に形成する第一金属皮膜7よりも薄くして第一薄化金属皮膜9を形成してもよい。
In the printed wiring board manufacturing method according to the above embodiment, the first resist film 8 is formed so as to cover the first metal film 7 formed in the via hole 4, and is formed on the insulating layer 3 other than the via hole 4. The first metal film 7 formed on the insulating layer 3 other than the via hole 4 is made thinner than the first metal film 7 formed on the via hole 4 by etching the first metal film 7 to be formed. Although the film 9 is formed, it may be as follows in other embodiments.
For example, the first resist film 8 is formed so as to cover the first metal film 7 formed in the via hole 4 and the first metal film 7 formed around (in the vicinity of) the via hole 4, and the via hole 4 and the via hole 4 are formed. The first metal film 7 formed on the insulating layer 3 other than the periphery is etched to form the first metal film 7 formed on the insulating layer 3 other than the via hole 4 and the periphery of the via hole 4. The first thin metal film 9 may be formed thinner than the first metal film 7 formed on the peripheral insulating layer 3.

<実施例1>
以下、本発明の実施例について、図面を参照しつつ説明する。
まず、図1(a)に示されるように、絶縁基板1上に第一配線層2を形成し、形成した第一配線層2および絶縁基板1上にフィルム状の絶縁樹脂をラミネートして35um厚の絶縁樹脂層(絶縁層)3を形成した。次に、図1(b)に示されるように、絶縁樹脂層3にUVレーザにてφ40umのビア穴4を形成した。次に、図1(c)に示されるように、過マンガン酸カリウム溶液でスミア5を除去した。次に、図1(d)に示されるように無電解めっき触媒6を付与した。次に、図2(e)に示されるように、無電解銅めっきにて無電解銅めっき層(第一金属皮膜)7を2.0umの厚さに形成した。次に、図2(f)に示されるように、無電解銅めっき層7の表面に25um厚のドライフィルムレジストを被覆し、露光、現像により、ビア穴4を覆うようにφ60umのレジストパターン(第一レジスト皮膜)8を形成した。次に、図2(g)に示されるように、形成したレジストパターン8に覆われていない無電解銅めっき層7を過酸化水素/硫酸系エッチング液を用いて0.4umに薄化した。次に、図2(h)に示されるように、レジストパターン8を剥離した。次に、図3(i)に示されるように、薄化した無電解銅めっき層(第一薄化金属皮膜)9の表面に25um厚のドライフィルムレジストを被覆し、露光、現像により、ライン/スペースが10/10umのレジストパターン(第二レジスト皮膜)10を形成した。次に、図1(j)に示されるように、硫酸銅浴を用いて電解銅めっきを施し、厚さが15umの電解銅めっき層(第二金属皮膜)12を形成して配線パターンおよびビア11を形成した。次に、図3(k)に示されるように、レジストパターン10を剥離し、図4(l)に示されるように、過酸化水素/硫酸系エッチング液を用い、薄化した無電解銅めっき層9をエッチング除去した。次に、図4(m)に示されるように、過マンガン酸カリウム溶液で無電解めっき触媒6を除去した。
上記の各工程を経て、実施例1に係るプリント配線板が得られた(図4(m)参照)。
<Example 1>
Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.
First, as shown in FIG. 1A, a first wiring layer 2 is formed on an insulating substrate 1, and a film-like insulating resin is laminated on the formed first wiring layer 2 and the insulating substrate 1 to obtain 35 um. A thick insulating resin layer (insulating layer) 3 was formed. Next, as shown in FIG. 1B, a via hole 4 having a diameter of 40 μm was formed in the insulating resin layer 3 with a UV laser. Next, as shown in FIG. 1C, the smear 5 was removed with a potassium permanganate solution. Next, an electroless plating catalyst 6 was applied as shown in FIG. Next, as shown in FIG. 2E, an electroless copper plating layer (first metal film) 7 was formed to a thickness of 2.0 μm by electroless copper plating. Next, as shown in FIG. 2 (f), a surface of the electroless copper plating layer 7 is covered with a dry film resist having a thickness of 25 μm, and a resist pattern (φ60 μm is formed so as to cover the via hole 4 by exposure and development. First resist film 8) was formed. Next, as shown in FIG. 2G, the electroless copper plating layer 7 not covered with the formed resist pattern 8 was thinned to 0.4 μm using a hydrogen peroxide / sulfuric acid based etching solution. Next, as shown in FIG. 2H, the resist pattern 8 was peeled off. Next, as shown in FIG. 3 (i), the surface of the thinned electroless copper plating layer (first thinned metal film) 9 is covered with a dry film resist having a thickness of 25 μm, and the line is formed by exposure and development. A resist pattern (second resist film) 10 having a space of 10/10 μm was formed. Next, as shown in FIG. 1 (j), electrolytic copper plating is performed using a copper sulfate bath to form an electrolytic copper plating layer (second metal film) 12 having a thickness of 15 μm, thereby forming wiring patterns and vias. 11 was formed. Next, as shown in FIG. 3 (k), the resist pattern 10 is stripped, and as shown in FIG. 4 (l), a thinned electroless copper plating is performed using a hydrogen peroxide / sulfuric acid-based etching solution. Layer 9 was etched away. Next, as shown in FIG. 4 (m), the electroless plating catalyst 6 was removed with a potassium permanganate solution.
Through the above steps, a printed wiring board according to Example 1 was obtained (see FIG. 4M).

<比較例1>
次に、比較例について、図面を参照しつつ説明する。
まず、図5(c)に示されるように、第一配線層26を形成した。次に、図6(d)に示されるように、形成した第一配線層26および基板21上にフィルム状の絶縁樹脂をラミネートして35um厚の絶縁樹脂層28を形成し、絶縁樹脂層28にUVレーザにてφ40umのビア穴29を形成した。過マンガン酸カリウム溶液でスミアを除去し、無電解めっき触媒を付与した。図6(e)に示されるように、無電解銅めっきにて無電解銅めっき層30を1.0umの厚さに形成し、無電解銅めっき層30の表面に25um厚のドライフィルムレジストを被覆し、露光、現像により、ライン/スペースが10/10μmのレジストパターン31を形成した。次に、硫酸銅浴を用いて電解銅めっきを施し、厚さが15μmの電解銅めっき層32を形成して配線パターンおよびビア33を形成した。次に、図6(f)に示されるように、レジストパターン31を剥離した。そして、過酸化水素/硫酸系エッチング液を用いて、露出している無電解銅めっき層30をエッチング除去した。次に、過マンガン酸カリウム溶液で無電解めっき触媒を除去した。
上記の各工程を経て、比較例1に係るプリント配線板が得られた(図6(f)参照)。
<Comparative Example 1>
Next, a comparative example will be described with reference to the drawings.
First, as shown in FIG. 5C, the first wiring layer 26 was formed. Next, as shown in FIG. 6D, a film-like insulating resin is laminated on the formed first wiring layer 26 and substrate 21 to form an insulating resin layer 28 having a thickness of 35 μm. A via hole 29 having a diameter of 40 μm was formed on the substrate with a UV laser. Smear was removed with a potassium permanganate solution, and an electroless plating catalyst was applied. As shown in FIG. 6E, the electroless copper plating layer 30 is formed to a thickness of 1.0 μm by electroless copper plating, and a 25 μm thick dry film resist is formed on the surface of the electroless copper plating layer 30. The resist pattern 31 having a line / space of 10/10 μm was formed by coating, exposure and development. Next, electrolytic copper plating was performed using a copper sulfate bath, an electrolytic copper plating layer 32 having a thickness of 15 μm was formed, and a wiring pattern and a via 33 were formed. Next, as shown in FIG. 6F, the resist pattern 31 was peeled off. Then, the exposed electroless copper plating layer 30 was removed by etching using a hydrogen peroxide / sulfuric acid based etching solution. Next, the electroless plating catalyst was removed with a potassium permanganate solution.
Through the above steps, a printed wiring board according to Comparative Example 1 was obtained (see FIG. 6F).

実施例1および比較例1で得られた配線パターンの断面を確認した。比較例1の配線パターンのトップ径の細りが1.2um程度であったのに対し、実施例1の配線パターンのトップ径の細りは0.5um程度であった。この結果から、配線パターンの無電解銅めっき層7を薄化することによってサイドエッチングによる回路細りを低減できていることが確認できた。   The cross sections of the wiring patterns obtained in Example 1 and Comparative Example 1 were confirmed. While the thinning of the top diameter of the wiring pattern of Comparative Example 1 was about 1.2 μm, the thinning of the top diameter of the wiring pattern of Example 1 was about 0.5 μm. From this result, it was confirmed that the circuit thinning due to the side etching could be reduced by thinning the electroless copper plating layer 7 of the wiring pattern.

実施例1および比較例1で得られたプリント配線板において、熱サイクル(1000回)試験を行い、ビア接続界面のクラックの発生数を確認した。比較例1のビアのクラック発生数が6(観察数15)であったのに対し、実施例1のビアのクラック発生数が0(観察数15)であった。この結果から、ビア穴への良好なつきまわりでの電解銅めっき層を形成することによってビア接続界面のクラックの発生を低減できていることが確認できた。   The printed wiring boards obtained in Example 1 and Comparative Example 1 were subjected to a thermal cycle (1000 times) test to confirm the number of cracks generated at the via connection interface. The number of via cracks in Comparative Example 1 was 6 (15 observations), whereas the number of via cracks in Example 1 was 0 (15 observations). From this result, it was confirmed that the generation of cracks at the via connection interface could be reduced by forming an electrolytic copper plating layer around the via hole.

本発明を用いれば、電気特性の低下およびイオン残渣による信頼性低下を抑えるとともに、層間の電気的接続信頼性の確保が可能なプリント配線板およびその製造方法の提供が可能となる。   By using the present invention, it is possible to provide a printed wiring board and a method for manufacturing the printed wiring board capable of suppressing deterioration in electrical characteristics and reliability due to ion residues and ensuring electrical connection reliability between layers.

1・・・絶縁基板
2・・・第一配線層
3・・・絶縁層
4・・・ビア穴
5・・・スミア
6・・・めっき触媒
7・・・第一金属皮膜
8・・・第一レジスト皮膜
9・・・第一薄化金属皮膜
10・・・第二レジスト皮膜
11・・・ビア
12・・・第二金属皮膜
21・・・両面銅張基板
22・・・貫通孔
23・・・電解銅めっき
24・・・孔埋めインク
25・・・レジストパターン
26・・・第一配線層
27・・・コア層
28・・・絶縁層
29・・・ビア穴
30・・・無電解銅めっき
31・・・レジストパターン
32・・・電解銅めっき
33・・・ビア
34・・・第二配線層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Insulating substrate 2 ... 1st wiring layer 3 ... Insulating layer 4 ... Via hole 5 ... Smear 6 ... Plating catalyst 7 ... 1st metal film 8 ... 1st 1 resist film 9 ... first thin metal film 10 ... second resist film 11 ... via 12 ... second metal film 21 ... double-sided copper-clad substrate 22 ... through hole 23 .... Electrolytic copper plating 24 ... Hole filling ink 25 ... Resist pattern 26 ... First wiring layer 27 ... Core layer 28 ... Insulating layer 29 ... Via hole 30 ... Electroless Copper plating 31 ... resist pattern 32 ... electrolytic copper plating 33 ... via 34 ... second wiring layer

Claims (4)

絶縁基板上に複数の配線層が絶縁層を介して形成されており、前記配線層間がフィルドビアにて電気的に接続されてなる多層プリント配線板の製造方法であって、
絶縁層にビア穴を形成する工程と、
前記絶縁層の表面全体および前記ビア穴に第一金属皮膜を形成する工程と、
前記第一金属皮膜上にレジスト皮膜を形成する工程と、
前記レジスト皮膜を露光、現像する工程と、
前記レジスト皮膜の現像後に露出する第一金属皮膜上に第二金属皮膜を形成する工程と、
前記レジスト皮膜を除去する工程と、
前記レジスト皮膜の除去後に露出する第一金属皮膜を除去する工程とを備え、
さらに、前記第一金属皮膜を形成する工程と前記レジスト皮膜を形成する工程との間に、前記ビア穴に形成する第一金属皮膜を覆うようにレジスト皮膜を形成し、前記ビア穴以外の絶縁層に形成する第一金属被膜をエッチングする工程を備えることにより、前記ビア穴以外の絶縁層に形成する第一金属被膜を、前記ビア穴に形成する第一金属皮膜よりも薄くすることを特徴とするプリント配線板の製造方法。
A method for manufacturing a multilayer printed wiring board, wherein a plurality of wiring layers are formed on an insulating substrate via an insulating layer, and the wiring layers are electrically connected by filled vias,
Forming a via hole in the insulating layer;
Forming a first metal film on the entire surface of the insulating layer and the via hole;
Forming a resist film on the first metal film;
Exposing and developing the resist film; and
Forming a second metal film on the first metal film exposed after development of the resist film;
Removing the resist film;
A step of removing the first metal film exposed after the removal of the resist film,
Furthermore, a resist film is formed so as to cover the first metal film formed in the via hole between the step of forming the first metal film and the step of forming the resist film, and insulation other than the via hole Etching the first metal film formed on the layer, whereby the first metal film formed on the insulating layer other than the via hole is made thinner than the first metal film formed on the via hole. A method for manufacturing a printed wiring board.
スルーホールが形成されたコア基板の両面に複数の配線層が絶縁層を介して形成されており、前記配線層間がフィルドビアにて電気的に接続されてなる多層ビルドアップ配線板の製造方法であって、
前記絶縁層にビア穴を形成する工程と、
前記絶縁層の表面全体および前記ビア穴に第一金属皮膜を形成する工程と、
前記第一金属皮膜上にレジスト皮膜を形成する工程と、
前記レジスト皮膜を露光、現像する工程と、
前記レジスト皮膜の現像後に露出する第一金属皮膜上に第二金属皮膜を形成する工程と、
前記レジスト皮膜を除去する工程と、
前記レジスト皮膜の除去後に露出する第一金属皮膜を除去する工程とを備え、
さらに、前記第一金属皮膜を形成する工程と前記レジスト皮膜を形成する工程との間に、前記ビア穴に形成する第一金属皮膜を覆うようにレジスト皮膜を形成し、前記ビア穴以外の絶縁層に形成する第一金属被膜をエッチングする工程を備えることにより、前記ビア穴以外の絶縁層に形成する第一金属被膜を、前記ビア穴に形成する第一金属皮膜よりも薄くすることを特徴とするプリント配線板の製造方法。
A method for manufacturing a multilayer build-up wiring board in which a plurality of wiring layers are formed on both surfaces of a core substrate in which through holes are formed via insulating layers, and the wiring layers are electrically connected by filled vias. And
Forming a via hole in the insulating layer;
Forming a first metal film on the entire surface of the insulating layer and the via hole;
Forming a resist film on the first metal film;
Exposing and developing the resist film; and
Forming a second metal film on the first metal film exposed after development of the resist film;
Removing the resist film;
A step of removing the first metal film exposed after the removal of the resist film,
Furthermore, a resist film is formed so as to cover the first metal film formed in the via hole between the step of forming the first metal film and the step of forming the resist film, and insulation other than the via hole Etching the first metal film formed on the layer, whereby the first metal film formed on the insulating layer other than the via hole is made thinner than the first metal film formed on the via hole. A method for manufacturing a printed wiring board.
絶縁基板上に複数の配線層が絶縁層を介して形成されており、前記配線層間がフィルドビアにて電気的に接続されてなる多層プリント配線板であって、
ビア穴が形成された前記絶縁層と、
前記絶縁層の表面および前記ビア穴に形成された第一金属皮膜と、
前記第一金属皮膜上に形成された第二金属皮膜とを備え、
前記ビア穴以外の絶縁層に形成された前記第一金属被膜が、前記ビア穴に形成された第一金属皮膜よりも薄いことを特徴とするプリント配線板。
A multilayer printed wiring board in which a plurality of wiring layers are formed on an insulating substrate via an insulating layer, and the wiring layers are electrically connected by filled vias,
The insulating layer in which via holes are formed;
A first metal film formed on the surface of the insulating layer and the via hole;
A second metal film formed on the first metal film;
The printed wiring board, wherein the first metal film formed on the insulating layer other than the via hole is thinner than the first metal film formed on the via hole.
スルーホールが形成されたコア基板の両面に複数の配線層が絶縁層を介して形成されており、前記配線層間がフィルドビアにて電気的に接続されてなる多層ビルドアップ配線板であって、
ビア穴が形成された前記絶縁層と、
前記絶縁層の表面および前記ビア穴に形成された第一金属皮膜と、
前記第一金属皮膜上に形成された第二金属皮膜とを備え、
前記ビア穴以外の絶縁層に形成された前記第一金属被膜が、前記ビア穴に形成された第一金属皮膜よりも薄いことを特徴とするプリント配線板。
A multilayer build-up wiring board in which a plurality of wiring layers are formed via insulating layers on both surfaces of a core substrate in which through holes are formed, and the wiring layers are electrically connected by filled vias,
The insulating layer in which via holes are formed;
A first metal film formed on the surface of the insulating layer and the via hole;
A second metal film formed on the first metal film;
The printed wiring board, wherein the first metal film formed on the insulating layer other than the via hole is thinner than the first metal film formed on the via hole.
JP2012071718A 2012-03-27 2012-03-27 Printed wiring board and manufacturing method thereof Pending JP2013206958A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012071718A JP2013206958A (en) 2012-03-27 2012-03-27 Printed wiring board and manufacturing method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012071718A JP2013206958A (en) 2012-03-27 2012-03-27 Printed wiring board and manufacturing method thereof

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2013206958A true JP2013206958A (en) 2013-10-07

Family

ID=49525786

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012071718A Pending JP2013206958A (en) 2012-03-27 2012-03-27 Printed wiring board and manufacturing method thereof

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2013206958A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170037319A (en) * 2015-09-25 2017-04-04 삼성전기주식회사 Printed circuit board and method for manufacturing the same

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11238970A (en) * 1998-02-19 1999-08-31 Mitsubishi Electric Corp Multilayered printed board and manufacture thereof
JP2003209361A (en) * 2002-01-17 2003-07-25 Victor Co Of Japan Ltd Manufacturing method for printed board
JP2003332739A (en) * 2002-05-14 2003-11-21 Ibiden Co Ltd Multilayered printed wiring board and method of manufacturing multilayered printed wiring board
JP2007173371A (en) * 2005-12-20 2007-07-05 Shinko Electric Ind Co Ltd Method of manufacturing flexible wiring board and method of manufacturing electronic component mounting structure

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH11238970A (en) * 1998-02-19 1999-08-31 Mitsubishi Electric Corp Multilayered printed board and manufacture thereof
JP2003209361A (en) * 2002-01-17 2003-07-25 Victor Co Of Japan Ltd Manufacturing method for printed board
JP2003332739A (en) * 2002-05-14 2003-11-21 Ibiden Co Ltd Multilayered printed wiring board and method of manufacturing multilayered printed wiring board
JP2007173371A (en) * 2005-12-20 2007-07-05 Shinko Electric Ind Co Ltd Method of manufacturing flexible wiring board and method of manufacturing electronic component mounting structure

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20170037319A (en) * 2015-09-25 2017-04-04 삼성전기주식회사 Printed circuit board and method for manufacturing the same
KR102538900B1 (en) * 2015-09-25 2023-06-01 삼성전기주식회사 Printed circuit board and method for manufacturing the same

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6068123B2 (en) Printed wiring board manufacturing method and printed wiring board manufactured by the method
JP5254775B2 (en) Wiring board manufacturing method
JP2006093650A (en) Manufacturing method of package substrate using electroless nickel plating
JP2005322868A (en) Method for electrolytic gold plating of printed circuit board
JP2009283739A (en) Wiring substrate and production method thereof
JP2008060504A (en) Method of manufacturing double-sided flexible printed wiring board
JP2018098424A (en) Wiring board, multilayer wiring board, and manufacturing method of wiring board
CN114928945B (en) Manufacturing process of superfine circuit printed circuit board
TW202211739A (en) Method for manufacturing printed wiring board
CN108353510B (en) Multilayer printed wiring board and method for manufacturing same
JP6065357B2 (en) Method for manufacturing printed wiring board
JP2009099964A (en) Method of manufacturing wiring board
JP4730222B2 (en) Wiring board manufacturing method
JP2013162007A (en) Production method of fine wiring pattern
JP2013206958A (en) Printed wiring board and manufacturing method thereof
JP2010205801A (en) Method of manufacturing wiring board
JPH05327224A (en) Manufacture of multilayer wiring board and multi-layer wiring board manufactured by the manufacture
JP2010016061A (en) Printed wiring board, and manufacturing method therefor
JP6098118B2 (en) Multilayer printed wiring board and manufacturing method thereof
KR101555014B1 (en) Printed circuit board for forming fine wiring and method for manufacturing the same
JP2009177152A (en) Method of manufacturing wiring substrate
JPH10335785A (en) Circuit formation method
JP2016012634A (en) Multilayer printed wiring board and manufacturing method thereof
JP2013008945A (en) Manufacturing method of coreless substrate
JP2015070029A (en) Method for manufacturing printed wiring board, and printed wiring board

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20150219

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20151120

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20151201

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20160127

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20160531