JPH11251752A - Multilayered printed wiring board - Google Patents

Multilayered printed wiring board

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JPH11251752A
JPH11251752A JP10367908A JP36790898A JPH11251752A JP H11251752 A JPH11251752 A JP H11251752A JP 10367908 A JP10367908 A JP 10367908A JP 36790898 A JP36790898 A JP 36790898A JP H11251752 A JPH11251752 A JP H11251752A
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via hole
wiring board
printed wiring
solder
multilayer printed
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Seiji Shirai
誠二 白井
Kenichi Shimada
憲一 島田
Motoo Asai
元雄 浅井
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Ibiden Co Ltd
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Ibiden Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multilayered printed wiring board in which the reliability of connection of solder bump is excellent. SOLUTION: The opening 62 of an interlayer resin insulation layer 60 on the outermost layer is filled with plating and a via hole 70 is formed, and the surface of the via hole 70 is formed high the same as a conductor circuit 72 in which a solder bump is formed. Therefore, the same quantity of solder paste is printed on the via hole 70 and conductor circuit 72 so as to make a solder bump 88U to be formed in the via hole 70 to be high the same as a solder bump 88U to be formed in the conductor circuit 72. Thus, the reliability of connection between the solder pad of an IC chip and solder bump 88U of the multilayered printed wiring board 10 can be improved at the time of mounting the IC chip.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、表面に半田バン
プの配設される多層プリント配線板に関するものであ
る。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer printed wiring board having solder bumps on its surface.

【0002】[0002]

【従来の技術】パッケージ基板等のプリント配線板の表
面には、載置されるICチップ等の電子部品と電気的に
接続を取るために、半田バンプと呼ばれる半田の球状突
起が配設される。この半田バンプは、基板表面の導体回
路上に形成される他、集積度を高める等の目的から、バ
イアホールに直接形成されることがある。このバイアホ
ールに半田バンプを形成する技術が、特開平8−335
781号に開示されている。
2. Description of the Related Art On a surface of a printed wiring board such as a package board, a spherical projection of solder called a solder bump is provided for electrically connecting to an electronic component such as an IC chip to be mounted. . The solder bump may be formed directly on the via hole for the purpose of increasing the degree of integration, in addition to being formed on the conductor circuit on the substrate surface. A technique for forming a solder bump in this via hole is disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 8-335.
No. 781.

【0003】このプリント配線板への半田バンプの形成
について、図10を参照して説明する。図10(A)
は、従来技術に係る多層プリント配線板310の断面を
示している。該多層プリント配線板は、コア基板130
の上層及び下層に複数の層間樹脂絶縁層140,160
を介在させて導体回路134,152、172を形成し
てなる。最外層の層間樹脂絶縁層160には、バイアホ
ール用の開口部162が穿設され、該開口部162に
は、銅メッキからなるバイアホール170が形成されて
いる。そして、該バイアホール170によって層間樹脂
絶縁層160の下層の導体回路152との接続が取られ
ている。最外層の層間樹脂絶縁層160には、所定径の
開口181の穿設されためっきレジスト180が形成さ
れている。
The formation of solder bumps on a printed wiring board will be described with reference to FIG. FIG. 10 (A)
Shows a cross section of a multilayer printed wiring board 310 according to the related art. The multilayer printed wiring board includes a core substrate 130.
A plurality of interlayer resin insulation layers 140 and 160
Are formed to form conductor circuits 134, 152, and 172. An opening 162 for a via hole is formed in the outermost interlayer resin insulating layer 160, and a via hole 170 made of copper plating is formed in the opening 162. The via hole 170 connects to the conductor circuit 152 under the interlayer resin insulation layer 160. In the outermost interlayer resin insulating layer 160, a plating resist 180 having an opening 181 having a predetermined diameter is formed.

【0004】ここで、該多層プリント配線板310に半
田バンプを形成する際には、図10(B)に示すよう
に、多層プリント配線板310にメタルマスク198を
載置し、めっきレジスト180の各開口181、18
1、181に半田ペーストを印刷する。ここで、該メタ
ルマスク198には、めっきレジスト180の開口18
1の各位置に対応させて、開口198a、198bが形
成されている。ここで、バイアホール170に対応させ
た開口198bは、相対的に大径に形成され、反対に、
導体回路172に対応させた開口198aは、相対的に
小径に形成されている。これにより、バイアホール17
0側へより多くの半田ペーストを印刷できるようにして
ある。
When forming solder bumps on the multilayer printed wiring board 310, a metal mask 198 is placed on the multilayer printed wiring board 310 as shown in FIG. Each opening 181, 18
1, 181 is printed with a solder paste. Here, the metal mask 198 has openings 18 of the plating resist 180.
Openings 198a, 198b are formed corresponding to the respective positions of No. 1. Here, the opening 198b corresponding to the via hole 170 is formed to have a relatively large diameter.
The opening 198a corresponding to the conductor circuit 172 has a relatively small diameter. Thereby, the via hole 17
More solder paste can be printed on the 0 side.

【0005】半田ペーストを印刷した後、加熱炉に多層
プリント配線板310を通過させることにより、半田ペ
ーストをリフローし、図10(C)に示すように半田バ
ンプ188を完成させる。その後、リフロー時に半田か
ら流れ出したフラックスを洗浄する。そして、図10
(D)に示すように多層プリント配線板310にICチ
ップ190を、該ICチップ190の半田パッド192
が多層プリント配線板310側の半田バンプ188と対
応するように載置し、加熱炉を通過させることで該半田
パッド188を溶融し、多層プリント配線板310とI
Cチップ190との電気接続を取る。その後、リフロー
時に半田から流れ出したフラックスを洗浄する。
After the solder paste is printed, the solder paste is reflowed by passing the multilayer printed wiring board 310 through a heating furnace to complete the solder bumps 188 as shown in FIG. Thereafter, the flux that has flowed out of the solder during reflow is washed. And FIG.
As shown in (D), the IC chip 190 is mounted on the multilayer printed wiring board 310 and the solder pads 192 of the IC chip 190 are provided.
Are placed so as to correspond to the solder bumps 188 on the multilayer printed wiring board 310 side, and the solder pads 188 are melted by passing through a heating furnace.
An electrical connection with the C chip 190 is established. Thereafter, the flux that has flowed out of the solder during reflow is washed.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た多層プリント配線板においては、ICチップとの接続
が適正に取れないことがあった。即ち、図10(C)に
示すように凹状のバイアホール170上に形成される半
田バンプ188の高さh1と、平板状の導体回路172
上に形成される半田バンプ188の高さh2とを同一に
することが困難なため、図10(D)に示すように、多
層プリント配線板310側の半田パッド188のいずれ
かがICチップ190側の半田パッド192と適切に接
続できないことがあった。
However, in the above-mentioned multilayer printed wiring board, the connection with the IC chip may not be properly established. That is, as shown in FIG. 10C, the height h1 of the solder bump 188 formed on the concave via hole 170 and the flat conductor circuit 172
Since it is difficult to make the height h2 of the solder bumps 188 formed thereon the same, as shown in FIG. 10D, one of the solder pads 188 on the side of the multilayer printed wiring board 310 is connected to the IC chip 190. In some cases, connection with the solder pad 192 on the side cannot be performed properly.

【0007】また、図10(B)を参照して上述したよ
うにメタルマスクは、径の異なる開口198a、198
bを、めっきレジスト180の開口181の各位置に対
応させて穿設する必要があるため、調整が困難であっ
た。更に、上述したように半田バンプを形成するために
半田をリフローした後、及び、該半田バンプとICチッ
プの半田パッドとの接続をリフローにより行った後に、
半田から出たフラックスを洗浄する必要がある。しか
し、バイアホール170内へ半田を充填させているた
め、半田の量が増大し滲み出るフラックスの量が多くな
り、完全に洗浄することが難かった。このため、清浄後
もフラックスが残留し、配線の短絡等の原因となること
があった。また更に、上記リフローの際に、多層プリン
ト配線板310に反りが発生し、ICチップ90との間
の実装信頼性が低下することがあった。
As described above with reference to FIG. 10B, the metal mask has openings 198a and 198 having different diameters.
Since it is necessary to perforate b in correspondence with each position of the opening 181 of the plating resist 180, the adjustment is difficult. Further, after reflowing the solder to form the solder bumps as described above, and after performing the connection between the solder bumps and the solder pads of the IC chip by reflow,
It is necessary to clean the flux from the solder. However, since the via holes 170 are filled with solder, the amount of solder increases and the amount of flux that seeps out increases, making it difficult to completely clean. For this reason, the flux may remain even after cleaning, which may cause a short circuit of the wiring. Furthermore, during the reflow, the multilayer printed wiring board 310 may be warped, and the mounting reliability with the IC chip 90 may be reduced.

【0008】本発明は、上述した課題を解決するために
なされたものであり、その目的とするところは、半田バ
ンプの接続信頼性に優れた多層プリント配線板を提供す
ることにある。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to provide a multilayer printed wiring board having excellent solder bump connection reliability.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】上述した目的を達成する
ため本発明は、層間樹脂絶縁層と導体回路とを交互に積
層してなる多層プリント配線板において、最外層の層間
樹脂絶縁層上に配設された導体回路上に形成された半田
バンプと、該最外層の層間樹脂絶縁層に穿設された開口
部に金属が充填されて成るバイアホール上に形成された
半田バンプと、を備えることを技術的特徴とする。
According to the present invention, there is provided a multilayer printed wiring board comprising an interlayer resin insulation layer and a conductor circuit alternately laminated on an outermost interlayer resin insulation layer. And a solder bump formed on a via hole formed by filling a metal in an opening formed in the outermost interlayer resin insulating layer, and a solder bump formed on the arranged conductor circuit. This is a technical feature.

【0010】本発明においては、開口部に金属(めっ
き)を充填することで、バイアホールの表面の高さを、
半田バンプの形成される導体回路の高さと等しくしてあ
る。従って、バイアホールと導体回路とに同量の半田ペ
ーストを印刷することで、当該バイアホールに形成され
る半田バンプと、導体回路に形成される半田バンプとの
高さを等しくすることができる。このため、半田バンプ
の接続信頼性を高めることができる。
In the present invention, the height of the surface of the via hole is reduced by filling the opening with metal (plating).
The height is set equal to the height of the conductor circuit on which the solder bumps are formed. Therefore, by printing the same amount of solder paste on the via hole and the conductor circuit, the height of the solder bump formed on the via hole and the height of the solder bump formed on the conductor circuit can be made equal. Therefore, the connection reliability of the solder bumps can be improved.

【0011】上述した目的を達成するため本発明は、層
間樹脂絶縁層と導体回路とを交互に積層してなる多層プ
リント配線板において、層間樹脂絶縁層に穿設された開
口部に金属が充填されて成るバイアホール上に半田バン
プが形成されてなることを特徴とする多層プリント配線
板。
According to the present invention, there is provided a multilayer printed wiring board comprising an interlayer resin insulating layer and a conductive circuit alternately stacked, wherein metal is filled in an opening formed in the interlayer resin insulating layer. A multilayer printed wiring board characterized in that a solder bump is formed on a via hole formed as described above.

【0012】本発明においては、開口部に金属を充填す
ることで、バイアホールの表面の高さを全て等しくして
ある。従って、半田ペーストを印刷することで、当該バ
イアホールに形成される半田バンプの高さを全て等しく
することができる。このため、半田バンプの接続信頼性
を高めることができる。
In the present invention, the openings are filled with metal so that the heights of the surfaces of the via holes are all equal. Therefore, by printing the solder paste, the heights of the solder bumps formed in the via holes can all be made equal. Therefore, the connection reliability of the solder bumps can be improved.

【0013】本発明の好適な態様において、バイアホー
ルの中央部に窪みが形成されているため、バイアホール
と半田バンプとを強固に接続し、半田バンプの接続信頼
性を高めることができる。このような窪みとしては、導
体回路の厚み範囲(即ち、窪みが開口部に達しない範
囲)であることが望ましく、具体的には、0.5〜30
μmである。
In a preferred aspect of the present invention, since the recess is formed at the center of the via hole, the via hole and the solder bump can be firmly connected, and the connection reliability of the solder bump can be improved. Such a depression is desirably in the thickness range of the conductor circuit (that is, the range in which the depression does not reach the opening), and specifically, 0.5 to 30.
μm.

【0014】本発明の好適な態様においては、層間樹脂
絶縁層の開口部の側面が粗化処理されているため、該開
口部内に形成されるバイアホールとの密着性を高めるこ
とができる。
In a preferred aspect of the present invention, since the side surface of the opening of the interlayer resin insulating layer is roughened, the adhesion to the via hole formed in the opening can be improved.

【0015】本発明の好適な態様においては、バイアホ
ール及び導体回路の表面が粗化処理されているため、該
バイアホール及び導体回路の上に形成さた半田バンプと
の間の密着性を高めることができる。
In a preferred aspect of the present invention, since the surfaces of the via hole and the conductor circuit are roughened, the adhesion between the via hole and the solder bump formed on the conductor circuit is improved. be able to.

【0016】本発明の好適な態様においては、めっきを
充填してなるバイアホール表面に、貴金属を介して半田
バンプが形成されているため、銅等からなるバイアホー
ル表面と半田バンプとの間に、酸化被膜が形成されず、
バイアホールと半田バンプとの密着性を高めることがで
きる。
In a preferred aspect of the present invention, since a solder bump is formed via a noble metal on the surface of the via hole filled with plating, the surface of the via hole made of copper or the like and the solder bump are interposed. , No oxide film is formed,
The adhesion between the via hole and the solder bump can be improved.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】本発明の第1実施形態に係る多層
プリント配線板の構成について図6(U)及び図7を参
照して説明する。図7は、多層プリント配線板の断面を
示し、図6(U)は、該多層プリント配線板10にIC
チップ90を取り付け、マザーボード95側に載置した
状態を示している。図6(U)中に示す多層プリント配
線板10は、上面にICチップ90のバンプ92側に接
続するための半田バンプ88Uが設けられ、下面側にマ
ザーボード95のバンプ96に接続するための半田バン
プ88Dが配設され、該ICチップ90−マザーボード
95間の信号等の受け渡しの役割を果たすパッケージ基
板として構成されている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The structure of a multilayer printed wiring board according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 7 shows a cross section of the multilayer printed wiring board, and FIG.
This shows a state where the chip 90 is attached and mounted on the motherboard 95 side. The multilayer printed wiring board 10 shown in FIG. 6 (U) is provided with solder bumps 88U for connection to the bumps 92 of the IC chip 90 on the upper surface and solder for connection to the bumps 96 of the motherboard 95 on the lower surface. The bumps 88D are provided, and are configured as a package substrate that serves to transfer signals and the like between the IC chip 90 and the motherboard 95.

【0018】図7に示すように多層プリント配線板10
のコア基板30の上面側上層及び下面側上層(ここで、
上層とは基板30を中心として上面については上側を、
基板の下面については下側を意味する)には、グランド
層となる内層銅パターン34、34が形成されている。
また、内層銅パターン34の上層には、下層層間樹脂絶
縁層40を介在させて信号線を形成する導体回路52、
又、該層間樹脂絶縁層40を貫通して下層バイアホール
50が形成されている。下層バイアホール50及び導体
回路52の上層には、最外層層間樹脂絶縁層60を介し
て最外層の導体回路72、及び該最外層層間樹脂絶縁層
60に形成された開口部62に銅めっきを充填してなる
上層バイアホール70が形成されている。
As shown in FIG. 7, the multilayer printed wiring board 10
The upper surface side upper layer and the lower surface side upper layer (here,
The upper layer is the upper side of the upper surface with the substrate 30 as the center,
On the lower surface of the substrate, which means the lower side, inner-layer copper patterns 34 serving as ground layers are formed.
On the upper layer of the inner layer copper pattern 34, a conductor circuit 52 for forming a signal line with a lower interlayer resin insulation layer 40 interposed therebetween,
Further, a lower via hole 50 is formed penetrating through the interlayer resin insulating layer 40. In the upper layer of the lower via hole 50 and the conductor circuit 52, copper plating is applied to the outermost conductor circuit 72 and the opening 62 formed in the outermost interlayer resin insulation layer 60 via the outermost interlayer resin insulation layer 60. The filled upper via hole 70 is formed.

【0019】上面側の該導体回路72、上層バイアホー
ル70には、半田バンプ88Uを支持する半田パッド8
6Uが形成されている。ここで、ICチップ側の半田パ
ッド86Uは、直径133μmに形成されている。他
方、下面側の該導体回路72、上層バイアホール(図示
せず)には半田バンプ88Dを支持する半田パッド86
Dが形成されている。ここで、マザーボード側の半田パ
ッド86Dは、直径600μmに形成されている。該半
田バンプ88U、88Dは、ソルダーレジスト80の開
口(パット部)81に形成されている。
On the upper surface side of the conductor circuit 72 and the upper via hole 70, a solder pad 8 supporting a solder bump 88U is provided.
6U are formed. Here, the solder pad 86U on the IC chip side is formed to have a diameter of 133 μm. On the other hand, a solder pad 86 supporting a solder bump 88D is provided in the conductor circuit 72 on the lower surface side and the upper via hole (not shown).
D is formed. Here, the solder pad 86D on the motherboard side is formed to have a diameter of 600 μm. The solder bumps 88 </ b> U and 88 </ b> D are formed in openings (pad portions) 81 of the solder resist 80.

【0020】第1実施形態の多層プリント配線板におい
ては、最外層の層間樹脂絶縁層60の開口部62にめっ
きが充填されバイアホール70が形成されている。この
ためバイアホール70が、図10(A)を参照して上述
した従来技術に係る多層プリント配線板の凹状バイアホ
ール170と異なり、表面の高さが、半田バンプの形成
される導体回路72の高さと等しくなっている。このた
め、後述するようにバイアホール70と導体回路72と
に同量の半田ペーストを印刷することで、当該バイアホ
ール70に形成される半田バンプ88Uと、導体回路7
2に形成される半田バンプ88Uとの高さを等しくする
ことができる。このため、図6(U)に示すように、I
Cチップ90を載置する際に、該ICチップの半田パッ
ド92と、多層プリント配線板10の半田バンプ88U
との接続信頼性を高めることができる。
In the multilayer printed wiring board of the first embodiment, plating is filled in the opening 62 of the outermost interlayer resin insulation layer 60 to form the via hole 70. For this reason, the via hole 70 differs from the concave via hole 170 of the multilayer printed wiring board according to the prior art described above with reference to FIG. It is equal to the height. Therefore, by printing the same amount of solder paste on the via hole 70 and the conductor circuit 72 as described later, the solder bump 88U formed in the via hole 70 and the conductor circuit 7
2 can be made equal in height to the solder bump 88U. For this reason, as shown in FIG.
When placing the C chip 90, the solder pads 92 of the IC chip and the solder bumps 88U of the multilayer printed wiring board 10
Connection reliability can be improved.

【0021】更に、バイアホール70の中央部に深さ1
0μmの窪み70aが形成されているため、バイアホー
ル70と半田バンプ88Uとの接続信頼性を高めること
ができる。特に、該窪み70aの曲面に対して垂直に粗
化層78が設けられているため、ICチップ90の温度
上昇に伴う、バイアホール70と半田バンプ88との間
に加わる応力に対して両者を強固に接続し、バイアホー
ル70と半田バンプ88Uとの接続信頼性を高めること
ができる。ここで、窪み70aの深さは、上層層間樹脂
絶縁層60に穿設された開口部62には至らず、導体回
路の厚さ範囲である。従って、0.5〜15μmの範囲
である。一方、最外層層間樹脂絶縁層60の開口部62
の側面62aは、図中に示すように粗化処理されている
ため、該開口部62内に形成されるバイアホール70と
の密着性を高めることができる。
Further, a depth of 1 is provided at the center of the via hole 70.
Since the recess 70a of 0 μm is formed, the connection reliability between the via hole 70 and the solder bump 88U can be improved. In particular, since the roughening layer 78 is provided perpendicularly to the curved surface of the recess 70a, the roughening layer 78 is protected from the stress applied between the via hole 70 and the solder bump 88 due to the temperature rise of the IC chip 90. The connection can be made firmly, and the connection reliability between the via hole 70 and the solder bump 88U can be improved. Here, the depth of the recess 70a does not reach the opening 62 formed in the upper interlayer resin insulation layer 60, and is within the thickness range of the conductor circuit. Therefore, it is in the range of 0.5 to 15 μm. On the other hand, the opening 62 of the outermost interlayer resin insulation layer 60 is formed.
Since the side surface 62a is roughened as shown in the figure, the adhesion to the via hole 70 formed in the opening 62 can be improved.

【0022】銅からなるバイアホール70と、該バイア
ホール70の形成された樹脂からなる最外層層間樹脂絶
縁層60との間には、両者の熱膨張率の違いから熱収縮
の際に大きな応力が加わる。このため、該多層プリント
配線板10においては、最外層層間樹脂絶縁層60に、
靱性の高い熱可塑性樹脂と熱硬化性樹脂の複合体を用い
ることで、該応力によるクラックの発生を防止してい
る。ここでは、熱可塑性樹脂と熱硬化性樹脂の複合体を
用いているが、この代わりに靱性の高いフッ素樹脂等の
熱可塑性樹脂を主に用いて最外層層間樹脂絶縁層60を
形成することも可能である。
Due to the difference in the coefficient of thermal expansion between the via hole 70 made of copper and the outermost interlayer resin insulating layer 60 made of the resin in which the via hole 70 is formed, a large stress is applied during thermal contraction. Is added. For this reason, in the multilayer printed wiring board 10, the outermost interlayer resin insulation layer 60
By using a composite of a thermoplastic resin and a thermosetting resin having high toughness, generation of cracks due to the stress is prevented. Here, a composite of a thermoplastic resin and a thermosetting resin is used. Alternatively, the outermost interlayer resin insulation layer 60 may be formed mainly by using a thermoplastic resin such as a fluororesin having high toughness. It is possible.

【0023】更に、導体回路72の表面は粗化処理さ
れ、粗化層78が形成されているため、導体回路72上
に形成される半田バンプ88Uとの間の密着性を高める
ことができる。また、銅めっきを充填してなるバイアホ
ール70及び銅めっきがら成る導体回路72の表面に、
ニッケルめっき層82及び金めっき層(貴金属層)84
を形成し、該金めっき層84を介して半田バンプ88U
が形成されているため、銅等からなるバイアホール7
0、導体回路72表面と半田バンプ88Uとの間に、酸
化被膜が形成されず、バイアホール及び導体回路と半田
バンプとの密着性を高めることができる。更に、ソルダ
ーレジスト80は、バイアホール70及び導体回路72
を、半田パッド86U形成部を除き覆っているため、該
ソルダーレジスト80がバイアホール70及び導体回路
72を保護し、基板全体の強度を高めている。なお、上
述した説明では、多層プリント配線板10の上面側の半
田バンプ88Uについて説明したが、下側の半田バンプ
88Dについても、同様に形成されている。
Further, since the surface of the conductor circuit 72 is roughened and the roughened layer 78 is formed, the adhesion between the conductor circuit 72 and the solder bump 88U formed on the conductor circuit 72 can be improved. Further, on the surfaces of via holes 70 filled with copper plating and conductive circuits 72 formed of copper plating,
Nickel plating layer 82 and gold plating layer (noble metal layer) 84
Is formed, and the solder bump 88U is formed via the gold plating layer 84.
Is formed, the via hole 7 made of copper or the like is formed.
0, no oxide film is formed between the surface of the conductor circuit 72 and the solder bump 88U, and the adhesion between the via hole and the conductor circuit and the solder bump can be improved. Further, the solder resist 80 includes the via hole 70 and the conductor circuit 72.
, Except for the portion where the solder pad 86U is formed, the solder resist 80 protects the via hole 70 and the conductor circuit 72, and increases the strength of the entire substrate. In the above description, the solder bump 88U on the upper surface side of the multilayer printed wiring board 10 has been described, but the solder bump 88D on the lower side is similarly formed.

【0024】引き続き、図7に示すパッケージ基板の製
造工程について図1〜図6を参照して説明する。 (1)厚さ1mmのBT(ビスマレイミドトリアジン)
樹脂またはガラスエポキシ樹脂からなるコア基板30の
両面に18μmの銅箔32がラミネートされている銅張
積層板30Aを出発材料とする(図1(A)参照)。ま
ず、この銅張積層板30Aをパターン状にエッチングす
ることにより、基板30の両面に内層銅パターン(導体
回路)34を形成する(図1(B)参照)。
Next, a manufacturing process of the package substrate shown in FIG. 7 will be described with reference to FIGS. (1) 1 mm thick BT (bismaleimide triazine)
A starting material is a copper-clad laminate 30A in which 18 μm copper foils 32 are laminated on both sides of a core substrate 30 made of resin or glass epoxy resin (see FIG. 1A). First, an inner layer copper pattern (conductor circuit) 34 is formed on both surfaces of the substrate 30 by etching the copper-clad laminate 30A into a pattern (see FIG. 1B).

【0025】さらに、内層銅パターン34を形成した基
板30を、水洗いして乾燥した後、硫酸銅8g/l、硫
酸ニッケル0.6g/l、クエン酸15g/l、次亜リ
ン酸ナトリウム29g/l、ホウ酸31g/l、界面活
性剤0.1g/lからなるpH=9の無電解めっき液に
浸漬し、該内層銅パターン34の表面に厚さ3μmの銅
−ニッケル−リンからなる粗化層38を形成する(図1
(C)参照)。その基板30を水洗いし、0.1mol
/lホウふっ化スズ−1.0mol/lチオ尿素液から
なる無電解スズ置換めっき浴に50℃で1時間浸漬し、
粗化層表面に0.3μmのスズ層(図示せず)を設け
る。
Further, after the substrate 30 on which the inner layer copper pattern 34 is formed is washed with water and dried, copper sulfate 8 g / l, nickel sulfate 0.6 g / l, citric acid 15 g / l, sodium hypophosphite 29 g / l l, boric acid 31 g / l, surfactant 0.1 g / l, immersed in an electroless plating solution having a pH of 9 and the surface of the inner layer copper pattern 34 was made of copper-nickel-phosphorus having a thickness of 3 μm. Formation of the oxide layer 38 (FIG. 1)
(C)). The substrate 30 is washed with water, and 0.1 mol
/ L tin borofluoride-1.0 mol / l immersion in an electroless tin displacement plating bath consisting of a thiourea solution at 50 ° C for 1 hour,
A 0.3 μm tin layer (not shown) is provided on the surface of the roughened layer.

【0026】(2)ここで、層間樹脂絶縁層を形成する
無電解めっき用接着剤を用意する。ここでは、 クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製:
分子量2500)の25%アクリル化物を35重量部
(固形分80%)、感光性モノマー(東亜合成製:商品
名アロニックスM315)4重量部、消泡剤(サンノプ
コ製 S−65)0.5重量部、NMPを3.6重量部
を撹拌混合する。 熱可塑性樹脂としてポリエーテルスルフォン(PE
S)8重量部、熱硬化性樹脂としてエポキシ樹脂粒子
(三洋化成製商品名 ポリマーポール)の平均粒径0.
5μmのものを7.245重量部、を混合した後、さら
にNMP20重量部を添加し撹拌混合する。 イミダゾール硬化剤(四国化成製:商品名2E4MZ
−CN)2重量部、光開始剤(チバガイギー製イルガキ
ュア −907)2重量部、光増感剤(日本化薬製:
DETX−S)0.2重量部、NMP1.5重量部を撹
拌混合する。 からを混合撹拌して無電解めっき用接着剤を得る。
(2) Here, an adhesive for electroless plating for forming an interlayer resin insulating layer is prepared. Here, cresol novolak type epoxy resin (Nippon Kayaku:
35 parts by weight (solid content: 80%) of a 25% acrylate having a molecular weight of 2500), 4 parts by weight of a photosensitive monomer (trade name: Aronix M315, manufactured by Toagosei Co., Ltd.), 0.5 parts by weight of an antifoaming agent (S-65, manufactured by San Nopco) And 3.6 parts by weight of NMP. Polyether sulfone (PE) as thermoplastic resin
S) 8 parts by weight, an average particle diameter of epoxy resin particles (manufactured by Sanyo Kasei Co., Ltd., polymer pole) as a thermosetting resin.
After mixing 7.245 parts by weight of a 5 μm one, 20 parts by weight of NMP is further added and stirred and mixed. Imidazole curing agent (Shikoku Chemicals: trade name 2E4MZ
-CN) 2 parts by weight, photoinitiator (Irgacure-907 manufactured by Ciba Geigy) 2 parts by weight, photosensitizer (Nippon Kayaku:
0.2 parts by weight of DETX-S) and 1.5 parts by weight of NMP are stirred and mixed. Are mixed and stirred to obtain an adhesive for electroless plating.

【0027】(3)(1)の無電解めっき用接着剤を
(2)の基板30にロールコ一夕で塗布し、水平状態で
20分間放置してから、60℃で30分の乾燥(プリベ
ーク)を行い、層間樹脂絶縁層40を形成する(図1
(D)参照)。
(3) The adhesive for electroless plating of (1) is applied to the substrate 30 of (2) with a roll coater, left in a horizontal state for 20 minutes, and then dried at 60 ° C. for 30 minutes (prebaked). ) To form an interlayer resin insulation layer 40 (FIG. 1).
(D)).

【0028】下層層間樹脂絶縁層40を形成した基板3
0の両面に、所定径の黒円が印刷されたフォトマスクフ
ィルムを密着させ、超高圧水銀灯により500mJ/c
2で露光する。これをDMDG溶液でスプレー現像
し、さらに、当該基板を超高圧水銀灯により3000m
J/cm2 で露光し、100℃で1時間、その後150
℃で5時間の加熱処理(ポストベーク)をすることによ
り、フォトマスクフィルムに相当する寸法精度に優れた
60μmφの開口(バイアホール形成用開口部42:底
部61μm、上部67μm)を有する厚さ20μmの層
間樹脂絶縁層40を形成する(図2(E)参照)。
Substrate 3 on which lower interlayer resin insulation layer 40 is formed
A photomask film on which black circles of a predetermined diameter are printed is adhered to both sides of the photomask, and 500 mJ / c by an ultra-high pressure mercury lamp.
Exposure at m 2 . This was spray-developed with a DMDG solution, and the substrate was 3,000 m long using an ultra-high pressure mercury lamp.
Exposure at J / cm 2 , 1 hour at 100 ° C., then 150
By performing a heat treatment (post-baking) at 5 ° C. for 5 hours, a thickness of 20 μm having a 60 μmφ opening (via hole forming opening 42: bottom 61 μm, top 67 μm) having excellent dimensional accuracy equivalent to a photomask film Is formed (see FIG. 2E).

【0029】(4)開口部42が形成された基板30
を、クロム酸に2分間浸漬し、層間樹脂絶縁層40の表
面のエポキシ樹脂粒子を溶解除去することにより、該層
間樹脂絶縁層40の表面に深さ4μm粗化面を形成す
る。この粗化面は、開口部42内部の側面42aに対し
ても同様に形成される(図2(F)参照)。その後、中
和溶液(シプレイ社製)に浸漬してから水洗いする。さ
らに、粗面化処理した該基板の表面に、パラジウム触媒
(アトテック製)を付与することにより、層間樹脂絶縁
層40の表面およびバイアホール用開口部42の内壁面
に触媒核を付ける。
(4) Substrate 30 with Opening 42 Formed
Is immersed in chromic acid for 2 minutes to dissolve and remove the epoxy resin particles on the surface of the interlayer resin insulating layer 40, thereby forming a roughened surface having a depth of 4 μm on the surface of the interlayer resin insulating layer 40. This roughened surface is similarly formed on the side surface 42a inside the opening 42 (see FIG. 2F). Then, it is immersed in a neutralizing solution (manufactured by Shipley) and then washed with water. Further, by applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the surface of the surface-roughened substrate, a catalyst nucleus is attached to the surface of the interlayer resin insulating layer 40 and the inner wall surface of the via hole opening 42.

【0030】(5)以下の組成の無電解銅めっき浴中に
基板を浸漬して、粗面全体に厚さ0.6μmの無電解銅
めっき膜44を形成する(図2(G)参照)。 〔無電解めっき液〕 EDTA 150 g/l 硫酸銅 20 g/l HCHO 30ml/l NaOH 40 g/l α、α’−ビピリジル 80 mg/l PEG 0.1g/l
(5) The substrate is immersed in an electroless copper plating bath having the following composition to form an electroless copper plating film 44 having a thickness of 0.6 μm on the entire rough surface (see FIG. 2 (G)). . [Electroless plating solution] EDTA 150 g / l Copper sulfate 20 g / l HCHO 30 ml / l NaOH 40 g / l α, α'-bipyridyl 80 mg / l PEG 0.1 g / l

【0031】(6)上記(5)で形成した無電解銅めっ
き膜44上に市販の感光性ドライフィルムを張り付け、
マスクを載置して、100mJ/cm2 で露光、0.8
%炭酸ナトリウムで現像処理し、厚さ15μmで、L/
S=25/25μmのめっきレジスト46を設ける(図
2(H)参照)。
(6) A commercially available photosensitive dry film is stuck on the electroless copper plating film 44 formed in (5) above,
Place a mask and expose at 100 mJ / cm 2 , 0.8
% Sodium carbonate, with a thickness of 15 μm, L /
A plating resist 46 of S = 25/25 μm is provided (see FIG. 2H).

【0032】(7)ついで、レジスト非形成部分に以下
の条件で電解銅めっきを施し、厚さ20μmの電解銅め
っき膜48を析出し、該めっき膜により開口部42内を
充填する(図3(I)参照)。 液条件:硫酸銅・5水和物 60g/l 硫酸 190g/l 塩素イオン 40ppm レベリング剤(アトテック製 HL)40ml/l 光沢剤 (アトテック製 UV)0.5ml/l 操作条件:バブリング 3.00l/分 電流密度 0.5A/dm2 設定電流値 0.18A めっき時間100分 この実施形態では、めっきにより充填を行ったが、めっ
きの代わりに、導電性ペーストを充填することもでき
る。導電性ペーストとしては、タッタ電線製DDペース
ト(AE16001)などが挙げられる。
(7) Next, electrolytic copper plating is applied to the non-resist-forming portion under the following conditions to deposit an electrolytic copper plating film 48 having a thickness of 20 μm, and the opening 42 is filled with the plating film (FIG. 3). (I)). Liquid condition: Copper sulfate pentahydrate 60 g / l Sulfuric acid 190 g / l Chloride ion 40 ppm Leveling agent (HL manufactured by Atotech) 40 ml / l Brightener (UV manufactured by Atotech) 0.5 ml / l Operating condition: Bubbling 3.00 l / Min Current density 0.5 A / dm 2 Set current value 0.18 A Plating time 100 minutes In this embodiment, filling is performed by plating. However, instead of plating, conductive paste can be filled. Examples of the conductive paste include DD paste (AE16001) manufactured by Tatta Electric Wire.

【0033】(8)めっきレジスト46を5%KOHで
剥離除去した後、そのめっきレジスト46下の無電解め
っき膜44を硫酸と過酸化水素の混合液でエッチング処
理して溶解除去し、無電解めっき膜44と電解銅めっき
膜48からなる厚さ約15μmの導体回路52及びバイ
アホール50を形成する(図3(J)参照)。
(8) After stripping and removing the plating resist 46 with 5% KOH, the electroless plating film 44 under the plating resist 46 is dissolved and removed by etching with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide. A conductor circuit 52 and a via hole 50 each having a thickness of about 15 μm and including a plating film 44 and an electrolytic copper plating film 48 are formed (see FIG. 3 (J)).

【0034】(9)引き続き、基板30の導体回路52
及びバイアホール50に対して、上記(2)と同様にし
て粗化層58を形成する(図3(K)参照)。
(9) Subsequently, the conductor circuit 52 of the substrate 30
Then, a roughened layer 58 is formed in the via hole 50 in the same manner as in the above (2) (see FIG. 3K).

【0035】(10)上記(2)〜(8)の工程を繰り
返すことにより、さらに上層の導体回路を形成する。即
ち、基板30の両面に、無電解めっき用接着剤を塗布
し、水平状態で放置してから乾燥を行い、その後、フォ
トマスクフィルムを密着させ、露光・現像し、バイアホ
ール形成用開口62を有する厚さ20μmの層間樹脂絶
縁層60を形成する(図3(L)参照)。次に、該層間
樹脂絶縁層60の表面及び開口部62の側面62aを粗
面とした後、該粗面化処理した該基板30の表面に、無
電解銅めっき膜64を形成する(図4(M)参照)。引
き続き、無電解銅めっき膜64上にめっきレジスト66
を設けた後、レジスト非形成部分に電解銅めっき膜68
を形成する(図4(N)参照)。そして、めっきレジス
ト66を剥離除去した後、そのめっきレジスト66下の
無電解めっき膜64を溶解除去し上層バイアホール70
及び導体回路72を形成する(図4(O)参照)。本実
施形態の製造方法では、バイアホール70を形成する部
位の電解銅めっき68の中央部に窪み70aができるよ
うに電解めっきを行う。さらに、該上層バイアホール7
0及び導体回路72の表面に粗化層78を形成し、パッ
ケージ基板を完成する(図5(P)参照)。ここで、粗
化層78は、バイアホール70の中央の窪み70aの曲
面に対しては、該曲面に垂直に形成される。
(10) By repeating the above steps (2) to (8), a conductor circuit in a further upper layer is formed. That is, an adhesive for electroless plating is applied to both surfaces of the substrate 30, dried in a state of being left in a horizontal state, and then a photomask film is brought into close contact, exposed and developed, and the opening 62 for forming a via hole is formed. Then, an interlayer resin insulating layer 60 having a thickness of 20 μm is formed (see FIG. 3L). Next, after roughening the surface of the interlayer resin insulating layer 60 and the side surface 62a of the opening 62, an electroless copper plating film 64 is formed on the surface of the substrate 30 subjected to the roughening treatment. (M)). Subsequently, a plating resist 66 is formed on the electroless copper plating film 64.
Is provided, the electrolytic copper plating film 68
Is formed (see FIG. 4 (N)). Then, after the plating resist 66 is peeled off, the electroless plating film 64 under the plating resist 66 is dissolved and removed, and the upper via hole 70 is removed.
Then, a conductor circuit 72 is formed (see FIG. 4 (O)). In the manufacturing method according to the present embodiment, electrolytic plating is performed so that a depression 70 a is formed in the center of the electrolytic copper plating 68 at a position where the via hole 70 is formed. Further, the upper via hole 7
The roughened layer 78 is formed on the surface of the conductive circuit 72 and the conductor circuit 72 to complete the package substrate (see FIG. 5 (P)). Here, the roughened layer 78 is formed perpendicular to the curved surface of the central recess 70 a of the via hole 70.

【0036】なお、本実施形態では、バイアホール径
(開口部62の開口径:67μm)と最外層の層層間樹
脂絶縁層60の厚み(20μm)との比が、3.35に
設定してある。ここで、バイアホール径と層層間樹脂絶
縁層の厚みとの比が1以下では、上記めっき工程におい
て、開口部62の開口径に対して深みが深過ぎて、めっ
き液が該開口部62内に十分に回り込めず、効率的にめ
っきを行い得ない。他方、バイアホール径:層層間樹脂
絶縁層の厚みの比が4を越えると、バイアホールを形成
する開口部の開口径が深みに対して広すぎるため、バイ
アホールの中央部に窪みを形成することができない。こ
のため、バイアホール径:層層間樹脂絶縁層の厚みの比
は、1を越え4以下であることが望ましい。
In this embodiment, the ratio between the diameter of the via hole (opening diameter of the opening 62: 67 μm) and the thickness (20 μm) of the outermost interlayer resin insulating layer 60 is set to 3.35. is there. Here, if the ratio between the diameter of the via hole and the thickness of the interlayer resin insulating layer is 1 or less, the plating solution is too deep with respect to the diameter of the opening 62 in the plating step, and the plating solution is And the plating cannot be performed efficiently. On the other hand, when the ratio of the diameter of the via hole to the thickness of the interlayer resin insulating layer exceeds 4, the opening diameter of the opening for forming the via hole is too large with respect to the depth, so that a depression is formed in the center of the via hole. Can not do. Therefore, the ratio of the diameter of the via hole to the thickness of the interlayer resin insulating layer is preferably more than 1 and 4 or less.

【0037】また、導電回路72の厚みは20μm以下
が好適で、40μm以下であることが望ましい。これ
は、導電回路の厚みは、上述しためっきレジスト66の
厚みにより決まるが、該光学的に形成されるめっきレジ
ストの厚みが40μmを越えるようにすると、解像度が
低下して所望の形状が構成し難いからである。
The thickness of the conductive circuit 72 is preferably 20 μm or less, and more preferably 40 μm or less. This is because the thickness of the conductive circuit is determined by the thickness of the plating resist 66 described above. If the thickness of the optically formed plating resist exceeds 40 μm, the resolution is reduced and a desired shape is formed. Because it is difficult.

【0038】(11)引き続き、上述したパッケージ基
板にはんだバンプを形成する。先ず、はんだバンプ用の
ソルダーレジスト組成物の調整について説明する。ここ
では、DMDGに溶解させた80重量%のクレゾールノ
ボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製)のエポキシ基5
0%をアクリル化した感光性付与のオリゴマー(分子量
4000)を46.67g、メチルエチルケトンに溶解
させた80重量%のビスフェノールA型エポキシ樹脂
(油化シェル製、エピコート1001)15.0g、イ
ミダゾール硬化剤(四国化成製、商品名:2E4MZ−
CN)1.6g、感光性モノマーである多価アクリルモ
ノマー(日本化薬製、商品名:R604)3g、同じく
多価アクリルモノマー(共栄社化学製、商品名:DPE
6A)1.5g、分散系消泡剤(サンノプコ社製、商品
名:S−65)0.71gを混合し、さらにこの混合物
に対して光開始剤としてのベンゾフェノン(関東化学
製)を2g、光増感剤としてのミヒラーケトン(関東化
学製)を0.2g加えて、粘度を25℃で2.0Pa・
sに調整したソルダーレジスト組成物を得る。なお、粘
度測定は、B型粘度計(東京計器、DVL−B型)で6
0rpmの場合はローターNo.4、6rpmの場合は
ローターNo.3によった。
(11) Subsequently, solder bumps are formed on the package substrate described above. First, adjustment of the solder resist composition for a solder bump will be described. Here, the epoxy group 5 of an 80% by weight cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku) dissolved in DMDG is used.
46.67 g of a photosensitizing oligomer (molecular weight: 4000) in which 0% was acrylated, 15.0 g of a 80% by weight bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell, Epicoat 1001) dissolved in methyl ethyl ketone, imidazole curing agent (Shikoku Chemicals, product name: 2E4MZ-
CN), 1.6 g, polyvalent acrylic monomer (trade name: R604, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.), which is a photosensitive monomer, and polyvalent acrylic monomer (trade name, manufactured by Kyoeisha Chemical; trade name: DPE)
6A) 1.5 g and 0.71 g of a dispersion antifoaming agent (manufactured by San Nopco, trade name: S-65) were mixed, and 2 g of benzophenone (manufactured by Kanto Chemical) as a photoinitiator was added to the mixture. 0.2 g of Michler's ketone (manufactured by Kanto Chemical Co.) as a photosensitizer was added, and the viscosity was 2.0 Pa ·
s is obtained. The viscosity was measured using a B-type viscometer (Tokyo Keiki, DVL-B type).
In the case of 0 rpm, the rotor No. In the case of 4, 6 rpm, the rotor No. According to 3.

【0039】(12)基板にソルダーレジスト組成物を
20μmの厚さで塗布する。次いで、70℃で20分
間、70℃で30分間の乾燥処理を行った後、1000
mJ/cm2 の紫外線で露光し、DMTG現像処理し、
パッド部81が開口したソルダーレジスト層80を得る
(図5(Q)参照)。パッド部81の開口径は上面側1
33μm、下面側600μmである。
(12) The substrate is coated with a solder resist composition in a thickness of 20 μm. Next, after performing a drying process at 70 ° C. for 20 minutes and at 70 ° C. for 30 minutes,
Exposure to ultraviolet light of mJ / cm 2 , DMTG development processing,
A solder resist layer 80 having an opening in the pad portion 81 is obtained (see FIG. 5 (Q)). The opening diameter of the pad portion 81 is 1 on the upper surface side.
33 μm and 600 μm on the lower surface side.

【0040】(13)次に、ソルダーレジスト層80を
形成した基板30を、塩化ニッケル30g/l、次亜リ
ン酸ナトリウム10g/l、クエン酸ナトリウム10g
/lからなるpH=5の無電解ニッケルめっき液に20
分間浸漬して、パッド部(開口部)81に厚さ5μmの
ニッケルめっき層82を形成する(図5(R)参照)。
さらに、その基板30を、シアン化金カリウム2g/
l、塩化アンモニウム75g/l、クエン酸ナトリウム
50g/l、次亜リン酸ナトリウム10g/lからなる
無電解金めっき液に93℃の条件で23秒間浸漬して、
ニッケルめっき層82上に厚さ0.03μmの金めっき
層84を析出し、上面に直径133μmの半田パッド8
6Uを、下面に直径600μmの半田パッド86Dを形
成する。
(13) Next, the substrate 30 on which the solder resist layer 80 was formed was replaced with 30 g / l of nickel chloride, 10 g / l of sodium hypophosphite, and 10 g of sodium citrate.
/ L of electroless nickel plating solution of pH = 5
Then, a nickel plating layer 82 having a thickness of 5 μm is formed in the pad (opening) 81 (see FIG. 5 (R)).
Further, the substrate 30 was coated with 2 g of potassium gold cyanide /
l, 75 g / l ammonium chloride, 50 g / l sodium citrate, and 10 g / l sodium hypophosphite in an electroless gold plating solution at 93 ° C. for 23 seconds.
A gold plating layer 84 having a thickness of 0.03 μm is deposited on the nickel plating layer 82 and a solder pad 8 having a diameter of 133 μm is formed on the upper surface.
6U, a solder pad 86D having a diameter of 600 μm is formed on the lower surface.

【0041】(14)厚さ40μm、直径160μmの
開口98aを持つメタルマスク98を載置し、ソルダー
レジスト層80の開口部81内の上面側半田パッド86
Uに、平均粒子径20μmの半田ペーストを印刷し(図
6(S)参照)、同様に下面側の半田パッド86Dに半
田ペーストを印刷する。この半田ペーストの印刷工程に
おいて、バイアホール70上も、導体回路72上と同量
の半田ペーストを印刷すればよいため、メタルマスク9
8の開口98aの径を全て等しく形成できる。このた
め、図10(B)を参照して上述した従来技術の多層プ
リント配線板を形成用するための複数種の径の開口19
8a、198bを備えるメタルマスク198と比較し
て、本実施形態のメタルマスク98は容易に形成でき
る。
(14) A metal mask 98 having an opening 98 a having a thickness of 40 μm and a diameter of 160 μm is placed, and an upper surface side solder pad 86 in the opening 81 of the solder resist layer 80 is placed.
A solder paste having an average particle diameter of 20 μm is printed on U (see FIG. 6 (S)), and the solder paste is similarly printed on the solder pad 86D on the lower surface side. In this solder paste printing step, the same amount of solder paste as on the conductor circuit 72 may be printed on the via holes 70, and therefore, the metal mask 9
The diameters of all the eight openings 98a can be made equal. For this reason, openings 19 of a plurality of diameters for forming the multilayer printed wiring board of the prior art described above with reference to FIG.
The metal mask 98 of the present embodiment can be easily formed as compared with the metal mask 198 including 8a and 198b.

【0042】半田ペーストの印刷に続き、基板30を2
00℃で加熱リフローし、上面側半田パッド86Uに直
径133μmの半田バンプ88Uを、下面側半田パッド
86Dに直径600μmの半田バンプ88Dを設け、半
田バンプの形成を完了する(図6(T)参照)。その
後、多層プリント配線板10の表面を、界面活性材溶液
にて洗浄し、上記リフローの際に半田ペーストから染み
出たフラックスを洗い流す。
Following the printing of the solder paste, the substrate 30 was
Heat reflow is performed at 00 ° C. to provide a solder bump 88U having a diameter of 133 μm on the upper surface side solder pad 86U and a solder bump 88D having a diameter of 600 μm on the lower surface side solder pad 86D, thereby completing the formation of the solder bump (see FIG. 6 (T)). ). Thereafter, the surface of the multilayer printed wiring board 10 is washed with a surfactant solution, and the flux that has permeated from the solder paste during the reflow is washed away.

【0043】フラックス洗浄の際に、図10(C)を参
照して上述した従来技術の多層プリント配線板310に
おいては、バイアホール170内へ多くの半田ペースト
を挿入するため、バイアホール170に形成された半田
バンプから出るフラックス量が多く、完全にフラックス
を洗浄することは難しかった。これに対して、本実施形
態の多層プリント配線板10では、バイアホール70上
にも、導体回路72上と同様に少量の半田ペーストしか
印刷していないため、フラックスを完全に洗い流すこと
ができる。
In the conventional multilayer printed wiring board 310 described above with reference to FIG. 10C during flux cleaning, a large amount of solder paste is inserted into the via hole 170 to form the via hole 170. A large amount of flux is emitted from the solder bumps, and it is difficult to completely remove the flux. On the other hand, in the multilayer printed wiring board 10 of the present embodiment, only a small amount of solder paste is printed on the via holes 70 as on the conductor circuit 72, so that the flux can be completely washed away.

【0044】更に、200°Cのリフローの際に、従来
技術の多層プリント配線板310は、大きく反って、I
Cチップの実装精度が低下した。これに対して、本実施
形態の多層プリント配線板10は、リフローの際の反り
が小さくなった。この理由として、従来技術の多層プリ
ント配線板310は、バイアホール170が中空になっ
ているため、該バイアホール自体が変形するのに対し
て、本実施形態では、バイアホール70が銅めっき68
を充填して成るため、バイアホール70自体が熱により
変形することがないためであると推測される。
Further, at the time of reflow at 200 ° C., the multilayer printed wiring board 310 according to the prior art greatly warps,
The mounting accuracy of the C chip has decreased. On the other hand, in the multilayer printed wiring board 10 of the present embodiment, warpage at the time of reflow is reduced. The reason for this is that, in the conventional multilayer printed wiring board 310, the via hole 170 is hollow, and the via hole itself is deformed, whereas in the present embodiment, the via hole 70 is formed of copper plating 68
It is presumed that the via holes 70 themselves are not deformed by heat.

【0045】最後に、該多層プリント配線板10にIC
チップ90を、ICチップ90の半田パッド92が多層
プリント配線板側の半田バンプ88Uに対応するように
載置し、加熱炉でリフローすることにより、多層プリン
ト配線板10へのICチップ90の取り付けを行う(図
6(U)参照)。その後、多層プリント配線板10とI
Cチップ90との間に、界面活性材溶液を注入し、上記
リフローの際に半田ペーストから染み出たフラックスを
洗い流す。
Finally, an IC is mounted on the multilayer printed wiring board 10.
The chip 90 is mounted so that the solder pads 92 of the IC chip 90 correspond to the solder bumps 88U on the multilayer printed wiring board side, and reflowed in a heating furnace to attach the IC chip 90 to the multilayer printed wiring board 10. (See FIG. 6 (U)). Then, the multilayer printed wiring board 10 and I
A surfactant solution is injected into the space between the C chip 90 and the flux that has oozed out of the solder paste during the reflow.

【0046】フラックス洗浄の際に、多層プリント配線
板10とICチップとの間の狭い空間に界面活性剤溶液
を注入しなければならないため、図10(D)を参照し
て上述した従来技術の多層プリント配線板310におい
ては、バイアホール170に形成された半田バンプのフ
ラックスを完全に洗浄することは難しかった。これに対
して、本実施形態の多層プリント配線板10では、バイ
アホール70上にも、導体回路72上と同様に少量の半
田ペーストしか印刷していないため、フラックスを完全
に洗い流すことができる。
In cleaning the flux, a surfactant solution must be injected into a narrow space between the multilayer printed wiring board 10 and the IC chip, so that the prior art described with reference to FIG. In the multilayer printed wiring board 310, it was difficult to completely remove the flux of the solder bumps formed in the via holes 170. On the other hand, in the multilayer printed wiring board 10 of the present embodiment, only a small amount of solder paste is printed on the via holes 70 as on the conductor circuit 72, so that the flux can be completely washed away.

【0047】このリフローの工程の後、該多層プリント
配線板10とICチップとの間の空間に樹脂を注入し
て、当該空間を樹脂封止してから、ICチップ90全体
を樹脂で覆い、樹脂モールドする(図示せず)。その
後、ICチップ90を載置した多層プリント配線板をマ
ザーボード95に取り付ける(図6(U)参照)。
After the reflow process, a resin is injected into the space between the multilayer printed wiring board 10 and the IC chip, the space is sealed with resin, and the entire IC chip 90 is covered with the resin. Perform resin molding (not shown). Thereafter, the multilayer printed wiring board on which the IC chip 90 is mounted is mounted on the motherboard 95 (see FIG. 6 (U)).

【0048】図8は、本発明の第2実施形態に係る多層
プリント配線板110を示している。図7を参照して上
述した第1実施形態の多層プリント配線板においては、
半田バンプの形成される上層バイアホール70のみなら
ず、下層層間樹脂絶縁層40に形成される下層バイアホ
ール40についても銅めっきが充填されていた。これに
対して、第2実施形態の多層プリント配線板において
は、下層バイアホール50は、図10を参照して上述し
た従来技術と同様に、内部に樹脂が充填されている。ま
た、第1実施形態の上層バイアホール70には、中央に
窪み70aが形成されていたのに対して、第2実施形態
の上層バイアホール70の表面は平滑に形成されてい
る。更に、第1実施形態では、上層バイアホール70及
び導体回路72の上面に貴金属層として金めっき層84
が設けられていたのに対して、第2実施形態では、白金
めっき層84が形成されている。この第2実施形態で
も、第1実施形態と同様に、半田バンプ88U、88D
の接続信頼性を高めることができる。
FIG. 8 shows a multilayer printed wiring board 110 according to a second embodiment of the present invention. In the multilayer printed wiring board according to the first embodiment described above with reference to FIG.
Copper plating was filled not only in the upper via holes 70 where the solder bumps are formed but also in the lower via holes 40 formed in the lower interlayer resin insulation layer 40. On the other hand, in the multilayer printed wiring board of the second embodiment, the lower via hole 50 is filled with resin as in the prior art described above with reference to FIG. The upper via hole 70 of the first embodiment has a recess 70a at the center, whereas the upper via hole 70 of the second embodiment has a smooth surface. Further, in the first embodiment, the gold plating layer 84 is formed as a noble metal layer on the upper surface of the upper via hole 70 and the conductor circuit 72.
Whereas, in the second embodiment, a platinum plating layer 84 is formed. Also in the second embodiment, similarly to the first embodiment, the solder bumps 88U, 88D
Connection reliability can be improved.

【0049】図9は、本発明の第3実施形態に係る多層
プリント配線板210を示している。図7を参照して上
述した第1実施形態の多層プリント配線板においては、
導体回路72及び上層バイアホール70に半田バンプ8
8U、88Dが形成されている。これに対して、第3実
施形態の多層プリント配線板では、上層バイアホール7
0に半田バンプ88U、88Dが形成されている。該第
3実施形態の多層プリント配線板210においても、第
1実施形態と同様に上層層間樹脂絶縁層60の開口部6
2の側面62aが粗化処理され、また、バイアホール7
2及び導体回路70の表面が粗化処理されている。更
に、バイアホール72の表面には、ニッケルめっき層8
2及び金めっき層84が形成され、この金めっき層84
の上に半田バンプが形成されている
FIG. 9 shows a multilayer printed wiring board 210 according to a third embodiment of the present invention. In the multilayer printed wiring board according to the first embodiment described above with reference to FIG.
Solder bumps 8 in conductor circuit 72 and upper via hole 70
8U and 88D are formed. On the other hand, in the multilayer printed wiring board of the third embodiment, the upper via hole 7
0 are formed with solder bumps 88U and 88D. Also in the multilayer printed wiring board 210 of the third embodiment, the openings 6 of the upper interlayer resin insulation layer 60 are formed similarly to the first embodiment.
2 is roughened, and the via holes 7
2 and the surface of the conductor circuit 70 are roughened. Further, a nickel plating layer 8 is formed on the surface of the via hole 72.
2 and a gold plating layer 84 are formed.
Solder bumps are formed on the

【0050】この第3実施形態でも、第1実施形態と同
様に、層間樹脂絶縁層60の開口部62に電解銅めっき
膜(金属)68を充填することで、バイアホール70の
表面の高さを全て等しくしてある。従って、半田ペース
トを印刷することで、当該バイアホール70に形成され
る半田バンプ88U、88Dの高さを全て等しくするこ
とができる。このため、半田バンプ88U、88Dの接
続信頼性を高めることが可能となる。
Also in the third embodiment, as in the first embodiment, the opening 62 of the interlayer resin insulating layer 60 is filled with an electrolytic copper plating film (metal) 68 so that the height of the surface of the via hole 70 is increased. Are all equal. Therefore, by printing the solder paste, the heights of the solder bumps 88U and 88D formed in the via hole 70 can all be made equal. Therefore, the connection reliability of the solder bumps 88U and 88D can be improved.

【0051】なお、上述した実施形態では、セミアディ
ティブ法により形成するパッケージ基板を例示したが、
本発明の構成は、フルアディティブ法により形成するパ
ッケージ基板にも適用し得る。また、上述した実施形態
では、多層プリント配線板としてパッケージ基板を例に
挙げたが、本発明の構成をパッケージ基板以外の多層プ
リント配線板に好適に適用し得ることは言うまでもな
い。
In the above-described embodiment, the package substrate formed by the semi-additive method is exemplified.
The structure of the present invention can be applied to a package substrate formed by a full additive method. Further, in the above-described embodiment, the package substrate is taken as an example of the multilayer printed wiring board. However, it goes without saying that the configuration of the present invention can be suitably applied to a multilayer printed wiring board other than the package substrate.

【0052】[0052]

【発明の効果】以上説明したように請求項1の多層プリ
ント配線板において、開口部にめっきを充填すること
で、バイアホールの表面の高さを、半田バンプの形成さ
れる導体回路の高さと等しくしてある。このため、バイ
アホールと導体回路とに同量の半田ペーストを印刷する
ことで、当該バイアホールに形成される半田バンプと、
導体回路に形成される半田バンプとの高さを等しくする
ことができるので、半田バンプの接続信頼性を高めるこ
とが可能となる。
As described above, in the multilayer printed wiring board according to the first aspect, by filling the openings with plating, the height of the surface of the via hole can be reduced to the height of the conductor circuit on which the solder bumps are formed. They are equal. Therefore, by printing the same amount of solder paste on the via hole and the conductor circuit, the solder bump formed in the via hole,
Since the height can be made equal to the height of the solder bump formed on the conductor circuit, the connection reliability of the solder bump can be improved.

【0053】また、請求項2の多層プリント配線板にお
いて、開口部に金属を充填することで、バイアホールの
表面の高さを全て等しくしてある。従って、半田ペース
トを印刷することで、当該バイアホールに形成される半
田バンプの高さを全て等しくすることができる。このた
め、半田バンプの接続信頼性を高めることが可能とな
る。
Further, in the multilayer printed wiring board according to the second aspect, by filling the openings with metal, the heights of the surfaces of the via holes are all equal. Therefore, by printing the solder paste, the heights of the solder bumps formed in the via holes can all be made equal. For this reason, the connection reliability of the solder bumps can be improved.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】図1(A)、図1(B)、図1(C)、図1
(D)は、本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
1 (A), 1 (B), 1 (C), 1
(D) is a figure which shows the manufacturing process of the multilayer printed wiring board which concerns on 1st Embodiment of this invention.

【図2】図2(E)、図2(F)、図2(G)、図2
(H)は、本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 2 (E), FIG. 2 (F), FIG. 2 (G), FIG.
(H) is a figure which shows the manufacturing process of the multilayer printed wiring board which concerns on 1st Embodiment of this invention.

【図3】図3(I)、図3(J)、図3(K)、図3
(L)は、本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 3 (I), FIG. 3 (J), FIG. 3 (K), FIG.
(L) is a figure which shows the manufacturing process of the multilayer printed wiring board which concerns on 1st Embodiment of this invention.

【図4】図4(M)、図4(N)、図4(O)は、本発
明の第1実施形態に係る多層プリント配線板の製造工程
を示す図である。
FIG. 4 (M), FIG. 4 (N), and FIG. 4 (O) are views showing a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図5】図5(P)、図5(Q)、図5(R)は、本発
明の第1実施形態に係る多層プリント配線板の製造工程
を示す図である。
FIG. 5 (P), FIG. 5 (Q), and FIG. 5 (R) are views showing the steps of manufacturing the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図6】図6(S)、図6(T)、図6(U)は、本発
明の第1実施形態に係る多層プリント配線板を示す断面
図である。
FIGS. 6 (S), 6 (T), and 6 (U) are cross-sectional views showing a multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板を示す断面図である。
FIG. 7 is a sectional view showing the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第2実施形態に係る多層プリント配線
板を示す断面図である。
FIG. 8 is a sectional view showing a multilayer printed wiring board according to a second embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第3実施形態に係る多層プリント配線
板を示す断面図である。
FIG. 9 is a sectional view showing a multilayer printed wiring board according to a third embodiment of the present invention.

【図10】図10(A)、図10(B)、図10
(C)、図10(D)は、従来技術に係る多層プリント
配線板の製造工程を示す図である。
10 (A), 10 (B), 10
(C), FIG.10 (D) is a figure which shows the manufacturing process of the multilayer printed wiring board based on a prior art.

【符号の説明】 30 コア基板 40 層間樹脂絶縁層 50バイアホール 52 導体回路 60 最外層層間樹脂絶縁層 62 開口部 62a 側面 68 電解銅めっき膜(金属) 70 上層バイアホール 70a 窪み 72 導体回路 80 ソルダーレジスト層 84 金めっき 86U、86D 半田パッド 88U、88D 半田バンプDESCRIPTION OF SYMBOLS 30 core substrate 40 interlayer resin insulation layer 50 via hole 52 conductor circuit 60 outermost interlayer resin insulation layer 62 opening 62a side surface 68 electrolytic copper plating film (metal) 70 upper layer via hole 70a recess 72 conductor circuit 80 solder Resist layer 84 Gold plating 86U, 86D Solder pad 88U, 88D Solder bump

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 層間樹脂絶縁層と導体回路とを交互に積
層してなる多層プリント配線板において、 最外層の層間樹脂絶縁層上に配設された導体回路上に形
成された半田バンプと、 該最外層の層間樹脂絶縁層に穿設された開口部に金属が
充填されて成るバイアホール上に形成された半田バンプ
と、 を備えることを特徴とする多層プリント配線板。
1. A multilayer printed wiring board in which interlayer resin insulation layers and conductor circuits are alternately laminated, wherein: a solder bump formed on a conductor circuit provided on an outermost interlayer resin insulation layer; And a solder bump formed on a via hole formed by filling a metal in an opening formed in the outermost interlayer resin insulating layer.
【請求項2】 層間樹脂絶縁層と導体回路とを交互に積
層してなる多層プリント配線板において、 層間樹脂絶縁層に穿設された開口部に金属が充填されて
成るバイアホール上に半田バンプが形成されてなること
を特徴とする多層プリント配線板。
2. A multilayer printed wiring board in which interlayer resin insulating layers and conductive circuits are alternately laminated, wherein a solder bump is formed on a via hole formed by filling an opening formed in the interlayer resin insulating layer with metal. The multilayer printed wiring board characterized by being formed.
【請求項3】 前記バイアホールの中央部には、窪みが
形成されていることを特徴とする請求項1又は2に記載
の多層プリント配線板。
3. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein a recess is formed in a central portion of the via hole.
【請求項4】 前記層間樹脂絶縁層の開口部の側面が粗
化処理されていることを特徴とする請求項1〜3のいず
れか1に記載の多層プリント配線板。
4. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein a side surface of the opening of the interlayer resin insulating layer is roughened.
【請求項5】 前記バイアホール及び前記導体回路の表
面が粗化処理されていることを特徴とする請求項1〜4
のいずれか1つに記載の多層プリント配線板。
5. The surface of the via hole and the conductor circuit are roughened.
The multilayer printed wiring board according to any one of the above.
【請求項6】 前記バイアホールの表面には、少なくと
も表面に貴金属層を有する金属層が形成され、この貴金
属の上に半田バンプが形成されていることを特徴とする
請求項1〜4のいずれかに記載の多層プリント配線板。
6. The via hole according to claim 1, wherein a metal layer having a noble metal layer is formed on at least the surface of the via hole, and a solder bump is formed on the noble metal. A multilayer printed wiring board according to any one of the above.
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