JPH11238113A - 画像入力装置 - Google Patents
画像入力装置Info
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- JPH11238113A JPH11238113A JP10038766A JP3876698A JPH11238113A JP H11238113 A JPH11238113 A JP H11238113A JP 10038766 A JP10038766 A JP 10038766A JP 3876698 A JP3876698 A JP 3876698A JP H11238113 A JPH11238113 A JP H11238113A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】読取対象物の搬送速度の変動などによる搬送方
向の画像劣化が生じても、これを高精度に補正し、常に
安定した解像度で高精度の画像を得ることができる画像
入力装置を提供する。 【解決手段】ＴＤＩラインセンサを用いて読取対象物上
の画像データを読取り入力する画像入力装置において、
読取対象物の搬送速度とＴＤＩラインセンサにおける蓄
積電荷のライン間伝送速度のずれにより生じる画像デー
タの画像劣化量を計測し、この計測した画像劣化量に応
じて画像データの画像劣化を補正する。
向の画像劣化が生じても、これを高精度に補正し、常に
安定した解像度で高精度の画像を得ることができる画像
入力装置を提供する。 【解決手段】ＴＤＩラインセンサを用いて読取対象物上
の画像データを読取り入力する画像入力装置において、
読取対象物の搬送速度とＴＤＩラインセンサにおける蓄
積電荷のライン間伝送速度のずれにより生じる画像デー
タの画像劣化量を計測し、この計測した画像劣化量に応
じて画像データの画像劣化を補正する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、たとえば、郵便物
処理装置や半導体ウエハ検査装置などの産業用画像処理
装置で用いられ、特に読取対象物を高速度に読取るため
にＴＤＩ（Time Delay & Integration）方式の光電変換
器（以下、ＴＤＩラインセンサと呼称する）を搭載した
画像入力装置に関する。
処理装置や半導体ウエハ検査装置などの産業用画像処理
装置で用いられ、特に読取対象物を高速度に読取るため
にＴＤＩ（Time Delay & Integration）方式の光電変換
器（以下、ＴＤＩラインセンサと呼称する）を搭載した
画像入力装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】たとえば、郵便物などの読取対象物を搬
送し、その搬送方向と直交する方向に１次元ラインセン
サを配置して、２次元の画像イメージを得る画像入力装
置においては、読取対象物を搬送する搬送手段の搬送速
度が不安定になると、読取対象物に対する主走査方向
（ラインセンサの走査方向）と副走査方向（読取対象物
の搬送方向）の読取密度が異なるという不具合が生じ
る。
送し、その搬送方向と直交する方向に１次元ラインセン
サを配置して、２次元の画像イメージを得る画像入力装
置においては、読取対象物を搬送する搬送手段の搬送速
度が不安定になると、読取対象物に対する主走査方向
（ラインセンサの走査方向）と副走査方向（読取対象物
の搬送方向）の読取密度が異なるという不具合が生じ
る。
【０００３】同様に、光学的な倍率や１ラインの蓄積時
間が不安定な場合も、読取密度が両走査方向で異なって
しまい、装置の精度を低下させる原因となっている。た
だし、郵便物処理装置における郵便番号の読取りや半導
体ウエハ検査装置における欠陥検査などにおいては、検
査対象物の正確な縦横比（アスペクト比）が必ずしも必
要でないため、両走査方向の読取密度の多少の誤差は許
容されるのが一般的である。
間が不安定な場合も、読取密度が両走査方向で異なって
しまい、装置の精度を低下させる原因となっている。た
だし、郵便物処理装置における郵便番号の読取りや半導
体ウエハ検査装置における欠陥検査などにおいては、検
査対象物の正確な縦横比（アスペクト比）が必ずしも必
要でないため、両走査方向の読取密度の多少の誤差は許
容されるのが一般的である。
【０００４】また、読取密度に高精度が求められるデジ
タル複写機などでは、原稿の搬送速度、光学倍率、１ラ
インの蓄積時間のそれぞれがあらかじめ高精度に調整さ
れており、さらに、原稿の搬送速度の経年変化を調べ、
補正するためのＰＬＬ（Phase Lock Loop ）回路を搭載
し、読取密度の精度を維持している。
タル複写機などでは、原稿の搬送速度、光学倍率、１ラ
インの蓄積時間のそれぞれがあらかじめ高精度に調整さ
れており、さらに、原稿の搬送速度の経年変化を調べ、
補正するためのＰＬＬ（Phase Lock Loop ）回路を搭載
し、読取密度の精度を維持している。
【０００５】近年、産業用の画像処理装置の分野では、
処理の高速化と高精細化の要求に伴い、処理対象物を高
精度に読取る手段として、ＴＤＩラインセンサを用いた
画像入力装置が採用され始めている。
処理の高速化と高精細化の要求に伴い、処理対象物を高
精度に読取る手段として、ＴＤＩラインセンサを用いた
画像入力装置が採用され始めている。
【０００６】ＴＤＩラインセンサの動作原理は、周知の
ように、基本的には、１次元ラインセンサを複数ライン
分並行に配列し、その各センサ間で蓄積電荷を転送する
構造になっている。転送された電荷は、転送先である上
段のラインセンサと各点ごと次々に加算されてゆき、最
後に最終段のＣＣＤシフトレジスタに転送された累積電
荷が外部回路に出力される。
ように、基本的には、１次元ラインセンサを複数ライン
分並行に配列し、その各センサ間で蓄積電荷を転送する
構造になっている。転送された電荷は、転送先である上
段のラインセンサと各点ごと次々に加算されてゆき、最
後に最終段のＣＣＤシフトレジスタに転送された累積電
荷が外部回路に出力される。
【０００７】このような動作原理のため、第１に、１ラ
インでは微小な電荷を複数回加算するため、同一の蓄積
時間で数十倍の光量に匹敵するセンサ出力を得ることが
でき、第２に、同一点を複数回加算することによるノイ
ズ低減効果のため、画像信号のＳ／Ｎ比が向上すること
を特徴としている。
インでは微小な電荷を複数回加算するため、同一の蓄積
時間で数十倍の光量に匹敵するセンサ出力を得ることが
でき、第２に、同一点を複数回加算することによるノイ
ズ低減効果のため、画像信号のＳ／Ｎ比が向上すること
を特徴としている。
【０００８】ただし、動作原理から、加算される画像は
常に読取対象物の同一合点（ライン）になるように、電
荷の転送速度と移動物体の移動速度とを同期させる必要
があり、同期がずれると画像劣化を生じるという特徴が
ある。
常に読取対象物の同一合点（ライン）になるように、電
荷の転送速度と移動物体の移動速度とを同期させる必要
があり、同期がずれると画像劣化を生じるという特徴が
ある。
【０００９】このようなＴＤＩラインセンサを実際の画
像入力装置に適用した場合、読取対象物の搬送速度Ｖ
（ｍｍ／ｓｅｃ）、読取密度Ｄ（本／ｍｍ）と電荷蓄積
時間Ｃ（ｓｅｃ）の関係は次式で表わすことができる。
像入力装置に適用した場合、読取対象物の搬送速度Ｖ
（ｍｍ／ｓｅｃ）、読取密度Ｄ（本／ｍｍ）と電荷蓄積
時間Ｃ（ｓｅｃ）の関係は次式で表わすことができる。
【００１０】Ｃ＝１／（Ｖ×Ｄ） すなわち、電荷蓄積時間は、搬送速度と読取密度との積
に反比例し、これら３要素がずれることで画像劣化が生
じる。
に反比例し、これら３要素がずれることで画像劣化が生
じる。
【００１１】このように、ＴＤＩラインセンサを用いた
画像入力装置においては、両走査方向の読取密度の誤差
は致命的であり、ＴＤＩラインセンサ自身の特徴を発揮
できないばかりでなく、画像入力装置全体の精度を著し
く低下させる要因となる。
画像入力装置においては、両走査方向の読取密度の誤差
は致命的であり、ＴＤＩラインセンサ自身の特徴を発揮
できないばかりでなく、画像入力装置全体の精度を著し
く低下させる要因となる。
【００１２】この対策として、たとえば、特開平４−３
６５２７６号公報に示される旋回撮像装置では、読取対
象物の搬送手段である回転テーブルの回転速度と仰角を
定量化した電圧値からセンサ駆動周波数を計算すること
により、読取対象物の搬送速度とラインセンサの走査速
度との同期を行なっている。
６５２７６号公報に示される旋回撮像装置では、読取対
象物の搬送手段である回転テーブルの回転速度と仰角を
定量化した電圧値からセンサ駆動周波数を計算すること
により、読取対象物の搬送速度とラインセンサの走査速
度との同期を行なっている。
【００１３】また、特開昭６１−１５００８２号公報に
示される画像情報読取装置では、ＰＬＬ回路を用いて１
次元ラインセンサのダミー画素の数を制御し、１ライン
の走査時間を変えることにより、読取対象物の搬送方向
の読取密度を一定に保つ手段が報告されている。
示される画像情報読取装置では、ＰＬＬ回路を用いて１
次元ラインセンサのダミー画素の数を制御し、１ライン
の走査時間を変えることにより、読取対象物の搬送方向
の読取密度を一定に保つ手段が報告されている。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来の画像入力装置においては、装置を構成する部品
精度のばらつきなどにより、読取対象物の搬送速度とセ
ンサ走査速度との関係が理論値から外れていたり、ま
た、特定の調整治具などを用いて出荷時の調整を行なう
必要があったり、さらに、稼働後の経年変化により読取
対象物の搬送速度とそれを計測するためのロータリエン
コーダの関係に誤差が生じ、結果として入力画像が劣化
するなどの不具合が生じる。
た従来の画像入力装置においては、装置を構成する部品
精度のばらつきなどにより、読取対象物の搬送速度とセ
ンサ走査速度との関係が理論値から外れていたり、ま
た、特定の調整治具などを用いて出荷時の調整を行なう
必要があったり、さらに、稼働後の経年変化により読取
対象物の搬送速度とそれを計測するためのロータリエン
コーダの関係に誤差が生じ、結果として入力画像が劣化
するなどの不具合が生じる。
【００１５】そこで、本発明は、読取対象物の搬送速度
の変動などによる搬送方向の画像劣化が生じても、これ
を高精度に補正し、常に安定した解像度で高精度の画像
を得ることができる画像入力装置を提供することを目的
とする。
の変動などによる搬送方向の画像劣化が生じても、これ
を高精度に補正し、常に安定した解像度で高精度の画像
を得ることができる画像入力装置を提供することを目的
とする。
【００１６】
【課題を解決するための手段】本発明の画像入力装置
は、搬送される読取対象物上の画像データを、ＴＤＩ方
式で光電変換を行なうＴＤＩ方式の光電変換器を用いて
読取り入力する画像入力装置において、前記搬送される
読取対象物上の画像データを光学的な走査によって読取
り、電気信号に変換するＴＤＩ方式の光電変換器と、こ
の光電変換器を走査駆動する走査信号を生成する走査信
号生成手段と、前記光電変換器からの出力をデジタル画
像データに変換する画像変換手段と、この画像変換手段
で変換された画像データを基に、前記読取対象物の搬送
速度と前記光電変換器における蓄積電荷のライン間伝送
速度のずれにより生じる画像データの画像劣化量を計測
する画像劣化量計測手段と、この画像劣化量計測手段で
計測された画像劣化量に応じて、前記画像データの画像
劣化を補正する補正手段とを具備している。
は、搬送される読取対象物上の画像データを、ＴＤＩ方
式で光電変換を行なうＴＤＩ方式の光電変換器を用いて
読取り入力する画像入力装置において、前記搬送される
読取対象物上の画像データを光学的な走査によって読取
り、電気信号に変換するＴＤＩ方式の光電変換器と、こ
の光電変換器を走査駆動する走査信号を生成する走査信
号生成手段と、前記光電変換器からの出力をデジタル画
像データに変換する画像変換手段と、この画像変換手段
で変換された画像データを基に、前記読取対象物の搬送
速度と前記光電変換器における蓄積電荷のライン間伝送
速度のずれにより生じる画像データの画像劣化量を計測
する画像劣化量計測手段と、この画像劣化量計測手段で
計測された画像劣化量に応じて、前記画像データの画像
劣化を補正する補正手段とを具備している。
【００１７】また、本発明の画像入力装置は、画像劣化
量計測手段は、読取対象物の代わりに試験用チャート上
の画像を読取って入力することにより、この入力画像の
主走査方向と副走査方向との比率から、画像データの画
像劣化量を計測することを特徴とする。
量計測手段は、読取対象物の代わりに試験用チャート上
の画像を読取って入力することにより、この入力画像の
主走査方向と副走査方向との比率から、画像データの画
像劣化量を計測することを特徴とする。
【００１８】また、本発明の画像入力装置は、補正手段
は、画像劣化量計測手段で計測された画像劣化量に応じ
て、読取対象物の搬送速度、あるいは、光電変換器にお
ける主走査信号の単位時間、あるいは、光電変換器に対
する光学的条件を変化させ、読取対象物に対する主走査
方向と副走査方向との比率を１：１に補正することによ
り、画像データの画像劣化を補正することを特徴とす
る。
は、画像劣化量計測手段で計測された画像劣化量に応じ
て、読取対象物の搬送速度、あるいは、光電変換器にお
ける主走査信号の単位時間、あるいは、光電変換器に対
する光学的条件を変化させ、読取対象物に対する主走査
方向と副走査方向との比率を１：１に補正することによ
り、画像データの画像劣化を補正することを特徴とす
る。
【００１９】また、本発明の画像入力装置は、補正手段
は、画像劣化量計測手段で計測された画像劣化量に応じ
て、走査信号生成手段から出力される走査信号を制御す
ることにより、画像データの画像劣化を補正することを
特徴とする。
は、画像劣化量計測手段で計測された画像劣化量に応じ
て、走査信号生成手段から出力される走査信号を制御す
ることにより、画像データの画像劣化を補正することを
特徴とする。
【００２０】また、本発明の画像入力装置は、補正手段
は、画像劣化量計測手段で計測された画像劣化量に応じ
て、読取対象物の搬送速度を変化させることにより、画
像データの画像劣化を補正することを特徴とする。
は、画像劣化量計測手段で計測された画像劣化量に応じ
て、読取対象物の搬送速度を変化させることにより、画
像データの画像劣化を補正することを特徴とする。
【００２１】また、本発明の画像入力装置は、補正手段
は、画像劣化量計測手段で計測された画像劣化量に応じ
て、読取対象物の搬送方向の読取密度を相対的に変化さ
せることにより、画像データの画像劣化を補正すること
を特徴とする。
は、画像劣化量計測手段で計測された画像劣化量に応じ
て、読取対象物の搬送方向の読取密度を相対的に変化さ
せることにより、画像データの画像劣化を補正すること
を特徴とする。
【００２２】また、本発明の画像入力装置は、画像劣化
量計測手段は、読取対象物の代わりに試験用チャート上
の画像を読取って入力することにより、この入力画像の
コントラストが最大になる条件から、画像データの画像
劣化量を計測することを特徴とする。
量計測手段は、読取対象物の代わりに試験用チャート上
の画像を読取って入力することにより、この入力画像の
コントラストが最大になる条件から、画像データの画像
劣化量を計測することを特徴とする。
【００２３】また、本発明の画像入力装置は、画像劣化
量計測手段は、読取対象物の代わりに試験用チャート上
の画像を、光電変換器における主走査信号の単位時間を
段階的に変化させながら読取って入力することにより、
その各段階での試験用チャート上の画像の濃淡レベルの
最大値と最小値との差が最大になる条件から、画像デー
タの画像劣化量を計測することを特徴とする。
量計測手段は、読取対象物の代わりに試験用チャート上
の画像を、光電変換器における主走査信号の単位時間を
段階的に変化させながら読取って入力することにより、
その各段階での試験用チャート上の画像の濃淡レベルの
最大値と最小値との差が最大になる条件から、画像デー
タの画像劣化量を計測することを特徴とする。
【００２４】さらに、本発明の画像入力装置は、補正手
段は、画像劣化量計測手段で計測された画像劣化量に応
じて、読取対象物の搬送速度、あるいは、光電変換器に
おける副走査信号の単位時間、あるいは、光電変換器に
対する光学的条件を変化させることにより、画像データ
の画像劣化を補正することを特徴とする。
段は、画像劣化量計測手段で計測された画像劣化量に応
じて、読取対象物の搬送速度、あるいは、光電変換器に
おける副走査信号の単位時間、あるいは、光電変換器に
対する光学的条件を変化させることにより、画像データ
の画像劣化を補正することを特徴とする。
【００２５】本発明によれば、ＴＤＩ方式の光電変換器
を用いて読取対象物上の画像データを読取り入力する画
像入力装置において、読取対象物の搬送速度と光電変換
器における蓄積電荷のライン間伝送速度のずれにより生
じる画像劣化量を計測し、この計測した画像劣化量に応
じて画像劣化を補正することにより、読取対象物の搬送
速度の変動などによる搬送方向の画像劣化が生じても、
これを高精度に補正し、常に安定した解像度で高精度の
画像を得ることができる。
を用いて読取対象物上の画像データを読取り入力する画
像入力装置において、読取対象物の搬送速度と光電変換
器における蓄積電荷のライン間伝送速度のずれにより生
じる画像劣化量を計測し、この計測した画像劣化量に応
じて画像劣化を補正することにより、読取対象物の搬送
速度の変動などによる搬送方向の画像劣化が生じても、
これを高精度に補正し、常に安定した解像度で高精度の
画像を得ることができる。
【００２６】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して説明する。図１は、本実施の形態に係
る画像入力装置の構成を概略的に示すものである。図１
において、図示矢印方向に搬送される読取対象物１１
は、その表面が光源１２で照射され、その反射光はレン
ズ、フィルタおよびミラーなどで構成される光学系１３
を介してＴＤＩラインセンサ１４の受光面に結像され
る。ここで、読取対象物１１は、たとえば、郵便物や複
写用の原稿などであり、モータおよび搬送ベルトなどで
構成される搬送機構１５によって、ＴＤＩラインセンサ
１４の画素並び方向と直角方向に一定の速度で搬送され
るものとする。これにより、ＴＤＩラインセンサ１４で
２次元の画像データを得ることができる。
て図面を参照して説明する。図１は、本実施の形態に係
る画像入力装置の構成を概略的に示すものである。図１
において、図示矢印方向に搬送される読取対象物１１
は、その表面が光源１２で照射され、その反射光はレン
ズ、フィルタおよびミラーなどで構成される光学系１３
を介してＴＤＩラインセンサ１４の受光面に結像され
る。ここで、読取対象物１１は、たとえば、郵便物や複
写用の原稿などであり、モータおよび搬送ベルトなどで
構成される搬送機構１５によって、ＴＤＩラインセンサ
１４の画素並び方向と直角方向に一定の速度で搬送され
るものとする。これにより、ＴＤＩラインセンサ１４で
２次元の画像データを得ることができる。
【００２７】搬送制御部１６は、後述するＣＰＵ２５か
らの命令に応じて搬送機構１５の動作を制御する。検知
手段としてのタイミングセンサ１７は、搬送される読取
対象物１１が所定の位置に進入したことを検知し、タイ
ミング信号を出力する。
らの命令に応じて搬送機構１５の動作を制御する。検知
手段としてのタイミングセンサ１７は、搬送される読取
対象物１１が所定の位置に進入したことを検知し、タイ
ミング信号を出力する。
【００２８】ＴＤＩラインセンサ１４およびタイミング
センサ１７の各出力は、それぞれ画像処理部１８に送ら
れる。画像処理部１８は、走査信号生成手段としての主
（副）走査信号生成部１９、クロック生成部２０、アナ
ログ信号処理部２１、画像変換手段としてのＡ／Ｄ変換
部２２、および、画像記憶手段としてのＲＡＭなどを用
いた画像メモリ２３によって構成されている。
センサ１７の各出力は、それぞれ画像処理部１８に送ら
れる。画像処理部１８は、走査信号生成手段としての主
（副）走査信号生成部１９、クロック生成部２０、アナ
ログ信号処理部２１、画像変換手段としてのＡ／Ｄ変換
部２２、および、画像記憶手段としてのＲＡＭなどを用
いた画像メモリ２３によって構成されている。
【００２９】すなわち、主（副）走査信号生成部１９
は、主走査方向の基準信号となるクロック（すなわち、
主走査信号）ＭＣＬＫ、および、副走査方向の基準信号
となるクロック（すなわち、副走査信号）ＨＳＹＮＣを
それぞれ生成するとともに、これら主走査信号ＭＣＬＫ
および副走査信号ＨＳＹＮＣに基づき、ＴＤＩラインセ
ンサ１４の読出しクロックおよびイメージャクロックな
ど、ＴＤＩラインセンサ１４の動作に必要な各種タイミ
ング信号を生成する。
は、主走査方向の基準信号となるクロック（すなわち、
主走査信号）ＭＣＬＫ、および、副走査方向の基準信号
となるクロック（すなわち、副走査信号）ＨＳＹＮＣを
それぞれ生成するとともに、これら主走査信号ＭＣＬＫ
および副走査信号ＨＳＹＮＣに基づき、ＴＤＩラインセ
ンサ１４の読出しクロックおよびイメージャクロックな
ど、ＴＤＩラインセンサ１４の動作に必要な各種タイミ
ング信号を生成する。
【００３０】主走査信号ＭＣＬＫおよび副走査信号ＨＳ
ＹＮＣは、それぞれクロック生成部２０に送られる。ク
ロック生成部２０は、入力される主走査信号ＨＳＹＮＣ
および副走査信号ＨＳＹＮＣおよびタイミングセンサ１
７の出力に基づき、アナログ信号処理部２１、Ａ／Ｄ変
換部２２、画像メモリ２３で必要とされる各種クロック
パルスを生成する。
ＹＮＣは、それぞれクロック生成部２０に送られる。ク
ロック生成部２０は、入力される主走査信号ＨＳＹＮＣ
および副走査信号ＨＳＹＮＣおよびタイミングセンサ１
７の出力に基づき、アナログ信号処理部２１、Ａ／Ｄ変
換部２２、画像メモリ２３で必要とされる各種クロック
パルスを生成する。
【００３１】ＴＤＩラインセンサ１４から出力される画
像信号は、アナログ信号処理部２１でオフセットおよび
ゲイン調整などの信号処理を施された後、Ａ／Ｄ変換部
２２でデジタル信号に変換されて画像データとなり、画
像メモリ２３に記憶される。
像信号は、アナログ信号処理部２１でオフセットおよび
ゲイン調整などの信号処理を施された後、Ａ／Ｄ変換部
２２でデジタル信号に変換されて画像データとなり、画
像メモリ２３に記憶される。
【００３２】画像処理部１８は、データバス２４を介し
て制御手段としてのＣＰＵ（セントラル・プロセッシン
グ・ユニット）２５に接続されている。ＣＰＵ２５は、
読取対象物１１から読取った画像データに対して各種の
画像処理を施したり、外部装置に対して画像データを転
送したり、あるいは、搬送機構１５のオン、オフ制御を
行なったり、さらには、読取対象物１１の搬送速度とＴ
ＤＩラインセンサ１４における蓄積電荷のライン間転送
速度のずれにより生じる画像データの画像劣化の補正処
理を行なうための機能を備えている。
て制御手段としてのＣＰＵ（セントラル・プロセッシン
グ・ユニット）２５に接続されている。ＣＰＵ２５は、
読取対象物１１から読取った画像データに対して各種の
画像処理を施したり、外部装置に対して画像データを転
送したり、あるいは、搬送機構１５のオン、オフ制御を
行なったり、さらには、読取対象物１１の搬送速度とＴ
ＤＩラインセンサ１４における蓄積電荷のライン間転送
速度のずれにより生じる画像データの画像劣化の補正処
理を行なうための機能を備えている。
【００３３】ＣＰＵ２５には、データバス２４を介し
て、画像処理やその他の制御に関するプログラムが格納
されているプログラム格納部２６、プログラム実行中の
処理データを一時的に記憶する一時記憶部２７、不揮発
性の記憶媒体で構成されたデータ保存部２８、および、
外部装置とコマンドの通信や画像データの交信などを行
なうためのデータ通信部２９がそれぞれ接続されてい
る。
て、画像処理やその他の制御に関するプログラムが格納
されているプログラム格納部２６、プログラム実行中の
処理データを一時的に記憶する一時記憶部２７、不揮発
性の記憶媒体で構成されたデータ保存部２８、および、
外部装置とコマンドの通信や画像データの交信などを行
なうためのデータ通信部２９がそれぞれ接続されてい
る。
【００３４】主（副）走査信号生成部１９は、図２に示
すように、水晶発振器３１、カウンタ３２、ラッチ回路
３３、比較器３４、および、タイミング生成回路３５に
よって構成されている。
すように、水晶発振器３１、カウンタ３２、ラッチ回路
３３、比較器３４、および、タイミング生成回路３５に
よって構成されている。
【００３５】すなわち、水晶発振器３１から出力された
パルスＣＬＫは、カウンタ３２およびタイミング生成回
路３５にそれぞれ入力される。カウンタ３２は、入力さ
れるパルスＣＬＫをカウントすることにより主走査信号
ＭＣＬＫを生成し、比較器３４およびタイミング生成回
路３５にそれぞれ送る。
パルスＣＬＫは、カウンタ３２およびタイミング生成回
路３５にそれぞれ入力される。カウンタ３２は、入力さ
れるパルスＣＬＫをカウントすることにより主走査信号
ＭＣＬＫを生成し、比較器３４およびタイミング生成回
路３５にそれぞれ送る。
【００３６】比較器３４は、ＣＰＵ２５によってラッチ
回路３３に設定されたＨＳＹＮＣ生成カウンタ設定値３
６とカウンタ３２のカウント値とを比較し、両者が一致
したときパルスを出力するもので、この出力パルスが副
走査信号ＨＳＹＮＣとしてタイミング生成回路３５に送
られるとともに、カウンタ３２のクリア信号に用いられ
る。
回路３３に設定されたＨＳＹＮＣ生成カウンタ設定値３
６とカウンタ３２のカウント値とを比較し、両者が一致
したときパルスを出力するもので、この出力パルスが副
走査信号ＨＳＹＮＣとしてタイミング生成回路３５に送
られるとともに、カウンタ３２のクリア信号に用いられ
る。
【００３７】なお、比較器３４の比較基準となるＨＳＹ
ＮＣ生成カウンタ設定値３６は、ラッチ回路３３を介し
てＣＰＵ２５によって書換えることができる構成となっ
ている。
ＮＣ生成カウンタ設定値３６は、ラッチ回路３３を介し
てＣＰＵ２５によって書換えることができる構成となっ
ている。
【００３８】タイミング生成回路３５は、主走査信号Ｍ
ＣＬＫ、副走査信号ＨＳＹＮＣ、クロックＣＬＫを基準
に、ＴＤＩラインセンサ１４の読出しクロックおよびイ
メージャクロックなど、ＴＤＩラインセンサ１４の動作
に必要な各種タイミング信号をそれぞれ生成する。
ＣＬＫ、副走査信号ＨＳＹＮＣ、クロックＣＬＫを基準
に、ＴＤＩラインセンサ１４の読出しクロックおよびイ
メージャクロックなど、ＴＤＩラインセンサ１４の動作
に必要な各種タイミング信号をそれぞれ生成する。
【００３９】ここでは、実際の画像入力装置を考慮した
場合の例について述べる。実際の画像入力装置の構成を
考えた場合、読取対象物１１の搬送速度は、モータおよ
びその他の搬送系の構成に依存し、また、その速度は経
年変化によっても変化し、センサの同期信号とマッチン
グさせることは困難である。
場合の例について述べる。実際の画像入力装置の構成を
考えた場合、読取対象物１１の搬送速度は、モータおよ
びその他の搬送系の構成に依存し、また、その速度は経
年変化によっても変化し、センサの同期信号とマッチン
グさせることは困難である。
【００４０】そこで、本実施の形態では、テストチャー
トを１回、または、複数回流すことで、画像入力におい
て最適なＴＤＩラインセンサ１４の副走査信号ＨＳＹＮ
Ｃを設定する方法を示し、定期的に、この値を再セット
できる構成とすることで搬送速度の変動を受けず、常に
安定した画像を得ることを可能にしている。なお、適切
な副走査信号ＨＳＹＮＣの導出方法は後述する。
トを１回、または、複数回流すことで、画像入力におい
て最適なＴＤＩラインセンサ１４の副走査信号ＨＳＹＮ
Ｃを設定する方法を示し、定期的に、この値を再セット
できる構成とすることで搬送速度の変動を受けず、常に
安定した画像を得ることを可能にしている。なお、適切
な副走査信号ＨＳＹＮＣの導出方法は後述する。
【００４１】次に、上記のような構成において、搬送速
度の変動によって生じる画像劣化（画像のぶれ）を補正
するための第１の実施の形態について以下に説明する。
まず、第１の実施の形態で用いる読取対象物１１として
のテストチャート（試験用チャート）Ｐ１について説明
する。テストチャートＰ１の形状としては、たとえば、
縮小された画像がＴＤＩラインセンサ１４の主走査方向
の有効画素に入る最大の大きさを持った、主走査方向、
副走査方向に垂直な辺を持つ正方形とする。本例では、
たとえば、図３に示すように、主走査方向、副走査方向
に垂直な辺を持つ仮想の正方形４１の各辺にそれぞれ相
対向して設けられた所定長の黒線４２ａ，４２ｂ、４３
ａ，４３ｂを有したものを用いている。
度の変動によって生じる画像劣化（画像のぶれ）を補正
するための第１の実施の形態について以下に説明する。
まず、第１の実施の形態で用いる読取対象物１１として
のテストチャート（試験用チャート）Ｐ１について説明
する。テストチャートＰ１の形状としては、たとえば、
縮小された画像がＴＤＩラインセンサ１４の主走査方向
の有効画素に入る最大の大きさを持った、主走査方向、
副走査方向に垂直な辺を持つ正方形とする。本例では、
たとえば、図３に示すように、主走査方向、副走査方向
に垂直な辺を持つ仮想の正方形４１の各辺にそれぞれ相
対向して設けられた所定長の黒線４２ａ，４２ｂ、４３
ａ，４３ｂを有したものを用いている。
【００４２】以下、図５および図６に示すフローチャー
トを参照して画像劣化の補正処理について説明する。ま
ず、図３に示したテストチャートＰ１を、黒線４２ａ，
４２ｂが搬送方向と平行になる状態で本装置に通すこと
により、テストチャートＰ１上の画像を読取る（Ｓ
１）。テストチャートＰ１の読取りが終了すると（Ｓ
２）、画像メモリ２３に格納されたテストチャートＰ１
の画像データから、主走査方向の黒線４２ａ，４２ｂを
含むラインの画像データを取出し、一時記憶部２７に読
込む（Ｓ３）。
トを参照して画像劣化の補正処理について説明する。ま
ず、図３に示したテストチャートＰ１を、黒線４２ａ，
４２ｂが搬送方向と平行になる状態で本装置に通すこと
により、テストチャートＰ１上の画像を読取る（Ｓ
１）。テストチャートＰ１の読取りが終了すると（Ｓ
２）、画像メモリ２３に格納されたテストチャートＰ１
の画像データから、主走査方向の黒線４２ａ，４２ｂを
含むラインの画像データを取出し、一時記憶部２７に読
込む（Ｓ３）。
【００４３】次に、一時記憶部２７に読込んだ多値の画
像データ（図４ａ参照）を、所定の閾値ｔで２値化し
（Ｓ４）、白画像を“１”、黒画像を“０”とする２値
化画像（図４ｂ参照）を得る。次に、この２値化画像に
より、主走査方向について、黒線４２ａ，４２ｂの開
始、終了位置を調べることにより、２値化画像が“１”
から“０”に変化する位置（白黒エッジ）を検出し（Ｓ
５）、そのような変化点の間隔をカウントして、カウン
ト値Ｈｃｏｕｎｔを得る（Ｓ６）。
像データ（図４ａ参照）を、所定の閾値ｔで２値化し
（Ｓ４）、白画像を“１”、黒画像を“０”とする２値
化画像（図４ｂ参照）を得る。次に、この２値化画像に
より、主走査方向について、黒線４２ａ，４２ｂの開
始、終了位置を調べることにより、２値化画像が“１”
から“０”に変化する位置（白黒エッジ）を検出し（Ｓ
５）、そのような変化点の間隔をカウントして、カウン
ト値Ｈｃｏｕｎｔを得る（Ｓ６）。
【００４４】同様に、画像メモリ２３に格納されたテス
トチャートＰの画像データから、副走査方向の黒線４３
ａ，４３ｂを含む画素に注目し、画素について全ライン
を一時記憶部２７に読込む（Ｓ７）。
トチャートＰの画像データから、副走査方向の黒線４３
ａ，４３ｂを含む画素に注目し、画素について全ライン
を一時記憶部２７に読込む（Ｓ７）。
【００４５】次に、一時記憶部２７に読込んだ多値の画
像データ（図４ｃ参照）を、所定の閾値ｔで２値化し
（Ｓ８）、白画像を“１”、黒画像を“０”とする２値
化画像（図４ｄ参照）を得る。次に、この２値化画像に
より、副走査方向について、黒線４３ａ，４３ｂの開
始、終了位置を調べることにより、２値化画像が“１”
から“０”に変化する位置（白黒エッジ）を検出し（Ｓ
９）、そのような変化点の間隔をカウントして、カウン
ト値Ｖｃｏｕｎｔを得る（Ｓ１０）。
像データ（図４ｃ参照）を、所定の閾値ｔで２値化し
（Ｓ８）、白画像を“１”、黒画像を“０”とする２値
化画像（図４ｄ参照）を得る。次に、この２値化画像に
より、副走査方向について、黒線４３ａ，４３ｂの開
始、終了位置を調べることにより、２値化画像が“１”
から“０”に変化する位置（白黒エッジ）を検出し（Ｓ
９）、そのような変化点の間隔をカウントして、カウン
ト値Ｖｃｏｕｎｔを得る（Ｓ１０）。
【００４６】カウント値Ｈｃｏｕｎｔ，Ｖｃｏｕｎｔを
テストチャートＰ１上の正方形４１の一辺の長さで割っ
た値Ｈ′ｃｏｕｎｔ，Ｖ′ｃｏｕｎｔは、それぞれ主走
査方向、副走査方向の読取密度を表わす。縦横の読取密
度が一致することと、画像劣化がないことは同値なの
で、カウント値Ｈｃｏｕｎｔとカウント値Ｖｃｏｕｎｔ
が（１：１）になるように、ＨＳＹＮＣ生成カウンタ設
定値３６をＣＰＵ２５から主（副）走査信号生成部１９
のラッチ回路３３に書込む（Ｓ１１，Ｓ１２）。
テストチャートＰ１上の正方形４１の一辺の長さで割っ
た値Ｈ′ｃｏｕｎｔ，Ｖ′ｃｏｕｎｔは、それぞれ主走
査方向、副走査方向の読取密度を表わす。縦横の読取密
度が一致することと、画像劣化がないことは同値なの
で、カウント値Ｈｃｏｕｎｔとカウント値Ｖｃｏｕｎｔ
が（１：１）になるように、ＨＳＹＮＣ生成カウンタ設
定値３６をＣＰＵ２５から主（副）走査信号生成部１９
のラッチ回路３３に書込む（Ｓ１１，Ｓ１２）。
【００４７】たとえば、カウント値ＨｃｏｕｎｔとＶｃ
ｏｕｎｔとの比率が（１００：９５）の場合、ＨＳＹＮ
Ｃ生成カウンタ設定値３６を（９５／１００）倍して再
設定することで、副走査信号ＨＳＹＮＣの時間を短縮
し、副走査方向の読取密度を（１００／９５）倍し、そ
うすることで主走査方向、副走査方向のアスペクト比を
（１：１）に補正する。
ｏｕｎｔとの比率が（１００：９５）の場合、ＨＳＹＮ
Ｃ生成カウンタ設定値３６を（９５／１００）倍して再
設定することで、副走査信号ＨＳＹＮＣの時間を短縮
し、副走査方向の読取密度を（１００／９５）倍し、そ
うすることで主走査方向、副走査方向のアスペクト比を
（１：１）に補正する。
【００４８】次に、搬送速度の変動によって生じる画像
劣化を補正するための第２の実施の形態について以下に
説明する。まず、第２の実施の形態で用いる読取対象物
１１としてのテストチャート（試験用チャート）Ｐ２に
ついて説明する。テストチャートＰ２の形状としては、
たとえば、図７に示すように、所定の空間周波数で平行
に並べられた複数の黒線４４を持つものとする。
劣化を補正するための第２の実施の形態について以下に
説明する。まず、第２の実施の形態で用いる読取対象物
１１としてのテストチャート（試験用チャート）Ｐ２に
ついて説明する。テストチャートＰ２の形状としては、
たとえば、図７に示すように、所定の空間周波数で平行
に並べられた複数の黒線４４を持つものとする。
【００４９】以下、図８に示すフローチャートを参照し
て画像劣化の補正処理について説明する。まず、第１の
実施の形態と同様に、図７に示したテストチャートＰ２
を、黒線４４が搬送方向と直交方向になる状態で本装置
に通し、テストチャートＰ２の読取りを開始する（Ｓ２
１）。そして、タイミングセンサ１７がテストチャート
Ｐ２を検知してタイミング信号が出力されると（Ｓ２
２）、そのタイミング信号をトリガとしてテストチャー
トＰ２の画像データを取込み、画像メモリ２３に格納す
る。この画像データの取込時は、副走査信号ＨＳＹＮＣ
を段階的に変化させ、その都度、ＨＳＹＮＣ生成カウン
タ設定値３６を副走査信号ＨＳＹＮＣに書換て、画像デ
ータを順次取込む方式を取る（Ｓ２３，Ｓ２４，Ｓ２
５）。この方法を用いると、搬送速度と副走査信号ＨＳ
ＹＮＣとの関係を計測することができる（詳細は後述す
る）。
て画像劣化の補正処理について説明する。まず、第１の
実施の形態と同様に、図７に示したテストチャートＰ２
を、黒線４４が搬送方向と直交方向になる状態で本装置
に通し、テストチャートＰ２の読取りを開始する（Ｓ２
１）。そして、タイミングセンサ１７がテストチャート
Ｐ２を検知してタイミング信号が出力されると（Ｓ２
２）、そのタイミング信号をトリガとしてテストチャー
トＰ２の画像データを取込み、画像メモリ２３に格納す
る。この画像データの取込時は、副走査信号ＨＳＹＮＣ
を段階的に変化させ、その都度、ＨＳＹＮＣ生成カウン
タ設定値３６を副走査信号ＨＳＹＮＣに書換て、画像デ
ータを順次取込む方式を取る（Ｓ２３，Ｓ２４，Ｓ２
５）。この方法を用いると、搬送速度と副走査信号ＨＳ
ＹＮＣとの関係を計測することができる（詳細は後述す
る）。
【００５０】段階的に変化させる割合は、たとえば、読
取対象物１１の搬送速度と読取密度とから計算される、
ＴＤＩラインセンサ１４の副走査方向の信号の９６％〜
１０５％とし、１％刻みでＴ／１０（ｓｅｃ）の間隔で
段階的に変化させ、画像データの入力を行なう（図７参
照）。ここに、Ｔは読取時間で、（読取対象物の長さ）
／（搬送速度）によって表わされる。
取対象物１１の搬送速度と読取密度とから計算される、
ＴＤＩラインセンサ１４の副走査方向の信号の９６％〜
１０５％とし、１％刻みでＴ／１０（ｓｅｃ）の間隔で
段階的に変化させ、画像データの入力を行なう（図７参
照）。ここに、Ｔは読取時間で、（読取対象物の長さ）
／（搬送速度）によって表わされる。
【００５１】次に、画像メモリ２３に格納された画像デ
ータの１画面分を一時記憶部２７に取込み（Ｓ２６）、
この取込んだ画像データにより、テストチャートＰ２に
描かれたラインペアに対応する出力の隣り合った波形の
最大値と最小値との差を取り、その差が最大値になった
場所の副走査信号ＨＳＹＮＣを検出して、この副走査信
号ＨＳＹＮＣの値にＨＳＹＮＣ生成カウンタ設定値３６
を修正（固定）し、その結果をＣＰＵ２５から主（副）
走査信号生成部１９のラッチ回路３３に書込む（Ｓ２
７）。このとき、画像はコントラスト最大となり、画像
劣化は最小となる。
ータの１画面分を一時記憶部２７に取込み（Ｓ２６）、
この取込んだ画像データにより、テストチャートＰ２に
描かれたラインペアに対応する出力の隣り合った波形の
最大値と最小値との差を取り、その差が最大値になった
場所の副走査信号ＨＳＹＮＣを検出して、この副走査信
号ＨＳＹＮＣの値にＨＳＹＮＣ生成カウンタ設定値３６
を修正（固定）し、その結果をＣＰＵ２５から主（副）
走査信号生成部１９のラッチ回路３３に書込む（Ｓ２
７）。このとき、画像はコントラスト最大となり、画像
劣化は最小となる。
【００５２】次に、図７を用いて、副走査信号ＨＳＹＮ
Ｃを段階的に変化させながら画像データを取込み、その
結果から搬送速度と副走査信号ＨＳＹＮＣの最適値を求
める方法を更に詳細に説明する。
Ｃを段階的に変化させながら画像データを取込み、その
結果から搬送速度と副走査信号ＨＳＹＮＣの最適値を求
める方法を更に詳細に説明する。
【００５３】図７では、段階的に変化させる割合とし
て、読取対象物１１の搬送速度と空間周波数とから計算
される、ＴＤＩラインセンサ１４の副走査方向の信号の
９６％〜１０５％とし、１％刻みでＴ／１０（ｓｅｃ）
の間隔で段階的に変化させ、画像データの入力を行な
う。変化させる方法としては、前述した通り、主（副）
走査信号生成部１９のラッチ回路３３の値をＣＰＵ２５
によって書換える方法とする。図７は副走査信号ＨＳＹ
ＮＣを書換えるタイミングを示している。
て、読取対象物１１の搬送速度と空間周波数とから計算
される、ＴＤＩラインセンサ１４の副走査方向の信号の
９６％〜１０５％とし、１％刻みでＴ／１０（ｓｅｃ）
の間隔で段階的に変化させ、画像データの入力を行な
う。変化させる方法としては、前述した通り、主（副）
走査信号生成部１９のラッチ回路３３の値をＣＰＵ２５
によって書換える方法とする。図７は副走査信号ＨＳＹ
ＮＣを書換えるタイミングを示している。
【００５４】最適な副走査信号ＨＳＹＮＣを求める方法
を説明するために、画像メモリ２３に格納された画像デ
ータのうち、ある注目画素を全ラインにわたり時系列に
並べ、グラフ化したものを図９に示す。テストチャート
Ｐ２に描かれたラインペアの出力信号は、各段階の副走
査信号ＨＳＹＮＣに対応した形で出力される。
を説明するために、画像メモリ２３に格納された画像デ
ータのうち、ある注目画素を全ラインにわたり時系列に
並べ、グラフ化したものを図９に示す。テストチャート
Ｐ２に描かれたラインペアの出力信号は、各段階の副走
査信号ＨＳＹＮＣに対応した形で出力される。
【００５５】図９において、ａは副走査信号ＨＳＹＮＣ
の書換え後、その値に対応した出力が出てくるまでの時
間遅れを示している。出力例として、区間Ｔ１，Ｔ２，
Ｔ３，Ｔ４のような波形が測定されたものとする。出力
波形は、テストチャートＰ２に描かれたラインペアに対
応し、その最大値と最小値との差ｂはコントラストに相
当する。
の書換え後、その値に対応した出力が出てくるまでの時
間遅れを示している。出力例として、区間Ｔ１，Ｔ２，
Ｔ３，Ｔ４のような波形が測定されたものとする。出力
波形は、テストチャートＰ２に描かれたラインペアに対
応し、その最大値と最小値との差ｂはコントラストに相
当する。
【００５６】本例では、区間Ｔ２の差ｂが最大となるの
で、このときの副走査信号ＨＳＹＮＣの値をＨＳＹＮＣ
生成カウンタ設定値３６として採用し、その値をＣＰＵ
２５からラッチ回路３３に書込むことにより、コントラ
ストが最大となり、画像劣化が最小の画像データを得る
ことができる。
で、このときの副走査信号ＨＳＹＮＣの値をＨＳＹＮＣ
生成カウンタ設定値３６として採用し、その値をＣＰＵ
２５からラッチ回路３３に書込むことにより、コントラ
ストが最大となり、画像劣化が最小の画像データを得る
ことができる。
【００５７】以上説明したように、第１の実施の形態に
よれば、画像劣化を最小にするには主走査方向と副走査
方向の空間周波数が一致したとき最小になるという考え
に基づき、テストチャートの入力画像の主走査方向と副
走査方向との比率（アスペクト比）を求め、それに基づ
き画像データの画像劣化を補正することにより、読取対
象物の搬送速度の変動などによる搬送方向の画像劣化が
生じても、これを高精度に補正し、常に安定した解像度
で高精度の画像を得ることができる。
よれば、画像劣化を最小にするには主走査方向と副走査
方向の空間周波数が一致したとき最小になるという考え
に基づき、テストチャートの入力画像の主走査方向と副
走査方向との比率（アスペクト比）を求め、それに基づ
き画像データの画像劣化を補正することにより、読取対
象物の搬送速度の変動などによる搬送方向の画像劣化が
生じても、これを高精度に補正し、常に安定した解像度
で高精度の画像を得ることができる。
【００５８】また、第２の実施の形態によれば、コント
ラスト最大の副走査言号で画像データを取得したとき画
像劣化は最小になるという考えに基づき、テストチャー
トの入力画像のコントラストが最大になる条件を計測
し、それに基づき画像データの画像劣化を補正すること
により、読取対象物の搬送速度の変動などによる搬送方
向の画像劣化が生じても、これを高精度に補正し、常に
安定した解像度で高精度の画像を得ることができる。
ラスト最大の副走査言号で画像データを取得したとき画
像劣化は最小になるという考えに基づき、テストチャー
トの入力画像のコントラストが最大になる条件を計測
し、それに基づき画像データの画像劣化を補正すること
により、読取対象物の搬送速度の変動などによる搬送方
向の画像劣化が生じても、これを高精度に補正し、常に
安定した解像度で高精度の画像を得ることができる。
【００５９】なお、前記第１，第２の実施の形態では、
ＴＤＩラインセンサの副走査信号ＨＳＹＮＣを変化させ
ることにより鮮明な画像を得ているが、駆動周波数を変
化させるのではなく、読取対象物の搬送速度を変動させ
ても、また、光学系の倍率を変化させ、相対的にＴＤＩ
ラインセンサへ入力される搬送方向の読取密度を変化さ
せても同様の結果を得ることができる。
ＴＤＩラインセンサの副走査信号ＨＳＹＮＣを変化させ
ることにより鮮明な画像を得ているが、駆動周波数を変
化させるのではなく、読取対象物の搬送速度を変動させ
ても、また、光学系の倍率を変化させ、相対的にＴＤＩ
ラインセンサへ入力される搬送方向の読取密度を変化さ
せても同様の結果を得ることができる。
【００６０】また、前記第１，第２の実施の形態では、
自動的に補正量に対する主（副）走査信号生成部のカウ
ンタの値を設定し直しているが、自動的にはせず、補正
量を７セグなどの表示部に表示させ、ＨＳＹＮＣ生成カ
ウンタ設定値をスイッチなどで設定しても同様の結果が
得られる。
自動的に補正量に対する主（副）走査信号生成部のカウ
ンタの値を設定し直しているが、自動的にはせず、補正
量を７セグなどの表示部に表示させ、ＨＳＹＮＣ生成カ
ウンタ設定値をスイッチなどで設定しても同様の結果が
得られる。
【００６１】また、前記第１の実施の形態では、正方形
のテストチャートを用いて画像のぶれ量を求めている
が、テストチャートの形が定形であれば、同様の効果を
得ることができる。
のテストチャートを用いて画像のぶれ量を求めている
が、テストチャートの形が定形であれば、同様の効果を
得ることができる。
【００６２】また、前記第２の実施の形態では、画像デ
ータを入力する際、副走査信号ＨＳＹＮＣを段階的に変
化させ、副走査方向の読取密度を変動させているが、こ
れを搬送速度を変化させても、また、光学系の倍率を変
化させ、相対的にＴＤＩラインセンサへ入力される搬送
方向の読取密度を変化させても同様の結果を得ることが
できる。
ータを入力する際、副走査信号ＨＳＹＮＣを段階的に変
化させ、副走査方向の読取密度を変動させているが、こ
れを搬送速度を変化させても、また、光学系の倍率を変
化させ、相対的にＴＤＩラインセンサへ入力される搬送
方向の読取密度を変化させても同様の結果を得ることが
できる。
【００６３】
【発明の効果】以上詳述したように本発明によれば、読
取対象物の搬送速度の変動などによる搬送方向の画像劣
化が生じても、これを高精度に補正し、常に安定した解
像度で高精度の画像を得ることができる画像入力装置を
提供できる。
取対象物の搬送速度の変動などによる搬送方向の画像劣
化が生じても、これを高精度に補正し、常に安定した解
像度で高精度の画像を得ることができる画像入力装置を
提供できる。
【図１】本発明の実施の形態に係る画像入力装置の構成
を概略的に示すブロック図。
を概略的に示すブロック図。
【図２】主（副）走査信号生成部の構成を示すブロック
図。
図。
【図３】第１の実施の形態に係るテストチャートを説明
するための図。
するための図。
【図４】第１の実施の形態に係る画像劣化の補正処理を
説明するための図。
説明するための図。
【図５】第１の実施の形態に係る画像劣化の補正処理を
説明するフローチャート。
説明するフローチャート。
【図６】第１の実施の形態に係る画像劣化の補正処理を
説明するフローチャート。
説明するフローチャート。
【図７】第２の実施の形態に係るテストチャートを説明
するための図。
するための図。
【図８】第２の実施の形態に係る画像劣化の補正処理を
説明するフローチャート。
説明するフローチャート。
【図９】第２の実施の形態に係る画像劣化の補正処理を
説明するための図。
説明するための図。
１１……読取対象物、１２……光源、１３……光学系、
１４……ＴＤＩラインセンサ（ＴＤＩ方式の光電変換
器）、１５……搬送機構、１６……搬送制御部、１７…
…タイミングセンサ（検知手段）、１８……画像処理
部、１９……主（副）走査信号生成部（走査信号生成手
段）、２０……クロック生成部、２１……アナログ信号
処理部、２２……Ａ／Ｄ変換部（画像変換手段）、２３
……画像メモリ（画像記憶手段）、２５……ＣＰＵ、２
６……プログラム格納部、２７……一時記憶部、２８…
…データ保存部、２９……データ通信部、３１……水晶
発振器、３２……カウンタ、３３……ラッチ回路、３４
……比較器、３５……タイミング生成回路、３６……Ｈ
ＳＹＮＣ生成カウンタ設定値。
１４……ＴＤＩラインセンサ（ＴＤＩ方式の光電変換
器）、１５……搬送機構、１６……搬送制御部、１７…
…タイミングセンサ（検知手段）、１８……画像処理
部、１９……主（副）走査信号生成部（走査信号生成手
段）、２０……クロック生成部、２１……アナログ信号
処理部、２２……Ａ／Ｄ変換部（画像変換手段）、２３
……画像メモリ（画像記憶手段）、２５……ＣＰＵ、２
６……プログラム格納部、２７……一時記憶部、２８…
…データ保存部、２９……データ通信部、３１……水晶
発振器、３２……カウンタ、３３……ラッチ回路、３４
……比較器、３５……タイミング生成回路、３６……Ｈ
ＳＹＮＣ生成カウンタ設定値。
Claims (9)
- 【請求項１】 搬送される読取対象物上の画像データ
を、ＴＤＩ（Time Delay & Integration）方式で光電変
換を行なうＴＤＩ方式の光電変換器を用いて読取り入力
する画像入力装置において、 前記搬送される読取対象物上の画像データを光学的な走
査によって読取り、電気信号に変換するＴＤＩ方式の光
電変換器と、 この光電変換器を走査駆動する走査信号を生成する走査
信号生成手段と、 前記光電変換器からの出力をデジタル画像データに変換
する画像変換手段と、 この画像変換手段で変換された画像データを基に、前記
読取対象物の搬送速度と前記光電変換器における蓄積電
荷のライン間伝送速度のずれにより生じる画像データの
画像劣化量を計測する画像劣化量計測手段と、 この画像劣化量計測手段で計測された画像劣化量に応じ
て、前記画像データの画像劣化を補正する補正手段と、 を具備したことを特徴とする画像入力装置。 - 【請求項２】 前記画像劣化量計測手段は、前記読取対
象物の代わりに試験用チャート上の画像を読取って入力
することにより、この入力画像の主走査方向と副走査方
向との比率から、前記画像データの画像劣化量を計測す
ることを特徴とする請求項１記載の画像入力装置。 - 【請求項３】 前記補正手段は、前記画像劣化量計測手
段で計測された画像劣化量に応じて、前記読取対象物の
搬送速度、あるいは、前記光電変換器における主走査信
号の単位時間、あるいは、前記光電変換器に対する光学
的条件を変化させ、前記読取対象物に対する主走査方向
と副走査方向との比率を１：１に補正することにより、
前記画像データの画像劣化を補正することを特徴とする
請求項２記載の画像入力装置。 - 【請求項４】 前記補正手段は、前記画像劣化量計測手
段で計測された画像劣化量に応じて、前記走査信号生成
手段から出力される走査信号を制御することにより、前
記画像データの画像劣化を補正することを特徴とする請
求項２記載の画像入力装置。 - 【請求項５】 前記補正手段は、前記画像劣化量計測手
段で計測された画像劣化量に応じて、前記読取対象物の
搬送速度を変化させることにより、前記画像データの画
像劣化を補正することを特徴とする請求項２記載の画像
入力装置。 - 【請求項６】 前記補正手段は、前記画像劣化量計測手
段で計測された画像劣化量に応じて、前記読取対象物の
搬送方向の読取密度を相対的に変化させることにより、
前記画像データの画像劣化を補正することを特徴とする
請求項２記載の画像入力装置。 - 【請求項７】 前記画像劣化量計測手段は、前記読取対
象物の代わりに試験用チャート上の画像を読取って入力
することにより、この入力画像のコントラストが最大に
なる条件から、前記画像データの画像劣化量を計測する
ことを特徴とする請求項１記載の画像入力装置。 - 【請求項８】 前記画像劣化量計測手段は、前記読取対
象物の代わりに試験用チャート上の画像を、前記光電変
換器における主走査信号の単位時間を段階的に変化させ
ながら読取って入力することにより、その各段階での試
験用チャート上の画像の濃淡レベルの最大値と最小値と
の差が最大になる条件から、前記画像データの画像劣化
量を計測することを特徴とする請求項７記載の画像入力
装置。 - 【請求項９】 前記補正手段は、前記画像劣化量計測手
段で計測された画像劣化量に応じて、前記読取対象物の
搬送速度、あるいは、前記光電変換器における副走査信
号の単位時間、あるいは、前記光電変換器に対する光学
的条件を変化させることにより、前記画像データの画像
劣化を補正することを特徴とする請求項７記載の画像入
力装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10038766A JPH11238113A (ja) | 1998-02-20 | 1998-02-20 | 画像入力装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10038766A JPH11238113A (ja) | 1998-02-20 | 1998-02-20 | 画像入力装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11238113A true JPH11238113A (ja) | 1999-08-31 |
Family
ID=12534422
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10038766A Pending JPH11238113A (ja) | 1998-02-20 | 1998-02-20 | 画像入力装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11238113A (ja) |
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-
1998
- 1998-02-20 JP JP10038766A patent/JPH11238113A/ja active Pending
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