JPH11232134A - システム評価装置およびエミュレータ - Google Patents

システム評価装置およびエミュレータ

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JPH11232134A
JPH11232134A JP10037536A JP3753698A JPH11232134A JP H11232134 A JPH11232134 A JP H11232134A JP 10037536 A JP10037536 A JP 10037536A JP 3753698 A JP3753698 A JP 3753698A JP H11232134 A JPH11232134 A JP H11232134A
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JP
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data
memory
microcomputer
evaluation
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Application number
JP10037536A
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English (en)
Inventor
Takehiko Yamashita
岳彦 山下
Ryoichi Sano
亮一 佐野
Hiroyuki Murata
浩之 村田
Shunichi Okuyama
春一 奥山
Masaki Igarashi
正樹 五十嵐
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Renesas Semiconductor Package and Test Solutions Co Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Yonezawa Electronics Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【課題】 高速のRAMを内蔵したマイクロコンピュー
タを用いたシステムの評価装置において、内蔵RAMの
データを確実にモニタする。また、評価用マイクロコン
ピュータと制御用マイクロコンピュータとの間に設けら
れた代替用メモリへの上書きを回避しつつ内蔵RAMの
データのリアルタイムモニタを行う。 【解決手段】 ユーザーシステムに使用されるマイクロ
コンピュータに内蔵されているメモリと同等の内蔵メモ
リを評価用マイクロコンピュータにも持たせておくとと
もに、評価用マイクロコンピュータ10には複数のFI
FO方式のバッファメモリ24を接続して内蔵メモリ1
3に格納されるデータおよび対応するアドレスをバッフ
ァメモリに順次取り込んで保持させ、バッファメモリに
取り込まれたデータに基づいて内蔵メモリに対応する外
付けメモリ26に書込みを行なって内蔵メモリと同一の
データを外付けメモリに再現するデータ再構成手段25
を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、マイクロコンピュ
ータの内蔵RAMのモニタ技術に関し、例えばマイクロ
コンピュータ応用システムの評価装置やエミュレータに
利用して有効な技術に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、新たに開発したマイクロコンピュ
ータ応用システム(以下、ユーザーシステムと称する)
の詳細な評価を行なう場合、一般にはエミュレータが使
用されている。一方、さらに自動車のエンジン制御シス
テムのような実システムにあっては、実際の動作環境に
できるだけ近い環境でシステムの評価を行ないたい場合
がある。従来、そのような場合には、ユーザーシステム
に使用されるマイクロコンピュータと同等の機能を有す
る評価用マイクロコンピュータを備えた評価用ボードを
構成し、この評価用ボードを実システムに搭載して動作
させることが行なわれている。
【0003】ところで、ユーザーシステムの制御の中心
的役割を果たすマイクロコンピュータとしてRAMを内
蔵したいわゆるシングルチップマイコンを使用したシス
テムの評価に際しては、内蔵RAMの内容をリアルタイ
ムで監視する必要がある。そこで、従来のシステム評価
装置においては、図11に示すように、ユーザーシステ
ムのマイクロコンピュータと同様の機能を有する評価用
マイクロコンピュータチップ(以下、エバチップと称す
る)10と評価装置の制御用マイクロコンピュータ(以
下、制御用マイコンと称する)20との間に、エバチッ
プに内蔵されたROMの代替用メモリ(RAM)21A
や内蔵RAMの代替用メモリ(RAM)21Bとを設
け、エバチップ10と制御用マイコン20のいずれから
もアクセスできるように構成され、制御用マイコン20
はエバチップ10が代替用メモリ21A,21Bをアク
セスしていないタイミングでアクセスを行なうようにし
て、リアルタイムモニタを実現していた。上記のような
技術に関する発明として例えば特開平4−365142
号公報がある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近年、
半導体集積回路技術の進歩に伴いマイクロコンピュータ
はますます高速化されており、内蔵RAMのアクセス時
間も非常に短くなって来ている。そのため、エバチップ
と評価用マイコンとの間に代替用メモリないしはデュア
ルポートメモリを設けてモニタを行なうという従来のシ
ステム評価装置の方式では、代替用メモリは外付けメモ
リであるため内蔵メモリに比べてアクセス速度が遅くな
ってデータの欠落が生じてしまい、正確なモニタを行な
えなかったり、そのような要求を満たす高速の代替用メ
モリを別途用意する必要があり、コストが非常に高くな
ってしまうという問題点がある。
【0005】また、本発明に関連する従来技術として、
エミュレータにおいて、バス上の信号を取得するトレー
スメモリのアクセスタイムがマイクロコンピュータの動
作周波数に比較して長い場合にトレースデータの欠落を
防止するため、トレースメモリを複数のバンクに構成し
て交互にデータを格納するようにした発明が提案されて
いる(特開平9−160801号公報)。
【0006】しかしながら、この先願発明はトレースメ
モリに関するもので、メモリがトレースデータでオーバ
ーフローしても何ら支障がないのに対し、本発明者らが
検討したシステム評価装置では代替用メモリへのオーバ
ーフローによる上書きを防止しなければならない点にお
いて、上記先願発明のエミュレータとは明確に異なって
いた。
【0007】本発明の目的は、高速のRAMを内蔵した
マイクロコンピュータを用いたシステムの評価装置にお
いて、内蔵RAMのデータを確実にモニタできるように
した技術を提供することにある。
【0008】本発明の他の目的は、評価用マイクロコン
ピュータと制御用マイクロコンピュータとの間に設けら
れた代替用メモリへの上書きを回避しつつ内蔵RAMの
データのリアルタイムモニタを行なえるようにした技術
を提供することにある。
【0009】この発明の前記ならびにそのほかの目的と
新規な特徴については、本明細書の記述および添附図面
から明らかになるであろう。
【0010】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち代表的なものの概要を説明すれば、下記のと
おりである。
【0011】すなわち、本発明は、評価対象となるユー
ザーシステムに使用されるマイクロコンピュータに内蔵
されているメモリと同等の内蔵メモリを上記評価用マイ
クロコンピュータに持たせておくとともに、上記内蔵メ
モリに格納されるデータおよび対応するアドレスを複数
のFIFO(ファーストイン・ファーストアウト)方式
のバッファメモリに順次取り込んで保持させ、上記バッ
ファメモリに取り込まれたデータに基づいて上記内蔵メ
モリに対応する外付けメモリに書込みを行なって上記内
蔵メモリと同一のデータを上記外付けメモリに再現する
データ再構成手段を設けるようにしたものである。
【0012】上記した手段によれば、内蔵RAMへのリ
ード・ライト情報は複数のバッファメモリに一旦取り込
まれてから外付けのメモリに再現されるため、バッファ
メモリや外付けのメモリのアクセス速度が内蔵RAMの
アクセス速度より遅くても、内蔵RAMと同一のデータ
を外付けのメモリに再現することができ、この外付けの
メモリを制御用マイクロコンピュータがアクセスするこ
とで、内蔵RAMをほぼリアルタイムでモニタすること
が可能となる。
【0013】また、上記バッファメモリへのデータの取
込みおよび読出しはライトポインタとリードポインタと
を用いて行ない、ライトポインタの値がリードポインタ
の値に先行したときにデータの読出しを開始しリードポ
インタの値がライトポインタの値に一致した時点でデー
タの読出しを停止させるようにする。これによって、デ
ータの取りこぼしがなくなるので、迅速かつ正確なデー
タの再現が可能になる。
【0014】さらに、上記複数のバッファメモリ内の内
蔵RAMデータを格納するために利用される記憶領域の
記憶容量は、内蔵RAMの記憶容量の少なくとも2倍以
上とするのが良い。これによって、DMA(ダイレクト
・メモリ・アクセス)転送により内蔵RAMにデータが
格納される際にもバッファメモリのオーバーフローを防
止でき、データの欠落を回避することができる。
【0015】上記データ再構成手段は、基本となるクロ
ックと上記複数のバッファメモリのそれぞれから出力さ
れる読出しデータの有無を示す信号とに基づいて上記バ
ッファメモリに対する読出し用クロックを形成する読出
しクロック生成回路と、該クロック生成回路からの信号
に基づいて上記複数のバッファメモリから出力されたデ
ータを選択して上記外付けメモリに供給するセレクタ回
路とを含んで構成されるのが望ましい。これによって、
バッファメモリからの読出しデータがなくなるまで自動
的に読出しクロックが形成されてバッファメモリへ供給
されるので、誤ったデータの読出しが防止される。
【0016】また、上記評価用マイクロコンピュータが
実行するプログラムは、上記評価用マイクロコンピュー
タの外部に接続されたプログラム用代替メモリに格納さ
れるように構成されるのが望ましい。これによって、ユ
ーザープログラムにバグがあることが発見された場合に
容易にバグを取り除いたプログラムに置き換えてシステ
ム評価装置を動作させることができ、さらに効率の良い
システム評価が可能になるる。
【0017】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施例を詳細に
説明する。図1は本発明に係るシステム評価装置の位置
実施例を示す。
【0018】図1において、10は開発されたユーザー
システムに使用されるマイクロコンピュータ(またはマ
イクロプロセッサ)と同一の機能を有するエバチップ
(評価用マイクロコンピュータチップ)である。このエ
バチップ10は、CPU(中央処理装置)11と、該C
PU11と内部バス12を介して接続されCPUのワー
ク領域やデータの一時記憶領域として使用される高速の
内蔵RAM(ランダム・アクセス・メモリ)13と、外
部装置との間で信号をやり取りするためのI/Oポート
部14と、上記内部バス12を外部バス22に接続する
ための外部バスコントローラ15とを含んでいる。
【0019】この実施例のエバチップ10がユーザーシ
ステムに使用されるマイクロコンピュータと相違するの
は、外部バスコントローラ15を有している点と、ユー
ザーシステムに使用されるマイクロコンピュータではチ
ップ内部に設けられCPU11が実行するプログラムが
格納される内蔵ROM(リード・オンリ・メモリ)が外
付けの代替メモリ21として外部バスコントローラ15
を介して内部バス12に接続されている点にある。
【0020】20はシステム全体を制御したりホストコ
ンピュータとの間でデータ通信を行なう制御用マイクロ
コンピュータ、23は外部バス22上の信号をサンプリ
ングしてFIFO方式のバッファメモリ24に格納する
FIFO書込み回路、25はバッファメモリ24から読
み出されたデータに基づいて再構成RAM26内にエバ
チップ10の内蔵RAM13内の記憶データと同一のデ
ータを書き込んで内蔵RAMデータを再構成する再構成
RAM書込み回路である。
【0021】上記再構成RAM26はエバチップ10の
内蔵RAM13と同一もしくはそれ以上の記憶容量を有
するものの内蔵RAM13ほどアクセス速度が速くない
汎用のRAMで構成されている。この実施例では、上記
制御用マイクロコンピュータ20は、上記再構成RAM
書込み回路25が書込みを行なっていない間、いつでも
再構成RAM26内のデータを読み出すことができるよ
うに構成されている。
【0022】上記バッファメモリ24は、複数(この実
施例では2個)のFIFO24A,24Bとにより構成
される。FIFO24Aと24Bには、FIFO書込み
回路26および再構成RAM書込み回路25によって交
互にデータの書込み、読出しが行なわれるようにされて
いる。また、各FIFO24A,24Bは、それぞれデ
ータ格納部と、データの取込み(書込み)の際にアドレ
スが更新されるカウンタ回路からなるライトポインタ
と、データの読出しの際にアドレスが更新されるリード
ポインタと、上記ライトポインタとリードポインタの値
に基づいて上記データ格納部に対する選択信号を形成す
る選択回路(デコーダ)と、上記ライトポインタとリー
ドポインタの値を比較するコンパレータとを備えてい
る。ライトポインタの値がリードポインタの値に先行し
ていることを条件に外部からのリードクロックによりデ
ータの読出しを開始し、リードポインタの値がライトポ
インタの値に一致した時点でデータの読出しを停止する
ように構成されている。
【0023】さらに、この実施例では上記FIFO24
A,24Bは、格納されたすべてのデータが読み出され
た時点で読出しデータがなくなったことを示す信号EF
を出力するように構成されている。これによって、迅速
かつ正確なデータの再現が可能になる。また、上記FI
FO24A,24Bのデータ格納部のうち内蔵RAMデ
ータの記憶領域の容量が、内蔵RAMの記憶容量の少な
くとも2倍の記憶容量を有するようにされている。マイ
コン応用システムでは一般に、マイクロコンピュータが
ROM内のプログラムの命令を取り込みながら処理を行
なうので、内蔵RAMのアクセスは平均して2サイクル
に1回以下であり、DMA転送の場合のみ連続して内蔵
RAMがアクセスされるがそれもRAM容量以上になる
ことはない。従って、上記のように、FIFO24A,
24Bの内蔵RAMデータの記憶領域の容量が内蔵RA
Mの記憶容量の少なくとも2倍の記憶容量を有するよう
にされていることにより、DMA転送によって内蔵RA
Mにデータが格納される際にもバッファメモリのオーバ
ーフローを防止でき、データの欠落を回避することがで
きる。
【0024】上記説明で「内蔵RAMデータの記憶領域
の容量」とことわったのは、FIFO24A,24B
は、内蔵RAMのリード/ライトデータの他に、そのデ
ータのリード/ライトの際にバスに出力されるアドレス
も取り込んで保持するように構成されているためであ
る。ただし、アドレスはアドレスバス上の全ビットを取
り込む必要はなく、内蔵RAMのアドレス空間に対応し
たビットのみ取り込めば良い。例えば、内部アドレスバ
スが32ビットで、内蔵RAM13が8ビット並列読出
し構成で記憶容量が8kバイトの場合には、32ビット
のアドレスのうち下位13〜16ビットのみ取り込めば
良い。また、CPU11から出力されるコントロール信
号がFIFO書込み制御回路24に供給されるようにさ
れているが、CPU11から出力されるコントロール信
号すべてを供給する必要はなく、内蔵RAMのアクセス
に関連した信号(例えばRAMリード/ライト制御信号
WR)のみ供給すれば良い。
【0025】図2は、上記システム評価装置を自動車の
エンジン制御システムの評価装置として適用した場合の
構成を示す。図2において、符号50で示されている部
分が図1に示されているエバチップ10やバッファメモ
リ23、制御用マイクロコンピュータ20等からなるシ
ステム評価装置の部分で、上記各半導体チップ(ICお
よびLSIを含む)はエンジン制御用ボードと呼ばれる
プリント基板51上に搭載される。エンジン制御用ボー
ド51上には、上記システム評価装置50を構成するチ
ップの他、エンジンの近傍に設けられている回転検出器
などの各種センサからの検出信号をレベル変換してエバ
チップ10に入力するレベル変換回路や、エバチップ1
0から出力されるエンジンの制御信号に基づいてスロッ
トバルブを開閉させるアクチュエータなどを駆動する信
号を形成するドライバ等の周辺装置を構成するICが搭
載されている。
【0026】そして、上記エンジン制御ボード51は筐
体からなる制御用ユニット52に収納されて自動車のエ
ンジンルーム内に設置される。システム評価装置50内
の制御用マイクロコンピュータ20に対してデータ要求
などの指令を与えたり、制御用マイクロコンピュータ2
0によって読み出された内蔵RAMデータの送信を受け
るホストコンピュータとしてこの実施例ではパーソナル
コンピュータが使用されており、このパーソナルコンピ
ュータは車内の補助席やダッシュボード等の上に載置さ
れ、パーソナルコンピュータと制御用ユニット52とは
ケーブルによって通信可能に接続される。
【0027】図3および図4にはFIFO書込み回路2
3の具体的な回路例およびその動作タイミングが示され
ている。エバチップ10に接続された外部バスとしての
アドレスバス22Aとデータバス22Bにはラッチ回路
31A,31Bが接続され、クロック発生回路30から
供給されるクロックCLKA,CLKBにより各バス上
の信号がラッチ回路31A,31Bに取り込まれる。こ
のときクロックCLKA,CLKBは基本クロックCL
Kの2倍の周期を有しCLKBはCLKAの逆相信号と
される。これにより、ラッチ回路31Aには基本クロッ
クCLKの偶数サイクルにおけるバス22A,22B上
のデータがそれぞれ取り込まれる。また、ラッチ回路3
1Bには基本クロックCLKの奇数サイクルにおけるバ
ス22A,22B上のデータがそれぞれ取り込まれる。
このようなラッチ動作により、ラッチ回路31A,31
Bの出力側のバス32A,32B上の信号は、バス22
A,22B上の信号の周期の2倍となり、FIFO24
A,24Bのデータ書込み速度がエバチップ10の内蔵
RAM13のデータ書込み速度に比べて約2倍くらい遅
い場合であっても、FIFO24A,24Bへのデータ
の書込みが可能となる。つまり、安価な低速のFIFO
を使ってバッファメモリ24を構成することができる。
【0028】さらに、エバチップ10からは内蔵RAM
のリード/ライトを示す信号/WR(ロウレベルが有効
レベル)が出力され、この信号/WRはアドレスバス2
2A上のアドレス信号とともに内蔵RAMリード・ライ
ト信号発生回路33に供給されるように構成されてい
る。この内蔵RAMリード・ライト信号発生回路33
は、アドレスバス22A上のアドレスが内蔵RAMのア
ドレス空間をアクセスするものであることを判定するコ
ンパレータを備えており、内蔵RAMがアクセスされた
ときにリード・ライトを示す信号/RAMWRを出力す
る。そして、この信号/RAMWRはD型フリップフロ
ップ34のクロック端子に入力されており、フリップフ
ロップ34はその反転出力/Qがデータ端子に帰還され
ている。これによって、フリップフロップ34からは、
内蔵RAMへのリード・ライトが発生する度に反転する
ような出力信号Q(書込みタイミング信号/WRTI
M)が出力される。
【0029】フリップフロップ34の出力信号Q,/Q
は一対のクロックラッチ用のラッチ回路35A,35B
のクロック端子に入力されており、出力Q(/WRTI
M)がロウレベルからハイレベルへ変化するときにラッ
チ回路35Aがそのときの準基本クロックCLKAの状
態を取り込み、反転出力/Qがロウレベルからハイレベ
ルへ変化するときにラッチ回路35Bがそのときの準基
本クロックCLKAの状態を取り込むように動作し、こ
れによってセレクタ36A,36Bの制御信号BUSE
NA,BUSENBが形成される。セレクタ36A,3
6Bはバス32Aまたは32B上のいずれかの信号を選
択してFIFO24AまたはFIFO24Bへ供給す
る。上記制御信号BUSENAまたはBUSENBのレ
ベルがハイレベルのときセレクタ36A,36Bはバス
32Aを選択し、ロウレベルのときはセレクタ36A,
36Bはバス32Bを選択するように接続がなされてい
る。
【0030】さらに、フリップフロップ34の出力Q
(/WRTIM)と基本クロックCLKがFIFO24
A,24Bの取込み許可信号/WRA,/WRBを形成
するWR信号発生回路(ライト制御信号発生回路)37
に供給されており、内蔵RAMがリード・ライトされる
度に交互に有効レベル(ロウレベル)にされる取込み許
可信号/WRA,/WRBが形成され、FIFO24
A,24Bに供給される。この取込み許可信号/WR
A,/WRBと、上記セレクタ36A,36Bの選択動
作とによって、内蔵RAMがリード・ライトされる度に
FIFO24A,24Bに対して交互にバス22A,2
2B上のアドレスおよびデータが書き込まれることとな
る。
【0031】FIFO書込み回路23の動作タイミング
を示す図4において、斜線が付されたデータおよび括弧
書きされている符号の付されたデータは、バス上には現
れるものの無効とされるデータであることを意味してい
る。また、図3には、FIFO24A,24Bとしてそ
れぞれ1個ずつ示されているが、実際には、使用するF
IFOの容量およびアドレスとデータのビット数に応じ
て、内蔵RAM13の容量の2倍に相当するデータおよ
び対応するアドレスを格納するのに充分な数のFIFO
がそれぞれ設けられる。具体的には、データバスが8ビ
ットで内蔵RAM13の容量が8kバイト、使用するF
IFOは1ビット入出力構成で8kビットの容量を持つ
場合、内蔵RAMデータ記憶用にFIFO24Aと24
B合わせて8×2個必要とされる。また、アドレス記憶
用にFIFO24Aと24B合わせて13〜16×2個
必要とされる。ただし、多ビット入出力構成のFIFO
も存在するので、例えば8ビット入出力構成で64kビ
ットの容量を持つFIFOを使用する場合には、内蔵R
AMデータ記憶用にFIFO24Aと24B合わせて2
個、またアドレス記憶用にはFIFO24Aと24B合
わせて2×2個設けてやれば良い。
【0032】図5および図6には、FIFO24A,2
4Bに供給される上記取込み許可信号/WRA,/WR
Bを発生するWR信号発生回路37の具体的な回路例お
よびその動作タイミングが示されている。
【0033】この実施例のWR信号発生回路37は、基
本クロックCLKをインバータ71で反転した信号によ
って、内蔵RAMリード・ライト信号発生回路33から
の信号/WRTIMをラッチするD型フリップフロップ
からなるラッチ回路72と、該ラッチ回路72に接続さ
れた遅延用のラッチ回路73,74,75と、初段のラ
ッチ回路72の出力Qをクロックとして所定のレベル
(ロウレベル)をラッチして取込み許可信号/WRAを
形成するラッチ回路76と、ラッチ回路72の出力/Q
をクロックとして所定のレベル(ロウレベル)をラッチ
して取込み許可信号/WRBを形成するラッチ回路78
と、ラッチ回路75の出力Qをクロックとして所定のレ
ベル(ロウレベル)をラッチして上記ラッチ回路77の
リセット信号を形成するラッチ回路77と、ラッチ回路
75の出力/Qをクロックとして所定のレベル(ロウレ
ベル)をラッチして上記ラッチ回路77のリセット信号
を形成するラッチ回路79とにより構成されている。
【0034】上記ラッチ回路72,73,74,75
は、内蔵RAMリード・ライト信号発生回路33からの
信号/WRTIMをそれぞれ基本クロックCLKの半周
期ずつ遅らせて後段へ伝えるように機能する。上記ラッ
チ回路77と79の出力はそれぞれシステムリセット信
号/RSTとともにANDゲートG1,G3に入力さ
れ、このANDゲートG1,G3の出力信号が上記ラッ
チ回路76,78のリセット端子に入力されている。一
方、ラッチ回路76と78の出力はそれぞれシステムリ
セット信号RSTとともにANDゲートG2,G4に入
力され、このANDゲートG2,G4の出力信号が上記
ラッチ回路77,79のリセット端子に入力されてい
る。従って、ラッチ回路77と79は、ラッチ回路72
の出力によりラッチ動作して取込み許可信号/WRA,
/WRBを有効レベルにするラッチ回路76と78をリ
セットして、取込み許可信号/WRA,/WRBを無効
レベルにさせるように機能する。
【0035】上記構成によって、図6に示すように、内
蔵RAMリード・ライト信号発生回路33からの信号/
WRTIMを半周期遅らせた信号WRTIM1の立ち上
がりに同期して有効レベル(ロウレベル)とされる取込
み許可信号/WRAと、信号/WRTIMの立ち下がり
に同期して有効レベル(ロウレベル)とされる取込み許
可信号/WRBが形成されて、FIFO24A,24B
に供給される。また、図6より、ラッチ回路75の出力
Q(WRTIM4)は、その立ち上がりによって取込み
許可信号/WRAを無効レベル(ハイレベル)に変化さ
せ、その立ち下がりによって取込み許可信号/WRBを
無効レベル(ハイレベル)に変化させるように働くこと
が分かる。
【0036】図7および図8には、FIFO24A,2
4Bから読み出されたデータに基づいて再構成RAM2
6内にエバチップの内蔵RAM13と同一のデータを再
現する上記再構成RAM書込み回路25の具体的な回路
例およびその動作タイミングが示されている。
【0037】FIFO24A,24Bは、リードクロッ
クが入力されることにより取り込んでいたデータを読み
出すとともに、ライトポインタとリードポインタとを比
較して一致したときすなわち取り込んだデータをすべて
読み出し終えた時にロウレベルに変化するエンプティフ
ラグ信号EFを出力するように構成されている。この実
施例の再構成RAM書込み回路25は、2つのFIFO
24A,24Bから出力される上記エンプティフラグ信
号EFA,EFBを準基本クロックCLKBの立ち上が
りに同期してラッチするラッチ回路81A,81Bと、
該ラッチ回路81A,81Bの出力信号と上記クロック
CLKBとを入力とするANDゲート82A,82B
と、これらのANDゲート82A,82Bの出力信号に
よってラッチ動作するラッチ回路83A,83Bを備え
ている。
【0038】そして、このラッチ回路83A,83Bは
それぞれその反転出力/Qがデータ入力端子に帰還さ
れ、クロックが入る度に出力が反転するように構成され
ているとともに、ラッチ回路83Aの出力QはANDゲ
ート84Aを介してリードクロックとして上記FIFO
24Aに供給され、ラッチ回路83Bの出力/QはAN
Dゲート84Bを介してリードクロックとして上記FI
FO24Bに供給されるように構成されている。これに
よって、2つのFIFO24A,24Bから出力される
上記エンプティフラグ信号EFA,EFBがそれぞれ読
み出されていないデータを保持していることを示すハイ
レベルにされていると、ANDゲート82A,82Bを
介して準基本クロックCLKBがラッチ回路83A,8
3Bに供給されてラッチ動作をさせるため、互いに準基
本クロックCLKBの1周期分ずれて変化する信号がラ
ッチ回路83A,83BからANDゲート84A,84
Bを介してFIFO24A,24BにリードクロックC
LKC,CLKDとして供給される。その結果、FIF
O24A,24Bからは交互にデータが読み出されるよ
うになる。
【0039】また、この実施例では、上記FIFO24
A,24Bから読み出されたデータ(内蔵RAMのリー
ドアドレス,ライトアドレスを含む)を切り換えるセレ
クタ85A,85Bと切り換えられたデータを保持する
バッファ86A,86Bが設けられており、セレクタ8
5A,85Bは上記FIFO24Aにリードクロックと
して供給される信号(CLKC)に応じて、それがロウ
レベルのときはFIFO24Aから読み出されたデータ
とアドレスを選択してバッファ86A,86Bに保持さ
せる。一方、上記FIFO24Aにリードクロックとし
て供給される信号(CLKC)に応じて、それがハイレ
ベルのときは、セレクタ85A,85BはFIFO24
Bから読み出されたデータとアドレスを選択してバッフ
ァ86A,86Bに保持させる。上記セレクタ85A,
85Bを切り換える信号としては、上記FIFO24B
にリードクロックとして供給される信号(CLKD)を
用いるようにしても良いことは言うまでもない。
【0040】上記バッファ86A,86Bと再構成RA
M26との間にはバス切換え回路87A,87Bが設け
られており、制御用マイクロコンピュータ20から出力
されるバス切換え信号BCによって再構成RAM26を
上記バッファ86A,86B側のバスまたは制御用マイ
クロコンピュータ側のバスのいずれかに接続させるよう
に構成されている。さらに、上記制御用マイクロコンピ
ュータ20から出力されるバス切換え信号BCが上記A
NDゲート84A,84Bにゲート制御信号として供給
されており、バス切換え回路87A,87Bがバッファ
86A,86B側のバスを再構成RAM26に接続させ
ているときにのみANDゲート84A,84Bを通して
ラッチ回路83A,83Bの出力をリードクロックCL
KC,CLKDとしてFIFO24A,24Bへ供給さ
せて、再構成RAM26への書込みを可能とする。
【0041】一方、バス切換え回路87A,87Bが制
御用マイクロコンピュータ20側のバスを再構成RAM
26に接続させているときはANDゲート84A,84
Bを遮断してFIFO24A,24Bへのリードクロッ
クCLKC,CLKDの供給を停止して、FIFO24
A,24Bから読み出されたデータの再構成RAM26
への書込みを禁止し、制御用マイクロコンピュータ20
が再構成RAM26の読出しを行なえるように構成され
ている。上記ANDゲート84A,84Bを設けてFI
FO24A,24BへのリードクロックCLKC,CL
KDの供給を停止可能とする代わりに、制御用マイクロ
コンピュータ20にFIFO24A,24Bからのエン
プティフラグ信号EFA,EFBを入力して、FIFO
24A,24Bが空になったつまりFIFO24A,2
4Bのデータがすべて再構成RAM26に転送されたこ
とを確認してから制御用マイクロコンピュータ20が再
構成RAM26の読出しを行なうように構成しても良
い。
【0042】また、上記ラッチ回路83Aの出力Qとラ
ッチ回路83Bの出力/Qとを入力とするANDゲート
88が設けられ、このANDゲート88の出力が上記バ
ッファ86A,86Bにデータの取込みを許可するイネ
ーブル信号/BENとして供給される。従って、このイ
ネーブル信号/BENは上記FIFO24A,24Bに
供給されるリードクロックCLKC,CLKDのいずれ
か一方がロウレベルにされていずれかのFIFO24
A,24Bから読出しが行なわれている間はロウレベル
となり、バッファ86A,86Bにデータの取込みを許
可する。一方、リードクロックCLKC,CLKDが共
にハイレベルにされていずれのFIFO24A,24B
からも読出しが行なわれない間はハイレベルとなり、バ
ッファ86A,86Bへのデータの取込みを禁止する。
【0043】さらに、上記ラッチ回路83Aの出力Qと
ラッチ回路83Bの出力/Qとを入力とするANDゲー
ト88の出力と準基本クロックCLKBとを入力とする
ORゲート89が設けられ、このORゲート89の出力
信号が上記再構成RAM26に対する書込み許可信号/
WREとして供給される。上述したように、上記AND
ゲート88の出力(/BEN)は、上記FIFO24
A,24Bに供給されるリードクロックCLKC,CL
KDのいずれか一方がロウレベルにされていずれかのF
IFO24A,24Bから読出しが行なわれている間
(T1,T3)ずっとロウレベルとされるため、図8に
示すように、クロックCLKC,CLKDのロウレベル
にされる期間T1,T3に対応して書込み許可パルスが
形成され、これによってバス切換え回路87A,87B
がバッファ86A,86B側のバスを再構成RAM26
に接続していることを条件にFIFO24A,24Bか
ら読み出されたアドレスおよびデータによる書込みが実
行される。
【0044】なお、図8において、期間T2においてF
IFO24A,24Bからの読出しが行なわれていない
のは、データ,が読み出された時点でFIFO24
A,24Bが空になり、FIFO24A,24Bからそ
れぞれ出力されるエンプティフラグ信号EFA,EFB
が、読み出しデータがなくなったことを示すロウレベル
に変化されているためである。
【0045】次に、本実施例のシステム評価装置におけ
るエバチップ10の内蔵RAM13内のデータを再構成
RAM26内に再構成する際の手順を図9を用いて説明
する。 図9には、CPU11が図9(A)のようなア
ドレスとデータを上から順番に内部バス12上へ出力し
て内蔵RAM13に書込みを行なった場合のデータの流
れが示されている。
【0046】図9(A)のようなアドレスとデータがC
PU11から順に出力されると、内蔵RAM13では、
図9(B)のようにアドレス「1000」,「101
0」,「1016」の位置にデータ「50」,「1
F」,「33」が順に書き込まれる。そして、次に同一
のアドレス「1010」が出力されるため、元のデータ
「1F」が「60」に書き換えられる。続いて、アドレ
ス「1100」にデータ「55」が書き込まれ、その後
アドレス「1016」のデータ「33」が「AA」に、
またアドレス「1100」のデータ「55」が「43」
に書き換えられる。
【0047】一方、CPU11から出力された図9
(A)のアドレスとデータは、外部バスコントローラ1
5によって外部バス22へ出力されるため、書込み回路
23の動作によって、図9(C)のようにFIFO24
A,FIFO24Bに交互に書き込まれてゆく。そし
て、FIFO24A,24Bに書き込まれたアドレスと
データは、再構成RAM書込み回路25の動作によって
読み出され、読み出されたアドレスに基づいて再構成R
AM26に対応するデータが書き込まれる。そして、こ
の際、同一アドレスに関してはデータの上書きが行なわ
れる。そのため、図9(D)に示すように、内蔵RAM
のデータを示す図9(B)と全く同一のデータ書込みが
実行され、再構成RAMには常に内蔵RAMと同一の記
憶データが再現されることとなる。
【0048】従って、制御用マイクロコンピュータ20
は再構成RAM26のデータを読み出してホスト側のパ
ーソナルコンピュータへデータを送りそのモニタ装置に
表示させることができる。その結果、オペレータはその
データとエンジンの稼働状態や自動車の走行状態とを比
較して判定を行ない、必要に応じて代替メモリ21内の
制御パラメータを変更するなどしてシステムの最終調整
を行なうことができるようになる。
【0049】以上、本発明をエンジン制御システムの評
価装置に適用した実施例について説明したが、この発明
はそれに限定されるものでなく、マイコン応用システム
のデバッグ等に用いられるエミュレータにも適用するこ
とができる。
【0050】図10に、本発明をエミュレータに適用し
た場合の一実施例のブロック図が示されている。
【0051】この実施例のエミュレータは、図10に示
すように、エミュレーションや各種デバッグ機能を実行
するためのエミュレーション制御部101、ユーザプロ
グラムの実行停止条件を設定し、条件が成立したときに
ユーザプログラムを停止させるブレーク制御部102、
プローブ109およびユーザーシステムI/Fケーブル
を介してユーザーシステムのバス上の信号を取得するト
レースメモリ103、エミュレーションや各種デバッグ
機能を実現するためのエミュレーション制御用プログラ
ムが格納されたりユーザーシステムのメモリが用意され
ていない場合に貸し出しされる代行メモリ104、ホス
トコンピュータとの間でデータ通信を行なうためのシリ
アルインタフェース105およびそれらの制御を司る制
御用マイクロコンピュータ106などから構成され、エ
ミュレータ100から延長されたユーザインタフェース
ケーブル107の先端のポッド部108がユーザーシス
テム上のMPUソケット110に結合されることによ
り、ユーザーシステムと接続されるようにされている。
【0052】なお、上記ポッド部108内にユーザーシ
ステムに用いられるマイクロコンピュータと同等の機能
を有する代行マイクロコンピュータ(エバチップ)が設
けられている。
【0053】上記構成は一般的なエミュレータと同一の
構成であり、評価用マイクロコンピュータがユーザプロ
グラムとエミュレーションプログラムとを切り替えなが
ら実行して、ユーザプログラム実行中にトレースメモリ
103に記憶されたデータを解析することでデバッグを
行えるように構成されている。
【0054】この実施例では、上記一般的なエミュレー
タの構成に加えてさらに、第1の実施例(図1参照)で
説明したのと同様の機能を有するFIFO書込み回路2
3と、複数のFIFOからなるバッファメモリ24と、
再構成RAM26および再構成RAM書込み回路25が
エミュレーションバス11とシステムバス112との間
に設けられている。
【0055】この実施例のエミュレータにおいても、上
記システム評価装置と同様に、エバチップ内の内蔵RA
Mのデータを再構成RAM26に再現することができ、
制御用マイクロコンピュータ106は、この再構成RA
M26をアクセスすることでリアルタイムで内蔵RAM
の記憶データを知ることができ、ユーザーシステムの効
率の良いデバッグが可能となる。
【0056】以上本発明者によってなされた発明を実施
例に基づき具体的に説明したが、本発明は上記実施例に
限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で
種々変更可能であることはいうまでもない。例えば上記
実施例では、再構成RAM書込み回路25を設けて再構
成RAM26へのデータの再現を行なっているが、再構
成RAM書込み回路25を設ける代わりに、制御用マイ
クロコンピュータ20(106)がプログラムに従って
つまりソフトウェア的にFIFO24A,FIFO24
Bから順次データを読み出して再構成RAM26へ書込
みを行なうように構成することも可能である。
【0057】また、上記実施例では、バッファメモリ2
4(FIFO24A,24B)の内蔵RAMデータの記
憶領域の容量が内蔵RAMの記憶容量の少なくとも2倍
の記憶容量を有するように構成することにより、バッフ
ァメモリがオーバーフローを起こしてデータの欠落を回
避するようにしたが、より確実にオーバーフローを防止
するため、バッファメモリへの書込みデータ数と読出し
データの数を監視する回路を設けてオーバーフローを起
こしそうになったらエバチップのCPUに割り込みをか
けて内蔵RAMのアクセスを中止させるように構成する
ことも可能である。これによって、バッファメモリの容
量を必要最小限に抑えることができる。
【0058】ただし、エミュレータにおけるトレースメ
モリはプログラムをあるポイントからあるポイントまで
走らせてその間のバス上の信号を蓄積しておいて後で読
出して解析するために用いられるのに対し、本発明の対
象とするシステム評価装置におけるバッファメモリは、
プログラムを走らせながら、内蔵RAM内のデータの様
子をリアルタイムで監視するために用いられるもので、
書込みと並行して読出しが実行されるため、内蔵RAM
の記憶容量の少なくとも2倍の記憶容量を有していれ
ば、実際にオーバーフローを起こすことはほとんど考え
られない。
【0059】以上の説明では主として本発明者によって
なされた発明をその背景となった利用分野である自動車
のエンジン制御システムの評価装置に適用した場合につ
いて説明したが、この発明はそれに限定されるものでな
く、空調装置や洗濯機などモータを備え微妙な制御が必
要とされる制御システムにおいて実際にシステムを稼働
させながら制御パラメータを得たいような場合に広く利
用することができる。
【0060】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記
のとおりである。
【0061】すなわち、高速のRAMを内蔵したマイク
ロコンピュータを用いたシステムの評価装置において、
内蔵RAMのデータを確実にモニタすることができると
ともに、評価用マイクロコンピュータと制御用マイクロ
コンピュータとの間に設けられたメモリへの上書きを回
避しつつ内蔵RAMのデータのリアルタイムモニタを行
なえるようになるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用したシステム評価装置の一実施例
を示すブロック図である。
【図2】図1の実施例のシステム評価装置を適用して好
適なシステムの一例としての自動車エンジン制御システ
ムの構成例を示す説明図である。
【図3】図1の実施例のシステム評価装置を構成するF
IFO書込み回路の具体例を示すブロック図である。
【図4】図3の実施例のFIFO書込み回路の動作タイ
ミングを示すタイミングチャートである。
【図5】図4のFIFO書込み回路を構成するWR信号
発生回路の具体例を示すブロック図である。
【図6】図5のWR信号発生回路の動作タイミングを示
すタイミングチャートである。
【図7】図1の実施例のシステム評価装置を構成する再
構成RAM書込み回路の具体例を示すブロック図であ
る。
【図8】図7の再構成RAM書込み回路の動作タイミン
グを示すタイミングチャートである。
【図9】実施例のシステム評価装置におけるエバチップ
の内蔵RAM内のデータを再構成RAM内に再構成する
際の手順を示すデータフロー図である。
【図10】本発明をエミュレータに適用した場合の一実
施例を示すブロック図である。
【図11】従来のシステム評価装置の構成例を示すブロ
ック図である。
【符号の説明】
10 評価用チップ(エバチップ) 11 CPU(中央処理装置) 12 内部バス 13 内蔵RAM 14 I/Oポート部 15 外部バスコントローラ 20 制御用マイクロコンピュータ 21 代替メモリ 22 外部バス 23 FIFO書込み回路 24 バッファメモリ 24A,24B FIFO 25 再構成RAM書込み回路 26 再構成RAM 50 システム評価装置 51 エンジン制御ボード 52 エンジン制御ユニット 101 エミュレーション制御部 102 ブレーク制御回路 103 トレースメモリ 104 代替メモリ 105 シリアル通信インタフェース 106 制御用マイクロコンピュータ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 村田 浩之 東京都小平市上水本町五丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体事業部内 (72)発明者 奥山 春一 東京都小平市上水本町五丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体事業部内 (72)発明者 五十嵐 正樹 山形県米沢市大字花沢字八木橋東3の3274 日立米沢電子株式会社内

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 評価対象のシステムに使用されるマイク
    ロコンピュータと同等の機能を有する評価用マイクロコ
    ンピュータを用いて評価対象システムを動作させて評価
    を行なうシステム評価装置において、 評価対象システムに使用されるマイクロコンピュータに
    内蔵されているメモリと同等の内蔵メモリを上記評価用
    マイクロコンピュータに持たせておくとともに、上記内
    蔵メモリに格納されるデータおよび対応するアドレスを
    複数のファーストイン・ファーストアウト方式のバッフ
    ァメモリに順次取り込んで保持させ、上記バッファメモ
    リに取り込まれたデータに基づいて上記内蔵メモリに対
    応する外付けメモリに書込みを行なって上記内蔵メモリ
    と同一のデータを上記外付けメモリに再現するデータ再
    構成手段を設け、上記外付けメモリに書き込まれたデー
    タを制御用マイクロコンピュータによって読出し可能に
    構成したことを特徴とするシステム評価装置。
  2. 【請求項2】 評価対象のシステムに使用されるマイク
    ロコンピュータと同等の機能を有し評価対象システムに
    使用されるマイクロコンピュータに内蔵されているメモ
    リと同等の内蔵メモリを備えた評価用マイクロコンピュ
    ータと、 制御用マイクロコンピュータと、 上記内蔵メモリに格納されるデータおよび対応するアド
    レスを順次取り込んで保持する複数のファーストイン・
    ファーストアウト方式のバッファメモリと、 上記内蔵メモリに対応した記憶構成を有し上記制御用マ
    イクロコンピュータに接続された外付けメモリと、 上記バッファメモリに取り込まれたデータに基づいて上
    記外付けメモリに書込みを行なって上記内蔵メモリと同
    一のデータを上記外付けメモリに再現するデータ再構成
    手段とを備え、 上記外付けメモリに書き込まれたデータを上記制御用マ
    イクロコンピュータが読出し可能に構成されてなること
    を特徴とするシステム評価装置。
  3. 【請求項3】 上記バッファメモリは、最終書込みデー
    タの格納位置を示すライトポイントと、最終読出しデー
    タの格納位置を示すリードポインタと、上記ライトポイ
    ンタの値と上記リードポインタの値を比較して一致した
    ときに未読出しのデータが存在しないことを示す信号を
    出力するように構成されていることを特徴とする請求項
    1または2に記載のシステム評価装置。
  4. 【請求項4】 上記複数のバッファメモリのデータ用の
    記憶容量は、上記内蔵メモリの記憶容量の少なくとも2
    倍以上であることを特徴とする請求項1、2または3に
    記載のシステム評価装置。
  5. 【請求項5】 上記データ再構成手段は、基本となるク
    ロックと上記複数のバッファメモリのそれぞれから出力
    される読出しデータの有無を示す信号とに基づいて上記
    バッファメモリに対する読出し用クロックを形成する読
    出しクロック生成回路を含んでなることを特徴とする請
    求項1、2、3または4に記載のシステム評価装置。
  6. 【請求項6】 上記評価用マイクロコンピュータが実行
    するプログラムは、上記評価用マイクロコンピュータの
    外部に接続された代替メモリに格納されるように構成さ
    れていることを特徴とする請求項1、2、3、4または
    5に記載のシステム評価装置。
  7. 【請求項7】 請求項1、2、3、4、5または6に記
    載のシステム評価装置を搭載してなることを特徴とする
    自動車のエンジン制御システム。
  8. 【請求項8】 評価対象のシステムに使用されるマイク
    ロコンピュータと同等の機能を有し評価対象システムに
    使用されるマイクロコンピュータに内蔵されているメモ
    リと同等の内蔵メモリを備えた評価用マイクロコンピュ
    ータと、 制御用マイクロコンピュータと、 上記評価対象のシステムのバス上の信号を逐次取り込ん
    で保持するトレースメモリと、 上記評価用マイクロコンピュータが実行する評価対象シ
    ステムの動作プログラムを任意の位置で停止させるブレ
    ーク制御回路と、 上記内蔵メモリに格納されるデータおよび対応するアド
    レスを順次取り込んで保持する複数のファーストイン・
    ファーストアウト方式のバッファメモリと、 上記内蔵メモリに対応した記憶構成を有し上記制御用マ
    イクロコンピュータに接続された外付けメモリと、 上記バッファメモリに取り込まれたデータに基づいて上
    記外付けメモリに書込みを行なって上記内蔵メモリと同
    一のデータを上記外付けメモリに再現するデータ再構成
    手段とを備え、 上記外付けメモリに書き込まれたデータを上記制御用マ
    イクロコンピュータが読出し可能に構成されてなること
    を特徴とするエミュレータ。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001093040A1 (fr) * 2000-05-30 2001-12-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Systeme et procede d'analyse de compteur de programme, et dispositif a semi-conducteur
JP2002214308A (ja) * 2001-01-12 2002-07-31 Sony Corp マイクロコンピュータ及びこれを搭載する電子機器
JP2007522554A (ja) * 2004-02-09 2007-08-09 コンティネンタル・テーベス・アクチエンゲゼルシヤフト・ウント・コンパニー・オッフェネ・ハンデルスゲゼルシヤフト 車両内のセキュリティ上問題のあるコンピュータシステムのための埋込式システムの分析装置及び方法

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WO2001093040A1 (fr) * 2000-05-30 2001-12-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Systeme et procede d'analyse de compteur de programme, et dispositif a semi-conducteur
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