JPH11230882A - 試験力自動演算式硬さ試験機 - Google Patents
試験力自動演算式硬さ試験機Info
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- JPH11230882A JPH11230882A JP4432198A JP4432198A JPH11230882A JP H11230882 A JPH11230882 A JP H11230882A JP 4432198 A JP4432198 A JP 4432198A JP 4432198 A JP4432198 A JP 4432198A JP H11230882 A JPH11230882 A JP H11230882A
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- test force
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ビッカース硬さ試験機において、試験力の自
動演算を可能にする。 【解決手段】 圧子２に所定の試験力Ｆを付与する試験
力制御部13と、試験機の機械的・電気的コントロールを
行なうマイクロコンピュータ20とをそなえたビッカース
硬さ試験機10において、マイクロコンピュータ20に［数
４］式を予め格納するとともに、試料の厚さｈ，想定さ
れる試料のビッカース硬さＨＶを入力して、試験力Ｆを
演算できるようにした。 【数４】
動演算を可能にする。 【解決手段】 圧子２に所定の試験力Ｆを付与する試験
力制御部13と、試験機の機械的・電気的コントロールを
行なうマイクロコンピュータ20とをそなえたビッカース
硬さ試験機10において、マイクロコンピュータ20に［数
４］式を予め格納するとともに、試料の厚さｈ，想定さ
れる試料のビッカース硬さＨＶを入力して、試験力Ｆを
演算できるようにした。 【数４】
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ビッカース硬さ試
験やヌープ硬さ試験のように、試料（表面）に圧子を押
し付け、そのとき試料に形成されたくぼみの対角線長に
基づいて当該試料の硬さを計測する形式の硬さ試験機
（以下「押込み型硬さ試験機」と称する）に関し、特に
フィルムのように試料厚さの薄い材料の硬さ試験の際の
適正な試験力を自動的に演算できるようにした、試験力
自動演算式硬さ試験機に関する。
験やヌープ硬さ試験のように、試料（表面）に圧子を押
し付け、そのとき試料に形成されたくぼみの対角線長に
基づいて当該試料の硬さを計測する形式の硬さ試験機
（以下「押込み型硬さ試験機」と称する）に関し、特に
フィルムのように試料厚さの薄い材料の硬さ試験の際の
適正な試験力を自動的に演算できるようにした、試験力
自動演算式硬さ試験機に関する。
【０００２】
【従来の技術】図４において、符号10はビッカース硬さ
試験機の本体を示しており、この本体10には、試料台１
と、ダイヤモンド製の四角錐の圧子２および対物レンズ
５をそなえたレボルバー４とが設けられている。
試験機の本体を示しており、この本体10には、試料台１
と、ダイヤモンド製の四角錐の圧子２および対物レンズ
５をそなえたレボルバー４とが設けられている。
【０００３】圧子２の試料Ｓの表面への押し込みは、マ
イクロコンピュータ20の出力装置としての試験力制御部
13の指令を受けて、マイクロコンピュータ20で設定され
た試験力が圧子２に付加されて下降することにより、な
されるようになっている。
イクロコンピュータ20の出力装置としての試験力制御部
13の指令を受けて、マイクロコンピュータ20で設定され
た試験力が圧子２に付加されて下降することにより、な
されるようになっている。
【０００４】試料Ｓの表面にくぼみが付与された後、レ
ボルバー４の切替えにより圧子２の位置に対物レンズ５
が入れ替わり、ＣＣＤカメラ６によって試料Ｓの表面の
くぼみの光学画像が、例えば４００倍くらいに拡大され
る。
ボルバー４の切替えにより圧子２の位置に対物レンズ５
が入れ替わり、ＣＣＤカメラ６によって試料Ｓの表面の
くぼみの光学画像が、例えば４００倍くらいに拡大され
る。
【０００５】ＣＣＤカメラ６の検出信号は、Ａ／Ｄ変換
器11によって濃淡階調段数が２５６段（８ビット）のデ
ィジタル信号に変換されてから、画像メモリ21に格納さ
れる。マイクロコンピュータ20には、画像メモリ21のほ
か演算装置23，主記憶装置22，制御装置24がそなえられ
ている。
器11によって濃淡階調段数が２５６段（８ビット）のデ
ィジタル信号に変換されてから、画像メモリ21に格納さ
れる。マイクロコンピュータ20には、画像メモリ21のほ
か演算装置23，主記憶装置22，制御装置24がそなえられ
ている。
【０００６】演算装置23では主記憶装置22に格納されて
いる制御プログラムにしたがって、硬度計全体の機械的
・電気的動きのコントロールや、硬度演算に必要な信号
処理，計算処理などが行なわれる。符号29はＣＲＴ表示
器を示しており、この表示器の画面に画像メモリ21に記
憶されているくぼみ画像や、設定・入力情報が表示され
る。
いる制御プログラムにしたがって、硬度計全体の機械的
・電気的動きのコントロールや、硬度演算に必要な信号
処理，計算処理などが行なわれる。符号29はＣＲＴ表示
器を示しており、この表示器の画面に画像メモリ21に記
憶されているくぼみ画像や、設定・入力情報が表示され
る。
【０００７】上述のビッカース硬さ試験機のような押込
み型硬さ試験機では、試料の厚さが所定厚さ以上ない
と、試料の表面の硬さと内部の硬さとが異なっている場
合等において、正確な硬さ測定を行なうことができな
い。したがって、ＪＩＳでは最小厚さが規定されてい
る。
み型硬さ試験機では、試料の厚さが所定厚さ以上ない
と、試料の表面の硬さと内部の硬さとが異なっている場
合等において、正確な硬さ測定を行なうことができな
い。したがって、ＪＩＳでは最小厚さが規定されてい
る。
【０００８】すなわち、図５(ａ),(ｂ)に示すようにビ
ッカース硬さ試験機でビッカース硬さ測定を行なう場
合、ＪＩＳ規格では、［数１］式に示すように、試料Ｓ
の厚さｈは、くぼみＤの対角線長さ（平均値）ｄの１.
５倍以上必要であると定めている。
ッカース硬さ試験機でビッカース硬さ測定を行なう場
合、ＪＩＳ規格では、［数１］式に示すように、試料Ｓ
の厚さｈは、くぼみＤの対角線長さ（平均値）ｄの１.
５倍以上必要であると定めている。
【数１】
【０００９】符号２は圧子を示している。一方、ビッカ
ース硬度ＨＶは、［数２］式で表される。
ース硬度ＨＶは、［数２］式で表される。
【数２】 ただし、Ｆ：試験力（単位：ニュートン）
【００１０】そこで、従来は、試料の厚さ（膜厚）およ
び大凡の硬さが推定できるとき、［数２］式を変形した
［数３］式で試験力を設定している。
び大凡の硬さが推定できるとき、［数２］式を変形した
［数３］式で試験力を設定している。
【数３】
【００１１】ヌープ硬さ測定を行なう場合、試料Ｓの厚
さｈは、［数５］式に示すように、くぼみＤの対角線長
の長い方の長さ（対角線長）ｄの０.３倍以上必要であ
ると定めている。
さｈは、［数５］式に示すように、くぼみＤの対角線長
の長い方の長さ（対角線長）ｄの０.３倍以上必要であ
ると定めている。
【数５】ｈ≧０.３ｄ
【００１２】一方、ヌープ硬さＨＫは［数６］で表され
る。
る。
【数６】 ただし、Ｆ：試験力（単位：ニュートン）
【００１３】そこで従来は、試料の厚さ（膜厚）および
大凡の硬さが推定できるとき、［数６］式を変形した
［数７］式で試験力を設定している。
大凡の硬さが推定できるとき、［数６］式を変形した
［数７］式で試験力を設定している。
【数７】
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】上述のように、従来
は、硬さ試験の都度、ユーザーが試験力を電卓等を用い
て［数３］式や［数７］式に基づいて計算したり、ある
いは図５（ビッカース硬さ試験の場合の試料の硬さと試
験力に対する試料の最小厚さとの関係を示す表：ＪＩＳ
Ｚ ２２４４−１９９２）または図６（ヌープ硬さ試験
の場合の同様の表：ＪＩＳ Ｚ ２２５１−１９９２）を
用いたりして算出し、それを試験機に内蔵の試験力制御
部に当該硬さ試験の試験力として設定しているが、試験
力の算出が複雑であり、手間がかかるという問題点があ
る。
は、硬さ試験の都度、ユーザーが試験力を電卓等を用い
て［数３］式や［数７］式に基づいて計算したり、ある
いは図５（ビッカース硬さ試験の場合の試料の硬さと試
験力に対する試料の最小厚さとの関係を示す表：ＪＩＳ
Ｚ ２２４４−１９９２）または図６（ヌープ硬さ試験
の場合の同様の表：ＪＩＳ Ｚ ２２５１−１９９２）を
用いたりして算出し、それを試験機に内蔵の試験力制御
部に当該硬さ試験の試験力として設定しているが、試験
力の算出が複雑であり、手間がかかるという問題点があ
る。
【００１５】本発明は、従来技術におけるこのような問
題点を解決しようとするもので、当該試験における適正
な試験力を、硬さ試験機に内蔵したマイクロコンピュー
タで自動的に演算できるようにした、試験力自動演算式
硬さ試験機を提供しようとするものである。
題点を解決しようとするもので、当該試験における適正
な試験力を、硬さ試験機に内蔵したマイクロコンピュー
タで自動的に演算できるようにした、試験力自動演算式
硬さ試験機を提供しようとするものである。
【００１６】すなわち、本発明は、ビッカース硬さ試験
において、［数１］式と［数３］式とから［数４］式を
得、［数４］式を試験機に内蔵のマイクロコンピュータ
に格納させておき、硬さ試験時に、試料の厚さ（膜厚）
ｈ（ミリメートル）と、想定される硬さＨＶ（経験値）
とを入力して、当該試験に適した試験力Ｆ（ニュート
ン）を自動的に演算し、演算された試験力でビッカース
硬さ試験が行なえるようにしようとするものである。
において、［数１］式と［数３］式とから［数４］式を
得、［数４］式を試験機に内蔵のマイクロコンピュータ
に格納させておき、硬さ試験時に、試料の厚さ（膜厚）
ｈ（ミリメートル）と、想定される硬さＨＶ（経験値）
とを入力して、当該試験に適した試験力Ｆ（ニュート
ン）を自動的に演算し、演算された試験力でビッカース
硬さ試験が行なえるようにしようとするものである。
【数４】
【００１７】またヌープ硬さ試験において、［数５］式
と［数７］式とから［数８］式を算出し、［数８］式を
試験機に内蔵のマイクロコンピュータに格納しておき、
硬さ試験時に、試料厚さ（膜厚）ｈ（ミリメートル）
と、想定されるヌープ硬さＨＫ（経験値）とを入力し
て、当該試験に適した試験力Ｆ（ニュートン）を自動的
に演算し、その演算された試験力でヌープ硬さ試験が行
なえるようにしようとするものである。
と［数７］式とから［数８］式を算出し、［数８］式を
試験機に内蔵のマイクロコンピュータに格納しておき、
硬さ試験時に、試料厚さ（膜厚）ｈ（ミリメートル）
と、想定されるヌープ硬さＨＫ（経験値）とを入力し
て、当該試験に適した試験力Ｆ（ニュートン）を自動的
に演算し、その演算された試験力でヌープ硬さ試験が行
なえるようにしようとするものである。
【数８】
【００１８】
【課題を解決するための手段】本発明は、圧子と、同圧
子に所定の試験力Ｆを付与する試験力制御部と、同試験
機の機械的・電気的コントロールを行なうマイクロコン
ピュータとをそなえたビッカース硬さ試験機において、
同マイクロコンピュータに［数４］式を格納しておくと
ともに、試料の厚さｈおよび想定されるビッカース硬さ
ＨＶの入力をうけて、上記試験力を演算可能なプログラ
ムを上記マイクロコンピュータに格納して課題解決の手
段としている。
子に所定の試験力Ｆを付与する試験力制御部と、同試験
機の機械的・電気的コントロールを行なうマイクロコン
ピュータとをそなえたビッカース硬さ試験機において、
同マイクロコンピュータに［数４］式を格納しておくと
ともに、試料の厚さｈおよび想定されるビッカース硬さ
ＨＶの入力をうけて、上記試験力を演算可能なプログラ
ムを上記マイクロコンピュータに格納して課題解決の手
段としている。
【数４】
【００１９】また本発明は、圧子と、同圧子に所定の試
験力Ｆを付与する試験力制御部と、同試験機の機械的・
電気的コントロールを行なうマイクロコンピュータとを
そなえたヌープ硬さ試験機において、同マイクロコンピ
ュータに［数８］式を格納しておくとともに、試料の厚
さｈおよび想定される上記試料の硬さＨＶの入力をうけ
て、上記試験力Ｆを演算可能なプログラムを上記マイク
ロコンピュータに格納して課題解決の手段としている。
験力Ｆを付与する試験力制御部と、同試験機の機械的・
電気的コントロールを行なうマイクロコンピュータとを
そなえたヌープ硬さ試験機において、同マイクロコンピ
ュータに［数８］式を格納しておくとともに、試料の厚
さｈおよび想定される上記試料の硬さＨＶの入力をうけ
て、上記試験力Ｆを演算可能なプログラムを上記マイク
ロコンピュータに格納して課題解決の手段としている。
【数８】
【００２０】さらに、上記試験力として、上記［数４］
式または［数８］式により演算される数値のうちの最大
値のものが算出されるように上記プログラムを構成して
課題解決の手段としている。
式または［数８］式により演算される数値のうちの最大
値のものが算出されるように上記プログラムを構成して
課題解決の手段としている。
【００２１】さらにまた、上記マイクロコンピュータで
演算された上記試験力が当該硬さ試験機の設定可能な範
囲外であるとき、試験不可能を表示する表示手段を設け
て課題解決の手段としている。
演算された上記試験力が当該硬さ試験機の設定可能な範
囲外であるとき、試験不可能を表示する表示手段を設け
て課題解決の手段としている。
【００２２】また、上記試験不可能の表示を、上記硬さ
試験機にそなえられた表示器で行なわれるように構成し
て課題解決の手段としている。
試験機にそなえられた表示器で行なわれるように構成し
て課題解決の手段としている。
【００２３】本発明では、硬さ試験機に内蔵のマイクロ
コンピュータに、試料の厚さｈおよび想定されるビッカ
ース硬さＨＶあるいはヌープ硬さＨＫを入力することに
より、自動的に当該試験に適した試験力が自動的に演算
されるため、試験力の算出が簡単となる。
コンピュータに、試料の厚さｈおよび想定されるビッカ
ース硬さＨＶあるいはヌープ硬さＨＫを入力することに
より、自動的に当該試験に適した試験力が自動的に演算
されるため、試験力の算出が簡単となる。
【００２４】また、試験力として、［数４］式または
［数８］式により演算される数値のうち最大値のものが
算出されるので、硬さ試験の精度が向上する。
［数８］式により演算される数値のうち最大値のものが
算出されるので、硬さ試験の精度が向上する。
【００２５】さらに、当該試験機による硬さ試験が不可
能な場合、その旨の表示が硬さ試験に先立ってなされる
ため、硬さ試験を効率良く実施できる。また、上記表示
が硬さ試験機にそなえられた表示器で行なわれるため、
別個に表示器を設ける必要がなく、コスト面で有利であ
る。
能な場合、その旨の表示が硬さ試験に先立ってなされる
ため、硬さ試験を効率良く実施できる。また、上記表示
が硬さ試験機にそなえられた表示器で行なわれるため、
別個に表示器を設ける必要がなく、コスト面で有利であ
る。
【００２６】
【発明の実施の形態】以下、図面により本発明の一実施
形態としての試験力自動演算式硬さ試験機を主としてビ
ッカース硬さ試験機を例にして説明すると、図１はその
模式構成図、図２はそのマイクロコンピュータにおける
演算手順を示すフローチャート、図３はその変形例を示
す模式構成図である。なお図１，３中図４と同じ符号は
ほぼ同一の部材を示している。
形態としての試験力自動演算式硬さ試験機を主としてビ
ッカース硬さ試験機を例にして説明すると、図１はその
模式構成図、図２はそのマイクロコンピュータにおける
演算手順を示すフローチャート、図３はその変形例を示
す模式構成図である。なお図１，３中図４と同じ符号は
ほぼ同一の部材を示している。
【００２７】この実施形態のビッカース硬さ試験機も、
図４に示した硬さ試験機と同様に、本体10をそなえ、こ
の本体10には、試料台１と、ダイヤモンド製の四角錐の
圧子２および対物レンズ５をそなえたレボルバー４とが
設けられている。
図４に示した硬さ試験機と同様に、本体10をそなえ、こ
の本体10には、試料台１と、ダイヤモンド製の四角錐の
圧子２および対物レンズ５をそなえたレボルバー４とが
設けられている。
【００２８】圧子２の試料Ｓの表面への押し込みは、マ
イクロコンピュータ20の出力装置としての試験力制御部
13の指令を受けて、マイクロコンピュータ20で設定され
た試験力が圧子軸に付加されて圧子２を下降することに
より、なされるようになっている。
イクロコンピュータ20の出力装置としての試験力制御部
13の指令を受けて、マイクロコンピュータ20で設定され
た試験力が圧子軸に付加されて圧子２を下降することに
より、なされるようになっている。
【００２９】試料Ｓの表面にくぼみが付与された後、レ
ボルバー４の切替えにより圧子２の位置に対物レンズ５
が入れ替わり、ＣＣＤカメラ６によって試料Ｓの表面の
くぼみの光学画像が、例えば４００倍くらいに拡大され
る。ＣＣＤカメラ６の検出信号は、Ａ／Ｄ変換器11によ
って濃淡階調段数が２５６段（８ビット）のディジタル
信号に変換されてから、画像メモリ21に格納される。
ボルバー４の切替えにより圧子２の位置に対物レンズ５
が入れ替わり、ＣＣＤカメラ６によって試料Ｓの表面の
くぼみの光学画像が、例えば４００倍くらいに拡大され
る。ＣＣＤカメラ６の検出信号は、Ａ／Ｄ変換器11によ
って濃淡階調段数が２５６段（８ビット）のディジタル
信号に変換されてから、画像メモリ21に格納される。
【００３０】マイクロコンピュータ20には、画像メモリ
21のほか、演算装置23，主記憶装置22，制御装置24がそ
なえられている。演算装置23では主記憶装置22に格納さ
れている制御プログラムにしたがって、硬度計全体の機
械的・電気的動きのコントロールや、硬度演算に必要な
信号処理，計算処理などが行なわれる。
21のほか、演算装置23，主記憶装置22，制御装置24がそ
なえられている。演算装置23では主記憶装置22に格納さ
れている制御プログラムにしたがって、硬度計全体の機
械的・電気的動きのコントロールや、硬度演算に必要な
信号処理，計算処理などが行なわれる。
【００３１】符号30は操作パネルを示しており、この操
作パネル30には表示器31，操作装置32がそなえられてい
る。表示器としては、ＣＲＴ表示器のほかＬＥＤ式のも
のやＬＣＤ（液晶表示盤）などが用いられる。そして表
示器に、（画像メモリ21に記憶されているくぼみ画像
や）、設定・入力情報などの情報が表示される。
作パネル30には表示器31，操作装置32がそなえられてい
る。表示器としては、ＣＲＴ表示器のほかＬＥＤ式のも
のやＬＣＤ（液晶表示盤）などが用いられる。そして表
示器に、（画像メモリ21に記憶されているくぼみ画像
や）、設定・入力情報などの情報が表示される。
【００３２】この実施形態の試験力自動演算式硬さ試験
機では、さらに主記憶装置21に予め［数４］式が入力
（格納）されている。［数４］式の入力は操作装置32を
介して行なわれる。すなわち操作装置32を介して、試料
Ｓの厚さｈ，想定される試料のビッカース硬さＨＶに関
する情報（信号）がマイクロコンピュータ20に入力さ
れ、そして［数４］式に基づいてマイクロコンピュータ
20において当該硬さ試験における適性試験力の演算が行
なわれる。
機では、さらに主記憶装置21に予め［数４］式が入力
（格納）されている。［数４］式の入力は操作装置32を
介して行なわれる。すなわち操作装置32を介して、試料
Ｓの厚さｈ，想定される試料のビッカース硬さＨＶに関
する情報（信号）がマイクロコンピュータ20に入力さ
れ、そして［数４］式に基づいてマイクロコンピュータ
20において当該硬さ試験における適性試験力の演算が行
なわれる。
【数４】
【００３３】なおヌープ硬さ試験の場合、上述の［数
４］式に代えて［数８］式が主記憶装置21に予め入力
（格納）され、またビッカース硬さＨＶに代えてヌープ
硬さＨＫに関する情報がマイクロコンピュータ20に入力
され、［数８］式により適性試験力の演算が行なわれ
る。
４］式に代えて［数８］式が主記憶装置21に予め入力
（格納）され、またビッカース硬さＨＶに代えてヌープ
硬さＨＫに関する情報がマイクロコンピュータ20に入力
され、［数８］式により適性試験力の演算が行なわれ
る。
【数８】
【００３４】図２はこの演算手順を示すフローチャート
である。すなわち、硬さ試験に先立って、試験機の操作
装置32を操作して、試料の厚さｈをマイクロコンピュー
タ20に入力する（ステップＡ1）。
である。すなわち、硬さ試験に先立って、試験機の操作
装置32を操作して、試料の厚さｈをマイクロコンピュー
タ20に入力する（ステップＡ1）。
【００３５】マイクロコンピュータ20において、その膜
厚が、当該試験機がその膜厚の試料を計測できる能力を
そなえているかどうかの判断が行なわれる（ステップＡ
2）。ここで、試験機の能力（試験可能範囲）は、当該
試験機の製造段階で設定されていて、入力された膜厚が
その範囲外のときは試験不可能として、その旨の表示が
表示器31になされる。なお試験可能な場合、その旨を表
示するようにしてもよい。
厚が、当該試験機がその膜厚の試料を計測できる能力を
そなえているかどうかの判断が行なわれる（ステップＡ
2）。ここで、試験機の能力（試験可能範囲）は、当該
試験機の製造段階で設定されていて、入力された膜厚が
その範囲外のときは試験不可能として、その旨の表示が
表示器31になされる。なお試験可能な場合、その旨を表
示するようにしてもよい。
【００３６】ステップＡ2における判断結果が「ＹＥ
Ｓ」の場合、想定されるビッカース硬さ（ＨＶ）を操作
装置32を操作して、マイクロコンピュータ20に入力する
（ヌープ硬さ試験の場合はヌープ硬さＨＫを入力する）
（ステップＡ3）と、マイクロコンピュータ20において
［数４］式または［数８］式から適正な試験力Ｆが演算
され（ステップＡ4）、試験力が設定される（ステップ
Ａ6）。ステップＡ6の前段階で演算された試験力Ｆが当
該試験機の能力範囲内かどうかの比較が行なわれ、範囲
外のとき、試験不可能の表示が表示器31になされる（ス
テップＡ5）。なお演算された試験力Ｆが当該試験機の
能力範囲内のとき、試験可能を表示するようにしてもよ
い。
Ｓ」の場合、想定されるビッカース硬さ（ＨＶ）を操作
装置32を操作して、マイクロコンピュータ20に入力する
（ヌープ硬さ試験の場合はヌープ硬さＨＫを入力する）
（ステップＡ3）と、マイクロコンピュータ20において
［数４］式または［数８］式から適正な試験力Ｆが演算
され（ステップＡ4）、試験力が設定される（ステップ
Ａ6）。ステップＡ6の前段階で演算された試験力Ｆが当
該試験機の能力範囲内かどうかの比較が行なわれ、範囲
外のとき、試験不可能の表示が表示器31になされる（ス
テップＡ5）。なお演算された試験力Ｆが当該試験機の
能力範囲内のとき、試験可能を表示するようにしてもよ
い。
【００３７】一般に、ビッカース硬さ試験やヌープ硬さ
試験では、試験力は大きければ大きいほど試験精度が向
上するとされている。したがって、この実施形態ではマ
イクロコンピュータ20において演算される数値（試験
力）のうちの最大値のものが算出されるようにプログラ
ムが構成されている。
試験では、試験力は大きければ大きいほど試験精度が向
上するとされている。したがって、この実施形態ではマ
イクロコンピュータ20において演算される数値（試験
力）のうちの最大値のものが算出されるようにプログラ
ムが構成されている。
【００３８】ステップＡ6で試験力の自動設定は終了す
るが、試料台１に試料Ｓを載置しておくとき、ステップ
Ａ6に引き続いて試料の硬さ試験を行なうことができ
る。すなわち、ステップＡ6で設定された試験力Ｆが試
験力制御部13を介して圧子２に加えられ硬さ試験を開始
するステップＡ7をプログラムに組み込んでおくとき、
試験力の自動設定に続いて硬さ試験を行なうことができ
る。なお、硬さ試験の結果は、試験機にそなえられてい
る表示器31に表示される。
るが、試料台１に試料Ｓを載置しておくとき、ステップ
Ａ6に引き続いて試料の硬さ試験を行なうことができ
る。すなわち、ステップＡ6で設定された試験力Ｆが試
験力制御部13を介して圧子２に加えられ硬さ試験を開始
するステップＡ7をプログラムに組み込んでおくとき、
試験力の自動設定に続いて硬さ試験を行なうことができ
る。なお、硬さ試験の結果は、試験機にそなえられてい
る表示器31に表示される。
【００３９】図４に示した変形例では、硬さ試験機の本
体10に接眼レンズ７が設けられていて、対物レンズ５で
捕らえられた試料Ｓの表面のくぼみの寸法を直接計測で
きるようになっている。
体10に接眼レンズ７が設けられていて、対物レンズ５で
捕らえられた試料Ｓの表面のくぼみの寸法を直接計測で
きるようになっている。
【００４０】この変形例の装置は、図１に示した装置か
らＣＣＤカメラ、Ａ／Ｄ変換器などが取り外されている
（その分低コストとなる）が、マイクロコンピュータ2
0，操作盤30は図１の装置と同様に設けられていて、同
様の操作で試験力の自動演算が行われる点は図１の装置
と同様である。なお表示器31にくぼみ形状の表示は行な
えない。
らＣＣＤカメラ、Ａ／Ｄ変換器などが取り外されている
（その分低コストとなる）が、マイクロコンピュータ2
0，操作盤30は図１の装置と同様に設けられていて、同
様の操作で試験力の自動演算が行われる点は図１の装置
と同様である。なお表示器31にくぼみ形状の表示は行な
えない。
【００４１】
【発明の効果】以上詳述したように、本発明の試験力自
動演算式硬さ試験機によれば次のような効果が得られ
る。 (1) 硬さ試験機に内蔵のマイクロコンピュータに、試料
の厚さｈおよび想定されるビッカース硬さＨＶあるいは
ヌープ硬さＨＫを入力することにより、当該試験に適し
た試験力が自動的に演算されるため、試験力の算出が簡
単となる。 (2) 試験力として、［数４］式あるいは［数８］式より
演算される数値のうち最大値のものが算出されるので、
押込み型硬さ試験機の精度が向上する。 (3) 当該試験機による硬さ試験がを不可能な場合、その
旨の表示が硬さ試験に先立ってなされるため、硬さ試験
を効率良く実施できる。 (4) 上記表示が硬さ試験機にそなえられた表示器で行な
われるため、別個に表示器を設ける必要がなく、コスト
面で有利である。
動演算式硬さ試験機によれば次のような効果が得られ
る。 (1) 硬さ試験機に内蔵のマイクロコンピュータに、試料
の厚さｈおよび想定されるビッカース硬さＨＶあるいは
ヌープ硬さＨＫを入力することにより、当該試験に適し
た試験力が自動的に演算されるため、試験力の算出が簡
単となる。 (2) 試験力として、［数４］式あるいは［数８］式より
演算される数値のうち最大値のものが算出されるので、
押込み型硬さ試験機の精度が向上する。 (3) 当該試験機による硬さ試験がを不可能な場合、その
旨の表示が硬さ試験に先立ってなされるため、硬さ試験
を効率良く実施できる。 (4) 上記表示が硬さ試験機にそなえられた表示器で行な
われるため、別個に表示器を設ける必要がなく、コスト
面で有利である。
【図１】本発明の一実施形態としての試験力自動演算式
硬さ試験機を示す模式構成図。
硬さ試験機を示す模式構成図。
【図２】同マイクロコンピュータにおける演算手順を示
すフローチャート。
すフローチャート。
【図３】同変形例を示す模式構成図。
【図４】従来の試験力自動演算式硬さ試験機を示す模式
構成図。
構成図。
【図５】(ａ)押込み型硬さ試験機の原理を示す模式図。 (ｂ)同くぼみの形状を示す平面図。
【図６】ビッカース硬さ試験において、試料の硬さと試
験力に対する試料の最小厚さとの関係を規定したグラ
フ。
験力に対する試料の最小厚さとの関係を規定したグラ
フ。
【図７】ヌープ硬さ試験において、試料の硬さと試験力
に対する試料の最小厚さとの関係を規定したグラフ。
に対する試料の最小厚さとの関係を規定したグラフ。
１ 試料台 ２ 圧子 ４ レボルバー ５ 対物レンズ ６ ＣＣＤカメラ 10 硬さ試験機の本体 11 Ａ／Ｄ変換器 12 操作装置 13 試験力制御部 20 マイクロコンピュ−タ 21 画像メモリ 22 主記憶装置 23 演算装置 24 制御装置 Ｄ くぼみ ｄ1，ｄ2 くぼみの対角線寸法 Ｓ 試料
Claims (5)
- 【請求項１】 ビッカース硬さ試験機において、圧子
と、同圧子に所定の試験力Ｆを付与する試験力制御部
と、同試験機の機械的・電気的コントロールを行なうマ
イクロコンピュータとをそなえ、同マイクロコンピュー
タに［数４］式が格納されるとともに、試料の厚さｈお
よび想定される上記試料のビッカース硬さＨＶの入力を
うけて、上記試験力Ｆを演算可能なプログラムが上記マ
イクロコンピュータに格納されていることを特徴とす
る、試験力自動演算式硬さ試験機。 【数４】 - 【請求項２】 ヌープ硬さ試験機において、圧子と、同
圧子に所定の試験力Ｆを付与する試験力制御部と、同試
験機の機械的・電気的コントロールを行なうマイクロコ
ンピュータとをそなえ、同マイクロコンピュータに［数
８］式が格納されるとともに、試料の厚さｈおよび想定
される上記試料のヌープ硬さＨＫの入力をうけて、上記
試験力Ｆを演算可能なプログラムが上記マイクロコンピ
ュータに格納されていることを特徴とする、試験力自動
演算式硬さ試験機。 【数８】 - 【請求項３】 上記試験力として、上記［数４］式また
は［数８］式により演算される数値のうちの最大値のも
のが算出されるように上記プログラムを構成したことを
特徴とする、請求項１または２に記載の試験力自動演算
式硬さ試験機。 - 【請求項４】 上記マイクロコンピュータで演算された
上記試験力が、当該硬さ試験機の設定可能な範囲外であ
るとき、試験不可能を表示する表示手段が設けられてい
ることを特徴とする、請求項１乃至３のいずれかに記載
の試験力自動演算式硬さ試験機。 - 【請求項５】 上記試験不可能の表示が、上記硬さ試験
機にそなえられた表示器で行なわれるように構成されて
いることを特徴とする、請求項４に記載の試験力自動演
算式硬さ試験機。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04432198A JP3871164B2 (ja) | 1998-02-10 | 1998-02-10 | 試験力自動演算式硬さ試験機 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP04432198A JP3871164B2 (ja) | 1998-02-10 | 1998-02-10 | 試験力自動演算式硬さ試験機 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11230882A true JPH11230882A (ja) | 1999-08-27 |
| JP3871164B2 JP3871164B2 (ja) | 2007-01-24 |
Family
ID=12688239
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP04432198A Expired - Fee Related JP3871164B2 (ja) | 1998-02-10 | 1998-02-10 | 試験力自動演算式硬さ試験機 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3871164B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009274328A (ja) * | 2008-05-14 | 2009-11-26 | Konica Minolta Ij Technologies Inc | インクジェットヘッド |
| JP2013238441A (ja) * | 2012-05-14 | 2013-11-28 | Mitsutoyo Corp | 硬さ試験機 |
| JP2017106814A (ja) * | 2015-12-10 | 2017-06-15 | 株式会社ミツトヨ | 硬さ試験機及び硬さ試験方法 |
-
1998
- 1998-02-10 JP JP04432198A patent/JP3871164B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2009274328A (ja) * | 2008-05-14 | 2009-11-26 | Konica Minolta Ij Technologies Inc | インクジェットヘッド |
| JP2013238441A (ja) * | 2012-05-14 | 2013-11-28 | Mitsutoyo Corp | 硬さ試験機 |
| JP2017106814A (ja) * | 2015-12-10 | 2017-06-15 | 株式会社ミツトヨ | 硬さ試験機及び硬さ試験方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3871164B2 (ja) | 2007-01-24 |
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