JP2742640B2 - 亀裂進展寸法の自動計測装置 - Google Patents

亀裂進展寸法の自動計測装置

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JP2742640B2
JP2742640B2 JP5693192A JP5693192A JP2742640B2 JP 2742640 B2 JP2742640 B2 JP 2742640B2 JP 5693192 A JP5693192 A JP 5693192A JP 5693192 A JP5693192 A JP 5693192A JP 2742640 B2 JP2742640 B2 JP 2742640B2
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拓也 近藤
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Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、材料の破壊力学的試験
に於て試験片に生じる亀裂の進展寸法を自動的に計測す
ることに係り、更に詳細には亀裂進展寸法の自動計測装
置に係る。
【0002】
【従来の技術】材料の破壊力学的試験の一つとして、例
えばシェブロンノッチの如き切欠きを有する試験片に対
し切欠きの延在方向に対し垂直な方向に荷重を負荷し、
試験片に亀裂を発生させ進展させるCT試験法が従来よ
り知られている。このCT試験法によれば、試験片に与
えられる荷重及び試験片に生じる亀裂の進展寸法より亀
裂の進展挙動と亀裂先端部の応力拡大係数との関係の如
き材料の破壊力学的特性を求めることができる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】かかるCT試験法に於
ける亀裂の進展寸法の測定は、従来より人が光学顕微鏡
を用いて亀裂を観察することにより行われている。しか
るに亀裂の先端を光学顕微鏡を用いて肉眼にて検出する
ことは容易ではなく、また亀裂の進展寸法の測定には例
えば二昼夜の如き長時間を要するため、亀裂の進展寸法
を容易に測定することができず、また測定者の疲労や個
人差等に起因する測定誤差や測定ミスが生じ易い。また
CT試験が例えば800℃の如き高温度にて行われる場
合には、試験片等からの熱輻射や発光により目視による
亀裂の検出及びその進展寸法の測定は非常に困難であ
る。
【0004】またこれらの問題を解消すべく、光学顕微
鏡が装着されたビデオカメラにて亀裂を観察し、亀裂画
像を電気的に処理することにより亀裂の進展寸法を計測
することが考えられる。しかし亀裂の進展寸法は数mm以
上に達するのに対しビデオカメラ等にて観察する際の一
視野の長さは数100μm しかなく、そのため人が計測
装置の傍らに常に待機し、亀裂が視野外へ進展する前に
試験片に対し相対的にビデオカメラ等を微小量移動させ
て視野を移動させなければならず、従って亀裂の進展寸
法を完全に自動的に計測することはできず、また視野の
移動に伴う比較的大きい測定誤差が生じ易い。
【0005】本発明は、従来の亀裂進展寸法の測定及び
ビデオカメラ等を用いた計測装置に於ける上述の如き問
題に鑑み、亀裂の進展寸法を自動的に非常に正確に且容
易に計測することができるよう改良された亀裂進展寸法
の自動計測装置を提供することを目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】上述の如き目的は、本発
明によれば、試験片を支持し前記試験片に対し荷重を与
える試験片支持装置と、前記試験片に発生した亀裂を撮
像しこれを電気的亀裂画像に変換する撮像装置と、前記
撮像装置が前記試験片に対し相対的に亀裂の進展方向へ
移動するよう前記撮像装置及び前記試験片支持装置の少
くとも一方を他方に対し相対的に移動させる移動装置
と、前記撮像装置より所定の時間毎に前記亀裂画像を取
込みこれを低解像度化処理して記憶する画像処理装置
と、前記処理後の亀裂画像上にて亀裂の先端を検出し前
記処理後の亀裂画像上に於ける亀裂先端の位置を計測す
る画像計測装置と、前記処理後の亀裂画像内に於て前記
亀裂先端が所定の位置を越えたときには前記移動装置を
作動させて前記撮像装置若しくは前記試験片支持装置を
所定の相対移動量移動させる演算制御装置とを有し、前
記演算制御装置は前記画像計測装置より亀裂先端の位置
を示す信号を入力され、最後に前記移動装置が作動され
た後の各サイクルに於て生じた前記亀裂先端の変位量の
合計と前記相対移動量の合計との和として亀裂の進展寸
法を演算するよう構成されていることを特徴とする亀裂
進展寸法の自動計測装置、若しくは試験片を支持し前記
試験片に対し荷重を与える試験片支持装置と、前記試験
片に発生した亀裂を撮像しこれを電気的亀裂画像に変換
する撮像装置と、前記撮像装置が前記試験片に対し相対
的に亀裂の進展方向へ移動するよう前記撮像装置及び前
記試験片支持装置の少くとも一方を他方に対し相対的に
移動させる移動装置と、前記撮像装置より所定の時間毎
に前記亀裂画像を取込みこれを低解像度化処理して記憶
する画像処理装置と、前記処理後の亀裂画像上にて亀裂
の先端を検出し前記処理後の亀裂画像上に於ける亀裂先
端の位置を計測する画像計測装置と、前記処理後の亀裂
画像内に於て前記亀裂先端が所定の位置を越えたときに
は前記移動装置を作動させて前記撮像装置若しくは前記
試験片支持装置を所定の相対移動量移動させる演算制御
装置とを有し、前記演算制御装置は前記画像計測装置よ
り亀裂先端の位置を示す信号を入力され、前記移動装置
を作動させないときには現在の位置と1サイクル前の位
置との偏差として前記亀裂先端の変位量を演算し、前記
移動装置を作動させたときには1サイクル前に演算され
た前記亀裂先端の変位量を現サイクルの前記亀裂先端の
変位量とみなし、前記亀裂先端の変位量の合計として亀
裂の進展寸法を演算するよう構成されていることを特徴
とする亀裂進展寸法の自動計測装置によって達成され
る。
【0007】
【作用】上述の如き構成によれば、画像処理装置により
撮像装置より所定の時間毎に亀裂画像が取込まれ、該亀
裂画像が低解像度化処理され、画像計測装置により処理
後の亀裂画像上にて反射光量が低い亀裂の部分と反射光
量が高い亀裂以外の部分とが輝度差によって電気的に識
別されることにより、亀裂の先端が検出され処理後の亀
裂画像上に於ける亀裂先端の位置が計測されるので、人
手を要することなく亀裂の先端が確実に検出され、また
目視による場合に比して正確に亀裂の先端の位置が計測
される。
【0008】また上述の如き構成によれば、処理後の亀
裂画像内に於て亀裂先端が所定の位置を越えたときには
演算制御装置により移動装置が作動されることによって
撮像装置若しくは試験片支持装置が所定の相対移動量移
動されるので、亀裂の先端が視野よりはみ出すか否かを
常時監視する必要がなく、視野の更新が自動的に行われ
る。
【0009】特に上述の前者の構成によれば、演算制御
装置は最後に移動装置が作動された後の各サイクルに於
て生じた亀裂先端の変位量の合計と撮像装置若しくは試
験片支持装置の相対移動量の合計との和として亀裂の進
展寸法を演算するよう構成されているので、移動装置の
精度及び画像の歪みの誤差要素のみに起因する測定誤差
の範囲内にて正確に且容易に亀裂の進展寸法を自動的に
計測することが可能である。
【0010】また上述の後者の構成によれば、演算制御
装置は移動装置を作動させないときには現在の亀裂先端
の位置と1サイクルの前の亀裂先端の位置との偏差とし
て亀裂先端の変位量を演算し、移動装置を作動させたと
きには1サイクル前に演算された亀裂先端の変位量を現
サイクルの亀裂先端の変位量とみなし、各サイクルの亀
裂先端の変位量の合計として亀裂の進展寸法を演算する
よう構成されており、一般に相前後するサイクルの亀裂
先端の変位量の差は極く僅かであるので、移動装置の精
度に依存することなく正確に且容易に亀裂の進展寸法を
計測することが可能であり、また移動装置も高精度のも
のである必要がない。
【0011】尚本発明に於ける低解像度化処理とは、亀
裂画像の輝度の段階を例えば20階調より2階調の如く
所定の輝度を基準に低減することを意味する。
【0012】
【実施例】以下に添付の図を参照しつつ、本発明を実施
例について詳細に説明する。
【0013】図1は本発明による亀裂進展寸法の自動計
測装置の一つの実施例を示す概略構成図、図2は試験片
を示す拡大正面図、図3は図2の線III-III に沿う試験
片の平断面図である。
【0014】図1に於て、10はCT試験されるべき試
験片を示しており、試験片10はそれぞれ上端及び下端
にて試験片支持装置としてのCT試験装置12の上側ア
ーム14及び下側アーム16により図1には示されてい
ないピンを介して支持されている。上側アーム14はC
T試験装置12のフレーム18に固定されており、下側
アーム16は油圧シリンダ20に連結されている。油圧
シリンダ20の油圧は試験片10に上下方向の静的引張
り荷重又は繰返し荷重(振動荷重)が与えられるよう油
圧制御装置22により制御されるようになっている。図
2及び図3に示されている如く、試験片10は実質的に
長方形の板状をなし、亀裂の発生を容易にする頂角60
°のシェブロンノッチ24を有し、該ノッチの両側に図
1には示されていないピンを受入れる二つのピン挿通孔
26及び28を有している。
【0015】CT試験装置12のフレーム18にはテー
ブル30が固定されており、該テーブル上には三次元ス
テージ装置32が設けられている。ステージ装置32は
テーブル30に固定された本体32aと、該本体に対し
相対変位する移動部材32bとよりなっている。移動部
材32bには撮像装置としてのビデオカメラ34が固定
されており、ビデオカメラ34には光学顕微鏡36が装
着されている。光学顕微鏡36は対物レンズ筒38と、
該対物レンズ筒を経て試験片10に対し光を照射する光
源装置40と、試験開始前に肉眼42により覗き込んで
光学顕微鏡36及びビデオカメラ34を試験片のノッチ
の先端に対し大まかに位置決めするための接眼レンズ筒
44とを有している。
【0016】ステージ装置32の移動部材32bは本体
32aに対しX方向(図1の紙面に垂直な方向)、Y方
向(上下方向)、Z方向(X方向及びY方向に垂直な方
向)へ相対変位するようになっており、本体32aに対
する移動部材32bの相対移動及び位置決めはステージ
制御装置46によりμm の単位にて制御されるようにな
っている。かくしてステージ装置32及び制御装置46
は試験片に生じる亀裂の進展に応じてビデオカメラ34
を試験片に対し相対的に移動させる移動装置を構成して
いる。
【0017】ビデオカメラ34は試験片及びこれに生じ
た亀裂を撮像し、それを画像信号(電圧±10V)と位
置信号(x、y)とよりなる20階調の亀裂画像の電気
信号に変換し、その電気信号を画像処理装置48へ出力
するようになっている。画像処理装置48はパーソナル
コンピュータ50(これ以降「パソコン」という)の指
示に基き所定の時間毎にビデオカメラより亀裂画像の電
気信号を取込み、それを二値化処理して画像信号(電圧
0V、1V)と位置信号(x、y)とよりなる二値化亀
裂画像の電気信号に変換し、その電気信号を画像計測装
置52及びモニタ54へ出力するようになっている。
【0018】特に試験片に対し繰返し荷重が与えられる
場合には、油圧制御装置22よりの制御信号に対する油
圧シリンダ20等の応答遅れが存在するので、試験片1
0に最大の引張り荷重が与えられた時点の亀裂画像の取
込みが行われるよう、画像処理装置48による画像の取
込みタイミングは油圧制御装置22よりの制御信号が引
張り方向に最大値になる時点よりも応答遅れを考慮した
所定時間遅い時点に設定されている。また画像処理装置
48による二値化処理に於ては、反射光量の低い亀裂の
部分の電圧が0Vとなり反射光量の高い亀裂以外の部分
の電圧が1Vとなるよう処理され、これにより図4に示
されている如くモニタ54には亀裂の部分56は黒く亀
裂以外の部分58は白く2階調にて表示される。尚モニ
タの白黒反転により逆の態様による表示も可能である。
【0019】画像計測装置52は二値化亀裂画像内の0
V信号を取出すと共にその位置を記憶することができ、
これにより亀裂の先端60を検出して二値化亀裂画像上
に於ける亀裂先端の位置(x、y)を計測し、計測結果
を示す信号をパソコン50及びモニタ54へ出力するよ
うになっている。
【0020】パソコン50は演算及び記憶等の機能を有
する本体62とキーボード64とカラーモニタ66とを
有する一般的な構成のものであり、油圧制御装置22へ
制御信号を出力することによりCT試験装置12の作動
開始及び作動停止を制御し、またステージ制御装置46
へ制御信号を出力することにより試験片に生じた亀裂に
対するビデオカメラ34及び光学顕微鏡36の相対移動
を制御するようになっている。更にパソコン50は画像
処理装置48及び画像計測装置52よりの信号に基き後
述の如くX方向への亀裂の進展寸法LN を演算し、亀裂
の進展寸法LNを示す信号をプリンタ68及びプロッタ
70へ出力するようになっている。
【0021】かくして構成された自動計測装置を用いて
加振モードによるCT試験に於ける亀裂の進展寸法を測
定する場合には、まず試験片10がCT試験装置12に
セットされ、ビデオカメラ34及び光学顕微鏡36が試
験片のノッチの先端に実質的に整合した位置に位置決め
される。次いでキーボード64を経てパソコン50に対
し計測開始の指令が入力されることにより、図6に示さ
れたフローチャートに従ってCT試験及び亀裂の進展寸
法の計測が開始される。
【0022】次に図6に示されたフローチャートを参照
して図示の第一の実施例の作動について説明する。尚図
6に於て、NはCT試験装置12の油圧シリンダ20に
より試験片10に対し与えられる加振のサイクル数を示
し、mはステージ移動回数、即ちステージ装置32及び
制御装置46によりビデオカメラ34が試験片10に対
し相対的に移動された回数を示し、nはステージ移動後
のサイクル数を示している。
【0023】まず最初のステップ10に於ては種々の初
期設定が行われる。即ち図5に示されている如く画面上
の測定開始ライン72が試験片のノッチ24の先端24
aに一致するよう最初の測定開始ラインの画面上の位置
c0が設定され、ステージ移動後の測定開始ラインの画
面上の位置xcm(m =1、2、3……)が設定され、ス
テージ移動の必要があるか否かの判定基準としての視野
変更ライン74の画面上の位置xs が設定され、測定打
切り長さLc が設定され、サイクル数N、n及びステー
ジ移動回数mがそれぞれ0に設定される。
【0024】ステップ20に於ては油圧シリンダ20に
よる試験片10に対する加振が開始され、次のステップ
30に於ては油圧制御装置22よりの制御信号に基き現
時点が画像取込みタイミングであるか否かの判定が行わ
れ、画像取込みタイミングではない旨の判別が行われた
ときにはステップ30が繰返し実行され、画像取込みタ
イミングである旨の判別が行われたときにはステップ4
0へ進み、サイクル数N及びnがそれぞれ1インクリメ
ントされる。
【0025】次のステップ50に於てはビデオカメラ3
4により撮像された画像(生画像)が画像処理装置48
へ取込まれ、ステップ60に於ては生画像の電気信号が
画像処理装置48によって二値化処理されることにより
二値化画像が形成されると共に記憶され、ステップ70
に於ては画像計測装置52により二値化画像に於ける亀
裂の先端位置xn が検出され、xn がパソコン50へ出
力される。
【0026】ステップ80に於ては、同一視野内に於け
る亀裂の総進展量、即ち最後のステージ移動が行われた
後現在までの各サイクルに於て進展した量の合計In
下記の数1に従って演算される。
【数1】In =xn −xcm
【0027】ステップ90に於ては亀裂の進展寸法LN
が下記の数2に従って演算されると共に記憶装置に記憶
され、しかる後ステップ100へ進む。
【数2】LN =In +ΣSm (m=1…m)
【0028】ステップ100に於ては、例えばxn がx
s を越えたか否かを判別することにより亀裂の先端が視
野変更ラインを越えたか否か、即ちステージの移動の必
要性が生じたか否かの判別が行われ、ステージの移動の
必要がない旨の判別が行われたときにはステップ150
へ進み、ステージの移動の必要が生じた旨の判別が行わ
れたときにはステップ110へ進む。
【0029】ステップ110に於てはステージ移動回数
mが1インクリメントされ、ステップ120に於ては二
値化画像で見て亀裂の先端がステップ10に於て設定さ
れた次の測定開始ラインの位置xcmへ移動するよう、ス
テージ移動量Sm が下記の数3に従って演算され、しか
る後ステップ130へ進む。
【数3】Sm =xn −xcm
【0030】ステップ130に於ては画像がステップ1
20に於て演算された値Sm だけ亀裂の進展方向とは反
対の方向へ移動するよう、ステージ装置32及び制御装
置46によりビデオカメラ34が試験片10に対し相対
的に亀裂の進展方向へ移動され、ステップ140に於て
はサイクル数nが0にリセットされ、しかる後ステップ
30へ戻る。
【0031】ステップ150に於ては、亀裂の進展寸法
N がステップ10に於て設定された測定打切り長さL
c 以上であるか否かの判別が行われ、LN ≧Lc ではな
い旨の判別が行われたときにはステップ30へ戻り、L
N ≧Lc である旨の判別が行われたときにはステップ1
60へ進む。ステップ160に於ては油圧シリンダ20
による試験片10に対する加振が停止され、ステップ1
70に於ては亀裂の進展寸法LN ( N=1、2、3…
…)がプリンタ68及びプロッタ70へ出力され、図6
に示されたフローチャートによる制御を終了する。
【0032】かくしてこの第一の実施例によれば、図7
に示されている如く、N=n=0サイクルに於ては測定
開始ライン72のX方向の位置が試験片のノッチ24の
先端24aに一致するよう設定され、N=n=1サイク
ルに於ては亀裂56の先端60の位置x1 が検出され、
亀裂の総進展量I1 (=x1 −xc0)及び亀裂の進展寸
法L1 (=I1 )が演算され、N=n=2サイクルに於
ては亀裂の先端の位置x2 が検出され、亀裂の総進展量
2 (=x2 −xc0)及び亀裂の進展寸法L2(=
2 )が演算される。
【0033】図示の如くN=n=3サイクルに於て亀裂
の先端の位置が視野変更ライン74を越えたとすると、
このサイクルに於ては亀裂の先端の位置x3 が検出さ
れ、亀裂の進展量I3 (=x3 −xc0)及び亀裂の進展
寸法L3 (=I3 )が演算され、またこのサイクルに於
ては視野がS1 (=x3 −xc1)だけ亀裂の進展方向へ
移動される。N=4(n=1)サイクルに於ては亀裂の
先端の位置x1 が検出され、亀裂の総進展量I1 (=x
1 −xc1)及び亀裂の進展寸法L4 (=I1 +S1 )が
演算され、N=5(n=2)サイクルに於ては亀裂の先
端の位置x2 が検出され、亀裂の総進展量I2 (=x2
−xc1)及び亀裂の進展寸法L5 (=I2+S1 )が演
算され、N=6(n=3)サイクルに於ては亀裂の先端
の位置x3が検出され、亀裂の総進展量I3 (=x3
c1)及び亀裂の進展寸法L6 (=I3 +S1 )が演算
され、これ以降以上のサイクルの場合と同様の処理が行
われることにより亀裂の進展寸法LN が測定打切り長さ
c 以上になるまでLN が自動的に演算される。
【0034】尚この実施例に於てはステージ更新後の各
測定開始ラインの画面上の位置xcmを任意に設定し得る
ようになっているが、測定開始ラインの画面上の位置x
cmは例えば上述のxc0の如き一定値に設定されてもよ
い。
【0035】図8は本発明による亀裂進展寸法の自動計
測装置の第二の実施例に於ける制御フローを示すフロー
チャートである。尚図8に於て、図6に示されたステッ
プに対応するステップには図6に於て付されたステップ
番号と同一のステップ番号が付されている。
【0036】この実施例のステップ10の初期設定に於
ては、画面上の測定開始ラインが試験片のノッチの先端
に一致するよう最初の測定開始ラインの画面上の位置x
c0がx0 に設定され、画面上でのステージ移動量S(定
数)が設定され、ステージ移動の必要があるか否かの判
定基準としての視野変更ライン74の画面上の位置xs
が設定され、測定打切り長さLc が設定され、サイクル
数N、n及びステージ移動回数mがそれぞれ0に設定さ
れる。
【0037】またステップ80に於ては亀裂の総進展量
n が下記の数4に従って演算される。
【数4】In =xn −x0
【0038】またステップ90に於ては下記の数5に従
って亀裂の進展寸法LN が演算されると共に記憶装置に
記憶され、ステップ100に於てイエスの判別が行われ
たときにはステップ105へ進み、次のサイクル以降の
ステップ80に於ける亀裂の総進展量In の演算に使用
される基準量x0 が下記の数6に従って演算され、しか
る後ステップ110へ進む。
【数5】LN =In +m×S
【数6】x0 =xn −S
【0039】ステップ140に於ては二値化画像がステ
ップ10に於て設定された長さSだけ亀裂の進展方向と
は反対の方向へ移動するよう、ステージ装置32及び制
御装置46によりビデオカメラ34が試験片10に対し
相対的に移動される。尚この実施例の他のステップは実
施例1の対応するステップと同一の要領にて実行され
る。
【0040】かくしてこの第二の実施例によれば、図9
に示されている如く、N=n=0サイクルに於ては測定
開始ライン72のX方向の位置が試験片のノッチ24の
先端24aに一致するよう設定され、N=n=1サイク
ルに於ては亀裂56の先端60の位置x1 が検出され、
亀裂の総進展量I1 (=x1 −x0 )及び亀裂の進展寸
法L1 (=I1 )が演算され、N=n=2サイクルに於
ては亀裂の先端の位置x2 が検出され、亀裂の総進展量
2 (=x2 −x0 )及び亀裂の進展寸法L2(=
2 )が演算される。
【0041】図示の如くN=n=3サイクルに於て亀裂
の先端の位置が視野変更ライン74を越えたとすると、
このサイクルに於ては亀裂の先端の位置x3 が検出さ
れ、亀裂の総進展量I3 (=x3 −x0 )及び亀裂の進
展寸法L3 (=I3 )が演算される。またこのサイクル
に於ては次のサイクルに於けるx0 (=x3 −S)が演
算され、視野が一定値Sだけ亀裂の進展方向へ移動され
る。N=4(n=1)サイクルに於ては亀裂の先端の位
置x1 が検出され、亀裂の総進展量I1 (=x1
0 )及び亀裂の進展寸法L4 (=I1 +S)が演算さ
れ、N=5(n=2)サイクルに於ては亀裂の先端の位
置x2 が検出され、亀裂の総進展量I2 (=x2
0 )及び亀裂の進展寸法L5 (=I2 +S)が演算さ
れ、N=6(n=3)サイクルに於ては亀裂の先端の位
置x3 が検出され、亀裂の総進展量I3 (=x3
0 )及び亀裂の進展寸法L6 (=I3 +S)が演算さ
れ、これ以降以上のサイクルの場合と同様の処理が行わ
れることにより亀裂の進展寸法LN が測定打切り長さL
c 以上になるまでLN が自動的に演算される。
【0042】図10は本発明による亀裂進展寸法の自動
計測装置の第三の実施例に於ける制御フローを示すフロ
ーチャートである。尚図10に於て、図6及び図8に示
されたステップに対応するステップには図6及び図8に
於て付されたステップ番号と同一のステップ番号が付さ
れている。また図10に於て、フラグFは直前のサイク
ルに於てステージの移動が行われたか否かに関するもの
であり、1はステージの移動が行われたことを示してい
る。
【0043】この実施例のステップ70の次に行われる
ステップ72に於てはフラグFが1であるか否かの判別
が行われ、F=1ではない旨の判別が行われたときには
ステップ80へ進み、F=1である旨の判別が行われた
ときにはステップ74に於てフラグFが0にリセットさ
れた後ステップ76へ進む。ステップ80及び76に於
ては、現サイクルの亀裂の進展量ΔLN がそれぞれ下記
の数7及び8に従って演算される。
【数7】ΔLN =xn −xn-1
【数8】ΔLN =xn-1 −xn-2 =ΔLN-1
【0044】またステップ90に於ては下記の数9に従
って亀裂の進展寸法LN が演算されると共に記憶装置に
記憶され、ステップ110に於てはフラグFが1にセッ
トされる。尚この実施例の他のステップは実施例1及び
2の対応するステップと同一の要領にて実行される。
【数9】LN =LN-1 +ΔLN
【0045】かくしてこの第三の実施例によれば、図1
1に示されている如く、N=n=0サイクルに於ては測
定開始ライン72のX方向の位置が試験片のノッチ24
の先端24aに一致するよう設定され、N=n=1サイ
クルに於ては亀裂56の先端60の位置x1 が検出さ
れ、亀裂の進展量ΔL1 (=x1 −x0 )及び亀裂の進
展寸法L1 (=ΔL1 )が演算され、N=n=2サイク
ルに於ては亀裂の先端の位置x2 が検出され、亀裂の進
展量ΔL2 (=x2 −x1 )及び亀裂の進展寸法L
2 (=L1 +ΔL2 )が演算される。
【0046】図示の如くN=n=3サイクルに於て亀裂
の先端の位置が視野変更ライン74を越えたとすると、
このサイクルに於ては亀裂の先端の位置x3 が検出さ
れ、亀裂の進展量ΔL3 (=x3 −x2 )及び亀裂の進
展寸法L3 (=L2 +ΔL3 )が演算され、またこのサ
イクルに於ては視野が一定値Sだけ亀裂の進展方向へ移
動される。N=n=4サイクルに於ては亀裂の先端の位
置x4 が検出され、亀裂の進展量ΔL4 (=ΔL3 )及
び亀裂の進展寸法L4 (=L3 +ΔL4 )が演算され、
N=n=5サイクルに於ては亀裂の先端の位置x5 が検
出され、亀裂の進展量ΔL5 (=x5 −x4 )及び亀裂
の進展寸法L5 (=L4 +ΔL5 )が演算され、N=n
=6サイクルに於ては亀裂の先端の位置x6 が検出さ
れ、亀裂の総進展量I6 (=x6 −x5 )及び亀裂の進
展寸法L6 (=L5 +ΔL6 )が演算され、これ以降以
上のサイクルの場合と同様の処理が行われることにより
亀裂の進展寸法LN が測定打切り長さLc 以上になるま
でLN が自動的に演算される。
【0047】尚上述の各実施例に於ては、説明を容易に
する目的で、亀裂の進展寸法の測定開始後又はステージ
の移動後の3サイクル目に於て亀裂の先端60が視野変
更ライン74を突破するようになっているが、実際には
測定開始ライン72と視野変更ライン74との間の距離
は各サイクル毎の亀裂の進展量に比して遥かに大きく、
これにより測定開始後又はステージ移動後次のステージ
移動までの間に亀裂の進展量の測定が行われるサイクル
数は数十乃至数百サイクルである。
【0048】以上に於ては本発明を特定の実施例につい
て詳細に説明したが、本発明はこれらの実施例に限定さ
れるものではなく、本発明の範囲内にて他の種々の実施
例が可能であることは当業者にとって明らかであろう。
【0049】例えば上述の各実施例に於ては試験片は加
振モードにてCT試験されるようになっているが、本発
明の自動計測装置は試験片が引張りモードにてCT試験
される場合にも適用されてよく、その場合には上述の各
実施例のステップ30に於ては例えばタイマにより一定
の時間が計測され、これによりステップ50に於て一定
の時間毎に画像の取込みが行われる。
【0050】
【発明の効果】以上の説明より明らかである如く、本発
明によれば、画像処理装置により撮像装置より所定の時
間毎に亀裂画像が取込まれ、該亀裂画像が低解像度化処
理され、画像計測装置により処理後の亀裂画像上にて反
射光量が低い亀裂の部分と反射光量が高い亀裂以外の部
分とが輝度差によって電気的に識別されることにより、
亀裂の先端が検出され処理後の亀裂画像上に於ける亀裂
先端の位置が計測されるので、人手を要することなく亀
裂の先端を確実に検出することができ、目視による場合
に比して正確に亀裂の先端の位置を計測することができ
る。また処理後の亀裂画像内に於て亀裂先端が所定の位
置を越えたときには演算制御装置により移動装置が作動
されることによって撮像装置若しくは試験片支持装置が
所定の相対移動量移動されるので、亀裂の先端が視野よ
りはみ出すか否かを常時監視する必要がなく、視野の更
新を自動的に行うことができる。従ってCT試験が常温
にて行われるか高温にて行われるかを問わず正確に且容
易に亀裂の進展寸法を自動的に計測することができる。
【0051】特に請求項1に対応する上述の前者の構成
によれば、演算制御装置は最後に移動装置が作動された
後の各サイクルに於て生じた亀裂先端の変位量の合計と
撮像装置若しくは試験片支持装置の相対移動量の合計と
の和として亀裂の進展寸法を演算するよう構成されてい
るので、移動装置の精度及び画像の歪みの誤差要素のみ
に起因する測定誤差の範囲内にて正確に且容易に亀裂の
進展寸法を自動的に計測することができる。
【0052】また請求項2に対応する上述の後者の構成
によれば、演算制御装置は移動装置を作動させないとき
には現在の亀裂先端の位置と1サイクルの前の亀裂先端
の位置との偏差として亀裂先端の変位量を演算し、移動
装置を作動させたときには1サイクル前に演算された亀
裂先端の変位量を現サイクルの亀裂先端の変位量とみな
し、各サイクルの亀裂先端の変位量の合計として亀裂の
進展寸法を演算するよう構成されており、一般に相前後
するサイクルの亀裂先端の変位量の差は極く僅かである
ので、移動装置の精度に依存することなく正確に且容易
に亀裂の進展寸法を計測することができ、また移動装置
も高精度のものである必要がなく、移動装置として簡便
な構造のものを使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による亀裂進展寸法の自動計測装置の一
つの実施例を示す概略構成図である。
【図2】CT試験されるべき試験片を示す拡大正面図で
ある。
【図3】図2の線III-III に沿う試験片の平断面図であ
る。
【図4】二値化された亀裂画像の一例を示す説明図であ
る。
【図5】亀裂進展寸法の測定開始時に行われる初期設定
の一例を示す説明図である。
【図6】本発明による亀裂進展寸法の自動計測装置の第
一の実施例に於ける制御フローを示すフローチャートで
ある。
【図7】第一の実施例による亀裂進展寸法の自動計測の
要領を示す説明図である。
【図8】本発明による亀裂進展寸法の自動計測装置の第
二の実施例に於ける制御フローを示すフローチャートで
ある。
【図9】第二の実施例による亀裂進展寸法の自動計測の
要領を示す説明図である。
【図10】本発明による亀裂進展寸法の自動計測装置の
第三の実施例に於ける制御フローを示すフローチャート
である。
【図11】第三の実施例による亀裂進展寸法の自動計測
の要領を示す説明図である。
【符号の説明】
10…試験片 12…CT試験装置 20…油圧シリンダ 22…油圧制御装置 32…ステージ装置 34…ビデオカメラ 36…光学顕微鏡 46…ステージ制御装置 48…画像処理装置 50…パーソナルコンピュータ 52…画像計測装置
フロントページの続き (56)参考文献 特開 昭57−39308(JP,A) 実開 昭62−197047(JP,U) 実開 平4−90947(JP,U) 特公 平6−95065(JP,B2) 特公 昭60−12571(JP,B2) 特公 昭58−19214(JP,B2) 特公 昭57−46501(JP,B2) 特公 昭61−61616(JP,B2) 特公 昭60−46362(JP,B2)

Claims (2)

    (57)【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】試験片を支持し前記試験片に対し荷重を与
    える試験片支持装置と、前記試験片に発生した亀裂を撮
    像しこれを電気的亀裂画像に変換する撮像装置と、前記
    撮像装置が前記試験片に対し相対的に亀裂の進展方向へ
    移動するよう前記撮像装置及び前記試験片支持装置の少
    くとも一方を他方に対し相対的に移動させる移動装置
    と、前記撮像装置より所定の時間毎に前記亀裂画像を取
    込みこれを低解像度化処理して記憶する画像処理装置
    と、前記処理後の亀裂画像上にて亀裂の先端を検出し前
    記処理後の亀裂画像上に於ける亀裂先端の位置を計測す
    る画像計測装置と、前記処理後の亀裂画像内に於て前記
    亀裂先端が所定の位置を越えたときには前記移動装置を
    作動させて前記撮像装置若しくは前記試験片支持装置を
    所定の相対移動量移動させる演算制御装置とを有し、前
    記演算制御装置は前記画像計測装置より亀裂先端の位置
    を示す信号を入力され、最後に前記移動装置が作動され
    た後の各サイクルに於て生じた前記亀裂先端の変位量の
    合計と前記相対移動量の合計との和として亀裂の進展寸
    法を演算するよう構成されていることを特徴とする亀裂
    進展寸法の自動計測装置。
  2. 【請求項2】試験片を支持し前記試験片に対し荷重を与
    える試験片支持装置と、前記試験片に発生した亀裂を撮
    像しこれを電気的亀裂画像に変換する撮像装置と、前記
    撮像装置が前記試験片に対し相対的に亀裂の進展方向へ
    移動するよう前記撮像装置及び前記試験片支持装置の少
    くとも一方を他方に対し相対的に移動させる移動装置
    と、前記撮像装置より所定の時間毎に前記亀裂画像を取
    込みこれを低解像度化処理して記憶する画像処理装置
    と、前記処理後の亀裂画像上にて亀裂の先端を検出し前
    記処理後の亀裂画像上に於ける亀裂先端の位置を計測す
    る画像計測装置と、前記処理後の亀裂画像内に於て前記
    亀裂先端が所定の位置を越えたときには前記移動装置を
    作動させて前記撮像装置若しくは前記試験片支持装置を
    所定の相対移動量移動させる演算制御装置とを有し、前
    記演算制御装置は前記画像計測装置より亀裂先端の位置
    を示す信号を入力され、前記移動装置を作動させないと
    きには現在の位置と1サイクル前の位置との偏差として
    前記亀裂先端の変位量を演算し、前記移動装置を作動さ
    せたときには1サイクル前に演算された前記亀裂先端の
    変位量を現サイクルの前記亀裂先端の変位量とみなし、
    前記亀裂先端の変位量の合計として亀裂の進展寸法を演
    算するよう構成されていることを特徴とする亀裂進展寸
    法の自動計測装置。
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