JP3871164B2 - 試験力自動演算式硬さ試験機 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、ビッカース硬さ試験やヌープ硬さ試験のように、試料(表面)に圧子を押し付け、そのとき試料に形成されたくぼみの対角線長に基づいて当該試料の硬さを計測する形式の硬さ試験機(以下「押込み型硬さ試験機」と称する)に関し、特にフィルムのように試料厚さの薄い材料の硬さ試験の際の適正な試験力を自動的に演算できるようにした、試験力自動演算式硬さ試験機に関する。
【0002】
【従来の技術】
図4において、符号10はビッカース硬さ試験機の本体を示しており、この本体10には、試料台1と、ダイヤモンド製の四角錐の圧子2および対物レンズ5をそなえたレボルバー4とが設けられている。
【0003】
圧子2の試料Sの表面への押し込みは、マイクロコンピュータ20の出力装置としての試験力制御部13の指令を受けて、マイクロコンピュータ20で設定された試験力が圧子2に付加されて下降することにより、なされるようになっている。
【0004】
試料Sの表面にくぼみが付与された後、レボルバー4の切替えにより圧子2の位置に対物レンズ5が入れ替わり、CCDカメラ6によって試料Sの表面のくぼみの光学画像が、例えば400倍くらいに拡大される。
【0005】
CCDカメラ6の検出信号は、A/D変換器11によって濃淡階調段数が256段(8ビット)のディジタル信号に変換されてから、画像メモリ21に格納される。
マイクロコンピュータ20には、画像メモリ21のほか演算装置23,主記憶装置22,制御装置24がそなえられている。
【0006】
演算装置23では主記憶装置22に格納されている制御プログラムにしたがって、硬度計全体の機械的・電気的動きのコントロールや、硬度演算に必要な信号処理,計算処理などが行なわれる。
符号29はCRT表示器を示しており、この表示器の画面に画像メモリ21に記憶されているくぼみ画像や、設定・入力情報が表示される。
【0007】
上述のビッカース硬さ試験機のような押込み型硬さ試験機では、試料の厚さが所定厚さ以上ないと、試料の表面の硬さと内部の硬さとが異なっている場合等において、正確な硬さ測定を行なうことができない。したがって、JISでは最小厚さが規定されている。
【0008】
すなわち、図5(a),(b)に示すようにビッカース硬さ試験機でビッカース硬さ測定を行なう場合、JIS規格では、[数1]式に示すように、試料Sの厚さhは、くぼみDの対角線長さdの平均値の1.5倍以上必要であると定めている。
【数1】
【0009】
符号2は圧子を示している。
一方、ビッカース硬度HVは、[数2]式で表される。
【数2】
ただし、F:試験力(単位:ニュートン)
【0010】
そこで、従来は、試料の厚さ(膜厚)および大凡の硬さが推定できるとき、[数2]式を変形した[数3]式で試験力を設定している。
【数3】
【0011】
ヌープ硬さ測定を行なう場合、試料Sの厚さhは、[数5]式に示すように、くぼみDの対角線長の長い方の長さ(対角線長)dの0.3倍以上必要であると定めている。
【数5】
h≧0.3d
【0012】
一方、ヌープ硬さHKは[数6]式で表される。
【数6】
ただし、F:試験力(単位:ニュートン)
【0013】
そこで従来は、試料の厚さ(膜厚)および大凡の硬さが推定できるとき、[数6]式を変形した[数7]式で試験力を設定している。
【数7】
【0014】
【発明が解決しようとする課題】
上述のように、従来は、硬さ試験の都度、ユーザーが試験力を電卓等を用いて[数3]式や[数7]式に基づいて計算したり、あるいは図6(ビッカース硬さ試験の場合の試料の硬さと試験力に対する試料の最小厚さとの関係を示す表:JIS Z 2244−1992)または図7(ヌープ硬さ試験の場合の同様の表:JIS Z 2251−1992)を用いたりして算出し、それを試験機に内蔵の試験力制御部に当該硬さ試験の試験力として設定しているが、試験力の算出が複雑であり、手間がかかるという問題点がある。
【0015】
本発明は、従来技術におけるこのような問題点を解決しようとするもので、当該試験における適正な試験力を、硬さ試験機に内蔵したマイクロコンピュータで自動的に演算できるようにした、試験力自動演算式硬さ試験機を提供しようとするものである。
【0016】
すなわち、本発明は、ビッカース硬さ試験において、[数1]式と[数3]式とから[数4]式を得、[数4]式を試験機に内蔵のマイクロコンピュータに格納させておき、硬さ試験時に、試料の厚さ(膜厚)h(ミリメートル)と、想定される硬さHV(経験値)とを入力して、当該試験に適した試験力F(ニュートン)を自動的に演算し、演算された試験力でビッカース硬さ試験が行なえるようにしようとするものである。
【数4】
【0017】
またヌープ硬さ試験において、[数5]式と[数7]式とから[数8]式を算出し、[数8]式を試験機に内蔵のマイクロコンピュータに格納しておき、硬さ試験時に、試料厚さ(膜厚)h(ミリメートル)と、想定されるヌープ硬さHK(経験値)とを入力して、当該試験に適した試験力F(ニュートン)を自動的に演算し、その演算された試験力でヌープ硬さ試験が行なえるようにしようとするものである。
【数8】
【0018】
【課題を解決するための手段】
本発明は、圧子と、同圧子に所定の試験力Fを付与する試験力制御部と、同試験機の機械的・電気的コントロールを行なうマイクロコンピュータとをそなえたビッカース硬さ試験機において、同マイクロコンピュータに[数4]式を格納しておくとともに、試料の厚さhおよび想定されるビッカース硬さHVの入力をうけて、上記試験力を演算可能なプログラムを上記マイクロコンピュータに格納して課題解決の手段としている。
【数4】
【0019】
また本発明は、圧子と、同圧子に所定の試験力Fを付与する試験力制御部と、同試験機の機械的・電気的コントロールを行なうマイクロコンピュータとをそなえたヌープ硬さ試験機において、同マイクロコンピュータに[数8]式を格納しておくとともに、試料の厚さhおよび想定される上記試料の硬さHVの入力をうけて、上記試験力Fを演算可能なプログラムを上記マイクロコンピュータに格納して課題解決の手段としている。
【数8】
【0020】
さらに、本発明は、上記試験力として、上記[数4]式により演算される数値のうちの最大値のものが算出されるように上記プログラムを構成して課題解決の手段としている。
【0021】
また、本発明は、上記試験力として、上記[数8]式により演算される数値のうちの最大値のものが算出されるように上記プログラムを構成して課題解決の手段としている。
【0022】
さらにまた、本発明は、上記マイクロコンピュータで演算された上記試験力が当該硬さ試験機の設定可能な範囲外であるとき、試験不可能を表示する表示手段を設けて課題解決の手段としている。
【0023】
また、本発明は、上記試験不可能の表示が、上記硬さ試験機にそなえられた表示器で行なわれるように構成して課題解決の手段としている。
【0024】
本発明では、硬さ試験機に内蔵のマイクロコンピュータに、試料の厚さhおよび想定されるビッカース硬さHVあるいはヌープ硬さHKを入力することにより、自動的に当該試験に適した試験力が自動的に演算されるため、試験力の算出が簡単となる。
【0025】
また、試験力として、[数4]式または[数8]式により演算される数値のうち最大値のものが算出されるので、硬さ試験の精度が向上する。
【0026】
さらに、当該試験機による硬さ試験が不可能な場合、その旨の表示が硬さ試験に先立ってなされるため、硬さ試験を効率良く実施することができる。
また、上記表示が硬さ試験機にそなえられた表示器で行なわれるため、別個に表示器を設ける必要がなく、コスト面で有利である。
【0027】
【発明の実施の形態】
以下、図面により本発明の一実施形態としての試験力自動演算式硬さ試験機を主としてビッカース硬さ試験機を例にして説明すると、図1はその模式構成図、図2はそのマイクロコンピュータにおける演算手順を示すフローチャート、図3はその変形例を示す模式構成図である。
なお図1,3中図4と同じ符号はほぼ同一の部材を示している。
【0028】
この実施形態のビッカース硬さ試験機も、図4に示した硬さ試験機と同様に、本体10をそなえ、この本体10には、試料台1と、ダイヤモンド製の四角錐の圧子2および対物レンズ5をそなえたレボルバー4とが設けられている。
【0029】
圧子2の試料Sの表面への押し込みは、マイクロコンピュータ20の出力装置としての試験力制御部13の指令を受けて、マイクロコンピュータ20で設定された試験力が圧子軸に付加されて圧子2を下降することにより、なされるようになっている。
【0030】
試料Sの表面にくぼみが付与された後、レボルバー4の切替えにより圧子2の位置に対物レンズ5が入れ替わり、CCDカメラ6によって試料Sの表面のくぼみの光学画像が、例えば400倍くらいに拡大される。
CCDカメラ6の検出信号は、A/D変換器11によって濃淡階調段数が256段(8ビット)のディジタル信号に変換されてから、画像メモリ21に格納される。
【0031】
マイクロコンピュータ20には、画像メモリ21のほか、演算装置23,主記憶装置22,制御装置24がそなえられている。
演算装置23では主記憶装置22に格納されている制御プログラムにしたがって、硬度計全体の機械的・電気的動きのコントロールや、硬度演算に必要な信号処理,計算処理などが行なわれる。
【0032】
符号30は操作パネルを示しており、この操作パネル30には表示器31,操作装置32がそなえられている。表示器としては、CRT表示器のほかLED式のものやLCD(液晶表示盤)などが用いられる。そして表示器に、(画像メモリ21に記憶されているくぼみ画像や)、設定・入力情報などの情報が表示される。
【0033】
この実施形態の試験力自動演算式硬さ試験機では、さらに主記憶装置21に予め[数4]式が入力(格納)されている。[数4]式の入力は操作装置32を介して行なわれる。すなわち操作装置32を介して、試料Sの厚さh,想定される試料のビッカース硬さHVに関する情報(信号)がマイクロコンピュータ20に入力され、そして[数4]式に基づいてマイクロコンピュータ20において当該硬さ試験における適性試験力の演算が行なわれる。
【数4】
【0034】
なおヌープ硬さ試験の場合、上述の[数4]式に代えて[数8]式が主記憶装置21に予め入力(格納)され、またビッカース硬さHVに代えてヌープ硬さHKに関する情報がマイクロコンピュータ20に入力され、[数8]式により適性試験力の演算が行なわれる。
【数8】
【0035】
図2はこの演算手順を示すフローチャートである。すなわち、硬さ試験に先立って、試験機の操作装置32を操作して、試料の厚さhをマイクロコンピュータ20に入力する(ステップA1)。
【0036】
マイクロコンピュータ20において、その膜厚が、当該試験機がその膜厚の試料を計測できる能力をそなえているかどうかの判断が行なわれる(ステップA2)。ここで、試験機の能力(試験可能範囲)は、当該試験機の製造段階で設定されていて、入力された膜厚がその範囲外のときは試験不可能として、その旨の表示が表示器31になされる。なお試験可能な場合、その旨を表示するようにしてもよい。
【0037】
ステップA2における判断結果が「YES」の場合、想定されるビッカース硬さ(HV)を操作装置32を操作して、マイクロコンピュータ20に入力する(ヌープ硬さ試験の場合はヌープ硬さHKを入力する)(ステップA3)と、マイクロコンピュータ20において[数4]式または[数8]式から適正な試験力Fが演算され(ステップA4)、試験力が設定される(ステップA6)。ステップA6の前段階で演算された試験力Fが当該試験機の能力範囲内かどうかの比較が行なわれ、範囲外のとき、試験不可能の表示が表示器31になされる(ステップA5)。なお演算された試験力Fが当該試験機の能力範囲内のとき、試験可能を表示するようにしてもよい。
【0038】
一般に、ビッカース硬さ試験やヌープ硬さ試験では、試験力は大きければ大きいほど試験精度が向上するとされている。したがって、この実施形態ではマイクロコンピュータ20において演算される数値(試験力)のうちの最大値のものが算出されるようにプログラムが構成されている。
【0039】
ステップA6で試験力の自動設定は終了するが、試料台1に試料Sを載置しておくとき、ステップA6に引き続いて試料の硬さ試験を行なうことができる。
すなわち、ステップA6で設定された試験力Fが試験力制御部13を介して圧子2に加えられ硬さ試験を開始するステップA7をプログラムに組み込んでおくとき、試験力の自動設定に続いて硬さ試験を行なうことができる。
なお、硬さ試験の結果は、試験機にそなえられている表示器31に表示される。
【0040】
図4に示した変形例では、硬さ試験機の本体10に接眼レンズ7が設けられていて、対物レンズ5で捕らえられた試料Sの表面のくぼみの寸法を直接計測できるようになっている。
【0041】
この変形例の装置は、図1に示した装置からCCDカメラ、A/D変換器などが取り外されている(その分低コストとなる)が、マイクロコンピュータ20,操作盤30は図1の装置と同様に設けられていて、同様の操作で試験力の自動演算が行われる点は図1の装置と同様である。
なお表示器31にくぼみ形状の表示は行なえない。
【0042】
【発明の効果】
以上詳述したように、本発明の試験力自動演算式硬さ試験機によれば次のような効果が得られる。
(1) 硬さ試験機に内蔵のマイクロコンピュータに、試料の厚さhおよび想定されるビッカース硬さHVあるいはヌープ硬さHKを入力することにより、当該試験に適した試験力が自動的に演算されるため、試験力の算出が簡単となる。
(2) 試験力として、[数4]式あるいは[数8]式より演算される数値のうち最大値のものが算出されるので、押込み型硬さ試験機の精度が向上する。
(3) 当該試験機による硬さ試験が不可能な場合、その旨の表示が硬さ試験に先立ってなされるため、硬さ試験を効率良く実施できる。
(4) 上記表示が硬さ試験機にそなえられた表示器で行なわれるため、別個に表示器を設ける必要がなく、コスト面で有利である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施形態としての試験力自動演算式硬さ試験機を示す模式構成図。
【図2】 同マイクロコンピュータにおける演算手順を示すフローチャート。
【図3】 同変形例を示す模式構成図。
【図4】 従来の試験力自動演算式硬さ試験機を示す模式構成図。
【図5】 (a)押込み型硬さ試験機の原理を示す模式図。
(b)同くぼみの形状を示す平面図。
【図6】 ビッカース硬さ試験において、試料の硬さと試験力に対する試料の最小厚さとの関係を規定したグラフ。
【図7】 ヌープ硬さ試験において、試料の硬さと試験力に対する試料の最小厚さとの関係を規定したグラフ。
【符号の説明】
1 試料台
2 圧子
4 レボルバー
5 対物レンズ
6 CCDカメラ
10 硬さ試験機の本体
11 A/D変換器
12 操作装置
13 試験力制御部
20 マイクロコンピュ−タ
21 画像メモリ
22 主記憶装置
23 演算装置
24 制御装置
31 表示器
D くぼみ
d1,d2 くぼみの対角線寸法
S 試料
Claims (6)
- 上記試験力として、上記[数4]式により演算される数値のうちの最大値のものが算出されるように上記プログラムを構成したことを特徴とする、請求項1に記載の試験力自動演算式硬さ試験機。
- 上記試験力として、上記[数8]式により演算される数値のうちの最大値のものが算出されるように上記プログラムを構成したことを特徴とする、請求項2に記載の試験力自動演算式硬さ試験機。
- 上記マイクロコンピュータで演算された上記試験力が、当該硬さ試験機の設定可能な範囲外であるとき、試験不可能を表示する表示手段が設けられていることを特徴とする、請求項1乃至4のいずれかに記載の試験力自動演算式硬さ試験機。
- 上記試験不可能の表示が、上記硬さ試験機にそなえられた表示器で行なわれるように構成されていることを特徴とする、請求項5に記載の試験力自動演算式硬さ試験機。
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